JP2000295302A - 直交変調器用性能評価装置および直交変調器用性能評価方法 - Google Patents
直交変調器用性能評価装置および直交変調器用性能評価方法Info
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- JP2000295302A JP2000295302A JP10237499A JP10237499A JP2000295302A JP 2000295302 A JP2000295302 A JP 2000295302A JP 10237499 A JP10237499 A JP 10237499A JP 10237499 A JP10237499 A JP 10237499A JP 2000295302 A JP2000295302 A JP 2000295302A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 直交変調器の性能評価を直流電圧発生回路と
演算回路を用いて行うことが可能な直交変調器用性能評
価装置及び直交変調器用性能評価方法を提供することを
目的とする。 【解決手段】 直交変調器の性能を評価する直交変調器
用性能評価装置において、少なくとも、＋Ａボルト、−
Ａボルト、０ボルト、α×Ａボルトの電圧レベルを持つ
直流電圧で構成された数種類のパターンから成る性能評
価用信号を、直交変調器のＩ信号入力端子とＱ信号入力
端子に出力する性能評価用信号出力手段と、性能評価用
キャリア信号出力手段と、直交変調器の出力信号レベル
を測定する測定手段と、前記性能評価用信号のパターン
毎に直交変調器の出力信号レベルを記憶する記憶手段
と、前記記憶手段に記憶された直交変調器の出力信号レ
ベルから演算によって、少なくともオフセット誤差、振
幅誤差、位相誤差を求める性能評価手段を具備すると共
に装置全体を制御する制御回路を備えたことを特徴とす
る。
演算回路を用いて行うことが可能な直交変調器用性能評
価装置及び直交変調器用性能評価方法を提供することを
目的とする。 【解決手段】 直交変調器の性能を評価する直交変調器
用性能評価装置において、少なくとも、＋Ａボルト、−
Ａボルト、０ボルト、α×Ａボルトの電圧レベルを持つ
直流電圧で構成された数種類のパターンから成る性能評
価用信号を、直交変調器のＩ信号入力端子とＱ信号入力
端子に出力する性能評価用信号出力手段と、性能評価用
キャリア信号出力手段と、直交変調器の出力信号レベル
を測定する測定手段と、前記性能評価用信号のパターン
毎に直交変調器の出力信号レベルを記憶する記憶手段
と、前記記憶手段に記憶された直交変調器の出力信号レ
ベルから演算によって、少なくともオフセット誤差、振
幅誤差、位相誤差を求める性能評価手段を具備すると共
に装置全体を制御する制御回路を備えたことを特徴とす
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、移動体通信を中心
に幅広く用いられる直交変調器の性能評価装置及び直交
変調器用性能評価方法に関するものである。
に幅広く用いられる直交変調器の性能評価装置及び直交
変調器用性能評価方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の直交変調器の性能評価法について
図３を用いて説明する。同図において、（ａ）は、シン
グルサイドバンド（ＳＳＢ）特性での誤差評価法を説明
する図であり、（ｂ）は、入力位相に対する振幅・位相
誤差評価法を説明する図である。
図３を用いて説明する。同図において、（ａ）は、シン
グルサイドバンド（ＳＳＢ）特性での誤差評価法を説明
する図であり、（ｂ）は、入力位相に対する振幅・位相
誤差評価法を説明する図である。
【０００３】図３（ａ）において、被評価対象の直交変
調器１のＩ(Inphase)信号入力端子ａとＱ(Quadrature)
信号入力端子ｂはそれぞれ任意波形発生器１０１と１０
２が接続され、キャリア信号入力端子ｃはＲＦ信号発生
器１０３が接続されている。また、出力信号端子ｄはス
ペクトラムアナライザ１０４が接続されている。
調器１のＩ(Inphase)信号入力端子ａとＱ(Quadrature)
信号入力端子ｂはそれぞれ任意波形発生器１０１と１０
２が接続され、キャリア信号入力端子ｃはＲＦ信号発生
器１０３が接続されている。また、出力信号端子ｄはス
ペクトラムアナライザ１０４が接続されている。
【０００４】このような構成の装置において、任意波形
発生器１０１によってｃｏｓ２πｆ bｔなる性能評価用
信号をＩ信号入力端子ａに入力し、任意波形発生器１０
２によってｓｉｎ２πｆbｔなる性能評価用信号をＱ信
号入力端子ｂに入力し、ＲＦ信号発生器１０３によって
周波数ｆcなるキャリア信号を直交変調器１のキャリア
信号入力端子ｃに入力し、この時の直交変調器１の出力
信号をスペクトラムアナライザ１０４によって測定す
る。尚、任意波形発生器１０１によって発生されるｃｏ
ｓ２πｆbｔなる性能評価用信号と、任意波形発生器１
０２によって発生されるｓｉｎ２πｆbｔなる性能評価
用信号の振幅は等しくなるように調整する。
発生器１０１によってｃｏｓ２πｆ bｔなる性能評価用
信号をＩ信号入力端子ａに入力し、任意波形発生器１０
２によってｓｉｎ２πｆbｔなる性能評価用信号をＱ信
号入力端子ｂに入力し、ＲＦ信号発生器１０３によって
周波数ｆcなるキャリア信号を直交変調器１のキャリア
信号入力端子ｃに入力し、この時の直交変調器１の出力
信号をスペクトラムアナライザ１０４によって測定す
る。尚、任意波形発生器１０１によって発生されるｃｏ
ｓ２πｆbｔなる性能評価用信号と、任意波形発生器１
０２によって発生されるｓｉｎ２πｆbｔなる性能評価
用信号の振幅は等しくなるように調整する。
【０００５】上記のように調整された性能評価用信号を
直交変調器１の各入力端子に入力した場合、直交変調器
１が理想的な直交変調器であった場合は、スペクトラム
アナライザ１０４によって検出される出力信号のｆc−
ｆb成分とｆc成分が０となり、オフセット誤差がある場
合はｆc成分が存在し、振幅あるいは位相誤差がある場
合はｆc−ｆb成分が存在する。
直交変調器１の各入力端子に入力した場合、直交変調器
１が理想的な直交変調器であった場合は、スペクトラム
アナライザ１０４によって検出される出力信号のｆc−
ｆb成分とｆc成分が０となり、オフセット誤差がある場
合はｆc成分が存在し、振幅あるいは位相誤差がある場
合はｆc−ｆb成分が存在する。
【０００６】つまり、シングルサイドバンド特性での誤
差評価法は、振幅が等しく位相が９０度異なる正弦波を
直交変調器のＩ、Ｑそれぞれの信号入力端子に入力した
時、得られる出力信号から、オフセット誤差と振幅誤差
及び位相誤差を検出する方法である。
差評価法は、振幅が等しく位相が９０度異なる正弦波を
直交変調器のＩ、Ｑそれぞれの信号入力端子に入力した
時、得られる出力信号から、オフセット誤差と振幅誤差
及び位相誤差を検出する方法である。
【０００７】また、図３（ｂ）において、被評価対象の
直交変調器１のＩ信号入力端子ａとＱ信号入力端子ｂ
は、それぞれ直流電圧発生器１０６と１０７の直流電圧
出力端子が接続され、キャリア信号入力端子ｃは、ネッ
トワークアナライザ１０５のＲＦ信号出力端子が接続さ
れ、信号端子ｄは、ネットワークアナライザ１０５の入
力信号端子が接続されている。
直交変調器１のＩ信号入力端子ａとＱ信号入力端子ｂ
は、それぞれ直流電圧発生器１０６と１０７の直流電圧
出力端子が接続され、キャリア信号入力端子ｃは、ネッ
トワークアナライザ１０５のＲＦ信号出力端子が接続さ
れ、信号端子ｄは、ネットワークアナライザ１０５の入
力信号端子が接続されている。
【０００８】このような構成の装置において、測定者は
ネットワークアナライザ１０５を操作して直交変調器１
のキャリア信号入力端子ｃに適切な周波数のキャリア信
号を入力すると共に、直流電圧発生器１０６と１０７を
操作してＩ信号入力端子ａとＱ信号入力端子ｂに直流電
圧信号を入力する。
ネットワークアナライザ１０５を操作して直交変調器１
のキャリア信号入力端子ｃに適切な周波数のキャリア信
号を入力すると共に、直流電圧発生器１０６と１０７を
操作してＩ信号入力端子ａとＱ信号入力端子ｂに直流電
圧信号を入力する。
【０００９】この時測定者は、直交変調器１のＩ信号入
力端子ａにｃｏｓｒθなる直流電圧信号とＱ信号入力端
子ｂにｓｉｎｒθなる直流電圧信号が入力されるように
直流電圧発生器１０６と１０７の出力電圧レベルを調整
すると共に、これらの直流電圧信号においてｒを定数と
しθを０〜πまで変化させ、Ｉ，Ｑのベクトルチャート
上に円を描くように直流電圧信号の振幅を変化させる。
この時、測定者は、直交変調器１から出力される出力信
号のそれぞれの点における振幅と位相をネットワークア
ナライザ１０５で測定することによって直交変調器１の
振幅誤差と位相誤差を測定することが可能である。
力端子ａにｃｏｓｒθなる直流電圧信号とＱ信号入力端
子ｂにｓｉｎｒθなる直流電圧信号が入力されるように
直流電圧発生器１０６と１０７の出力電圧レベルを調整
すると共に、これらの直流電圧信号においてｒを定数と
しθを０〜πまで変化させ、Ｉ，Ｑのベクトルチャート
上に円を描くように直流電圧信号の振幅を変化させる。
この時、測定者は、直交変調器１から出力される出力信
号のそれぞれの点における振幅と位相をネットワークア
ナライザ１０５で測定することによって直交変調器１の
振幅誤差と位相誤差を測定することが可能である。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記に説明
した従来の直交変調器の性能評価法では、下記の問題点
があった。図３（ａ）で説明したシングルサイドバンド
特性での誤差評価法では、Ｉ信号入力端子ａ及びＱ号入
力端子ｂに入力する性能評価用信号を発生するための位
相が９０度異なる等しい振幅をもつ正弦波を発生する任
意波形発生器と、直交変調器の出力信号に含まれるＩ信
号とＱ信号及びキャリア信号の周波数成分を完全に分離
できる分解能を持ったスペクトラムアナライザが必要と
なるため、これらの装置を調達することは容易でなく、
また各装置を同時に操作することは、操作が煩雑となる
ため測定者の大きな負担となるという問題点があった。
した従来の直交変調器の性能評価法では、下記の問題点
があった。図３（ａ）で説明したシングルサイドバンド
特性での誤差評価法では、Ｉ信号入力端子ａ及びＱ号入
力端子ｂに入力する性能評価用信号を発生するための位
相が９０度異なる等しい振幅をもつ正弦波を発生する任
意波形発生器と、直交変調器の出力信号に含まれるＩ信
号とＱ信号及びキャリア信号の周波数成分を完全に分離
できる分解能を持ったスペクトラムアナライザが必要と
なるため、これらの装置を調達することは容易でなく、
また各装置を同時に操作することは、操作が煩雑となる
ため測定者の大きな負担となるという問題点があった。
【００１１】また、図３（ｂ）で説明した入力位相に対
する振幅・位相誤差評価法では、高価で取り扱いの難し
いネットワークアナライザを用いる必要があるため、こ
れを調達することは容易でなく、装置の取り扱いにも熟
練を要するという問題点があった。また、この方法で必
要となる直流電圧発生器１０６と１０７及びネットワー
クアナライザを同時に操作することは、操作が煩雑とな
るため測定者の大きな負担となるという問題点があっ
た。
する振幅・位相誤差評価法では、高価で取り扱いの難し
いネットワークアナライザを用いる必要があるため、こ
れを調達することは容易でなく、装置の取り扱いにも熟
練を要するという問題点があった。また、この方法で必
要となる直流電圧発生器１０６と１０７及びネットワー
クアナライザを同時に操作することは、操作が煩雑とな
るため測定者の大きな負担となるという問題点があっ
た。
【００１２】本発明は、上記問題を解決するもので、直
交変調器の性能評価を直流電圧発生回路と演算回路を用
いて行うことが可能な直交変調器用性能評価装置及び直
交変調器用性能評価方法を提供することを目的とする。
交変調器の性能評価を直流電圧発生回路と演算回路を用
いて行うことが可能な直交変調器用性能評価装置及び直
交変調器用性能評価方法を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために請求項１に記載の発明では、直交変調器の性能
を評価する直交変調器用性能評価装置において、少なく
とも、＋Ａボルト、−Ａボルト、０ボルト、α×Ａボル
トの電圧レベルを持つ直流電圧で構成された数種類のパ
ターンから成る性能評価用信号を、直交変調器のＩ信号
入力端子とＱ信号入力端子に出力する性能評価用信号出
力手段と、性能評価用キャリア信号出力手段と、直交変
調器の出力信号レベルを測定する測定手段と、前記性能
評価用信号のパターン毎に直交変調器の出力信号レベル
を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された直交
変調器の出力信号レベルから演算によって、少なくとも
オフセット誤差、振幅誤差、位相誤差を求める性能評価
手段を具備すると共に装置全体を制御する制御回路を備
えたことを特徴とするものである。
るために請求項１に記載の発明では、直交変調器の性能
を評価する直交変調器用性能評価装置において、少なく
とも、＋Ａボルト、−Ａボルト、０ボルト、α×Ａボル
トの電圧レベルを持つ直流電圧で構成された数種類のパ
ターンから成る性能評価用信号を、直交変調器のＩ信号
入力端子とＱ信号入力端子に出力する性能評価用信号出
力手段と、性能評価用キャリア信号出力手段と、直交変
調器の出力信号レベルを測定する測定手段と、前記性能
評価用信号のパターン毎に直交変調器の出力信号レベル
を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された直交
変調器の出力信号レベルから演算によって、少なくとも
オフセット誤差、振幅誤差、位相誤差を求める性能評価
手段を具備すると共に装置全体を制御する制御回路を備
えたことを特徴とするものである。
【００１４】このことにより、直交変調器の性能評価を
１台の装置で行うことが可能となる。また、この直交変
調器用性能評価装置は、直流電圧発生回路と演算回路等
の簡単な回路によって構成することが可能となる。
１台の装置で行うことが可能となる。また、この直交変
調器用性能評価装置は、直流電圧発生回路と演算回路等
の簡単な回路によって構成することが可能となる。
【００１５】請求項２と３に記載の発明では、請求項１
に記載の発明において、直交変調器の性能評価を１０パ
ターンの直流電圧の組み合わせから成る性能評価用信号
を直交変調器に入力して得られる出力信号から演算によ
って行うことが可能となる。
に記載の発明において、直交変調器の性能評価を１０パ
ターンの直流電圧の組み合わせから成る性能評価用信号
を直交変調器に入力して得られる出力信号から演算によ
って行うことが可能となる。
【００１６】請求項４に記載の発明では、請求項１に記
載の発明において、性能評価用信号出力手段は、直流電
圧発生回路で構成することが可能となる。
載の発明において、性能評価用信号出力手段は、直流電
圧発生回路で構成することが可能となる。
【００１７】請求項５に記載の発明では、直交変調器の
性能を評価する評価方法において、直流電圧発生源から
出力される少なくとも、＋Ａボルト、−Ａボルト、０ボ
ルト、α×Ａボルトの電圧レベルを持つ直流電圧で構成
された数種類のパターンから成る性能評価用信号を、直
交変調器のＩ信号入力端子とＱ信号入力端子に入力し、
ＲＦ信号発生源から出力される性能評価用キャリア信号
を直交変調器のキャリア信号入力端子に入力し、前記数
種類のパターンから成る性能評価用信号を直交変調器に
入力した時の直交変調器の出力信号レベルをパターン毎
に記憶し、前記パターン毎に記憶された直交変調器の出
力信号レベルから演算手段によって、少なくともオフセ
ット誤差、振幅誤差、位相誤差を求めることを特徴とす
るものである。
性能を評価する評価方法において、直流電圧発生源から
出力される少なくとも、＋Ａボルト、−Ａボルト、０ボ
ルト、α×Ａボルトの電圧レベルを持つ直流電圧で構成
された数種類のパターンから成る性能評価用信号を、直
交変調器のＩ信号入力端子とＱ信号入力端子に入力し、
ＲＦ信号発生源から出力される性能評価用キャリア信号
を直交変調器のキャリア信号入力端子に入力し、前記数
種類のパターンから成る性能評価用信号を直交変調器に
入力した時の直交変調器の出力信号レベルをパターン毎
に記憶し、前記パターン毎に記憶された直交変調器の出
力信号レベルから演算手段によって、少なくともオフセ
ット誤差、振幅誤差、位相誤差を求めることを特徴とす
るものである。
【００１８】このことにより、直交変調器の性能評価
を、例えば直流電圧発生器等の直流電圧発生源と、例え
ばＲＦ信号発生器等のＲＦ信号発生源と、例えばＲＦレ
ベル測定器等の直交変調器の出力レベルを測定する装置
を用いて行うことが可能となる。
を、例えば直流電圧発生器等の直流電圧発生源と、例え
ばＲＦ信号発生器等のＲＦ信号発生源と、例えばＲＦレ
ベル測定器等の直交変調器の出力レベルを測定する装置
を用いて行うことが可能となる。
【００１９】請求項６と７に記載の発明では、請求項５
に記載の発明において、直交変調器の性能評価を１０パ
ターンの直流電圧の組み合わせから成る性能評価用信号
を直交変調器に入力して得られる出力信号から演算によ
って行うことが可能となる。
に記載の発明において、直交変調器の性能評価を１０パ
ターンの直流電圧の組み合わせから成る性能評価用信号
を直交変調器に入力して得られる出力信号から演算によ
って行うことが可能となる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく
説明する。図１は本発明に係る直交変調器用性能評価装
置の構成図である。
説明する。図１は本発明に係る直交変調器用性能評価装
置の構成図である。
【００２１】図１において、直交変調器用性能評価装置
１０に備えられた性能評価用信号出力手段１１は被評価
対象である直交変調器１のＩ信号端子ａに接続され、性
能評価用信号出力手段１２は直交変調器１のＱ信号端子
ｂに接続され、キャリア信号出力手段１３は直交変調器
１のキャリア信号端子ｃに接続され、測定手段１４は直
交変調器１の出力信号端子ｄに接続される。
１０に備えられた性能評価用信号出力手段１１は被評価
対象である直交変調器１のＩ信号端子ａに接続され、性
能評価用信号出力手段１２は直交変調器１のＱ信号端子
ｂに接続され、キャリア信号出力手段１３は直交変調器
１のキャリア信号端子ｃに接続され、測定手段１４は直
交変調器１の出力信号端子ｄに接続される。
【００２２】性能評価用信号出力手段１１と１２は、制
御装置１５から入力される制御信号により任意の電圧レ
ベルの直流電圧信号を出力することが可能な直流電圧発
生回路であり、キャリア信号出力手段１３は制御装置１
５から入力される制御信号により任意の周波数のキャリ
ア信号を出力することが可能なＲＦ信号発生回路であ
る。
御装置１５から入力される制御信号により任意の電圧レ
ベルの直流電圧信号を出力することが可能な直流電圧発
生回路であり、キャリア信号出力手段１３は制御装置１
５から入力される制御信号により任意の周波数のキャリ
ア信号を出力することが可能なＲＦ信号発生回路であ
る。
【００２３】測定手段１４は、ＲＦレベル測定回路とＡ
／Ｄ変換器から成り、直交変調器１の出力信号レベルを
測定すると共に測定値をＡ／Ｄ変換し、その測定値を制
御装置１５に入力する。
／Ｄ変換器から成り、直交変調器１の出力信号レベルを
測定すると共に測定値をＡ／Ｄ変換し、その測定値を制
御装置１５に入力する。
【００２４】制御装置１５は、性能評価用信号出力手段
１１と１２及びキャリア信号出力手段１３を制御すると
共に測定手段１４から入力される出力信号レベル値を記
憶手段１６に記憶する。記憶手段１６は、例えば不揮発
メモリ等のメモリ回路である。
１１と１２及びキャリア信号出力手段１３を制御すると
共に測定手段１４から入力される出力信号レベル値を記
憶手段１６に記憶する。記憶手段１６は、例えば不揮発
メモリ等のメモリ回路である。
【００２５】また、制御装置１５は、例えば中央演算処
理装置（ＣＰＵ）とその周辺回路から構成されており、
記憶手段１６に記憶された出力信号レベル値を読み出
し、演算式を用いてオフセット誤差、振幅誤差、位相誤
差を求める性能評価手段をプログラムとして具備し、こ
こで求められたオフセット誤差、振幅誤差、位相誤差を
表示手段１７に表示する。
理装置（ＣＰＵ）とその周辺回路から構成されており、
記憶手段１６に記憶された出力信号レベル値を読み出
し、演算式を用いてオフセット誤差、振幅誤差、位相誤
差を求める性能評価手段をプログラムとして具備し、こ
こで求められたオフセット誤差、振幅誤差、位相誤差を
表示手段１７に表示する。
【００２６】このような構成における直交変調器用性能
評価装置１０の動作を以下に説明する。尚、以下の説明
において、被評価対象である直交変調器１は、Ｑ側に振
幅誤差Ｇｅと位相誤差θｅがあるとき、Ｉ信号入力端子
ａにｉ（ｔ）、Ｑ信号入力端子ｂにｑ（ｔ）を入力した
時、出力信号ＲＦｏｕｔが
評価装置１０の動作を以下に説明する。尚、以下の説明
において、被評価対象である直交変調器１は、Ｑ側に振
幅誤差Ｇｅと位相誤差θｅがあるとき、Ｉ信号入力端子
ａにｉ（ｔ）、Ｑ信号入力端子ｂにｑ（ｔ）を入力した
時、出力信号ＲＦｏｕｔが
【数３】 で表される直交変調器とする。
【００２７】まず、制御装置１５は、図２に示す１０パ
ターンの性能評価用信号を、直交変調器１のＩ信号入力
端子ａとＱ信号入力端子ｂに入力し、各パターン毎に直
交変調器１から出力される出力信号レベルを測定し、記
憶手段１６に記憶する。
ターンの性能評価用信号を、直交変調器１のＩ信号入力
端子ａとＱ信号入力端子ｂに入力し、各パターン毎に直
交変調器１から出力される出力信号レベルを測定し、記
憶手段１６に記憶する。
【００２８】つまり、図２に示す第１のパターンとし
て、直交変調器１のＩ信号に定格入力電圧に応じた所定
の直流電圧（＋Ａ）ボルトの直流電圧を印加し、同様に
直交変調器１のＱ信号に所定の直流電圧（＋Ａ）ボルト
の直流電圧を印加する。この時、直交変調器１から出力
される出力信号レベルをＰ１として記憶手段１６に記憶
する。
て、直交変調器１のＩ信号に定格入力電圧に応じた所定
の直流電圧（＋Ａ）ボルトの直流電圧を印加し、同様に
直交変調器１のＱ信号に所定の直流電圧（＋Ａ）ボルト
の直流電圧を印加する。この時、直交変調器１から出力
される出力信号レベルをＰ１として記憶手段１６に記憶
する。
【００２９】次に、第２のパターンとして、直交変調器
１のＩ信号に上記直流電圧（＋Ａ）と逆極性の直流電圧
（−Ａ）ボルトの直流電圧を印加し、同様に直交変調器
１のＱ信号に直流電圧（−Ａ）ボルトの直流電圧を印加
する。この時、直交変調器１から出力される出力信号レ
ベルをＰ２として記憶手段１６に記憶する。
１のＩ信号に上記直流電圧（＋Ａ）と逆極性の直流電圧
（−Ａ）ボルトの直流電圧を印加し、同様に直交変調器
１のＱ信号に直流電圧（−Ａ）ボルトの直流電圧を印加
する。この時、直交変調器１から出力される出力信号レ
ベルをＰ２として記憶手段１６に記憶する。
【００３０】以下同様に、第３のパターンから第１０の
パターンを直交変調器１のＩ信号に及びＱ信号に印加
し、それぞれのパターン毎に直交変調器１から出力され
る出力信号レベルＰ３〜Ｐ１０を記憶手段１６に記憶す
る。また、第９のパターンのＩ信号と第１０のパターン
のＱ信号に入力される直流電圧（αＡ）は、上記の所定
の直流電圧（＋Ａ）に所定の係数αを乗じた電圧レベル
の直流電圧である。
パターンを直交変調器１のＩ信号に及びＱ信号に印加
し、それぞれのパターン毎に直交変調器１から出力され
る出力信号レベルＰ３〜Ｐ１０を記憶手段１６に記憶す
る。また、第９のパターンのＩ信号と第１０のパターン
のＱ信号に入力される直流電圧（αＡ）は、上記の所定
の直流電圧（＋Ａ）に所定の係数αを乗じた電圧レベル
の直流電圧である。
【００３１】その後、制御装置１５は記憶手段１６か
ら、上記の動作によって求めた出力信号レベルＰ１〜Ｐ
１０を読み出し、下記の式に代入し、直交変調器１のオ
フセット誤差Ｉoffset、Ｑoffset、振幅誤差Ｇe、位相
誤差θeを求める。
ら、上記の動作によって求めた出力信号レベルＰ１〜Ｐ
１０を読み出し、下記の式に代入し、直交変調器１のオ
フセット誤差Ｉoffset、Ｑoffset、振幅誤差Ｇe、位相
誤差θeを求める。
【数４】
【００３２】つまり、本発明の直交変調器用性能評価装
置では、被評価対象の直交変調器のＩ信号入力端子及び
Ｑ信号入力端子に、１０パターンの直流電圧信号を入力
し、各パターン毎に得られる直交変調器の出力信号から
演算によって、交変調器１のオフセット誤差Ｉoffset、
Ｑoffset、振幅誤差Ｇe、位相誤差θeを求めることが可
能である。
置では、被評価対象の直交変調器のＩ信号入力端子及び
Ｑ信号入力端子に、１０パターンの直流電圧信号を入力
し、各パターン毎に得られる直交変調器の出力信号から
演算によって、交変調器１のオフセット誤差Ｉoffset、
Ｑoffset、振幅誤差Ｇe、位相誤差θeを求めることが可
能である。
【００３３】なお、以上の説明は、本発明の説明および
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明は、上記実施例に限定されること
なく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、
変形をも含むものである。
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明は、上記実施例に限定されること
なく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、
変形をも含むものである。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば次のような効果がある。請求項１から３
に記載の発明では、直交変調器の性能評価を１台の直交
変調器用性能評価装置で行うことが可能となる。また、
この直交変調器用性能評価装置は直流電圧発生回路とＲ
Ｆレベル測定回路等の簡単な回路で構成することが可能
である。
本発明によれば次のような効果がある。請求項１から３
に記載の発明では、直交変調器の性能評価を１台の直交
変調器用性能評価装置で行うことが可能となる。また、
この直交変調器用性能評価装置は直流電圧発生回路とＲ
Ｆレベル測定回路等の簡単な回路で構成することが可能
である。
【００３５】請求項４に記載の発明では、性能評価用信
号出力手段を直流電圧発生回路で構成することが可能と
なる。直流電圧発生回路は従来から各種の測定器に用い
られている技術であり、製作及び低コスト化が容易であ
る。
号出力手段を直流電圧発生回路で構成することが可能と
なる。直流電圧発生回路は従来から各種の測定器に用い
られている技術であり、製作及び低コスト化が容易であ
る。
【００３６】請求項５から７に記載の発明では、直交変
調器の性能評価を１０パターンの直流電圧の組み合わせ
から成る性能評価用信号を直交変調器に入力して得られ
る出力信号から演算によって行うことが可能となる。従
って、直交変調器の性能評価を直流電圧発生器やＲＦレ
ベル測定器等の比較的容易に調達することが可能な装置
を用いて行うことが可能となる。また、本発明の直交変
調器の性能評価方法を、直交変調器を用いる装置に適用
することにより、直交変調器の自動校正を自動的に実施
するセルフキャリブレーション機能を実現することも可
能である。
調器の性能評価を１０パターンの直流電圧の組み合わせ
から成る性能評価用信号を直交変調器に入力して得られ
る出力信号から演算によって行うことが可能となる。従
って、直交変調器の性能評価を直流電圧発生器やＲＦレ
ベル測定器等の比較的容易に調達することが可能な装置
を用いて行うことが可能となる。また、本発明の直交変
調器の性能評価方法を、直交変調器を用いる装置に適用
することにより、直交変調器の自動校正を自動的に実施
するセルフキャリブレーション機能を実現することも可
能である。
【図１】本発明に係る直交変調器用性能評価装置の一実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図２】本発明に係る直交変調器用性能評価装置の動作
を説明するベクトル図である。
を説明するベクトル図である。
【図３】従来の直交変調器の性能評価方法の一例を示す
構成図である。
構成図である。
１ 直交変調器 １１、１２ 性能評価用信号出力手段 １３ 性能評価用キャリア信号出力手段 １４ 測定手段 １５ 制御装置 １６ 記憶手段 １７ 表示手段
Claims (7)
- 【請求項１】直交変調器の性能を評価する直交変調器用
性能評価装置において、 少なくとも、＋Ａボルト、−Ａボルト、０ボルト、α×
Ａボルト（Ａボルトは所定の信号電圧であり、αは所定
の係数である。）の電圧レベルを持つ直流電圧で構成さ
れた数種類のパターンから成る性能評価用信号を、直交
変調器のＩ信号入力端子とＱ信号入力端子に出力する性
能評価用信号出力手段と、 性能評価用キャリア信号出力手段と、 直交変調器の出力信号レベルを測定する測定手段と、 前記性能評価用信号のパターン毎に直交変調器の出力信
号レベルを記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された直交変調器の出力信号レベル
から演算によって、少なくともオフセット誤差、振幅誤
差、位相誤差を求める性能評価手段を具備すると共に装
置全体を制御する制御回路を備えたことを特徴とする直
交変調器用性能評価装置。 - 【請求項２】前記性能評価用信号は、Ｉ信号にＡボル
ト、Ｑ信号にＡボルトを入力する第１のパターンと、Ｉ
信号に−Ａボルト、Ｑ信号に−Ａボルトを入力する第２
のパターンと、Ｉ信号にＡボルト、Ｑ信号に−Ａボルト
を入力する第３のパターンと、Ｉ信号に−Ａボルト、Ｑ
信号にＡボルトを入力する第４のパターンと、Ｉ信号に
Ａボルト、Ｑ信号に０ボルトを入力する第５のパターン
と、Ｉ信号に−Ａボルト、Ｑ信号に０ボルトを入力する
第６のパターンと、Ｉ信号に０ボルト、Ｑ信号にＡボル
トを入力する第７のパターンと、Ｉ信号に０ボルト、Ｑ
信号に−Ａボルトを入力する第８のパターンと、Ｉ信号
にα×Ａボルト、Ｑ信号に０ボルトを入力する第９のパ
ターンと、Ｉ信号に０ボルト、Ｑ信号にα×Ａボルトを
入力する第１０のパターンと、によって構成されたこと
を特徴とする請求項１に記載の直交変調器用性能評価装
置。 - 【請求項３】前記性能評価手段は、下記の演算式を用い
てオフセット誤差Ｉoffset、Ｑoffs et、振幅誤差Ｇe、
位相誤差θeを求めるように構成されたことを特徴とす
る請求項１に記載の直交変調器用性能評価装置。 【数１】 また、前記Ｐ１〜Ｐ１０は、前記性能評価用信号の第１
のパターンを直交変調器に入力した時得られる出力信号
をＰ１とし、第２のパターンを直交変調器に入力した時
得られる出力信号をＰ２とし、以下同様に、第１０のパ
ターンを直交変調器に入力した時得られる出力信号をＰ
１０とする。 - 【請求項４】性能評価用信号出力手段は、直流電圧信号
を発生するように構成されたことを特徴とする請求項１
に記載の直交変調器用性能評価装置。 - 【請求項５】直交変調器の性能を評価する評価方法にお
いて、 直流電圧発生源から出力される少なくとも、＋Ａボル
ト、−Ａボルト、０ボルト、α×Ａボルトの電圧レベル
を持つ直流電圧で構成された数種類のパターンから成る
性能評価用信号を、直交変調器のＩ信号入力端子とＱ信
号入力端子に入力し、 ＲＦ信号発生源から出力される性能評価用キャリア信号
を直交変調器のキャリア信号入力端子に入力し、 前記数種類のパターンから成る性能評価用信号を直交変
調器に入力した時の直交変調器の出力信号レベルをパタ
ーン毎に記憶し、 前記パターン毎に記憶された直交変調器の出力信号レベ
ルから演算手段によって、少なくともオフセット誤差、
振幅誤差、位相誤差を求めることを特徴とする直交変調
器用性能評価方法。 - 【請求項６】前記性能評価用信号は、Ｉ信号にＡボル
ト、Ｑ信号にＡボルトを入力する第１のパターンと、Ｉ
信号に−Ａボルト、Ｑ信号に−Ａボルトを入力する第２
のパターンと、Ｉ信号にＡボルト、Ｑ信号に−Ａボルト
を入力する第３のパターンと、Ｉ信号に−Ａボルト、Ｑ
信号にＡボルトを入力する第４のパターンと、Ｉ信号に
Ａボルト、Ｑ信号に０ボルトを入力する第５のパターン
と、Ｉ信号に−Ａボルト、Ｑ信号に０ボルトを入力する
第６のパターンと、Ｉ信号に０ボルト、Ｑ信号にＡボル
トを入力する第７のパターンと、Ｉ信号に０ボルト、Ｑ
信号に−Ａボルトを入力する第８のパターンと、Ｉ信号
にα×Ａボルト、Ｑ信号に０ボルトを入力する第９のパ
ターンと、Ｉ信号に０ボルト、Ｑ信号にα×Ａボルトを
入力する第１０のパターンと、によって構成されたこと
を特徴とする請求項５に記載の直交変調器用性能評価方
法。 - 【請求項７】前記演算手段は、下記の演算式を用いてオ
フセット誤差Ｉoffset、Ｑoffset、振幅誤差Ｇe、位相
誤差θeを求めるように構成されたことを特徴とする請
求項５に記載の直交変調器用性能評価方法。 【数２】 また、前記Ｐ１〜Ｐ１０は、前記性能評価用信号の第１
のパターンを直交変調器に入力した時得られる出力信号
をＰ１とし、第２のパターンを直交変調器に入力した時
得られる出力信号をＰ２とし、以下同様に、第１０のパ
ターンを直交変調器に入力した時得られる出力信号をＰ
１０とする。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10237499A JP3593693B2 (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | 直交変調器用性能評価装置および直交変調器用性能評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10237499A JP3593693B2 (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | 直交変調器用性能評価装置および直交変調器用性能評価方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000295302A true JP2000295302A (ja) | 2000-10-20 |
| JP3593693B2 JP3593693B2 (ja) | 2004-11-24 |
Family
ID=14325696
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10237499A Expired - Fee Related JP3593693B2 (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | 直交変調器用性能評価装置および直交変調器用性能評価方法 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3593693B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100418305C (zh) * | 2004-01-30 | 2008-09-10 | 三星电子株式会社 | 补偿基站系统中的相位误差的方法和装置 |
| JP2009111450A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Panasonic Electric Works Co Ltd | Ｆｓｋ変調回路 |
| CN101562598B (zh) * | 2004-01-30 | 2014-12-10 | 日本电气株式会社 | 正交调制器的调整装置及调整方法、以及通信装置 |
-
1999
- 1999-04-09 JP JP10237499A patent/JP3593693B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100418305C (zh) * | 2004-01-30 | 2008-09-10 | 三星电子株式会社 | 补偿基站系统中的相位误差的方法和装置 |
| CN101562598B (zh) * | 2004-01-30 | 2014-12-10 | 日本电气株式会社 | 正交调制器的调整装置及调整方法、以及通信装置 |
| JP2009111450A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Panasonic Electric Works Co Ltd | Ｆｓｋ変調回路 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3593693B2 (ja) | 2004-11-24 |
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