JP2000315073A - 画像描画装置、画像描画方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 多角形の各辺に現れる画素単位の階段状の境
界を滑らかに見せるアンチエイリアシング処理を少ない
メモリ容量下で高速におこなうことができる画像描画装
置、画像描画方法および記録媒体を提供すること。 【解決手段】 前回の描画位置を描画位置記憶部１６に
記憶しておき、線形補完処理部１７がこの描画位置記憶
部１６に記憶した前回の描画位置と今回の描画とから補
完対象画素を特定して、特定した補完対象画素の半透明
率を算定し、半透明率処理部１８が半透明率を用いて各
補完対象画素の画素値を算定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、多角形の画像デ
ータを画像メモリに格納しつつ、この画像データを表示
出力または印刷出力（以下「出力」と言う。）する出力
する際に生ずるエイリアシングを中間色で補完する画像
描画装置、画像処理方法および記録媒体に関し、特に、
多角形の各辺に現れる画素単位の階段状の境界を滑らか
に見せるアンチエイリアシング処理を少ないメモリ容量
下で高速におこなうことができる画像描画装置、画像処
理方法および記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、ディスプレイ装置やスクリーンな
どに多角形を表示すると、その境界にエイリアシング
（aliasing）と呼ばれる階段状の部分が生ずるため、こ
のエイリアシングを取り除くアンチエイリアシング（an
ti-aliasing）技術を採用した画像描画装置が知られて
いる。このアンチエイリアシング技術とは、図形の境界
部分に中間色を与え、境界部分の輝度差を目立たせない
ようにする技術である。

【０００３】かかる従来の代表的なアンチエイリアシン
グ技術として、オーバーサンプリング方式、面積比方式
および２度描き方式などがある。オーバーサンプリング
方式とは、表示画素よりも大きな画像空間に多角形など
を描画し、これを縮小して表示する際に、複数の画素を
混ぜ合わせて１表示画素とする技術である。

【０００４】また、面積比方式とは、多角形の各辺を形
成する直線を画素よりも細かな単位で算出し、境界画素
において多角形が本来占める面積の割合を算出し、その
割合にしたがって、すでに描画されている画素との間で
半透明処理をおこなう技術である。

【０００５】さらに、２度描き方式とは、アンチエイリ
アシング処理をおこなう直線描画装置を有し、多角形の
描画とは別個に多角形の各辺に沿ってアンチエイリアシ
ング処理を施した直線描画をおこなう技術である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来のアンチエイリアシング技術を用いた場合には、大
きなメモリ容量を要したり、描画処理が遅延するという
問題が生ずる。すなわち、上記オーバーサンプリング方
式を用いた場合には、本来表示に必要となるメモリ領域
よりも大きなメモリ領域を描画空間用に保持しなければ
ならず、また描画空間を広げた分だけ処理負担が増加し
て処理遅延が生ずる。

【０００７】また、面積比方式を用いた場合には、境界
部分を形成する各画素ごとに面積を算出する処理をおこ
なう必要があるため、描画処理に時間を要するという問
題が生ずる。

【０００８】さらに、２度描き方式を用いた場合には、
本来の多角形描画処理のほかに、この多角形描画処理と
独立な直線描画処理をおこなわなければならないため、
近傍のメモリ領域ほど高速に処理できるというメモリ一
般の利点を活かせず、結果的に処理遅延が生ずる。

【０００９】このように、従来のアンチエイリアシング
処理では、メモリ容量および処理遅延の観点から見て大
きな問題があったため、多角形の各辺に現れる画素単位
の階段状の境界を滑らかに見せるアンチエイリアシング
処理を少ないメモリ容量下でいかに高速に実現するかが
極めて重要な課題となっている。

【００１０】この発明は、上記問題（課題）に鑑みてな
されたものであり、多角形の各辺に現れる画素単位の階
段状の境界を滑らかに見せるアンチエイリアシング処理
を少ないメモリ容量下で高速におこなうことができる画
像描画装置、画像描画方法および記録媒体を提供するこ
とを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明に係る画像描画装置は、画像メモリ
に多角形の一部をなす画素の画情報を格納する際に、図
２に示す線形補完処理部１７が該画素の画素位置と画像
メモリに以前に格納した画素の画素位置との差分に基づ
いて、エイリアシングの補完対象となる画素列を特定
し、特定した画素列の画素数に基づいて該画素列を形成
する各画素の半透明率を算定し、図２に示す半透明率処
理部１８がこの線形補完処理部１７により算定された半
透明率に基づいて補完対象となる画素列の半透明処理を
おこなうこととしたので、多角形を画像メモリに描画す
る際に、描画メモリ以外の作業メモリ領域を必要とする
ことなく、高速にアンチエイリアシング処理をおこなう
ことができる。

【００１２】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項１の発明において、図２に示す傾き算出部１１が多角
形の辺の傾きを算定し、算定した傾きが４５度を越える
場合には、列方向の画素位置と行方向の画素位置を変換
して補完対象となる画素列を特定するようにしてもよ
い。これにより、傾きが４５度未満または４５度を超え
るいずれの場合であっても、効率良くアンチエイリアシ
ング処理をおこなうことができる。

【００１３】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項１の発明において、画像メモリに前回格納した第１の
画素の画素位置と、該画像メモリに現在格納する第２の
画素の画素位置との間に所在する画素数を算定し、この
第１の画素に隣接する当該画素数分の画素列を補完対象
となる画素列とするようにしてもよい。これにより、補
完対象となる画素列を効率良く特定することができる。

【００１４】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項１の発明において、特定された画素列を形成する各画
素の半透明率を線形に増加させるようにしてもよい。こ
れにより、補完対象となる画素列を形成する画素に迅速
に半透明率を割り当てることができる。

【００１５】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項１の発明において、特定された画素列の画素数に基づ
いて半透明率の基準値（補完値差分）を算定し、図３に
示すカウンタ１７ｆ、半透明率出力部１７ｇおよび加算
器１７ｈによりこの基準値を巡回的に加算した値を画素
列を形成する各画素の半透明率とするようにしてもよ
い。これにより、巡回回路を用いて軽易に半透明率を算
出することができる。

【００１６】また、請求項２の発明に係る画像描画装置
は、図９に示す傾き算出部１１が多角形の辺の傾きを算
定し、算定した傾きから算出した補完対象となる画素の
座標位置に基づいて図９に示す小数部９１、小数部９
２、選択器９３および減算器９４が該画素の半透明率を
算定し、算定した半透明率に基づいて図９に示す半透明
処理部１８が補完対象となる画素の半透明処理をおこな
うこととしたので、座標の小数部分を用いた極めて単純
な演算のみで高速に半透明処理をおこなうことができ
る。

【００１７】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項２の発明において、算定された傾きが４５度未満の場
合には列方向の画素位置の小数部分を基準として半透明
率を算定し、該傾きが４５度を超える場合には行方向の
画素位置の小数部分を基準として半透明率を算定するよ
うにしてもよい。これにより、傾きが４５度未満または
４５度を超えるいずれの場合であっても、効率良くアン
チエイリアシング処理をおこなうことができる。

【００１８】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項２の発明において、算定された傾きから算出した補完
対象となる画素の座標位置の小数部分を１から減算した
値を半透明率とするようにしてもよい。これにより、減
算という単純な演算のみで半透明率を高速に算定するこ
とができる。

【００１９】さらに、本発明に係る画像描画装置は、図
９に示す小数部９１および小数部９２により補完対象と
なる画素の列方向および行方向の座標位置の小数部分を
それぞれ抽出し、算出された傾きに基づいて抽出したい
ずれか一方の小数部分を図９に示す選択器９３が選択
し、図９に示す減算器９４を用いて選択された小数部分
を１から減算するようにしてもよい。これにより、行お
よび列の小数部のいずれかを１から減算するという極め
て単純な演算のみで半透明率を算定することができる。

【００２０】また、請求項３の発明に係る画像描画装置
は、図１１に示す傾き算出部１１が多角形の辺の傾きを
算出し、図１１に示す線形補完部１７が画像メモリに多
角形の一部をなす画素の画情報を格納する際に、該画素
の画素位置と画像メモリに以前に格納した画素の画素位
置との差分に基づいて、エイリアシングの補完対象とな
る画素列を特定し、特定した画素列の画素数に基づいて
該画素列を形成する各画素の半透明率を算定するか、ま
たは図１１に示す小数部９２および減算器９４により傾
き算出部１１が算出した傾きから補完対象となる画素の
座標位置に基づいて該画素の半透明率を算定するかによ
って半透明率を求め、いずれかで求めた半透明率に基づ
いて図１１に示す半透明処理部１８が補完対象となる各
画素の半透明処理をおこなうこととしたので、半透明率
を２種類の半透明率算定手段の適切な一方を用いて効率
良くアンチエイリアシング処理をおこなうことができ
る。

【００２１】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項３の発明において、算定された傾きが４５度未満の場
合には、前者の半透明率算定手段により半透明率を算定
し、該傾きが４５度を超える場合には、後者の半透明率
算定手段により半透明率を算定するようにしてもよい。
これにより、辺の傾きが４５度未満であるか４５度を超
えるかによってより適切な半透明率算定手段を用いた半
透明率の算定をおこなうことができる。

【００２２】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項１、２または３の発明において、多角形を形成する画
素の画情報を前記半透明率に乗算した値と、半透明率を
１から減算した値（１−半透明率）を多角形以外の背景
をなす画素の画情報に乗算した値とを加算した加算値を
画素列を形成する各画素の画情報とすることとしたの
で、簡単な演算で効率良く半透明処理をおこなうことが
できる。

【００２３】また、本発明に係る画像描画装置は、請求
項１、２または３の発明において、オン／オフ器１９に
より算定した傾きが４５度でない場合には半透明処理を
可能とし、該傾きが４５度である場合には半透明処理を
不能とするようにしてもよい。これにより、エイリアシ
ングが生じない場合の処理をなくし、もって処理をさら
に高速化することができる。

【００２４】また、請求項４の発明に係る画像描画方法
は、画像メモリに多角形の一部をなす画素の画情報を格
納する際に、該画素の画素位置と画像メモリに以前に格
納した画素の画素位置との差分に基づいて、エイリアシ
ングの補完対象となる画素列を特定し、特定した画素列
の画素数に基づいて該画素列を形成する各画素の半透明
率を算定し、算定した半透明率に基づいて補完対象とな
る画素列の半透明処理をおこなうこととしたので、多角
形を画像メモリに描画する際に、描画メモリ以外の作業
メモリ領域を必要とすることなく、高速にアンチエイリ
アシング処理をおこなうことができる。

【００２５】また、本発明に係る画像描画方法は、請求
項４の発明において、多角形の辺の傾きを算定し、算定
した傾きが４５度を越える場合には、列方向の画素位置
と行方向の画素位置を変換して補完対象となる画素列を
特定するようにしてもよい。これにより、傾きが４５度
未満または４５度を超えるいずれの場合であっても、効
率良くアンチエイリアシング処理をおこなうことができ
る。

【００２６】また、本発明に係る画像描画方法は、請求
項４の発明において、画像メモリに前回格納した第１の
画素の画素位置と、該画像メモリに現在格納する第２の
画素の画素位置との間に所在する画素数を算定し、この
第１の画素に隣接する当該画素数分の画素列を補完対象
となる画素列とするようにしてもよい。これにより、補
完対象となる画素列を効率良く特定することができる。

【００２７】また、本発明に係る画像描画方法は、請求
項４の発明において、特定された画素列を形成する各画
素の半透明率を線形に増加させるようにしてもよい。こ
れにより、補完対象となる画素列を形成する画素に迅速
に半透明率を割り当てることができる。

【００２８】また、本発明に係る画像描画方法は、請求
項４の発明において、特定された画素列の画素数に基づ
いて半透明率の基準値（補完値差分）を算定し、算定し
た基準値を巡回的に加算した値を画素列を形成する各画
素の半透明率とするようにしてもよい。これにより、巡
回回路を用いて軽易に半透明率を算出することができ
る。

【００２９】また、請求項５の発明に係る画像描画方法
は、多角形の辺の傾きを算定し、算定された傾きから算
出した補完対象となる画素の座標位置に基づいて該画素
の半透明率を算定し、算定された半透明率に基づいて補
完対象となる画素の半透明処理をおこなうこととしたの
で、座標の小数部分を用いた極めて単純な演算のみで高
速に半透明処理をおこなうことができる。

【００３０】また、本の発明に係る画像描画方法は、請
求項５の発明において、算定された傾きが４５度未満の
場合には列方向の画素位置の小数部分を基準として半透
明率を算定し、該傾きが４５度を超える場合には行方向
の画素位置の小数部分を基準として半透明率を算定する
ようにしてもよい。これにより、傾きが４５度未満また
は４５度を超えるいずれの場合であっても、効率良くア
ンチエイリアシング処理をおこなうことができる。

【００３１】また、本発明に係る画像描画方法は、請求
項５の発明において、算定された傾きから算出した補完
対象となる画素の座標位置の小数部分を１から減算した
値を半透明率とすることとしてもよい。これにより、減
算という単純な演算のみで半透明率を高速に算定するこ
とができる。

【００３２】また、本発明に係る画像描画方法は、さら
に、補完対象となる画素の列方向および行方向の座標位
置の小数部分をそれぞれ抽出し、算出された傾きに基づ
いて抽出したいずれか一方の小数部分を選択し、選択さ
れた小数部分を１から減算するようにしてもよい。これ
により、行および列の小数部のいずれかを１から減算す
るという極めて単純な演算のみで半透明率を算定するこ
とができる。

【００３３】また、請求項６の発明に係る画像描画方法
は、多角形の辺の傾きを算定し、画像メモリに多角形の
一部をなす画素の画情報を格納する際に、該画素の画素
位置と画像メモリに以前に格納した画素の画素位置との
差分に基づいて、エイリアシングの補完対象となる画素
列を特定し、特定した画素列の画素数に基づいて該画素
列を形成する各画素の半透明率を算定するか、または算
定された傾きから算出した補完対象となる画素の座標位
置に基づいて該画素の半透明率を算定するかによって半
透明率を求め、いずれかで求めた半透明率に基づいて補
完対象となる各画素の半透明処理をおこなうこととした
ので、辺の傾きが４５度未満であるか４５度を超えるか
によってより適切な半透明率算定手段を用いた半透明率
の算定をおこなうことができる。

【００３４】また、本発明に係る画像描画方法は、請求
項４、５または６の発明において、多角形を形成する画
素の画情報を前記半透明率に乗算した値と、半透明率を
１から減算した値（１−半透明率）を多角形以外の背景
をなす画素の画情報に乗算した値とを加算した加算値を
画素列を形成する各画素の画情報とするようにしてもよ
い。これにより、簡単な演算で効率良く半透明処理をお
こなうことができる。

【００３５】また、本発明に係る画像描画方法は、請求
項４、５または６の発明において、オン／オフ器１９に
より算定した傾きが４５度でない場合には半透明処理を
可能とし、該傾きが４５度である場合には半透明処理を
不能とするようにしてもよい。これにより、エイリアシ
ングが生じない場合の処理をなくし、もって処理をさら
に高速化することができる。

【００３６】また、請求項７の発明に係る記録媒体は、
画像メモリに多角形の一部をなす画素の画情報を格納す
る際に、該画素の画素位置と画像メモリに以前に格納し
た画素の画素位置との差分に基づいて、エイリアシング
の補完対象となる画素列を特定し、特定した画素列の画
素数に基づいて該画素列を形成する各画素の半透明率を
算定し、算定した半透明率に基づいて補完対象となる画
素列の半透明処理をおこなうこととしたので、多角形を
画像メモリに描画する際に、描画メモリ以外の作業メモ
リ領域を必要とすることなく、高速にアンチエイリアシ
ング処理をおこなう動作をコンピュータによって実現す
ることができる。

【００３７】また、請求項８の発明に係る記録媒体は、
多角形の辺の傾きを算定し、算定した傾きから算出した
補完対象となる画素の座標位置に基づいて該画素の半透
明率を算定し、算定した半透明率に基づいて補完対象と
なる画素の半透明処理をおこなうこととしたので、座標
の小数部分を用いた極めて単純な演算のみで高速に半透
明処理をおこなう動作をコンピュータによって実現する
ことができる。

【００３８】また、請求項９の発明に係る記録媒体は、
多角形の辺の傾きを算定し、画像メモリに多角形の一部
をなす画素の画情報を格納する際に、該画素の画素位置
と画像メモリに以前に格納した画素の画素位置との差分
に基づいて、エイリアシングの補完対象となる画素列を
特定し、特定した画素列の画素数に基づいて該画素列を
形成する各画素の半透明率を算定するか、または算定さ
れた傾きから算出した補完対象となる画素の座標位置に
基づいて該画素の半透明率を算定するかによって半透明
率を求め、いずれかで求めた半透明率に基づいて補完対
象となる各画素の半透明処理をおこなうこととしたの
で、辺の傾きが４５度未満であるか４５度を超えるかに
よってより適切な半透明率算定手段を用いた半透明率の
算定をおこなう動作をコンピュータによって実現するこ
とができる。

【００３９】

【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係る画像描画装置、画像描画方法およびその方法
をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコン
ピュータ読み取り可能な記録媒体の好適な実施の形態を
詳細に説明する。なお以下では、本発明に係わる描画位
置差分の線形補完方式を実施の形態１で説明し、描画座
標小数部利用方式を実施の形態２で説明し、これらの複
合方式を実施の形態３で説明することとする。

【００４０】（実施の形態１）まず最初に、本実施の形
態１で用いる描画位置差分の線形補完方式の概念につい
て説明する。この描画位置差分の線形補完方式は、直前
の描画位置を記憶しておき、記憶した直前の描画位置と
現在の描画位置とから処理対象となる領域を特定し、特
定した領域に含まれる画素にアンチエイリアシング処理
を施して画素値を補完するものである。

【００４１】図１は、この実施の形態１で用いる描画位
置差分の線形補完方式の概念を示す説明図である。図中
の０〜６は行番号を示し、Ａ〜Ｇは列番号を示し、黒丸
で示す画素が多角形の一部を形成する画素とする。な
お、ここでは多角形を行単位で分割し、行ごとに描画す
る場合を示すこととする。

【００４２】同図（ａ）に示すように、あらかじめ記憶
した直前（前回）の描画位置を行１の列Ｆ（以下、
（Ｆ，１）と表記する。）とし、現在の描画位置を
（Ｂ，２）とすると、図中の破線で囲んだ領域２０に含
まれる画素（Ｃ，１）、（Ｄ，１）および（Ｅ，１）が
アンチエイリアシング処理の処理対象となる。

【００４３】そして、まず最初にこの領域２０の両端に
位置する描画済みの画素の画素値を用いて領域２０に含
まれる画素（Ｃ，１）、（Ｄ，１）および（Ｅ，１）の
半透明処理の割合（半透明率）を決定する。

【００４４】具体的には、同図（ａ）に示す場合には、
この領域２０の右側に位置する画素（Ｆ，１）の半透明
率を１００％とし、また（Ｂ，１）の半透明率を０％と
して、その間の半透明率を一定の割合で変化させる。そ
の結果、画素（Ｃ，１）の半透明率が２５％となり、画
素（Ｄ，１）の半透明率が５０％となり、画素（Ｅ，
１）の半透明率が７５％となる。なお、この半透明率が
１００％であるとは、透過しないことを意味し、たとえ
ば背景が白色の白黒画像の場合には、黒画素に相当す
る。また、半透明率が０％であるとは、完全に透過して
背景色そのものとすることを意味し、たとえば背景が白
画素の白黒画像の場合には白画素に相当する。

【００４５】ここで、この半透明処理では、領域２０の
次の行に位置する画素列（Ｃ，２）〜（Ｅ，２）を描画
元とし、領域２０に含まれる画素列（Ｃ，１）〜（Ｅ，
１）を描画先とし、描画元の画素と描画先の画素との間
で半透明処理をおこなって、その結果を描画先の画素に
描画する。たとえば、画素（Ｃ，１）については、描画
元の画素（Ｃ，２）と描画先の画素（Ｃ，１）との間で
半透明処理をおこない、その結果を画素（Ｃ，１）に描
画することになる。

【００４６】このように、多角形を行単位で分割して行
ごとに描画することとすると、同図（ａ）に示すよう
に、多角形の辺の傾きが４５度未満となる場合には上記
処理を適用することができるが、同図（ｂ）に示すよう
に、多角形の辺の傾きが４５度を越える場合には、同様
の手順で領域２１を特定することはできない。このた
め、かかる場合には、行と列の関係を入れ替えて上記処
理をおこなう。なお以下では、ｘｙ平面上でｘ＝ｙまた
はｘ＝−ｙに該当するエイリアシングが生じない場合を
傾きが４５度であるとする。なお、この場合に、ｘ＝０
またはｙ＝０の場合も含めて考えるものとする。

【００４７】このように、本実施の形態１に係る描画位
置差分の線形補完方式では、直前の描画位置を記憶し、
記憶した直前の描画位置と現在の描画位置とから処理対
象となる領域を特定し、特定した領域に含まれる画素に
アンチエイリアシング処理を施して画素値を補完する。

【００４８】次に、本実施の形態１に係る描画位置差分
の線形補完方式を用いた画像描画装置の構成について説
明する。なお、ここでは行ごとに画素描画をおこないつ
つ、その１行前の画素をアンチエイリアシング処理する
ものとする。

【００４９】図２は、本実施の形態１に係る描画位置差
分の線形補完方式を用いた画像描画装置の構成を示すブ
ロック図である。同図に示す画像描画装置１０は、傾き
算出部１１と、列方向座標算出部１２と、行方向座標算
出部１３と、画素描画処理部１４と、フレームバッファ
１５と、描画位置記憶部１６と、線形補完処理部１７
と、半透明処理部１８と、オン／オフ器１９とを有す
る。

【００５０】傾き算出部１１は、多角形の辺の傾きを算
出する処理部であり、算出した傾きを線形補完処理部１
７およびオン／オフ器１９に出力する。算出した傾きを
線形補完処理部１７に出力する理由は、線形補完部１７
において傾きが４５度未満か否かにより行と列を入れ替
えた処理をおこなうためである。また、算出した傾きを
オン／オフ器１９に出力する理由は、傾きが４５度の場
合にはこのオン／オフ器１９をオフにしてアンチエイリ
アシング処理自体をおこなわないようにするためであ
る。

【００５１】列方向座標算出部１２は、フレームバッフ
ァ１５に描画する列方向の座標位置を算出する処理部で
あり、行方向座標算出部１３は、フレームバッファ１５
に描画する行方向の座標位置を算出する処理部である。

【００５２】画素描画処理部１４は、列方向座標算出部
１２が算出した列座標および行方向座標算出部１３が算
出した行座標で指示されたフレームバッファ１５上の座
標位置に画素値を付与して画像を描画する処理部であ
る。フレームバッファ１５は、多角形の画像データを格
納する２次元メモリである。たとえば、このフレームバ
ッファ１５としてダイナミックＲＡＭ（Random Access
Memory）を使用することができる。このダイナミックＲ
ＡＭは、連続領域での処理が最も効率が良いため、かか
るダイナミックＲＡＭの特性を活かして、多角形を行単
位に分割し、行ごとに描画する。

【００５３】描画位置記憶部１６は、直前（前回）の描
画位置である列方向の座標と行方向の座標を記憶する記
憶部である。行方向の座標を記憶する理由は、傾き算出
部１１が算出した傾きが４５度未満の場合に、行方向の
座標と列方向の座標の入れ替えをおこなうためである。

【００５４】線形補完処理部１７は、本発明に係る描画
位置差分の線形補完処理をおこなう処理部である。具体
的には、この線形補完処理部１７では、前回の描画位置
と今回の描画位置との描画位置差分を求め、求めた描画
位置差分に基づいて処理対象領域を特定し、特定した処
理対象領域に所在する画素の半透明率（透過率）を求め
る。

【００５５】半透明処理部１８は、線形補完処理部１７
により算出した半透明率に基づいて、処理対象領域に所
在する画素（描画先の画素）と描画元の画素との間で半
透明処理をおこなう処理部である。

【００５６】オン／オフ器１９は、傾き算出部１１が算
出した傾きに基づいて半透明処理をおこなうか否かを切
り換える切換器であり、具体的には、傾き算出部１１が
算出した傾きが４５度である場合には、階段状のエイリ
アシングがもともと生じないため、このオン／オフ器１
９をオフにしてアンチエイリアシング処理をおこなわな
いようにする。また、この傾きが４５度以外であれば、
エイリアシングが生じるため、このオン／オフ器１９を
オンにしてアンチエイリアシング処理をおこなう。

【００５７】上記構成を有する画像描画装置１０を用い
ることにより、上記描画位置差分の線形補完方式を用い
たアンチエイリアシング処理をおこないつつ、フレーム
バッファ１５への画像の描画をおこなうことができる。
なお、このフレームバッファ１５に描画した画像データ
は、図示しない表示制御部または印刷制御部により表示
装置または印刷装置に出力される。

【００５８】すなわち、この画像描画装置１０では、多
角形の描画情報が入力されると、傾き算出部１１が辺の
傾きを算出した後、列方向座標算出部１２および行方向
座標算出部１３がそれぞれ列方向座標および行方向座標
を算出し、画像描画処理部１４がフレームバッファ１５
の該当する座標位置に画素値を格納する。

【００５９】ここで、描画位置記憶部１６には、前回の
描画位置が記憶されているので、線形補完処理部１７は
この前回の描画位置と今回の描画位置とを用いて半透明
率を算出し、算出した半透明率を用いて半透明処理部１
８が半透明処理をおこなう。なお、この半透明処理部１
８がおこなう半透明処理には、描画先の画素と描画元の
画素の画素値が必要となるため、必要な画素値について
はフレームバッファ１５から取り込むことになる。

【００６０】次に、図２に示す線形補完処理部１７の具
体的な構成について説明する。図３は、図２に示す線形
補完処理部１７の具体的な構成を示す図である。同図に
示すように、この線形補完処理部１７は、選択器１７ａ
および１７ｂと、減算器１７ｃと、除算器１７ｄと、補
完値差分保持部１７ｅと、カウンタ１７ｆと、半透明率
出力部１７ｇと、加算器１７ｈとを有する。

【００６１】そして、この線形補完処理部１７では、傾
き算出部１１が算出した傾きに基づいて、選択器１７ａ
および１７ｂを用いて前回位置と今回位置とを選択す
る。具体的には、この選択器１７ａでは、傾き算出部１
１が算出した角度が４５度未満であれば、描画位置記憶
部１６に記憶した列方向の座標を前回位置の列方向の座
標として選択し、４５度を超える場合には、描画位置記
憶部１６に記憶した行方向の座標を前回位置の列方向の
座標として選択する。

【００６２】また、選択器１７ｂでは、傾き算出部１１
が算出した傾きが４５度未満であれば、列方向座標算出
部１２が算出した列方向の座標を今回の列方向の座標と
して選択し、４５度を超える場合には、行方向座標算出
部１３が算出した行方向の座標を今回の列方向の座標と
して選択する。

【００６３】その後、減算器１７ｃは、前回位置の列方
向の座標と今回の列方向の座標の差分を求め、アンチエ
イリアシング処理の処理対象となる画素の画素数を取得
する。ここで、処理対象となる画素数を算出すれば、基
準となる前回位置がわかっているので、結果的に処理対
象となる画素を特定できる。なお、行方向の座標の差分
値を求めていない理由は、ここでは画素描画処理部１４
が画素を描画する行から１行遅れてアンチエイリアシン
グを処理をおこなうこととしているためである。

【００６４】具体的には、図１（ａ）の場合には、前回
位置の列方向の座標から今回位置の列方向の座標を減算
すると４画素となる。なお、ここでは処理対象を４画素
として算定するが、後述する処理で１画素目の半透明率
は０％となるため、実質上の処理対象は上述したように
画素（Ｃ，１）〜（Ｅ，１）の３画素となる。

【００６５】その後、除算器１７ｄにおいて「１」を減
算器１７ｃの出力値で除算し、補完値差分を取得し、補
完値差分保持部１７ｅに保持する。たとえば、減算器１
７ｃの出力値が「４」である場合には、かかる補完値差
分は０．２５となる。

【００６６】一方、減算器１７ｃからの出力値はカウン
タ１７ｆに入力され、カウンタ１７ｆのカウント値に画
素数が設定される。たとえば、減算器１７ｃからの出力
値が「４」であれば、カウンタ１７ｆのカウント値が
「４」となる。

【００６７】そして、半透明率出力部１７ｇが、その初
期値である「０」を加算器１７ｈおよび半透明処理部１
８に出力すると、加算器１７ｈがこの半透明率出力部１
７ｇからの出力と補完値差分保持部１７ｅが保持した補
完値差分とを加算して、半透明率出力部１７ｇに出力す
る。たとえば、補完値差分保持部１７ｅが保持する補完
値差分が０．２５の場合には、この０．２５が半透明率
出力部１７ｇに出力される。

【００６８】同様にして、カウンタ１７ｆが保持する回
数だけ半透明率出力部１７ｇが出力すると、たとえば補
完値差分が０．２５の場合には、この半透明率出力部１
７ｇからは、「０」、「０．２５」、「０．５」および
「０．７５」が順次出力されることとなる。

【００６９】このように、かかる線形補完処理部１７で
は、補完する画素を間接的に特定するとともに、補完す
る各画素の半透明処理に必要となる半透明率を前回位置
と今回位置から算定して半透明処理部１８に出力してい
る。

【００７０】次に、図２に示す半透明処理部１８の具体
的な構成について説明する。図４は、図２に示す半透明
処理部１８の具体的な構成の一例を示す説明図である。
同図に示すように、この半透明処理部１８は、２つの乗
算器１８ａおよび１８ｂと加算器１８ｃとからなる。

【００７１】乗算器１８ａは、フレームバッファ１５か
ら取得した描画元の画素の描画色と線形補完処理部１７
から受け取った半透明率とを乗算する回路部であり、乗
算器１８ｂは、背景色すなわち描画先の画素の画素値と
１−半透明率とを乗算する回路部である。加算器１８ｃ
は、乗算器１８ａと乗算器１８ｂの出力を加算して描画
先の画素の画素値として出力する回路部である。

【００７２】たとえば、図２（ａ）に示す画素（Ｃ，
１）を描画先の画素とした場合には、描画元の画素であ
る画素（Ｃ，２）の画素値が描画色となり、描画先の画
素（Ｃ，１）の画素値が背景色となる。そして、この場
合の半透明率が２５％であるので、描画先の画素（Ｃ，
１）の画素値は、（Ｃ，２）×０．２５＋（Ｃ，１）×
０．７５となる。なお、ここでは乗算器１８ｂに（１−
半透明率）を入力することとしたが、実際には「１」か
ら線形補完処理部１７の出力を減算する減算器を新たに
設けることとなる。

【００７３】図５は、図２に示す半透明処理部１８の他
の構成の一例を示す図である。同図に示すように、この
半透明処理部１８は、減算器１８ｄと、乗算器１８ｅ
と、加算器１８ｆとからなる。

【００７４】減算器１８ｄは、描画元の画素の画素値で
ある描画色から描画先の画素の画素値である背景色を減
算して差分を求める回路部であり、乗算器１８ｅは、こ
の減算器１８ｄが求めた差分に半透明率を加算する回路
部である。また、加算器１８ｆは、乗算器１８ｅの出力
に上記背景色を加算する回路部である。

【００７５】たとえば、図２（ａ）に示す画素（Ｃ，
１）を描画先の画素とした場合には、画素（Ｃ，２）の
画素値から画素（Ｃ，１）の画素値を減算した値に半透
明率である０．２５を乗算し、その結果に画素（Ｃ，
１）の画素値を加算するので、 ｛（Ｃ，２）−（Ｃ，１）｝×０．２５＋（Ｃ，１）＝
（Ｃ，２）×０．２５＋（Ｃ，１）×０．７５ となり、結果的に図４に示すものと同じ計算結果が得ら
れる。

【００７６】このように、かかる半透明処理部１８で
は、描画色、背景色および半透明率を入力パラメータと
して、アンチエイリアシング処理の処理対象となる画素
の画素値を算定している。

【００７７】ところで、上記一連の説明では、本発明に
係る描画位置差分の線形補完方式をハードウエア回路で
構築した場合を示したが、本発明はこれに限定されるも
のではなく、ソフトウエアで実現することもできる。

【００７８】そこで以下では、本発明に係る描画位置差
分の線形補完方式をソフトウエアで実現した場合につい
て説明する。ただし、本来の画素の描画を行ごとにおこ
ないつつ、１行遅れでアンチエイリアシング処理をおこ
なう場合を前提とした場合を説明する。

【００７９】図６は、本発明に係る描画位置差分の線形
補完方式をソフトウエアで実現した場合における画像描
画装置のハードウエア構成を示すブロック図である。同
図において、ＣＰＵ６１は、画像描画装置全体を制御す
る中央処理装置であり、ＲＯＭ６２から読み出したプロ
グラムを実行して、ＲＡＭ６３上に設けたページメモリ
領域（図２のフレームバッファ１５に対応する。）に画
像データを書き込む処理等をおこなう。なお、このプロ
グラムには、本発明に係わる描画位置差分の線形補完処
理をおこなうプロセスが内在されている。

【００８０】ＲＯＭ６２は、オペレーティングシステム
の他に、本発明に係わる描画位置差分の線形補完処理を
おこなうプロセスを内在した画像描画プログラムを記憶
するメモリである。ＲＡＭ６３は、ＣＰＵ６１のワーク
エリアとして使用されるメモリであり、このＲＡＭ６３
上には、画像描画をおこなうためのページメモリ領域が
確保される。

【００８１】また、６４はＣＰＵ６１の制御にしたがっ
てＨＤ（ハードディスク）６５に対するデータのリード
／ライトを制御するＨＤＤ（ハードディスクドライブ）
を、６５はＨＤＤ６４の制御で書き込まれたデータを記
憶するＨＤをそれぞれ示している。

【００８２】また、６６はＣＰＵ６１の制御にしたがっ
てＦＤ（フロッピーディスク）６７に対するデータのリ
ード／ライトを制御するＦＤＤ（フロッピーディスクド
ライブ）を、６７はＦＤＤ６６の制御で書き込まれたデ
ータを記憶する着脱自在な記憶媒体の一例としてのＦＤ
を、６８はドキュメント、画像、機能情報等を表示する
ディスプレイをそれぞれ示している。

【００８３】また、６９は通信回線７０を介してネット
ワークに接続され、そのネットワークと内部のインター
フェイスを司るインターフェイス（Ｉ／Ｆ）を、７１は
文字、数値、各種指示等の入力のためのキーを備えたキ
ーボードを、７２はカーソルの移動や範囲選択、あるい
は表示画面に表示されたアイコンやボタンの押下やウイ
ンドウの移動やサイズの変更等をおこなうマウスをそれ
ぞれ示している。

【００８４】また、７３はＯＣＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃ
ｈａｒａｃｔｅｒ Ｒｅａｄｅｒ）機能を備えた画像を
光学的に読み取るスキャナを、７４は検索結果その他表
示画面に表示されたデータの内容等を印刷するプリンタ
を、７５は上記各部を結合するためのバスをそれぞれ示
している。

【００８５】次に、図６に示す描画処理装置による描画
処理手順について説明する。図７は、図６に示す描画処
理装置による描画処理手順を示すフローチャートであ
る。図７のフローチャートに示すように、この描画処理
装置では、まず最初に画素描画をおこなう画素の位置座
標を示すＸ座標およびＹ座標を算出し（ステップＳ７０
１）、ページメモリ領域の該当する位置に画素を描画す
るとともに（ステップＳ７０２）、本発明に係る描画位
置差分の線形補完方式によるアンチエイリアシング処理
をおこなう。

【００８６】すなわち、前回の描画位置と今回の描画位
置から補完対象となる画素を特定し（ステップＳ７０
３）、特定した補完対象画素の半透明率を算定する（ス
テップＳ７０４）。具体的には、「１」を補完対象画素
列で除算した値を補完値差分とし、前回の描画位置に近
づくほど半透明率が線形に増加するようにこの補完値差
分を加算する。

【００８７】そして、各補完対象画素の半透明率をそれ
ぞれ求めたならば、描画元の画素と描画先の画素との間
で半透明率を用いた半透明処理をおこなって、各補完対
象画素の画素値を算定し（ステップＳ７０５）、算定し
た画素値を該当する補完対象画素に書き込む（ステップ
Ｓ７０６）。具体的には、描画元の画素の画素値に半透
明率を乗算した値と、描画先の画素の画素値に（１−半
透明率）を乗算した値とを加算して補完対象画素の画素
値とする。

【００８８】そして、このステップＳ７０１〜Ｓ７０６
の処理を未処理の画素がなくなるまで繰り返し（ステッ
プＳ７０７肯定）、未処理の画素がなくなった時点で
（ステップＳ７０７否定）処理を終了する。

【００８９】上記一連の処理をおこなうことにより、描
画位置差分の線形補完方式を用いたアンチエイリアシン
グ処理およびページメモリ領域への画像の描画をソフト
ウエアを用いておこなうことができる。

【００９０】上述してきたように、この実施の形態１で
は、前回の描画位置を描画位置記憶部１６に記憶してお
き、線形補完処理部１７がこの描画位置記憶部１６に記
憶した前回の描画位置と今回の描画とから補完対象画素
を特定して、特定した補完対象画素の半透明率を算定
し、半透明率処理部１８が半透明率を用いて各補完対象
画素の画素値を算定するよう構成したので、アンチエイ
リアシング処理を少ないメモリで高速におこなうことが
できる。

【００９１】（実施の形態２）ところで、上記実施の形
態１で示した描画位置差分の線形補完方式では、前回の
描画位置と今回の描画位置の差分を用いて半透明率を算
定することとしたが、かかる差分を用いなくとも半透明
率を算定することができる。そこで、本実施の形態２で
は、多角形の辺の傾きを利用して直接半透明率を求める
描画座標小数部利用方式について説明する。

【００９２】まず最初に、本実施の形態２で用いる描画
座標小数部利用方式の概念について説明する。この描画
座標小数部利用方式は、多角形の辺の傾きを利用して半
透明率を高速に算出し、算出した半透明率を用いて補完
対象画素にアンチエイリアシング処理を施して画素値を
補完するものである。

【００９３】図８は、この実施の形態２で用いる描画座
標小数部利用方式の概念の説明図である。図中の０〜６
は行番号を示し、Ａ〜Ｇは列番号を示し、図中黒丸で示
す画素が多角形の一部を形成する画素であるものとす
る。

【００９４】同図（ａ）に示すように、Ｃ列を現在の描
画位置と考えた場合には、画素（Ｂ，２）、（Ｂ，３）
または（Ｂ，４）がアンチエイリアシング処理の対象画
素となる。

【００９５】ここで、この描画座標小数部利用方式は、
辺の傾きから算出した列方向の座標の小数部分を１から
減算した値を半透明率とするものであるので、かかる値
を半透明率とした理由について説明する。

【００９６】たとえば、この辺の傾きがｙ＝４ｘとなる
場合には、ｙ＝１．０（行１）の場合にはｘ＝０．２５
となり、ｙ＝２．０（行２）の場合にはｘ＝０．５とな
り、ｙ＝３．０（行３）の場合にはｘ＝０．７５とな
る。

【００９７】すなわち、辺がｙ＝４ｘという傾きを有す
る場合には、本来は１行目の画素は列Ａから０．２５だ
け列Ｂ側にずれるべきであり、２行目の画素は列Ａから
０．５だけ列Ｂ側にずれるべきであり、３行目の画素は
列Ａから０．７５だけ列Ｂ側にずれるべきである。

【００９８】また、列Ａと列Ｂとを考えた場合に、列Ｂ
側に大きくずれている場合には列Ｂの画素がそのずれ分
を吸収できるので、この場合の半透明率をさほど大きく
する必要はないが、列Ａ側に大きくずれている場合に
は、列Ｂの画素がそのずれ分を吸収できないので、この
場合の半透明率は大きくする必要がある。

【００９９】このことは、列Ａと列Ｂの間のみならず、
列Ｂと列Ｃ、列Ｃと列Ｄの間でも成り立つので、本実施
の形態２で用いる描画座標小数部利用方式では、辺の傾
きから算出した列方向の座標の小数部を１から減算した
値を半透明率としている。

【０１００】このようにして、アンチエイリアシング処
理の処理対象となる画素（Ｂ，２）〜（Ｂ，４）の半透
明率を求めたならば、上記実施の形態１と同様に、描画
元の画素を（Ｃ，２）〜（Ｃ，４）とし、描画先の画素
を（Ｂ，２）〜（Ｂ，４）として半透明処理をおこな
い、その結果を画素（Ｂ，２）〜（Ｂ，４）に格納する
ことになる。なお、同図（ｂ）に示すように、多角形の
辺の傾きが４５度を越える場合には列座標の小数部では
なく、行座標の小数部を使用する。

【０１０１】次に、本実施の形態２に係る描画座標小数
部利用方式を用いた画像描画装置の構成について説明す
る。図９は、本実施の形態２で用いる描画座標小数部利
用方式を用いた画像描画装置の構成を示すブロック図で
ある。なお、図２に示す画像描画装置と同様の機能を有
する部位には同一の符号を付すこととしてその詳細な説
明を省略する。

【０１０２】同図に示す画像描画装置９０は、傾き算出
部１１、列方向座標算出部１２、行方向座標算出部１
３、画素描画処理部１４、フレームバッファ１５、半透
明処理部１８およびオン／オフ器１９と、小数部９１お
よび９２と、選択器９３と、減算器９４とを有する。

【０１０３】小数部９１は、列方向座標算出部１２が算
出した列方向座標の小数部分のみを抽出する処理部であ
り、小数部９２は、行方向算出部１３が算出した行方向
座標の小数部分のみを抽出する処理部である。

【０１０４】選択器９３は、傾き算出部１１が算出した
傾き角度が４５度未満か４５度を超えるかによって列座
標を用いるか行座標を用いるかを選択する処理部であ
り、具体的には、４５度未満である場合には小数部９１
の出力を選択し、４５度を超える場合には小数部９２の
出力を選択する。

【０１０５】減算器９４は、選択器９３の出力を１から
減じる処理部である。かかる減算をおこなう理由は、選
択器９３の出力である小数を１から減じたものを半透明
率として半透明処理部１８に出力するためである。

【０１０６】上記構成を有する画像描画装置９０を用い
ることにより、描画座標小数部利用方式を用いたアンチ
エイリアシング処理をおこないつつ、フレームバッファ
１５への画像の描画をおこなうことができる。

【０１０７】次に、本実施の形態２に係る描画座標小数
部利用方式をソフトウエアで実現する場合について説明
する。なお、この場合に用いる画像描画装置の構成は、
図６に示すものと同様のものとなるので、ここではその
処理手順についてのみ説明する。

【０１０８】図１０は、実施の形態２に係る描画座標小
数部利用方式をソフトウエアで実現した場合の処理手順
を示すフローチャートである。図１０に示すように、ま
ず最初に、画素描画をおこなう画素の位置座標を示すＸ
座標およびＹ座標を算出し（ステップＳ８０１）、ペー
ジメモリ領域の該当する位置に画素を描画するとともに
（ステップＳ８０２）、本発明に係る描画座標小数部利
用方式によるアンチエイリアシング処理をおこなう。

【０１０９】すなわち、列座標および行座標の小数部分
をそれぞれ取得し（ステップＳ８０３）、辺の傾きに基
づいて取得した小数部分のいずれか一方を選択し、選択
した小数部分を「１」から減じて半透明率を算定する
（ステップＳ８０４）。

【０１１０】そして、補完対象画素の半透明率を求めた
ならば、描画元の画素と描画先の画素との間で半透明率
を用いた半透明処理をおこなって、各補完対象画素の画
素値を算定し（ステップＳ８０５）、算定した画素値を
該当する補完対象画素に書き込む（ステップＳ８０
６）。具体的には、描画元の画素の画素値に半透明率を
乗算した値と、描画先の画素の画素値に（１−半透明
率）を乗算した値とを加算して補完対象画素の画素値と
する。

【０１１１】そして、このステップＳ８０１〜Ｓ８０６
の処理を未処理の画素がなくなるまで繰り返し（ステッ
プＳ８０７肯定）、未処理の画素がなくなった時点で
（ステップＳ８０７否定）処理を終了する。

【０１１２】上記一連の処理をおこなうことにより、描
画座標小数部利用方式を用いたアンチエイリアシング処
理およびページメモリ領域への画像の描画をソフトウエ
アを用いておこなうことができる。

【０１１３】上述してきたように、この実施の形態２で
は、列座標および行座標の小数部分を小数部９１および
９２で取得し、選択器９３が傾き角度に応じて取得した
小数部分の一方を選択し、選択した小数部分を１から減
算した値を半透明率とし、半透明率処理部１８がこの半
透明率を用いて各補完対象画素の画素値を算定するよう
構成したので、アンチエイリアシング処理をより高速に
おこなうことができる。

【０１１４】（実施の形態３）ところで、上記実施の形
態１および実施の形態２では、傾き算出部１１が算出し
た傾き角度が４５度未満の場合だけでなく４５度を越え
る場合についても、それぞれ描画位置差分の線形補完方
式および描画座標小数部利用方式を適用することとした
が、両方式を併有してアンチエイリアシング処理をおこ
なうこともできる。そこで、この実施の形態３では、上
記描画位置差分の線形補完方式および描画座標小数部利
用方式を併有した複合方式について説明する。

【０１１５】一般の画像描画装置では、画像格納領域で
あるフレームバッファ１５にダイナミックＲＯＭを使用
することが多い。その理由は、ダイナミックＲＯＭは、
連続領域での処理を最も効率良く実行できるからであ
る。このため、かかる連続領域での高速処理を考慮し
て、通常は多角形を行単位に分割し、行ごとに描画する
ことになる。

【０１１６】ここで、上記実施の形態１で説明した描画
位置差分の線形補完方式は、傾き角度が４５度未満の場
合には行単位分割に対応することができるが、この傾き
角度が４５度を超えると半透明率が列方向に変化するた
め、その対応が難しい。

【０１１７】これに対して、上記実施の形態２で説明し
た描画座標小数部利用方式は、傾き角度が４５度を越え
る場合にはそのまま行単位分割に対応することができる
が、この傾き角度が４５度未満の場合には、行単位描画
では本来必要のない列方向の座標を計算せねばならな
い。

【０１１８】そこで、本実施の形態３に係る複合方式で
は、傾き角度が４５度未満の場合には描画位置差分の線
形補完方式を利用し、この傾き角度が４５度を超える場
合には描画座標小数部利用方式を利用することとしてい
る。

【０１１９】次に、本実施の形態３に係る複合方式を用
いた画像描画装置の構成について説明する。図１１は、
本実施の形態３に係る複合方式を用いた画像描画装置の
構成を示すブロック図である。

【０１２０】同図に示す画像描画装置１１０は、傾き算
出部１１、列方向座標算出部１２、行方向座標算出部１
３、画素描画処理部１４、フレームバッファ１５、描画
位置記憶部１６、線形補完処理部１７、半透明処理部１
８およびオン／オフ器１９と、小数部９２、選択器９３
および減算器９４とを有する。

【０１２１】そして、この画像描画装置１１０は、傾き
算出部１１が算出した傾きが４５度未満の場合には、描
画位置記憶部１６に記憶した前回の列座標位置と今回の
列座標位置とを用いて描画位置差分の線形補完方式のア
ンチエイリアシング処理をおこなう。具体的には、線形
補完装置１７が前回位置と今回位置とを用いて半透明率
を算定し、半透明処理部１８による半透明処理をおこな
う。

【０１２２】これに対して、傾き算出部１１が算出した
傾きが４５度を越える場合には、行方向座標の小数部分
を小数部９２が取得し、取得した小数部分を減算器９４
において１から減算して半透明率を算定し、算定した半
透明率を用いて半透明処理部１８が半透明処理をおこな
う。

【０１２３】上述してきたように、本実施の形態３で
は、傾き算出部１１が算出した傾きが４５度未満の場合
には描画位置差分の線形補完方式の処理をおこない、ま
た傾き算出部１１が算出した傾きが４５度を越える場合
には描画座標小数部利用方式の処理をおこなうよう構成
したので、両方式の利点を兼ね備えたアンチエイリアシ
ング処理をおこなうことができる。

【０１２４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
画像メモリに多角形の一部をなす画素の画情報を格納す
る際に、該画素の画素位置と画像メモリに以前に格納し
た画素の画素位置との差分に基づいて、エイリアシング
の補完対象となる画素列を特定し、特定した画素列の画
素数に基づいて該画素列を形成する各画素の半透明率を
算定し、算定した半透明率に基づいて補完対象となる画
素列の半透明処理をおこなうよう構成したので、多角形
を画像メモリに描画する際に、描画メモリ以外の作業メ
モリ領域を必要とすることなく、高速にアンチエイリア
シング処理をおこなうことができる。

【０１２５】また、本発明によれば、多角形の辺の傾き
を算定し、算定した傾きが４５度を越える場合には、列
方向の画素位置と行方向の画素位置を変換して補完対象
となる画素列を特定するよう構成したので、傾きが４５
度未満または４５度を超えるいずれの場合であっても、
効率良くアンチエイリアシング処理をおこなうことがで
きる。

【０１２６】また、本発明によれば、画像メモリに前回
格納した第１の画素の画素位置と、該画像メモリに現在
格納する第２の画素の画素位置との間に所在する画素数
を算定し、この第１の画素に隣接する当該画素数分の画
素列を補完対象となる画素列とするよう構成したので、
補完対象となる画素列を効率良く特定することができ
る。

【０１２７】また、本発明によれば、特定された画素列
を形成する各画素の半透明率を線形に増加させるよう構
成したので、補完対象となる画素列を形成する画素に迅
速に半透明率を割り当てることができる。

【０１２８】また、本発明によれば、特定された画素列
の画素数に基づいて半透明率の基準値（補完値差分）を
算定し、算定した基準値を巡回的に加算した値を画素列
を形成する各画素の半透明率とするよう構成したので、
巡回回路を用いて軽易に半透明率を算出することができ
る。

【０１２９】また、本発明によれば、多角形の辺の傾き
を算定し、算定した傾きから算出した補完対象となる画
素の座標位置に基づいて該画素の半透明率を算定し、算
定した半透明率に基づいて補完対象となる画素の半透明
処理をおこなうよう構成したので、座標の小数部分を用
いた極めて単純な演算のみで高速に半透明処理をおこな
うことができる。

【０１３０】また、本発明によれば、算定された傾きが
４５度未満の場合には列方向の画素位置の小数部分を基
準として半透明率を算定し、該傾きが４５度を超える場
合には行方向の画素位置の小数部分を基準として半透明
率を算定するよう構成したので、傾きが４５度未満また
は４５度を超えるいずれの場合であっても、効率良くア
ンチエイリアシング処理をおこなうことができる。

【０１３１】また、本発明によれば、算定された傾きか
ら算出した補完対象となる画素の座標位置の小数部分を
１から減算した値を半透明率とするよう構成したので、
減算という単純な演算のみで半透明率を高速に算定する
ことができる。

【０１３２】また、本発明によれば、補完対象となる画
素の列方向および行方向の座標位置の小数部分をそれぞ
れ抽出し、算出された傾きに基づいて抽出したいずれか
一方の小数部分を選択し、選択した小数部分を１から減
算するよう構成したので、行および列の小数部のいずれ
かを１から減算するという極めて単純な演算のみで半透
明率を算定することができる。

【０１３３】また、本発明によれば、多角形の辺の傾き
を算定し、画像メモリに多角形の一部をなす画素の画情
報を格納する際に、該画素の画素位置と画像メモリに以
前に格納した画素の画素位置との差分に基づいて、エイ
リアシングの補完対象となる画素列を特定し、特定した
画素列の画素数に基づいて該画素列を形成する各画素の
半透明率を算定するか、または算定された傾きから算出
した補完対象となる画素の座標位置に基づいて該画素の
半透明率を算定するかによって半透明率を求め、いずれ
かで求めた半透明率に基づいて補完対象となる各画素の
半透明処理をおこなうよう構成したので、半透明率を２
種類の半透明率算定手段の適切な一方を用いて効率良く
アンチエイリアシング処理をおこなうことができる。

【０１３４】また、本発明によれば、算定された傾きが
４５度未満の場合には、前者の半透明率算定手段により
半透明率を算定し、該傾きが４５度を超える場合には、
後者の半透明率算定手段により半透明率を算定するよう
構成したので、辺の傾きが４５度未満であるか４５度を
超えるかによってより適切な半透明率算定手段を用いた
半透明率の算定をおこなうことができる。

【０１３５】また、本発明によれば、多角形を形成する
画素の画情報を前記半透明率に乗算した値と、半透明率
を１から減算した値（１−半透明率）を多角形以外の背
景をなす画素の画情報に乗算した値とを加算した加算値
を画素列を形成する各画素の画情報とするよう構成した
ので、簡単な演算で効率良く半透明処理をおこなうこと
ができる。

【０１３６】また、本発明によれば、算定した傾きが４
５度でない場合には半透明処理を可能とし、該傾きが４
５度である場合には半透明処理を不能とするよう構成し
たので、エイリアシングが生じない場合の処理をなく
し、もって処理をさらに高速化することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施の形態１で用いる描画位置差分の線形補完
方式の概念を示す説明図である。

【図２】実施の形態１に係る描画位置差分の線形補完方
式を用いた画像描画装置の構成を示すブロック図であ
る。

【図３】図２に示す線形補完処理部の具体的な構成を示
す説明図である。

【図４】図２に示す半透明処理部の具体的な構成の一例
を示す説明図である。

【図５】図２に示す半透明処理部の他の構成の一例を示
す説明図である。

【図６】実施の形態１で用いる描画位置差分の線形補完
方式をソフトウエアで実現した場合の画像描画装置のハ
ードウエア構成を示すブロック図である。

【図７】図６に示す画像描画装置による描画処理手順を
示すフローチャートである。

【図８】実施の形態２で用いる描画座標小数部利用方式
の概念の説明図である。

【図９】実施の形態２で用いる描画座標小数部利用方式
を用いた画像描画装置の構成を示すブロック図である。

【図１０】実施の形態２に係る描画座標小数部利用方式
をソフトウエアで実現した場合の処理手順を示すフロー
チャートである。

【図１１】本実施の形態３に係る複合方式を用いた画像
描画装置の構成を示すブロック図である。

【符号の説明】 １０ 画像描画装置 １１ 傾き算出部 １２ 列方向座標算出部 １３ 行方向座標算出部 １４ 画素描画処理部 １５ フレームバッファ １６ 描画位置記憶部 １７ 線形補完処理部 １７ａ，１７ｂ 選択器 １７ｃ 減算器 １７ｄ 除算器 １７ｅ 補完値差分保持部 １７ｆ カウンタ １７ｇ 半透明率出力部 １７ｈ 加算器 １８ 半透明処理部 １８ａ，１８ｂ 乗算器 １８ｃ 加算器 １８ｄ 減算器 １８ｅ 乗算器 １８ｆ 加算器 １９ オン／オフ器 ２０，２１ アンチエイリアシング処理の対象領域 ９０ 画像描画装置 ９１，９２ 小数部 ９３ 選択器 ９４ 減算器

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5B057 CA01 CA16 CB01 CB16 CE05 CE17 CH11 DC08 5B080 AA13 CA01 FA02 FA14 FA17 5C077 LL05 MP08 PP59 RR19 5C082 AA01 BA12 BA34 BA35 CA11 CA12 CA22 CB01 DA42 DA87 MM02 MM04

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画装置において、 前記画像メモリに前記多角形の一部をなす画素の画情報
   を格納する際に、該画素の画素位置と前記画像メモリに
   以前に格納した画素の画素位置との差分に基づいて、前
   記エイリアシングの補完対象となる画素列を特定する特
   定手段と、 前記特定手段により特定された画素列の画素数に基づい
   て該画素列を形成する各画素の半透明率を算定する半透
   明率算定手段と、 前記半透明率算定手段により算定された半透明率に基づ
   いて前記補完対象となる画素列の半透明処理をおこなう
   処理手段と、 を備えたことを特徴とする画像描画装置。
2. 【請求項２】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画装置において、 前記多角形の辺の傾きを算定する傾き算定手段と、 前記傾き算定手段により算定された傾きから算出した補
   完対象となる画素の座標位置に基づいて該画素の半透明
   率を算定する半透明率算定手段と、 前記半透明率算定手段により算定された半透明率に基づ
   いて前記補完対象となる画素の半透明処理をおこなう処
   理手段と、 を備えたことを特徴とする画像描画装置。
3. 【請求項３】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画装置において、 前記多角形の辺の傾きを算定する傾き算定手段と、 前記画像メモリに前記多角形の一部をなす画素の画情報
   を格納する際に、該画素の画素位置と前記画像メモリに
   以前に格納した画素の画素位置との差分に基づいて、前
   記エイリアシングの補完対象となる画素列を特定する特
   定手段と、 前記特定手段により特定された画素列の画素数に基づい
   て該画素列を形成する各画素の半透明率を算定する第１
   の半透明率算定手段と、 前記傾き算定手段により算定された傾きから算出した補
   完対象となる画素の座標位置に基づいて該画素の半透明
   率を算定する第２の半透明率算定手段と、 前記第１の半透明率算定手段または前記第２の半透明率
   算定手段により算定された半透明率に基づいて補完対象
   となる各画素の半透明処理をおこなう処理手段と、 を備えたことを特徴とする画像描画装置。
4. 【請求項４】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画方法において、 前記画像メモリに前記多角形の一部をなす画素の画情報
   を格納する際に、該画素の画素位置と前記画像メモリに
   以前に格納した画素の画素位置との差分に基づいて、前
   記エイリアシングの補完対象となる画素列を特定する特
   定工程と、 前記特定工程により特定された画素列の画素数に基づい
   て該画素列を形成する各画素の半透明率を算定する半透
   明率算定工程と、 前記半透明率算定工程により算定された半透明率に基づ
   いて前記補完対象となる画素列の半透明処理をおこなう
   処理工程と、 を含んだことを特徴とする画像描画方法。
5. 【請求項５】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画方法において、 前記多角形の辺の傾きを算定する傾き算定工程と、 前記傾き算定工程により算定された傾きから算出した補
   完対象となる画素の座標位置に基づいて該画素の半透明
   率を算定する半透明率算定工程と、 前記半透明率算定工程により算定された半透明率に基づ
   いて前記補完対象となる画素の半透明処理をおこなう処
   理工程と、 を含んだことを特徴とする画像描画方法。
6. 【請求項６】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画方法において、 前記多角形の辺の傾きを算定する傾き算定工程と、 前記傾き算定工程により算定した傾きが４５度未満の場
   合には、前記画像メモリに前記多角形の一部をなす画素
   の画情報を格納する際に、該画素の画素位置と前記画像
   メモリに以前に格納した画素の画素位置との差分に基づ
   いて、前記エイリアシングの補完対象となる画素列を特
   定し、特定した画素列の画素数に基づいて該画素列を形
   成する各画素の半透明率を算定し、前記傾き算定工程に
   より算定した傾きが４５度を超える場合には、該傾き算
   定工程により算定された傾きから算出した補完対象とな
   る画素の座標位置に基づいて該画素の半透明率を算定す
   る半透明率算定工程と、 前記半透明率算定工程により算定された半透明率に基づ
   いて補完対象となる各画素の半透明処理をおこなう処理
   工程と、 を含んだことを特徴とする画像描画方法。
7. 【請求項７】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画方法をコンピュータ
   に実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取
   り可能な記録媒体において、 前記画像メモリに前記多角形の一部をなす画素の画情報
   を格納する際に、該画素の画素位置と前記画像メモリに
   以前に格納した画素の画素位置との差分に基づいて、前
   記エイリアシングの補完対象となる画素列を特定させる
   特定工程と、 前記特定工程により特定された画素列の画素数に基づい
   て該画素列を形成する各画素の半透明率を算定させる半
   透明率算定工程と、 前記半透明率算定工程により算定された半透明率に基づ
   いて前記補完対象となる画素列の半透明処理をおこなわ
   せる処理工程と、 を実行させるためのプログラムを記録したことを特徴と
   するコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
8. 【請求項８】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画方法をコンピュータ
   に実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取
   り可能な記録媒体において、 前記多角形の辺の傾きを算定させる傾き算定工程と、 前記傾き算定工程により算定された傾きから算出した補
   完対象となる画素の座標位置に基づいて該画素の半透明
   率を算定させる半透明率算定工程と、 前記半透明率算定工程により算定された半透明率に基づ
   いて前記補完対象となる画素の半透明処理をおこなわせ
   る処理工程と、 を実行させるためのプログラムを記録したことを特徴と
   するコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
9. 【請求項９】 多角形の画像データを画像メモリに格納
   しつつ、前記画像データを出力する際に生ずるエイリア
   シングを中間色で補完する画像描画方法をコンピュータ
   に実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取
   り可能な記録媒体において、 前記多角形の辺の傾きを算定させる傾き算定工程と、 前記傾き算定工程により算定した傾きが４５度未満の場
   合には、前記画像メモリに前記多角形の一部をなす画素
   の画情報を格納する際に、該画素の画素位置と前記画像
   メモリに以前に格納した画素の画素位置との差分に基づ
   いて、前記エイリアシングの補完対象となる画素列を特
   定させ、特定された画素列の画素数に基づいて該画素列
   を形成する各画素の半透明率を算定させ、前記傾き算定
   工程により算定された傾きが４５度を超える場合には、
   該傾き算定工程により算定された傾きから算出した補完
   対象となる画素の座標位置に基づいて該画素の半透明率
   を算定させる半透明率算定工程と、 前記半透明率算定工程により算定された半透明率に基づ
   いて補完対象となる各画素の半透明処理をおこなわせる
   処理工程と、 を実行させるためのプログラムを記録したことを特徴と
   するコンピュータ読み取り可能な記録媒体。