JP2000346775A - 硬さ試験機用試料台 - Google Patents
硬さ試験機用試料台Info
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- JP2000346775A JP2000346775A JP11155465A JP15546599A JP2000346775A JP 2000346775 A JP2000346775 A JP 2000346775A JP 11155465 A JP11155465 A JP 11155465A JP 15546599 A JP15546599 A JP 15546599A JP 2000346775 A JP2000346775 A JP 2000346775A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ビッカース硬さ試験機等の硬さ試験機におい
て、測定結果に影響せず、かつ容易にフィルム状の試料
を固定出来る試験機用試料台を提供する。 【解決手段】所定の圧力を圧子を介して試料に伝達し、
試料に生じた圧痕から試料の硬さを測定する硬さ試験機
における試料を固定する硬さ試験機用試料台に、静電気
を発生させる静電気発生部と、前記試料が固定される表
面に設けられ、前記静電気発生部によって発生させた静
電気を帯電させる吸着面部とを備え、試料は静電気を帯
電した吸着面部に吸着されることにより固定される。
て、測定結果に影響せず、かつ容易にフィルム状の試料
を固定出来る試験機用試料台を提供する。 【解決手段】所定の圧力を圧子を介して試料に伝達し、
試料に生じた圧痕から試料の硬さを測定する硬さ試験機
における試料を固定する硬さ試験機用試料台に、静電気
を発生させる静電気発生部と、前記試料が固定される表
面に設けられ、前記静電気発生部によって発生させた静
電気を帯電させる吸着面部とを備え、試料は静電気を帯
電した吸着面部に吸着されることにより固定される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、硬さ試験機におけ
る試料を固定する硬さ試験機の試料台に関するものであ
る。
る試料を固定する硬さ試験機の試料台に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】硬さ試験機、例えばビッカース硬さ試験
機による硬さ試験の場合、試料台上に測定する試料を固
定し、試料の上方から試料に圧子を所定の力で押し付
け、試料に生じた窪みの大きさから硬さを求める。近
年、このような硬さ試験機で硬さを測定する試料は多種
多様にわたっており、フィルム状の試料なども多く試験
されるようになった。このようなフィルム状の試料は厚
さが薄く、剛性がないことから、一般の試料台では固定
が難しい。フィルム状試料を試料台に固定する固定方法
としては、ローラーで二方向から引っ張ることによって
試料を押さえつける試料台や、水分を試料と試料台との
間に介在させ、水分の表面張力によって試料を密着させ
る固定方法等がある。
機による硬さ試験の場合、試料台上に測定する試料を固
定し、試料の上方から試料に圧子を所定の力で押し付
け、試料に生じた窪みの大きさから硬さを求める。近
年、このような硬さ試験機で硬さを測定する試料は多種
多様にわたっており、フィルム状の試料なども多く試験
されるようになった。このようなフィルム状の試料は厚
さが薄く、剛性がないことから、一般の試料台では固定
が難しい。フィルム状試料を試料台に固定する固定方法
としては、ローラーで二方向から引っ張ることによって
試料を押さえつける試料台や、水分を試料と試料台との
間に介在させ、水分の表面張力によって試料を密着させ
る固定方法等がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ローラーで引
っ張る方法では、試料を固定するために試料に力をかけ
るため、試料を傷つけたり、試料自体に歪みを発生させ
たりして、本来の材料特性を正確に測定できない可能性
があるため、慎重に試料を固定しなければならない。ま
た、水分により試料を密着させる方法の場合、水分の膜
の厚さにより測定結果が左右されることが考えられるの
で、膜厚をほぼ均一にするのが煩雑である。
っ張る方法では、試料を固定するために試料に力をかけ
るため、試料を傷つけたり、試料自体に歪みを発生させ
たりして、本来の材料特性を正確に測定できない可能性
があるため、慎重に試料を固定しなければならない。ま
た、水分により試料を密着させる方法の場合、水分の膜
の厚さにより測定結果が左右されることが考えられるの
で、膜厚をほぼ均一にするのが煩雑である。
【０００４】そこで本発明の課題は、ビッカース硬さ試
験機等の硬さ試験機において、測定結果に影響させず、
かつ容易にフィルム状の試料を固定出来る試験機用試料
台を提供することである。
験機等の硬さ試験機において、測定結果に影響させず、
かつ容易にフィルム状の試料を固定出来る試験機用試料
台を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決すべく
請求項１記載の発明は、所定の圧力を圧子（４）を介し
て試料（１１）に伝達し、試料に生じた圧痕から試料の
硬さを測定する硬さ試験機（例えばビッカース硬さ試験
機１）における試料を固定する硬さ試験機用試料台
（７）であって、静電気を発生させる静電気発生部（７
２）と、前記試料と接する試料当接面に設けられ、前記
静電気発生部によって発生させた静電気を帯電させ、そ
の静電気の帯電により試料を吸着して固定する吸着面部
（７１）とを備えたことを特徴としている。
請求項１記載の発明は、所定の圧力を圧子（４）を介し
て試料（１１）に伝達し、試料に生じた圧痕から試料の
硬さを測定する硬さ試験機（例えばビッカース硬さ試験
機１）における試料を固定する硬さ試験機用試料台
（７）であって、静電気を発生させる静電気発生部（７
２）と、前記試料と接する試料当接面に設けられ、前記
静電気発生部によって発生させた静電気を帯電させ、そ
の静電気の帯電により試料を吸着して固定する吸着面部
（７１）とを備えたことを特徴としている。
【０００６】ここで、所定の圧力を圧子を介して試料に
伝達し、試料に生じた圧痕から試料の硬さを測定する硬
さ試験機とは、ビッカース硬さ試験機やブリネル硬さ試
験機等である。また、吸着面部は誘電率が高く、適当な
硬度を有するものであれば良く、例えば、硬質ゴム、プ
ラスチック、セラミック等の板が挙げられる。
伝達し、試料に生じた圧痕から試料の硬さを測定する硬
さ試験機とは、ビッカース硬さ試験機やブリネル硬さ試
験機等である。また、吸着面部は誘電率が高く、適当な
硬度を有するものであれば良く、例えば、硬質ゴム、プ
ラスチック、セラミック等の板が挙げられる。
【０００７】以上のように、請求項１記載の発明によれ
ば、試料台表面に静電気を帯電させることにより、試料
を静電気力によって容易に固定することができるので、
外乱の影響の少ない、より正確な測定結果を得ることが
できる。
ば、試料台表面に静電気を帯電させることにより、試料
を静電気力によって容易に固定することができるので、
外乱の影響の少ない、より正確な測定結果を得ることが
できる。
【０００８】請求項２記載の発明は、請求項１記載の硬
さ試験機用試料台であって、前記静電気発生部は、前記
吸着面部の下部に、互いに接しないように交互に固着さ
れた、導電性素材からなる多数の正電極（７３）と多数
の負電極（７４）と、この正電極及び負電極を覆う絶縁
体（７５）と、この正電極と負電極との間に電圧を印可
することによって静電気を発生させる電圧供給部（１
２）とを備えたことを特徴としている。
さ試験機用試料台であって、前記静電気発生部は、前記
吸着面部の下部に、互いに接しないように交互に固着さ
れた、導電性素材からなる多数の正電極（７３）と多数
の負電極（７４）と、この正電極及び負電極を覆う絶縁
体（７５）と、この正電極と負電極との間に電圧を印可
することによって静電気を発生させる電圧供給部（１
２）とを備えたことを特徴としている。
【０００９】ここで、正電極及び負電極は、導電性素材
であれば良く、例えば、金属や導電性プラスチックの板
などが挙げられる。また、正電極及び負電極には例えば
３００Ｖ〜１０００Ｖの直流電圧を印加するものとす
る。
であれば良く、例えば、金属や導電性プラスチックの板
などが挙げられる。また、正電極及び負電極には例えば
３００Ｖ〜１０００Ｖの直流電圧を印加するものとす
る。
【００１０】このように、請求項２記載の発明によれ
ば、多数の正電極及び負電極に電圧を印加して静電気を
発生させることにより、静電気は試料台上に均等に発生
するので試料の試料台への密着力も均等となる。
ば、多数の正電極及び負電極に電圧を印加して静電気を
発生させることにより、静電気は試料台上に均等に発生
するので試料の試料台への密着力も均等となる。
【００１１】請求項３記載の発明は、請求項２記載の硬
さ試験機用試料台であって、前記静電気発生部は、発生
する静電気量を制御する制御部（１３）を備え、前記制
御部は、前記電圧供給部によって正電極と負電極との間
に印可される電圧を変化させることにより発生する静電
気量を制御するように構成されていることを特徴として
いる。
さ試験機用試料台であって、前記静電気発生部は、発生
する静電気量を制御する制御部（１３）を備え、前記制
御部は、前記電圧供給部によって正電極と負電極との間
に印可される電圧を変化させることにより発生する静電
気量を制御するように構成されていることを特徴として
いる。
【００１２】このように、請求項３記載の発明によれ
ば、制御部で電圧供給部の正電極と負電極との間に印可
する電圧を変化することにより、静電気の発生量を容易
に変化させることができるので、発生させる静電気量を
増加させることにより、反りなどの変形を生じている試
料を容易に固定することができる。
ば、制御部で電圧供給部の正電極と負電極との間に印可
する電圧を変化することにより、静電気の発生量を容易
に変化させることができるので、発生させる静電気量を
増加させることにより、反りなどの変形を生じている試
料を容易に固定することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下に、本発明に係る硬さ試験機
用試料台の実施の形態例を図１と図２に基づいて説明す
る。先ず、図１は本発明を適用したビッカース硬さ試験
機の構造を示す正面図である。ビッカース硬さ試験機１
は本体部２と、本体部２の上側に取り付けられ、試料に
形成された圧痕を観察する測微顕微鏡３と、この測微顕
微鏡３の下部に設けられ、回転することにより圧子４と
対物レンズ５との切換が可能なターレット６と、前記本
体部２の下部に上下移動可能に取り付けられ、前記ター
レット６と対向配置された試料台７と、試料に負荷する
荷重を設定する荷重切換ノブ８と、試料台７を上下に移
動させる上下ハンドル９と、ビッカース硬さ試験機１の
動作指示を行う操作パネル１０と、前記試料台７の一部
に電圧を印加する電圧供給部１２（図示省略）と、前記
電圧供給部１２が前記試料台７の一部に印加する電圧を
制御する制御部１３（図示省略）等により構成されてい
る。
用試料台の実施の形態例を図１と図２に基づいて説明す
る。先ず、図１は本発明を適用したビッカース硬さ試験
機の構造を示す正面図である。ビッカース硬さ試験機１
は本体部２と、本体部２の上側に取り付けられ、試料に
形成された圧痕を観察する測微顕微鏡３と、この測微顕
微鏡３の下部に設けられ、回転することにより圧子４と
対物レンズ５との切換が可能なターレット６と、前記本
体部２の下部に上下移動可能に取り付けられ、前記ター
レット６と対向配置された試料台７と、試料に負荷する
荷重を設定する荷重切換ノブ８と、試料台７を上下に移
動させる上下ハンドル９と、ビッカース硬さ試験機１の
動作指示を行う操作パネル１０と、前記試料台７の一部
に電圧を印加する電圧供給部１２（図示省略）と、前記
電圧供給部１２が前記試料台７の一部に印加する電圧を
制御する制御部１３（図示省略）等により構成されてい
る。
【００１４】図２は試料台７の構成を示す試料台７要部
の縦断面図である。試料台７は、その表面に設けられた
静電気が帯電する吸着面部７１と、この吸着面部７１の
下部に設けられた静電気発生部７２等から構成されてい
る。１１は試料である。吸着面部７１は誘電率が高く
（例えば誘電率５．０以上）、垂直方向からの所定の荷
重（例えば１００ｇ程度）で変形を生じない程度の硬度
を有する板状の素材、例えばネオプレンゴム（誘電率
５．７〜６．５）等の硬質ゴム等とする。静電気発生部
７２は導電性プラスチック等の導電性素材からなる多数
の正電極７３と多数の負電極７４とが交互に、互いに接
しないように吸着面部７１に固着されている。そして、
各電極７３，７４の吸着面部７１に接していない部分
は、絶縁体からなる絶縁層７５で覆われている。正電極
７３と負電極７４との間には電圧供給部１２により例え
ば３００Ｖ〜１０００Ｖの直流電圧が印加されるように
なっている。この電圧供給部１２は制御部１３に接続さ
れており、制御部１３により正電極７３と負電極７４と
の間に印可される電圧が制御されている。
の縦断面図である。試料台７は、その表面に設けられた
静電気が帯電する吸着面部７１と、この吸着面部７１の
下部に設けられた静電気発生部７２等から構成されてい
る。１１は試料である。吸着面部７１は誘電率が高く
（例えば誘電率５．０以上）、垂直方向からの所定の荷
重（例えば１００ｇ程度）で変形を生じない程度の硬度
を有する板状の素材、例えばネオプレンゴム（誘電率
５．７〜６．５）等の硬質ゴム等とする。静電気発生部
７２は導電性プラスチック等の導電性素材からなる多数
の正電極７３と多数の負電極７４とが交互に、互いに接
しないように吸着面部７１に固着されている。そして、
各電極７３，７４の吸着面部７１に接していない部分
は、絶縁体からなる絶縁層７５で覆われている。正電極
７３と負電極７４との間には電圧供給部１２により例え
ば３００Ｖ〜１０００Ｖの直流電圧が印加されるように
なっている。この電圧供給部１２は制御部１３に接続さ
れており、制御部１３により正電極７３と負電極７４と
の間に印可される電圧が制御されている。
【００１５】次に本発明に係る試料台７に試料１１を固
定する動作について説明する。まず、試料１１を試料台
７上に乗せる。電圧供給部１２をＯＮにして正電極７３
と負電極７４との間に電圧をかけると静電気が発生す
る。吸着面部７１はこの静電気を帯電し、吸着面部７１
上の試料１１を引き付けて固定する。試料１１に反りや
歪みなどの変形が生じており、吸着面部７１に張り付き
にくい場合は、制御部１３により正電極７３と負電極７
４との間に印加される電圧を上げて発生する静電気量を
増加させ、試料１１を固定する。そして、荷重切換ノブ
８を回動して試料１１に付加する荷重を設定し、試料台
７上に固定した試料１１に圧子４を押し当てる。その後
圧子４を戻し、ターレット６を回転させて圧子４から対
物レンズ５に切換え、圧子４によって形成された圧痕を
測微顕微鏡３で観察し、試料１１の硬さを算出する。
定する動作について説明する。まず、試料１１を試料台
７上に乗せる。電圧供給部１２をＯＮにして正電極７３
と負電極７４との間に電圧をかけると静電気が発生す
る。吸着面部７１はこの静電気を帯電し、吸着面部７１
上の試料１１を引き付けて固定する。試料１１に反りや
歪みなどの変形が生じており、吸着面部７１に張り付き
にくい場合は、制御部１３により正電極７３と負電極７
４との間に印加される電圧を上げて発生する静電気量を
増加させ、試料１１を固定する。そして、荷重切換ノブ
８を回動して試料１１に付加する荷重を設定し、試料台
７上に固定した試料１１に圧子４を押し当てる。その後
圧子４を戻し、ターレット６を回転させて圧子４から対
物レンズ５に切換え、圧子４によって形成された圧痕を
測微顕微鏡３で観察し、試料１１の硬さを算出する。
【００１６】なお、本試料台に適用できる試料として
は、高分子で組成されるフィルム（例えばポリエステル
フィルムでは厚さが３ｍｍ以下のもの）、金属箔（例え
ば銅箔では厚さ０．８ｍｍ以下のもの、鉄箔では厚さ
０．３ｍｍ以下のもの）、紙状物等が固定可能であっ
た。また、極細のファイバー（例えば太さ２ｍｍ以下の
もの）等も適用可能であった。
は、高分子で組成されるフィルム（例えばポリエステル
フィルムでは厚さが３ｍｍ以下のもの）、金属箔（例え
ば銅箔では厚さ０．８ｍｍ以下のもの、鉄箔では厚さ
０．３ｍｍ以下のもの）、紙状物等が固定可能であっ
た。また、極細のファイバー（例えば太さ２ｍｍ以下の
もの）等も適用可能であった。
【００１７】このように、上記実施の形態の硬さ試験機
用試料台７によれば、静電気によって試料１１を吸着し
て固定するので、容易に固定することができ、正確な測
定結果を得ることができる。また、制御部１３により正
電極７３と負電極７４に印可する電圧を上げることによ
って、発生する静電気を増加させることができ、固定さ
れにくい試料１１でも容易に固定することができる。
用試料台７によれば、静電気によって試料１１を吸着し
て固定するので、容易に固定することができ、正確な測
定結果を得ることができる。また、制御部１３により正
電極７３と負電極７４に印可する電圧を上げることによ
って、発生する静電気を増加させることができ、固定さ
れにくい試料１１でも容易に固定することができる。
【００１８】なお、以上の実施の形態例においては、ビ
ッカース硬さ試験機を用いたが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、試料台上の試料に所定の圧力を圧子
を介して伝達し、生じた圧痕から試料の硬さを測定する
硬さ試験機であればよい。吸着面部として硬質ゴムを用
いたが、誘電率が高く硬い素材であれば良く、プラスチ
ックやセラミックの板等でも良い。また、正電極及び負
電極は導電性素材であれば何でも良く、導電性プラスチ
ックに限定されるものではない。また、印加電圧、誘電
率、試料の厚さ等は実施の形態例中に例示された値に限
定されるものではなく、適宜に変更可能である。電極の
形状、数量等も任意であり、その他、具体的な細部構造
等についても適宜に変更可能であることは勿論である。
ッカース硬さ試験機を用いたが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、試料台上の試料に所定の圧力を圧子
を介して伝達し、生じた圧痕から試料の硬さを測定する
硬さ試験機であればよい。吸着面部として硬質ゴムを用
いたが、誘電率が高く硬い素材であれば良く、プラスチ
ックやセラミックの板等でも良い。また、正電極及び負
電極は導電性素材であれば何でも良く、導電性プラスチ
ックに限定されるものではない。また、印加電圧、誘電
率、試料の厚さ等は実施の形態例中に例示された値に限
定されるものではなく、適宜に変更可能である。電極の
形状、数量等も任意であり、その他、具体的な細部構造
等についても適宜に変更可能であることは勿論である。
【００１９】
【発明の効果】以上のように、請求項１記載の発明に係
る硬さ試験機用試料台によれば、試料台表面に静電気を
帯電させることにより、試料を静電気力によって容易に
固定することができるので、外乱の影響の少ない、より
正確な測定結果を得ることができる。
る硬さ試験機用試料台によれば、試料台表面に静電気を
帯電させることにより、試料を静電気力によって容易に
固定することができるので、外乱の影響の少ない、より
正確な測定結果を得ることができる。
【００２０】請求項２記載の発明に係る硬さ試験機用試
料台によれば、多数の正電極及び負電極に電圧を印加し
て静電気を発生させることにより、静電気は試料台上に
均等に発生するので試料の試料台への密着力も均等とな
る。
料台によれば、多数の正電極及び負電極に電圧を印加し
て静電気を発生させることにより、静電気は試料台上に
均等に発生するので試料の試料台への密着力も均等とな
る。
【００２１】請求項３記載の発明に係る硬さ試験機用試
料台によれば、制御部で電圧供給部の正電極と負電極と
の間に印可する電圧を変化することにより、静電気の発
生量を容易に変化させることができるので、発生させる
静電気量を増加させることにより、反りなどの変形を生
じている試料を容易に固定することができる。
料台によれば、制御部で電圧供給部の正電極と負電極と
の間に印可する電圧を変化することにより、静電気の発
生量を容易に変化させることができるので、発生させる
静電気量を増加させることにより、反りなどの変形を生
じている試料を容易に固定することができる。
【図１】本発明を適用した一例としてのビッカース硬さ
試験機の構造を示す正面図である。
試験機の構造を示す正面図である。
【図２】試料台の構造を示す試料台要部の縦断面図であ
る。
る。
１ ビッカース硬さ試験機 ２ 本体部 ３ 測微顕微鏡 ４ 圧子 ５ 対物レンズ ６ ターレット ７ 試料台 ８ 荷重切換ノブ ９ 上下ハンドル １０操作パネル １１試料 １２電圧供給部 １３制御部 ７１吸着面部 ７２静電気発生部 ７３正電極 ７４負電極 ７５絶縁層
Claims (3)
- 【請求項１】所定の圧力を圧子を介して試料に伝達し、
試料に生じた圧痕から試料の硬さを測定する硬さ試験機
における試料を固定する硬さ試験機用試料台であって、 静電気を発生させる静電気発生部と、 前記試料と接する試料当接面に設けられ、前記静電気発
生部によって発生させた静電気を帯電させ、その静電気
の帯電により試料を吸着して固定する吸着面部と、を備
えたことを特徴とする硬さ試験機用試料台。 - 【請求項２】前記静電気発生部は、 前記吸着面部の下部に、互いに接しないように交互に固
着された、導電性素材からなる多数の正電極と多数の負
電極と、 この正電極及び負電極を覆う絶縁体と、 この正電極と負電極との間に電圧を印可することによっ
て静電気を発生させる電圧供給部と、を備えたこと、を
特徴とする請求項１記載の硬さ試験機用試料台。 - 【請求項３】前記静電気発生部は、発生する静電気量を
制御する制御部を備え、 前記制御部は、前記電圧供給部によって正電極と負電極
との間に印可される電圧を変化させることにより発生す
る静電気量を制御するように構成されていること、を特
徴とする請求項２記載の硬さ試験機用試料台。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11155465A JP2000346775A (ja) | 1999-06-02 | 1999-06-02 | 硬さ試験機用試料台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11155465A JP2000346775A (ja) | 1999-06-02 | 1999-06-02 | 硬さ試験機用試料台 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000346775A true JP2000346775A (ja) | 2000-12-15 |
Family
ID=15606656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11155465A Pending JP2000346775A (ja) | 1999-06-02 | 1999-06-02 | 硬さ試験機用試料台 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000346775A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010181301A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Mitsutoyo Corp | 粒子圧縮試験機及び粒子圧縮試験機用試料台 |
| JP2012002722A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-01-05 | Mitsutoyo Corp | 押込み試験機 |
| CN106018494A (zh) * | 2016-07-07 | 2016-10-12 | 昆山汉品电子有限公司 | 压缩回弹测试设备 |
-
1999
- 1999-06-02 JP JP11155465A patent/JP2000346775A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010181301A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Mitsutoyo Corp | 粒子圧縮試験機及び粒子圧縮試験機用試料台 |
| JP2012002722A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-01-05 | Mitsutoyo Corp | 押込み試験機 |
| CN106018494A (zh) * | 2016-07-07 | 2016-10-12 | 昆山汉品电子有限公司 | 压缩回弹测试设备 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A711 | Notification of change in applicant |
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