JP2000292364A - 疵目向き判別システム - Google Patents
疵目向き判別システムInfo
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- JP2000292364A JP2000292364A JP11101625A JP10162599A JP2000292364A JP 2000292364 A JP2000292364 A JP 2000292364A JP 11101625 A JP11101625 A JP 11101625A JP 10162599 A JP10162599 A JP 10162599A JP 2000292364 A JP2000292364 A JP 2000292364A
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- JP
- Japan
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- section
- flaw
- pitch frequency
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Rolls And Other Rotary Bodies (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 バフ傷などの疵状部の疵目の向きを、信頼性
高く安定して判定でき、かつシステム自体の正常／異常
を検知しながら稼働できる。 【解決手段】 被検査物品Ｗを、鉛直線Ｘに対して略対
称な２つの向きから照光する第１、第２の照明具２Ｌ、
２Ｒと、この第１、第２の照明具２Ｌ、２Ｒによって照
光された第１、第２の照明面３Ｌ、３Ｒを撮影して夫々
の画像をうるカメラ４と、各画像データを取り込んで２
値化画像５Ｌ、５Ｒをうるとともに、その走査により各
２値化画像５Ｌ、５Ｒにおける画像線６、６間の画像ピ
ッチＰを計数し、予め設定したピッチ長さの区間Ｇ内に
入る画像ピッチＰの度数（ピッチ度数）をうる走査計数
手段７と、各第１、２の照明面３Ｌ、３Ｒからのピッチ
度数ＫＬ、ＫＲの差を演算してその差（ＫＬ−ＫＲ）か
ら疵目の向きを検定する判別手段９とを具える。
高く安定して判定でき、かつシステム自体の正常／異常
を検知しながら稼働できる。 【解決手段】 被検査物品Ｗを、鉛直線Ｘに対して略対
称な２つの向きから照光する第１、第２の照明具２Ｌ、
２Ｒと、この第１、第２の照明具２Ｌ、２Ｒによって照
光された第１、第２の照明面３Ｌ、３Ｒを撮影して夫々
の画像をうるカメラ４と、各画像データを取り込んで２
値化画像５Ｌ、５Ｒをうるとともに、その走査により各
２値化画像５Ｌ、５Ｒにおける画像線６、６間の画像ピ
ッチＰを計数し、予め設定したピッチ長さの区間Ｇ内に
入る画像ピッチＰの度数（ピッチ度数）をうる走査計数
手段７と、各第１、２の照明面３Ｌ、３Ｒからのピッチ
度数ＫＬ、ＫＲの差を演算してその差（ＫＬ−ＫＲ）か
ら疵目の向きを検定する判別手段９とを具える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばゴムローラ
表面におけるバフ目の向きなど、被検査物品の表面で小
間隔でのびる疵状部の疵目の向きを、精度よく判別する
疵目向き判別システムに関する。
表面におけるバフ目の向きなど、被検査物品の表面で小
間隔でのびる疵状部の疵目の向きを、精度よく判別する
疵目向き判別システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、図４（Ａ）に示すように、紙送
り用として複写機やファクシミリ機等の精密事務機器に
用いられるゴムローラＡでは、一般に、所定の寸法精度
に仕上げることを主目的としてバフ処理が施されてい
る。そのために、ローラ表面には、小間隔を隔てて軸心
方向Ｊにのびる疵状の複数のバフ傷Ｂ（疵状部）が形成
されている。
り用として複写機やファクシミリ機等の精密事務機器に
用いられるゴムローラＡでは、一般に、所定の寸法精度
に仕上げることを主目的としてバフ処理が施されてい
る。そのために、ローラ表面には、小間隔を隔てて軸心
方向Ｊにのびる疵状の複数のバフ傷Ｂ（疵状部）が形成
されている。
【０００３】このバフ傷Ｂは、その断面を図４（Ｂ）に
誇張して示すように、Ｖ字が傾斜した如く、一方側のエ
ッジＥ１が他方側のエッジＥ２に比して鋭角となる鋸歯
状の凹部をなす。従って、ゴムローラＡでは、前記エッ
ジＥ１が立つ向きＦ、すなわちバフ目の向きによって、
紙との摩擦力が大きく相違するなど紙送り性能に著しく
影響することとなる。そのため、このバフ目の向きを正
確に検査判定することが、製品品質を保証する上で極め
て重要になっている。
誇張して示すように、Ｖ字が傾斜した如く、一方側のエ
ッジＥ１が他方側のエッジＥ２に比して鋭角となる鋸歯
状の凹部をなす。従って、ゴムローラＡでは、前記エッ
ジＥ１が立つ向きＦ、すなわちバフ目の向きによって、
紙との摩擦力が大きく相違するなど紙送り性能に著しく
影響することとなる。そのため、このバフ目の向きを正
確に検査判定することが、製品品質を保証する上で極め
て重要になっている。
【０００４】従来、前記バフ目の向きの検査手段とし
て、例えば前記図４（Ｂ）の如く、ゴムローラＡに照光
する際の照光の向きによってバフ傷Ｂの影ｂが出やすい
ことを利用したものがある。このものは、図５に示すよ
うに、影ｂが出やすい方向ｆ１から照光した時のローラ
表面の画像、および前記ｆ１とは対称な方向ｆ２（出に
くい方向）から照光した時のローラ表面の画像を撮影し
て２値化処理し、それぞれの２値化画像ｃ１、ｃ２上に
写った影ｂの総面積を比較することにより、バフ目の向
きを判別している。
て、例えば前記図４（Ｂ）の如く、ゴムローラＡに照光
する際の照光の向きによってバフ傷Ｂの影ｂが出やすい
ことを利用したものがある。このものは、図５に示すよ
うに、影ｂが出やすい方向ｆ１から照光した時のローラ
表面の画像、および前記ｆ１とは対称な方向ｆ２（出に
くい方向）から照光した時のローラ表面の画像を撮影し
て２値化処理し、それぞれの２値化画像ｃ１、ｃ２上に
写った影ｂの総面積を比較することにより、バフ目の向
きを判別している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記手
段では、光源の劣化による光量変化や、人為的要因によ
る光量変化などによって、影の出方（影の面積の大き
さ）がローラ表面上で直接変化したり、また前記光量変
化と２値化の敷居値との影響で、２値化画像上での影の
面積が不規則に変化したりすることがある。
段では、光源の劣化による光量変化や、人為的要因によ
る光量変化などによって、影の出方（影の面積の大き
さ）がローラ表面上で直接変化したり、また前記光量変
化と２値化の敷居値との影響で、２値化画像上での影の
面積が不規則に変化したりすることがある。
【０００６】従って、判定精度を維持することが難し
く、不安定であり判定の信頼性に劣るものであった。
く、不安定であり判定の信頼性に劣るものであった。
【０００７】そこで本発明は、２値化画像における影の
面積を算出して比較するのではなく、２値化画像におけ
る影（画像線）間の画像ピッチを計数し、予め設定した
ピッチ長さの区間内に入る画像ピッチの度数（ピッチ度
数）を求めるとともにこのピッチ度数を比較することを
基本として、人の目では判別しがたい微妙なバフ傷など
の疵状部の疵目の向きを、信頼性高く安定して判定で
き、かつシステム自体の正常／異常を検知しながら稼働
しうる疵目向き判別システムの提供を目的としている。
面積を算出して比較するのではなく、２値化画像におけ
る影（画像線）間の画像ピッチを計数し、予め設定した
ピッチ長さの区間内に入る画像ピッチの度数（ピッチ度
数）を求めるとともにこのピッチ度数を比較することを
基本として、人の目では判別しがたい微妙なバフ傷など
の疵状部の疵目の向きを、信頼性高く安定して判定で
き、かつシステム自体の正常／異常を検知しながら稼働
しうる疵目向き判別システムの提供を目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本願の請求項１の発明は、被検査物品の表面で小間
隔でのびる疵状部の疵目の向きを判別する疵目向き判別
システムであって、前記疵目の影が明瞭に出現するよう
に被検査物品を照光し第１の照明面を形成する第１の照
明具と、第１の照明具の照光とは前記表面に対する鉛直
線に対して略対称な異なる向きから照光して前記第１の
照明面とは重ならない第２の照明面を形成する第２の照
明具と、第１の照明面、第２の照明面を撮影し画像をう
るカメラと、画像データを取り込んで画像を２値化した
２値化画像をうるとともに、２値化画像を走査すること
により、２値化画像における画像線間の画像ピッチが予
め設定した区間内である度数を計数したピッチ度数をう
る走査計数手段と、前記第１の照明面からの前記ピッチ
度数と第２の照明面からのピッチ度数との差を演算する
とともに、このピッチ度数の差から疵目の向きを検定す
る判別手段とからなることを特徴としている。
に、本願の請求項１の発明は、被検査物品の表面で小間
隔でのびる疵状部の疵目の向きを判別する疵目向き判別
システムであって、前記疵目の影が明瞭に出現するよう
に被検査物品を照光し第１の照明面を形成する第１の照
明具と、第１の照明具の照光とは前記表面に対する鉛直
線に対して略対称な異なる向きから照光して前記第１の
照明面とは重ならない第２の照明面を形成する第２の照
明具と、第１の照明面、第２の照明面を撮影し画像をう
るカメラと、画像データを取り込んで画像を２値化した
２値化画像をうるとともに、２値化画像を走査すること
により、２値化画像における画像線間の画像ピッチが予
め設定した区間内である度数を計数したピッチ度数をう
る走査計数手段と、前記第１の照明面からの前記ピッチ
度数と第２の照明面からのピッチ度数との差を演算する
とともに、このピッチ度数の差から疵目の向きを検定す
る判別手段とからなることを特徴としている。
【０００９】また請求項２の発明では、前記走査計数手
段は、複数の区間が予め設定され、かつ２値化画像の走
査による前記画像ピッチが前記区間内である度数を計数
したピッチ度数を区間毎に計数し、区間・ピッチ度数デ
ータをうるとともに、前記判別手段は、前記第１の照明
面からの前記区間・ピッチ度数データの所定区間の全ピ
ッチ度数、第２の照明面からの区間・ピッチ度数データ
の前記所定区間の全ピッチ度数、およびその差を演算す
るとともに、この全ピッチ度数の差から疵目の向きを検
定することを特徴としている。
段は、複数の区間が予め設定され、かつ２値化画像の走
査による前記画像ピッチが前記区間内である度数を計数
したピッチ度数を区間毎に計数し、区間・ピッチ度数デ
ータをうるとともに、前記判別手段は、前記第１の照明
面からの前記区間・ピッチ度数データの所定区間の全ピ
ッチ度数、第２の照明面からの区間・ピッチ度数データ
の前記所定区間の全ピッチ度数、およびその差を演算す
るとともに、この全ピッチ度数の差から疵目の向きを検
定することを特徴としている。
【００１０】また請求項３の発明では、前記判別手段
は、前記区間のピッチ度数、又は前記全ピッチ度数を数
の大小により少数レンジにランク分けすることにより前
記判別を容易とすることを特徴としている。
は、前記区間のピッチ度数、又は前記全ピッチ度数を数
の大小により少数レンジにランク分けすることにより前
記判別を容易とすることを特徴としている。
【００１１】また請求項４の発明では、前記判別手段
は、標準被検査物品の区間・ピッチ度数データをを予め
記憶するとともに、第１の照明面から得られる区間・ピ
ッチ度数データと対比して判別することを特徴としてい
る。
は、標準被検査物品の区間・ピッチ度数データをを予め
記憶するとともに、第１の照明面から得られる区間・ピ
ッチ度数データと対比して判別することを特徴としてい
る。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
示例とともに説明する。図１において、本発明の疵目向
き判別システム１（以下システム１という）は、被検査
物品Ｗの表面における疵目の向きを判別するものであっ
て、 ・前記被検査物品Ｗを、鉛直線Ｘに対して略対称な２つ
の向きから照光する第１、第２の照明具２Ｌ、２Ｒと、 ・この第１、第２の照明具２Ｌ、２Ｒによって照光され
た第１、第２の照明面３Ｌ、３Ｒを撮影して夫々の画像
をうるカメラ４と、 ・各画像データを取り込んで２値化画像５Ｌ、５Ｒをう
るとともに、その走査により各２値化画像５Ｌ、５Ｒに
おける画像線６、６間の画像ピッチＰを計数し、予め設
定したピッチ長さの区間Ｇ内に入る画像ピッチＰの度数
（ピッチ度数）をうる走査計数手段７と、 ・各第１、２の照明面３Ｌ、３Ｒからのピッチ度数Ｋ
Ｌ、ＫＲの差を演算してその差（ＫＬ−ＫＲ）から疵目
の向きを検定する判別手段９と、を具えている。
示例とともに説明する。図１において、本発明の疵目向
き判別システム１（以下システム１という）は、被検査
物品Ｗの表面における疵目の向きを判別するものであっ
て、 ・前記被検査物品Ｗを、鉛直線Ｘに対して略対称な２つ
の向きから照光する第１、第２の照明具２Ｌ、２Ｒと、 ・この第１、第２の照明具２Ｌ、２Ｒによって照光され
た第１、第２の照明面３Ｌ、３Ｒを撮影して夫々の画像
をうるカメラ４と、 ・各画像データを取り込んで２値化画像５Ｌ、５Ｒをう
るとともに、その走査により各２値化画像５Ｌ、５Ｒに
おける画像線６、６間の画像ピッチＰを計数し、予め設
定したピッチ長さの区間Ｇ内に入る画像ピッチＰの度数
（ピッチ度数）をうる走査計数手段７と、 ・各第１、２の照明面３Ｌ、３Ｒからのピッチ度数Ｋ
Ｌ、ＫＲの差を演算してその差（ＫＬ−ＫＲ）から疵目
の向きを検定する判別手段９と、を具えている。
【００１３】ここで本例では、前記システム１が、例え
ば前記図４（Ａ）、（Ｂ）に示すように、精密事務機器
に用いられる紙送り用のゴムローラＡの表面に生じるバ
フ傷Ｂである疵状部Ｂの疵目、即ちバフ目の向きを判別
するのに用いられる場合を例示する。この疵状部Ｂは、
小間隔を隔てて軸方向Ｊにのびる疵状をなし、その断面
は、Ｖ字が傾斜した如く一方側のエッジＥ１が他方側の
エッジＥ２に比して鋭角となる鋸歯状をなす。
ば前記図４（Ａ）、（Ｂ）に示すように、精密事務機器
に用いられる紙送り用のゴムローラＡの表面に生じるバ
フ傷Ｂである疵状部Ｂの疵目、即ちバフ目の向きを判別
するのに用いられる場合を例示する。この疵状部Ｂは、
小間隔を隔てて軸方向Ｊにのびる疵状をなし、その断面
は、Ｖ字が傾斜した如く一方側のエッジＥ１が他方側の
エッジＥ２に比して鋭角となる鋸歯状をなす。
【００１４】なお、前記被検査物品Ｗとして、前記ゴム
ローラＡ自体を採用することができるが、図１では、芯
金Ａ１に装着されることにより前記ゴムローラＡの表面
をなすバフ処理済みのゴムチューブＡ２を、被検査物品
Ｗとした場合を例示している。
ローラＡ自体を採用することができるが、図１では、芯
金Ａ１に装着されることにより前記ゴムローラＡの表面
をなすバフ処理済みのゴムチューブＡ２を、被検査物品
Ｗとした場合を例示している。
【００１５】次に、前記システム１で用いる第１、第２
の照明具２Ｌ、２Ｒとして、本例では、ちらつきなく安
定して照明できかつ光量を自在に調整しうる、例えばＬ
ＥＤランプが好適に使用しうるが、被検査物品Ｗの種
類、サイズ等に応じて種々なタイプのものを用いうる。
なお蛍光ランプ、ナトリウムランプ、ネオンランプ等の
２極放電型のものは、周波数によるちらつき状の点滅が
あるため、撮影画像に悪影響を及ぼす恐れがあり好まし
くない。
の照明具２Ｌ、２Ｒとして、本例では、ちらつきなく安
定して照明できかつ光量を自在に調整しうる、例えばＬ
ＥＤランプが好適に使用しうるが、被検査物品Ｗの種
類、サイズ等に応じて種々なタイプのものを用いうる。
なお蛍光ランプ、ナトリウムランプ、ネオンランプ等の
２極放電型のものは、周波数によるちらつき状の点滅が
あるため、撮影画像に悪影響を及ぼす恐れがあり好まし
くない。
【００１６】前記第１の照明具２Ｌは、疵目の影ｂが明
瞭に出現しうるような最適な光軸角度αで設置され、前
記被検査物品Ｗを照光することにより、第１の照明面３
Ｌを形成する。また第２の照明具２Ｒは、前記第１の照
明面３Ｌの中心に立てた鉛直線Ｘに対し、第１の照明具
Ｌの照光と略対称な向きから照光しうる位置に設置さ
れ、第２の照明面３Ｒを形成する。この第１、第２の照
明面３Ｌ、３Ｒは互いに重ならないように、例えば軸心
方向Ｊに距離を隔てて形成される。
瞭に出現しうるような最適な光軸角度αで設置され、前
記被検査物品Ｗを照光することにより、第１の照明面３
Ｌを形成する。また第２の照明具２Ｒは、前記第１の照
明面３Ｌの中心に立てた鉛直線Ｘに対し、第１の照明具
Ｌの照光と略対称な向きから照光しうる位置に設置さ
れ、第２の照明面３Ｒを形成する。この第１、第２の照
明面３Ｌ、３Ｒは互いに重ならないように、例えば軸心
方向Ｊに距離を隔てて形成される。
【００１７】またこの第１、第２の照明面３Ｌ、３Ｒ
は、カメラ４によって撮影される。前記カメラ４として
は、例えば白黒のＣＣＤカメラが好適に採用でき、前記
鉛直線Ｘ上に略位置し、本例では、第１、第２の照明面
３Ｌ、３Ｒを一度に撮影し画像をえる場合を例示してい
る。なお２台のカメラ４を用いて第１、第２の照明面３
Ｌ、３Ｒを個別に撮影することもでき、さらには１台の
カメラ４を移動して第１、第２の照明面３Ｌ、３Ｒを個
別に撮影することもできる。
は、カメラ４によって撮影される。前記カメラ４として
は、例えば白黒のＣＣＤカメラが好適に採用でき、前記
鉛直線Ｘ上に略位置し、本例では、第１、第２の照明面
３Ｌ、３Ｒを一度に撮影し画像をえる場合を例示してい
る。なお２台のカメラ４を用いて第１、第２の照明面３
Ｌ、３Ｒを個別に撮影することもでき、さらには１台の
カメラ４を移動して第１、第２の照明面３Ｌ、３Ｒを個
別に撮影することもできる。
【００１８】次に、走査計数手段７では、前記カメラ４
から取込んだ画像データを周知の２値化処理によって白
黒の２値化信号に変換して２値化画像５Ｌ、５Ｒをうる
とともに、この２値化画像５Ｌ、５Ｒ（総称するとき２
値化画像５という）を走査することにより、各２値化画
像５における画像線６、６間の画像ピッチＰを計測す
る。なお２値化画像５には、図２に示すように、疵状部
Ｂやその他の傷によって生じる影ｂの映像を２値化して
なる画像線６・・・ が小間隔を隔てて写っており、この画
像線６、６間の画像ピッチＰ（ピッチ長さ）を、例えば
画素数に変換して計測する。
から取込んだ画像データを周知の２値化処理によって白
黒の２値化信号に変換して２値化画像５Ｌ、５Ｒをうる
とともに、この２値化画像５Ｌ、５Ｒ（総称するとき２
値化画像５という）を走査することにより、各２値化画
像５における画像線６、６間の画像ピッチＰを計測す
る。なお２値化画像５には、図２に示すように、疵状部
Ｂやその他の傷によって生じる影ｂの映像を２値化して
なる画像線６・・・ が小間隔を隔てて写っており、この画
像線６、６間の画像ピッチＰ（ピッチ長さ）を、例えば
画素数に変換して計測する。
【００１９】この計測では、まず２値化画像５からサン
プリングした走査領域Ｙを、前記軸心方向Ｊとは直角な
向きにのびる複数本（Ｎ本）の走査線Ｌに沿って走査
し、各走査線Ｌ上における画像線６、６間の画像ピッチ
Ｐを夫々計測し、その全計測値を画像ピッチデータとし
て記憶する。
プリングした走査領域Ｙを、前記軸心方向Ｊとは直角な
向きにのびる複数本（Ｎ本）の走査線Ｌに沿って走査
し、各走査線Ｌ上における画像線６、６間の画像ピッチ
Ｐを夫々計測し、その全計測値を画像ピッチデータとし
て記憶する。
【００２０】また表１に示すように、ピッチ長さを、例
えば、 ・区間Ｇ１＝ピッチ長さ１〜３、 ・区間Ｇ２＝ピッチ長さ４〜６、・・・ ・区間Ｇｎ＝ピッチ長さ３ｎ−２〜３ｎ、 というように、複数（本例ではｎ＝１０）の区間Ｇ１〜
Ｇｎに予め区分する。そして、前記画像ピッチデータを
各区間Ｇ１〜Ｇｎに振り分け、各区間Ｇ１〜Ｇｎに入る
画像ピッチＰの度数である区間毎のピッチ度数を計測
し、そのデータである区間・ピッチ度数データを求め
る。
えば、 ・区間Ｇ１＝ピッチ長さ１〜３、 ・区間Ｇ２＝ピッチ長さ４〜６、・・・ ・区間Ｇｎ＝ピッチ長さ３ｎ−２〜３ｎ、 というように、複数（本例ではｎ＝１０）の区間Ｇ１〜
Ｇｎに予め区分する。そして、前記画像ピッチデータを
各区間Ｇ１〜Ｇｎに振り分け、各区間Ｇ１〜Ｇｎに入る
画像ピッチＰの度数である区間毎のピッチ度数を計測
し、そのデータである区間・ピッチ度数データを求め
る。
【００２１】
【表１】
【００２２】ここで、ピッチ長を前記区間Ｇ１〜Ｇｎに
区分するのは、画像ピッチＰがある程度ばらつくからで
あり、複数の区間に区分することにより、度数分布の特
性がより明瞭に現れてくる。
区分するのは、画像ピッチＰがある程度ばらつくからで
あり、複数の区間に区分することにより、度数分布の特
性がより明瞭に現れてくる。
【００２３】次に、判別手段９では、前記２値化画像５
Ｌからのピッチ度数ＫＬと、２値化画像５Ｒからのピッ
チ度数ＫＲとの差ＫＬ−ＫＲとを演算し、この差ＫＬ−
ＫＲを基に疵目の向きを検定する。
Ｌからのピッチ度数ＫＬと、２値化画像５Ｒからのピッ
チ度数ＫＲとの差ＫＬ−ＫＲとを演算し、この差ＫＬ−
ＫＲを基に疵目の向きを検定する。
【００２４】なお表１を用い、判別手段９の第１例、第
２例を具体的に説明する。判別手段９の第１例では、ま
ず前記区間Ｇ１〜Ｇｎのうち、例えば所定区間Ｇ４〜Ｇ
ｎを判別用区間として設定する。そして、２値化画像５
Ｌ、５Ｒにおいてそれぞれ、判別用区間Ｇ４〜Ｇｎ内の
全ピッチ度数ＫＬ（３０＋６０＋７６＋１０９＋４８＋
４８＋１８＝３８９）と、全ピッチ度数ＫＲ（４０＋３
６＋３８＋５８＋２７＋６＋１２＝２１７）とを求め、
この差ＫＬ−ＫＲ（＝＋１７２）を演算する。
２例を具体的に説明する。判別手段９の第１例では、ま
ず前記区間Ｇ１〜Ｇｎのうち、例えば所定区間Ｇ４〜Ｇ
ｎを判別用区間として設定する。そして、２値化画像５
Ｌ、５Ｒにおいてそれぞれ、判別用区間Ｇ４〜Ｇｎ内の
全ピッチ度数ＫＬ（３０＋６０＋７６＋１０９＋４８＋
４８＋１８＝３８９）と、全ピッチ度数ＫＲ（４０＋３
６＋３８＋５８＋２７＋６＋１２＝２１７）とを求め、
この差ＫＬ−ＫＲ（＝＋１７２）を演算する。
【００２５】そして、この差ＫＬ−ＫＲの「絶対値」お
よび「正負（＋−）」によって、疵目の向きを判別す
る。「正負」は疵目の向きの判断のパラメータであり、
「絶対値」はその信頼度のパラメータである。従って、
例えば「絶対値」が５０以上の時判別可能、それ未満の
時判別不能とする。表１では、差ＫＬ−ＫＲ（＝＋１７
２）であり、疵目の向きは「正」と判定される。
よび「正負（＋−）」によって、疵目の向きを判別す
る。「正負」は疵目の向きの判断のパラメータであり、
「絶対値」はその信頼度のパラメータである。従って、
例えば「絶対値」が５０以上の時判別可能、それ未満の
時判別不能とする。表１では、差ＫＬ−ＫＲ（＝＋１７
２）であり、疵目の向きは「正」と判定される。
【００２６】ここで、前記判別用区間Ｇ４〜Ｇｎ以外の
初めの区間Ｇ１〜Ｇ３は、測定時のノイズである可能性
が高く、従って判定をより正確化するために、この区間
を判別用区間から排除している。なお判別用区間の取り
方としては、最大のピッチ度数を有する区間（最大度数
区間とよぶ場合がある）、表１ではＧ７を中心とした、
複数の区間Ｇ６〜Ｇ８、区間Ｇ５〜Ｇ９等を判別用区間
として採用することができる。
初めの区間Ｇ１〜Ｇ３は、測定時のノイズである可能性
が高く、従って判定をより正確化するために、この区間
を判別用区間から排除している。なお判別用区間の取り
方としては、最大のピッチ度数を有する区間（最大度数
区間とよぶ場合がある）、表１ではＧ７を中心とした、
複数の区間Ｇ６〜Ｇ８、区間Ｇ５〜Ｇ９等を判別用区間
として採用することができる。
【００２７】また判別手段９の第２例では、判別用区間
として一つの区間のみを特定し、この一つの判別用区間
におけるピッチ度数ＫＬ、ＫＲの差を演算して判定す
る。判別用区間としては、前記最大度数区間Ｇ７を採用
することが好ましく、表１では、差ＫＬ−ＫＲ（１０９
−５８＝＋５１）であり、疵目の向きは「正」と判定さ
れる。このときも「正負」は疵目の向きの判断のパラメ
ータであり、「絶対値」はその信頼度のパラメータとな
る。
として一つの区間のみを特定し、この一つの判別用区間
におけるピッチ度数ＫＬ、ＫＲの差を演算して判定す
る。判別用区間としては、前記最大度数区間Ｇ７を採用
することが好ましく、表１では、差ＫＬ−ＫＲ（１０９
−５８＝＋５１）であり、疵目の向きは「正」と判定さ
れる。このときも「正負」は疵目の向きの判断のパラメ
ータであり、「絶対値」はその信頼度のパラメータとな
る。
【００２８】なお本例では、前記走査計数手段７におい
て、表１に示すように、全区間Ｇ１〜Ｇｎにおいてピッ
チ度数データを求める場合を例示したが、例えば判定に
必要な前記判別用区間に対してのみピッチ度数を計数し
てもよく、これによって演算処理速度を向上させること
ができる。
て、表１に示すように、全区間Ｇ１〜Ｇｎにおいてピッ
チ度数データを求める場合を例示したが、例えば判定に
必要な前記判別用区間に対してのみピッチ度数を計数し
てもよく、これによって演算処理速度を向上させること
ができる。
【００２９】また前記第１、２例の判別手段９では、前
記判別用区間で計数した前記ピッチ度数（又は全ピッチ
度数）の値ＫＬ、ＫＲを直接演算して判定していが、こ
れ以外に、前記ピッチ度数（又は全ピッチ度数）の値Ｋ
Ｌ、ＫＲを、数の大小により少数レンジにランク分けす
ることにより前記判別を容易とし、多数の被検査物品Ｗ
を迅速に処理することができる。この例（第３例）を、
例えば表２を用いて説明する。
記判別用区間で計数した前記ピッチ度数（又は全ピッチ
度数）の値ＫＬ、ＫＲを直接演算して判定していが、こ
れ以外に、前記ピッチ度数（又は全ピッチ度数）の値Ｋ
Ｌ、ＫＲを、数の大小により少数レンジにランク分けす
ることにより前記判別を容易とし、多数の被検査物品Ｗ
を迅速に処理することができる。この例（第３例）を、
例えば表２を用いて説明する。
【００３０】
【表２】
【００３１】表２では、９本の被検査物品Ｗ（Ｎｏ．１
〜Ｎｏ．９）における各判別結果が示されており、各被
検査物品Ｗにおいて、例えば最大度数区間（判別用区
間）でのピッチ度数ＫＬ、ＫＲを、例えば「多い」、
「中位」、「少ない」の３つのレンジにランク分けして
判定している。また差ＫＬ−ＫＲにおいても、その「絶
対値（信頼度）」を以下の如く「多い」、「中位」、
「少ない」の３つレンジにランク分けしている。 （１）同じレンジ間の差の時； ・（多い−多い）、（中位−中位）、（少ない−少な
い）の場合は「少ない」； （２）隣り合うレンジ間の差の時； ・（多い−中位）、（中位−少ない）、（中位−多
い）、（少ない−中位）の場合は「中位」； （３）それ以外の時； ・（多い−少ない）、（少ない−多い）の場合は「多
い」；
〜Ｎｏ．９）における各判別結果が示されており、各被
検査物品Ｗにおいて、例えば最大度数区間（判別用区
間）でのピッチ度数ＫＬ、ＫＲを、例えば「多い」、
「中位」、「少ない」の３つのレンジにランク分けして
判定している。また差ＫＬ−ＫＲにおいても、その「絶
対値（信頼度）」を以下の如く「多い」、「中位」、
「少ない」の３つレンジにランク分けしている。 （１）同じレンジ間の差の時； ・（多い−多い）、（中位−中位）、（少ない−少な
い）の場合は「少ない」； （２）隣り合うレンジ間の差の時； ・（多い−中位）、（中位−少ない）、（中位−多
い）、（少ない−中位）の場合は「中位」； （３）それ以外の時； ・（多い−少ない）、（少ない−多い）の場合は「多
い」；
【００３２】そして、本例では、この「絶対値（信頼
度）」が、「少ない」とき判定不能、「中位」のとき信
頼性不足、とし「多い」ときのみ疵目の向きを判別して
いる。しかし、「中位」のときにも判別させることもで
きる。
度）」が、「少ない」とき判定不能、「中位」のとき信
頼性不足、とし「多い」ときのみ疵目の向きを判別して
いる。しかし、「中位」のときにも判別させることもで
きる。
【００３３】他方、本発明者の研究によると、バフ傷
は、例えばバフロールの種類、回転数等のバフ処理の条
件によって特有の深さやピッチ配列を有し、従って、図
３（Ａ）、（Ｂ）に示すように、前記画像ピッチＰの度
数分布にも特性があることが判明した。図３（Ａ）、
（Ｂ）は、バフ処理を条件を違えて行い、その時のロッ
ト別サンプルにおけるバフ傷の区間・ピッチ度数データ
を、前記走査計数手段７を用いて計数して得た度数分布
曲線である。
は、例えばバフロールの種類、回転数等のバフ処理の条
件によって特有の深さやピッチ配列を有し、従って、図
３（Ａ）、（Ｂ）に示すように、前記画像ピッチＰの度
数分布にも特性があることが判明した。図３（Ａ）、
（Ｂ）は、バフ処理を条件を違えて行い、その時のロッ
ト別サンプルにおけるバフ傷の区間・ピッチ度数データ
を、前記走査計数手段７を用いて計数して得た度数分布
曲線である。
【００３４】同図ではピッチ長さを５画素（本例では
０．２５ｍｍに相当）毎の区間Ｇ１〜Ｇ６に区分して、
区間・ピッチ度数を計数しており、ロット毎に、即ちサ
ンプル毎に度数分布の特性が異なっているのが確認でき
る。即ち、区間Ｇ３を最大度数区間としているものの、
区間Ｇ２と区間Ｇ４とにおけるピッチ度数Ｋ２、Ｋ４の
比率Ｋ４／Ｋ２に大きな特色があり、この比率Ｋ４／Ｋ
２が大きくなる（サンプル番号が大きくなる）につれ
て、バフ粗さが荒くなっている。
０．２５ｍｍに相当）毎の区間Ｇ１〜Ｇ６に区分して、
区間・ピッチ度数を計数しており、ロット毎に、即ちサ
ンプル毎に度数分布の特性が異なっているのが確認でき
る。即ち、区間Ｇ３を最大度数区間としているものの、
区間Ｇ２と区間Ｇ４とにおけるピッチ度数Ｋ２、Ｋ４の
比率Ｋ４／Ｋ２に大きな特色があり、この比率Ｋ４／Ｋ
２が大きくなる（サンプル番号が大きくなる）につれ
て、バフ粗さが荒くなっている。
【００３５】このように、バフ処理ではロット毎に画像
ピッチＰの度数分布に特性が見られる。従って、ロット
毎に標準被検査物品Ｗを選出し、その区間・ピッチ度数
データ（標準度数データという場合がある）を予め記憶
させ、この標準度数データと、判定すべき被検査物品Ｗ
の２値化画像５Ｌ、５Ｒからそれぞれ得られる区間・ピ
ッチ度数データとを対比させることによって、被検査物
品Ｗがロット品であるかどうか、及び前記システム１に
異常がないかどうかを、判別前に判断することができ
る。
ピッチＰの度数分布に特性が見られる。従って、ロット
毎に標準被検査物品Ｗを選出し、その区間・ピッチ度数
データ（標準度数データという場合がある）を予め記憶
させ、この標準度数データと、判定すべき被検査物品Ｗ
の２値化画像５Ｌ、５Ｒからそれぞれ得られる区間・ピ
ッチ度数データとを対比させることによって、被検査物
品Ｗがロット品であるかどうか、及び前記システム１に
異常がないかどうかを、判別前に判断することができ
る。
【００３６】詳しくは、２値化画像５Ｌから得られる区
間・ピッチ度数データ、或いは２値化画像５Ｒから得ら
れる区間・ピッチ度数データの何れか一方のみが、前記
標準度数データの特性と一致する場合にのみ、被検査物
品Ｗがロット品であり、かつシステム異常がないと認識
し、判別手段９による判別を行う。従って、判別ミスを
予防でき、その信頼性を高く維持することが可能とな
る。
間・ピッチ度数データ、或いは２値化画像５Ｒから得ら
れる区間・ピッチ度数データの何れか一方のみが、前記
標準度数データの特性と一致する場合にのみ、被検査物
品Ｗがロット品であり、かつシステム異常がないと認識
し、判別手段９による判別を行う。従って、判別ミスを
予防でき、その信頼性を高く維持することが可能とな
る。
【００３７】なおシステム異常とは、被検査物品Ｗに対
して、第１、第２の照明具３Ｌ、３Ｒの設置位置、光軸
角度、光量などの撮影条件が、検査作業中に変化するこ
とを意味する。
して、第１、第２の照明具３Ｌ、３Ｒの設置位置、光軸
角度、光量などの撮影条件が、検査作業中に変化するこ
とを意味する。
【００３８】また特性が一致する条件とは、特に規定し
ないが、例えば （１）最大度数区間が一致している； （２）最大度数区間の度数と、この最大度数区間に隣合
う区間の度数との比率が近似している； （３）隣合う区間の度数同士の比率が近似している； （４）ノイズの可能性が高い初めの区間Ｇ１〜Ｇ３での
度数の合計と全度数との比率が近似している； 等があり、これらを組み合わせて設定することができ
る。
ないが、例えば （１）最大度数区間が一致している； （２）最大度数区間の度数と、この最大度数区間に隣合
う区間の度数との比率が近似している； （３）隣合う区間の度数同士の比率が近似している； （４）ノイズの可能性が高い初めの区間Ｇ１〜Ｇ３での
度数の合計と全度数との比率が近似している； 等があり、これらを組み合わせて設定することができ
る。
【００３９】また本発明では、前述の如く、バフ処理に
よって画像ピッチＰの度数分布に特性が見られるため、
この特性が顕著に現れる区間Ｇを判別用区間として採用
することにより、特に判別の信頼性、及び精度が高く保
証されるのである。
よって画像ピッチＰの度数分布に特性が見られるため、
この特性が顕著に現れる区間Ｇを判別用区間として採用
することにより、特に判別の信頼性、及び精度が高く保
証されるのである。
【００４０】なお本発明は、バフ処理によって生じるバ
フ目の向きの判定以外に、人の目では判別しがたい微妙
な疵状の疵目の向きの判定に採用することができる。
フ目の向きの判定以外に、人の目では判別しがたい微妙
な疵状の疵目の向きの判定に採用することができる。
【００４１】
【発明の効果】本発明は叙上の如く構成しているため、
人の目では判別しがたい微妙なバフ傷などの疵状部の疵
目の向きを、信頼性高く安定して判定でき、かつシステ
ム自体の正常／異常を検知しながら稼働できる。
人の目では判別しがたい微妙なバフ傷などの疵状部の疵
目の向きを、信頼性高く安定して判定でき、かつシステ
ム自体の正常／異常を検知しながら稼働できる。
【図１】本発明の一実施例を示す側面図である。
【図２】画像ピッチを説明する線図である。
【図３】（Ａ）、（Ｂ）バフ処理におけるロット別の画
像ピッチＰの度数分布を示す線図である。
像ピッチＰの度数分布を示す線図である。
【図４】（Ａ）はゴムローラＡの表面に生じるバフ傷を
示す斜視図、（Ｂ）はバフ傷を誇張して示す断面図であ
る。
示す斜視図、（Ｂ）はバフ傷を誇張して示す断面図であ
る。
【図５】従来技術を説明する線図である。
３Ｌ 第１の照明面 ３Ｒ 第２の照明面 ４Ｌ 第１の照明具 ４Ｒ 第２の照明具 ４ カメラ ５Ｌ、５Ｒ ２値化画像 ６ 画像線 ７ 走査計数手段 ９ 判別手段 Ｂ 疵状部 ｂ 疵目の影 Ｇ１〜Ｇｎ 区間 ＫＬ、ＫＲ ピッチ度数 Ｐ 画像ピッチ Ｗ 被検査物品 Ｘ 鉛直線
Claims (4)
- 【請求項１】被検査物品の表面で小間隔でのびる疵状部
の疵目の向きを判別する疵目向き判別システムであっ
て、 前記疵目の影が明瞭に出現するように被検査物品を照光
し第１の照明面を形成する第１の照明具と、第１の照明
具の照光とは前記表面に対する鉛直線に対して略対称な
異なる向きから照光して前記第１の照明面とは重ならな
い第２の照明面を形成する第２の照明具と、 第１の照明面、第２の照明面を撮影し画像をうるカメラ
と、 画像データを取り込んで画像を２値化した２値化画像を
うるとともに、２値化画像を走査することにより、２値
化画像における画像線間の画像ピッチが予め設定した区
間内である度数を計数したピッチ度数をうる走査計数手
段と、前記第１の照明面からの前記ピッチ度数と第２の
照明面からのピッチ度数との 差を演算するとともに、このピッチ度数の差から疵目の
向きを検定する判別手段とからなることを特徴とする疵
目向き判別システム。 - 【請求項２】前記走査計数手段は、複数の区間が予め設
定され、かつ２値化画像の走査による前記画像ピッチが
前記区間内である度数を計数したピッチ度数を区間毎に
計数し、区間・ピッチ度数データをうるとともに、 前記判別手段は、前記第１の照明面からの前記区間・ピ
ッチ度数データの所定区間の全ピッチ度数、第２の照明
面からの区間・ピッチ度数データの前記所定区間の全ピ
ッチ度数、およびその差を演算するとともに、この全ピ
ッチ度数の差から疵目の向きを検定することを特徴とす
る請求項１記載の疵目向き判別システム。 - 【請求項３】前記判別手段は、前記区間のピッチ度数、
又は前記全ピッチ度数を数の大小により少数レンジにラ
ンク分けすることにより前記判別を容易とすることを特
徴とする請求項１又は２記載の疵目向き判別システム。 - 【請求項４】前記判別手段は、標準被検査物品の区間・
ピッチ度数データをを予め記憶するとともに、第１の照
明面から得られる区間・ピッチ度数データと対比して判
別することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載
の疵目向き判別システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10162599A JP3410675B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 疵目向き判別システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10162599A JP3410675B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 疵目向き判別システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000292364A true JP2000292364A (ja) | 2000-10-20 |
| JP3410675B2 JP3410675B2 (ja) | 2003-05-26 |
Family
ID=14305596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10162599A Expired - Fee Related JP3410675B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 疵目向き判別システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3410675B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009061511A (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-26 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの研削方法及び研削装置 |
| JP2017173272A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 住友ゴム工業株式会社 | 円筒状部材の突起部の検査方法、その検査装置及びその検査方法を含む円筒状部材の製造方法 |
-
1999
- 1999-04-08 JP JP10162599A patent/JP3410675B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009061511A (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-26 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの研削方法及び研削装置 |
| JP2017173272A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 住友ゴム工業株式会社 | 円筒状部材の突起部の検査方法、その検査装置及びその検査方法を含む円筒状部材の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3410675B2 (ja) | 2003-05-26 |
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