JP2001083127A - 超純水の分析装置、超純水製造管理システム及び超純水の分析方法 - Google Patents

超純水の分析装置、超純水製造管理システム及び超純水の分析方法

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JP2001083127A
JP2001083127A JP26071799A JP26071799A JP2001083127A JP 2001083127 A JP2001083127 A JP 2001083127A JP 26071799 A JP26071799 A JP 26071799A JP 26071799 A JP26071799 A JP 26071799A JP 2001083127 A JP2001083127 A JP 2001083127A
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JP
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ultrapure water
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JP26071799A
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Kazuhiko Suda
一彦 須田
Minoru Nakamura
穣 中村
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Nomura Micro Science Co Ltd
Original Assignee
Nomura Micro Science Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 試料の汚染を抑制しつつ、試料の採取・分析
を行う。 【解決手段】 試料採取・濃縮装置7には、導入管3、
弁4、イオン交換カラム5及び排出管6が設けられ、弁
4は切り替え式の2流路を有し、導入管3が超純水配管
1から送られる超純水を試料採取・濃縮装置7に導入す
る際に、導入管3から導入される超純水の流路をイオン
交換カラム5のバイパス側に切り替え、超純水の流路を
超純水で洗浄した後、導入管3から導入される超純水の
流路をイオン交換カラム5側に切り替え、超純水に含ま
れるイオンを採取・濃縮する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、超純水の分析装
置、超純水製造管理システム及び超純水の分析方法に関
し、特に、超純水を汚染することなく超純水を採取・分
析・管理する場合に適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】近年、液晶表示素子(LCD)や半導体
素子(LSI)の集積度の向上に伴い、ガラス基板やシ
リコン基板上への極微量物質による汚染の影響が大きな
問題となっている。このため、これらの製造プロセスで
使用される超純水の清浄度の向上に対する要求が高まっ
ている。
【0003】すなわち、製造工程中のガラス基板や半導
体基板の洗浄等に使用される洗浄水の純度は、製造され
た液晶表示素子や半導体素子の製品収率および性能に重
大な影響を与えるため、水以外の物質をほとんど含まな
い超高純度な水、すなわち超純水を用いることが必須と
なっており、その品質管理は極めて重要である。
【0004】一般に、超純水の品質管理は、超純水製造
装置により生産される超純水を採取し、採取した超純水
中のイオン、金属、微粒子、生菌、シリカおよび全有機
炭素(TOC)等を各種分析装置等で測定することによ
り行われている。この測定方法は日本工業規格(JI
S)で規定されており、例えば、イオン分析について
は、JIS K 0556−1995に記載されてい
る。また、金属元素分析については、JIS K 05
53−1995に記載されている。
【0005】ところで、JIS K 0556−199
5およびJIS K 0553−1995に記載の分析
方法では、分析用の超純水(試料)を採取する試料容器
として蓋付密閉容器が採用されている。
【0006】この蓋付密閉容器を用いて試料を分析する
場合、蓋付密閉容器に試料を採取する必要がある。蓋付
密閉容器に試料を採取するには、超純水製造装置の超純
水通水配管に取り付けられた採取用弁を十分に洗浄す
る。そして、滅菌された試料導入管を採取用弁に取り付
け、直前に蓋がはずされた試料容器の底に試料導入管の
先端部が接触するように挿入して超純水を導入する。な
お、試料容器は、測定しようとする超純水と同等の純度
の超純水を用いて、予め十分に洗浄されている。
【0007】次いで、所定の時間、試料容器から超純水
を溢れさせ、試料導入管を試料容器から取り出し、蓋を
試料で十分に洗浄した後、密栓する。こうして、試料の
採取が行われる。
【0008】次に、分析装置に付随した試料導入装置専
用の容器内に試料容器から再び試料を導入するか、ある
いは試料容器の蓋を開けた状態で試料移送ポンプの試料
導人管を挿入した後、試料を分析装置に送液し、分析装
置により試料容器に採取された試料の水質測定を行って
いた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、JIS
K 0556−1995に基づく試料分析方法は、試
料中のイオン濃度が概ね0.05μg/l以上の場合を
想定して規定された定量分析方法である。このため、こ
の濃度範囲においては十分信頼性の高い測定が可能であ
るが、水以外の物質を極限まで除去した高純度な超純
水、例えば、イオン濃度がlng/lのレベルに達する
超純水を試料として分析する場合には、試料採取時およ
び試料測定時の汚染の影響が顕著に現れてしまい、測定
の信頼性が著しく低下するという問題があった。
【0010】また、JIS K 0553−1995に
基づく試料分析方法についても、金属元素毎により定量
範囲に違いがあるが、lng/lのレベルにまで達する
超純水を試料として分析する場合には、試料採取時およ
び試料測定時の汚染の影響が顕著に現れるため、測定の
信頼性が著しく低下するという問題があった。
【0011】すなわち、JIS K 0556−199
5およびJIS K 0553−1995に規定された
試料分析方法では、試料採取時に試料容器の蓋を密栓す
る際、試料は環境中の雰囲気と接触する。このため、雰
囲気中に含まれる気体状または粒子状のフッ化物等のハ
ロゲン化物、窒素化合物、硫黄化合物、燐化合物、有機
酸、アンモアやその化合物、塩化ナトリウム等のアルカ
リ金属化合物およびアルカリ土類金属化合物、その他の
金属元素化合物等の浮遊塵等が汚染物質として試料中に
混入し、試料が汚染される。
【0012】また、試料の測定に際しては、分析装置に
付随した試料導入装置専用の容器内に試料容器から再び
試料を導入するか、あるいは試料容器の蓋をあけた状態
で試料移送ポンプの試料導入管を挿入した後、試料を分
析装置に送液するため、やはり上述したような雰囲気中
に存在する不純物が試料に混入し、試料が汚染される。
【0013】従って、従来の分析方法では、イオン濃度
がlng/lのレベルに達する超純水を試料として分析
すると、試料に混入した不純物により試料が汚染される
ため、試料の正確な水質を測定することが困難であると
いう問題があった。
【0014】そこで、本発明の目的は、超純水等の試料
の汚染を抑制することが可能な超純水の分析装置、超純
水製造管理システム及び超純水の分析方法を提供するこ
とである。
【0015】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明の超純水の分析装置によれば、イオン交
換カラムと、試料を前記イオン交換カラムに導入する導
入管と、試料を排出する排出管と、前記イオン交換カラ
ムを迂回して前記導入管に導入された試料を前記排出管
に排出する迂回手段とを備えることを特徴としている。
【0016】これにより、試料をイオン交換カラムに送
る前に、試料をイオン交換カラムに送る導入管を洗浄す
ることが可能となるとともに、試料をイオン交換カラム
に送る時に試料が雰囲気にさらされることを防止するこ
とが可能となり、試料の汚染を伴うことなく、試料に含
まれている不純物を採取することが可能となる。
【0017】また、前記迂回手段は、切り替え式の2流
路を有する弁を用いることができ、切り替え式の2流路
を有する弁は、試料の流路をイオン交換カラムのバイパ
ス側またはイオン交換カラム側に切り替えることができ
る。
【0018】これにより、試料の採取時には、試料が雰
囲気に触れることを防止しつつ、その試料を用いて導入
管を洗浄することが可能となり、試料自体が汚染される
ことを防止することが可能となる。また、試料の分析時
には、その試料から採取された不純物が雰囲気に触れる
ことを防止しつつ、溶離液を用いて導入管を洗浄するこ
とが可能となり、試料から採取された不純物が他の不純
物で汚染されることを防止することが可能となる。この
ため、試料の採取時と試料の分析時の双方におおいて、
汚染の発生を防止することが可能となり、超純水の水質
を高精度で管理することが可能となる。
【0019】また、切り替え式の2流路を有する弁は、
直列または並列またはそれらを組み合わせて配管するこ
とができる。
【0020】これにより、試料が雰囲気に触れることを
防止しつつ、複数試料の採取を同時に行うことが可能と
なるとともに、試料採取を任意の間隔で行うことが可能
となる。また、溶離液を任意の順に流すことがことが可
能となる。このため、高精度かつ効率的な超純水の水質
管理を行うことが可能となる。
【0021】また、本発明の超純水の分析装置では、前
記排出管から排出された溶離液中の不純物を除去する電
気透析型イオン除去装置と、前記溶離液の分析を行うI
CP質量分析装置とを備えることもできる。
【0022】これにより、イオン交換カラムに濃縮され
たイオンを溶離してICP質量分析装置で測定する場合
において、測定妨害成分となる溶離液中の不純物を除去
してから、ICP質量分析装置で分析することが可能と
なるとともに、測定時の操作などによる汚染をほぼ完全
に排除することが可能となる。
【0023】また、本発明の超純水製造管理システムに
よれば、超純水を生成する超純水生成装置と、前記超純
水を雰囲気と接触させることなく、前記超純水含まれる
イオンを採取・濃縮するイオン採取・濃縮装置と、前記
イオン採取・濃縮装置で採取・濃縮されたイオンを雰囲
気と接触させることなく、イオン分析装置に導入するイ
オン導入装置とを備えることを特徴としている。
【0024】これにより、超純水生成装置で生成された
超純水の雰囲気による汚染を伴うことなく、超純水を採
取することが可能となるとともに、超純水から採取され
たイオンの雰囲気による汚染を伴うことなく、超純水か
ら採取されたイオンを分析することが可能となる。この
ため、超純水生成装置のユースポイントが複数存在する
場合においても、イオン分析装置を1台設けるだけで、
超純水の水質管理を高精度に行うことが可能となり、超
純水製造管理システムにおける設備の負担の増加を抑制
しつつ、超純水の管理精度を向上させることが可能とな
る。
【0025】また、本発明の超純水の分析方法によれ
ば、超純水に含まれるイオンを、雰囲気と接触させるこ
となく採取・濃縮する工程と、前記採取・濃縮されたイ
オンを、雰囲気と接触させることなく溶離する工程と、
前記溶離されたイオンを分析する工程とを備えることを
特徴としている。
【0026】これにより、試料が雰囲気で汚染されるこ
とを防止しつつ、超純水に含まれる不純物のみを採取・
分析することが可能となり、超純水の不純物の分析精度
を向上させることが可能となるとともに、1台のイオン
分析装置を複数のユースポイントで共用することが可能
となる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の一形態につ
いて、図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の
一実施例に係る超純水の分析装置の試料採取・濃縮時の
構成を示すブロック図である。なお、図1の実施例で
は、超純水製造装置により製造された超純水を雰囲気と
非接触に採取・濃縮する方法について示す。
【0028】図1において、試料採取・濃縮装置7に
は、導入管3、弁4、イオン交換カラム5及び排出管6
が設けられている。導入管3は、超純水配管1で送られ
る超純水を試料採取・濃縮装置7に導入する。弁4は、
切り替え式の2流路を有し、導入管3から導入された超
純水の流路をイオン交換カラム5側またはイオン交換カ
ラム5のバイパス側に切り替える。イオン交換カラム5
は、超純水に含まれるイオンを採取・濃縮する。排出管
6は、試料採取・濃縮装置7に導入された超純水を排出
する。
【0029】なお、導入管3および排出管6としては、
試料中に不純物の溶出がなく、配管の自由度を高めるも
のが望ましい。このため、可撓製を有するPEEK(ポ
リエーテルエーテルケトン)、PFA(パーフロロアル
コキシエチレン)等の材質が好ましい。また、試料の通
水を制御する調節弁を導入管3および排出管6に設ける
とより好ましく、導入管3および排出管6は任意の場所
に設置可能である。
【0030】試料採取・濃縮装置7を用いて超純水中の
不純物を測定する場合、次のi)〜iii)の過程を経
て測定を行うことができる。
【0031】i)超純水製造装置で製造された超純水を
導入管3を介し雰囲気から非接触にイオン濃縮カラム5
へ導き、超純水中に含まれるイオンを採取・濃縮する。
【0032】ii)イオン濃縮カラム5で採取・濃縮さ
れたイオンを雰囲気から非接触に超純水測定装置へ導入
する。
【0033】iii)超純水測定装置へ導入されたイオ
ンを測定する。
【0034】以下、試料採取・濃縮装置7を用いて試料
を採取・濃縮する方法について説明する。
【0035】試料採取・濃縮装置7で試料を採取・濃縮
する場合、超純水配管1から試料を採取するための試料
採取弁2に試料採取・濃縮装置7の導入管3を接続す
る。ここで、試料採取弁2は、超純水を少なくとも一晩
放流し続けることにより十分洗浄しておく。次いで、切
り替え式の2流路を有する弁4をイオン交換カラム5の
バイパス側に切り替え、イオン交換カラム5をバイパス
させながら、導入管3から導入された試料を排出管6に
放流することにより、試料で導入路3を洗浄する。導入
路3の洗浄が終わると、弁4をイオン交換カラム5側に
切り替え、導入管3から導入された試料をイオン交換カ
ラム5に送出する。
【0036】イオン交換カラム5に試料が送出される
と、試料中のイオンが採取・濃縮される。イオン交換カ
ラム5へ試料の送出が所定量に達すると、切り替え式の
2流路を有する弁4を切り替え、イオン交換カラム5へ
の流路を完全閉鎖形にする。
【0037】このように、切り替え式の2流路を有する
弁4とイオン交換カラム5とからなる組み合わせに導入
管3と排出管6を設けることにより、試料をイオン交換
カラム5に供給する前に試料の流路を洗浄することが可
能となるとともに、超純水配管1から採取された試料を
採取容器を用いることなく、導入管3を介して直接イオ
ン交換カラム5に供給することが可能となる。このた
め、超純水製造装置で生産された超純水が、導入管3内
に付着している不純物で汚染されたり、雰囲気と接触し
て汚染されたりすることを防止しつつ、試料の精度分析
を行うことが可能となり、超純水の水質管理を精度よく
行うことが可能となる。
【0038】また、切り替え式の2流路を有する弁4の
一方の流路にはイオン交換カラム5を取り付け、弁4の
他方の流路には、イオン交換カラム5のバイパス経路を
設けることにより、イオン交換カラム5への試料の供給
時だけでなく、イオン交換カラム5への溶離液の供給時
においても、不純物の混入を避けることが可能となる。
このため、試料の採取時だけでなく、試料の分析時にお
いても、試料の汚染をほぼ完全に排除することが可能と
なる。
【0039】なお、複数の弁4を用いた場合、並列接続
では、導入管3に分岐を設けることにより、複数の試料
を同時に濃縮することができる。また、直列接続では、
各々の弁4を順次切り替えてイオンの濃縮を行うことに
より、一定時間毎、あるいは、任意の間隔で、イオンを
濃縮することができる。
【0040】イオン交換カラム5でのイオンの採取・濃
縮が終わると、イオン交換カラム5で採取・濃縮された
イオンの分析を行う。
【0041】以下、試料採取・濃縮装置7を用いて試料
から採取・濃縮されたイオンの分析方法について説明す
る。ここで、イオン分析装置としては、イオンクロマト
装置やICP質量分析装置などを使用することができ
る。
【0042】切り替え式の2流路を有する弁4を複数直
列に接続する場合には、分析に要する時間毎に順次弁4
を切り替える。この時、この接続操作により発生した汚
染物質が接続配管内に付着する。このため、通液初期に
は、切り替え式の2流路を有する弁4をイオン交換カラ
ム5のバイパス側に切り替え、流路の洗浄を行う。流路
の洗浄が十分行われると、切り替え式の2流路を有する
弁4をイオン交換カラム5に切り替える。そして、イオ
ン交換カラム5に溶離液を流し、イオン交換カラム5を
通過した溶離液をイオン分析装置に供給する。
【0043】切り替え式の2流路を有する弁4を並列接
続する場合は、1対の多方弁の間に切り替え式の2流路
を有する弁4をセットし、上述のように切り替え式の2
流路を有する弁4の流路の洗浄を行う。洗浄が終了する
と、測定を開始し、測定の終了後に、一対の多方弁別の
切り替え式の2流路を有する弁を切り替え、これを繰り
返して試料を順次測定する。
【0044】このように、切り替え式の2流路を有する
弁を直列または、並列に配管で組み合わせて使用するこ
とにより、試料が雰囲気と接触することによる試料の汚
染を防止しつつ、複数の試料を同時に採取したり、任意
の間隔で試料を採取したりすることが可能となる。
【0045】また、切り替え式の2流路を有する弁を直
列に配管することにより、試料が雰囲気と接触すること
による試料の汚染を防止しつつ、任意の順に溶離液を流
すことが可能となる。
【0046】図2は、本発明の一実施例に係る超純水の
分析装置の試料分析時の構成を示すブロック図である。
なお、図2の実施例では、雰囲気と非接触に超純水から
採取・濃縮されたイオンを、雰囲気と非接触にICP質
量分析装置16に導入する方法について示す。
【0047】図2において、試料採取・濃縮装置17に
は、導入管11、弁12、イオン交換カラム13及び排
出管14が設けられている。導入管11は、溶離液を試
料採取・濃縮装置17に導入する。弁12は、切り替え
式の2流路を有し、導入管11から導入された溶離液の
流路をイオン交換カラム13のバイパス側またはイオン
交換カラム13側に切り替える。イオン交換カラム13
は、超純水に含まれるイオンを採取・濃縮する。排出管
14は、試料採取・濃縮装置17に導入された溶離液を
排出する。
【0048】イオン交換カラム13にイオンが採取・濃
縮されると、切り替え式の2流路を有する弁12の導入
管11に溶離液を供給できるようにし、排出管14を陰
イオン除去装置15を介してICP質量分析装置16に
接続する。そして、試料採取・濃縮装置17に溶離液の
供給を開始する時に、切り替え式の2流路を有する弁1
2のイオン交換カラム13のバイパス側に溶離液を流
す。溶離液の流路の洗浄が十分行われた後、切り替え式
の2流路を有する弁12の流路をイオン交換カラム13
側に切り替え、イオン交換カラム13に溶離液を流す。
そして、イオン交換カラム13を通過した容離液を排出
管14を介して陰イオン除去装置15に導き、溶離液中
の陰イオンを排除し、試料をほぼ中性としてから、IC
P質量分析装置16で測定する。
【0049】このように、イオン交換カラム13に濃縮
されたイオンを溶離してICP質量分析装置16で測定
する場合、イオン交換カラム13が装着された切り替え
式の2流路を有する弁12を設けるとともに、溶離液の
排出管14を溶離液中の不純物を除去する電気透析型陰
イオン除去装置15を介してICP質量分析装置16に
配管接続する。このことにより、溶離液を流す前に溶離
液の流路を洗浄することが可能となるとともに、溶離液
をICP質量分析装置16に導く際に溶離液が雰囲気と
接触することを防止することが可能となる。また、測定
時の操作などによる汚染をほぼ完全に排除し、測定妨害
成分となる溶離液中の不純物を除去することが可能とな
る。
【0050】図3は、本発明の一実施例に係る超純水製
造管理システムの構成を示すブロック図である。図3に
おいて、超純水製造管理システムには、超純水製造装置
21、試料採取濃縮装置31及びイオン分析装置36が
設けられている。
【0051】超純水製造装置21では、原水が前処理装
置22に導入され、原水中の懸濁物質等が分離・除去さ
れる。次いで、前処理装置22で処理された被処理水は
紫外線酸化装置23に送られ、被処理水に含まれる有機
物が分解される。次に、有機物が分解された被処理水は
2床3塔24に送られる。2床3塔24には、カチオン
交換樹脂塔、真空脱気塔及びアニオン交換樹脂塔が設け
られ、2床3塔24は、被処理水からイオン成分を除去
する。次に、イオン成分が除去された被処理水は逆浸透
装置25に導入され、微粒子およびコロイド状物質等の
除去が行われる。
【0052】次に、微粒子およびコロイド状物質等の除
去が行われた被処理水は混床式イオン交換装置26に送
られ、被処理水中のイオン成分が除去される。続いて、
イオン成分が除去された被処理水は、低圧紫外線ランプ
酸化装置27に導入され、被処理水の溶存有機物が分解
される。次に、溶存有機物が分解された被処理水は混床
式イオン交換装置28に送られ、被処理水中のイオン成
分が除去される。次に、イオン成分が除去された被処理
水は限外濾過膜装置29に導入され、極微量の微粒子等
が除去される。
【0053】こうして製造された超純水は、ユースポイ
ント(採水点)30に供給されるとともに、過剰量の超
純水は低圧紫外線ランプ酸化装置27の前段に設けられ
ている真空脱気装置の前段に還流される。
【0054】超純水製造装置21により製造された超純
水は、試料採取・濃縮装置31で雰囲気と非接触にイオ
ンが採取・濃縮される。試料採取・濃縮装置31に採取
されたイオンは雰囲気と非接触にイオン分析装置36に
導入されて、イオン濃度が測定される。そして、この測
定結果により超純水の水質を判定し、超純水の水質が要
求された仕様に達していない場合には、速やかにユース
ポイント30への超純水の供給を停止し、超純水製造装
置21の迅速な復旧を行うことができる。
【0055】ここで、試料採取・濃縮装置31には、導
入管32、弁33、イオン交換カラム34及び排出管3
5が設けられている。そして、試料採取・濃縮装置31
をユースポイント30がある地点に設置し、導入管32
をユースポイント30に接続することにより、超純水製
造装置21で製造された超純水を雰囲気と非接触で試料
採取・濃縮装置31に導入することができる。超純水が
試料採取・濃縮装置31に導入されると、イオン交換カ
ラム34で超純水中に含まれるイオンを採取・濃縮する
ことができる。イオンの採取が終わると、試料採取・濃
縮装置31の導入管32をユースポイント30から切り
離し、試料採取・濃縮装置31をイオン分析装置36が
ある地点に移動させる。そして、排出管35をイオン分
析装置36に接続し、導入管32から溶離液を導入する
ことにより、イオン交換カラム34により採取・濃縮さ
れたイオンを雰囲気と非接触でイオン分析装置36に導
く。これにより、超純水が雰囲気から汚染されることを
防止しつつ、超純水の採取・分析を行うことが可能とな
る。さらに、弁33は切り替え式の2流路を有し、弁3
3をイオン交換カラム34側とイオン交換カラム34の
バイパス側とで切り替えることにより、超純水や溶離液
の流路を洗浄してから、超純水や溶離液を試料採取・濃
縮装置31に流すことが可能となる。
【0056】この結果、ユースポイント30が離れた場
所に複数ある場合においても、イオン分析装置36を1
台用意するだけで、全てのユースポイント30での超純
水の水質を高精度に管理することが可能となる。
【0057】なお、超純水製造装置21は、要求された
所定の水質を満たす超純水を確実に供給できる限り、ど
のような構成でもよい。例えば、市水等を原水として超
純水を製造する場合には、超純水製造装置21は、原水
中の濁質成分を除去する前処理システム、イオン状物
質、微粒子、有機物、溶存ガスおよび生菌等を除去する
一次系システムおよび一次系システムより得られた一次
純水の精密仕上げを目的とした二次系システムとを組み
合わせることができる。さらに、製造された超純水は、
ユースポイント30に供給されて必要量が消費されると
ともに、過剰量の超純水は二次系システムに還流され、
再度処理される構成とすることも可能である。
【0058】このように、超純水製造装置21、試料採
取・濃縮装置31およびイオン分析装置36を有機的に
結合可能とし、超純水製造装置21で超純水を製造する
とともに、その水質を汚染のないまま直接的にかつ一貫
して監視可能とすることにより、設備投資にかかる負担
を抑制しながら所定の水質を満足する超純水を提供する
ことが可能となる。
【0059】また、上述した試料分析方法によれば、超
純水などの試料を雰囲気と非接触に採取・濃縮すること
が可能となるとともに、採取・濃縮された試料を、試料
容器を用いることなく、雰囲気と非接触の状態を保った
まま、自由に移動させることが可能となり、異なる地点
で採取された試料を1台の分析装置で高精度に分析する
ことができる。
【0060】次に、本発明の一実施例について、比較例
と対比しつつ説明する。
【0061】実施例1として、以下の方法により、超純
水中のイオンを採取・濃縮し、イオンの分析を行った。
すなわち、図3の超純水製造装置21が設置されている
機械室内で、試料採取・濃縮装置31の導入管32を超
純水製造装置21の超純水配管に接続し、切り替え式の
2流路を有する弁33をイオン交換カラム34をバイパ
ス側に切り替える。そして、超純水製造装置21により
製造された超純水を流すことにより、超純水の流路を十
分洗浄する。流路の洗浄が終わると、切り替え式の2流
路を有する弁33をイオン交換カラム34側に切り替え
る。そして、超純水製造装置21により製造された超純
水をイオン交換カラム34に流すことにより、超純水中
のイオンを採取・濃縮する。超純水中のイオンが採取・
濃縮されると、イオン交換カラム5への流路を完全閉鎖
形にする。そして、試料採取・濃縮装置31の導入管3
2を超純水製造装置21の超純水配管から取り外し、排
水管35をイオン分析装置36に接続する。その後、切
り替え式の2流路を有する弁33をイオン交換カラム3
4をバイパス側に切り替え、溶離液を放流して、流路を
十分洗浄してから、切り替え式の2流路を有する弁33
をイオン交換カラム34側に切り替え、溶離液をイオン
交換カラム34に流す。そして、溶離液に含まれるイオ
ンをイオン分析装置36に導入してイオン分析を行っ
た。なお、イオン分析装置36では、イオンクロマトグ
ラムによりイオンの定量を行った。
【0062】比較例1として、図3の超純水製造装置2
1の超純水配管とイオン分析装置36とを接続配管によ
り直結し、超純水を雰囲気と完全に非接触にして超純水
をイオン分析装置に導入してイオン分析を行った。な
お、比較例1の方法は、ユースポイント30ごとに1台
のイオン分析装置36を設置する必要があり、全ての超
純水製造装置21またはそのユースポイント30での測
定を行うことは実用上、イオン分析装置36が高価なた
め極めて困難である。
【0063】比較例2として、JIS K 0556−
1995に記載の分析方法に基づき、図3の超純水製造
装置21が設置されている機械室内で、超純水製造装置
21により製造された超純水を採取し、この超純水をイ
オン分析装置36に導入してイオン分析を行った。
【0064】表1は、実施例1および比較例1、2の分
析結果を示す。なお、分析結果は、実施例1、比較例1
及び比較例2による分析を1セットとし、3セット連続
して測定した結果の平均である。
【0065】
【表1】 表1において、実施例1の分析結果と比較例1の分析結
果とは同等である。すなわち、実施例1及び比較例1で
は、超純水中のフッ物イオンの含有量は0.1ng/l
以下、超純水中の塩化物イオンの含有量は0.1ng/
l以下、超純水中の亜硝酸イオンの含有量は0.1ng
/l以下、超純水中の臭化物イオンの含有量は0.2n
g/l以下、超純水中の硝酸イオンの含有量は0.1n
g/l以下、超純水中のリン酸イオンの含有量は1ng
/l以下、超純水中の硫酸イオンの含有量は0.2ng
/l以下、超純水中のアンモニウムイオンの含有量は
0.1ng/l以下であった。
【0066】この実験結果は、実施例1の方法では、比
較例1の方法と同様の精度で、超純水中のイオンを雰囲
気と非接触に採取・分析できることを示している。この
ため、実施例1の方法は、比較例1の方法と同様の測定
精度を達成でき、イオン分析装置36を1台設置するだ
けで、イオン分析装置36を全てのユースポイント30
に設置した場合と同等の効果を得ることができる。
【0067】一方、JIS K 0556−1995に
記載の分析方法による比較例2の分析結果は、実施例1
及び比較例1の分析結果と比較して、イオン濃度が高く
なっており、分析結果に著しい相違があった。すなわ
ち、比較例2では、超純水中のフッ物イオンの含有量は
15ng/l、超純水中の塩化物イオンの含有量は20
ng/l、超純水中の亜硝酸イオンの含有量は30ng
/l、超純水中の臭化物イオンの含有量は10ng/
l、超純水中の硝酸イオンの含有量は40ng/l、超
純水中のリン酸イオンの含有量は20ng/l、超純水
中の硫酸イオンの含有量は20ng/l、超純水中のア
ンモニウムイオンの含有量は80ng/lであった。
【0068】これは、実施例1及び比較例1では、超純
水が雰囲気と非接触の状態で試料の採取及び分析が行わ
れ、イオン分析を高精度で行うことができるのに対し、
比較例2では、超純水が雰囲気と接触し、試料中に雰囲
気の不純物が混入するため、イオン分析の精度が損なわ
れることを示している。
【0069】また、実施例2として、以下の方法によ
り、超純水中のイオンを採取・濃縮し、イオンの分析を
行った。すなわち、図3の超純水製造装置21が設置さ
れている機械室内で、試料採取・濃縮装置31の導入管
32を超純水製造装置21の超純水配管に接続し、切り
替え式の2流路を有する弁33をイオン交換カラム34
をバイパス側に切り替える。そして、超純水製造装置2
1により製造された超純水を放流することにより、超純
水の流路を十分洗浄する。流路の洗浄が終わると、切り
替え式の2流路を有する弁33をイオン交換カラム34
側に切り替える。そして、超純水製造装置21により製
造された超純水をイオン交換カラム34に流すことによ
り、超純水中のイオンを採取・濃縮する。超純水中のイ
オンが採取・濃縮されると、イオン交換カラム5への流
路を完全閉鎖形にする。そして、試料採取・濃縮装置3
1の導入管32を超純水製造装置21の超純水配管から
取り外し、排水管35を図2の陰イオン除去装置15を
介してIPC質量分析装置16に配管接続する。その
後、切り替え式の2流路を有する弁33をイオン交換カ
ラム34をバイパス側に切り替え、溶離液を放流して、
流路を十分洗浄してから、切り替え式の2流路を有する
弁33をイオン交換カラム34側に切り替え、溶離液を
イオン交換カラム34に流す。そして、溶離液を陰イオ
ン除去装置15に導入して陰イオンを排除し、試料をほ
ぼ中性としてから、ICP質量分析装置16で測定し
た。
【0070】また、比較例3として、JIS K 05
53−1995に記載の分析方法に基づき、図3の超純
水製造装置21が設置されている機械室内で超純水製造
装置21により製造された超純水を採取し、この超純水
を原子吸光光度計及びIPC質量分析装置で分析を行っ
た。
【0071】表2は、実施例2および比較例3の分析結
果を示す。
【0072】
【表2】 表2において、JIS K 0556−1995に記載
の分析方法による比較例3の分析結果は、実施例2の分
析結果と比較して、イオン濃度が高くなっており、分析
結果に著しい相違があった。
【0073】すなわち、実施例2の超純水中のNaの含
有量は0.05ng/l以下であるのに対し、比較例3
の超純水中のNaの含有量は20ng/l、実施例2の
超純水中のMgの含有量は0.05ng/l以下である
のに対し、比較例3の超純水中のMgの含有量は10n
g/l以下、実施例2の超純水中のKの含有量は0.0
5ng/l以下であるのに対し、比較例3の超純水中の
Kの含有量は2ng/l以下、実施例2の超純水中のC
aの含有量は0.05ng/l以下であるのに対し、比
較例3の超純水中のCaの含有量は30ng/l、実施
例2の超純水中のAlの含有量は0.1ng/l以下で
あるのに対し、比較例3の超純水中のAlの含有量は1
0ng/l、実施例2の超純水中のMnの含有量は0.
05ng/l以下であるのに対し、比較例3の超純水中
のMnの含有量は10ng/l以下、実施例2の超純水
中のFeの含有量は0.1ng/l以下であるのに対
し、比較例3の超純水中のFeの含有量は10ng/l
以下、実施例2の超純水中のNiの含有量は0.05n
g/l以下であるのに対し、比較例3の超純水中のNi
の含有量は10ng/l以下、実施例2の超純水中のC
uの含有量は0.05ng/l以下であるのに対し、比
較例3の超純水中のCuの含有量は10ng/l以下、
実施例2の超純水中のZnの含有量は0.05ng/l
以下であるのに対し、比較例3の超純水中のCuの含有
量は5ng/であった。
【0074】これは、実施例2では、超純水が雰囲気と
非接触の状態で試料の採取及び分析が行われ、イオン分
析を高精度で行うことができるのに対し、比較例3で
は、超純水が雰囲気と接触し、試料中に雰囲気の不純物
が混入するため、金属分析の精度が損なわれることを示
している。また、比較例3では、試料の濃縮がほとんど
できないため、分析可能な濃度範囲も大幅に異なる。
【0075】以上の実験結果により、本発明の実施例に
よる洗浄方法の有効性が示された。
【0076】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
く、本発明の技術的思想の範囲内で他の様々の変更が可
能である。
【0077】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
試料の流路を切り替える切り替え手段をイオン交換カラ
ムの前段に設けることにより、試料が雰囲気に触れるこ
とを防止しつつ、試料で導入管を洗浄してから、試料を
イオン交換カラムに送ることが可能となり、試料の採取
時に試料が汚染されることを防止することが可能とな
る。また、試料から採取された不純物を分析する場合に
おいても、溶離液が雰囲気に触れることを防止しつつ、
溶離液で導入管を洗浄してから、溶離液をイオン交換カ
ラムに送ることが可能となり、試料から採取された不純
物が他の不純物で汚染されることを防止することが可能
となる。
【0078】また、本発明の超純水製造管理システムに
よれば、超純水生成装置で生成された超純水の雰囲気に
よる汚染を伴うことなく、超純水を採取することが可能
となるとともに、超純水から採取されたイオンの雰囲気
による汚染を伴うことなく、超純水から採取されたイオ
ンを分析することが可能となる。このため、超純水生成
装置のユースポイントが複数存在する場合においても、
イオン分析装置を1台設けるだけで、全てのユースポイ
ントにおける超純水の水質管理を高精度に行うことが可
能となり、超純水製造管理システムにおける設備の負担
の増加を抑制しつつ、超純水の管理精度を向上させるこ
とが可能となる。
【0079】また、本発明の超純水の分析方法によれ
ば、超純水が雰囲気に触れることを防止しつつ、超純水
に含まれる不純物のみを採取することが可能となり、超
純水の不純物の分析精度を向上させることが可能となる
とともに、1台のイオン分析装置を複数のユースポイン
トで共用することが可能となる。また、採取した超純水
に含まれる不純物を分析する時にも、その不純物を溶離
する溶離液が雰囲気に触れることを防止することが可能
となり、超純水の不純物の分析精度を向上させることが
可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例に係る超純水の分析装置の
試料採取・濃縮時の構成を示すブロック図である。
【図2】 本発明の一実施例に係る超純水の分析装置の
試料分析時の構成を示すブロック図である。
【図3】 本発明の一実施例に係る超純水製造管理シス
テムの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 超純水配管 2 採水弁 3、32 試料導入管 4、12、33 洗浄機能付弁 5、13、34 カラム 6、35 試料排出管 7、17、31 試料採取・濃縮装置 11 溶離液導入管 12 14 排出管 15 陰イオン除去装置 16 IPC質量分析装置 21 超純水製造装置 22 前処理装置 23、27 紫外線酸化装置 24 2床3塔 25 逆浸透装置 26、28 混床塔 29 限外瀘過装置 30 ユースポイント 36 分析装置

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 イオン交換カラムと、 試料を前記イオン交換カラムに導入する導入管と、 試料を排出する排出管と、 前記導入管に導入された試料を前記イオン交換カラムを
    迂回して前記排出管に排出する迂回手段とを備えること
    特徴とする超純水の分析装置。
  2. 【請求項2】 前記迂回手段は、切り替え式の2流路を
    有する弁を備えることを特徴とする請求項1記載の超純
    水の分析装置。
  3. 【請求項3】 前記切り替え式の2流路を有する弁は、
    試料の流路を前記イオン交換カラム側または前記イオン
    交換カラムのバイパス側に切り替えることを特徴とする
    請求項2記載の超純水の分析装置。
  4. 【請求項4】 前記切り替え式の2流路を有する弁は、
    直列または並列またはそれらを組み合わせて配管されて
    いることを特徴とする請求項2または3記載の超純水の
    分析装置。
  5. 【請求項5】 前記排出管から排出された溶離液中の不
    純物を除去する電気透析型陰イオン除去装置と、 前記溶離液の分析を行うICP質量分析装置とを備える
    ことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項記載
    の超純水の分析装置。
  6. 【請求項6】 超純水を生成する超純水生成装置と、 前記超純水を雰囲気と接触させることなく、前記超純水
    含まれるイオンを採取・濃縮するイオン採取・濃縮装置
    と、 前記イオン採取・濃縮装置で採取・濃縮されたイオンを
    雰囲気と接触させることなく、イオン分析装置に導入す
    るイオン導入装置とを備えること特徴とする超純水製造
    管理システム。
  7. 【請求項7】 超純水に含まれるイオンを、雰囲気と接
    触させることなく採取・濃縮する工程と、 前記採取・濃縮されたイオンを、雰囲気と接触させるこ
    となく溶離する工程と、 前記溶離されたイオンを分析する工程とを備えることを
    特徴とする超純水の分析方法。
JP26071799A 1999-09-14 1999-09-14 超純水の分析装置、超純水製造管理システム及び超純水の分析方法 Withdrawn JP2001083127A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009509295A (ja) * 2005-09-15 2009-03-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 誘電体バリア放電(dbd)ランプ用の適応ドライバ
JP2009092564A (ja) * 2007-10-10 2009-04-30 Kurita Water Ind Ltd 検水の濃縮方法及び濃縮装置
KR101368485B1 (ko) 2012-09-28 2014-03-03 주식회사 위드텍 초순수용액 온라인 모니터링 시스템

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