JP2001006168A - Fabrication method of glass substrate for information recording medium, and fabrication method of information recording medium - Google Patents

Fabrication method of glass substrate for information recording medium, and fabrication method of information recording medium

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JP2001006168A JP2000096761A JP2000096761A JP2001006168A JP 2001006168 A JP2001006168 A JP 2001006168A JP 2000096761 A JP2000096761 A JP 2000096761A JP 2000096761 A JP2000096761 A JP 2000096761A JP 2001006168 A JP2001006168 A JP 2001006168A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To effectively prevent fine iron particles or the like in a chemical strengthening treatment liquid from being attached on a glass substrate so as to suppress formation of a raised portion which would cause thermal asperity or head crash. SOLUTION: In a fabrication method of a glass substrate for an information recording medium comprising the step of chemically strengthening the substrate by contacting the glass substrate with a chemical strengthening treatment liquid containing a chemical strengthening salt, a chemical strengthening salt, for example, with concentrations of Fe and Cr to be detected by an ICP emission analysis method or a fluorescent X-ray analysis method are equal to or less than 500 ppb, respectively, is used.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は情報処理機器等の記録媒
体として使用される情報記録媒体の製造方法及びその基
板の製造方法等に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an information recording medium used as a recording medium for information processing equipment and the like, and a method for manufacturing a substrate thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の情報記録媒体の一つとして磁気
ディスクがある。磁気ディスクは、基板上に磁性層等の
薄膜を形成して構成されたものであり、その基板として
はアルミニウム基板やガラス基板が用いられてきた。し
かし、最近では、高記録密度化の追求に呼応して、アル
ミと比べて磁気ヘッドと磁気記録媒体との間隔(磁気ヘ
ッドの浮上高さ)をより狭くすることが可能なガラス基
板の占める比率が次第に高くなってきている。
2. Description of the Related Art A magnetic disk is one of such information recording media. A magnetic disk is formed by forming a thin film such as a magnetic layer on a substrate, and an aluminum substrate or a glass substrate has been used as the substrate. However, in recent years, in response to the pursuit of higher recording density, the ratio of glass substrates that can make the distance between the magnetic head and the magnetic recording medium (the flying height of the magnetic head) narrower than that of aluminum has Are getting higher and higher.

【0003】このように増加傾向にあるガラス基板は、
磁気ディスクドライブに装着された際の衝撃に耐えるよ
うに一般的に強度を増すために化学強化されて製造され
ている。また、ガラス基板表面は磁気ヘッドの浮上高さ
(フライングハイト)を極力下げることができるよう
に、高精度に研磨して高記録密度化を実現している。他
方、ガラス基板だけではなく、磁気ヘッドも薄膜ヘッド
から磁気抵抗(MRヘッド)に推移し、高記録密度化に
こたえている。
[0003] The glass substrate which is increasing in such a manner,
In general, the magnetic disk drive is manufactured by being chemically strengthened to increase the strength so as to withstand an impact when the magnetic disk drive is mounted. Further, the glass substrate surface is polished with high precision to achieve a high recording density so that the flying height of the magnetic head can be reduced as much as possible. On the other hand, not only the glass substrate but also the magnetic head has changed from a thin film head to a magnetic resistance (MR head), responding to a high recording density.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述したように高記録
密度化にとって必要な低フライングハイト化のために磁
気ディスク表面の高い平坦性は必要不可欠である。加え
て、MRヘッドを用いた場合、サーマル・アスペリティ
ー(ThermalAsperity)の問題からも磁
気記録媒体の表面には高い平坦性が必要となる。このサ
ーマル・アスペリティーは、磁気ディスクの表面上に突
起があると、この突起にMRヘッドが影響をうけてMR
ヘッドに熱が発生し、この熱によってヘッドの抵抗値が
変動し電磁変換に誤動作を引き起こす現象である。ま
た、磁気ディスク表面の高い平坦性があっても磁気ディ
スクの表面上にサーマル・アスペリティーの原因となる
突起があると、この突起によってヘッドクラッシュが起
きたり、このヘッドクラッシュが原因で磁気ディスクを
構成する磁性膜などが剥がれるなど、磁気ディスクにも
悪影響を及ぼす。
As described above, high flatness of the surface of a magnetic disk is indispensable for a low flying height required for a high recording density. In addition, when an MR head is used, a high flatness is required on the surface of the magnetic recording medium due to the problem of thermal asperity. This thermal asperity is such that when a protrusion is present on the surface of a magnetic disk, the protrusion is affected by the MR head and the MR
This is a phenomenon in which heat is generated in the head, and the resistance value of the head fluctuates due to the heat, causing a malfunction in electromagnetic conversion. Even if the surface of the magnetic disk has high flatness, if there are protrusions on the surface of the magnetic disk that cause thermal asperity, these protrusions may cause a head crash, or the head crash may cause the magnetic disk to be damaged. It also has an adverse effect on magnetic disks, such as peeling off of the constituent magnetic films.

【0005】このように、低フライングハイト化及びヘ
ッドクラッシュの防止にとっても、サーマル・アスペリ
ティーの発生防止のためにも磁気ディスク表面の高い平
坦性の要請は日増に高まってきている。このような、磁
気ディスク表面の高い平坦性を得るためには結局高い平
坦性の基板表面が求められることになるが、もはや、高
精度に基板表面を研磨するだけでは、磁気ディスクの高
記録密度化を実現できない段階まで来ている。つまり、
いくら、高精度に研磨しても基板上に異物が付着してい
ては高い平坦性は得られない。勿論、従来から異物の除
去はなされていたが、従来では許容されていた基板上の
異物が、今日の高密度化のレベルでは問題視される状況
にある。
As described above, the demand for a high flatness of the magnetic disk surface is increasing day by day for the purpose of reducing the flying height and preventing the head crash, and also for preventing the occurrence of thermal asperity. In order to obtain such high flatness of the magnetic disk surface, a substrate surface with high flatness is ultimately required. However, if the substrate surface is no longer polished with high precision, the high recording density of the magnetic disk can no longer be obtained. We have reached the stage where we cannot realize the realization. That is,
Even if polishing is performed with high precision, high flatness cannot be obtained if foreign matter adheres to the substrate. Of course, foreign matter has been conventionally removed, but foreign matter on the substrate, which has been conventionally allowed, is considered to be a problem at today's high-density level.

【0006】この種の異物としては、例えば、通常の洗
浄では除去できない極めて微小な鉄粉、ステンレス片等
が挙げられる。例えば、鉄粉などのパーティクルがガラ
ス基板上に付着した状態、あるいは、化学強化処理液中
にある鉄粉などのパーティクルが化学強化処理液中でガ
ラス基板上に付着した状態で化学強化処理を行うと、化
学強化過程で起こる酸化反応と、この工程で加わる熱に
よってガラス基板上に鉄が強固に付着して凸部(突起)
が形成されることがわかった。このような凸部(突起)
が形成されたガラス基板上に磁性膜等の薄膜を積層する
と、磁気ディスク表面に凸部が形成され、低フライング
ハイト化及びヘッドクラッシュの防止や、サーマル・ア
スペリティーの防止の阻害要因となっていることがわか
った。このような微小な鉄粉がガラス基板に付着する原
因を詳しく調査したところ、化学強化処理が行われる化
学強化室内の雰囲気に鉄粉が含まれており、特に化学強
化塩自体に数多くの鉄粉が含まれていることがわかっ
た。詳しくは、発生要因毎に鉄粉の個数を調べたとこ
ろ、化学強化塩(硝酸ナトリウムや硝酸カリウムなど)
を調合して化学強化処理液をつくる前の化学強化塩自体
に含まれる鉄粉が圧倒的であることがわかった。さら
に、化学強化塩自体には、化学強化工程において情報記
録媒体用ガラス基板に付着して情報記録媒体に悪影響を
及ぼすその他のパーティクルが数多く含まれていること
がわかった。本願出願人は、先に、化学強化処理が行わ
れる化学強化室内の雰囲気に含まれる鉄粉等を除去し
て、化学強化処理液中への鉄粉等の混入を防止する技術
を開発し、既に出願を行っている(特開平10−194
785号)。また、化学強化室内の雰囲気から化学強化
処理液中へ混入した鉄粉等を、マイクローシーブ(エッ
チングで孔を開けた金網)などの高温耐食性に優れたフ
ルターで化学強化処理液を濾過して除去する技術を開発
し、既に出願を行っている(特開平10−194786
号)。ここで、前者の方法は、化学強化処理が行われる
化学強化室内の雰囲気に含まれる鉄粉等を除去するのに
効果がある。後者の方法は、一定の効果があるものの、
上述したように、化学強化処理液をつくる前の化学強化
塩自体に含まれる鉄粉の数が圧倒的であるため、鉄粉除
去の対策としては効果が十分ではない。また、後者の方
法は、化学強化工程において情報記録媒体用ガラス基板
に付着して情報記録媒体に悪影響を及ぼすその他のパー
ティクルの除去対策としても十分ではない。また、上述
した情報記録媒体用ガラス基板に限らず、電子デバイス
用ガラス基板(フォトマスク用ガラス基板、位相シフト
マスク用ガラス基板や、情報記録媒体用ガラス基板も含
まれる。以降同じ意味で使用する。)や、光学素子に使
用するガラス基板、あるいは光学ガラス製品において
も、ガラス中に含まれるイオンを、イオン交換処理液中
に含まれるイオンとイオン交換して、化学強化したり、
あるいは屈折率分布を調整することが行われている。こ
のようなガラス基板においても、イオン交換処理液中に
鉄粉やステンレス片(Cr等)などのパーティクルが含
まれていると、イオン交換の効率が低下したり、又、上
述した凸部が形成される(例えば、この凸部の部分が光
を遮断することによって所望の特性が得られない)など
問題となることがある。
[0006] Examples of such foreign matter include extremely fine iron powder and stainless steel pieces which cannot be removed by ordinary washing. For example, the chemical strengthening process is performed in a state in which particles such as iron powder adhere to the glass substrate, or in a state in which particles such as iron powder in the chemical strengthening solution adhere to the glass substrate in the chemical strengthening solution. And the oxidation reaction that occurs during the chemical strengthening process, and the heat applied in this process causes iron to adhere firmly to the glass substrate, causing protrusions (projections)
Was formed. Such protrusions (projections)
When a thin film such as a magnetic film is laminated on a glass substrate on which is formed, a convex portion is formed on the surface of the magnetic disk, which causes a reduction in flying height, prevention of head crash and prevention of thermal asperity. I knew it was there. A detailed investigation of the cause of such fine iron powder adhering to the glass substrate revealed that the atmosphere in the chemical strengthening chamber where the chemical strengthening treatment was performed contained iron powder, and in particular, the chemical strengthening salt itself contained many iron powders. Was found to be included. Specifically, when the number of iron powders was examined for each factor, chemical strengthening salts (such as sodium nitrate and potassium nitrate)
It was found that the iron powder contained in the chemically strengthened salt itself before the preparation of the chemically strengthened treatment liquid by mixing was overwhelming. Furthermore, it has been found that the chemical strengthening salt itself contains many other particles that adhere to the glass substrate for the information recording medium in the chemical strengthening step and adversely affect the information recording medium. The applicant of the present application has previously developed a technology for removing iron powder and the like contained in the atmosphere in the chemical strengthening chamber where the chemical strengthening process is performed, thereby preventing the mixing of the iron powder and the like into the chemical strengthening treatment solution. An application has already been filed (Japanese Unexamined Patent Publication No.
No. 785). In addition, iron powder mixed into the chemical strengthening solution from the atmosphere in the chemical strengthening room is filtered through a chemical strengthening solution such as a micro sieve (wire mesh with holes formed by etching), which has excellent high-temperature corrosion resistance. A technology for removal has been developed and an application has already been filed (Japanese Patent Laid-Open No. Hei 10-194786).
issue). Here, the former method is effective in removing iron powder and the like contained in the atmosphere in the chemical strengthening chamber where the chemical strengthening process is performed. Although the latter method has a certain effect,
As described above, since the number of iron powders contained in the chemical strengthening salt itself before the chemical strengthening treatment liquid is prepared is overwhelming, the effect is not sufficient as a countermeasure for iron powder removal. Further, the latter method is not sufficient as a measure for removing other particles which adhere to the glass substrate for the information recording medium and adversely affect the information recording medium in the chemical strengthening step. In addition, the present invention is not limited to the above-described glass substrate for an information recording medium, but also includes a glass substrate for an electronic device (a glass substrate for a photomask, a glass substrate for a phase shift mask, and a glass substrate for an information recording medium. ), Glass substrates used for optical elements, or optical glass products, ion exchange of ions contained in the glass with ions contained in the ion exchange treatment liquid to chemically strengthen,
Alternatively, the refractive index distribution is adjusted. Even in such a glass substrate, if particles such as iron powder and stainless steel pieces (Cr, etc.) are contained in the ion exchange treatment liquid, the efficiency of ion exchange is reduced, and the above-mentioned convex portions are formed. (For example, a desired characteristic cannot be obtained by blocking the light at the convex portion).

【0007】本発明は、化学強化工程において情報記録
媒体用ガラス基板に付着して情報記録媒体に悪影響を及
ぼすパーティクルの付着を効果的に抑制できる情報記録
媒体用ガラス基板の製造方法の提供を目的とする。ま
た、本発明は、特に、化学強化工程における微小な鉄粉
等のガラス基板への付着による凸部の形成を効果的に抑
制できる情報記録媒体用ガラス基板の製造方法の提供を
目的とする。さらに、本発明は、化学強化工程において
情報記録媒体用ガラス基板に付着して情報記録媒に悪影
響を及ぼすパーティクルの付着を効果的に抑制でき、し
たがって欠陥の少ない高品質の情報記録媒体を製造し得
る製造方法の提供を目的とする。また、本発明は、低フ
ライングハイト化及びヘッドクラッシュの防止や、サー
マル・アスペリティーの防止を達成しうる磁気ディスク
の製造方法の提供を目的とする。また、本発明は、イオ
ン交換処理工程において電子デバイス用ガラス基板や光
学素子用ガラス基板、光学ガラス製品等に付着して悪影
響を及ぼすパーティクルの付着を効果的に抑制でき、し
たがって、欠陥の少ない電子デバイスや光学素子、光学
ガラス製品等を製造し得る製造方法の提供を目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium capable of effectively suppressing the adhesion of particles which adhere to the glass substrate for the information recording medium and adversely affect the information recording medium in the chemical strengthening step. And Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium, which can effectively suppress the formation of projections due to adhesion of fine iron powder or the like to a glass substrate in a chemical strengthening step. Furthermore, the present invention can effectively suppress the adhesion of particles that adhere to the glass substrate for the information recording medium and adversely affect the information recording medium in the chemical strengthening step, and therefore produce a high-quality information recording medium with few defects. The purpose of the present invention is to provide a manufacturing method. Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a magnetic disk capable of achieving a reduction in flying height, prevention of head crash, and prevention of thermal asperity. In addition, the present invention can effectively suppress the adhesion of particles that adversely affect the glass substrate for an electronic device, the glass substrate for an optical element, an optical glass product, or the like in the ion exchange treatment step, and therefore, the electron with less defects It is an object of the present invention to provide a manufacturing method capable of manufacturing devices, optical elements, optical glass products, and the like.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明者は、上述した目
的を達成すべく研究開発を進めた結果、1μm以下(例
えば0.2μm)の鉄粉(酸化鉄やステンレスを含む)
等であっても凸部(突起)を形成することがあることが
わかった。そして、化学強化塩自体に含まれる鉄粉等の
パーティクルを事前に除去すると非常に効果的であり、
このためには化学強化塩自体に含まれる鉄やクロムの定
量分析を行うと非常に有効であることことを見い出し本
発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems The present inventor has conducted research and development in order to achieve the above-mentioned object. As a result, iron powder (including iron oxide and stainless steel) of 1 μm or less (for example, 0.2 μm) was obtained.
It has been found that even with these methods, a projection (projection) may be formed. And it is very effective to remove particles such as iron powder contained in the chemical strengthening salt itself in advance,
To this end, it has been found that quantitative analysis of iron and chromium contained in the chemical strengthening salt itself is very effective, and the present invention has been completed.

【0009】すなわち、本発明は以下の構成としてあ
る。
That is, the present invention has the following configuration.

【0010】(構成1)化学強化塩を含有する化学強化
処理液にガラス基板を接触させることにより、ガラス基
板を化学強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板
の製造方法において、前記化学強化塩として、ICP発
光分析法又は蛍光X線分析法によって検出されるFe、
Crの濃度がそれぞれ500ppb以下である化学強化
塩を使用することを特徴とする情報記録媒体用ガラス基
板の製造方法。
(Structure 1) A method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium, comprising the step of chemically strengthening a glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt. As Fe detected by ICP emission analysis or X-ray fluorescence analysis,
A method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium, wherein a chemically strengthened salt having a Cr concentration of 500 ppb or less is used.

【0011】(構成2)前記化学強化塩として、ICP
発光分析法又は蛍光X線分析法によって検出されるF
e、Crの濃度がそれぞれ100ppb以下である化学
強化塩を使用することを特徴とする構成1記載の情報記
録媒体用ガラス基板の製造方法。
(Structure 2) As the chemically strengthened salt, ICP
F detected by luminescence analysis or X-ray fluorescence analysis
3. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to Configuration 1, wherein a chemically strengthened salt having a concentration of each of e and Cr of 100 ppb or less is used.

【0012】(構成3)前記化学強化塩として、ICP
発光分析法又は蛍光X線分析法によって検出されるF
e、Crの濃度がそれぞれ20ppb以下である化学強
化塩を使用することを特徴とする構成1記載の情報記録
媒体用ガラス基板の製造方法。
(Structure 3) As the chemically strengthened salt, ICP
F detected by luminescence analysis or X-ray fluorescence analysis
3. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to Configuration 1, wherein a chemically strengthened salt having a concentration of each of e and Cr of 20 ppb or less is used.

【0013】(構成4)化学強化塩を溶媒に溶解させた
溶液をフィルタで濾過し、フィルターに捕捉されたパー
ティクルを酸に溶解させ、予め既知濃度試料の測定から
求めた検量線に基づいて、ICP発光分光分析法又は蛍
光X線分析法によって化学強化塩中に含まれる元素及び
その濃度の定量分析を行うことを特徴とする構成1乃至
3のいずれか一に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製
造方法。
(Structure 4) A solution in which the chemical strengthening salt is dissolved in a solvent is filtered by a filter, the particles captured by the filter are dissolved in an acid, and based on a calibration curve previously obtained from measurement of a sample having a known concentration. The glass substrate for an information recording medium according to any one of the constitutions 1 to 3, wherein a quantitative analysis of an element contained in the chemically strengthened salt and its concentration is performed by ICP emission spectroscopy or X-ray fluorescence analysis. Manufacturing method.

【0014】(構成5)化学強化塩を含有する化学強化
処理液にガラス基板を接触させることにより、ガラス基
板を化学強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板
の製造方法において、前記化学強化塩として、液体パー
ティクルカウンターを用いて測定される、基準液(ブラ
ンク)に化学強化塩を溶解させた試料中のパーティクル
量と、基準液中のパーティクル量との差から求めた、粒
径0.2μm以上のパーティクルの量が、120000
個/g以下である化学強化塩を使用することを特徴とす
る情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
(Structure 5) A method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium, comprising the step of chemically strengthening the glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt. The particle size is 0.2 μm as determined from the difference between the amount of particles in the sample in which the chemically strengthened salt is dissolved in the reference solution (blank) and the amount of particles in the reference solution, measured using a liquid particle counter. The amount of the above particles is 120,000
What is claimed is: 1. A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising using a chemical strengthening salt of not more than 1 / g.

【0015】(構成6)化学強化塩を含有する化学強化
処理液にガラス基板を接触させることにより、ガラス基
板を化学強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板
の製造方法において、前記化学強化塩として、二次電子
検出器又は反射電子検出器によって二次電子像又は反射
電子像を走査型電子顕微鏡(SEM)で観察したとき、
1gの化学強化塩中に含まれるパーティクルを捕捉最小
粒径0.2μm、直径13mmφのフィルタで捕捉した
とき、粒径0.2μm以上のパーティクルの量が、90
0個/mm2以下である化学強化塩を使用することを特
徴とする情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
(Structure 6) A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising the step of chemically strengthening the glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt. As, when a secondary electron image or a backscattered electron image is observed by a secondary electron detector or a backscattered electron detector with a scanning electron microscope (SEM),
When particles contained in 1 g of the chemically strengthened salt are trapped by a filter having a trapping minimum particle diameter of 0.2 μm and a diameter of 13 mmφ, the amount of particles having a particle diameter of 0.2 μm or more becomes 90%.
A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising using a chemically strengthened salt of not more than 0 / mm 2 .

【0016】(構成7)前記粒径0.2μm以上のパー
ティクルの量が、500個/mm2以下である化学強化
塩を使用することを特徴とする構成6記載の情報記録媒
体用ガラス基板の製造方法。
(Structure 7) A glass substrate for an information recording medium according to Structure 6, wherein the amount of the particles having a particle diameter of 0.2 μm or more is 500 or less / mm 2 or less. Production method.

【0017】(構成8)前記粒径0.2μm以上のパー
ティクルの量が、30個/mm2以下である化学強化塩
を使用することを特徴とする構成6記載の情報記録媒体
用ガラス基板の製造方法。
(Structure 8) The glass substrate for an information recording medium according to Structure 6, wherein a chemically strengthened salt having an amount of the particles having a particle diameter of 0.2 μm or more is 30 particles / mm 2 or less is used. Production method.

【0018】(構成9)化学強化塩を含有する化学強化
処理液にガラス基板を接触させることにより、ガラス基
板を化学強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板
の製造方法において、前記化学強化塩として、化学強化
塩を比色法によって分析したときに、黒色、灰色又は赤
茶色とならない化学強化塩を使用することを特徴とする
情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
(Structure 9) A method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium, comprising the step of chemically strengthening the glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt. A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising using a chemically strengthened salt which does not become black, gray or reddish brown when the chemically strengthened salt is analyzed by a colorimetric method.

【0019】(構成10)化学強化塩を含有する化学強
化処理液にガラス基板を接触させることにより、ガラス
基板を化学強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基
板の製造方法において、前記化学強化塩を溶媒に溶解さ
せた溶液をフィルタで濾過し、フィルタにパーティクル
を捕捉させたときに、このフィルタの色の濃度が一定基
準以下となる化学強化塩を使用することを特徴とする情
報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
(Structure 10) A method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium, comprising the step of chemically strengthening a glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt. A solution obtained by dissolving in a solvent is filtered by a filter, and when the particles are captured by the filter, a chemically strengthened salt having a color density of the filter below a certain standard is used for an information recording medium. A method for manufacturing a glass substrate.

【0020】(構成11)構成1乃至10のいずれか一
に記載の分析手法を用いることを特徴とする化学強化塩
の検査方法。
(Structure 11) A method for testing a chemically strengthened salt, wherein the method according to any one of Structures 1 to 10 is used.

【0021】(構成12)前記情報記録媒体用ガラス基
板が、磁気ディスク用ガラス基板であることを特徴とす
る構成1乃至10のいずれか一に記載の情報記録媒体用
ガラス基板の製造方法。
(Structure 12) The method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of structures 1 to 10, wherein the glass substrate for an information recording medium is a glass substrate for a magnetic disk.

【0022】(構成13)磁気ディスク用ガラス基板
が、磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は巨大(大型)
磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)と組み合わせて使用
される磁気ディスク用ガラス基板であることを特徴とす
る構成12記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方
法。
(Configuration 13) A glass substrate for a magnetic disk is a magnetoresistive head (MR head) or a huge (large) head
13. The method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to Configuration 12, wherein the method is a glass substrate for a magnetic disk used in combination with a magnetoresistive head (GMR head).

【0023】(構成14)構成1乃至10のいずれか一
に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法によって
得られたガラス基板上に少なくとも記録層を形成するこ
とを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
(Structure 14) An information recording medium characterized in that at least a recording layer is formed on a glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of Structures 1 to 10. Production method.

【0024】(構成15)構成1乃至10のいずれか一
に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法によって
得られたガラス基板上に少なくとも磁性層を形成するこ
とを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
(Structure 15) Manufacturing of a magnetic disk characterized in that at least a magnetic layer is formed on a glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of Structures 1 to 10. Method.

【0025】(構成16)イオン交換処理液にガラス部
材を接触させることにより、ガラス部材中のイオンとイ
オン交換処理液中のイオンとをイオン交換処理する工程
を含む光学ガラス製品の製造方法において、前記イオン
交換処理液に使われる塩として、請求項1〜3、5〜1
0のいずれか一項に記載の条件を満たす塩を用いること
を特徴とする光学ガラス製品の製造方法。
(Structure 16) A method for producing an optical glass product, comprising the step of contacting a glass member with an ion-exchange treatment liquid to perform an ion-exchange treatment between ions in the glass member and ions in the ion-exchange treatment liquid. Claims 1 to 3, 5 to 1 as salts used in the ion exchange treatment liquid.
A method for producing an optical glass product, comprising using a salt satisfying the conditions described in any one of (1) to (3).

【0026】(構成17)前記光学ガラス製品が電子デ
バイス用ガラス基板又は光学素子用ガラス基板であり、
前記イオン交換処理液が化学強化塩を含有する化学強化
処理液であることを特徴とする構成16記載の光学ガラ
ス製品の製造方法。
(Structure 17) The optical glass product is a glass substrate for an electronic device or a glass substrate for an optical element,
The method for producing an optical glass product according to Configuration 16, wherein the ion exchange treatment liquid is a chemical strengthening treatment liquid containing a chemical strengthening salt.

【0027】[0027]

【作用】上記構成1〜3によれば、化学強化塩として、
ICP発光分析法又は蛍光X線分析法によって検出され
るFe、Crの濃度がそれぞれ500ppb以下である
化学強化塩を使用することによって、化学強化処理液中
の微小な鉄粉等がガラス基板へ付着して上述した凸部を
形成するのを効果的に抑制できる。したがって、低フラ
イングハイト化及びヘッドクラッシュの防止や、サーマ
ル・アスペリティーの防止を達成しうる磁気ディスクを
製造できる。Fe、Crの濃度がそれぞれ500ppb
を超えると、化学強化工程の際、凸部が形成される割合
が非常に高くなるとともに、凸部の高さや凸部の密度が
大きくなり、また、1.2μインチ高のグライドテスト
における不良率が高く、サーマル・アスペリティーによ
る再生の誤動作の確率も高くなる。同様の観点から、F
e、Crの濃度は、それぞれ250ppb以下が好まし
く、100ppb以下、20ppb以下、10ppb以
下、5ppb以下、1ppb以下、がさらに好ましい。
なお、ICP発光分光分析法は、試料中に含まれる分析
対象元素を、高周波電力を誘導結合させて発生する誘導
結合プラズマ(Inductively coupled plasma)によって
気化励起し、得られる原子スペクトル線における発光強
度を測定することによって、定量分析等を行う方法であ
る(JISK0116)。
According to the above constitutions 1-3, as a chemically strengthened salt,
By using a chemical strengthening salt in which the concentrations of Fe and Cr detected by ICP emission analysis or X-ray fluorescence analysis are each 500 ppb or less, minute iron powder and the like in the chemical strengthening treatment liquid adhere to the glass substrate. Thus, the formation of the above-mentioned convex portion can be effectively suppressed. Therefore, it is possible to manufacture a magnetic disk capable of achieving low flying height, prevention of head crash, and prevention of thermal asperity. Fe and Cr concentrations are 500ppb each
Is exceeded, the ratio of the projections formed during the chemical strengthening process becomes very high, the height of the projections and the density of the projections become large, and the defect rate in the glide test of 1.2 μ inches high And the probability of malfunction of reproduction due to thermal asperity increases. From a similar perspective, F
The concentrations of e and Cr are each preferably 250 ppb or less, more preferably 100 ppb or less, 20 ppb or less, 10 ppb or less, 5 ppb or less, and 1 ppb or less.
In the ICP emission spectroscopy, an element to be analyzed contained in a sample is vaporized and excited by inductively coupled plasma generated by inductively coupling high-frequency power, and the emission intensity at the obtained atomic spectrum line is reduced. This is a method of performing quantitative analysis or the like by measuring (JIS K0116).

【0028】上記構成4によれば、化学強化塩を溶媒に
溶解させた溶液をフィルタで濾過し、フィルターに捕捉
されたパーティクルを酸に溶解させ、予め既知濃度試料
の測定から求めた検量線に基づいて、ICP発光分光分
析法又は蛍光X線分析法によって化学強化塩中に含まれ
る元素及びその濃度の定量分析を行うことで、鉄やクロ
ムなどの金属系のパーティクルを酸に溶解させ、感度の
高いICP発光分光分析法等で定量分析を行うことが可
能となる。ここで、既知濃度試料とは、幾つかの濃度の
異なる標準試料のことをいい、検量線はこの濃度の異な
る標準試料から求められるものである。
According to the above configuration 4, the solution in which the chemical strengthening salt is dissolved in the solvent is filtered by the filter, the particles captured by the filter are dissolved in the acid, and the calibration curve previously obtained from the measurement of the sample having the known concentration is obtained. Based on ICP emission spectroscopy or X-ray fluorescence analysis, based on quantitative analysis of the elements and their concentrations contained in the chemically strengthened salt, metal-based particles such as iron and chromium are dissolved in acid, Quantitative analysis can be performed by ICP emission spectroscopy or the like, which is highly efficient. Here, the known concentration samples refer to standard samples having several different concentrations, and the calibration curve is obtained from the standard samples having different concentrations.

【0029】上記構成5によれば、基準液(ブランク)
に化学強化塩を溶解させた試料中のパーティクル量と、
基準液中のパーティクル量との差から求めたパーティク
ル量を判断対象としているので、正確かつバラツキの少
ないパーティクル量の測定値が得られ、これに基づき正
しい判断が可能である。さらに、化学強化塩自体に含ま
れる粒径0.2μm以上のパーティクルの量を1200
00個/g以下としているので、化学強化処理液中にお
いて情報記録媒体用ガラス基板に付着して情報記録媒体
に悪影響を及ぼすパーティクルの付着を効果的に抑制で
きる。特に、化学強化処理液中の微小な鉄粉等がガラス
基板へ付着して上述した凸部を形成するのを効果的に抑
制できる。ここで、粒径0.2μm以上としているの
は、それ未満のパーティクルは、サーマル・アスペリテ
ィーを引き起こす凸部の形成には影響ないと考えられる
からである。化学強化塩に含まれる粒径0.2μm以上
のパーティクルの量が120000個/gを超える場
合、化学強化処理液中の微小な鉄粉等がガラス基板へ付
着して上述した凸部を形成する割合が高く凸部の数が多
くなり、しかも凸部の高さや凸部の密度が大きくなる傾
向にある。そして、サーマル・アスペリティーやヘッド
クラッシュを起こす割合が高くなるので好ましくない。
同様に、化学強化塩に含まれる粒径0.2μm以上のパ
ーティクルの量が120000個/gを超える場合、化
学強化処理液中において情報記録媒体用ガラス基板に付
着して情報記録媒体に悪影響を及ぼすパーティクルの付
着数が多くなるので好ましくない。これらと同様の観点
から、化学強化塩に含まれる粒径0.2μm以上のパー
ティクルの量は8000個/g以下が好ましく、400
0個/g以下がさらに好ましい。これは、化学強化塩に
含まれるパーティクルの量が、化学強化処理液中におけ
る凸部の発生やパーティクルの付着に直接的に反映され
るので、化学強化塩に含まれるパーティクルの量を減ら
すことによって、凸部を発生させる確率やパーティクル
の付着数を減少させることができるからである。なお、
凸部の密度は、0.002/mm2以下が望ましく、
0.0003/mm2以下がさらに望ましい。
According to the above configuration 5, the reference liquid (blank) is used.
The amount of particles in the sample obtained by dissolving the chemically strengthened salt in
Since the amount of particles obtained from the difference from the amount of particles in the reference liquid is used as a determination target, an accurate and small measurement value of the amount of particles can be obtained, and a correct determination can be made based on this. Furthermore, the amount of particles having a particle size of 0.2 μm or more contained in the chemical strengthening salt itself was reduced to 1200.
Since the number is not more than 00 particles / g, it is possible to effectively suppress the adhesion of particles that adhere to the glass substrate for the information recording medium and adversely affect the information recording medium in the chemical strengthening treatment liquid. In particular, it is possible to effectively prevent fine iron powder and the like in the chemical strengthening treatment liquid from adhering to the glass substrate and forming the above-mentioned convex portions. Here, the reason why the particle size is set to 0.2 μm or more is that particles smaller than the particle size are considered to have no influence on the formation of the convex portions causing thermal asperity. When the amount of particles having a particle size of 0.2 μm or more contained in the chemical strengthening salt exceeds 120,000 particles / g, fine iron powder or the like in the chemical strengthening treatment liquid adheres to the glass substrate to form the above-described convex portion. There is a tendency that the ratio is high and the number of protrusions increases, and the height of protrusions and the density of protrusions increase. Further, the rate of causing thermal asperity and head crash increases, which is not preferable.
Similarly, when the amount of particles having a particle size of 0.2 μm or more contained in the chemically strengthened salt exceeds 120,000 particles / g, the particles adhere to the glass substrate for the information recording medium in the chemical strengthening treatment liquid and adversely affect the information recording medium. This is not preferable because the number of particles attached increases. From the same viewpoint as above, the amount of particles having a particle size of 0.2 μm or more contained in the chemical strengthening salt is preferably 8000 particles / g or less,
The number is more preferably 0 / g or less. This is because by reducing the amount of particles contained in the chemical strengthening salt, the amount of particles contained in the chemical strengthening salt is directly reflected in the occurrence of protrusions and the adhesion of particles in the chemical strengthening treatment liquid. This is because it is possible to reduce the probability of generation of the convex portion and the number of adhered particles. In addition,
The density of the projections is desirably 0.002 / mm 2 or less,
0.0003 / mm 2 or less is more desirable.

【0030】上記構成6〜8によれば、化学強化塩とし
て、二次電子検出器や反射電子検出器によって二次電子
像や反射電子像を走査型電子顕微鏡(SEM)で観察し
たとき、1gの化学強化塩中に含まれるパーティクルを
捕捉最小粒径0.2μm、直径13mmφのフィルタで
捕捉したとき、粒径0.2μm以上のパーティクル(鉄
粉、ステンレス片、その他)の量が、900個/mm2
以下である化学強化塩を使用することによって、化学強
化処理液中の微小な鉄粉等がガラス基板へ付着して上述
した凸部を形成するのを効果的に抑制できる。したがっ
て、低フライングハイト化及びヘッドクラッシュの防止
や、サーマル・アスペリティーの防止を達成しうる磁気
ディスクを製造できる。なお、フィルタに捕捉される単
位面積当たりのパーティクル量はフィルタの面積に反比
例するので、フィルタの面積が異なる場合は換算を行え
ばよい。例えば、フィルタの面積を2倍にすると捕捉さ
れるパーティクル量は1/2となるから、粒径0.2μ
m以上のパーティクル(鉄粉、ステンレス片、その他)
の量が、450個/mm2以下である化学強化塩を使用
すれば上記と同じ結果が得られる。パーティクル(鉄
粉、ステンレス片、その他)の量が、900個/mm2
を超えると、化学強化工程の際、凸部が形成される割合
が非常に高くなるとともに、凸部の高さや凸部の密度が
大きくなり、また、1.2μインチ高のグライドテスト
における不良率が高く、サーマル・アスペリティーによ
る再生の誤動作の確率も高くなる。パーティクル(鉄
粉、ステンレス片、その他)の量は、500個/mm2
以下、300個/mm2以下、100個/mm2以下、3
0個/mm2以下が好ましく、10個/mm2以下がさら
に好ましい。
According to the above constitutions 6 to 8, 1 g of a chemically strengthened salt is obtained when a secondary electron image or a reflected electron image is observed by a secondary electron detector or a reflected electron detector with a scanning electron microscope (SEM). When the particles contained in the chemically strengthened salt are trapped by a filter having a trapping minimum particle size of 0.2 μm and a diameter of 13 mmφ, the amount of particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.) having a particle size of 0.2 μm or more is 900 / Mm 2
By using the following chemical strengthening salt, it is possible to effectively prevent fine iron powder and the like in the chemical strengthening treatment liquid from adhering to the glass substrate and forming the above-mentioned convex portion. Therefore, it is possible to manufacture a magnetic disk capable of achieving low flying height, prevention of head crash, and prevention of thermal asperity. Since the amount of particles per unit area captured by the filter is inversely proportional to the area of the filter, conversion may be performed if the area of the filter is different. For example, if the area of the filter is doubled, the amount of captured particles is halved.
m or more particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.)
The same result as above can be obtained by using a chemically strengthening salt having an amount of 450 or less per mm 2 . The amount of particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.) is 900 / mm 2
Is exceeded, the ratio of the projections formed during the chemical strengthening process becomes very high, the height of the projections and the density of the projections become large, and the defect rate in the glide test of 1.2 μ inches high And the probability of malfunction of reproduction due to thermal asperity increases. The amount of particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.) is 500 / mm 2
Below, 300 pieces / mm 2 or less, 100 pieces / mm 2 or less, 3
The number is preferably 0 / mm 2 or less, more preferably 10 / mm 2 or less.

【0031】上記構成9によれば、化学強化塩として、
化学強化塩を比色法によって分析したときに、黒色、灰
色又は赤茶色とならない化学強化塩を使用することによ
って、化学強化処理液中の微小な鉄粉等がガラス基板へ
付着して上述した凸部を形成するのを効果的に抑制でき
る。したがって、低フライングハイト化及びヘッドクラ
ッシュの防止や、サーマル・アスペリティーの防止を達
成しうる磁気ディスクを製造できる。化学強化塩を比色
法によって分析したときに、黒色、灰色又は赤茶色とな
る場合は、化学強化工程の際、凸部が形成される割合が
非常に高くなるとともに、凸部の高さや凸部の密度が大
きくなり、また、1.2μインチ高のグライドテストに
おける不良率が高く、サーマル・アスペリティーによる
再生の誤動作の確率も高くなる。
According to the above configuration 9, as the chemically strengthened salt,
When the chemically strengthened salt is analyzed by a colorimetric method, by using a chemically strengthened salt that does not become black, gray or reddish brown, fine iron powder or the like in the chemically strengthened treatment liquid adheres to the glass substrate and is described above. The formation of the convex portion can be effectively suppressed. Therefore, it is possible to manufacture a magnetic disk capable of achieving low flying height, prevention of head crash, and prevention of thermal asperity. When the chemically strengthened salt is analyzed by a colorimetric method, when the color becomes black, gray or reddish brown, during the chemical strengthening step, the ratio of the convex portions formed becomes extremely high, and the height and convexity of the convex portions are increased. As a result, the defect density in the glide test with a height of 1.2 μ inch is high, and the probability of malfunction of reproduction due to thermal asperity is also increased.

【0032】上記構成10によれば、化学強化塩の溶液
をフィルタで濾過し、フィルタにパーティクルを捕捉さ
せ、このフィルタの色の濃度が一定基準以下である化学
強化塩を使用することによって、化学強化処理液中の微
小な鉄粉等がガラス基板へ付着して上述した凸部を形成
するのを効果的に抑制できる。したがって、低フライン
グハイト化及びヘッドクラッシュの防止や、サーマル・
アスペリティーの防止を達成しうる磁気ディスクを製造
できる。上記フィルタの色の濃度が一定基準より濃い場
合は、化学強化工程の際、凸部が形成される割合が非常
に高くなるとともに、凸部の高さや凸部の密度が大きく
なり、また、1.2μインチ高のグライドテストにおけ
る不良率が高く、サーマル・アスペリティーによる再生
の誤動作の確率も高くなる。
According to the above configuration 10, by chemically filtering the solution of the chemical strengthening salt with a filter, causing the filter to capture particles, and using the chemical strengthening salt having a color density of a certain level or less on the filter. It is possible to effectively suppress the formation of the above-mentioned protrusions due to the attachment of the minute iron powder and the like in the strengthening treatment liquid to the glass substrate. Therefore, low flying height and head crash prevention, thermal
A magnetic disk capable of preventing asperity can be manufactured. When the color density of the filter is darker than a certain standard, the ratio of the projections formed becomes extremely high during the chemical strengthening step, and the height of the projections and the density of the projections increase. The defect rate in a glide test with a height of .2 μ inches is high, and the probability of malfunction of reproduction due to thermal asperity also increases.

【0033】上記構成11によれば、構成1乃至10の
いずれかに記載の分析手法を、化学強化塩の検査方法と
して使用できる。
According to the above configuration 11, the analysis method according to any one of the configurations 1 to 10 can be used as a method for testing a chemically strengthened salt.

【0034】上記構成12によれば、前記情報記録媒体
用ガラス基板が、磁気ディスク用ガラス基板であると、
ヘッドクラッシュの原因となる上述した凸部が形成され
るのを効果的に抑制できる。したがって、低フライング
ハイト化及びヘッドクラッシュの防止を達成しうる磁気
ディスクを製造できる。
According to the above configuration 12, when the glass substrate for an information recording medium is a glass substrate for a magnetic disk,
It is possible to effectively suppress the formation of the above-described convex portion that causes a head crash. Therefore, it is possible to manufacture a magnetic disk capable of achieving a low flying height and preventing a head crash.

【0035】上記構成13によれば、磁気ディスク用ガ
ラスが、磁気抵抗型ヘッドと組み合わせて使用される磁
気ディスク用ガラス基板であると、サーマル・アスペリ
ティーやヘッドクラッシュを起こす原因となる上述した
凸部が形成されるのを効果的に抑制でき、この結果低フ
ライングハイト化を実現できる。磁気抵抗型ヘッドを用
いる場合、低フライングハイト化が特に要求されるの
で、特に効果的である。
According to the thirteenth aspect, if the magnetic disk glass is a magnetic disk glass substrate used in combination with a magnetoresistive head, the above-mentioned convexity which causes thermal asperity and head crashes is obtained. The formation of the portion can be effectively suppressed, and as a result, a low flying height can be realized. The use of a magnetoresistive head is particularly effective because it requires a particularly low flying height.

【0036】上記構成14によれば、上記構成1乃至1
0のいずれか一に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製
造方法によって得られたガラス基板を用いているので、
化学強化処理液中において情報記録媒体用ガラス基板に
付着して情報記録媒体に悪影響を及ぼすパーティクルの
付着を効果的に抑制でき、欠陥の少ない高品質の情報記
録媒体が得られる。
According to the above configuration 14, the above configurations 1 to 1
0, since the glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of 0 is used,
Particles that adhere to the glass substrate for an information recording medium in the chemical strengthening treatment liquid and adversely affect the information recording medium can be effectively suppressed, and a high-quality information recording medium with few defects can be obtained.

【0037】上記構成15によれば、上記構成1乃至1
0のいずれか一に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製
造方法によって得られたガラス基板を用いているので、
化学強化処理液中の微小な鉄粉等がガラス基板へ付着し
て上述した凸部を形成するのを効果的に抑制できる。し
たがって、低フライングハイト化及びヘッドクラッシュ
の防止や、サーマル・アスペリティーの防止を実現した
磁気ディスクが得られる。
According to the above configuration 15, the above configurations 1 to 1
0, since the glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to any one of 0 is used,
It is possible to effectively suppress the formation of the above-mentioned protrusions due to the attachment of the minute iron powder or the like in the chemical strengthening treatment liquid to the glass substrate. Therefore, it is possible to obtain a magnetic disk in which the flying height is reduced, the head crash is prevented, and the thermal asperity is prevented.

【0038】上記構成16〜17によれば、イオン交換
処理液に使われる塩として、構成1〜3、5〜10のい
ずれか一項に記載の条件を満たす塩を用いることによっ
て、イオン交換処理の際に、イオン交換の効率が低下し
たり、又、パーティクル(鉄粉、ステンレス片、その
他)が光学ガラス製品の表面に付着するのを効果的に抑
制できる。したがって、高品位の電子デバイス、光学素
子、光学ガラス製品が得られる。光学ガラス製品の表面
にこれらの異物が付着すると、遮光性の異物の場合は光
を遮断し、透過性の異物の場合は光を屈折・散乱させる
ので好ましくない。光学ガラス製品としては、例えば、
光学素子、電子デバイス、屈折率分布型レンズ、光ファ
イバなどが挙げられ、電子デバイス用ガラス基板や光学
素子用ガラス基板も含まれる。
According to the above-mentioned constitutions 16 and 17, the salt used in the ion-exchange treatment liquid, which satisfies the condition described in any one of constitutions 1 to 3 and 5 to 10, is used. In this case, the efficiency of ion exchange is reduced, and particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.) can be effectively prevented from adhering to the surface of the optical glass product. Therefore, high-quality electronic devices, optical elements, and optical glass products can be obtained. If such foreign matter adheres to the surface of the optical glass product, it is not preferable because light-blocking foreign matter blocks light and transmissive foreign matter refracts and scatters light. As optical glass products, for example,
Examples include an optical element, an electronic device, a gradient index lens, and an optical fiber, and also include a glass substrate for an electronic device and a glass substrate for an optical element.

【0039】なお、本発明でいうパーティクルには、鉄
のパーティクルが含まれる。これは、化学強化塩自体に
含まれるパーティクルを分析したところ、O、Na、M
g、Al、Si、Cl、Fe、Crなどが検出された。
特にパーティクルがFe(鉄)の場合であって、そのパ
ーティクル(鉄)が化学強化処理液中でガラス基板に付
着した場合、化学強化過程で起こる酸化反応と、この工
程で加わる熱によってガラス基板上に強固に付着し凸部
(突起)が形成され、この凸部がサーマル・アスペリテ
ィーやヘッドクラッシュを起こす確率が高い。なお、比
較的大きなパーティクルの場合、そのパーティクルが強
固に付着し凸部(突起)を形成し、また、比較的小さな
パーティクルの場合、パーティクルが凝集して強固に付
着し凸部(突起)を形成していることが顕微鏡で確認さ
れた。従って、磁気ディスクの場合、特に化学強化塩中
に含まれる鉄などのパーティクルの量を制御することに
よって顕著な効果が現れる。なお、鉄のパーティクルに
は、鉄はもちろんのこと、酸化鉄、ステンレスなどが含
まれる。また、上述したような酸化反応と加熱によって
凸部(突起)が形成されるパーティクルの他の材質とし
ては、Ti、Al、Cl、Ce、ガラス片等が考えられ
る。
The particles referred to in the present invention include iron particles. This is because when the particles contained in the chemical strengthening salt itself were analyzed, O, Na, M
g, Al, Si, Cl, Fe, Cr and the like were detected.
In particular, when the particles are Fe (iron) and the particles (iron) adhere to the glass substrate in the chemical strengthening treatment solution, the oxidation reaction occurring in the chemical strengthening process and the heat applied in this process cause the heat on the glass substrate. Is firmly adhered to the surface, forming a projection (projection), and this projection has a high probability of causing thermal asperity or head crash. In the case of a relatively large particle, the particle adheres firmly to form a projection (projection), and in the case of a relatively small particle, the particle aggregates and adheres firmly to form a projection (projection). Was confirmed under a microscope. Therefore, in the case of a magnetic disk, a remarkable effect appears particularly by controlling the amount of particles such as iron contained in the chemically strengthened salt. Note that iron particles include iron oxide, iron oxide, stainless steel, and the like, as well as iron. Further, as other materials of the particles on which the convex portions (projections) are formed by the above-described oxidation reaction and heating, Ti, Al, Cl, Ce, glass pieces, and the like can be considered.

【0040】本発明の情報記録媒体用ガラス基板の製造
方法について説明する。本発明は、化学強化塩自体に含
まれる鉄などのパーティクルの量や濃度を上述した分析
方法で分析し、基準値以下の化学強化塩を使用すること
を特徴としている。このように、化学強化塩自体に含ま
れるパーティクルの量が予め定めた基準値以下であるこ
とを分析によって判定し、基準値以下である化学強化塩
を調合することによって、パーティクルの量が所定の値
以下である化学強化処理液をつくることができる。した
がって、化学強化処理工程における凸部の発生やパーテ
ィクルの付着を減らすことができる。なお、基準値は、
情報記録媒体に要求される欠陥の許容レベルに応じて設
定できる。また、前記基準値は、例えば、磁気ディスク
(又はガラス基板)の主表面に対向して磁気ヘッドを配
置し、所定のグライド高さで磁気ヘッドを磁気ディスク
(又はガラス基板)に対し相対移動させ、所望のグライ
ド特性となるように決定されたものであること、換言す
れば、グライドテストの結果に基づいて前記基準値を決
定することで、ヘッドクラッシュやサーマル・アスペリ
ティー等を効果的に防止できる。ここで、所望のグライ
ド特性とは、例えば、グライド高さ1.2μインチ以下
で、ヒットやクラッシュの発生率が0%となるような特
性をいう。
The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to the present invention will be described. The present invention is characterized in that the amount and concentration of particles such as iron contained in the chemical strengthening salt itself are analyzed by the above-described analysis method, and the chemical strengthening salt having a standard value or less is used. As described above, it is determined by analysis that the amount of particles contained in the chemically strengthened salt itself is equal to or less than a predetermined reference value, and by preparing the chemically strengthened salt having a value equal to or less than the reference value, the amount of particles is reduced to a predetermined amount. It is possible to prepare a chemically strengthened treatment solution having a value not more than the value. Therefore, it is possible to reduce the occurrence of projections and the attachment of particles in the chemical strengthening process. The reference value is
It can be set according to the allowable level of defects required for the information recording medium. Further, the reference value is determined, for example, by disposing a magnetic head facing a main surface of a magnetic disk (or glass substrate) and moving the magnetic head relative to the magnetic disk (or glass substrate) at a predetermined glide height. It is determined that the desired glide characteristics are obtained, in other words, by determining the reference value based on the result of the glide test, head crash and thermal asperity are effectively prevented. it can. Here, the desired glide characteristic means, for example, such a characteristic that a hit or crash occurrence rate is 0% at a glide height of 1.2 μ inch or less.

【0041】上記分析結果に基づいて、化学強化塩自体
に含まれるパーティクルを除去するには、例えば、化学
強化塩を水に溶かした状態で、フィルター等の捕捉手段
によってパーティクルを除去する。フィルターの性能
(最小捕捉粒径)や種類を選択することによって、化学
強化塩に含まれるパーティクルの量を所望の量や濃度に
制御できる。また、最小捕捉粒径の異なる複数のフィル
ターを用い、粒径の大きいパーティクルを最小捕捉粒径
の大きなフィルターで除去した後、粒径の小さいパーテ
ィクルを最小捕捉粒径の小さなフィルターで除去するこ
ともできる。なお、本発明では化学強化塩以外の成分を
すべて高純度に精製した試薬を用いる必要は無く、特に
鉄粉や情報記録媒体に悪影響を及ぼすパーティクルだけ
を除去して清浄化された化学強化塩を用いれば足り、安
価で済む。もちろん、このような高純度に精製された試
薬を用いることもできるが高価である。また、本発明で
使用する化学強化塩は、固結防止用の添加剤を含まない
ことが好ましい。これは、固結防止用の添加剤にはパー
ティクルが多く含まれていると考えられるからである。
In order to remove particles contained in the chemically strengthened salt itself based on the above analysis results, for example, the particles are removed by a capturing means such as a filter in a state where the chemically strengthened salt is dissolved in water. By selecting the performance (minimum trapping particle size) and type of the filter, the amount of particles contained in the chemically strengthened salt can be controlled to a desired amount and concentration. Also, using multiple filters with different minimum trapping particle diameters, it is possible to remove particles with a large particle diameter using a filter with a large minimum trapping particle diameter, and then remove particles with a small particle diameter with a filter with a small minimum trapping particle diameter. it can. In the present invention, it is not necessary to use a reagent in which all components other than the chemical strengthening salt are purified to high purity, and in particular, a chemically strengthened salt that has been cleaned by removing only particles that adversely affect iron powder and the information recording medium is used. If it is used, it is enough and cheap. Of course, such a highly purified reagent can be used, but is expensive. Further, the chemical strengthening salt used in the present invention preferably does not contain an additive for preventing caking. This is because it is considered that the additive for preventing caking contains a large amount of particles.

【0042】化学強化方法としては、ガラス転移温度を
超えない領域でイオン交換を行う低温型化学強化が好ま
しい。化学強化処理溶液として用いるアルカリ溶融塩と
しては、硝酸カリウム、硝酸ナトリウム、あるいはそれ
らを混合した硝酸塩や、硫酸カリウム、硫酸ナトリウ
ム、あるいはそれらを混合した硫酸塩や、NaBr、K
Br、あるいはそれらを混合した塩などが使用できる。
ガラス基板としてはアルミノシリケートガラス、ソーダ
ライムガラス、ホウケイ酸ガラスなどが挙げられる。情
報記録媒体用ガラス基板には、磁気記録媒体用ガラス基
板、光記録媒体用ガラス基板、光磁気記録媒体用ガラス
基板等が挙げられる。本発明は特に磁気抵抗型ヘッド用
磁気ディスク及びその基板に関して顕著な効果を奏す
る。
As the chemical strengthening method, low-temperature chemical strengthening in which ion exchange is performed in a region not exceeding the glass transition temperature is preferable. Examples of the alkali molten salt used as the chemical strengthening treatment solution include potassium nitrate, sodium nitrate, a nitrate mixed with them, potassium sulfate, sodium sulfate, a sulfate mixed with them, NaBr, K
Br, a salt thereof or the like can be used.
Examples of the glass substrate include aluminosilicate glass, soda lime glass, and borosilicate glass. Examples of the glass substrate for an information recording medium include a glass substrate for a magnetic recording medium, a glass substrate for an optical recording medium, and a glass substrate for a magneto-optical recording medium. The present invention has a remarkable effect particularly with respect to a magnetic disk for a magnetoresistive head and its substrate.

【0043】次に、本発明の磁気記録媒体(磁気ディス
ク)の製造方法について説明する。本発明では、上記本
発明の磁気記録媒体用ガラス基板上に、少なくとも磁性
層を形成して、磁気記録媒体を製造している。
Next, a method for manufacturing the magnetic recording medium (magnetic disk) of the present invention will be described. In the present invention, a magnetic recording medium is manufactured by forming at least a magnetic layer on the glass substrate for a magnetic recording medium of the present invention.

【0044】本発明では、サーマル・アスペリティーあ
るいはヘッドクラッシュの原因となるパーティクルの付
着を効果的に抑制することができるので、ガラス基板上
に磁性層等を形成した磁気記録媒体を製造する際に、ガ
ラス基板の主表面にサーマル・アスペリティーの原因と
なるパーティクルによって形成される凸部が形成されに
くく、より高いレベルでサーマル・アスペリティーやヘ
ッドクラッシュを防止できる。凸部が形成されないの
で、例えば、1.2μインチ以下といった低グライドハ
イトも実現できる。特に、磁気抵抗型ヘッドによって再
生を行う磁気記録媒体にとって、磁気抵抗型ヘッドの機
能を十分に引き出すことができる。また、磁気抵抗型ヘ
ッドに好適に使用することができるCoPt系等の磁気
記録媒体としてもその性能を十分に引き出すことができ
る。また、サーマル・アスペリティーの原因となるパー
ティクルによって、磁性層等の膜に欠陥が発生しエラー
の原因となるということもない。
According to the present invention, adhesion of particles that cause thermal asperity or head crash can be effectively suppressed. Therefore, when manufacturing a magnetic recording medium having a magnetic layer or the like formed on a glass substrate, In addition, it is difficult for a convex portion formed by particles that cause thermal asperity to be formed on the main surface of the glass substrate, and it is possible to prevent thermal asperity and head crash at a higher level. Since no projection is formed, a low glide height of, for example, 1.2 μ inch or less can be realized. In particular, the function of the magnetoresistive head can be fully exploited for a magnetic recording medium that performs reproduction with the magnetoresistive head. In addition, the performance of a CoPt-based magnetic recording medium or the like that can be suitably used for a magnetoresistive head can be sufficiently brought out. Further, there is no possibility that a defect such as a magnetic layer is generated by a particle which causes thermal asperity to cause an error.

【0045】磁気記録媒体は、通常、所定の平坦度、表
面粗さを有し、必要に応じ表面の化学強化処理を施した
磁気ディスク用ガラス基板上に、下地層、磁性層、保護
層、潤滑層等を順次積層して製造する。
The magnetic recording medium usually has a predetermined flatness and surface roughness, and has an underlayer, a magnetic layer, a protective layer, It is manufactured by sequentially laminating a lubricating layer and the like.

【0046】磁気記録媒体における下地層は、磁性層に
応じて選択される。
The underlayer in the magnetic recording medium is selected according to the magnetic layer.

【0047】下地層(シード層を含む)としては、例え
ば、Cr、Mo、Ta、Ti、W、V、B、Al、Ni
などの非磁性金属から選ばれる少なくとも一種以上の材
料からなる下地層等が挙げられる。Coを主成分とする
磁性層の場合には、磁気特性向上等の観点からCr単体
やCr合金であることが好ましい。また、下地層は単層
とは限らず、同一又は異種の層を積層した複数層構造と
することもできる。例えば、Cr/Cr、Cr/CrM
o、Cr/CrV、NiAl/Cr、NiAl/CrM
o、NIAl/CrV等の多層下地層等が挙げられる。
As the underlayer (including the seed layer), for example, Cr, Mo, Ta, Ti, W, V, B, Al, Ni
And an underlayer made of at least one or more materials selected from nonmagnetic metals. In the case of a magnetic layer containing Co as a main component, it is preferable to use Cr alone or a Cr alloy from the viewpoint of improving magnetic properties. The underlayer is not limited to a single layer, and may have a multilayer structure in which the same or different layers are stacked. For example, Cr / Cr, Cr / CrM
o, Cr / CrV, NiAl / Cr, NiAl / CrM
o, multilayer underlayers such as NIAl / CrV and the like.

【0048】磁気記録媒体における磁性層の材料は特に
制限されない。
The material of the magnetic layer in the magnetic recording medium is not particularly limited.

【0049】磁性層としては、例えば、Coを主成分と
するCoPt、CoCr、CoNi、CoNiCr、C
oCrTa、CoPtCr、CoNiPtや、CoNi
CrPt、CoNiCrTa、CoCrPtTa、Co
CrPtB、CoCrPtSiOなどの磁性薄膜が挙げ
られる。磁性層は、磁性膜を非磁性膜(例えば、Cr、
CrMo、CrVなど)で分割してノイズの低減を図っ
た多層構成(例えば、CoPtCr/CrMo/CoP
tCr、CoCrPtTa/CrMo/CoCrPtT
aなど)としてもよい。
As the magnetic layer, for example, CoPt, CoCr, CoNi, CoNiCr, C
oCrTa, CoPtCr, CoNiPt, CoNi
CrPt, CoNiCrTa, CoCrPtTa, Co
Magnetic thin films such as CrPtB and CoCrPtSiO can be used. In the magnetic layer, the magnetic film is formed of a non-magnetic film (for example, Cr,
Multi-layer configuration (for example, CoPtCr / CrMo / CoP) in which noise is reduced by dividing by CrMo, CrV, etc.
tCr, CoCrPtTa / CrMo / CoCrPtT
a)).

【0050】磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は大型
磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)対応の磁性層として
は、Co系合金に、Y、Si、希土類元素、Hf、G
e、Sn、Znから選択される不純物元素、又はこれら
の不純物元素の酸化物を含有させたものなども含まれ
る。
As a magnetic layer corresponding to a magnetoresistive head (MR head) or a large magnetoresistive head (GMR head), a Co-based alloy is prepared by adding Y, Si, a rare earth element, Hf, G
An impurity element selected from e, Sn, and Zn, or an element containing an oxide of these impurity elements is also included.

【0051】また、磁性層としては、上記の他、フェラ
イト系、鉄−希土類系や、SiO2、BNなどからなる非
磁性膜中にFe、Co、FeCo、CoNiPt等の磁
性粒子が分散された構造のグラニュラーなどであっても
よい。また、磁性層は、内面型、垂直型のいずれの記録
形式であってもよい。
The magnetic layer has a structure in which magnetic particles such as Fe, Co, FeCo, and CoNiPt are dispersed in a nonmagnetic film made of ferrite, iron-rare earth, SiO2, BN, or the like. And the like. Further, the magnetic layer may have any of an inner surface type and a perpendicular type recording format.

【0052】磁気記録媒体における保護層は特に制限さ
れない。
The protective layer in the magnetic recording medium is not particularly limited.

【0053】保護層としては、例えば、Cr膜、Cr合
金膜、カーボン膜、水素化カーボン膜、ジルコニア膜、
シリカ膜等が挙げられる。これらの保護膜は、下地層、
磁性層等とともにインライン型スパッタ装置で連続して
形成できる。また、これらの保護膜は、単層としてもよ
く、あるいは、同一又は異種の膜からなる多層構成とし
てもよい。なお、上記保護層上に、あるいは上記保護層
に替えて、他の保護層を形成してもよい。例えば、上記
保護層に替えて、Cr膜の上にテトラアルコキシランを
アルコール系の溶媒で希釈した中に、コロイダルシリカ
微粒子を分散して塗布し、さらに焼成して酸化ケイ素
(SiO2)膜を形成してもよい。
As the protective layer, for example, a Cr film, a Cr alloy film, a carbon film, a hydrogenated carbon film, a zirconia film,
A silica film is exemplified. These protective films are an underlayer,
It can be formed continuously with an in-line type sputtering device together with a magnetic layer and the like. Further, these protective films may have a single-layer structure or a multi-layer structure composed of the same or different films. Note that another protective layer may be formed on the protective layer or in place of the protective layer. For example, in place of the above protective layer, colloidal silica fine particles are dispersed and applied to a Cr film after diluting tetraalkoxylan with an alcohol-based solvent, and then baked to form a silicon oxide (SiO2) film. May be.

【0054】磁気記録媒体における潤滑層は特に制限さ
れない。
The lubricating layer in the magnetic recording medium is not particularly limited.

【0055】潤滑層は、例えば、液体潤滑剤であるパー
フロロポリエーテル(PFPE)をフレオン系などの溶
媒で希釈し、媒体表面にディップ法、スピンコート法、
スプレイ法によって塗布し、必要に応じ加熱処理を行っ
て形成する。
The lubricating layer is formed, for example, by diluting perfluoropolyether (PFPE), which is a liquid lubricant, with a solvent such as Freon, and dip coating, spin coating, or the like on the medium surface.
It is formed by applying by a spray method and performing heat treatment as needed.

【0056】[0056]

【実施例】以下、実施例に基づき本発明をさらに具体的
に説明する。
EXAMPLES The present invention will be described below more specifically based on examples.

【0057】実施例1及び比較例1 (1)荒ずり工程 まず、ダウンドロー法で形成したシートガラスから、研
削砥石で直径96mmφ、厚さ3mmの円盤状に切り出
したアルミノシリケイトガラスからなるガラス基板を、
比較的粗いダイヤモンド砥石で研削加工して、直径96
mmφ、厚さ1.5mmに成形した。この場合、ダウン
ドロー法の代わりに、熔融ガラスを、上型、下型、胴型
を用いてダイレクト・プレスして、円盤状のガラス体を
得てもよい。また、フロート法で形成しても良い。な
お、アルミノシリケイトガラスとしては、モル%表示
で、SiO2を57〜74%、ZnO2を0〜2.8%、
Al2O3を3〜15%、LiO2を7〜16%、Na2O
を4〜14%、を主成分として含有する化学強化用ガラ
ス(例えば、モル%表示で、SiO2:67.0%、Zn
O2:1.0%、Al2O3:9.0%、LiO2:12.0
%、Na2O:10.0%を主成分として含有する化学
強化用ガラス)を使用した。
Example 1 and Comparative Example 1 (1) Roughing Step First, a glass substrate made of aluminosilicate glass cut into a disk shape having a diameter of 96 mmφ and a thickness of 3 mm using a grinding wheel from a sheet glass formed by a downdraw method. To
Grinding with a relatively rough diamond wheel
It was molded to a diameter of 1.5 mm and a thickness of 1.5 mm. In this case, instead of the down-draw method, the molten glass may be directly pressed using an upper mold, a lower mold, and a body mold to obtain a disk-shaped glass body. Further, it may be formed by a float method. As aluminosilicate glass, in terms of mol%, SiO2 is 57 to 74%, ZnO2 is 0 to 2.8%,
Al2O3 3-15%, LiO2 7-16%, Na2O
(For example, in terms of mol%, SiO 2: 67.0%, Zn
O2: 1.0%, Al2 O3: 9.0%, LiO2: 12.0
%, Na2O: glass for chemical strengthening containing 10.0% as a main component).

【0058】次に、上記砥石よりも粒度の細かいダイヤ
モンド砥石で上記ガラス基板の両面を片面ずつ研削加工
した。このときの荷重は100kg程度とした。これに
より、ガラス基板両面の表面粗さをRmax(JISB
0601で測定)で10μm程度に仕上げた。次に、円
筒状の砥石を用いてガラス基板の中央部分に孔を開ける
とともに、外周端面も研削して直径を95mmφとした
後、外周端面及び内周面に所定の面取り加工を施した。
このときのガラス基板端面の表面粗さは、Rmaxで4
μm程度であった。
Next, both surfaces of the glass substrate were ground one by one with a diamond grindstone having a finer grain size than the grindstone. The load at this time was about 100 kg. Thus, the surface roughness of both surfaces of the glass substrate can be reduced to Rmax (JISB).
(Measured at 0601) to about 10 μm. Next, a hole was made in the center of the glass substrate using a cylindrical grindstone, and the outer peripheral end surface was also ground to a diameter of 95 mmφ. Then, the outer peripheral end surface and the inner peripheral surface were subjected to predetermined chamfering.
At this time, the surface roughness of the end face of the glass substrate was 4 at Rmax.
It was about μm.

【0059】(2)砂掛け(ラッピング)工程 次に、ガラス基板に砂掛け加工を施した。この砂掛け工
程は、寸法精度及び形状精度の向上を目的としている。
砂掛け加工は、ラッピング装置を用いて行い、砥粒の粒
度を#400、#1000と替えて2回行った。詳しく
は、はじめに、粒度#400のアルミナ砥粒を用い、荷
重Lを100kg程度に設定して、内転ギアと外転ギア
を回転させることによって、キャリア内に収納したガラ
ス基板の両面を面精度0〜1μm、表面粗さ(Rma
x)6μm程度にラッピングした。次いで、アルミナ砥
粒の粒度を#1000に替えてラッピングを行い、表面
粗さ(Rmax)2μm程度とした。上記砂掛け加工を
終えたガラス基板を、中性洗剤、水の各洗浄槽に順次浸
漬して、洗浄した。
(2) Sanding (Lapping) Step Next, the glass substrate was sanded. This sanding step aims at improving dimensional accuracy and shape accuracy.
The sanding process was performed using a lapping device, and was performed twice while changing the grain size of the abrasive grains to # 400 and # 1000. More specifically, first, by using alumina abrasive grains having a grain size of # 400, setting the load L to about 100 kg, and rotating the internal rotation gear and the external rotation gear, both surfaces of the glass substrate housed in the carrier can be subjected to surface accuracy. 0 to 1 μm, surface roughness (Rma
x) Lapping was performed to about 6 μm. Next, lapping was performed by changing the particle size of the alumina abrasive grains to # 1000, to obtain a surface roughness (Rmax) of about 2 μm. The glass substrate that had been subjected to the sanding process was washed by sequentially immersing it in a neutral detergent and water washing tank.

【0060】(3)端面鏡面加工工程 次に、ブラシ研磨により、ガラス基板を回転させながら
ガラス基板の端面の表面粗さを、Rmaxで1μm、R
aで0.3μm程度に研磨した。上記端面鏡面加工を終
えたガラス基板の表面を水洗浄した。
(3) Mirror Finishing Step Next, the surface roughness of the end face of the glass substrate is adjusted to 1 μm by Rmax while rotating the glass substrate by brush polishing.
Polished to about 0.3 μm with a. The surface of the glass substrate that had been subjected to the end surface mirror finishing was washed with water.

【0061】(4)第一研磨工程 次に、第一研磨工程を施した。この第一研磨工程は、上
述した砂掛け工程で残留したキズや歪みの除去を目的と
するもので、研磨装置を用いて行った。詳しくは、ポリ
シャ(研磨粉)として硬質ポリシャ(セリウムパッドM
HC15:スピードファム社製)を用い、以下の研磨条
件で第一研磨工程を実施した。 研磨液:酸化セリウム+水 荷重:300g/cm2(L=238kg) 研磨時間:15分 除去量:30μm 下定盤回転数:40rpm 上定盤回転数:35rpm 内ギア回転数:14rpm 外ギア回転数:29rpm 上記第一研磨工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、純
水、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、IPA
(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。
(4) First Polishing Step Next, a first polishing step was performed. This first polishing step is intended to remove scratches and distortion remaining in the above sanding step, and was performed using a polishing apparatus. For details, use a hard polisher (cerium pad M) as polisher (polishing powder).
HC15: manufactured by Speed Fam) under the following polishing conditions. Polishing liquid: cerium oxide + water Load: 300 g / cm 2 (L = 238 kg) Polishing time: 15 minutes Removal amount: 30 μm Lower platen rotation speed: 40 rpm Upper platen rotation speed: 35 rpm Inner gear rotation speed: 14 rpm Outer gear rotation speed : 29 rpm The glass substrate after the above first polishing step was washed with a neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), IPA.
(Steam drying) and sequentially immersed in each washing tank to wash.

【0062】(5)第二研磨工程 次に、第一研磨工程で使用した研磨装置を用い、ポリシ
ャを硬質ポリシャから軟質ポリシャ(ポリテックス:ス
ピードファム社製)に替えて、第二研磨工程を実施し
た。研磨条件は、荷重を100g/cm2、研磨時間を
5分、除去量を5μmとしたこと以外は、第一研磨工程
と同様とした。上記第二研磨工程を終えたガラス基板
を、中性洗剤、中性洗剤、純水、純水、IPA(イソプ
ロピルアルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に
順次浸漬して、洗浄した。
(5) Second Polishing Step Next, using the polishing apparatus used in the first polishing step, the polisher was changed from a hard polisher to a soft polisher (Polytex: manufactured by Speed Fam), and the second polishing step was performed. Carried out. The polishing conditions were the same as in the first polishing step, except that the load was 100 g / cm 2 , the polishing time was 5 minutes, and the removal amount was 5 μm. The glass substrate after the second polishing step was immersed in each of a washing tank of a neutral detergent, a neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying) to be washed.

【0063】(6)化学強化塩の準備及び分析工程 次に、新規に購入した化学強化塩の原料である硝酸カリ
ウム、硝酸ナトリウムの各原料袋(ロット)から、一部
を採取し、ロット毎に次のようにして試料を作製した。
まず、化学強化塩自体に含まれるパーティクルを除去し
て、十分に清浄化された硝酸カリウム、硝酸ナトリウム
の試料をそれぞれ作製した(実施例1)。清浄化は、硝
酸カリウムと硝酸ナトリウムをそれぞれ超純水に溶解さ
せ、液体用フィルターで濾過して行った。また、各原料
袋から採取しただけの何ら清浄化処理が施されていない
硝酸カリウム、硝酸ナトリウムの試料をそれぞれ作製し
た(比較例1)。これらの硝酸カリウムと硝酸ナトリウ
ムにそれぞれ含まれるFe、CrをそれぞれICP発光
分光分析法を用いて次のようにして測定した。なお、化
学強化塩中には様々なパーティクルが存在するが、ここ
では、付着すると除去が困難で欠陥の原因となる金属系
のパーティクル(鉄粉、ステンレス片など)に特に着目
して分析を行った。したがって、使用する治具やフィル
ターホルダーからこれらのパーティクルの発塵を防ぐた
め、使用する治具は全てガラス製もしくはプラスチック
製とした。
(6) Preparation and Analysis Step of Chemically Enhanced Salt Next, a part is taken from each raw material bag (lot) of potassium nitrate and sodium nitrate, which are the raw materials of the newly purchased chemically strengthened salt. A sample was prepared as follows.
First, particles contained in the chemically strengthened salt itself were removed to prepare fully purified samples of potassium nitrate and sodium nitrate (Example 1). Purification was performed by dissolving potassium nitrate and sodium nitrate in ultrapure water, respectively, and filtering with a liquid filter. In addition, samples of potassium nitrate and sodium nitrate which had not been subjected to any cleaning treatment and were merely collected from each raw material bag were produced (Comparative Example 1). Fe and Cr contained in these potassium nitrate and sodium nitrate were measured using ICP emission spectroscopy as follows. Although various particles are present in the chemically strengthened salt, the analysis here focuses on metal-based particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.) that are difficult to remove when attached and cause defects. Was. Therefore, all the jigs used were made of glass or plastic in order to prevent dust generation of these particles from the jigs and filter holders used.

【0064】十分に清浄化された試料(実施例1)と
何ら清浄化されていない試料(比較例1)から、硝酸カ
リウムと、硝酸ナトリウムをそれぞれ一部採取し、11
0℃で一昼夜以上乾燥させた後、約200gを秤量し
た。この試料を超純水を加熱した温水に溶解させ、得ら
れた溶液を、親水化処理されたPTFE(ポリテトラフ
ルオロエチレン)製メンブレンフィルター(最小捕捉粒
径:0.2μm)を用いて濾過した。このメンブレンフ
ィルターを王水(塩酸3:硝酸1)2mlを含む酸水溶
液(塩酸、硝酸、硫酸、フッ化水素酸、これらの混酸な
ど)に浸漬し、フィルター上に捕捉された回収物を溶解
させる。得られた酸水溶液に純水を加え、50mlに定
容する。
A portion of potassium nitrate and a portion of sodium nitrate were collected from a sufficiently cleaned sample (Example 1) and a sample not cleaned at all (Comparative Example 1).
After drying at 0 ° C. for one day or more, about 200 g was weighed. This sample was dissolved in hot water obtained by heating ultrapure water, and the obtained solution was filtered using a hydrophilic PTFE (polytetrafluoroethylene) membrane filter (minimum trapping particle size: 0.2 μm). . This membrane filter is immersed in an aqueous acid solution (hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, hydrofluoric acid, a mixed acid of these, etc.) containing 2 ml of aqua regia (hydrochloric acid 3: nitric acid 1) to dissolve the collected substance captured on the filter. . Pure water is added to the obtained aqueous acid solution, and the volume is adjusted to 50 ml.

【0065】分析にはICP発光分光分析装置(セイ
コー電子工業(株)社製:SPS−1200VR)を用
いた。まず、FeとCrについて、濃度既知の4点の濃
度の溶液をそれぞれ調製し、上記ICP発光分光分析装
置によって、絶対検量線法にてこれらの元素の定量を行
った。測定条件を以下に示す。
For the analysis, an ICP emission spectrometer (SPS-1200VR, manufactured by Seiko Instruments Inc.) was used. First, solutions of four concentrations with known concentrations were prepared for Fe and Cr, respectively, and these elements were quantified by the above-mentioned ICP emission spectrometer by the absolute calibration method. The measurement conditions are shown below.

【0066】[0066]

【表1】 [Table 1]

【0067】上記で得られた試料を用い、上記IC
P発光分光分析装置によって、上記と同じ測定条件で、
元素の定量を行った。上記で求めた検量線から測定濃
度を求めた。なお、測定濃度から試料濃度への換算は下
記の関係式(1)から求めた。
Using the sample obtained above, the above IC
With a P emission spectrometer, under the same measurement conditions as above,
Elemental quantification was performed. The measured concentration was determined from the calibration curve determined above. The conversion from the measured concentration to the sample concentration was obtained from the following relational expression (1).

【0068】 試料中の含有量[ppb]=ICP測定値[mg/l]×109[ppb]× フラスコ容量[ml]/1000[ml/l]/試料重量[mg] …(1)Content in sample [ppb] = ICP measurement value [mg / l] × 10 9 [ppb] × flask volume [ml] / 1000 [ml / l] / sample weight [mg] (1)

【0069】測定結果は実施例1では500ppb以
下、比較例1では500ppb超であった。この結果を
表2に示す。なお、ロット間のばらつきが存在すること
が確認された。
The measurement results were less than 500 ppb in Example 1 and more than 500 ppb in Comparative Example 1. Table 2 shows the results. It was confirmed that there was variation between lots.

【0070】[0070]

【表2】 [Table 2]

【0071】(7)化学強化工程 上記(6)の工程で分析を終えた化学強化塩を用い、硝
酸カリウムと硝酸ナトリウムをそれぞれ60%、40%
(合計73.5kg)を混合、溶解し、化学強化処理液
を得た。得られた化学強化処理液を化学強化処理槽で4
00℃に加熱し、300℃に予熱された洗浄済みのガラ
ス基板を約3時間浸漬して行った。なお、この浸漬の際
に、ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにする
ため、複数のガラス基板が端面で保持されるようにホル
ダーに収納した状態で行った。このように、化学強化処
理液に浸漬処理することによって、ガラス基板表層のリ
チウムイオン、ナトリウムイオンは、化学強化処理液中
のナトリウムイオン、カリウムイオンにそれぞれ置換さ
れガラス基板は強化される。ガラス基板の表層に形成さ
れた圧縮応力層の厚さは、約100〜200μmであっ
た。上記化学強化を終えたガラス基板を、20℃の水槽
に浸漬して急冷し約10分間維持した。上記急冷を終え
たガラス基板を、約40℃に加熱した硫酸に浸漬し、超
音波をかけながら洗浄を行った。
(7) Chemical strengthening step Potassium nitrate and sodium nitrate were used at 60% and 40%, respectively, using the chemically strengthened salt analyzed in the above step (6).
(Total 73.5 kg) were mixed and dissolved to obtain a chemically strengthened treatment liquid. The obtained chemically strengthened treatment solution is transferred to a chemical strengthening treatment tank for 4 hours.
The cleaning was performed by immersing the cleaned glass substrate heated to 00 ° C. and preheated to 300 ° C. for about 3 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, the immersion was performed in a state where a plurality of glass substrates were housed in a holder so as to be held at the end faces. As described above, by immersing in the chemical strengthening treatment liquid, lithium ions and sodium ions in the surface layer of the glass substrate are replaced by sodium ions and potassium ions in the chemical strengthening treatment liquid, respectively, and the glass substrate is strengthened. The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate was about 100 to 200 μm. The glass substrate that had been chemically strengthened was immersed in a water bath at 20 ° C., rapidly cooled, and maintained for about 10 minutes. The quenched glass substrate was immersed in sulfuric acid heated to about 40 ° C., and washed while applying ultrasonic waves.

【0072】上記の工程を経て得られたガラス基板の表
面粗さRaは0.5〜1nmであった。また、このガラ
ス表面を光学顕微鏡で観察したところ、実施例1では、
サーマル・アスペリティーやヘッドクラッシュの原因と
なる凸部は認められなかったが、比較例1ではサーマル
・アスペリティーやヘッドクラッシュの原因となる凸部
が認められた。
The surface roughness Ra of the glass substrate obtained through the above steps was 0.5 to 1 nm. Also, when the glass surface was observed with an optical microscope, in Example 1,
No convexity causing thermal asperity or head crash was found. However, in Comparative Example 1, a convexity causing thermal asperity or head crash was observed.

【0073】(8)磁気ディスク製造工程 上述した工程を経て得られた磁気ディスク用ガラス基板
の両面に、インライン式のスパッタリング装置を用い
て、NiAl(Ni:50at%、Al:50at%)
のシード層(膜厚40nm)、CrMo(Cr:94a
t%、Mo:6at%)下地層(膜厚25nm)、Co
CrPtTa(Co:75at%、Cr:17at%、
Pt:5at%、Ta:3at%)磁性層(膜厚27n
m)、水素化カーボン保護層(膜厚10nm)を順次成
膜し、この保護層上にディップ法によってパーフロロポ
リエーテルからなる液体潤滑剤層(膜厚1nm)を形成
して、MRヘッド用磁気ディスクを得た。
(8) Magnetic Disk Manufacturing Process NiAl (Ni: 50 at%, Al: 50 at%) is formed on both surfaces of the magnetic disk glass substrate obtained through the above-described process by using an in-line sputtering apparatus.
Seed layer (film thickness 40 nm), CrMo (Cr: 94a)
t%, Mo: 6 at%) underlayer (film thickness 25 nm), Co
CrPtTa (Co: 75 at%, Cr: 17 at%,
Pt: 5 at%, Ta: 3 at%) Magnetic layer (film thickness 27 n)
m), a hydrogenated carbon protective layer (thickness: 10 nm) is formed sequentially, and a liquid lubricant layer (1 nm thick) made of perfluoropolyether is formed on the protective layer by a dipping method to form an MR head. A magnetic disk was obtained.

【0074】(評価)得られた磁気ディスクについてグ
ライドテスト(グライド高さ:1.2μインチ、周速:
8m/s)(1500枚)を実施したところ、実施例1
では、ヒット(ヘッドが磁気ディスク表面の突起にかす
ること)やクラッシュ(ヘッドが磁気ディスク表面の突
起に衝突すること)は認められなかった。また、サーマ
ル・アスペリティーの原因となるパーティクルによっ
て、磁性層等の膜に欠陥が発生していないことも確認で
きた。また、グライドテストを終えた本実施例の磁気デ
ィスクについて、磁気抵抗型ヘッドで再生試験を行った
が、複数のサンプル(500枚)の全数についてサーマ
ル・アスペリティーによる再生の誤動作は認められなか
った。
(Evaluation) A glide test was performed on the obtained magnetic disk (glide height: 1.2 μ inch, peripheral speed:
8m / s) (1500 sheets),
No hit (the head hits a protrusion on the surface of the magnetic disk) or crash (the head hits a protrusion on the surface of the magnetic disk) was not observed. In addition, it was confirmed that no defect was generated in the film such as the magnetic layer due to the particles causing the thermal asperity. A reproduction test was performed on the magnetic disk of this example, which had completed the glide test, using a magnetoresistive head. No reproduction malfunction due to thermal asperity was observed for all of the plurality of samples (500 sheets). .

【0075】比較例1では清浄化がなされていない化学
強化塩を使用し、化学強化処理液を作ったこと以外は実
施例1と同様にして、磁気ディスク用ガラス基板及び磁
気ディスクを作製し、同様の評価を行った。清浄化がな
されていない化学強化処理液で化学強化した比較例1で
は、化学強化塩に含まれるFe、Crの濃度は500p
pb超であり、化学強化工程の際、凸部が形成される割
合が非常に高くなるとともに、凸部の高さや、凸部の密
度が大きく、1.2μインチ高のグライドテスト(50
00枚)における不良率は10%と高く、また、再生試
験(500枚)を行ったがサーマル・アスペリティーに
よる再生の誤動作の確率も高かった。
In Comparative Example 1, a glass substrate for a magnetic disk and a magnetic disk were prepared in the same manner as in Example 1 except that a chemically strengthened treatment solution was prepared by using a chemically strengthened salt that had not been cleaned. The same evaluation was performed. In Comparative Example 1, in which the chemical strengthening treatment was performed without cleaning, the concentration of Fe and Cr contained in the chemically strengthened salt was 500 p.
In the chemical strengthening step, the rate of formation of the projections becomes extremely high, and the height of the projections and the density of the projections are large.
(00 sheets) was as high as 10%, and a reproduction test (500 sheets) was conducted. As a result, the probability of a malfunction in reproduction due to thermal asperity was high.

【0076】実施例2〜5 次に、塩の精製過程において、Fe、Crの量を調整し
た数種類の化学強化塩を用意し、これらの化学強化塩を
使用したこと以外は実施例1と同様にして、磁気ディス
ク用ガラス基板を作製した。なお、各塩中に含まれるF
e、Crの量は、実施例1と同様の測定方法で行った。 実施例2;KNO3 : 3.4 ppb(Fe)、 0.5 ppb(Cr) NaNO3: 3.3 ppb(Fe)、 0.8 ppb(Cr) 実施例3;KNO3 : 74.2 ppb(Fe)、 12.5 ppb(Cr) NaNO3: 13.0 ppb(Fe)、 3.3 ppb(Cr) 実施例4;KNO3 : 195.5 ppb(Fe)、 10.3 ppb(Cr) NaNO3: 36.2 ppb(Fe)、 5.7 ppb(Cr) 実施例5;KNO3 : 478.2 ppb(Fe)、 22.6 ppb(Cr) NaNO3: 87.9 ppb(Fe)、 45.5 ppb(Cr) 得られたガラス基板の表面を光学顕微鏡で観察したとこ
ろ、サーマル・アスペリティーやヘッドクラッシュの原
因となる凸部は認められなかったが、化学強化塩中(K
NO3、NaNO3)に含まれるFeやCrの量が多くな
るに従って、凸部の高さや凸部の発生率や凸部の密度が
大きくなる傾向になっていることが確認された。しか
し、凸部の高さは比較例1の凸部の高さより小さく、サ
ーマル・アスペリティーやヘッドクラッシュを引き起こ
す高さではなかった。
Examples 2 to 5 Next, in the course of salt purification, several kinds of chemically strengthened salts were prepared in which the amounts of Fe and Cr were adjusted, and the same as in Example 1 except that these chemically strengthened salts were used. Thus, a glass substrate for a magnetic disk was produced. In addition, F contained in each salt
The amounts of e and Cr were measured in the same manner as in Example 1. Example 2: KNO 3 : 3.4 ppb (Fe), 0.5 ppb (Cr) NaNO 3 : 3.3 ppb (Fe), 0.8 ppb (Cr) Example 3: KNO 3 : 74.2 ppb (Fe), 12.5 ppb (Cr) NaNO 3 : 13.0 ppb (Fe), 3.3 ppb (Cr) Example 4; KNO 3 : 195.5 ppb (Fe), 10.3 ppb (Cr) NaNO 3 : 36.2 ppb (Fe), 5.7 ppb (Cr) Example 5; KNO 3 : 478.2 ppb (Fe), 22.6 ppb (Cr) NaNO 3 : 87.9 ppb (Fe), 45.5 ppb (Cr) When the surface of the obtained glass substrate was observed with an optical microscope, thermal asperity and head crash were observed. No protruding portion was found, but the chemically strengthened salt (K
It was confirmed that as the amounts of Fe and Cr contained in NO 3 and NaNO 3 ) increased, the height of the projections, the incidence of the projections, and the density of the projections tended to increase. However, the height of the protrusion was smaller than the height of the protrusion of Comparative Example 1, and was not a height that would cause thermal asperity or head crash.

【0077】実施例6 実施例1におけるのICP発光分析法の代わりに、全
反射蛍光X線分析装置を用いて測定したこと以外は実施
例1と同様にして、磁気ディスク用ガラス基板及び磁気
ディスクを作製し、同様の評価を行った。以下、分析方
法、分析条件について説明する。蛍光X線分析法は、X
線管球で得られる強い一次X線を試料に照射し発生した
固有X線の波長と強度を測定し、含有元素の同定を行
い、さらに、マトリクス効果を考慮した検量線を標準試
薬を用いて作成し、含有元素の定量を行う方法である。
ここで、、一般的なX線の入射角度は30°〜90°程
度であるが、入射X線の全反射現象が現れる最大の入射
角である臨界角〜30°程度でも良い。後者の方が原理
的に感度が高く、入射角を臨界角の1/4〜1/2程度
にするとさらに良い。本実施例では、分析には全反射蛍
光X線分析装置((株)テクノス社製:TREX61
0)を用いた。測定条件を以下に示す。 ターゲット:タングステン(W)(他のターゲットを使
っても良い) 分光結晶 :モノクロメーター 検出器 :Si(Li)SSD 雰囲気 :真空 電圧 :30kV 電流 :200mA 測定時間 :500sec 入射角度 :0.05° まず、FeとCrについて、濃度既知の4点の濃度の溶
液をそれぞれ調製し、上記全反射蛍光X線分析装置を用
いて絶対検量線法にてこれらの元素の定量を上記条件で
行った。測定手順は、上記溶液の既知量を清浄なシリコ
ンウエハ上に滴下し、乾燥させた後、その乾燥残渣全体
に一次X線を照射し、Fe、Crの固有X線の強度を測
定する。なお、必ずしも乾燥させた状態でなくても、液
体の状態であっても良い。次に、実施例1で作製した十
分に清浄化された試料から、硝酸カリウムと、硝酸ナト
リウムをそれぞれ一部採取し、110℃で一昼夜以上乾
燥させた後、約200gを秤量した。この試料を超純水
を加熱した温水に溶解させ、得られた溶液を、シリコン
ウエハ上に滴下し、乾燥させた後、残渣を上記と同様に
して分析した。その結果、実施例1のICP発光分析法
における測定結果とほぼ同じ定量結果が得られた。ただ
し、ICP発光分析法より感度が良く、しかも簡単に分
析を行うことができた。また、全反射蛍光X線分析装置
を用いて分析を終えた化学強化塩を用いたこと以外は実
施例1と同様にして作製した磁気ディスク用ガラス基板
ついて、サーマル・アスペリティーやヘッドクラッシュ
の原因となる凸部は認められなず、磁気ディスクについ
てもグライド不良や、サーマル・アスペリティーによる
再生の誤動作は認められなかった。
Example 6 A glass substrate for a magnetic disk and a magnetic disk were manufactured in the same manner as in Example 1 except that the measurement was performed using a total reflection X-ray fluorescence analyzer instead of the ICP emission analysis method in Example 1. Was prepared and the same evaluation was performed. Hereinafter, the analysis method and the analysis conditions will be described. X-ray fluorescence analysis uses X
By irradiating the sample with strong primary X-rays obtained from a tube, the wavelength and intensity of the generated intrinsic X-rays are measured, the contained elements are identified, and a calibration curve considering the matrix effect is obtained using standard reagents. It is a method of preparing and quantifying contained elements.
Here, the incident angle of general X-rays is about 30 ° to 90 °, but may be about 30 ° to a critical angle which is the maximum incident angle at which the total reflection phenomenon of incident X-rays appears. The latter has higher sensitivity in principle, and it is more preferable to set the incident angle to about 1 / to の of the critical angle. In the present embodiment, the analysis is performed by a total reflection X-ray fluorescence analyzer (TREX61 manufactured by Technos Co., Ltd.).
0) was used. The measurement conditions are shown below. Target: Tungsten (W) (other targets may be used) Spectral crystal: Monochromator Detector: Si (Li) SSD Atmosphere: Vacuum Voltage: 30 kV Current: 200 mA Measurement time: 500 sec Incident angle: 0.05 ° First , Fe and Cr were respectively prepared at four concentrations of known concentrations, and quantification of these elements was carried out under the above conditions by the absolute calibration curve method using the above total reflection X-ray fluorescence analyzer. In the measurement procedure, a known amount of the above solution is dropped on a clean silicon wafer, dried, and then the dried residue is irradiated with primary X-rays to measure the intensity of the intrinsic X-rays of Fe and Cr. In addition, it does not necessarily need to be in a dried state, and may be in a liquid state. Next, potassium nitrate and sodium nitrate were partially collected from the sufficiently cleaned sample prepared in Example 1 and dried at 110 ° C. for one day or more, and then about 200 g was weighed. This sample was dissolved in warm water heated with ultrapure water, the resulting solution was dropped on a silicon wafer, dried, and the residue was analyzed in the same manner as described above. As a result, almost the same quantitative results as those measured by the ICP emission spectrometry of Example 1 were obtained. However, the sensitivity was higher than the ICP emission spectrometry, and the analysis could be performed easily. In addition, a glass substrate for a magnetic disk manufactured in the same manner as in Example 1 except that a chemically strengthened salt analyzed using a total reflection X-ray fluorescence analyzer was used. No protrusion was found, and no malfunction of reproduction due to thermal asperity was recognized for the magnetic disk.

【0078】実施例7及び比較例2 化学強化塩の分析をSEMを用いて行ったこと以外は実
施例1及び比較例1と同様にして、磁気ディスク用ガラ
ス基板及び磁気ディスクを作製し、同様の評価を行っ
た。なお、分析は以下のようにして行った。
Example 7 and Comparative Example 2 A glass substrate for a magnetic disk and a magnetic disk were prepared in the same manner as in Example 1 and Comparative Example 1 except that the analysis of the chemically strengthened salt was performed using SEM. Was evaluated. The analysis was performed as follows.

【0079】化学強化塩中には様々なパーティクルが
存在するが、付着すると除去が困難で欠陥の原因となる
金属系のパーティクル(鉄粉、ステンレス片など)に特
に着目して分析を行う。したがって、使用する治具やフ
ィルターホルダーからこれらのパーティクルの発塵を防
ぐため、使用する治具は全てガラス製もしくはプラスチ
ック製とした。使用する治具は、事前にクリーンルーム
内で純水を使用して洗浄しておく。バイアル瓶は、ベン
コット(鍋林(株)社製)に中性洗剤をつけ、瓶の中、
口、キャップを2回洗浄し、洗剤を良く洗い流す。その
後、0.2μmのメンブレンフィルタユニットを注射器
に付け、その先にフィルターホルダー(直径13mm、
捕捉最小粒径0.2μmのメンブレンフィルタを有す
る)を装着し、濾過した純水(以下所定の純水という)
で、バイアル瓶の中を良くすすぐ。セラミック製のピン
セットは、所定の純水で先端を良くすすぐ。フィルタホ
ルダは、所定の純水で良くすすぐ。この時、フィルタを
固定する付属のスペーサーもフィルタホルダにはめ込み
一緒にすすぐ。洗浄後の治具は、きれいなベンコットの
上に置き、パーティクルが再付着しないように注意す
る。図1に示すように、洗浄したフィルタホルダAとB
の間に、セラミック製のピンセットを使い、スペーサ2
と、直径13mm、捕捉最小粒径0.2μm孔径のメン
ブレンフィルタ1をセットする。その際、フィルタホル
ダAとBの間から液が漏れないようにしっかりホルダを
とめる。
Although various particles are present in the chemically strengthened salt, the analysis is performed by paying particular attention to metal-based particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.) which are difficult to remove when adhered and cause defects. Therefore, all the jigs used were made of glass or plastic in order to prevent dust generation of these particles from the jigs and filter holders used. The jig to be used is cleaned in advance using pure water in a clean room. The vial bottle is made of Bencott (Nabebayashi Co., Ltd.) with a neutral detergent.
Wash the mouth and cap twice, and rinse off the detergent well. Thereafter, a 0.2 μm membrane filter unit was attached to the syringe, and a filter holder (diameter 13 mm,
(With a membrane filter with a minimum capture particle size of 0.2 μm) and filtered (hereinafter referred to as “predetermined pure water”)
Then rinse the vial well. For ceramic tweezers, rinse the tip with pure water. The filter holder is rinsed well with the specified pure water. At this time, the attached spacer for fixing the filter is also fitted into the filter holder and rinsed together. Place the jig after cleaning on a clean bencot so that the particles do not adhere again. As shown in FIG. 1, the cleaned filter holders A and B
In between, use ceramic tweezers, spacer 2
And a membrane filter 1 having a diameter of 13 mm and a minimum capture particle diameter of 0.2 μm are set. At that time, the holder is securely stopped so that the liquid does not leak from between the filter holders A and B.

【0080】50mlの注射器(注射針なし)にフィ
ルタホルダのA側を装着し、試料(実施例1及び比較例
1で作製した十分に清浄化された試料と、何ら清浄化さ
れていない試料から、硝酸カリウムと、硝酸ナトリウム
をそれぞれ一部採取し、110℃で一昼夜以上乾燥させ
た後、約200gを秤量し、この試料を超純水を加熱し
た温水に溶解させ、得られた溶液)を注射器内に注ぎ込
む。なお、注射器(注射針なし)で試料を吸い上げた
後、フィルタホルダのA側に装着してもよい。注射針は
金属製であり、発塵のおそれがあるので使用しない。注
射器のピストンを押圧して、フォルダ内に試料を注入
し、フィルタリングを行う。この際、ピストンを一気に
押さず、抽出液が滴下する程度となるようにピストンを
押圧する。また、フィルタホルダA内に気泡があると大
きな押圧力が必要になるだけでなく、異物採取にムラが
でるので気泡の有無を確認する。フィルタリング終了
後、所定の純水10mlを3回流しフラッシングして、
フィルタに付いたカリウム、ナトリウムをフィルタ上か
ら除去する。これらがフィルタ上に大量に残っていると
チャージアップによりSEM観察がし難くなり、EDX
分析(エネルギー分散型X線分光分析)時もそれらが邪
魔して正確な分析ができなくなる。なお、温純水を用い
ると容易にフラッシングできる。フィルタは約24時間
乾燥剤の入ったデシケーター中に入れ水分を除去する。
The A side of the filter holder was attached to a 50 ml syringe (without a needle), and the sample (from the completely cleaned sample prepared in Example 1 and Comparative Example 1 and the sample not cleaned at all) , Potassium nitrate, and sodium nitrate were partially collected, dried at 110 ° C. for one day or more, weighed about 200 g, and the sample was dissolved in hot water heated with ultrapure water. Pour into it. In addition, after sucking up a sample with a syringe (without a needle), it may be mounted on the A side of the filter holder. Do not use the injection needle because it is made of metal and may generate dust. Press the syringe piston to inject the sample into the folder and perform the filtering. At this time, the piston is pressed so as not to push the piston at once, but to such an extent that the extract drops. In addition, if air bubbles are present in the filter holder A, not only a large pressing force is required, but also there is unevenness in the collection of foreign matters, so the presence or absence of air bubbles is checked. After the filtering, 10 ml of predetermined pure water is flushed three times and flushed.
Remove potassium and sodium from the filter. If a large amount of these remains on the filter, SEM observation becomes difficult due to charge-up, and EDX
Even during analysis (energy dispersive X-ray spectroscopy), accurate analysis cannot be performed due to the interference. Note that flushing can be easily performed using warm pure water. The filter is placed in a desiccator containing a desiccant for about 24 hours to remove moisture.

【0081】上記で得られたメンブレンフィルタをカ
ーボン試料台に載せカーボンドータイトで縁を取る。そ
の際、全周にドータイトを塗らず、2mm程度の隙間を
開けておく。こうすることで、次に説明する蒸着時の真
空引きでメンブレンフィルタと両面テープの間に入った
空気を抜くことができる。蒸着は白金パラジウムを10
mAで30秒間行い、SEM分析用の試料を得る。これ
により、加速電圧15kVで観察及び分析を問題なく行
うことができる。上記で得られたSEM分析用の試料を
用い、SEM観察を行う。条件は、加速電圧15kV、
WD15mm、反射電子検出器あるいは2次電子検出器
を使い観察する。この際、反射電子検出器を有するSE
M装置を用いると、原子番号の大きいもの程明るく見え
る原子番号効果によって、カーボンを多く含むフィルタ
は黒く写り、金属やガラスは白くはっきり写るので、目
視や写真判定に極めて都合がよく、計数精度も高くな
る。2次電子線像であるとフィルタと異物との区別がつ
きにくい。パーティクルが良く目立つ場所までステージ
を移動し、全体像(100倍)と拡大像(500倍)の
写真を撮った。実施例2にかかるKNO3についての全
体像(100倍)を図2に、拡大像(500倍)を図3
に示す。比較例2にかかるKNO3についての全体像
(100倍)を図4に、拡大像(500倍)を図5に示
す。これらの写真から、単位面積当たりのパーティクル
の量を求めることができる。なお、観察時に画面全体が
パーティクルでチャージアップしている場合はフラッシ
ングが不十分であったと考えられるので、すべて最初か
らやり直す。次いで、EDX分析(エネルギー分散型X
線分光法)(ESCA(X線光電子分光法)、SIMS
(二次イオン質量分析)を用いてもよい)を行う。条件
は、加速電圧15kV、WD15mm、反射電子検出器
を使い分析する。500倍視野内からランダムに10ポ
イントのパーティクルを選び元素分析を行う。これによ
って化学強化塩に含まれるパーティクルがいかなる元素
からなるか判明する。
The membrane filter obtained above is placed on a carbon sample stage and trimmed with carbon dootite. At that time, a gap of about 2 mm is left without applying dootite on the entire circumference. By doing so, air that has entered between the membrane filter and the double-sided tape can be evacuated by evacuation during vapor deposition described below. Evaporation is platinum palladium 10
This is performed for 30 seconds at mA to obtain a sample for SEM analysis. Thereby, observation and analysis can be performed without problems at an acceleration voltage of 15 kV. Using the sample for SEM analysis obtained above, SEM observation is performed. The conditions are as follows: acceleration voltage 15 kV,
Observe using a WD 15 mm, backscattered electron detector or secondary electron detector. At this time, SE having a backscattered electron detector
With the use of the M device, the filter with a large amount of carbon appears black due to the atomic number effect, which looks brighter as the atomic number increases, and metal and glass appear sharply white, which is extremely convenient for visual inspection and photo judgment, and the counting accuracy is high. Get higher. In the case of a secondary electron beam image, it is difficult to distinguish between the filter and the foreign matter. The stage was moved to a place where the particles were conspicuous, and photographs of the entire image (100 times) and an enlarged image (500 times) were taken. FIG. 2 shows an overall image (100 ×) of KNO 3 according to Example 2, and FIG. 3 shows an enlarged image (500 ×).
Shown in FIG. 4 shows an overall image (100 ×) of KNO 3 according to Comparative Example 2, and FIG. 5 shows an enlarged image (500 ×). From these photographs, the amount of particles per unit area can be determined. If the entire screen is charged up with particles at the time of observation, it is considered that flushing was inadequate. Next, EDX analysis (energy dispersive X
Ray spectroscopy) (ESCA (X-ray photoelectron spectroscopy), SIMS
(Secondary ion mass spectrometry may be used). The conditions are analyzed using an acceleration voltage of 15 kV, a WD of 15 mm, and a backscattered electron detector. Particles of 10 points are randomly selected from within a 500-fold field of view and subjected to elemental analysis. This makes it clear what kind of element the particles contained in the chemically strengthened salt are made of.

【0082】これらの測定の結果、実施例2では粒径
0.2μm以上のパーティクル(鉄粉、ステンレス片な
ど)の量が、30個/mm2以下(25個/mm2)であ
り、比較例2では粒径0.2μm以上のパーティクル
(鉄粉、ステンレス片など)の量が、900個/mm2
超(915個/mm2)であった。
As a result of these measurements, in Example 2, the amount of particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.) having a particle size of 0.2 μm or more was 30 particles / mm 2 or less (25 particles / mm 2 ). In Example 2, the amount of particles (iron powder, stainless steel pieces, etc.) having a particle size of 0.2 μm or more was 900 particles / mm 2.
It was super (915 / mm 2 ).

【0083】(評価)磁性膜を成膜する前のガラス表面
を光学顕微鏡で観察したところ、実施例2ではサーマル
・アスペリティーやヘッドクラッシュの原因となる凸部
は認められなかったが、比較例2ではサーマル・アスペ
リティーやヘッドクラッシュの原因となる凸部が認めら
れた。得られた磁気ディスクについてグライドテスト
(グライド高さ:1.2μインチ、周速:8m/s)
(1500枚)を実施したところ、実施例2では、ヒッ
トやクラッシュは認められなかった。また、サーマル・
アスペリティーの原因となるパーティクルによって、磁
性層等の膜に欠陥が発生していないことも確認できた。
また、グライドテストを終えた本実施例の磁気ディスク
について、磁気抵抗型ヘッドで再生試験を行ったが、複
数のサンプル(500枚)の全数についてサーマル・ア
スペリティーによる再生の誤動作は認められなかった。
(Evaluation) The surface of the glass before the formation of the magnetic film was observed with an optical microscope. As a result, in Example 2, no convexity causing thermal asperity or head crash was found. In No. 2, a protrusion causing thermal asperity and head crash was recognized. Glide test on the obtained magnetic disk (glide height: 1.2 μ inch, peripheral speed: 8 m / s)
(1500 sheets), no hits or crashes were found in Example 2. In addition, thermal
It was also confirmed that no defects occurred in the film such as the magnetic layer due to the particles that caused asperity.
A reproduction test was performed on the magnetic disk of this example, which had completed the glide test, using a magnetoresistive head. No reproduction malfunction due to thermal asperity was observed for all of the plurality of samples (500 sheets). .

【0084】一方、比較例2では1.2μインチ高のグ
ライドテスト(5000枚)における不良率は10%と
高く、また、再生試験(500枚)を行ったがサーマル
・アスペリティーによる再生の誤動作の確率も高かっ
た。
On the other hand, in Comparative Example 2, the defect rate in the glide test (5000 sheets) having a height of 1.2 μ inch was as high as 10%, and the reproduction test (500 sheets) was performed. The probability of was high.

【0085】実施例8〜10 次に、塩の精製過程において、Fe、Crの量を調整し
た数種類の化学強化塩を用意し、これらの化学強化塩を
使用したこと以外は実施例1と同様にして、磁気ディス
ク用ガラス基板を作製した。なお、各塩中に含まれるF
e、Crの量は、実施例7と同様の測定方法で行った。 実施例8: 87個/mm2(粒径0.2μm以上のパーティクル) 実施例9:292個/mm2(粒径0.2μm以上のパーティクル) 実施例10:485個/mm2(粒径0.2μm以上のパーティクル) 得られたガラス基板の表面を光学顕微鏡で観察したとこ
ろ、サーマル・アスペリティーやヘッドクラッシュの原
因となる凸部は認められなかったが、化学強化塩中(K
NO3、NaNO3)に含まれるパーティクルの量(粒径
0.2μm以上のパーティクル)が多くなるに従って、
凸部の高さや凸部の発生率や凸部の密度が大きくなる傾
向になっていることが確認された。しかし、凸部の高さ
は比較例2の凸部の高さより小さく、サーマル・アスペ
リティーやヘッドクラッシュを引き起こす高さではなか
った。
Examples 8 to 10 Next, in the course of salt purification, several kinds of chemically strengthened salts were prepared in which the amounts of Fe and Cr were adjusted, and the same as in Example 1 except that these chemically strengthened salts were used. Thus, a glass substrate for a magnetic disk was produced. In addition, F contained in each salt
The amounts of e and Cr were measured in the same manner as in Example 7. Example 8: 87 particles / mm 2 (particles having a particle size of 0.2 μm or more) Example 9: 292 particles / mm 2 (particles having a particle size of 0.2 μm or more) Example 10: 485 particles / mm 2 (particle size When the surface of the obtained glass substrate was observed with an optical microscope, no protrusions causing thermal asperity or head crash were observed.
NO 3 , NaNO 3 ) as the amount of particles (particles having a particle size of 0.2 μm or more) increases.
It was confirmed that the height of the projections, the incidence rate of the projections, and the density of the projections tended to increase. However, the height of the protrusion was smaller than the height of the protrusion of Comparative Example 2, and was not a height that would cause thermal asperity or head crash.

【0086】実施例11及び比較例3 実施例7及び比較例2における、フィルタリング後のフ
ィルタを目視で観察し、着色等を比較し、この着色等と
上記SEM分析結果等との相関をとることによっても、
化学強化塩の良否の判定を行うことができ、有効な手段
である。具体的には、例えば、フィルタホルダからメン
ブレンフィルタを取り出し、キムワイプ(鍋林(株)社
製)で水分を完全に除去する。この時メンブレンフィル
タ上に塩の結晶が肉眼で確認できる場合はフラッシング
が不十分であったと考えられるので、すべて最初からや
り直す。次に、メンブレンフィルタのみを透明粘着シー
ト(例えば明光商会社製:パウチなど)で挟み密閉す
る。用紙と一緒に密閉すると後で変色するからである。
次に、白い紙の上に密閉したメンブレンフィルタを載せ
再度密閉する。メンブレンフィルタは茶系色に着色する
ため、比較しやすいように下地に白い紙を使用する。上
記SEM分析結果と相関をとった結果、フィルタリング
後のフィルタの色が一定基準より濃い場合製品不良の原
因となった。ほとんど無着色か、薄い着色の場合は製品
不良が生じることはなかった。
Example 11 and Comparative Example 3 The filters obtained in Example 7 and Comparative Example 2 were visually observed after filtering, coloration and the like were compared, and the coloration and the like were correlated with the SEM analysis results and the like. By
This is an effective means that can determine the quality of the chemically strengthened salt. Specifically, for example, the membrane filter is taken out from the filter holder, and the water is completely removed with Kimwipe (manufactured by Nabebayashi Co., Ltd.). At this time, if salt crystals can be visually confirmed on the membrane filter, it is considered that flushing was inadequate, and the process is repeated from the beginning. Next, only the membrane filter is sandwiched between transparent adhesive sheets (for example, a pouch made by Meiko Shosha Co., Ltd.) and sealed. This is because if the paper is sealed together with the paper, the color will be changed later.
Next, the sealed membrane filter is placed on white paper and sealed again. Since the membrane filter is colored brown, white paper is used for the base for easy comparison. As a result of correlation with the SEM analysis result, when the color of the filter after filtering is darker than a certain standard, it causes a product defect. In the case of almost no coloring or light coloring, no product failure occurred.

【0087】実施例12及び比較例4 化学強化塩の分析を比色法を用いて行ったこと以外は実
施例1及び比較例1と同様にして、磁気ディスク用ガラ
ス基板及び磁気ディスクを作製し、同様の評価を行っ
た。なお、分析は以下のようにして行った。実施例1及
び比較例1で作製した十分に清浄化された試料と、何ら
清浄化されていない試料から、硝酸カリウムと、硝酸ナ
トリウムをそれぞれ一部採取し、110℃で一昼夜以上
乾燥させた後、約200gを秤量し、この試料を超純水
を加熱した温水に溶解させ、得られた溶液を、親水化処
理されたPTFE(ポリテトラフルオロエチレン)製メ
ンブレンフィルター(最小捕捉粒径:0.2μm、直
径:13mmφ)を用いて濾過した。このメンブレンフ
ィルターを王水(塩酸3:硝酸1)2mlを含む酸水溶
液(塩酸、硝酸、硫酸、フッ化水素酸、これらの混酸な
ど)に浸漬し、フィルター上に捕捉された回収物を溶解
させる。得られた酸水溶液に純水を加え、50mlに定
容し、この定容した溶液を比色法によって分析した。比
色法では、化学強化塩を比色法によって分析したとき
に、黒色、灰色又は赤茶色でないものを使用することが
必要である。上記IPC分析結果と相関をとった結果、
黒色又は灰色はステンレスが多く含まれ、赤茶色は錆び
(酸化鉄)が多く含まれたものであって、これらの色が
出る場合濃度的にもステンレスや酸化鉄が500ppb
以上含まれ、製品不良の原因となった。ほとんど無色
か、薄い肌色の場合は製品不良が生じることはなかっ
た。
Example 12 and Comparative Example 4 A glass substrate for a magnetic disk and a magnetic disk were prepared in the same manner as in Example 1 and Comparative Example 1, except that the analysis of the chemically strengthened salt was carried out by colorimetry. The same evaluation was performed. The analysis was performed as follows. From the fully-cleaned sample prepared in Example 1 and Comparative Example 1 and a sample that has not been cleaned at all, potassium nitrate and sodium nitrate were partially collected and dried at 110 ° C. for one day or more, About 200 g was weighed, this sample was dissolved in warm water heated with ultrapure water, and the obtained solution was subjected to a hydrophilic PTFE (polytetrafluoroethylene) membrane filter (minimum trapping particle size: 0.2 μm , Diameter: 13 mmφ). This membrane filter is immersed in an aqueous acid solution (hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, hydrofluoric acid, a mixed acid of these, etc.) containing 2 ml of aqua regia (hydrochloric acid 3: nitric acid 1) to dissolve the collected substance captured on the filter. . Pure water was added to the resulting acid aqueous solution, and the volume was adjusted to 50 ml. The solution with the constant volume was analyzed by a colorimetric method. In the colorimetric method, it is necessary to use one that is not black, gray or reddish brown when the chemically strengthened salt is analyzed by the colorimetric method. As a result of correlation with the IPC analysis result,
Black or gray contains a lot of stainless steel, red-brown contains a lot of rust (iron oxide), and when these colors appear, stainless steel and iron oxide are also 500 ppb in concentration.
The above included, causing product failure. In the case of almost colorless or pale skin color, no product failure occurred.

【0088】実施例13 化学強化塩の分析をパーティクルカウンターを用いて行
ったこと以外は実施例1及び比較例1と同様にして、磁
気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを作製し、同
様の評価を行った。なお、分析は以下のようにして行っ
た。
Example 13 A glass substrate for a magnetic disk and a magnetic disk were prepared in the same manner as in Example 1 and Comparative Example 1 except that the analysis of the chemically strengthened salt was performed using a particle counter, and the same evaluation was performed. went. The analysis was performed as follows.

【0089】試料作成のため、清浄なバイアル瓶に、
5.000gの化学強化塩(新規に購入した硝酸カリウ
ム)を入れ、0.2μmのフィルターで濾過した超純水
50mlを加え蓋をした。このバイアル瓶を50℃の温
水に漬け化学強化塩を溶解する。なお、溶液の温度が室
温まで下がった時に、化学強化塩が再結晶しないことを
確認した。
For sample preparation, put in a clean vial
5.000 g of chemically strengthened salt (potassium nitrate newly purchased) was added, and 50 ml of ultrapure water filtered through a 0.2 μm filter was added thereto, followed by capping. The vial is immersed in warm water at 50 ° C. to dissolve the chemically strengthened salt. It was confirmed that the chemical strengthening salt did not recrystallize when the temperature of the solution was lowered to room temperature.

【0090】一方、液中パーティクルカウンターとし
て、光散乱式自動粒子計数器(RION社製:KL−2
0型)を用い、パーティクルカウンターの試料注入口か
ら、10mlのIPA(イソフ゜ロヒ゜ルアルコール)を5回流し、
フラッシングする。次いで、洗浄したビーカーに、0.
2μmのフィルターで濾過した超純水600mlを静か
に入れた基準液(バックグラウンド)を準備する。そし
て、この基準液10mlを上記と同様に5回流し、IP
Aを完全に排出する。
On the other hand, as a submerged particle counter, a light scattering type automatic particle counter (KL-2 manufactured by RION) is used.
0 type), and 10 ml of IPA (isopropyl alcohol) was flowed 5 times from the sample injection port of the particle counter.
Flashing. Then, add 0. 0 to the washed beaker.
Prepare a reference solution (background) gently containing 600 ml of ultrapure water filtered through a 2 μm filter. Then, 10 ml of this reference solution was flowed five times in the same manner as above,
A is completely discharged.

【0091】引き続き、基準液10mlを上記と同様
に5回流し、粒子数の計数を行い、後半3回の平均値か
ら基準液中の粒子数を粒子径毎に求めておく。この際、
後半3回の計数で0.2μmの計数が200以上である
場合、あるいは5回トータルの計数が300以上の場合
は、基準液を再度作製し計数をやり直す。
Subsequently, 10 ml of the reference liquid is allowed to flow five times in the same manner as described above, the number of particles is counted, and the number of particles in the reference liquid is determined for each particle diameter from the average of the latter three times. On this occasion,
When the 0.2 μm count is 200 or more in the latter three counts, or when the total count of five times is 300 or more, a reference solution is prepared again and counting is performed again.

【0092】基準液500mlに、で作製した化学
強化塩の溶液1.0mlを加え、ゆっくりと撹拌する。
この試料を上記と同様に5回流し、粒子数の計数を行
い、後半3回の平均値から試料液中の粒子数を粒子径毎
に求める。
To 500 ml of the reference solution, 1.0 ml of the solution of the chemically strengthened salt prepared above is added, and the mixture is stirred slowly.
This sample is allowed to flow five times in the same manner as described above, and the number of particles is counted.

【0093】粒子数の増加数=試料液中の粒子数−基
準液中の粒子数、から10ml中の粒子数の増加数が求
められる。化学強化塩1g中の不純物粒子数は、下記の
式から求められる。
From the number of increase in the number of particles = the number of particles in the sample liquid−the number of particles in the reference liquid, the number of increase in the number of particles in 10 ml is obtained. The number of impurity particles in 1 g of the chemically strengthened salt is obtained from the following equation.

【0094】10ml中の粒子数の増加数/[(5g/50m
l)×(1ml/500ml)×10ml]
Increased number of particles in 10 ml / [(5 g / 50 m
l) × (1ml / 500ml) × 10ml]

【0095】その結果、硝酸カリウムに含まれるパーテ
ィクルよりも、硝酸ナトリウムに含まれるパーティクル
の方が多かった。硝酸ナトリウムに含まれるパーティク
ルの量は、粒径0.2μm以上0.3μm未満が191
2個/g、粒径0.3μm以上0.5μm未満が119
2個/g、粒径0.5μm以上1.0μm未満が161
個/g、粒径1.0μm以上2.0μm未満が10個/
g、粒径2.0μm以上3.0μm未満が310個/
g、粒径3.0μm以上4.0μm未満が111個/
g、粒径4.0μm以上5.0μm未満が60個/g、
粒径5.0μm以上6.0μm未満が36個/g、粒径
6.0μm以上が169個/gであり、粒径2.0μm
以上のパーティクルは686個/g、粒径0.2μm以
上2.0μm未満のパーティクルは3275個/gで、
粒径0.2μm以上の合計のパーティクルの量は396
1個/gであり、そのうち、粒径2.0μm以上のパー
ティクルの占める割合は17.3%であった。
As a result, there were more particles contained in sodium nitrate than particles contained in potassium nitrate. The amount of particles contained in sodium nitrate is 191 when the particle size is 0.2 μm or more and less than 0.3 μm.
119 particles / g, particle size 0.3 μm or more and less than 0.5 μm
2 particles / g, particle size of 0.5 μm or more and less than 1.0 μm is 161
Particles / g, 10 particles / g
g, 310 particles / 2.0 μm or more and less than 3.0 μm /
g, particle size: 3.0 μm or more and less than 4.0 μm
g, particle size of 4.0 μm or more and less than 5.0 μm is 60 particles / g,
A particle size of 5.0 μm or more and less than 6.0 μm is 36 particles / g, a particle size of 6.0 μm or more is 169 particles / g, and a particle size of 2.0 μm
The above particles are 686 particles / g, and the particles having a particle size of 0.2 μm or more and less than 2.0 μm are 3275 particles / g.
The total amount of particles having a particle size of 0.2 μm or more is 396.
1 particle / g, of which particles having a particle size of 2.0 μm or more accounted for 17.3%.

【0096】(評価)磁性膜を成膜する前のガラス表面
を光学顕微鏡で観察したところ、サーマル・アスペリテ
ィーやヘッドクラッシュの原因となる凸部は認められな
かった。得られた磁気ディスクについてグライドテスト
(グライド高さ:1.2μインチ、周速:8m/s)
(1500枚)を実施したところ、ヒットやクラッシュ
は認められなかった。また、サーマル・アスペリティー
の原因となるパーティクルによって、磁性層等の膜に欠
陥が発生していないことも確認できた。また、グライド
テストを終えた本実施例の磁気ディスクについて、磁気
抵抗型ヘッドで再生試験を行ったが、複数のサンプル
(500枚)の全数についてサーマル・アスペリティー
による再生の誤動作は認められなかった。
(Evaluation) The surface of the glass before the formation of the magnetic film was observed with an optical microscope. As a result, no protrusions causing thermal asperity or head crash were found. Glide test on the obtained magnetic disk (glide height: 1.2 μ inch, peripheral speed: 8 m / s)
(1500 sheets), no hits or crashes were found. In addition, it was confirmed that no defect was generated in the film such as the magnetic layer due to the particles causing the thermal asperity. A reproduction test was performed on the magnetic disk of this example, which had completed the glide test, using a magnetoresistive head. No reproduction malfunction due to thermal asperity was observed for all of the plurality of samples (500 sheets). .

【0097】実施例14〜16、比較例5 次に、パーティクルの量が異なる化学強化塩を用意し、
化学強化処理液を作ったこと以外は実施例13と同様に
して、磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを作
製し、同様の評価を行った。なお、比較例5では清浄化
がなされていない化学強化塩を使用した。化学強化塩
(硝酸ナトリウム)のパーティクルの量(粒径2.0μ
m以上、粒径0.2μm以上2.0μm未満、これらの
合計)、凸部の高さ(平均値)、凸部の密度(平均
値)、及び磁気ディスクのグライドテスト結果(不良
率)(5000枚)を表3に示す。なお、実施例14〜
16及び比較例5において、粒径0.2μm以上の合計
のパーティクルのうち、粒径2.0μm以上のパーティ
クルの占める割合は、それぞれ、18.2%(実施例1
4)、15.0%(実施例15)、22.1%(実施例
16)、25.3%(比較例5)であった。
Examples 14 to 16 and Comparative Example 5 Next, chemically strengthened salts having different amounts of particles were prepared.
A glass substrate for a magnetic disk and a magnetic disk were prepared and evaluated in the same manner as in Example 13 except that a chemical strengthening treatment liquid was prepared. In Comparative Example 5, a chemically strengthened salt that had not been cleaned was used. Amount of particles of chemical strengthening salt (sodium nitrate) (particle size 2.0μ)
m or more, particle diameter of 0.2 μm or more and less than 2.0 μm, the sum of them), the height of the protrusions (average value), the density of the protrusions (average value), and the glide test result (defective rate) of the magnetic disk (5,000 sheets) are shown in Table 3. Examples 14 to
In Comparative Example 16 and Comparative Example 5, the ratio of particles having a particle size of 2.0 μm or more to the total particles having a particle size of 0.2 μm or more was 18.2% (Example 1).
4), 15.0% (Example 15), 22.1% (Example 16), and 25.3% (Comparative Example 5).

【0098】[0098]

【表3】 [Table 3]

【0099】表3からわかるように、清浄化された化学
強化塩を使用する(その結果として、化学強化処理液中
に含まれるパーティクルの量を減少させる)ことによっ
て、効果的にガラス基板表面に形成される凸部を減少さ
せることができるとともに、グライドテストでは磁気抵
抗型ヘッドによる再生試験の結果も良好になることがわ
かる。特に、粒径0.2μm以上のパーティクルの量が
4000個/g以下(粒径2.0μm以上のパーティク
ルの量が700個/g以下)の場合、凸部が形成される
ことなく、したがってグライドテストで不良が発生しな
いので好ましい。一方、化学強化塩に含まれる粒径0.
2μm以上のパーティクルの量が120000個/gを
超える場合、中でも粒径2.0μm以上のパーティクル
の占める割合が25%を超える場合、化学強化工程の
際、凸部が形成される割合が高くなるとともに、凸部の
高さも30nmを超え、凸部の密度も0.002/mm
2を超えるので、1.2μインチ高のグライドテストに
おける不良率(ヒットやヘッドクラッシュの割合)が高
く、また、再生試験(500枚)を行ったが、グライド
テストの不良率が高くなるにつれて、サーマル・アスペ
リティーによる再生の誤動作の確率も高くなった。ま
た、清浄化がなされていない化学強化処理液で化学強化
した比較例5では、化学強化塩に含まれる粒径0.2μ
m以上のパーティクルの量は193200個/gであ
り、化学強化工程の際、凸部が形成される割合が非常に
高くなるとともに、凸部の高さが100nm、凸部の密
度が0.007/mm2となり、1.2μインチ高のグ
ライドテスト(5000枚)における不良率は10%と
高く、また、再生試験(500枚)を行ったがサーマル
・アスペリティーによる再生の誤動作の確率も高かっ
た。なお、実施例15〜16及び比較例5で形成された
凸部を分析、観察したところ、凸部の成分は鉄を含むも
のであって、固形状のパーティクルが付着したものや、
化学強化工程における酸化反応と、加わる熱によりパー
ティクル(鉄)が強く付着したような凸部が観察され
た。
As can be seen from Table 3, the use of the cleaned chemical strengthening salt (and consequently, the reduction of the amount of particles contained in the chemical strengthening treatment liquid) effectively applied to the glass substrate surface. It can be seen that the number of convex portions formed can be reduced, and the result of a reproduction test using a magnetoresistive head in the glide test is also good. In particular, when the amount of particles having a particle size of 0.2 μm or more is 4000 particles / g or less (the amount of particles having a particle size of 2.0 μm or more is 700 particles / g or less), no projections are formed, and thus glide This is preferable because no failure occurs in the test. On the other hand, the particle size of the chemical strengthening salt is not more than 0.1.
When the amount of the particles having a particle diameter of 2 μm or more exceeds 120,000 particles / g, particularly when the ratio of the particles having a particle diameter of 2.0 μm or more exceeds 25%, the ratio of the formation of the projections increases in the chemical strengthening step. At the same time, the height of the projections exceeds 30 nm, and the density of the projections is 0.002 / mm.
Since the ratio exceeds 2 , the defect rate (the ratio of hits and head crashes) in the 1.2 μ inch-high glide test is high, and the reproduction test (500 sheets) was performed. The probability of malfunction of reproduction due to thermal asperity has also increased. In Comparative Example 5 chemically strengthened with a chemically strengthened treatment solution that had not been cleaned, the particle size of the chemically strengthened salt was 0.2 μm.
The amount of particles of m or more is 193,200 particles / g. In the chemical strengthening step, the rate of formation of the projections becomes extremely high, and the height of the projections is 100 nm and the density of the projections is 0.007. / Mm 2 , the defect rate in a 1.2 μ inch high glide test (5000 sheets) was as high as 10%, and a reproduction test (500 sheets) was performed, but the probability of malfunction of reproduction due to thermal asperity was high. Was. The projections formed in Examples 15 to 16 and Comparative Example 5 were analyzed and observed. The components of the projections contained iron, and those having solid particles attached thereto,
Oxidation reaction in the chemical strengthening step and the heat applied thereto caused projections such as particles (iron) strongly adhered.

【0100】また、表3に示すグライドテストの結果に
基づいて、所望のグライド特性が得られるように、化学
強化塩自体に含まれるパーティクルの量を基準設定値と
して予め定め決定することで、所望のグライド特性が得
られる磁気ディスク用ガラス基板、さらにはこのガラス
基板上に少なくとも磁性層を形成することによって磁気
ディスクを製造することができることがわかる。すなわ
ち、例えば、グライド高さが1.2μインチを満足する
化学強化された磁気ディスク用ガラス基板を得るには、
化学強化処理液にする前の化学強化塩自体に含まれるパ
ーティクルの量を、粒径0.2μm以上のパーティクル
の量が4000個/g以下である化学強化塩を使用して
化学強化処理液(溶融塩)を得、この化学強化処理液を
使って化学強化処理することで得られる。以上実施例で
は、グライド高さが1.2μインチとして例に挙げた
が、これに限定されず、上述したように、グライド高さ
と化学強化塩自体に含まれるパーティクルの量との相関
関係を予め求めておき、所望のグライド高さが得られる
ように、化学強化塩自体に含まれるパーティクルの量を
制御すれば良い。
Further, based on the results of the glide test shown in Table 3, the amount of particles contained in the chemical strengthening salt itself is predetermined and determined as a reference set value so that desired glide characteristics can be obtained. It can be seen that a magnetic disk can be manufactured by forming a glass substrate for a magnetic disk which can provide the glide characteristics of above, and further by forming at least a magnetic layer on the glass substrate. That is, for example, to obtain a chemically strengthened magnetic disk glass substrate satisfying a glide height of 1.2 μ inch,
The amount of particles contained in the chemical strengthening salt itself before being made into the chemical strengthening treatment liquid is reduced by using a chemical strengthening salt in which the amount of particles having a particle size of 0.2 μm or more is 4000 particles / g or less. (Molten salt) is obtained and chemically strengthened using this chemical strengthening solution. In the above embodiment, the glide height was 1.2 μ inch as an example. However, the present invention is not limited to this. As described above, the correlation between the glide height and the amount of particles contained in the chemical strengthening salt itself is determined in advance. In advance, the amount of particles contained in the chemically strengthened salt itself may be controlled so as to obtain a desired glide height.

【0101】以上好ましい実施例を上げて本発明を説明
したが、本発明は上記実施例に限定されない。
Although the present invention has been described with reference to the preferred embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments.

【0102】例えば、分析に用いたフィルターのサイ
ズ、孔径は上述のものに限定されない。フィルターサイ
ズは例えば直径10mmφ〜50mmφの範囲、フィル
ターの孔径は例えば0.1〜2μmの範囲で分析方法に
応じてそれぞれ適宜選択できる。また、実施例1におい
てICP発光分析法の代わりに蛍光X線分析法を用いて
も、上記と同様にして元素の定量分析を行うことができ
る。ただし、ICP発光分析法の法が、感度、再現性の
面で優れる。さらに、複数の分析法を組み合わせて用い
ることで、分析の信頼性を向上させることができ、分析
精度の向上から製品品質の向上を図ることができる。
For example, the size and pore size of the filter used for the analysis are not limited to those described above. The filter size can be appropriately selected depending on the analysis method, for example, in the range of 10 mmφ to 50 mmφ in diameter, and the pore size of the filter is in the range of 0.1 to 2 μm, for example. Further, the elemental quantitative analysis can be performed in the same manner as described above by using the fluorescent X-ray analysis method instead of the ICP emission analysis method in Example 1. However, the ICP emission analysis method is excellent in terms of sensitivity and reproducibility. Further, by using a plurality of analysis methods in combination, the reliability of the analysis can be improved, and the quality of the product can be improved from the improvement of the analysis accuracy.

【0103】なお、本発明は化学強化工程を経て製造さ
れる情報記録媒体用ガラス基板であれば適用でき、光デ
ィスク用ガラス基板、光磁気ディスク用ガラス基板等が
各種情報記録媒体用ガラス基板に広く応用できる。この
場合、光ディスク用ガラス基板や光磁気ディスク用ガラ
ス基板では、凸部の密度が多いと記録・再生に悪影響を
及ぼすので、凸部の密度に着目して化学強化塩自体に含
まれるパーティクルの量を制御するとよい。
The present invention can be applied to any glass substrate for an information recording medium manufactured through a chemical strengthening process, and a glass substrate for an optical disk, a glass substrate for a magneto-optical disk, and the like can be widely applied to glass substrates for various information recording media. Can be applied. In this case, in a glass substrate for an optical disk or a glass substrate for a magneto-optical disk, if the density of the convex portions is large, the recording / reproduction is adversely affected. Should be controlled.

【0104】[0104]

【発明の効果】以上説明したように本発明では、化学強
化塩自体に含まれるパーティクルの量を分析し、分析に
合格した化学強化塩だけてを使用しているので、化学強
化処理液中において情報記録媒体用ガラス基板に付着し
て情報記録媒体に悪影響を及ぼすパーティクルの付着を
効果的に抑制できる。特に、化学強化処理液中の微小な
鉄粉等がガラス基板へ付着してサーマル・アスペリティ
ーやヘッドクラッシュの原因となる凸部が形成されるの
を効果的に抑制できる。したがって、欠陥の少ない高品
質の情報記録媒体が得られ、特に低フライングハイト化
及びヘッドクラッシュの防止や、サーマル・アスペリテ
ィーによる再生機能の低下防止を達成しうる磁気ディス
クが得られる。また、1.2μインチ以下の低フライン
グハイト化を実現できる。
As described above, in the present invention, the amount of particles contained in the chemical strengthening salt itself is analyzed, and only the chemically strengthening salt that has passed the analysis is used. Particles that adhere to the information recording medium glass substrate and adversely affect the information recording medium can be effectively suppressed. In particular, it is possible to effectively suppress the formation of a convex portion that causes thermal asperity and head crash due to adhesion of minute iron powder and the like in the chemical strengthening treatment liquid to the glass substrate. Therefore, a high-quality information recording medium with few defects can be obtained, and in particular, a magnetic disk capable of achieving a low flying height, preventing a head crash, and preventing a decrease in the reproduction function due to thermal asperity can be obtained. Further, a low flying height of 1.2 μ inch or less can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例で使用したフィルタホルダの分解斜視図
である。
FIG. 1 is an exploded perspective view of a filter holder used in an embodiment.

【図2】本発明の他の実施例に係る化学強化塩の分析結
果を示すSEM写真である。
FIG. 2 is a SEM photograph showing an analysis result of a chemically strengthened salt according to another example of the present invention.

【図3】本発明の他の実施例に係る化学強化塩の分析結
果を示すSEM写真である。
FIG. 3 is a SEM photograph showing an analysis result of a chemically strengthened salt according to another example of the present invention.

【図4】比較例に係る化学強化塩の分析結果を示すSE
M写真である。
FIG. 4 shows SE showing the analysis results of the chemically strengthened salt according to the comparative example.
It is an M photograph.

【図5】比較例に係る化学強化塩の分析結果を示すSE
M写真である。
FIG. 5 shows SE showing the analysis result of a chemically strengthened salt according to a comparative example.
It is an M photograph.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メンブレンフィルタ 2 スペーサ A フィルタホルダ B フィルタホルダ 1 Membrane filter 2 Spacer A Filter holder B Filter holder

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐々木 一名 東京都新宿区中落合2丁目7番5号 ホー ヤ株式会社内 (72)発明者 向井 由実 東京都新宿区中落合2丁目7番5号 ホー ヤ株式会社内 Fターム(参考) 4G059 AA08 AB03 AB09 AB11 AC16 AC18 HB02 HB13 HB14 HB15 HB23 5D112 AA02 BA03 GA26  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Kazuki Sasaki 2-7-5 Nakaochiai, Shinjuku-ku, Tokyo Inside the Hoya Co., Ltd. (72) Inventor Yumi Mukai 2-7-5 Nakaochiai, Shinjuku-ku, Tokyo No. F-term in Hoya Corporation (reference) 4G059 AA08 AB03 AB09 AB11 AC16 AC18 HB02 HB13 HB14 HB15 HB23 5D112 AA02 BA03 GA26

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 化学強化塩を含有する化学強化処理液に
ガラス基板を接触させることにより、ガラス基板を化学
強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方
法において、 前記化学強化塩として、ICP発光分析法又は蛍光X線
分析法によって検出されるFe、Crの濃度がそれぞれ
500ppb以下である化学強化塩を使用することを特
徴とする情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
1. A method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium, comprising the step of chemically strengthening a glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt, A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising using a chemically strengthened salt having a Fe and Cr concentration of 500 ppb or less, respectively, as detected by ICP emission analysis or X-ray fluorescence analysis.
【請求項2】 前記化学強化塩として、ICP発光分析
法又は蛍光X線分析法によって検出されるFe、Crの
濃度がそれぞれ100ppb以下である化学強化塩を使
用することを特徴とする請求項1記載の情報記録媒体用
ガラス基板の製造方法。
2. The chemical strengthening salt according to claim 1, wherein the concentration of each of Fe and Cr detected by ICP emission analysis or X-ray fluorescence analysis is 100 ppb or less. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to the above.
【請求項3】 前記化学強化塩として、ICP発光分析
法又は蛍光X線分析法によって検出されるFe、Crの
濃度がそれぞれ20ppb以下である化学強化塩を使用
することを特徴とする請求項1記載の情報記録媒体用ガ
ラス基板の製造方法。
3. The chemical strengthening salt according to claim 1, wherein the concentration of each of Fe and Cr detected by ICP emission analysis or X-ray fluorescence analysis is 20 ppb or less. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to the above.
【請求項4】 化学強化塩を溶媒に溶解させた溶液をフ
ィルタで濾過し、フィルターに捕捉されたパーティクル
を酸に溶解させ、予め既知濃度試料の測定から求めた検
量線に基づいて、ICP発光分光分析法又は蛍光X線分
析法によって化学強化塩中に含まれる元素及びその濃度
の定量分析を行うことを特徴とする請求項1乃至3のい
ずれか一項に記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方
法。
4. A solution obtained by dissolving a chemically strengthened salt in a solvent is filtered through a filter, particles captured by the filter are dissolved in acid, and ICP emission is determined based on a calibration curve previously obtained from measurement of a sample of known concentration. The glass substrate for an information recording medium according to any one of claims 1 to 3, wherein a quantitative analysis of an element contained in the chemically strengthened salt and its concentration is performed by a spectroscopic analysis method or a fluorescent X-ray analysis method. Manufacturing method.
【請求項5】 化学強化塩を含有する化学強化処理液に
ガラス基板を接触させることにより、ガラス基板を化学
強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方
法において、 前記化学強化塩として、液体パーティクルカウンターを
用いて測定される、基準液(ブランク)に化学強化塩を
溶解させた試料中のパーティクル量と、基準液中のパー
ティクル量との差から求めた、粒径0.2μm以上のパ
ーティクルの量が、120000個/g以下である化学
強化塩を使用することを特徴とする情報記録媒体用ガラ
ス基板の製造方法。
5. A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising a step of chemically strengthening a glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt, wherein: Particles having a particle size of 0.2 μm or more determined from the difference between the amount of particles in the sample obtained by dissolving the chemically strengthened salt in the reference solution (blank) and the amount of particles in the reference solution, measured using a liquid particle counter. A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising using a chemically strengthened salt having an amount of particles of 120,000 particles / g or less.
【請求項6】 化学強化塩を含有する化学強化処理液に
ガラス基板を接触させることにより、ガラス基板を化学
強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方
法において、 前記化学強化塩として、二次電子検出器又は反射電子検
出器によって二次電子像又は反射電子像を走査型電子顕
微鏡(SEM)で観察したとき、1gの化学強化塩中に
含まれるパーティクルを捕捉最小粒径0.2μm、直径
13mmφのフィルタで捕捉したとき、粒径0.2μm
以上のパーティクルの量が、900個/mm2以下であ
る化学強化塩を使用することを特徴とする情報記録媒体
用ガラス基板の製造方法。
6. A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising a step of chemically strengthening a glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt, When a secondary electron image or a backscattered electron image is observed with a secondary electron detector or a backscattered electron detector using a scanning electron microscope (SEM), particles contained in 1 g of the chemically strengthened salt are captured. When captured by a filter having a diameter of 13 mmφ, the particle size is 0.2 μm
A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising using a chemically strengthened salt having an amount of the above particles of 900 particles / mm 2 or less.
【請求項7】 前記粒径0.2μm以上のパーティクル
の量が、500個/mm2以下である化学強化塩を使用
することを特徴とする請求項6記載の情報記録媒体用ガ
ラス基板の製造方法。
7. A glass substrate for an information recording medium according to claim 6, wherein a chemical strengthening salt having an amount of particles having a particle diameter of 0.2 μm or more of 500 particles / mm 2 or less is used. Method.
【請求項8】 前記粒径0.2μm以上のパーティクル
の量が、30個/mm2以下である化学強化塩を使用す
ることを特徴とする請求項6記載の情報記録媒体用ガラ
ス基板の製造方法。
8. The glass substrate for an information recording medium according to claim 6, wherein a chemically strengthened salt having an amount of particles having a particle size of 0.2 μm or more of 30 particles / mm 2 or less is used. Method.
【請求項9】 化学強化塩を含有する化学強化処理液に
ガラス基板を接触させることにより、ガラス基板を化学
強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造方
法において、 前記化学強化塩として、化学強化塩を比色法によって分
析したときに、黒色、灰色又は赤茶色とならない化学強
化塩を使用することを特徴とする情報記録媒体用ガラス
基板の製造方法。
9. A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising a step of chemically strengthening a glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt, A method for producing a glass substrate for an information recording medium, comprising using a chemically strengthened salt that does not become black, gray or reddish brown when the chemically strengthened salt is analyzed by a colorimetric method.
【請求項10】 化学強化塩を含有する化学強化処理液
にガラス基板を接触させることにより、ガラス基板を化
学強化する工程を含む情報記録媒体用ガラス基板の製造
方法において、 前記化学強化塩を溶媒に溶解させた溶液をフィルタで濾
過し、フィルタにパーティクルを捕捉させたときに、こ
のフィルタの色の濃度が一定基準以下となる化学強化塩
を使用することを特徴とする情報記録媒体用ガラス基板
の製造方法。
10. A method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium, comprising the step of chemically strengthening a glass substrate by bringing the glass substrate into contact with a chemical strengthening treatment solution containing the chemical strengthening salt, A glass substrate for an information recording medium, characterized by using a chemically strengthened salt having a color density of the filter equal to or less than a certain standard when a solution dissolved in the filter is filtered by a filter and particles are captured by the filter. Manufacturing method.
【請求項11】 請求項1乃至10のいずれか一項に記
載の分析手法を用いることを特徴とする化学強化塩の検
査方法。
11. A method for testing a chemically strengthened salt, comprising using the analysis method according to any one of claims 1 to 10.
【請求項12】 前記情報記録媒体用ガラス基板が、磁
気ディスク用ガラス基板であることを特徴とする請求項
1乃至10のいずれか一項に記載の情報記録媒体用ガラ
ス基板の製造方法。
12. The method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the glass substrate for an information recording medium is a glass substrate for a magnetic disk.
【請求項13】 磁気ディスク用ガラス基板が、磁気抵
抗型ヘッド(MRヘッド)又は巨大(大型)磁気抵抗型
ヘッド(GMRヘッド)と組み合わせて使用される磁気
ディスク用ガラス基板であることを特徴とする請求項1
2記載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
13. A magnetic disk glass substrate used in combination with a magnetoresistive head (MR head) or a giant (large) magnetoresistive head (GMR head). Claim 1
2. The method for producing a glass substrate for an information recording medium according to item 2.
【請求項14】 請求項1乃至10のいずれか一項に記
載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法によって得ら
れたガラス基板上に少なくとも記録層を形成することを
特徴とする情報記録媒体の製造方法。
14. An information recording medium according to claim 1, wherein at least a recording layer is formed on a glass substrate obtained by the method for producing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1. Production method.
【請求項15】 請求項1乃至10のいずれか一項に記
載の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法によって得ら
れたガラス基板上に少なくとも磁性層を形成することを
特徴とする磁気ディスクの製造方法。
15. A method for manufacturing a magnetic disk, comprising: forming at least a magnetic layer on a glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium according to claim 1. Description: Method.
【請求項16】 イオン交換処理液にガラス部材を接触
させることにより、ガラス部材中のイオンとイオン交換
処理液中のイオンとをイオン交換処理する工程を含む光
学ガラス製品の製造方法において、 前記イオン交換処理液に使われる塩として、請求項1〜
3、5〜10のいずれか一項に記載の条件を満たす塩を
用いることを特徴とする光学ガラス製品の製造方法。
16. A method for producing an optical glass product, comprising: a step of subjecting a glass member to an ion exchange treatment liquid to perform an ion exchange treatment on ions in the glass member and ions in the ion exchange treatment liquid. Claims 1 to 3 as salts used in the exchange treatment solution
A method for producing an optical glass product, comprising using a salt satisfying the conditions described in any one of 3, 5, and 10.
【請求項17】 前記光学ガラス製品が電子デバイス用
ガラス基板又は光学素子用ガラス基板であり、前記イオ
ン交換処理液が化学強化塩を含有する化学強化処理液で
あることを特徴とする請求項16記載の光学ガラス製品
の製造方法。
17. The method according to claim 16, wherein the optical glass product is a glass substrate for an electronic device or a glass substrate for an optical element, and the ion exchange treatment liquid is a chemical strengthening treatment liquid containing a chemical strengthening salt. A method for producing the optical glass product according to the above.
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