JP2001078984A - 磁気共鳴イメージング装置 - Google Patents

磁気共鳴イメージング装置

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JP2001078984A
JP2001078984A JP26137999A JP26137999A JP2001078984A JP 2001078984 A JP2001078984 A JP 2001078984A JP 26137999 A JP26137999 A JP 26137999A JP 26137999 A JP26137999 A JP 26137999A JP 2001078984 A JP2001078984 A JP 2001078984A
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shim
unit
pattern
holes
magnetic field
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JP26137999A
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Hiroshi Tazaki
寛 田崎
Hirotaka Takeshima
弘隆 竹島
Takao Honna
孝男 本名
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
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Hitachi Medical Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 磁場均一度調整のためのシミングに要する時
間を比較的抑制できかつ高い磁場均一度を達成できるM
RI装置を提供する。 【解決手段】 磁石装置10の磁性体シム配置領域32
上へ配置される複数の単位磁性体シム34の設置可能位
置36の間隔を、その単位磁性体シム34の大きさより
小さくする。これにより、磁場均一度の調整作業におい
て、高い磁場均一度を、効率良く達成できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、強磁性体等を用い
たシム手段を備えた磁気共鳴イメージング装置(以下M
RI装置と称する)に係り、特にシムの調整に好適な技
術に関する。
【0002】
【従来の技術】MRI装置は、超電導磁石や常電導磁石
あるいは永久磁石によって静磁場空間を形成させ、この
静磁場空間内に被検体を載置した状態で、高周波パルス
や傾斜磁場を所定のシーケンスに従って印加させること
で、撮像を行っている。MRI装置において、画質向上
のパラメータは種々存在し、その一つに静磁場の均一度
が挙げられる。
【0003】従来、静磁場の均一度を向上する手段とし
ては、強磁性体を用いたものがあり、図3にその一例を
示す。例えば、複数の単位磁性体シム34を平板状の磁
性体シム装着トレー38上に配置し、磁性体シム装着ト
レー38は例えば真空槽上に配置している。単位磁性体
シム34は、例えば図4に示すような薄型の直方体の形
状にして、升目状に配置する。単位磁性体シム34の設
置可能な位置の数としては、例えば2000個程度であ
るが、説明を簡単にするために、モデルとして64個の
場合を示した。ただし、○印は、設置する単位磁性体シ
ム34の中央位置36、または、ねじで単位磁性体シム
の中央のみを固定する場合のねじ穴を示している。以下
では、単位磁性体シム34の設置位置36は、単位磁性
体シム34をその中央でねじ留めをする場合を例にとっ
て、その中央位置を1つのねじで固定する場合のねじ穴
36として示す。しかし、単位磁性体シム34はねじで
は固定せず、接着剤で固定してもよい。この場合には○
印は磁性体シムを接着するその中央位置を示す。
【0004】磁性体シム装着トレー38には縦8個、横
8個で合計64個の穴が空けられており、ネジを用い各
単位磁性体シム34を固定する。
【0005】各箇所に配置した単位磁性体シム34が、
均一磁場空間において磁場分布に与える影響は、それぞ
れ違う。単位磁性体シム34が磁場分布に与える影響
は、あらかじめ実測や計算機シミュレーションにより求
めておく。磁場均一度調整の各段階では、測定した磁場
分布から、磁場均一度を更に高めるように、単位磁性体
シム34の配置の最適化を繰り返して、徐々に到達磁場
均一度を上げていく。その際には、線形計画法等の計算
手法を用いる。また、磁場均一度を表示するには、球面
調和関数の展開係数項で表わす方法が一般的であり、こ
れを用いれば、最適化計算が効率化するといった利点が
ある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このように、均一度を
向上するために、計算を行って単位磁性体シム34の配
置を移動させている。しかし、単位磁性体シム34の間
隔が粗い(単位磁性体シム34の大きさが大きい)場合
は、最適磁性体シム配置を計算するための計算時間、磁
性体シムを配置する作業のための時間は短くてすむが、
細かい移動ができないため、達成均一度が低いという短
所がある。一方、単位磁性体シム34の間隔を細かく
(単位磁性体シム34の大きさを小さく)すれば、達成
磁場均一度を高くできるが、調整する数が多くなるため
最適磁性体シム配置を計算するための計算時間、磁性体
シムを配置する作業のための時間は長くなる。
【0007】そのため、従来は単位磁性体シムの大き
さ、単位磁性体シム配設のためのパターンの間隔は、達
成すべき磁場均一度目標と、単位磁性体シム配置の最適
化計算に要する時間を考慮して、適宜調整して決められ
ていた。
【0008】本発明の目的は、磁場均一度調整のための
シミングに要する時間を比較的抑制できかつ高い磁場均
一度を達成できるMRI装置を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記本発明の目的は、均
一静磁場空間領域を生成する磁石装置と、均一静磁場空
間の磁場均一度を調整するシム手段とを有する磁気共鳴
イメージング装置において、前記シム手段を搭載するト
レーを備え、前記シム手段は複数個の単位シム片で構成
されると共に、前記トレーは前記複数個の単位シム片の
配置可能位置を示す第1のパターンと第2のパターンを
有し、第1のパターンは単位シム片の一次配置位置を示
し、第2のパターンは第1のパターン上に配置された単
位シム片のうち所望の条件を満たす単位シム片を移動す
る二次配置位置を示すものであり、この二次配置位置は
第1のパターン上で隣接する2つの単位シム片の中心間
距離dより短い移動が可能な位置となるよう構成するこ
とによって達成される。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明が適用されるMRI装置の
一例である垂直磁場方式の開放型超電導磁石装置を有す
るMRI装置を図1及び2を参照して、まず説明する。
【0011】MRI装置の開放型磁石装置10は対向す
る上下一対の磁石組立体12、14を有しており、これ
ら上下一対の磁石組立体12、14は、それぞれその間
に均一静磁場空間領域16を生成するための主超電導コ
イル18およびこの主超電導コイル18が生成する静磁
場の均一度を調整する調整超電導コイル20、これら主
超電導コイル18および調整超電導コイル20を超電導
温度以下に冷却する冷媒を保持しかつこれら超電導コイ
ルを収容している冷媒容器22、熱の対流を防ぐため冷
媒容器22の全体を内包している冷却容器として働く非
磁性材料、例えばアルミニウム、ステンレス鋼製の真空
槽24およびこれらの外側を包囲し超電導コイルからの
漏洩磁束を抑制する強磁性体プレート26から構成され
ている。上下の磁石組立体12、14のそれぞれの冷媒
容器22および真空槽24は連結管28によって連結さ
れており、かつ上下それぞれの強磁性体プレート26、
26はヨーク30によって互いに支持されると共に磁気
的に結合されている。
【0012】図5乃至8を参照して本発明の第1の実施
形態を説明する。
【0013】本実施形態の磁性体シム装着トレー38は
平板形状に形成され、磁性体シム装着トレー38に空け
る穴の配置図、あるいは、設置する単位磁性体シム34
の中央位置の配置図、を各○印で示した。トレー38に
は、升目中央部に空けた穴Aと、穴Aに対し距離d/√
2だけ離れている穴B(升目交差部)を備えている。
【0014】このようなトレー38において単位磁性体
シム34の最適化配置は、次のステップより成ってい
る。即ち、第1のステップでは穴A(第1パターン穴)
のみを用いて行う。その配置結果を図6に示す。
【0015】次にステップ2では穴B(第2パターン
穴)を用いて再配置を行う。図6のステップ1での最適
化の結果に基づいて配置した単位磁性体シム34のう
ち、穴Bへ位置を替えることができるもの(グループ
B)は、図7で斜線で示したものである。これらは、そ
れぞれその中央位置を●位置へ移動することが可能であ
る。図8に移動した結果を示す。●位置(18個)のう
ち、移動させることによって、磁場均一度が更に向上す
る組み合わせをコンピュータ計算により求める。ただ
し、ステップ2での最適化配置を計算する際のもととな
る、ステップ1実行後の磁石の作る磁場分布データに関
しては、実測で求めても良いし、ステップ1の配置結果
をもとにコンピュータで計算し直しても良い。なお、図
7において便宜的な意味で移動可能な位置を●で示した
が、これに限るものではない。
【0016】また、図9では、図6で示されている一次
配置された単位磁性体シム34を第一の実施形態とは違
う別の移動可能性の基準に基づいてグループA(移動不
要)のシムとグループB(移動可能)のシムに分類した
結果を示している。
【0017】この場合、ステップ1は同じであるが、ス
テップ2において用いる磁性体シム34を異ならせてい
る。ステップ2で用いる単位磁性体シムを3個とし、こ
の3個は周りを他の単位磁性体シム34に囲まれておら
ず、これらの単位磁性体シム34自身が磁場分布に与え
る影響を予測しやすい、というものとしている。隣に単
位磁性体シム34が多く近接している場合には、隣の単
位磁性体シム34の影響により、反対向きの磁場が生成
されるので、磁化が飽和しない。この場合、単位磁性体
シム34の作る磁化が非線形となるので、コンピュータ
による計算等で最終の磁場分布が予測しにくくなるとい
うことがある。しかし、このようにステップ2におい
て、隣に単位磁性体シム34のないものを選び、それら
を最適化の対象としているので、ステップ2においてよ
り正確な磁場均一度調整ができる。
【0018】以上、第一の実施形態では、磁性体シム配
置の最適化計算を行うための時間、磁性体シムを配置す
る作業のための時間は従来技術とほとんど同じである
が、いくつかの単位磁性体シム34をd/√2だけ移動
させるため、微調整が行え、磁場均一度を更に向上させ
ることができる。
【0019】また、単位磁性体シム34が周りに存在し
ない単位磁性体シム34を移動の対象に選択すれば、最
適化計算の時間も短縮できる。
【0020】図10、11を参照して本発明の第二の実
施形態を説明する。本実施形態では単位磁性体シム34
の一次配置位置から移動を許される第2のパターンの隣
接する二次配置可能位置までの距離を更に細かくした例
である。
【0021】図10のように穴Aと穴Bとの間隔をd/
2としたものである。この場合、移動可能な穴の位置が
第一の実施形態より多くなっており、この●印の穴の中
から第一の実施形態と同様に最適配置を求めるため、到
達均一度を更に高めることができる。その結果、ステッ
プ2の最適化結果は図11のようになる。
【0022】図12、13、14を参照して本発明の第
三の実施形態を説明する。
【0023】本実施形態は、磁性体シム装着トレー38
の穴A(第1のパターン)の位置は第一の実施形態と同
じであるが、穴Bは穴Aに置かれた磁性体シム34を4
分割したときのそれぞれの中心位置に設けられている。
本実施形態の場合、一辺dの長さの1升に対して、穴、
磁性体シムの中央位置で表している磁性体シムの設置可
能箇所、が5つずつ空けられている。まず、ステップ1
においては各升目の中央の穴(穴A)に単位磁性体シム
34が一次配置される。そして、ステップ2において最
適化計算に用いる磁性体シムは、図13で示している先
の単位磁性体シム34の1/4に相当する第2の単位磁
性体シム40である。すなわち、一辺の長さがd/2の
第2の単位磁性体シム40を4つ組み合わせて単位磁性
体シム34を形成させ、最初のステップは4つ組み合わ
せた単位磁性体シムで調整し、次のステップの第2の単
位磁性体シム40で調整している。
【0024】ステップ2では図13に示した44個の移
動可能箇所(●)から一辺の長さがd/2の第2の単位
磁性体シム40の最適化配置を求め、その結果を図14
に示す。
【0025】以上の第一乃至第三の実施形態では、磁石
形態が垂直磁場方式の開放型磁石の場合について説明し
たが、図15に示すように磁石形態が水平磁場方式の場
合にも適用できる。
【0026】図15を参照して本発明の第四の実施形態
を説明する。本実施形態は水平磁場方式の磁石装置の磁
性体シム配置領域、例えば円筒型の磁石装置の内外の壁
面に沿って設けられる。
【0027】磁性体シム装着トレー38は、図15のよ
うに長方形に形成され、円筒形状の磁石に沿って配列さ
れ、引き出して調整できるようになっている。直方体の
単位磁性体シム34の大きさに比べて装着のための穴の
間隔は小さくなっている。このため、穴あるいは磁性体
シムの中央位置を表わしている磁性体シムの設置可能箇
所、を第1パターンの穴、第2パターンの穴に分け、ス
テップ1においては、第1パターンの穴で最適化配置を
求める。次にステップ2において隣に単位磁性体シム3
4のないものについて、第2パターンの穴へ移動できる
ものの中から最適化配置をもとめ、到達均一度をさらに
良くする。本実施形態では、磁性体シム装着トレー38
の穴を一列にしているが、円筒形状を損なわず、かつ引
き出し可能であれば2列や3列の穴の配列にしてもよ
い。
【0028】以上、単位磁性体シム34を装着するため
に、装着トレー38を用いた。しかし、単位磁性体シム
を装着するために、装着トレーは使わず、磁石装置の磁
性体シム配置領域に直接接着剤等を用いて配置してもよ
い。この場合、第1のパターン、第2のパターンを示す
穴の変わりに、マーキングすれば同様の効果を得られ
る。
【0029】また、上述の各実施例では単位磁性体シム
34の移動についてのみ述べたが、大きさを変えずに厚
みを変えることでも均一度の調整が可能である。つま
り、単位磁性体シム34の移動だけでなく、単位磁性体
シム34自体の厚みを考慮することで、より正確な均一
度を達成できる。例えば、第2パターンの穴へ移動する
単位磁性体シム34の厚みを1.5倍や2倍にしたり、
第2パターンへ移動する単位磁性体シム34の厚みは変
えず第1パターンに残る単位磁性体シム34の厚みを変
えるなどを行えば、より細かい調整が行える。
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、垂直磁場及び水平磁場
方式のMRI装置において、単位シム片を隣接する単位
シム片間距離より短い距離で移動できるようにしたた
め、配置計算および配置作業に要する時間増加を抑制し
ながら、高い磁場均一度を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用されるMRI装置の一例である開
放型超電導磁石装置を有するMRI装置の概略外観斜視
図。
【図2】図1の縦断面図。
【図3】従来の単位磁性体シムの配列パターンを示す平
面図。
【図4】単位磁性体シムの斜視図。
【図5】第一の実施形態を示す平面図。
【図6】第一の実施形態を示す平面図。
【図7】第一の実施形態を示す平面図。
【図8】第一の実施形態を示す平面図。
【図9】第一の実施形態を示す平面図。
【図10】第二の実施形態を示す平面図。
【図11】第二の実施形態を示す平面図。
【図12】第三の実施形態を示す平面図。
【図13】第三の実施形態を示す平面図。
【図14】第三の実施形態を示す平面図。
【図15】第四の実施形態を示す平面図。
【符号の説明】
10 開放型磁石装置 12 上側磁石組立体 14 下側磁石組立体 16 均一静磁場空間領域 18 主超電導コイル 20 調整超電導コイル 22 冷媒容器 24 真空槽、冷却容器 26 強磁性体プレート 28 連結管 30 ヨーク 34 単位磁性体シム 36 単位磁性体シム配置可能位置の穴 38 磁性体シム装着トレー 40 第2の単位磁性体シム

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 均一静磁場空間領域を生成する磁石装置
    と、均一静磁場空間の磁場均一度を調整するシム手段と
    を有する磁気共鳴イメージング装置において、前記シム
    手段を搭載するトレーを備え、前記シム手段は複数個の
    単位シム片で構成されると共に、前記トレーは前記複数
    個の単位シム片の配置可能位置を示す第1のパターンと
    第2のパターンを有し、第1のパターンは単位シム片の
    一次配置位置を示し、第2のパターンは第1のパターン
    上に配置された単位シム片のうち所望の条件を満たす単
    位シム片を移動する二次配置位置を示すものであり、こ
    の二次配置位置は第1のパターン上で隣接する2つの単
    位シム片の中心間距離dより短い移動が可能な位置であ
    ることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
  2. 【請求項2】 上記トレーの第1のパターン上の配置可
    能位置と第2のパターン上の配置可能位置との距離はd
    /2あるいはd/√2であることを特徴とする請求項1
    に記載の磁気共鳴イメージング装置。
  3. 【請求項3】 上記単位シム片は複数の分割単位シム片
    で構成され、上記二次配置位置へ移動可能な単位シム片
    は分割単位シム片の一部がそれぞれ個別に第2のパター
    ン上へ移動することを特徴とする請求項1に記載の磁気
    共鳴イメージング装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7245128B2 (en) 2004-07-02 2007-07-17 Hitachi, Ltd. Magnetic resonance imaging apparatus and magnet apparatus therefor
JP4902787B2 (ja) * 2008-05-09 2012-03-21 株式会社日立製作所 Mri装置用磁場調整
WO2022059688A1 (ja) * 2020-09-15 2022-03-24 国立大学法人東京大学 磁気遮蔽システム及び磁気遮蔽方法

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