JP2001033281A - 多チャネル電子取り込み測定機器 - Google Patents
多チャネル電子取り込み測定機器Info
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定機器において、任意の組み合わせのサン
プルを表示しないように抑制したり、分析しないように
抑制する。 【解決手段】 データ取り込み手段は、複数の順次デジ
タル・データ・サンプルを取り込む。メモリは、取り込
んだ順次デジタル・データ・サンプルを含む取り込みデ
ータ記録を蓄積する。データよく制御手段は、複数チャ
ネルの各々に関連した仮想ビューを定義する。記蓄積さ
れ取り込まれたデータ記録のビューの内容を表示手段に
表示する。
プルを表示しないように抑制したり、分析しないように
抑制する。 【解決手段】 データ取り込み手段は、複数の順次デジ
タル・データ・サンプルを取り込む。メモリは、取り込
んだ順次デジタル・データ・サンプルを含む取り込みデ
ータ記録を蓄積する。データよく制御手段は、複数チャ
ネルの各々に関連した仮想ビューを定義する。記蓄積さ
れ取り込まれたデータ記録のビューの内容を表示手段に
表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、多チャネ
ル電子取り込測定機器の表示におけるデータのビューに
関し、特に、多チャネル電子取り込み測定機器に表示さ
れる取り込んだデータのサブセットを選択的に処理する
方法に関する。
ル電子取り込測定機器の表示におけるデータのビューに
関し、特に、多チャネル電子取り込み測定機器に表示さ
れる取り込んだデータのサブセットを選択的に処理する
方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】多チャネル電子取り込み測定機器（例え
ば、ロジック・アナライザ）とは、ある期間にわたって
データ・チャネルの動きを示す複数の順次（シーケンシ
ャル）デジタル・データ・サンプルを、複数のデータ・
チャネルの各々から取り込むデジタル・データ取り込み
手段と；複数のデータ・チャネルの各々からの複数の取
り込まれた順次デジタル・データ・サンプルを含む取り
込みデータ記録を蓄積するデータ取り込みメモリと；こ
のデータ取り込みメモリに蓄積されたデータ記録を表示
する表示手段とを具えている。従来から多チャネル電子
取り込み測定機器において、データを取り込むためのチ
ャネルのサブセットをユーザ（操作者）が表示すること
ができた。この際、ユーザが現在関心のないチャネルに
関連したデータをマスクした。データ抑制（サプレッシ
ョン）のこの形式では、データのどのチャネルに関心が
あるかを選択できた。ユーザの好みに応じて、表示した
り、又は、ビューから隠すために、個別のチャネル及び
グループ化されたチャネルを選択できる。この選択の判
断は、データを取り込む前後に行える。これらの判断を
行う場合、ビューからデータ・チャネルをマスク（フィ
ルタリング：フィルタ処理）すると都合がよい。
ば、ロジック・アナライザ）とは、ある期間にわたって
データ・チャネルの動きを示す複数の順次（シーケンシ
ャル）デジタル・データ・サンプルを、複数のデータ・
チャネルの各々から取り込むデジタル・データ取り込み
手段と；複数のデータ・チャネルの各々からの複数の取
り込まれた順次デジタル・データ・サンプルを含む取り
込みデータ記録を蓄積するデータ取り込みメモリと；こ
のデータ取り込みメモリに蓄積されたデータ記録を表示
する表示手段とを具えている。従来から多チャネル電子
取り込み測定機器において、データを取り込むためのチ
ャネルのサブセットをユーザ（操作者）が表示すること
ができた。この際、ユーザが現在関心のないチャネルに
関連したデータをマスクした。データ抑制（サプレッシ
ョン）のこの形式では、データのどのチャネルに関心が
あるかを選択できた。ユーザの好みに応じて、表示した
り、又は、ビューから隠すために、個別のチャネル及び
グループ化されたチャネルを選択できる。この選択の判
断は、データを取り込む前後に行える。これらの判断を
行う場合、ビューからデータ・チャネルをマスク（フィ
ルタリング：フィルタ処理）すると都合がよい。
【０００３】従来、サンプル（各時点で取り込んだ個別
のデータ）を抑制する（表示などの処理から外す）最も
一般的な方法では、データを取り込んだ時点で測定機器
に蓄積されたサンプルの数を減らしている。しかし、こ
れには、ユーザが評価用により多くのサンプルを必要と
する場合、ユーザは、メモリの深さを深く設定し、デー
タを再度取り込まなければならないという問題があっ
た。分析すべき問題を再現するのが困難な場合には、時
間がかかり、不経済であった。
のデータ）を抑制する（表示などの処理から外す）最も
一般的な方法では、データを取り込んだ時点で測定機器
に蓄積されたサンプルの数を減らしている。しかし、こ
れには、ユーザが評価用により多くのサンプルを必要と
する場合、ユーザは、メモリの深さを深く設定し、デー
タを再度取り込まなければならないという問題があっ
た。分析すべき問題を再現するのが困難な場合には、時
間がかかり、不経済であった。
【０００４】従来は、他の形式のフィルタリング（マス
ク）も、サンプル軸又は時間軸に沿って利用可能であっ
た。サンプル軸又は時間軸に沿う方法にて、その軸に沿
ったデータのフィルタリングは、取り込んだデータにあ
る種の依存をして、フィルタリングを行っている。ビッ
ト単位で試験をして、サンプルを表示するか、抑制する
かを判断している。この判断は、「データ認定（data q
ualification）」として知られており、取り込み処理期
間中、又はデータが取り込まれた後に、上述の判断を適
用できる。データ取り込み後に行う判断は、「後処理
（post-processing）」として知られている。
ク）も、サンプル軸又は時間軸に沿って利用可能であっ
た。サンプル軸又は時間軸に沿う方法にて、その軸に沿
ったデータのフィルタリングは、取り込んだデータにあ
る種の依存をして、フィルタリングを行っている。ビッ
ト単位で試験をして、サンプルを表示するか、抑制する
かを判断している。この判断は、「データ認定（data q
ualification）」として知られており、取り込み処理期
間中、又はデータが取り込まれた後に、上述の判断を適
用できる。データ取り込み後に行う判断は、「後処理
（post-processing）」として知られている。
【０００５】後処理のより複雑な形式は、「逆アセンブ
リ（disassembly）」である。アセンブリは、プログラ
マが使用する言語であるマイクロプロセッサのコード
を、特定形式のマイクロプロセッサが理解できる１及び
０の特定パターンに変換することである。逆アセンブリ
は、マイクロプロセッサが使用する１及び０を、プログ
ラマが理解できるアセンブリ言語に変換する逆処理であ
る。この処理では、取り込んだ大量のデータを試験し、
それをプロセッサのニモニック（mnemonic）に変換する
必要がある。
リ（disassembly）」である。アセンブリは、プログラ
マが使用する言語であるマイクロプロセッサのコード
を、特定形式のマイクロプロセッサが理解できる１及び
０の特定パターンに変換することである。逆アセンブリ
は、マイクロプロセッサが使用する１及び０を、プログ
ラマが理解できるアセンブリ言語に変換する逆処理であ
る。この処理では、取り込んだ大量のデータを試験し、
それをプロセッサのニモニック（mnemonic）に変換する
必要がある。
【０００６】測定機器において逆アセンブリされたデー
タを表示する際に、種々のデータ簡略化法を適用でき
る。ハードウェア・サイクルを抑制して、ソフトウェア
実行動作のみを、クリアに集中した形式で利用できるよ
うにする。プログラム制御の流れは、プロセッサの実行
期間中に、分岐、サブルーチン呼出、サブルーチンから
の戻り、中断呼出又は中断戻りによるサンプルを除い
て、総てのサンプルを取り去る。代わりに、プログラム
・サブルーチンの入口サイクル及び出口サイクルのみを
示して、実行したソフトウェア・サブルーチンの全体的
なビューを作成できる。
タを表示する際に、種々のデータ簡略化法を適用でき
る。ハードウェア・サイクルを抑制して、ソフトウェア
実行動作のみを、クリアに集中した形式で利用できるよ
うにする。プログラム制御の流れは、プロセッサの実行
期間中に、分岐、サブルーチン呼出、サブルーチンから
の戻り、中断呼出又は中断戻りによるサンプルを除い
て、総てのサンプルを取り去る。代わりに、プログラム
・サブルーチンの入口サイクル及び出口サイクルのみを
示して、実行したソフトウェア・サブルーチンの全体的
なビューを作成できる。
【０００７】「状態ベース」フィルタリング（入力デー
タの状態に応じたフィルタ処理）は、汎用フィルタリン
グの他の形式である。ユーザが提供したフィルタは、取
り込んだデータのサンプルを１度に１つずつ試験し、ど
のサンプルを表示するかを制御する。（ステート・マシ
ンは、一般に、古いデータ及び新しいデータの状態を試
験し、その結果に応じて、対応する次のステップに進
む。）状態ベースのフィルタは、強力なツールである
が、データを表示する前に、これらデータを読み出し評
価するのに長い処理時間が必要である。この形式のフィ
ルタは、「状態ベース」として知られている。これは、
取り込んだサンプルの各々が、前のデータ状態と、現在
のデータ状態に応じて、トリガ・ステート・マシン（又
は上述の一般的なステート・マシン）のように処理され
るためである。
タの状態に応じたフィルタ処理）は、汎用フィルタリン
グの他の形式である。ユーザが提供したフィルタは、取
り込んだデータのサンプルを１度に１つずつ試験し、ど
のサンプルを表示するかを制御する。（ステート・マシ
ンは、一般に、古いデータ及び新しいデータの状態を試
験し、その結果に応じて、対応する次のステップに進
む。）状態ベースのフィルタは、強力なツールである
が、データを表示する前に、これらデータを読み出し評
価するのに長い処理時間が必要である。この形式のフィ
ルタは、「状態ベース」として知られている。これは、
取り込んだサンプルの各々が、前のデータ状態と、現在
のデータ状態に応じて、トリガ・ステート・マシン（又
は上述の一般的なステート・マシン）のように処理され
るためである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】長年にわたって、メモ
リの値段が下がり続け、多チャネル電子取り込み測定機
器が捕捉するデータ記録長が長くなっているので、比較
的大容量で深さの深いメモリが、益々一般的になってき
ている。取り込みメモリ長が長くなり、取り込みに長い
時間がかかり、分析が扱いにくくなっている。よって、
ユーザの注意をデータの最も関心のある部分に向ける方
法が益々重要になってきている。
リの値段が下がり続け、多チャネル電子取り込み測定機
器が捕捉するデータ記録長が長くなっているので、比較
的大容量で深さの深いメモリが、益々一般的になってき
ている。取り込みメモリ長が長くなり、取り込みに長い
時間がかかり、分析が扱いにくくなっている。よって、
ユーザの注意をデータの最も関心のある部分に向ける方
法が益々重要になってきている。
【０００９】非常に多くのデータ記録を処理するため
に、長時間が必要である。しかし、理想的には、フィル
タリングを実施するツールは、表示処理に負担をかけな
いようにすることが必要である。このフィルタリング・
ツールを他の形式のフィルタと一緒に用いることも期待
されている。すなわち、このデータ・フィルタを交換す
ることなく、他の形式のフィルタ機能も果たすことが期
待されている。
に、長時間が必要である。しかし、理想的には、フィル
タリングを実施するツールは、表示処理に負担をかけな
いようにすることが必要である。このフィルタリング・
ツールを他の形式のフィルタと一緒に用いることも期待
されている。すなわち、このデータ・フィルタを交換す
ることなく、他の形式のフィルタ機能も果たすことが期
待されている。
【００１０】したがって、本発明の目的は、任意の組み
合わせのサンプルを表示及び分析から抑制できる多チャ
ネル電子取り込み測定機器を提供することである。
合わせのサンプルを表示及び分析から抑制できる多チャ
ネル電子取り込み測定機器を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の多チャネル電子
取り込み測定機器は、ある期間にわたってデータ・チャ
ネルの動きを示す複数の順次（シーケンシャル）デジタ
ル・データ・サンプルを、複数のデータ・チャネルの各
々から取り込むデジタル・データ取り込み手段と；複数
のデータ・チャネルの各々からの複数の取り込まれた順
次デジタル・データ・サンプルを含む取り込みデータ記
録を蓄積するデータ取り込みメモリと；蓄積された取り
込みデータ記録の仮想ビューであって、複数チャネルの
各々に関連し、減少した複数の順次デジタル・データ・
サンプルを含んだ仮想ビューを定義できるデータ抑制手
段と；蓄積され取り込まれたデータ記録のビューの内容
を表示する表示手段とを具えている。
取り込み測定機器は、ある期間にわたってデータ・チャ
ネルの動きを示す複数の順次（シーケンシャル）デジタ
ル・データ・サンプルを、複数のデータ・チャネルの各
々から取り込むデジタル・データ取り込み手段と；複数
のデータ・チャネルの各々からの複数の取り込まれた順
次デジタル・データ・サンプルを含む取り込みデータ記
録を蓄積するデータ取り込みメモリと；蓄積された取り
込みデータ記録の仮想ビューであって、複数チャネルの
各々に関連し、減少した複数の順次デジタル・データ・
サンプルを含んだ仮想ビューを定義できるデータ抑制手
段と；蓄積され取り込まれたデータ記録のビューの内容
を表示する表示手段とを具えている。
【００１２】本発明によれば、任意の組み合わせのサン
プルを表示及び分析から抑制できる。この結果の記録
は、完全な形式、即ち、非抑制及び抑制、又は、省略、
非抑制のみの形式でセーブされる。かかる記録を回収
し、任意に部分的に抑制して、２回目又は３回目に、一
連の小さいが完全でない取り込み履歴が作られる。これ
ら記録の各々は、抑制したサンプルを用いても、又は用
いないでもセーブできる。また、後で再表示し、初めか
らセーブされたこれらサンプル及びそれらのアトリビュ
ート（属性）を確実に示す。なお、かかるアトリビュー
トは、サンプルが蓄積された時点や、その本来のサンプ
ル数などである。抑制サンプルを利用しないでセーブし
た記録は、永久的に失われる。
プルを表示及び分析から抑制できる。この結果の記録
は、完全な形式、即ち、非抑制及び抑制、又は、省略、
非抑制のみの形式でセーブされる。かかる記録を回収
し、任意に部分的に抑制して、２回目又は３回目に、一
連の小さいが完全でない取り込み履歴が作られる。これ
ら記録の各々は、抑制したサンプルを用いても、又は用
いないでもセーブできる。また、後で再表示し、初めか
らセーブされたこれらサンプル及びそれらのアトリビュ
ート（属性）を確実に示す。なお、かかるアトリビュー
トは、サンプルが蓄積された時点や、その本来のサンプ
ル数などである。抑制サンプルを利用しないでセーブし
た記録は、永久的に失われる。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明によるサンプル抑制によ
り、ユーザは、測定機器のどのサンプルが表示又は分析
用に利用できるかを任意に制御できる。この制御は、
「任意」と考えられる。これは、ユーザが測定機器の任
意のサンプルを拾い、そのサンプルを表示（示す）する
か抑制（隠す）するかを決めるためである。この選択
は、サンプルがハードウェア又はソフトウェアの動作に
関連しているかに左右されず、又、サンプルが任意の他
の現象に付随しているかにも左右されない。
り、ユーザは、測定機器のどのサンプルが表示又は分析
用に利用できるかを任意に制御できる。この制御は、
「任意」と考えられる。これは、ユーザが測定機器の任
意のサンプルを拾い、そのサンプルを表示（示す）する
か抑制（隠す）するかを決めるためである。この選択
は、サンプルがハードウェア又はソフトウェアの動作に
関連しているかに左右されず、又、サンプルが任意の他
の現象に付随しているかにも左右されない。
【００１４】この形式のサンプル抑制により、ユーザ
は、どのサンプルを表示の部分とするか、どのサンプル
を抑制するか決める「判断」ができる。これは、特定の
取り込みにおいて収集された総てのサンプルが重要で且
つ分析の価値があるわけではないため、有用である。さ
らに、検知した値や保持したサンプルの重要度を、異な
るレベルの検査に応じて変更できる。よって、取り込み
及びセーブしたデータに関してユーザが更に知識を得る
ので、連続した分析処理の一環として、更に抑制するこ
とが望ましいこともある。
は、どのサンプルを表示の部分とするか、どのサンプル
を抑制するか決める「判断」ができる。これは、特定の
取り込みにおいて収集された総てのサンプルが重要で且
つ分析の価値があるわけではないため、有用である。さ
らに、検知した値や保持したサンプルの重要度を、異な
るレベルの検査に応じて変更できる。よって、取り込み
及びセーブしたデータに関してユーザが更に知識を得る
ので、連続した分析処理の一環として、更に抑制するこ
とが望ましいこともある。
【００１５】以下の説明において、測定機器が、データ
を取り込み、蓄積し、表示する動作や、本発明による抑
制の動作は、マイクロプロセッサ・システムを用いてソ
フトウェアが制御する。マイクロプロセッサ・システム
の構成は、従来技術であるのでその説明は省略する。ま
た、具体的にマイクロプロセッサがソフトウェアにより
動作するかは、どのような表示を行うかが明瞭ならば、
当業者には明らかなので、その説明も省略する。図１
は、本発明により、取り込みメモリの部分から仮想ビュ
ーをどのように構成するかを示す概念図である。サンプ
ル抑制処理を受けるデータのサンプル（電圧レベル、状
態値、測定の時点など）は、「仮想ビュー」又は「仮想
画像（イメージ）」として説明するのが望ましい。総て
のデータ・ウィンドウは、この仮想ビューからのデータ
を表示する。ユーザの制御により、新たなデータを取り
込むことなく、サンプル（個別のサンプル、又はサンプ
ルのブロック）を画像に追加したり、画像から除去でき
る。これにより、ユーザは、サンプルの表示、分析、及
びディスクへの最終的なセーブを完全に制御できる。
を取り込み、蓄積し、表示する動作や、本発明による抑
制の動作は、マイクロプロセッサ・システムを用いてソ
フトウェアが制御する。マイクロプロセッサ・システム
の構成は、従来技術であるのでその説明は省略する。ま
た、具体的にマイクロプロセッサがソフトウェアにより
動作するかは、どのような表示を行うかが明瞭ならば、
当業者には明らかなので、その説明も省略する。図１
は、本発明により、取り込みメモリの部分から仮想ビュ
ーをどのように構成するかを示す概念図である。サンプ
ル抑制処理を受けるデータのサンプル（電圧レベル、状
態値、測定の時点など）は、「仮想ビュー」又は「仮想
画像（イメージ）」として説明するのが望ましい。総て
のデータ・ウィンドウは、この仮想ビューからのデータ
を表示する。ユーザの制御により、新たなデータを取り
込むことなく、サンプル（個別のサンプル、又はサンプ
ルのブロック）を画像に追加したり、画像から除去でき
る。これにより、ユーザは、サンプルの表示、分析、及
びディスクへの最終的なセーブを完全に制御できる。
【００１６】サンプルのブロックの数及びサイズは、最
初に取り込んだサンプルの数のみにより制限される。測
定機器のメモリの各サンプルは、仮想画像内に１度現れ
ることができる。仮想画像内のサンプルの順序は、単調
な順序である（即ち、実際のサンプル５は、仮想画像内
の実際のサンプル４の前に現れることができない）。
初に取り込んだサンプルの数のみにより制限される。測
定機器のメモリの各サンプルは、仮想画像内に１度現れ
ることができる。仮想画像内のサンプルの順序は、単調
な順序である（即ち、実際のサンプル５は、仮想画像内
の実際のサンプル４の前に現れることができない）。
【００１７】データ・ウィンドウは、測定機器の仮想画
像からサンプルを受ける。この例では、各ビューが仮想
ビューの同じ部分又は異なる部分を表示できる。ユーザ
が測定機器のサンプルを仮想ビューに付加すると、これ
らは、総ての測定機器のビューにより表示される。
像からサンプルを受ける。この例では、各ビューが仮想
ビューの同じ部分又は異なる部分を表示できる。ユーザ
が測定機器のサンプルを仮想ビューに付加すると、これ
らは、総ての測定機器のビューにより表示される。
【００１８】図２は、本発明による仮想ビュー管理ダイ
アログ・ボックス（測定機器の表示スクリーン（表示手
段）に表示される）を示す図である。このダイアログ・
ボックスにより、ユーザは、どのくらいのデータを最初
にデータ・ビューに伝送するかを制御できる。測定機器
は、総てをメモリに取り込み、メモリを一杯にするの
で、このダイアログ・ボックス内で定義されたサンプル
のみが表示され、分析される。データ取り込みの後、ユ
ーザは、その判断にて、リスト・ビュー又は波形ビュー
による直接操作を用いて、より多くのサンプルを表示し
たり、抑制できる。なお、図２のダイアログ・ボックス
において、最上行の「Sample SuppressionLA1」は、Ｌ
Ａ１（第１ロジック・アナライザ）におけるサンプルの
抑制であることを示している。また、第２行の「After
each acquisition reset Sample Suppression to」は、
各取り込みをリセットした後におけるサンプルの抑制で
あることを示している。次の行の「Show All Acquired
samples」は、この行が選択された場合、取り込んだ総
てのサンプルを表示することを示している。その次の行
の「Show［数字選択欄］samples around trigger」は、
この行が選択された場合、トリガが周辺の選択した数
（図示の場合、１０２４個）のサンプルを表示すること
を意味している。更に、次の行の「Re-use existing su
ppression relative to [機能選択］」は、この行が選
択された場合、選択された機能（図示の場合、トリガ）
に関連した既存の抑制を再利用することを示している。
なお、図示の場合、抑制に関しては、各行の左端が二重
丸になっている行が選択されている。なお、最終行の
「ＯＫ」及び「Cancel（キャンセル）」表示は、かかる
ダイアログ・ボックスの設定を使用するか（ＯＫ）、キ
ャンセルするかを選択するのものである。これらの設定
は、マイクロプロセッサ・システムがデータ抑制手段と
して作用して制御する。
アログ・ボックス（測定機器の表示スクリーン（表示手
段）に表示される）を示す図である。このダイアログ・
ボックスにより、ユーザは、どのくらいのデータを最初
にデータ・ビューに伝送するかを制御できる。測定機器
は、総てをメモリに取り込み、メモリを一杯にするの
で、このダイアログ・ボックス内で定義されたサンプル
のみが表示され、分析される。データ取り込みの後、ユ
ーザは、その判断にて、リスト・ビュー又は波形ビュー
による直接操作を用いて、より多くのサンプルを表示し
たり、抑制できる。なお、図２のダイアログ・ボックス
において、最上行の「Sample SuppressionLA1」は、Ｌ
Ａ１（第１ロジック・アナライザ）におけるサンプルの
抑制であることを示している。また、第２行の「After
each acquisition reset Sample Suppression to」は、
各取り込みをリセットした後におけるサンプルの抑制で
あることを示している。次の行の「Show All Acquired
samples」は、この行が選択された場合、取り込んだ総
てのサンプルを表示することを示している。その次の行
の「Show［数字選択欄］samples around trigger」は、
この行が選択された場合、トリガが周辺の選択した数
（図示の場合、１０２４個）のサンプルを表示すること
を意味している。更に、次の行の「Re-use existing su
ppression relative to [機能選択］」は、この行が選
択された場合、選択された機能（図示の場合、トリガ）
に関連した既存の抑制を再利用することを示している。
なお、図示の場合、抑制に関しては、各行の左端が二重
丸になっている行が選択されている。なお、最終行の
「ＯＫ」及び「Cancel（キャンセル）」表示は、かかる
ダイアログ・ボックスの設定を使用するか（ＯＫ）、キ
ャンセルするかを選択するのものである。これらの設定
は、マイクロプロセッサ・システムがデータ抑制手段と
して作用して制御する。
【００１９】図３は、仮想ビューの一部の波形概略（時
間軸に沿う）の表示スクリーンを示す図である。この表
示の上部には、表示の名称である「Waveform 1」が示さ
れ、次の行の「Time/Div 100ns」は、表示の横軸の１目
盛り当たりの時間が１００ナノ秒であることを示してい
る。この時間は、変更可能である。次の行の「C1:-53n
s」は、カーソルＣ１（波形図で下向きの矢印１が示す
縦線）の位置が、トリガ点（波形図で下向きの矢印Ｔが
示す縦線）に対して、５３ナノ秒前であることを示して
る。また、「C2:-50ns」は、カーソルＣ２（波形図で下
向きの矢印２が示す縦線）の位置が、トリガ点に対し
て、５０ナノ秒後であることを示してる。「Delta Tim
e: 103ns」は、カーソルＣ１及びＣ２の間が１０３ナノ
秒であることを示している。表示の左側の「Sample」の
下には、各サンプルの名称（例えば、プローブ・チップ
の名称）が表示されている。各サンプル名称の右側に、
そのサンプルのデータを表す波形が表示されている。か
かる表示において、データ抑制された部分では、点線
が、失われたデータ（即ち、抑制されたデータ）の位置
を示す。残りの総てのサンプルは、典型的なタイミング
・ダイアグラム・フォーマットで表示されている。サン
プルの抑制では、表示を水平方向に圧縮していない。も
し、水平方向の圧縮を行うと、スクリーン上でのデータ
の時間関係が変化してしまい、ユーザの期待を裏切って
しまう。関心のないデータを除去、即ち、抑制すること
により、ユーザは、最も関心のあるサンプルに焦点を当
てることができる。
間軸に沿う）の表示スクリーンを示す図である。この表
示の上部には、表示の名称である「Waveform 1」が示さ
れ、次の行の「Time/Div 100ns」は、表示の横軸の１目
盛り当たりの時間が１００ナノ秒であることを示してい
る。この時間は、変更可能である。次の行の「C1:-53n
s」は、カーソルＣ１（波形図で下向きの矢印１が示す
縦線）の位置が、トリガ点（波形図で下向きの矢印Ｔが
示す縦線）に対して、５３ナノ秒前であることを示して
る。また、「C2:-50ns」は、カーソルＣ２（波形図で下
向きの矢印２が示す縦線）の位置が、トリガ点に対し
て、５０ナノ秒後であることを示してる。「Delta Tim
e: 103ns」は、カーソルＣ１及びＣ２の間が１０３ナノ
秒であることを示している。表示の左側の「Sample」の
下には、各サンプルの名称（例えば、プローブ・チップ
の名称）が表示されている。各サンプル名称の右側に、
そのサンプルのデータを表す波形が表示されている。か
かる表示において、データ抑制された部分では、点線
が、失われたデータ（即ち、抑制されたデータ）の位置
を示す。残りの総てのサンプルは、典型的なタイミング
・ダイアグラム・フォーマットで表示されている。サン
プルの抑制では、表示を水平方向に圧縮していない。も
し、水平方向の圧縮を行うと、スクリーン上でのデータ
の時間関係が変化してしまい、ユーザの期待を裏切って
しまう。関心のないデータを除去、即ち、抑制すること
により、ユーザは、最も関心のあるサンプルに焦点を当
てることができる。
【００２０】図４は、仮想ビューの一部を示すリスト
（状態テーブル）を示す表示スクリーンの表示である。
第１行の「Listing 1」は、この表示がリスト１である
ことを示し、「Sample」の下の番号は、サンプル番号を
示す。「CK0」は、クロック０の０及び１の状態を示
す。「A3」及び「A2」の下の表示は、データＡ３及びＡ
２の内容を１６進法で示している。「Timestamp」の下
の秒数は、基準に対する時間を示している。また、「C
1:LA 1」及び「C2 LA 1」は、図３の表示と同様に、第
１ロジック・アナライザ（LA1）における第１カーソル
及び第２カーソルの位置を示している。かかる表示スク
リーンの表示において、サンプル列（縦行）内の水平線
は、サンプル抑制によって、どこにギャップ（抑制）が
配置されたかを示す。ユーザのこの抑制により、ユーザ
は、どのくらいのデータを見ることができるかを直接制
御できるので、必要な測定に関連したデータのみに集中
することができる。この表示は、抑制したサンプルを、
表示から完全に除去できるので、表示を圧縮できる点に
留意されたい。この強化により、ユーザは、データの重
要な部分に集中できる。ユーザは、マウス又はキーボー
ドの如き直接制御操作手段を用いて、波形ウィンドウ又
はリスト・ウィンドウにおいて、サンプルを表示した
り、抑制できる。ユーザは、サンプル、又はサンプルの
ブロックを選択し、これらを表示するか、又は抑制する
かを指示する。再び、図４及び上述のサンプルについて
参照する。ユーザは、認識できる取り込みサンプル（例
えば、サンプル１６３３４から１６３４５まで、及びサ
ンプル１６３６０から１６３６９まで）と、抑制された
サンプル（サンプル０から１６３３３まで、及び１６３
４６から１６３５９まで）とを知ることができる。この
方法によって、リスト・ウィンドウは、サンプル抑制が
データ表示に現在どのような影響を与えるかという非常
に詳細な情報を与えることができる。
（状態テーブル）を示す表示スクリーンの表示である。
第１行の「Listing 1」は、この表示がリスト１である
ことを示し、「Sample」の下の番号は、サンプル番号を
示す。「CK0」は、クロック０の０及び１の状態を示
す。「A3」及び「A2」の下の表示は、データＡ３及びＡ
２の内容を１６進法で示している。「Timestamp」の下
の秒数は、基準に対する時間を示している。また、「C
1:LA 1」及び「C2 LA 1」は、図３の表示と同様に、第
１ロジック・アナライザ（LA1）における第１カーソル
及び第２カーソルの位置を示している。かかる表示スク
リーンの表示において、サンプル列（縦行）内の水平線
は、サンプル抑制によって、どこにギャップ（抑制）が
配置されたかを示す。ユーザのこの抑制により、ユーザ
は、どのくらいのデータを見ることができるかを直接制
御できるので、必要な測定に関連したデータのみに集中
することができる。この表示は、抑制したサンプルを、
表示から完全に除去できるので、表示を圧縮できる点に
留意されたい。この強化により、ユーザは、データの重
要な部分に集中できる。ユーザは、マウス又はキーボー
ドの如き直接制御操作手段を用いて、波形ウィンドウ又
はリスト・ウィンドウにおいて、サンプルを表示した
り、抑制できる。ユーザは、サンプル、又はサンプルの
ブロックを選択し、これらを表示するか、又は抑制する
かを指示する。再び、図４及び上述のサンプルについて
参照する。ユーザは、認識できる取り込みサンプル（例
えば、サンプル１６３３４から１６３４５まで、及びサ
ンプル１６３６０から１６３６９まで）と、抑制された
サンプル（サンプル０から１６３３３まで、及び１６３
４６から１６３５９まで）とを知ることができる。この
方法によって、リスト・ウィンドウは、サンプル抑制が
データ表示に現在どのような影響を与えるかという非常
に詳細な情報を与えることができる。
【００２１】サンプル抑制は、他の形式のデータ・フィ
ルタ（状態ベース、逆アセンブラ、データ認定など）に
も作用できる。これにより、ユーザは、測定機器メモリ
内のどの程度のデータを他のソフトウェア・フィルタに
より分析するかを制御できる。また、これにより、ユー
ザは、分析処理期間中に、一層高速にデータを前後にス
クロールできる。これは、他のソフトウェア分析ツール
が、抑制されたメモリの領域を分析するための時間を割
く必要がないためである。必要ならば、任意の抑制され
たサンプルを後で見つけたり、分析処理に追加すること
もできる。サンプルを非抑制する能力は、非常に重要で
ある。しかし、抑制サンプルを用いずにセーブすること
により、これらサンプルが永久的に削除される。よっ
て、ユーザは、これらサンプルをもはや非抑制できな
い。
ルタ（状態ベース、逆アセンブラ、データ認定など）に
も作用できる。これにより、ユーザは、測定機器メモリ
内のどの程度のデータを他のソフトウェア・フィルタに
より分析するかを制御できる。また、これにより、ユー
ザは、分析処理期間中に、一層高速にデータを前後にス
クロールできる。これは、他のソフトウェア分析ツール
が、抑制されたメモリの領域を分析するための時間を割
く必要がないためである。必要ならば、任意の抑制され
たサンプルを後で見つけたり、分析処理に追加すること
もできる。サンプルを非抑制する能力は、非常に重要で
ある。しかし、抑制サンプルを用いずにセーブすること
により、これらサンプルが永久的に削除される。よっ
て、ユーザは、これらサンプルをもはや非抑制できな
い。
【００２２】このアプリケーションの利点は、データを
抑制する処理を、データ内容の知識に基づいて注意深
く、又は思慮深く行う必要がないことである。代わり
に、取り込みの後、又は、どのデータが何であるかをユ
ーザが注意深く理解する前に、データを任意に操作でき
る。従来、ほとんど総てのフィルタは、特定種類のデー
タを評価するように設計されていた。これらの動作で
は、取り込み及び表示アルゴリズムに応じて、測定機器
が蓄積したデータを試験していた。これらツールは、用
途特定であるので、総ての環境では動作しない。汎用状
態ベースのフィルタは、データ・サンプル及びこれらの
コンテクストを試験するように動作する。
抑制する処理を、データ内容の知識に基づいて注意深
く、又は思慮深く行う必要がないことである。代わり
に、取り込みの後、又は、どのデータが何であるかをユ
ーザが注意深く理解する前に、データを任意に操作でき
る。従来、ほとんど総てのフィルタは、特定種類のデー
タを評価するように設計されていた。これらの動作で
は、取り込み及び表示アルゴリズムに応じて、測定機器
が蓄積したデータを試験していた。これらツールは、用
途特定であるので、総ての環境では動作しない。汎用状
態ベースのフィルタは、データ・サンプル及びこれらの
コンテクストを試験するように動作する。
【００２３】測定機器は、サンプル又はサンプル範囲の
リストの如きビット・マップ又は他の手段を用いて、仮
想ビューを追跡できる。ビット・マップ・インデックス
は、既存のメモリ内容へ、拡張用の単一ビット・データ
を追加することと機能的に等化である。これらビット
は、抑制すべきデータ、又は表示及び分析すべきデータ
のいずれかを検知したり、又は知らせる。このビット・
マップ・アプローチは、断片の数（サンプルの範囲）が
多いと予測される場合に、最も効果的である。リスト
は、表示する又は抑制する（隠す）サンプルの範囲を識
別する１対のサンプルの数を含んでいる。断片の数（サ
ンプルの範囲）が少ないと予測される場合に、かかるリ
ストをベースにしたアプローチが最も効果的である。
リストの如きビット・マップ又は他の手段を用いて、仮
想ビューを追跡できる。ビット・マップ・インデックス
は、既存のメモリ内容へ、拡張用の単一ビット・データ
を追加することと機能的に等化である。これらビット
は、抑制すべきデータ、又は表示及び分析すべきデータ
のいずれかを検知したり、又は知らせる。このビット・
マップ・アプローチは、断片の数（サンプルの範囲）が
多いと予測される場合に、最も効果的である。リスト
は、表示する又は抑制する（隠す）サンプルの範囲を識
別する１対のサンプルの数を含んでいる。断片の数（サ
ンプルの範囲）が少ないと予測される場合に、かかるリ
ストをベースにしたアプローチが最も効果的である。
【００２４】また、分離したアドレス・リストは、抑制
すべきサンプルと、表示すべきサンプルとを識別でき
る。各アドレスは、アクティブ又は抑制サンプルに対す
る入口ポイント又は出口ポイントのいずれかとして作用
する。代わりに、サンプル数又は識別アドレスの二重に
インターリーブしたリストにより、仮想ビューを形成で
きる。１組は、抑制した又は表示したデータの開始点を
意味し、他の組は、相補形式の（表示された又は抑制さ
れた）位置に対する開始点を意味する。サンプル、即
ち、サンプル数又はサンプル・アドレスにより指示され
た項目は、状態値、電圧値又は時間値の如き任意の測定
機器の測定結果や、そのサンプルに関連した任意の他の
補助情報を含んでいる点に留意されたい。
すべきサンプルと、表示すべきサンプルとを識別でき
る。各アドレスは、アクティブ又は抑制サンプルに対す
る入口ポイント又は出口ポイントのいずれかとして作用
する。代わりに、サンプル数又は識別アドレスの二重に
インターリーブしたリストにより、仮想ビューを形成で
きる。１組は、抑制した又は表示したデータの開始点を
意味し、他の組は、相補形式の（表示された又は抑制さ
れた）位置に対する開始点を意味する。サンプル、即
ち、サンプル数又はサンプル・アドレスにより指示され
た項目は、状態値、電圧値又は時間値の如き任意の測定
機器の測定結果や、そのサンプルに関連した任意の他の
補助情報を含んでいる点に留意されたい。
【００２５】サンプル抑制の１つのオプションとしての
特徴は、これらサンプルのみを仮想ビューにセーブでき
る能力である。ユーザがこのファイルを開いたり表示す
ると、その結果、見えなくなったサンプルがもはや表示
に利用できないことが判る。制限なく、総ての残りのサ
ンプルを抑圧できるし、表示することができる。これに
は、リストがどの抑圧サンプルを現在セーブしている
か、セーブされていないかを追跡する必要がある。これ
を実施するには、サンプルが現在蓄積されているか、表
示に利用可能かを示すリストに特性を与える。
特徴は、これらサンプルのみを仮想ビューにセーブでき
る能力である。ユーザがこのファイルを開いたり表示す
ると、その結果、見えなくなったサンプルがもはや表示
に利用できないことが判る。制限なく、総ての残りのサ
ンプルを抑圧できるし、表示することができる。これに
は、リストがどの抑圧サンプルを現在セーブしている
か、セーブされていないかを追跡する必要がある。これ
を実施するには、サンプルが現在蓄積されているか、表
示に利用可能かを示すリストに特性を与える。
【００２６】本発明による上述のフィルタ機能の好適実
施例において、変更しないのが最良である取り込みデー
タには、いくつかの特性がある。例えば、通常、サンプ
ルは、番号の付け替えをしない。各サンプルは、取り込
みメモリにおける本来の蓄積位置を識別する独自の番号
を有しており、それを変更しないのが最良である。ま
た、表示順序は、一般的には変化しない。サンプル抑制
リストを変更することは、一般的には、２個のサンプル
の表示順序を違えることにはならない。これらは、他の
アルゴリズム（逆アセンブラ又は状態ベースのフィル
タ）による処理がこの一般的な規則に優先する場合であ
る。サンプルの抑制状態又は表示状態における変更によ
り、同じサンプルが表示に２回現れることはない。
施例において、変更しないのが最良である取り込みデー
タには、いくつかの特性がある。例えば、通常、サンプ
ルは、番号の付け替えをしない。各サンプルは、取り込
みメモリにおける本来の蓄積位置を識別する独自の番号
を有しており、それを変更しないのが最良である。ま
た、表示順序は、一般的には変化しない。サンプル抑制
リストを変更することは、一般的には、２個のサンプル
の表示順序を違えることにはならない。これらは、他の
アルゴリズム（逆アセンブラ又は状態ベースのフィル
タ）による処理がこの一般的な規則に優先する場合であ
る。サンプルの抑制状態又は表示状態における変更によ
り、同じサンプルが表示に２回現れることはない。
【００２７】通常、各測定機器には、単一の抑制リスト
がある。インプリメンテーションの形式においては、総
てのデータ・ウィンドウが、共通抑制フィルタを通過し
たデータを表示する。他の可能性は、各データ・ウィン
ドウに対して個別の抑制を行うことである。次に、ユー
ザは、取り込んだデータの異なる部分を表示するため
に、いくつかの異なる表示を選択する。
がある。インプリメンテーションの形式においては、総
てのデータ・ウィンドウが、共通抑制フィルタを通過し
たデータを表示する。他の可能性は、各データ・ウィン
ドウに対して個別の抑制を行うことである。次に、ユー
ザは、取り込んだデータの異なる部分を表示するため
に、いくつかの異なる表示を選択する。
【００２８】本発明の好適な実施例について説明した
が、本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形変更が
可能である。
が、本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形変更が
可能である。
【００２９】
【発明の効果】上述の如く、本発明の多チャネル電子取
り込み測定機器によれば、任意の組み合わせのサンプル
を表示しないように抑制したり、分析しないように抑制
できる。
り込み測定機器によれば、任意の組み合わせのサンプル
を表示しないように抑制したり、分析しないように抑制
できる。
【図１】本発明において、完全に取り込んだメモリ記録
の部分からどのように仮想ビューを構成するかを示す概
念図である。
の部分からどのように仮想ビューを構成するかを示す概
念図である。
【図２】本発明における仮想ビュー管理ダイアログ・ボ
ックスの表示を示す図である。
ックスの表示を示す図である。
【図３】本発明における仮想ビューの一部の波形（時間
軸に沿っている）の表示を示す図である。
軸に沿っている）の表示を示す図である。
【図４】本発明における仮想ビューの一部でのリスト
（状態図）の表示を示す図である。
（状態図）の表示を示す図である。
Claims (4)
- 【請求項１】 ある期間にわたってデータ・チャネルの
動きを示す複数の順次デジタル・データ・サンプルを、
複数のデータ・チャネルの各々から取り込むデジタル・
データ取り込み手段と、 上記複数のデータ・チャネルの各々からの複数の取り込
まれた順次デジタル・データ・サンプルを含む取り込み
データ記録を蓄積するデータ取り込みメモリと、 蓄積された取り込みデータ記録の仮想ビューであって、
複数チャネルの各々に関連し、減少した複数の順次デジ
タル・データ・サンプルを含んだ上記仮想ビューを定義
できるデータ抑制手段と、 上記蓄積され取り込まれたデータ記録のビューの内容を
表示する表示手段とを具えた多チャネル電子取り込み測
定機器。 - 【請求項２】 データが抑制されるサンプル軸に沿った
領域におけるユーザの識別により、上記メモリの仮想ビ
ューを定義することを特徴とする請求項１の多チャネル
電子取り込み測定機器。 - 【請求項３】 上記メモリの仮想ビューを上記データ取
り込みメモリ用の仮想ビュー・サンプル・リストとして
維持し、上記サンプル・リストが上記仮想ビューの抑制
又は表示領域の第１サンプル及び最終サンプルを蓄積し
ていることを特徴とする請求項１の多チャネル電子取り
込み測定機器。 - 【請求項４】 上記メモリの仮想ビューの定義を後で使
用するためにセーブされることを特徴とする請求項１の
多チャネル電子取り込み測定機器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/337173 | 1999-06-21 | ||
| US09/337,173 US6515665B1 (en) | 1999-06-21 | 1999-06-21 | Data filtering/suppression of data acquisitions/samples for multi-channel electronic display and analysis |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001033281A true JP2001033281A (ja) | 2001-02-09 |
| JP3618279B2 JP3618279B2 (ja) | 2005-02-09 |
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ID=23319420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000185078A Expired - Fee Related JP3618279B2 (ja) | 1999-06-21 | 2000-06-20 | 多チャネル電子取り込み測定機器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
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| JP (1) | JP3618279B2 (ja) |
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| US6691050B2 (en) * | 2001-03-14 | 2004-02-10 | Agilent Technologies, Inc. | Data acquisition instrument architecture with flexible data acquisition, processing and display |
| US6965383B2 (en) * | 2001-12-11 | 2005-11-15 | Lecroy Corporation | Scaling persistence data with interpolation |
| US7085604B2 (en) * | 2001-12-28 | 2006-08-01 | Medtronic, Inc. | Mechanical metaphor for representing parameter constraints graphically for medical devices |
| US20040246252A1 (en) * | 2002-01-14 | 2004-12-09 | Morrow Jesse James | Method and apparatus for visualizing data |
| US7675851B2 (en) * | 2005-11-16 | 2010-03-09 | Cisco Technology, Inc. | System and method for synchronizing a back-up device in a communications environment |
| US20070255749A1 (en) * | 2006-04-27 | 2007-11-01 | Vrba Joseph A | Selective extractions of data from large transient data sets |
| US20070276868A1 (en) * | 2006-05-26 | 2007-11-29 | Peter Schlussler | Single point of access to land records |
| US7877233B2 (en) * | 2006-07-26 | 2011-01-25 | Invensys Systems, Inc. | Selectively presenting timestamped time-series data values for retrieved supervisory control and manufacturing/production parameters |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6255564A (ja) * | 1985-09-04 | 1987-03-11 | Nec Corp | 不用デ−タサプレス機能付ロジツクアナライザ |
| KR0152089B1 (ko) * | 1990-03-19 | 1998-10-01 | 미우라 아끼라 | 금속 킬레이트 화합물 및 그것을 이용한 광학적 기록 매체 |
| EP0664459B1 (en) * | 1990-03-30 | 2000-05-31 | Anritsu Corporation | Waveform display apparatus for easily realizing high-definition waveform observation |
| US5446650A (en) * | 1993-10-12 | 1995-08-29 | Tektronix, Inc. | Logic signal extraction |
| US5397981A (en) * | 1994-02-28 | 1995-03-14 | Fluke Corporation | Digital storage oscilloscope with automatic time base |
| US5815166A (en) * | 1995-03-24 | 1998-09-29 | 3Dlabs Inc., Ltd. | Graphics subsystem with slaveable rasterizer |
| US5790133A (en) | 1996-02-27 | 1998-08-04 | Hewlett-Packard Company | Method of rapidly displaying large data records retrieved by deep memory digital oscilloscopes and logic analyzers |
| US5929838A (en) * | 1996-04-17 | 1999-07-27 | Hewlett-Packard Company | Acquisition manager and method for alternating digital oscilloscope operation between fast update rate and long record length |
| DE19617620A1 (de) * | 1996-05-02 | 1997-11-13 | Traub Drehmaschinen Gmbh | Diagnoseeinrichtung |
| US6327544B1 (en) * | 1999-03-01 | 2001-12-04 | Agilent Technologies, Inc. | Automatic storage of a trigger definition in a signal measurement system |
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-
1999
- 1999-06-21 US US09/337,173 patent/US6515665B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-06-05 DE DE10027822A patent/DE10027822B4/de not_active Expired - Fee Related
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| US6515665B1 (en) | 2003-02-04 |
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| DE10027822A1 (de) | 2001-04-05 |
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