JP2000314803A - 光学素子 - Google Patents

光学素子

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JP2000314803A
JP2000314803A JP11125163A JP12516399A JP2000314803A JP 2000314803 A JP2000314803 A JP 2000314803A JP 11125163 A JP11125163 A JP 11125163A JP 12516399 A JP12516399 A JP 12516399A JP 2000314803 A JP2000314803 A JP 2000314803A
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optical element
antireflection film
holding substrate
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film
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JP11125163A
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Hideo Kato
日出夫 加藤
Hiroshi Maehara
広 前原
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Canon Inc
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  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学素子の汚染を防止すると共に補強する。 【解決手段】 基板11上に設けたBOレンズ15の表
面に反射防止膜22を成膜し、別途に用意し反射防止膜
を設けた保持基板23とを接合により基板11、23の
外周部分とBO最上面とにより接合を行い、保持シール
ドタイプのBO光学素子41を製作する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レンズ、露光装
置、撮影装置、照明装置等に使用される光学素子に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】回折格子は従来から分光器の分光素子と
して使用されてきており、その形状は鋸歯状の所謂ブレ
ーズドタイプと呼ばれており、回折効率は100%に達
するものもある。
【0003】また近年では、回折を利用した光学素子と
して階段状形状のバイナリオプティクス(BO)素子が
注目されており、BOレンズと呼ばれ、色消し効果、非
球面効果を有しているため、新しい光学系への発展に大
きな期待が持たれている。
【0004】一般のスチールカメラ等の可視光線に適用
するレンズ光学系は、金属の型材を用いたプラスチック
の型加工法及びガラスのモールド法により製造が可能で
ある。しかし、紫外線等の波長の短い光線に適用させる
ためには、光の吸収が少ない紫外線用の硝材や、より微
細な加工精度が要求されるため、型加工法、モールド加
工法、レンズ材料等の技術の確立が困難である。また、
紫外線等の波長の短い光線に適用するBOレンズヘの要
求仕様は、現状のブレーズドタイプの加工限界つまり切
削加工限界を大幅に越えている。
【0005】そこで、石英に対し半導体製造用の紫外線
を用いたフォトリソグラフィ技術とドライエッチング加
工技術を用いた手法が考案され、それにより高精度の微
細加工が或る程度可能となっている。
【0006】しかし、希望するBOレンズのサイズが直
径20mm程度であれば、3枚のクロムマスクを用いた
各1回の露光、即ち合計3回の露光と各3回のフォトリ
ソグラフィプロセスとドライエッチングプロセスの繰り
返しにより製造が可能であるが、実際に半導体用縮小露
光焼付装置(ステッパ)に適用するための直径200m
m程度のBOレンズを製作するためには、100近い分
割が必要となり、分割に応じてマスクの数が増加し、少
なくとも15枚のマスクが必要とされる。このように、
製造工数の増加と複雑な工程はBO素子の生産性の低下
とコストアップにつながる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来例により得られたBO素子の表面には微細な加工が
施してあるため、取り扱いに注意を要する。更に、最近
では光学系の汚染が問題となってきており、従来のg線
(λ=435nm)及びi線(λ=365nm)では顕
著ではなかったものの、KrF(λ=248nm)、A
rF(λ=194nm)そしてF2 (λ=157nm)
レーザーのような高エネルギの光線を使用することによ
り、周囲の雰囲気等の影響により汚染物質が析出、堆積
することがある。また、従来のクリーンルームは塵に対
してのみ対処しており、化学物質に対しては対応してお
らず、またレジストの露光、現像プロセスに起因し発生
する分解、揮発成分も光学系及びBO素子に大きな影響
を与えている。
【0008】このような問題の対策として、従来の光学
レンズにおいては、レンズ系の分解、拭き、洗浄等によ
り或る程度は解決可能であるが、BOレンズにおいては
表面に微細な凹凸が施してあるため対応は困難である。
【0009】また、従来からシールド方法として、BO
レンズの上面を光透過性の樹脂により覆う方法がある
が、この方式は簡便であり、可視光線領域において使用
する光学系に対しては或る程度対応できるが、遠紫外光
線に適用させるには光の吸収が大きいために採用するこ
とができない。
【0010】本発明の第1の目的は、上述の問題点を解
消し、表面が汚れ難いシールドタイプの光学素子を提供
することにある。
【0011】また本発明の第2の目的は、保持基板によ
る物理的、機械的強度を向上した光学素子を提供するこ
とにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係る回折光学素子は、表面に反射防止膜を設
けた回折光学素子又は屈折光学素子の表面に、反射防止
膜を設けた保持基板又は他の光学素子とを反射防止膜を
介して接合したことを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明を図示の実施例に基づいて
詳細に説明する。図1はBOレンズ1の斜視図、図2は
断面図を示している。設計上では、使用波長248nm
のKrFエキシマレーザー用を想定したものであり、約
18000本の輪帯が刻設され、各輪帯はそれぞれ8段
の階段状のBO形状を有している。
【0014】図3は8段の階段状BO素子の輪帯単位の
摸式図を示しており、最外殻の輪帯は設計値では各段の
幅が0.35μm、高さが0.062μmであり、輪帯
単位の幅は2.8μm、高さは0.434μmである。
【0015】図4は製造時のBOレンズ1及びマスクの
断面図を示しており、BO基板11には直径220m
m、厚さ2mmの石英基板を使用し、BO基板11の上
方に3枚のクロムマスク12〜14を配置する。
【0016】BOレンズ1の作成にはλ=365nmの
i線用のステッパを使用し、クロムマスク12〜14の
パターンをBO基板11上のフォトレジストに縮小焼付
けした後に、現像されたレジストパターンを平行平板型
のドライエッチング(RIE)装置を用いてBO基板1
1の表面をエッチング加工することにより得られる。本
実施例においては、3枚のクロムマスク12〜14を使
用し、上述のプロセスを3回繰り返すことにより、8段
のBOレンズ15を得ることができる。
【0017】直径220mmのBO基板11への露光焼
付け及び加工プロセスは、BO基板11を76分割し、
3枚のマスク12〜14を5組つまり合計15枚のクロ
ムマスクを用いて76×3の合計228回による露光焼
付けと、3回のドライエッチングプロセスにより得る。
【0018】図5はシールドタイプのBO光学素子21
の第1の実施例の断面図を示しており、図4において得
られたBOレンズ15の表面に光の透過率、回折効率の
向上及びフレア等を減少させるために、抵抗加熱式蒸着
装置を用いて膜厚約43nmの弗ッ化マグネシウム(M
gF2 )膜から成る反射防止膜22が成膜されている。
また、別途に用意した同様に反射防止膜22が成膜され
ている直径220mmの石英ガラスから成る厚さ6mm
のシールド用保持基板23が、BOレンズ15に接して
上方に配置されている。そして、この接合は約500℃
に保持した窒素雰囲気中においてなされる。
【0019】保持基板23及びBOレンズ15は石英ガ
ラスであり、KrFエキシマレーザー光(λ=248n
m)を用いる場合には、反射防止膜22の膜厚は43.
4nm又は130.2nmとなる。この単層膜は大気中
から光線が通過すると反射防止膜として働くが、保持基
板23と接触した場合には、一種の原子接合が起きる。
その際に温度が高ければ、より接合強度を増加させるこ
とになる。
【0020】上述の一連の作成工程を経ることにより、
直径220mm、厚さ約10mmの接合保持シールドタ
イプのBO光学素子21を製作することができる。この
ようにして得られたBO光学素子21の回折効率は、平
均すると約75%と良好な値を得る。
【0021】なお、従来のBOレンズ15は表面への指
等の接触は悪影響を及ぼすため、極めて慎重な取り扱い
を必要としたが、本実施例においてBO光学素子21は
仕上げの際の洗浄等が可能となったことにより、BOレ
ンズ15が汚染される虞れの少ない高品質のBO光学素
子21を得ることができる。
【0022】この第1の実施例における石英から成るB
Oレンズ15の代りに、蛍石の結晶材料をBOレンズ1
5として使用し、BOレンズ15のパターン部分には膜
厚約500nmに成膜したSiO2 を、フォトリソグラ
フィとドライエッチング工程を用いて加工し、反射防止
膜22として膜厚約36nmの酸化アルミニウム(Al
23 )と膜厚約41nmのSiO2 の2層膜をスパッ
タ蒸着法を用いて成膜してもよい。
【0023】このようにして得られたシールドタイプの
BO光学素子も、同様に良好な結果を得ることができ
る。また、反射防止膜22として酸化アルミニウムと氷
晶石の2層膜を用いても良好な結果を得る。
【0024】更に、第1の実施例における石英から成る
保持基板23の代りに蛍石の結晶材料を用い、反射防止
膜22として弗ッ化アルミニウム(A1F3 )と酸化ア
ルミニウムの2層膜を成膜し、減圧ヘリウム雰囲気中で
接合しても、同様の良好な結果を得ることができる。
【0025】図6は第2の実施例におけるシールドタイ
プのBO光学素子21の断面図を示しており、基板11
の裏面と保持基板23の両面、又は保持基板23の両面
のみに、膜厚約43nmの弗ッ化マグネシウムと膜厚約
36nmの酸化アルミニウムから成る4層膜として反射
防止膜32が成膜されている。また、BOレンズ15の
表面には反射防止膜32として膜厚約43nmの弗ッ化
マグネシウムの単層膜を用いても良好な結果を得ること
ができる。
【0026】また、得られたシールドタイプのBO光学
素子21の回折効率も、平均すると82%と良好な値を
得ることができる。
【0027】この第2の実施例におけるBOレンズ15
に石英、保持基板23に蛍石を用い、BOレンズ15に
反射膜として弗ッ化マグネシウム、基板11、23に反
射防止膜32として弗ッ化アルミニウムと酸化アルミニ
ウムの2層膜を形成しても、同様に良好な結果を得るこ
とができる。
【0028】図7は第3の実施例におけるシールドタイ
プの反射型BO光学素子41の断面図を示しており、B
Oレンズ15の表面に反射膜32としてアルミニウム膜
を成膜し、更にこの反射膜42上に反射防止膜43が成
膜されている。同様の反射防止膜32を設けた直径22
0mm、厚さ6mmの石英ガラスから成る保持基板23
が、BOレンズ15の表面と接するように配置され、真
空雰囲気中において基板11、23の接合を行う。この
接合は各輪帯の最上面と基板11、23の幅20mmの
外周部分においてなされる。接合の後に高温(400
℃)かつ高圧(10気圧)の処理を行い、強固に接合さ
れた光学素子を得ることができる。
【0029】本実施例においては、補強の意味で側面の
接合部を紫外線硬化型接着剤44を使用して固定するこ
とができ、製作が更に容易となる。この作成工程を経る
ことにより、直径220mm、厚さ約12mmのシール
ドタイプの反射型BO光学素子41を製作することがで
きる。このようにして得られたBO光学素子41の回折
効率は、平均すると約90%と良好な値を得る。
【0030】また、第1〜第3の実施例において、保持
基板23には石英、蛍石の他に、遠紫外線を透過させる
無機、有機ガラス封着剤、サファイヤ、金属酸化物、弗
ッ化物等を使用してもよい。
【0031】本実施例のBO光学素子21、31、41
は特に遠紫外光線用光学系に対して有効であるが、紫外
線、可視光線、赤外線用光学系として適用することもで
きる。
【0032】更に、第1〜第3の実施例により得られた
保持基板を用いたシールド型のBO光学素子21、3
1、41を組み込んだレンズ光学系が得られ、この光学
系を装着したKrFレーザー用ステッパである半導体製
造用縮小露光焼付装置を用いて、シリコンウエハ上のフ
ォトレジストヘの縮小焼付け及び一連の半導体製造プロ
セスにより高性能の半導体集積回路を製造することがで
きる。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る回折光
学素子は、汚染等に対して対応可能で取り扱いが容易と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】BOレンズの斜視図である。
【図2】BOレンズの断面図である。
【図3】8段階段状BO素子の輪帯単位の模式図であ
る。
【図4】BOレンズ及びマスクの断面図である。
【図5】第1の実施例のBO光学素子の断面図である。
【図6】第2の実施例のBO光学素子の断面図である。
【図7】第3の実施例のBO光学素子の断面図である。
【符号の説明】
11 BO基板 15 BOレンズ 21、31、41 BO光学素子 22、32、43 反射防止膜 23 保持基板 42 反射膜 44 接着剤

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面に反射防止膜を設けた回折光学素子
    又は屈折光学素子の表面に、反射防止膜を設けた保持基
    板又は他の光学素子とを反射防止膜を介して接合したこ
    とを特徴とする光学素子。
  2. 【請求項2】 前記回折光学素子及び前記保持基板の表
    面に設けた前記反射防止膜の膜材は、金属の酸化物又は
    金属の弗っ化物又は二酸化シリコンとした請求項1に記
    載の光学素子。
  3. 【請求項3】 前記反射防止膜を介して接合する保持基
    板は紫外光透過性材料とした請求項1に記載の光学素
    子。
  4. 【請求項4】 前記回折光学素子の表面に設けた前記反
    射防止膜の最上層の膜材と前記保持基板表面に設けた前
    記反射防止膜の最上層の膜材とを同種とした請求項1に
    記載の光学素子。
  5. 【請求項5】 表面に前記反射防止膜を設けた前記回折
    光学素子と前記保持基板とを真空又は減圧又は不活性ガ
    ス雰囲気中で接合した請求項1に記載の光学素子。
  6. 【請求項6】 前記保持基板は前記回折光学素子よりも
    厚くした請求項1に記載の光学素子。
  7. 【請求項7】 前記金属の酸化物はアルミナ又は酸化マ
    グネシウム又は酸化ハフニウム又は酸化チタンとした請
    求項2に記載の光学素子。
  8. 【請求項8】 前記金属の弗っ化物は弗っ化マグネシウ
    ム又は弗っ化リチウム又は弗っ化バリウム又は弗っ化ア
    ルミニウム又は弗っ化カルシウム又は氷晶石とした請求
    項2に記載の光学素子。
  9. 【請求項9】 前記接合は加温雰囲気で行う請求項5に
    記載の光学素子。
  10. 【請求項10】 前記接合後に加温、加圧処理をした請
    求項5に記載の光学素子。
  11. 【請求項11】 請求項1〜10の光学素子を組み込ん
    だ半導体製造用露光焼付装置。
  12. 【請求項12】 請求項11の半導体製造用露光焼付装
    置を用いて製造した半導体装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007017643A (ja) * 2005-07-06 2007-01-25 Dainippon Printing Co Ltd 計算機ホログラム光学素子
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