JP2001004680A - 反射鏡アンテナ位相分布測定方法および装置 - Google Patents

反射鏡アンテナ位相分布測定方法および装置

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JP2001004680A JP11179725A JP17972599A JP2001004680A JP 2001004680 A JP2001004680 A JP 2001004680A JP 11179725 A JP11179725 A JP 11179725A JP 17972599 A JP17972599 A JP 17972599A JP 2001004680 A JP2001004680 A JP 2001004680A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易で容易な反射鏡アンテナの位相分布の測
定方法及び装置の提供。 【解決手段】 被測定アンテナに対して副反射鏡移動さ
せてオンフォーカス振幅分布とデフォーカス振幅分布と
を測定し、これら両振幅分布に基づいてフェーズリトリ
ーバル法による演算処理をして被測定アンテナの開口位
相分布を得る反射鏡アンテナ位相分布測定方法。副反射
鏡を被測定アンテナに対してオンフォーカス位置あるい
はデフォーカス位置にし、これら両位置で被測定アンテ
ナを走査測定してオンフォーカス振幅分布およびデフォ
ーカス振幅分布を得、演算処理装置によりフェーズリト
リーバル法による演算処理をして被測定アンテナの開口
位相分布を得る反射鏡アンテナ位相分布測定装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は反射鏡アンテナの位
相分布測定方法および装置に関し、特に高周波数帯で使
用される反射鏡アンテナの位相分布を測定する方法およ
び装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】サブミリ波などの高周波数帯域で用いら
れるアンテナは、放射特性等のアンテナ特性を測定する
には、遠方界測定においては、その使用される波長が短
いために、十分なダイナミックレンジが確保できないと
いう問題がある。それを解決するために、電波暗室内に
おいて、アンテナの開口の近傍の電界の振幅・位相分布
を測定することにより、そのアンテナの開口分布を測定
し、その開口分布を用いて演算により放射特性を得る近
傍界測定法がある。しかしながら、この近傍界測定法は
位相を測定することが必要であり、サブミリ波の場合、
測定器の誤差、ケーブルの温度変化、設置アライメント
誤差等により、その位相分布を正確に測定するのは困難
であるため、アンテナの放射特性が正確には求められな
かった。
【0003】この問題を解決するために、異なる2面の
振幅分布を測定し、それらを用いて数値計算により位相
分布を推定するフェーズリトリーバル法がある。振幅分
布のみの測定は、位相分布に比べ高精度な測定を必要と
しない。従来のこの種のアンテナ位相分布測定方法とし
ては、例えば、O.M.Bucci et al "Far-field patternde
termination from the near-field amplitude on two s
urfaces", IEEE Transactions on Antennas and Propag
ation. Vol.38, No.11, Nov. 1990に開示されたものが
知られている。
【0004】図7は、上記文献に示された従来のアンテ
ナ位相分布測定装置を概略的に示した図である。図にお
いて、1は位相分布を測定すべき被測定アンテナ、5は
位相分布測定のためにアンテナ近傍の電界の振幅・位相
を測定するためのプローブ、7はプローブ5をxy方向
に走査させるxyスキャナ、8はプローブ5からの測定
結果を表す信号を送受信する送受信器、9は送受信器8
からの出力信号を演算処理して位相分布を得るための演
算処理器、15はアンテナ1を支持してx軸方向回りに
回転させる回転台を示す。また、図8は、図7に示すア
ンテナ位相分布測定装置で用いられる従来のフェーズリ
トリーバルによる位相推定アルゴリズムのフローチャー
トを示す。
【0005】図7に示すように、被測定アンテナ1の開
口上に電波の放射される方向をz軸とするO-xyz座
標系を定義し、異なるz=R1、R2の面上の電波の振
幅分布のみを測定する。これらの振幅分布を用い、図8
に示すアルゴリズムによって位相を推定する。S0で
は、初期値としてz=R1において測定された振幅分布
と適当な位相分布を用いて、z=R2にフィールド変換
する。S1では、z=R2にフィールド変換された振幅
・位相分布から、振幅分布のみをz=R2で測定された
振幅分布におきかえ、z=R1にフィールド変換を行
う。S2では、z=R1にフィールド変換された振幅・
位相分布から、振幅分布のみをz=R1で測定された振
幅分布におきかえ、再びz=R2にフィールド変換を行
う。S3では、z=R2においてフィールド変換された
振幅分布と実際に測定された振幅分布の差が十分小さい
場合には終了、それ以外の場合はS1に戻る。
【0006】上記の繰り返し演算を行い、終了時のそれ
ぞれz=R1、z=R2における位相分布が推定された
位相分布となる。なお、ある面での電界の振幅・位相分
布が存在する場合には、それを任意の位置にフィールド
変換できることは言うまでもない。よって、推定された
位相分布および測定値の振幅分布を用いて、被測定アン
テナの開口分布および放射パターン等の諸特性を計算す
ることができる。
【0007】なお、被測定アンテナの振幅分布の近傍界
測定には、異なる2面の振幅分布を測定できる場合に
は、例えば、プローブをxy平面走査可能なスキャナを
用いた平面走査近傍界測定装置、もしくは上下に走査可
能なプローブと1軸回転可能な回転台を用いた円筒走査
近傍界測定装置、もしくは2軸回転可能な回転台を用い
た球面近傍界測定装置を用いて測定することができる。
さらに、上記測定装置を用いたいかなる測定値を用いて
もフィールド変換は可能である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】以上のような従来の反
射鏡アンテナ位相分布測定方法および装置は、例えば平
面走査近傍界測定装置の場合、被測定アンテナをz軸方
向に移動して、異なる2面の測定を行わねばならず、ア
ンテナ移動の際に設置アライメントの誤差を考慮する必
要があるという問題があった。また、z軸方向に移動可
能なアンテナ測定装置を用いるために、大掛かりな装置
が必要であり、コストがかかるという問題があった。
【0009】また、円筒走査近傍界測定装置、球面走査
近傍界測定装置の場合には、プローブをそれぞれ走査の
中心軸、中心点から動径方向に移動する必要があるた
め、上述の平面走査近傍界測定装置よりも更に大掛かり
な装置が必要であるという問題があった。
【0010】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、簡易な構成によりサブミリ波反
射鏡アンテナの位相分布の測定を行うことのできる反射
鏡アンテナの位相分布の測定方法および装置を提供する
ことを目的とする。
【0011】
【発明を解決するための手段】この発明の反射鏡アンテ
ナ位相分布測定方法によれば、副反射鏡および被測定ア
ンテナを備えた反射鏡アンテナの位相分布を測定するた
めに、被測定アンテナに対して副反射鏡がオンフォーカ
ス位置にあるときのオンフォーカス振幅分布を測定する
工程と、上記副反射鏡を上記被測定アンテナに対してデ
フォーカス位置に移動させる工程と、上記被測定アンテ
ナに対して上記副反射鏡がデフォーカス位置にあるとき
のデフォーカス振幅分布を測定する工程と、上記両振幅
分布に基づいてフェーズリトリーバル法による演算処理
をして被測定アンテナの開口位相分布を得る工程とを備
えている。
【0012】上記演算処理は、以下の手順により行なう
ことができる。 STEP0:オンフォーカスで測定された振幅分布(A
1Z)と初期位相分布(P0)とを用意する、 STEP1:測定面から被測定アンテナ開口上へフィー
ルド変換を行い、開口面に変換された振幅分布(A1
A)と開口面に変換された位相分布(P1A)とを得
る、 STEP2:測定アンテナ開口目に変換された位相分布
(P1A)に、デフォーカスによる開口位相分布の変化
量(ΔP)を加える、 STEP3:被測定アンテナ開口面の振幅分布(A1
A)ならびに相対変化を加えた開口位相分布(P1A+
ΔP)を用いて、測定面にフィールド変換を行い、測定
面に変換された振幅分布(A2Z’)と測定面に位相分
布(P2Z)とを得る、 STEP4:測定面に変換された振幅・位相分布の内、
振幅分布(A2Z’)をデフォーカス時に測定された振
幅分布(A2Z)により置き換える、 STEP5:振幅測定値ならびにSTEP4で得られた
位相分布を用いて、再び被測定アンテナ開口面にフィー
ルド変換を行い、開口面に変換された振幅分布(A2
A)と開口面に変換された位相分布(P2A)とを得
る、 STEP6:被測定アンテナ開口面に変換された位相分
布(P2A)から、デフォーカスによる開口位相分布の
相対変化量(ΔP)を差し引いて変化量を減算した位相
分布(P2AーΔP)を得る、 STEP7:被測定アンテナ開口面の振幅分布(A2
A)および相対変化を減じた開口位相分布(P2AーΔ
P)を用いて測定面にフィールド変換を行い,測定面に
変換された振幅分布(A1Z’)と位相分布(P1Z)
とを得る、 STEP8:測定面に変換された振幅・位相分布の内、
振幅分布(A1Z’)をオンフォーカス時に測定された
振幅分布(A1Z)により置き換える、 STEP9:測定面に変換された振幅分布(A1Z’)
と実際に測定された振幅分布(A1Z)との差を比較
し、差が十分に小さい場合にはこの位相分布(P1Z)
を解として手順を終了し,収束していない場合はSTE
P1に戻る。
【0013】また、反射鏡アンテナ位相分布測定方法
は、上記被測定アンテナの開口位相分布を得る工程の後
に、上記被測定アンテナを鏡軸回りに回動させて元の回
動位置とは別の新たな回動位置にする工程と、上記別の
回動位置の上記被測定アンテナに対して請求項1記載の
反射鏡アンテナ位相分布測定方法を再度実行する工程
と、上記元の回動位置に於ける上記被測定アンテナの位
相分布と上記新たな回動位置に於ける上記被測定アンテ
ナの位相分布との平均をとり、上記副反射鏡の鏡面誤差
を補正する工程とを備えることもできる。
【0014】本発明の反射鏡アンテナ位相分布測定装置
は、副反射鏡および被測定アンテナを備えた反射鏡アン
テナの位相分布を測定する反射鏡アンテナ位相分布測定
装置であって、上記副反射鏡を上記被測定アンテナに対
してオンフォーカス位置あるいはデフォーカス位置に保
持する移動支持装置と、上記被測定アンテナの振幅を測
定するためのプローブと、上記プローブを上記被測定ア
ンテナに対して相対的に移動させて上記被測定アンテナ
の鏡軸に対して直角で同軸の測定面を走査させる走査装
置と、上記プローブからの振幅信号から上記オンフォー
カス振幅分布およびデフォーカス振幅分布を得、これら
両振幅分布に基づいてフェーズリトリーバル法による演
算処理をして被測定アンテナの開口位相分布を得る演算
処理装置とを備えている。
【0015】上記走査装置は、上記プローブを上記被測
定アンテナの鏡軸に対して直角な平面上で走査させるス
キャナを備えたものでも良い。
【0016】また、上記走査装置では、上記プローブを
上記平面内で上記鏡軸を通る直線に沿って移動させるス
キャナと、上記被測定アンテナを上記直線と平行な軸芯
回りに回転させる回転装置とを備えたものでも良い。
【0017】また、上記走査装置は、上記プローブを上
記鏡軸上に固定支持する支持装置と、上記被測定アンテ
ナを上記直線と平行な軸芯回りに回転させ、上記直線に
直角な軸芯回りに回転させる回転装置とを備えたもので
も良い。
【0018】また、上記被測定アンテナを鏡軸回りに回
動させて少なくとも2つの回動位置にし得る回動装置を
備え、上記演算処理装置が上記少なくとも2つの回動位
置に於ける上記被測定アンテナの位相分布の平均をとる
平均演算装置を備えたものでも良い。
【0019】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1はこの発明の
実施の形態1の反射鏡アンテナ位相分布測定方法および
装置を概略的に示す図で、図1において図7と同じ番号
を付したものは図7のものと対応するものあるいは相当
のもので、図7と同様の動作をする。図1において、2
は被測定アンテナ1の一次放射器、4は副反射鏡、4a
は副反射鏡4を被測定アンテナ1に対して所定位置に支
持する支柱である。副反射鏡4は被測定アンテナ1に対
してz軸方向の位置を変えることができるように公知の
適当な位置可変機構を介して支柱4aに取り付けられて
いる。図示の例では位置可変機構はモーターで駆動され
るネジジャッキ等の副反射鏡駆動装置3であるが、単純
なリンク機構を用いても、ねじとねじ穴との組み合わせ
の選択によって位置を変えるものでも良い。6はプロー
ブ5を駆動するためのスキャナ7の駆動装置を示す。ま
た、図2にはこの発明の実施の形態1の位相推定アルゴ
リズムのフローチャートを示す。また、図3には副反射
鏡4の移動による位相分布の変化の説明図を示す。図3
において、図1を同じ番号を付したものは図1相当のも
ので、図1と同様の動作をする。
【0020】次に動作について説明する。図1に示す反
射鏡アンテナ測定装置により、被測定アンテナ1の近傍
界振幅分布を測定する。電波は被測定アンテナ1の一次
放射器2より放射され、副反射鏡4、被測定アンテナ1
を介して放射するが、副反射鏡4を副反射鏡駆動装置3
を用いて鏡軸方向(z軸方向)に駆動し、副反射鏡4が
図1中Aの状態とBの状態の2つの状態で、被測定アン
テナ1の開口からZ1はなれた位置において、被測定ア
ンテナの鏡軸と同軸で直角な測定面を走査装置であるス
キャナ7によりプローブ5で走査して近傍界振幅分布を
測定する。なお、副反射鏡4が図1中Aのオンフォーカ
ス状態で測定された分布をオンフォーカス振幅分布即ち
オンフォーカス時の測定分布A1Zとし、副反射鏡4が
図1中Bのデフォーカス状態で測定された分布をデフォ
ーカス振幅分布即ちデフォーカス時の測定分布A2Zと
する。オンフォーカス時とデフォーカス時の被測定アン
テナ1の開口上での位相分布の相対的な変化は、幾何光
学を用いることにより計算できるものとし、その差をΔ
Pとする。また、オンフォーカス時とデフォーカス時の
被測定アンテナ1の開口上での振幅分布は変化しないも
のとする。
【0021】上記の測定された2つの状態の振幅分布を
用いて、演算処理器9により図2に示し以下に述べるア
ルゴリズムで被測定アンテナ1の開口上での位相分布を
求める。 STEP0:オンフォーカスで測定された振幅分布A1
Zと適当な初期位相分布P0を用意する。 STEP1:測定面Z=Z1から被測定アンテナ開口z
=0にフィールド変換を行う。 STEP2:被測定アンテナ開口z=0上に変換された
位相分布に、デフォーカスによる開口位相分布の相対変
化ΔPを加える。 STEP3:被測定アンテナ開口z=0上の振幅分布な
らびに相対変化を加えた開口位相分布を用いて、測定面
z=Z1にフィールド変換を行う。 STEP4:z=Z1に変換された振幅・位相分布の
内、振幅分布をデフォーカス時に測定された振幅分布A
2Zに置きかえる。 STEP5:振幅測定値A2ZならびにSTEP4で得
られた位相分布を用いて、再び被測定アンテナ開口z=
0にフィールド変換を行う。 STEP6:被測定アンテナ開口z=0上に変換された
位相分布から、デフォーカスによる開口位相分布の相対
変化ΔPを差し引く。 STEP7:被測定アンテナ開口z=0上の振幅分布な
らびに相対変化を減じた開口位相分布を用いて、測定面
z=Z1にフィールド変換を行う。 STEP8:z=Z1に変換された振幅・位相分布の
内、振幅分布をオンフォーカス時に測定された振幅分布
A1Zに置きかえる。 STEP9:z=Z1に変換された振幅分布と実際に測
定された振幅分布A1Zとの差を比較し、十分差が小さ
い場合にはz=Z1での位相分布を解として終了。収束
していない場合はSTEP1に戻る。
【0022】図3に示すように副反射鏡4のz軸方向の
位置を移動量δだけ変えることにより、デフォーカス時
にはオンフォーカス時に対して、副反射鏡4の移動量δ
に対応した位相変動が見られる。その位相差あるいは位
相分布変化量ΔPは、実際のオンフォーカス時の位相分
布ならびにデフォーカス時の位相分布が不明であって
も、副反射鏡4の駆動量のみが既知であれば、幾何光学
を用いて計算することができる。STEP2において
は、この変化量ΔPを開口位相分布に加えることにな
る。逆にSTEP6においては、オンフォーカス時の位
相量とするためにこの位相分布の変化量ΔPを差し引
く。
【0023】なお、ある面での振幅・位相分布が得られ
た場合には、それらの分布を用いて任意の位置、例えば
開口分布にフィールド変換可能なことは言うまでもな
い。また、収束時の各ステップで得られている位相分布
は各状態での正しく推定された位相分布であることも言
うまでもない。
【0024】以上要約すると、本発明によれば、副反射
鏡4および被測定アンテナ1を備えた反射鏡アンテナの
位相分布を測定する反射鏡アンテナ位相分布測定装置
は、副反射鏡4を被測定アンテナ1に対してオンフォー
カス位置あるいはデフォーカス位置に保持する移動支持
装置である副反射鏡駆動装置3と、被測定アンテナ1の
振幅を測定するためのプローブ5と、プローブ5を被測
定アンテナ1に対して相対的に移動させて被測定アンテ
ナ1の鏡軸と同軸の測定面を走査させる走査装置である
スキャナー7と、プローブ5からの振幅信号からオンフ
ォーカス振幅分布およびデフォーカス振幅分布を得、こ
れら両振幅分布に基づいてフェーズリトリーバル法によ
る演算処理をして被測定アンテナ1の開口位相分布を得
る演算処理装置9とを備えたものである。
【0025】以上説明した実施の形態1では、従来のよ
うに被測定アンテナ1を動かすことなく、副反射鏡4の
みをz軸方向に駆動することにより、その位相分布を測
定することができ、従来に比べ大掛かりな装置を必要と
しないという効果を有する。また、アライメント精度も
従来に比べ、高精度に設定可能であるという効果を有す
る。さらに、平面スキャンにおいては、フィールド変換
は平面波展開となるためFFTを用いることができ、高
速に計算ができるという効果も有する。
【0026】実施の形態2.図4はこの発明の実施の形
態2の反射鏡アンテナ位相分布測定方法および装置で、
図4において図1と同じ番号を付したものは図1相当の
もので、図1と同様の動作をする。図4において、10
はプローブ5をx軸方向にだけ移動させ得るx軸方向駆
動スキャナ、11は被測定アンテナ1をx軸回りに回転
させるための1軸回転台、12は治具を示す。
【0027】図4に示すように、被測定アンテナ1を設
置した1軸回転台11をx軸回りに回転させ、各角度に
対して1軸スキャナ10を用いてプローブ5を走査する
ことにより、動径方向にρ=z1の円筒面上での振幅分布
を測定することができる。換言すれば、走査装置は、プ
ローブ5を単にスキャナ7により被測定アンテナの鏡軸
に対して直角な平面内で鏡軸を通る直線に沿って移動さ
せ、また被測定アンテナ1を回転装置である回転台11
によりこの直線と平行な軸芯であるx軸回りに回転させ
るものである。更に、副反射鏡駆動装置3を用いて副反
射鏡4を鏡軸方向(z軸方向)に駆動することによりオ
ンフォーカス時とデフォーカス時の振幅分布を得ること
ができる。これらの測定された振幅分布を図2に示すフ
ローチャートに於ける測定された振幅分布A1Zとして
用いることにより、実施の形態1と同様に位相分布を推
定することができる。なお、図2のSTEP1に於ける
測定面Z=Z1から被測定アンテナ開口z=0へのフィ
ールド変換には円筒波展開を用いる。
【0028】上述の実施の形態2では、従来のように被
測定アンテナ1をz軸方向に移動させることなくx軸回
りに回転させると共に、副反射鏡4のみをz軸方向に駆
動することにより、その位相分布を推定することがで
き、従来に比べ大掛かりな装置を必要としないという効
果を有する。また、アライメント精度も従来に比べ、高
精度に設定可能であるという効果を有する。また本実施
の形態においては、円筒状に振幅分布を測定するため、
被測定アンテナ後方の放射特性をも推定することができ
る。
【0029】実施の形態3.図5はこの発明の実施の形
態3の反射鏡アンテナ位相分布測定方法および装置で、
図5において図1と同じ番号を付したものは図1相当の
もので、図1と同様の動作をする。図5において、12
は治具、13はプローブ5を所定位置に支持するための
固定治具、14は被測定アンテナ1をx軸回りにだけで
なくy軸回りにも回転させることのできる2軸回転台で
ある。
【0030】図5に示すように、被測定アンテナ1を設
置した2軸回転台14をそれぞれx軸およびy軸回りに
回転させることにより、2軸回転台の回転中心を原点と
した球面上での振幅分布を測定することができる。これ
を上記記載の測定面とし、副反射鏡駆動装置3を用いて
副反射鏡4をz軸方向である鏡軸方向に駆動することに
よりオンフォーカス時とデフォーカス時の振幅分布を得
ることができる。これらの測定された振幅分布を図2に
於ける測定された振幅分布として用いて図2に示す手順
により、実施の形態1の場合と同様に位相分布を求める
ことができる。なお、図2において、フィールド変換に
は球面波展開を用いる。この実施形態の走査装置は、プ
ローブ5を被測定アンテナ1の鏡軸上に固定支持する支
持装置13と、被測定アンテナ1を先に述べた直線(こ
の場合x軸方向)と平行な軸芯(x軸)回りに回転さ
せ、直線に直角な軸芯(この場合y軸)回りに回転させ
る回転装置とを備えたものである。
【0031】上述の実施の形態3では、従来のように被
測定アンテナ1を移動せずに回転させ、副反射鏡4のみ
を駆動することにより、その位相分布を推定することが
でき、従来に比べ大掛かりな装置を必要としないという
効果を有する。また、アライメント精度も従来に比べ、
高精度に設定可能であるという効果を有する。また本実
施の形態においては、球面状に振幅分布を測定するた
め、被測定アンテナ後方の放射特性をも推定することが
できる。
【0032】実施の形態4.図6はこの発明の実施の形
態4の反射鏡アンテナ位相分布測定方法および装置を示
すもので、図6において図1と同じ番号を付したものは
図1相当のもので、図1のものと同様の動作をする。図
6において、3aは副反射鏡4をz軸方向に移動させる
こともz軸に平行な鏡軸回りに回転させることも可能な
副反射鏡駆動装置である。
【0033】先に説明した図1〜5に示す実施の形態1
〜3に於いては、副反射鏡4は製造誤差のない理想的な
鏡面であることを前提としている。しかしながら、実際
には副反射鏡4には位相分布推定誤差となる鏡面誤差が
存在する。そこで、ある状態で実施の形態1において述
べた手法にて位相分布を求め後、副反射鏡駆動装置3a
により副反射鏡4を鏡軸回りに回転させて、副反射鏡4
の鏡軸回りの回転角度位置を異ならしめ、この位置で再
び同じ手順で位相分布を求める。このようにして得た2
つの位相分布の平均をとることにより副反射鏡4の鏡面
誤差を補正した位相分布を得ることができる。
【0034】この実施の形態においては、副反射鏡4の
鏡面誤差を補正した位相分布を推定できるという効果を
有する。
【0035】上述の実施の形態4では、図1〜3に示す
実施形態1の平面走査近傍界測定装置を用いるとして説
明したが、図4の実施形態2の円筒走査近傍界測定装置
あるいは図5の実施形態3の球面走査近傍界測定装置に
用いても同様の結果を得ることができる。
【0036】また、先に述べた実施の形態では、被測定
アンテナ1が2枚反射鏡となる構成としているが、複数
枚反射鏡の任意の鏡面を駆動しても同様の結果を得るこ
とができる。
【0037】
【発明の効果】以上説明した如く、この発明の反射鏡ア
ンテナ位相分布測定方法は、副反射鏡および被測定アン
テナを備えた反射鏡アンテナの位相分布を測定するため
に、被測定アンテナに対して副反射鏡がオンフォーカス
位置にあるときのオンフォーカス振幅分布を測定する工
程と、上記副反射鏡を上記被測定アンテナに対してデフ
ォーカス位置に移動させる工程と、上記被測定アンテナ
に対して上記副反射鏡がデフォーカス位置にあるときの
デフォーカス振幅分布を測定する工程と、上記両振幅分
布に基づいてフェーズリトリーバル法による演算処理を
して被測定アンテナの開口位相分布を得る工程とを備え
ている。従って、従来のように被測定アンテナを動かす
ことなく、副反射鏡のみを鏡軸方向に駆動することによ
り、その位相分布を測定することができ、従来に比べ大
掛かりな装置を必要としないという効果を有する。ま
た、アライメント精度も従来に比べ、高精度に設定可能
であるという効果を有する。さらに、平面スキャンにお
いては、フィールド変換は平面波展開となるためFFT
を用いることができ、高速に計算ができるという効果も
有する。
【0038】また、上述の反射鏡アンテナ位相分布測定
方法に於いて、上記演算処理は、以下の手順により行わ
れる。 STEP0:オンフォーカスで測定された振幅分布(A
1Z)と初期位相分布(P0)とを用意する、 STEP1:測定面から被測定アンテナ開口上へフィー
ルド変換を行い、開口面に変換された振幅分布(A1
A)と開口面に変換された位相分布(P1A)とを得
る、 STEP2:測定アンテナ開口面に変換された位相分布
(P1A)に、デフォーカスによる開口位相分布の変化
量(ΔP)を加える、 STEP3:被測定アンテナ開口面の振幅分布(A1
A)ならびに相対変化を加えた開口位相分布(P1A+
ΔP)を用いて、測定面にフィールド変換を行い、測定
面に変換された振幅分布(A2Z’)と位相分布(P2
Z)とを得る、 STEP4:測定面に変換された振幅・位相分布の内、
振幅分布(A2Z’)をデフォーカス時に測定された振
幅分布(A2Z)により置き換える、 STEP5:振幅測定値ならびにSTEP3で得られた
位相分布を用いて、再び被測定アンテナ開口面にフィー
ルド変換を行い、開口面に変換された振幅分布(A2
A)と開口面に変換された位相分布(P2A)とを得
る、 STEP6:被測定アンテナ開口面に変換された位相分
布(P2A)から、デフォーカスによる開口位相分布の
相対変化量(ΔP)を差し引いて変化量を減算した位相
分布(P2AーΔP)を得る、 STEP7:被測定アンテナ開口面の振幅分布(A2
A)および相対変化を減じた開口位相分布(P2AーΔ
P)を用いて測定面にフィールド変換を行い,測定面に
変換された振幅分布(A1Z’)と位相分布(P1Z)
とを得る、 STEP8:測定面に変換された振幅・位相分布の内、
振幅分布(A1Z’)をオンフォーカス時に測定された
振幅分布(A1Z)により置き換える、 STEP9:測定面に変換された振幅分布(A1Z’)
と実際に測定された振幅分布(A1Z)との差を比較
し、差が十分に小さい場合にはこの位相分布(P1Z)
を解として手順を終了し,収束していない場合はSTE
P1に戻る。従って、上述と同じ効果が得られる。
【0039】また、上述の被測定アンテナの開口位相分
布を得る工程の後に、被測定アンテナを鏡軸回りに回動
させて元の回動位置とは別の新たな回動位置にする工程
と、上記別の回動位置の上記被測定アンテナに対して請
求項1記載の反射鏡アンテナ位相分布測定方法を再度実
行する工程と、上記元の回動位置に於ける上記被測定ア
ンテナの位相分布と上記新たな回動位置に於ける上記被
測定アンテナの位相分布との平均をとり、上記副反射鏡
の鏡面誤差を補正する工程とを備えたので、副反射鏡の
鏡面誤差を補正した位相分布を得ることができる。
【0040】更に、副反射鏡および被測定アンテナを備
えた反射鏡アンテナの位相分布を測定する反射鏡アンテ
ナ位相分布測定装置は、上記副反射鏡を上記被測定アン
テナに対してオンフォーカス位置あるいはデフォーカス
位置に保持する移動支持装置と、上記被測定アンテナの
振幅を測定するためのプローブと、上記プローブを上記
被測定アンテナに対して相対的に移動させて上記被測定
アンテナの鏡軸と同軸の測定面を走査させる走査装置
と、上記プローブからの振幅信号から上記オンフォーカ
ス振幅分布およびデフォーカス振幅分布を得、これら両
振幅分布に基づいてフェーズリトリーバル法による演算
処理をして被測定アンテナの開口位相分布を得る演算処
理装置とを備えている。また、上記走査装置が、上記プ
ローブを上記被測定アンテナの鏡軸に対して直角な平面
上で走査させるスキャナを備え手いる。従って、従来の
ように被測定アンテナを動かすことなく、副反射鏡のみ
をz軸方向に駆動することにより、その位相分布を測定
することができ、従来に比べ大掛かりな装置を必要とし
ないという効果を有する。また、アライメント精度も従
来に比べ、高精度に設定可能であるという効果を有す
る。さらに、平面スキャンにおいては、フィールド変換
は平面波展開となるためFFTを用いることができ、高
速に計算ができるという効果も有する。
【0041】また、走査装置が、上記プローブを上記平
面内で上記鏡軸を通る直線に沿って移動させるスキャナ
と、上記被測定アンテナを上記直線と平行な軸芯回りに
回転させる回転装置とを備えている。従って、円筒状に
振幅分布を測定するため、被測定アンテナ後方の放射特
性をも推定することができる。
【0042】また、走査装置が、上記プローブを上記鏡
軸上に固定支持する支持装置と、上記被測定アンテナを
上記直線と平行な軸芯回りに回転させ、上記直線に直角
な軸芯回りに回転させる回転装置とを備えている。従っ
て、従来のように被測定アンテナ1を移動せずに回転さ
せ、副反射鏡4のみを駆動することにより、その位相分
布を推定することができ、従来に比べ大掛かりな装置を
必要としないという効果を有する。また、球面状に振幅
分布を測定するため、被測定アンテナ後方の放射特性を
も推定することができる。
【0043】また、被測定アンテナを鏡軸回りに回動さ
せて少なくとも2つの回動位置にし得る回動装置を備
え、上記演算処理装置が上記少なくとも2つの回動位置
に於ける上記被測定アンテナの位相分布の平均をとる平
均演算装置を備えている。従って、副反射鏡の鏡面誤差
を補正した位相分布を推定できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の反射鏡アンテナ位相分布測定方法
および装置を示す概略説明図。
【図2】 この発明の反射鏡アンテナ位相分布測定方法
および装置に用いる演算処理手順を示すフローチャー
ト。
【図3】 この発明の反射鏡アンテナ位相分布測定装置
に於ける副反射鏡の移動による位相分布の変化を説明す
るための説明図。
【図4】 この発明の別の実施形態の反射鏡アンテナ位
相分布測定方法および装置を示す概略説明図。
【図5】 この発明のなお別の実施形態の反射鏡アンテ
ナ位相分布測定方法および装置を示す概略説明図。
【図6】 この発明の更に別の実施形態の反射鏡アンテ
ナ位相分布測定方法および装置を示す概略説明図。
【図7】 従来の反射鏡アンテナ位相分布測定方法およ
び装置を説明するための概略説明図。
【図8】 従来の反射鏡アンテナ位相分布測定方法およ
び装置に用いる位相分布推定手順を示すフローチャー
ト。
【符号の説明】
1 被測定アンテナ、3 移動支持装置、4 副反射
鏡、5 プローブ、6、7、10、11、12、13、
14、 走査装置、7 スキャナ、9 演算処理装置、
A オンフォーカス位置、B デフォーカス位置。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 副反射鏡および被測定アンテナを備えた
    反射鏡アンテナの位相分布を測定するために、 被測定アンテナに対して副反射鏡がオンフォーカス位置
    にあるときのオンフォーカス振幅分布を測定する工程
    と、 上記副反射鏡を上記被測定アンテナに対してデフォーカ
    ス位置に移動させる工程と、 上記被測定アンテナに対して上記副反射鏡がデフォーカ
    ス位置にあるときのデフォーカス振幅分布を測定する工
    程と、 上記両振幅分布に基づいてフェーズリトリーバル法によ
    る演算処理をして被測定アンテナの開口位相分布を得る
    工程とを備えた反射鏡アンテナ位相分布測定方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の反射鏡アンテナ位相分布
    測定方法に於いて、上記演算処理が、以下の手順により
    行われることを特徴とする反射鏡アンテナ位相分布測定
    方法。 STEP0:オンフォーカスで測定された振幅分布(A
    1Z)と初期位相分布(P0)とを用意する、 STEP1:測定面から被測定アンテナ開口上へフィー
    ルド変換を行い、開口面に変換された振幅分布(A1
    A)と開口面に変換された位相分布(P1A)とを得
    る、 STEP2:測定アンテナ開口面に変換された位相分布
    (P1A)に、デフォーカスによる開口位相分布の変化
    量(ΔP)を加える、 STEP3:被測定アンテナ開口面の振幅分布(A1
    A)ならびに相対変化を加えた開口位相分布(P1A+
    ΔP)を用いて、測定面にフィールド変換を行い、測定
    面に変換された振幅分布(A2Z’)と位相分布(P2
    Z)とを得る、 STEP4:測定面に変換された振幅・位相分布の内、
    振幅分布(A2Z’)をデフォーカス時に測定された振
    幅分布(A2Z)により置き換える、 STEP5:振幅測定値ならびにSTEP3で得られた
    位相分布を用いて、再び被測定アンテナ開口面にフィー
    ルド変換を行い、開口面に変換された振幅分布(A2
    A)と開口面に変換された位相分布(P2A)とを得
    る、 STEP6:被測定アンテナ開口面に変換された位相分
    布(P2A)から、デフォーカスによる開口位相分布の
    相対変化量(ΔP)を差し引いて変化量を減算した位相
    分布(P2AーΔP)を得る、 STEP7:被測定アンテナ開口面の振幅分布(A2
    A)および相対変化を減じた開口位相分布(P2AーΔ
    P)を用いて測定面にフィールド変換を行い,測定面に
    変換された振幅分布(A1Z’)と位相分布(P1Z)
    とを得る、 STEP8:測定面に変換された振幅・位相分布の内、
    振幅分布(A1Z’)をオンフォーカス時に測定された
    振幅分布(A1Z)により置き換える、 STEP9:測定面に変換された振幅分布(A1Z’)
    と実際に測定された振幅分布(A1Z)との差を比較
    し、差が十分に小さい場合にはこの位相分布(P1Z)
    を解として手順を終了し,収束していない場合はSTE
    P1に戻る。
  3. 【請求項3】 上記被測定アンテナの開口位相分布を得
    る工程の後に、 上記被測定アンテナを鏡軸回りに回動
    させて元の回動位置とは別の新たな回動位置にする工程
    と、 上記別の回動位置の上記被測定アンテナに対して請求項
    1記載の反射鏡アンテナ位相分布測定方法を再度実行す
    る工程と、 上記元の回動位置に於ける上記被測定アンテナの位相分
    布と上記新たな回動位置に於ける上記被測定アンテナの
    位相分布との平均をとり、上記副反射鏡の鏡面誤差を補
    正する工程とを備えた請求項1あるいは2記載の反射鏡
    アンテナ位相分布測定方法。
  4. 【請求項4】 副反射鏡および被測定アンテナを備えた
    反射鏡アンテナの位相分布を測定する反射鏡アンテナ位
    相分布測定装置であって、 上記副反射鏡を上記被測定アンテナに対してオンフォー
    カス位置あるいはデフォーカス位置に保持する移動支持
    装置と、 上記被測定アンテナの振幅を測定するためのプローブ
    と、 上記プローブを上記被測定アンテナに対して相対的に移
    動させて上記被測定アンテナの鏡軸と直角で同軸の測定
    面を走査させる走査装置と、 上記プローブからの振幅信号から上記オンフォーカス振
    幅分布およびデフォーカス振幅分布を得、これら両振幅
    分布に基づいてフェーズリトリーバル法による演算処理
    をして被測定アンテナの開口位相分布を得る演算処理装
    置とを備えた反射鏡アンテナ位相分布測定装置。
  5. 【請求項5】 上記走査装置が、上記プローブを上記被
    測定アンテナの鏡軸に対して直角な平面上で走査させる
    スキャナを備えた請求項4記載の反射鏡アンテナ位相分
    布測定装置。
  6. 【請求項6】 上記走査装置が、上記プローブを上記平
    面内で上記鏡軸を通る直線に沿って移動させるスキャナ
    と、上記被測定アンテナを上記直線と平行な軸芯回りに
    回転させる回転装置とを備えた請求項4記載の反射鏡ア
    ンテナ位相分布測定装置。
  7. 【請求項7】 上記走査装置が、上記プローブを上記鏡
    軸上に固定支持する支持装置と、上記被測定アンテナを
    上記直線と平行な軸芯回りに回転させ、上記直線に直角
    な軸芯回りに回転させる回転装置とを備えた請求項4記
    載の反射鏡アンテナ位相分布測定装置。
  8. 【請求項8】 上記被測定アンテナを鏡軸回りに回動さ
    せて少なくとも2つの回動位置にし得る回動装置を備
    え、上記演算処理装置が上記少なくとも2つの回動位置
    に於ける上記被測定アンテナの位相分布の平均をとる平
    均演算装置を備えた請求項4乃至7のいずれか記載の反
    射鏡アンテナ位相分布測定装置。
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