JP2001016505A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JP2001016505A
JP2001016505A JP11180635A JP18063599A JP2001016505A JP 2001016505 A JP2001016505 A JP 2001016505A JP 11180635 A JP11180635 A JP 11180635A JP 18063599 A JP18063599 A JP 18063599A JP 2001016505 A JP2001016505 A JP 2001016505A
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transistor
electrode
solid
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imaging device
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JP11180635A
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Kenichi Kakumoto
兼一 角本
Yasushi Kusaka
泰 草鹿
Takeshi Yano
壮 矢野
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、撮像する被写体の輝度範囲に応じ
て、固体撮像素子の入射光に対する電気信号の線形変換
動作と対数変換動作とを、撮像者が切り換えることがで
きる固体撮像装置を提供することを目的とする。 【解決手段】対物レンズ2を介して入射される光をエリ
アセンサ(固体撮像素子)3で電気信号に変換する際、
広い輝度範囲の被写体を撮像することができる対数変換
動作と、階調性の豊かな撮像を行うことができる線形変
換動作とを、撮像者がスイッチ4を操作することによっ
て選択して、このスイッチ4に同期して切換信号発生回
路より切換信号がエリアセンサ3に送出される。この切
換信号によって、エリアセンサ3内に設けられた各画素
内のフォトダイオードから光電流が流れるMOSトラン
ジスタのバイアス電圧を変化させることで、エリアセン
サ3を対数変換動作、又は線形変換動作に切り換えるこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入射光に対する電
気信号の線形変換と対数変換を行える固体撮像素子を有
する固体撮像装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、フォトダイオードなどの感光
素子をマトリクス状に配置したエリアセンサ等の固体撮
像素子は、その感光素子に入射された光の輝度に対し
て、線形的に変換した信号を出力する。このように線形
変換を行うエリアセンサ(以下、「リニアセンサ」と呼
ぶ。)は、例えば、レンズの絞りを調整することによ
り、被写体の最も明るい部分(ハイライト部)を撮像す
る感光素子がその最大レベルの90パーセント程度のレ
ベルの電気信号として出力できるように、調節される。
このようなリニアセンサを用いることによって、被写体
の輝度分布においてその最小値をLmin[cd/m2]、
その最大値をLmax[cd/m2]としたとき、被写体の
輝度範囲 Lmax/Lmin が2桁以下の狭い範囲であれば
階調性豊かに被写体の情報を取り込むことができる。
【0003】それに対して、本出願人は、入射した光量
に応じた電流を発生する感光素子と、その電流を入力す
るMOSトランジスタと、このMOSトランジスタをサ
ブスレッショルド電流が流れうる状態にバイアスするバ
イアス手段とを備え、感光素子からの電流を対数変換す
るようにしたエリアセンサ(以下、「LOGセンサ」と
呼ぶ。)を提案した(特開平3−192764号公報参
照)。このようなLOGセンサは、被写体の最も明るい
部分(ハイライト部)を撮像する感光素子がその最大レ
ベルの90パーセント程度のレベルの電気信号として出
力できるように、調節したとき、その輝度範囲 Lmax/
Lmin が5桁〜6桁の広い範囲となる被写体の情報を取
り込むことができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、リニアセン
サを用いたときは撮像可能な輝度範囲が略2桁と狭いた
め、被写体に直射日光が当たるなどの要因で被写体の輝
度が明るくなって、明部が感光素子が扱えるレベルを超
えてオーバーフローを起こすような状態になったとき、
このレベルを超えた明部の情報を取り込むことができ
ず、白トビという現象が起こる。又、この白トビを避け
るために、取り込み可能な輝度範囲を明部側にシフトし
て明部の情報を取り込み可能とすると、逆に暗部の情報
を取り込むことができず、黒ツブレという現象が起こ
る。
【0005】一方、LOGセンサの出力特性は図11の
ように対数関数を示す。そのため、このLOGセンサを
用いたときは、高輝度部での階調性が乏しくなりやす
く、例えば、明るい被写体に対しては、暗部及び明部の
情報をともに取り込むことが可能であるが、暗い被写体
に対しては、明部の階調性が乏しくなるなどの問題があ
った。
【0006】このような問題点を鑑みて、本発明は、固
体撮像素子の入射光に対する電気信号の線形変換動作と
対数変換動作とを、撮像者が切り換えることができる固
体撮像装置を提供することを目的とする。又、本発明の
他の目的は、被写体の明るさの状態にあわせて撮像でき
る固体撮像装置を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の問題を達成するた
め請求項1に記載の固体撮像装置は、入射光量に応じた
電気信号を発生する固体撮像素子を有する固体撮像装置
において、前記固体撮像素子の動作状態を、前記電気信
号が入射光量に対して線形的に変換されて出力される第
1状態と、自然対数的に変換されて出力される第2状態
とに切り換え可能とするとともに、その動作状態を手動
で切り換える操作部材を設けたことを特徴とする。
【0008】このような構成の固体撮像装置によると、
階調性の良い第1状態と、輝度範囲の広い被写体を撮像
可能な第2状態とを、撮像者の意図にあわせて切り換え
ることができる。又、請求項2に記載するように、前記
操作部材の操作に応答して、前記動作状態を切り換える
ための切換信号を発生する切換信号発生回路を設けても
良い。
【0009】更に、この請求項2に記載する固体撮像装
置において、請求項3に記載するように、前記切換信号
を2値の電圧信号とすることによって、固体撮像素子の
素子に印加するバイアス電圧の値を変化させることによ
って、固体撮像素子の動作を第1状態又は第2状態に切
り換えることができる。
【0010】請求項4に記載の固体撮像装置は、請求項
1〜請求項3のいずれかに記載の固体撮像装置におい
て、前記固体撮像素子が、第1電極に直流電圧が印加さ
れた感光素子と、第1電極と第2電極と制御電極とを備
え、第1電極及び制御電極が前記感光素子の第2電極に
接続され、前記感光素子からの出力電流が流れ込むトラ
ンジスタと、を有し、前記トランジスタの第1電極と第
2電極の間の電位差を変化させることによって、固体撮
像素子の動作を、第1状態と第2状態とに切り換えるこ
とを特徴とする。
【0011】請求項5に記載の固体撮像装置は、請求項
1〜請求項3のいずれかに記載の固体撮像装置におい
て、前記固体撮像素子が、第1電極に直流電圧が印加さ
れた感光素子と、第1電極と第2電極と制御電極とを備
え、第1電極が前記感光素子の第2電極に接続され、前
記感光素子からの出力電流が流れ込むとともに、第2電
極と制御電極とが接続されたトランジスタと、を有し、
前記トランジスタの第1電極と第2電極の間の電位差を
変化させることによって、固体撮像素子の動作を、第1
状態と第2状態とに切り換えることを特徴とする。
【0012】請求項6に記載の固体撮像装置は、請求項
1〜請求項3のいずれかに記載の固体撮像装置におい
て、前記固体撮像素子が、第1電極に直流電圧が印加さ
れた感光素子と、第1電極と第2電極と制御電極とを備
え、制御電極に直流電圧が印加されるともに、第1電極
が前記感光素子の第2電極に接続され、前記感光素子か
らの出力電流が流れ込むトランジスタと、を有し、前記
トランジスタの第1電極と第2電極の間の電位差を変化
させることによって、固体撮像素子の動作を、第1状態
と第2状態とに切り換えることを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態について、図面
を参照して説明する。図1は、本発明を実施した固体撮
像装置の内部構造を示すブロック図である。図2及び図
4は、図1に示す固体撮像装置に設けられた固体撮像素
子であるエリアセンサの構造の1例を示すブロック図で
ある。図3は、図2に示すエリアセンサ内の画素の構成
の1例を示す回路図である。図6は、図4に示すエリア
センサ内の画素の構成の1例を示す回路図である。
【0014】図1に示す固体撮像装置1は、対物レンズ
2と、該対物レンズ2を介して入射する光に応じて対数
変換もしくは線形変換を行った電気信号を出力するエリ
アセンサ3と、固体撮像装置1の外部に設けられるとと
もに撮像者によって操作されるスイッチ4と、スイッチ
4が操作されることによってエリアセンサ3の対数変換
動作と線形変換動作とを切り換えるための切換信号をエ
リアセンサ3に送出する切換信号発生回路5と、エリア
センサ3から送出される電気信号を演算処理する処理部
6とを有している。処理部6で処理された信号は、出力
端子91から固体撮像装置1の外部へ出力され記録媒体
への記録や表示装置への出力など種々の用途に供され
る。又、出力端子92からファインダー20へも与えら
れる。
【0015】このような構成の固体撮像装置に設けられ
たエリアセンサ3の構成の一例について、図2を参照し
て説明する。同図において、G11〜Gmnは行列配置
(マトリクス配置)された画素を示している。7は垂直
走査回路であり、行(ライン)9−1、9−2、・・
・、9−nを順次走査していく。8は水平走査回路であ
り、画素から出力信号線10−1、10−2、・・・、
10−mに導出された光電変換信号を画素ごとに水平方
向に順次読み出す。11は電源ラインである。各画素に
対し、上記ライン9−1、9−2、・・・、9−nや出
力信号線10−1、10−2、・・・、10−m、電源
ライン11だけでなく、他のライン(例えば、クロック
ラインやバイアス供給ライン等)も接続されるが、図2
ではこれらについて省略する。
【0016】出力信号線10−1、10−2、・・・、
10−mごとにNチャネルのMOSトランジスタQ1、
Q2、・・・、Qmが図示の如く1つずつ設けられてい
る。トランジスタQ1、Q2、・・・、Qmのドレイン
は、それぞれ出力信号線10−1、10−2、・・・、
10−mに接続され、ソースは最終的な信号線12に接
続され、ゲートは水平走査回路8に接続されている。
尚、後述するように各画素内にはスイッチ用のNチャネ
ルの第4MOSトランジスタT4も設けられている。こ
こで、トランジスタT4は行の選択を行うものであり、
トランジスタQ1〜Qmは列の選択を行うものである。
【0017】更に、このようなエリアセンサ3内の各画
素の構成について、図3を参照して説明する。図3にお
いて、pnフォトダイオードPDが感光部(光電変換
部)を形成している。そのフォトダイオードPDのアノ
ードは第1MOSトランジスタT1のドレインとゲー
ト、第2MOSトランジスタT2のゲート、及び第3M
OSトランジスタT3のドレインに接続されている。ト
ランジスタT2のソースは行選択用の第4MOSトラン
ジスタT4のドレインに接続されている。トランジスタ
T4のソースは出力信号線10(この出力信号線10は
図2の10−1、10−2、・・・、10−mに対応す
る)へ接続されている。尚、トランジスタT1,T2,
T3,T4は、NチャネルのMOSトランジスタでバッ
クゲートが接地されている。
【0018】又、フォトダイオードPDのカソードには
直流電圧VPDが印加されるようになっている。一方、ト
ランジスタT1のソースには信号φVPSが印加され、ト
ランジスタT2のソースにはキャパシタCの一端が接続
される。キャパシタCの他端には信号φVPSが与えられ
る。トランジスタT3のソースには直流電圧VRBが印加
されるとともに、そのゲートには信号φVRSが入力され
る。トランジスタT2のドレインには信号φDが入力さ
れる。又、トランジスタT4のゲートには信号φVが入
力される。尚、本実施形態において、信号φVPSは、2
値的に変化するものとし、トランジスタT1,T2をサ
ブスレッショルド領域で動作させるための電圧をローレ
ベルとし、直流電圧VPDと略等しい電圧をハイレベルと
する。
【0019】このような構成の画素において、信号φV
PSの電圧値を切り換えてトランジスタT1のバイアスを
変えることにより、単一の画素において出力信号線10
に導出される出力信号をフォトダイオードPDが入射光
に応じて出力する電気信号(以下、「光電流」とい
う。)に対して自然対数的に変換させる場合と、線形的
に変換させる場合とを実現することができる。以下、こ
れらの各場合について簡単に説明する。
【0020】(1) 光電流を自然対数的に変換して出
力する場合。まず、信号φVPSをローレベルとし、トラ
ンジスタT1,T2がサブスレッショルド領域で動作す
るようにバイアスされているときの動作について、説明
する。このとき、トランジスタT3のゲートに与えられ
る信号φVRSがローレベルになっているので、トランジ
スタT3はOFFとなり、実質的に存在しないことと等
価になる。又、トランジスタT2に与えられる信号φD
はハイレベル(直流電圧VPDと同じ又は直流電圧VPDに
近い電位)とする。
【0021】図3の回路において、フォトダイオードP
Dに光が入射すると光電流が発生し、トランジスタのサ
ブスレッショルド特性により、前記光電流を自然対数的
に変換した値の電圧がトランジスタT1,T2のゲート
に発生する。この電圧により、トランジスタT2に電流
が流れ、キャパシタCには前記光電流の積分値を自然対
数的に変換した値と同等の電荷が蓄積される。つまり、
キャパシタCとトランジスタT2のソースとの接続ノー
ドaに、前記光電流の積分値を自然対数的に変換した値
に比例した電圧が生じることになる。ただし、このと
き、トランジスタT4はOFFの状態であるとする。
【0022】次に、トランジスタT4のゲートにパルス
信号φVを与えて、トランジスタT4をONにすると、
キャパシタCに蓄積された電荷が、出力電流として出力
信号線10に導出される。この出力信号線10に導出さ
れる電流は前記光電流の積分値を自然対数的に変換した
値となる。このようにして入射光量の対数値に比例した
信号(出力電流)を読み出すことができる。信号を読み
出した後、トランジスタT4をOFFとするとともに信
号φDをローレベル(信号φVPSよりも低い電位)にし
てトランジスタT2を通して信号φDの線路へキャパシ
タCに蓄積された電荷を放電することによって、キャパ
シタC及び接続ノードaの電位が初期化される。このよ
うな動作を所定の時間間隔で繰り返すことにより、刻々
と変化する被写体像を広いダイナミックレンジで連続的
に撮像することができる。尚、このように入射光量を自
然対数的に変換する場合、信号φVRSは、常にローレベ
ルのままであり、トランジスタT3はOFF状態となっ
ている。
【0023】(2) 光電流を線形的に変換して出力す
る場合。次に、信号φVPSをハイレベルとしたときの動
作について説明する。このとき、トランジスタT1のソ
ース側のポテンシャルが高くなる。よって、トランジス
タT1は実質的にOFF状態となり、トランジスタT1
のソース・ドレイン間に電流が流れない。又、トランジ
スタT3のゲートに与える信号φVRSをローレベルに保
ち、トランジスタT3をOFFにしておく。
【0024】そして、まず、トランジスタT4をOFF
するとともに信号φDをローレベル(信号φVPSよりも
低い電位)にするとキャパシタCの電荷がトランジスタ
T2を通して信号φDの線路へ放電され、それによって
キャパシタCをリセットして、接続ノードaの電位を例
えば直流電圧VPDより低い電位に初期化する。この電位
はキャパシタCによって保持される。その後、φDをハ
イレベル(直流電圧VPDと同じ又は直流電圧VPDに近い
電位)に戻す。このような状態において、フォトダイオ
ードPDに光が入射すると光電流が発生する。このと
き、トランジスタT1のバックゲートとゲートとの間や
フォトダイオードPDの接合容量などでキャパシタを構
成するので、光電流による電荷が主としてトランジスタ
T1,T2のゲートに蓄積される。よって、トランジス
タT1,T2のゲート電圧が前記光電流を積分した値に
比例した値になる。
【0025】今、接続ノードaの電位が前記初期化によ
り直流電圧VPDより低くなっているので、トランジスタ
T2はONし、トランジスタT2のゲート電圧に応じた
ドレイン電流がトランジスタT2を流れ、トランジスタ
T2のゲート電圧に比例した量の電荷がキャパシタCに
蓄積される。よって、接続ノードaの電位が前記光電流
を積分した値に比例した値になる。次に、トランジスタ
T4のゲートにパルス信号φVを与えて、トランジスタ
T4をONにすると、キャパシタCに蓄積された電荷
が、出力電流として出力信号線10に導出される。この
出力電流は前記光電流の積分値を線形的に変換した値と
なる。
【0026】このようにして入射光量に比例した信号
(出力電流)を読み出すことができる。又、この後、ト
ランジスタT4をOFFとするとともに信号φDをロー
レベルにしてトランジスタT2を通して信号φDの線路
へ放電することによって、キャパシタC及び接続ノード
aの電位が初期化される。しかる後、トランジスタT3
のゲートにハイレベルの信号φVRSを与えることで、ト
ランジスタT3をONにして、フォトダイオードPD、
トランジスタT1のドレイン電圧及びトランジスタT
1,T2のゲート電圧を初期化させる。このような動作
を所定の時間間隔で繰り返すことにより、刻々と変化す
る被写体像をS/N比の良好な状態で連続的に撮像する
ことができる。
【0027】このように、図3に示す画素は、簡単な電
位操作により同一の画素で光電変換出力特性を切り換え
ることが可能になる。尚、信号を対数変換して出力する
状態から線形変換して出力する状態に切り換える際に
は、まずφVPSの電位調整により出力の切り換えを行っ
てから、トランジスタT3によるトランジスタT1など
のリセットを行うことが好ましい。一方、信号を線形変
換して出力する状態から対数変換して出力する状態に切
り換える際には、トランジスタT3によるトランジスタ
T1などのリセットは特に必要ない。これは、トランジ
スタT1が完全なOFF状態ではないことに起因してト
ランジスタT1に蓄積されたキャリアは逆極性のキャリ
アによってうち消されるためである。
【0028】又、エリアセンサ3の構成の別の例につい
て、図4を参照して説明する。同図において、G11〜G
mnは行列配置(マトリクス配置)された画素を示して
いる。7は垂直走査回路であり、行(ライン)9−1、
9−2、・・・、9−nを順次走査していく。8は水平
走査回路であり、画素から出力信号線10−1、10−
2、・・・、10−mに導出された光電変換信号を画素
ごとに水平方向に順次読み出す。11は電源ラインであ
る。各画素に対し、上記ライン9−1、9−2・・・、
9−nや出力信号線10−1、10−2・・・、10−
m、電源ライン11だけでなく、他のライン(例えば、
クロックラインやバイアス供給ライン等)も接続される
が、図4ではこれらについて省略する。
【0029】出力信号線10−1、10−2・・・、1
0−mごとにNチャネルのMOSトランジスタQ1、Q
2、・・・、Qm及びNチャネルのMOSトランジスタ
Qa1、Qa2、・・・、Qamが図示の如く1組ずつ
設けられている。トランジスタQa1、Qa2、・・
・、Qamのゲートは直流電圧線13に接続され、ドレ
インはそれぞれ出力信号線10−1、10−2・・・、
10−mに接続され、ソースは直流電圧VPS’のライン
14に接続されている。一方、トランジスタQ1、Q
2、・・・、Qmのドレインはそれぞれ出力信号線10
−1、10−2・・・、10−mに接続され、ソースは
最終的な信号線12に接続され、ゲートは水平走査回路
8に接続されている。
【0030】画素G11〜Gmnには、後述するように、
それらの画素で発生した光電荷に基づく信号を出力する
Nチャネルの第5MOSトランジスタT5が設けられて
いる。トランジスタT5とトランジスタQa(このトラ
ンジスタQaは、図4のトランジスタQa1〜Qamに
対応する。)との接続関係は図5(a)のようになる。
ここで、トランジスタQaのソースに接続される直流電
圧VPS’と、トランジスタT5のドレインに接続される
直流電圧VPD’との関係はVPD’>VPS’であり、直流
電圧VPS’は例えばグランド電圧(接地)である。この
回路構成は上段のトランジスタT5のゲートに信号が入
力され、下段のトランジスタQaのゲートには直流電圧
DCが常時印加される。このため下段のトランジスタQ
aは抵抗又は定電流源と等価であり、図5(a)の回路
はソースフォロワ型の増幅回路となっている。この場
合、トランジスタT5から増幅出力されるのは電流であ
ると考えてよい。
【0031】トランジスタQ(このトランジスタQは、
図4のトランジスタQ1〜Qmに対応する。)は水平走
査回路8によって制御され、スイッチ素子として動作す
る。尚、後述するように図6の画素内にはスイッチ用の
Nチャネルの第4MOSトランジスタT4も設けられて
いる。このトランジスタT4も含めて表わすと、図5
(a)の回路は正確には図5(b)のようになる。即
ち、トランジスタT4がトランジスタQaとトランジス
タT5との間に挿入されている。ここで、トランジスタ
T4は行の選択を行うものであり、トランジスタQは列
の選択を行うものである。
【0032】図5のように構成することにより信号のゲ
インを大きく出力することができる。従って、画素がダ
イナミックレンジ拡大のために感光素子から発生する光
電流を自然対数的に変換しているような場合は、そのま
までは出力信号が小さいが、本増幅回路により充分大き
な信号に増幅されるため、後続の信号処理回路(図示せ
ず)での処理が楽になる。また、増幅回路の負荷抵抗部
分を構成するトランジスタQaを画素内に設けずに、列
方向に配置された複数の画素が接続される出力信号線1
0−1、10−2、・・・、10−mごとに設けること
により、負荷抵抗又は定電流源の数を低減でき、半導体
チップ上で増幅回路が占める面積を少なくできる。
【0033】図4に示した構成のエリアセンサ3の各画
素の一例について、図6を参照して説明する。尚、図3
に示す画素と同様の目的で使用される素子及び信号線な
どは、同一の符号を付して、その詳細な説明は省略す
る。
【0034】図6に示す画素は、図3に示す画素に、接
続ノードaにゲートが接続され接続ノードaにかかる電
圧に応じた電流増幅を行う第5MOSトランジスタT5
と、このトランジスタT5のソースにドレインが接続さ
れた行選択用の第4MOSトランジスタT4と、接続ノ
ードaにドレインが接続されキャパシタC及び接続ノー
ドaの電位の初期化を行う第6MOSトランジスタT6
とが付加された構成となる。トランジスタT4のソース
は出力信号線10(この出力信号線10は図4の10−
1、10−2、・・・、10−mに対応する)へ接続さ
れている。尚、トランジスタT4〜T6も、トランジス
タT1〜T3と同様に、NチャネルのMOSトランジス
タでバックゲートが接地されている。
【0035】又、トランジスタT2,T5のドレインに
は直流電圧VPDが印加され、トランジスタT4のゲート
には信号φVが入力される。又、トランジスタT6のソ
ースには直流電圧VRB2が印加されるとともに、そのゲ
ートには信号φVRS2が入力される。尚、本実施形態に
おいて、トランジスタT1〜T3及びキャパシタCは、
図3に示す画素内の各素子と同様の動作を行い、信号φ
VPSの電圧値を切り換えてトランジスタT1のバイアス
を変えることにより、出力信号線10に導出される出力
信号を光電流に対して自然対数的に変換させる場合と、
線形的に変換させる場合とを実現することができる。以
下これらの各場合における動作を説明する。
【0036】(1) 光電流を自然対数的に変換して出
力する場合。まず、信号φVPSをローレベルとし、トラ
ンジスタT1,T2がサブスレッショルド領域で動作す
るようにバイアスされているときの動作について、説明
する。このとき、トランジスタT3のゲートには、第1
の実施形態と同様にローレベルの信号φVRSが与えられ
るので、トランジスタT3はOFFとなり、実質的に存
在しないことと等価になる。
【0037】フォトダイオードPDに光が入射すると光
電流が発生し、トランジスタのサブスレッショルド特性
により、前記光電流を自然対数的に変換した値の電圧が
トランジスタT1,T2のゲートに発生する。この電圧
により、トランジスタT2に電流が流れ、キャパシタC
には前記光電流の積分値を自然対数的に変換した値と同
等の電荷が蓄積される。つまり、キャパシタCとトラン
ジスタT2のソースとの接続ノードaに、前記光電流の
積分値を自然対数的に変換した値に比例した電圧が生じ
ることになる。ただし、このとき、トランジスタT4,
T6はOFF状態である。
【0038】次に、トランジスタT4のゲートにパルス
信号を与えて、トランジスタT4をONにすると、トラ
ンジスタT5のゲートにかかる電圧に比例した電流がト
ランジスタT4,T5を通って出力信号線10に導出さ
れる。今、トランジスタT5のゲートにかかる電圧は、
接続ノードaにかかる電圧であるので、出力信号線10
に導出される電流は前記光電流の積分値を自然対数的に
変換した値となる。
【0039】このようにして入射光量の対数値に比例し
た信号(出力電流)を読み出すことができる。信号読み
出し後はトランジスタT4をOFFにするとともに、ト
ランジスタT6のゲートにハイレベルの信号φVRS2を
与えることでトランジスタT6をONとして、キャパシ
タC及び接続ノードaの電位を初期化させることができ
る。尚、このように入射光量に対してその出力電流を自
然対数的に変換する場合、信号φVRSは、常にローレベ
ルのままである。
【0040】(2) 光電流を線形的に変換して出力す
る場合。次に、信号φVPSをハイレベルとしたときの動
作について説明する。このとき、トランジスタT3のゲ
ートにローレベルの信号φVRSを与えて、トランジスタ
T3はOFFとする。そして、まず、トランジスタT6
のゲートにハイレベルの信号φVRS2を与えて該トラン
ジスタT6をONすることによりキャパシタCをリセッ
トするとともに、接続ノードaの電位を直流電圧VPDよ
り低い電位VRB2に初期化する。この電位はキャパシタ
Cによって保持される。その後、信号φVRS2をローレ
ベルとして、トランジスタT6をOFFとする。このよ
うな状態において、フォトダイオードPDに光が入射す
ると光電流が発生する。このとき、トランジスタT1の
バックゲートとゲートとの間やフォトダイオードPDの
接合容量でキャパシタを構成するので、光電流による電
荷がトランジスタT1のゲート及びドレインに蓄積され
る。よって、トランジスタT1,T2のゲート電圧が前
記光電流を積分した値に比例した値になる。
【0041】今、接続ノードaの電位が直流電圧VPDよ
り低いので、トランジスタT2はONし、トランジスタ
T2のゲート電圧に応じたドレイン電流がトランジスタ
T2を流れ、トランジスタT2のゲート電圧に比例した
量の電荷がキャパシタCに蓄積される。よって、接続ノ
ードaの電位が前記光電流を積分した値に比例した値に
なる。次に、トランジスタT4のゲートにパルス信号を
与えて、トランジスタT4をONにすると、トランジス
タT5のゲートにかかる電圧に比例した電流がトランジ
スタT4,T5を通って出力信号線10に導出される。
トランジスタT5のゲートにかかる電圧は、接続ノード
aの電圧であるので、出力信号線10に導出される電流
は前記光電流の積分値を線形的に変換した値となる。
【0042】このようにして入射光量に比例した信号
(出力電流)を読み出すことができる。信号読み出し後
は、まず、トランジスタT4をOFFにするとともに、
トランジスタT3のゲートにハイレベルの信号φVRSを
与えることで、トランジスタT3をONとして、フォト
ダイオードPD、トランジスタT1のドレイン電圧、及
びトランジスタT1,T2のゲート電圧を初期化させ
る。次に、トランジスタT6のゲートにハイレベルの信
号φVRS2を与えることでトランジスタT6をONとし
て、キャパシタC及び接続ノードaの電位を初期化させ
る。
【0043】又、各画素からの信号読み出しは電荷結合
素子(CCD)を用いて行うようにしてもかまわない。
この場合、図3又は図6のトランジスタT4に相当する
ポテンシャルレベルを可変としたポテンシャルの障壁を
設けることにより、CCDへの電荷読み出しを行えばよ
い。
【0044】ところで、上記した図3のような画素を設
けた図2のような構成のエリアセンサ又は図6のような
画素を設けた図4のような構成のエリアセンサをエリア
センサ3に用いたときの固体撮像装置の動作について、
図1を参照して以下に説明する。撮像者が、エリアセン
サ3が線形変換を行うようにスイッチ4を操作したと
き、このスイッチ4により切換信号発生回路5より、φ
VPS(図3又は図6)をハイレベルとする切換信号を発
生する。この切換信号により、画素内のトランジスタT
1(図3又は図6)のソースにかかる電圧がハイレベル
となって、上記したように、トランジスタT1が実質的
にOFF状態となり、エリアセンサ3から線形変換され
た電気信号が出力信号線10(図3又は図6)及び最終
的な信号線12(図2又は図4)を介して処理部6に送
出される。このように送出された電気信号を処理部6で
演算処理を行い、ファインダー20に撮像した画像を映
し出す。
【0045】又、撮像者が、エリアセンサ3が対数変換
を行うようにスイッチ4を操作したとき、このスイッチ
4により切換信号発生回路5より、φVPS(図3又は図
6)をローレベルとする切換信号を発生する。この切換
信号により、画素内のトランジスタT1のソース及びキ
ャパシタC(図3又は図6)にかかる電圧がローレベル
となって、上記したように、トランジスタT1,T2
(図3又は図6)がサブスレッショルド領域で動作する
ようにバイアスされ、エリアセンサ3から対数変換され
た電気信号が出力信号線10(図3又は図6)及び最終
的な信号線12(図2又は図4)を介して処理部6に送
出される。このように送出された電気信号を処理部6で
演算処理を行い、ファインダー20に撮像した画像を映
し出す。
【0046】このような固体撮像装置1を用いて撮像す
るとき、例えば、直射日光のない曇天の昼間に屋外で撮
像する場合、被写体の輝度範囲は2桁程度であるので、
階調性をよくするためにファインダー20を覗いて撮像
を行っている撮像者はスイッチ4によってエリアセンサ
3が線形変換を行うように選択することができる。この
ようにエリアセンサ3に線形変換動作を行わせていると
きに、急に被写体に日光の直射が当たったとき、被写体
の輝度範囲が広がって、ファインダー20に映し出され
た画像に白トビや黒ツブレが発生する。このように、フ
ァインダー20に白トビや黒ツブレが発生した画像が映
し出されると、そのことを撮像者が認知して、広い輝度
範囲の被写体を撮像することが可能とするために、エリ
アセンサ3が対数変換を行うように、スイッチ4を切り
換えることができる。
【0047】本実施形態では、図2のような構成のエリ
アセンサにおいて、図3のような回路構成の画素を用い
て説明したが、このような回路構成の画素以外に、例え
ば、図7又は図8に示すような回路構成の画素を用いて
もかまわない。ここで、図7の画素の構成について、以
下に説明する。尚、図3に示す画素と同様の目的で使用
される素子及び信号線などは、同一の符号を付して、そ
の詳細な説明は省略する。
【0048】図7に示す画素は、図3に示す画素のよう
に、トランジスタT1のドレインとゲートを接続せず
に、ソースとゲートを接続するようにしている。まず、
光電流を対数変換して出力するときの画素の動作につい
て説明する。トランジスタT1のソース・ドレイン間の
電圧差を大きくして、ゲート・ソース間に発生する電圧
をスレッショルド電圧より小さくする。このようにする
ことによって、トランジスタT1がサブスレッショルド
領域で動作するようにバイアスされているときと同様の
状態とする。よって、フォトダイオードPDより発生す
る光電流を対数変換して出力することができる。
【0049】次に、光電流を線形変換して出力するとき
の画素の動作について説明する。このときは、トランジ
スタT1のソースに印加する信号φVPSを直流電圧VPD
より若干低い電位にすることによって、トランジスタT
1を実質的にカットオフ状態とする。よって、トランジ
スタT1のソース・ドレイン間に電流が流れない。その
後の動作については、図3に示す画素と同様である。
【0050】次に、図8の画素の構成について、以下に
説明する。尚、図7に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
【0051】図8に示す画素では、トランジスタT1の
ゲートが直流電圧VRGを印加される。その他の回路構成
については、図7に示す画素内の回路構成と同様であ
る。このような構成の画素を用いたとき、その動作は本
質的には図7に示す画素と同様である。しかし、図7の
画素と異なりトランジスタT1のゲート電圧を適切な電
圧に設定できるので、対数変換動作を行うときに、図7
の画素のように、φVPSを十分に低い電圧とする必要が
なく、ある程度低い電圧とすることによって、トランジ
スタT1をサブスレッショルド領域でバイアスしたとき
と同様の状態にすることができる。又、線形変換動作を
行うときは、図7の画素と同様である。
【0052】又、本実施形態では、図4のような構成の
エリアセンサにおいて、図6のような回路構成の画素を
用いて説明したが、このような回路構成の画素以外に、
例えば、図9又は図10に示すような回路構成の画素を
用いてもかまわない。ここで、図9の画素の構成につい
て、以下に説明する。尚、図6に示す画素と同様の目的
で使用される素子及び信号線などは、同一の符号を付し
て、その詳細な説明は省略する。
【0053】図9に示す画素は、図6に示す画素のよう
に、トランジスタT1のドレインとゲートを接続せず
に、ソースとゲートを接続するようにしている。まず、
光電流を対数変換して出力するときの画素の動作につい
て説明する。トランジスタT1のソース・ドレイン間の
電圧差を大きくして、ゲート・ソース間に発生する電圧
をスレッショルド電圧より小さくする。このようにする
ことによって、トランジスタT1がサブスレッショルド
領域で動作するようにバイアスされているときと同様の
状態とする。よって、フォトダイオードPDより発生す
る光電流を対数変換して出力することができる。
【0054】次に、光電流を線形変換して出力するとき
の画素の動作について説明する。このときは、トランジ
スタT1のソースに印加する信号φVPSを直流電圧VPD
より若干低い電位にすることによって、トランジスタT
1を実質的にカットオフ状態とする。よって、トランジ
スタT1のソース・ドレイン間に電流が流れない。その
後の動作については、図6に示す画素と同様である。
【0055】次に、図10の画素の構成について、以下
に説明する。尚、図9に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
【0056】図10に示す画素では、トランジスタT1
のゲートが直流電圧VRGを印加される。その他の回路構
成については、図9に示す画素内の回路構成と同様であ
る。このような構成の画素を用いたとき、その動作は本
質的には図9に示す画素と同様である。しかし、図9の
画素と異なりトランジスタT1のゲート電圧を適切な電
圧に設定できるので、対数変換動作を行うときに、図9
の画素のように、φVPSを十分に低い電圧とする必要が
なく、ある程度低い電圧とすることによって、トランジ
スタT1をサブスレッショルド領域でバイアスしたとき
と同様の状態にすることができる。又、線形変換動作を
行うときは、図9の画素と同様である。
【0057】更に、本発明で使用する画素は、1つの画
素で対数変換動作及び線形変換動作を行うことが可能で
あればよく、例えば、図3、図6、図7、図8、図9又
は図10の画素のキャパシタを省略するような回路構成
の画素を用いてもかまわない。又、対数変換動作及び線
形変換動作が切換可能な画素であれば、その回路構成は
これらの回路構成に限定されるものではない。
【0058】又、エリアセンサについても、図2又は図
4のような構成のエリアセンサを用いて説明したが、こ
のような構成のエリアセンサに限定されるものでなく、
例えば、エリアセンサ内に設けられたMOSトランジス
タがPチャネルのMOSトランジスタであるような他の
構成のエリアセンサでも良い。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
入射光に対し電気信号を対数変換するか線形変換するか
を、操作部材で操作することにより、手動で切り換えす
ることが可能となる。そのため、撮像者の判断又は意図
により、広い輝度範囲を撮像できるように固体撮像素子
に対数変換動作を行わせるか、又は、階調性良く撮像で
きるように固体撮像素子に線形変換動作を行わせるかを
選択することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の固体撮像装置の内部構造を示すブロッ
ク図。
【図2】図1に示す固体撮像装置に用いられるエリアセ
ンサの内部構造の1例。
【図3】図2に示すエリアセンサ内に設けられた画素の
回路構成の1例。
【図4】図1に示す固体撮像装置に用いられるエリアセ
ンサの内部構造の1例。
【図5】図4の一部の回路図。
【図6】図4に示すエリアセンサ内に設けられた画素の
回路構成の1例。
【図7】図2に示すエリアセンサ内に設けられた画素の
回路構成の1例。
【図8】図2に示すエリアセンサ内に設けられた画素の
回路構成の1例。
【図9】図4に示すエリアセンサ内に設けられた画素の
回路構成の1例。
【図10】図4に示すエリアセンサ内に設けられた画素
の回路構成の1例。
【図11】LOGセンサの出力特性を示す図。
【符号の説明】
1 固体撮像装置 2 対物レンズ 3 エリアセンサ(固体撮像素子) 4 スイッチ 5 切換信号発生回路 6 処理部 7 垂直走査回路 8 水平走査回路 9 ライン 10 出力信号線 11 電源ライン 12 信号線 20 ファインダー G11〜Gmn 画素 T1〜T6 NチャネルのMOSトランジスタ PD フォトダイオード C キャパシタ
フロントページの続き (72)発明者 矢野 壮 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 Fターム(参考) 4M118 AA02 AA10 AB01 BA14 CA02 DD09 FA06 5C022 AB31 AB68 AC42 AC69 5C024 AA01 CA15 CA21 FA01 GA01 GA31 HA11 HA16 JA04

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入射光量に応じた電気信号を発生する固
    体撮像素子を有する固体撮像装置において、 前記固体撮像素子の動作状態を、前記電気信号が入射光
    量に対して線形的に変換されて出力される第1状態と、
    自然対数的に変換されて出力される第2状態とに切り換
    え可能とするとともに、 その動作状態を手動で切り換える操作部材を設けたこと
    を特徴とする固体撮像装置。
  2. 【請求項2】 前記操作部材の操作に応答して、前記動
    作状態を切り換えるための切換信号を発生する切換信号
    発生回路を有することを特徴とする請求項1に記載の固
    体撮像装置。
  3. 【請求項3】 前記切換信号が、2値の電圧信号である
    ことを特徴とする請求項2に記載の固体撮像装置。
  4. 【請求項4】 前記固体撮像素子が、 第1電極に直流電圧が印加された感光素子と、 第1電極と第2電極と制御電極とを備え、第1電極及び
    制御電極が前記感光素子の第2電極に接続され、前記感
    光素子からの出力電流が流れ込むトランジスタと、を有
    し、 前記トランジスタの第1電極と第2電極の間の電位差を
    変化させることによって、固体撮像素子の動作を、第1
    状態と第2状態とに切り換えることを特徴とする請求項
    1〜請求項3のいずれかに記載の固体撮像装置。
  5. 【請求項5】 前記固体撮像素子が、 第1電極に直流電圧が印加された感光素子と、 第1電極と第2電極と制御電極とを備え、第1電極が前
    記感光素子の第2電極に接続され、前記感光素子からの
    出力電流が流れ込むとともに、第2電極と制御電極とが
    接続されたトランジスタと、を有し、 前記トランジスタの第1電極と第2電極の間の電位差を
    変化させることによって、固体撮像素子の動作を、第1
    状態と第2状態とに切り換えることを特徴とする請求項
    1〜請求項3のいずれかに記載の固体撮像装置。
  6. 【請求項6】 前記固体撮像素子が、 第1電極に直流電圧が印加された感光素子と、 第1電極と第2電極と制御電極とを備え、制御電極に直
    流電圧が印加されるともに、第1電極が前記感光素子の
    第2電極に接続され、前記感光素子からの出力電流が流
    れ込むトランジスタと、を有し、 前記トランジスタの第1電極と第2電極の間の電位差を
    変化させることによって、固体撮像素子の動作を、第1
    状態と第2状態とに切り換えることを特徴とする請求項
    1〜請求項3のいずれかに記載の固体撮像装置。
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