JP2001077003A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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JP2001077003A
JP2001077003A JP24935399A JP24935399A JP2001077003A JP 2001077003 A JP2001077003 A JP 2001077003A JP 24935399 A JP24935399 A JP 24935399A JP 24935399 A JP24935399 A JP 24935399A JP 2001077003 A JP2001077003 A JP 2001077003A
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bellows
exposure apparatus
exposure
optical
diaphragm
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Takashi Aoki
貴史 青木
Soichi Yamato
壮一 大和
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Original Assignee
Nikon Corp
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70091Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高い密閉性を確保して光利用効率を高め、し
かも安価で構成することのできる露光装置を提供するこ
とを課題とする。 【解決手段】 露光装置10の部分遮光板11を駆動す
るための可動部材14を、ベローズBの内部空間を貫通
した形態で配設し、伸縮自在なベローズBをケーシング
5の開口部5aを塞ぐように設けて、可動部材14の変
位に伴って伸縮変形するようにした。また、ベローズB
を、ガス圧等で伸縮駆動させることも可能であり、さら
にはベローズBに代えてダイヤフラム等を用いても良
い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体素
子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッドなどを製
造するリソグラフィ工程で、所定のパターンを基板上に
転写する際に用いて好適な露光装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】半導体素子や液晶表示素子等のデバイス
の製造工程において重要な位置を占めるフォトリソグラ
フィ工程では、フォトマスクまたはレチクル(以降、単
に「レチクル」と称する)の回路パターンを、投影光学
系を介し、感光剤を塗布したウエハまたはガラスプレー
ト等の基板上に投影露光し転写する露光装置が用いられ
ている。近年、半導体集積回路の集積度が高まるにつ
れ、このような露光装置としては、基板をステップ・ア
ンド・リピート方式で順次移動させつつ、基板上の複数
の露光領域にパターンを順次投影転写していく、いわゆ
るステッパーが主流となっている。ステッパー等の露光
装置において、光源から射出される露光光としてはレー
ザー光が多用されている。特に近年では、半導体素子の
回路パターンが微細化の一途をたどっていることから、
これに対応するため露光波長の短波長化が図られ、例え
ば波長193nmのArFエキシマレーザー等が用いら
れつつある。
【0003】ところが、例えばArFエキシマレーザー
等の露光光では、その発光スペクトル線が酸素の吸収ス
ペクトル領域と重なるため、酸素の吸収による光利用効
率(透過率)の低下およびオゾンの発生に起因する不都
合が生じる。特に、オゾンは有害であるばかりか、光利
用効率にも悪影響を及ぼし、さらにはイオンや空気中の
浮遊物と化学反応を起こしてレンズ等の光学素子表面に
白濁を生じさせるものであり、露光装置の性能低下の原
因となる。また、雰囲気中の硫酸成分、硝酸成分、アン
モニア、アミン類、シロキサン類等の不純物ガスが、光
化学反応等の反応によって硫酸アンモニウムや硝酸アン
モニウム等の物質に変質してレンズ等の光学素子の表面
に付着し、これによっても光学素子の光利用効率を悪化
させるという問題がある。
【0004】このような問題を回避するため、ArFエ
キシマレーザー等を露光光として用いる露光装置には、
従来より、露光光の光路の雰囲気を光化学反応に対して
不活性な窒素ガスやヘリウムガス等の不活性ガスに置換
する技術が採用されている。
【0005】また、F2エキシマレーザー(波長157
nm)等、より短波長の露光光を用いる露光装置では、
露光光が不活性物質を除くほとんどの物質で吸光される
ので、鏡筒内を真空排気することによって露光光の光路
雰囲気の気圧を減圧し、真空状態に近い状態とするこ
と、もしくは鏡筒内を不活性ガスで満たすことが行われ
ている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来の露光装置には、以下のような問題が存在
する。従来の露光装置において、鏡筒内部に配置された
光学部材は、鏡筒にホルダーを介して保持されている。
さらにホルダー近傍には、アライメントなど調整用の部
材が配設されており、組立後の光学部材の間隔、傾き、
偏心などの調整を行うことができるようになっている。
ところが、これら調整用の部材は、光学部材に変位を導
入するための部材(以下、変位部材と称する)が鏡筒に
形成された開口部を介して鏡筒内外を貫通する形態とな
っており、鏡筒における密閉性が充分に保たれていると
は言えなかった。このため、鏡筒外部からの吸光物質の
混入が確実に防止されず、上記したように、露光光光路
雰囲気を不活性ガスに置換したり、あるいは真空に近い
状態とすることによる効果を妨げてしまっているのが現
状である。本発明は、以上のような点を考慮してなされ
たもので、高い密閉性を確保して光利用効率を高め、し
かも安価で構成することのできる露光装置を提供するこ
とを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
光源(2)からの露光光をパターンが形成されたマスク
(R)に照射し、前記マスク(R)を介して前記露光光
で感光基板(W)を露光する露光装置(1)であって、
前記露光光の光路上に配置される光学部材(11,2
1,31,L)を収容し、一部に開口部(5a,60
a)が形成されたケーシング(5,60)と、前記ケー
シング(5,60)の外部に設けられ、前記開口部(5
a,60a)を介して前記光学部材(11,21,3
1,L)を前記露光光の光軸に対して変位駆動させる駆
動機構(D)と、前記駆動機構(D)の駆動に伴って変
形し、前記開口部(5a,60a)を塞ぐ変形部材
(B,F)とを有することを特徴としている。
【0008】このような構成により、光学部材(11,
21,31,L)を駆動機構(D)で変位駆動させる
と、これに伴って例えばベローズやダイヤフラム等の変
形部材(B,F)が変形し、開口部(5a,60a)は
常に塞がれた状態を維持する。これにより、ケーシング
(5,60)の内外が確実に隔離され、外部からの吸光
物質の混入を防止することができる。また、例えばケー
シング(5,60)内の雰囲気を不活性ガスに置換した
り、あるいは真空排気したときに、それによる吸光物質
の低減効果を確実なものとすることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る露光装置の第
一ないし第十一の実施の形態を、図1ないし図13を参
照して説明する。なお、以下の各実施の形態において、
共通する構成については同符号を付してその説明を省略
する。
【0010】[第一の実施の形態]図1は、本発明の各
実施の形態に共通する露光装置の構成を模式的に示すも
ので、この図において符号1は露光装置、Wはウエハ
(感光基板)、Rはレチクル(マスク)、2は露光光を
射出する光源、3はレチクルRに露光光を照射する照明
光学系、4はレチクルRからの露光光をウエハW上に投
射する投影光学系である。
【0011】そして、光源2からの露光光の光路、すな
わち光源2,照明光学系3,投影光学系4は、それぞれ
ケーシング5によって包囲されている。各ケーシング5
には、必要に応じ、例えば窒素ガスやヘリウムガス等、
露光光を吸光せず、かつ光化学反応に対して不活性な不
活性ガスをケーシング5内に送給するため、あるいはケ
ーシング5内を真空排気するための装置が接続されてお
り、これにより、露光光の光路雰囲気が、不活性ガスに
置換、あるいは真空に近い状態、とされるようになって
いる。
【0012】ここでは、露光装置1の照明光学系3に、
照明光口径絞りのための視野絞り交換室10が備えられ
ており、この視野絞り交換室10には、部分遮光板(光
学部材)11が格納されている。図2に示すように、こ
の部分遮光板11は、3つの照明光口径11A,11
B,11Cを有しており、スライダ12上を平行移動す
ることで、照明光口径11A,11B,11Cのいずれ
かを選択することができるようになっている。これによ
り、部分遮光板11は、照明光口径11A,11B,1
1Cのそれぞれの中心と光軸ELとが一致するように、
照明光口径のいずれかを露光光の光路BM内に挿脱可能
に配置されている。
【0013】この部分遮光板11を駆動するための駆動
機構Dとして、ケーシング5外に設けられて制御系Cに
より作動するシリンダ13等と、このシリンダ13等に
より所定の方向に進退駆動されるロッド状の可動部材1
4とが設けられており、この可動部材14の進退に伴っ
て部分遮光板11がスライダ12上で進退駆動されるよ
うになっている。ここで、可動部材14は、ベローズ
(変形部材)Bの内部空間(中空部)を貫通した形態で
配設されている。このベローズBは、例えば金属製で蛇
腹状の筒体であり、その一端がケーシング5の所定位置
に形成された開口部5aを塞ぐ形態で固定され、他端の
全周が部分遮光板11あるいはこれを保持する保持部材
に固定されている。このベローズBにより、ケーシング
5の内外が隔離され、前記可動部材14は、ケーシング
5の外側雰囲気中に位置することとなる。
【0014】このような構成によれば、図2(a)、
(b)に示したように、部分遮光板11を駆動機構Dで
変位駆動させると、これに伴ってベローズBが伸縮変形
し、開口部5aは常に塞がれた状態を維持する。これに
より、ケーシング5の内外が確実に隔離され、外部から
の吸光物質の混入を防止することができる。また、例え
ばケーシング5内の雰囲気を不活性ガスに置換したり、
あるいは真空排気したときに、それによる吸光物質の低
減効果を確実なものとすることができる。したがって、
露光工程中における十分な露光光量を得ることができ
る。しかも、変形部材としてベローズBを用いることに
より、モータやエアシリンダ等を用いる場合に比較し
て、より安価で、しかもオイルやゴミなどの有機物質の
発生が少ない構成とすることができるのである。
【0015】[第二の実施の形態]ここで示すものは、
上記第一の実施の形態で示したようなスライド式の部分
遮光板11ではなく、回転式の部分遮光板に本発明を適
用した場合の例である。すなわち、図3に示すように、
露光装置1のケーシング5の内部には、円盤状で複数種
の照明光口径21A,21B,21C,…を有した部分
遮光板(光学部材)21が回転自在に設けられている。
この部分遮光板21には、駆動機構Dとして、笠歯車2
2を介して例えば二本のシャフト23A,23Bの一端
がそれぞれ連結され、各シャフト23A,23Bの他端
にはピニオンギヤ24A,24Bが設けられている。そ
して、このピニオンギヤ24A,24Bに噛み合うラッ
クギヤ25A,25Bが、シリンダ13A,13Bによ
り駆動される可動部材14A,14Bの進退に伴ってス
ライドし、これによりシャフト23A,23Bを介して
部分遮光板21が回転駆動されるようになっているので
ある。
【0016】ここでも、上記図1に示したものと同様
に、可動部材14A,14Bは、その一端がケーシング
5の所定位置に形成された開口部5aを塞ぐ形態で固定
され、他端の全周がラックギヤ25A,25Bに固定さ
れたベローズBの内部を貫通した形態となっている。
【0017】このような構成の露光装置1では、可動部
材14A,14Bを進退させると、これに伴ってベロー
ズBが伸縮し、ケーシング5の密閉状態を保ったまま、
部分遮光板21を回転駆動できる構成となっており、こ
れによって、上記第一の実施の形態と同様の効果が得ら
れるのである。
【0018】[第三の実施の形態]図4に示すものは、
本発明に係る露光装置1の第三の実施の形態を示すもの
で、ここでは照明光口径絞りとして、いわゆるカメラの
絞りと同様の構成のものを備えた場合の例である。露光
光の照明光口径絞り30として、カメラの絞りと同様、
複数枚の羽根(光学部材)31が、図示しないレバーや
リンク機構等を介して駆動されることにより、その中央
部の開口部30aの径が変化する構成のものが備えられ
ている。そして、これら複数枚の羽根31の駆動機構D
として、図3に示したものと同様の構成を具備したもの
である。
【0019】ここで、羽根31の形状や、これらを駆動
するための機構等については、カメラの絞り機構等と同
様の機構を採用すれば良く、その構成については何ら限
定するものではない。
【0020】[第四〜第六の実施の形態]以下に示す第
四〜第六の実施の形態では、上記第一〜第三の実施の形
態で示した各構成において、駆動機構Dの構成を変更し
たものの例を示す。より具体的には、上記第一〜第三の
実施の形態においては可動部材14の進退に伴ってベロ
ーズBが伸縮する構成のものを示したが、以下において
は、ガス圧によりベローズB自体を伸縮させる構成のも
のを示す。
【0021】図5,図6に示すものは、本発明に係る第
四の実施の形態を示すものであり、上記第一の実施の形
態の変形例である。この露光装置1においては、駆動機
構Dとして、一端がケーシング5の所定位置に形成され
た開口部5aを塞ぎ、他端が部分遮光板11に固定され
たベローズBが、ガス圧制御装置40に送給管41を介
して接続されている。このベローズBは、それ自身が伸
縮可能に構成されている。例えば、ベローズBの内部空
間(中空部)に供給されるガス圧が増加すると、ベロー
ズBは伸びる。また、ベローズBの内部空間に供給され
るガス圧が減少すると、ベローズB自身の伸縮力により
ベローズBは縮む。そしてガス圧制御装置40のガス溜
まり40aにおけるガス圧が、制御系Cからの信号に伴
ってガス圧制御装置40によって管理されることによ
り、ベローズBの内部空間(中空部)に送給されるガス
圧が増減し、これによってベローズB自体が伸縮して、
部分遮光板11の位置が変位するようになっているので
ある。
【0022】ところで、上記ベローズB自身の縮む力が
弱い場合には、ベローズBが伸びる方向と反対方向に部
分遮光板11を付勢する弾性体(バネやゴム等)を設け
ても良い。また、図6に示すように、上記弾性体の代わ
りに、ベローズBが設けられている部分遮光板11の一
端とは反対側の他端に、さらにベローズB’を設けて構
成しても良い。この場合、ベローズB’は、ベローズB
と同様にガス圧制御装置に供給管(図示なし)を介して
接続され、ガス溜まりにおけるガス圧がガス圧制御装置
によって管理されることにより、ベローズB’の内部空
間に供給されるガス圧が増減される。そして、部分遮光
板11を、図6の紙面右方向に移動させる際には、ベロ
ーズBの内部空間に供給されるガス圧を増加させるとと
もに、ベローズB’の内部空間に供給されるガス圧を減
少させる。また、部分遮光板11を図6の紙面左方向に
移動させる際には、ベローズBの内部空間に供給される
ガス圧を減少させるとともに、ベローズB’の内部空間
に供給されるガス圧を増加させればよい。
【0023】また、図7および図8に示すものは、本発
明に係る第五、第六の実施の形態であり、上記第二、第
三の実施の形態の変形例である。これらの図に示したも
のでは、駆動機構Dとして、上記第四の実施の形態と同
様、ガス圧によりベローズB自体を伸縮駆動させること
により、部分遮光板21(図7参照)、照明光口径絞り
30(図8参照)を回転駆動させる構成となっている。
ここでは、一つのガス圧制御装置40で二組のベローズ
Bを伸縮駆動させる構成とするため、ラックギヤ25
A,25Bが互い違いの方向に駆動されるよう、二組の
ベローズBの伸縮方向を反対向きに設定する。
【0024】上記図7および図8に示した構成において
も、前記図6に示したものと同様、ベローズBが設けら
れているラックギヤ25A,25Bの一端とは反対側の
他端に、ベローズ(図示なし)を設ける構成とすること
も可能である。
【0025】上記のような第四〜第六の実施の形態に示
した構成においても、上記と同様の効果が得られる。な
お、ガス圧により制御を行う場合、制御系Cによってガ
スの温度調整も行い、ガスの温度を一定に保つようにす
るのが好ましい。
【0026】[第七、第八の実施の形態]上記第一〜第
六の実施の形態では、変形部材としてベローズBを用い
る構成としたが、これに代えてダイヤフラム(変形部
材)Fを用いる構成とすることも可能である。すなわ
ち、図9、図10に示すように、ケーシング5に形成し
た開口部5aを塞ぐようにダイヤフラムFを設ける。こ
のダイヤフラムFは、例えば金属製で薄膜状であり、さ
らには、同心円状に波形に加工されたものなどが好適で
ある。
【0027】そして、このダイヤフラムFの一面側に、
部分遮光板21の駆動機構Dとしてのラックギヤ25
A,25Bに接続された可動部材50を固定し、他面側
にシリンダ13A,13Bによって進退駆動される伝達
部材51を固定するのである。このような構成によれ
ば、シリンダ13A,13Bによって伝達部材51を進
退駆動させると、ダイヤフラムFがその面に直交する方
向に変形する。これにより、ダイヤフラムFの他面側に
設けられた可動部材50が変位し、部分遮光板21(図
9参照)、複数枚の羽根31(図10参照)等が駆動さ
れるのである。
【0028】上述したような変形部材としてダイヤフラ
ムFを用いた構成によっても、上記と同様の効果が得ら
れる。さらに、ダイヤフラムFによれば、ベローズBを
用いた場合よりも、鏡筒内壁の表面積をより少なくする
ことが可能であり、鏡筒内壁からの吸光物質の脱ガスを
抑制することができる。なお、ダイヤフラムFでは、そ
の変位が微小となるが、ラックギヤ25A,25Bとピ
ニオンギヤ24A,24Bのギヤ比等を適宜設定するこ
とにより、その変位を増幅する等して最適に調整するこ
とが可能である。
【0029】本実施の形態では、ダイヤフラムFの一面
側に可動部材50を固定し、他面側に伝達部材51を固
定する構成について説明したが、可動部材50が伝達部
材51を兼用しても良い。この場合、可動部材50の一
端をラックギア25A(または25B)に接続し、他端
をシリンダ13A(または13B)に接続する。ダイヤ
フラムFには、可動部材50が貫通する貫通穴が形成さ
れる。そして、可動部材50をダイヤフラムFの貫通穴
に貫通させた後、ダイヤフラムFと可動部材50とを溶
接等で固定すればよい。このような構成であっても、シ
リンダによって、可動部材50を進退駆動させると、ダ
イヤフラムFがその面に直交し、上述した実施の形態と
同様の機構を達成することができる。
【0030】上記実施の形態においては、ベローズB、
シリンダ13A,13B、可動部材14A,14B,5
0、ラックギヤ25A,25B、ピニオンギヤ24A,
24Bを備えたシャフト23A,23B等をそれぞれ二
組用いる構成としたが、もちろん一組のみであってもそ
の機能を果たすことが可能である。
【0031】また、部分遮光板11,21、照明光口径
絞り30を作動させるための機構等については、上記の
形態で挙げた、ラックギヤ25A,25B、ピニオンギ
ヤ24A,24Bを備えたシャフト23A,23B等を
用いる構成のものに限らず、適宜他の機構を採用するこ
とが可能である。さらに、照明光学系3の照明光口径絞
りに限らず、投影光学系4の視野絞り等、他の部分に対
しても、同様の構成を適用することが可能である。
【0032】[第九、第十の実施の形態]以下に示すも
のは、照明光学系3や投影光学系4における鏡筒内部の
光学部材のアライメント等、調整機構に本発明を適用し
た場合の例である。図11に示すように、鏡筒(ケーシ
ング)60の内部に、レンズホルダー(保持部材)61
によって、レンズ等の光学部材Lが保持されている。こ
こで、光学部材Lの偏心、間隔、傾き等の調整を行うた
めの駆動機構Dとして、光学部材Lの例えば四方には、
それぞれピエゾ素子62からなる駆動源が備えられてい
る。そして、ピエゾ素子62によって進退駆動されて光
学部材Lを所定の方向に変位させる可動部材63は、ベ
ローズBの内部空間を貫通した形態となっている。この
ベローズBは、一端が鏡筒60に形成された開口部60
aを塞ぐ形態で固定され、他端が塞がれてここに可動部
材63が貫通して固定されることによって、鏡筒60の
内外を隔離するものである。このような構成では、各ピ
エゾ素子62を同調させて伸縮駆動させることにより、
密閉状態を保ったまま光学部材Lの偏心を調整できるよ
うになっている。
【0033】また、図12に示すように、ベローズBに
代えて、ダイヤフラムFによりピエゾ素子62の変位を
光学部材Lに伝達する構成とすることも可能である。
【0034】[第十一の実施の形態]ここで、ベローズ
BやダイヤフラムFは、その変形方向が一方向(ベロー
ズBの場合は伸縮方向、ダイヤフラムFの場合はその表
面に直交する方向)に沿ったもののみに限定されるもの
ではなく、自身の有する柔軟性により、前記方向以外へ
の変形を許容することができる。以下の図13に示すも
のは、この特性を有効に利用したものであり、駆動機構
Dを構成するピエゾ素子62の駆動方向は、ベローズB
の伸縮方向とは直交する方向に設定されており、略L字
状をなした可動部材70により、光学部材Lが図中上下
方向に変位駆動される構成となっているのである。これ
により、光学部材Lの間隔・傾きを調整できるようにな
っている。
【0035】なお、上記第九および第十の実施の形態に
おいて、光学部材Lの変位方向を一方向のみとしたが、
これらを組み合わせる構成とすることも可能である。
【0036】また、光学部材としては、上記にあげた照
明光口径絞りの部分遮光板11,21および羽根31、
レンズ等の光学部材Lのみを対象とするものではなく、
露光光の光路上に設置される各種レンズ、反射鏡、プリ
ズム、絞り機構等を対象とすることが可能である。
【0037】また、上記第十および第十一の実施の形態
中、ダイヤフラムFを用いる各例において、その一面側
に伝達部材51を取り付け、他面側に可動部材50を取
り付ける構成としたが、これに限るものではなく、前記
第九の実施の形態で述べたように、ダイヤフラムFの一
面側に可動部材50を固定し、他面側に伝達部材51を
固定する構成について説明したが、可動部材50が伝達
部材51を兼用しても良い。
【0038】さらに、上記各実施の形態においては、い
ずれも、光学部材Lをシリンダ13やピエゾ素子62等
で変位させる構成としたが、これに限るものではなく、
ネジ・ビス・マイクロメータ等の部材によって、手動で
変位を導入する構成とすることも可能である。
【0039】加えて、本発明においては、光路空間中に
設置された可動部材14近傍からの吸光物質の発生を抑
制するものであるが、それ以外の吸光物質の発生そのも
のを低減することで、その効果がより一層顕著なものと
なる。このため、吸光物質の発生を低減するための各種
技術と組み合わせるのがより有効である。
【0040】特に、ここで問題とする吸光物質として
は、水分子や炭化水素・ハロゲン化物は特に注意を要す
る。水分子は構造材料表面に多くの量が付着しており、
それが徐々に構造材料表面から放出され、真空排気時や
パージガスとの作用によって、徐々にワーキングディス
タンスを含み光路空間中に漏れだしてくる。また、構造
材料の表面状態によって、その吸着量も大きく異なる。
例えば、構造材料の表面積が大きいほど、吸着している
吸光物質分子数は多くなるので、表面積が小さくなるよ
うに光路空間は微細な構造を持たないように設計するの
が好ましい。また、同様の理由から、機械研磨・電解研
磨・バフ研磨・化学研磨・GBB(Glass Bead Blastin
g)等の手法によって研磨し、構造材料の表面粗さを低
減しておくのが好ましい。そして、これらの処理を施し
た上で、さらに、超音波洗浄・クリーンドライエア等の
流体の吹き付け・真空加熱脱ガス(ベーキング)等の手
法によって、回路パターンの露光前に構造材料表面に清
浄にしておき、構造材料表面からの脱ガス量を低減して
おくようにするのが好ましい。
【0041】また、電線被覆物質やシール材(Oリング
等)、接着剤等から、炭化水素・ハロゲン化物等の吸光
物質が放出されるため、これらのものを光路空間中に可
能な限り設置しない、あるいは放出ガスの少ない材料を
利用する等の対処を行い、根本的に吸光物質の発生量を
抑制しておけば、前記水分子に対する処理と同様に、本
発明による効果がより一層顕著なものとなる。
【0042】これ以外に、本実施の形態のウエハWとし
ては、半導体デバイス用の半導体ウエハのみならず、液
晶表示デバイス用のガラス基板や、薄膜磁気ヘッド用の
セラミックウエハ、あるいは露光装置で用いられるマス
クまたはレチクルの原版(合成石英、シリコンウエハ)
等が適用される。
【0043】露光装置1としては、レチクルとガラス基
板とを同期移動してレチクルのパターンを走査露光する
ステップ・アンド・スキャン方式の走査型露光装置(ス
キャニング・ステッパー;USP5,473,410)の他に、レチ
クルとガラス基板とを静止した状態でレチクルのパター
ンを露光し、ガラス基板を順次ステップ移動させるステ
ップ・アンド・リピート方式の露光装置(ステッパー)
にも適用することができる。露光装置1の種類として
は、ウエハWに半導体デバイスパターンを露光する半導
体デバイス製造用のものに限られず、ガラス基板に液晶
表示デバイスパターンを露光する液晶表示デバイス製造
用の露光装置や、薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD)
あるいはレチクルなどを製造するための露光装置などに
も広く適用できる。
【0044】また、露光光の光源2としては、KrFエ
キシマレーザ(248nm)、ArFエキシマレーザ
(193nm)、F2レーザ(157nm)等を用いる
ことができる。
【0045】また、投影光学系4の倍率は、等倍系のみ
ならず縮小系および拡大系のいずれでもよい。
【0046】以上のように、本願実施形態の露光装置1
は、本願特許請求の範囲に挙げられた各構成要素を含む
各種サブシステムを、所定の機械的精度、電気的精度、
光学的精度を保つように、組み立てることで製造され
る。これら各種精度を確保するために、この組み立ての
前後には、各種光学系については光学的精度を達成する
ための調整、各種機械系については機械的精度を達成す
るための調整、各種電気系については電気的精度を達成
するための調整が行われる。各種サブシステムから露光
装置1への組み立て工程は、各種サブシステム相互の、
機械的接続、電気回路の配線接続、気圧回路の配管接続
等が含まれる。この各種サブシステムから露光装置1へ
の組み立て工程の前に、各サブシステム個々の組み立て
工程があることはいうまでもない。各種サブシステムの
露光装置1への組み立て工程が終了したら、総合調整が
行われ、露光装置1全体としての各種精度が確保され
る。なお、露光装置1の製造は温度およびクリーン度等
が管理されたクリーンルームで行うことが望ましい。
【0047】液晶表示デバイスや半導体デバイス等のデ
バイスは、図14に示すように、液晶表示デバイス等の
機能・性能設計を行うステップ201、この設計ステッ
プに基づいたレチクルR(マスク)を製作するステップ
202、石英等からガラス基板、またはシリコン材料か
らウエハWを製作するステップ203、前述した実施の
形態の露光装置1によりレチクルRのパターンをガラス
基板(またはウエハW)に露光するステップ204、液
晶表示デバイス等を組み立てるステップ(ウエハWの場
合、ダイシング工程、ボンディング工程、パッケージ工
程を含む)205、検査ステップ206等を経て製造さ
れる。
【0048】これ以外にも、本発明の主旨を逸脱しない
範囲内であれば、いかなる構成を採用しても良く、また
上記したような構成を適宜選択的に組み合わせたものと
しても良いのは言うまでもない。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の露光装置
によれば、光学部材を駆動機構で変位駆動させると、こ
れに伴って例えばベローズやダイヤフラム等の変形部材
が変形し、開口部は常に塞がれた状態を維持する。これ
により、ケーシングの内外が確実に隔離され、外部から
の吸光物質の混入を防止することができる。また、例え
ばケーシング内の雰囲気を不活性ガスに置換したり、あ
るいは真空排気したときに、それによる吸光物質の低減
効果を確実なものとすることができる。したがって、露
光工程中における十分な露光光量を得ることができる。
しかも、変形部材としてベローズやダイヤフラム等を用
いることにより、モータやエアシリンダ等を用いる場合
に比較して、より安価で、しかもオイルやゴミなどの有
機物質の発生が少ない構成とすることができるのであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る露光装置の第一の実施の形態を
示す図であって、露光装置の模式的な構成を示す図であ
る。
【図2】 同露光装置における駆動機構を示す平断面図
である。
【図3】 本発明に係る露光装置の第二の実施の形態を
示す図であって、照明光口径絞りの駆動機構を示す平断
面図である。
【図4】 本発明に係る露光装置の第三の実施の形態を
示す図であって、照明光口径絞りの駆動機構を示す平断
面図である。
【図5】 本発明に係る露光装置の第四の実施の形態を
示す図であって、露光装置の模式的な構成を示す図であ
る。
【図6】 同露光装置における駆動機構を示す平断面図
である。
【図7】 本発明に係る露光装置の第五の実施の形態を
示す図であって、照明光口径絞りの駆動機構を示す平断
面図である。
【図8】 本発明に係る露光装置の第六の実施の形態を
示す図であって、照明光口径絞りの駆動機構を示す平断
面図である。
【図9】 本発明に係る露光装置の第七の実施の形態を
示す図であって、照明光口径絞りの駆動機構を示す平断
面図である。
【図10】 本発明に係る露光装置の第八の実施の形態
を示す図であって、照明光口径絞りの駆動機構を示す平
断面図である。
【図11】 本発明に係る露光装置の第九の実施の形態
を示す図であって、光学部材の調整機構を示す立断面図
である。
【図12】 本発明に係る露光装置の第十の実施の形態
を示す図であって、光学部材の調整機構を示す立断面図
である。
【図13】 本発明に係る露光装置の第十一の実施の形
態を示す図であって、光学部材の調整機構を示す立断面
図である。
【図14】 本発明に係る露光装置を適用して製造され
るデバイスの製造工程を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 露光装置 2 光源 5 ケーシング 5a,60a 開口部 11,21 部分遮光板(光学部材) 31 羽根(光学部材) 50 可動部材 51 伝達部材 60 鏡筒(ケーシング) 61 レンズホルダー(保持部材) B ベローズ(変形部材) D 駆動機構 F ダイヤフラム(変形部材) L 光学部材 R レチクル(マスク) W ウエハ(感光基板)

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源からの露光光をパターンが形成され
    たマスクに照射し、前記マスクを介して前記露光光で感
    光基板を露光する露光装置であって、 前記露光光の光路上に配置される光学部材を収容し、一
    部に開口部が形成されたケーシングと、 前記ケーシングの外部に設けられ、前記開口部を介して
    前記光学部材を前記露光光の光軸に対して変位駆動させ
    る駆動機構と、 前記駆動機構の駆動に伴って変形し、前記開口部を塞ぐ
    変形部材とを有することを特徴とする露光装置。
  2. 【請求項2】 前記変形部材は、一端が前記光学部材ま
    たはこれを保持する保持部材に取り付けられ、他端が前
    記開口部に取り付けられると共に、前記光学部材の変位
    に伴って伸縮自在とされたベローズであることを特徴と
    する請求項1記載の露光装置。
  3. 【請求項3】 前記ベローズは中空部を有し、 前記駆動機構は、前記ベローズの中空部を介して前記光
    学部材または前記保持部材に取り付けられていることを
    特徴とする請求項2記載の露光装置。
  4. 【請求項4】 前記ベローズは中空部を有し、 前記駆動機構は、前記ベローズの中空部に供給するガス
    圧を増減することによって前記ベローズを伸縮駆動させ
    ることを特徴とする請求項2記載の露光装置。
  5. 【請求項5】 前記変形部材が膜状のダイヤフラムであ
    り、 前記駆動機構の駆動に伴い、前記ダイヤフラムがその面
    に略直交する方向に変形することを特徴とする請求項1
    記載の露光装置。
  6. 【請求項6】 前記駆動機構は、前記光学部材またはこ
    れを保持する保持部材に取り付けられると共に、前記ケ
    ーシング内に収容される可動部材と、 前記ケーシング外に設けられ、前記駆動機構の駆動力を
    前記ダイヤフラムを介して前記可動部材に伝える伝達部
    材とを有することを特徴とする請求項5記載の露光装
    置。
  7. 【請求項7】 前記光学部材が、露光光の光路上に設置
    された、レンズ、反射鏡、プリズム、絞りを構成する部
    材のいずれかであることを特徴とする請求項1から6の
    いずれかに記載の露光装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003068634A (ja) * 2001-08-23 2003-03-07 Toshiyuki Horiuchi 液晶マトリックス投影露光装置および液晶マトリックス投影露光方法
JP2007515797A (ja) * 2003-12-23 2007-06-14 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 光学素子のための交換装置
JP2010016376A (ja) * 2008-07-02 2010-01-21 Nikon Corp 遮光ユニット、可変スリット装置、及び露光装置
JP2011119550A (ja) * 2009-12-04 2011-06-16 Nikon Corp 光学部材変形装置、光学系、露光装置、デバイスの製造方法
CN110196532A (zh) * 2018-02-27 2019-09-03 上海微电子装备(集团)股份有限公司 光刻机安全快门装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003068634A (ja) * 2001-08-23 2003-03-07 Toshiyuki Horiuchi 液晶マトリックス投影露光装置および液晶マトリックス投影露光方法
JP4726173B2 (ja) * 2001-08-23 2011-07-20 学校法人東京電機大学 液晶マトリックス投影露光装置および液晶マトリックス投影露光方法
JP2007515797A (ja) * 2003-12-23 2007-06-14 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 光学素子のための交換装置
JP4750043B2 (ja) * 2003-12-23 2011-08-17 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 光学素子のための交換装置
JP2010016376A (ja) * 2008-07-02 2010-01-21 Nikon Corp 遮光ユニット、可変スリット装置、及び露光装置
JP2011119550A (ja) * 2009-12-04 2011-06-16 Nikon Corp 光学部材変形装置、光学系、露光装置、デバイスの製造方法
CN110196532A (zh) * 2018-02-27 2019-09-03 上海微电子装备(集团)股份有限公司 光刻机安全快门装置

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