JP2001068402A - Board treatment equipment - Google Patents

Board treatment equipment

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JP2001068402A
JP2001068402A JP24466199A JP24466199A JP2001068402A JP 2001068402 A JP2001068402 A JP 2001068402A JP 24466199 A JP24466199 A JP 24466199A JP 24466199 A JP24466199 A JP 24466199A JP 2001068402 A JP2001068402 A JP 2001068402A
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JP
Japan
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solvent
substrate
nozzle
buffer member
standby pod
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Application number
JP24466199A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masanao Matsushita
正直 松下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent mist of solvent from leaking outside a waiting pot when the solvent is predispensed in the waiting pot. SOLUTION: A porous buffer member 45 formed of a metal mesh, a filter, etc., is arranged at a position in a waiting pot 40 where solvent from a nozzle 10 for spraying solvent is received. While the solvent from the nozzle 10 is captured by the buffer member 45, high speed draft passes the buffer member 45 and is discharged via an exhaust vent 44. By capturing the spouted solvent with the buffer member 45, generation of mist of the solvent in the waiting pot 40 is restrained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、フ
ォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基
板、光ディスク用の基板など(以下、単に「基板」と称
する)に対して、SOG(Spin On Glass,シリカ系被膜
形成剤とも言われる)液、フォトレジスト液、ポリイミ
ド樹脂などの塗布液の被膜を形成する処理の前処理とし
て好適に利用される基板処理装置であって、特に基板表
面に溶剤を噴霧する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor wafer, a glass substrate for a photomask, a glass substrate for a liquid crystal display, a substrate for an optical disk (hereinafter simply referred to as "substrate"), and the like. Spin On Glass, also known as a silica-based film forming agent) liquid, a photoresist solution, a substrate processing apparatus suitably used as a pretreatment for forming a coating film of a coating liquid such as a polyimide resin, and particularly a substrate surface. The present invention relates to an apparatus for spraying a solvent on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体製造工程などで使用される
フォトレジスト液などの塗布液と、塗布被膜が形成され
る基板との濡性が悪いと、被膜形成の均一性が損なわれ
たり、あるいは基板から飛散して無駄になる塗布液の量
が増えるなど、種々の問題が生じることが知られてい
る。そこで、塗布液と基板との濡性を向上させるため
に、例えば特開平10−149964号に開示された手
法がある。この手法によれば、基板を回転させながら基
板表面に溶剤を噴霧して基板表面を溶剤で濡らし、その
後に塗布液を基板に供給して基板に塗布被膜を形成して
いる。基板表面が溶剤で濡れていると基板に対する塗布
液の濡性が向上するので、被膜形成の均一性が向上する
とともに、塗布液の使用量を削減することができる。
2. Description of the Related Art Conventionally, if the wettability between a coating solution such as a photoresist solution used in a semiconductor manufacturing process and a substrate on which a coating film is formed is poor, uniformity of the film formation is impaired, or It is known that various problems occur, such as an increase in the amount of wasted coating solution scattered from the substrate. Then, in order to improve the wettability between the coating liquid and the substrate, there is a method disclosed in, for example, JP-A-10-149964. According to this method, a solvent is sprayed on the substrate surface while rotating the substrate to wet the substrate surface with the solvent, and then a coating liquid is supplied to the substrate to form a coating film on the substrate. When the surface of the substrate is wet with the solvent, the wettability of the coating liquid to the substrate is improved, so that the uniformity of the film formation is improved and the amount of the coating liquid used can be reduced.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来手法には次のような問題がある。すなわち、噴霧
されて基板に付着した溶剤の分布状態が不均一である場
合、例えば基板の一部に過剰の溶剤が供給されていた
り、あるいは基板の一部が溶剤で濡れていなかった場合
に、却って塗布液の被膜形成の均一性が損なわれるとい
う問題がある。
However, the above-mentioned conventional method has the following problems. That is, when the distribution state of the solvent that has been sprayed and adhered to the substrate is non-uniform, for example, when an excessive solvent is supplied to a part of the substrate, or when a part of the substrate is not wet with the solvent, On the contrary, there is a problem that the uniformity of the film formation of the coating solution is impaired.

【0004】本発明者は、上記の問題を解決するために
溶剤の分布状態を不均一にする要因を研究した。その結
果、溶剤噴霧用ノズル内に残留している溶剤の液面レベ
ルにバラツキがあると、基板に付着した溶剤の分布状態
か不均一になることを突き止めた。以下、図5を参照し
て説明する。同図(a)は溶剤噴霧用ノズルの構造を示
した破断正面図、同図(b)は破断側面図である。
[0004] The present inventor has studied factors that make the distribution of the solvent non-uniform in order to solve the above problems. As a result, it has been found that if there is a variation in the liquid level of the solvent remaining in the solvent spray nozzle, the distribution of the solvent attached to the substrate becomes uneven or uneven. Hereinafter, description will be made with reference to FIG. FIG. 1A is a cutaway front view showing the structure of a solvent spray nozzle, and FIG. 1B is a cutaway side view.

【0005】この溶剤噴霧用ノズル10は、溶剤供給管
11に連通接続された気液混合部12と、この気液混合
部12に連結された噴射部13とから構成されている。
気液混合部12は、溶剤供給管11に連通する溶剤流路
12aと、この溶剤流路12aに直角に交わるガス流路
12bとを備えている。噴射部13は半球状を呈し、そ
の中心部に溶剤流路12aに連通するとともに、下方に
向けて扇状に拡がった偏平な拡散流路13aが形成され
ている。
[0005] The solvent spray nozzle 10 comprises a gas-liquid mixing section 12 connected to a solvent supply pipe 11 and an injection section 13 connected to the gas-liquid mixing section 12.
The gas-liquid mixing section 12 includes a solvent flow path 12a that communicates with the solvent supply pipe 11, and a gas flow path 12b that intersects the solvent flow path 12a at right angles. The injection unit 13 has a hemispherical shape, and has a flat diffusion channel 13a formed in a central portion thereof, which communicates with the solvent flow channel 12a and expands in a fan shape downward.

【0006】このような溶剤噴霧用ノズル10におい
て、ガス流路12bから例えば窒素ガスなどの気体が気
液混合部12内に高速度で供給されると、溶剤流路12
aを流通している溶剤Lと、気体とが混合され、溶剤L
が霧状になって噴射部13の拡散流路13aからが噴出
される(図5(a),(b)参照)。ところが、溶剤噴
霧用ノズル10に溶剤および高速気体を供給しない状態
で待機させておくと、図5(c)に示すように、溶剤流
路12a内を溶剤Lの液面が低下してくる。この状態で
高速気体を供給すると、溶剤流路12aとガス流路12
bとが交わる位置よりも下側の溶剤流路12aに垂れ下
がった溶剤L’は霧状になりにくく、液滴の状態で噴射
部13から押し出されて基板に付着して、基板への溶剤
の分布状態を不均一にする。
In such a solvent spray nozzle 10, when a gas such as nitrogen gas is supplied into the gas-liquid mixing section 12 from the gas flow path 12b at a high speed, the solvent flow path 12
a is mixed with the gas, and the solvent L
Becomes a mist and is ejected from the diffusion channel 13a of the ejection unit 13 (see FIGS. 5A and 5B). However, if the solvent and the high-speed gas are not supplied to the solvent spray nozzle 10 in a standby state, the level of the solvent L in the solvent flow path 12a decreases as shown in FIG. 5C. When the high-speed gas is supplied in this state, the solvent flow path 12a and the gas flow path 12a
The solvent L ′ that hangs down in the solvent flow path 12a below the position where the b intersects is unlikely to be in the form of a mist, and is pushed out from the jetting unit 13 in the form of droplets and adheres to the substrate, and the solvent Make the distribution uneven.

【0007】一方、使用する溶剤が揮発性を有する場
合、ノズル10が長時間置かれると溶剤の揮発により溶
剤流路12a内を溶剤Lの液面が後退し、溶剤の供給量
が変動してしまうという問題がある。この溶剤の供給量
がばらついてしまう結果、塗布液の被膜形成の均一性が
損なわれる。この状態は、溶剤の噴霧停止時から噴霧開
始時までの待機時間が比較的長時間になると顕著にな
る。そして、液面レベルの変動量が小さくとも溶剤塗布
を少量で実施する場合には、溶剤全体量に占める溶剤変
動量の割合が大きくなるので、処理のばらつきが大きく
なるという問題がある。
On the other hand, when the solvent to be used is volatile, if the nozzle 10 is left for a long time, the level of the solvent L retreats in the solvent flow path 12a due to the evaporation of the solvent, and the supply amount of the solvent fluctuates. Problem. As a result of the variation in the supply amount of the solvent, the uniformity of the film formation of the coating solution is impaired. This state becomes remarkable when the standby time from the time when the spraying of the solvent is stopped to the time when the spraying is started becomes relatively long. When the solvent application is performed with a small amount even if the fluctuation amount of the liquid level is small, the ratio of the fluctuation amount of the solvent to the total amount of the solvent increases, and thus there is a problem that the dispersion of the process increases.

【0008】本発明者は、溶剤噴霧用ノズル内に残留し
ている溶剤の液面レベルが変動することによる上記の弊
害を取り除くために、基板へ溶剤を噴霧する直前に、溶
剤噴霧用ノズルに高速気流を供給して、溶剤噴霧用ノズ
ル内に残留している溶剤(図5(c)の溶剤L’)を排
出し、溶剤噴霧用ノズル内の溶剤の液面を揃えることを
考えた。または、ノズルの待機時間が長い場合において
も溶剤噴霧用ノズル内の溶剤の液面を揃えることを考え
た。以下、このような溶剤の予備排出を「溶剤のプリデ
ィスペンス」と称する。
In order to eliminate the above-mentioned adverse effects caused by fluctuations in the liquid level of the solvent remaining in the solvent spray nozzle, the present inventor has proposed that the solvent spray nozzle be used immediately before spraying the solvent onto the substrate. It was considered that a high-speed air flow was supplied to discharge the solvent remaining in the solvent spray nozzle (solvent L ′ in FIG. 5C), and to level the solvent level in the solvent spray nozzle. Alternatively, even when the standby time of the nozzle is long, the liquid level of the solvent in the solvent spray nozzle was considered to be uniform. Hereinafter, such preliminary discharge of the solvent is referred to as “solvent pre-dispense”.

【0009】溶剤のプリディスペンスを基板の処理雰囲
気内で行うと、溶剤のミストが飛散して基板を汚染する
おそがある。そこで、本発明者は図6に示すような溶剤
のプリディスペンス用の待機ポッド15を考案してみた
が、次のような解決すべき問題点があきらかになった。
すなわち、溶剤噴霧用ノズル10内に残留している溶剤
が高速気体によって勢いよく待機ポッド15内に排出さ
れると、待機ポッド15の内壁15aに溶剤を含む高速
気体が衝突して溶剤がミストMとなって舞い上がり、待
機ポッド15から漏洩して基板を汚染するおそれがあ
る。
When the solvent is pre-dispensed in the processing atmosphere of the substrate, the mist of the solvent may be scattered and contaminate the substrate. Thus, the present inventor has devised a standby pod 15 for pre-dispensing a solvent as shown in FIG. 6, but the following problems to be solved have become apparent.
That is, when the solvent remaining in the solvent spray nozzle 10 is vigorously discharged into the standby pod 15 by the high-speed gas, the high-speed gas containing the solvent collides with the inner wall 15a of the standby pod 15 and the solvent is mist M And may leak from the standby pod 15 to contaminate the substrate.

【0010】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、溶剤を待機ポッド内でプリディスペン
スするにあたり、溶剤のミストが待機ポッド外へ漏洩す
ることのない基板処理装置を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a substrate processing apparatus in which a solvent mist does not leak out of a standby pod when a solvent is pre-dispensed in the standby pod. The purpose is to do.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の発明は、溶剤を基板に噴霧して所
要の処理を施す前に、溶剤噴霧用ノズルを待機ポッドに
差し入れて、溶剤噴霧用ノズル内に残留する溶剤を予め
排出するように構成された基板処理装置において、前記
待機ポッドが、待機ポッド内に溶剤噴霧用ノズルを差し
入れるためのノズル挿入口を備え、かつ、前記待機ポッ
ド内であって、前記ノズル挿入口に差し入れられた溶剤
噴霧用ノズルから噴射された溶剤を受け止める位置に、
多孔性の緩衝部材を配設したことを特徴とする。
The present invention has the following configuration in order to achieve the above object. That is, according to the first aspect of the invention, before spraying a solvent onto a substrate and performing a required process, a solvent spray nozzle is inserted into a standby pod, and a solvent remaining in the solvent spray nozzle is discharged in advance. In the substrate processing apparatus configured as described above, the standby pod includes a nozzle insertion port for inserting a solvent spray nozzle into the standby pod, and is inserted into the nozzle insertion port within the standby pod. In the position to receive the solvent sprayed from the sprayed nozzle for solvent,
A porous buffer member is provided.

【0012】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の基板処理装置において、前記緩衝部材が、耐腐食性の
金属からなるメッシュで構成されたものである。
According to a second aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus of the first aspect, the buffer member is formed of a mesh made of a corrosion-resistant metal.

【0013】請求項3に記載の発明は、請求項1に記載
の基板処理装置において、前記緩衝部材が、多孔性のフ
ィルタで構成されたものである。
According to a third aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus of the first aspect, the buffer member is formed of a porous filter.

【0014】請求項4に記載の発明は、請求項1〜3の
いずれかに記載の基板処理装置において、前記装置がさ
らに、基板を回転保持する回転保持機構と、基板に塗布
液を供給する塗布液供給機構とを備えたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to any one of the first to third aspects, the apparatus further supplies a rotation holding mechanism for rotating and holding the substrate and a coating liquid to the substrate. And a coating liquid supply mechanism.

【0015】[0015]

【作用】本発明の作用は次のとおりである。請求項1に
記載の発明によれば、待機ポッド内に溶剤噴霧用ノズル
が差し入れられて溶剤が噴射されると、溶剤を含んだ気
流が緩衝部材に受け止められる。溶剤を含んだ気流が多
孔性の緩衝部材を通過する過程で、溶剤は緩衝部材に捕
捉される。したがって、待機ポッド内での溶剤のミスト
の発生が極力抑えられるので、待機ポッドから外部へミ
ストが漏洩することがない。
The operation of the present invention is as follows. According to the first aspect of the present invention, when the solvent spray nozzle is inserted into the standby pod and the solvent is jetted, the airflow containing the solvent is received by the buffer member. The solvent is captured by the cushioning member while the air stream containing the solvent passes through the porous cushioning member. Therefore, since the generation of the mist of the solvent in the standby pod is suppressed as much as possible, the mist does not leak to the outside from the standby pod.

【0016】請求項2および請求項3に記載の発明によ
れば、溶剤を含んだ気流が耐腐食性の金属メッシュ(請
求項2)またはフィルタ(請求項3)を通過する際に、
溶剤がそれぞれ捕捉される。
According to the second and third aspects of the present invention, when an air stream containing a solvent passes through a corrosion-resistant metal mesh (claim 2) or a filter (claim 3),
Solvents are each captured.

【0017】請求項4に記載の発明によれば、待機ポッ
ド内での溶剤のプリディスペンス、基板を回転させなが
ら溶剤を噴霧して基板を濡らす処理、基板に塗布液を供
給して塗布被膜を形成する処理が連続して行われる。
According to the fourth aspect of the invention, the solvent is pre-dispensed in the standby pod, the solvent is sprayed while rotating the substrate, and the substrate is wetted. The coating liquid is supplied to the substrate to form the coating film. The forming process is performed continuously.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施例を説明する。 <第1実施例>図1は本発明に係る基板処理装置の全体
の概略構成を示した図、図2は待機ポッドの断面図であ
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. <First Embodiment> FIG. 1 is a view schematically showing the overall structure of a substrate processing apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of a standby pod.

【0019】本実施例に係る基板処理装置は、半導体ウ
エハ(以下、「基板」という)Wにフォトレジスト液を
回転塗布する装置であって、基板Wへのフォトレジスト
液の供給に先立って、基板Wとフォトレジスト液との濡
性を確保するために、基板Wに溶剤を噴霧するように構
成されている。
The substrate processing apparatus according to the present embodiment is an apparatus for spin-coating a photoresist liquid on a semiconductor wafer (hereinafter, referred to as a “substrate”) W. In order to ensure the wettability between the substrate W and the photoresist liquid, a solvent is sprayed on the substrate W.

【0020】本実施例装置は、基板Wを水平姿勢で吸着
保持するスピンチャック20と、このスピンチャック2
0に出力軸21が連結されたモータ22とを備えてい
る。スピンチャック20およびモータ22は、本発明に
おける回転保持機構に相当する。スピンチャック20の
周囲にはカップ23が配設され、処理中に基板Wから飛
散した溶剤やフォトレジスト液はカップ23で回収され
る。
The apparatus of this embodiment includes a spin chuck 20 for holding a substrate W by suction in a horizontal position,
0 and a motor 22 having an output shaft 21 connected thereto. The spin chuck 20 and the motor 22 correspond to a rotation holding mechanism in the present invention. A cup 23 is provided around the spin chuck 20, and a solvent or a photoresist liquid scattered from the substrate W during processing is collected by the cup 23.

【0021】さらに本実施例装置は、基板Wに溶剤を噴
霧供給する溶剤噴霧用ノズル10と、基板Wにフォトレ
ジスト液を吐出供給するフォトレジスト吐出用ノズル2
5とを備えている。このフォトレジスト吐出用ノズル2
5は、本発明における塗布液供給機構に相当する。溶剤
噴霧用ノズル10は、図5において説明したように、ノ
ズル先端部に供給した高速気流によって溶剤を霧状化し
て噴出する。この溶剤は、処理液(本実施例ではフォト
レジスト液)の主溶媒として用いられる例えば、ECA
(エチレングリコールモノエチルエーテルアセテー
ト)、あるいはMAK(メチル−2−n−アミルケト
ン)である。上記ノズル10,25の基端には、各ノズ
ル10,25を昇降移動させる昇降駆動機構26,27
と、各ノズル10,25を旋回移動させる旋回駆動機構
28,29が設けられている。処理時には各ノズル1
0,25が昇降および旋回移動されて、各ノズル先端が
基板Wの回転中心の上方に移動する。上述したモータ2
2、昇降駆動機構26,27、および旋回駆動機構2
8,29は、制御部30によって制御される。制御部3
0は、メモリ31に予め記憶された制御順序で各機構を
制御する。
Further, the apparatus of the present embodiment includes a solvent spray nozzle 10 for spraying a solvent to the substrate W and a photoresist discharge nozzle 2 for discharging a photoresist liquid to the substrate W.
5 is provided. This photoresist discharge nozzle 2
Reference numeral 5 corresponds to a coating liquid supply mechanism in the present invention. As described with reference to FIG. 5, the solvent spray nozzle 10 atomizes and ejects the solvent by the high-speed airflow supplied to the nozzle tip. This solvent is used as a main solvent of a processing solution (a photoresist solution in this embodiment), for example, ECA
(Ethylene glycol monoethyl ether acetate) or MAK (methyl-2-n-amyl ketone). At the base ends of the nozzles 10 and 25, lifting drive mechanisms 26 and 27 for moving the nozzles 10 and 25 up and down are provided.
And turning drive mechanisms 28 and 29 for turning the nozzles 10 and 25, respectively. During processing, each nozzle 1
The nozzles 0 and 25 are moved up and down and swirled to move the tip of each nozzle above the center of rotation of the substrate W. Motor 2 described above
2, lifting drive mechanisms 26 and 27, and turning drive mechanism 2
8 and 29 are controlled by the control unit 30. Control unit 3
0 controls each mechanism in the control order stored in the memory 31 in advance.

【0022】カップ23の傍らには、本実施例の要部で
ある溶剤のプリディスペンス用の待機ポッド40が配設
されている。以下、この待機ポッド40の構成を図2を
参照して説明する。待機ポッド40は外容器41を備
え、この外容器41の上面に待機ポッド40内に溶剤噴
霧用ノズル10を差し入れるためのノズル挿入口42が
開けられている。外容器41の底面には、待機ポッド4
0内で噴出された溶剤を排出するための排液口43と、
待機ポッド40内を排気するための排気口44とがそれ
ぞれ連通接続されている。なお、待機ポッド40内で噴
出される溶剤は少量であり、しかも溶剤の揮発性により
多くは気化して排気口44から排出されるので、排液口
43は必ずしも設ける必要はない。
A standby pod 40 for pre-dispensing a solvent, which is a main part of the present embodiment, is provided beside the cup 23. Hereinafter, the configuration of the standby pod 40 will be described with reference to FIG. The standby pod 40 has an outer container 41, and a nozzle insertion port 42 for inserting the solvent spray nozzle 10 into the standby pod 40 is opened on the upper surface of the outer container 41. On the bottom of the outer container 41, a standby pod 4 is provided.
A drain port 43 for discharging the solvent spouted in 0;
An exhaust port 44 for exhausting the inside of the standby pod 40 is connected to each other. Note that a small amount of solvent is ejected in the standby pod 40, and most of the solvent is vaporized and discharged from the exhaust port 44 due to the volatility of the solvent. Therefore, the drain port 43 is not necessarily provided.

【0023】さらに、待機ポッド40内にはノズル挿入
口42から差し入れられた溶剤噴霧用ノズル10から噴
射された溶剤を受け止める位置に、多孔性の緩衝部材4
5が設けられている。本実施例の緩衝部材45は、ステ
ンレス鋼のような耐腐食性の金属からなるメッシュで構
成されていて、上面のみ開口した円筒形に形成されてい
る。ノズル挿入口42から挿入された溶剤噴霧用ノズル
10を囲うように、緩衝部材45が外容器41の天井面
に取付け固定されている。緩衝部材45を構成している
金属メッシュは、溶剤噴霧用ノズル10から噴射された
溶剤を含む高速気流のうち、溶剤は捕捉するが、気流は
通過させる程度の細かい網目のものが用いられる。ま
た、金属メッシュは一層に限らず、複数層を積層して緩
衝部材45を構成するのも好ましい。
Further, a porous buffer member 4 is provided in the standby pod 40 at a position for receiving the solvent sprayed from the solvent spray nozzle 10 inserted from the nozzle insertion port 42.
5 are provided. The cushioning member 45 of the present embodiment is formed of a mesh made of a corrosion-resistant metal such as stainless steel, and is formed in a cylindrical shape with only the upper surface opened. A buffer member 45 is attached and fixed to the ceiling surface of the outer container 41 so as to surround the solvent spray nozzle 10 inserted from the nozzle insertion port 42. As the metal mesh forming the buffer member 45, a mesh having a fine mesh enough to capture the solvent but to allow the airflow to pass through is used from the high-speed airflow including the solvent injected from the solvent spray nozzle 10. Further, the metal mesh is not limited to one layer, and it is also preferable to form the buffer member 45 by laminating a plurality of layers.

【0024】次に上述した実施例装置の動作を説明す
る。待機状態において溶剤噴霧用ノズル10は待機ポッ
ド40内に差し入れられている。このとき待機ポッド4
0内は排気口44を介して、図示しない排気装置によっ
て弱く吸引排気されている。処理対象である基板Wがス
ピンチャック20上に載置されると、待機ポッド40内
で溶剤のプリディスペンスが次のように行われる。すな
わち、溶剤噴霧用ノズル10への溶剤の供給を停止した
状態で、ノズル10に窒素ガスを高速度で供給する。そ
うすると、図5(c)で示したように、ノズル10内の
溶剤流路12aで垂れ下がっていた溶剤L’が噴射排出
され、ノズル10内の溶剤レベルが適正レベルに維持さ
れる。待機ポッド40内で噴射された溶剤を含む高速気
流は多孔性の緩衝部材45にあたる。緩衝部材(この例
では金属メッシュ)45は、高速気流に含まれる溶剤を
捕捉する一方、気流を通過させる。緩衝部材45を通過
した窒素ガスは排気口44を介して排気される。このと
き排気口44は強く吸引排気されている。緩衝部材45
に捕捉された溶剤は、その一部は滴下して排液口43か
ら排出され、他の溶剤は気化して排気口44から排気さ
れる。
Next, the operation of the above embodiment will be described. In the standby state, the solvent spray nozzle 10 is inserted into the standby pod 40. At this time, standby pod 4
The inside of 0 is weakly sucked and exhausted by an exhaust device (not shown) through an exhaust port 44. When the substrate W to be processed is placed on the spin chuck 20, the solvent is pre-dispensed in the standby pod 40 as follows. That is, while the supply of the solvent to the solvent spray nozzle 10 is stopped, the nitrogen gas is supplied to the nozzle 10 at a high speed. Then, as shown in FIG. 5C, the solvent L ′ hanging down in the solvent flow path 12a in the nozzle 10 is ejected and discharged, and the solvent level in the nozzle 10 is maintained at an appropriate level. The high-speed airflow containing the solvent injected in the standby pod 40 hits the porous buffer member 45. The buffer member (metal mesh in this example) 45 captures the solvent contained in the high-speed airflow while passing the airflow. The nitrogen gas that has passed through the buffer member 45 is exhausted through the exhaust port 44. At this time, the exhaust port 44 is strongly sucked and exhausted. Cushioning member 45
A part of the solvent trapped in the liquid is dropped and discharged from the drain port 43, and the other solvent is vaporized and exhausted from the exhaust port 44.

【0025】以上のように、本実施例の待機ポッド40
の構成によれば、待機ポッド40内で排出された溶剤が
緩衝部材45で捕捉されるので、待機ポッド40内で溶
剤のミストがほとんど発生しない。したがって、溶剤の
ミストが待機ポッド40から漏洩して基板Wを汚染する
こともない。
As described above, the standby pod 40 of this embodiment is
According to the configuration described above, the solvent discharged in the standby pod 40 is captured by the buffer member 45, so that mist of the solvent hardly occurs in the standby pod 40. Therefore, the mist of the solvent does not leak from the standby pod 40 and contaminate the substrate W.

【0026】溶剤のプリディスペンスが終わると、速や
かに溶剤噴霧用ノズル10を基板W上に移動する。そし
て、基板Wを低速回転させた状態で、ノズル10への溶
剤供給を開始すると同時に窒素ガスを供給してノズル1
0から基板Wへ向けて溶剤を噴霧する。溶剤のプリディ
スペンスにより、ノズル10内の溶剤の液面レベルは一
定に維持されているので、ノズル10から溶剤の液滴が
出たり、噴出される溶剤の量が不足することもなく、基
板Wに溶剤を均一に付着させることができる。
When the pre-dispensing of the solvent is completed, the solvent spray nozzle 10 is immediately moved onto the substrate W. Then, while the substrate W is being rotated at a low speed, the supply of the solvent to the nozzle 10 is started and at the same time the nitrogen gas is supplied to the nozzle 1
The solvent is sprayed from 0 toward the substrate W. Since the liquid level of the solvent in the nozzle 10 is maintained constant by the pre-dispensing of the solvent, the droplet of the solvent does not come out of the nozzle 10 and the amount of the solvent to be jetted does not become insufficient, and the substrate W Solvent can be uniformly attached to the surface.

【0027】基板Wの表面を溶剤で濡らした後、溶剤噴
霧用ノズル10は待機ポッド40へ戻されて待機状態に
なる。一方、フォトレジスト供給用ノズル25が基板W
の上方に移動して、基板Wを低速回転させた状態で基板
W上に所定量のフォトレジスト液が吐出される。続い
て、基板Wが高速回転されて基板W上にフォトレジスト
被膜が形成される。基板Wの表面は溶剤で均一に濡らさ
れているので、比較的に少ない量のフォトレジスト液で
均一な被膜を形成することができる。
After the surface of the substrate W is wetted with the solvent, the solvent spray nozzle 10 is returned to the standby pod 40 to be in a standby state. On the other hand, the photoresist supply nozzle 25 is
And a predetermined amount of photoresist liquid is discharged onto the substrate W while the substrate W is rotated at a low speed. Subsequently, the substrate W is rotated at a high speed to form a photoresist film on the substrate W. Since the surface of the substrate W is uniformly wet with the solvent, a uniform film can be formed with a relatively small amount of the photoresist solution.

【0028】基板Wへの被膜の形成が終わると、フォト
レジスト供給用ノズル25が待機位置に戻される一方、
処理済の基板Wが実施例装置から搬出される。その後、
新たな基板Wが装置に搬入されて、上述したと同様の処
理が繰り返し行われる。
When the formation of the film on the substrate W is completed, the photoresist supply nozzle 25 is returned to the standby position.
The processed substrate W is carried out of the apparatus of the embodiment. afterwards,
A new substrate W is carried into the apparatus, and the same processing as described above is repeatedly performed.

【0029】<第2実施例>図3は本発明の第2実施例
において用いられる待機ポッドの断面図である。他の構
成は第1実施例と同様であるので、ここでの説明は省略
する。本実施例の特徴は、待機ポッド40内であって、
ノズル挿入口42から差し入れられた溶剤噴霧用ノズル
10から噴射された溶剤を受け止める位置に配設される
多孔性の緩衝部材46が円筒状のフィルタ46aで構成
されている点にある。フィルタ46aの素材は特に限定
されないが、例えばPTFE(ポリテトラフルオロエチ
レン)などの合成樹脂の他、布、紙などを使用すること
もできる。円筒状のフィルタ46aは、金属線などで形
成されたホルダ46bによって外容器41の天井面に取
付け固定されている。本実施例では、底面直下に噴射さ
れる溶剤が比較的に少ないので底面側にフィルタを配設
していないが、図2に示した第1実施例のように、底面
側にもフィルタを配設するようにしてもよい。
<Second Embodiment> FIG. 3 is a sectional view of a standby pod used in a second embodiment of the present invention. The other configuration is the same as that of the first embodiment, and the description is omitted here. The feature of this embodiment is that the inside of the standby pod 40
The point is that the porous buffer member 46 disposed at a position for receiving the solvent sprayed from the solvent spray nozzle 10 inserted from the nozzle insertion port 42 is constituted by a cylindrical filter 46a. Although the material of the filter 46a is not particularly limited, for example, cloth, paper, or the like can be used in addition to a synthetic resin such as PTFE (polytetrafluoroethylene). The cylindrical filter 46a is attached and fixed to the ceiling surface of the outer container 41 by a holder 46b formed of a metal wire or the like. In the present embodiment, the filter is not provided on the bottom side because the solvent injected directly below the bottom is relatively small. However, as in the first embodiment shown in FIG. 2, the filter is also provided on the bottom side. It may be provided.

【0030】本実施例においても第1実施例と同様に、
待機ポッド40内で噴射された溶剤は緩衝部材46のフ
ィルタ46aで捕捉されるとともに、高速気流はフィル
タ46aを通過して排気口44から排気される。したが
って、溶剤噴霧用ノズル10から噴射される溶剤が直接
に外容器41の壁面にあたらないので、待機ポッド40
内で発生する溶剤のミストが少なく、ミストの待機ポッ
ド40外への漏洩を抑えることができる。
In this embodiment, as in the first embodiment,
The solvent injected in the standby pod 40 is captured by the filter 46a of the buffer member 46, and the high-speed airflow passes through the filter 46a and is exhausted from the exhaust port 44. Therefore, since the solvent injected from the solvent spray nozzle 10 does not directly hit the wall surface of the outer container 41, the standby pod 40
The mist of the solvent generated in the inside is small, and leakage of the mist out of the standby pod 40 can be suppressed.

【0031】<第3実施例>図4は本発明の第3実施例
において用いられる待機ポッドの断面図である。他の構
成は第1実施例と同様であるので、ここでの説明は省略
する。本実施例の特徴は、ノズル挿入口42から差し入
れられた溶剤噴霧用ノズル10から噴射された溶剤を受
け止める多孔性の緩衝部材47を板状のフィルタ47a
で構成し、これを金属線などで形成されたホルダ47b
を介して待機ポッド40内に略水平に配設固定した点に
ある。本実施例も第1,第2実施例と同様に、溶剤噴霧
用ノズル10から噴射された溶剤を緩衝部材47で捕捉
するとともに、緩衝部材47bを通過した気流を排気口
44から排気することによって、待機ポッド40内での
溶剤のミストを抑制することができる。なお、本実施例
では、緩衝部材47をフィルタ47aで構成している
が、第1実施例のように金属メッシュで構成することも
可能である。
<Third Embodiment> FIG. 4 is a sectional view of a standby pod used in a third embodiment of the present invention. The other configuration is the same as that of the first embodiment, and the description is omitted here. This embodiment is characterized in that a porous buffer member 47 for receiving the solvent sprayed from the solvent spray nozzle 10 inserted from the nozzle insertion port 42 is used as a plate-shaped filter 47a.
And a holder 47b formed of a metal wire or the like.
And is fixed substantially horizontally within the standby pod 40 via the. In the present embodiment, similarly to the first and second embodiments, the solvent sprayed from the solvent spray nozzle 10 is captured by the buffer member 47, and the airflow passing through the buffer member 47b is exhausted from the exhaust port 44. In addition, the mist of the solvent in the standby pod 40 can be suppressed. In the present embodiment, the buffer member 47 is constituted by the filter 47a, but may be constituted by a metal mesh as in the first embodiment.

【0032】本発明は上述した各実施例のものに限ら
ず、次のように変形実施することもできる。 (1)実施例では、溶剤噴霧用ノズル10とフォトレジ
スト吐出用ノズル25とを備えた基板処理装置を例に採
ったが、本発明は溶剤噴霧用ノズル10のみを備えた基
板処理装置にも適用することができる。
The present invention is not limited to the above embodiments, but may be modified as follows. (1) In the embodiment, the substrate processing apparatus provided with the solvent spray nozzle 10 and the photoresist discharge nozzle 25 is taken as an example, but the present invention is also applied to the substrate processing apparatus provided with only the solvent spray nozzle 10. Can be applied.

【0033】(2)実施例ではフォトレジスト液の被膜
形成を例に採ったが、本発明はSOG液やポリイミド樹
脂の被膜を形成する場合にも適用することができる。さ
らに、本発明は被膜形成の前処理としてではなく、溶剤
を基板に均一に付着させる必要のある種々の処理にも適
用することができる。
(2) In the embodiment, the formation of a film of a photoresist solution is taken as an example, but the present invention can also be applied to the case of forming a film of an SOG solution or a polyimide resin. Further, the present invention can be applied not only as a pre-treatment for forming a film but also to various treatments that require a solvent to be uniformly adhered to a substrate.

【0034】(3)本発明における緩衝部材は、上述の
実施例で説明した素材以外に種々の素材で形成すること
がてきる。例えば、多数の小孔を打ち抜いた金属板を緩
衝部材として用いることもできる。
(3) The cushioning member of the present invention can be formed of various materials other than the materials described in the above embodiment. For example, a metal plate in which many small holes are punched can be used as a buffer member.

【0035】(4)実施例では、溶剤のプリディスペン
スがノズル10内の溶剤流路12aで垂れ下がっていた
溶剤L’を噴射排出する場合を例に採って説明したが、
本発明はノスル10の待機時間が長い場合にも適用でき
る。具体的には、ノズル10内の溶剤L’の液面が溶剤
流路12a内を後退しガス流路12bと交わる部位より
も後退することに対処して、待機ポッド40内で溶剤の
プリディスペンスが次のように行われる。すなわち、溶
剤噴霧用ノズル10に溶剤だけを供給する。そうするこ
とで図5(c)で示したように、ノズル10内の溶剤流
路12aで溶剤L’の液面が下がってガス流路12bと
交わる部位よりも下方に位置する。次に、ガス流路12
bから窒素ガスを高速度で供給すると溶剤L’が噴射排
出され、ノズル10内の溶剤レベルが適正レベルに維持
される。待機ポッド40内では、上記実施例と同様に緩
衝部材45が溶剤を捕捉する一方、気流を通過させる。
なお、この場合、必ずしも溶剤噴霧の処理ごとにプリデ
ィスペンスを行う必要はなく、溶剤噴霧の連続処理の前
に1回のプリディスペンスを行うようにしてもよい。
(4) In the embodiment, the case where the pre-dispensing of the solvent ejects and discharges the solvent L ′ hanging down in the solvent flow path 12a in the nozzle 10 has been described as an example.
The present invention can be applied to the case where the waiting time of the nosle 10 is long. Specifically, in response to the fact that the liquid level of the solvent L ′ in the nozzle 10 retreats in the solvent flow path 12a and retreats from a portion that intersects with the gas flow path 12b, the pre-dispensing of the solvent in the standby pod 40 is performed. Is performed as follows. That is, only the solvent is supplied to the solvent spray nozzle 10. By doing so, as shown in FIG. 5 (c), the liquid level of the solvent L ′ in the solvent flow path 12a in the nozzle 10 is lowered and located below a portion that intersects the gas flow path 12b. Next, the gas flow path 12
When nitrogen gas is supplied at a high speed from b, the solvent L ′ is ejected and discharged, and the solvent level in the nozzle 10 is maintained at an appropriate level. In the standby pod 40, the buffer member 45 captures the solvent and allows the airflow to pass, as in the above embodiment.
In this case, it is not necessary to perform the pre-dispense every time the solvent spraying process is performed, and one pre-dispense may be performed before the continuous solvent spraying process.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば次の効果を奏する。請求項1に記載の発明によ
れば、待機ポッド内で噴出された溶剤が多孔性の緩衝部
材で受け止められて、溶剤が緩衝部材によって捕捉され
るので、待機ポッド内で溶剤のミストが発生するのを抑
制することができる。したがって、本発明によれば、待
機ポッドから溶剤のミストが外部へ漏洩しないので、基
板を汚染することもない。
As apparent from the above description, the present invention has the following effects. According to the first aspect of the present invention, since the solvent ejected in the standby pod is received by the porous buffer member and the solvent is captured by the buffer member, mist of the solvent is generated in the standby pod. Can be suppressed. Therefore, according to the present invention, the mist of the solvent does not leak to the outside from the standby pod, so that the substrate is not contaminated.

【0037】請求項2および請求項3に記載の発明によ
れば、待機ポッド内に設けられた耐腐食性の金属メッシ
ュ(請求項2)またはフィルタ(請求項3)が、溶剤噴
霧用ノズルから搬出された溶剤を捕捉するので、待機ポ
ッドから溶剤のミストが外部へ漏洩することがない。
According to the second and third aspects of the present invention, the corrosion-resistant metal mesh (claim 2) or the filter (claim 3) provided in the standby pod is supplied from the solvent spray nozzle. Since the carried-out solvent is captured, the mist of the solvent does not leak to the outside from the standby pod.

【0038】請求項4に記載の発明によれば、基板へ付
着する溶剤の分布が均一であるので、比較的に少ない量
の塗布液でもって基板上に塗布被膜を均一に形成するこ
とができるとともに、待機ポットから漏洩した溶剤のミ
ストによって基板が汚染されることもない。
According to the fourth aspect of the present invention, since the distribution of the solvent adhering to the substrate is uniform, a coating film can be uniformly formed on the substrate with a relatively small amount of the coating liquid. In addition, the substrate is not contaminated by the mist of the solvent leaked from the standby pot.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る基板処理装置の第1実施例の概略
構成を示した図である。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a first embodiment of a substrate processing apparatus according to the present invention.

【図2】第1実施例の待機ポッドの断面図である。FIG. 2 is a sectional view of a standby pod according to the first embodiment.

【図3】第2実施例の待機ポッドの断面図である。FIG. 3 is a sectional view of a standby pod according to a second embodiment.

【図4】第3実施例の待機ポッドの断面図である。FIG. 4 is a sectional view of a standby pod according to a third embodiment.

【図5】本発明の課題の説明に供するノズルの断面図で
ある。
FIG. 5 is a cross-sectional view of a nozzle for explaining the problem of the present invention.

【図6】本発明の課題の説明に供する待機ポッドの断面
図である。
FIG. 6 is a sectional view of a standby pod for explaining the problem of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…溶剤噴霧用ノズル 25…フォトレジスト吐出用ノズル 40…待機ポッド 42…ノズル挿入口 44…排気口 45,46,47…緩衝部材 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Nozzle for solvent spray 25 ... Nozzle for discharge of photoresist 40 ... Stand-by pod 42 ... Nozzle insertion port 44 ... Exhaust port 45, 46, 47 ... Buffer member

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 溶剤を基板に噴霧して所要の処理を施す
前に、溶剤噴霧用ノズルを待機ポッドに差し入れて、溶
剤噴霧用ノズル内に残留する溶剤を予め排出するように
構成された基板処理装置において、 前記待機ポッドは、待機ポッド内に溶剤噴霧用ノズルを
差し入れるためのノズル挿入口を備え、 かつ、前記待機ポッド内であって、前記ノズル挿入口に
差し入れられた溶剤噴霧用ノズルから噴射された溶剤を
受け止める位置に、多孔性の緩衝部材を配設したことを
特徴とする基板処理装置。
1. A substrate configured to insert a solvent spray nozzle into a standby pod and discharge a solvent remaining in the solvent spray nozzle in advance before spraying a solvent onto the substrate and performing a required process. In the processing apparatus, the standby pod includes a nozzle insertion port for inserting a solvent spray nozzle in the standby pod, and a solvent spray nozzle inserted in the nozzle insertion port in the standby pod. A porous buffer member is provided at a position for receiving the solvent sprayed from the substrate.
【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置におい
て、 前記緩衝部材は、耐腐食性の金属からなるメッシュで構
成されている基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the buffer member is formed of a mesh made of a corrosion-resistant metal.
【請求項3】 請求項1に記載の基板処理装置におい
て、 前記緩衝部材は、多孔性のフィルタで構成されている基
板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the buffer member is formed of a porous filter.
【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の基板処
理装置において、前記装置はさらに、 基板を回転保持する回転保持機構と、 基板に塗布液を供給する塗布液供給機構とを備えている
基板処理装置。
4. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising: a rotation holding mechanism for rotating and holding the substrate; and a coating liquid supply mechanism for supplying a coating liquid to the substrate. Substrate processing equipment.
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