JP2000266670A - 光学測定方法、光学測定装置、光学測定システム及び画像形成装置 - Google Patents

光学測定方法、光学測定装置、光学測定システム及び画像形成装置

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JP2000266670A
JP2000266670A JP11069070A JP6907099A JP2000266670A JP 2000266670 A JP2000266670 A JP 2000266670A JP 11069070 A JP11069070 A JP 11069070A JP 6907099 A JP6907099 A JP 6907099A JP 2000266670 A JP2000266670 A JP 2000266670A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像制御に必要となる最適な精度により測定
することができる光学測定方法、光学測定装置、光学測
定システム及び画像形成装置を得る。 【解決手段】 紙面P上に定められる所定の大きさの反
射領域すなわち照射領域Ar内に光を照射する光源12
と、照射領域Arからの反射光を集光するレンズ14
と、レンズ14の後側焦点面PL3に設置する光電変換
素子18により構成し、光電変換素子18の受光領域
は、後側焦点面PL3に含ませ、レンズ14を透過した
光の一部を受光する特定の大きさとしかつ有効検出領域
を可変可能に構成する。光電変換素子18には、信号処
理部20と駆動部22が接続されている。駆動部によっ
て、光電変換素子18の有効受光領域(受光サイズ)を
所定の大きさに設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学測定方法、光
学測定装置、光学測定システム及び画像形成装置にかか
り、特に、光を対象物に照射し、その反射光を集光レン
ズで集光した光に基づいて対象物に関する特性を測定す
る光学測定方法、光学測定装置、光学測定システム及び
画像形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータを中心としたネットワーク
技術の進展により、画像出力装置としてのネットワーク
プリンタが急速に普及している。特に、出力する画像の
カラー化に伴い、近年、カラープリンタの開発が盛んに
なっており、カラー画質の維持安定性の向上、複数のカ
ラープリンタ間におけるカラー画質の均一化などの要求
が高まって来ている。最近では、色再現性に関して、設
置環境、経時変化、機差によらず高い安定性が求められ
ている。
【0003】一般に、人間の色差に対する感度は極めて
高く、L***表色系において色差△E=5程度で識
別されることが知られており、画像形成装置には、色差
△E=3(色差認識限界)以下の要求値が望まれる。と
ころが、周知のように電子写真方式では各プロセスが不
安定であり、色差△E=3以下という要求値をみたすこ
とは、温度や湿度等の環境条件、また感光体や現像剤等
の経時的な劣化等の処理材料条件等により装置自体の画
像出力状態が変動し画像再現性が変動するため、困難で
あった。
【0004】このため、出力された画像の画質、特に、
カラーの場合には、色差を測定して、その測定結果を画
像出力装置の各工程に反映させるようにフィードバック
する必要性が高まっており、特に、プリンタに測定装置
を内蔵させ、出力された画像の画質をオンラインで測定
し、その測定結果をフィードバックする技術が重要視さ
れてきている。このため、プリンタに内蔵する測定装置
として、小型でかつ高精度、低コストの測定装置が要求
されている。
【0005】画質の測定については、オフラインにより
用紙などの画像形成媒体を固定した状態で高精度の画像
測定が可能な、X―riteと呼ばれている測色装置が
広く使用されているが、オンラインの測定装置で高精度
のものは、未だ実用化されていない。これは、オンライ
ン測定の場合、用紙(被測定面)の、搬送系による上下
動、すなわち用紙の進行方向に垂直な方向の変動があ
り、正確な測定ができないためである。例えば、紙面が
上下に1mm程度変動すると、受光による出力は、15
%程度変化してしまう。このように、紙面の上下変動に
より、受光による出力に大きな誤差が生じてしまうため
に、被測定面の位置が固定であることを前提にしている
光学系では、正確な色測定はできない。
【0006】この紙面変動に対して反射光量を一定にす
る方法として、集光レンズの焦点位置に受光素子を設け
る技術が知られている(特開昭63−16247号公
報、特開平10−175330号公報参照)である。
【0007】特開昭63−16247号公報の技術で
は、照明光の強度を均一にすることで特定範囲からの反
射光をレンズを介してファイバ端面に集光させ、また、
受光系は、反射点からレンズを介してファイバ端面で結
像させている。照明光として点光源を使用し平行光にす
ることにより、紙面が変動した場合にも、紙面上で均一
な光量を得るものである。しかしながら、完全な点光源
は存在しないために、受光素子をレンズの焦点に設置し
ても、光量が均一な照明とはならず、また平行光にもな
らないために、紙面変動により、紙面上の照明の強度が
変化する。更に、紙面が上下に変動して反射点の位置が
ずれることによって、結像点もファイバ端面からずれる
ため、紙面変動に対して一定の出力を得ることができな
い。
【0008】特開平10−175330号公報の技術で
は、対象面(物)からの反射光を、レンズの焦点位置に
設けた光電変換素子で受光し電気信号として出力すると
きに、照射光のスポット、レンズ、光電変換素子の各パ
ラメータに関して光学原理から導かれる光強度に関する
関係式を導出し、その関係式を満すパラメータ値に設定
することにより、被測定面の変動に依存しない一定の出
力値を得るようにしている。この技術では、関係式によ
りパラメータの範囲を規定しているために比較的高い測
定精度が期待できる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光源、
レンズや光電変換素子等の光学素子の個々のばらつきや
取り付け誤差等によって、光電変換素子への入射光の状
態、例えば光束の大きさが変化することがあった。この
場合、測定紙面の上下変動に伴う紙面からの反射光に応
じた出力信号が所望の信号として得られないことがあ
る。
【0010】また、測定装置には、測定精度の要求が様
々であり、各々の要求に対応するためには、要求精度に
応じて部品パラメータを合せ込んだ数種類の測定装置を
用意する必要がある。この場合、一つの測定装置で効率
的に測定したいという要求に応じることが困難であっ
た。例えば、検査の効率化の観点からいえば、高精度な
計測には時間をかけて正確に計測する一方で、粗い精度
の計測(例えば検査スペックに対する合否判定)には短
時間で大量処理を行いたい、という1測定機で複数の測
定に対応可能にするには、各精度に応じたセンサを複数
個用意する必要があった。
【0011】本発明は、上記事実を考慮して、オンライ
ンで画像制御に必要となる最適な精度により測定するこ
とができる光学測定方法、光学測定装置、光学測定シス
テム及び画像形成装置を得ることが目的である。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光学測定方法は、対象物へ光を照射し、前記
対象物からの反射光を集光レンズにより集光し、前記集
光レンズの焦点位置近傍に設けられた受光素子で光量を
検出して前記対象物に関する特性を測定する光学測定方
法であって、前記対象物の反射光が前記集光レンズを透
過した透過光束により形成される空間の一部でかつ前記
集光レンズの光軸と交差すると共に、焦点位置を含む面
近傍に特定領域を定め、前記受光素子を、縦横多数の受
光画素に分割し、前記対象物を変位させたときに前記対
象物からの反射光が前記集光レンズを透過して前記特定
領域に至る光を前記多数の受光画素で受光し、前記多数
の受光画素のうち光量変動が所定範囲内の受光画素を選
択し、選択した受光画素により形成される領域を受光有
効領域に設定し、前記受光有効領域で受光した光量に基
づいて前記対象物に関する特性を求めることを特徴とす
る。
【0013】本発明では、対象物の反射光のうち、特定
領域の通過光のみを受光素子で受光する。この特定領域
は、対象物の反射光が集光レンズを透過した透過光束に
より形成される空間内に、集光レンズの光軸と交差しか
つ焦点位置を含む面近傍に定められる。従って、特定領
域の通過光は、対象物の反射光のうち集光レンズを介す
る直接光のみを通過させことが可能な領域となる。特定
領域を通過した光は、受光素子で受光される。この受光
素子は、縦横多数の受光画素に分割される。この多数の
受光画素で、対象物を変位させたときに前記対象物から
の反射光が前集光レンズを透過して特定領域に至る光を
受光し、光量変動が所定範囲内の受光画素を選択する。
所定範囲には、光量変動が略一定の間の範囲を用いるこ
とができる。この選択により、対象物の変動に関係無く
安定した受光を可能にすることができる。選択した受光
画素により形成される領域を受光有効領域に設定し、受
光有効領域で受光した光量に基づいて対象物に関する特
性を求める。これにより、特定領域に至る光すなわち対
象物における反射光の受光素子上の大きさに応じて受光
できる。従って、光源やレンズ等の機差に拘わらず最適
な反射光を受光でき、安定した出力を得ることができ
る。
【0014】前記特定領域は、前記対象物における所定
反射角度以内の反射光の全てが前記集光レンズを透過す
るときの共通領域とすることができる。集光レンズの焦
点位置を含む面に設けられた特定領域には、対象物から
の反射及び散乱光の内の、集光レンズの光軸方向に対し
て、特定領域の面積により定まる特定の角度以内に入る
光線のみが集まり、それが受光素子で受光される。すな
わち、対象物で反射及び散乱した光の中で、集光レンズ
光軸方向に対して特定の角度以内に入る光線のみが、受
光素子に入射することになり、受光素子の受光量は、対
象物、例えば紙面がレンズの光軸方向に変動しても、そ
の変動に影響されることがない。つまり、対象物におけ
る反射光のうち、対象物における予め定めた所定反射角
度以内の反射光は、集光レンズと対象物との間の距離に
関与することなく一定となる。対象物における所定反射
角度以内の反射光の全てが集光レンズを透過するときの
共通領域を特定領域とすることによって、集光レンズと
対象物との間の距離に関与、すなわち対象物の位置が変
動した場合であっても、対象物からの反射光量が変動す
ることなく、安定した出力を得ることができる。
【0015】この場合、前記対象物における所定反射角
度以内の反射光の全てが前記集光レンズを透過して前記
特定領域に至るときの光束以外を遮光するようにすれ
ば、さらに安定した出力を得ることができる。
【0016】前記受光画素を選択するための光量変動の
所定範囲は、複数の選択範囲を有し、該複数の選択範囲
のうち1選択範囲を指定し、指定された選択範囲内の受
光画素を選択することができる。
【0017】例えば、高精度計測を必要とする場合、時
間をかけた正確な計測が要求され、短時間で大量計測を
必要とする場合、粗い精度の計測が要求されるという相
反した要求がなされる場合がある。この場合、上記のよ
うにして複数の選択範囲の各々について受光有効領域を
設定すれば、ダイナミックレンジが異なる複数の受光が
可能となり、ユーザの要求に対応した複数のスペックで
対象物の特性を測定することができる。
【0018】ところで、集光レンズは、実際には有限の
レンズ幅であり、このレンズ幅を考慮する必要がある。
この場合、照射光は、レンズ幅との関係で次の関係を満
たす反射領域内に照射すればよい。すなわち、前記対象
物へ照射する光は、前記対象物上における反射領域の大
きさが次式の関係を満たすことを特徴とする。
【0019】A≧B+(C×D)/f ただし、Aは前記集光レンズの端部と前記集光レンズの
光軸との間の距離、Bは前記対象物上の反射領域の端部
と前記光軸との間の距離、Cは前記集光レンズと前記反
射領域との間の距離、Dは前記特定領域の端部と前記光
軸との間の距離、fは前記集光レンズの焦点距離であ
る。
【0020】前記光学測定方法は、次の光学測定装置に
より実現が可能である。対象物に対して光を照射する光
源と、前記光源の光軸と異なる方向を光軸とし、前記対
象物からの反射光の少なくとも一部を入射する集光レン
ズと、前記対象物の反射光が前記集光レンズを透過した
透過光束により形成される空間の一部でかつ前記集光レ
ンズの光軸と交差すると共に、焦点位置を含む面近傍に
予め定めた特定領域を、通過した光のみを受光すると共
に、縦横に分割された多数の受光画素を有する受光素子
と、前記対象物を変位させたときに前記対象物からの反
射光が前記集光レンズを透過して前記特定領域に至る光
を前記多数の受光画素で受光し、前記多数の受光画素の
うち光量変動が所定範囲内の受光画素を選択し、選択し
た画素により形成される領域を受光有効領域に設定する
設定手段と、前記設定された受光有効領域に含まれる受
光画素で受光した光量に基づいて前記対象物に関する特
性を求める演算手段と、を備えた光学測定装置。
【0021】本発明の光学測定装置によれば、集光レン
ズを透過し受光素子へ至る光束を多数の受光画素で受光
する。設定手段は、対象物を変位させ多数の受光画素で
受光したとき、多数の受光画素のうち光量変動が所定範
囲内の受光画素を選択し、選択した画素により形成され
る領域を受光有効領域に設定する。演算手段では、設定
された受光有効領域に含まれる受光画素で受光した光量
に基づいて対象物に関する特性を求める。これによリ、
特定領域に至る光すなわち対象物における反射光の受光
素子上の大きさに応じて受光でき、光源やレンズ等の機
差に拘わらず最適な反射光を受光でき、安定した出力を
得ることができる。
【0022】前記光学測定装置は、前記光源を、所定強
度で点滅させる制御、または発光強度を制御する光源制
御手段と、前記受光素子の出力を、前記点滅または制御
された発光強度に同期しながら信号を得る信号制御手段
とを更に備えることができる。
【0023】前記光学測定装置は、測色するためのシス
テムに用いて好適であり、次の光学測定システムにより
実現することができる。本発明の光学測定システムは、
前記光学測定装置を、1つの対象物に対して複数設け、
かつ前記複数の光学測定装置の受光出力に基づいて、前
記対象物の色を測定する。
【0024】前記光学測定装置は、画像形成装置に用い
て好適であり、次の画像形成装置により実現が可能であ
る。本発明の画像形成装置は、画像形成媒体を前記対象
物として該画像形成媒体に画像を形成する画像形成手段
と、前記請求項5または6に記載の光学測定装置を備
え、前記画像形成手段により画像が形成された画像形成
媒体の搬送中に、形成された画像を検出する検出手段
と、前記検出手段の検出結果に基づいて、前記画像形成
媒体に形成される画像の品質を制御する制御手段と、を
備えている。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態の一例を詳細に説明する。
【0026】〔反射基本原理〕まず、対象物の一例とし
ての用紙の位置が変動した場合であっても安定した光量
を検出できる、すなわち光電変換素子に入射する光が紙
面の上下変動に依存しない原理を図面を参照して説明す
る。
【0027】図2は、本原理を説明するための光学系に
おける各部品の基本的な位置関係を示したものである。
図2に示すように、本光学系は、紙面Pに対して垂直な
光軸CLを有するレンズ14を備えている。レンズ14
の光軸CL上でレンズ14の後側焦点面近傍に、フォト
ダイオードやCCD素子等の光電変換素子18が設けら
れている。また、本光学系は、レンズ14の光軸CLと
異なる方向を照射光軸とするLED等の光源12を備え
ており、光源12の照射角度はレンズ14の光軸CLに
対して45度に設定されている。また、この光源12に
より紙面P上には照射領域Arに照射光が照射される。
【0028】図3は、上記光学系のうち、紙面Pから反
射光または散乱光が、レンズ14を通過し、レンズ14
の後側焦点面に設置された光電変換素子18に入射する
状態を示したものである。この図では便宜上、レンズは
収差が無く、厚さはゼロ、レンズ幅は無限として説明す
る。
【0029】図3において、PL4はレンズ位置、PL
3は光電変換素子18の受光側が設置されている後側焦
点面、PL5,PL6は変動(図2または図3において
上下動)する紙面位置、PL1,PL2は変動する紙面
位置PL5,PL6に対応する結像面位置、CLはレン
ズ14の光軸を各々示している。また、レンズ14につ
いて、中心をO、前側焦点をFa、後側焦点をFb、前
側焦点距離をfa、後側焦点距離をfbとし、光電変換
素子18の有効受光領域の端点をC、Fb―C間距離を
rとする。
【0030】また、光軸方向に異なる紙面位置PL5,
PL6における反射点A1,A2で反射して、レンズを
通して結像面位置PL1,PL2等で結像される結像点
B1,B2迄の光線を考えるとき、この光線が光電変換
素子18の有効受光領域の端点Cを通るときの、反射点
A1,A2での反射角度(レンズの光軸CLの方向に対
する角度)を、s1,s2とする。
【0031】また、紙面P−レンズ14の間の距離をa
1,a2、光電変換素子と結像面との間の距離をb1,
b2、紙面における反射光のうちレンズ14の光軸CL
に平行な光線がレンズ面PL4を通過する通過点をL
1、L2、とする。また、反射点A1,A2で反射し
て、光電変換素子18の有効受光領域の端点Cを通過し
て結像点B1,B2に結像する光線においてレンズ面P
L4を通過する通過点をM1,M2とする。さらに、L
1―M1間距離をd1、L2−M2間距離をd2とす
る。
【0032】この結像系では、ニュートンの式より、
(1)式と(2)式が成立する。 (a1―fa)/fa=fb/b1 …(1) (a2−fa)/fa=fb/b2 …(2) また、3角形B1L1M1と3角形B1FbCの相似、
及び3角形B2L2M2と3角形B2FbCの相似を利
用すると、次の(3)式と(4)式が成立する。 r/b1=d1/(b1+fb) …(3) r/b2=d2/(b2+fb) …(4) さらに、3角形A1L1M1及び3角形A2L2M2に
おいて、角度s1及びs2を用いると、次の(5)式と
(6)式が成立する。 d1=a1・tan(s1) …(5) d2=a2・tan(s2) …(6) ここで、(5)式と(6)式を、(3)式と(4)式に
代入すると、次の(7)式と(8)式が得られる。 a1=((b1+fb)/r)/(b1・tan(s1)) …(7) a2=((b2+fb)/r)/(b2・tan(s2)) …(8) この(7)式と(8)式を、(1)式と(2)式に代入
すると、次の(9)式と(19)式が得られる。 r/tan(s1)=fa …(9) r/tan(s2)=fa …(10) この(9)式と(10)式から、次の(11)式を導出
することができる。 s1=s2 …(11) 以上のことを一般化すると、紙面位置PL5や紙面位置
PL6等のように、光軸CLに沿う方向に変動する紙面
位置PL5,PL6等での反射点Ai(i=1,2,
3,…)から反射して、レンズ14を通過して結像面P
L1,PL2等で結像される結像点Bi迄の光線を考え
るとき、この光線が光電変換素子18の端点Cを通過す
るときの、反射点Aiでの反射角度siは、他のパラメ
ータに関係なく、常に一定となる。
【0033】すなわち、紙面Pの変動に伴い、反射領域
(照射領域Ar)が紙面P上で移動し、反射点Aiが移
動しても、反射角度siは常に一定である。従って、反
射及び散乱が理想的に生じているとすれば、反射点Ai
での状態が同一のとき、反射角度si中に含まれる光線
数は一定であると考えられるので、Fb―C間の光電変
換素子18への入射光量は、紙面Pとレンズ14の間の
距離、または紙面Pと光電変換素子18の間の距離に依
存せず、各反射点Aiの状態に応じた正確な光量とな
る。
【0034】従って、紙面の特定の領域から反射(散乱
や拡散を含むものとする)して、光電変換素子に入射す
る光は、紙面−光電変換素子間距離に依存せず、その領
域に応じたものとなる。
【0035】なお、図3では、各線分を平面上で表現し
ているが、実際の光学系においては、レンズ14の光軸
CLを中心とした回転体として考えることができる。す
なわち、光電変換素子18の距離r(線分FbC)は、
レンズ14の光軸CLを中心として一定となっている
が、実際の光学系では、距離rは一定である必要はな
く、光電変換素子18の形状は、円形や四角形等、任意
の形状選択が可能である。また、光電変換素子18は、
レンズ14の光軸CLの位置をその中心とするように設
置する必要はなく、対象物(紙面P)からの反射光がレ
ンズ14を通過して入射する後側焦点面PL3内であれ
ば、レンズ14の光軸CLを含まない位置に設けてもよ
い。
【0036】このように、対象物、例えば紙面Pの上下
変動にかかわらず、紙面上の点からの特定角度範囲内で
反射した光のみを、レンズ14の後側焦点位置PL3を
含む面に設置した光電変換素子18で受光することによ
って、常に、反射領域の反射率や濃度、色等の特性を正
確に測定することができる。
【0037】図3の原理説明では、レンズ14の幅を無
限大と仮定したが、実際にはレンズ幅は有限であり、こ
のレンズ幅を考慮しなければならない。そのため、光源
12からの光は、レンズ幅との関係で以下に説明する制
限条件を満たす照射領域Ar(反射領域)内に照射する
必要がある。
【0038】図4を参照してレンズ幅が有限である場合
を説明する。センサ出力がもっとも制約を受けると考え
られるのは、レンズ光軸に垂直な方向に対してである。
反射点位置がレンズ幅よりも外側にあると、反射光は集
光レンズ14のエッジでけられるので、光電変換素子1
8に到達する光量が減少する。また、光量が一定となる
反射光はレンズ光軸に対して片側で角度sだけ広がって
集光レンズ14に入射するため、この広がりを見込む必
要がある。これにより、出力が一定になる反射点位置範
囲tは以下のように示すことができる。
【0039】t≦u−2d …(12) ここで、uは集光レンズ14のレンズ幅、dは角度sで
広がった反射光の集光レンズ14の位置における幅であ
る。但し、幅dの値は光電変換素子18や集光レンズ1
4の仕様により決まる数字で、一般的にはレンズ幅uの
1/10以下であるため、反射点位置範囲は基本的に集
光レンズ14のレンズ幅で決定される。
【0040】上記の式では、(5)式及び(6)式に示
すように、d=a・tan(s)の関係を含み、(9)
式及び(10)式に示すように、tan(s)=r/f
aの関係がある。従って、上記(12)式は、次の(1
3)式で表すことができる。
【0041】 u≧t+2・a・r/fa …(13) レンズ幅u、光電変換素子18の幅2r、および焦点距
離faは、固定された値であるので、紙面Pへの光の照
射と紙面Pにおける光の反射に関わる反射点位置範囲
t、すなわち反射領域12の幅、および集光レンズ14
と紙面Pとの間の距離aが、(13)式の制限条件を満
たす範囲内であれば、光電変換素子18に入射すべき光
で、集光レンズ14を通らないものは存在しないことに
なる。従って、(13)式の制限条件を満たす照射領域
Ar(反射領域)内に照射されて、s×2の角度範囲内
で反射した光は、全て集光レンズ14を透過して光電変
換素子18に入射することになり、紙面Pの上下変動に
かかわらず、原理的に出力変化がゼロとなる。
【0042】[光学測定装置]次に、上記原理に基づい
た光学測定装置10の詳細を説明する。上記原理にて、
光学測定装置10の各部品の基本的な位置関係を示した
(図2参照)。本実施の形態では、光電変換素子18の
設置箇所を、レンズ14の焦点位置を含み、光軸CLに
垂直な面としている。
【0043】図1は、本実施の形態の光学測定装置10
の基本構成を示したものである。図1は、光源12から
の光をレンズ14を介することなく対象物である紙面P
に照射する場合を示している。本実施の形態の光学測定
装置10は、基本的には、紙面P上に定められる所定の
大きさの反射領域すなわち照射領域Ar内に光を照射す
る光源12と、照射領域Arからの反射光を集光するレ
ンズ14と、レンズ14の後側焦点面PL3に設置する
光電変換素子18によって構成している。光電変換素子
18の受光領域は、後側焦点面PL3に含ませ、レンズ
14を透過した光の一部を受光する特定の大きさとしか
つその受光サイズすなわち有効検出領域を可変できるも
のとしている。なお、レンズ14の光軸CLは紙面Pに
対して垂直であり、光源12の照射角度はレンズ14の
光軸に対して45度に設定している。
【0044】光電変換素子18には、信号処理部20と
駆動部22が接続されている。信号処理部は、光電変換
素子18で光電変換された光量に対応する信号を他の装
置へ出力信号として出力するためのものである。駆動部
22は、後述するように、受光領域(受光サイズ)を所
定の大きさに設定するためのものである。
【0045】上記の構成によって、紙面Pからの反射光
のうちの、光電変換素子18の受光領域により定まる特
定の角度範囲内に入る光のみが、光電変換素子18で受
光される。そして、この光電変換素子18の選択された
画素が受光した総光量が光電変換素子18の出力とされ
る。光源12からの照射光は、平行光に近いことが望ま
しいが、平行光以外であってもよい。本実施の形態で
は、光源12としてはLEDを用い、レンズ14として
は両凸レンズを用い、光電変換素子18としては2次元
CCDセンサを用いている。
【0046】2次元CCDセンサである光電変換素子1
8は、図1に示すように、縦横多数の受光画素に分割さ
れ、各受光素子毎に分離独立して機能するようになって
いる。従って、駆動部22が、2次元CCDセンサが有
しているCCD素子を選択することによって、受光領域
(受光サイズ)を所定の大きさに設定することができ
る。
【0047】図5には、上記説明した原理による光学測
定装置10の理想的な出力特性を示した。横軸aは紙面
変動距離であり、縦軸Vは光電変換素子の出力である。
図から理解されるように、センサ出力は紙面変動量が数
mmの間で略一定となる平坦部を有しており、紙面変動
量が数mm程度あっても、出力の変化量を小さく抑える
ことができる。
【0048】しかしながら、実際には図6に示すよう
に、出力が一定となる紙面変動範囲は限られたものとな
る。その原因は、光学測定装置10を構成する各部品や
取り付けが理想とする特性から外れているためで、集光
系については特にレンズに起因した部分が大きいことが
分かっている。
【0049】そこで、本発明者は、センサ出力に関する
シミュレーションを行った結果、紙面上の各点を点光源
とする光がレンズを介して任意の有限サイズの光電変換
素子に入射する際に、光電変換素子の受光エリアの両端
に入る光線の見込み角が上記の関係式を満たす紙面領域
で一定とはならずバラツキを有することに起因し、レン
ズ収差の寄与が大きい、という知見を得た。
【0050】次に、センサ出力の変動に関するシミュレ
ーションについて説明する。図7には、本シミュレーシ
ョンに用いた光学系を示した。図中、A0,A1は、被
測定面である紙面P上の反射点、α1,α2は、反射点
A0,A1における光線の見込み角、P1,P1’は見
込み角α1,α2で光電変換素子に入射される光線の受
光エリアの両端、P2,P2’は見込み角が大きい(>
α1,>α2)ときに光電変換素子に入射される光線の
受光エリアの両端を示している。
【0051】上記シミュレーションの結果として角度バ
ラツキの割合を図8に示した。図8から理解されるよう
に、角度偏差はゼロとはならず、さらに受光エリアの変
化とともに角度偏差が変化している。そして、任意の受
光サイズ(図8では1.2mm)で最小値が存在すると
ともに、ある受光サイズ(図8では3.8mm)以上に
なると角度偏差が急激に増大する傾向を示している。こ
のようなバラツキを抑制するには、レンズを改良し球面
収差の小さいレンズ系を採用し出力変動を抑制すること
で達成できるが、非球面レンズや組合せレンズ等の高価
なレンズ系となるためコストアップとなる。
【0052】そこで、本実施の形態の光学測定装置10
では、上記バラツキ実験において明らかとなった図8の
特性を積極的に活用した。すなわち、本実施の形態で
は、周知の比較的安価なレンズ系で、上記特性を利用
し、光電変換素子の受光エリアを可変とすることによ
り、測定精度に応じた最適な受光サイズを選択してい
る。これによって、測定精度に応じて最適な受光サイズ
を選択するレンジ切換機能を有する光学測定装置を得る
ことができる。
【0053】上記説明したように、実際には個々の部品
の特性が理想的な特性から外れるため、紙面変動許容範
囲は限定されたものとなるが(図6参照)、本実施の形
態の光学測定装置では、部品のバラツキを考慮し、セン
サ性能を要求仕様にあわせ簡単に最適化する。具体的に
は、図8に示す特性に基づいて、高精度な測定を行う場
合は、φ1.2mm以内の有効受光領域に光電変換素子
を設定し、精度の粗い測定の場合はφ3.6mm以内の
有効受光領域に光電変換素子を設定する。この光電変換
素子の有効受光領域の設定は、駆動部22によって実行
させることができる。このようにすることで、高精度測
定に比べて粗い測定の場合に、受光面積及び信号強度は
9倍となり、1桁アップに近い信号が得ることができる
ため、高速処理が可能となる。
【0054】また、φ1.2mmとφ3.6mmの有効
受光領域は、φ1.2mmのものは、紙面方向に対する
照射領域(反射領域)の大きさ、位置ずれが大きい照射
系の場合に、φ3.6mmのものは逆に変動が小さいも
のに対して適応するように、選択することにより、使用
用途に合致させた光学測定装置の使用が可能となる。
【0055】[画像形成装置]次に、上記光学測定装置
を、電子写真方式により画像を形成する画像形成装置に
適合させた例を説明する。
【0056】図9には、本発明の実施の形態に係る電子
写真方式のカラー画像形成装置の概略構成を示した。こ
のカラー画像形成装置30は、図示しない搬送機構によ
って用紙Pが搬送される用紙搬送路32と、用紙搬送路
32に沿って搬送された用紙P上に、テストパターンや
記録画像をイエロー(Y),マゼンタ(M),シアン
(C),黒(K)のトナーを各々用いて形成する画像形
成ユニット34Y,34M,34C,34Kと、用紙P
上のトナー像を定着する定着器36と、画像形成ユニッ
ト34Y,34M,34C,34Kによって用紙P上に
形成されたテストパターンや画像の濃度を用紙搬送路3
2上にて読み取る光学測定装置10(図1参照)と、光
学測定装置10における有効受光領域の設定や測定結果
に基づいてカラー画像形成装置30の各部の制御および
校正を行う制御器40とを備えている。
【0057】なお、光学測定装置10は、定着器36の
後側(下流側)に設置されている。この光学測定装置1
0は、制御器40に接続されている。また、光学測定装
置10は、各色毎に備えても良く、1つの光学測定装置
で各色を測定してもよい。
【0058】画像形成ユニット34Y,34M,34
C,34Kは、各々同様の構成を有しており、図示しな
い駆動モータによって所定方向(図9の矢印R方向)に
回転する感光体ドラム42と、感光体ドラム42の表面
を一様に帯電させる帯電器44と、一様に帯電された感
光体ドラム42の表面を対応する色の画像信号に基づく
露光を行って静電潜像を形成する露光ユニット46と、
感光体ドラム42の表面に形成された静電潜像を対応す
る色のトナーで現像する現像器48と、感光体ドラム4
2上の現像されたトナー像を用紙Pに転写する転写器5
0と、図示を省略したクリーナとを備えている。
【0059】本実施の形態の画像形成装置では、画像形
成時には、画像信号が、露光ユニット46に入力され、
レーザ光を変調して、画像信号によって変調されたレー
ザ光が、感光体42上にラスタ照射される。感光体42
は、レーザ光が照射される以前に帯電器44で一様に帯
電されており、一様に帯電された感光体42に、レーザ
光が照射されると、その表面に入力画像信号に対応した
静電潜像が形成される。そして、現像器48により静電
潜像がトナー現像され、転写器50によって現像された
トナー像が用紙P上に転写され、定着器36によって定
着される。これにより、用紙Pには、トナーが定着され
た定着画像が形成される。その後、感光体42はクリー
ナ(図示省略)によりクリーニングされ、一回の画像形
成動作が終了する。光学測定装置10は、定着器36の
下流側に設置されており、定着後の画像濃度を検出す
る。この光学測定装置10は、予め高精度測定か粗い測
定かが設定されており、その設定に応じた信号が光学測
定装置10の駆動部に入力される。これにより、光電変
換素子18の有効受光領域が設定される。この検知結果
をもとに、帯電量、露光量、現像バイアス、現像ロール
回転数、トナー供給係数等の操作量を制御して所望の画
像品質を得る。
【0060】このように、本実施の形態によれば、対象
物(紙面)が光軸方向に変動する場合であっても、その
変動の影響を受けずに測定を行うことができる。また、
光電変換素子の有効受光領域を変更することができ、1
つの光電変換素子で要求精度に応じた所望の信号を得
て、高精度測定や粗い精度での測定という選択が可能と
なる。
【0061】従って、検査装置および画像形成装置のモ
ニター用として、様々な検査仕様に合せて本光学測定装
置を用いて測定を行う場合、光電変換素子の有効受光領
域を可変とし測定精度に応じて最適な受光サイズを選択
可能にすることにより1つのセンサで所望の検査目的を
達成可能となる。
【0062】また、本実施の形態によれば、小型でかつ
低コストの光学測定装置を提供できるため、カラープリ
ンタなどの画像形成装置において、大きさおよびコスト
を増加させずに、出力する画質を大幅に向上させること
ができる。
【0063】なお、本実施の形態では、2次元CCDセ
ンサの大きさを変更することによって、有効受光領域を
選択する場合を説明したが、円形開口や矩形開口等の開
口による空間形成で有効受光領域を制限してもよい。
【0064】なお、実際のセンサでは、現物の個々の部
品は設計値からはずれた特性(個体差および理想値から
のずれ)を示す場合があり、必ずしも最適化されたパラ
メータ値に設定されていない。そこで、光電変換素子に
用いた2次元CCDセンサの個々のCCD素子の出力変
動に合せて、最適な有効受光領域を選択することによ
り、より精度の高いセンサを得ることができる。
【0065】また、各画素毎に被測定面変動に対する出
力信号が得られるため、その信号の挙動を解析し被測定
面変動に対して出力が不変となるような補正を加えるこ
とにより、更に出力変動の小さい信号を得ることも可能
である。
【0066】また、本実施の形態では、光学測定装置を
画像形成装置に内蔵した場合について説明したが、本発
明はこれに限定されるものではない。例えば、画像を形
成する工程を含まずに画像が形成された対象物を搬送す
る装置において、その搬送中に、対象物に形成された画
像の特性の測定にも適用でき、高精度の画像測定ができ
る。
【0067】また、本実施の形態では、光学測定装置と
して、各色の濃度を測定するものとして説明したが、本
発明はこれに限定されるものではなく、画像の色を測定
対象とする測色装置として機能させることもできる。
【0068】また、本実施の形態では、画像形成装置に
おける画像出力装置中の光学測定装置の位置を、定着後
の画像を測定する位置としているが、これは、転写後等
の他の位置であってもよい。
【0069】また、本実施の形態では、電子写真方式を
用いた画像形成装置に、本発明を適用した場合について
説明したが、画像を形成して出力する装置であれば、画
像形成装置に限定されるものではなく、インクジェット
方式、感熱フィルム方式、などの画像出力装置にも適用
することができる。
【0070】また、本実施の形態では、対象物として平
坦な用紙を用いた場合を説明したが、本発明はこれに限
定されるものでない。例えば、対象物は、紙面のような
平坦である必要はなく、凹凸を有する形状であっても、
透過領域の特性を正確に測定することができる。従っ
て、本発明は、画像の測定だけでなく、対象物の様々な
特性の測定を行う場合にも適用可能である。
【0071】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
対象物の反射面が光軸方向に変動する場合であっても、
その変動の影響を受けずに測定することができ、この場
合に光源やレンズ等に機差が生じていても受光有効領域
を設定しているので、高精度で測定することができる、
という効果がある。
【0072】また、前記受光画素を選択するための光量
変動の所定範囲として、複数の選択範囲から1選択範囲
を指定し、指定された選択範囲内の受光画素を選択する
ことができるので、ダイナミックレンジが異なる複数の
受光素子として機能することが可能となり、ユーザの要
求に対応した複数のスペックで対象物の特性を測定する
ことができる、という効果がある。
【0073】また、安定した出力を得ることが可能な光
学測定装置を小型かつ低コストで提供できるため、カラ
ープリンタ等の画像形成装置において、大きさおよびコ
ストを増加させずに、出力する画質を大幅に向上させる
ことができる、という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態にかかる光学測定装置の概
略構成図である。
【図2】本発明の実施の形態にかかる光学測定装置の原
理を説明するための概略構成図である。
【図3】光学測定装置の原理説明図である。
【図4】レンズ幅を有する光学測定装置の原理説明図で
ある。
【図5】光学測定装置の理想的な測定結果を示す特性図
である。
【図6】光学測定装置の実際の測定結果を示す特性図で
ある。
【図7】本発明の実施の形態にかかる光学測定装置にお
けるシミュレーションを説明するための概略構成図であ
る。
【図8】有効受光領域と角度偏差との関係を示す特性図
である。
【図9】本発明の実施の形態にかかる画像形成装置の概
略構成図である。
【符号の説明】
10 光学測定装置 12 光源 14 レンズ 18 光電変換素子 22 駆動部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 酒井 義彦 神奈川県海老名市本郷2274番地 富士ゼロ ックス株式会社海老名事業所内 (72)発明者 蒔田 聖吾 神奈川県海老名市本郷2274番地 富士ゼロ ックス株式会社海老名事業所内 (72)発明者 狩野 真 神奈川県海老名市本郷2274番地 富士ゼロ ックス株式会社海老名事業所内 Fターム(参考) 2G020 AA08 DA05 DA12 DA35 DA65 2G059 AA01 BB10 DD12 EE02 EE13 FF01 JJ11 KK04 LL01 2G065 AA04 AB22 AB28 BA04 BA09 BA34 BB02 BB06 BB07 BB44 BC02 BC07 BC10 BC19 BC21 BC22 CA25 DA17 2H027 DA09 DC01 DE02 DE07 DE10 EA01 EA02 EA05 EA06 EA20 EB04 EC04 EC06 EC09 EC18 ED16

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対象物へ光を照射し、前記対象物からの
    反射光を集光レンズにより集光し、前記集光レンズの焦
    点位置近傍に設けられた受光素子で光量を検出して前記
    対象物に関する特性を測定する光学測定方法であって、 前記対象物の反射光が前記集光レンズを透過した透過光
    束により形成される空間の一部でかつ前記集光レンズの
    光軸と交差すると共に、焦点位置を含む面近傍に特定領
    域を定め、 前記受光素子を、縦横多数の受光画素に分割し、 前記対象物を変位させたときに前記対象物からの反射光
    が前記集光レンズを透過して前記特定領域に至る光を前
    記多数の受光画素で受光し、 前記多数の受光画素のうち光量変動が所定範囲内の受光
    画素を選択し、 選択した受光画素により形成される領域を受光有効領域
    に設定し、 前記受光有効領域で受光した光量に基づいて前記対象物
    に関する特性を求めることを特徴とする光学測定方法。
  2. 【請求項2】 前記特定領域は、前記対象物における所
    定反射角度以内の反射光の全てが前記集光レンズを透過
    するときの共通領域であることを特徴とする請求項1に
    記載の光学測定方法。
  3. 【請求項3】 前記所定範囲は、複数の選択範囲を有
    し、該複数の選択範囲のうち1選択範囲を指定し、指定
    された選択範囲内の受光画素を選択することを特徴とす
    る請求項1または2に記載の光学測定方法。
  4. 【請求項4】 前記対象物へ照射する光は、前記対象物
    上における反射領域の大きさが次式の関係を満たすこと
    を特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項に記載
    の光学測定方法。 A≧B+(C×D)/f ただし、Aは前記集光レンズの端部と前記集光レンズの
    光軸との間の距離、Bは前記対象物上の反射領域の端部
    と前記光軸との間の距離、Cは前記集光レンズと前記反
    射領域との間の距離、Dは前記特定領域の端部と前記光
    軸との間の距離、fは前記集光レンズの焦点距離であ
    る。
  5. 【請求項5】 対象物に対して光を照射する光源と、 前記光源の光軸と異なる方向を光軸とし、前記対象物か
    らの反射光の少なくとも一部を入射する集光レンズと、 前記対象物の反射光が前記集光レンズを透過した透過光
    束により形成される空間の一部でかつ前記集光レンズの
    光軸と交差すると共に、焦点位置を含む面近傍に予め定
    めた特定領域を、通過した光のみを受光すると共に、縦
    横に分割された多数の受光画素を有する受光素子と、 前記対象物を変位させたときに前記対象物からの反射光
    が前記集光レンズを透過して前記特定領域に至る光を前
    記多数の受光画素で受光し、前記多数の受光画素のうち
    光量変動が所定範囲内の受光画素を選択し、選択した画
    素により形成される領域を受光有効領域に設定する設定
    手段と、 前記設定された受光有効領域に含まれる受光画素で受光
    した光量に基づいて前記対象物に関する特性を求める演
    算手段と、 を備えた光学測定装置。
  6. 【請求項6】 前記光源を、所定強度で点滅させる制
    御、または発光強度を制御する光源制御手段と、前記受
    光素子の出力を、前記点滅または制御された発光強度に
    同期しながら信号を得る信号制御手段とを更に備えたこ
    とを特徴とする請求項5に記載の光学測定装置。
  7. 【請求項7】 請求項5または6に記載の光学測定装置
    を、1つの対象物に対して複数設け、かつ前記複数の光
    学測定装置の受光出力に基づいて、前記対象物の色を測
    定する光学測定システム。
  8. 【請求項8】 画像形成媒体を前記対象物として該画像
    形成媒体に画像を形成する画像形成手段と、 前記請求項5または6に記載の光学測定装置を備え、前
    記画像形成手段により画像が形成された画像形成媒体の
    搬送中に、形成された画像を検出する検出手段と、 前記検出手段の検出結果に基づいて、前記画像形成媒体
    に形成される画像の品質を制御する制御手段と、 を備えた画像形成装置。
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CN116297464A (zh) * 2023-05-18 2023-06-23 沈阳和研科技股份有限公司 一种划片机切割刀痕图像采集装置及划片机

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CN116297464A (zh) * 2023-05-18 2023-06-23 沈阳和研科技股份有限公司 一种划片机切割刀痕图像采集装置及划片机
CN116297464B (zh) * 2023-05-18 2023-08-25 沈阳和研科技股份有限公司 一种划片机切割刀痕图像采集装置及划片机

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