JP2000307035A - Reinforcing structure for semiconductor - Google Patents

Reinforcing structure for semiconductor

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JP2000307035A
JP2000307035A JP11112941A JP11294199A JP2000307035A JP 2000307035 A JP2000307035 A JP 2000307035A JP 11112941 A JP11112941 A JP 11112941A JP 11294199 A JP11294199 A JP 11294199A JP 2000307035 A JP2000307035 A JP 2000307035A
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semiconductor
panel
reinforcing structure
thermoplastic resin
reinforcing
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Shinji Yokota
真司 横田
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NEC Saitama Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a reinforcing structure for a semiconductor which is hardly affected by an external stress, and also allows reducing in thickness. SOLUTION: A semiconductor 11 comprising a pin 12 annexed to a protective package for protecting the semiconductor 11, a panel 21 where a hole 22 for holding the semiconductor 11 is formed, and a thermo-plastic resin 32 which is applied to the outer perimeter of the panel 21 and semiconductor 11 for them to be secured each other, are provided. With this structure, the semiconductor 11 is held with the panel 21 and pin which become one body with the thermo-plastic resin 32. Thus, an external stress is conveyed from a case holding the panel 21 to it, so that the stress on an electric joint part at deformation of the panel 21 is prevented from being conveyed to the semiconductor 11. No other part is required to be fitted for reinforcing the electric joint part of the semiconductor 11 and the panel 21. So a reinforcing height can be lowered for a thinner device.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パネルへの実装に
適応した半導体の補強構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor reinforcing structure suitable for mounting on a panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体の補強構造は、電気回路を
構成するパネルへの半導体の実装構造を強化補強する構
造を言う。この電気回路を構成するパネルへの半導体の
実装は、一般的に、半導体とパネルとを半田付け等によ
り固定し、周囲を樹脂で固める構造となっている。従来
例1の半導体の補強構造例の部分断面図を図3に示す。
2. Description of the Related Art Conventionally, a semiconductor reinforcement structure is a structure for reinforcing and reinforcing a semiconductor mounting structure on a panel constituting an electric circuit. The mounting of the semiconductor on the panel constituting the electric circuit generally has a structure in which the semiconductor and the panel are fixed by soldering or the like, and the surroundings are solidified with resin. FIG. 3 shows a partial cross-sectional view of an example of a semiconductor reinforcement structure according to Conventional Example 1.

【0003】従来例1は、半導体素子を保持するCSP
/BGA(Ball Grid Array)等の半導体41と、電気回
路を構成するパネル51と、半導体41と電気回路を構
成するパネル51とを電気接合する為の半導体41に付
随する半田42と、半導体41と電気回路を構成するパ
ネル51の周囲を補強する為の熱可塑性樹脂61と、パ
ネル全体を補強するフレーム71とで構成される。これ
らのうちの構成部であるフレーム71は、剛性の高い樹
脂の成形品、金属材料の板金等により形成されている。
Conventional example 1 is a CSP holding a semiconductor element.
A semiconductor 41 such as a / BGA (Ball Grid Array), a panel 51 forming an electric circuit, a solder 42 attached to the semiconductor 41 for electrically connecting the semiconductor 41 to the panel 51 forming an electric circuit, and a semiconductor 41 And a thermoplastic resin 61 for reinforcing the periphery of a panel 51 constituting an electric circuit, and a frame 71 for reinforcing the entire panel. The frame 71, which is a component of these components, is formed of a highly rigid resin molded product, a metal sheet metal or the like.

【0004】本発明と技術分野が類似する従来例2の特
開平8−236575号公報の「半導体装置及び製造方
法」は、ピン材の熱膨張率以下の熱膨張率を持つ封止材
を用いて半導体チップと絶縁基板との電極同士を電気的
に接続したものであり、接続部である半田部にクラック
を発生し難くしたものである。
The "semiconductor device and manufacturing method" of Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-236575, which is similar to the prior art 2 and whose technical field is similar to the present invention, uses a sealing material having a thermal expansion coefficient equal to or less than the thermal expansion coefficient of the pin material. In this case, the electrodes of the semiconductor chip and the insulating substrate are electrically connected to each other, and cracks are less likely to occur in the solder portion as the connection portion.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術は、次のような問題を伴う。第一に、外的応力
によりパネル51が変形する際に半導体41は、パネル
51の変形に追従できない。このため、電気接合部へ外
的応力が伝わってしまう。装置に偶発的及び継続的な負
荷がかかると、半導体41とパネル51との電気接合部
を破損させてしまうことがある。
However, the above prior art has the following problems. First, when the panel 51 is deformed by an external stress, the semiconductor 41 cannot follow the deformation of the panel 51. For this reason, external stress is transmitted to the electrical joint. If an accidental and continuous load is applied to the device, the electrical connection between the semiconductor 41 and the panel 51 may be damaged.

【0006】第二に、電気接合部を補強することを目的
としたフレーム71は、半導体41とパネル51の上に
配置する積み上げ構図となっている。この構造は、実装
高さを多く必要とし、装置の薄型化の妨げになる。
[0006] Second, the frame 71 intended to reinforce the electrical joint has a stacked composition arranged on the semiconductor 41 and the panel 51. This structure requires a large mounting height and hinders the reduction in thickness of the device.

【0007】本発明は、外的応力の影響を受け難く、且
つ薄型化が可能な半導体の補強構造を提供することを目
的とする。
An object of the present invention is to provide a semiconductor reinforcing structure which is hardly affected by external stress and which can be made thin.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、本発明の半導体の補強構造は、当該半導体を保護す
る保護パッケージに付随して形成されたピンを有する半
導体と、この半導体を保持させるための孔が形成された
パネルと、パネルと半導体の外周部へ塗布されてこの半
導体をパネルへ固定させる熱可塑性樹脂とを有して構成
されたことを特徴としている。
In order to achieve the above object, a semiconductor reinforcing structure according to the present invention provides a semiconductor having a pin formed along with a protection package for protecting the semiconductor, and holding the semiconductor. And a thermoplastic resin that is applied to the outer periphery of the panel and the semiconductor and fixes the semiconductor to the panel.

【0009】請求項2記載の発明では、請求項1記載の
半導体の補強構造において、パネルの表面部に設置され
半導体とパネル間において電気的接続を採る半田を、さ
らに有するとよい。
According to a second aspect of the present invention, in the semiconductor reinforcing structure according to the first aspect, it is preferable that the semiconductor reinforcing structure further includes a solder which is provided on a surface portion of the panel and establishes electrical connection between the semiconductor and the panel.

【0010】請求項3記載の発明では、請求項1または
2記載の半導体の補強構造において、孔へピンが圧入さ
れて半導体を保持するとよい。
According to the third aspect of the present invention, in the semiconductor reinforcing structure according to the first or second aspect, it is preferable that a pin is pressed into the hole to hold the semiconductor.

【0011】請求項4記載の発明では、請求項1から3
の何れかに記載の半導体の補強構造において、熱可塑性
樹脂の塗布は、この熱可塑性樹脂を半導体の外周部へ充
填させるためのノズルを有する所定の治工具を用いて行
われるとよい。
According to the fourth aspect of the present invention, the first to third aspects are provided.
In the reinforcement structure for a semiconductor according to any one of the above, the application of the thermoplastic resin may be performed using a predetermined tool having a nozzle for filling the outer periphery of the semiconductor with the thermoplastic resin.

【0012】請求項5記載の発明では、請求項1から4
の何れかに記載の半導体の補強構造において、半導体の
外周部へ塗布された熱可塑性樹脂の硬化により半導体は
パネルへ機械的に連結され保持されるとよい。
According to the fifth aspect of the present invention, the first to fourth aspects are provided.
In the semiconductor reinforcing structure according to any one of the above, the semiconductor may be mechanically connected to the panel and held by curing of a thermoplastic resin applied to an outer peripheral portion of the semiconductor.

【0013】請求項6記載の発明では、請求項2から5
の何れかに記載の半導体の補強構造において、外的圧力
は、保護パッケージからパネルへ伝わり、電気接合部へ
の応力、変形の伝わることを防ぐことができ、半導体と
パネルとの電気接合部を、外的応力から守るとよい。
According to the sixth aspect of the invention, the second to fifth aspects are provided.
In the semiconductor reinforcing structure according to any one of the above, external pressure is transmitted from the protective package to the panel, stress to the electrical junction, can be prevented from transmitting deformation, the electrical junction between the semiconductor and the panel Protect from external stress.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して本発明
による半導体の補強構造の実施の形態を詳細に説明す
る。図1および図2を参照すると、本発明の半導体の補
強構造の一実施形態が示されている。図1は、本発明の
半導体の補強構造の実施形態を示す分解斜視図である。
また図2は、本実施形態の半導体の補強構造の部分断面
図である。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing a semiconductor reinforcing structure according to an embodiment of the present invention; Referring to FIGS. 1 and 2, there is shown an embodiment of a semiconductor reinforcing structure according to the present invention. FIG. 1 is an exploded perspective view showing an embodiment of a semiconductor reinforcing structure according to the present invention.
FIG. 2 is a partial cross-sectional view of the semiconductor reinforcing structure of the present embodiment.

【0015】図1及び図2を参照すると、本実施形態の
半導体の補強構造は、半導体11、ピン12、半田1
3、パネル21、孔22、熱可塑性樹脂32の各部を有
して構成される。なお、ノズル31は、本実施形態の構
成を形成するのに用いられる治工具である。
Referring to FIG. 1 and FIG. 2, a semiconductor reinforcing structure according to this embodiment includes a semiconductor 11, a pin 12, and a solder 1.
3, a panel 21, a hole 22, and a thermoplastic resin 32. The nozzle 31 is a tool used to form the configuration of the present embodiment.

【0016】これらの構成部の半導体11は、半導体素
子を保持するCSP/BGA等に形成される。
The semiconductor 11 of these components is formed in a CSP / BGA or the like that holds a semiconductor element.

【0017】ピン12は、半導体11を保護するパッケ
ージに付随して形成された機械的な固定用の一部分であ
る。よって、半導体11とピン12とは、機械的に接続
された構造体とされている。
The pin 12 is a mechanical fixing part formed along with a package for protecting the semiconductor 11. Therefore, the semiconductor 11 and the pins 12 are mechanically connected to each other.

【0018】パネル21は、半導体11を搭載して電気
回路を構成する部材である。孔22は、パネル21に設
けられ、ピン12が圧入され、半導体11を機械的に保
持し固定するための孔である。
The panel 21 is a member on which the semiconductor 11 is mounted to form an electric circuit. The hole 22 is provided in the panel 21 and is a hole for press-fitting the pin 12 and mechanically holding and fixing the semiconductor 11.

【0019】熱可塑性樹脂32は、ピン12が孔22へ
圧入された半導体11を保持するパッケージまたは筐体
とパネル21との間へ塗布され、この熱可塑性樹脂の硬
化により、半導体11をパネル21へ保持・固定させ
る。
The thermoplastic resin 32 is applied between the panel 21 and a package or housing that holds the semiconductor 11 with the pins 12 pressed into the holes 22, and the semiconductor 11 is cured by curing the thermoplastic resin. Hold and fix to

【0020】ノズル31は、熱可塑性樹脂32を、ピン
12が挿入された半導体11の外周部へ充填・塗布させ
るための治工具の先端部である。
The nozzle 31 is the tip of a jig for filling and applying the thermoplastic resin 32 to the outer periphery of the semiconductor 11 in which the pins 12 are inserted.

【0021】(動作)本発明の動作について図を用いて
説明する。図1は、本発明の構成例を示す分解斜視図で
ある。図2は、本発明の一実施形態における構造を示す
部分断面図である。
(Operation) The operation of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an exploded perspective view showing a configuration example of the present invention. FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a structure according to one embodiment of the present invention.

【0022】図1及び図2を参照すると、半導体11
は、電気回路を構成するパネル21に対し、半導体11
に付随するピン12をパネル21に設けた孔22に圧入
係合して固定されている。また、半導体11とパネル2
1とは、半導体11に付随する半田13により、両者間
の電気的接合が採られる。ここでの電気的接合は、例え
ば、BGA方式によるものとする。
Referring to FIG. 1 and FIG.
Corresponds to the semiconductor 11 with respect to the panel 21 forming the electric circuit.
The pin 12 attached to the panel 21 is fixed by press-fitting into a hole 22 provided in the panel 21. The semiconductor 11 and the panel 2
1 indicates that an electrical connection between the two is taken by the solder 13 attached to the semiconductor 11. The electrical connection here is based on, for example, the BGA method.

【0023】パネル21上へ半導体11が搭載され、予
めパネル21上へ設定された半田13と半導体11とは
電気的に接合される。このパネル21と半導体11とが
電気的接合の採られた状態において、半導体11の外周
部へは、ノズル31により熱可塑性樹脂32が塗布さ
れ、この熱可塑性樹脂32の硬化作用により、半導体1
1はパネル21と強固に一体化され、固定される。
The semiconductor 11 is mounted on the panel 21, and the solder 13 previously set on the panel 21 and the semiconductor 11 are electrically joined. In a state where the panel 21 and the semiconductor 11 are electrically connected, a thermoplastic resin 32 is applied to the outer peripheral portion of the semiconductor 11 by a nozzle 31, and the semiconductor 1 is cured by the curing action of the thermoplastic resin 32.
1 is firmly integrated with the panel 21 and fixed.

【0024】上記の実施形態によれば、本発明の半導体
の補強構造は、図1に示すように、半導体素子を保持す
るCSP/BGA等の半導体11を電気回路を構成する
パネル21に対し、半導体11に付随するパッケージと
一体となるピン12を設け、予めパネル21に設けた孔
22に圧入して固定される。さらに、半導体11の外周
部には熱可塑性樹脂32が塗布される。
According to the above-described embodiment, as shown in FIG. 1, the semiconductor reinforcing structure of the present invention uses a semiconductor 11 such as a CSP / BGA holding a semiconductor element for a panel 21 forming an electric circuit. A pin 12 integrated with a package attached to the semiconductor 11 is provided, and is pressed into a hole 22 provided in a panel 21 in advance and fixed. Further, a thermoplastic resin 32 is applied to an outer peripheral portion of the semiconductor 11.

【0025】よって、外的応力は、パネル21を保持す
る筐体からパネル21に伝わり、パネル21が変形する
際、半導体11はパネル21とピン12にて保持され
る。さらに、熱可塑性樹脂32を介し一体となっている
ことにより、電気接合部へ応力、変形が伝わることを防
ぐことができる。この結果、半導体11とパネル21と
の電気接合部を、外的応力から守ることができる。ま
た、熱可塑性樹脂32の切れ目の無い塗布により、簡易
的な密封構造化も可能である。
Therefore, the external stress is transmitted from the casing holding the panel 21 to the panel 21, and when the panel 21 is deformed, the semiconductor 11 is held by the panel 21 and the pins 12. Further, since they are integrated through the thermoplastic resin 32, transmission of stress and deformation to the electric joint can be prevented. As a result, the electrical junction between the semiconductor 11 and the panel 21 can be protected from external stress. Further, the simple application of the thermoplastic resin 32 enables a simple sealing structure.

【0026】また、半導体11とパネル21の電気接合
部を補強することを目的としたその他の部品を取り付け
る必要がない。このため、補強構造の高さを低くするこ
とができ、装置の薄型化が可能となる。
Further, it is not necessary to attach other parts for reinforcing the electrical connection between the semiconductor 11 and the panel 21. For this reason, the height of the reinforcing structure can be reduced, and the device can be made thinner.

【0027】尚、上述の実施形態は本発明の好適な実施
の一例である。但し、これに限定されるものではなく、
本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施
が可能である。
The above embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention. However, it is not limited to this.
Various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
の半導体の補強構造は、半導体を保護する保護パッケー
ジに付随してピンが形成され、パネルには半導体を保持
させるための孔が形成され、熱可塑性樹脂がパネルと半
導体の外周部へ塗布されて半導体をパネルへ固定させ
る。
As is apparent from the above description, in the semiconductor reinforcing structure of the present invention, pins are formed in a protective package for protecting the semiconductor, and holes for holding the semiconductor are formed in the panel. Then, a thermoplastic resin is applied to the outer periphery of the panel and the semiconductor to fix the semiconductor to the panel.

【0029】この構造によれば、半導体はパネルとピン
にて保持されており、熱可塑性樹脂を介し一体となる。
このことにより、外的応力はパネルを保持する筐体から
パネルに伝わり、パネルが変形する際の電気接合部への
応力が半導体へ伝わることを防ぐことができる。さら
に、半導体とパネルの電気接合部を補強することを目的
とした他の部品を取り付ける必要がないため、補強高さ
を低くすることができ、装置の薄型化が可能となる。
According to this structure, the semiconductor is held by the panel and the pins, and is integrated via the thermoplastic resin.
Thus, external stress is transmitted from the housing holding the panel to the panel, and it is possible to prevent the stress applied to the electrical junction when the panel is deformed from being transmitted to the semiconductor. Furthermore, since it is not necessary to attach another component for the purpose of reinforcing the electrical junction between the semiconductor and the panel, the height of the reinforcement can be reduced, and the device can be made thinner.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の半導体の補強構造の実施形態を示す分
解斜視図である。
FIG. 1 is an exploded perspective view showing an embodiment of a semiconductor reinforcing structure according to the present invention.

【図2】本実施形態の半導体の補強構造の部分断面図で
ある。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view of the semiconductor reinforcement structure of the present embodiment.

【図3】従来例1の半導体の補強構造例を示す部分断面
図である。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing an example of a semiconductor reinforcement structure according to Conventional Example 1.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 半導体 12 ピン 13 半田 21 パネル 22 孔 31 ノズル 32 熱可塑性樹脂 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Semiconductor 12 Pin 13 Solder 21 Panel 22 Hole 31 Nozzle 32 Thermoplastic resin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4M109 AA01 BA03 CA05 DB16 DB17 EA12 5E336 AA04 AA09 AA16 BB01 BB02 BC01 BC34 CC31 CC43 DD02 EE03 EE20 GG16 5F061 AA01 BA03 CA05 CB02 DE03 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4M109 AA01 BA03 CA05 DB16 DB17 EA12 5E336 AA04 AA09 AA16 BB01 BB02 BC01 BC34 CC31 CC43 DD02 EE03 EE20 GG16 5F061 AA01 BA03 CA05 CB02 DE03

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体を保護する保護パッケージに付随
して形成されたピンを有する半導体と、 該半導体を保持させるための孔が形成されたパネルと、 該パネルと前記半導体の外周部へ塗布されて該半導体を
前記パネルへ固定させる熱可塑性樹脂と、 を有して構成されたことを特徴とする半導体の補強構
造。
1. A semiconductor having pins formed in association with a protection package for protecting a semiconductor, a panel having holes formed therein for holding the semiconductor, and a panel applied to an outer peripheral portion of the panel and the semiconductor. And a thermoplastic resin for fixing the semiconductor to the panel.
【請求項2】 請求項1記載の半導体の補強構造におい
て、前記パネルの表面部に設置され前記半導体と前記パ
ネル間において電気的接続を採る半田を、さらに有する
ことを特徴とする半導体の補強構造。
2. The reinforcing structure for a semiconductor according to claim 1, further comprising a solder provided on a surface portion of said panel to establish an electrical connection between said semiconductor and said panel. .
【請求項3】 請求項1または2記載の半導体の補強構
造において、前記孔へピンが圧入されて半導体を保持す
ることを特徴とする半導体の補強構造。
3. The semiconductor reinforcing structure according to claim 1, wherein a pin is pressed into said hole to hold the semiconductor.
【請求項4】 請求項1から3の何れかに記載の半導体
の補強構造において、前記熱可塑性樹脂の塗布は、該熱
可塑性樹脂を前記半導体の外周部へ充填させるためのノ
ズルを有する所定の治工具を用いて行われることを特徴
とする半導体の補強構造。
4. The semiconductor reinforcing structure according to claim 1, wherein the application of the thermoplastic resin includes a nozzle having a nozzle for filling the outer periphery of the semiconductor with the thermoplastic resin. A semiconductor reinforcement structure characterized by being performed using a jig.
【請求項5】 請求項1から4の何れかに記載の半導体
の補強構造において、前記半導体の外周部へ塗布された
熱可塑性樹脂の硬化により前記半導体は前記パネルへ機
械的に連結され保持されることを特徴とする半導体の補
強構造。
5. The semiconductor reinforcing structure according to claim 1, wherein the semiconductor is mechanically connected to and held by the panel by curing a thermoplastic resin applied to an outer peripheral portion of the semiconductor. A semiconductor reinforcement structure, characterized in that:
【請求項6】 請求項2から5の何れかに記載の半導体
の補強構造において、外的圧力は、前記保護パッケージ
から前記パネルへ伝わり、電気接合部への応力、変形の
伝わることを防ぐことができ、前記半導体と前記パネル
との電気接合部を、外的応力から守ることを特徴とする
半導体の補強構造。
6. The reinforcing structure for a semiconductor according to claim 2, wherein an external pressure is transmitted from the protective package to the panel, and prevents stress and deformation from being transmitted to an electrical junction. Wherein the electrical junction between the semiconductor and the panel is protected from external stress.
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CN115568108A (en) * 2022-09-26 2023-01-03 江苏振宁半导体研究院有限公司 Ultrathin device packaging method

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