JP2001035687A - Ｘ線検出装置、ｘ線曝射制御信号発生装置及びｘ線曝射制御信号発生方法 - Google Patents
Ｘ線検出装置、ｘ線曝射制御信号発生装置及びｘ線曝射制御信号発生方法Info
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 撮影時の入射Ｘ線を検出して管電圧補正およ
び体厚補正を行うことが可能なＸ線検出装置を安価に構
成できるようにする。 【解決手段】 Ｘ線受像機で画像を形成して透過したＸ
線を検出するＸ線検出手段を、上記Ｘ線の入射方向に沿
ってｎ個配設し、上記Ｘ線検出手段の出力からＸ線特性
を求め、そのＸ線特性におけるＸ線受像機からＸ線検出
器にいたるまでの物質によるＸ線の減弱を算出し、以っ
てＸ線受像機に対する入射線量を推定できるようにし
て、入射Ｘ線の計測により管電圧特性補正および体厚特
性補正を行うことのできるフォトタイマ用Ｘ線検出器を
構成することができるようにする。
び体厚補正を行うことが可能なＸ線検出装置を安価に構
成できるようにする。 【解決手段】 Ｘ線受像機で画像を形成して透過したＸ
線を検出するＸ線検出手段を、上記Ｘ線の入射方向に沿
ってｎ個配設し、上記Ｘ線検出手段の出力からＸ線特性
を求め、そのＸ線特性におけるＸ線受像機からＸ線検出
器にいたるまでの物質によるＸ線の減弱を算出し、以っ
てＸ線受像機に対する入射線量を推定できるようにし
て、入射Ｘ線の計測により管電圧特性補正および体厚特
性補正を行うことのできるフォトタイマ用Ｘ線検出器を
構成することができるようにする。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＸ線検出装置、Ｘ線
曝射制御信号発生装置及びＸ線曝射制御信号発生方法に
関し、特に、医療用Ｘ線画像撮影における曝射量制御に
関するものである。
曝射制御信号発生装置及びＸ線曝射制御信号発生方法に
関し、特に、医療用Ｘ線画像撮影における曝射量制御に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】医療用Ｘ線画像撮影では、フィルム等の
Ｘ線受像機に対する入射Ｘ線量を制御することによって
画像濃度を調節するフォトタイマ（自動露出制御）撮影
が広く行われている。これは、Ｘ線受像機の前面もしく
は後面に、被写体を透過したＸ線を検出して、Ｘ線の強
度に応じた電気信号に変換する手段を設け、その積分値
が一定値に達したときにＸ線を遮断するものである。
Ｘ線受像機に対する入射Ｘ線量を制御することによって
画像濃度を調節するフォトタイマ（自動露出制御）撮影
が広く行われている。これは、Ｘ線受像機の前面もしく
は後面に、被写体を透過したＸ線を検出して、Ｘ線の強
度に応じた電気信号に変換する手段を設け、その積分値
が一定値に達したときにＸ線を遮断するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】フォトタイマ撮影に用
いられる従来のＸ線検出器は、Ｘ線受像機との前後関係
により前面採光型と後面採光型とに大別される。上記２
つのタイプのうち、前面採光型は、Ｘ線受像機のＸ線源
側にＸ線検出器があり、後面採光型はその逆である。
いられる従来のＸ線検出器は、Ｘ線受像機との前後関係
により前面採光型と後面採光型とに大別される。上記２
つのタイプのうち、前面採光型は、Ｘ線受像機のＸ線源
側にＸ線検出器があり、後面採光型はその逆である。
【０００４】上記前面採光型は、被写体とＸ線受像機の
間にＸ線検出器があるため、Ｘ線検出器によるＸ線吸収
と散乱を抑えなければ画質の低下を起こしてしまう。ま
た、Ｘ線検出器の厚さによっても、被写体とＸ線受像機
の距離の増加から画像に幾何学的ボケを生じる。これら
の問題を解決することが可能な低吸収・薄型・高感度の
Ｘ線検出器は一般に高価である。
間にＸ線検出器があるため、Ｘ線検出器によるＸ線吸収
と散乱を抑えなければ画質の低下を起こしてしまう。ま
た、Ｘ線検出器の厚さによっても、被写体とＸ線受像機
の距離の増加から画像に幾何学的ボケを生じる。これら
の問題を解決することが可能な低吸収・薄型・高感度の
Ｘ線検出器は一般に高価である。
【０００５】それに対して、後面採光型は、画像に対す
る影響を考慮せずに済むため、入射Ｘ線の利用に対する
制約が少ない利点を有している。しかし、Ｘ線受像機
や、上記Ｘ線受像機とＸ線検出器との間にある物質の吸
収により、Ｘ線受像機が受けるＸ線と、Ｘ線検出器が受
けるＸ線とで線質が変わる問題があった。
る影響を考慮せずに済むため、入射Ｘ線の利用に対する
制約が少ない利点を有している。しかし、Ｘ線受像機
や、上記Ｘ線受像機とＸ線検出器との間にある物質の吸
収により、Ｘ線受像機が受けるＸ線と、Ｘ線検出器が受
けるＸ線とで線質が変わる問題があった。
【０００６】このため、管電圧によってＸ線受像機の出
力とＸ線検出器の出力との関係が変化する管電圧依存特
性が発生する。そこで、現在は管球の設定によってＸ線
遮断のしきい値を変えるなどして上記問題を回避してい
る。
力とＸ線検出器の出力との関係が変化する管電圧依存特
性が発生する。そこで、現在は管球の設定によってＸ線
遮断のしきい値を変えるなどして上記問題を回避してい
る。
【０００７】上記のどちらの形式においても、被写体の
フィルタ効果によって管電圧依存と同様の現象が発生す
る。この問題に関しては、体厚を実際に計測することで
被写体のフィルタ効果を見積もり、自動補正する手法が
提案されている。
フィルタ効果によって管電圧依存と同様の現象が発生す
る。この問題に関しては、体厚を実際に計測することで
被写体のフィルタ効果を見積もり、自動補正する手法が
提案されている。
【０００８】しかし、実際には上記被写体のフィルタ効
果の補正は技師の経験により手動で行われているのが現
状である。そこで、自動的に被写体のフィルタ効果を補
正するように構成すると、体厚測定機構の分だけＸ線撮
影装置が機械的に複雑になるという問題があった。
果の補正は技師の経験により手動で行われているのが現
状である。そこで、自動的に被写体のフィルタ効果を補
正するように構成すると、体厚測定機構の分だけＸ線撮
影装置が機械的に複雑になるという問題があった。
【０００９】ところで、Ｘ線特性を評価するという目的
に関していえば、それのみを目的としたＸ線アナライザ
などの装置は従来から存在していた。しかし、上記従来
のＸ線アナライザは、異なるフィルタを被せた複数のＸ
線検出器を平面上に単純にならべた形態をしており、上
記複数のＸ線検出器に均等にＸ線が入射することを前提
としている。
に関していえば、それのみを目的としたＸ線アナライザ
などの装置は従来から存在していた。しかし、上記従来
のＸ線アナライザは、異なるフィルタを被せた複数のＸ
線検出器を平面上に単純にならべた形態をしており、上
記複数のＸ線検出器に均等にＸ線が入射することを前提
としている。
【００１０】したがって、上記従来のＸ線アナライザ
は、被写体の背後におかれるフォトタイマ用Ｘ線検出器
にはそぐわない。なぜならば、一部のＸ線検出器のみが
被写体の低透過率部位に重なると、Ｘ線の特性を正常に
検出できなくなるからである。よって、被写体の構造に
対する依存性を少なくしつつＸ線特性の評価ができるよ
うな工夫が必要であった。
は、被写体の背後におかれるフォトタイマ用Ｘ線検出器
にはそぐわない。なぜならば、一部のＸ線検出器のみが
被写体の低透過率部位に重なると、Ｘ線の特性を正常に
検出できなくなるからである。よって、被写体の構造に
対する依存性を少なくしつつＸ線特性の評価ができるよ
うな工夫が必要であった。
【００１１】本発明は上述の問題点にかんがみ、撮影時
の入射Ｘ線を検出して管電圧補正および体厚補正を行う
ことが可能なＸ線検出装置を安価に構成できるようにす
ることを目的とする。
の入射Ｘ線を検出して管電圧補正および体厚補正を行う
ことが可能なＸ線検出装置を安価に構成できるようにす
ることを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明のＸ線検出装置
は、Ｘ線受像機で画像を形成して透過したＸ線を検出す
るＸ線検出手段を、上記Ｘ線の入射方向に沿ってｎ個配
設したことを特徴としている。また、本発明のＸ線検出
装置の他の特徴とするところは、上記Ｘ線検出手段は、
Ｘ線受像機で画像を形成して透過したＸ線を検出するＸ
線検出器と、上記Ｘ線検出器の直後に置かれるフィルタ
とからなることを特徴としている。また、本発明のＸ線
検出装置のその他の特徴とするところは、上記Ｘ線検出
器をｎ個、上記フィルタを（ｎ−１）個配置したことを
特徴としている。また、本発明のＸ線検出装置のその他
の特徴とするところは、上記複数のＸ線検出器は、それ
ぞれ上記フィルタを兼ねることを特徴としている。ま
た、本発明のＸ線検出装置のその他の特徴とするところ
は、上記Ｘ線検出器の出力から入射Ｘ線の特性を検出
し、上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検出器の間に存在する
物質による吸収を補正した線量率を算出する線量率変換
手段を具備することを特徴としている。また、本発明の
Ｘ線検出装置のその他の特徴とするところは、Ｘ線を放
射する管球の電圧を設定する管電圧設定手段と、上記複
数のＸ線検出器の出力から入射Ｘ線の特性を検出する入
射Ｘ線特性検出手段と、上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検
出器の間に存在する物質による吸収を補正した線量率を
算出する線量率算出手段とを具備することを特徴として
いる。
は、Ｘ線受像機で画像を形成して透過したＸ線を検出す
るＸ線検出手段を、上記Ｘ線の入射方向に沿ってｎ個配
設したことを特徴としている。また、本発明のＸ線検出
装置の他の特徴とするところは、上記Ｘ線検出手段は、
Ｘ線受像機で画像を形成して透過したＸ線を検出するＸ
線検出器と、上記Ｘ線検出器の直後に置かれるフィルタ
とからなることを特徴としている。また、本発明のＸ線
検出装置のその他の特徴とするところは、上記Ｘ線検出
器をｎ個、上記フィルタを（ｎ−１）個配置したことを
特徴としている。また、本発明のＸ線検出装置のその他
の特徴とするところは、上記複数のＸ線検出器は、それ
ぞれ上記フィルタを兼ねることを特徴としている。ま
た、本発明のＸ線検出装置のその他の特徴とするところ
は、上記Ｘ線検出器の出力から入射Ｘ線の特性を検出
し、上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検出器の間に存在する
物質による吸収を補正した線量率を算出する線量率変換
手段を具備することを特徴としている。また、本発明の
Ｘ線検出装置のその他の特徴とするところは、Ｘ線を放
射する管球の電圧を設定する管電圧設定手段と、上記複
数のＸ線検出器の出力から入射Ｘ線の特性を検出する入
射Ｘ線特性検出手段と、上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検
出器の間に存在する物質による吸収を補正した線量率を
算出する線量率算出手段とを具備することを特徴として
いる。
【００１３】本発明のＸ線曝射制御信号発生装置は、Ｘ
線を放射する管球と、上記管球に印加する電圧を設定す
る管電圧設定手段と、上記管球から放射されたＸ線で画
像を形成するためのＸ線受像機と、上記Ｘ線の入射方向
に沿って配設されたＸ線検出手段と、上記Ｘ線検出器の
出力から入射Ｘ線の特性を検出する入射Ｘ線特性検出手
段と、上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検出器の間に存在す
る物質による吸収を補正した線量率を算出する線量率算
出手段と、上記線量率算出手段の出力を積分する積分手
段と、上記積分手段の出力と、予め設定されている所定
の濃度設定値とを比較して、上記比較結果に基づいてＸ
線曝射制御信号を生成するＸ線曝射制御信号生成手段と
を具備することを特徴としている。
線を放射する管球と、上記管球に印加する電圧を設定す
る管電圧設定手段と、上記管球から放射されたＸ線で画
像を形成するためのＸ線受像機と、上記Ｘ線の入射方向
に沿って配設されたＸ線検出手段と、上記Ｘ線検出器の
出力から入射Ｘ線の特性を検出する入射Ｘ線特性検出手
段と、上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検出器の間に存在す
る物質による吸収を補正した線量率を算出する線量率算
出手段と、上記線量率算出手段の出力を積分する積分手
段と、上記積分手段の出力と、予め設定されている所定
の濃度設定値とを比較して、上記比較結果に基づいてＸ
線曝射制御信号を生成するＸ線曝射制御信号生成手段と
を具備することを特徴としている。
【００１４】本発明のＸ線曝射制御信号発生方法は、Ｘ
線検出器の出力からＸ線特性を求め、上記Ｘ線特性にお
けるＸ線受像機からＸ線検出器にいたるまでの物質によ
るＸ線の減弱を算出し、上記Ｘ線受像機に対する入射線
量を推定し、上記推定結果に基づいてＸ線曝射制御信号
を出力することを特徴としている。
線検出器の出力からＸ線特性を求め、上記Ｘ線特性にお
けるＸ線受像機からＸ線検出器にいたるまでの物質によ
るＸ線の減弱を算出し、上記Ｘ線受像機に対する入射線
量を推定し、上記推定結果に基づいてＸ線曝射制御信号
を出力することを特徴としている。
【００１５】
【作用】本発明は上記技術手段を有するので、Ｘ線の入
射方向に沿って配設されたｎ個のＸ線検出手段が、Ｘ線
受像機で画像を形成して透過したＸ線を検出することに
より、撮影対象のフィルタ効果による線質の変化や、Ｘ
線発生装置の管電圧設定の変更により、Ｘ線検出器の出
力と撮影されたＸ線画像との相関に変動が生じる現象を
校正する機能を持ったＸ線検出装置を安価に提供するこ
とが可能となる。
射方向に沿って配設されたｎ個のＸ線検出手段が、Ｘ線
受像機で画像を形成して透過したＸ線を検出することに
より、撮影対象のフィルタ効果による線質の変化や、Ｘ
線発生装置の管電圧設定の変更により、Ｘ線検出器の出
力と撮影されたＸ線画像との相関に変動が生じる現象を
校正する機能を持ったＸ線検出装置を安価に提供するこ
とが可能となる。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態を説明する。図１に、本発明の実施の形態
のＸ線検出装置の構成例を示す。これは、Ｘ線源の管電
圧設定と画像の希望濃度とを入力とし、Ｘ線遮断信号を
出力とするフォトタイマ撮影用曝射制御器である。
の実施の形態を説明する。図１に、本発明の実施の形態
のＸ線検出装置の構成例を示す。これは、Ｘ線源の管電
圧設定と画像の希望濃度とを入力とし、Ｘ線遮断信号を
出力とするフォトタイマ撮影用曝射制御器である。
【００１７】図１において、１はＸ線受像機である。本
実施の形態におけるＸ線受像機はシンチレータ１ａと固
体光センサアレイ１ｂとからなる。
実施の形態におけるＸ線受像機はシンチレータ１ａと固
体光センサアレイ１ｂとからなる。
【００１８】このＸ線受像機１は、シンチレータ１ａが
入射したＸ線によって励起され、可視領域で蛍光を発
し、それを固体光センサアレイ１ｂが検出して画像を形
成する機構で動作する。
入射したＸ線によって励起され、可視領域で蛍光を発
し、それを固体光センサアレイ１ｂが検出して画像を形
成する機構で動作する。
【００１９】上記固体光センサアレイ１ｂの例として、
ここではガラス基板上に形成したアモルファスシリコン
などの半導体受光素子を取り上げる。もちろん、本発明
の応用はこれに制約されるものではなく、従来からのス
クリーン／フィルム系のＸ線受像機１を使用してもよ
い。
ここではガラス基板上に形成したアモルファスシリコン
などの半導体受光素子を取り上げる。もちろん、本発明
の応用はこれに制約されるものではなく、従来からのス
クリーン／フィルム系のＸ線受像機１を使用してもよ
い。
【００２０】図１中の２及び３はＸ線検出器である。各
Ｘ線検出器２、３は、シンチレータ２ａ、３ａと固体光
センサ２ｂ、３ｂとからなる。これらのＸ線検出器２、
３は、上述したＸ線受像機１と同様の機構でＸ線を検出
する。ここで、固体光センサ２ｂ，３ｂはガラス基板上
に形成された半導体受光素子であり、特に、固体光セン
サ２ｂは本実施の形態においてはＸ線検出器とフィルタ
との両方を兼ねている。
Ｘ線検出器２、３は、シンチレータ２ａ、３ａと固体光
センサ２ｂ、３ｂとからなる。これらのＸ線検出器２、
３は、上述したＸ線受像機１と同様の機構でＸ線を検出
する。ここで、固体光センサ２ｂ，３ｂはガラス基板上
に形成された半導体受光素子であり、特に、固体光セン
サ２ｂは本実施の形態においてはＸ線検出器とフィルタ
との両方を兼ねている。
【００２１】Ｘ線検出器２，３の出力は、線量率変換手
段４に入力され、線量率変換手段４からはＸ線受像機１
に対する入射線量の推定値が出力される。例えば、体厚
依存特性と管電圧依存特性とが類似の様相を呈するなら
ば、線量率変換手段４の入力はＸ線検出器２，３の２出
力のみでよく、これらの２つの依存特性を同時に補正し
たことになる。
段４に入力され、線量率変換手段４からはＸ線受像機１
に対する入射線量の推定値が出力される。例えば、体厚
依存特性と管電圧依存特性とが類似の様相を呈するなら
ば、線量率変換手段４の入力はＸ線検出器２，３の２出
力のみでよく、これらの２つの依存特性を同時に補正し
たことになる。
【００２２】さもなければ、Ｘ線検出器の数を増やして
Ｘ線特性を詳細に調べて２つの依存特性を独立に補正す
るか、管電圧設定を外部から与えて補正する。この実施
の形態では後者の手法を用いている。すなわち、管電圧
設定情報７を線量率変換手段４に入力として加え、線量
率を算出するようにしている。
Ｘ線特性を詳細に調べて２つの依存特性を独立に補正す
るか、管電圧設定を外部から与えて補正する。この実施
の形態では後者の手法を用いている。すなわち、管電圧
設定情報７を線量率変換手段４に入力として加え、線量
率を算出するようにしている。
【００２３】線量率変換手段４の出力は、積分器５にて
積分される。そして、積分器５の出力は、Ｘ線受像機１
が出力する画像の濃度を反映するので、比較器６におい
てこれを希望濃度情報８と比較する。
積分される。そして、積分器５の出力は、Ｘ線受像機１
が出力する画像の濃度を反映するので、比較器６におい
てこれを希望濃度情報８と比較する。
【００２４】この比較の結果、積分器５による積分値が
希望濃度を越えるとＸ線遮断信号９が発生する。このＸ
線遮断信号９が、Ｘ線発生装置に伝えられ、Ｘ線の放射
が遮断される。
希望濃度を越えるとＸ線遮断信号９が発生する。このＸ
線遮断信号９が、Ｘ線発生装置に伝えられ、Ｘ線の放射
が遮断される。
【００２５】以上説明したように、本実施の形態のＸ線
検出装置によれば、第１のＸ線検出器で検出されたＸ線
は第１のフィルタによって減弱され、透過力の高いＸ線
のみが第２のＸ線検出器に検出される。
検出装置によれば、第１のＸ線検出器で検出されたＸ線
は第１のフィルタによって減弱され、透過力の高いＸ線
のみが第２のＸ線検出器に検出される。
【００２６】以下、後方のＸ線検出器になるほどより透
過力の高いＸ線のみを検出する。各Ｘ線検出器の出力
は、線量率変換手段にかけられて線量率に変換される。
この線量率変換の内容は、各Ｘ線検出器の出力からＸ線
特性を求め、そのＸ線特性におけるＸ線受像機以下第１
のＸ線検出器にいたるまでの物質によるＸ線の減弱を算
出し、以ってＸ線受像機に対する入射線量を推定できる
ように予め実験等により求められている。
過力の高いＸ線のみを検出する。各Ｘ線検出器の出力
は、線量率変換手段にかけられて線量率に変換される。
この線量率変換の内容は、各Ｘ線検出器の出力からＸ線
特性を求め、そのＸ線特性におけるＸ線受像機以下第１
のＸ線検出器にいたるまでの物質によるＸ線の減弱を算
出し、以ってＸ線受像機に対する入射線量を推定できる
ように予め実験等により求められている。
【００２７】また、全Ｘ線検出器がＸ線の入射方向に積
層され、同一面積を占めることは、全てのＸ線検出器が
被写体の同一部位の構造を反映していることを意味して
いる。これにより、この面積内の被写体の構造によら
ず、面積内における平均的なＸ線特性が得られる。
層され、同一面積を占めることは、全てのＸ線検出器が
被写体の同一部位の構造を反映していることを意味して
いる。これにより、この面積内の被写体の構造によら
ず、面積内における平均的なＸ線特性が得られる。
【００２８】以上の動作によって、入射Ｘ線の特性と入
射線量を知ることができる。なお、各Ｘ線検出器・フィ
ルタ対は、Ｘ線を検出しながら減弱して次の層のＸ線検
出器に伝えることがその機能であり、Ｘ線検出器とフィ
ルタが物理的に同一であったり不可分な構造であったり
してもよい。
射線量を知ることができる。なお、各Ｘ線検出器・フィ
ルタ対は、Ｘ線を検出しながら減弱して次の層のＸ線検
出器に伝えることがその機能であり、Ｘ線検出器とフィ
ルタが物理的に同一であったり不可分な構造であったり
してもよい。
【００２９】また、Ｘ線検出器の個数は多いほどＸ線特
性を詳細に知ることができるが、実用上差し支えない範
囲で減らすことができる。たとえば、Ｘ線受像機やフィ
ルタの減弱を適当な値に調節すれば、Ｘ線検出器は最低
限２個あれば動作する。
性を詳細に知ることができるが、実用上差し支えない範
囲で減らすことができる。たとえば、Ｘ線受像機やフィ
ルタの減弱を適当な値に調節すれば、Ｘ線検出器は最低
限２個あれば動作する。
【００３０】図２は、本実施の形態の具体的な形態を示
す図である。図２において、Ｘ線検出器２，３は基板１
０上に取り付けられ、基板１０上の図示しない計測アン
プによってその信号が増幅される。
す図である。図２において、Ｘ線検出器２，３は基板１
０上に取り付けられ、基板１０上の図示しない計測アン
プによってその信号が増幅される。
【００３１】計測アンプによって増幅された信号は、信
号線１１によって伝送され、基板１５上に実装されたＡ
Ｄ変換器１２によってデジタル値に変換される。上記Ａ
Ｄ変換器１２は、マイコン１３によって一定周期で駆動
されており、その出力はマイコン１３に取り込まれる。
駆動の周期は、撮影時間に対して十分短い時間、たとえ
ば０．５ｍｓｅｃ程度が望ましい。
号線１１によって伝送され、基板１５上に実装されたＡ
Ｄ変換器１２によってデジタル値に変換される。上記Ａ
Ｄ変換器１２は、マイコン１３によって一定周期で駆動
されており、その出力はマイコン１３に取り込まれる。
駆動の周期は、撮影時間に対して十分短い時間、たとえ
ば０．５ｍｓｅｃ程度が望ましい。
【００３２】図１で示した線量率変換手段４、積分器
５、及び比較器６は、マイコン１３内においてソフトウ
ェアで構成される。ソフトウェアはＸ線検出器２，３の
出力から線量率の推定値を導き出すようなテーブルを持
っていてもよい。また、それとは逆に、これらの入出力
関係を表す数学モデルを実装してこれを計算させてもよ
い。
５、及び比較器６は、マイコン１３内においてソフトウ
ェアで構成される。ソフトウェアはＸ線検出器２，３の
出力から線量率の推定値を導き出すようなテーブルを持
っていてもよい。また、それとは逆に、これらの入出力
関係を表す数学モデルを実装してこれを計算させてもよ
い。
【００３３】いずれにしても、どのような手法を用いる
かは、マイコン１３の演算速度とメモリ容量とのトレー
ドオフによって決定される。管電圧設定情報７や希望濃
度情報８は、信号線１４からマイコン１３に入力され
る。希望濃度情報８と積分値の比較によってＸ線遮断信
号９が発生する。
かは、マイコン１３の演算速度とメモリ容量とのトレー
ドオフによって決定される。管電圧設定情報７や希望濃
度情報８は、信号線１４からマイコン１３に入力され
る。希望濃度情報８と積分値の比較によってＸ線遮断信
号９が発生する。
【００３４】以上の実施の形態において、Ｘ線検出器
２，３はシンチレータ２ａ，３ａと固体光センサ２ｂ，
３ｂからなっていたが必ずしもこれに限る必要はなく、
たとえば結晶シリコン半導体によって直接検出してもよ
い。また、本実施の形態では固体光センサの基板１０は
フィルタと兼ねていたが、透過特性の調節のために別に
フィルタを挿入してもよい。
２，３はシンチレータ２ａ，３ａと固体光センサ２ｂ，
３ｂからなっていたが必ずしもこれに限る必要はなく、
たとえば結晶シリコン半導体によって直接検出してもよ
い。また、本実施の形態では固体光センサの基板１０は
フィルタと兼ねていたが、透過特性の調節のために別に
フィルタを挿入してもよい。
【００３５】また、信号線１４は、管電圧設定情報７や
希望濃度情報８の入力のために用いるとなっているが、
既に述べたとおり、管電圧設定情報はフィルタの構成な
どによっては省略できる場合もある。
希望濃度情報８の入力のために用いるとなっているが、
既に述べたとおり、管電圧設定情報はフィルタの構成な
どによっては省略できる場合もある。
【００３６】また、信号線１４は入力のみに限る必要は
なく、双方向にする構成もある。たとえば、Ｘ線検出器
の出力波形や出力時間、算出された体厚補正係数、管電
圧補正係数などを外部に出力するなどは好ましいアプリ
ケーションである。
なく、双方向にする構成もある。たとえば、Ｘ線検出器
の出力波形や出力時間、算出された体厚補正係数、管電
圧補正係数などを外部に出力するなどは好ましいアプリ
ケーションである。
【００３７】また、本実施の形態においては、Ｘ線検出
器は１セットのみを示しているが、従来のフォトタイマ
システムと同様、複数の検出領域を使用することも好ま
しい。
器は１セットのみを示しているが、従来のフォトタイマ
システムと同様、複数の検出領域を使用することも好ま
しい。
【００３８】（本発明の他の実施形態）本発明は複数の
機器（例えば、ホストコンピュータ、インタフェース機
器、リーダ、プリンタ等）から構成されるシステムに適
用しても１つの機器からなる装置に適用しても良い。
機器（例えば、ホストコンピュータ、インタフェース機
器、リーダ、プリンタ等）から構成されるシステムに適
用しても１つの機器からなる装置に適用しても良い。
【００３９】また、上述した実施形態の機能を実現する
ように各種のデバイスを動作させるように、上記各種デ
バイスと接続された装置あるいはシステム内のコンピュ
ータに対し、上記実施形態の機能を実現するためのソフ
トウェアのプログラムコードを供給し、そのシステムあ
るいは装置のコンピュータ（ＣＰＵあるいはＭＰＵ）に
格納されたプログラムに従って上記各種デバイスを動作
させることによって実施したものも、本発明の範疇に含
まれる。
ように各種のデバイスを動作させるように、上記各種デ
バイスと接続された装置あるいはシステム内のコンピュ
ータに対し、上記実施形態の機能を実現するためのソフ
トウェアのプログラムコードを供給し、そのシステムあ
るいは装置のコンピュータ（ＣＰＵあるいはＭＰＵ）に
格納されたプログラムに従って上記各種デバイスを動作
させることによって実施したものも、本発明の範疇に含
まれる。
【００４０】また、この場合、上記ソフトウェアのプロ
グラムコード自体が上述した実施形態の機能を実現する
ことになり、そのプログラムコード自体、およびそのプ
ログラムコードをコンピュータに供給するための手段、
例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体は本
発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶する記
憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハードデ
ィスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、
磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用い
ることができる。
グラムコード自体が上述した実施形態の機能を実現する
ことになり、そのプログラムコード自体、およびそのプ
ログラムコードをコンピュータに供給するための手段、
例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体は本
発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶する記
憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハードデ
ィスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、
磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用い
ることができる。
【００４１】また、コンピュータが供給されたプログラ
ムコードを実行することにより、上述の実施形態の機能
が実現されるだけでなく、そのプログラムコードがコン
ピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティング
システム）あるいは他のアプリケーションソフト等の共
同して上述の実施形態の機能が実現される場合にもかか
るプログラムコードは本発明の実施形態に含まれること
は言うまでもない。
ムコードを実行することにより、上述の実施形態の機能
が実現されるだけでなく、そのプログラムコードがコン
ピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティング
システム）あるいは他のアプリケーションソフト等の共
同して上述の実施形態の機能が実現される場合にもかか
るプログラムコードは本発明の実施形態に含まれること
は言うまでもない。
【００４２】さらに、供給されたプログラムコードがコ
ンピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続され
た機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そ
のプログラムコードの指示に基づいてその機能拡張ボー
ドや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の手段の
一部または全部を行い、その手段によって上述した実施
形態の機能が実現される場合にも本発明に含まれること
は言うまでもない。
ンピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続され
た機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そ
のプログラムコードの指示に基づいてその機能拡張ボー
ドや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の手段の
一部または全部を行い、その手段によって上述した実施
形態の機能が実現される場合にも本発明に含まれること
は言うまでもない。
【００４３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
入射Ｘ線の計測により管電圧特性補正及び体厚特性補正
を行うことのできるフォトタイマ用Ｘ線検出器を構成す
ることができる。
入射Ｘ線の計測により管電圧特性補正及び体厚特性補正
を行うことのできるフォトタイマ用Ｘ線検出器を構成す
ることができる。
【００４４】また、上記管電圧特性補正及び体厚特性補
正は、体厚測定機構などの事前の入力を必要とせず、ま
たＸ線の検出領域に被写体の構造が映り込んでいても有
効である。よって、従来は技師の経験によって手動で行
われていたこれらの補正を自動化することが可能とな
り、フォトタイマには希望する画像の濃度をそのまま設
定すれば良くなる。これらの結果、医療現場での技師の
負担を軽減することが可能なＸ線検出装置を安価に提供
することができる。
正は、体厚測定機構などの事前の入力を必要とせず、ま
たＸ線の検出領域に被写体の構造が映り込んでいても有
効である。よって、従来は技師の経験によって手動で行
われていたこれらの補正を自動化することが可能とな
り、フォトタイマには希望する画像の濃度をそのまま設
定すれば良くなる。これらの結果、医療現場での技師の
負担を軽減することが可能なＸ線検出装置を安価に提供
することができる。
【図１】本発明の実施の形態のＸ線検出装置の構成例を
示す図である。
示す図である。
【図２】実施の形態の具体的な構成例を示す図である。
１ Ｘ線受像機 １ａ シンチレータ １ｂ 固体光センサアレイ ２ Ｘ線検出器 ３ Ｘ線検出器 ２ａ シンチレータ ３ａ シンチレータ ２ｂ 固体光センサ ３ｂ 固体光センサ ４ 線量率変換手段 ５ 積分器 ６ 比較器 ７ 管電圧設定情報 ８ 希望濃度情報 ９ Ｘ線遮断信号 １０ 基板 １１ 信号線 １２ ＡＤ変換器 １３ マイコン １４ 信号線 １５ 基板
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０１Ｔ 1/36 Ｇ０１Ｔ 1/36 Ｄ Ｈ０５Ｇ 1/26 Ｈ０５Ｇ 1/26 Ｅ Ｆターム(参考） 2G088 EE01 FF02 FF15 GG19 JJ01 JJ08 JJ30 KK24 KK29 LL05 LL08 LL26 4C092 AB11 AC01 CC03 CC14 CD02 CD06 CF24 DD04 4C093 AA05 CA32 CA35 EB12 EB18 EB30 FA19 FA45 FA59 FC17 FC23
Claims (8)
- 【請求項１】 Ｘ線受像機で画像を形成して透過したＸ
線を検出するＸ線検出手段を、上記Ｘ線の入射方向に沿
ってｎ個配設したことを特徴とするＸ線検出装置。 - 【請求項２】 上記Ｘ線検出手段は、Ｘ線受像機で画像
を形成して透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、上記
Ｘ線検出器の直後に置かれるフィルタとからなることを
特徴とする請求項１に記載のＸ線検出装置。 - 【請求項３】 上記Ｘ線検出器をｎ個、上記フィルタを
（ｎ−１）個配置したことを特徴とする請求項２に記載
のＸ線検出装置。 - 【請求項４】 上記複数のＸ線検出器は、それぞれ上記
フィルタを兼ねることを特徴とする請求項２または３に
記載のＸ線検出装置。 - 【請求項５】 上記Ｘ線検出器の出力から入射Ｘ線の特
性を検出し、上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検出器の間に
存在する物質による吸収を補正した線量率を算出する線
量率変換手段を具備することを特徴とする請求項２〜４
の何れか１項に記載のＸ線検出装置。 - 【請求項６】 Ｘ線を放射する管球の電圧を設定する管
電圧設定手段と、 上記複数のＸ線検出器の出力から入射Ｘ線の特性を検出
する入射Ｘ線特性検出手段と、 上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検出器の間に存在する物質
による吸収を補正した線量率を算出する線量率算出手段
とを具備することを特徴とする請求項２〜５の何れか１
項に記載のＸ線検出装置。 - 【請求項７】 Ｘ線を放射する管球と、 上記管球に印加する電圧を設定する管電圧設定手段と、 上記管球から放射されたＸ線で画像を形成するためのＸ
線受像機と、 上記Ｘ線の入射方向に沿って配設されたＸ線検出手段
と、 上記Ｘ線検出器の出力から入射Ｘ線の特性を検出する入
射Ｘ線特性検出手段と、 上記Ｘ線受像機から上記Ｘ線検出器の間に存在する物質
による吸収を補正した線量率を算出する線量率算出手段
と、 上記線量率算出手段の出力を積分する積分手段と、 上記積分手段の出力と、予め設定されている所定の濃度
設定値とを比較して、上記比較結果に基づいてＸ線曝射
制御信号を生成するＸ線曝射制御信号生成手段とを具備
することを特徴とするＸ線曝射制御信号発生装置。 - 【請求項８】 Ｘ線検出器の出力からＸ線特性を求め、
上記Ｘ線特性におけるＸ線受像機からＸ線検出器にいた
るまでの物質によるＸ線の減弱を算出し、上記Ｘ線受像
機に対する入射線量を推定し、上記推定結果に基づいて
Ｘ線曝射制御信号を出力することを特徴とするＸ線曝射
制御信号発生方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20948299A JP2001035687A (ja) | 1999-07-23 | 1999-07-23 | Ｘ線検出装置、ｘ線曝射制御信号発生装置及びｘ線曝射制御信号発生方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20948299A JP2001035687A (ja) | 1999-07-23 | 1999-07-23 | Ｘ線検出装置、ｘ線曝射制御信号発生装置及びｘ線曝射制御信号発生方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001035687A true JP2001035687A (ja) | 2001-02-09 |
Family
ID=16573576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20948299A Pending JP2001035687A (ja) | 1999-07-23 | 1999-07-23 | Ｘ線検出装置、ｘ線曝射制御信号発生装置及びｘ線曝射制御信号発生方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001035687A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007213979A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Shimadzu Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP2008530750A (ja) * | 2005-02-11 | 2008-08-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ線システムにおける線量率の制御 |
| JP2014087513A (ja) * | 2012-10-31 | 2014-05-15 | Konica Minolta Inc | 放射線画像撮影システム |
| KR102399718B1 (ko) * | 2021-08-24 | 2022-05-19 | 주식회사 네프 | X선을 이용한 구조물의 결함 검사 시스템의 x선 출력 제어 방법 |
| US11585768B1 (en) | 2021-08-24 | 2023-02-21 | Neuf Inc. | System and method for inspecting defects of structure by using x-ray |
-
1999
- 1999-07-23 JP JP20948299A patent/JP2001035687A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008530750A (ja) * | 2005-02-11 | 2008-08-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ線システムにおける線量率の制御 |
| JP2007213979A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Shimadzu Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP2014087513A (ja) * | 2012-10-31 | 2014-05-15 | Konica Minolta Inc | 放射線画像撮影システム |
| KR102399718B1 (ko) * | 2021-08-24 | 2022-05-19 | 주식회사 네프 | X선을 이용한 구조물의 결함 검사 시스템의 x선 출력 제어 방법 |
| US11585768B1 (en) | 2021-08-24 | 2023-02-21 | Neuf Inc. | System and method for inspecting defects of structure by using x-ray |
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