JP2000288884A - Electrolytic in-process dressing device - Google Patents

Electrolytic in-process dressing device

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JP2000288884A
JP2000288884A JP11094076A JP9407699A JP2000288884A JP 2000288884 A JP2000288884 A JP 2000288884A JP 11094076 A JP11094076 A JP 11094076A JP 9407699 A JP9407699 A JP 9407699A JP 2000288884 A JP2000288884 A JP 2000288884A
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JP
Japan
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electrode
positioning
electrolytic
grindstone
grinding wheel
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP11094076A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiro Kasai
俊郎 河西
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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Publication of JP2000288884A publication Critical patent/JP2000288884A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To certainly control electrolytic action on a grinding wheel surface in electrolytic in-process dressing as compared to before, and to evenly generate the electrolytic action. SOLUTION: In this device, a gauge attachment part 12 is nearly horizontally fixed in a lower part of a post 11, while the gauge attachment part 12 extends under an electrode mounting member 7. A rotary gauge 13 for adjusting a gap is attached to the gauge attachment part 12. The front end of a measuring shaft 13c abuts on the lower face of the electrode mounting member 7 from beneath to support the electrode mounting member 7. Accordingly, by rotationally operating a rotational operation part 13a of the rotary gauge 13, the electrode mounting member 7 and an electrode 8 supported by it move up and down along a guide part 11a of the post 11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は電解インプロセスド
レッシング加工装置に係り、特に、水晶振動子を形成す
るための薄い水晶ウエハを加工する場合などに好適な技
術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrolytic in-process dressing apparatus, and more particularly to a technique suitable for processing a thin quartz wafer for forming a quartz oscillator.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、電解インプロセスドレッシン
グ(Electrolytic In-process Dressing)加工と呼ばれる
研削加工方法が提案されている。この加工方法の原理の
詳細は理研シンポジウム「鏡面研削の最新動向」平成3
年3月5日開催)にて発表され、また、特開平1−18
8266号公報に開示されている。
2. Description of the Related Art Heretofore, a grinding method called electrolytic in-process dressing has been proposed. For details of the principle of this processing method, see RIKEN Symposium “Latest Trend of Mirror Grinding”
(Held on March 5, 2003).
No. 8266 discloses this.

【0003】上記公報にも記載されているように、電解
インプロセスドレッシング加工においては、導電性基材
中に砥粒を埋設してなる導電性の砥石を用い、この砥石
とワークとを接触させて研削加工を行うが、この研削加
工と同時並行して砥石に電解液を接触させ、電界を印加
することにより砥石から導電性基材を溶出させて砥粒を
露出させる、所謂、目立て(ドレッシング)が行われる
ことに特徴がある。
[0003] As described in the above publication, in electrolytic in-process dressing, a conductive grindstone having abrasive grains embedded in a conductive base material is used, and the grindstone is brought into contact with a workpiece. In parallel with the grinding process, an electrolytic solution is brought into contact with the grindstone, and by applying an electric field, the conductive base material is eluted from the grindstone to expose the abrasive grains, so-called dressing (dressing). ) Is performed.

【0004】一般に導電性基材としてはメタルボンドと
呼ばれる金属材料が用いられ、導電性基材が電解作用に
よって溶出していく過程で導電性基材の表面に不動態被
膜が形成される場合がある。この不動態被膜は絶縁性で
あるため、不動態被膜が形成されると電解作用が徐々に
抑制されてそれ以上の導電性基材の溶出が減少する。す
ると、研削加工が進むに従って砥粒が摩耗し、やがて導
電性基材の表面上に形成された不動態被膜が研削によっ
て破壊される。不動態被膜が破壊されると再び電解作用
が促進され、導電性基材の溶出量が増大して砥石の表面
上に砥粒が突き出た状態となる。電解インプロセスドレ
ッシング加工では、多くの場合上記のような現象が繰り
返し発生するので、常時砥石の目立てが行われながら研
削加工を施すことができるため、砥石の目詰まりが発生
しにくく、粒度の細かな砥粒を用いた場合であっても加
工速度を向上することができるとともに、加工表面を良
好に保つことが可能になる。
In general, a metal material called a metal bond is used as a conductive base material, and a passivation film may be formed on the surface of the conductive base material while the conductive base material is eluted by an electrolytic action. is there. Since this passivation film is insulative, the formation of the passivation film gradually suppresses the electrolytic action and further reduces the elution of the conductive substrate. Then, as the grinding process proceeds, the abrasive grains are worn, and the passivation film formed on the surface of the conductive substrate is eventually destroyed by the grinding. When the passivation film is destroyed, the electrolytic action is promoted again, the elution amount of the conductive base material increases, and the abrasive grains protrude from the surface of the grindstone. In the electrolytic in-process dressing process, in many cases, the above-mentioned phenomenon occurs repeatedly.Therefore, the grinding process can be performed while the grindstone is being dressed at all times. The processing speed can be improved even when using a suitable abrasive, and the processed surface can be kept good.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
電解インプロセスドレッシング加工においては、砥石の
電解作用の強弱が適度に設定されていないと、電解作用
が進みすぎて砥粒の脱落が発生しやすくなり砥石の損耗
が激しくなったり、逆に充分な電解作用が得られずに加
工速度が低下してしまうなどの問題点がある。
However, in the above-mentioned electrolytic in-process dressing, if the strength of the electrolytic action of the grindstone is not appropriately set, the electrolytic action is excessively advanced and abrasive grains are likely to fall off. However, there is a problem that the wear of the grindstone becomes severe, and conversely, a sufficient electrolytic action is not obtained and the processing speed is reduced.

【0006】また、砥石表面に加えられる電界(電圧)
が不均一になると、砥石の表面で発生する電解作用もま
た不均一になるため、砥石表面において電解作用が局部
的に進みすぎる部位が生じたり、電解作用が発生せずに
目詰まりを起こす部分が生じたりする。このため、砥石
表面に凹凸が形成されたり、砥粒の突出状態がばらつい
たりすることなどによって研削品位が低下するという問
題点がある。特に、上記のように電解時において導電性
基材の表面上に不動態被膜が形成される場合には、上述
のような電解作用の繰り返しプロセスが崩れ、局部的に
のみ電解作用が集中して進んでしまうことがあり、この
ようになると砥石の目立て効果が充分には得られなくな
ってしまうという問題点がある。
Also, an electric field (voltage) applied to the surface of the grinding wheel
If the surface becomes uneven, the electrolytic action that occurs on the surface of the grindstone also becomes nonuniform.Therefore, a portion where the electrolytic action locally progresses excessively on the grindstone surface or a portion where clogging occurs without the electrolytic action occurring May occur. For this reason, there is a problem that grinding quality is deteriorated due to irregularities being formed on the surface of the grindstone or variation in the projected state of the abrasive grains. In particular, when a passivation film is formed on the surface of the conductive substrate during electrolysis as described above, the above-described process of repeating the electrolysis is disrupted, and the electrolysis is concentrated only locally. In some cases, there is a problem that the sharpening effect of the grindstone cannot be sufficiently obtained.

【0007】電解インプロセスドレッシング加工におい
て砥石への電解作用を設定可能にするために砥石の表面
に電極を対向配置した構造を有する装置が、例えば特開
平6−775号公報などにも記載されている。このよう
な装置の場合、電極は通常ネジ止めによって装置フレー
ムなどに取り付けられる。ここで、電極の表面と砥石の
表面との間の電極間ギャップを設定するには、ネジ止め
構造を緩めて移動可能になった電極と、砥石との間に所
望の電極間ギャップに対応する厚さを備えたゲージ板を
差込み、この状態を保持しながらゲージ板を抜き去り、
ネジ止めによって電極の高さを設定するようにしてい
る。しかしながら、この方法ではゲージ板を抜き去ると
きにゲージ板が電極に触れるので、折角設定した厚さが
ずれてしまったり、或いは、ゲージ板を抜き去ってから
ネジ止めにより固定するまでの間に電極の高さが変化し
てしまうなどの不具合があり、正確な電極間ギャップの
調整ができないという問題点があった。そして、このよ
うな電極間ギャップの調整不良は上記のようなドレッシ
ング作用の不良を招き、加工品位を悪化させ、加工速度
を低下させる原因となる。
[0007] An apparatus having a structure in which electrodes are opposed to the surface of a grindstone in order to make it possible to set an electrolytic action on the grindstone in electrolytic in-process dressing processing is described in, for example, JP-A-6-775. I have. In such a device, the electrodes are usually mounted on the device frame or the like by screwing. Here, in order to set the inter-electrode gap between the surface of the electrode and the surface of the grindstone, the electrode that has become movable by loosening the screwing structure corresponds to the desired inter-electrode gap between the grindstone. Insert a gauge plate with thickness, pull out the gauge plate while maintaining this state,
The height of the electrode is set by screwing. However, in this method, the gauge plate touches the electrode when the gauge plate is pulled out, so that the set thickness is shifted, or the electrode is removed from the gauge plate and fixed by screwing. There is a problem that the height of the electrode changes, and there is a problem that the gap between the electrodes cannot be accurately adjusted. Such poor adjustment of the inter-electrode gap causes the above-described poor dressing action, deteriorating the processing quality and lowering the processing speed.

【0008】そこで本発明は上記問題点を解決するもの
であり、その課題は、電解インプロセスドレッシング加
工において、従来よりも砥石表面の電解作用の制御を確
実に行うことができるとともに、電解作用を均一に発生
させることができる加工装置の構造を提供しようとする
ものである。
Accordingly, the present invention is to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to make it possible to more reliably control the electrolytic action on the grindstone surface and to improve the electrolytic action in the electrolytic in-process dressing processing than before. It is an object of the present invention to provide a structure of a processing apparatus that can generate the data uniformly.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の電解インプロセスドレッシング加工装置は、
ワークと、該ワークに接触するように構成され、導電性
基材中に砥粒を埋設してなる砥石と、該砥石における前
記ワークに接触していない表面部位に所定間隔を以て対
向する電極と、前記砥石と前記電極との間に電圧を印加
する電源と、前記砥石と前記電極との間に電解液を供給
する電解液供給手段と、前記砥石と前記ワークとを相対
的に移動させて前記ワークを前記砥石によって加工可能
に構成する駆動手段とを備え、電解作用によって前記砥
石から前記導電性基材を溶出させて目立てを行いながら
前記ワークの加工を行う電解インプロセスドレッシング
加工装置において、前記砥石と前記電極の対向間隔を変
更可能に構成するために前記砥石と前記電極の少なくと
も一方を移動可能に構成する案内構造と、前記砥石と前
記電極の少なくとも一方を位置決めして前記対向間隔を
設定可能な位置決め手段と、前記対向間隔若しくはその
変化量を計測可能な間隔検出手段とを備えていることを
特徴とする。
In order to solve the above problems, an electrolytic in-process dressing apparatus according to the present invention comprises:
Work, a grindstone configured to be in contact with the work, and buried abrasive grains in a conductive substrate, an electrode facing the surface portion of the grindstone that is not in contact with the work at a predetermined interval, A power source for applying a voltage between the grinding wheel and the electrode, an electrolytic solution supply means for supplying an electrolyte between the grinding wheel and the electrode, and relatively moving the grinding wheel and the work, A drive unit configured to be able to process the work with the grindstone, and an electrolytic in-process dressing processing apparatus that processes the work while performing dressing by eluting the conductive base material from the grindstone by electrolytic action, A guide structure configured to move at least one of the whetstone and the electrode so as to be able to change a facing distance between the whetstone and the electrode, and at least one of the whetstone and the electrode. And settable positioning means the opposing distance to position one, is characterized by comprising a said opposing distance or measurable gap detecting means and the amount of change.

【0010】この発明によれば、案内構造によって対向
間隔を変更できるように砥石と電極の少なくとも一方を
移動可能に構成し、砥石と電極の少なくとも一方を位置
決め手段により位置決めし、間隔検出手段により対向間
隔若しくはその変化量を計測可能に構成したので、間隔
検出手段により計測しながら位置決めすることによって
砥石と電極の対向間隔を容易且つ高精度に設定すること
ができるから、電解作用を好適に発生させることがで
き、加工品位を向上させ、しかも加工速度を高めること
ができる。
According to the present invention, at least one of the grindstone and the electrode is configured to be movable so that the facing distance can be changed by the guide structure, at least one of the grindstone and the electrode is positioned by the positioning means, and opposed by the spacing detecting means. Since the interval or the amount of change thereof can be measured, the opposing interval between the grindstone and the electrode can be set easily and with high precision by positioning while measuring by the interval detecting means. The processing quality can be improved, and the processing speed can be increased.

【0011】この発明において、複数の前記位置決め手
段及び前記間隔検出手段を前記砥石と前記電極の異なる
対向位置に設けることが好ましい。
In the present invention, it is preferable that a plurality of the positioning means and the interval detecting means are provided at different opposing positions of the grinding wheel and the electrode.

【0012】この発明によれば、複数の位置決め手段及
び間隔検出手段を異なる対向位置に設けたことにより、
対向間隔をより精度良く設定することができ、特に、相
互に対向する砥石表面と電極表面との平行度を向上させ
ることができる。したがって、砥石表面の電解作用をよ
り均一に発生させることができるため、加工品位をさら
に向上させることができる。この場合、3組或いはそれ
以上の位置決め手段及び間隔検出手段を、砥石と電極の
対向領域に対して平面的に配設する(位置決め位置が直
線上に配列しないように配置する)ことによって、平面
的に位置決めを行うことができるので、砥石表面と電極
表面の平行度をさらに高めることができる。
According to the present invention, by providing a plurality of positioning means and interval detecting means at different opposing positions,
The facing interval can be set with higher accuracy, and in particular, the parallelism between the mutually facing grindstone surface and the electrode surface can be improved. Therefore, the electrolytic action on the surface of the grindstone can be generated more uniformly, so that the processing quality can be further improved. In this case, three or more sets of positioning means and spacing detecting means are arranged in a plane with respect to the opposing region between the grindstone and the electrode (arranged so that the positioning positions are not arranged in a straight line). Since the positioning can be carried out, the parallelism between the grinding wheel surface and the electrode surface can be further increased.

【0013】上記各発明において、前記位置決め手段及
び前記間隔検出手段は、前記砥石と前記電極の少なくと
も一方に直接若しくは間接的に当接して位置決めする位
置決め部を備え、回転操作によって該位置決め部を移動
可能に構成され、前記位置決め部の少なくとも位置変化
量を計測可能な回転式ゲージによって構成されているこ
とが好ましい。
In each of the above inventions, the positioning means and the interval detecting means include a positioning part for directly or indirectly abutting on at least one of the grinding wheel and the electrode, and moving the positioning part by a rotating operation. It is preferable that the positioning section is constituted by a rotary gauge capable of measuring at least a position change amount of the positioning section.

【0014】この発明によれば、回転式ゲージによって
位置決め手段及び間隔検出手段の双方を構成することに
よって装置構造が簡単になるとともに、回転操作によっ
て位置決め及び計測を行うために位置決め精度を容易に
得ることができる。
According to the present invention, since both the positioning means and the interval detecting means are constituted by the rotary gauge, the structure of the apparatus is simplified, and the positioning accuracy is easily obtained since the positioning and measurement are performed by the rotating operation. be able to.

【0015】上記各発明において、前記砥石と前記電極
の少なくとも一方に直接若しくは間接的に当接して位置
決めする第1位置決め部を備えた第1位置決め手段と、
該第1位置決め部に対して独立して位置設定可能に構成
され、前記砥石と前記電極の少なくとも一方に直接若し
くは間接的に当接して位置決めする第2位置決め部を備
えた第2位置決め手段とを備え、前記間隔検出手段は、
前記第2位置決め部の少なくとも位置変化量を計測可能
に構成されていることが好ましい。
In each of the above inventions, a first positioning means having a first positioning portion for directly or indirectly abutting on at least one of the whetstone and the electrode for positioning,
A second positioning unit having a second positioning unit configured to be able to set a position independently with respect to the first positioning unit and directly or indirectly abutting on at least one of the whetstone and the electrode for positioning. The interval detecting means,
It is preferable that at least a position change amount of the second positioning section can be measured.

【0016】この発明によれば、第1位置決め手段の第
1位置決め部を砥石と電極の少なくとも一方に直接若し
くは間接的に当接させることによって対向間隔を仮に設
定し、その間に間隔検出手段によって第2位置決め部を
位置設定することができるため、第2位置決め部が位置
設定された後に第1位置決め部を当接位置から移動して
位置決め作用を解放することによって第2位置決め部に
よって対向間隔を設定することができる。したがって、
間隔検出手段の測定や第2位置決め部の位置設定を、砥
石と電極の少なくとも一方の位置決め状態とは無関係に
行うことができるため、位置設定を容易に行うことがで
きる。
According to the present invention, the facing distance is provisionally set by directly or indirectly contacting the first positioning portion of the first positioning means with at least one of the grindstone and the electrode, and the distance detecting means detects the distance therebetween in the meantime. (2) Since the position of the positioning portion can be set, after the position of the second positioning portion has been set, the first positioning portion is moved from the contact position to release the positioning action, thereby setting the facing distance by the second positioning portion. can do. Therefore,
Since the measurement of the interval detecting means and the position setting of the second positioning portion can be performed irrespective of the positioning state of at least one of the grindstone and the electrode, the position setting can be easily performed.

【0017】この発明において、前記砥石と前記電極の
異なる対向位置に複数の前記第2位置決め手段を設け、
複数の第2位置決め手段のそれぞれに設けられた前記第
2位置決め部の少なくとも位置変化量を相互に独立して
計測可能に構成された複数の前記間隔検出手段を備えて
いることが好ましい。
In the present invention, a plurality of the second positioning means are provided at different opposing positions of the grinding wheel and the electrode,
It is preferable to include a plurality of the interval detecting means configured to be able to measure at least a position change amount of the second positioning portion provided in each of the plurality of second positioning means independently of each other.

【0018】この発明によれば、複数の第2位置決め手
段により異なる対向位置において位置決めを行うことが
できるので、対向間隔をより精度良く設定することがで
き、特に、相互に対向する砥石表面と電極表面との平行
度を向上させることができる。したがって、砥石表面の
電解作用をより均一に発生させることができるため、加
工品位をさらに向上させることができる。この場合、3
組或いはそれ以上の位置決め手段及び間隔検出手段を、
砥石と電極の対向領域に対して平面的に配設する(位置
決め位置が直線上に配列しないように配置する)ことに
よって、平面的に位置決めを行うことができるので、砥
石表面と電極表面の平行度をさらに高めることができ
る。
According to the present invention, positioning can be performed at different opposing positions by the plurality of second positioning means, so that the opposing interval can be set more accurately. The parallelism with the surface can be improved. Therefore, the electrolytic action on the surface of the grindstone can be generated more uniformly, so that the processing quality can be further improved. In this case, 3
Sets or more of positioning means and spacing detecting means,
By arranging in a plane with respect to the facing region between the grinding wheel and the electrode (arranging the positioning position so as not to be arranged on a straight line), positioning can be performed in a plane, so that the grinding wheel surface and the electrode surface are parallel. The degree can be further increased.

【0019】上記各発明において、前記第2位置決め手
段及び前記間隔検出手段は、回転操作によって前記第2
位置決め部を移動可能に構成され、前記第2位置決め部
の少なくとも位置変化量を計測可能な回転式ゲージによ
って構成されていることが望ましい。
In each of the above inventions, the second positioning means and the interval detecting means may rotate the second positioning means and the distance detecting means.
It is preferable that the positioning portion is configured to be movable, and is configured by a rotary gauge capable of measuring at least a position change amount of the second positioning portion.

【0020】上記各発明において、前記砥石に対向する
前記電極の表面に設けられた開口部から前記砥石と前記
電極の対向領域内に前記電解液を供給するように構成さ
れていることが好ましい。
In each of the above inventions, it is preferable that the electrolytic solution is supplied from an opening provided on the surface of the electrode facing the grindstone to a region facing the grindstone and the electrode.

【0021】この発明によれば、砥石と電極の対向間隔
の正確な位置決めに加えて、砥石に対向する電極の表面
に形成された開口部から電解液が供給されることによ
り、電解液がより円滑に流通し、砥石表面に供給される
ので、砥石の電解作用をより均一且つスムーズに生じさ
せることができる。
According to the present invention, in addition to the accurate positioning of the facing distance between the grindstone and the electrode, the electrolytic solution is supplied from the opening formed on the surface of the electrode facing the grindstone, so that the electrolytic solution can be further improved. Since the fluid flows smoothly and is supplied to the grindstone surface, the electrolytic action of the grindstone can be more uniformly and smoothly generated.

【0022】この発明においてはさらに、前記電極の前
記表面には複数の前記開口部が分散した状態で形成され
ていることが望ましい。
In the present invention, it is preferable that a plurality of the openings are formed in a dispersed state on the surface of the electrode.

【0023】この発明によれば、電極の表面に複数の開
口部が分散した状態で形成されていることによって、砥
石と電極との対向領域に亘り、さらに均一な電解作用を
生じさせることができる。
According to the present invention, since a plurality of openings are formed in a dispersed state on the surface of the electrode, a more uniform electrolytic action can be produced over the region where the grinding wheel and the electrode face each other. .

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】次に、本発明に係る電解インプロ
セスドレッシング加工装置の実施形態について詳細に説
明する。
Next, an embodiment of an electrolytic in-process dressing apparatus according to the present invention will be described in detail.

【0025】[基本構成]まず最初に、以下に記載する
第1実施形態と第2実施形態のいずれにも共通な装置の
基本構成について説明する。図1は本発明の各実施形態
に共通な装置構造を示す模式的な概略斜視図、図2は同
装置の模式的な概略断面図である。この装置において、
円盤状の砥石台2は回転軸2aを中心として回転可能に
構成されている。砥石台2の一面にはリング状の砥石4
が取り付けられている。砥石4は後述するように砥粒を
導電性材料に埋設した導電性砥石である。砥石4の一部
は回転台6に平面的に重なるように配置され、回転台6
は回転軸6aを中心に回転可能に構成されている。回転
台6の表面上には保持治具10が取付固定されている。
保持治具10の表面上には水晶ウエハなどのワーク20
が吸着保持されている。このワーク20の表面は上記砥
石4の表面に接触し、後述するように研削加工を受ける
ようになっている。なお、砥石台2と回転台6の回転軸
線は互いに平行に構成されている。研削装置としては砥
石4と保持治具10とを接触させた状態で相対的に移動
させればよいが、本実施形態のように平行な回転軸線を
ずらして構成し、互いに回転移動経路が一部重なるよう
に構成することによって以下に説明する装置構成が可能
となる。
[Basic Configuration] First, the basic configuration of an apparatus common to both the first and second embodiments described below will be described. FIG. 1 is a schematic schematic perspective view showing an apparatus structure common to each embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic schematic sectional view of the same apparatus. In this device,
The disc-shaped wheel head 2 is configured to be rotatable about a rotation shaft 2a. A ring-shaped grinding wheel 4 is provided on one side of the grinding wheel base 2
Is attached. The grindstone 4 is a conductive grindstone in which abrasive grains are embedded in a conductive material as described later. A part of the grindstone 4 is arranged so as to overlap the turntable 6 in a plane, and the turntable 6
Is configured to be rotatable about a rotation shaft 6a. A holding jig 10 is mounted and fixed on the surface of the turntable 6.
A work 20 such as a quartz wafer is placed on the surface of the holding jig 10.
Is held by suction. The surface of the work 20 comes into contact with the surface of the grinding wheel 4 and undergoes a grinding process as described later. The rotation axes of the wheel head 2 and the turntable 6 are configured to be parallel to each other. The grinding device may be relatively moved while the grinding wheel 4 and the holding jig 10 are in contact with each other. The configuration described below allows the device configuration to be described below.

【0026】リング状の砥石4のうち、回転台6に平面
的に重なっていない部分には円弧状に形成された電極8
が所定の間隔、すなわち、図2に示す電極間ギャップd
を以て対向している。この電極間ギャップdは、砥石4
の表面と、この表面に対向する電極8の表面との対向間
隔である。電極8は導電性材料、例えば金属からなる。
電極8は図2に示す電極取付部材7に固定されている。
An electrode 8 formed in an arc shape is formed on a portion of the ring-shaped grindstone 4 not overlapping the turntable 6 in a plane.
Is a predetermined interval, that is, the gap d between the electrodes shown in FIG.
Are opposed to each other. The gap d between the electrodes is the whetstone 4
And the distance between the surface of the electrode 8 and the surface of the electrode 8 facing the surface. The electrode 8 is made of a conductive material, for example, a metal.
The electrode 8 is fixed to the electrode mounting member 7 shown in FIG.

【0027】砥石4と電極8との対向領域には、側方か
らクーラント供給ノズル9によって導電性を有する電解
液であって、クーラントの役割をも果たす電解クーラン
トECが供給されるようになっている。クーラント供給
ノズル9は図1に示すように電極8の延長方向に亘って
複数配置されていることが好ましい。また、電解クーラ
ントは基本的には砥石4と電極8との間に供給される電
解液であるが、同じクーラントを、砥石4と保持治具1
0上に固定されたワーク20との間の研削部にも供給す
ることが望ましい。もっとも、研削部には別のクーラン
ト(冷却機能のみを有するものなど)を供給してもよ
い。
A coolant supply nozzle 9 supplies an electrolytic coolant EC, which is a conductive electrolytic solution and also serves as a coolant, to the opposing region between the grindstone 4 and the electrode 8 from the side. I have. It is preferable that a plurality of coolant supply nozzles 9 are arranged in the direction in which the electrode 8 extends as shown in FIG. The electrolytic coolant is basically an electrolytic solution supplied between the grindstone 4 and the electrode 8, but the same coolant is supplied to the grindstone 4 and the holding jig 1.
It is desirable to supply also to the grinding part between the workpiece 20 fixed on the zero. However, another coolant (such as one having only a cooling function) may be supplied to the grinding unit.

【0028】図2に示すように、砥石台2の回転軸2a
の先端部には電気コンタクト性の良好な表面を備えた円
筒状の導電接続部2bが形成されている。電源14は、
この導電接続部2bに圧接された給電ブラシ15を介し
て正電位を付与し、また、上記電極8に負電位を付与す
るようになっている。電源14は直流パルス電源であ
る。
As shown in FIG. 2, the rotating shaft 2a of the grinding wheel head 2
Is formed with a cylindrical conductive connecting portion 2b having a surface having good electric contact properties. The power supply 14
A positive potential is applied through the power supply brush 15 pressed against the conductive connection portion 2b, and a negative potential is applied to the electrode 8. The power supply 14 is a DC pulse power supply.

【0029】砥石4としては、ダイヤモンド、CBN
(正方晶窒化ホウ素)、各種金属酸化物などの砥粒をメ
タルボンド(金属結合材)などの導電性結合材と混合し
て固めたもの、例えば、高温(1000℃以上)で焼結
させたものを用いることができる。メタルボンドとして
は、鋳鉄、ブロンズ、ニッケル、コバルトなどを用いる
ことができる。砥粒のコンセントレーション(集中度:
JIS規格)は50〜200程度であることが好まし
く、特に、50〜100であることが望ましい。砥粒の
粒度は、用途に応じて適宜に設定されるが、ダイヤモン
ドやCBNなどの硬質砥粒を用いる際には、水晶ウエハ
などのように鏡面加工が要求される場合、#4000〜
#10000程度であることが好ましく、上記以外の比
較的軟質の砥粒を用いる場合には#2000〜#400
0程度であることが好ましい。なお、#4000の平均
粒径は約4μmに相当する。
As the grinding wheel 4, diamond, CBN
Abrasive grains such as (tetragonal boron nitride) and various metal oxides are mixed with a conductive binder such as a metal bond (metal binder) and solidified, for example, sintered at a high temperature (1000 ° C. or higher). Can be used. As the metal bond, cast iron, bronze, nickel, cobalt, or the like can be used. Abrasive concentration (degree of concentration:
(JIS standard) is preferably about 50 to 200, and particularly preferably 50 to 100. The grain size of the abrasive grains is appropriately set according to the application. However, when hard abrasive grains such as diamond and CBN are used, when a mirror surface processing is required such as a quartz wafer, # 4000-
It is preferably about # 10000, and when using relatively soft abrasive grains other than the above, # 2000 to # 400
It is preferably about 0. The average particle size of # 4000 corresponds to about 4 μm.

【0030】この装置では、回転軸2a及び回転軸6a
を回転駆動することによって保持治具10上に固定され
たワーク20が砥石4によって研削される。また、同時
に、砥石4は電源14から供給される電力に基づいて電
解クーラントECによって電解され、砥石4中のメタル
ボンドが溶解し、メタルボンド中に埋設されていた砥粒
が露出される。砥石4と電極8との間に電流が流れ、メ
タルボンドが溶解していくと砥粒が露出して所謂砥石の
目立てが行われた状態となるが、やがてメタルボンドの
表面に絶縁性の不動態被膜が形成され、電流量が急激に
低下するとともにメタルボンドの溶出も減少する。この
状態で研削が進行していき、ワーク20の研削により砥
粒が摩耗してくると、やがて不動態被膜も研削作用によ
って突き破られる。不動態被膜が破られると、再び電流
が流れてメタルボンドが電解液中に溶出し、再び砥粒が
砥石4の表面上に突き出てくる。このような作用を繰り
返すことによって、電解インプロセスドレッシング加工
においては、常に砥石の目立てが行われながら研削が進
行していくので、細かな粒度の砥粒を用いても目詰まり
が発生しにくく、効率的に研削を行うことができ、迅速
に、且つ、安定した状態で研削を行うことができる。
In this device, the rotating shaft 2a and the rotating shaft 6a
The workpiece 20 fixed on the holding jig 10 is ground by the grindstone 4 by rotationally driving. At the same time, the grindstone 4 is electrolyzed by the electrolytic coolant EC based on the electric power supplied from the power supply 14, so that the metal bond in the grindstone 4 is dissolved, and the abrasive grains embedded in the metal bond are exposed. When a current flows between the grindstone 4 and the electrode 8 and the metal bond dissolves, the abrasive grains are exposed and a so-called grindstone dressing is performed. A dynamic film is formed, and the amount of current decreases rapidly and the elution of metal bonds also decreases. Grinding proceeds in this state, and when the abrasive grains are worn by the grinding of the work 20, the passive film is eventually broken through by the grinding action. When the passivation film is broken, a current flows again, the metal bond elutes into the electrolytic solution, and the abrasive grains again protrude onto the surface of the grindstone 4. By repeating such an operation, in the electrolytic in-process dressing process, the grinding proceeds while the dressing of the grindstone is always performed, so that clogging hardly occurs even when using abrasive grains having a fine particle size, The grinding can be performed efficiently, and the grinding can be performed quickly and in a stable state.

【0031】[第1実施形態]次に、図3及び図5を参
照して本発明に係る電解インプロセスドレッシング加工
装置の第1実施形態の細部構造について説明する。第1
実施形態の概略構成は上記の図1及び図2に示した通り
であり、同一部分には同一符号を付し、その説明は省略
する。
[First Embodiment] Next, referring to FIGS. 3 and 5, a detailed structure of a first embodiment of an electrolytic in-process dressing apparatus according to the present invention will be described. First
The schematic configuration of the embodiment is as shown in FIGS. 1 and 2 above, and the same portions are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0032】図3は、本実施形態の電極の取付構造を示
す平面図(a)及び正面図(b)である。ここで、正面
図(b)は砥石4の円弧形状の内側(砥石台2の回転中
心側)から見た電極8及びその取付構造を示すものであ
る。装置フレームなどの図示しない基台に取付固定され
た支柱11には上下方向(垂直方向)に伸びる溝状の案
内部11aが形成され、この案内部11aには上記電極
取付部材7の案内係合部7bが係合し、上下方向に昇降
可能に構成されている。電極取付部材7には上述のよう
に電極8を支持する電極支持部7aが設けられている。
支柱11の下部にはゲージ取付部12が略水平に固定さ
れ、このゲージ取付部12は電極取付部材7の下方に伸
びている。ゲージ取付部12にはギャップ調整用の回転
式ゲージ(マイクロメータ)13が取り付けられてい
る。この回転式ゲージ13は、回転操作部13aを回転
させることによって目盛部13bに対して回転操作部1
3aが移動するとともに計測軸13cが軸線方向に出入
りし、この計測軸13cの軸線方向の移動距離或いは計
測軸13cの先端部の位置を回転操作部13aと目盛部
13bとの位置関係によって読みとることができる公知
の回転式ゲージである。計測軸13cの先端部は下方か
ら電極取付部材7の下面に当接し、電極取付部材7を支
持している。したがって、電極7及びこれに支持されて
いる電極8は、回転式ゲージ13の回転操作部13aを
回転操作することによって支柱11の案内部11aに沿
って上下に移動するように構成されている。
FIG. 3 is a plan view (a) and a front view (b) showing the electrode mounting structure of the present embodiment. Here, the front view (b) shows the electrode 8 and the mounting structure thereof as viewed from the inside of the arc shape of the grinding wheel 4 (the rotation center side of the grinding wheel base 2). A support 11 fixed to a base (not shown) such as an apparatus frame is provided with a groove-shaped guide portion 11a extending in a vertical direction (vertical direction). The portion 7b is engaged so that it can move up and down. The electrode mounting member 7 is provided with the electrode support 7a for supporting the electrode 8 as described above.
A gauge mounting part 12 is fixed to the lower part of the support 11 substantially horizontally, and the gauge mounting part 12 extends below the electrode mounting member 7. A rotary gauge (micrometer) 13 for gap adjustment is mounted on the gauge mounting section 12. The rotary gauge 13 rotates the rotary operation unit 13a to rotate the rotary operation unit 1 with respect to the scale unit 13b.
As 3a moves, the measuring axis 13c moves in and out in the axial direction, and the moving distance of the measuring axis 13c in the axial direction or the position of the tip of the measuring axis 13c can be read based on the positional relationship between the rotary operation section 13a and the scale section 13b. Is a known rotary gauge. The tip of the measurement shaft 13c contacts the lower surface of the electrode mounting member 7 from below, and supports the electrode mounting member 7. Therefore, the electrode 7 and the electrode 8 supported by the electrode 7 are configured to move up and down along the guide portion 11a of the column 11 by rotating the rotary operation portion 13a of the rotary gauge 13.

【0033】電極取付部材7及び電極8には対応した位
置に上下方向に貫通し、相互に連通する貫通孔7c,8
bが形成されており、貫通孔7cには下方からフレキシ
ブルチューブなどからなるクーラント管16の先端部が
導入されている。クーラント管16から上記の電解クー
ラントECを供給すると、電極8の表面8aに開口した
貫通孔8bから砥石4と電極8との対向領域に電解クー
ラントECが供給されるように構成されている。
The through holes 7c and 8 penetrate vertically through the electrode mounting member 7 and the electrode 8 at positions corresponding to each other, and communicate with each other.
b is formed, and a leading end of a coolant tube 16 made of a flexible tube or the like is introduced into the through hole 7c from below. When the above-mentioned electrolytic coolant EC is supplied from the coolant tube 16, the electrolytic coolant EC is supplied from a through hole 8 b opened in the surface 8 a of the electrode 8 to a region opposed to the grinding wheel 4 and the electrode 8.

【0034】本実施形態では、図5(a)に示すよう
に、回転式ゲージ13の回転操作部13aを回転させて
計測軸13cを上方へ突出させ、計測軸13cの先端部
によって電極取付部材7を上方へ突き上げて電極8の表
面8aが対向する砥石4の表面4aに当接するようにす
る。次に、この状態における回転式ゲージ13の目盛部
13bの目盛を読み取り、この読み取り値を基準とし
て、図5(b)に示すように予め設定された電極間ギャ
ップdだけ計測軸13cの先端部が下方へ移動するよう
に、回転操作部13aを逆に回転させる。このようにす
ることによって、電極8の表面8aと、砥石4の表面4
aとの間の電極間ギャップdを正確に設定することがで
きる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 5 (a), the rotation operating portion 13a of the rotary gauge 13 is rotated so that the measurement shaft 13c protrudes upward, and the electrode mounting member is moved by the tip of the measurement shaft 13c. 7 is pushed upward so that the surface 8a of the electrode 8 comes into contact with the surface 4a of the grinding wheel 4 facing the electrode 8. Next, the scale of the scale portion 13b of the rotary gauge 13 in this state is read, and the tip of the measurement shaft 13c is set based on the read value by a preset gap d between the electrodes as shown in FIG. The rotation operation unit 13a is rotated in the reverse direction so that moves downward. By doing so, the surface 8 a of the electrode 8 and the surface 4
The gap d between the electrodes can be set accurately.

【0035】本実施形態では、上記の回転式ゲージ13
によって、電極8を上下方向に位置決めする位置決め手
段と、電極間ギャップdを計測する間隔検出手段とを一
体に構成しているが、両者を別々の部材或いは別々の部
位によって構成してもよい。例えば、電極8を位置決め
する回転ねじ構造を設け、これとは別に、電極8の位置
を計測するための計測用目盛を例えば支柱11の表面上
に形成してもよい。
In the present embodiment, the rotary gauge 13
Thus, the positioning means for positioning the electrode 8 in the vertical direction and the interval detecting means for measuring the gap d between the electrodes are integrally formed, but they may be formed by separate members or separate portions. For example, a rotary screw structure for positioning the electrode 8 may be provided, and separately from this, a measurement scale for measuring the position of the electrode 8 may be formed on the surface of the support 11, for example.

【0036】[第2実施形態]次に、図4及び図6を参
照して本発明に係る第2実施形態の構造について説明す
る。この第2実施形態においても、上記第1実施形態の
場合と同様に基本構成については図1及び図2に示す構
造を備えているので、同一部分には同一符号を付し、そ
の説明は省略する。
[Second Embodiment] Next, the structure of a second embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS. Also in the second embodiment, the basic configuration is provided with the structure shown in FIGS. 1 and 2 as in the case of the above-described first embodiment. I do.

【0037】本実施形態では、図4に示すように、第1
実施形態と同一の支柱11、ゲージ取付部12、回転式
ゲージ13を備えているので、これらの説明は省略す
る。本実施形態において先の第1実施形態と異なる点
は、まず、図4(a)に示すように電極8の表面8a上
に多数の開口部8cが形成されている点にある。開口部
8cは表面8a上にほぼ均一に分散配置されるように形
成されている。また、開口部8cは電極8の内部に形成
されたクーラント収容部8dと連通している。クーラン
ト収容部8dは電極8の外形とほぼ同様の平面円弧状に
延長した形状を有する内部空間である。このクーラント
収容部8dには、電極8に接続されたフレキシブルチュ
ーブなどからなるクーラント管17から上記の電解クー
ラントECが供給されるようになっている。クーラント
収容部8cに供給された電解クーラントECは開口部8
cから砥石4と電極8との対向領域に向けて吹き出すよ
うになっている。
In this embodiment, as shown in FIG.
Since the same support 11, gauge mounting part 12, and rotary gauge 13 as those of the embodiment are provided, their description is omitted. This embodiment is different from the first embodiment in that a large number of openings 8c are formed on the surface 8a of the electrode 8 as shown in FIG. The openings 8c are formed so as to be distributed almost uniformly on the surface 8a. The opening 8c communicates with a coolant accommodating portion 8d formed inside the electrode 8. The coolant accommodating portion 8d is an internal space having a shape extending in a plane arc substantially similar to the outer shape of the electrode 8. The above-mentioned electrolytic coolant EC is supplied to the coolant accommodating portion 8d from a coolant tube 17 formed of a flexible tube or the like connected to the electrode 8. The electrolytic coolant EC supplied to the coolant accommodating portion 8c is supplied to the opening 8
The air is blown out from c toward the area where the grindstone 4 and the electrode 8 face each other.

【0038】この実施形態では、上記のように砥石4に
対向する電極8の表面8aに複数の開口部8cが形成さ
れ、これらの開口部8cは表面8a上に分散配置されて
おり、開口部8cから電解クーラントが供給されるよう
に構成されているので、電解クーラントが上述の供給ノ
ズル9のみで外部から供給される場合に較べ、電極間ギ
ャップ領域に均一且つ充分に供給することが可能にな
る。また、電極8の表面の開口部8bから電解クーラン
トを供給する第1実施形態よりも均一に対向領域に電解
クーラントを供給することができる。
In this embodiment, a plurality of openings 8c are formed on the surface 8a of the electrode 8 facing the grindstone 4 as described above, and these openings 8c are dispersed on the surface 8a. Since the electrolytic coolant is supplied from 8c, the electrolytic coolant can be uniformly and sufficiently supplied to the inter-electrode gap region as compared with the case where the electrolytic coolant is supplied from the outside only by the supply nozzle 9 described above. Become. Further, the electrolytic coolant can be supplied to the opposed region more uniformly than in the first embodiment in which the electrolytic coolant is supplied from the opening 8b on the surface of the electrode 8.

【0039】また、本実施形態は、図4(b)に示すよ
うに、ゲージ取付部12に上記と同様に取り付けられた
回転式ゲージ13の両側に、二つの回転式ゲージ18,
19が取り付けられている点で第1実施形態と相違す
る。これらの回転式ゲージ18,19は基本的に回転式
ゲージ13と全く同様の構造を備えるものであり、回転
式ゲージ13の各部と同一の機能を有する回転操作部1
8a,19a、目盛部18b,19b及び計測軸18
c,19cを備えている。この場合、図4(b)に示す
ように、3つの回転式ゲージ13,18,19の各計測
軸13c,18c,19cの先端部はそれぞれ電極取付
部材7の下面に当接できるように構成されている。
In this embodiment, as shown in FIG. 4 (b), two rotary gauges 18, 18 are provided on both sides of a rotary gauge 13 mounted on the gauge mounting portion 12 in the same manner as described above.
19 is different from the first embodiment in that the mounting member 19 is attached. These rotary gauges 18 and 19 basically have exactly the same structure as the rotary gauge 13, and the rotary operation unit 1 having the same function as each component of the rotary gauge 13.
8a, 19a, scale parts 18b, 19b and measuring axis 18
c, 19c. In this case, as shown in FIG. 4 (b), the configuration is such that the distal ends of the measurement shafts 13 c, 18 c, 19 c of the three rotary gauges 13, 18, 19 can respectively contact the lower surface of the electrode mounting member 7. Have been.

【0040】次に、上記の3つの回転式ゲージを備える
本実施形態において電極間ギャップを調整、設定する方
法について説明する。まず、図6(a)に示すように、
回転式ゲージ13,18,19の回転操作部13a,1
8a,19aを回転させて計測軸13c,18c,19
cの先端部を上方へ突出させ、電極取付部材7と電極8
を上昇させ、電極8の表面8aが砥石4の表面4aに当
接させる。このとき、3つの計測軸13c,18c,1
9cの全てが電極取付部材7の下面に当接するようにし
ておく。そして、左右の回転式ゲージ18,19の目盛
部18b,19bの目盛を読みとっておく。次に、左右
の回転式ゲージ18,19の回転操作部18a,19a
を逆に回転させて計測軸18c,19cの先端部を下降
させ、当該先端部を先の読み取り値から予め設定された
電極間ギャップdだけそれぞれ下方に移動させる。そし
て、この左右の回転式ゲージ18,19の操作が完了し
た後に、中央の回転式ゲージ13の回転操作部13aを
逆に回転させ、計測軸13cの先端部を下降させる。や
がて図6(b)に示すように、計測軸13cの先端部が
左右の回転式ゲージ18,19の計測軸18c,19c
の先端部よりも下方に移動すると、電極取付部材7及び
電極8は左右の回転式ゲージ18,19の計測軸18
c、19cに支持された状態となる。
Next, a method of adjusting and setting the gap between the electrodes in the present embodiment having the above three rotary gauges will be described. First, as shown in FIG.
Rotary operation parts 13a, 1 of rotary gauges 13, 18, 19
8a, 19a are rotated to measure the axes 13c, 18c, 19
c, and projecting the tip of the electrode upward, the electrode mounting member 7 and the electrode 8
And the surface 8 a of the electrode 8 is brought into contact with the surface 4 a of the grindstone 4. At this time, the three measurement axes 13c, 18c, 1
9c is made to abut on the lower surface of the electrode mounting member 7. Then, the scales of the scale portions 18b and 19b of the right and left rotary gauges 18 and 19 are read. Next, the rotary operation parts 18a, 19a of the left and right rotary gauges 18, 19
Is rotated in the reverse direction to lower the distal ends of the measurement shafts 18c and 19c, and the distal ends are respectively moved downward by a preset inter-electrode gap d from the previously read value. After the operation of the left and right rotary gauges 18 and 19 is completed, the rotation operation unit 13a of the central rotary gauge 13 is rotated in the reverse direction to lower the tip of the measurement shaft 13c. Eventually, as shown in FIG. 6 (b), the tip of the measurement shaft 13c becomes the measurement shaft 18c, 19c of the left and right rotary gauges 18, 19.
The electrode mounting member 7 and the electrode 8 are moved below the tip of the measuring shaft 18 of the left and right rotary gauges 18 and 19.
c, 19c.

【0041】この実施形態では、砥石4と電極8の間の
電極間ギャップを2つの計測軸18c,19cの先端部
によって位置決めしているため、砥石4の表面4aと電
極8の表面8aとの平行度を第1実施形態の場合よりも
高精度に設定することができる。したがって、砥石4の
表面4aに加わる電界がより均一になり、砥石4の電解
作用の均一性を高めることができる。
In this embodiment, since the gap between the electrodes between the grindstone 4 and the electrode 8 is positioned by the tips of the two measuring axes 18c and 19c, the gap between the surface 4a of the grindstone 4 and the surface 8a of the electrode 8 is determined. The parallelism can be set with higher accuracy than in the first embodiment. Therefore, the electric field applied to the surface 4a of the grindstone 4 becomes more uniform, and the uniformity of the electrolytic action of the grindstone 4 can be improved.

【0042】なお、本実施形態では3つの回転式ゲージ
を用いているが、そのうちの一つを単なる位置決め手段
である止めネジとし、残りの2つの回転式ゲージによっ
て電極間ギャップの平行度を得られる構成としてもよ
い。また、2つの回転式ゲージのみを設けて、これらの
回転式ゲージによって電極間ギャップの平行度を得られ
る構成としてもよい。さらに、第1実施形態と同様に一
点のみの位置決めとなるものの、例えば、止めネジ一つ
と、回転式ゲージ一つの構成としても電極間ギャップの
設定は可能である。
In the present embodiment, three rotary gauges are used. One of them is a set screw which is merely a positioning means, and the remaining two rotary gauges are used to obtain the parallelism of the gap between the electrodes. May be adopted. Alternatively, only two rotary gauges may be provided, and the parallelism of the gap between the electrodes may be obtained by these rotary gauges. Further, although the positioning is performed at only one point as in the first embodiment, the gap between the electrodes can be set even if, for example, one set screw and one rotary gauge are used.

【0043】また、上記実施形態のように3組の回転式
ゲージを用いる場合、3組の回転式ゲージを全て同一直
線上に配列することなく、3組の回転式ゲージが3角形
の頂点位置に配置されるように構成することによって、
電極8を平面的に位置決めすることが可能になる。した
がって、砥石4の表面4aと電極8の表面8aの平行度
をより高めることができる。例えば、図6に示す例で
は、回転式ゲージ13を左右の回転式ゲージ18と19
を結ぶ直線から図の紙面と直交する方向にずらして配置
することによって、3つの回転式ゲージによる平面的な
3点支持が可能となる。この場合において、最終的に図
6(b)に示すように電極取付部材7及び電極8が左右
の回転式ゲージ18,19の計測軸18c、19cに支
持された状態で、中央の回転式ゲージ13の計測軸13
cもまた、図6(a)に示すように電極取付部材7の下
面に当接した状態において目盛を読みとっておき、ここ
から一旦、上記のように計測軸13cを図6(b)に示
す如く下降させて計測軸18c,19cに電極取付部材
7が支持された状態とし、その後、図6(b)に点線で
示すように、上記の読み取り値から電極間ギャップdだ
け計測軸13cを下降させた状態にまで計測軸13cを
上方へ戻してもよい。このようにすれば電極取付部材7
及び電極8は計測軸13c,18c,19cの3点で支
持された状態になる。
In the case where three sets of rotary gauges are used as in the above embodiment, the three sets of rotary gauges are not arranged on the same straight line, and the three sets of rotary gauges are positioned at the apex of the triangle. By configuring to be placed in
The electrode 8 can be positioned in a plane. Therefore, the parallelism between the surface 4a of the grindstone 4 and the surface 8a of the electrode 8 can be further increased. For example, in the example shown in FIG. 6, the rotary gauge 13 is connected to the left and right rotary gauges 18 and 19.
Is shifted in the direction perpendicular to the plane of the drawing from the straight line connecting the three lines, three-dimensional support by three rotary gauges becomes possible. In this case, finally, as shown in FIG. 6 (b), with the electrode mounting member 7 and the electrode 8 being supported by the measurement shafts 18c, 19c of the left and right rotary gauges 18, 19, the central rotary gauge is used. 13 measuring axes 13
As for c, as shown in FIG. 6 (a), the scale is read in a state where the scale is in contact with the lower surface of the electrode mounting member 7, and the measuring axis 13c is temporarily moved from this as shown in FIG. 6 (b). The electrode mounting member 7 is supported by the measurement shafts 18c and 19c by lowering, and then, as shown by a dotted line in FIG. 6B, the measurement shaft 13c is lowered by the inter-electrode gap d from the above read value. The measurement axis 13c may be returned to the upper state. By doing so, the electrode mounting member 7
The electrode 8 is supported at three points of the measurement axes 13c, 18c, and 19c.

【0044】上記の電解インプロセスドレッシング加工
装置を用いて、ワーク20の研削試験を行った。なお、
ワーク20の加工を行う前に、図2乃至図6に示す電極
間ギャップdの設定作業を行った。ワーク20は、水晶
の結晶塊を約260μmの厚さにスライスし、32mm
角のウエハを作成し、表裏面に粗研磨を施して約200
μm厚に形成した後に、上記の保持治具10に吸着保持
させ上記装置によって研削加工を実施した。この保持治
具10は、ワーク20に対する吸着面をセラミックスな
どの多孔質素材からなる保持部材の露出表面によって構
成し、当該保持部材を保持治具10の凹部に取付け、保
持治具10の内部から保持部材を介して排気することに
より、その露出表面上にワーク20を吸着保持するよう
に構成されている。この試験に使用した砥石は、砥粒と
して#4000のダイヤモンド粒を用い、鋳鉄とブロン
ズを混合したメタルボンドによって砥粒のコンセントレ
ーションを約100として形成したものである。
The work 20 was subjected to a grinding test using the above-mentioned electrolytic in-process dressing apparatus. In addition,
Before processing the work 20, the setting work of the electrode gap d shown in FIGS. 2 to 6 was performed. The work 20 is obtained by slicing a crystal lump to a thickness of about 260 μm,
Create a square wafer and roughly grind the front and back surfaces to about 200
After forming to a thickness of μm, the wafer was suction-held on the holding jig 10 and ground by the above-mentioned apparatus. In the holding jig 10, the suction surface for the work 20 is constituted by an exposed surface of a holding member made of a porous material such as ceramics, and the holding member is attached to a concave portion of the holding jig 10. By exhausting through the holding member, the work 20 is configured to be suction-held on the exposed surface thereof. The grindstone used in this test was formed by using diamond grains of # 4000 as abrasive grains, and setting the concentration of the abrasive grains to about 100 by a metal bond obtained by mixing cast iron and bronze.

【0045】この結果、上記水晶ウエハを最終的に25
μmの厚さにまで薄肉化することができた。研削後の水
晶ウエハの表面は充分な鏡面となっていた。また、研削
後の水晶ウエハを保持治具から取り外す際にも、上記図
5に示す方法によって行ったところ、何ら問題なく、容
易に取り外すことができた。このような薄い水晶ウエハ
の加工は、水晶振動子の従来の製造工程において使用さ
れているラッピング加工では全く不可能なことであり、
しかも、本実施形態による加工は本質的に研削加工であ
るとともに、常時砥石のドレッシング作用が生じている
ため、充分な加工速度を得ることができる。さらに、ラ
ッピング加工によって生ずる可能性のあるウエハ割れな
どを気にせず加工できるという利点もある。また、従来
のラッピング法による加工では複数段階、例えば、粗加
工、中間加工、仕上げ加工によって段階的に研磨加工を
していかないと充分平坦で表面粗さの低減された加工面
が短時間のうちに得られなかったが、本実施形態の装置
によれば、単一段階にて充分に迅速に、しかも充分に平
坦且つ鏡面に近いウエハ表面を得ることができた。
As a result, the above-mentioned quartz wafer is finally
The thickness could be reduced to a thickness of μm. The surface of the crystal wafer after the grinding had a sufficient mirror surface. In addition, when the crystal wafer after grinding was removed from the holding jig by the method shown in FIG. 5, it could be easily removed without any problem. The processing of such a thin quartz wafer is completely impossible with the lapping processing used in the conventional manufacturing process of the quartz oscillator.
In addition, the processing according to the present embodiment is essentially a grinding processing, and a dressing action of the grindstone always occurs, so that a sufficient processing speed can be obtained. Further, there is an advantage that the processing can be performed without concern for a wafer crack or the like which may be caused by the lapping processing. In addition, in the processing by the conventional lapping method, if the polishing processing is not performed stepwise by a plurality of steps, for example, rough processing, intermediate processing, and finishing processing, a sufficiently flat and reduced surface roughness of the processed surface can be achieved in a short time. However, according to the apparatus of the present embodiment, it was possible to obtain a wafer surface sufficiently quickly and sufficiently flat and close to a mirror surface in a single step.

【0046】また、上記各実施形態の構成によって電極
間ギャップを正確に設定することの効果はきわめて大き
く、研削加工面の品位向上と研削速度の向上とを両立さ
せることができた。特に、上記第2実施形態の装置を用
いることによって、電極間ギャップの均一性も得られ、
第1実施形態の装置に較べて研削加工面の品位向上と研
削速度の向上を双方とも実現することが可能になった。
特に、上記のように極めて薄い水晶ウエハのように、脆
く、破損しやすいワークの場合には、本実施形態のよう
に電極間ギャップの正確な設定及び高い均一性を確保す
ることによって、砥石の表面の平坦性や均質性を確保す
ることができるので、ワークの破損を防止することがで
き、安全確実に加工を行うことができることが判明し
た。
Further, the effect of accurately setting the gap between the electrodes by the configuration of each of the above embodiments is extremely large, and both the improvement of the quality of the ground surface and the improvement of the grinding speed can be achieved. In particular, by using the apparatus of the second embodiment, the uniformity of the gap between the electrodes can be obtained,
Compared to the apparatus of the first embodiment, it is possible to realize both improvement of the quality of the ground surface and improvement of the grinding speed.
In particular, in the case of a work that is brittle and easily broken, such as a very thin quartz wafer as described above, by ensuring accurate setting of the gap between the electrodes and high uniformity as in the present embodiment, It has been found that since the flatness and homogeneity of the surface can be ensured, breakage of the work can be prevented, and the processing can be performed safely and reliably.

【0047】尚、本発明の電解インプロセスドレッシン
グ加工装置は、上述の図示例にのみ限定されるものでは
なく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変
更を加え得ることは勿論である。例えば、上記各実施形
態ではいずれも電極を移動させることによって電極間ギ
ャップを調整しているが、逆に砥石を移動させることに
よって電極間ギャップを調整してもよく、砥石と電極の
双方を同時に移動させるようにしても構わない。
Incidentally, the electrolytic in-process dressing apparatus of the present invention is not limited to the above-described illustrated example, and it goes without saying that various changes can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in each of the above embodiments, the gap between the electrodes is adjusted by moving the electrodes, but the gap between the electrodes may be adjusted by moving the grindstone. It may be moved.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
案内構造によって対向間隔を変更できるように砥石と電
極の少なくとも一方を移動可能に構成し、砥石と電極の
少なくとも一方を位置決め手段により位置決めし、間隔
検出手段により対向間隔若しくはその変化量を計測可能
に構成したので、間隔検出手段により計測しながら位置
決めすることによって砥石と電極の対向間隔を容易且つ
高精度に設定することができるから、電解作用を好適に
発生させることができ、加工品位を向上させ、しかも加
工速度を高めることができる。
As described above, according to the present invention,
At least one of the grindstone and the electrode is configured to be movable so that the facing distance can be changed by the guide structure, at least one of the grindstone and the electrode is positioned by the positioning means, and the facing distance or a change amount thereof can be measured by the spacing detecting means. With this configuration, the opposing distance between the grindstone and the electrode can be easily and accurately set by positioning while measuring by the distance detecting means. Therefore, the electrolytic action can be suitably generated, and the processing quality can be improved. In addition, the processing speed can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る電解インプロセスドレッシング加
工装置の各実施形態に共通な基本構成を示す概略斜視図
である。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing a basic configuration common to each embodiment of an electrolytic in-process dressing apparatus according to the present invention.

【図2】各実施形態に共通な基本構成を示す概略構成断
面図である。
FIG. 2 is a schematic configuration sectional view showing a basic configuration common to each embodiment.

【図3】本発明に係る電解インプロセスドレッシング加
工装置の第1実施形態の電極間ギャップの設定構造を示
す拡大平面図(a)及び拡大正面図(b)である。
FIGS. 3A and 3B are an enlarged plan view (a) and an enlarged front view (b) showing a structure for setting a gap between electrodes in the electrolytic in-process dressing apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明に係る電解インプロセスドレッシング加
工装置の第1実施形態の電極間ギャップ設定のための構
造部分(電極の支持構造)を示す拡大平面図(a)及び
拡大正面図(b)である。
FIG. 4 is an enlarged plan view (a) and an enlarged front view (b) showing a structural portion (electrode support structure) for setting a gap between electrodes of the electrolytic in-process dressing apparatus according to the first embodiment of the present invention. It is.

【図5】第1実施形態における電極間ギャップの設定操
作を示す説明図(a)及び(b)である。
FIGS. 5A and 5B are explanatory diagrams illustrating an operation of setting a gap between electrodes according to the first embodiment. FIGS.

【図6】第2実施形態における電極間ギャップの設定操
作を示す説明図(a)及び(b)である。
FIGS. 6A and 6B are explanatory diagrams illustrating an operation of setting a gap between electrodes according to the second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 砥石台 4 砥石 6 回転台 7 電極取付部材 8 電極 9 クーラント供給ノズル 10 保持治具 11 支柱 12 ゲージ取付部 13,18,19 回転式ゲージ 13a,18a,19a 回転操作部 13b,18b,19b 目盛部 13c,18c,19c 計測軸 20 ワーク 2 Wheel head 4 Wheel 6 Rotary table 7 Electrode mounting member 8 Electrode 9 Coolant supply nozzle 10 Holding jig 11 Support 12 Gauge mounting part 13, 18, 19 Rotary gauge 13a, 18a, 19a Rotary operating part 13b, 18b, 19b Scale Part 13c, 18c, 19c Measurement axis 20 Work

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ワークと、該ワークに接触するように構
成され、導電性基材中に砥粒を埋設してなる砥石と、該
砥石における前記ワークに接触していない表面部位に所
定間隔を以て対向する電極と、前記砥石と前記電極との
間に電圧を印加する電源と、前記砥石と前記電極との間
に電解液を供給する電解液供給手段と、前記砥石と前記
ワークとを相対的に移動させて前記ワークを前記砥石に
よって加工可能に構成する駆動手段とを備え、電解作用
によって前記砥石から前記導電性基材を溶出させて目立
てを行いながら前記ワークの加工を行う電解インプロセ
スドレッシング加工装置において、 前記砥石と前記電極の対向間隔を変更可能に構成するた
めに前記砥石と前記電極の少なくとも一方を移動可能に
構成する案内構造と、前記砥石と前記電極の少なくとも
一方を位置決めして前記対向間隔を設定可能な位置決め
手段と、前記対向間隔若しくはその変化量を検出可能な
間隔検出手段とを備えていることを特徴とする電解イン
プロセスドレッシング加工装置。
A work, a grindstone configured to be in contact with the work, and having abrasive grains embedded in a conductive base material, and a surface portion of the grindstone that is not in contact with the work at a predetermined interval. Opposing electrodes, a power supply for applying a voltage between the grinding wheel and the electrode, an electrolyte supply unit for supplying an electrolyte between the grinding wheel and the electrode, and the grinding wheel and the workpiece are relatively positioned. And a driving unit configured to move the workpiece to the grindstone so that the workpiece can be processed by the grindstone. Electrolytic in-process dressing for processing the work while eluting and setting the conductive base material from the grindstone by electrolytic action. In the processing apparatus, a guide structure configured to be movable at least one of the grindstone and the electrode so as to be configured to be able to change a facing distance between the grindstone and the electrode, Pole of at least one of the by positioning the settable positioning means the opposing distance, electrolytic in-process dressing processing apparatus characterized by comprising a detectable gap detecting means said counter interval or the amount of change.
【請求項2】 請求項1において、複数の前記位置決め
手段及び前記間隔検出手段を前記砥石と前記電極の異な
る対向位置に設けたことを特徴とする電解インプロセス
ドレッシング加工装置。
2. The in-process in-process dressing apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the positioning means and the interval detecting means are provided at different positions where the grindstone and the electrode face each other.
【請求項3】 請求項1又は請求項2において、前記位
置決め手段及び前記間隔検出手段は、前記砥石と前記電
極の少なくとも一方に直接若しくは間接的に当接して位
置決めする位置決め部を備え、回転操作によって該位置
決め部を移動可能に構成され、前記位置決め部の少なく
とも位置変化量を計測可能な回転式ゲージによって構成
されていることを特徴とする電解インプロセスドレッシ
ング加工装置。
3. The rotating operation according to claim 1, wherein the positioning means and the interval detecting means include a positioning part for directly or indirectly abutting on at least one of the whetstone and the electrode for positioning. An electrolytic in-process dressing apparatus, characterized in that the positioning section is configured to be movable by means of a rotary gauge capable of measuring at least the amount of change in the position of the positioning section.
【請求項4】 請求項1又は請求項2において、前記砥
石と前記電極の少なくとも一方に直接若しくは間接的に
当接して位置決めする第1位置決め部を備えた第1位置
決め手段と、該第1位置決め部に対して独立して位置設
定可能に構成され、前記砥石と前記電極の少なくとも一
方に直接若しくは間接的に当接して位置決めする第2位
置決め部を備えた第2位置決め手段とを備え、前記間隔
検出手段は、前記第2位置決め部の少なくとも位置変化
量を計測可能に構成されていることを特徴とする電解イ
ンプロセスドレッシング加工装置。
4. The first positioning means according to claim 1 or 2, further comprising a first positioning portion for directly or indirectly abutting at least one of the whetstone and the electrode for positioning. A second positioning means having a second positioning portion configured to be able to set a position independently with respect to the portion and directly or indirectly abutting on at least one of the whetstone and the electrode for positioning. An electrolytic in-process dressing apparatus, wherein the detecting means is configured to measure at least a position change amount of the second positioning section.
【請求項5】 請求項4において、前記砥石と前記電極
の異なる対向位置に複数の前記第2位置決め手段を設
け、複数の第2位置決め手段のそれぞれに設けられた前
記第2位置決め部の少なくとも位置変化量を相互に独立
して計測可能に構成された複数の前記間隔検出手段を備
えていることを特徴とする電解インプロセスドレッシン
グ加工装置。
5. The plurality of second positioning means according to claim 4, wherein a plurality of said second positioning means are provided at different opposing positions of said grinding wheel and said electrode, and at least a position of said second positioning part provided in each of said plurality of second positioning means. An electrolytic in-process dressing apparatus, comprising: a plurality of the interval detecting means configured to measure a change amount independently of each other.
【請求項6】 請求項4又は請求項5において、前記第
2位置決め手段及び前記間隔検出手段は、回転操作によ
って前記第2位置決め部を移動可能に構成され、前記第
2位置決め部の少なくとも位置変化量を計測可能な回転
式ゲージによって構成されていることを特徴とする電解
インプロセスドレッシング加工装置。
6. The second positioning unit and the interval detection unit according to claim 4, wherein the second positioning unit and the interval detection unit are configured to be able to move the second positioning unit by a rotation operation, and to change at least a position of the second positioning unit. An electrolytic in-process dressing apparatus characterized by comprising a rotary gauge capable of measuring an amount.
【請求項7】 請求項1から請求項6までのいずれか1
項において、前記砥石に対向する前記電極の表面に設け
られた開口部から前記砥石と前記電極の対向領域内に前
記電解液を供給するように構成されていることを特徴と
する電解インプロセスドレッシング加工装置。
7. One of claims 1 to 6
In the paragraph, the electrolytic in-process dressing is configured to supply the electrolytic solution into a region facing the grinding wheel and the electrode from an opening provided on the surface of the electrode facing the grinding wheel. Processing equipment.
【請求項8】 請求項7において、前記電極の前記表面
には複数の前記開口部が分散した状態で形成されている
ことを特徴とする電解インプロセスドレッシング加工装
置。
8. The electrolytic in-process dressing apparatus according to claim 7, wherein the plurality of openings are formed in a dispersed state on the surface of the electrode.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013056399A (en) * 2011-09-09 2013-03-28 Haruchika Seimitsu:Kk Method and device for polishing lens
CN103072048A (en) * 2013-01-15 2013-05-01 北京工业大学 Electrolyzer for use in electrolytic in-process dressing metallic bond pellet grinding processing

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