JP2001071269A - Electrodeposition grindstone - Google Patents

Electrodeposition grindstone

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JP2001071269A
JP2001071269A JP24767799A JP24767799A JP2001071269A JP 2001071269 A JP2001071269 A JP 2001071269A JP 24767799 A JP24767799 A JP 24767799A JP 24767799 A JP24767799 A JP 24767799A JP 2001071269 A JP2001071269 A JP 2001071269A
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Japan
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abrasive
pad
grinding
projections
layer
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JP24767799A
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Japanese (ja)
Inventor
Tetsuji Yamashita
哲二 山下
Naoki Shitamae
直樹 下前
Hanako Hata
花子 畑
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Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
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Publication date
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  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve sharpness and dischargeability of chips when grinding. SOLUTION: In this grindstone, nearly cylindrical protuberance parts are formed in a center area on one surface of a base metal 19 in a nearly lattice state. An abrasive grain layer 22 is formed on one surface, and plural super abrasive grains are fixed on only the respective protuberance parts by a metal plating phase to form protrusion parts 24. The protrusion part 24 has a height H above a mean grain diameter of the super abrasive grains from an abrasive grain layer bottom part 22a, and has a diameter D of 1-10 mm. The protuberance part of the protrusion part 24 has a corner R part and a top part. The corner R part and the top part are provided with the super abrasive grains. The number of the super abrasive grains provided on each the protrusion part 24 is set to 11-500, while a percentage of an occupying area of the super abrasive grains to the whole area of the abrasive grain layer 22 in a plan view is set to 20-80%.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体ウエ
ーハ等の被研磨材の表面をCMP装置によって研磨する
際に用いられる研磨用のパッドをコンディショニングす
るためのコンディショナ等に用いられる電着砥石に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrodeposition grindstone used for a conditioner for conditioning a polishing pad used when a surface of a material to be polished such as a semiconductor wafer is polished by a CMP apparatus. .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、シリコンインゴットから切り出し
た半導体ウエーハ(以下、単にウエーハという)の表面
を化学的且つ機械的に研磨するCMP装置(ケミカルメ
カニカルポリッシングマシン)の一例として、図9に示
すような装置がある。ウエーハはデバイスの微細化に伴
って高精度かつ無欠陥表面となるように鏡面研磨するこ
とが要求されている。CMPによる研磨のメカニズム
は、微粒子シリカ等によるメカニカルな要素(遊離砥
粒)とアルカリ液や酸性液等によるエッチング要素とを
複合したメカノ・ケミカル研磨法に基づいている。この
CMP装置1は、図9に示すように中心軸2に取り付け
られた円板状の回転テーブル3上に例えば硬質ウレタン
からなるポリッシング用のパッド4が設けられ、このパ
ッド4に対向して且つパッド4の中心軸2から偏心した
位置に自転可能なウエーハキャリア5が配設されてい
る。このウエーハキャリア5はパッド4よりも小径の円
板形状とされてウエーハ6を保持するものであり、この
ウエーハ6がウエーハキャリア5とパッド4間に配置さ
れてパッド4側の表面の研磨に供され鏡面仕上げされ
る。
2. Description of the Related Art FIG. 9 shows an example of a CMP apparatus (chemical mechanical polishing machine) for chemically and mechanically polishing the surface of a semiconductor wafer (hereinafter simply referred to as a wafer) cut out of a silicon ingot. There is a device. Wafers are required to be mirror-polished so as to have a highly accurate and defect-free surface with the miniaturization of devices. The mechanism of polishing by CMP is based on a mechano-chemical polishing method in which a mechanical element (free abrasive grains) made of fine-particle silica or the like is combined with an etching element made of an alkaline solution, an acidic solution, or the like. In this CMP apparatus 1, a polishing pad 4 made of, for example, hard urethane is provided on a disk-shaped rotary table 3 attached to a center shaft 2 as shown in FIG. A wafer carrier 5 capable of rotating is arranged at a position eccentric from the center axis 2 of the pad 4. The wafer carrier 5 has a disk shape smaller in diameter than the pad 4 and holds the wafer 6. The wafer 6 is disposed between the wafer carrier 5 and the pad 4 and used for polishing the surface on the pad 4 side. It is mirror-finished.

【0003】研磨に際して、例えば上述した微粒子シリ
カ等からなる遊離砥粒が研磨剤として用いられ、更にエ
ッチング用のアルカリ液等が混合されたものが液状のス
ラリsとしてパッド4上に供給されているため、このス
ラリsがウエーハキャリア5に保持されたウエーハ6と
パッド4との間に流動して、ウエーハキャリア5でウエ
ーハ6が自転し、同時にパッド4が中心軸2を中心とし
て回転するために、パッド4でウエーハ6の一面が研磨
される。ウエーハ6の研磨を行う硬質ウレタン製などの
パッド4上にはスラリsを保持する微細な発泡層が多数
設けられており、これらの発泡層内に保持されたスラリ
sでウエーハ6の研磨が行われる。ところが、ウエーハ
6の研磨を繰り返すことでパッド4の研磨面の平坦度が
低下したり目詰まりするためにウエーハ6の研磨精度と
研磨効率が低下するという問題が生じる。
In polishing, for example, the above-mentioned free abrasive grains made of fine silica or the like are used as an abrasive, and a mixture of an alkaline solution for etching and the like is supplied onto the pad 4 as a liquid slurry s. Therefore, the slurry s flows between the wafer 6 held on the wafer carrier 5 and the pad 4, and the wafer 6 rotates on the wafer carrier 5, and at the same time, the pad 4 rotates about the central axis 2. Then, one surface of the wafer 6 is polished by the pad 4. A large number of fine foam layers for holding the slurry s are provided on the pad 4 made of hard urethane or the like for polishing the wafer 6, and the wafer 6 is polished with the slurry s held in these foam layers. Will be However, the repetition of the polishing of the wafer 6 causes the flatness of the polished surface of the pad 4 to be reduced or causes clogging, resulting in a problem that the polishing accuracy and the polishing efficiency of the wafer 6 are reduced.

【0004】そのため、従来からCMP装置1には図9
に示すようにパッドコンディショナ8が設けられ、パッ
ド4の表面を再研磨または再研削(コンディショニン
グ)するようになっている。このパッドコンディショナ
8は、回転テーブル3の外部に設けられた回転軸9にア
ーム10を介して電着ホイール11が設けられ、回転軸
9によってアーム10を回動させることで、回転するパ
ッド4上において電着ホイール11を往復揺動させてパ
ッド4の表面を研磨してパッド4の表面の平坦度等を回
復または維持し目詰まりを解消するようになっている。
この電着ホイール11は、図10(A)及び(B)に示
すように円形板状の台金12上に上面が平面状をなして
いて一定幅でリング状の砥粒層13が形成されており、
この砥粒層13は例えば図11に示すように台金12上
に電気めっきなどによりダイヤモンドやcBNなどの超
砥粒14を金属めっき相15で分散固定して構成されて
いる。この金属めっき相15は例えばニッケルなどで構
成されている。尚、砥粒層13の表面には例えば45°
等の所定間隔で径方向に凹溝17が形成されており、ス
ラリsや切り粉をこの凹溝17を通して外部に排出する
ことになる。
For this reason, conventionally, the CMP apparatus 1 has
As shown in FIG. 1, a pad conditioner 8 is provided, and the surface of the pad 4 is polished or regrinded (conditioned). The pad conditioner 8 includes an electrodeposition wheel 11 provided on a rotating shaft 9 provided outside the rotary table 3 via an arm 10. The arm 10 is rotated by the rotating shaft 9, thereby rotating the pad 4. Above, the surface of the pad 4 is polished by reciprocatingly oscillating the electrodeposition wheel 11 to recover or maintain the flatness or the like of the surface of the pad 4 and eliminate clogging.
As shown in FIGS. 10 (A) and (B), the electrodeposited wheel 11 has a ring-shaped abrasive layer 13 having a flat surface and a constant width formed on a circular plate-shaped base metal 12. And
For example, as shown in FIG. 11, the abrasive layer 13 is formed by dispersing and fixing superabrasive particles 14 such as diamond or cBN with a metal plating phase 15 on a base metal 12 by electroplating or the like. The metal plating phase 15 is made of, for example, nickel. Incidentally, the surface of the abrasive layer 13 is, for example, 45 °.
Concave grooves 17 are formed in the radial direction at predetermined intervals such as, and the slurry s and chips are discharged to the outside through the concave grooves 17.

【0005】ところで、このような電着ホイール11を
用いてパッド4の研磨を行う場合、電着ホイール11は
パッド4上を少なくともパッド4の半径に相当する距離
に亘って往復揺動させる。砥粒層13に分散配置された
超砥粒14で研磨するとパッド4の起毛をなぎ倒しつつ
切断する。その際、超砥粒14は研削面をなす砥粒層1
3の表面から超砥粒14の平均粒径の1/3程度しか突
出していないために砥粒層13全体がベタ当たりして研
削圧力が分散して滑り、起毛が切れずに倒されてしまい
切れ味が悪く目詰まりしやすいという欠点がある。また
他の電着ホイールとして例えば特開平9−19868号
公報に記載されてものがある。この電着ホイールは2〜
10個の超砥粒を集合させて1つの島状に配設し、これ
ら島状の超砥粒を研削面である砥粒層の表面に分散配置
することで研削時の目詰まりを防ぎ、長期間に亘って研
削加工できるようにしたものである。このような電着ホ
イールでは、台金上にマスキングして島状の下地メッキ
を形成し、この下地メッキ部に2〜10個の超砥粒を電
気めっきで一層分仮固定し、その後に台金全体を電気め
っきして超砥粒を砥粒層に電着するというものである。
When the pad 4 is polished by using the electrodeposition wheel 11, the electrodeposition wheel 11 is reciprocated on the pad 4 at least over a distance corresponding to the radius of the pad 4. When the polishing is performed with the superabrasive grains 14 dispersedly arranged on the abrasive grain layer 13, the pad 4 is cut while brushing down. At this time, the super-abrasive grains 14 form the abrasive layer 1 forming the ground surface.
Since only about 1/3 of the average grain size of the superabrasive grains 14 protrudes from the surface of the abrasive grain 3, the entire abrasive grain layer 13 is solid and the grinding pressure is dispersed and slips, and the brushed hair is knocked down without breaking. There is a drawback that the sharpness is poor and clogging is easy. As another electrodeposition wheel, there is one described in, for example, JP-A-9-19868. This electrodeposition wheel is 2 ~
10 super-abrasives are gathered and arranged in one island shape, and these island-like super-abrasives are dispersed and arranged on the surface of the abrasive layer which is a grinding surface to prevent clogging at the time of grinding, The grinding process can be performed over a long period of time. In such an electrodeposition wheel, an island-like base plating is formed by masking on a base metal, and 2 to 10 superabrasive grains are temporarily fixed to this base plating portion by electroplating, and then the base is fixed. The whole gold is electroplated, and the superabrasive grains are electrodeposited on the abrasive layer.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な電着ホイールでは、平坦な台金表面上に超砥粒を電着
して固定してなるために、砥粒層の金属めっき相表面と
この表面から突出する超砥粒との高さの差が実質的に超
砥粒の平均粒径の1/2以下程度しかない。そのために
この電着ホイールをパッドコンディショナとして用いる
と、被削材がCMP装置1のパッド4等のように発泡層
を有する厚さ1.7mm等で軟質の起毛で構成され、そ
の下側に厚さ3.5mm程度のクッション層が配設され
ている軟質または柔軟性のある構成を有する場合、超砥
粒の平均粒径の1/2以下程度の高低差では砥粒層表面
全体がベタ当たりしてしまう。すると研削圧が超砥粒に
集中せずに周囲に分散してしまって滑り、起毛が切れず
に倒れてしまうために切れ味が悪く発泡層の開口が潰れ
てしまい、切り粉の排出が不十分になりパッド4が目詰
まりし易いという欠点がある。また砥粒層の超砥粒と金
属めっき相表面との高低差(ギャップ)が小さいために
パッド4の研削液(例えば純水)がはじき出されて乾燥
し易く湿式研削が損なわれるという欠点もあった。
However, in such an electrodeposited wheel, the super-abrasive grains are electrodeposited and fixed on a flat base metal surface. The difference in height between the superabrasive grains protruding from the surface is substantially no more than about の of the average particle size of the superabrasive grains. Therefore, if this electrodeposited wheel is used as a pad conditioner, the work material is made of a soft brushed material having a foamed layer with a thickness of 1.7 mm or the like, such as the pad 4 of the CMP apparatus 1, and a lower portion thereof. In the case of a soft or flexible structure in which a cushion layer having a thickness of about 3.5 mm is provided, the entire surface of the abrasive grain layer is solid at a height difference of about 1/2 or less of the average grain size of the superabrasive grains. You will win. Then, the grinding pressure is not concentrated on the super-abrasive grains, but is dispersed around and slips, and the brush is not cut but falls down, so the sharpness is poor and the opening of the foam layer is crushed, and the discharge of cutting chips is insufficient. And the pad 4 tends to be clogged. In addition, since the height difference (gap) between the superabrasive grains of the abrasive layer and the surface of the metal plating phase is small, the grinding fluid (for example, pure water) of the pad 4 is repelled and easily dried, thus impairing wet grinding. Was.

【0007】本発明は、このような実情に鑑みて、切れ
味がよく切り粉等の排出性の良好な電着砥石を提供する
ことを目的とする。また本発明の他の目的は、パッドの
発泡層の開口の切り口がきれいで目詰まりせず発泡層内
のスラリを保持できるようにした電着砥石を提供するこ
とである。
[0007] In view of such circumstances, an object of the present invention is to provide an electrodeposited whetstone that has good sharpness and good discharge of cuttings and the like. It is another object of the present invention to provide an electrodeposition whetstone in which the opening of the foam layer of the pad is clean and the slurry in the foam layer can be held without clogging.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明に係る電着砥石
は、砥粒層の表面に互いに間隔をおいて複数の突起部が
形成され、これら突起部にはそれぞれ複数の超砥粒が装
着されて成ることを特徴とする。突起部に超砥粒が形成
されていることで隣接する突起部間の砥粒層底部と超砥
粒との高低差が大きくCMP装置のパッド等、比較的軟
質の被削材であってもベタ当たりすることなく突起部の
超砥粒が被削材に接触して研削することで超砥粒に高い
研削圧を維持できて切れ味がよく、突起部と突起部の間
の砥粒層底部で研削液を保持できると共に切り粉の排出
性がよく超砥粒の部分に切り粉が目詰まりしない。
In the electrodeposition grinding wheel according to the present invention, a plurality of projections are formed on the surface of the abrasive grain layer at intervals from each other, and a plurality of superabrasive grains are mounted on each of these projections. It is characterized by being made. Since the superabrasive grains are formed on the projections, the height difference between the bottom of the abrasive layer and the superabrasive grains between the adjacent projections is large, and even a relatively soft work material such as a pad of a CMP apparatus is used. The super-abrasive grains in the projections contact the work material and grind without sticking, so that a high grinding pressure can be maintained on the super-abrasive grains and the sharpness is good, and the bottom of the abrasive layer between the projections In addition, the grinding fluid can be retained, and the cutting powder can be easily discharged.

【0009】また、突起部は隣接する突起部間の砥粒層
底部からの高さが超砥粒の平均粒径以上とされていても
よい。突起部と砥粒層底部とのギャップを超砥粒の平均
粒径以上とすることで大きく確保できてベタ当たりする
ことなく突起部の超砥粒が高い研削圧を維持できて切れ
味がよく、砥粒層底部で研削液等を保持できると共に切
り粉の排出性がよく超砥粒の部分に切り粉が目詰まりせ
ず排出性がよい。また、突起部はコーナR部と頂部とを
有する略円柱状に形成され、これらコーナR部と頂部に
超砥粒が配設されていてもよい。研削時にコーナR部の
超砥粒で粗研削を行い、次いで頂部の超砥粒で仕上げ研
削を行う。また、各突起部に設けられてなる超砥粒は1
1〜500個とされ、平面視で砥粒層の全面積に対する
超砥粒の占める割合は20%〜80%の範囲に設定され
ていてもよい。超砥粒が11個より少ないとパッド4に
対する粗研削と仕上げ研削とを連続して実行できず、5
00個より多いと超砥粒の目詰まりを起こしやすいとい
う欠点がある。また超砥粒の面積が20%より少ないと
研削時に超砥粒が脱落するおそれがあって寿命が短くな
り、パッド等の被削材に超砥粒がささって傷つけるおそ
れがあり、また80%を越えると電着砥石が目詰まりを
生じるおそれがある。
[0009] The height of the projections from the bottom of the abrasive layer between adjacent projections may be greater than or equal to the average grain size of the superabrasive grains. By ensuring that the gap between the projections and the bottom of the abrasive layer is greater than the average particle size of the superabrasives, the superabrasives in the projections can maintain a high grinding pressure without being solid and have good sharpness. The grinding fluid can be held at the bottom of the abrasive layer, and the discharge of the cutting powder is good. Further, the projection may be formed in a substantially columnar shape having a corner R and a top, and super-abrasive grains may be disposed on the corner R and the top. At the time of grinding, rough grinding is performed with superabrasive grains at the corner R, and then finish grinding is performed with superabrasive grains at the top. The superabrasive grains provided on each projection are 1
The number of the super-abrasive grains may be set in a range of 20% to 80% in a plan view. If the number of superabrasive grains is less than 11, rough grinding and finish grinding for pad 4 cannot be continuously performed, and
When the number is more than 00, there is a disadvantage that clogging of superabrasive grains easily occurs. If the area of the super-abrasive grains is less than 20%, the super-abrasive grains may fall off during grinding, shortening the life, and the super-abrasive grains may damage the work material such as a pad, and may be 80%. If it exceeds, the electrodeposition grindstone may be clogged.

【0010】また突起部は砥粒層の表面の外周領域を除
いて中央領域に配列されていてもよい。電着砥石を揺動
させて研削加工を行える。或いは突起部は砥粒層の表面
の中央領域を除いて周辺領域に配列されていてもよい。
電着砥石を回転させて研削加工する場合には周速の小さ
い中央領域を除いて超砥粒を配設することで効率的な研
削加工ができる。また、電着砥石はCMPコンディショ
ナであってもよい。
The projections may be arranged in a central region except for an outer peripheral region on the surface of the abrasive grain layer. The grinding process can be performed by swinging the electrodeposition whetstone. Alternatively, the protrusions may be arranged in the peripheral region except for the central region on the surface of the abrasive grain layer.
In the case of grinding by rotating the electrodeposition grindstone, efficient grinding can be performed by arranging superabrasive grains except for a central region having a small peripheral speed. Further, the electrodeposition grindstone may be a CMP conditioner.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面により説明するが、上述の従来技術と同一の部分に
は同一の符号を用いてその説明を省略する。図1乃至図
3は第一の実施の形態に関するものであって、図1は電
着ホイールの研削面である砥粒層表面を示す平面図、図
2は図1に示す電着ホイールの中央縦断面図、図3は電
着ホイールの突起部の要部拡大縦断面図である。図1及
び図2に示す実施の形態による電着ホイール20(電着
砥石)は、例えばステンレス等からなる円板形の台金1
9の略円形をなす一面19a上に略円柱状の隆起部21
…が所定間隔で形成されており、一面19aの表面に砥
粒層22が形成されてその表面を研削面20aとする。
尚、隆起部21は一面19aの外周側のリング状の周辺
領域23を除いて中央領域に略格子状または網目状に配
列されている。砥粒層22は、例えばNiからなる金属
めっき相25中にダイヤモンドやcBNなどの超砥粒1
4が配置されていて、例えば電気めっきによって製作さ
れている。しかも超砥粒14は各隆起部21上にのみ固
着され、隆起部21と隆起部21の間の砥粒層底部22
aには設けられていない。隆起部21において、その略
円柱状の表面に沿って設けられた超砥粒14及び金属め
っき相25からなる砥粒層22の領域を突起部24とす
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. 1 to 3 relate to the first embodiment. FIG. 1 is a plan view showing a surface of an abrasive layer which is a ground surface of an electrodeposition wheel, and FIG. 2 is a center view of the electrodeposition wheel shown in FIG. FIG. 3 is an enlarged longitudinal sectional view of a main part of a projection of the electrodeposition wheel. The electrodeposited wheel 20 (electroplated whetstone) according to the embodiment shown in FIGS. 1 and 2 is a disk-shaped base 1 made of, for example, stainless steel.
9, a substantially cylindrical raised portion 21 on one surface 19a having a substantially circular shape.
Are formed at predetermined intervals, and the abrasive layer 22 is formed on the surface of one surface 19a, and the surface is defined as a ground surface 20a.
The protruding portions 21 are arranged in a substantially lattice-like or mesh-like manner in a central region except for a ring-like peripheral region 23 on the outer peripheral side of the one surface 19a. The abrasive layer 22 is made of a super-abrasive 1 such as diamond or cBN in a metal plating phase 25 made of, for example, Ni.
4 are provided and are made, for example, by electroplating. Moreover, the superabrasive grains 14 are fixed only on the respective raised portions 21, and the abrasive grain layer bottom portion 22 between the raised portions 21.
a is not provided. In the raised portion 21, a region of the abrasive grain layer 22 including the superabrasive grains 14 and the metal plating phase 25 provided along the substantially columnar surface is referred to as a projection 24.

【0012】図3に示す突起部24において、台金19
の各隆起部21は全周に亘って形成された側壁21cと
コーナR部21aと頂部21bとで形成され、その表面
全体に例えば11〜500個の範囲の超砥粒14が金属
めっき相25で固着されて構成されている。超砥粒14
が11個より少ないとパッド4に対する粗研削と仕上げ
研削とを連続して実行できず、500個より多いと超砥
粒の目詰まりを起こしやすいという欠点がある。各突起
部24は最大直径Dがφ1〜10mmの範囲とし、砥粒
層底部22aからの高さHは超砥粒14の平均粒径以
上、好ましくは平均粒径の2倍以上あるものとし、超砥
粒14の平均粒径を1mm以下として例えば0.1mm
〜0.7mm程度に設定する。高さHを超砥粒14の平
均粒径以上にしたのは、パッド4の研削時に超砥粒14
のみがパッド4に接触して研削加工が行われて砥粒層底
部22aがパッド4に接触しないようにするためであ
る。尚、各突起部24は同一高さにあるものとする。し
かも電着ホイール20の平面視で研削面20aの全面積
に対する超砥粒14の面積は20%〜80%の範囲に設
定する。超砥粒14の面積が20%より少ないと研削時
に超砥粒14が脱落するおそれがあって寿命が短くなる
上にパッド4に超砥粒14がささってパッド4を傷つけ
るおそれがあり、また80%を越えると電着ホイール2
0に目詰まりを生じるおそれがある。
In the projection 24 shown in FIG.
Are formed by side walls 21c, corner R portions 21a, and top portions 21b formed over the entire circumference, and, for example, 11 to 500 superabrasive grains 14 in the range of 11 to 500 metal plating phases 25 are formed on the entire surface thereof. It is configured to be fixed. Super abrasive 14
If the number is less than 11, the rough grinding and the finish grinding for the pad 4 cannot be performed continuously, and if the number is more than 500, there is a disadvantage that clogging of the super-abrasive grains tends to occur. Each protrusion 24 has a maximum diameter D in the range of φ1 to 10 mm, and the height H from the abrasive grain layer bottom 22 a is equal to or more than the average particle diameter of the superabrasive grains 14, preferably twice or more the average particle diameter, For example, 0.1 mm
Set to about 0.7 mm. The reason why the height H is equal to or larger than the average particle size of the super-abrasive particles 14 is that the super-abrasive particles 14
This is because only the contact is made with the pad 4 to perform the grinding process so that the abrasive grain layer bottom portion 22a does not contact the pad 4. The projections 24 are at the same height. Moreover, the area of the superabrasive grains 14 with respect to the entire area of the grinding surface 20a in a plan view of the electrodeposition wheel 20 is set in a range of 20% to 80%. If the area of the superabrasive grains 14 is less than 20%, the superabrasive grains 14 may fall off during grinding, thereby shortening the life. In addition, the superabrasive grains 14 may touch the pad 4 to damage the pad 4, and If over 80%, electrodeposition wheel 2
0 may be clogged.

【0013】本実施の形態による電着ホイール20は上
述のように構成されており、次に電着ホイール20の製
造方法について図4により説明する。図4(A)におい
て、例えばSUS304等からなる円板形状の台金19
の一面19aをエッチング等で除去して格子状に複数の
略円柱状の隆起部21A…を残す。エッチングで除去さ
れた部分は底部22Aをなす。具体的には硫酸または硝
酸等を高圧ジェットで一面19aに吹き付けたり、電解
エッチングまたは放電加工などによって隆起部21A…
を残して他の部分を彫り込んでも良い。このようにして
図4(B)に示す隆起部21A…が格子状に残る凹凸面
を一面19aに形成する。各隆起部21Aは所定の外径
Dと高さH′を備えた略円柱状になる。次にこの一面1
9aについてショットブラストやバレル研磨等によって
各隆起部21Aのエッジを研磨することで図4(C)に
示す面取りされた略円柱状の隆起部21を形成する。或
いは型成形で図4(C)に示す台金19を形成してもよ
い。
The electrodeposited wheel 20 according to the present embodiment is configured as described above. Next, a method of manufacturing the electrodeposited wheel 20 will be described with reference to FIG. In FIG. 4A, for example, a disk-shaped base 19 made of SUS304 or the like is used.
Is removed by etching or the like to leave a plurality of substantially column-shaped raised portions 21A in a lattice shape. The portion removed by etching forms the bottom 22A. Specifically, sulfuric acid or nitric acid is sprayed onto the surface 19a by a high-pressure jet, or the raised portions 21A are formed by electrolytic etching or electric discharge machining.
May be engraved on other parts. .. Shown in FIG. 4 (B) are formed on the entire surface 19a. Each raised portion 21A has a substantially cylindrical shape having a predetermined outer diameter D and a height H '. Then this one side 1
By polishing the edge of each raised portion 21A by shot blasting, barrel polishing, or the like for 9a, a substantially columnar raised portion 21 shown in FIG. 4C is formed. Alternatively, the base metal 19 shown in FIG. 4C may be formed by molding.

【0014】そして超砥粒14の電気めっきに際して図
3を参照して説明すれば、各隆起部21…を除いてマス
キングして各隆起部21の全面に例えばNi(Cu、C
r等でも良い)からなる薄層の下地めっきを下地めっき
層25aとして施す。次いで電気めっきによって下地め
っき層25a上に複数の超砥粒14を例えばNi(C
u、Cr等でも良い)からなる第一金属めっき相25b
によって固着する。そして、一面19aからマスキング
シートを剥離して電気めっきによって全面に再度例えば
Ni(Cu、Cr等でも良い)からなる第二金属めっき
相25cを形成する。尚、底部22Aに第二金属めっき
相25cを形成しなくてもよい。この場合には台金19
の底部22Aが砥粒層底部22aを構成する。このよう
にして下地めっき層25a、第一及び第二金属めっき相
25b,25cからなる金属めっき相25で超砥粒14
が固着された図3及び図4(d)に示す砥粒層22が形
成され、電着ホイール20が形成される。尚、上述の説
明では、電着ホイール20の研削面20aの周辺領域2
3を除いて多数の突起部24…を配列したが、これに限
定されることなく研削面20a全面に突起部24(隆起
部21)を配列形成してもよい。
Referring to FIG. 3 for the electroplating of the superabrasive grains 14, masking is performed except for the protruding portions 21 to cover the entire surface of each protruding portion 21 with, for example, Ni (Cu, C).
r may be used as the base plating layer 25a. Next, a plurality of superabrasive grains 14 are formed on the base plating layer 25a by, for example, Ni (C
u, Cr, etc.)
Sticks. Then, the masking sheet is peeled off from one surface 19a, and a second metal plating phase 25c made of, for example, Ni (or may be Cu, Cr or the like) is again formed on the entire surface by electroplating. The second metal plating phase 25c need not be formed on the bottom 22A. In this case, the deposit 19
22A constitute the abrasive grain layer bottom 22a. Thus, the super-abrasive grains 14 are formed by the metal plating phase 25 including the base plating layer 25a and the first and second metal plating phases 25b and 25c.
The abrasive layer 22 shown in FIG. 3 and FIG. 4 (d) is formed, and the electrodeposited wheel 20 is formed. In the above description, the peripheral region 2 of the grinding surface 20a of the electrodeposited wheel 20 is described.
Although a large number of the projections 24 are arranged except for the number 3, the projections 24 (projections 21) may be arranged and formed on the entire surface of the grinding surface 20a without being limited to this.

【0015】本実施の形態による電着ホイール20は上
述の構成を備えており、図9に示すCMP装置1のアー
ム10に電着ホイール20を装着した状態で、パッド4
のコンディショニングを行うに際して、回転する回転テ
ーブル3上のパッド4に対してアーム10を揺動させる
ことで電着ホイール20を往復揺動させ、パッド4を研
削してその平坦度を回復または維持させる。研削に際し
て電着ホイール20の各突起部24ではまずコーナR部
21aの超砥粒14でパッド4の粗研削を行い、続いて
コーナR部21aに続く頂部21bの超砥粒14で仕上
げ研削を行うことができる。しかも研削に際して超砥粒
14は隆起部21のコーナR部21aから頂部21bに
沿って固着されており、砥粒層22の研削面全体がパッ
ド4に接触してベタ当たりすることもなく突起部24の
超砥粒14でのみ接触して研削が行われるために超砥粒
14にかかる研削圧力を高く維持できて切れ味が良い。
そのため、パッド4の発泡層の開口がきれいに切断され
開口が潰れることがないので、スラリsの保有能力を高
く維持できる。しかもベタ当たりしないために研削時に
発泡層内部の研削液がはじき出されることがなく水分を
含んだ状態で研削が行われる。
The electrodeposited wheel 20 according to the present embodiment has the above-described configuration, and the pad 4 is mounted on the arm 10 of the CMP apparatus 1 shown in FIG.
In performing the conditioning, the electrodeposition wheel 20 is reciprocated by swinging the arm 10 with respect to the pad 4 on the rotating rotary table 3, and the pad 4 is ground to recover or maintain its flatness. . At the time of grinding, first, in each projection 24 of the electrodeposition wheel 20, the rough grinding of the pad 4 is performed by the superabrasive grains 14 of the corner R section 21a, and then the finish grinding is performed by the superabrasive grains 14 of the top 21b following the corner R section 21a. It can be carried out. Moreover, during grinding, the superabrasive grains 14 are fixed along the corners 21 a to the tops 21 b of the raised portions 21, so that the entire ground surface of the abrasive layer 22 does not come into contact with the pad 4 and collides with the projections. Since the grinding is performed by contact with only the 24 superabrasive grains 14, the grinding pressure applied to the superabrasive grains 14 can be kept high and the sharpness is good.
Therefore, the opening of the foam layer of the pad 4 is cut cleanly and the opening is not crushed, so that the holding capacity of the slurry s can be maintained high. Moreover, since the solid does not contact, the grinding fluid inside the foamed layer is not repelled at the time of grinding, and the grinding is performed in a state containing water.

【0016】また突起部24のコーナR部21aの一部
の超砥粒14が摩耗したとしても残りのコーナR部21
aの超砥粒14で研削を続けることができ電着ホイール
20の寿命を向上できる。更に研削時に突起部24の超
砥粒14でのみパッド4に接触して砥粒層底部22aは
パッド4に接触しないから、突起部24と突起部24の
間の砥粒層底部22aに研削液を留めることができ、し
かも砥粒層底部22aを通して切り粉等を排出すること
ができる。
Even if a part of the super-abrasive grains 14 of the corner R portion 21a of the projection 24 is worn, the remaining corner R portion 21a
The grinding can be continued with the superabrasive grains 14a, and the life of the electrodeposited wheel 20 can be improved. Further, only the superabrasive grains 14 of the projections 24 come into contact with the pad 4 during grinding, and the bottom 22a of the abrasive layer does not contact the pad 4. Therefore, the grinding liquid is applied to the bottom 22a of the abrasive layer between the projections 24. And it is possible to discharge chips and the like through the abrasive layer bottom 22a.

【0017】次に本実施の形態による電着ホイール20
によってパッド4を研削した状態を図5に示す。図5は
パッド4表面の500倍の写真である。図において、パ
ッド4の表面は発泡層の開口kがつぶれることなくきれ
いに研削されて平坦度を回復できている。これにより、
ウエーハ等のポリッシング時にパッド4の発泡層内にス
ラリs等を十分滞留させることができる状態でパッド4
の平坦度が回復されている。これに対して、平坦な台金
上の下地めっき層に超砥粒を電気めっきで固着させ、砥
粒層底面との高低差が超砥粒の平均粒径の1/2以下と
された上述の従来例の構成による電着ホイールでパッド
4を研削した状態を図6に示す。図6はパッド4表面の
500倍の写真である。これによれば、砥粒層の研削面
がほぼベタ当たりしているためにパッド4の表面の起毛
がなぎ倒され、発泡層の開口kがかなり潰れて目詰まり
している。このためパッド4のスラリsの保持能力が不
十分となりパッド4の加工性が悪くなる。
Next, the electrodeposited wheel 20 according to the present embodiment
FIG. 5 shows a state in which the pad 4 is ground by the method. FIG. 5 is a photograph of the surface of the pad 4 at a magnification of 500 times. In the figure, the surface of the pad 4 is finely ground without breaking the opening k of the foam layer, and the flatness can be restored. This allows
When polishing the wafer or the like, the pad 4 is placed in a state where the slurry s or the like can sufficiently stay in the foam layer of the pad 4.
Has been restored. On the other hand, the superabrasive grains were fixed to the base plating layer on the flat base metal by electroplating, and the height difference from the bottom face of the abrasive grain layer was set to be not more than の of the average grain size of the superabrasive grains. FIG. 6 shows a state in which the pad 4 is ground by the electrodeposition wheel according to the conventional example. FIG. 6 is a photograph of the surface of the pad 4 at a magnification of 500 times. According to this, since the ground surface of the abrasive layer is almost solid, the raised surface of the pad 4 is broken down, and the opening k of the foam layer is considerably crushed and clogged. For this reason, the holding ability of the slurry s of the pad 4 becomes insufficient, and the workability of the pad 4 deteriorates.

【0018】上述のように本実施の形態によれば、砥粒
層底部22aは接触せず突起部24の超砥粒14がパッ
ド4に接触して研削するために、粗研削から仕上げ研削
まで連続して行えて超砥粒14にかかる研削圧力が高く
て切れ味がよく、パッド4の発泡層の開口がつぶれるこ
となくきれいに研削できる。また超砥粒14に切り粉が
残ることがなく目詰まりせず切り粉の排出性が良い。し
かも突起部24,24間の砥粒層底部22aで研削液を
保有できてパッド4の発泡層内の研削液がはじき出され
ることが抑制され、パッド4のコンディションを乾式に
することなく湿式研削のための良好な水分保有状態に維
持できる。
As described above, according to the present embodiment, since the abrasive layer bottom 22a is not in contact and the superabrasive grains 14 of the projections 24 are in contact with the pad 4 and are ground, the rough grinding to the finish grinding are performed. The grinding can be performed continuously, the grinding pressure applied to the superabrasive particles 14 is high, the sharpness is good, and the opening of the foam layer of the pad 4 can be finely ground without being crushed. In addition, no chips are left on the superabrasives 14 and clogging does not occur, so that the chips can be easily discharged. Moreover, the grinding fluid can be held at the bottom 22a of the abrasive layer between the projections 24, 24, and the repelling of the grinding fluid in the foam layer of the pad 4 can be suppressed. Thus, the wet grinding can be performed without making the condition of the pad 4 dry. It can be maintained in a good water retention state.

【0019】次に本発明の第二の実施の形態を図7及び
図8により説明するが、上述の第一の実施の形態と同一
部分、部材には同一符号を用いて説明する。図7は電着
ホイールの平面図、図8は図7の中央縦断面図である。
図7及び図8に示す第二の実施の形態による電着ホイー
ル30において、台金19の一面19a上に砥粒層22
が形成され、砥粒層22の中央領域31には突起部24
は設けられておらず、周辺領域32において外周縁まで
多数の突起部24…が同心円状に複数層配列されてい
る。同心円をなす多数の突起部24…は周方向及び径方
向に互いに分離しており、隣接する突起部24、24間
が砥粒層底部22aとされている。しかも、一面19a
上に設けられた砥粒層22は各突起部24にのみ複数の
超砥粒14…が金属めっき相25でそれぞれ固着されて
いる。本実施の形態による電着ホイール30はコンディ
ショナ8に代えて、ウエーハキャリア5に装着してパッ
ド4に対して偏心した位置で回転させつつパッド4を研
削するのに用いても良い。この場合、電着ホイール30
の中央領域31は周速が小さく研削能力が小さいために
突起部24を設けていないことが研削効率の点で都合が
よい。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 7 and 8, and the same parts and members as those in the first embodiment will be described using the same reference numerals. FIG. 7 is a plan view of the electrodeposition wheel, and FIG. 8 is a central longitudinal sectional view of FIG.
In the electrodeposited wheel 30 according to the second embodiment shown in FIGS. 7 and 8, the abrasive layer 22 is formed on one surface 19 a of the base metal 19.
Are formed, and the protrusions 24 are formed in the central region 31 of the abrasive layer 22.
Are not provided, and a large number of protrusions 24 are arranged concentrically in multiple layers up to the outer peripheral edge in the peripheral region 32. A large number of projections 24 forming a concentric circle are separated from each other in the circumferential direction and the radial direction, and the space between the adjacent projections 24 is an abrasive grain layer bottom 22a. Moreover, one side 19a
A plurality of superabrasive grains 14 are fixed to the respective protruding portions 24 of the abrasive grain layer 22 provided thereon by a metal plating phase 25. Instead of the conditioner 8, the electrodeposited wheel 30 according to the present embodiment may be used for grinding the pad 4 while being mounted on the wafer carrier 5 and rotating at a position eccentric to the pad 4. In this case, the electrodeposition wheel 30
Since the peripheral region has a low peripheral speed and a small grinding ability, it is convenient from the viewpoint of the grinding efficiency that the protrusions 24 are not provided.

【0020】尚、第二の実施の形態による同心円状の突
起部24…を備えた電着ホイール30に代えて、周辺領
域32に突起部24…を螺旋状に配設してもよい。この
場合でも第二の実施の形態と同様の作用効果が得られ
る。或いは突起部24を格子状または網目状等任意の間
隔で配列してもよい。またこれら突起部24の配列構成
は研削面20aの全面に設けられていても良い。また上
述の実施の形態では突起部24と隆起部21を略円柱状
に形成したが、突起部24や隆起部21の形状はこれに
限定されるものではなく砥粒層底部22aからの高さH
が超砥粒14の平均粒径以上あればよく、例えば半球状
や三角錐形状等の凸曲面状でも良い。また本発明の電着
砥石を構成する電着ホイール20,30はCMP装置に
用いるコンディショナ以外に他の研磨研削装置にも採用
できることはいうまでもない。
Instead of the electrodeposition wheel 30 having the concentric projections 24 according to the second embodiment, the projections 24 may be spirally arranged in the peripheral region 32. In this case, the same operation and effect as in the second embodiment can be obtained. Alternatively, the protrusions 24 may be arranged at an arbitrary interval such as a lattice shape or a mesh shape. The arrangement of the projections 24 may be provided on the entire surface of the ground surface 20a. In the above-described embodiment, the protrusion 24 and the protrusion 21 are formed in a substantially columnar shape. However, the shapes of the protrusion 24 and the protrusion 21 are not limited to this, and the height from the abrasive grain layer bottom 22a is not limited thereto. H
Should be equal to or larger than the average particle size of the superabrasive grains 14, and may be a convex curved surface such as a hemisphere or a triangular pyramid. Needless to say, the electrodeposited wheels 20, 30 constituting the electrodeposited grindstone of the present invention can be applied to other polishing and grinding apparatuses other than the conditioner used for the CMP apparatus.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る電着
砥石は、砥粒層の表面に互いに間隔をおいて複数の突起
部が形成され、これら突起部にはそれぞれ複数の超砥粒
が装着されて成るから、砥粒層の突起部間の砥粒層底部
と突起部の超砥粒との高低差が大きくCMP装置のパッ
ド等の比較的軟質の被削材であっても砥粒層全体がベタ
当たりすることなく突起部の超砥粒が被削材に接触して
研削することで超砥粒に高い研削圧を維持できて切れ味
がよく、突起部と突起部の間の砥粒層の凹部の表面で研
削液を保持できて切り粉の排出性がよく超砥粒間に切り
粉が目詰まりしない。
As described above, in the electrodeposition grindstone according to the present invention, a plurality of protrusions are formed on the surface of the abrasive grain layer at intervals from each other. Since the height difference between the bottom of the abrasive layer between the projections of the abrasive layer and the superabrasive grains of the projections is large, even a relatively soft work material such as a pad of a CMP apparatus is used. The super-abrasive grains in the protrusions contact the work material and grind without grinding the entire grain layer so that the super-abrasive grains can maintain a high grinding pressure and sharpness, and the sharpness between the protrusions The grinding fluid can be held on the surface of the concave portion of the abrasive layer, and the discharge of the chips is good, so that the chips are not clogged between the superabrasives.

【0022】また、突起部は隣接する突起部間の砥粒層
底部からの高さが超砥粒の平均粒径以上とされていても
よい。被削材に砥粒層がベタ当たりすることなく突起部
の超砥粒が高い研削圧を維持できて切れ味がよく、突起
部と突起部の間の砥粒層底部で研削液を保持できて切り
粉の排出性がよく超砥粒間に切り粉が目詰まりせず排出
性がよい。また、突起部はコーナR部と頂部とを有する
略円柱状に形成され、これらコーナR部と頂部に超砥粒
が配設されていてもよい。研削時にコーナR部の超砥粒
で粗研削を行い続いて頂部の超砥粒で仕上げ研削を行う
ことで切れ味がよい。また、各突起部に設けられてなる
超砥粒は11〜500個とされ、平面視で砥粒層の全面
積に対する超砥粒の占める割合は20%〜80%の範囲
に設定されていてもよい。超砥粒が11個より少ないと
パッド等に対する粗研削と仕上げ研削とを連続して実行
できず、500個より多いと超砥粒の目詰まりを起こし
やすいという欠点がある。また超砥粒の面積が20%よ
り少ないと研削時に超砥粒が脱落するおそれがあって寿
命が短くなり、パッド等の被削材に超砥粒がささってウ
エハ等を傷つけるおそれがあり、また80%を越えると
目詰まりを生じるおそれがある。各突起部の超砥粒の個
数と面積比を上述のように設定することで切れ味を向上
できて目詰まりせず切り粉の排出性がよくなる。
The height of the protrusions from the bottom of the abrasive layer between adjacent protrusions may be equal to or larger than the average particle size of the superabrasives. The super-abrasive grains at the projections can maintain a high grinding pressure without sharpening of the abrasive layer on the work material, and the sharpness is good, and the grinding fluid can be held at the bottom of the abrasive layer between the projections It has a good discharge property of the cutting powder and a good discharge property without clogging of the cutting powder between the superabrasives. Further, the projection may be formed in a substantially columnar shape having a corner R and a top, and super-abrasive grains may be disposed on the corner R and the top. When grinding, rough grinding is performed with superabrasive grains at the corner R portion, and then finish grinding is performed with superabrasive grains at the top portion. The number of superabrasive grains provided on each projection is 11 to 500, and the ratio of the superabrasive grains to the total area of the abrasive layer in a plan view is set in a range of 20% to 80%. Is also good. If the number of super-abrasive grains is less than 11, the rough grinding and the finish grinding for the pad or the like cannot be continuously performed, and if the number is more than 500, clogging of the super-abrasive grains tends to occur. If the area of the super-abrasive grains is less than 20%, the super-abrasive grains may fall off during grinding, shortening the life, and the super-abrasive grains may impinge on a work material such as a pad to damage a wafer or the like, If it exceeds 80%, clogging may occur. By setting the number and the area ratio of the superabrasive grains in each projection as described above, the sharpness can be improved, and the cutting powder can be easily discharged without clogging.

【0023】また突起部は砥粒層の表面の外周領域を除
いて中央領域に配列されているから、揺動させて研削加
工を行うことで均一に研削加工ができる。或いは突起部
は砥粒層の表面の中央領域を除いて周辺領域に配列され
ているから、電着砥石を回転させて研削加工する場合に
は周速の小さい中央領域を除いて超砥粒を配設すること
で効率的な研削加工ができる。
Further, since the projections are arranged in the central region except for the outer peripheral region of the surface of the abrasive grain layer, the grinding process can be performed uniformly by swinging and performing the grinding process. Alternatively, since the protrusions are arranged in the peripheral region except for the central region of the surface of the abrasive layer, when grinding the electrodeposited grinding wheel by rotating, the super-abrasive particles are removed except for the central region having a small peripheral speed. By arranging, efficient grinding can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第一の実施の形態による電着ホイー
ルの研削面の平面図である。
FIG. 1 is a plan view of a ground surface of an electrodeposited wheel according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1に示す電着ホイールの中央縦断面図であ
る。
FIG. 2 is a central longitudinal sectional view of the electrodeposited wheel shown in FIG.

【図3】 図2に示す電着ホイールの突起部の要部拡大
断面図である。
FIG. 3 is an enlarged sectional view of a main part of a protrusion of the electrodeposition wheel shown in FIG. 2;

【図4】 (A)、(B)、(C)、(D)は実施の形
態による電着ホイールの製造工程を示すものである。
FIGS. 4A, 4B, 4C, and 4D show a process of manufacturing an electrodeposited wheel according to an embodiment.

【図5】 実施の形態による電着ホイールで研削したパ
ッドの一部分を示す500倍の写真である。
FIG. 5 is a 500 × photograph showing a part of a pad ground by an electrodeposition wheel according to an embodiment.

【図6】 従来例の構成を有する電着ホイールで研削し
たパッドの一部分を示す500倍の写真である。
FIG. 6 is a 500 × photograph showing a part of a pad ground by an electrodeposition wheel having a configuration of a conventional example.

【図7】 本発明の第二の実施の形態による電着ホイー
ルの研削面の平面図である。
FIG. 7 is a plan view of a ground surface of an electrodeposited wheel according to a second embodiment of the present invention.

【図8】 図7に示す電着ホイールの中央縦断面図であ
る。
FIG. 8 is a central longitudinal sectional view of the electrodeposition wheel shown in FIG. 7;

【図9】 従来のCMP装置の要部斜視図である。FIG. 9 is a perspective view of a main part of a conventional CMP apparatus.

【図10】 図9に示す電着ホイールの(A)は部分平
面図、(B)は(A)のA−A線縦断面図である。
10A is a partial plan view of the electrodeposited wheel shown in FIG. 9, and FIG. 10B is a longitudinal sectional view taken along line AA of FIG.

【図11】 図10に示す砥粒層の部分縦断面図であ
る。
11 is a partial longitudinal sectional view of the abrasive grain layer shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

14 超砥粒 19 台金 20,30 電着ホイール 21 隆起部 21a コーナR部 21b 頂部 22 砥粒層 24 突起部 14 Superabrasive grain 19 Base metal 20, 30 Electrodeposited wheel 21 Raised part 21a Corner R part 21b Top part 22 Abrasive layer 24 Projection

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/304 622 H01L 21/304 622M (72)発明者 畑 花子 福島県いわき市泉町黒須野字江越246−1 三菱マテリアル株式会社いわき製作所内 Fターム(参考) 3C058 AA04 AA09 AA19 CB03 CB10 DA17 3C063 AA02 AB07 BA24 BB02 BC02 BG03 BG07 CC12 EE10 FF23──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 21/304 622 H01L 21/304 622M (72) Inventor Hanako Hata 246 Egoshi Kurosuno Izumi-cho, Iwaki City, Fukushima Prefecture -1 Mitsubishi Materials Corporation Iwaki Works F term (reference) 3C058 AA04 AA09 AA19 CB03 CB10 DA17 3C063 AA02 AB07 BA24 BB02 BC02 BG03 BG07 CC12 EE10 FF23

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 砥粒層の表面に互いに間隔をおいて複数
の突起部が形成され、これら突起部にはそれぞれ複数の
超砥粒が装着されて成る電着砥石。
1. An electrodeposited whetstone comprising a plurality of projections formed on a surface of an abrasive grain layer at intervals from each other, and a plurality of superabrasive grains are mounted on each of the projections.
【請求項2】 前記突起部は隣接する突起部間の砥粒層
底部からの高さが超砥粒の平均粒径以上とされているこ
とを特徴とする請求項1記載の電着砥石。
2. The electrodeposited whetstone according to claim 1, wherein the height of the projections from the bottom of the abrasive layer between adjacent projections is equal to or larger than the average grain size of the superabrasives.
【請求項3】 前記突起部はコーナR部と頂部とを有す
る略円柱状に形成され、これらコーナR部と頂部に超砥
粒が配設されてなることを特徴とする請求項1または2
記載の電着砥石。
3. The projection according to claim 1, wherein the projection is formed in a substantially columnar shape having a corner R and a top, and super abrasive grains are disposed on the corner R and the top.
Electroplated whetstone as described.
【請求項4】 前記各突起部に設けられてなる超砥粒は
11〜500個とされ、平面視で前記砥粒層の全面積に
対する超砥粒の占める割合は20%〜80%の範囲に設
定されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれ
か記載の電着砥石。
4. The number of superabrasive grains provided on each of the protrusions is 11 to 500, and the ratio of the superabrasive grains to the entire area of the abrasive layer in a plan view is in a range of 20% to 80%. The electrodeposited grindstone according to any one of claims 1 to 3, wherein:
【請求項5】 前記突起部は砥粒層の表面の周辺領域を
除いて中央領域に配列されていることを特徴とする請求
項1乃至4のいずれか記載の電着砥石。
5. The electroplated grinding wheel according to claim 1, wherein the projections are arranged in a central region except for a peripheral region on the surface of the abrasive grain layer.
【請求項6】 前記突起部は砥粒層の表面の中央領域を
除いて周辺領域に配列されていることを特徴とする請求
項1乃至4のいずれか記載の電着砥石。
6. The electroplated grinding wheel according to claim 1, wherein the projections are arranged in a peripheral region except for a central region on the surface of the abrasive grain layer.
【請求項7】 前記電着砥石はCMPコンディショナで
あることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか記載の
電着砥石。
7. The electrodeposition grinding wheel according to claim 1, wherein said electrodeposition grinding wheel is a CMP conditioner.
JP24767799A 1999-09-01 1999-09-01 Electrodeposition grindstone Pending JP2001071269A (en)

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