JP2001085194A - マイクロ波プラズマ処理装置 - Google Patents
マイクロ波プラズマ処理装置Info
- Publication number
- JP2001085194A JP2001085194A JP26448999A JP26448999A JP2001085194A JP 2001085194 A JP2001085194 A JP 2001085194A JP 26448999 A JP26448999 A JP 26448999A JP 26448999 A JP26448999 A JP 26448999A JP 2001085194 A JP2001085194 A JP 2001085194A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microwave
- plasma processing
- magnetic field
- ferrite core
- radiator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
ラズマ処理する。 【解決手段】 マイクロ波電源1により発生したマイク
ロ波は、インピーダンス整合器4、整合用変成器5を通
りマイクロ波放射器6に導入され、真空封じの石英窓1
1を介してプラズマ処理室7に放射される。マイクロ波
放射器6にはフェライトコア16が配設されており、フ
ェライトコアに外部から直流磁界を印加するための磁場
発生手段17が設けられている。これにより、マイクロ
波放射器6の両端部の電界強度が制御され、広い幅に渡
りマイクロ波電界強度の分布が改善される。
Description
質およびエッチング等の処理を、大面積の被処理物に対
し、均一かつ高速に行うためのプラズマ処理装置に関す
るものである。
(LCD)の製造工程におけるエッチング、アッシン
グ、化学蒸着方(CVD)等にマイクロ波を用いたプラ
ズマ装置が用いられている。図31は、従来のプラズマ
処理装置の概略構成図である。また、図32は、図31
のI−I線断面図である。この装置は、マイクロ波電源
1、アイソレータ2、方向性結合器3、インピーダンス
整合器4、プラズマ処理をおこなう直方体状のプラズマ
処理室7、プラズマ処理室の側面に取付けたプラズマ室
結合用矩形導波管8、終端装置9を備える(Jpn. J.App
l. Phys. 32 (1993) L802 参照)。
に、矩形導波管8側の側壁7aに導波管8の管軸方向に
沿って細長い矩形状の窓部7bが設けられ、この窓部7
bは石英等の材質からなるマイクロ波透過窓11により
真空封じされている。このマイクロ波透過窓を介して、
窓部7bは矩形導波管8のE面8aに対向させた状態で
配置されている。ここでE面とは、矩形導波管内の電界
ベクトルの方向に平行な側面である。また、プラズマ処
理室7には排気口7cが設けられ、この排気口は図示し
ない真空ポンプに接続されており、またプラズマ処理室
7の1つの壁部を気密に貫通させてプロセスガス導入パ
イプ12が取り付けられている。このプラズマ処理室7
内には、シート状の被処理物13が巻かれたローラ14
と、処理が終了した被処理物を巻き取る巻取りローラ1
5とが対向配置され、被処理物13は窓部7bに対向配
置されている。
8aに管軸方向に伸びるスロット8bが設けられてい
る。このスロット8bは、プラズマ室7の窓部7bの長
手方向とほぼ等しい長さを有するが、その幅寸法は、窓
部7bの幅寸法よりも小さく設定されている。結合用矩
形導波管8は、スロット8bをプラズマ処理室7の窓部
7bに対向させた状態で電気的に接続されている。
されなかった余分なマイクロ波を吸収するマイクロ波吸
収体から構成され、マイクロ波吸収体として水を用いて
いる。プラズマ処理室7に伝搬しなかった余分なマイク
ロ波は、導入口9aから導入した水に吸収させ、マイク
ロ波により加熱された水を排出口9bから排水させるよ
うになっている。
たプラズマ処理について、以下に説明する。まず、プラ
ズマ処理室7内に被処理物13をセットした後、プラズ
マ処理室7内を高真空状態にする。その後プロセスガス
導入パイプ12から、プラズマ処理室7内に所定のプロ
セスガスを、プラズマ処理室内が所定の圧力になるまで
供給する。この状態でマイクロ波電源1から、アイソレ
ータ2、方向性結合器3、インピーダンス整合器4、を
通してプラズマ室結合用矩形導波管8の一端にマイクロ
波を供給すると、矩形導波管8内に進入したマイクロ波
は、スロット8bから放射されてプラズマ処理室7の窓
部7bを通してプラズマ処理室7内に伝搬し、プラズマ
処理室内のプロセスガスをプラズマ化して、プラズマ処
理室7の窓部7bに沿って帯状のプラズマを生成する。
このプラズマを被処理物13に照射しつつ、被処理物1
3をローラ15により巻き取り移動させることにより、
広い面積に渡る処理を連続的に行わせることができる。
と被処理物13との間の空間に磁界を発生させる手段と
して電磁石10cを設けると、プラズマ中の電子及びイ
オンがこの磁界により力を受けて螺旋運動する。その結
果、反応性ガスの電離および励起の頻度が高められ、被
処理物に照射されるプラズマ密度が高められる。さら
に、上記空間内に電子サイクロトロン共鳴を生じさせる
ように、例えば永久磁石10a、10bを併用して用い
ることで、プラズマ密度を飛躍的に高めることができ
る。また、上記磁界を窓部7bからプラズマ処理室の中
央部に向かうような発散磁界となるように設定すること
により、プラズマを被処理物13に効率よく照射させる
ことができる。
31のスロットの長手方向に対するマイクロ波電界強度
の分布を示す図である。従来技術によるプラズマ処理装
置では、長さA−Bのスロット8bからプラズマ処理室
7に放射されるマイクロ波電界は、図33に示されるよ
うに、プラズマ処理室7の長手方向に山谷を有した不均
一な分布となっている。これは、導波管の側壁に設けら
れたスロットから放射されるマイクロ波が、自由空間波
長λ0に対応した強弱を有する放射パターンとなること
に起因する。従って、均一性の高いプラズマが要求され
るにも拘わらず、発生するプラズマの分布は不均一とな
り、被処理物の広い面積に渡る均一処理が難しいという
課題があった。
入力されるマイクロ波電力のうち、スロット8bからプ
ラズマ処理室7に放射されなかった電力は、矩形導波管
8を通って終端装置9内のマイクロ波吸収体に消費され
て全て電力損失となるため、電力の使用効率が悪いと共
に、生成されるプラズマ密度が低くなるという課題があ
った。
して広い面積に亘って均一にプラズマ処理することがで
き、しかもマイクロ波電力使用効率を従来例に比較して
改善することができるプラズマ処理装置を提供すること
を目的とする。また、本発明は、導波管の終端部をマイ
クロ波放射器とし、しかもマイクロ波放射器の出力側開
口部が被処理物の寸法に応じた細長い矩形のスリットを
形成することにより、導波管の側壁にスロットを設けた
場合に見られるマイクロ波電界分布に自由空間波長の2
分の1毎の強弱が現れる現象が生じないようにすること
を目的とする。また、本発明は、マイクロ波放射器内部
に配設したフェライトコアの材質、形状および寸法と、
そこに印加する直流磁界の値を適切に設定することで、
マイクロ波の伝搬方向およびマイクロ波の電界分布を適
時調整できるようにし、プラズマ処理室へ放射されるマ
イクロ波の電力分布をプラズマ処理室の窓部の長辺方向
に沿って均一にすることを目的とする。そして、本発明
は、幅広い領域に渡りプラズマ密度の分布を均一にする
ことを目的とする。さらに、本発明は、導波管の終端部
からマイクロ波を放射する方式であるので、マイクロ波
の使用効率が向上され生成されるプラズマの密度を高め
ることを目的とする。そして、本発明は、直線状プラズ
マを照射しつつ被処理物を移動させることにより、広い
面積を均一にしかも高速にプラズマ処理することを目的
とする。
と、壁面に設けられた窓部に対向するように被処理物が
配置されるプラズマ処理室と、マイクロ波電源から出力
されたマイクロ波を前記プラズマ処理室に放射するため
のマイクロ波放射器と、前記マイクロ波放射器内に設け
られ、マイクロ波の伝搬方向を変えるためのフェライト
コアと、前記フェライトコアに磁界を印加するための磁
場発生手段とを備えたプラズマ処理装置を提供する。
クロ波電源から出力されたマイクロ波を導入する矩形導
波管と、矩形導波管の終端部に設けたマイクロ波放射器
と、壁面に細長い窓部を設けて窓部に対向するように被
処理物が配置されたプラズマ処理室とを備え、前記マイ
クロ波放射器の出力側開口部がプラズマ処理室の細長い
窓部に対向して電気的に接続され、かつ矩形導波管とマ
イクロ波放射器との間に整合用変成器を具備し、前記矩
形導波管に導入されたマイクロ波が前記窓部を通して放
射することでプラズマを生成させ、被処理物に対して所
定の処理を行うプラズマ処理装置に関するものである。
ーパー状に構成され、H面同士が平行に形成され、両E
面がマイクロ波の進行方向に沿って扇形に伸長されて形
成され、かつマイクロ波放射器の出力側開口部が細長い
矩形のスリットを形成することができる。また、マイク
ロ波放射器内にマイクロ波の伝搬方向を変えるためのフ
ェライトコアが配設され、前記フェライトコアに外部か
ら直流磁界を印加するための磁場発生手段を具備するこ
とができる。
寸法ならびに直流磁界の値を調整することにより、マイ
クロ波放射器からプラズマ処理室の細長い窓部に供給さ
れるマイクロ波電力分布を所望の形状に任意の変えるこ
とができ、従ってプラズマ処理室の窓部に沿って帯状
に、しかもイオン分布密度の均一性が高いプラズマを生
成させることができる。
ップ状に構成され、H面同士が平行に形成され、両E面
がマイクロ波の進行方向に沿って不連続な段差状に伸長
されて形成され、上記不連続部を境にして電源側導波管
部とプラズマ処理室側導波管部とからなり、電源側導波
管部の中心軸とプラズマ処理室側導波管部の中心軸とを
一致させると共に、プラズマ処理室側導波管部の長辺の
長さをマイクロ波の自由空間波長λ0の3/2以上とし、か
つマイクロ波放射器の出力側開口部が細長い矩形のスリ
ットを形成することができる。また、マイクロ波放射器
内にマイクロ波の伝搬方向を変えるためのフェライトコ
アが配設され、前記フェライトコアに外部から直流磁界
を印加するための磁場発生手段を具備することができ
る。
寸法ならびに直流磁界の値を調整することにより、前記
プラズマ処理室側導波管部を伝搬するマイクロ波の波数
ベクトルの方向を任意に変えることで、高次のTE
m0(m=3,5,7 …)モードのマイクロ波を任意の割合にて
伝搬させることができる。このプラズマ処理室側導波管
部の長辺の長さを、例えば(λ0/2)・3以上、(λ0
/2)・5未満と設計した場合、マイクロ波放射器から
プラズマ処理室の細長い窓部に供給されるマイクロ波電
力分布を、TE10とTE30との2つのモードの分布を任
意に重ね合わせた形状に変えることができ、従ってプラ
ズマ処理室の窓部に沿って帯状に、しかもイオン密度分
布の均一性が高いプラズマを生成させることができる。
イクロ波放射器内のマイクロ波入力側に近い位置に、し
かもマイクロ波放射器の中心軸上にフェライトコアが配
設され、マイクロ波の伝搬方向を周期的に変えるように
前記フェライトコアに外部から交流磁界を印加するため
の磁場発生手段を具備するようにしてもよい。
寸法ならびに交流磁界の振幅および周期を調整すること
により、プラズマ処理室側導波管部を伝搬するマイクロ
波の波数ベクトルの方向を時間的、空間的に振動させる
ことができる。また、振動の周期は、印加する交流磁界
の周期に対応して任意に設定でき、従ってマイクロ波放
射器からプラズマ処理室の細長い窓部に供給されるマイ
クロ波電力分布の時間平均値を平坦化できる。さらに、
上記振動周期をプラズマ減衰時定数よりも十分短く設定
することで、プラズマ処理室の窓部に沿って帯状に、し
かもイオン密度分布の均一性が高いプラズマを生成させ
ることができる。
イクロ波放射器内に於けるマイクロ波の高周波磁界が集
中している管壁付近にフェライトコアを配設し、前記フ
ェライトコアに外部から直流磁界を印加するための磁場
発生手段を具備するようにしてもよい。
寸法ならびに印加磁界の値を調整することにより、前記
フェライトコア外に在るマイクロ波電界をフェライトコ
ア内へ偏移させることができ、従ってマイクロ波放射器
からプラズマ処理室の細長い窓部に供給されるマイクロ
波電力分布を均一化できる。それ故、プラズマ処理室の
窓部に沿って帯状に、しかもイオン密度分布の均一性が
高いプラズマを生成させることができる。
波放射器と、マイクロ波放射器の中心軸上にマイクロ波
の入力側から出力側に向かい棒状のフェライトコアが配
設され、前記フェライトコアの磁化方向がマイクロ波の
入力側から出力側へ向かうように直流磁界を印加するた
めの磁場発生手段を具備するようにしてもよい。
寸法ならびに直流磁界の値を調整することにより、前記
フェライトコア内に在るマイクロ波電界をフェライトコ
ア外へ偏移させることができ、従ってマイクロ波放射器
からプラズマ処理室の細長い窓部に供給されるマイクロ
波電力分布を所望の形状に任意に変えることができる。
それ故、プラズマ処理室の窓部に沿って帯状に、しかも
イオン密度分布の均一性が高いプラズマを生成させるこ
とができる。
波放射器を有するプラズマ処理装置において、プラズマ
処理室の窓部と被処理物との間の空間に磁界を発生する
磁界発生手段を具備することができ、また、電子サイク
ロトロン共鳴を発生するための手段を具備することもで
きる。
前記磁界により力を受けて螺旋運動する。その結果、反
応性ガスの電離および励起の頻度が高められ、被処理物
に照射されるプラズマ密度が高められる。さらに、上記
空間内に電子サイクロトロン共鳴を生じさせるように磁
界の値を設定することで、プラズマ密度を飛躍的に高め
ることができる。
ことにより、矩形導波管の側壁に細長いスロットを設け
てスロットからプラズマ処理室へマイクロ波を放射する
際に、従来の方式において生じたような、マイクロ波電
界強度の分布が図33に示すようにマイクロ波の2分の
1波長毎に強弱を有した分布となることはない。すなわ
ち、マイクロ波放射器内にフェライトコアを配設し、こ
のフェライトコアに静磁界を印加してマイクロ波の伝搬
方向を調整することで、プラズマ処理室に放射されるマ
イクロ波電力の分布を均一にすることができる。また、
マイクロ波放射器内にフェライトコアを配設し、このフ
ェライトコアに静磁界を印加してマイクロ波の波数ベク
トルの方向を制御し、基本モードと高次モードのマイク
ロ波を任意に励振し重ね合わせることで、プラズマ処理
室に放射されるマイクロ波電力の分布を均一にすること
ができる。さらに、マイクロ波放射器内に配設したフェ
ライトコア内のマイクロ波電界を空間的に偏移させるこ
とにより、プラズマ処理室に放射されるマイクロ波電力
の分布を均一にすることができる。最後に、上述の方式
ではマイクロ波導波路の終端からマイクロ波を放射して
いるので、マイクロ波吸収体を含む終端装置が不要であ
る為、マイクロ波電力の使用効率が高く、生成されるプ
ラズマ密度も高くなる。
発明における第1の実施の形態を示すマイクロ波プラズ
マ処理装置の全体構成図である。この装置は、マイクロ
波電源1、インピーダンス整合器4、整合用変成器5、
マイクロ波放射器6、プラズマ処理室7、石英窓11、
プロセスガス導入パイプ12、フェライトコア16、磁
場発生手段17を備える。また、マイクロ波電源1から
整合用変成器5までの導波路に、アイソレータや方向性
結合器等を適宜備えても良い。図示するように、マイク
ロ波電源1により発生したマイクロ波はインピーダンス
整合器4、整合用変成器5を通りマイクロ波放射器6に
導入され、真空封じの石英窓11を介してプラズマ処理
室7に放射される。マイクロ波放射器6にはフェライト
コア16が配設されており、フェライトコアに外部から
直流磁界を印加するための磁場発生手段17が設けられ
ている。
コア16の位置関係を示す概略図である。マイクロ波放
射器6は、平行部6aとテーパー部6bを備え、マイク
ロ波の入力側から出力側に向かいテーパー状に構成され
る。すなわち、このような構成により、H面同士は平行
に形成され、両E面間の間隔がマイクロ波の進行方向に
沿って扇形に伸長されて形成される。かつ、マイクロ波
放射器6の出力側開口部が、長さA―Bの細長い矩形の
スリットを形成している。またマイクロ波放射器6内に
は、例えば、平行部6aとテーパー部6bの継ぎ目X−
X’線の位置(図1のX―X’線に対応)に薄厚円柱状
のフェライトコア16が配設される。
を示す。図3は、前記フェライトコアに外部から直流磁
界を印加するための磁場発生手段17を示す概略図であ
り、図1及び図2のX−X’線断面に対応している。フ
ェライトコア16の上下にはポールピース17aがあ
り、ポールピースはヨーク17bを介して永久磁石18
に接続されている。図3のように構成することで、フェ
ライトコアの上下面内に均一に直流磁界を印加すること
ができる。
流磁界によりマイクロ波放射器6内のマイクロ波の伝搬
方向が変化する原理を説明する。図4に、マイクロ波放
射器内のマイクロ波高周波磁界の分布図を示す。図4
は、マイクロ波放射器内を伝搬するマイクロ波の高周波
磁界のある瞬間の様子を示す。磁界はループ状に閉じて
おり、隣り合う高周波磁界の回転方向は互いに逆向きで
ある。磁界のループは時間の経過とともに図中のy軸方
向に進んでいる。中央から左側のA−A’線上の任意の
点でみると、磁界ベクトルは1→2→3→4と変化する
のでz軸の負方向からみて左まわりに回転する。これに
反して中央から右側のB−B’線上の任意の点でみる
と、磁界ベクトルは4→3→2→1と変化するのでz軸
の負方向からみて右まわりに回転する。いま紙面に垂直
でz軸の正方向を向く直流磁界Bを印加した場合、A−
A’線上の任意の点においたフェライト内部では高周波
磁界は直流磁界Bに対し左まわりに回転し、したがって
フェライトの比透磁率はμ−となり、B−B’線上の任
意の点においたフェライト内部では回転の向きは反転
し、したがってフェライトの比透磁率はμ+となる。こ
こで図5は比透磁率μ+、μ−の直流磁界B依存性を示
す。共鳴磁界Bresより小さい磁界の領域では、μ−>
μ+である。マイクロ波の伝搬速度Vと比透磁率μとの
間には次式の関係があるので、 V=C/√(εμ) (1) A−A’線上とB−B’線上とではマイクロ波の速さが
異なる。ここで、cは真空中の光速度、εは比誘電率で
ある。
態におけるマイクロ波の進行方向を示す概略図である。
この図には、マイクロ波放射器内の図2に示す位置にフ
ェライトコアを配設し、紙面に垂直にこちら向きの直流
磁界を印加した場合のマイクロ波の進行方向を示す。フ
ェライトコア内部では、中央線Y−Y’から左側のマイ
クロ波の速さV−、中央線Y−Y’から右側のマイクロ
波の速さV+との間には、 V+ > V− (2) の関係が成り立ち、従ってマイクロ波は左側へと進む。
図7は、本発明の第1の実施の形態によるマイクロ波電
界の分布図である。図7には、図6におけるマイクロ波
放射器の出力側C−C’線でのマイクロ波電界強度の分
布を示す。ここで、破線はフェライトコアがない場合、
実線はフェライトコアが有る場合をそれぞれ示す。図示
のように、電界強度の最大位置は、フェライトコアによ
り左側に移動する。
るマイクロ波の進行方向を示す概略図である。図8には
直流磁界Bの向きを反転した時のマイクロ波の進行方向
を示す。この場合、フェライトコア内部で中央線Y−
Y’から左側のマイクロ波の速さはV+、中央線Y−
Y’から右側のマイクロ波の速さはV−となり、従って
マイクロ波は右側へと進む。図9は、本発明の第1の実
施の形態によるマイクロ波電界の分布図である。図9に
は、図8におけるマイクロ波放射器の出力側C−C’線
でのマイクロ波電界強度の分布を示す。ここで、破線は
フェライトコアがない場合、実線はフェライトコアが有
る場合をそれぞれ示す。図示のように、電界強度の最大
位置は右側に移動する。
る、図1のX−X’線における断面図である。フェライ
トコアによる電界強度分布の移動効果を高めるために、
またフェライトコアの放熱効率を良くするために、例え
ば、図10に示すようにフェライトコアを分割し、マイ
クロ波放射器の上下H面にフェライトコア16a,16
bを対向させて配設してもよい。
るフェライトコアとそこに印加する直流磁界の構成を示
す図である。図11には、マイクロ波放射器の中心線Y
−Y’を境にして左側部と右側部とにフェライトコアを
分割し、左側部のフェライトコア16cには紙面に垂直
にこちら向きの直流磁界を印加し、右側部のフェライト
コア16dには紙面に垂直にむこう向きの直流磁界を印
加した場合のマイクロ波の進行方向を示す。また、図1
2は、図11のX−X’線における断面図である。図1
2には、上述の直流磁界を印加するための磁場発生手段
の例を示す。直流磁界の値を適切に設定することでマイ
クロ波放射器の出力側C−C’線でのマイクロ波電界分
布を均一化することができる。図13は、本発明の第1
の実施の形態によるマイクロ波電界の分布図である。図
13には、均一化を行う前後でのマイクロ波電界強度の
分布を示す。破線は均一化実施前の状態で、基本モード
(すなわちTE10モード)のマイクロ波による分布であ
る。これに対し、実線は均一化実施後の状態で、実施後
は両端部の電界強度が高められC−C’線に沿った広い
幅に渡り、マイクロ波電界強度の分布が改善されてい
る。なお、11及び図12では、フェライトコアを分割
した例を示したが、分割部を接合したり境界部材を介し
て接合したり、分割しないで一体の構成としてもよい。
態による永久磁石の配置を示す図である。ここでは、石
英窓11に近接するように磁場発生手段として永久磁石
10a,10bが設けられている。これにより反応性ガ
スの電離および励起の頻度が高められ、被処理物に照射
されるプラズマ密度が高められる。なお、永久磁石の変
わりに電磁石でもよい。さらに、例えば、プラズマ処理
室7の石英窓11と被処理物13との間の空間内に、電
子サイクロトロン共鳴を生じさせるように磁界の値を設
定することで、プラズマ密度を飛躍的に高めることがで
き、被処理物13を効率よくプラズマ処理することがで
きる。さらに、上記磁界を石英窓11からプラズマ処理
室の中央部に向かうような発散磁界となるように設定す
ることで、プラズマを被処理物13に効率よく照射させ
ることができる。
おける第2の実施の形態を示すマイクロ波プラズマ処理
装置の全体構成図である。この装置は、マイクロ波電源
1、インピーダンス整合器4、整合用変成器5、マイク
ロ波放射器6、プラズマ処理室7、石英窓11、プロセ
スガス導入パイプ12、フェライトコア16、磁場発生
手段17を備える。また、マイクロ波電源1から整合用
変成器5までの導波路に、アイソレータや方向性結合器
等を適宜備えても良い。図示するように、マイクロ波電
源1により発生したマイクロ波はインピーダンス整合器
4、整合用変成器5を通りマイクロ波放射器6に導入さ
れ、真空封じの石英窓11を介してプラズマ処理室7に
放射される。マイクロ波放射器6にはフェライトコア1
6が配設されており、フェライトコア16に外部から直
流磁界を印加するための磁場発生手段17が設けられて
いる。
から出力側に向かいステップ状の不連続部が構成され
る。この不連続部により、H面同士は平行に形成され、
両E面間の間隔がマイクロ波の進行方向に沿って不連続
な段差状に伸長されて形成される。マイクロ波放射器6
は、この不連続部を境にして電源側導波管部6cとプラ
ズマ処理室側導波管部6dとを有し、電源側導波管部6
cの中心軸とプラズマ処理室側導波管部6dの中心軸と
を一致させると共に、プラズマ処理室側導波管部6dの
長辺の長さaをマイクロ波の自由空間波長λ0の3/2以上
とし、かつマイクロ波放射器6の出力側開口部が長さA
−Bの細長い矩形のスリットを形成している。マイクロ
波放射器6内には、例えばステップ部の継ぎ目X−X’
線の位置に薄厚円柱状のフェライトコア16が配設され
る。フェライトコア6に外部から磁場を印加するための
磁場発生手段は、図3または図10等に示すものと同様
である。
流磁界によりマイクロ波放射器内に高次のTEm0(m=3,
5,7 …)モードのマイクロ波を任意の割合にて伝搬させ
る原理と、それによるマイクロ波電界分布の均一化の方
法を説明する。図16は、本発明の第2の実施の形態に
おけるマイクロ波の波数ベクトルの方向を示す概略図で
ある。図16の矢印19は、矩形導波管の側壁に入射・
反射を繰り返しながら導波管内を斜め伝搬するマイクロ
波の波数ベクトルの様子を示した模式図である。マイク
ロ波放射器の電源側導波管部6cでは基本モードのTE
10波のみが伝搬可能であり、一方、プラズマ処理室側導
波管部6dでは次式で与えられるn次モードのTEn0波
までが伝搬可能である。 n<2a/λ。 (3) ここでλ0はマイクロ波の自由空間波長、aはプラズマ
処理室側導波管部の長辺の長さである。また、マイクロ
波の矩形導波管側壁への入射角θnと、その時の伝搬モ
ードの次数nとの関係は、 COS θn=(λ。/2a)・n (n=1,2,3,・・) (4) で与えられる。高次モードのマイクロ波を伝搬させるに
は入射角θnを小さく設定すればよい。その為には、ス
テップ状の継ぎ目X−X’線の位置に薄厚円柱状のフェ
ライトコアを配設し、このフェライトコアに紙面に垂直
な直流磁界を印加することでマイクロ波の波数ベクトル
19の方向を変えればよい。直流磁界の値を比較的大き
く設定すると、フェライトコアの比透磁率が大きく変化
し、波数ベクトルの方向も大きく変わる。したがって矩
形導波管側壁への入射角を図示するようにθ1からθ2
へ、さらにθ3へと徐々に小さくできる。このプラズマ
処理室側導波管部の長辺の長さaを、例えば(λ0/
2)・3以上、(λ0/2)・5未満と設計した場合、
(3)式に示すようにマイクロ波放射器内にTE10とT
E30との2つのモードの波を伝搬させることができる。
ここでTE20モードおよびTE40モードはマイクロ波放
射器のY−Y’軸対称性から原理的に生じない。
るマイクロ波電界の分布図である。図17には、TE10
とTE30との2つのモードのマイクロ波電界と、それら
を任意に重ね合わせた合成電界の分布を示す。図17に
示す破線および一点鎖線は、TE10およびTE30モード
のマイクロ波電界の分布を、実線はそれらの合成電界の
分布をそれぞれ示す。また、図18は、本発明の第2の
実施の形態によるマイクロ波電界強度の分布図である。
ここで、実線は、TE10とTE30の合成電界を示し、破
線は基本モードを示す。従ってマイクロ波電界強度の分
布は、図18の実線で示されるようになり、破線点線で
示す基本モード(すなわちTE10モード)の波のみによ
るマイクロ波電界強度に比べて均一性が高くなる。上述
のように得られたマイクロ波電界強度の分布によって、
プラズマ処理室7の窓部に沿って帯状に、しかもイオン
密度分布の均一性が高いプラズマを生成させることがで
きる。
おける第3の実施の形態の概略構成図を示し、第1の実
施の形態に適用した場合の磁場発生手段の構成を示す図
である。図19は図1のX−X’線断面に対応し、2個
のコイル20a,20bは同じ極性の磁界がフェライト
コア16に印加されるように巻き上げられている。ま
た、これら2個のコイル20a、20bは、励磁電流を
印加するための電源21に接続されている。
ける励磁電流の波形を示す図である。コイルには図20
に示す交流電流が印加され、各時間における電流値に対
応して、マイクロ波放射器内のマイクロ波の波数ベクト
ルの方向が変化する。図21は、本発明の第3の実施の
形態におけるマイクロ波の進行方向を示す概略図であ
る。図21には、波数ベクトルの変化の様子を示す。例
えば、電流値が図20の1に示す状態の時、図21のフ
ェライトコアに紙面の下方から上方に向かう磁界Bが印
加されるとすると、図21のC−C’線上の1に示す方
向を向く波数ベクトル19aとなる。同様に考えると、
交流が付加される場合、マイクロ波放射器内のマイクロ
波の波数ベクトルは、交流電流の一周期にわたり19a
→19b→19c→19b→19aのように振動する。
図22は、本発明の第3の実施の形態によるマイクロ波
電界強度の分布図である。図22には、マイクロ波電界
の時間変化を示す。図中の1,2,3の番号は図20お
よび図21中の番号と対応している。
によるイオン密度分布を示す図である。さらに、上述の
振動の周期をプラズマ減衰時定数よりも十分短く設定す
ることで、図23の実線で示すようなプラズマ処理室の
窓部に沿って帯状に、しかもイオン密度分布の均一性が
高いプラズマを生成させることができる。図中の点線
は、フェライトコアを具備しないマイクロ波放射器を用
いた場合のイオン密度分布を示してある。
おける第4の実施の形態の概略構成図を示し、第1の実
施の形態に適用した場合のマイクロ波放射器の内部を示
す図である。図示するように、マイクロ波の高周波磁界
が集中している管壁付近の、しかも出力側開口部6bに
フェライトコア31a、31bが配設されている。また
マイクロ波を効率良くフェライトコアへ導入するため
に、フェライトコア31a、31bに近接させて整合用
の誘電体32a、32bが付加されている。図25は、
図24のP−P’線における断面図を示したものであ
る。ここでは、フェライトコア31a,31bにそれぞ
れ直流磁界を印加するための磁場発生手段の概略図が示
される。左右のフェライトコア31a,31bに印加さ
れる直流磁界の極性が互いに逆向きになるように構成さ
れている。
うにマイクロ波放射器内を入力側6aから出力側6bへ
伝搬しているマイクロ波に対して、フェライトコア31
aには紙面の下方から上方へ向かう直流磁界B1を、フ
ェライトコア31bは紙面の上方から下方へ向かう直流
磁界B2を印加すると、各々のフェライトコア内で高周
波磁界が直流磁界B1およびB2に対して左回りに回転を
しているのでフェライトの比透磁率は共にμ−となる、
図5に示すように左回り、すなわち負方向回転の比透磁
率μ−は印加する直流磁界Bの値によっては1よりも大
きな値を示し、さらにフェライトの比誘電率も10〜2
0と大きいのでマイクロ波はフェライト媒質内に引き込
まれる。
イクロ波電界の分布図である。上述の結果マイクロ波電
界の分布は、マイクロ波放射器内の管壁付近で大きくな
り、反対に中央付近では減少して図26の実線で示す曲
線のようになる。図中の斜線部はフェライトコアの位置
を示し、点線は上記フェライトコアが存在しない場合の
基本モード(すなわちTE10モード)のみの電界分布を
示す。点線と比較して実線で示す分布は、両端の管壁付
近の電界分布を改善しており、マイクロ波放射器の出力
側開口部におけるマイクロ波電力分布の均一化が図れ
る。
の分布を得ることで、プラズマ処理室の窓部に沿って帯
状に、しかもイオン密度分布の均一性が高いプラズマを
生成させることができる。
おける第5の実施の形態の概略構成図を示し、第1の実
施の形態に適用した場合のマイクロ波放射器の内部を示
す図である。図示するように、マイクロ波放射器の中心
軸Y−Y’上にマイクロ波の入力側6aから出力側6b
に向かい棒状のフェライトコア33が配設され、フェラ
イトコア33に外部から直流磁界を印加するための磁場
発生手段34a、34bを備えている。直流磁界は、図
中の矢印35で示すようにマイクロ波の入力側から出力
側に向かう方向に印加される。またマイクロ波を効率良
くフェライトコアへ導入するため、整合用の誘電体36
が配設してある。磁場発生手段34a、34bの具体的
構成としては、電磁石又は永久磁石を用いることができ
る。電磁石の場合は、例えば、小さなコイル(鉄心又は
空心)を並設したり、ヘルムホルツタイプのコイルでフ
ェライトコアを囲むようにする等適宜の構成とすること
ができる。図28は、例えば、図27のb−b’線にお
ける断面図である。これは、マイクロ波放射器内部のフ
ェライトコア33の固定位置を示すもので、Z−Z’線
に対し対称に配設してある。
流磁界を図27に示すように構成することで、マイクロ
波放射器の出力側開口部におけるマイクロ波電界分布を
均一化する原理を説明する。図示するようにマイクロ波
の伝搬方向に直流磁界を加えるならば、フェライトコア
内の比透磁率は図5のμ+、μ−のほぼ中間の値とな
る。これを実効比透磁率と呼びμeffで表す。このμeff
の値はμ+、μ−の値を用いて次式で関係づけられてい
る。 μeff=2μ+μ−/(μ+ + μ−) (5) 図29は、フェライトコアの実効比透磁率の直流磁界に
対する値を示す図である。これは、μeffの直流磁界依
存性を示すものである。直流磁界の値を適当にするとμ
effは0に近づき、やがて負の値をとる領域がある。マ
イクロ波の伝送系において比透磁率が負になるというこ
とは、その領域で電界はフェライトをさけて通る。従っ
て、マイクロ波放射器内のもともと電界の強い位置にフ
ェライトコアを置き直流磁界の値を適切に設定してμ
effを1以下の適当な正の値とすることで、電界の強度
を弱めるとともにもともと電界の弱い位置へ電界を偏移
させることができる。
イクロ波電界強度の分布図である。図30には、マイク
ロ波放射器内における、マイクロ波の進行方向に垂直な
3つの異なる面内でのマイクロ波電界の分布の様子を示
す。図30の曲線1,2,3は、それぞれ図27のa−
a’、b−b’、c−c’線断面でのマイクロ波電界分
布に対応する。テーパー状のマイクロ波放射器では主に
基本モードのTE10の電界分布となるが、本実施の形態
では電界の偏移の効果で広い範囲にわたり均一な分布が
得られる。図30の曲線3で示すようなマイクロ波電界
の分布を得ることで、プラズマ処理室の窓部に沿って帯
状に、しかもイオン密度分布の均一性が高いプラズマを
生成させることができる。
たり境界部材をはさんで接合したり、分割しないで一体
の構成としてもよい。また、フェライトコアは、左右、
上下に適宜分割したり、一体化してもよく、また、ひと
つ又は適宜の複数個設けるようにしてもよい。フェライ
トコアの大きさ、形状(円、楕円、球、三角、菱形等)
は、適宜のものを用いることができる。磁場発生手段
も、フェライトコアの構成に従い、適宜の数、適宜の配
置とすることができる。
の終端部をマイクロ波放射器とし、しかもマイクロ波放
射器の出力側開口部が被処理物の寸法に応じた細長い矩
形のスリットを形成しているので、導波管の側壁にスロ
ットを設けた場合に見られるマイクロ波電界分布に自由
空間波長の2分の1毎の強弱が現れる現象が生じない。
また、本発明によれば、マイクロ波放射器内部に配設し
たフェライトコアの材質、形状および寸法と、そこに印
加する直流磁界の値を適切に設定することで、マイクロ
波の伝搬方向およびマイクロ波の電界分布を適時調整す
ることができ、プラズマ処理室へ放射されるマイクロ波
の電力分布をプラズマ処理室の窓部の長辺方向に沿って
均一にすることができる。よって、本発明によれば、幅
広い領域に渡りプラズマ密度の分布を均一にすることが
できる。さらに、本発明によれば、導波管の終端部から
マイクロ波を放射する方式であるので、マイクロ波の使
用効率が向上され生成されるプラズマの密度を高めるこ
とができる。したがって、本発明によれば、直線状プラ
ズマを照射しつつ被処理物を移動させることにより、広
い面積を均一にしかも高速にプラズマ処理することがで
きる。
ある。
を示す構成図である。
分布図である。
流磁場依存性を示す図である。
の進行方向を示す概略図(1)である。
界の分布図(1)である。
の進行方向を示す概略図(2)である。
界の分布図(2)である。
における断面図である。
コアとそこに印加する直流磁界の構成を示す図である。
電界の分布図(3)である。
配置を示す図である。
である。
波の波数ベクトルの方向を示す概略図である。
電界の分布図である。
電界強度の分布図である。
である。
の波形を示す図である。
波の進行方向を示す概略図である。
電界強度の分布図である。
分布を示す図である。
である。
電界の分布図である。
である。
対する値を示す図である。
電界強度の分布図である。
る。
ロ波電界強度の分布を示す図である。
Claims (9)
- 【請求項1】壁面に設けられた窓部に対向するように被
処理物が配置されるプラズマ処理室と、 マイクロ波電源から出力されたマイクロ波を前記プラズ
マ処理室に放射するためのマイクロ波放射器と、 前記マイクロ波放射器内に設けられ、マイクロ波の伝搬
方向を変えるためのフェライトコアと、 前記フェライトコアに磁界を印加するための磁場発生手
段とを備えたプラズマ処理装置。 - 【請求項2】前記マイクロ波放射器は、平行部とテーパ
ー部を備え、 マイクロ波のH面同士が平行に形成され、両E面がマイ
クロ波の進行方向に沿って扇形に伸長されて形成され、
かつマイクロ波放射器の出力側開口部が細長い矩形のス
リットを形成していることを特徴とする請求項1に記載
のプラズマ処理装置。 - 【請求項3】前記マイクロ波放射器は、電源側導波管部
とプラズマ処理室側導波管部とを備え、不連続部を含み
ステップ状に構成され、 マイクロ波のH面同士が平行に形成され、両E面がマイ
クロ波の進行方向に沿って不連続な段差状に伸長されて
形成され、かつ、マイクロ波放射器の出力側開口部が細
長い矩形のスリットを形成していることを特徴とする請
求項1に記載のプラズマ処理装置。 - 【請求項4】前記電源側導波管部にひとつのモードのマ
イクロ波を入射し、 前記磁場発生手段により印加される磁場を調整すること
により、前記プラズマ処理室側導波管部に複数のモード
のマイクロ波を伝搬させることを特徴とする請求項3に
記載のプラズマ処理装置。 - 【請求項5】前記フェライトコアは、前記マイクロ波放
射器の中心を境ににて左側部と右側部とを備え、 前記磁場発生手段は、前記フェライトコアの左側部及び
右側部に互いに逆方向の直流磁界を外部から印加するよ
うにしたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに
記載のプラズマ処理装置。 - 【請求項6】前記フェライトコアは、前記マイクロ波放
射器のマイクロ波入力側に近い位置に、しかもマイクロ
波放射器の中心軸上又は付近にひとつ又は複数対向して
配設され、 前記磁場発生手段は、マイクロ波の伝搬方向を周期的に
変えるように前記フェライトコアに外部から交流磁界を
印加するようにしたことを特徴とする請求項1乃至4の
いずれかに記載のプラズマ処理装置。 - 【請求項7】前記フェライトコアは、前記マイクロ波放
射器の管壁付近に配設し、 前記磁場発生手段は、前記フェライトコアに外部から直
流磁界を印加するようにしたことを特徴とする請求項1
乃至4のいずれかに記載のプラズマ処理装置。 - 【請求項8】前記フェライトコアは、前記マイクロ波放
射器の中心軸上又は付近にマイクロ波の入力側から出力
側に向かい棒状に配設され、 前記磁場発生手段は、前記フェライトコアの磁化方向が
マイクロ波の入力側から出力側に向かうように直流磁界
を印加するようにしたことを特徴とする請求項1乃至4
のいずれかに記載のプラズマ処理装置。 - 【請求項9】前記プラズマ処理室内に配置された被処理
物と前記プラズマ処理室の窓部との間の空間に磁界を発
生するための手段又は、サイクロトロン共鳴を発生させ
るための手段が設けられていることを特徴とする請求項
1乃至8のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26448999A JP3889906B2 (ja) | 1999-09-17 | 1999-09-17 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26448999A JP3889906B2 (ja) | 1999-09-17 | 1999-09-17 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001085194A true JP2001085194A (ja) | 2001-03-30 |
JP3889906B2 JP3889906B2 (ja) | 2007-03-07 |
Family
ID=17403960
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26448999A Expired - Fee Related JP3889906B2 (ja) | 1999-09-17 | 1999-09-17 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3889906B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101450592B1 (ko) | 2013-01-17 | 2014-10-15 | 한국기초과학지원연구원 | 고밀도 플라즈마 발생장치 |
KR101475499B1 (ko) * | 2013-08-19 | 2014-12-23 | 한국기초과학지원연구원 | 고밀도 플라즈마 발생장치 |
-
1999
- 1999-09-17 JP JP26448999A patent/JP3889906B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101450592B1 (ko) | 2013-01-17 | 2014-10-15 | 한국기초과학지원연구원 | 고밀도 플라즈마 발생장치 |
KR101475499B1 (ko) * | 2013-08-19 | 2014-12-23 | 한국기초과학지원연구원 | 고밀도 플라즈마 발생장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3889906B2 (ja) | 2007-03-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5216329A (en) | Device for distributing a microwave energy for exciting a plasma | |
US6407359B1 (en) | Method of producing individual plasmas in order to create a uniform plasma for a work surface, and apparatus for producing such a plasma | |
US4745337A (en) | Method and device for exciting a plasma using microwaves at the electronic cyclotronic resonance | |
JPH088095A (ja) | プラズマ処理用高周波誘導プラズマ源装置 | |
US5173641A (en) | Plasma generating apparatus | |
US5666023A (en) | Device for producing a plasma, enabling microwave propagation and absorption zones to be dissociated having at least two parallel applicators defining a propogation zone and an exciter placed relative to the applicator | |
KR101092511B1 (ko) | 플라즈마 처리장치 및 플라즈마 생성장치 | |
US6087778A (en) | Scalable helicon wave plasma processing device with a non-cylindrical source chamber having a serpentine antenna | |
Lagarde et al. | Influence of the multipolar magnetic field configuration on the density of distributed electron cyclotron resonance plasmas | |
US6225592B1 (en) | Method and apparatus for launching microwave energy into a plasma processing chamber | |
JP2001085194A (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
JP4057541B2 (ja) | プラズマ発生システム | |
JP4900768B2 (ja) | プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置 | |
JP4017098B2 (ja) | プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置 | |
JPH08138889A (ja) | プラズマ処理装置 | |
JPH05182785A (ja) | マイクロ波放電反応装置及び電極装置 | |
KR20020091430A (ko) | 원편광 공진 모드를 이용한 플라즈마 방전 시스템 | |
JP3825048B2 (ja) | 非円筒形ソースチャンバを有したスケーラブルヘリコン波プラズマ処理装置 | |
JP3736054B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
GB2203888A (en) | Unit for dry-processing thin film | |
KR100197113B1 (ko) | 장방형 도파관에서 긴 슬롯을 통해 플라즈마실에 마이크로웨이브를 조사하는 플라즈마 처리장치 | |
JP3364064B2 (ja) | シートプラズマ発生装置 | |
JPH04167424A (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
JP2000331797A (ja) | プラズマ処理方法及びその実施に使用するプラズマ処理装置 | |
JP3085143B2 (ja) | プラズマ処理方法および装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20031031 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040205 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20040129 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050829 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050906 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051028 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060919 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061016 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20061107 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20061201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |