JP2001110756A - Cutter - Google Patents

Cutter

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JP2001110756A
JP2001110756A JP28399999A JP28399999A JP2001110756A JP 2001110756 A JP2001110756 A JP 2001110756A JP 28399999 A JP28399999 A JP 28399999A JP 28399999 A JP28399999 A JP 28399999A JP 2001110756 A JP2001110756 A JP 2001110756A
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JP
Japan
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frame
cassette
cutting device
workpiece
semiconductor wafer
Prior art date
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Pending
Application number
JP28399999A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mariani Franco
フランコ・マリアニ
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Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To carry a work to a temporary reception area by catching a frame without fail, even in a case there is a warp in a frame united with a work such as a semiconductor wafer or the like through a tape. SOLUTION: In a cutter which carries out a work, for example, a semiconductor wafer W united with a frame F through a tape T from a cassette 21 and cuts that semiconductor wafer W, a frame catcher 12 to catch both ends of the center 28 of the front of the frame F is made in at a frame carrying-out means 10.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェーハ等
の被加工物を切削する切削装置に関し、詳しくは、切削
前の被加工物が収容されたカセットから被加工物を確実
に搬出することができるようにした切削装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cutting apparatus for cutting a workpiece such as a semiconductor wafer, and more particularly, to a method for reliably transporting a workpiece from a cassette containing a workpiece before cutting. The present invention relates to a cutting device that can be used.

【0002】[0002]

【従来の技術】切削装置、例えば図4に示すダイシング
装置30は、半導体ウェーハをダイシングして個々のチ
ップとする装置であり、ダイシング前の半導体ウェーハ
Wは、リング状のフレームFの開口部を塞ぐように裏面
側から貼着されたテープTに貼着されることによりフレ
ームFと一体となって保持される。そして、このように
してテープTを介してフレームFと一体となった半導体
ウェーハWは、カセット21に複数収容され、カセット
載置領域22に載置される。
2. Description of the Related Art A cutting apparatus, for example, a dicing apparatus 30 shown in FIG. 4 is an apparatus for dicing a semiconductor wafer into individual chips, and a semiconductor wafer W before dicing is formed by opening an opening of a ring-shaped frame F. By being stuck to the tape T stuck from the back side so as to close, it is held integrally with the frame F. Then, a plurality of semiconductor wafers W integrated with the frame F via the tape T in this manner are accommodated in the cassette 21 and placed on the cassette placing area 22.

【0003】カセット載置領域22はZ軸方向に上下動
可能となっており、カセット載置領域22の上下動によ
りカセット21が適宜の高さに位置付けられた状態で、
フレームFと一体となった半導体ウェーハWがフレーム
搬出手段23によって仮受け領域24に搬出される。
The cassette mounting area 22 can be moved up and down in the Z-axis direction. When the cassette mounting area 22 is moved up and down, the cassette 21 is positioned at an appropriate height.
The semiconductor wafer W integrated with the frame F is unloaded to the temporary receiving area 24 by the frame unloading means 23.

【0004】ここで、図5(A)に示すように、フレー
ム搬出手段23は、ガイド溝25に沿ってY軸方向に移
動可能となっており、その+Y方向の先端には、矩形の
上板26aと下板26bで上下方向にフレームFを挟持
することができるフレーム挟持部27が形成されてい
る。
Here, as shown in FIG. 5A, the frame discharging means 23 is movable in the Y-axis direction along the guide groove 25, and has a rectangular upper end at the tip in the + Y direction. A frame holding portion 27 capable of holding the frame F in the vertical direction is formed by the plate 26a and the lower plate 26b.

【0005】フレームFの搬出時は、図6(A)に示す
ようにカセット21から離れた位置にあるフレーム搬出
手段23が+Y方向に移動し、図6(B)に示すように
してフレーム挟持部27によってフレームFの前部側の
中央部28を挟持する。そして、その状態で搬出手段2
3が−Y方向に移動することにより、テープTを介して
フレームFと一体となった半導体ウェーハWがカセット
21から搬出され、更にフレーム挟持部27による挟持
を解除することによって、図6(C)に示すようにフレ
ームFと一体となった半導体ウェーハWが仮受け領域2
4に載置される。
When the frame F is carried out, as shown in FIG. 6A, the frame carrying means 23 at a position away from the cassette 21 moves in the + Y direction, and as shown in FIG. The central portion 28 on the front side of the frame F is held by the portion 27. Then, in that state, the unloading means 2
6 moves in the −Y direction, the semiconductor wafer W integrated with the frame F is carried out of the cassette 21 via the tape T, and the holding by the frame holding portion 27 is released, thereby obtaining the state shown in FIG. The semiconductor wafer W integrated with the frame F as shown in FIG.
4.

【0006】次に、一対の位置合わせ部材29が互いが
近づく方向に移動してフレームFの両側部31a、31
bを押すことにより、図5(B)のようにフレームFが
一定の位置に位置付けられる。そして更に、フレームF
が搬送手段32に吸着されて搬送手段32が旋回動する
ことによりフレームFと一体となった半導体ウェーハW
がチャックテーブル33に搬送され、チャックテーブル
33がX軸方向に往復移動しながら切削手段34の作用
を受けてダイシングが行われる。
Next, the pair of positioning members 29 move in a direction approaching each other, and the both sides 31a, 31a of the frame F are moved.
By pressing b, the frame F is positioned at a fixed position as shown in FIG. And furthermore, frame F
Is attracted to the transfer means 32 and the transfer means 32 pivots, whereby the semiconductor wafer W integrated with the frame F
Is transported to the chuck table 33, and the dicing is performed under the action of the cutting means 34 while the chuck table 33 reciprocates in the X-axis direction.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、テープ
Tを介して半導体ウェーハWと一体となったフレームF
は、図7に示すように、カセット21内の内側壁に複数
段形成された支持溝35によって両側部31a、31b
が支持された状態で収容されているため、例えばフレー
ムF2のように中央部28aに撓みが生じていると、フ
レーム挟持部27によって中央部28aを挟持すること
ができないことがあり、この場合はフレームF2と一体
となった半導体ウェーハを仮受け領域24まで搬出でき
ないことになる。このため、スループットの低下を招く
と共に、例えばチャックテーブル33に半導体ウェーハ
が載置されていない状態で切削手段34が動作する等し
てダイシング装置の各部位を損傷させるという問題も生
じ得る。
However, the frame F integrated with the semiconductor wafer W via the tape T
As shown in FIG. 7, both sides 31a, 31b are formed by supporting grooves 35 formed in a plurality of steps on the inner wall in the cassette 21.
Are held in a supported state, so that if the central portion 28a is bent as in the frame F2, for example, the central portion 28a may not be able to be held by the frame holding portion 27. In this case, The semiconductor wafer integrated with the frame F2 cannot be carried out to the temporary receiving area 24. For this reason, the throughput may be reduced, and, for example, the cutting unit 34 may be operated in a state where the semiconductor wafer is not placed on the chuck table 33, thereby causing a problem that each part of the dicing apparatus may be damaged.

【0008】このように、切削装置においては、フレー
ムに撓みがある場合にもフレームを確実に挟持すること
により、被加工物を仮受け領域まで搬送することに課題
を有している。
As described above, the cutting device has a problem in that the workpiece is transported to the temporary receiving area by securely holding the frame even when the frame is bent.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の具体的手段として本発明は、テープを介してフレーム
と一体となった被加工物を複数収容するカセットと、該
カセットが載置されるカセット載置領域と、カセット内
に収容された被加工物と一体となったフレームを挟持し
て該被加工物を仮受け領域まで搬出するフレーム搬出手
段と、仮受け領域に搬出された被加工物をチャックテー
ブルまで搬送する搬送手段と、チャックテーブルに保持
された被加工物を切削する切削手段とから少なくとも構
成される切削装置であって、フレーム搬出手段には、フ
レームの前部側の両側を挟持するフレーム挟持部が形成
されている切削装置を提供する。
According to the present invention, as a specific means for solving the above-mentioned problems, a cassette accommodating a plurality of workpieces integrated with a frame via a tape, and the cassette is mounted thereon. Frame mounting means for holding a frame integrated with the workpiece accommodated in the cassette, and carrying out the workpiece to the temporary receiving area; A cutting device configured to include at least a conveying unit that conveys the workpiece to the chuck table, and a cutting unit that cuts the workpiece held by the chuck table. Provided is a cutting device in which a frame holding portion for holding both sides is formed.

【0010】そしてこの切削装置は、カセット内にフレ
ームの側部を支持する支持溝が複数形成されており、フ
レーム挟持部は、フレームの前部側の両側において支持
溝に支持された側部近傍の内側を挟持すること、フレー
ム搬出手段には、フレームの有無を検出するフレーム検
出手段が配設されていること、フレーム検出手段は光セ
ンサーであること、被加工物は半導体ウェーハであり、
切削装置はダイシング装置であること、フレームはプラ
スチック製であることを付加的要件とする。
In this cutting apparatus, a plurality of support grooves for supporting the side portions of the frame are formed in the cassette, and the frame holding portions are formed on both sides of the front portion of the frame near the side portions supported by the support grooves. , The frame carrying means is provided with frame detecting means for detecting the presence or absence of a frame, the frame detecting means is an optical sensor, the workpiece is a semiconductor wafer,
An additional requirement is that the cutting device be a dicing device and the frame be made of plastic.

【0011】このように構成される切削装置によれば、
フレーム挟持部がカセット内に収容されたフレームの前
部側中央部の両側を挟持するように構成したため、フレ
ームが撓んでいたとしても、撓みが僅かである中央部の
両側を挟持することができる。
[0011] According to the cutting device configured as described above,
Since the frame holding portion is configured to hold both sides of the front center portion of the frame accommodated in the cassette, even if the frame is bent, both sides of the center portion where the bending is slight can be held. .

【0012】また、フレーム搬出手段に、フレームの有
無を検出するフレーム検出手段を配設することで、フレ
ームが所定の位置に収容されていない場合や水平に収容
されていない場合には、それを搬出前に検出することが
できる。
Further, by providing a frame detecting means for detecting the presence or absence of a frame in the frame discharging means, when the frame is not stored in a predetermined position or when the frame is not stored horizontally, it is detected. It can be detected before unloading.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】本発明に係る切削装置の実施の形
態として、図1に示すダイシング装置20を例に挙げて
説明する。なお、このダイシング装置20においては、
フレーム搬出手段10以外の部位については、図4に示
した従来のダイシング装置30と同様に構成されるた
め、共通する部位には同一の符号を付し、その説明は省
略することとする。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS As a preferred embodiment of a cutting device according to the present invention, a dicing device 20 shown in FIG. 1 will be described as an example. In addition, in this dicing apparatus 20,
Parts other than the frame discharging means 10 are configured in the same manner as the conventional dicing apparatus 30 shown in FIG. 4, and thus common parts are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0014】フレーム搬出手段10は、図2(A)に示
すように、Y軸方向に設けたガイド溝25に沿って移動
可能となっている点は図5に示した従来のフレーム搬出
手段と同様であるが、フレーム挟持部12の構成が従来
とは異なっている。
As shown in FIG. 2A, the frame discharging means 10 is movable along a guide groove 25 provided in the Y-axis direction, unlike the conventional frame discharging means shown in FIG. Although the configuration is the same, the configuration of the frame holding portion 12 is different from the conventional one.

【0015】フレーム挟持部12を構成する上板12a
及び下板12bは、コの字型に形成されており、半導体
ウェーハWと一体となったフレームFをカセット21か
ら搬出する際は、フレーム搬出手段10が+Y方向に移
動し、上板12a及び下板12bの2つの端部からなる
作用部13a、13bにおいてフレームFを挟持するこ
とができる。
An upper plate 12a constituting the frame holding portion 12
The lower plate 12b is formed in a U-shape, and when the frame F integrated with the semiconductor wafer W is carried out from the cassette 21, the frame carrying means 10 moves in the + Y direction, and the upper plate 12a The frame F can be held between the action portions 13a and 13b formed of two ends of the lower plate 12b.

【0016】このようなフレーム搬出手段10を用いて
カセット21からフレームFと一体となった被加工物、
例えば半導体ウェーハWを搬出する際は、まず、図3
(A)に示すような初期位置にあるフレーム搬出手段1
0を+Y方向に移動させる。
A workpiece integrated with the frame F from the cassette 21 by using such a frame discharging means 10,
For example, when unloading a semiconductor wafer W, first, FIG.
Frame unloading means 1 at an initial position as shown in FIG.
0 is moved in the + Y direction.

【0017】そして、図3(B)に示すように、作用部
13a、13bにおいてフレームFを挟持する。このと
き、作用部13a、13bは、フレームFの前部側の中
央部28ではなく、中央部28の両側においてフレーム
Fの前部側を挟持する。従って、図7に示したフレーム
F2のように前部側の中央部28aが撓んでいる場合に
おいてもその両側では撓みが僅かであるため、確実にフ
レームFを挟持することができる。この場合、支持溝3
5の内側で支持溝35により近い位置、例えば図7にお
ける被挟持部40を挟持するようにすれば、更に確実に
挟持することができる。
Then, as shown in FIG. 3B, the frame F is held between the action portions 13a and 13b. At this time, the action portions 13a and 13b sandwich the front side of the frame F not on the center portion 28 on the front side of the frame F but on both sides of the center portion 28. Therefore, even when the front central portion 28a is bent as in the frame F2 shown in FIG. 7, the frame F can be securely clamped because the bending is slight on both sides. In this case, the support groove 3
If a position closer to the support groove 35 inside the space 5, for example, the clamped portion 40 in FIG. 7 is clamped, the clamp can be more reliably clamped.

【0018】こうしてフレームFを挟持すると、挟持状
態を維持したままフレーム搬出手段10が−Y方向に移
動することにより、フレームと一体となった半導体ウェ
ーハWが仮受け領域24に位置付けられ、そこで挟持状
態を解除することによって、図2(B)及び図3(C)
に示すように、仮受け領域24に載置される。そして、
位置合わせ部材29によって一定の位置に位置合わせさ
れる。
When the frame F is held in this manner, the semiconductor wafer W integrated with the frame is positioned in the temporary receiving area 24 by moving the frame unloading means 10 in the -Y direction while maintaining the holding state. 2B and 3C by releasing the state.
Is placed in the temporary receiving area 24 as shown in FIG. And
The positioning is performed at a fixed position by the positioning member 29.

【0019】なお、フレーム搬出手段10には、フレー
ムの有無を検出するフレーム検出手段を配設することが
できる。例えば図2に示したように、フレーム搬送手段
10の側部にフレーム検出手段として一対の光センサー
14a、14bを同じ高さに配設すれば、カセット21
内におけるフレームの有無を検出することができる。
The frame carrying means 10 can be provided with a frame detecting means for detecting the presence or absence of a frame. For example, as shown in FIG. 2, if a pair of optical sensors 14a and 14b are provided at the same
It is possible to detect the presence or absence of a frame in the frame.

【0020】例えばフレームFの側部31a、31bが
あやまって複数段にわたって段違いに収容されている場
合には、フレーム搬出手段10がカセット21に近づい
た際に、光センサー14a、14bのいずかがフレーム
Fの存在を検出できないため、フレームFが水平に収容
されていないと認識することができる。このような場合
は、図1に示したモニター36にその旨を表示する等し
てオペレータに報知することもできる。従って、その後
の作業に支障が生じるのを防止することができ、また、
切削装置の故障を回避することができる。
For example, when the side portions 31a and 31b of the frame F are misaligned and stored in a plurality of steps, when the frame carrying-out means 10 approaches the cassette 21, one of the optical sensors 14a and 14b is used. Cannot detect the presence of the frame F, it can be recognized that the frame F is not stored horizontally. In such a case, the operator can be notified by displaying the fact on the monitor 36 shown in FIG. Therefore, it is possible to prevent the subsequent work from being hindered,
Failure of the cutting device can be avoided.

【0021】なお、フレームFは、プラスチック製、ス
テンレス製等様々な素材により形成されるが、特にプラ
スチック製の場合には比較的撓みが生じやすいため、本
発明を有効に活用することができる。
The frame F is made of various materials such as plastic and stainless steel. Particularly, when the frame F is made of plastic, the frame F is relatively easily bent, so that the present invention can be effectively used.

【0022】上記のようにして、フレームFと一体とな
った半導体ウェーハWが仮受け領域24に載置される
と、搬送手段32によってチャックテーブル33まで搬
送され、吸引保持される。
As described above, when the semiconductor wafer W integrated with the frame F is placed in the temporary receiving area 24, the semiconductor wafer W is transported to the chuck table 33 by the transport means 32 and is suction-held.

【0023】そして、半導体ウェーハWがチャックテー
ブル33に吸引保持されると、チャックテーブル33が
−X方向に移動することによりアライメント手段37の
直下に位置付けられて切削すべきストリートが検出さ
れ、切削手段34を構成する切削ブレード34aとのY
軸方向の位置合わせがなされる。そして、この位置合わ
せがなされてから更にチャックテーブル33が−X方向
に移動すると、高速回転する切削ブレード34aによっ
て検出されたストリートが切削される。
When the semiconductor wafer W is sucked and held by the chuck table 33, the chuck table 33 moves in the -X direction, so that the street to be cut is positioned immediately below the alignment means 37, and the street to be cut is detected. 34 and the cutting blade 34a constituting Y
Axial alignment is performed. Then, when the chuck table 33 further moves in the -X direction after this alignment, the street detected by the cutting blade 34a rotating at a high speed is cut.

【0024】また、ストリートを一本切削するごとに切
削手段34をストリート間隔分だけY軸方向に送り出し
ながら、チャックテーブル33をX軸方向に往復移動さ
せることにより、同方向のストリートがすべて切削され
る。そして更に、チャックテーブル33を90度回転さ
せてから上記と同様の切削を行うと、すべてのストリー
トが縦横に切削され(ダイシングされ)、個々のチップ
が形成される。
Also, every time one street is cut, the chuck means 33 is reciprocated in the X-axis direction while sending the cutting means 34 in the Y-axis direction by the street interval, so that all streets in the same direction are cut. You. When the chuck table 33 is further rotated by 90 degrees and the same cutting as described above is performed, all the streets are cut vertically and horizontally (diced), and individual chips are formed.

【0025】こうして半導体ウェーハWがダイシングさ
れると、洗浄搬送手段38によって洗浄領域39に搬送
され、ここで切削屑等が除去されてから仮受け領域24
に搬送される。そして、フレーム搬出手段10が+Y方
向に移動してフレームが押されることにより、カセット
21に収容される。
When the semiconductor wafer W is diced in this manner, the semiconductor wafer W is transported to the cleaning area 39 by the cleaning / transporting means 38, where the cutting chips and the like are removed.
Transported to Then, the frame unloading means 10 is moved in the + Y direction and the frame is pushed, so that the frame is stored in the cassette 21.

【0026】以上のようにして、カセット21から半導
体ウェーハWを搬出してダイシングを行い、ダイシング
された半導体ウェーハWをカセット21に収容する場合
においては、本発明によればカセット21からの半導体
ウェーハWの搬出が確実に行われるため、実際には半導
体ウェーハが搬出されていないのに搬出されたかのよう
に装置が動作してしまうということがなくなる。従っ
て、ダイシング装置の各部位が損傷することがなく、ま
た、スループットが低下することもない。
As described above, when the semiconductor wafer W is unloaded from the cassette 21 and diced, and the diced semiconductor wafer W is stored in the cassette 21, according to the present invention, the semiconductor wafer W from the cassette 21 is Since the unloading of W is performed reliably, the apparatus does not operate as if it were unloaded when the semiconductor wafer was not actually unloaded. Therefore, each part of the dicing apparatus is not damaged, and the throughput is not reduced.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る切削
装置においては、フレーム挟持部がカセット内に収容さ
れたフレームの前部側中央部の両側を挟持するように構
成したため、フレームが撓んでいたとしても、撓みが僅
かである中央部の両側を挟持することができる。従っ
て、確実にフレームを挟持してフレームと一体となった
被加工物を仮受け領域に搬出し、切削を円滑に遂行する
ことができる。
As described above, in the cutting device according to the present invention, since the frame holding portion is configured to hold both sides of the front center portion of the frame accommodated in the cassette, the frame is bent. Even if it is bent, it is possible to hold both sides of the central portion where the bending is slight. Therefore, it is possible to securely carry out the workpiece integrated with the frame by holding the frame to the temporary receiving area and smoothly perform cutting.

【0028】また、フレーム搬出手段に、フレームの有
無を検出するフレーム検出手段を配設することで、フレ
ームが所定の位置に収容されていない場合や水平に収容
されていない場合には、それを搬出前に検出することに
よりその後の作業に支障が生じるのを防止することがで
き、また、切削装置の故障を回避することができる。
Further, by disposing a frame detecting means for detecting the presence or absence of a frame in the frame discharging means, when the frame is not stored at a predetermined position or when the frame is not stored horizontally, it is detected. By detecting before carrying out, it is possible to prevent the subsequent work from being hindered, and to avoid the failure of the cutting device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る切削装置の実施の形態の一例であ
るダイシング装置を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a dicing apparatus as an example of an embodiment of a cutting apparatus according to the present invention.

【図2】同ダイシング装置においてフレームと一体とな
った半導体ウェーハをカセットから搬出する様子を示す
斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing how a semiconductor wafer integrated with a frame is carried out of a cassette in the dicing apparatus.

【図3】同ダイシング装置においてフレームと一体とな
った半導体ウェーハをカセットから搬出する様子を示す
平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing how a semiconductor wafer integrated with a frame is unloaded from a cassette in the dicing apparatus.

【図4】従来のダイシング装置を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a conventional dicing apparatus.

【図5】従来のダイシング装置においてフレームと一体
となった半導体ウェーハをカセットから搬出する様子を
示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing how a semiconductor wafer integrated with a frame is carried out of a cassette in a conventional dicing apparatus.

【図6】従来のダイシング装置においてフレームと一体
となった半導体ウェーハをカセットから搬出する様子を
示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view showing how a semiconductor wafer integrated with a frame is carried out of a cassette in a conventional dicing apparatus.

【図7】ダイシング装置に備えたカセットに撓みのある
フレームが収容されている様子を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a state in which a flexible frame is accommodated in a cassette provided in the dicing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…フレーム搬出手段 12…フレーム挟持部 12a…上板 12b…下板 13a、13b…作用部 14a、14b…光センサー 20…ダイシング装置 21…カセット 22…カセット載置領域 23…フレーム搬出手段 24…仮受け領域 25…ガイド溝 26a…上板 26b…下板 27…フレーム挟持部 28、28a…中央部 29…位置合わせ部材 30…ダイシング装置 31a、31b…側部 32…搬送手段 33…チャックテーブル 34…切削手段 34a…切削ブレード 36…モニター 37…アライメント手段 38…洗浄搬送手段 39…洗浄領域 W…半導体ウェーハ T…テープ F…フレーム DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Frame unloading means 12 ... Frame holding part 12a ... Upper plate 12b ... Lower plate 13a, 13b ... Working part 14a, 14b ... Optical sensor 20 ... Dicing device 21 ... Cassette 22 ... Cassette mounting area 23 ... Frame unloading means 24 ... Temporary receiving area 25 Guide groove 26a Upper plate 26b Lower plate 27 Frame holding parts 28 and 28a Central part 29 Alignment member 30 Dicing devices 31a and 31b Side parts 32 Transport means 33 Chuck table 34 ... cutting means 34a ... cutting blade 36 ... monitor 37 ... alignment means 38 ... cleaning and conveying means 39 ... cleaning area W ... semiconductor wafer T ... tape F ... frame

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 テープを介してフレームと一体となった
被加工物を複数収容するカセットと、該カセットが載置
されるカセット載置領域と、該カセット内に収容された
被加工物と一体となったフレームを挟持して該被加工物
を仮受け領域まで搬出するフレーム搬出手段と、該仮受
け領域に搬出された被加工物をチャックテーブルまで搬
送する搬送手段と、該チャックテーブルに保持された被
加工物を切削する切削手段とから少なくとも構成される
切削装置であって、 該フレーム搬出手段には、該フレームの前部側の両側を
挟持するフレーム挟持部が形成されている切削装置。
1. A cassette accommodating a plurality of workpieces integrated with a frame via a tape, a cassette mounting area on which the cassette is mounted, and a workpiece accommodated in the cassette. A frame discharging means for holding the frame, and discharging the workpiece to the temporary receiving area, a transport means for transporting the workpiece transported to the temporary receiving area to the chuck table, and holding the workpiece on the chuck table A cutting device configured to cut the processed workpiece, wherein the frame carrying-out means includes a frame holding portion for holding both sides of the front side of the frame. .
【請求項2】 カセット内には、フレームの側部を支持
する支持溝が複数形成されており、フレーム挟持部は、
該フレームの前部側の両側において該支持溝に支持され
た側部近傍の内側を挟持する請求項1に記載の切削装
置。
2. A plurality of support grooves for supporting side portions of a frame are formed in the cassette, and the frame holding portion includes
The cutting device according to claim 1, wherein the inside of the vicinity of a side portion supported by the support groove is held on both sides of a front side of the frame.
【請求項3】 フレーム搬出手段には、フレームの有無
を検出するフレーム検出手段が配設されている請求項1
または2に記載の切削装置。
3. The frame carrying means is provided with a frame detecting means for detecting the presence or absence of a frame.
Or the cutting device according to 2.
【請求項4】 フレーム検出手段は、光センサーである
請求項1乃至3に記載の切削装置。
4. The cutting device according to claim 1, wherein the frame detecting means is an optical sensor.
【請求項5】 被加工物は半導体ウェーハであり、切削
装置はダイシング装置である請求項1乃至4に記載の切
削装置。
5. The cutting device according to claim 1, wherein the workpiece is a semiconductor wafer, and the cutting device is a dicing device.
【請求項6】 フレームはプラスチック製である請求項
1乃至5に記載の切削装置。
6. The cutting device according to claim 1, wherein the frame is made of plastic.
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