JP2001052984A - 周辺露光装置、周辺露光方法および露光システム - Google Patents

周辺露光装置、周辺露光方法および露光システム

Info

Publication number
JP2001052984A
JP2001052984A JP11225271A JP22527199A JP2001052984A JP 2001052984 A JP2001052984 A JP 2001052984A JP 11225271 A JP11225271 A JP 11225271A JP 22527199 A JP22527199 A JP 22527199A JP 2001052984 A JP2001052984 A JP 2001052984A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
peripheral
photosensitive substrate
pattern
photosensitive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11225271A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoyuki Watanabe
智行 渡辺
Masamitsu Yanagihara
政光 柳原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP11225271A priority Critical patent/JP2001052984A/ja
Publication of JP2001052984A publication Critical patent/JP2001052984A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70358Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】スループットを低下させずに感光性基板の周辺
領域に所定値以上の露光量を与えることのできる周辺露
光装置を提供する。 【解決手段】感光性基板Gには、パターンが露光される
パターン領域5aとパターンが露光されない非パターン
領域5bとが規定される。非パターン領域5bは、感光
性基板Gに塗布される感光剤の厚さに応じて区画された
少なくとも2つの周辺領域51,52を有する。感光剤
が厚く塗布された周辺領域52では移動機構21を10
0mm/secで移動させ、感光剤が薄く塗布された周
辺領域51では移動機構21を200mm/secで移
動させる。周辺領域52の露光量は周辺領域51の露光
量よりも多くなり、感光剤に所定の露光量が与えられて
後工程で感光剤の剥離が容易となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルな
どの感光性基板の回路パターンが形成されない非パター
ン領域を露光する周辺露光装置、周辺露光方法および露
光システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、液晶表示パネルが大型化してきて
いる。たとえば図14は800mm×950mmのガラ
スプレート基板(以下、感光性基板と呼ぶ)を使用する
一例を示す図である。(a)は15インチのパネルを6
枚作成する場合、(b)は14インチのパネルを9枚作
成する場合、(c)は30インチのパネルを2枚作成す
る場合をそれぞれ示している。
【0003】図14に示すように、感光性基板にはそれ
ぞれ個々のパネルを形成する領域R1と、この領域R1
を取り囲む領域R2とがそれぞれ設定されている。領域
R1は、回路パターンが露光されるのでパターン領域と
呼ばれる。領域R2はパターンが露光されないので非パ
ターン領域と呼ばれる。
【0004】感光性基板に回路パターンを焼き付ける
際、大型基板の全面に感光剤を塗布する。そして、走査
型露光装置により投影光学系に対してマスクと基板とを
同期移動しながパターン領域R1にパターンを露光す
る。さらに、後工程において非パターン領域R2の感光
剤を除去するため、非パターン領域を周辺露光装置で露
光する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】感光剤はフォトレジス
トと呼ばれ、たとえばスピンコータやロールコータなど
の感光剤塗布装置で基板全面に塗布される。上述したス
ピンコータのように基板を回転させて感光剤を塗布する
場合には、感光剤の膜厚が基板の周辺部で厚くなる。周
辺領域を周辺露光装置により露光するとき、厚い領域で
の露光量が不十分であると、周辺領域のフォトレジスト
が十分に除去しきれなくなり、表示パネル製造の後工程
で支障をきたすおそれがある。そこで、周辺露光に際し
て非パターン領域に十分な露光量を与えるために2重露
光したり、周辺露光光と基板との相対速度を遅くする
と、スループット低下の原因となる。
【0006】本発明の目的は、スループットを低下させ
ずに感光性基板の周辺領域に所定値以上の露光量を与え
ることのできる周辺露光装置、周辺露光方法、および露
光システムを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】実施の形態の図1〜図1
3に対応づけて説明する。 (1)請求項1の発明は、パターンが露光されるパター
ン領域5aとパターンが露光されない非パターン領域5
bとを有する感光性基板Gの非パターン領域5bを露光
する露光部10と、露光部10と感光性基板Gとを相対
移動させる移動機構21と、非パターン領域5bを露光
する際に移動機構21により移動速度を変更する速度制
御回路26とを備えることにより、上述した目的を達成
する。 (2)請求項2の発明は、請求項1に記載の周辺露光装
置において、非パターン領域5bは、感光性基板Gに塗
布される感光剤の厚さに応じて区画された少なくとも2
区画51,52を有し、速度制御回路26は、感光剤が
厚く塗布された第1の区画52では移動機構21を第1
の移動速度で移動させ、感光剤が薄く塗布された第2の
区画51では移動機構21を第1の移動速度よりも速い
第2の移動速度で移動させることを特徴とする。 (3)請求項3の発明は、請求項1または2に記載の周
辺露光装置において、感光性基板Gを保持するトレイ8
0を収納して、感光性基板Gをステージ4上に受け渡す
収納部をステージ4設けたことを特徴とする。 (4)請求項4の発明は、パターンが露光されるパター
ン領域5aとパターンが露光されない非パターン領域5
bとを有する感光性基板Gの非パターン領域5bを露光
光で露光する周辺露光方法に適用される。そして、露光
光と感光性基板Gとを相対移動させる移動工程と、非パ
ターン領域5bを露光する際に相対移動の速度を変更す
る速度変更工程とを備えることにより、上記目的を達成
する。 (5)請求項5の発明は、請求項4に記載の周辺露光方
法において、非パターン領域5bは、感光性基板Gに塗
布される感光剤の厚さに応じて区画された少なくとも2
区画51,52を有し、感光剤が厚く塗布された第1の
区画52では相対移動の速度を第1の移動速度に設定
し、感光剤が薄く塗布された第2の区画51では相対移
動の速度を第1の移動速度よりも速い第2の移動速度に
設定することを特徴とする。 (6)請求項6の発明は、マスクMと感光性基板Gとを
同期移動して、マスクMに形成されているパターンを感
光性基板G上に露光する走査型露光装置40と、感光性
基板G上のパターンが露光されない非パターン領域5b
を周辺露光光と感光性基板Gとを相対移動して露光する
周辺露光装置60とを備え、走査型露光装置40と周辺
露光装置60とを同一のチャンバ30に収容したことを
特徴とする。 (7)請求項7の発明は、請求項6に記載の露光システ
ムにおいて、非パターン領域5bは、感光性基板Gに塗
布される感光剤の厚さに応じて区画された少なくとも2
区画51,52を有し、周辺露光装置60は、感光剤が
厚く塗布された第1の区画52では相対移動を第1の移
動速度で行い、感光剤が薄く塗布された第2の区画51
では相対移動を第1の移動速度よりも速い第2の移動速
度で行うことを特徴とする。 (8)請求項8の発明は、請求項6または7に記載の露
光システムにおいて、周辺露光装置60の第2の移動速
度を走査型露光装置40の走査速度よりも遅く設定した
ことを特徴とする。 (9)請求項9の発明は、請求項6に記載の露光システ
ムにおいて、周辺露光装置60は、非パターン領域5b
を露光する際に、同期方向とほぼ直交する方向に沿って
相対移動を行うことを特徴とする。 (10)請求項10の発明は、請求項6に記載の露光シ
ステムにおいて、感光性基板Gを保持するトレイ80を
介して感光性基板Gは走査型露光装置40のステージ4
と周辺露光装置60のステージ44との間で搬送され、
走査型露光装置40のステージ4と周辺露光装置60の
ステージ44との少なくとも一方には、感光性基板Gを
保持するトレイ80を収納して感光性基板Gをステージ
(4または44)上に受け渡す収納部(441a)を設
けたことを特徴とする
【0008】なお、以上の課題を解決するための手段の
項では説明を容易にするために実施の形態の図面と符号
を使用したが、これにより本発明が実施の形態に限定さ
れるものではない。
【0009】
【発明の実施の形態】−周辺露光装置について− 図1は本発明による周辺露光装置の一実施の形態を示す
図である。超高圧水銀灯1からの露光光はシャッタ2を
介して光ファイバ3に入射する。光ファイバ3に入射し
た光は2つの分岐ファイバ3a、3bを進み、投射部3
c、3dから矩形の露光光として出射される。ステージ
4上に保持されるガラスプレート基板(以下、感光性基
板)Gの大きさ、周辺領域の幅などに応じて、投射部3
c、3dの間隔は矢印方向に調節される。図1(b)に
示すように、投射部3c、3dは矢印方向に移動可能と
され、感光性基板Gに対して周辺露光光が相対移動す
る。一般的には、感光性基板Gを固定した状態で超高圧
水銀灯1、光ファイバ3および投射部3c、3dで構成
される周辺露光用照明系10を走査機構で移動させ、こ
れにより、周辺露光光を感光性基板Gに対して相対移
動、すなわち走査する。
【0010】図2は、この実施の形態による周辺露光装
置の制御系の概略構成を示す図である。走査機構21は
上述した周辺露光用照明系を感光性基板Gに対して相対
移動する。走査機構21は周辺露光用照明系の走査方向
(X方向)の移動量を検出する位置検出装置を含んでい
る。間隔調節機構22は投射部3c、3dの間隔を調節
する駆動装置と、その間隔を検出する位置検出装置とを
含んでいる。ステージ駆動機構23は基板ステージ4を
X,Y方向に移動させるとともに、X,Y軸と直交する
Z軸回りにθ回転させる。このステージ駆動機構23
は、X,Y軸方向の位置検出装置を含んでいる。ランプ
駆動回路24は超高圧水銀灯1に高電圧を印加して点灯
する。シャッタ駆動機構25はシャッタ2を開閉駆動
し、超高圧水銀灯1から出射される周辺露光光の通過、
遮断を制御する。これらの走査機構21、調節間隔機構
22、ステージ駆動機構23、ランプ駆動回路24、シ
ャッタ駆動機構25はそれぞれ制御回路26により制御
される。制御回路26はCPU、メモリ、その他の周辺
回路から構成され、ホストコンピュータ27からの指令
に従って、各機構、回路の駆動を制御する。ホストコン
ピュータ27は感光性基板Gに回路パターンを露光する
走査型露光装置40や、不図示の液晶パネル製造システ
ム全体を制御するものである。
【0011】この実施の形態では、図3に示すように、
感光性基板Gには、回路パターンが露光されるパターン
領域5aと、この露光パターン領域5aを取り囲む周辺
領域5bが規定されている。図3(b)から分かるよう
に、露光パターン領域5aの感光剤PRの厚さはほぼ均
一であるが、周辺領域5bの感光剤PRの厚さは周縁に
いくほど厚い。これは上述したように、スピンコータで
感光剤を塗布する際、遠心力で感光剤が基板周縁に集ま
るためである。なお、図3(b)において、GSはガラ
スプレートそのものであり、感光性基板Gは、ガラスプ
レートGSに感光剤PRを塗布したものである。
【0012】本実施の形態では、このように感光剤の厚
さが異なる周辺領域を次のように露光する。周辺領域5
bを、図3に示すようにパターン領域5aを取り囲む周
辺領域51と、この周辺領域51を取り囲む周辺領域5
2に区分する。すなわち、感光剤の厚さに応じて、感光
剤が薄く塗布された周辺領域51と、感光剤が厚く塗布
された周辺領域52とに区分する。そして、周辺領域5
2の露光量を周辺領域51の露光量に比べて大きくす
る。
【0013】以下、図14(a)に示すように800m
m×950mmの感光性基板Gに6枚の表示パネル(2
50mm×310mm)を製造する場合について説明す
る。各条件は次の通りとする。 超高圧水銀灯1の露光パワー:1000mW/cm2 光ファイバ投射部3c,3dで形成されるスポット
幅:50mm(非走査方向×5mm(走査方向) 回路パターン領域5aで要求される露光量:25mJ
/cm2 周辺領域51で要求される露光量:25mJ/cm2 周辺領域52で要求される露光量:50mJ/cm2 したがって、周辺領域51の走査速度を200mm/s
ec、周辺領域52の走査速度を100mm/secと
すれば、周辺領域51では25mJ/cm2、周辺領域
52では50mJ/cm2の露光量となる。
【0014】図4〜図7にしたがって周辺露光(非パタ
ーン領域の露光)の手順を詳細に説明する。以下に説明
する手順は制御回路26ないしはホストコンピュータ2
7に格納したプログラムにしたがって順次行われる。 (1)図4に示すように、図2に示した間隔調節機構2
2により投射部3c、3dの間隔を750mmとし、投
射部3c、3dからのスポット光が左側短辺に接する露
光開始位置に設定されるように、投射部3c,3dを走
査機構21により移動する。なお図4では、この位置に
ある投射部を3c(S)、3d(S)と表示する。露光
開始位置3c(S)、3d(S)から周辺領域52の一
対の長辺に沿って投射部3c、3dを、すなわちスポッ
ト光を速度100mm/secで露光終了位置3c
(E)、3d(E)まで移動する。露光パワーが100
0mW/cm2であるので、周辺領域52は50mJ/
cm2の露光量で露光される。このとき、スポット光の
移動距離が955mm(=長辺長さ950mm+スポッ
ト幅5mm)であり、周辺領域52の長辺を走査する時
間は9.55secとなる。
【0015】(2)間隔調節機構22により投射部3
c、3dの間隔を狭め、図5に示すように、右側短辺か
ら内側50mmの露光開始位置3c(S)、3d(S)
となるように投射部3c,3dを走査機構21により移
動する。露光開始位置3c(S)、3d(S)から周辺
領域51の一対の長辺に沿って投射部3c、3dを、す
なわちスポット光を速度200mm/secで露光終了
位置3c(E)、3d(E)まで移動する。露光パワー
が1000mW/cm2であるので、周辺領域51は2
5mJ/cm2の露光量で露光される。このとき、スポ
ット光の移動距離が855mm(=長辺長さ950mm
−スポット幅50mm×2+5mm)であり、周辺領域
51の長辺を走査する時間は4.275secとなる。
【0016】(3)ステージ駆動機構23によりステー
ジ4を90度回転する。間隔調節機構22により投射部
3c、3dの間隔を850mmとし、図6に示すよう
に、左側長辺から内側50mmの露光開始位置3c
(S)、3d(S)となるように投射部3a,3dを走
査機構21により移動する。露光開始位置3c(S)、
3d(S)から周辺領域52の一対の短辺に沿って投射
部3c、3dを、すなわちスポット光を速度100mm
/secで露光終了位置3c(E)、3d(E)まで移
動する。露光パワーが1000mW/cm2であるの
で、周辺領域52は50mJ/cm2の露光量で露光さ
れる。このとき、スポット光の移動距離が705mm
(=短辺長さ800mm−スポット幅50mm×2+5
mm)であり、周辺領域52の長辺を走査する時間は
7.05secとなる。
【0017】(4)間隔調節機構22により投射部3
c、3dの間隔を狭め、図7に示すように、右側長辺か
ら内側90mmの露光開始位置3c(S)、3d(S)
となるように投射部3a,3dを走査機構21により移
動する。露光開始位置3c(S)、3d(S)から周辺
領域51の一対の短辺に沿って投射部3c、3dを、す
なわちスポット光を速度200mm/secで露光終了
位置3c(E)、3d(E)まで移動する。露光パワー
が1000mW/cm2であるので、周辺領域51は2
5mJ/cm2の露光量で露光される。このとき、スポ
ット光の移動距離が605mm(=短辺長さ800mm
−スポット幅50mm×4+5mm)であり、周辺領域
51の長辺を走査する時間は3.025secとなる。
【0018】以上のように周辺露光光による露光合計時
間は23.9secとなる。この露光時間を従来の走査
速度一定方式による露光時間と比較検討する。従来は走
査速度を一定としているから、周辺領域5bは周辺領域
51も周辺領域52も露光量50mJ/cm2で露光す
る必要があり、合計露光時間は31.2secとなる。
したがって、このような従来方式に比べると、本実施の
形態方式では、7.1secの改善がなされる。
【0019】次に、スポット光の長辺×短辺を100m
m×5mmとして周辺領域5bを1回の走査で露光する
方式と対比検討する。この場合、スポット幅の長辺を2
倍に広げたので露光パワーは半分の500mW/cm2
となる。したがって、必要な露光量50mJ/cm2
確保するため周辺露光光の移動速度は100m/sec
となる。長辺方向の走査距離は955mmであり、走査
時間は19.1secとなる。一方、短辺方向の走査距
離は605mmであり、走査時間は12.1secとな
る。したがって、合計露光時間は31.2secとな
る。この方式では長辺と短辺がそれぞれ1回づつの走査
で済むので、折り返し時にスポットを移動する時間が2
回分短縮される。この時間を1secと見積もると、周
辺領域の全露光時間は29.2secとなる。したがっ
て、上記実施の形態に比べると5.2sec長くなる。
【0020】以上のように、周辺領域5bを、感光剤が
薄い周辺領域51と、感光剤が厚い周辺領域52に区画
し、露光パワーを一定とした上で、感光剤が薄い領域を
速い速度で露光し、感光剤が厚い領域を遅い速度で露光
することにより、タクトタイムを短縮することができ、
スループットを向上することができる。
【0021】−露光システムについて− 図8に示す露光システムは、共通のチャンバ30内に上
述した走査型露光装置40と周辺露光装置60とを設置
し、チャンバ30に隣接してコータデベロッパ65をイ
ンライン接続したものである。コータデベロッパ65か
らチャンバ30に搬送された感光性基板Gは、チャンバ
30内に配置されたプレートローダ70により走査型露
光装置40と周辺露光装置60との間を搬送される。
【0022】走査型露光装置40は図9に示すように、
走査方向(X方向)に幅が狭く非走査方向(Y方向)に
細長いスリット照明光を照射する照明光学系41と、露
光パターン(たとえば液晶表示パターン)が形成されて
いるマスクMを保持するマスクステージ42と、5つの
光学モジュール43a〜43eから構成され、スリット
照明光により露光パターンを等倍の正立像として感光性
基板Gに投影する投影光学系43と、露光パターンが投
影される感光性基板Gを保持する基板ステージ44と備
える。図9において、投影光学系43の光軸方向をZ
軸、Z軸に直交する面内でマスクMと感光性基板Gの走
査方向をX軸、X軸およびZ軸と直交する非走査方向を
Y軸とする。以下の図でも同様とする。
【0023】このように構成された走査型露光装置で
は、マスクステージ42と基板ステージ44を同一方向
(X方向)に同期移動しながら、照明光学系41のスリ
ット照明光により露光パターンを感光性基板G上に投影
露光する。感光性基板Gはガラス基板上にフォトレジス
トを塗布したものであり、照明光が照射された部分と照
射されない部分とにより後工程にてフォトレジストの除
去、非除去が制御される。各光学モジュール43a〜4
3eの視野絞りはそれぞれ台形形状であり、図9および
図10に示すように、隣り合う投影領域の端部の三角形
領域が互いに重ね合わされた台形パターンTa〜Teと
して投影される。重ね合わせられる各台形パターンTa
〜Teにおける三角形領域の走査方向(X方向)の開口
幅の合計は等しく設定されている。重ね合わせ領域は2
つの光学モジュールで投影される継ぎ部となって2重露
光される。また、感光性基板Gの長手方向が主走査X方
向に設定するのが好ましい。これは、走査露光長を大き
くすることにより、投影光学系43による投影面積を小
さくしてその光学性能を確保するためである。
【0024】図8に示すように、周辺露光照明系10
は、周辺露光を開始する前にプレートローダ70による
感光性基板Gの搬入位置とは反対側(図8の+Y側)に
位置しており、走査型露光装置40の同期移動方向(X
方向)とは直交するY方向を2回の往復走査(図4から
図7参照)により非パターン部の露光を行っている。こ
のため、周辺露光照明系10は、周辺露光終了後もプレ
ートローダ70による感光性基板Gの搬入位置とは反対
側(図8の+Y側)に位置している。その結果、感光性
基板Gを交換する際にプレートローダ70と周辺露光照
明系10とが干渉する恐れがなく、ひいては、周辺露光
装置60をコンパクトにすることができる。
【0025】また、走査型露光装置40と周辺露光装置
60を同一のチャンバ30内に配置しているので、装置
の小型化および簡素化を図ることができる。さらに、周
辺露光装置60の最大同期速度は200cm/secで
あるが、走査型露光装置40の走査速度は200cm/
secを超えた速度とするのが好ましい。走査型露光装
置40と周辺露光装置60は並行して露光処理を実行す
るので、周辺露光装置60の走査速度が走査型露光装置
40の走査速度よりも大きいと、周辺露光照明系10の
起動、停止時の振動が大きくなって走査型露光装置40
での露光に悪影響を与える。そのため、周辺露光装置6
0の走査速度を走査型露光装置40の走査速度よりも遅
くするのが好ましい。
【0026】上述したように感光性基板Gは800mm
×950mmの大きさで厚さが0.7mm程度のガラス
プレートである。そこで、プレートローダ70で搬送し
て走査型露光装置40のステージ44に移送する際、お
よび周辺露光装置60のステージ4へ移送する際に、図
11〜図13で説明するようなトレイ80を使用するの
が好ましい。プレートローダ70により走査型露光装置
40へ感光性基板Gを搬送し、搬出する場合について図
11〜図13により説明する。
【0027】図11において、プレートローダ70は、
垂直軸を介して連結されたアーム72と、アーム72の
先端に設けられた搬送アーム73と、アーム72を駆動
する駆動装置75とを備えている。搬送アーム73は図
12に示すように一対の腕部73aを有し、この腕部7
3aによりトレイ80の4つのつば81aを下方から保
持することにより感光性基板Gを保持する。
【0028】トレイ80は図13に示すように、感光性
基板Gよりも大きな矩形の外枠81と、この外枠81の
内部に所定間隔で格子状に設けられた複数本の横桟82
aと縦桟82bとを備えている。桟82a,82bには
感光性基板Gの外周部が係合する段差83が設けられ、
この段差83により桟82a、82b上に基板支持部8
4が形成されている。感光性基板Gは基板支持部84に
よりトレイ80に位置決めされて載置される。一方、図
11に示すように、基板ステージ44上に設けられたホ
ルダ441の上面には、桟82a、82bで構成される
格子と相補形状の格子溝、すなわち収納部441aが設
けられている。ホルダ441の上面は感光性基板Gが載
置されたときに感光性基板Gの撓みが発生しないような
平面度に仕上げられている。またこのホルダ441の上
面には真空吸着用の多数の吸気孔が設けられている。
【0029】プレートローダ70の搬送アーム73によ
りトレイ80で保持された感光性基板Gをステージ44
のホルダ441上に搬送する。このとき、ホルダ441
と搬送アーム73の位置関係を調節し、トレイ80の格
子状の桟82a,82bをホルダ441上の格子状溝4
41aに嵌め込ませる。これにより、感光性基板Gがホ
ルダ441の上面に受け渡される。そして、ホルダ44
1の上面の多数の吸気孔から真空吸着する。
【0030】このようにトレイ80を用いて感光性基板
Gを各装置間で授受することにより、大面積で薄い感光
性基板Gの撓みや破損を防止することができる。
【0031】周辺露光装置60の基板ステージ4上に
も、走査型露光装置40と同様に、トレイ80の桟82
a,82bで構成される格子と相補形状の格子溝が設け
られたホルダが設けられる。そして、ホルダの上面は感
光性基板Gが載置されたときに感光性基板Gの撓みが発
生しないような平面度に仕上げられるとともに、真空吸
着用の吸気孔が多数設けられている。したがって、走査
型露光装置40と同様に、トレイ80で保持された感光
性基板Gをホルダ上に搬送して、トレイ80の格子状の
桟がホルダ上の格子状溝に填り込むと、感光性基板Gが
ホルダに受け渡される。
【0032】以上では大型液晶表示パネル用の基板の周
辺露光に際して、感光剤が厚く塗布された周辺領域52
と薄く塗布された周辺領域51の2つに区分した場合に
ついて説明した。しかしながら本発明は、感光剤の厚み
が領域に応じて異なる非パターン領域を有する各種の感
光性基板に対する周辺露光に適用できる。また、レチク
ルを作成する際に非パターン領域に対して行われる周辺
露光に際しても同様に適用することができる。
【0033】さらに以上では、基板の中央部に露光パタ
ーン領域が形成され、露光パターン領域の周囲を取り囲
むように非パターン領域が形成された基板について説明
した。しかしながら、いわゆる日の字形状にパターン領
域と非パターン領域が規定されるような基板でも、非パ
ターン領域における感光剤の厚みが異なる場合には、上
述したと同様に感光剤の厚みに応じて周辺露光光と基板
との相対移動速度を変更して、周辺露光に要する時間を
短縮することができる。
【0034】なお、本実施の形態の周辺露光装置60で
は、1つの超高圧水銀灯1からの光ファイバ3により2
つの光束に分岐したが、これに代えて、超高圧水銀灯1
を2つ設け光ファイバ3を省略してもよい。また、本実
施の形態の走査型露光装置40は、マスクMに形成され
た液晶表示パターンを感光性基板Gに露光する液晶用露
光装置としたが、たとえば、感光性基板Gとしてマスク
M自身を用い、マスクMのパターンを露光するマスク製
造用の露光装置として用いてもよい。この場合、マスク
Mに露光されるパターンは液晶表示パターンのみならず
半導体回路パターンなどにも適用できる。
【0035】なお、本実施の形態においては、走査型露
光装置40のパターン露光に引き続き、周辺露光装置6
0による非パターン露光を行ったが、これに限定される
ことなく、周辺露光装置60による非パターン部の露光
の後に、走査型露光装置40のパターン露光を行っても
よい。
【0036】以上の実施の形態と特許請求の範囲との対
応において、超高圧水銀灯1や光ファイバ3などで構成
される周辺光露光用照明系10が露光部を、走査機構2
1が移動機構を、制御回路26が速度制御回路を、周辺
領域51が第2の区画を、周辺領域52が第1の区画を
それぞれ構成する。
【0037】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、非パター
ン領域の感光剤を露光する際に露光光と基板との相対的
な移動速度を変更するようにしたので、感光剤が薄い領
域を速い速度で露光し、感光剤が厚い領域を遅い速度で
露光することができ、タクトタイムを短縮することがで
き、スループットを向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による周辺露光装置の一実施の形態を示
し、(a)が正面概略図、(b)が上方から周辺露光領
域を見た図
【図2】周辺露光装置の制御系の一例を示す図
【図3】基板上のパターン領域と非パターン領域を説明
する図
【図4】本発明による周辺露光方法を具体的に説明する
【図5】図4に引き続く周辺露光方法を具体的に説明す
る図
【図6】図5に引き続く周辺露光方法を具体的に説明す
る図
【図7】図6に引き続く周辺露光方法を具体的に説明す
る図
【図8】同一のチャンバに収容された走査型露光装置と
周辺露光装置の配置図
【図9】走査型露光装置の概略構成を示す斜視図
【図10】走査型露光装置の投影領域を説明する図
【図11】基板を搬送する基板支持装置の詳細を示す斜
視図
【図12】図11の基板支持装置により走査型露光装置
に基板を搬送する様子を説明する斜視図
【図13】図11の基板支持装置の詳細を示す斜視図
【図14】大型液晶パネルを製造する大型ガラスプレー
トの説明図
【符号の説明】
1:超高圧水銀灯 3:光ファイバ 4:ステージ 5a:パターン領域 5b:非パターン領域 10:周辺露光用照明系 21:走査機構 23:ステージ駆動機構 26:制御回路 30:チャンバ 40:走査型露光装置 44:ステージ 51,52:周辺領域 60:周辺露光装置 70:プレートローダ 80:トレイ 441a:収納部 G:基板 M:マスク

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】パターンが露光されるパターン領域と前記
    パターンが露光されない非パターン領域とを有する感光
    性基板の前記非パターン領域を露光する露光部と、 前記露光部と前記感光性基板とを相対移動させる移動機
    構と、 前記非パターン領域を露光する際に前記移動機構により
    移動速度を変更する速度制御回路とを備えることを特徴
    とする周辺露光装置。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の周辺露光装置において、
    前記非パターン領域は、前記感光性基板に塗布される感
    光剤の厚さに応じて区画された少なくとも2区画を有
    し、 前記速度制御回路は、前記感光剤が厚く塗布された第1
    の区画では前記移動機構を第1の移動速度で移動させ、
    前記感光剤が薄く塗布された第2の区画では前記移動機
    構を第1の移動速度よりも速い第2の移動速度で移動さ
    せることを特徴とする周辺露光装置。
  3. 【請求項3】請求項1または2に記載の周辺露光装置に
    おいて、 前記感光性基板を保持するトレイを介して前記感光性基
    板は前記周辺露光装置のステージに搬送され、 前記感光性基板を保持する前記トレイを収納して前記感
    光性基板を前記ステージ上に受け渡す収納部を前記ステ
    ージに設けたことを特徴とする周辺露光装置。
  4. 【請求項4】パターンが露光されるパターン領域と前記
    パターンが露光されない非パターン領域とを有する感光
    性基板の前記非パターン領域を露光光で露光する周辺露
    光方法において、 前記露光光と前記感光性基板とを相対移動させる移動工
    程と、 前記非パターン領域を露光する際に前記相対移動の速度
    を変更する速度変更工程とを備えることを特徴とする周
    辺露光方法。
  5. 【請求項5】請求項4に記載の周辺露光方法において、
    前記非パターン領域は、前記感光性基板に塗布される感
    光剤の厚さに応じて区画された少なくとも2区画を有
    し、 前記感光剤が厚く塗布された第1の区画では前記相対移
    動の速度を第1の移動速度に設定し、前記感光剤が薄く
    塗布された第2の区画では前記相対移動の速度を第1の
    移動速度よりも速い第2の移動速度に設定することを特
    徴とする周辺露光方法。
  6. 【請求項6】マスクと感光性基板とを同期移動して、前
    記マスクに形成されているパターンを前記感光性基板上
    に露光する走査型露光装置と、 前記感光性基板上の前記パターンが露光されない非パタ
    ーン領域を周辺露光光と前記感光性基板とを相対移動し
    て露光する周辺露光装置とを備え、 前記走査型露光装置と前記周辺露光装置とを同一のチャ
    ンバに収容したことを特徴とする露光システム。
  7. 【請求項7】請求項6に記載の露光システムにおいて、
    前記非パターン領域は、前記感光性基板に塗布される感
    光剤の厚さに応じて区画された少なくとも2区画を有
    し、 前記周辺露光装置は、前記感光剤が厚く塗布された第1
    の区画では前記相対移動を第1の移動速度で行い、前記
    感光剤が薄く塗布された第2の区画では前記相対移動を
    第1の移動速度よりも速い第2の移動速度で行うことを
    特徴とする露光システム。
  8. 【請求項8】請求項6または7に記載の露光システムに
    おいて、 前記周辺露光装置の前記第2の移動速度を前記走査型露
    光装置の走査速度よりも遅く設定したことを特徴とする
    露光システム。
  9. 【請求項9】請求項6に記載の露光システムにおいて、 前記周辺露光装置は、前記非パターン領域を露光する際
    に、前記同期方向とほぼ直交する方向に沿って前記相対
    移動を行うことを特徴とする露光システム。
  10. 【請求項10】請求項6に記載の露光システムにおい
    て、 前記感光性基板を保持するトレイを介して前記感光性基
    板は前記走査型露光装置のステージと前記周辺露光装置
    のステージとの間で搬送され、 前記走査型露光装置のステージと前記周辺露光装置のス
    テージとの少なくとも一方には、前記感光性基板を保持
    する前記トレイを収納して前記感光性基板を前記ステー
    ジ上に受け渡す収納部を設けたことを特徴とする露光シ
    ステム。
JP11225271A 1999-08-09 1999-08-09 周辺露光装置、周辺露光方法および露光システム Pending JP2001052984A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11225271A JP2001052984A (ja) 1999-08-09 1999-08-09 周辺露光装置、周辺露光方法および露光システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11225271A JP2001052984A (ja) 1999-08-09 1999-08-09 周辺露光装置、周辺露光方法および露光システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001052984A true JP2001052984A (ja) 2001-02-23

Family

ID=16826720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11225271A Pending JP2001052984A (ja) 1999-08-09 1999-08-09 周辺露光装置、周辺露光方法および露光システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001052984A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009246069A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd パターン描画装置およびパターン描画方法
WO2013122220A1 (ja) * 2012-02-15 2013-08-22 大日本印刷株式会社 位相シフトマスク及び当該位相シフトマスクを用いたレジストパターン形成方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009246069A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd パターン描画装置およびパターン描画方法
WO2013122220A1 (ja) * 2012-02-15 2013-08-22 大日本印刷株式会社 位相シフトマスク及び当該位相シフトマスクを用いたレジストパターン形成方法
CN104040428A (zh) * 2012-02-15 2014-09-10 大日本印刷株式会社 相移掩模及使用该相移掩模的抗蚀图案形成方法
KR101624435B1 (ko) * 2012-02-15 2016-05-25 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 위상 시프트 마스크 및 그 위상 시프트 마스크를 사용한 레지스트 패턴 형성 방법
TWI569090B (zh) * 2012-02-15 2017-02-01 大日本印刷股份有限公司 相位移遮罩及使用該相位移遮罩之抗蝕劑圖案形成方法
CN109298592A (zh) * 2012-02-15 2019-02-01 大日本印刷株式会社 相移掩模及使用该相移掩模的抗蚀图案形成方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2005215686A (ja) 露光装置
JP2001201863A (ja) 露光装置
JP2001176785A (ja) 周辺露光装置
JP4144059B2 (ja) 走査型露光装置
JP2001052984A (ja) 周辺露光装置、周辺露光方法および露光システム
JPH0545886A (ja) 角形基板の露光装置
JP3175059B2 (ja) 周辺露光装置及び方法
JP2001201862A (ja) 周辺露光装置
US6388737B1 (en) Exposure method and apparatus
TW200842504A (en) Exposure apparatus and device manufacturing method
JP3340720B2 (ja) 周辺露光装置
JPH09283396A (ja) 周辺露光装置および周辺露光方法
JP2004335855A (ja) 露光装置及び露光方法
JP2001305747A (ja) 露光装置及び露光方法
JPH11233428A (ja) 露光装置および素子製造方法
JPH07161628A (ja) 周辺露光装置
JPH03242922A (ja) ウエハ周辺露光方法及びウエハ周辺露光装置
JPH0982633A (ja) 投影露光装置
JP2012114191A (ja) 周辺露光装置及びその方法
JP3219925B2 (ja) 周辺露光装置及び周辺露光方法
JPH10270320A (ja) 露光装置および露光方法
JPH1012696A (ja) 基板搬送装置
KR100589055B1 (ko) 노광 방법 및 이를 수행하기 위한 노광 장치
JP2000267294A (ja) 露光装置
JP3970167B2 (ja) 基板処理方法およびその装置