JP2001033597A - シンチレータパネル及び放射線イメージセンサ - Google Patents
シンチレータパネル及び放射線イメージセンサInfo
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Abstract
れるシンチレータパネルを提供する。 【解決手段】 シンチレータパネル10は、基板12
と、基板12上に設けられたシンチレータ14とを備え
て構成される。基板12は、グラファイトを主成分とし
た平板であって、その内部にはアモルファスカーボンが
含浸されている。より具体的には、基板12を構成する
グラファイト粒子12aの間隙をアモルファスカーボン
12bが埋めている。シンチレータ14は、基板12の
一方の主面側に形成されている。基板12とシンチレー
タ14との周囲には、基板12とシンチレータ14とを
覆う光透過性の保護膜16が形成されている。保護膜1
6は、ポリパラキシリレンからなり、主としてシンチレ
ータ14を湿気から保護する。
Description
ル及び放射線イメージセンサに関するものである。
置においては、入射した放射線像を可視像に変換するシ
ンチレータパネルと当該シンチレータパネルから出力さ
れた可視像を撮像する撮像素子とを備えた放射線イメー
ジセンサが広く用いられている。上記シンチレータパネ
ルは、基板の一方の主面にCsI等のシンチレーション
物質を堆積させて構成され、他方の主面側から入射して
基板を透過した放射線像をシンチレーション物質によっ
て可視像に変換して出力する。また、シンチレータパネ
ルから出力された可視像は、撮像素子によって撮像され
る。上記基板は、特公平7−21560号公報に開示さ
れているように、アルミニウム等によって構成されるこ
とが多い。また、放射線の透過率をさらに高めて明瞭な
出力イメージをX線撮像装置により得るべく、上記基板
をアモルファスカーボンで構成することが、例えば特開
平7−209495号公報、特開平5−299044号
公報に開示されている。
にかかるシンチレータパネルには、以下に示すような問
題点があった。すなわち、基板をアルミニウムによって
構成したシンチレータパネルは、比較的安価に製造する
ことができるが、当該基板の放射線透過率を十分に高め
ることができず、十分に明瞭な出力イメージを得ること
ができない。一方、シンチレータパネルの基板をアモル
ファスカーボンによって構成すると、基板の放射線透過
率を高めることができ、明瞭な出力イメージを得ること
ができるが、製造コストが多大となる。
きるとともに、明瞭な出力イメージを得ることができる
シンチレータパネル及び放射線イメージセンサを提供す
ることを課題とする。
に、本発明のシンチレータパネルは、炭素を主成分とし
て構成された基板と、上記基板上に設けられたシンチレ
ータとを備え、上記基板の内部には、アモルファスカー
ボン、ポリイミド、SiC、BN、Si3N4、B4Cか
らなる群の中から選択される1以上の物質が含浸されて
いることを特徴としている。
ることで、アルミニウム製の基板と比較して極めて高い
放射線透過率を得ることが可能となる。また、炭素を主
成分として構成された基板にアモルファスカーボン、ポ
リイミド、SiC、BN、Si3N4、B4Cからなる群
の中から選択される1以上の物質を含浸させることで、
基板全体をアモルファスカーボンで構成する場合と比較
して、当該基板を極めて安価に構成することが可能とな
る。
のシンチレータパネルは、炭素を主成分として構成され
た基板と、上記基板上に設けられたシンチレータとを備
え、上記基板の少なくとも一方の主面には、アモルファ
スカーボン、ポリイミド、SiC、BN、Si3N4、B
4Cからなる群の中から選択される1以上の物質からな
る層が形成されていることを特徴としてもよい。
ることで、アルミニウム製の基板と比較して極めて高い
放射線透過率を得ることが可能となる。また、炭素を主
成分として構成された基板の少なくとも一方の主面にア
モルファスカーボン、ポリイミド、SiC、BN、Si
3N4、B4Cからなる群の中から選択される1以上の物
質からなる層を形成することで、基板全体をアモルファ
スカーボンで構成する場合と比較して、当該基板を極め
て安価に構成することが可能となる。
のシンチレータパネルは、炭素を主成分として構成され
た基板と、上記基板上に設けられたシンチレータとを備
え、上記基板の内部には、アモルファスカーボン、ポリ
イミド、SiC、BN、Si 3N4、B4Cからなる群の
中から選択される1以上の物質が含浸されており、上記
基板の少なくとも一方の主面には、アモルファスカーボ
ン、ポリイミド、SiC、BN、Si3N4、B4Cから
なる群の中から選択される1以上の物質からなる層が形
成されていることを特徴としてもよい。
ることで、アルミニウム製の基板と比較して極めて高い
放射線透過率を得ることが可能となる。また、炭素を主
成分として構成された基板にアモルファスカーボン、ポ
リイミド、SiC、BN、Si3N4、B4Cからなる群
の中から選択される1以上の物質を含浸させ、基板の少
なくとも一方の主面にアモルファスカーボン、ポリイミ
ド、SiC、BN、Si3N4、B4Cからなる群の中か
ら選択される1以上の物質の層を形成することで、基板
全体をアモルファスカーボンで構成する場合と比較し
て、当該基板を極めて安価に構成することが可能とな
る。
ては、上記シンチレータを覆う光透過性の保護膜をさら
に備えたことを特徴としてもよい。
ンチレータを保護することが可能となる。
ては、上記シンチレータと上記基板とを覆う光透過性の
保護膜をさらに備えたことを特徴としてもよい。
ンチレータを保護することが可能となる。特に、基板を
も保護膜で覆うことにより、基板側から侵入する湿気か
らをもシンチレータを保護することが可能となる。
ては、上記基板は、グラファイトを主成分として構成さ
れることを特徴としてもよい。
ることで、当該基板を極めて安価に構成することが可能
となる。
線イメージセンサは、上述のシンチレータパネルと、上
記シンチレータに対向して配置された撮像素子とを備え
たことを特徴としている。
備えることで、シンチレータパネルから出力される明瞭
な出力イメージを撮像素子によって撮像することが可能
となる。また、上述の基板を安価に構成することができ
るため、放射線イメージセンサをも安価に構成すること
が可能となる。
シンチレータパネルについて、図面を参照して説明す
る。まず、本実施形態にかかるシンチレータパネルの構
成について説明する。図1は本実施形態にかかるシンチ
レータパネルの模式断面図である。
0は、基板12と、基板12上に設けられたシンチレー
タ14とを備えて構成される。
有し、グラファイトを主成分として構成されている。こ
こで、当該基板12の内部には、アモルファスカーボン
が含浸されている。より具体的には、図1に模式的に表
したように、基板12を構成するグラファイト粒子12
aの間隙をアモルファスカーボン12bが埋めている。
面側に形成されている。より詳細には、シンチレータ1
4は、上記一方の主面に対して略垂直方向に250μm
程度延びるCsIからなる柱状構造体の配列として形成
されている。
囲には、基板12とシンチレータ14とを覆う光透過性
の保護膜16が形成されている。保護膜16は、10μ
m程度の厚みを有するポリパラキシリレンからなる膜で
あって、主としてシンチレータ14を湿気から保護し、
シンチレータ14を形成するCsIの潮解を防止する。
また、保護膜16は、シンチレータ14を機械的に保護
する機能をも有している。
パネルの製造方法について説明する。シンチレータパネ
ル10を製造するためには、まず、厚さ1mm程度、密
度1.7g/cm3程度のグラファイト製の平板(以
下、グラファイト基板という)を用意し、このグラファ
イト基板の表面を、粒度♯1500程度(平均粒度8μ
m程度)のアルミナ粉末を用いてサンドブラスト処理を
行う。その後、グラファイト基板を洗浄し、乾燥させ、
ポリカルボジイミドを揮発性溶媒に溶かしてワニス状と
したものの中に、グラファイト基板を浸す。その後、グ
ラファイト基板を乾燥炉内で乾燥させ、さらに高温炉内
で約2000℃、数日間の加熱処理を行うことにより、
グラファイト粒子12aの表面にアモルファスカーボン
12bの被覆層が形成され、すなわち、内部にアモルフ
ァスカーボンが含浸されたグラファイト製の基板12が
製造される。
一方の主面に、例えば真空蒸着法によってCsIを堆積
させ、シンチレータ14を形成する。基板12上にシン
チレータ14を形成したあと、ポリパラキシリレンをC
VD法により表面に10μm程度形成することにより保
護膜16を形成し、シンチレータパネル10が完成す
る。
パネルの作用及び効果について説明する。本実施形態に
かかるシンチレータパネル10は、上記構成により、入
射した放射線像を可視像に変換して出力することができ
る。より詳細には、基板12の2つの主面のうち、シン
チレータ14が設けられていないほうの主面側から放射
線が入射すると、当該放射線は基板12を透過してシン
チレータ14に入射する。シンチレータ14に入射した
放射線は、シンチレータ14によって可視像に変換さ
れ、シンチレータ14から出力される。
パネル10は、炭素(グラファイト)を主成分として構
成された基板12を用いることで、アルミニウム製の基
板と比較して極めて高い放射線透過率を得ることが可能
となる。特に、入射する放射線のエネルギーが小さい場
合であっても、極めて高い放射線透過率を得ることが可
能となる。従って、シンチレータパネル10から、明瞭
な出力イメージを得ることが可能となる。以下、比較の
ため、従来技術にかかるアルミニウム製の基板(従来
例)と本実施形態にかかるグラファイトを主成分とした
基板12(本発明)とのX線透過率を表1に示す。
ネル10は、グラファイトを主成分として構成された基
板12にアモルファスカーボンを含浸させることで、基
板12全体をアモルファスカーボンで構成する場合と比
較して、基板12を極めて安価に構成することが可能と
なる。その結果、シンチレータパネル10自体をも極め
て安価に構成することが可能となる。
グラファイトのみで構成することも考えられるが、基板
をグラファイトのみで構成した場合は、機械的な強度が
極めて弱い、気孔率が高く(基板の厚み方向に貫通孔が
形成されてしまうこともある)、耐湿性を十分に確保す
ることができないといった問題を生ずる。これに対し
て、本実施形態にかかる基板12は、アモルファスカー
ボンを含浸させることによって、機械的強度を高めると
ともに、気孔率を小さくし、高い耐湿性を確保してい
る。
ネル10は、基板12とシンチレータ14との周囲を保
護膜16で覆うことで、耐湿性をさらに高めることが可
能となる。特に、基板12をも保護膜16で覆うことに
より、基板12側から侵入する湿気からをもシンチレー
タ14を保護することが可能となる。
シンチレータパネルについて、図面を参照して説明す
る。図2は本実施形態にかかるシンチレータパネルの模
式断面図である。本実施形態にかかるシンチレータパネ
ル20が、上記第1の実施形態にかかるシンチレータパ
ネル10と異なる点は、上記第1の実施形態にかかるシ
ンチレータパネル10の基板12がグラファイトを主成
分として内部にアモルファスカーボンを含浸させた基板
12であったのに対し、本実施形態にかかる基板12
が、グラファイトを主成分として一方の主面にアモルフ
ァスカーボンからなる層が形成された基板12である点
である。以下、詳細に説明する。
0は、図2に模式的に示すように、基板12と、基板1
2上に設けられたシンチレータ14とを備えて構成され
る。基板12は、グラファイトを主成分として構成され
た平板形状を有する基板であって、その一方の主面に
は、アモルファスカーボンからなる層(以下、被覆層1
2cという)が3μm程度の厚みをもって形成されてい
る。また、シンチレータ14は、基板12の上記一方の
主面(被覆層12cが形成された面)側に形成されてい
る。さらに、基板12とシンチレータ14との周囲に
は、基板12とシンチレータ14とを覆う光透過性の保
護膜16が形成されている。
示すように製造される。すなわち、表面のサンドブラス
ト処理、洗浄処理、乾燥処理のなされたグラファイト基
板の一方の主面に、ポリカルボジイミドを揮発性溶媒に
溶かしてワニス状としたものを吹き付ける、あるいは、
塗布する。この際、ポリカルボジイミドを揮発性溶媒に
溶かしてワニス状としたものの粘度を高くしておくこと
で、ポリカルボジイミドがグラファイト基板に吹き付け
られ、あるいは、塗布された際に、当該ポリカルボジイ
ミドがグラファイト基板の内部に浸透せず、表面に残留
する。続いて、グラファイト基板を乾燥炉内で乾燥さ
せ、さらに高温炉内で加熱処理を行うことにより、一方
の主面にアモルファスカーボンからなる被覆層12cが
形成された基板12が完成する。その後、基板12の一
方の主面(被覆層12cが形成された面)にシンチレー
タ14を形成し、基板12とシンチレータ14とを覆う
保護膜16を形成することにより、シンチレータパネル
20が完成する。
0も上記第1の実施形態にかかるシンチレータパネル1
0と同様に、アルミニウム製の基板と比較して極めて高
い放射線透過率を得ることができ、明瞭な出力イメージ
を得ることが可能となる。また、基板12全体をアモル
ファスカーボンで構成する場合と比較して、基板12を
極めて安価に構成することができ、シンチレータパネル
20自体をも極めて安価に構成することが可能となる。
さらに、基板12とシンチレータ14との周囲を保護膜
16で覆うことで、耐湿性を高めることが可能となる。
シンチレータパネルについて、図面を参照して説明す
る。図3は本実施形態にかかるシンチレータパネルの模
式断面図である。本実施形態にかかるシンチレータパネ
ル30が、上記第1の実施形態にかかるシンチレータパ
ネル10と異なる点は、上記第1の実施形態にかかるシ
ンチレータパネル10の基板12がグラファイトを主成
分として内部にアモルファスカーボンを含浸させた基板
12であったのに対し、本実施形態にかかる基板12
が、グラファイトを主成分として内部にアモルファスカ
ーボンを含浸させ、さらに一方の主面にアモルファスカ
ーボンからなる層が形成された基板12である点であ
る。以下、詳細に説明する。
0は、図3に模式的に示すように、基板12と、基板1
2上に設けられたシンチレータ14とを備えて構成され
る。基板12は、グラファイトを主成分として構成され
た平板形状を有する基板であって、その内部には、アモ
ルファスカーボンが含浸されている。より具体的には、
図3に模式的に表したように、基板12を構成するグラ
ファイト粒子12aの間隙をアモルファスカーボン12
bが埋めている。また、基板12の一方の主面には、ア
モルファスカーボンからなる被覆層12cが形成されて
いる。また、シンチレータ14は、基板12の上記一方
の主面(被覆層12cが形成された面)側に形成されて
いる。さらに、基板12とシンチレータ14との周囲に
は、基板12とシンチレータ14とを覆う光透過性の保
護膜16が形成されている。
2は、上述の第1の実施形態にかかるシンチレータパネ
ル10の製造方法と同様の方法によって基板12の内部
にアモルファスカーボンを含浸させたあと、上述の第2
の実施形態にかかるシンチレータパネル20の製造方法
と同様の方法によって基板12の一方の主面に被覆層1
2cを形成することによって製造される。尚、その後の
シンチレータ14の形成、保護膜16の形成について
は、上述の第1の実施形態にかかるシンチレータパネル
10の製造方法と同様である。
0も上記第1の実施形態にかかるシンチレータパネル1
0と同様に、アルミニウム製の基板と比較して極めて高
い放射線透過率を得ることができ、明瞭な出力イメージ
を得ることが可能となる。また、基板12全体をアモル
ファスカーボンで構成する場合と比較して、基板12を
極めて安価に構成することができ、シンチレータパネル
20自体をも極めて安価に構成することが可能となる。
さらに、基板12とシンチレータ14との周囲を保護膜
16で覆うことで、耐湿性を高めることが可能となる。
パネル10においては、ポリカルボジイミドを揮発性溶
媒に溶かしてワニス状としたものの中にグラファイト基
板を浸して加熱処理を行うことにより、基板12にアモ
ルファスカーボンを含浸させていたが、ポリカルボジイ
ミドに代えてセルロース、フェノール樹脂、フラン樹脂
等を用いてもよい。
シンチレータパネル10,30においては、基板12に
アモルファスカーボンを含浸させていたが、これは、ポ
リイミド(例えばRN−812(日産化学工業
(株)))、SiC、BN、Si3N4、B4Cなどを含
浸させてもよい。基板12の内部にポリイミドを含浸さ
せる場合は、ロールコーターを用いてポリイミドを基板
12の内部に浸透させた後、高温炉内で約300℃、3
0分間の加熱処理を行う。また、SiC、BN、Si3
N4、B4Cは、化学気相浸透(CVI)法により基板1
2の内部に含浸させることが可能である。
シンチレータパネル20,30においては、基板12の
一方の主面にアモルファスカーボンからなる被覆層12
cを形成していたが、これは、ポリイミド、SiC、B
N、Si3N4、B4Cなどからなる被覆層12cを形成
してもよい。基板12の一方の主面にポリイミドからな
る被覆層12cを形成する場合は、ロールコーターを用
いて粘度の高いポリイミドを基板12の表面に塗布した
後、加熱処理を行う。また、SiC、BN、Si3N4、
B4Cからなる層は、化学気相成長(CVD)法により
形成することが可能である。
シンチレータパネル10,30においては、耐湿性の面
から、基板12を構成するグラファイト粒子12aの間
隙のすべてをアモルファスカーボン12bで埋めること
が好ましいが、必ずしもグラファイト粒子12aの間隙
のすべてがアモルファスカーボン12bによって埋めら
れている必要はない。厚み方向に貫通する貫通孔がなく
なるように、グラファイト粒子12aの間隙のうち少な
くとも一部をアモルファスカーボン12bによって埋め
ることで、耐湿性の向上に寄与しうる。
シンチレータパネル20,30においては、基板12の
一方の主面に被覆層12cを形成していたが、両方の主
面に被覆層12cを形成してもよい。両方の主面に被覆
層12cを形成することで、耐湿性がさらに向上する。
タパネル30においては、基板12の内部にアモルファ
スカーボンを含浸させ、基板12の一方の主面にアモル
ファスカーボンからなる被覆層12cを形成していた
が、含浸させる物質と被覆層12cを形成する物質とは
同一でなくてもよい。例えば、基板12の内部にアモル
ファスカーボンを含浸させ、基板12の一方の主面にS
iCからなる被覆層12cを形成してもよい。
るシンチレータパネル10,20,30においては、保
護膜16が基板12とシンチレータ14との双方を覆っ
ていたが、シンチレータ14のみを保護膜16で覆う構
成としてもよい。
イメージセンサについて、図面を参照して説明する。図
4は本実施形態にかかる放射線イメージセンサの模式断
面図である。
40は、上述の第1の実施形態にかかるシンチレータパ
ネル10と、撮像素子18とを備えて構成される。撮像
素子18は、シンチレータパネル10を構成するシンチ
レータ14に対向して配置されており、より具体的に
は、その受光面が保護膜16を介してシンチレータ14
に接着されている。
40は、かかる構成により、シンチレータパネル10か
ら出力される明瞭な出力イメージを撮像素子18によっ
て撮像することが可能となる。また、上述の基板12を
安価に構成することができるため、放射線イメージセン
サ40をも安価に構成することが可能となる。
シンチレータパネル20、30と撮像素子18とを備え
て放射線イメージセンサを構成することも可能である。
主成分として構成された基板を用いることで、アルミニ
ウム製の基板と比較して極めて高い放射線透過率を得る
ことができ、明瞭な出力イメージを得ることが可能とな
る。また、炭素を主成分として構成された基板にアモル
ファスカーボン、ポリイミド、SiC、BN、Si
3N4、B4Cからなる群の中から選択される1以上の物
質を含浸させ、及び/または、基板の少なくとも一方の
主面にアモルファスカーボン、ポリイミド、SiC、B
N、Si3N4、B4Cからなる群の中から選択される1
以上の物質からなる層を形成することで、基板全体をア
モルファスカーボンで構成する場合と比較して、当該基
板を極めて安価に構成することが可能となる。その結
果、シンチレータパネルを安価に構成することが可能と
なる。
ては、シンチレータを覆う光透過性の保護膜を備えるこ
とで、湿気等からシンチレータを保護することが可能と
なる。特に、シンチレータと基板とを覆う保護膜を備え
た場合は、基板側から侵入する湿気からをもシンチレー
タを保護することが可能となる。
ては、グラファイトを主成分として基板を構成すること
で、当該基板を極めて安価に構成することが可能とな
る。
本発明にかかる上述のシンチレータパネルと撮像素子と
を備えることで、シンチレータパネルから出力される明
瞭な出力イメージを撮像素子によって撮像することが可
能となる。また、上述の基板を安価に構成することがで
きるため、放射線イメージセンサをも安価に構成するこ
とが可能となる。
12a…グラファイト粒子、12b…アモルファスカー
ボン、12c…被覆層、14…シンチレータ、16…保
護膜、18…撮像素子、40…放射線イメージセンサ
Claims (7)
- 【請求項1】 炭素を主成分として構成された基板と、 前記基板上に設けられたシンチレータとを備え、 前記基板の内部には、アモルファスカーボン、ポリイミ
ド、SiC、BN、Si3N4、B4Cからなる群の中か
ら選択される1以上の物質が含浸されていることを特徴
とするシンチレータパネル。 - 【請求項2】 炭素を主成分として構成された基板と、 前記基板上に設けられたシンチレータとを備え、 前記基板の少なくとも一方の主面には、アモルファスカ
ーボン、ポリイミド、SiC、BN、Si3N4、B4C
からなる群の中から選択される1以上の物質からなる層
が形成されていることを特徴とするシンチレータパネ
ル。 - 【請求項3】 炭素を主成分として構成された基板と、 前記基板上に設けられたシンチレータとを備え、 前記基板の内部には、アモルファスカーボン、ポリイミ
ド、SiC、BN、Si3N4、B4Cからなる群の中か
ら選択される1以上の物質が含浸されており、 前記基板の少なくとも一方の主面には、アモルファスカ
ーボン、ポリイミド、SiC、BN、Si3N4、B4C
からなる群の中から選択される1以上の物質からなる層
が形成されていることを特徴とするシンチレータパネ
ル。 - 【請求項4】 前記シンチレータを覆う光透過性の保護
膜をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3のいず
れか1項に記載のシンチレータパネル。 - 【請求項5】 前記シンチレータと前記基板とを覆う光
透過性の保護膜をさらに備えたことを特徴とする請求項
1〜3のいずれか1項に記載のシンチレータパネル。 - 【請求項6】 前記基板は、グラファイトを主成分とし
て構成されることを特徴とする請求項1〜5のいずれか
1項に記載のシンチレータパネル。 - 【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1項に記載のシ
ンチレータパネルと、 前記シンチレータに対向して配置された撮像素子とを備
えたことを特徴とする放射線イメージセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20175799A JP4377481B2 (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | シンチレータパネル及び放射線イメージセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20175799A JP4377481B2 (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | シンチレータパネル及び放射線イメージセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001033597A true JP2001033597A (ja) | 2001-02-09 |
JP4377481B2 JP4377481B2 (ja) | 2009-12-02 |
Family
ID=16446444
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP20175799A Expired - Fee Related JP4377481B2 (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | シンチレータパネル及び放射線イメージセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4377481B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5267458B2 (ja) * | 2007-05-31 | 2013-08-21 | コニカミノルタエムジー株式会社 | シンチレータパネル及び放射線イメージセンサ |
KR20180037154A (ko) * | 2018-03-26 | 2018-04-11 | 주식회사 레이언스 | 신틸레이터 패널, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 방사선 검출기 |
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1999
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