JP2001093221A - 磁気ディスク装置の寿命判定装置 - Google Patents
磁気ディスク装置の寿命判定装置Info
- Publication number
- JP2001093221A JP2001093221A JP27159899A JP27159899A JP2001093221A JP 2001093221 A JP2001093221 A JP 2001093221A JP 27159899 A JP27159899 A JP 27159899A JP 27159899 A JP27159899 A JP 27159899A JP 2001093221 A JP2001093221 A JP 2001093221A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic disk
- life
- magnetic head
- magnetic
- disk drive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁気ディスク装置の寿命判定を正確にかつ早
期に行う。 【解決手段】 ＣＰＵ８は、磁気ヘッド１の出力振幅を
監視する。メモリ７には、磁気ディスク装置検査時（製
造検査時）に予め磁気ヘッドの出力振幅値が基準値とし
て記憶されており、ＣＰＵ８はこの基準値と監視結果
（監視出力振幅）とを比較して、その比較結果が予め設
定された値以上変動すると、磁気ディスク装置は寿命で
あると判定する。
期に行う。 【解決手段】 ＣＰＵ８は、磁気ヘッド１の出力振幅を
監視する。メモリ７には、磁気ディスク装置検査時（製
造検査時）に予め磁気ヘッドの出力振幅値が基準値とし
て記憶されており、ＣＰＵ８はこの基準値と監視結果
（監視出力振幅）とを比較して、その比較結果が予め設
定された値以上変動すると、磁気ディスク装置は寿命で
あると判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
の寿命を判定する装置に関し、特に、磁気ヘッドの出力
を用いて磁気ディスク装置の寿命を判定する手法に関す
る。
の寿命を判定する装置に関し、特に、磁気ヘッドの出力
を用いて磁気ディスク装置の寿命を判定する手法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に、磁気ディスク装置では、磁気ヘ
ッドと磁気ディスク面との接触等に起因する劣化によっ
てデータ再生ができなくなることがある。つまり、デー
タ再生不可能となることがある。そこで、データ再生が
不可能になる前に、磁気ディスク装置の寿命を検出する
ことができれば、既に記録されたデータのバックアップ
等を行うことによって、重要なデータを失わずに済むこ
とになる。
ッドと磁気ディスク面との接触等に起因する劣化によっ
てデータ再生ができなくなることがある。つまり、デー
タ再生不可能となることがある。そこで、データ再生が
不可能になる前に、磁気ディスク装置の寿命を検出する
ことができれば、既に記録されたデータのバックアップ
等を行うことによって、重要なデータを失わずに済むこ
とになる。
【０００３】従来、磁気ディスク装置の寿命を判定する
際には、所謂平均故障間稼働時間（ＭＴＢＦ）に基づい
て磁気ディスク装置が何時間稼動したかを調べて、これ
によって、磁気ディスク装置の寿命を判定することが行
われている。
際には、所謂平均故障間稼働時間（ＭＴＢＦ）に基づい
て磁気ディスク装置が何時間稼動したかを調べて、これ
によって、磁気ディスク装置の寿命を判定することが行
われている。
【０００４】さらに、磁気ディスク装置の寿命を判定す
る手法として、例えば、特開昭60-219614号公報に記載
された手法が知られており、ここでは、磁気抵抗効果型
磁気ヘッドの抵抗値を監視して、この監視結果に基づい
て磁気ヘッドの寿命を判定し、結果的に磁気ディスク装
置の寿命を判定するようにしている。
る手法として、例えば、特開昭60-219614号公報に記載
された手法が知られており、ここでは、磁気抵抗効果型
磁気ヘッドの抵抗値を監視して、この監視結果に基づい
て磁気ヘッドの寿命を判定し、結果的に磁気ディスク装
置の寿命を判定するようにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のＭＴ
ＢＦによる寿命判定では、磁気ディスク装置の稼働時間
に基づいて寿命がきたか否かを判定しているため、実際
には個々の磁気ディスク装置においてその寿命が異なる
にもかかわらず、つまり、磁気ディスク装置毎に寿命誤
差があるため、個々の磁気ディスク装置毎に正確に寿命
を判定することが難しいという問題点がある。
ＢＦによる寿命判定では、磁気ディスク装置の稼働時間
に基づいて寿命がきたか否かを判定しているため、実際
には個々の磁気ディスク装置においてその寿命が異なる
にもかかわらず、つまり、磁気ディスク装置毎に寿命誤
差があるため、個々の磁気ディスク装置毎に正確に寿命
を判定することが難しいという問題点がある。
【０００６】さらに、特開昭60-219614号公報に記載さ
れた手法では、磁気抵抗効果型磁気ヘッドの抵抗値を監
視して、磁気ディスク装置が寿命であるか否かを判定し
ている結果、磁気抵抗効果型磁気ヘッド以外の磁気ヘッ
ドでは寿命判定ができないという問題点があるばかりで
なく、別に、磁気ヘッドの抵抗値を測定するための回路
又は装置が必要となって磁気ディスク装置のコストが上
昇してしまうという問題点もある。
れた手法では、磁気抵抗効果型磁気ヘッドの抵抗値を監
視して、磁気ディスク装置が寿命であるか否かを判定し
ている結果、磁気抵抗効果型磁気ヘッド以外の磁気ヘッ
ドでは寿命判定ができないという問題点があるばかりで
なく、別に、磁気ヘッドの抵抗値を測定するための回路
又は装置が必要となって磁気ディスク装置のコストが上
昇してしまうという問題点もある。
【０００７】本発明の目的は、正確にしかも安価に磁気
ディスク装置の寿命を判定することのできる判定装置を
提供することにある。
ディスク装置の寿命を判定することのできる判定装置を
提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク装
置の寿命判定装置は、磁気ヘッド（図１の１）の出力振
幅を監視することにより装置の寿命を判定する装置であ
る。装置検査行程における磁気ヘッド出力振幅をメモリ
ー（図１の７）に保存しておき、以後、装置稼動時の磁
気ヘッド出力振幅が大きく変動した時点で装置寿命と判
定する。
置の寿命判定装置は、磁気ヘッド（図１の１）の出力振
幅を監視することにより装置の寿命を判定する装置であ
る。装置検査行程における磁気ヘッド出力振幅をメモリ
ー（図１の７）に保存しておき、以後、装置稼動時の磁
気ヘッド出力振幅が大きく変動した時点で装置寿命と判
定する。
【０００９】具体的な磁気ヘッド出力振幅の検出装置
は、先ず、装置検査工程において、磁気ディスク（図２
の１１）上のデータの書き込み・読み込みには使われな
いサーボ部（図２の１２）の磁気ヘッド出力振幅のＡＧ
Ｃ回路（図１の３）のゲイン固定にしたときの出力を積
分したものをＡ／Ｄ変換した値を磁気ヘッド出力値とし
て検出し、これをメモリーに保存する。装置稼動時にも
同様に磁気ヘッド出力値を検出してメモリー上の値と比
較して磁気ヘッド出力振幅の変動を監視する。
は、先ず、装置検査工程において、磁気ディスク（図２
の１１）上のデータの書き込み・読み込みには使われな
いサーボ部（図２の１２）の磁気ヘッド出力振幅のＡＧ
Ｃ回路（図１の３）のゲイン固定にしたときの出力を積
分したものをＡ／Ｄ変換した値を磁気ヘッド出力値とし
て検出し、これをメモリーに保存する。装置稼動時にも
同様に磁気ヘッド出力値を検出してメモリー上の値と比
較して磁気ヘッド出力振幅の変動を監視する。
【００１０】また、装置稼動時におけるデータ書き込み
時のデータ部（図２の１３）の磁気ヘッド出力値を検出
してメモリー上の値と比較して磁気ヘッド出力振幅の変
動を監視する。
時のデータ部（図２の１３）の磁気ヘッド出力値を検出
してメモリー上の値と比較して磁気ヘッド出力振幅の変
動を監視する。
【００１１】磁気ディスク装置の寿命の一要因として磁
気ヘッドの出力低下がある。磁気ヘッドの出力はプリア
ンプ（図１の２）およびＡＧＣ回路（図１の３）によっ
て増幅されるが、元となる磁気ヘッドの出力が低下する
とデータ再生能力が低下する。
気ヘッドの出力低下がある。磁気ヘッドの出力はプリア
ンプ（図１の２）およびＡＧＣ回路（図１の３）によっ
て増幅されるが、元となる磁気ヘッドの出力が低下する
とデータ再生能力が低下する。
【００１２】従って、磁気ディスク上の通常動作により
書きかえられない部分の磁気ヘッド出力を検出してその
変動を監視することにより磁気ヘッドの読み取り動作の
劣化が判定できる。
書きかえられない部分の磁気ヘッド出力を検出してその
変動を監視することにより磁気ヘッドの読み取り動作の
劣化が判定できる。
【００１３】また、通常動作により書き込んだデータの
磁気ヘッド出力を検出してその変動を監視することによ
り磁気ヘッドの書き込み動作の劣化が判定できる。
磁気ヘッド出力を検出してその変動を監視することによ
り磁気ヘッドの書き込み動作の劣化が判定できる。
【００１４】磁気ヘッドの読み取り・書き込み機能の劣
化を判定することにより、磁気ディスク装置の寿命判定
をおこなう。
化を判定することにより、磁気ディスク装置の寿命判定
をおこなう。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下本発明について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１６】まず、図１を参照して、磁気ディスク装置
には、磁気ヘッド１が備えられており、磁気ヘッド１か
ら出力される再生信号は、プリアンプ２によって増幅さ
れ、さらに、ＡＧＣ回路３によって所定の振幅に制御さ
れる。そして、ＡＧＣ回路３からの出力信号（再生信
号）は復調器４によって再生データへと変換される。
には、磁気ヘッド１が備えられており、磁気ヘッド１か
ら出力される再生信号は、プリアンプ２によって増幅さ
れ、さらに、ＡＧＣ回路３によって所定の振幅に制御さ
れる。そして、ＡＧＣ回路３からの出力信号（再生信
号）は復調器４によって再生データへと変換される。
【００１７】さらに、ＡＧＣ回路３からの出力信号は、
積分器５によって積分されて積分信号としてＡ／Ｄ変換
器６に与えられる。Ａ／Ｄ変換器６では、積分信号をデ
ジタル値（デジタル信号）に変換して磁気ヘッド出力値
として出力する。
積分器５によって積分されて積分信号としてＡ／Ｄ変換
器６に与えられる。Ａ／Ｄ変換器６では、積分信号をデ
ジタル値（デジタル信号）に変換して磁気ヘッド出力値
として出力する。
【００１８】この磁気ヘッド出力値は不揮発性のメモリ
７に与えられ、ここに記憶出力値として記憶されるとと
もに、ＣＰＵ８に与えられる。
７に与えられ、ここに記憶出力値として記憶されるとと
もに、ＣＰＵ８に与えられる。
【００１９】ここで、図２を参照して、磁気ディスク１
１のディスク面には、データが書き込まれるデータ部１
３と磁気ヘッド１の位置決めの際用いられるサーボ部１
２とが備えられている。このサーボ部１２には、磁気デ
ィスク装置の製造時に予めサーボセクタ２０が書き込ま
れ、以後、このサーボ部１２は書きかえられることはな
い。
１のディスク面には、データが書き込まれるデータ部１
３と磁気ヘッド１の位置決めの際用いられるサーボ部１
２とが備えられている。このサーボ部１２には、磁気デ
ィスク装置の製造時に予めサーボセクタ２０が書き込ま
れ、以後、このサーボ部１２は書きかえられることはな
い。
【００２０】図３を参照して、サーボ部１２に書き込ま
れているサーボセクタ２０の構成について説明すると、
サーボセクタ２０は、ＡＧＣ２１、サーボマーク２２、
シリンダアドレス２３、及び位置信号２４を備えてお
り、ＡＧＣ２１は、ＡＧＣ回路３の応答が十分に安定す
るための所定の長さを有している。サーボマーク２２は
特殊なパターンにより構成されており、サーボセクタ２
０であることを示すためのものである。シリンダアドレ
ス２３には、磁気ディスク１１の半径方向に分割された
シリンダ番号が記されている。位置信号２４はシリンダ
内の詳細な位置を示すためのものである。
れているサーボセクタ２０の構成について説明すると、
サーボセクタ２０は、ＡＧＣ２１、サーボマーク２２、
シリンダアドレス２３、及び位置信号２４を備えてお
り、ＡＧＣ２１は、ＡＧＣ回路３の応答が十分に安定す
るための所定の長さを有している。サーボマーク２２は
特殊なパターンにより構成されており、サーボセクタ２
０であることを示すためのものである。シリンダアドレ
ス２３には、磁気ディスク１１の半径方向に分割された
シリンダ番号が記されている。位置信号２４はシリンダ
内の詳細な位置を示すためのものである。
【００２１】図４を参照して、データ部１３にはデータ
セクタ３０が書き込まれており、データセクタ３０は、
リードデータと復調器４のクロックを同期させるための
ＰＬＬ ＳＹＮＣ３１、データ３３の開始を示すＳＹＮ
Ｃパターン３２、データ３３、及びデータ３３の誤りを
訂正するためのＥＣＣ３４を備えている。
セクタ３０が書き込まれており、データセクタ３０は、
リードデータと復調器４のクロックを同期させるための
ＰＬＬ ＳＹＮＣ３１、データ３３の開始を示すＳＹＮ
Ｃパターン３２、データ３３、及びデータ３３の誤りを
訂正するためのＥＣＣ３４を備えている。
【００２２】ここで、図１乃至図４を参照して、磁気デ
ィスク装置では、回転している磁気ディスク１１に面し
て磁気ヘッド１が配置されており、この磁気ヘッド１は
磁気ディスク１１の半径方向に移動できるように取り付
けられている。そして、磁気ディスク装置では、磁気デ
ィスク１１に記録されている磁気データを磁気ヘッド１
によって再生してデータの読み出し動作が行われる。
ィスク装置では、回転している磁気ディスク１１に面し
て磁気ヘッド１が配置されており、この磁気ヘッド１は
磁気ディスク１１の半径方向に移動できるように取り付
けられている。そして、磁気ディスク装置では、磁気デ
ィスク１１に記録されている磁気データを磁気ヘッド１
によって再生してデータの読み出し動作が行われる。
【００２３】磁気ヘッド１は、磁気ディスク１１の任意
の半径位置に位置決めされ、この半径位置において磁気
ディスク１１に書き込まれている磁化パターンを再生信
号として出力する。前述のように、磁気ヘッド１から出
力された再生信号はプリアンプ２により増幅されて、Ａ
ＧＣ回路３によって所定の電圧値に制御される。そし
て、ＡＧＣ回路３の出力は、復調器４によって復調され
て、元のデータに変換される。これによって、磁気ディ
スク１１上のデータ部１３に書き込まれたデータセクタ
３０の磁化パターンを再生している。
の半径位置に位置決めされ、この半径位置において磁気
ディスク１１に書き込まれている磁化パターンを再生信
号として出力する。前述のように、磁気ヘッド１から出
力された再生信号はプリアンプ２により増幅されて、Ａ
ＧＣ回路３によって所定の電圧値に制御される。そし
て、ＡＧＣ回路３の出力は、復調器４によって復調され
て、元のデータに変換される。これによって、磁気ディ
スク１１上のデータ部１３に書き込まれたデータセクタ
３０の磁化パターンを再生している。
【００２４】ところで、磁気ヘッド１を任意の半径位置
に位置決めするためには、サーボ部１２に書きこまれて
いるサーボセクタ２０を用いる。図２に示すように、サ
ーボセクタ２０は、磁気ディスク面に放射状に記録され
ており、磁気ディスクが回転することによって所定（一
定）の時間間隔で、磁気ヘッド１はサーボ情報を得るこ
とになる。サーボセクタ２０において、ＡＧＣ２１をＡ
ＧＣ回路３によって所定（一定）の電圧に増幅する。そ
れ以降、ＡＧＣ回路ゲインはホールドされ、各信号の検
出が行われる。つまり、前述のように、磁気ヘッド出力
値がＣＰＵ８に与えられており、ＣＰＵ８は、ＡＧＣ回
路３を制御してＡＧＣ２１を所定の電圧に増幅して、そ
の後、ＡＧＣ回路３のゲインをホールドする。そして、
ＣＰＵ８はサーボマーク２２によってサーボセクタ２０
であることを確認して、シリンダアドレス２３によって
シリンダ番号を検出する。さらに、ＣＰＵ８は位置信号
（積分・Ａ／Ｄ変換後）に基づいてシリンダ中心からの
ずれ量（オフトラック量）を検出する。ＣＰＵ８はシリ
ンダ番号及びオフトラック量に基づいて磁気ヘッド１の
位置決め制御を行う。
に位置決めするためには、サーボ部１２に書きこまれて
いるサーボセクタ２０を用いる。図２に示すように、サ
ーボセクタ２０は、磁気ディスク面に放射状に記録され
ており、磁気ディスクが回転することによって所定（一
定）の時間間隔で、磁気ヘッド１はサーボ情報を得るこ
とになる。サーボセクタ２０において、ＡＧＣ２１をＡ
ＧＣ回路３によって所定（一定）の電圧に増幅する。そ
れ以降、ＡＧＣ回路ゲインはホールドされ、各信号の検
出が行われる。つまり、前述のように、磁気ヘッド出力
値がＣＰＵ８に与えられており、ＣＰＵ８は、ＡＧＣ回
路３を制御してＡＧＣ２１を所定の電圧に増幅して、そ
の後、ＡＧＣ回路３のゲインをホールドする。そして、
ＣＰＵ８はサーボマーク２２によってサーボセクタ２０
であることを確認して、シリンダアドレス２３によって
シリンダ番号を検出する。さらに、ＣＰＵ８は位置信号
（積分・Ａ／Ｄ変換後）に基づいてシリンダ中心からの
ずれ量（オフトラック量）を検出する。ＣＰＵ８はシリ
ンダ番号及びオフトラック量に基づいて磁気ヘッド１の
位置決め制御を行う。
【００２５】前述のように、サーボセクタ２０は磁気デ
ィスク装置製造の際に書き込まれ、その後書きかえられ
ることはなく、特に、ＡＧＣ２１は、磁気ヘッドのオフ
トラック量に関係なく一定になるから、サーボセクタ２
０はヘッド出力を監視するのに適している。
ィスク装置製造の際に書き込まれ、その後書きかえられ
ることはなく、特に、ＡＧＣ２１は、磁気ヘッドのオフ
トラック量に関係なく一定になるから、サーボセクタ２
０はヘッド出力を監視するのに適している。
【００２６】前述のように、磁気ヘッド１が磁気ディス
ク１１に書きこまれたサーボセクタ２０のＡＧＣ２１に
位置した時点で、ＡＧＣ回路３のゲインをホールドす
る。この時の積分器５の出力をＡ／Ｄ変換器６によって
デジタル値に変換した信号を磁気ヘッド出力値として監
視している。この際、磁気ヘッド出力は下記の数１より
求めることができる。
ク１１に書きこまれたサーボセクタ２０のＡＧＣ２１に
位置した時点で、ＡＧＣ回路３のゲインをホールドす
る。この時の積分器５の出力をＡ／Ｄ変換器６によって
デジタル値に変換した信号を磁気ヘッド出力値として監
視している。この際、磁気ヘッド出力は下記の数１より
求めることができる。
【００２７】
【数１】磁気ヘッド出力＝Ａ／Ｄ変換値÷（Ａ／Ｄ変換
ゲイン［ｂｉｔ／Ｖ］×ＡＧＣ回路ゲイン×プリアンプ
ゲイン）
ゲイン［ｂｉｔ／Ｖ］×ＡＧＣ回路ゲイン×プリアンプ
ゲイン）
【００２８】ＡＧＣ回路３のゲインをホールドしている
から、磁気ヘッド１の出力に比例した値が得られること
になり、ＣＰＵ８によって容易に磁気ヘッド１の出力振
幅値を監視することができる。
から、磁気ヘッド１の出力に比例した値が得られること
になり、ＣＰＵ８によって容易に磁気ヘッド１の出力振
幅値を監視することができる。
【００２９】磁気ディスク装置の寿命判定の第１の例に
ついて説明すると、磁気ディスク装置の寿命を判定する
場合には、磁気ディスク装置検査工程において、各磁気
ヘッドの磁気ヘッド出力値をメモリ７に保存して、この
保存データを磁気ヘッド出力基準値とする。以後、予め
定められた時間間隔で、ＣＰＵ８は、磁気ヘッド出力値
を検出し、メモリ７に保存された磁気ヘッド出力基準値
と比較して、磁気ヘッドの読み取り機能の劣化を判定す
る。
ついて説明すると、磁気ディスク装置の寿命を判定する
場合には、磁気ディスク装置検査工程において、各磁気
ヘッドの磁気ヘッド出力値をメモリ７に保存して、この
保存データを磁気ヘッド出力基準値とする。以後、予め
定められた時間間隔で、ＣＰＵ８は、磁気ヘッド出力値
を検出し、メモリ７に保存された磁気ヘッド出力基準値
と比較して、磁気ヘッドの読み取り機能の劣化を判定す
る。
【００３０】判定基準の一例としては、検出した磁気ヘ
ッド出力値が磁気ヘッド出力基準値に対して１０％以上
変動した場合に、磁気ディスク装置が装置寿命に達した
と判定する。
ッド出力値が磁気ヘッド出力基準値に対して１０％以上
変動した場合に、磁気ディスク装置が装置寿命に達した
と判定する。
【００３１】次に、磁気ディスク装置の寿命判定の第２
の例について説明する。
の例について説明する。
【００３２】磁気ディスク装置は、通常動作時におい
て、ホスト（図示せず）から与えられたデータを磁気デ
ィスク１上のデータ部１３にデータセクタ３０として書
き込む。データセクタ３０の一部であるＰＬＬ ＳＹＮ
Ｃ３１はデータ３３及びＳＹＮＣパターン３２の前にあ
り、ＰＬＬ ＳＹＮＣ３１はリードデータを復調するた
めのクロックを同期させるために用いられる。ＰＬＬ
ＳＹＮＣ３１は、所定の磁化パターンであるから、磁気
ヘッドの出力振幅を監視するのに適している。
て、ホスト（図示せず）から与えられたデータを磁気デ
ィスク１上のデータ部１３にデータセクタ３０として書
き込む。データセクタ３０の一部であるＰＬＬ ＳＹＮ
Ｃ３１はデータ３３及びＳＹＮＣパターン３２の前にあ
り、ＰＬＬ ＳＹＮＣ３１はリードデータを復調するた
めのクロックを同期させるために用いられる。ＰＬＬ
ＳＹＮＣ３１は、所定の磁化パターンであるから、磁気
ヘッドの出力振幅を監視するのに適している。
【００３３】磁気ディスク装置稼動の際、新たに書き込
んだデータセクタ３０において、ＣＰＵ８は、ＰＬＬ
ＳＹＮＣ３１の磁気ヘッド出力値を検出して、メモリ７
に保存された磁気ヘッド出力基準値と比較して、予め定
められた値以上の差があると、磁気ディスク装置寿命と
判定する。磁気ヘッド１の読み取り機能が正常ならば、
新たに書き込んだデータセクタ３０の磁気ヘッド出力値
が低下したとすると、磁気ヘッド１の書き込み機能が劣
化したと判定できる。
んだデータセクタ３０において、ＣＰＵ８は、ＰＬＬ
ＳＹＮＣ３１の磁気ヘッド出力値を検出して、メモリ７
に保存された磁気ヘッド出力基準値と比較して、予め定
められた値以上の差があると、磁気ディスク装置寿命と
判定する。磁気ヘッド１の読み取り機能が正常ならば、
新たに書き込んだデータセクタ３０の磁気ヘッド出力値
が低下したとすると、磁気ヘッド１の書き込み機能が劣
化したと判定できる。
【００３４】この例では、第１の例の効果に加えて、磁
気ヘッドの書き込み機能の劣化も検出することが可能と
なる。
気ヘッドの書き込み機能の劣化も検出することが可能と
なる。
【００３５】さらに、磁気ディスク装置の寿命判定の第
３の例について説明する。
３の例について説明する。
【００３６】ＣＰＵ８は、磁気ヘッド１が磁気ディスク
１１に書き込まれたサーボセクタ２０のＡＧＣ２１を通
過した時点におけるＡＧＣ回路３のゲインを磁気ヘッド
出力値として監視する。前述のように、ＡＧＣ回路３は
磁気ヘッド１の出力を所定の振幅に増幅するから、上記
の時点におけるＡＧＣ回路３のゲインから磁気ヘッド１
の出力を下記の数２によって求めることができる。
１１に書き込まれたサーボセクタ２０のＡＧＣ２１を通
過した時点におけるＡＧＣ回路３のゲインを磁気ヘッド
出力値として監視する。前述のように、ＡＧＣ回路３は
磁気ヘッド１の出力を所定の振幅に増幅するから、上記
の時点におけるＡＧＣ回路３のゲインから磁気ヘッド１
の出力を下記の数２によって求めることができる。
【００３７】
【数２】磁気ヘッド出力＝ＡＧＣ後の振幅÷(プリアン
プゲイン×ＡＧＣゲイン）
プゲイン×ＡＧＣゲイン）
【００３８】ＡＧＣ後の振幅はＡＧＣ回路３の設定によ
り決定されており、プリアンプゲインも固定であるか
ら、ＣＰＵ８は、ＡＧＣゲインを監視することによって
磁気ヘッド１の出力を監視することができる。そして、
ＣＰＵ８は、磁気ヘッド出力値を磁気ヘッド出力基準値
と比較して、その比較結果に基づいて磁気ディスク装置
の寿命を判定する。
り決定されており、プリアンプゲインも固定であるか
ら、ＣＰＵ８は、ＡＧＣゲインを監視することによって
磁気ヘッド１の出力を監視することができる。そして、
ＣＰＵ８は、磁気ヘッド出力値を磁気ヘッド出力基準値
と比較して、その比較結果に基づいて磁気ディスク装置
の寿命を判定する。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、磁気
ヘッドの出力が予め定められた値より低下したか否かを
検出して、この検出結果に基づいて磁気ディスク装置が
寿命であるか否かを判定するようにしたから、データの
再生が不可能になる前に磁気ディスク装置の寿命を検出
することができ、データ再生が不可能になる前にバック
アップ等によってデータを失うことを防止することがで
きるという効果がある。
ヘッドの出力が予め定められた値より低下したか否かを
検出して、この検出結果に基づいて磁気ディスク装置が
寿命であるか否かを判定するようにしたから、データの
再生が不可能になる前に磁気ディスク装置の寿命を検出
することができ、データ再生が不可能になる前にバック
アップ等によってデータを失うことを防止することがで
きるという効果がある。
【００４０】さらに、本発明では、磁気ディスク装置の
通常動作に必要なハードウェアを用いて磁気ヘッド出力
を監視するようにしたから、つまり、特別なハードウェ
アを必要とすることなく、磁気ディスク装置の寿命判定
を行うことができ、その結果、コストの増加を防ぐこと
ができる。
通常動作に必要なハードウェアを用いて磁気ヘッド出力
を監視するようにしたから、つまり、特別なハードウェ
アを必要とすることなく、磁気ディスク装置の寿命判定
を行うことができ、その結果、コストの増加を防ぐこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による判定装置が用いられる磁気ディス
ク装置の一例を示すブロック図である。
ク装置の一例を示すブロック図である。
【図２】磁気ディスク面の構成を示す図である。
【図３】サーボセクタのフォーマットを示す図である。
【図４】データセクタのフォーマットを示す図である。
１ 磁気ヘッド ２ プリアンプ ３ ＡＧＣ回路 ４ 復調器 ５ 積分器 ６ Ａ／Ｄ変換器 ７ メモリ ８ ＣＰＵ １１ 磁気ディスク １２ サーボ部 １３ データ部 ２０ サーボセクタ ２１ ＡＧＣ ２２ サーボマーク ２３ シリンダアドレス ２４ 位置信号 ３０ データセクタ ３１ ＰＬＬ ＳＹＮＣ ３２ ＳＹＮＣパターン ３３ データ ３４ ＥＣＣ
Claims (7)
- 【請求項１】 磁気ディスクと、該磁気ディスクに書き
込まれたデータを再生する磁気ヘッドとを備える磁気デ
ィスク装置の寿命を判定する際に用いられ、前記磁気ヘ
ッドの出力レベルの変動を監視する第１の手段と、該出
力レベルの変動が予め定められた基準を越えて大きくな
ると前記磁気ディスク装置は寿命であると判定する第２
の手段とを有することを特徴とする磁気ディスク装置の
寿命判定装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載された磁気ディスク装置
の寿命判定装置において、前記第２の手段には予め定め
られた基準レベルが設定されており、前記出力レベルと
前記基準レベルとを比較して該比較結果に基づいて前記
磁気ディスク装置の寿命を判定するようにしたことを特
徴とする磁気ディスク装置の寿命判定装置。 - 【請求項３】 請求項２に記載された磁気ディスク装置
の寿命判定装置において、前記基準レベルは前記磁気デ
ィスク装置の製造の際設定されるようにしたことを特徴
とする磁気ディスク装置の寿命判定装置。 - 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれかに記載された
磁気ディスク装置の寿命判定装置において、前記磁気デ
ィスク装置には前記磁気ヘッドの出力信号を増幅して増
幅信号とするＡＧＣ回路が備えられており、前記第１の
手段は、前記ＡＧＣ回路の増幅率がホールドされた際の
前記増幅信号の振幅値を監視するようにしたことを特徴
とする磁気ディスク装置の寿命判定装置。 - 【請求項５】 請求項１乃至４のいずれかに記載された
磁気ディスク装置の寿命判定装置において、前記磁気デ
ィスクには前記磁気ヘッドの位置決めの際用いられサー
ボセクタを有するサーボ部が備えられており、前記第１
の手段は前記サーボセクタに応じて前記磁気ヘッドの出
力レベルを監視するようにしたことを特徴とする磁気デ
ィスク装置の寿命判定装置。 - 【請求項６】 請求項１乃至４のいずれかに記載された
磁気ディスク装置の寿命判定装置において、前記磁気デ
ィスクにはデータセクタを有するデータ部が備えられて
おり、前記第１の手段は前記データセクタに応じて前記
磁気ヘッドの出力レベルを監視するようにしたことを特
徴とする磁気ディスク装置の寿命判定装置。 - 【請求項７】 磁気ディスクと、該磁気ディスクに書き
込まれたデータを再生する磁気ヘッドと、前記磁気ヘッ
ドの出力信号を増幅して増幅信号とするＡＧＣ回路と備
える磁気ディスク装置の寿命を判定する際に用いられ、
前記ＡＧＣ回路のゲインを監視して検出ゲインを得る第
１の手段と、前記検出ゲインに基づいて前記磁気ヘッド
の出力レベルを求める第２の手段と、前記出力レベルの
変動が予め定められた基準を越えて大きくなると前記磁
気ディスク装置は寿命であると判定する第２の手段とを
有することを特徴とする磁気ディスク装置の寿命判定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27159899A JP2001093221A (ja) | 1999-09-27 | 1999-09-27 | 磁気ディスク装置の寿命判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27159899A JP2001093221A (ja) | 1999-09-27 | 1999-09-27 | 磁気ディスク装置の寿命判定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001093221A true JP2001093221A (ja) | 2001-04-06 |
Family
ID=17502320
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27159899A Pending JP2001093221A (ja) | 1999-09-27 | 1999-09-27 | 磁気ディスク装置の寿命判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001093221A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7821734B2 (en) | 2006-11-29 | 2010-10-26 | Toshiba Storage Device Corporation | Head IC, read circuit and medium storage device |
| US7852584B2 (en) | 2006-09-20 | 2010-12-14 | Toshiba Storage Device Corporation | Head IC, read circuit, and media storage device |
| US7859781B2 (en) | 2007-11-09 | 2010-12-28 | Toshiba Storage Device Corporation | Head IC that adjusts the amplitude level of a read signal of a head |
-
1999
- 1999-09-27 JP JP27159899A patent/JP2001093221A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7852584B2 (en) | 2006-09-20 | 2010-12-14 | Toshiba Storage Device Corporation | Head IC, read circuit, and media storage device |
| US7821734B2 (en) | 2006-11-29 | 2010-10-26 | Toshiba Storage Device Corporation | Head IC, read circuit and medium storage device |
| US7859781B2 (en) | 2007-11-09 | 2010-12-28 | Toshiba Storage Device Corporation | Head IC that adjusts the amplitude level of a read signal of a head |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6980383B2 (en) | Monitoring of phenomena indicative of PTP in a magnetic disk drive | |
| JP2004310982A (ja) | チャンネル別特性による適応的ディフェクトスキャン処理方法及びその装置 | |
| KR100416604B1 (ko) | 하드 디스크 드라이브의 서보 패턴상에 결함을 갖는 서보섹터를 검출 및 관리하는 방법 및 장치 | |
| US20040044944A1 (en) | Method of and apparatus for controlling data storage system according to temperature, and medium | |
| US20080165444A1 (en) | Baseline popping noise detection circuit | |
| KR100712559B1 (ko) | 기준 클럭 주파수 조정 방법 및 장치와 이를 이용한 디스크드라이브 | |
| US6920005B2 (en) | Storage apparatus and read error recovery method thereof | |
| US6999260B2 (en) | Shock detection device, disk drive, shock detection method, and shock detection program | |
| JP2007193919A (ja) | メディア・ドライブ及びメディアの欠陥位置を登録するディフェクト・マップを生成する方法 | |
| JP2008251071A (ja) | ディスク記憶装置及びサーボ欠陥検出方法 | |
| US6263462B1 (en) | Testing method and tester | |
| JP2001093221A (ja) | 磁気ディスク装置の寿命判定装置 | |
| JP4724241B2 (ja) | ディスク記憶装置及びデータ検出方法 | |
| JP4017883B2 (ja) | 欠陥検出方法および欠陥検出装置ならびに情報記録再生装置および磁気ディスク装置 | |
| JP5064666B2 (ja) | データ記憶装置及びそのユーザ・データの書き込み制御方法 | |
| JP2007250126A (ja) | ディスク装置制御方法及びディスク装置及び書き込み制御回路 | |
| US6724552B1 (en) | Magnetic disk apparatus with lower probability of occurrence of read errors due to scratch or the like on magnetic disk surface | |
| US7440211B2 (en) | Apparatus and/or method of controlling timing of servo pulses and disk drive using the method | |
| US7420762B2 (en) | Head slap detecting device, storage device, head slap detecting method, and computer product | |
| US20080074772A1 (en) | Magnetic recording and reproducing device | |
| JP2005108370A (ja) | メディア駆動装置、メディアへのデータ記録の処理方法、メディアから読み出したデータの処理方法及びメディアからのデータ読み出し処理の制御方法 | |
| JP2007293934A (ja) | ディスク装置及びディスク装置の制御方法 | |
| JPH10269730A (ja) | 磁気ディスク媒体及びバースト欠陥検出訂正方法 | |
| JP2003141837A (ja) | プリサーボ信号の検査方法 | |
| JP2007293988A (ja) | 磁気ディスク装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020911 |