JP2000508463A - 可変電圧モードを有するメモリドライバ - Google Patents

可変電圧モードを有するメモリドライバ

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JP2000508463A JP11-530890A JP53089099A JP2000508463A JP 2000508463 A JP2000508463 A JP 2000508463A JP 53089099 A JP53089099 A JP 53089099A JP 2000508463 A JP2000508463 A JP 2000508463A
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Abstract

(57)【要約】 セレクター又はチップのレベル消去の間ドライバによって用いられた負の電源電圧は、ここのワードラインドライバの入力のでコーディングから分離してデコードされる。集積回路メモリ(100)は、メモリセルのアレイを有し、ワードラインの組は、メモリセルとワードラインドライブ回路に接続されている。このワードラインドライブ回路は、第1の電源(108)、第2の電源(109)、及びワードラインドライバの組を有する。ワードラインのドライバは、第1と第2の電源に接続されている。第2の電源は、電源電圧セレクターの組を有する。この組における各々の電源電圧セレクタは、ドライバの組のサブセットと接続される。選択された負の消去電圧、又は消去禁止電圧がこのサブセットに加えられる。

Description

【発明の詳細な説明】 可変電圧モードを有するメモリドライバ 発明の背景 発明の属する技術分野 本発明は、ワードライン上で正及び負の電圧をドライブすることができる、メ モリアレイに用いられるワードラインドライバに関し、特に、消去モード中にワ ードラインへ負の電圧を、及び読取りモードとプログラムモード中に個々のワー ドラインへ正の電圧を印加するフローティングゲートメモリに関する。従来の技術 フラッシュEEPROMとして知られているメモリセルのようなフローティン グメモリセルに基づく不揮発性半導体メモリデバイスにおいて、不揮発性メモリ アレイにデータを読み書きするために、正及び負の電圧が用いられる。フローテ ィングゲートデバイスのためのデータの不揮発性メモリへの書き込みは、プログ ラム及び消去モードとして知られるプロセスを含んでいる。この消去モードは、 アレイの全てか、或いは少なくともアレイの一つのセクタを単一の状態に設定す ることを有しおり、そしてこの単一の状態において、アレイ(又はセクタ)にお ける全てのセルは低いスレッショルドを有しているか、或いはアレイ(又はセク タ)における全てのセルは高いスレッショルドを有しているかの何れかである。 消去された状態が、セルのフローティングゲートがチャージされた高いスレッシ ョルド状態であるか、又はフローティングゲートがディスチャージされた低いス レッッショルド状態であるかは、フラッシュメモリの特別の実現化に依存する。 プログラミングモードは、アレイにおけるそれぞれアドレスされたセルのフロー ティングゲートをチャージするかディスチャージするかを含み、消去された状態 に関する反対のスレッショルドレベルを確立する。 フローティングゲートをディスチャージするために、ディスチャージされるべ きセルに対してワードラインへ負の電圧を印加することが有利であることはよく 知られている。これは、電子を引き付けるために正のレベルへ一般的にバイアス されたセルのソース、ドレイン又はチャネル領域へフローティングゲートから電 子をドライブするのを助ける。しかし、ワードラインへ負の電圧を印加するため の回路には幾つかの困難が存在する。 ワードラインのドライバは、デコードされたアドレスに応答して選択されたワ ードラインへ、デバイスのための通常の読取りモード中に正の電圧をドライブす ることができなければならない。選択されたワードラインへ負の電圧も印加する ことができる簡単な回路を有するワードラインドライバを提供することは従来の 技術においては困難であった。ワードラインへ負の電圧を印加するための従来シ ステムは、ワードラインのドライバをドライブするデコーディング機能を抑えて おり、個々のワードラインへ負の電圧を選択的に印加することを不可能にしてい る。例えば、Atsumi他によって発明されたヨーロッパ特許出願第92112727.0号( 公開第0 525 678 A2)(NON-VOLATILE SEMI-CONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVIN GROW DECODER:行デコーダを有する不揮発性半導体メモリデバイス)及びGastaldiによ って発明されたヨーロッパ特許出願第92830115.9号(公開第0 559 995 A1)(DECOD ER CIRCUIT CAPABLE OF TRANSFERRING POSITIVE AND NEGATIVE VOLTAGES:正及び 負の電圧を転送することができるデコーダ回路)を参照されたい。これらのヨー ロッパ特許出願において、通常の読取りモード動作に対する選択されたワードラ インへ正の電圧を与えるワードラインドライバが開示されているが、全てのワー ドラインへ負の電圧を印加するために、消去モード中にデコーダの選択機能を抑 えている。デコード機能が抑えられるので、負のワードライン電圧は、セクター の消去中であっても、全てのセルに対する回路へ印加される。これは消去されな いセルの妨害となる。 分離したドライバ、即ち、ワードラインの反対側にある正の電圧用のドライバ と負の電圧用のドライバがある他のシステムにおいて、デコーディング回路に結 合されたドライバが用いられている。例えば、Arakawaへ付与された米国特許第5 ,136,541号(PROGRAMMABLE READ ONLY MEMORY USING STACKED-GATE CELL ERASA-B LE BY HOLE INJECTION:正孔の注入による消去可能な積み重ねられたゲートセル を用いたプログラム可能なROM)及びArakawaへ付与された米国特許第5,253,20 0号(ELECTRICALLY ERASABLE AND PROGRAMMABLE READ ONLY MEMORY USING STACKE D-GATE CELL:積み重ねられたゲートセルを用いた電気的に消去可能で、プログラ ム可能なROM)は、分離したドライバの使用に基づいて、正及び負の電圧でワ ードラインをドライブするためのシステムを開示する(例えば、米国特許第5,13 6,541号の図3参照されたい)。 Schreckによって発明された米国特許第5,331,480号(METHOD AND APPARATUS FO R EPROM NEGATIVE VOLTAGE WORDLINE DECODING:EPROMの負電圧ワードラインデコ ーディングのための方法及び装置)は、各々のワードラインが、負電圧及び正電 圧状態においてデコーデングするために、独立した負電圧チャージポンプを有す るシステムを開示している。しかし、単一の負の電源が複数のワードラインドラ イバに接続されていると、全てのワードラインが同時に負にドライブされる。し たがって、Schreckの回路は、単一チップ上で多くのチャージポンプを繰り返す ことによる費用及び複雑さのために、大きなメモリシステムにおいていは実用的 でない。 Venkatesh他による「A 55ns 6.35μm 5V-only 16M Flash Memory with Deep-P ower-Down」(1996,IEEE International Solid-State Circuit Conference,Pap er JP 2.7,pp.44-45」は、正及び負の電圧のためのワードラインドライバ(Fig .1(a))を開示し、セクターの消去について述べている。しかし、消去中にワー ドラインのでコーディングに関する記載はない。Chen他によって発明された米国 特許第5,521,867号(ADJUDTABLE THRESHOLD VOLTAGE CONVERSION CIRCUIT;調節可 能なスレッショルド電圧変換回路)も参照(図4)されたい。 フローティングゲートデバイスにおいてプログラムモード中にワードラインへ 、或いは別にメモリアレイにおいてワードラインへ、正又は負の電圧を選択的に 印加することができる単純化されたワードラインドライバを必要とする。更に、 このドライバはレイアウトする場合に小さく、消去されるべきブロックにおける メモリセルのワードラインが負の電圧でドライブされるセクターレベルの消去動 作をサポートすることが必要である。発明の概要 本発明は、セクター或いはチップレベルの消去動作中にワードラインのドライ バによって用いられる負の電源電圧が個々のワードラインのドライバへの入力の デコーディングから分離してデコードされるコンパクトなワードラインドライバ 及びデコーダーシステムを提供する。これによって、セクターレベルにおいて負 の電圧をドライブする能力をデコードする能力を維持しつつ、小さなレイアウト を有するワードラインの使用を可能にする。又、この設計はこの性質の集積回路 上にハイの負電圧回路を実現するために必要とされる、いわゆる三重ウエルトラ ンジスタの数を最小にする。従って、本発明のワードラインドライバを用いて、 集積回路メモリがアレイのコンパクトなレイアウトで、したがって減少されたコ ストで提供される。 よって、本発明は、複数のセグメントに配列されたメモリセルのアレイを有す る集積回路メモリとしての特徴を有する。ワードラインの組が複数のセグメント におけるメモリセルに接続される。ワードラインのドライブ回路がワードライン の組に接続される。このワードラインのドライブ回路は、第1の供給電源、第2 の供給電源及びワードラインの組を有する。ワードラインのドライバは、第1と 第2の供給電源に接続され、それぞれのドライバを識別するアドレス信号に応答 して、第1の供給電源か、第2の供給電源の何れかからワードライン電圧を有す るワードラインの組におけるワードラインを選択的にドライブする。個々のドラ イバは、1つ或いはそれ以上のワードラインを含む組に接続される。第2の供給 電源は、電源電圧セレクターの組を有する。組における各々の電源電圧セレクタ ーは、ドライバの組のサブセットに接続される。ドライバのサブセットは、アレ イにおけるそれぞれのセグメントに接続される。電源電圧セレクターは、それぞ れのセグメントを識別するアドレス信号に応答して、消去モード中に負の消去電 源電圧か、或いは消去禁止電源電圧を選択する。この選択された負の消去電源電 圧又は消去禁止電源電圧は、セグメントバイアスによってセグメント上のそれぞ れのセグメントに結合されるドライバの組のサブセットに与えられる。これによ り、セグメントが、例えば16のワードラインドライバのような1より多いワー ドラインドライバに接続されるアレイのブロック或いはセクターである場合、セ グメントレベルにおけるコンパクトなワードラインドライバの設計によって消去 動作を可能にする。 本発明の1つの特徴によれば、ワードライン回路は、ドライバがワードライン の組における全てのワードラインのための消去モード中に第2の供給電源を選択 するようにする論理回路を有する。1つの実施形態におけるこの論理回路は、消 去モード中にそれぞれのドライバを識別するアドレス信号を無視する。 本発明の他の特徴によれば、ワードラインドライバは、対応するドライバを識 別するアドレス信号に応答してドライブされる入力を有するインバータ、第1の 供給電源に結合された第1の電源端子、第2の供給電源に結合された第2の電源 端子及びワードラインお組における1つ或いはそれ以上のワードラインに結合さ れた出力を有する。又、インバータの出力と入力の間に接続されるフィードバッ ク回路が含まれる。1つの実施形態において、このインバータは、3重ウエルn チャネルMOSトランジスタと直列にpチャネルMOSトランジスタを有する。 nチャネルMOSトランジスタのソースは第2の供給電源に接続され、ワードラ インへ高い負の電圧を転送するのを支える。pチャネルMOSトランジスタのソ ースは、第1の供給電源に接続され、読取り及びプログラムモード中にワードラ インへ正の電圧を印加するのを支える。他の特徴において、フィードバック回路 は、pチャネルMOSトランジスタを有し、そのソースは第1の電源端子に接続 され、そのゲートはドライバの出力に接続され、そしてそのドレインはドライバ の入力に接続される。 本発明の他の特徴によれば、本発明は、フローティングゲートメモリセルのア レイを有するフラッシュメモリデバイスを有する。このデバイス上の制御論理回 路は読取りモード、プログラムモード及び消去モードを確立する。上述したよう にワードラインのドライブ回路は、このデバイス上に含まれる。ワードラインド ライブ回路は、ドライバの組におけるドライバに接続されたセグメントデコーダ ー論理回路を有する。セグメントデコーダー論理回路は、読取りモード中にドラ イバの入力がドライバを識別するアドレス信号に応答してセットされるようにし 、それらは読取り供給電圧をアドレスワードラインへ供給する。消去モードにお いて、デコーダー論理回路は、ドライバへの入力がアドレス信号に独立して供給 さ れるようにし、電源セレクタは、それぞれのセグメントを識別するアドレス信号 に応答して、負の消去供給電圧、或いは消去禁止電圧を選択する。 公的なフローティングゲートメモリのアーキテクチャにおいて、負の消去電源 電圧は、−5〜−10ボルトの範囲、例えば−8ボルトの値を供給し、一方、消 去禁止電源電圧は、+3ボルト〜−3ボルトの範囲、好適にはおよそ接地電位の 値を有している。アレイにおけるセルは、消去されているセグメントにおけるフ ローティングゲートメモリセルのフォウラー・ノードハイム・トンネリング(Fow ler Nordheim tunneling)を誘導するように他の状態にバイアスされる。 代わりに、本発明は、ワードラインドライバの組におけるワードラインドライ バとして特徴付けられる。この特徴によるワードラインドライバは、第1の供給 電源と第2の供給電源を有する。第2の供給電源は、電源選択信号に応答して第 2の供給電圧として、負の電圧或いは禁止電源電圧を選択する電源電圧セレクタ を有する。ドライバを識別するアドレス信号及びモード信号に応答するデコード 論理回路は、モード信号が第1の状態にあるときアドレス信号に応答して、及び モード信号が第2の状態にあるときアドレス信号に応答しないで、デコード論理 出力を供給するために動作する。電源選択論理回路は、消去されるべきメモリの セグメントに相当する複数のワードラインドライバのような、ワードラインの組 における複数のワードラインドライバを識別するアドレス信号に応答する。電源 選択論理回路は、モード信号が第1の状態のときアドレス信号に応答することな く、そしてモード信号が第2の状態のときアドレス信号に応答して、電源選択信 号を供給する。更に、ドライバは、デコード論理出力に接続された入力、第1の 供給電源に接続された第1の電源端子、第2の電源電圧を受け取るために第2の 供給電源に接続された第2の電源端子、及びワードラインに接続された出力を有 するインバータを有する。フィードバック回路は、インバータの出力と入力の間 に接続されている。好適な特徴において、インバータとフィードバック回路は上 述のように具現化される。 よって、本発明は、複数のセグメントへ構成されたメモリ用のワードラインド ライバの組を提供する。与えられたセグメントにけるワードラインドライバは、 負の電圧を印加することができる同じ第2の供給電源を共有する。従って、各セ グメントはそれ自体の第2の供給電源を有する。この配列のもとで、1つのセグ メント内のワードラインドライバは、第2の電源端子上の負の電圧か、或いは第 2の電源端子上の、接地のような禁止電圧の何れかを知る。このアプローチの下 で、簡単化されたワードラインドライバ及びコンパクトな全体のアレイアーキテ クチャが達成される。 従って、本発明は、正及び負のでコードモードを提供するためのフラッシュE EPROMデバイスに使用することができるコンパクトなデコードされたワード ラインドライバを提供する。 本発明の他の特徴及び利点は、図面、詳細な説明及び請求項を精査することに よって理解されるであろう。 図面の簡単な説明 図1は、本発明による正及びブロックでコードされた負の電圧ワードラインド ライバのあるデコーダーを有するフラッシュEEPROMデバイスの概略図であ る。 図2は、図1のデバイスに使用するためのフラッシュEEPROMアレイの概 略図である。 図3は、本発明によるワードラインドライバの概略図である。 図4は、図3のドライバに用いられる絶縁されたnチャネルトランジスタを示 す。 図5は、負の電圧及び接地電圧又は他の禁止レベルの間で選択するための供給 電圧セレクタを示す。 図6は、本発明によるワードラインデコーディングシステムのレイアウトを示 す。 詳細な説明 本発明の好適な実施形態の詳細な説明は、図1−6を参照して行なわれる。 図1において、フラッシュデバイスが示されている。このフラッシュデバイス は、図2に示されたように具現化されることができる独立して消去されることが できる複数のセクタを有するフローティングアレイ100を含んでいる。正及び ブロックデコードされた負の電圧ワードラインドライバを有するデコーダ101 がアレイに接続されている。モード制御回路106が負の電圧発生器108、正 の電圧発生器109及び列と仮想接地デコーダ105に接続されて、フラッシュ デバイスに対して読取りRDモード、プログラムPGMモード及び消去ERSモ ードを与える。負の電圧発生器108及び正の電圧発生器109もデコーダに接 続されている。 列及び仮想接地デコーダ105は、図示されたようにアレイにおけるビットラ インに接続され、更に負の電圧発生器108と正の電圧発生器109に接続され る。最後に、センスアンプ107とプログラムデータイン構造103がアレイを プログラムし、読み取りにおいて使用するための列及び仮想接地デコーダ105 に接続されている。 図2は、図1のシステムに使用することができるフラッシュメモリアレイの1 つの実施形態を示す。図2は、アレイの2対の列を示し、各対の列は、ドレイン −ソース−ドレイン構成にフラッシュセルを有する場合である。 従って、列の第1の対120は、第1のドレイン拡散ライン121、ソース拡 散ライン122、及び第2のドレイン拡散ライン123を含む。ワードラインW L0−WL63は、各々第1の列対におけるセルのフローティングゲートと第2 の列対におけるセルを重ねて配置している。図に示されたように、列の第1の対 120は、セル124、セル125、セル126及びセル127を有する。ワー ドラインWL2−WL61に接続されているセルは図示されていない。アレイの 同じ列に沿って、列の第2の対135が示されている。それは、ミラー像に配列 されているのを除いて、列の対120と同じ構造を有している。 従って、図示されているように、列対の第1の対におけるトランジスタ、例え ば、セル125は、ドレイン拡散ライン121におけるドレイン、及びソース拡 散ライン122におけるソースを含む。フローティングゲートは、第1のドレイ ン拡散ライン121とソース拡散ライン122巻にチャネル領域を覆っている。 ワードラインWL1は、セル125のフローティングゲートを覆って、フラッシ ュセルを形成する。 列対120と列対135は、アレイの仮想接地拡散136(ARVSS)を共 有する。従って、列対120のソース拡散ライン122は接地拡散136に接続 される。同様に、列対135のソース拡散ライン137は接地拡散136に接続 される。 上述のように、セルの列の各対120は単一のメタルラインを共有する。従っ て、ブロックの右選択トランジスタ138とブロックの左選択トランジスタ13 9が含まれる。トランジスタ139は、ドレイン拡散ライン121におけるソー ス、メタルコンタクト140に接続されたドレイン、及びライン141上の制御 信号BLTR1に結合されたゲートを有する。同様に、右選択トランジスタ13 8は、ドレイン拡散ライン123におけるソース、メタルコンタクト140に接 続されたドレイン、及びライン142上の制御信号BLTR0に結合されたゲー トを有する。従って、トランジスタ138と139を含むセレクター回路は、第 1のドレイン拡散ライン121と第2のドレイン拡散ライン123の、メタルコ ンタクト140を介してメタルライン143(MTBL0)への選択接続のため に設けられている。図示されるように、列対135は、メタルコンタクト146 に同様に接続された左選択トランジスタ144と右選択トランジスタ145を有 する。コンタクト146は、列対120に接続されたコンタクト140と同じメ タルライン143に接続される。メタルラインは、追加のセレクター回路と共に セルの2より多い列によって共有することもできる。 列対は、M個のワードラインと2N庫の列を有するフラッシュセルのアレイを 備えるために、垂直及び水平に配列される。このアレイは、上述のように、N個 のメタルビットラインのみを必要とし、それらの各々は、選択回路を介してフラ ッシュセルの列対に接続される。 図面は、2つのメタルビットライン143と152(MTBL0−MTBL1) に接続されている4つのサブブロック120,135,150及び151を示す のみであるけれども、このアレイは、水平及び垂直に繰り返されて、大きなフラ ッシュメモリアレイを形成することができる。 勿論、図2に示されてたアレイアーキテクチャは、本発明が用いられることが できる不揮発性のメモリアーキテクチャの種類の一例である。いろいろな他のア ーキテクチャもセグメント化された消去動作に適しており、本発明による利益を 有する。 図3は本発明によるワードラインドライバの好適な実施形態を示す。このワー ドラインドライバは、AVX端子300に接続された第1の供給電源(例えば、 図1の正の電圧発生器109)を有する。又、第2の供給電源が高い電圧ドライ バVSS電圧HVDRVSSを供給する端子301に接続されている。第2の供給 電源は、端子303から負の電圧NVPPを選択するか、又はライン315上の 電源選択信号に応答して出力として端子304上に禁止電源電圧HVDRGND を選択する電源電圧セレクター302有する。好適なシステムにおいて、NVP Pの値は、約−8ボルト、一般的には-5ボルトから−10ボルトまでの範囲内 である。HVDRGNDの値は、およそ接地電位、即ち0ボルト、一般的には− 3ボルトから+3ボルトまでの範囲内であるのが好ましい。 正の電源電圧AVWは、ライン305上でセレクター302へ加えられる。こ の正の電源電圧AVW(消去モード中AVXと同じで、約3ボルト)は、セレク ター302の動作中、以下に説明されるように制御される。ライン301上の電 圧HVDRVSSは、矢印317によって示されるように、複数のドライブ回路 306間で共有される。 コアのドライブ回路306は、ノード307で入力に接続されるゲート及び1 つのワードライン或いはワードライン308の組に接続されたドレインを有する トランジスタMP3とMT0からなるインバータを有する。ドライブ回路306 は、pチャネルトランジスタMP0によって与えられるフィードバック回路も有 し、トランジスタMP0は、出力308に接続されたゲート、入力307に接続 されたドレイン及び電源端子300に接続されたソースを有する。pチャネルト ランジスタMP0とMP3のnウエルは、共にAVX電源端子300に接続され ている。nチャネルトランジスタMTOは、図4に示されるように具現化された 三重ウエルトランジスタから成っている。この構造は、以下に説明される。深い nウエルは、一般的には5ボルト±10%である電源電圧VDDにバイアスされ、 負の電圧動作中にp型基板からnチャネルトランジスタを絶縁するように働く。 幾つかの実施形態において、電源電圧VDDは、特定の実施に適するようにより 小さいか、より大きい。ドライブ回路306もnチャネルトランジスタからなる “キーパー(keeper)”トランジスタMN2を有し、このトランジスタは、入力3 07に接続されたソース、電源端子に接続されたドレイン、及びライン309上 の制御信号XDHBに接続された入力を有している。このライン309上の制御 信号XDHBは、以下に説明されるように負の電圧動作中に制御される。 また、nチャネルトランジスタMN1は、ライン307とNANDゲート31 0で表されているデコード論理回路間で、パスゲート形状に接続される。このn チャネルトランジスタMN1は、ワードラインデコーディング論理回路によって 供給される、ライン312上の信号XRに接続されるゲートを有する。トランジ スタMN1のソースは、NANDゲート310の出力に接続されている。NAN Dゲートへの入力は、アドレス信号から出る信号XP、XBL2及びXBL3を 有する。ライン312上のでコード信号XRと組み合わさっているこれらの信号 は、特定のドライブ回路306を識別するために働く。NANDゲート310へ の他の入力は、消去モード中ローであるモード信号ERASEBを有する。従っ て、消去モード中、アドレス信号から引き出された信号は、無視され、ワードラ イン回路306の、ライン307上の入力は、XRがハイのとき、論理1の値に ドライブされる。 従って、ライン307上の入力は、読取り及びプログラムモードの間、特定の ドライバを識別するアドレス信号に応答してドライブされる。しかし、アドレス 信号は、消去モードの間無視され、ドライブ回路306は、このデコーディング システムに接続されたワードラインの組にある全てのワードラインに対して論理 1の値を受け取る。信号XRは、この例では、全てのドライバ上でハイである。 一方、電源電圧セレクター302への入力におけるライン315上の電源選択信 号は、NANDゲート311によってドライブされる。NANDゲート311へ の入力は、アドレス信号から引き出された信号XBL2とXBL3、及び消去モ ード信号ERASEを含む。消去モードの間、信号ERASEはハイで、NAN Dゲート311の出力がアレイの特定のセグメントを識別するアドレス信号XB L2とXBL3によって制御されることを可能にする。これらの信号XBL2と XBL3は、選択されているセグメントにおけるワードラインドライブ回路の各 々をドライブするNANDゲート310の入力へ加えられる同じ信号XBL2と XBL3である。 他の代替可能な論理設計では、NANDゲート310は、入力としての制御信 号ERASEBを除いて、3つの入力NANDゲートに単純化される。信号XR は、ERASEB、或いはその均等物に応答して制御され、ドライバをゲート3 10から切断する。一方、XDHBは、消去モードの間、AVXを越えるレベル までノード307をドライブすることなく、論理1をノード307へ印加するレ ベルにドライブされる。 このようにして、ワードラインドライバは、読取り及びプログラムモードの間 動作して、電源AVXからの正の電圧を印加するか、或いは、ワードラインデコ ーディングシステムによって付勢されている特定のワードライン回路306の結 果として接地する。消去の間、負の電圧か接地電位が三重ウエルnチャネルトラ ンジスタMN0を通してワードラインへ加えられる。ワードラインドライブ回路 306の動作状態は、表1に示される。 米国特許第5,463,586号は、正の電圧AVXに対する適当な電源電圧セレクタ ーの記載に対して、あたかも本願に述べられているようにレファレンスによって とりこまれる。このような電源電圧セレクターのいろいろな具現化は、本発明に よる利用に適している。 消去モードの間、制御信号XDHBは、ライン300上の端子AVXと電源電 圧VDD間の接続を切断するために、VDDから0ボルトへスイッチされる。代わり に、XDHBは、上述のように、ノード307がAVXから超えるのを妨げるレ ベルへドライブされる。 同じXBL2とXBL3を有するが、しかし異なるXPとXRを有するワード ラインドライブ回路306は、同じ電源電圧セレクター302を共有することが 理解されるであろう。結果的に、フローティングゲートメモリアレイのセグメン トにおけるワードラインドライバは、一緒に負の電圧にスイッチされる。 三重ウエルnチャネルMOSトランジスタMT0の記載は、図4に示される。 好適な実施形態における電源電圧セレクター302は、図5に示され、本発明に よる変更されたワードラインデコーディングシステムは、図6に示される。 MT0のような三重ウエルnチャネルMOSトランジスタの構造は、図4に示 されている。特に、このトランジスタは、トランジスタの、ドレインとソースと してそれぞれ動作するn型拡散領域402と403間に形成されるチャネル領域 401上のゲート端子400からなる。n型拡散領域402と403は、絶縁さ れたp型ウエル404に具現化される。このp型ウエルは、ライン301上でH VDRVSS値に接続される、点405におけるコンタクトを有する。 p型ウエル404は、正の電源電圧VDDへのコンタクトを有するn型ウエル4 06に形成される。n型ウエル406は、p型基板408に形成される。この構 造は、pウエル404とnウエル406間にダイオードのシンボル409によっ て図式的に表されたp-n接合を形成する。負の電圧がpウエル404に印加さ れたとき、この接合は逆バイアスされて、nウエルを負の電圧から絶縁する。同 様に、ダイオードのシンボル410によって表されたp-n接合がp型基板とn ウエル406間に形成される。正の電圧でnウエル406をバイアスすることに よって、この接合410は、逆バイアスされて、全体の構造を基板から絶縁する 。 図5は、1つの好適な実施形態における図3の電源電圧セレクター302を示 す。この電源電圧セレクターは、ライン500上の電源入力AVW、ライン50 1上のセレクタ信号ENB、ライン502上の負の電圧NVPP及びライン50 3上の接地電圧HVDRGNDを受け取る。この回路は、図3の、ライン301 上の信号HVDRVSSに相当する出力504上の電源に対して、負の電圧50 2と接地電圧503間で選択するために動作する。電源セレクターはpチャネル MOSトランジスタMP1を有し、このトランジスタMP1は、電源端子500 に接続されたソースとnウエル、ライン501に接続されたゲート、及びノード 510に接続されたドレインを有している。pチャネルMOSトランジスタMP 2は、ノード500接続されたソースとnウエル、及びノード501に接続され たその入力を有するインバータ511の出力に接続されたゲートを有する。トラ ンジスタMP2のドレインは、ノード512に接続される。三重ウエルnチャネ ルMOSトランジスタMT3は、ノード512に接続されたゲート、ノード51 0に接続されたドレイン、及び負の電圧が印加される端子502に接続されたソ ースとpウエルを有する。深いnウエルは電源端子(電圧)VDDに接続される。 三重ウエルトランジスタMT4は、ノード512に接続されたドレイン、ノード 510に接続されたゲート、及びノード502に接続されたソースを有する。又 、トランジスタMT4のpウエルもノード502に接続される。トランジスタM T4の深いnウエルは電源端子VDDに接続される。 ノード512は、三重ウエルトランジスタMT1のソースに接続され、トラン ジスタMT1は、ライン513で接地電位に接続されたゲート、及び出力ノード 504に接続されたドレインを有する。三重ウエルトランジスタMT1のpウエ ルは、ノード502に接続される。一方、深いnウエルは電源端子VDDに接続さ れている。三重ウエルトランジスタMT2は、ノード512に接続されたゲート 、接地端子503に接続されたソース、ノード502に接続されたpウエル、及 び正の電源端子VDDに接続された深いnウエルを有する。トランジスタMT2の ドレインは、出力ノード504に接続される。 動作において、ライン501上の選択信号ENBがローになると、ノード51 2は、トランジスタMT4を介して負の電圧NVPPにドライブされる。この負 の電圧、一般的には-8ボルトは、トランジスタMT1を介してノード504に 加えられ、トランジスタMT2はターンオフされる。トランジスタMT2は、ノ ード504における負の電圧をノード503上の接地電位から分離するために働 く。 ライン501上の入力信号ENBが電源電圧VDDにドライブされると、ノード 512はAVW値(一般的には3ボルト)にドライブされる。AVW値はトランジ スタMT2をターンオンし、トランジスタMT1がターンオフするようにする。 これは、ノード504をノード512における電圧から分離している間、ライン 503における接地電位をノード404上の出力に与える。 図6は、本発明の電源電圧セレクターを含むワードラインデコーディングシス テムを示す。図6のワードラインデコーディングシステムは、左側のワードライ ンWLL0-WLL7と右側のワードラインWLR0-WLR7を含む16のワー ドラインをドライブするアレイのセグメント用のデコーディングシステムに相当 する。ワードラインの各々は、図3に記載されたワードラインドライブ回路30 6によってドライブされる。ワードラインドライブ回路306への入力は、値A VX、XDHBを含む。又、ドライブ回路306の各々は、左側のシステムXR L0-XRL7と右側のシステムXRR0-XRR7においてラベルのつけられた デコーディングシステムから入力受ける。 ワードライン回路の各々への入力は、図3のNANDゲートに相当するNAN Dゲート310の出力において与えられる。また、ワードライン回路はワードラ インセレクター302の出力からHVDRSS信号も受ける。 この実施形態によると、XP信号は、アドレス信号に応答して発生される4つ のXP信号(XP10-XP13)の一つである。XBL2信号は、4つの(X BL20-XBL23)の一つである。XBL3信号は、8つの(XBL30-X BL37)の一つである。NANDゲート311の入力において与えられたXB L2信号及びXBL3信号は、アレイの単一セグメントに対してNANDゲート 310の入力に与えられたものと同じである。 よって、フラッシュメモリのようなフローティングゲートメモリデバイス用の セグメント消去動作を支える効率的で、コンパクトなワードラインドライブ回路 が提供される。この回路は、負の電圧でコーディングに必要とされるレイアウト 及び複雑さを減少し、結局、この特徴を実現する集積回路のコストを減少する。 本発明の好適な実施形態の上述の記載は、説明の目的でなされたものである。 従って、本発明を開示されたその形状に限定するものでない。多くの変形や変更 が当業者に明らかであろう。本発明の範囲は、請求項及びそれらの均等物によっ て定められるべきである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ワン レイ リン アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94539 フリーモント ウィッチトウ ド ライヴ 709

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.集積回路メモリであって、 複数のセグメントに配列されたメモリセルのアレイと、 前記アレイにおけるメモリセルに接続されたワードラインの組と、 第1の電源、第2の電源、及び前記第1及び第2の電源に接続されたドライ バの組を有する、前記ワードラインの組みに接続されたワードラインドライブ回 路を備え、前記ドライバの組におけるドライバは、それぞれのドライバを識別す るアドレス信号に応答して、前記第1の電源か、或いは前記第2の電源からのワ ードライン電圧で前記ワードラインの組におけるワードラインを選択的にドライ ブし、 前記第2の電源は、前記アレイのそれぞれのセグメントに対して前記ドライ バの組のサブセットと結合された電源電圧セレクターの組を含み、前記電源電圧 セレクターは、ドライバの組のそれぞれのサブセットに対して、それぞれのセグ メントを識別するアドレス信号に応答して、消去モードの間負の消去電源電圧か 、或いは消去禁止電源電圧を選択することを特徴とする集積回路メモリ。 2.ワードラインドライブ回路は、ドライバの組におけるドライバがワードライ ンの組における全てのワードラインに対して消去モードの間前記第2の電源を選 択するようにする論理回路を有することを特徴とする請求項1に記載の集積回路 メモリ。 3.前記ワードラインドライブ回路は、消去モードの間それぞれのドライバを識 別するアドレス信号を無視する論理回路を有することを特徴とする請求項2に記 載の集積回路メモリ。 4.前記ドライバの組におけるドライバは、 前記ドライバを識別するアドレス信号に応答してドライブされる入力、前記 第1の電源に接続された第1の電源端子、前記第2の電源に接続された第2の電 源端子、及び、前記ワードラインの組におけるワードラインに接続された出力を 有するインバータと、 前記インバータの出力と入力の間に接続されたフィードバック回路 を有することを特徴とする請求項1に記載の集積回路メモリ。 5.前記インバータは、 前記第1の電源端子に接続されたソース、前記入力に接続されたゲート、及 び前記ドライバの出力に接続されたドレインを有する基板におけるpチャネルM OSトランジスタと、 前記第2の電源端子に接続されたソース、前記入力に接続されたゲート、及 び前記ドライバの出力に接続されたドレインを有する基板におけるnチャネルM OSトランジスタと備え、前記nチャネルMOSトランジスタは、前記基板から チャネル領域を分離するためにバイアスされた深いn型ウエルのp型チャネル領 域を有することを特徴とする請求項4に記載の集積回路メモリ。 6.前記フィードバック回路は、前記第1の電源端子に接続されたソース、前記 出力に接続されたゲート、及び前記ドライバの入力に接続されたドレインを有す る基板におけるpチャネルMOSトランジスタを有することを特徴とする請求項 5に記載の集積回路メモリ。 7.前記負の消去電源電圧は、-5ボルトから-10ボルトの範囲にある値を有す ることを特徴とする請求項1に記載の集積回路メモリ。 8.前記負の消去電源電圧は、-5ボルトから-10ボルトの範囲にある値を有し 、前記消去禁止電源電圧は、-3ボルトから+3ボルトの範囲にある値を有する ことを特徴とする請求項1に記載の集積回路メモリ。 9.前記ワードラインドライブ回路は、前記ドライブ回路の組におけるドライブ 回路に接続されたセグメントデコーダ論理回路を有し、前記セグメントデコーダ 論理回路は、前記組のドライバへの入力が前記ドライバを識別するアドレス信号 に応答して加えられ、前記セグメントと接続された電源電圧セレクターが、読取 り電源電圧を選択する読取りモード、およびそれぞれのセグメントに対して前記 ドライブ回路の組のサブセットにおいてドライバへの入力が消去モード信号に応 答して加えられるセグメント消去モードを有し、且つそれぞれのセグメントと接 続された電源電圧セレクターは、それぞれのセグメントを識別するアドレス信号 に応答して、負の消去電源電圧か、或いは消去禁止電源電圧を選択することを特 徴とする請求項1に記載の集積回路メモリ。 10.集積回路メモリであって、 複数のセグメントに配列されたフローティングゲートメモリセルのアレイと 、 前記アレイに接続され、読取りモード、プログラムモード及び消去モードを 確立する制御論理回路と、 前記アレイのメモリセルに結合されたワードラインの組と、 ワードラインの組と制御論理回路に接続され、第1の電源、第2の電源、お よび前記第1と第2の電源に接続されたドライバの組を有するワードラインドラ イブ回路とを備え、前記ドライバの組におけるドライバは、読み取りモードとプ ログラムモードにおいてそれぞれのドライバを識別するアドレス信号に応答して 、前記第1の電源或いは第2の電源からワードライン電圧でワードラインの組に おけるワードラインを選択的にドライブし、 前記第2の電源は、アレイのそれぞれのセグメントに対してドライバの組の サブセットと結合された電源電圧セレクターの組を含み、前記電源電圧セレクタ ーは、ドライバの組のそれぞれのサブセットに対してそれぞれのセグメントを識 別するアドレス信号に応答して、消去モードの間負の消去電源電圧か、或いは消 去禁止電源電圧を選択することを特徴とする集積回路メモリ。 11.前記ワードラインドライブ回路は、ドライバの組におけるドライバがワード ラインの組における全てのワードラインに対して、消去モードの間第2の電源を 選択するようにする論理回路を有することを特徴とする請求項10に記載の集積 回路メモリ。 12.前記ワードラインドライブ回路は、消去モードの間それぞれのドライバ識別 するアドレス信号を無視する論理回路を有することを特徴とする請求項11に記 載の集積回路メモリ。 13.前記ドライバの組におけるドライバは、 前記ドライバを識別するアドレス信号に応答して、ドライブされる入力、第 1の電源に接続された第1の電源端子、第2の電源に接続された第2の電源端子 、およびワードラインの組におけるワードラインに接続された出力を有するイン バータと、 前記インバータの出力と入力の間に接続されたフィードバック回路 を有することを特徴とする請求項10に記載の集積回路メモリ。 14.前記インバータは、 前記第1の電源端子に接続されたソース、前記入力に接続されたゲート、及 び前記ドライバの出力に接続されたドレインを有する基板におけるpチャネルM OSトランジスタと、 前記第2の電源端子に接続されたソース、前記入力に接続されたゲート、及 び前記ドライバの出力に接続されたドレインを有する基板におけるnチャネルM OSトランジスタと備え、前記nチャネルMOSトランジスタは、前記基板から チャネル領域を分離するためにバイアスされた深いn型ウエルのp型チャネル領 域を有することを特徴とする請求項13に記載の集積回路メモリ。 15.前記フィードバック回路は、前記第1の電源端子に接続されたソース、前記 出力に接続されたゲート、及び前記ドライバの入力に接続されたドレインを有す る基板におけるpチャネルMOSトランジスタを有することを特徴とする請求項 14に記載の集積回路メモリ。 16.前記負の消去電源電圧は、-5ボルトから-10ボルトの範囲にある値を有す ることを特徴とする請求項10に記載の集積回路メモリ。 17.前記負の消去電源電圧は、-5ボルトから-10ボルトの範囲にある値を有し 、前記消去禁止電源電圧は、-3ボルトから+3ボルトの範囲にある値を有する ことを特徴とする請求項10に記載の集積回路メモリ。 18.前記ワードラインドライブ回路は、ドライバの組におけるドライバに接続さ れたセグメントデコーダ論理回路と、前記セグメントデコーダ論理回路は、前記 組におけるドライバへの入力が前記ドライバを識別するアドレス信号に応答して 供給されるようにして、前記ドライバは、読み取りモードにおいて読取り電源電 圧を選択し、且つそれぞれのセグメントに対するドライバの組のサブセットにお けるドライバへの入力が消去モードにおいてアドレス信号に無関係に供給される ようにし、 消去モードにおいてそれぞれのセグメントを識別するアドレス信号に応答し て、負の消去電源電圧か、消去禁止電源電圧を選択するために、それぞれのセグ メントと接続された電源電圧セレクター、 を有することを特徴とする請求項10に記載の集積回路メモリ。 19.ワードラインドライバの組におけるワードラインドライバであって、 第1の電源と第2の電源と、前記第2の電源は、電源選択信号に応答して第 2の電源電圧として負の電圧か、或いは禁止電源電圧を選択する電源電圧セレク ターを有し、 モード信号が第1の状態にあるとき、アドレス信号に応答し、そしてモード 信号が第2の状態にあるときアドレス信号に応答しないデコード論理出力を供給 するために、ドライバを識別するアドレス信号とモード信号に応答するデコード 論理回路と、 モード信号が第1の状態にあるときアドレス信号に応答しないで、そしてモ ード信号が第2の状態にあるときアドレス信号に応答する電源選択信号を供給す るために、ワードラインドライバの組における複数のワードラインドライバを識 別するアドレス信号に応答する電源選択論理回路と、 前記デコード論理出力に接続された入力、前記第1の電源に接続された第1 の電源端子、前記第2の電源電圧を受け取るために、前記第2の電源に接続され た第2の電源端子、及びワードラインに接続された出力とを有するインバータと 、 前記インバータの出力と入力間に接続されたフィードバック回路、 を有することを特徴とするワードラインドライバ。 20.前記インバータは、 前記第1の電源端子に接続されたソース、前記入力に接続されたゲート、及 び前記ドライバの出力に接続されたドレインを有する基板におけるpチャネル MOSトランジスタと、 前記第2の電源端子に接続されたソース、前記入力に接続されたゲート、及 び前記ドライバの出力に接続されたドレインを有する基板におけるnチャネルM OSトランジスタと備え、前記nチャネルMOSトランジスタは、前記基板から チャネル領域を分離するためにバイアスされた深いn型ウエルのp型チャネル領 域を有することを特徴とする請求項19に記載のワードラインドライバ。 21.前記フィードバック回路は、前記第1の電源端子に接続されたソース、前記 出力に接続されたゲート、及び前記ドライバの入力に接続されたドレインを有す る、基板におけるpチャネルMOSトランジスタを有することを特徴とする請求 項20に記載のワードラインドライバ。 22.前記負の電圧は、-5ボルトから-10ボルトの範囲にある値を有することを 特徴とする請求項19に記載のワードラインドライバ。 23.前記負の電圧は、-5ボルトから-10ボルトの範囲にある値を有し、前記禁 止電源電圧は、-3ボルトから+3ボルトの範囲にある値を有することを特徴と する請求項10に記載の集積回路メモリ。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004093091A1 (ja) * 2003-04-17 2004-10-28 Fujitsu Limited 不揮発性半導体記憶装置
US7180785B2 (en) 2003-04-17 2007-02-20 Spansion Llc Nonvolatile semiconductor memory device with a plurality of sectors
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