JP2000292469A - ジッタ測定装置 - Google Patents
ジッタ測定装置Info
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- JP2000292469A JP2000292469A JP11103380A JP10338099A JP2000292469A JP 2000292469 A JP2000292469 A JP 2000292469A JP 11103380 A JP11103380 A JP 11103380A JP 10338099 A JP10338099 A JP 10338099A JP 2000292469 A JP2000292469 A JP 2000292469A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 この発明は、周期性信号に含まれるジッタを
リアルタイムに測定するジッタ測定装置に関する。 【解決手段】 基準信号発生器１から発した基準信号は
分岐され、一方は被測定物２に入力され、もう一方は信
号遅延器３に入力される。被測定物２は、入力された基
準信号と同一周波数の被測定信号４ａをＡ／Ｄ変換器４
に出力する。信号遅延器３は、入力された信号に規定の
遅延量を与えた信号をクロック信号４ｂとして、Ａ／Ｄ
変換器４に出力する。この遅延量は、測定を通して常に
一定であるため、後述するＡ／Ｄ変換器による入力信号
の量子化は測定を通して一定周期で行われる。Ａ／Ｄ変
換器４は、入力された被測定信号４ａを、前述したクロ
ック信号４ｂに基づくタイミングで量子化し、数値化さ
れたデータをメモリ５へ出力する。メモリ５はＡ／Ｄ変
換器４の出力したデータを記憶する。計算機６はメモリ
５に蓄えられたデータを基にジッタ量を算出する。
リアルタイムに測定するジッタ測定装置に関する。 【解決手段】 基準信号発生器１から発した基準信号は
分岐され、一方は被測定物２に入力され、もう一方は信
号遅延器３に入力される。被測定物２は、入力された基
準信号と同一周波数の被測定信号４ａをＡ／Ｄ変換器４
に出力する。信号遅延器３は、入力された信号に規定の
遅延量を与えた信号をクロック信号４ｂとして、Ａ／Ｄ
変換器４に出力する。この遅延量は、測定を通して常に
一定であるため、後述するＡ／Ｄ変換器による入力信号
の量子化は測定を通して一定周期で行われる。Ａ／Ｄ変
換器４は、入力された被測定信号４ａを、前述したクロ
ック信号４ｂに基づくタイミングで量子化し、数値化さ
れたデータをメモリ５へ出力する。メモリ５はＡ／Ｄ変
換器４の出力したデータを記憶する。計算機６はメモリ
５に蓄えられたデータを基にジッタ量を算出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、周期性信号に含
まれるジッタをリアルタイムに測定するジッタ測定装置
に関する。
まれるジッタをリアルタイムに測定するジッタ測定装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ジッタ（位相変動）の測定にあた
ってはスペクトラムアナライザを用い、信号の電力と雑
音の電力の比からジッタを求めていた。
ってはスペクトラムアナライザを用い、信号の電力と雑
音の電力の比からジッタを求めていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、スペク
トラムアナライザによるジッタの測定は、雑音を所定の
帯域にわたって積分する必要があり、このため測定に非
常に時間がかかった。また、測定するジッタが微少であ
った場合、測定することが非常に困難であるという問題
があった。本発明はこのような事情に鑑みてなされたも
ので、ジッタをリアルタイムで測定することができ、さ
らに、微少なジッタをも測定することができるジッタ測
定装置を提供することを目的とする。
トラムアナライザによるジッタの測定は、雑音を所定の
帯域にわたって積分する必要があり、このため測定に非
常に時間がかかった。また、測定するジッタが微少であ
った場合、測定することが非常に困難であるという問題
があった。本発明はこのような事情に鑑みてなされたも
ので、ジッタをリアルタイムで測定することができ、さ
らに、微少なジッタをも測定することができるジッタ測
定装置を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記発明を達成するため
に請求項１に記載の発明は、基準信号発生手段から出力
された基準信号が、被測定物を通過することによって生
じたジッタを測定するジッタ測定装置において、前記基
準信号発生手段から出力された基準信号が入力され、前
記基準信号を規定された時間だけ遅延して出力する信号
遅延手段と、前記信号遅延手段が出力する信号に基づい
て、前記被測定物から出力された被測定信号の瞬時値を
測定する瞬時値測定手段と、前記瞬時値測定手段が出力
する数値データを蓄積するデータ蓄積手段と、前記デー
タ蓄積手段が蓄積したデータを計算処理してジッタ量を
算出する計算処理手段とを具備することを特徴とする。
に請求項１に記載の発明は、基準信号発生手段から出力
された基準信号が、被測定物を通過することによって生
じたジッタを測定するジッタ測定装置において、前記基
準信号発生手段から出力された基準信号が入力され、前
記基準信号を規定された時間だけ遅延して出力する信号
遅延手段と、前記信号遅延手段が出力する信号に基づい
て、前記被測定物から出力された被測定信号の瞬時値を
測定する瞬時値測定手段と、前記瞬時値測定手段が出力
する数値データを蓄積するデータ蓄積手段と、前記デー
タ蓄積手段が蓄積したデータを計算処理してジッタ量を
算出する計算処理手段とを具備することを特徴とする。
【０００５】また、請求項２に記載の発明は、請求項１
に記載のジッタ測定装置において、前記被測定物が出力
する信号が入力され、前記入力された信号の波形の立ち
上がり、および、立ち下がりの傾斜を急峻にする波形変
形手段を、前記被測定物と前記瞬時値測定手段との間に
更に備えたことを特徴とする。
に記載のジッタ測定装置において、前記被測定物が出力
する信号が入力され、前記入力された信号の波形の立ち
上がり、および、立ち下がりの傾斜を急峻にする波形変
形手段を、前記被測定物と前記瞬時値測定手段との間に
更に備えたことを特徴とする。
【０００６】また、請求項３に記載の発明は、請求項１
および請求項２に記載のジッタ測定装置において、前記
波形変形手段は、前記被測定物から出力された信号を増
幅する増幅回路と、前記増幅された信号の振幅を制限す
る振幅制限回路とからなることを特徴とする。また、請
求項４に記載の発明は、請求項１に記載のジッタ測定装
置において、前記基準信号が入力され、前記基準信号を
規定された時間だけ遅延して出力する第２の信号遅延手
段と、前記第２の信号遅延手段が出力する信号に応じ
て、前記被測定信号の瞬時値を測定する第２の瞬時値測
定手段と、前記第２の瞬時値測定手段が出力する数値デ
ータを蓄積する第２のデータ蓄積手段とを備え、前記計
算処理手段は、前記データ蓄積手段、および、前記第２
のデータ蓄積手段が蓄積したデータを計算処理してジッ
タ量を算出することを特徴とする。
および請求項２に記載のジッタ測定装置において、前記
波形変形手段は、前記被測定物から出力された信号を増
幅する増幅回路と、前記増幅された信号の振幅を制限す
る振幅制限回路とからなることを特徴とする。また、請
求項４に記載の発明は、請求項１に記載のジッタ測定装
置において、前記基準信号が入力され、前記基準信号を
規定された時間だけ遅延して出力する第２の信号遅延手
段と、前記第２の信号遅延手段が出力する信号に応じ
て、前記被測定信号の瞬時値を測定する第２の瞬時値測
定手段と、前記第２の瞬時値測定手段が出力する数値デ
ータを蓄積する第２のデータ蓄積手段とを備え、前記計
算処理手段は、前記データ蓄積手段、および、前記第２
のデータ蓄積手段が蓄積したデータを計算処理してジッ
タ量を算出することを特徴とする。
【０００７】また、請求項５に記載の発明は、請求項1
に記載のジッタ測定装置において、前記被測定物が出力
する信号を、前記信号遅延手段が出力する信号に応じて
記憶する電圧記憶手段を、前記被測定物と前記瞬時値測
定手段の間に設置することを特徴とする。
に記載のジッタ測定装置において、前記被測定物が出力
する信号を、前記信号遅延手段が出力する信号に応じて
記憶する電圧記憶手段を、前記被測定物と前記瞬時値測
定手段の間に設置することを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】〔第１実施形態〕まず、図面を参
照してこの発明の第１実施形態について説明する。図１
は、この発明の第１実施形態によるジッタ測定装置の構
成を示すブロック図である。図１において、１は基準信
号発生器であり、例えば、周期的な正弦波信号を出力す
る装置である。この基準信号発生器１から発した基準信
号は分岐され、一方は被測定物２に入力され、もう一方
は信号遅延器３に入力される。
照してこの発明の第１実施形態について説明する。図１
は、この発明の第１実施形態によるジッタ測定装置の構
成を示すブロック図である。図１において、１は基準信
号発生器であり、例えば、周期的な正弦波信号を出力す
る装置である。この基準信号発生器１から発した基準信
号は分岐され、一方は被測定物２に入力され、もう一方
は信号遅延器３に入力される。
【０００９】被測定物２は、入力された基準信号と同一
周波数の被測定信号４ａをＡ／Ｄ（アナログ−ディジタ
ル）変換器４に出力する。信号遅延器３は、入力された
信号に規定の遅延量を与えた信号をクロック信号４ｂと
して、Ａ／Ｄ変換器４に出力する。ここで規定の遅延量
とは、Ａ／Ｄ変換器４が、入力された信号の波形のうち
傾斜が最も急峻な位置（図２（ａ）におけるＡ１、Ａ２
…）の値を量子化するように設定された値である。な
お、この遅延量は、測定を通して常に一定である。
周波数の被測定信号４ａをＡ／Ｄ（アナログ−ディジタ
ル）変換器４に出力する。信号遅延器３は、入力された
信号に規定の遅延量を与えた信号をクロック信号４ｂと
して、Ａ／Ｄ変換器４に出力する。ここで規定の遅延量
とは、Ａ／Ｄ変換器４が、入力された信号の波形のうち
傾斜が最も急峻な位置（図２（ａ）におけるＡ１、Ａ２
…）の値を量子化するように設定された値である。な
お、この遅延量は、測定を通して常に一定である。
【００１０】Ａ／Ｄ変換器４は、入力された被測定信号
４ａを、前述したクロック信号４ｂに基づくタイミング
で量子化し、数値化されたデータをメモリ５へ出力す
る。メモリ５はＡ／Ｄ変換器４の出力したデータを記憶
する。計算機６はメモリ５に蓄えられたデータを基にジ
ッタ量を算出する。
４ａを、前述したクロック信号４ｂに基づくタイミング
で量子化し、数値化されたデータをメモリ５へ出力す
る。メモリ５はＡ／Ｄ変換器４の出力したデータを記憶
する。計算機６はメモリ５に蓄えられたデータを基にジ
ッタ量を算出する。
【００１１】このような構成において、被測定信号４ａ
にジッタが加わっていなければ、図２（ａ）に示された
ように、被測定信号４ａの周期信号の常に同じ位置が量
子化され、この結果、Ａ／Ｄ変換器４の出力するデータ
は一定である。
にジッタが加わっていなければ、図２（ａ）に示された
ように、被測定信号４ａの周期信号の常に同じ位置が量
子化され、この結果、Ａ／Ｄ変換器４の出力するデータ
は一定である。
【００１２】一方、被測定信号４ａにジッタが加わって
いる場合、被測定信号４ａの信号周期はジッタ量に応じ
て変動するため、図２の（ｂ）に示されたようにＡ／Ｄ
変換器４で量子化される位置（位相）が変動する。この
結果、Ａ／Ｄ変換器４が出力するデータが変化する。こ
のＡ／Ｄ変換器４が出力した出力データの変化量はジッ
タ量の瞬時値に対応する。この出力データは、メモリ５
に蓄積され、計算機６はメモリ５に蓄えられたデータに
様々な処理を施すことにより、ジッタの瞬時値の時間経
過を測定する。これにより、従来のジッタ測定法と同様
の、統計的なジッタ量を測定することができる。
いる場合、被測定信号４ａの信号周期はジッタ量に応じ
て変動するため、図２の（ｂ）に示されたようにＡ／Ｄ
変換器４で量子化される位置（位相）が変動する。この
結果、Ａ／Ｄ変換器４が出力するデータが変化する。こ
のＡ／Ｄ変換器４が出力した出力データの変化量はジッ
タ量の瞬時値に対応する。この出力データは、メモリ５
に蓄積され、計算機６はメモリ５に蓄えられたデータに
様々な処理を施すことにより、ジッタの瞬時値の時間経
過を測定する。これにより、従来のジッタ測定法と同様
の、統計的なジッタ量を測定することができる。
【００１３】〔第２実施形態〕次に、図面を参照してこ
の発明の第２の実施形態について説明する。図３は、こ
の発明の第２の実施形態によるジッタ測定装置の構成を
示すブロック図である。図３に示された本実施形態によ
るジッタ測定装置は、図１に示された第１の実施形態に
よるジッタ測定装置と構成をほぼ同じくするが、被測定
物２とＡ／Ｄ変換器４の間に、波形変形回路４１が設け
られている点が異なる。
の発明の第２の実施形態について説明する。図３は、こ
の発明の第２の実施形態によるジッタ測定装置の構成を
示すブロック図である。図３に示された本実施形態によ
るジッタ測定装置は、図１に示された第１の実施形態に
よるジッタ測定装置と構成をほぼ同じくするが、被測定
物２とＡ／Ｄ変換器４の間に、波形変形回路４１が設け
られている点が異なる。
【００１４】この波形変形回路４１は、被測定物２から
出力される信号波形の傾斜を急峻にする回路であり、例
えば、トランジスタなどを用いた増幅回路４２、およ
び、ダイオードなどを用いた振幅制限回路４３から構成
される。
出力される信号波形の傾斜を急峻にする回路であり、例
えば、トランジスタなどを用いた増幅回路４２、およ
び、ダイオードなどを用いた振幅制限回路４３から構成
される。
【００１５】波形変形回路４１に入力された信号は、ま
ず、増幅回路４２によって増幅される。増幅されること
により、入力された波形は傾斜が大きくなる。すなわち
単位時間あたりの電圧変化量が大きくなる。増幅された
入力波形は、続いて振幅制限回路４３によって、信号の
振幅がＡ／Ｄ変換器４定格を越えないように制限され
る。このように、単位時間あたりの電圧変化量が大きく
なると、ジッタに対するＡ／Ｄ変換器４の出力データの
変化量も大きくなるので、微小なジッタの検出が可能と
なる。
ず、増幅回路４２によって増幅される。増幅されること
により、入力された波形は傾斜が大きくなる。すなわち
単位時間あたりの電圧変化量が大きくなる。増幅された
入力波形は、続いて振幅制限回路４３によって、信号の
振幅がＡ／Ｄ変換器４定格を越えないように制限され
る。このように、単位時間あたりの電圧変化量が大きく
なると、ジッタに対するＡ／Ｄ変換器４の出力データの
変化量も大きくなるので、微小なジッタの検出が可能と
なる。
【００１６】〔第３実施形態〕図４は、この発明の第３
の実施形態によるジッタ測定装置の構成を示すブロック
図である。図４に示された本実施形態によるジッタ測定
装置は、図１に示された第１の実施形態によるジッタ測
定装置と構成をほぼ同じくするが、以下に示すブロック
が追加されている。
の実施形態によるジッタ測定装置の構成を示すブロック
図である。図４に示された本実施形態によるジッタ測定
装置は、図１に示された第１の実施形態によるジッタ測
定装置と構成をほぼ同じくするが、以下に示すブロック
が追加されている。
【００１７】５２は第２のＡ／Ｄ変換器である。第２の
Ａ／Ｄ変換器５２は、被測定信号４ａを第２のクロック
信号５ｂに基づくタイミングで量子化し、数値化された
データを第２のメモリ５３に出力する。ここで、第２の
クロック信号５ｂは、基準信号発生器１の出力を第２の
信号遅延器５１によって遅延を与えた信号である。第２
の信号遅延器５１は、被測定信号４ａの波形の中で、傾
斜が平坦、もしくは最も緩やかな位置を量子化するよう
に遅延量が設定されている。
Ａ／Ｄ変換器５２は、被測定信号４ａを第２のクロック
信号５ｂに基づくタイミングで量子化し、数値化された
データを第２のメモリ５３に出力する。ここで、第２の
クロック信号５ｂは、基準信号発生器１の出力を第２の
信号遅延器５１によって遅延を与えた信号である。第２
の信号遅延器５１は、被測定信号４ａの波形の中で、傾
斜が平坦、もしくは最も緩やかな位置を量子化するよう
に遅延量が設定されている。
【００１８】第２のメモリ５３は第２のＡ／Ｄ変換器５
２の出力したデータを記憶する。計算機６はメモリ５、
および、第２のメモリ５３に蓄えられたデータを基にジ
ッタ量を算出する。
２の出力したデータを記憶する。計算機６はメモリ５、
および、第２のメモリ５３に蓄えられたデータを基にジ
ッタ量を算出する。
【００１９】上記構成において、第２のＡ／Ｄ変換器５
２は、被測定信号４ａを第２のクロック信号５ｂに基づ
くタイミングで量子化し、数値化されたデータを出力す
る。第２のＡ／Ｄ変換器５２は、上述したように、入力
波形の傾斜が平坦な所で量子化するように設定されてい
る。そのため、被測定信号４ａにジッタが加わった場合
でも、第２のＡ／Ｄ変換器５２の出力するデータは殆ど
変化しない。第２のＡ／Ｄ変換器５２の出力データは、
被測定信号４ａに含まれる振幅変動成分によってのみ変
化する。従って、第２のＡ／Ｄ変換器５２の出力データ
の変化量は振幅変動の瞬時値に対応することとなる。
２は、被測定信号４ａを第２のクロック信号５ｂに基づ
くタイミングで量子化し、数値化されたデータを出力す
る。第２のＡ／Ｄ変換器５２は、上述したように、入力
波形の傾斜が平坦な所で量子化するように設定されてい
る。そのため、被測定信号４ａにジッタが加わった場合
でも、第２のＡ／Ｄ変換器５２の出力するデータは殆ど
変化しない。第２のＡ／Ｄ変換器５２の出力データは、
被測定信号４ａに含まれる振幅変動成分によってのみ変
化する。従って、第２のＡ／Ｄ変換器５２の出力データ
の変化量は振幅変動の瞬時値に対応することとなる。
【００２０】そして、メモリ５３は、上述した第２のＡ
／Ｄ変換器から出力された出力データを蓄積する。蓄積
されたデータは、計算機６によって様々な処理を施さ
れ、振幅変動の瞬時値の時間経過が算出される。そし
て、この実施形態は、第１の実施形態による測定では原
理的に混入してしまう振幅変動の成分を計算的に除去す
ることによって、より正確なジッタを得ることができ
る。
／Ｄ変換器から出力された出力データを蓄積する。蓄積
されたデータは、計算機６によって様々な処理を施さ
れ、振幅変動の瞬時値の時間経過が算出される。そし
て、この実施形態は、第１の実施形態による測定では原
理的に混入してしまう振幅変動の成分を計算的に除去す
ることによって、より正確なジッタを得ることができ
る。
【００２１】〔第４実施形態〕図５は、この発明の第４
の実施形態によるジッタ測定装置の構成を示すブロック
図である。図５に示された本実施形態によるジッタ測定
装置は、図１に示された第１の実施形態によるジッタ測
定装置と構成をほぼ同じくするが、被測定物２とＡ／Ｄ
変換器４の間に、電圧記憶回路６１が更に設けられてい
る。この電圧記憶回路６１は、クロック信号４ｂに応じ
て、被測定物２から出力される信号の電圧を記憶し、記
憶した電圧を保持し出力する回路であり、例えば、トラ
ンジスタ、およびコンデンサなどから構成される。
の実施形態によるジッタ測定装置の構成を示すブロック
図である。図５に示された本実施形態によるジッタ測定
装置は、図１に示された第１の実施形態によるジッタ測
定装置と構成をほぼ同じくするが、被測定物２とＡ／Ｄ
変換器４の間に、電圧記憶回路６１が更に設けられてい
る。この電圧記憶回路６１は、クロック信号４ｂに応じ
て、被測定物２から出力される信号の電圧を記憶し、記
憶した電圧を保持し出力する回路であり、例えば、トラ
ンジスタ、およびコンデンサなどから構成される。
【００２２】この実施形態においては、電圧記憶回路６
１が、Ａ／Ｄ変換器４によって量子化すべき点の電圧を
保持しているので、Ａ／Ｄ変換器４の帯域や量子化のタ
イミング揺らぎによる制約が緩和され、より正確なジッ
タ測定が可能となる。なお、第２、第３、第４の実施形
態のそれぞれにおいて追加されている機能は、組み合わ
せて適用することも可能である。
１が、Ａ／Ｄ変換器４によって量子化すべき点の電圧を
保持しているので、Ａ／Ｄ変換器４の帯域や量子化のタ
イミング揺らぎによる制約が緩和され、より正確なジッ
タ測定が可能となる。なお、第２、第３、第４の実施形
態のそれぞれにおいて追加されている機能は、組み合わ
せて適用することも可能である。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明では、被測定物から出力された信号を同一周期で量子
化し、その量子化した出力データの変化量を処理するこ
とでジッタをリアルタイムに観測することができる。ま
た、請求項２の発明では、請求項１記載の発明に更に、
被測定物が出力する信号の立ち上がり、および、立ち下
がりの傾斜を急峻にする波形変形手段を設けることによ
り、波形の変化を増幅させた信号を同一周期で量子化す
るため、より微小なジッタを測定することができる。
明では、被測定物から出力された信号を同一周期で量子
化し、その量子化した出力データの変化量を処理するこ
とでジッタをリアルタイムに観測することができる。ま
た、請求項２の発明では、請求項１記載の発明に更に、
被測定物が出力する信号の立ち上がり、および、立ち下
がりの傾斜を急峻にする波形変形手段を設けることによ
り、波形の変化を増幅させた信号を同一周期で量子化す
るため、より微小なジッタを測定することができる。
【００２４】また、請求項４の発明では、請求項１記載
の発明に、さらに、入力信号を量子化するタイミングを
Ａ／Ｄ変換器とは異にした第２のＡ／Ｄ変換器、第２の
Ａ／Ｄ変換器が出力した数値データを蓄積する第２のメ
モリ、および、第２のメモリが蓄積した数値データを計
算処理してジッタ量を算出する計算機とを設けている。
このように構成することによって、振幅変動の瞬時値の
時間経過を測定したり、測定値に原理的に混入してしま
う振幅変動の成分を計算的に除去することができ、振幅
変動の影響が抑えられた正確なジッタを測定することが
できる。また、請求項５の発明によれば、請求項１記載
の発明に、さらに、電圧記憶回路を設けている。このよ
うに構成することによって、Ａ／Ｄ変換器による制約が
緩和され、より正確にジッタを測定することができる。
の発明に、さらに、入力信号を量子化するタイミングを
Ａ／Ｄ変換器とは異にした第２のＡ／Ｄ変換器、第２の
Ａ／Ｄ変換器が出力した数値データを蓄積する第２のメ
モリ、および、第２のメモリが蓄積した数値データを計
算処理してジッタ量を算出する計算機とを設けている。
このように構成することによって、振幅変動の瞬時値の
時間経過を測定したり、測定値に原理的に混入してしま
う振幅変動の成分を計算的に除去することができ、振幅
変動の影響が抑えられた正確なジッタを測定することが
できる。また、請求項５の発明によれば、請求項１記載
の発明に、さらに、電圧記憶回路を設けている。このよ
うに構成することによって、Ａ／Ｄ変換器による制約が
緩和され、より正確にジッタを測定することができる。
【図１】 この発明の第１の実施形態の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】 この発明の一実施形態を説明するための説明
図である。
図である。
【図３】 この発明の第２の実施形態によるジッタ測定
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
【図４】 この発明の第３の実施形態によるジッタ測定
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
【図５】 この発明の第４の実施形態によるジッタ測定
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
１…基準信号発生器、２…被測定物、３…信号遅延器、
４…Ａ／Ｄ（アナログ−ディジタル）変換器、５…メモ
リ、６…計算機、４１…波形変形回路、４２…増幅回
路、４３…振幅制限回路、５１…第２の信号遅延器、５
２…第２のＡ／Ｄ変換器、５３…第２のメモリ、６１…
電圧記憶回路、４ａ…被測定信号、４ｂ…クロック信
号、５ｂ…第２のクロック信号
４…Ａ／Ｄ（アナログ−ディジタル）変換器、５…メモ
リ、６…計算機、４１…波形変形回路、４２…増幅回
路、４３…振幅制限回路、５１…第２の信号遅延器、５
２…第２のＡ／Ｄ変換器、５３…第２のメモリ、６１…
電圧記憶回路、４ａ…被測定信号、４ｂ…クロック信
号、５ｂ…第２のクロック信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5K029 AA01 AA11 DD02 HH01 HH05 KK23 LL05 LL08 LL14 5K047 AA11 DD03 GG22 KK02 KK11 MM24 MM36 MM37 MM43
Claims (5)
- 【請求項１】 基準信号発生手段から出力された基準信
号が、被測定物を通過することによって生じたジッタを
測定するジッタ測定装置において、 前記基準信号発生手段から出力された基準信号が入力さ
れ、前記基準信号を規定された時間だけ遅延して出力す
る信号遅延手段と、 前記信号遅延手段が出力する信号に基づいて、前記被測
定物から出力された被測定信号の瞬時値を測定する瞬時
値測定手段と、 前記瞬時値測定手段が出力する数値データを蓄積するデ
ータ蓄積手段と、 前記データ蓄積手段が蓄積したデータを計算処理してジ
ッタ量を算出する計算処理手段とを具備することを特徴
とするジッタ測定装置。 - 【請求項２】 前記被測定物が出力する信号が入力さ
れ、前記入力された信号の波形の立ち上がり、および、
立ち下がりの傾斜を急峻にする波形変形手段を、前記被
測定物と前記瞬時値測定手段との間に更に備えたことを
特徴とする請求項１記載のジッタ測定装置。 - 【請求項３】前記波形変形手段は、前記被測定物から出
力された信号を増幅する増幅回路と、前記増幅された信
号の振幅を制限する振幅制限回路とからなることを特徴
とする請求項１、および請求項２記載のジッタ測定装
置。 - 【請求項４】 前記基準信号が入力され、前記基準信号
を規定された時間だけ遅延して出力する第２の信号遅延
手段と、 前記第２の信号遅延手段が出力する信号に応じて、前記
被測定信号の瞬時値を測定する第２の瞬時値測定手段
と、 前記第２の瞬時値測定手段が出力する数値データを蓄積
する第２のデータ蓄積手段とを備え、 前記計算処理手段は、前記データ蓄積手段、および、前
記第２のデータ蓄積手段が蓄積したデータを計算処理し
てジッタ量を算出することを特徴とする請求項１記載の
ジッタ測定装置。 - 【請求項５】 前記被測定物が出力する信号を、前記信
号遅延手段が出力する信号に応じて記憶する電圧記憶手
段を、前記被測定物と前記瞬時値測定手段の間に設置す
ることを特徴とする請求項１記載のジッタ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11103380A JP2000292469A (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | ジッタ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11103380A JP2000292469A (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | ジッタ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000292469A true JP2000292469A (ja) | 2000-10-20 |
Family
ID=14352492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11103380A Pending JP2000292469A (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | ジッタ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000292469A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002168895A (ja) * | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Toyo Commun Equip Co Ltd | アパーチャジッタ測定方法及び装置 |
| US6934648B2 (en) | 2002-08-30 | 2005-08-23 | Renesas Technology Corp. | Jitter measurement circuit for measuring jitter of measurement target signal on the basis of sampling data string obtained by using ideal cyclic signal |
| US7079060B2 (en) | 2004-02-12 | 2006-07-18 | Renesas Technology Corp. | Test circuit for evaluating characteristic of analog signal of device |
-
1999
- 1999-04-09 JP JP11103380A patent/JP2000292469A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002168895A (ja) * | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Toyo Commun Equip Co Ltd | アパーチャジッタ測定方法及び装置 |
| US6934648B2 (en) | 2002-08-30 | 2005-08-23 | Renesas Technology Corp. | Jitter measurement circuit for measuring jitter of measurement target signal on the basis of sampling data string obtained by using ideal cyclic signal |
| US7079060B2 (en) | 2004-02-12 | 2006-07-18 | Renesas Technology Corp. | Test circuit for evaluating characteristic of analog signal of device |
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