JP2000266597A - 赤外線検出器 - Google Patents

赤外線検出器

Info

Publication number
JP2000266597A
JP2000266597A JP11070091A JP7009199A JP2000266597A JP 2000266597 A JP2000266597 A JP 2000266597A JP 11070091 A JP11070091 A JP 11070091A JP 7009199 A JP7009199 A JP 7009199A JP 2000266597 A JP2000266597 A JP 2000266597A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared
operational amplifier
infrared detector
resistance element
resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11070091A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukihiko Shirakawa
幸彦 白川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP11070091A priority Critical patent/JP2000266597A/ja
Publication of JP2000266597A publication Critical patent/JP2000266597A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16151Cap comprising an aperture, e.g. for pressure control, encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、同一の抵抗温度特性を有する4つ
の感熱抵抗素子と演算増幅器を接続して赤外線検出回路
を構成することにより、高精度、高感度であり、簡単な
回路構成が実現可能な赤外線検出器を提供する。 【解決手段】 赤外線検出器は、同一の抵抗温度特性を
有する感熱抵抗素子で構成される抵抗R1、R2、R
3、R4および演算増幅器2で構成される赤外線検出回
路1を備え、抵抗R1、R4の一端にはバイアス電圧V
bの印加端子が共通して接続される。抵抗R4の他端に
直列に接続される抵抗R3は抵抗R4の他端との接続点
が演算増幅器2の反転入力端子に接続され、その他端は
演算増幅器2の出力端子に接続される。抵抗R2の一端
は抵抗R1の他端に直列に接続され、抵抗R1の他端と
の接続点が演算増幅器2の非反転入力端子に接続され
る。抵抗R2の他端には抵抗R5および可変抵抗VR1
で固定電位Vxが設定される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、感熱抵抗素子を用
いた熱型の赤外線検出器に関する。
【0002】
【従来の技術】入射した赤外線を熱に変換し、その熱を
検出することによって間接的に赤外線を検知する熱型の
赤外線検出器は、電磁波である赤外線を量子効果により
直接的に検出する半導体赤外線検出器と比較して冷却処
理が不要であることから、低コストのセンサとして広く
用いられている。
【0003】このような熱型の赤外線検出器としては、
焦電センサ、サーモパイル、ボロメータなどが多く用い
られている。このような赤外線検出器の中で、感熱抵抗
素子を用いたボロメータ、特にサーミスタを用いたサー
ミスタボロメータは、他の熱型の赤外線検出器と比較し
て、直流出力が可能であるために機械的なチョッパが不
要であり、かつ高感度であるため、非接触の温度計測な
どに適した検出器である。
【0004】このようなサーミスタボロメータにおいて
は、例えば特許公開番号9−15042に記載されてい
るように、通常、熱容量が小さくて赤外線に敏感なサー
ミスタによってホイートストンブリッジ回路を構成し、
このホイートストンブリッジ回路の1つまたは対角に配
置されている2つのサーミスタに対して赤外線を選択的
に照射し、ホイートストンブリッジ回路の出力を差動増
幅器により検出していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来のサーミスタボロメータにおいては次のような問題が
あった。
【0006】まず、感熱抵抗素子を用いたボロメータに
おいては、感熱抵抗素子にバイアス電圧を印加する必要
があるが、ここで、バイアス電圧をVb(V)、感熱抵
抗素子の抵抗値をR(Ω)とすると、感熱抵抗素子には
Vb/R(W)の自己発熱が生じる。
【0007】なお、感熱抵抗素子は、赤外線に対して敏
感に応答するように周囲に対して熱抵抗を大きくする必
要があるが、感熱抵抗素子の自己発熱量が大きい場合に
は、この自己発熱により感熱抵抗素子の自己温度が上昇
してしまう。
【0008】例えば、通常、マイクロマシーニングの手
法により形成されるマイクロエアブリッジ構造を用いた
熱絶縁構造の感熱抵抗素子においては、その熱抵抗の値
は、使用する材料の物性値やその形状にも依存するが、
一般的に、5000〜50000(K/W)の範囲内で
ある。また、例えば、10(V)のバイアス電圧を用い
た場合において感熱抵抗素子の自己発熱により生じる上
昇温度は、感熱抵抗素子の抵抗値が100(kΩ)の場
合には5〜50(゜C)の範囲内、1(MΩ)の場合に
は0.5〜5(゜C)の範囲内、10(MΩ)の場合に
は0.05〜0.5(゜C)の範囲内となる。
【0009】ここで、熱型の赤外線検出器の出力は、感
熱抵抗素子の温度をTo(K)、検出対象である赤外線
の温度をTx(k)とすれば、(Tx−To)に比
例する。しかし、通常、感熱抵抗素子の温度を直接測定
することは難しいため、感熱抵抗素子の温度をボロメー
タ本体の温度で代用している。そのため、感熱抵抗素子
の温度がその自己発熱により上昇すると、温度測定の誤
差の原因になる。
【0010】また、ボロメータは熱型検出素子であるた
め、検出対象である赤外線に起因する感熱抵抗素子の温
度の上昇と感熱抵抗素子自体の自己発熱に起因する自己
温度の上昇を区別することができない。そのため、感熱
抵抗素子の自己発熱が大きいと、赤外線の検出が困難と
なる。
【0011】従って、この自己発熱量を減少させるため
には、ボロメータに用いられる感熱抵抗素子の抵抗値を
MΩオーダの極めて高い値にする必要がある。しかし、
このように高い抵抗値を有する感熱抵抗素子を用いてホ
イートストンブリッジ回路を構成した場合には、ボロメ
ータの出力インピーダンスは極めて高くなり、外部から
の電磁誘導などによるノイズに対して非常に影響を受け
やすい。そのため、信号配線には細心に注意を払う必要
があり、赤外線検出器としての実用性が著しく低下して
いた。
【0012】このようなことから、感熱抵抗素子の抵抗
値を余り高くすることは難しく、実用上では数MΩ程度
がその上限値となっていた。
【0013】さらに、従来のボロメータにおいては、信
号検出回路の構成が複雑となっていた。
【0014】すなわち、従来のボロメータは、その出力
をホイートストンブリッジ回路の出力としている。従っ
て、その出力は差動出力であり、かつ高出力インピーダ
ンスとなっている。このため、ボロメータの出力を検出
する信号検出回路としては、高入力インピーダンスの差
動増幅回路(または差動インピーダンス変換回路)を用
いる必要がある。
【0015】また、このようなホイートストンブリッジ
回路型のボロメータの場合には、ホイートストンブリッ
ジ回路を構成する感熱抵抗素子の抵抗値の理想値からの
ずれにより、赤外線が入射しない状態においてオフセッ
ト電圧が発生する。従って、このオフセット電圧を調整
する調整回路も別途設ける必要になる。
【0016】ここで、従来のホイートストンブリッジ回
路型のボロメータの構成について具体的に説明する。図
1は従来のホイートストンブリッジ回路型のボロメータ
の電気的等価回路を示す図である。図1において、ボロ
メータ部20の抵抗R11、R12、R13、R14と
しては、通常、それぞれ同一の抵抗温度特性を有する感
熱抵抗素子が用いられ、バイアス電圧Vbが印加されて
おり、これによりホイートストンブリッジ回路を構成し
ている。
【0017】なお、各感熱抵抗素子は、上述したよう
に、自己発熱による温度測定誤差を避けるために、高抵
抗値を有することが望ましい。しかし、この場合には、
出力インピーダンスが大きくなりすぎるため、通常で
は、最大でも数MΩ程度の抵抗値が選択されている。
【0018】ホイートストンブリッジ回路を用いた場合
には、そのブリッジ出力は差動出力となる。すなわち、
図1に示すように、電圧Vo1、Vo2の差分電圧がブ
リッジ出力となる。ここで、抵抗R11、R12、R1
3、R14は同一温度で同一抵抗値Rを有するとし、抵
抗R11に対して赤外線が照射され、これにより抵抗R
11が選択的に温度上昇して抵抗値がαRに変化したと
すれば、ブリッジ出力Voは、 Vo=Vo1−Vo2=αVb/4 (1) となる。
【0019】また、抵抗R11とR13、または抵抗R
12とR14のいずれか一方の組合せに対して赤外線が
照射され、これにより選択的に温度上昇が生じて抵抗値
がαRに変化したとすれば、ブリッジ出力Voは、 Vo=Vo1−Vo2=αVb/2 (2) となる。
【0020】さらに、ホイートストンブリッジ回路を用
いた場合、その出力インピーダンスはホイートストンブ
リッジ回路を構成する抵抗となるため、出力インピーダ
ンスは最大で数MΩと極めて高い抵抗値となってしま
う。
【0021】このため、上述したように、従来のボロメ
ータは外部からの誘導ノイズに影響を受けやすくなる。
従って、ボロメータ部20に接続するための配線として
は、シールド線結線21のような対ノイズ性の高い高コ
ストな配線を使用する必要がある。なお、ボロメータ部
20を構成するホイートストンブリッジ回路は、そのブ
リッジ出力が差動出力であり、かつ高出力インピーダン
スであるため、そのブリッジ出力をそのまま信号処理回
路に接続することができない。
【0022】このようなことから、ブリッジ出力は高入
力インピーダンスの差動増幅回器(または差動インピー
ダンス変換回路)22に一旦接続される。さらに、ホイ
ートストンブリッジ回路を構成する抵抗R11、R1
2、R13、R14の抵抗値の理想値からのずれから生
じるオフセット電圧を調整するためのオフセット電圧調
整回路23を設ける。これにより、オフセット電圧調整
回路23の出力Voutが信号処理回路に接続されるこ
とになる。
【0023】なお、差動増幅回路22およびオフセット
電圧調整回路23によって構成される信号検出回路は、
通常のモノリシックOPアンプ(オペアンプ、演算増幅
器)を用いた場合においても、最低で3個のOPアンプ
と6個の固定抵抗によって構成する必要がある。従っ
て、部品点数が多く、回路構成が複雑となり、また調整
が煩雑で、高コストとなっていた。
【0024】以上のように、従来のホイートストンブリ
ッジ回路型のボロメータによって構成される赤外線検出
器は、感熱抵抗素子の自己発熱による温度測定の誤差が
大きく、また出力インピーダンスが高いためにノイズの
影響を受けやすく、さらに高入力インピーダンス差動出
力の信号検出回路の構成が複雑となるなどの問題があ
る。
【0025】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、本発明の目的は、同一温度で同一の高い抵抗値を
有する4つの感熱抵抗素子と演算増幅器を接続して赤外
線検出回路を構成することにより、高精度、高感度であ
り、簡単な回路構成が実現可能な赤外線検出器を提供す
ることにある。
【0026】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1に記載の発明の赤外線検出器は、演算増幅
器と、同一基板上に形成されている第1、第2、第3、
および第4の感熱抵抗素子とを備え、前記第1の感熱抵
抗素子の一端は第1の電位点に接続され、その他端は前
記演算増幅器の非反転入力端子に接続され、前記第2の
感熱抵抗素子の一端は第2の電位点に接続され、その他
端は前記演算増幅器の非反転入力端子に接続され、前記
第3の感熱抵抗素子の一端は前記演算増幅器の反転入力
端子に接続され、その他端は前記演算増幅器の出力端子
に接続され、前記第4の感熱抵抗素子の一端は前記第1
の電位点に接続され、その他端は前記演算増幅器の反転
入力端子に接続され、前記第1、第2、第3、および第
4の感熱抵抗素子の中の1つの感熱抵抗素子、第1およ
び第3の感熱抵抗素子の組合せ、および前記第2および
第4の感熱抵抗素子の組合せのいずれかは、照射される
赤外線に応じて温度変化するように構成され、赤外線が
照射されていない場合、前記第2の電位点の電位に応じ
て前記演算増幅器の出力電圧が特定の電圧になるように
設定されていることを特徴とする。
【0027】上記請求項1に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項2に記載の発明は、前記第1、第2、
第3、および第4の感熱抵抗素子は同一温度でほぼ同一
の抵抗値をそれぞれ有することを特徴とする。
【0028】上記請求項1に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項3に記載の発明は、前記演算増幅器
は、前記第1、第2、第3、および第4の感熱抵抗素子
と同一基板に形成されていることを特徴とする。
【0029】上記請求項1に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項4に記載の発明は、前記演算増幅器
は、前記第1、第2、第3、および第4の感熱抵抗素子
に近接して配置されていることを特徴とする。
【0030】上記請求項1に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項5に記載の発明は、照射される赤外線
に応じて温度変化するように構成されている赤外線検出
用の感熱抵抗素子は、それ以外の感熱抵抗素子よりも熱
的に絶縁されていることを特徴とする。
【0031】上記請求項5に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項6に記載の発明は、前記赤外線検出用
の感熱抵抗素子は、その下に空洞が設けられている基板
上に形成されていることを特徴とする。
【0032】上記請求項5に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項7に記載の発明は、照射される赤外線
を遮断するための遮光板を用いて、前記赤外線検出用の
感熱抵抗素子に選択的に赤外線を照射することを特徴と
する。
【0033】上記請求項5に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項8に記載の発明は、前記赤外線検出用
の感熱抵抗素子は、それ以外の感熱抵抗素子よりも赤外
線吸収率が高くなるように構成されていることを特徴と
する。
【0034】上記請求項8に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項9に記載の発明は、前記赤外線検出用
の感熱抵抗素子には熱吸収膜が形成されていることを特
徴とする。
【0035】上記請求項5に記載の発明の赤外線検出器
において、請求項10に記載の発明は、前記赤外線検出
用の感熱抵抗素子以外の感熱抵抗素子には赤外線反射膜
が形成されていることを特徴とする。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。
【0037】(実施の形態1)図2は本発明の第1の実
施の形態の赤外線検出器であるボロメータの電気的等価
回路を示す図である。図2において、本発明の第1の実
施の形態の赤外線検出器は、同一の抵抗温度特性(同一
温度でほぼ同一の抵抗値を示す)を有する感熱抵抗素子
によってそれぞれ構成される抵抗R1、R2、R3、R
4および演算増幅器2によって構成される赤外線検出回
路1と、オフセット電圧を調整するための抵抗R5およ
び可変抵抗VR1とを備えている。
【0038】なお、抵抗R1、R2、R3、R4を構成
する感熱抵抗素子は、それ自体の温度に応じて抵抗値が
変化する素子であればよい。例えば、感熱抵抗素子とし
ては、金属測温抵抗体、PTC(負特性)サーミスタ、
NTC(正特性)サーミスタ、半導体の接合などを用い
ることができるが、感度の点からするとNTCサーミス
タを用いることが好ましい。
【0039】抵抗R1、R4の一端にはバイアス電圧V
bの印加端子が共通して接続されている。抵抗R4の他
端に直列に接続されている抵抗R3においては、抵抗R
4の他端との接続点が演算増幅器2の反転入力端子に接
続されている。抵抗R3の他端は演算増幅器2の出力端
子(出力Vo)に接続されている。抵抗R2の一端は、
抵抗R1の他端に直列に接続され、抵抗R1の他端との
接続点が演算増幅器2の非反転入力端子に接続される。
抵抗R2の他端には抵抗R5および可変抵抗VR1によ
って固定電位Vxが設定されている。
【0040】各感熱抵抗素子に対しては、上述したよう
な自己発熱による温度測定の誤差を避けるために、通
常、室温で数MΩの抵抗値が選択される。なお、本発明
の第1の実施の形態の赤外線検出器に用いられる感熱抵
抗素子においては、後述するように、10(MΩ)以上
の高い抵抗値を用いることが可能であり、自己発熱によ
る温度測定の誤差が少ない赤外線検出を行うことが可能
となる。
【0041】図2において、抵抗R1、R2、R3、R
4はそれぞれ同一温度で同一の抵抗値Rを有し、抵抗R
1に赤外線が照射され、これにより抵抗R1が選択的に
温度上昇して抵抗値がαRに変化したとすれば、演算増
幅器2の出力Voは、 Vo=Vx+α(Vb−Vx)/2 (3) となる。特に、Vx=0の時、出力Voは、 Vo=αVb/2 (4) となる。
【0042】また、抵抗R1とR3、または抵抗R2と
R4のいずれか一方の組合せに赤外線が照射され、これ
により選択的に温度上昇が生じて抵抗値がαRに変化し
たとすれば、出力Voは、 Vo=Vx+α(Vb−Vx) (5) となる。特に、Vx=0の時、出力Voは、 Vo=αVb (6) となる。
【0043】このように、本発明の第1の実施の形態の
赤外線検出器の出力としては、照射された赤外線の強度
によって生じた抵抗変化に比例した直流出力が得られ
る。さらに、式(1)と式(4)、式(2)と式(6)
をそれぞれ比較すれば明らかなように、本発明の第1の
実施の形態の赤外線検出器においては、ホイートストン
ブリッジ回路を用いた従来のボロメータと比較して約2
倍の出力を得ることができる。
【0044】また、本発明の第1の実施の形態の赤外線
検出器の出力インピーダンスは演算増幅器2の出力イン
ピーダンスとなるので、演算増幅器2として一般のモノ
リシックOPアンプを使用した場合、その出力インピー
ダンスは通常10(Ω)以下と極めて低くなり、対ノイ
ズ性に優れることになる。
【0045】さらに、本発明の第1の実施の形態の赤外
線検出器の出力インピーダンスは演算増幅器2の出力イ
ンピーダンスによって決まるため、感熱抵抗素子の抵抗
値を大きくしても対ノイズ性が低下することはない。従
って、通常使用されている数(MΩ)以上、好ましくは
10(MΩ)以上の高抵抗値を有する感熱抵抗素子を用
いてもその自己発熱による温度測定の誤差を減少させる
ことができる。
【0046】なお、通常、抵抗R1、R2、R3、R4
を構成する感熱抵抗素子の製造時のばらつきなどによ
り、感熱抵抗素子に赤外線が照射されない場合において
もオフセット電圧が生じる。しかし、式(3)、(5)
から明らかなように、固定電位Vxを調整することによ
ってこのオフセット電圧を容易に調整することが可能で
ある。また、この時、出力Voは(Vb−Vx)に比例
して減少するが、通常、抵抗値のばらつきにより生じる
オフセット電圧はバイアス電圧の0.1(%)程度と十
分低いので、赤外線検出器の検出感度の低下はわずかで
ある。従って、このような検出感度の低下は実用上無視
することができる。
【0047】図3は本発明の第1の実施の形態の赤外線
検出器の構成の一部を示す図である。なお、図3(a)
は感熱抵抗体が形成されている絶縁性基板を上から見た
図であり、図3(b)は図3(a)に示す線aa´にお
ける断面図である。
【0048】図3において、赤外線検出素子11は、絶
縁性基板9上に形成され、図2に示す抵抗R1、R2、
R4、R3にそれぞれ対応する感熱抵抗体(感熱抵抗素
子)3、4、5、6によって構成されている。感熱抵抗
体4、5の直下の絶縁性基板9は選択的に除去され、こ
れにより、基板表面部7、10が残り、基板表面部7、
10の下に空洞8が形成される。なお、感熱抵抗体3、
4、5、6はそれぞれボンディングパッド19a、19
b、19c、19d、19e、19fを介して図示しな
い演算増幅器などの回路に電気的に接続される。
【0049】このような構成により、基板表面部7、1
0上に形成されている感熱抵抗体4、5(抵抗R2、R
4に対応する)は、絶縁性基板9から熱的にほぼ絶縁さ
れるので、照射された赤外線に応じて敏感に温度変化
(温度上昇)を生じる。これに対して、感熱抵抗体3、
6(抵抗R1、R3に対応する)については、熱容量の
大きい絶縁性基板9に熱的に接触しているので、赤外線
を照射してもほとんど温度変化を生じない。
【0050】なお、照射した赤外線に応じて特定の感熱
抵抗素子を敏感に温度上昇させる方法としては、上述し
たような方法以外に、(1)全ての感熱抵抗素子の直下
の絶縁性基板に空洞を形成することにより全ての感熱抵
抗素子を絶縁性基板に対して熱的にほぼ絶縁した状態
で、例えば遮光板を用いて選択的に感熱抵抗素子に赤外
線を照射する方法、(2)特定の感熱抵抗素子に対して
熱吸収膜などを形成することにより、この特定の感熱抵
抗素子の赤外線吸収率を他の感熱抵抗素子よりも高くし
て赤外線を照射する方法、(3)特定の感熱抵抗素子以
外の他の感熱抵抗素子の表面に赤外線反射膜を形成する
ことにより、赤外線に起因して他の感熱抵抗素子におい
て温度上昇が生じないような構造として赤外線を照射す
る方法などを用いることが可能である。
【0051】図4は本発明の第1の実施の形態の赤外線
検出器の構成を示す側面図である。図4に示す本発明の
第1の実施の形態の赤外線検出器において、導電性金属
によって構成されるベース12上に赤外線検出素子11
およびOPアンプ基板15が配置される。OPアンプ基
板15には、図示しないOPアンプ(演算増幅器)が設
けられている。赤外線検出素子11およびOPアンプ基
板15は、ワイヤーボンディングによるワイヤー14a
により電気的に接続されている。また、赤外線検出素子
11およびOPアンプ基板15は、ワイヤーボンディン
グによるワイヤー14b、14cによって、ベース12
からは電気的に絶縁されている外部接続端子13にそれ
ぞれ電気的に接続されている。
【0052】なお、図4においては、赤外線検出素子1
1とOPアンプ基板15の間の電気的な接続をワイヤー
ボンディングにより行っているが、これ以外の方法を用
いることも可能である。例えば、配線基板を準備し、赤
外線検出素子11およびOPアンプ基板15をこの配線
基板にワイヤーボンディングやフィリップチップボンデ
ィングにより電気的に接続する方法や、OPアンプを通
常のパッケージ素子として別の配線基板に実装する方法
も実行可能である。また、赤外線検出素子11およびO
Pアンプを同一基板上に一括して形成する方法も実行可
能である。
【0053】ベース12には導電性金属によって構成さ
れるキャップ16が接合される。なお、キャップ16に
おいて、赤外線検出素子11の上部の対応する部分には
赤外線入射窓17が設けられている。
【0054】ベース12とキャップ16は電気的に接続
状態(導通状態)にあるので、全体として電磁波シール
ドケースを構成する。また、赤外線入射窓17として例
えば導電性シリコン(Si)単結晶板を用いることこと
により、赤外線入射窓17とキャップ16を導通状態と
することが望ましい。
【0055】このように、本発明の第1の実施の形態の
赤外線検出器においては、高抵抗の感熱抵抗素子と演算
増幅器が同一の電磁波シールドケース内に近接して配置
されるため、誘導ノイズに対して極めて強く、その影響
を受けにくい。また、従来のホイートストンブリッジ回
路型のサーミスタボロメータが差動出力であり、かつ高
出力インピーダンスであるのに対して、本発明の第1の
実施の形態の赤外線検出器の出力は、直流出力であり、
従来の場合の約2倍である。また、低出力インピーダン
スであるために外部の回路に対する電気的な接続を容易
に行うことができる。さらに、オフセット電圧に関して
も外部から固定電位を直接与えることにより容易に調整
することができる。
【0056】(実施の形態2)図5は本発明の第2の実
施の形態の赤外線検出器の構成の一部を示す図である。
なお、図5(a)は感熱抵抗体が形成されている絶縁性
基板を上から見た図であり、図5(b)は図5(a)に
示す線bb´における断面図である。
【0057】図5に示す赤外線検出素子61には、Si
単結晶基板62を熱酸化することによりその表面に形成
されるSiO膜によって構成される熱酸化膜63上
に、抵抗R1、R2、R3、R4にそれぞれ対応する感
熱抵抗体(感熱抵抗素子)24、25、26、27が設
けられる。なお、感熱抵抗体24、25、26、27
は、所定の形状にパターニングされたクロム(Cr)電
極28a、28b、28c、28d上に、室温での抵抗
値が10(MΩ)であるSiC薄膜サーミスタ29a、
29b、29c、29dをスパッタリングすることによ
って形成される。さらに、SiO膜によって構成され
る絶縁保護膜30は薄膜サーミスタ29a、29b、2
9c、29d上に形成される。
【0058】上述のように構成されている感熱抵抗体2
4、25、26、27の直下のSi単結晶基板62は等
方性エッチングまたは異方性エッチングにより選択的に
除去され、これにより、熱酸化膜63によって構成され
る基板表面部31が残り、基板表面部31の下に空洞3
2が形成される。なお、感熱抵抗体24、25、26、
27はそれぞれボンディングパッド33a、33b、3
3c、33d、33e、33fを介して図示しない演算
増幅器などの回路に電気的に接続される。
【0059】さらに、感熱抵抗体24、26の表面に
は、絶縁保護膜30を介して金(Au)によって構成さ
れる赤外線反射膜34が形成される。
【0060】このような構成により、感熱抵抗体25、
27(抵抗R2、R4にそれぞれ対応する)は、Si単
結晶基板62から熱的にほぼ絶縁されているので、照射
された赤外線に応じて敏感に温度上昇する。これに対し
て、感熱抵抗体24、26(抵抗R1、R3にそれぞれ
対応する)は、Si単結晶基板62からは熱的にほぼ絶
縁されているが、赤外線反射膜34が存在するため、照
射された赤外線は赤外線反射膜34で反射される。これ
により、感熱抵抗体24、26においては熱吸収が生じ
ないので、赤外線が照射されても、感熱抵抗体24、2
6はほとんど温度変化しないことになる。
【0061】図6は本発明の第2の実施の形態の赤外線
検出器の構成を示す側面図である。図6に示す本発明の
第2の実施の形態の赤外線検出器において、4ピン(4
端子)パッケージ41のピン42の位置に接続端子が形
成され、さらに表裏貫通配線43が形成されている絶縁
性基板44をパッケージ41のピン42上に導電性樹脂
45によって電気的に接続して固定する。なお、絶縁性
基板44の表面には、赤外線検出素子61をワイヤーボ
ンディングによるワイヤー47a、47bによって表裏
貫通配線43に電気的に接続して搭載している。一方、
絶縁性基板44の裏面側には表面実装型OPアンプ46
を表裏貫通配線43に電気的に接続して搭載している。
【0062】4ピンパッケージ41には、赤外線入射窓
49が設けられている金属キャップ48が溶接されてい
る。赤外線入射窓49は、導電性単結晶Siによって構
成され、導電性樹脂50により金属キャップ48に固定
されている。これにより、4ピンパッケージ41の全体
が電磁波シールドケースとして外部の固定電位に接続さ
れる。
【0063】本発明の第2の実施の形態の赤外線検出器
においては、照射した赤外線の強度に対して0(V)か
らリニアに出力を得ることができ、また出力インピーダ
ンスは約10(Ω)であって従来の赤外線検出器よりも
低くなっている。また、感熱抵抗素子の抵抗値が10
(MΩ)と高抵抗であるため、感熱抵抗素子の自己発熱
による温度誤差が0.1(゜C)以下と極めて小さく、
オフセット電圧の温度ドリフトもほとんど認められなか
った。
【0064】さらに、外部からの誘導ノイズに極めて強
く、出力インピーダンスも低いために、演算増幅器や信
号処理回路に対して通常の配線を行っても、外部からの
ノイズの影響をほとんど受けない。そのため、微弱な赤
外線が照射されても、良好なS/N比で赤外線検出を行
うことが可能である。
【0065】
【発明の効果】以上、本発明によれば、従来のホイート
ストンブリッジ回路型のサーミスタボロメータの赤外線
検出器と比較して直流出力であり、かつ2倍の出力が得
られ、また、低出力インピーダンスとなるためにその取
扱いが極めて容易である。
【0066】さらに、赤外線を検知する感熱抵抗素子に
高抵抗素子を使用することができるため、感熱抵抗素子
の自己発熱による温度測定の誤差が小さく、高精度で高
感度の赤外線検出が可能となる。
【0067】さらにまた、従来の赤外線検出器において
その出力を信号処理する上で必要であったシールド線結
線、高入力インピーダンスの差動増幅回路(または差動
インピーダンス変換回路)、およびオフセット電圧調整
回路は、本発明の赤外線検出器においては不要となるの
で、低コストで高精度の赤外線検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のホイートストンブリッジ回路型のボロメ
ータの電気的等価回路を示す図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態の赤外線検出器であ
るボロメータの電気的等価回路を示す図である。
【図3】本発明の第1の実施の形態の赤外線検出器の構
成の一部を示す図である。
【図4】本発明の第1の実施の形態の赤外線検出器の構
成を示す側面図である。
【図5】本発明の第2の実施の形態の赤外線検出器の構
成の一部を示す図である。
【図6】本発明の第2の実施の形態の赤外線検出器の構
成を示す側面図である。
【符号の説明】
R1、R2、R3、R4、R5 抵抗 VR1 可変抵抗 1 赤外線検出回路 2 演算増幅器 3、4、5、6、24、25、26、27 感熱抵抗体 7、10、31 基板表面部 8、32 空洞 9、44 絶縁性基板 11、61 赤外線検出素子 12 ベース 13 外部接続端子 14a、14b、14c、47a、47b ワイヤー 15 OPアンプ基板 16 キャップ 17 赤外線入射窓 19a、19b、19c、19d、19e、19f、3
3a、33b、33c、33d、33e、33f ボン
ディングパッド 28a、28b、28c、28d クロム電極 29a、29b、29c、29d SiC薄膜サーミス
タ 30 絶縁保護膜 34 赤外線反射膜 41 4ピンパッケージ 42 ピン 43 表裏貫通配線 45、50 導電性樹脂 46 表面実装型OPアンプ 62 Si単結晶基板 63 熱酸化膜

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 演算増幅器と、 同一基板上に形成されている第1、第2、第3、および
    第4の感熱抵抗素子とを備え、 前記第1の感熱抵抗素子の一端は第1の電位点に接続さ
    れ、その他端は前記演算増幅器の非反転入力端子に接続
    され、 前記第2の感熱抵抗素子の一端は第2の電位点に接続さ
    れ、その他端は前記演算増幅器の非反転入力端子に接続
    され、 前記第3の感熱抵抗素子の一端は前記演算増幅器の反転
    入力端子に接続され、その他端は前記演算増幅器の出力
    端子に接続され、 前記第4の感熱抵抗素子の一端は前記第1の電位点に接
    続され、その他端は前記演算増幅器の反転入力端子に接
    続され、 前記第1、第2、第3、および第4の感熱抵抗素子の中
    の1つの感熱抵抗素子、第1および第3の感熱抵抗素子
    の組合せ、および前記第2および第4の感熱抵抗素子の
    組合せのいずれかは、照射される赤外線に応じて温度変
    化するように構成され、 赤外線が照射されていない場合、前記第2の電位点の電
    位に応じて前記演算増幅器の出力電圧が特定の電圧にな
    るように設定されていることを特徴とする赤外線検出
    器。
  2. 【請求項2】 前記第1、第2、第3、および第4の感
    熱抵抗素子は同一温度でほぼ同一の抵抗値をそれぞれ有
    することを特徴とする請求項1に記載の赤外線検出器。
  3. 【請求項3】 前記演算増幅器は、前記第1、第2、第
    3、および第4の感熱抵抗素子と同一基板に形成されて
    いることを特徴とする請求項1に記載の赤外線検出器。
  4. 【請求項4】 前記演算増幅器は、前記第1、第2、第
    3、および第4の感熱抵抗素子に近接して配置されてい
    ることを特徴とする請求項1に記載の赤外線検出器。
  5. 【請求項5】 照射される赤外線に応じて温度変化する
    ように構成されている赤外線検出用の感熱抵抗素子は、
    それ以外の感熱抵抗素子よりも熱的に絶縁されているこ
    とを特徴とする請求項1に記載の赤外線検出器。
  6. 【請求項6】 前記赤外線検出用の感熱抵抗素子は、そ
    の下に空洞が設けられている基板上に形成されているこ
    とを特徴とする請求項5に記載の赤外線検出器。
  7. 【請求項7】 照射される赤外線を遮断するための遮光
    板を用いて、前記赤外線検出用の感熱抵抗素子に選択的
    に赤外線を照射することを特徴とする請求項5に記載の
    赤外線検出器。
  8. 【請求項8】 前記赤外線検出用の感熱抵抗素子は、そ
    れ以外の感熱抵抗素子よりも赤外線吸収率が高くなるよ
    うに構成されていることを特徴とする請求項5に記載の
    赤外線検出器。
  9. 【請求項9】 前記赤外線検出用の感熱抵抗素子には熱
    吸収膜が形成されていることを特徴とする請求項8に記
    載の赤外線検出器。
  10. 【請求項10】 前記赤外線検出用の感熱抵抗素子以外
    の感熱抵抗素子には赤外線反射膜が形成されていること
    を特徴とする請求項5に記載の赤外線検出器。
JP11070091A 1999-03-16 1999-03-16 赤外線検出器 Pending JP2000266597A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11070091A JP2000266597A (ja) 1999-03-16 1999-03-16 赤外線検出器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11070091A JP2000266597A (ja) 1999-03-16 1999-03-16 赤外線検出器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000266597A true JP2000266597A (ja) 2000-09-29

Family

ID=13421535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11070091A Pending JP2000266597A (ja) 1999-03-16 1999-03-16 赤外線検出器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000266597A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009535855A (ja) * 2006-05-01 2009-10-01 ケーエルエー−テンカー・コーポレーション シールドを備えるプロセス条件測定素子
JP2010276407A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Spectratech Inc 光検出装置および生体情報測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009535855A (ja) * 2006-05-01 2009-10-01 ケーエルエー−テンカー・コーポレーション シールドを備えるプロセス条件測定素子
JP2010276407A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Spectratech Inc 光検出装置および生体情報測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6717147B2 (en) Thermo-sensitive infrared ray detector
US6300554B1 (en) Method of fabricating thermoelectric sensor and thermoelectric sensor device
JPH09329499A (ja) 赤外線センサ及び赤外線検出器
JP2000266597A (ja) 赤外線検出器
JP5669678B2 (ja) 赤外線センサ
JPS5866028A (ja) 光−抵抗値変換素子を用いた測定回路
CN111239479B (zh) 集成化自校准辐射功率传感芯片及辐射功率测量方法
KR100313905B1 (ko) 볼로메터 센서
JP3040048B2 (ja) 輻射熱センサ
JP3388207B2 (ja) 熱電式センサデバイスおよびその製造方法
KR100339353B1 (ko) 마이크로 볼로메터 및 제조 방법
JP4490580B2 (ja) 赤外線センサー
JP2793615B2 (ja) 赤外線センサ
JPH07140008A (ja) 放射温度計
JP2001091360A (ja) 輻射温度検出素子
JP5633195B2 (ja) 熱検知デバイス
KR100339395B1 (ko) 적층형 볼로메터 센서 및 제조 방법
JP3176798B2 (ja) 輻射熱センサ
KR101578374B1 (ko) 써모파일 센서 모듈
JP2790438B2 (ja) 焦電型赤外線センサー
KR100565727B1 (ko) 마이크로 볼로미터
JP2002048646A (ja) 赤外線検出器および測温計
JP2002156279A (ja) サーモパイル型赤外線センサ
JP3733839B2 (ja) 赤外線検出素子および測温計
JP3692908B2 (ja) 赤外線検出素子および測温計

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060316

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080507

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20081007