JP2001110567A - Manufacturing procedure for organic field light emitting apparatus - Google Patents

Manufacturing procedure for organic field light emitting apparatus

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JP2001110567A
JP2001110567A JP28782499A JP28782499A JP2001110567A JP 2001110567 A JP2001110567 A JP 2001110567A JP 28782499 A JP28782499 A JP 28782499A JP 28782499 A JP28782499 A JP 28782499A JP 2001110567 A JP2001110567 A JP 2001110567A
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JP
Japan
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electrode
mask
reinforcing
light emitting
reinforcing wire
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Application number
JP28782499A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeo Fujimori
茂雄 藤森
Takeshi Ikeda
武史 池田
Tetsuo Oka
哲雄 岡
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Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing process to form electrodes which have resistance as low as possible, in a process for patterning to the 2nd electrode with use of a shadow mask. SOLUTION: An organic field light emitting apparatus formed with the 2nd electrode having low resistance, can be manufactured. Lowering of thickness of the 2nd electrode at under part of reinforcing wire, can become possible by making the hole opening ratio of the mesh type reinforcing wire to less than 60%, and wire width of it to under 40 micrometer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、表示素子、フラッ
トパネルディスプレイ、バックライト、インテリアなど
の分野に利用可能な有機電界発光装置の製造方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an organic electroluminescent device that can be used in fields such as display elements, flat panel displays, backlights, and interiors.

【0002】[0002]

【従来の技術】有機電界発光装置は陽極から注入された
正孔と陰極から注入された電子とが両極に挟まれた有機
発光層内で再結合することにより発光するものである。
その代表的な構造は、ガラス基板上に透明な第一電極
(陽極)、正孔輸送層、有機発光層、第二電極(陰極)
を積層したものであり、駆動により生じた発光は第一電
極およびガラス基板を通じて外部に取り出される。この
ような有機電界発光装置では、薄型、低電圧駆動下での
高輝度発光や、有機発光材料を選択することによる多色
発光が可能であり、発光デバイス、ディスプレイなどに
応用する開発が盛んである。
2. Description of the Related Art An organic electroluminescent device emits light when holes injected from an anode and electrons injected from a cathode recombine in an organic light emitting layer sandwiched between both electrodes.
A typical structure is a transparent first electrode (anode), hole transport layer, organic light emitting layer, and second electrode (cathode) on a glass substrate.
The light emission generated by the driving is extracted to the outside through the first electrode and the glass substrate. Such an organic electroluminescent device is capable of emitting thin, high-luminance light under low-voltage driving and multicolor light emission by selecting an organic light-emitting material, and has been actively developed for application to light-emitting devices and displays. is there.

【0003】有機電界発光装置の製造方法において、有
機発光層や第二電極はパターニング形成することが必要
であり、その作製方法が種々検討されてきた。
In a method of manufacturing an organic electroluminescent device, it is necessary to form an organic light-emitting layer and a second electrode by patterning, and various methods of manufacturing have been studied.

【0004】微細なパターニングが要求される場合には
代表的な手法としてフォトリソグラフィ法を用いること
が多いが、これに伴うウエットプロセスが問題になる場
合もある。従って、真空蒸着法、スパッタリング法、化
学的気相成長法(CVD)などのドライプロセスによっ
て薄膜を形成する場合には、シャドーマスクを基板前方
に配置して、その開口部に薄膜を形成するマスク法によ
るパターニングの方が、工程数、使用薬液、薄膜の不純
物による汚染などの観点から望ましいことが多い。
When fine patterning is required, a photolithography method is often used as a typical method, but a wet process accompanying the photolithography may be a problem. Therefore, when a thin film is formed by a dry process such as a vacuum deposition method, a sputtering method, or a chemical vapor deposition method (CVD), a shadow mask is arranged in front of the substrate, and a thin film is formed in the opening. The patterning by the method is often desirable from the viewpoint of the number of steps, the chemical solution used, contamination of the thin film by impurities, and the like.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】微細なパターニングを
マスク法によって実現するためには、必然的にシャドー
マスクのパターンが微細になるため、開口部形状が変形
してパターン加工精度が悪化するという問題があった。
特に、ディスプレイなどで利用されるストライプ状電極
では、細長い電極の長さ方向に電気的に十分に低抵抗で
あり、かつ、幅方向に隣り合う電極同士は完全に絶縁さ
れていることが必要であるが、それに対応するシャドー
マスクでは、ストライプ状開口部に挟まれたマスク部分
が糸のように細長くなり、撓みなどによる変形が激しく
なり、マスク法による微細パターニングが実質的に不可
能であった。このような問題を解決し、マスク法による
良好な精度での微細パターニングを達成する方法とし
て、マスク部分の一方の面にメッシュ状補強線を形成す
る方法が知られている。このような補強線を有するシャ
ドーマスクを用いて、第二電極をパターニングした場
合、マスク部分と補強線との間に隙間が存在するため、
第二電極材料は補強線の下部にも回り込んで蒸着される
ので細長く連続したストライプ状の第二電極を形成する
ことができる。しかしながら、補強線の存在のため第二
電極材料の基板への付着率の低下は不可避であり、この
パターニング方法の制約から電極の抵抗値を低下させる
のに限界があった。
In order to realize fine patterning by the mask method, the pattern of the shadow mask is inevitably fine, so that the shape of the opening is deformed and the pattern processing accuracy is deteriorated. was there.
In particular, for striped electrodes used in displays, etc., it is necessary that the electrodes have sufficiently low resistance in the length direction of the elongated electrodes and that the electrodes adjacent in the width direction are completely insulated. However, in the corresponding shadow mask, the mask portion sandwiched between the stripe-shaped openings becomes elongated like a thread, and deformation due to bending or the like becomes severe, so that fine patterning by the mask method was practically impossible. . As a method of solving such a problem and achieving fine patterning with good accuracy by a mask method, a method of forming a mesh reinforcing line on one surface of a mask portion is known. When a second electrode is patterned using a shadow mask having such a reinforcing line, there is a gap between the mask portion and the reinforcing line,
Since the second electrode material extends around the lower part of the reinforcing wire and is deposited, it is possible to form the elongated continuous strip-shaped second electrode. However, a reduction in the adhesion rate of the second electrode material to the substrate is inevitable due to the presence of the reinforcing wire, and there is a limit in reducing the resistance value of the electrode due to the restriction of the patterning method.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、基板上に形成
された第一電極と第一電極上に形成された少なくとも有
機化合物からなる発光層を含む薄膜層と、薄膜層上に形
成された第二電極とを含む有機電界発光装置の製造方法
であって、マスク部分に少なくとも1つ以上の開口部を
有し、かつ、マスク部分の一方の面に開口率60%以上
のメッシュ状補強線を有するシャドーマスクを、マスク
部分の他方の面を基板に向けて配置した状態で、前記補
強線側から飛来した第二電極材料を前記開口部を介して
前記薄膜層上に蒸着せしめることで、第二電極をパター
ニングすることを特徴とする有機電界発光装置の製造方
法である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a thin film layer including a first electrode formed on a substrate, a light emitting layer formed of at least an organic compound formed on the first electrode, and a thin film layer formed on the thin film layer. A method of manufacturing an organic electroluminescent device including a second electrode and at least one opening in a mask portion, and a mesh-like reinforcement having an opening ratio of 60% or more on one surface of the mask portion. A shadow mask having a line, in a state where the other surface of the mask portion is arranged facing the substrate, by depositing the second electrode material flying from the reinforcing line side on the thin film layer through the opening. And a method of manufacturing an organic electroluminescent device, comprising patterning a second electrode.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】本発明の有機電界発光装置は、基
板上に第一電極、少なくとも有機化合物からなる発光層
を含む薄膜層および第二電極を有するものであり、本発
明は、第二電極をパターニング形成する際に用いるシャ
ドーマスクに関するものである。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The organic electroluminescent device of the present invention has a first electrode, a thin film layer including at least a light emitting layer made of an organic compound, and a second electrode on a substrate. The present invention relates to a shadow mask used when patterning an electrode.

【0008】第二電極パターニングに用いるメッシュ状
の補強線を有するシャドーマスクの一例を図1および図
2に示す。マスク部分31の一方の面35と補強線33
との間に隙間36が存在する構造であり、マスク全体は
フレーム34に固定されている。マスク部分の厚さは、
それが厚いほどマスク部分の一方の面と補強線との間に
存在する隙間が広くなり蒸着材料の回り込み量が増大す
るので特に限定されないが、マスク部分の幅に比べてそ
の厚さの大きなシャドーマスクを精度よく作製すること
が難しいので、マスク部分の厚さはマスク部分の最小幅
と同程度以上、その3倍程度以下であることが好まし
い。例えば第二電極となるストライプ状開口部32の幅
が250μmで、300μmピッチである場合なら、マ
スク部分の幅は50μmであり、マスク部分の厚さは5
0〜150μm程度となる。
FIGS. 1 and 2 show an example of a shadow mask having a mesh reinforcing line used for patterning the second electrode. One surface 35 of the mask portion 31 and the reinforcing wire 33
And the entire mask is fixed to the frame 34. The thickness of the mask part is
Thickness is not particularly limited because the gap existing between one surface of the mask portion and the reinforcing line is widened and the amount of wraparound of the vapor deposition material is increased, but the shadow is thicker than the width of the mask portion. Since it is difficult to manufacture a mask with high accuracy, the thickness of the mask portion is preferably equal to or more than the minimum width of the mask portion and approximately three times or less. For example, if the width of the stripe-shaped opening 32 serving as the second electrode is 250 μm and the pitch is 300 μm, the width of the mask portion is 50 μm and the thickness of the mask portion is 5 μm.
It is about 0 to 150 μm.

【0009】また、図1に示したメッシュ状補強線は形
状が6角形であるが、これに限定されるものではなく、
3角形、4角形でもよく、その他の多角形またはそれら
が混在するものであってもよい。さらに、マスク部分の
断面がテーパー形状であってもよく、補強線の断面形状
に凸凹があってもよい。シャドーマスクが基板と接触す
る際にマスク部分が基板もしくは基板上にすでに形成さ
れた薄膜層を傷つけることを防止するために、マスク部
分の補強線が存在しない方の面にクッション層が存在し
ていても良い。
The mesh reinforcing wire shown in FIG. 1 has a hexagonal shape, but is not limited thereto.
The shape may be a triangle, a quadrangle, another polygon, or a mixture of them. Further, the cross section of the mask portion may be tapered, and the cross section of the reinforcing wire may be uneven. To prevent the mask portion from damaging the substrate or the thin film layer already formed on the substrate when the shadow mask comes into contact with the substrate, a cushion layer exists on the surface of the mask portion on the side where the reinforcing line does not exist. May be.

【0010】クッション層の形状や材質は特に限定され
ず、マスク部分と一体化してもよいが、傷防止の観点か
ら樹脂など比較的柔軟な物質で形成されることが好まし
い。傷防止の対策としては、少なくとも一部分が薄膜層
の厚さを上回る高さを有するスペーサーとして作用する
部分を基板上に形成して用いる方法もあるので、この方
法を採用することもできる。
The shape and material of the cushion layer are not particularly limited, and may be integrated with the mask portion. However, from the viewpoint of preventing scratches, the cushion layer is preferably formed of a relatively soft substance such as a resin. As a countermeasure for preventing scratches, there is a method of forming a portion that acts as a spacer at least partially having a height exceeding the thickness of the thin film layer on a substrate and using the portion, and this method can also be adopted.

【0011】メッシュ状補強線はマスク部分の上に形成
され、その開口率を60%以上にすることが好ましく、
65%以上、さらには70%以上がより好ましい。ここ
で開口率とは、単位面積当たりにメッシュ状補強線の開
口部が占める面積の割合、すなわち、単位面積当たりに
補強線が占める面積の割合を1から除いた値で定義され
る。メッシュ状補強線が繰り返しパターンを有する場合
には、その1ユニット当たりに開口部が占める面積の割
合を幾何学的に計算できる。例えば、補強線がピッチ1
mmの正方格子状メッシュであり、その線幅が0.2m
mである場合には、開口率は(1−0.2)×(1−
0.2)/1×1=0.64、すなわち64%と計算さ
れる。
The mesh reinforcing line is formed on the mask portion, and preferably has an aperture ratio of 60% or more.
65% or more, more preferably 70% or more. Here, the aperture ratio is defined as a ratio of the area occupied by the openings of the mesh reinforcing lines per unit area, that is, a value excluding the ratio of the area occupied by the reinforcing lines per unit area from 1. When the mesh reinforcing line has a repeating pattern, the ratio of the area occupied by the opening per unit can be geometrically calculated. For example, if the reinforcing wire is pitch 1
mm square grid mesh with a line width of 0.2 m
m, the aperture ratio is (1-0.2) × (1-
0.2) /1×1=0.64, or 64%.

【0012】メッシュ状補強線の開口率を高くするに
は、メッシュを粗くする方法とメッシュを構成する線幅
を狭くする方法がある。できるだけ補強効果を高く維持
するためにはメッシュは細かい方が好ましい。できるだ
け細かいメッシュを維持しかつ開口率を60%以上にす
る目的を達するには補強線の線幅を狭める方法が好まし
い。本発明では好ましくは40μm未満とすることであ
る。
In order to increase the aperture ratio of the mesh reinforcing wire, there are a method of making the mesh coarser and a method of narrowing the line width of the mesh. In order to maintain the reinforcing effect as high as possible, it is preferable that the mesh is fine. In order to maintain the finest possible mesh and achieve the purpose of increasing the aperture ratio to 60% or more, it is preferable to reduce the width of the reinforcing wire. In the present invention, the thickness is preferably less than 40 μm.

【0013】本発明の有機電界発光装置の製造方法にお
いては、第二電極材料は補強線側から飛来して補強線の
影になる部分には回り込んで堆積するので、第二電極は
分断されることなく形成されるが、補強線の線幅が40
μm未満の場合は、補強線の下部に当たる部分への第二
電極材料の付着率が安定して、その結果、形成される第
二電極の厚みがより均一化し、電極厚みに起因する電極
全体の抵抗値の変動をより小さく抑えることができる。
さらに、複数本の第二電極において、補強線の下部に当
たる部分に相当して電極の厚みの薄い部分の数の違いか
ら、1本づつの抵抗値にバラツキが生じるなどの問題の
発生が小さい。従って、電極材料の付着率の異なる部分
の影響を可能な限り小さくするためには補強線の線幅は
40μm未満が好ましく、35μm未満であることがよ
り好ましい。補強線の線幅を狭くすることで補強線の開
口率が向上するので、60%以上の開口率を実現するこ
とができる。
In the method of manufacturing an organic electroluminescent device according to the present invention, the second electrode material is separated from the reinforcing wire side because the second electrode material flies from the reinforcing wire side and wraps around and is deposited on the shadow of the reinforcing wire. Reinforced line is 40
In the case of less than μm, the adhesion rate of the second electrode material to the portion corresponding to the lower part of the reinforcing wire is stable, and as a result, the thickness of the formed second electrode becomes more uniform, and the entire electrode caused by the electrode thickness is reduced. Fluctuations in the resistance value can be suppressed smaller.
Further, in the plurality of second electrodes, a difference in the number of thin portions of the electrode corresponding to a portion corresponding to a lower portion of the reinforcing wire is less likely to cause a problem such as variation in resistance value of each of the electrodes. Therefore, the line width of the reinforcing wire is preferably less than 40 μm, and more preferably less than 35 μm, in order to minimize the influence of the portions having different electrode material adhesion rates as much as possible. Since the opening ratio of the reinforcing line is improved by reducing the line width of the reinforcing line, an opening ratio of 60% or more can be realized.

【0014】マスクの好適な材料としては、ステンレス
鋼、銅合金、鉄ニッケル合金、アルミニウム合金などの
金属系材料、各種樹脂材料が挙げられるが、特に限定さ
れるものではない。パターンが微細なために強度が十分
でなく、有機電界発光装置の基板との密着性を磁力によ
って向上させる必要がある場合には、マスク材料として
磁性材料を用いても良い。好適な例としては、純鉄、炭
素鋼、W鋼、Cr鋼、Co鋼,KS鋼などの焼入硬化磁
石材料、MK鋼、Alnico鋼,NKS鋼、Cuni
co鋼などの析出硬化磁石材料、OPフェライト、Ba
フェライトなどの焼結磁石材料、ならびにSm−Co系
やNd−Fe−B合金(パーマロイ)などの金属磁心材
料、Mn−Zn系、Ni−Zn系、Cu−Zn系などの
フェライト磁心材料、カーボニル鉄、Moパーマロイ、
センダストなどの微粉末を結合剤とともに圧縮成型させ
た圧粉磁心材料が挙げられる。これらの磁性材料を薄い
板状に成型したものからマスクを作製することが望まし
いが、ゴムや樹脂に磁性材料の粉末を混入してフィルム
状に成型したものを用いることもできる。
Suitable materials for the mask include, but are not particularly limited to, metallic materials such as stainless steel, copper alloy, iron-nickel alloy, and aluminum alloy, and various resin materials. When the strength is not sufficient because the pattern is fine and the adhesion to the substrate of the organic electroluminescent device needs to be improved by magnetic force, a magnetic material may be used as a mask material. Preferable examples include hardened hardening magnet materials such as pure iron, carbon steel, W steel, Cr steel, Co steel, and KS steel, MK steel, Alnico steel, NKS steel, and Cuni steel.
precipitation hardening magnet material such as co steel, OP ferrite, Ba
Sintered magnet materials such as ferrite, metal core materials such as Sm-Co and Nd-Fe-B alloys (Permalloy), ferrite core materials such as Mn-Zn, Ni-Zn and Cu-Zn, carbonyl Iron, Mo permalloy,
A dust core material obtained by compression-molding a fine powder such as sendust together with a binder is exemplified. It is desirable to manufacture a mask from a material obtained by molding these magnetic materials into a thin plate shape, but a material obtained by mixing a magnetic material powder into rubber or resin and molding the film into a film shape can also be used.

【0015】補強線の材料としては、マスク材料と同一
であってもよいし、異なっていてもよい。微細加工を容
易にするためには、アクリル系、ポリイミド系などの感
光性樹脂を利用することもできるが、必要に応じて選べ
ばよく、特に限定されない。
The material for the reinforcing wire may be the same as or different from the mask material. In order to facilitate the microfabrication, a photosensitive resin such as an acrylic resin or a polyimide resin can be used. However, the resin may be selected as needed and is not particularly limited.

【0016】補強線が細いほど蒸着物の回り込みが容易
になるが、初めから細い補強線を有するマスクの作製が
難しい場合がある。そのような場合には、比較的太い補
強線を有するマスクを作製しておき、後から適当な方法
で細線化してもよい。工程的にはエッチングによる細線
化が容易であり、補強線とともにマスク部分が同時にエ
ッチングされてもよい。細線化方法は特に限定されるも
のではなく、補強線の材質により適当な手段を用いれば
よい。また、マスク部分の一方の面にフィルムレジスト
のような感光性樹脂シートを貼り合わせて、フォトリソ
グラフィ法により感光性樹脂シートをパターン加工する
ことで、補強線を形成あるいは細線化することもでき
る。
The thinner the reinforcing line, the easier the wraparound of the deposited material, but it may be difficult to manufacture a mask having a thin reinforcing line from the beginning. In such a case, a mask having a relatively thick reinforcing line may be prepared, and then the line may be thinned by an appropriate method. In the process, thinning by etching is easy, and the mask portion may be etched simultaneously with the reinforcing line. The thinning method is not particularly limited, and an appropriate means may be used depending on the material of the reinforcing wire. Alternatively, a photosensitive resin sheet such as a film resist is attached to one surface of the mask portion, and the photosensitive resin sheet is patterned by a photolithography method, whereby a reinforcing line can be formed or thinned.

【0017】本発明のシャドーマスクの製造方法は特に
限定されないが、マスク部分と補強線とをそれぞれ別々
に形成し、マスク部分の一方の面に補強線を接続する方
法が工程的に容易である。補強線がメッシュ構造である
場合には、マスク部分と補強線とを重ね合わせて一度に
接続することができる。
The method of manufacturing the shadow mask of the present invention is not particularly limited, but a method of separately forming the mask portion and the reinforcing wire and connecting the reinforcing wire to one surface of the mask portion is easy in process. . When the reinforcing wire has a mesh structure, the mask portion and the reinforcing wire can be overlapped and connected at one time.

【0018】マスク部分と補強線とを接続する方法とし
ては接着剤や粘着剤を利用したり、圧着や溶接、樹脂材
料の場合には加熱圧着や融着などもできるが、両者のう
ち少なくとも一方が金属系材料のように導電性を持つ場
合には、加工精度の点から電着現象を利用することが好
ましい。つまり、マスク部分と補強線とを接触させた状
態で電解液中に浸し、通電によって接触部分に電着物を
析出させることで両者を接続するものである。一般的に
電着物にはNiに代表される金属材料が選ばれるが、ポ
リアニリンなどの有機材料を利用することも可能であ
る。
As a method for connecting the mask portion and the reinforcing wire, an adhesive or a pressure-sensitive adhesive can be used, or pressure bonding or welding can be used. In the case of a resin material, heat compression bonding or fusion can be used. In the case where is a conductive material like a metal-based material, it is preferable to use the electrodeposition phenomenon from the viewpoint of processing accuracy. That is, the mask portion and the reinforcing wire are immersed in an electrolytic solution in contact with each other, and an electrodeposit is deposited on the contact portion by energization to connect the two. Generally, a metal material typified by Ni is selected for the electrodeposit, but an organic material such as polyaniline can also be used.

【0019】マスク部分の形成方法としては、エッチン
グ法や機械的研磨、サンドブラスト法、焼結法、レーザ
ー加工法、感光性樹脂の利用などが挙げられるが、微細
なパターン加工精度に優れ、マスク部分を比較的容易に
厚く形成できる電鋳法を用いることが好ましい。補強線
の形成方法についても同様のことが言えるが、形成方法
は特に限定されるものではなく、必要に応じて最適な方
法を選べばよい。
Examples of the method of forming the mask portion include an etching method, mechanical polishing, a sand blast method, a sintering method, a laser processing method, use of a photosensitive resin, and the like. It is preferable to use an electroforming method that can relatively easily form a thick film. The same can be said for the method of forming the reinforcing wire, but the forming method is not particularly limited, and an optimum method may be selected as needed.

【0020】本発明の好ましい有機電界発光装置は、透
明基板上に形成されたストライプ状にパターニングされ
た複数の透明な第一電極上に、少なくとも有機化合物か
らなる発光層を含む薄膜層を形成し、その上に第一電極
と交差するストライプ状にパターニングされた第二電極
を形成したものである。第二電極はストライプ状にパタ
ーニングされていることを特徴とし、さらに、第二電極
の幅は500μm以下であることが特徴である。第一電
極とストライプ状にパターニングされた第二電極との交
差部分が1つの発光画素を形成する。フルカラー表示に
おいては、赤、緑、青の3つの発光画素が1つの表示画
素となるものである。第二電極の幅は、これらの発光画
素のサイズに関係するものであり、高精細な表示を行う
ためには500μm以下であることが好ましい。画素サ
イズを決めるもう1つの要素は第一電極の幅であるが、
これは通常、第二電極の幅より狭いことが多い。
In a preferred organic electroluminescent device of the present invention, a thin film layer including at least a light emitting layer made of an organic compound is formed on a plurality of transparent first electrodes patterned in a stripe shape formed on a transparent substrate. And a second electrode patterned thereon in a stripe pattern crossing the first electrode. The second electrode is characterized in that it is patterned in stripes, and the width of the second electrode is not more than 500 μm. The intersection between the first electrode and the second electrode patterned in a stripe form one luminescent pixel. In a full-color display, three light-emitting pixels of red, green, and blue become one display pixel. The width of the second electrode is related to the size of these luminescent pixels, and is preferably 500 μm or less for performing high-definition display. Another factor that determines the pixel size is the width of the first electrode,
This is usually smaller than the width of the second electrode.

【0021】本発明の有機電界発光装置は、つぎのよう
な工程で製造されるものであるが、これに限定されるも
のではない。基板としては透明材料から選択されるが通
常ガラス基板が用いられ、その上に、多くの場合、酸化
錫インジウム(ITO)からなる透明電極膜をパターニ
ングして第一電極を形成する。第一電極を形成した基板
上には第一電極の一部を覆う絶縁層を形成する場合があ
り、さらに少なくとも一部分が薄膜層の厚さを上回る高
さを有するスペーサーを形成する場合もある。ついで発
光層を含む薄膜層を第一電極上に形成するが、薄膜層の
構成には、1)正孔輸送層/発光層、2)正孔輸送層/
発光層/電子輸送層、3)発光層/電子輸送層、そして
4)以上の層構成物質を一層に混合した形態の発光層な
どが考えられるが、いずれであってもよい。正孔輸送
層、発光層、電子輸送層などの有機層には公知の材料が
用いられる。これらの薄膜層のパターニング形成にはシ
ャドーマスクを使用した種々の蒸着法を適用することが
できる。その後、本発明の補強線の開口率が60%以上
のシャドーマスクを用いて第二電極材料を蒸着してスト
ライプ状の第二電極を形成して目的とする有機電界発光
装置を得ることができる。さらに、第二電極形成後に公
知の技術で保護膜形成や封止を行うことがある。
The organic electroluminescent device of the present invention is manufactured by the following steps, but is not limited thereto. The substrate is selected from a transparent material, but a glass substrate is usually used, and a transparent electrode film made of indium tin oxide (ITO) is often patterned thereon to form a first electrode. In some cases, an insulating layer covering a part of the first electrode is formed on the substrate on which the first electrode is formed, and in some cases, a spacer having at least a part having a height exceeding the thickness of the thin film layer is formed. Next, a thin film layer including a light emitting layer is formed on the first electrode. The structure of the thin film layer includes 1) a hole transport layer / a light emitting layer, and 2) a hole transport layer /
A light-emitting layer / electron transport layer, 3) a light-emitting layer / electron transport layer, and a light-emitting layer in which 4 or more layer constituent materials are mixed in a single layer are conceivable. Known materials are used for the organic layers such as the hole transport layer, the light emitting layer, and the electron transport layer. Various evaporation methods using a shadow mask can be applied to pattern formation of these thin film layers. Thereafter, the second electrode material is deposited by using a shadow mask having an opening ratio of the reinforcing wire of 60% or more according to the present invention to form a stripe-shaped second electrode, whereby an intended organic electroluminescent device can be obtained. . Further, after formation of the second electrode, formation of a protective film or sealing may be performed by a known technique.

【0022】[0022]

【実施例】以下、実施例および比較例を挙げて本発明を
説明するが、本発明はこれらの例によって限定されるも
のではない。
The present invention will be described below with reference to examples and comparative examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0023】実施例1 第二電極のパターニング用のシャドーマスクは以下のよ
うに作製した。まず、マスク部分として外形120×8
4mm、厚さ100μmのNi−Co合金シートにスト
ライプ状開口部を設けものを形成した。ストライプ状開
口部は長さ100mm、幅250μmであり、ピッチ3
00μmで幅方向に200本並んでいる。このマスク部
分は電鋳法によって電鋳母型上にNi−Co合金を析出
させることで形成した。次に、補強線として正六角形か
らなるメッシュ構造のものを形成した。補強線も電鋳法
を利用して形成したものであり、材質はNiである。前
記マスク部分を電鋳母型から取り外す前に、この補強線
をマスク部分の上に重ね、Niの電着によって両者を接
続した。これを電鋳母型から取り外し、マスク部分と外
形が等しい幅4mmのステンレス鋼製フレームに接着剤
を用いて固定し、フレームからはみ出した余分の補強線
をカットした。なお、マスク部分との接続からフレーム
への固定までの間、補強線には張力を加えており、シャ
ドーマスクの平面性を損なわないように注意した。ま
た、シャドーマスクのうち補強線のある方の面をフレー
ムに接着した。シャドーマスクの基板接触面と補強線と
の間には100μmの隙間が存在する。補強線の線幅は
36μmであり、正六角形において対向する二辺の補強
線間隔は200μmである。幾何学的に計算して求めた
このメッシュ状補強線の開口率は63%であった。
Example 1 A shadow mask for patterning the second electrode was prepared as follows. First, an outer shape 120 × 8 as a mask part
A Ni—Co alloy sheet having a thickness of 4 mm and a thickness of 100 μm was provided with a striped opening. The stripe-shaped opening has a length of 100 mm and a width of 250 μm, and has a pitch of 3
200 pieces are arranged in the width direction at 00 μm. This mask portion was formed by depositing a Ni-Co alloy on an electroformed master by electroforming. Next, a mesh structure composed of regular hexagons was formed as a reinforcing wire. The reinforcing wire is also formed by using the electroforming method, and the material is Ni. Before the mask portion was removed from the electroformed mold, the reinforcing wire was overlaid on the mask portion, and the two were connected by electrodeposition of Ni. This was removed from the electroformed mold, fixed to a 4 mm-wide stainless steel frame having the same outer shape as the mask portion using an adhesive, and an extra reinforcing wire protruding from the frame was cut. During the period from connection with the mask portion to fixing to the frame, tension was applied to the reinforcing wire, and care was taken not to impair the flatness of the shadow mask. In addition, the surface of the shadow mask having the reinforcing line was bonded to the frame. There is a gap of 100 μm between the substrate contact surface of the shadow mask and the reinforcing line. The line width of the reinforcing wire is 36 μm, and the interval between the reinforcing lines on two sides facing each other in the regular hexagon is 200 μm. The opening ratio of this mesh-like reinforcing wire calculated and calculated geometrically was 63%.

【0024】有機電界発光装置は次のようにして製造し
た。厚さ1.1mmの無アルカリガラス表面にスパッタ
リング蒸着法によって厚さ130nmのITO透明電極
膜が形成されたITOガラス基板(ジオマテック社製)
を120×100mmの大きさに切断した。ITO基板
上にフォトレジストを塗布して、通常のフォトリソグラ
フィ法による露光・現像によってパターニングした。I
TOの不要部分をエッチングして除去した後、フォトレ
ジストを除去することで、ITO膜を長さ90mm、幅
70μmのストライプ形状にパターニングした。このス
トライプ状第一電極は100μmピッチで816本配置
されている。
The organic electroluminescent device was manufactured as follows. An ITO glass substrate (manufactured by Geomatic) having a 130 nm-thick ITO transparent electrode film formed on a 1.1 mm-thick non-alkali glass surface by a sputtering deposition method.
Was cut into a size of 120 × 100 mm. A photoresist was applied on the ITO substrate, and was patterned by exposure and development by a normal photolithography method. I
After removing unnecessary portions of TO by etching, the ITO film was patterned into a stripe shape having a length of 90 mm and a width of 70 μm by removing the photoresist. 816 of the striped first electrodes are arranged at a pitch of 100 μm.

【0025】次に、ポジ型フォトレジスト(東京応化社
製、OFPR−800)をスピンコート法により第一電
極を形成した基板上に厚さ3μmになるように塗布し
た。この塗布膜にフォトマスクを介してパターン露光
し、現像してフォトレジストのパターニングを行い、現
像後に160℃でキュアした。このパターニングに用い
たフォトマスクには、幅65μm、長さ235μmの絶
縁層開口部が幅方向には100μmピッチで816個、
長さ方向には300μmピッチで200個配置されてい
る。
Next, a positive photoresist (OFPR-800, manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.) was applied by spin coating to a thickness of 3 μm on the substrate on which the first electrode was formed. The coating film was exposed to a pattern through a photomask, developed, and patterned to form a photoresist. After development, the coating was cured at 160 ° C. In the photomask used for this patterning, 816 openings of an insulating layer having a width of 65 μm and a length of 235 μm were formed at a pitch of 100 μm in the width direction.
In the length direction, 200 pieces are arranged at a pitch of 300 μm.

【0026】この基板を洗浄した後、真空蒸着機内にセ
ットした。本蒸着機では、真空中でそれぞれ10μm程
度の精度で基板とシャドーマスクの位置合わせができ、
シャドーマスクを交換することができる。
After washing this substrate, it was set in a vacuum evaporation machine. In this vapor deposition machine, the position of the substrate and the shadow mask can be adjusted with a precision of about 10 μm in vacuum, respectively.
The shadow mask can be replaced.

【0027】発光層を含む薄膜層は、抵抗線加熱方式に
よる真空蒸着法によって形成した。なお、蒸着時の真空
度は2×10-4Pa以下であり、蒸着中は蒸着源に対し
て基板を回転させた。
The thin film layer including the light emitting layer was formed by a vacuum evaporation method using a resistance wire heating method. The degree of vacuum at the time of vapor deposition was 2 × 10 −4 Pa or less, and the substrate was rotated with respect to the vapor deposition source during vapor deposition.

【0028】発光層パターニング用として、マスク部分
と補強線とが同一平面内に形成されたシャドーマスク
(図3に示す)を用いた。シャドーマスクの外形は12
0×84mm、マスク部分の厚さは25μmであり、長
さ64mm、幅100μmのストライプ状開口部がピッ
チ300μmで272本配置されている。各ストライプ
状開口部には、開口部と直交する幅20μm、厚さ25
μmの補強線が1.8mm間隔に形成されている。シャ
ドーマスクは外形が等しい幅4mmのステンレス鋼製フ
レームに固定されている。
For patterning the light emitting layer, a shadow mask (shown in FIG. 3) in which a mask portion and a reinforcing line were formed in the same plane was used. The outline of the shadow mask is 12
0 × 84 mm, the thickness of the mask portion is 25 μm, and 272 stripe-shaped openings having a length of 64 mm and a width of 100 μm are arranged at a pitch of 300 μm. Each stripe-shaped opening has a width of 20 μm orthogonal to the opening and a thickness of 25 μm.
μm reinforcing lines are formed at 1.8 mm intervals. The shadow mask is fixed to a stainless steel frame having the same outer shape and a width of 4 mm.

【0029】まず、図4に示すような配置において、銅
フタロシアニンを15nm、ビス(N−エチルカルバゾ
ール)を60nm基板全面に蒸着して正孔輸送層5を形
成した。
First, in the arrangement as shown in FIG. 4, copper phthalocyanine was deposited to a thickness of 15 nm, and bis (N-ethylcarbazole) was deposited to a thickness of 60 nm to form a hole transport layer 5 on the entire surface of the substrate.

【0030】次に、発光層用シャドーマスクを基板前方
に配置して両者を密着させ、基板後方にはフェライト系
板磁石(日立金属社製、YBM−1B)を配置した。こ
の際、図5および図6に示したように、ストライプ状第
一電極2がシャドーマスクのストライプ状開口部の中心
に位置し、補強線が絶縁層上に位置し、かつ補強線と絶
縁層が接触するように配置される。この状態で0.3重
量%の1,3,5,7,8−ペンタメチル−4,4−ジ
フロロ−4−ボラ−3a,4a−ジアザ−s−インダセ
ン(PM546)をドーピングした8−ヒドロキシキノ
リン−アルミニウム錯体(Alq3)を21nm蒸着
し、緑色発光層をパターニングした。
Next, a shadow mask for a light emitting layer was disposed in front of the substrate so that they were in close contact with each other, and a ferrite plate magnet (YBM-1B, manufactured by Hitachi Metals, Ltd.) was disposed behind the substrate. At this time, as shown in FIGS. 5 and 6, the stripe-shaped first electrode 2 is located at the center of the stripe-shaped opening of the shadow mask, the reinforcing line is located on the insulating layer, and the reinforcing line and the insulating layer Are arranged to be in contact with each other. 8-hydroxyquinoline doped with 0.3% by weight of 1,3,5,7,8-pentamethyl-4,4-difluoro-4-bora-3a, 4a-diaza-s-indacene (PM546) in this state - aluminum complex (Alq 3) was 21nm deposited and patterned green emission layer.

【0031】次に、シャドーマスクを1ピッチ分ずらし
た位置の第一電極パターンに位置合わせして、1重量%
の4−(ジシアノメチレン)−2−メチル−6−(ジュ
ロリジルスチリル)ピラン(DCJT)をドーピングし
たAlq3を15nm蒸着して、赤色発光層をパターニ
ングした。
Next, the shadow mask is aligned with the first electrode pattern at a position shifted by one pitch,
Alq 3 doped with 4- (dicyanomethylene) -2-methyl-6- (julolidylstyryl) pyran (DCJT) was deposited to a thickness of 15 nm to pattern the red light emitting layer.

【0032】さらにシャドーマスクを1ピッチ分ずらし
た位置の第一電極パターンに位置合わせして、4,4’
−ビス(2,2’−ジフェニルビニル)ジフェニル(D
PVBi)を20nm蒸着して、青色発光層をパターニ
ングした。緑色、赤色、青色それぞれの発光層は、スト
ライプ状第一電極の3本ごとに配置され、第一電極の露
出部分を完全に覆っている。
Further, the shadow mask is aligned with the first electrode pattern at a position shifted by one pitch, and
-Bis (2,2'-diphenylvinyl) diphenyl (D
PVBi) was deposited to a thickness of 20 nm to pattern the blue light-emitting layer. The green, red, and blue light emitting layers are arranged for every three stripe-shaped first electrodes, and completely cover the exposed portions of the first electrodes.

【0033】次に図7に示した配置において、DPVB
iを35nm、Alq3を10nm基板全面に蒸着し
た。この後、薄膜層をリチウム蒸気に曝してドーピング
(膜厚換算量0.5nm)した。
Next, in the arrangement shown in FIG.
i was deposited on the entire surface of the substrate to a thickness of 35 nm and Alq 3 to a thickness of 10 nm. Thereafter, the thin film layer was exposed to lithium vapor for doping (0.5 nm in equivalent film thickness).

【0034】第二電極は、抵抗線加熱方式による真空蒸
着法によって形成した。なお、蒸着時の真空度は3×1
-4Pa以下であり、蒸着中は2つの蒸着源に対して基
板を回転させた。発光層のパターニングと同様に、前記
の第二電極用シャドーマスクを基板前方に配置して両者
を密着させ、基板後方には磁石を配置した。この際、図
8および図9に示すように、絶縁層がマスク部分の位置
と一致するように両者を配置する。この状態でアルミニ
ウムを400nmの厚さに蒸着して、第二電極をパター
ニングした。第二電極は、間隔をあけて配置された複数
のストライプ状にパターニングされている第一電極と直
交する配置で、間隔をあけて配置されたストライプ状に
パターニングされている。
The second electrode was formed by a vacuum evaporation method using a resistance wire heating method. The degree of vacuum at the time of deposition was 3 × 1
0 -4 and a Pa or less, during the deposition is rotated substrate for the two deposition sources. Similarly to the patterning of the light-emitting layer, the above-mentioned shadow mask for the second electrode was arranged in front of the substrate so that they were in close contact with each other, and a magnet was arranged behind the substrate. At this time, as shown in FIGS. 8 and 9, both are arranged so that the insulating layer matches the position of the mask portion. In this state, a second electrode was patterned by evaporating aluminum to a thickness of 400 nm. The second electrode is arranged orthogonally to the first electrode patterned in a plurality of stripes arranged at intervals, and is patterned in stripes arranged at intervals.

【0035】このようにして、ピッチ100μm、本数
816本のITOストライプ状第一電極上に、パターニ
ングされた緑色発光層、赤色発光層および青色発光層が
形成され、第一電極と直交するように、ピッチ300μ
mのストライプ状第二電極が200本配置された単純マ
トリクス型カラー有機電界発光装置を作製した。赤、
緑、青の3つの発光領域が1画素を形成するので、本発
光装置は300μmピッチで272×200画素を有す
る。
In this manner, the patterned green, red and blue light emitting layers are formed on the ITO striped first electrode having a pitch of 100 μm and 816 lines, and are formed so as to be orthogonal to the first electrode. , Pitch 300μ
A simple matrix type color organic electroluminescent device in which 200 m-shaped second electrodes were arranged was fabricated. Red,
Since the three light emitting regions of green and blue form one pixel, the light emitting device has 272 × 200 pixels at a pitch of 300 μm.

【0036】本実施例で形成された第二電極について原
子間力顕微鏡(AFM)で補強線の影になった部分の膜
厚を測定したところ、補強線のない部分(所定膜厚部
分)との差の最大値は70nmであった。また、補強線
の影になったために所定膜厚部分に対して90%以下の
膜厚となった領域の幅は25μmであった。
The thickness of the portion of the second electrode formed in this embodiment, which was shaded by the reinforcing line, was measured by an atomic force microscope (AFM). The maximum value of the difference was 70 nm. Further, the width of the region where the thickness was 90% or less of the predetermined thickness portion due to the shadow of the reinforcing line was 25 μm.

【0037】実施例2 補強線の線幅を32μmとし、幾何学的に計算して求め
たメッシュ状補強線の開口率を66%として、実施例1
を繰り返した。本実施例で形成された第二電極について
原子間力顕微鏡(AFM)で補強線の影になった部分の
膜厚を測定した処、補強線のない部分(所定膜厚部分)
との差の最大値は50nmであった。また、補強線の影
になったために所定膜厚部分に対して90%以下の膜厚
となった領域の幅は15μmであった。また、第二電極
の抵抗値は実施例1に比べて約10%減少した。
Embodiment 2 The line width of the reinforcing wire was set to 32 μm, and the opening ratio of the mesh-shaped reinforcing wire obtained by geometric calculation was set to 66%.
Was repeated. The thickness of the portion of the second electrode formed in the present embodiment, which was shaded by the reinforcing line, was measured by an atomic force microscope (AFM).
Was 50 nm. The width of the region where the thickness was 90% or less of the predetermined thickness portion due to the shadow of the reinforcing line was 15 μm. Further, the resistance value of the second electrode was reduced by about 10% as compared with Example 1.

【0038】比較例1 補強線の線幅を40μmとし、メッシュ状補強線の開口
率を59%として、実施例1を繰り返した。本比較例で
得られた第二電極について原子間力顕微鏡(AFM)で
補強線の影になった部分の膜厚を測定した処、補強線の
ない部分(所定膜厚部分)との差の最大値は80nmで
あった。また補強線の影になったために、所定膜厚部分
に対して90%以下の膜厚となった領域の幅は30μm
であった。また、得られた第二電極の抵抗値は実施例1
に比べて約15%増加した。
Comparative Example 1 Example 1 was repeated except that the line width of the reinforcing wires was 40 μm and the opening ratio of the mesh reinforcing wires was 59%. For the second electrode obtained in this comparative example, the film thickness of the portion shaded by the reinforcing line was measured with an atomic force microscope (AFM). The maximum value was 80 nm. In addition, the width of the region where the film thickness was 90% or less of the predetermined film thickness portion due to the shadow of the reinforcing line was 30 μm.
Met. Further, the resistance value of the obtained second electrode was obtained in Example 1.
Approximately 15% increase.

【0039】[0039]

【発明の効果】メッシュ状の補強線を有するシャドーマ
スクを用いて第二電極のパターニング形成を行う際に、
補強線の開口率を60%以上とし、さらには補強線の線
幅を40μm未満とすることで、補強線の下部の第二電
極の厚みの低下を少なくすることが可能となり、抵抗値
の低い第二電極を形成した有機電界発光装置が製造でき
る。
When the patterning of the second electrode is performed using a shadow mask having a mesh-like reinforcing line,
By setting the opening ratio of the reinforcing wire to 60% or more and further reducing the line width of the reinforcing wire to less than 40 μm, it is possible to reduce the decrease in the thickness of the second electrode below the reinforcing wire, and to reduce the resistance value. An organic electroluminescent device having the second electrode can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に使用される第二電極パターニング用シ
ャドーマスクの一例を示す平面図。
FIG. 1 is a plan view showing an example of a shadow mask for patterning a second electrode used in the present invention.

【図2】図1のXX’断面図。FIG. 2 is a sectional view taken along line XX ′ of FIG. 1;

【図3】本発明に使用される発光層パターニング用シャ
ドーマスクの一例を示す平面図。
FIG. 3 is a plan view showing an example of a shadow mask for patterning a light emitting layer used in the present invention.

【図4】正孔輸送層の形成方法の一例を説明するXX’
断面図。
FIG. 4 is a cross-sectional view XX ′ illustrating an example of a method for forming a hole transport layer.
Sectional view.

【図5】発光層パターニング方法の一例を説明するX
X’断面図。
FIG. 5 illustrates an example of a light emitting layer patterning method X
X 'sectional view.

【図6】発光層パターニング方法の一例を説明するY
Y’断面図。
FIG. 6 illustrates an example of a light emitting layer patterning method.
Y ′ sectional view.

【図7】電子輸送層の形成方法の一例を説明するXX’
断面図。
FIG. 7 is a cross-sectional view XX ′ illustrating an example of a method for forming an electron transport layer.
Sectional view.

【図8】第二電極パターニング方法の一例を説明するX
X’断面図。
FIG. 8 illustrates an example of a second electrode patterning method.
X 'sectional view.

【図9】第二電極パターニング方法の一例を説明するY
Y’断面図。
FIG. 9 illustrates an example of a second electrode patterning method.
Y ′ sectional view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 第一電極 4 絶縁層(スペーサー) 5 正孔輸送層 6 発光層 7 電子輸送層 8 第二電極 10 薄膜層 11 正孔輸送材料 12 発光材料 13 電子輸送材料 14 第二電極材料 30 シャドーマスク 31 マスク部分 32 開口部 33 補強線 34 フレーム 35 マスクの一方の面 36 隙間 Reference Signs List 1 substrate 2 first electrode 4 insulating layer (spacer) 5 hole transport layer 6 light emitting layer 7 electron transport layer 8 second electrode 10 thin film layer 11 hole transport material 12 light emitting material 13 electron transport material 14 second electrode material 30 shadow Mask 31 Mask part 32 Opening 33 Reinforcement line 34 Frame 35 One surface of mask 36 Gap

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板上に形成された第一電極と、第一電極
上に形成された少なくとも有機化合物からなる発光層を
含む薄膜層と、薄膜層上に形成された第二電極とを含む
有機電界発光装置の製造方法であって、マスク部分に少
なくとも1つ以上の開口部を有し、かつ、マスク部分の
一方の面に開口率60%以上のメッシュ状補強線を有す
るシャドーマスクを、マスク部分の他方の面を前記基板
に向けて配置した状態で、前記補強線側から飛来した第
二電極材料を前記開口部を介して前記薄膜層上に蒸着せ
しめることで、前記第二電極をパターニングすることを
特徴とする有機電界発光装置の製造方法。
A first electrode formed on a substrate, a thin film layer formed on the first electrode, the light emitting layer including at least an organic compound, and a second electrode formed on the thin film layer. A method for manufacturing an organic electroluminescent device, comprising: a shadow mask having at least one or more openings in a mask portion, and having a mesh reinforcing line having an aperture ratio of 60% or more on one surface of the mask portion; In a state where the other surface of the mask portion is arranged facing the substrate, the second electrode material flying from the reinforcing wire side is vapor-deposited on the thin film layer through the opening to thereby form the second electrode. A method for manufacturing an organic electroluminescent device, comprising patterning.
【請求項2】補強線の幅が40μm未満であることを特
徴とする請求項1記載の有機電界発光装置の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the width of the reinforcing wire is less than 40 μm.
【請求項3】第二電極をストライプ状にパターニングす
ることを特徴とする請求項1記載の有機電界発光装置の
製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the second electrode is patterned in a stripe shape.
【請求項4】第二電極の幅が500μm以下であること
を特徴とする請求項1記載の有機電界発光装置の製造方
法。
4. The method according to claim 1, wherein the width of the second electrode is 500 μm or less.
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