JP2000349606A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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JP2000349606A
JP2000349606A JP11157281A JP15728199A JP2000349606A JP 2000349606 A JP2000349606 A JP 2000349606A JP 11157281 A JP11157281 A JP 11157281A JP 15728199 A JP15728199 A JP 15728199A JP 2000349606 A JP2000349606 A JP 2000349606A
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JP
Japan
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signal
delay
voltage
selection
power supply
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JP11157281A
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Japanese (ja)
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Tomoaki Yamazaki
智昭 山崎
Hiroyuki Nakane
裕之 中根
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Hitachi Ltd
Hitachi Solutions Technology Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi ULSI Systems Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To flexibly revise a delay time in a delay circuit for timing adjustment with a simple circuit configuration at a low cost after the completion of the product of the title semiconductor integrated circuit device. SOLUTION: A selection signal control section 4 outputs selection signals I1-I4 on the basis of a setting control signal CS received from a prescribed external terminal to turn ON a transistor(TR) provided to a power supply voltage selection supply section 3, which selects an optional voltage from voltages V1-V4 generated by a power supply voltage generating section 5 and supplies the selected voltage as an operating voltage of a signal delay section 2. A delay time of the signal delay section 2 becomes shorter as receiving a higher voltage and longer as receiving a lower voltage. Then even after the completion of the product of the semiconductor integrated circuit device, the delay time of the signal delay section 2 can flexibly and easily be changed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路装
置における信号のタイミング調整技術に関し、特に、演
算データやクロック信号などにおける遅延時間の調整に
適用して有効な技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for adjusting timing of signals in a semiconductor integrated circuit device, and more particularly to a technique effective when applied to adjustment of delay time in operation data, clock signals, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】本発明者が検討したところによれば、マ
イクロコンピュータなどの半導体集積回路装置には、遅
延回路が備えられている。この遅延回路は、たとえば、
マイクロプロセッサと周辺回路とにおけるインタフェー
ス間の演算データやクロック信号などのタイミング調整
として設けられている。
2. Description of the Related Art According to studies made by the present inventor, a semiconductor integrated circuit device such as a microcomputer is provided with a delay circuit. This delay circuit, for example,
It is provided as a timing adjustment for operation data and clock signals between interfaces between the microprocessor and peripheral circuits.

【0003】遅延回路は、たとえば、複数のインバータ
から構成されており、これら複数のインバータを直列接
続することによって信号遅延を行っている。また、遅延
回路は、製造プロセスにおけるばらつきなどによって設
計通りの遅延時間が得られないことがあり、その場合に
は遅延時間を変更する再調整が必要になる。
[0003] The delay circuit is composed of, for example, a plurality of inverters, and performs signal delay by connecting the plurality of inverters in series. Further, the delay circuit may not be able to obtain a delay time as designed due to a variation in a manufacturing process or the like. In such a case, it is necessary to readjust the delay time.

【0004】この遅延時間の変更は、配線層のつなぎか
えによって予備に設けられた遅延時間の異なる遅延回路
につなぎかえたり、あるいは新たに遅延回路を設けて入
れ替えたりしていた。
In order to change the delay time, a delay circuit provided with a different delay time is provided by a connection of a wiring layer, or a new delay circuit is provided and replaced.

【0005】なお、この種の半導体集積回路装置につい
て詳しく述べてある例としては、昭和59年11月30
日、株式会社オーム社発行、社団法人 電子通信学会
(編)、「LSIハンドブック」P582があり、この
文献には、デジタル信号処理LSIにおける遅延回路が
記載されている。
An example of this type of semiconductor integrated circuit device is described in detail in November 30, 1984.
Published by Ohm Co., Ltd., the Institute of Electronics, Communication and Communication Engineers (ed.), “LSI Handbook” P582, which describes a delay circuit in a digital signal processing LSI.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な半導体集積回路装置のタイミング調整技術では、次の
ような問題点があることが本発明者により見い出され
た。
However, it has been found by the present inventors that the following problems are encountered with the above-described timing adjustment technology for a semiconductor integrated circuit device.

【0007】すなわち、遅延時間の異なる遅延回路を配
線層を変更してつなぎかえる場合には、予備に設けられ
る遅延回路の個数だけ半導体チップ面積も必要となり、
半導体チップの小面積化が困難になるという問題があ
る。
That is, when connecting delay circuits having different delay times by changing wiring layers, the semiconductor chip area is required as many as the number of delay circuits provided in advance.
There is a problem that it is difficult to reduce the area of the semiconductor chip.

【0008】また、新たに遅延回路を設けて入れ替える
場合には、それに伴うマスク変更の費用や製造工数など
のコストが上昇してしまうという問題がある。
In addition, when a delay circuit is newly provided and replaced, there is a problem in that the cost of mask change and the number of manufacturing steps associated therewith increase.

【0009】本発明の目的は、低コストで、かつ簡単な
回路構成により、製品完成後にフレキシブルにタイミン
グ調整用の遅延回路における遅延時間を変更することの
できる半導体集積回路装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit device capable of flexibly changing a delay time in a delay circuit for timing adjustment after completion of a product with a low-cost and simple circuit configuration. .

【0010】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present application, the outline of a representative one will be briefly described.
It is as follows.

【0012】すなわち、本発明の半導体集積回路装置
は、入力された信号をある時間だけ遅延して出力する信
号遅延部と、2つ以上の異なるレベルの電圧を生成する
電源電圧生成部と、該電源電圧生成部が生成した電圧を
選択信号に基づいて選択し、信号遅延部の動作電圧とし
て供給する電源電圧選択供給部とよりなる遅延制御手段
を備えたものである。
That is, a semiconductor integrated circuit device according to the present invention comprises a signal delay section for delaying an input signal by a certain time and outputting the same, a power supply voltage generation section for generating two or more different levels of voltage, A delay control unit comprising a power supply voltage selection supply unit that selects a voltage generated by the power supply voltage generation unit based on a selection signal and supplies the voltage as an operation voltage of the signal delay unit.

【0013】また、本発明の半導体集積回路装置は、前
記遅延制御手段に、入力される設定制御信号に基づいて
選択信号を生成し、その選択信号を保持しながら出力す
る選択信号制御部を設けたものである。
Further, in the semiconductor integrated circuit device according to the present invention, the delay control means is provided with a selection signal control section for generating a selection signal based on the input setting control signal and outputting the selection signal while holding the selection signal. It is a thing.

【0014】さらに、本発明の半導体集積回路装置は、
前記選択信号制御部が、バッファまたはレジスタのいず
れかよりなるものである。
Further, according to the semiconductor integrated circuit device of the present invention,
The selection signal control unit comprises one of a buffer and a register.

【0015】以上のことにより、遅延制御手段により、
半導体集積回路装置の製品完成後であっても、フレキシ
ブルに、かつ容易に信号遅延部における信号の遅延時間
を変更することができ、半導体集積回路装置製造におけ
る工数、およびコストを下げることができ、半導体チッ
プを小面積化することができる。
As described above, the delay control means
Even after the product of the semiconductor integrated circuit device is completed, the delay time of the signal in the signal delay unit can be changed flexibly and easily, and the man-hour and cost in manufacturing the semiconductor integrated circuit device can be reduced. The area of the semiconductor chip can be reduced.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0017】図1は、本発明の一実施の形態による半導
体集積回路装置に設けられた遅延制御回路の回路図、図
2は、本発明の一実施の形態による遅延制御回路におけ
る選択信号と遅延時間との説明図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a delay control circuit provided in a semiconductor integrated circuit device according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing a selection signal and a delay in the delay control circuit according to one embodiment of the present invention. It is explanatory drawing with time.

【0018】本実施の形態において、マイクロコンピュ
ータなどの半導体集積回路装置には、図1に示すよう
に、複数の遅延制御回路(遅延制御手段)1が設けられ
ている。この遅延制御回路1は、マイクロプロセッサと
周辺回路とのインタフェース間における演算データやク
ロック信号などのタイミング調整を行う。また、周辺回
路は、たとえば、タイマ、シリアルコミュニケーション
インタフェース(SCI)などである。
In this embodiment, a semiconductor integrated circuit device such as a microcomputer is provided with a plurality of delay control circuits (delay control means) 1 as shown in FIG. The delay control circuit 1 adjusts the timing of operation data and clock signals between the interface between the microprocessor and the peripheral circuit. The peripheral circuit is, for example, a timer, a serial communication interface (SCI), or the like.

【0019】遅延制御回路1は、信号遅延部2、電源電
圧選択供給部3、選択信号制御部4、ならびに電源電圧
生成部5から構成されている。信号遅延部2は、入力さ
れた信号INをある遅延時間だけ遅延させた信号OUT
として出力する。
The delay control circuit 1 comprises a signal delay section 2, a power supply voltage selection supply section 3, a selection signal control section 4, and a power supply voltage generation section 5. The signal delay unit 2 outputs a signal OUT obtained by delaying the input signal IN by a certain delay time.
Output as

【0020】この信号遅延部2は、PチャネルMOS
(Metal Oxide Semiconducto
r)のトランジスタT1とNチャネルMOSのトランジ
スタT2とからなるインバータ6、および同様にPチャ
ネルMOSのトランジスタT3とNチャネルMOSのト
ランジスタT4とからなるインバータ7より構成されて
いる。
The signal delay unit 2 is a P-channel MOS
(Metal Oxide Semiconductor)
r), an inverter 6 including a transistor T1 and an N-channel MOS transistor T2, and an inverter 7 similarly including a P-channel MOS transistor T3 and an N-channel MOS transistor T4.

【0021】信号遅延部2は、インバータ6とインバー
タ7とを直列接続して遅延回路が構成されている。イン
バータ6においては、トランジスタT1の他方の接続部
が、トランジスタT2の一方の接続部に接続されてお
り、トランジスタT2の他方の接続部には基準電位VSS
が接続されている。
The signal delay section 2 forms a delay circuit by connecting the inverter 6 and the inverter 7 in series. In the inverter 6, the other connection of the transistor T1 is connected to one connection of the transistor T2, and the other connection of the transistor T2 is connected to the reference potential V SS.
Is connected.

【0022】トランジスタT1,T2のゲートには、遅
延される信号INが入力されるように接続されており、
トランジスタT1の一方の接続部には、電源電圧選択供
給部3から出力された電圧が入力されるように接続され
ている。
The gates of the transistors T1 and T2 are connected so as to receive a delayed signal IN.
One connection of the transistor T1 is connected so that the voltage output from the power supply voltage selection supply unit 3 is input.

【0023】このトランジスタT1,T2のゲートが、
インバータ6の入力部となり、トランジスタT2の一方
の接続部が接続されているトランジスタT1の他方の接
続部が、インバータ6の出力部となる。
The gates of the transistors T1 and T2 are
The other connection part of the transistor T1 to which the input part of the inverter 6 is connected and one connection part of the transistor T2 is connected becomes the output part of the inverter 6.

【0024】信号遅延部2のインバータ7は、トランジ
スタT3とトランジスタT4とのゲートがそれぞれ接続
されており、トランジスタT3の他方の接続部とトラン
ジスタT4の一方の接続部とがそれぞれ接続されてい
る。
In the inverter 7 of the signal delay unit 2, the gates of the transistors T3 and T4 are connected to each other, and the other connection of the transistor T3 is connected to one connection of the transistor T4.

【0025】これらトランジスタT3のゲートとトラン
ジスタT4のゲートとの接続部が、インバータ7の入力
部となり、トランジスタT4の一方の接続部が接続され
ているトランジスタT3の他方の接続部が、インバータ
7の出力部となる。この出力部から遅延された信号OU
Tが出力される。
The connection between the gate of the transistor T3 and the gate of the transistor T4 is the input of the inverter 7, and the other connection of the transistor T3, to which one connection of the transistor T4 is connected, is Output section. The signal OU delayed from this output
T is output.

【0026】トランジスタT4の他方の接続部には、基
準電位VSSが接続されており、トランジスタT3の一方
の接続部には、電源電圧選択供給部3から出力された電
圧が入力されるように接続されている。
The reference potential V SS is connected to the other connection of the transistor T 4, and the voltage output from the power supply voltage selection / supply unit 3 is input to one connection of the transistor T 3. It is connected.

【0027】また、電源電圧選択供給部3は、選択信号
制御部4の選択信号I1〜I4に基づいて電源電圧生成
部5が生成した電圧(動作電圧)V1〜V4を選択して
出力する。この電源電圧選択供給部3は、NチャネルM
OSのトランジスタ8〜11から構成されている。
The power supply voltage selection / supply unit 3 selects and outputs voltages (operating voltages) V1 to V4 generated by the power supply voltage generation unit 5 based on the selection signals I1 to I4 of the selection signal control unit 4. The power supply voltage selection / supply unit 3 includes an N-channel M
It is composed of OS transistors 8 to 11.

【0028】トランジスタ8のゲートには、選択信号制
御部4から出力される選択信号I1が入力されるように
接続されている。同様に、トランジスタ9〜11のゲー
トにも、選択信号制御部4から出力される選択信号I2
〜I4が入力されるようにそれぞれ接続されている。
The gate of the transistor 8 is connected to receive the selection signal I1 output from the selection signal control unit 4. Similarly, the selection signal I2 output from the selection signal control unit 4 is also applied to the gates of the transistors 9 to 11.
To I4 are input.

【0029】これらトランジスタ8〜11の他方の接続
部には、信号遅延部2におけるトランジスタT1,T3
の一方の接続部に共通して接続されており、インバータ
6,7の電源として供給されている。トランジスタ8〜
11の一方の接続部には、電源電圧生成部5によって生
成された各種レベルの電圧V1〜V4が入力されるよう
に接続されている。
The other connecting portions of the transistors 8 to 11 are connected to the transistors T1 and T3 in the signal delaying portion 2.
Are connected in common to one of the connection portions, and are supplied as power to the inverters 6 and 7. Transistor 8 ~
11 are connected to input one of various levels of voltages V1 to V4 generated by the power supply voltage generator 5.

【0030】さらに、前述したように選択信号制御部4
は、バッファあるいはレジスタなどから構成されてお
り、この選択信号制御部4の入力部は、所定の外部端子
に接続されている。
Further, as described above, the selection signal control unit 4
Is composed of a buffer or a register, and the input section of the selection signal control section 4 is connected to a predetermined external terminal.

【0031】選択信号制御部4は、外部端子から入力さ
れた設定制御信号CSに基づいて選択信号I1〜I4を
生成し、これら選択信号I1〜I4を保持しながらトラ
ンジスタ8〜11のゲートに出力する。
The selection signal controller 4 generates selection signals I1 to I4 based on the setting control signal CS input from an external terminal, and outputs the selection signals I1 to I4 to the gates of the transistors 8 to 11 while holding the selection signals I1 to I4. I do.

【0032】また、電源電圧生成部5は、電圧レベルの
異なる電圧V1〜V4を生成する。この電源電圧生成部
5は、抵抗12〜16から構成されており、これら抵抗
12〜16は、半導体集積回路装置の動作電圧である電
源電圧VCCと、基準電位VSSとの間に直列接続されてい
る。
The power supply voltage generator 5 generates voltages V1 to V4 having different voltage levels. The power supply voltage generator 5 includes resistors 12 to 16, which are connected in series between a power supply voltage V CC , which is an operating voltage of the semiconductor integrated circuit device, and a reference potential V SS. Have been.

【0033】電源電圧VCCが一方の接続部に供給され、
他方の接続部が抵抗13の一方の接続部に接続された抵
抗12の他方の接続部には、電源電圧選択供給部3にお
けるトランジスタ8の一方の接続部が接続されている。
よって、このトランジスタ8の一方の接続部には、抵抗
12と、抵抗13〜16の合成抵抗とによって分圧され
た電圧V1が供給されている。
A power supply voltage V CC is supplied to one connection,
The other connection of the resistor 12 whose other connection is connected to the one connection of the resistor 13 is connected to one connection of the transistor 8 in the power supply voltage selection supply unit 3.
Therefore, the voltage V1 divided by the resistor 12 and the combined resistor of the resistors 13 to 16 is supplied to one connection portion of the transistor 8.

【0034】同様に、抵抗14の一方の接続部に接続さ
れた抵抗13の他方の接続部には、電源電圧選択供給部
3におけるトランジスタ9の一方の接続部が接続されて
おり、このトランジスタ9の一方の接続部には、抵抗1
2,13の合成抵抗と、抵抗14〜16の合成抵抗とに
よって分圧された電圧V2が供給されている。
Similarly, one connection of the transistor 9 in the power supply voltage selection supply unit 3 is connected to the other connection of the resistor 13 connected to one connection of the resistor 14. Is connected to a resistor 1
The voltage V2 divided by the combined resistance of the resistors 2 and 13 and the combined resistance of the resistors 14 to 16 is supplied.

【0035】抵抗15の一方の接続部に接続された抵抗
14の他方の接続部には、電源電圧選択供給部3におけ
るトランジスタ10の一方の接続部が接続されており、
このトランジスタ10の一方の接続部には、抵抗12〜
14の合成抵抗と、抵抗15,16の合成抵抗とによっ
て分圧された電圧V3が供給されている。
The other connection of the resistor 14 connected to one connection of the resistor 15 is connected to one connection of the transistor 10 in the power supply voltage selection / supply unit 3.
One connection of the transistor 10 includes resistors 12 to
The voltage V3 divided by the combined resistance of the resistors 14 and 15 and 16 is supplied.

【0036】また、抵抗16の一方の接続部に接続され
た抵抗15の他方の接続部には、電源電圧選択供給部3
におけるトランジスタ11の一方の接続部が接続されて
おり、このトランジスタ11の一方の接続部には、抵抗
12〜15の合成抵抗と、抵抗16とによって分圧され
た電圧V4が供給されている。この場合、電圧V1から
電圧V4にかけて電圧が低くなることになる。
The other connection of the resistor 15 connected to one connection of the resistor 16 is connected to the power supply voltage selection and supply unit 3.
Is connected to one connection of the transistor 11, and a voltage V4 divided by the combined resistance of the resistors 12 to 15 and the resistor 16 is supplied to the one connection of the transistor 11. In this case, the voltage decreases from the voltage V1 to the voltage V4.

【0037】次に、本実施の形態の作用について説明す
る。
Next, the operation of the present embodiment will be described.

【0038】まず、信号遅延部2においては、トランジ
スタT1,T3の一方の接続部に供給される電圧が高く
なるにしたがってインバータ6,7のONタイミングが
早くなるので、遅延時間が短くなる。よって、信号遅延
部2に電圧V1が供給された場合に最も遅延時間が短く
なり、信号遅延部2に電圧V4が供給された際に最も遅
延時間が長くなる。
First, in the signal delay section 2, the ON timing of the inverters 6 and 7 is advanced as the voltage supplied to one connection section of the transistors T1 and T3 is increased, so that the delay time is shortened. Therefore, when the voltage V1 is supplied to the signal delay unit 2, the delay time becomes shortest, and when the voltage V4 is supplied to the signal delay unit 2, the delay time becomes longest.

【0039】所定の外部端子から選択信号制御部4に設
定制御信号CSが入力されると、この設定制御信号CS
に基づいて選択信号制御部4は、電源電圧選択供給部3
におけるトランジスタ8〜11のうち、任意の1つのト
ランジスタをONさせる選択信号I1〜I4を出力させ
る。
When a setting control signal CS is input to the selection signal control unit 4 from a predetermined external terminal, the setting control signal CS
The selection signal control section 4 is based on the
Select signals I1 to I4 for turning on any one of the transistors 8 to 11 in.

【0040】この時、選択信号I1〜I4と、信号遅延
部2によって遅延される遅延時間t1〜t4とは、図2
に示すようになる。図2において、最も遅延時間の短い
遅延時間t1を選択する際には、選択信号I1をハイレ
ベルとしてトランジスタ8をONさせ、選択信号I2〜
I4をローレベルとし、トランジスタ9〜11をOFF
させる。
At this time, the selection signals I1 to I4 and the delay times t1 to t4 delayed by the signal delay unit 2 are as shown in FIG.
It becomes as shown in. In FIG. 2, when selecting the delay time t1 having the shortest delay time, the selection signal I1 is set to the high level to turn on the transistor 8, and the selection signals I2 to I2 are selected.
Set I4 to low level and turn off transistors 9-11
Let it.

【0041】ここで、本実施の形態では、選択信号I1
〜I4によってトランジスタ8〜11をON/OFFさ
せているが、たとえば、選択信号制御部4の後段にマル
チプレクサを設け、選択するトランジスタだけをONさ
せるような回路構成とすることもできる。
Here, in the present embodiment, the selection signal I1
Although the transistors 8 to 11 are turned ON / OFF by I4, for example, a circuit may be provided such that a multiplexer is provided at the subsequent stage of the selection signal control unit 4 and only the selected transistor is turned ON.

【0042】よって、最も電圧レベルの高い電圧V1が
インバータ6,7に供給されることになり、信号遅延部
2に信号INが入力されたから信号OUTが出力される
までの時間は、最も遅延時間の短い遅延時間t1とな
る。
Therefore, the voltage V1 having the highest voltage level is supplied to the inverters 6 and 7, and the time from when the signal IN is input to the signal delay unit 2 to when the signal OUT is output is the longest delay time. Becomes a short delay time t1.

【0043】また、遅延時間t1よりも遅延時間の長い
遅延時間t2を選択する場合には、外部端子から設定制
御信号CSによって選択信号制御部4にデータを入力
し、選択信号I2をハイレベルとしてトランジスタ9を
ONさせ、選択信号I1,I3,I4をローレベルと
し、トランジスタ8,10,11をOFFさせることに
より、電圧V1よりも低い電圧V2がインバータ6,7
に供給されることになり、信号遅延部2に信号INが入
力されてから信号OUTが出力されるまでの時間は、遅
延時間t2となる。
When selecting the delay time t2 longer than the delay time t1, data is input to the selection signal control section 4 from the external terminal by the setting control signal CS, and the selection signal I2 is set to the high level. By turning on the transistor 9, setting the selection signals I 1, I 3, I 4 to low level and turning off the transistors 8, 10, 11, the voltage V 2 lower than the voltage V 1 is applied to the inverters 6, 7.
, And the time from when the signal IN is input to the signal delay unit 2 to when the signal OUT is output is a delay time t2.

【0044】同様に、トランジスタ10,11のいずれ
かをONさせることによって信号遅延部2の遅延時間を
遅延時間t3,t4に変更することができる。よって、
設定制御信号CSによって選択信号制御部4のデータ内
容を書き換えるだけで、信号遅延部2における信号の遅
延時間を任意に変更することができる。
Similarly, by turning on one of the transistors 10 and 11, the delay time of the signal delay unit 2 can be changed to the delay times t3 and t4. Therefore,
The signal delay time in the signal delay unit 2 can be arbitrarily changed only by rewriting the data content of the selection signal control unit 4 by the setting control signal CS.

【0045】それにより、本実施の形態においては、遅
延制御回路1により、半導体集積回路装置の製品完成後
であっても、フレキシブルに信号遅延部2における信号
の遅延時間を変更することができ、半導体集積回路装置
製造における工数、およびコストを下げることができ
る。
Thus, in the present embodiment, the delay time of the signal in the signal delay unit 2 can be flexibly changed by the delay control circuit 1 even after the product of the semiconductor integrated circuit device is completed. The man-hour and cost in manufacturing a semiconductor integrated circuit device can be reduced.

【0046】また、予備の遅延回路が不要となるので、
半導体チップを小面積化でき、半導体集積回路装置を小
型化することができる。
Further, since a spare delay circuit is not required,
The area of the semiconductor chip can be reduced, and the size of the semiconductor integrated circuit device can be reduced.

【0047】さらに、本実施の形態によれば、個々の遅
延制御回路1毎に電源電圧生成部5が設けられた構成と
したが、たとえば、図3に示すように、n個の信号遅延
部21 〜2n が設けられている場合、1つの電源電圧生
成部5、ならびにn個の電源電圧選択供給部31
n 、1つの選択信号制御部4によって遅延制御回路1
aを構成するようにしてもよい。
Further, according to the present embodiment, the power supply voltage generator 5 is provided for each delay control circuit 1. For example, as shown in FIG. 3, n signal delay units are provided. When 2 1 to 2 n are provided, one power supply voltage generation unit 5 and n power supply voltage selection supply units 3 1 to 3 n are provided.
3 n , the delay control circuit 1 by one selection signal control unit 4
a may be configured.

【0048】この場合、1つの電源電圧生成部5によっ
て生成された電圧が、電源電圧選択供給部31 〜3n
それぞれ入力され、外部端子から選択信号制御部4に入
力された設定制御信号CSに基づいて電源電圧選択供給
部31 〜3n が選択した任意の電圧が遅延制御回路1に
供給されることになる。それにより、電源電圧生成部5
が1つでよいので、半導体チップをより小面積化するこ
とができる。
[0048] In this case, the voltage generated by a single power supply voltage generation unit 5 is input to the power supply voltage selection supply means 3 1 to 3 n, setting control signal input from the external terminal to the selection signal control section 4 any voltage source voltage selection supply means 3 1 to 3 n are selected on the basis of the CS is to be supplied to the delay control circuit 1. Thereby, the power supply voltage generator 5
Is sufficient, so that the area of the semiconductor chip can be reduced.

【0049】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を
逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでも
ない。
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments of the present invention, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications may be made without departing from the gist of the invention. Needless to say, it can be changed.

【0050】たとえば、前記実施の形態においては、電
源電圧生成部によって4つの電圧を生成し、電源電圧選
択部によってこれら電圧のいずれか1つの電圧を信号遅
延部に供給する構成としたが、電源電圧生成部における
抵抗の数を増減させることによって電源電圧生成部が生
成する電圧レベルを5つ以上または3つ以下とする構成
にしてもよい。生成する電圧レベルを5つ以上にするこ
とより、信号の遅延時間をより細かく設定することがで
きる。
For example, in the above embodiment, the power supply voltage generator generates four voltages, and the power supply voltage selector supplies one of these voltages to the signal delay unit. By increasing or decreasing the number of resistors in the voltage generator, the voltage level generated by the power supply voltage generator may be five or more or three or less. By setting five or more voltage levels to be generated, the signal delay time can be set more finely.

【0051】また、前記実施の形態では、設定制御信号
によって選択回路制御部にデータを入力して選択信号を
生成していたが、この選択回路制御部を設けずに、所定
の外部端子から直接、電源電圧選択部のトランジスタを
ON/OFFさせるようにしてもよい。
In the above-described embodiment, the selection signal is generated by inputting data to the selection circuit control unit in accordance with the setting control signal. However, the selection circuit control unit is not provided, and the selection signal is directly provided from a predetermined external terminal. Alternatively, the transistor of the power supply voltage selection unit may be turned on / off.

【0052】この場合には、電源電圧選択部におけるト
ランジスタのゲートに外部端子の信号を入力できるよう
に接続することによって、電源電圧選択部のトランジス
タをON/OFF制御することができる。
In this case, by connecting the gate of the transistor in the power supply voltage selection unit so that a signal from an external terminal can be input, the transistor of the power supply voltage selection unit can be ON / OFF controlled.

【0053】[0053]

【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
Advantageous effects obtained by typical ones of the inventions disclosed by the present application will be briefly described as follows.
It is as follows.

【0054】(1)本発明によれば、電源電圧選択供給
部が電源電圧生成部が生成した電圧を選択信号に基づい
て選択し、信号遅延部の動作電圧として供給するので、
半導体集積回路装置の製品完成後であっても、フレキシ
ブル、かつ容易に信号遅延部における信号の遅延時間を
変更することができる。
(1) According to the present invention, the power supply voltage selection / supply unit selects the voltage generated by the power supply voltage generation unit based on the selection signal and supplies it as the operating voltage of the signal delay unit.
Even after the product of the semiconductor integrated circuit device is completed, the signal delay time in the signal delay unit can be changed flexibly and easily.

【0055】(2)また、本発明では、上記(1)によ
り、遅延回路の回路構成変更や予備の遅延回路などが不
要となるので、半導体チップを小面積化でき、半導体集
積回路装置を小型化しながら、半導体集積回路装置の製
造コストを下げることができる。
(2) In the present invention, according to the above (1), it is not necessary to change the circuit configuration of the delay circuit or to use a spare delay circuit, so that the semiconductor chip can be reduced in area and the semiconductor integrated circuit device can be reduced in size. The manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit device can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態による半導体集積回路装
置に設けられた遅延制御回路の回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a delay control circuit provided in a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態による遅延制御回路にお
ける選択信号と遅延時間との説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a selection signal and a delay time in a delay control circuit according to one embodiment of the present invention.

【図3】本発明の他の実施の形態による半導体集積回路
装置に設けられた遅延制御回路の回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram of a delay control circuit provided in a semiconductor integrated circuit device according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1a 遅延制御回路(遅延制御手段) 2 信号遅延部 21 〜2n 信号遅延部 3 電源電圧選択供給部 31 〜3n 電源電圧選択供給部 4 選択信号制御部 5 電源電圧生成部 6,7 インバータ 8〜11 トランジスタ 12〜16 抵抗 T1〜T4 トランジスタ I1〜I4 選択信号 V1〜V4 電圧(動作電圧) CS 設定制御信号1,1a delay control circuit (delay control means) 2 signal delay unit 2 1 to 2 n signal delay unit 3 supply voltage selection supply means 3 1 to 3 n supply voltage selection supply means 4 selection signal controller 5 supply voltage generator 6 , 7 Inverter 8-11 Transistor 12-16 Resistance T1-T4 Transistor I1-I4 Selection signal V1-V4 Voltage (operating voltage) CS setting control signal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中根 裕之 東京都小平市上水本町5丁目22番1号 株 式会社日立超エル・エス・アイ・システム ズ内 Fターム(参考) 5J001 AA04 AA05 BB00 BB12 DD06 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Hiroyuki Nakane 5-22-1, Kamizuhoncho, Kodaira-shi, Tokyo F-term in Hitachi Super LSI Systems, Ltd. (reference) 5J001 AA04 AA05 BB00 BB12 DD06

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力された信号をある時間だけ遅延して
出力する信号遅延部と、2つ以上の異なるレベルの電圧
を生成する電源電圧生成部と、前記電源電圧生成部が生
成した電圧を選択信号に基づいて選択し、前記信号遅延
部の動作電圧として供給する電源電圧選択供給部とより
なる遅延制御手段を備えたことを特徴とする半導体集積
回路装置。
1. A signal delay section for delaying an input signal by a certain time and outputting the same, a power supply voltage generator for generating two or more different levels of voltage, and a voltage generated by the power supply voltage generator. A semiconductor integrated circuit device, comprising: a delay control unit including a power supply voltage selection supply unit that selects based on a selection signal and supplies the power supply voltage as an operation voltage of the signal delay unit.
【請求項2】 請求項1記載の半導体集積回路装置にお
いて、前記遅延制御手段に、入力される設定制御信号に
基づいて選択信号を生成し、その選択信号を保持しなが
ら出力する選択信号制御部を設けたことを特徴とする半
導体集積回路装置。
2. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the delay control means generates a selection signal based on a setting control signal input thereto and outputs the selection signal while holding the selection signal. A semiconductor integrated circuit device comprising:
【請求項3】 請求項2記載の半導体集積回路装置にお
いて、前記選択信号制御部が、バッファまたはレジスタ
のいずれかであることを特徴とする半導体集積回路装
置。
3. The semiconductor integrated circuit device according to claim 2, wherein said selection signal control unit is one of a buffer and a register.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007124582A (en) * 2005-10-31 2007-05-17 Toshiba Corp Delay detection circuit, synchronizing detection circuit, radio reception apparatus and radio transmission apparatus
JP2009049494A (en) * 2007-08-14 2009-03-05 Fujitsu Ltd Variable delay circuit and semiconductor integrated circuit

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