JP2000259701A - Verification device, verifying method and computer- readable recording medium storing verification program - Google Patents

Verification device, verifying method and computer- readable recording medium storing verification program

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JP2000259701A
JP2000259701A JP11067509A JP6750999A JP2000259701A JP 2000259701 A JP2000259701 A JP 2000259701A JP 11067509 A JP11067509 A JP 11067509A JP 6750999 A JP6750999 A JP 6750999A JP 2000259701 A JP2000259701 A JP 2000259701A
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JP
Japan
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verification
pattern
information
logic circuit
delay
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JP11067509A
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Japanese (ja)
Inventor
Eiichi Yano
栄一 矢野
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the labor and time required for verification. SOLUTION: The verification device is provided with a static circuit analyzing means 116 which extracts path information of a logic circuit by using the structure of the logic circuit for verification, and specification information to classify it into a long path which is possible to generate a delay problem and a short path in no connection with the delay problem, a form verification analyzing means 117 for extracting a group of cones of the logic circuit by using structure information of the logic circuit, a circuit dividing means 118 for classifying the group of the cones into a high act area through which the long path passes and a low act area through which the long path does not pass, a function verifying means 113 which executes function verification without considering the delay program by using a verifying pattern and structure information of the logic circuit and retains information concerning the verifying pattern passing through the high act area as activity information, a verifying pattern classifying means 120 classifying the verifying pattern into a low pattern passing through the high act area and an act pattern which does not pass through the high act area, and a delay verifying means 114 for delay verification of the high act area with the low pattern as an input.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、検証パターンを論
理回路に入力することにより、論理回路の設計検証を行
う検証装置、検証方法および検証プログラムを格納した
コンピュータ読み取り可能な記録媒体に関し、特に、検
証に要する労力および時間を大幅に軽減させる技術に係
わる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a verification device, a verification method, and a computer-readable recording medium storing a verification program for performing design verification of a logic circuit by inputting a verification pattern to the logic circuit. The present invention relates to a technology that significantly reduces the labor and time required for verification.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、論理LSI等の論理回路に対し
ては、設計当初の仕様を満たしているか否かを判別し、
仕様を満たしていない場合にはその不具合を修正するた
めに、コンピュータシステム等の計算機を利用した設計
検証処理が施される。
2. Description of the Related Art In general, it is determined whether or not a logic circuit such as a logic LSI satisfies an initial specification.
If the specification is not satisfied, a design verification process using a computer such as a computer system is performed to correct the defect.

【0003】従来の設計検証処理において、図6に示す
ような、設計仕様にあった論路回路2と共に、アナログ
回路3や人手で作製した回路4が内蔵されている全体論
理回路1の遅延の検証を行う際には、各回路ブロック毎
で遅延問題に対する検証精度にバラツキがあり、全体の
遅延検証の信頼性に問題が生じる場合あるので、回路ブ
ロック毎に回路の機能と遅延の検証の双方の検証を重複
して行い、設計検証の信頼性を上げる工夫を施してい
る。
In a conventional design verification process, as shown in FIG. 6, a delay circuit of an entire logic circuit 1 in which an analog circuit 3 and a circuit 4 manually manufactured are built together with a logic circuit 2 having design specifications. When performing the verification, the accuracy of the verification of the delay problem varies for each circuit block, which may cause a problem in the reliability of the entire delay verification. Verification is performed in duplicate to improve the reliability of design verification.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来の論
理回路の設計検証技術においては、論理回路内の全ての
検証領域に対して機能検証と遅延検証の双方を行うが、
この結果、以下に示すような解決すべき技術的問題が浮
上してきた。
As described above, in the conventional logic circuit design verification technology, both the function verification and the delay verification are performed for all the verification regions in the logic circuit.
As a result, the following technical problems to be solved have emerged.

【0005】すなわち、従来までの論理回路の設計検証
技術においては、本来は機能検証のみで十分な検証領域
に対しても遅延解析を実行するので、論理回路全体を検
証するために要する時間が膨大なものとなってしまって
いる。工期短縮および経費削減が叫ばれている昨今、こ
のような技術的問題は早急に改善しなければならない。
That is, in the conventional logic circuit design verification technology, since delay analysis is performed even in a verification area where only function verification is sufficient, the time required to verify the entire logic circuit is enormous. It has become something. With the shortening of construction time and cost reduction being called for, these technical problems must be improved promptly.

【0006】また、従来までの設計検証技術では、機能
検証と遅延検証を混在して行っているので、論理回路中
における不具合の原因がその機能に係わる問題であるの
か、遅延に係わるものであるのかを同定することができ
ない。
Further, in the conventional design verification technology, function verification and delay verification are performed in a mixed manner. Therefore, the cause of a defect in a logic circuit is related to the function or to the delay. Can not be identified.

【0007】このように、従来までの論理回路の設計検
証技術では、検証に多大な労力および時間が必要とされ
る上に、効率的な設計検証を行うことができないのであ
る。
As described above, the conventional logic circuit design verification technology requires a great deal of labor and time for verification and cannot perform efficient design verification.

【0008】本発明は、上記技術的問題に鑑みてなされ
たものであり、その目的は、検証に要する労力および時
間を軽減し、効率的な設計検証を可能にする検証装置を
提供することにある。
The present invention has been made in view of the above technical problems, and an object of the present invention is to provide a verification device that reduces the labor and time required for verification and enables efficient design verification. is there.

【0009】また、本発明の他の目的は、検証に要する
労力および時間を軽減し、効率的な設計検証を可能にす
る検証方法を提供することにある。
It is another object of the present invention to provide a verification method that reduces the labor and time required for verification and enables efficient design verification.

【0010】さらに、本発明の他の目的は、検証に要す
る労力および時間を軽減し、効率的な設計検証を可能に
する検証プログラムを格納したコンピュータ読み取り可
能な記録媒体を提供することにある。
A further object of the present invention is to provide a computer-readable recording medium storing a verification program which reduces the labor and time required for verification and enables efficient design verification.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の技術的問題に対し
て、発明者は、検証を行う論理回路を遅延問題に係わる
領域と係わらない領域とに分類し、遅延問題に係わる領
域にのみ遅延検証処理を施すことにより、検証に要する
労力および時間が軽減され、効率的な設計検証が可能と
なるという考えを発案した。
In order to solve the above-mentioned technical problems, the inventor classifies a logic circuit to be verified into a region related to a delay problem and a region not related to a delay problem, and delays only a region related to the delay problem. It has been proposed that by performing the verification process, the labor and time required for the verification can be reduced and efficient design verification can be performed.

【0012】このような考えを反映して、本発明の第1
の特徴は、検証を行う論理回路の構造および仕様情報を
用いて論理回路のパス情報を抽出し、パス情報を遅延問
題を起こす可能性のあるロングパスと遅延問題に係わら
ないショートパスとに分類する静的回路解析手段と、論
理回路の構造情報を用いて論理回路のコーン群を抽出す
る形式検証解析手段と、コーン群をロングパスが通過す
るハイアクト領域とロングパスが通過しないローアクト
領域とに分類する回路分割手段と、検証パターンおよび
論理回路の構造情報を用いて遅延問題を考慮しない機能
検証を行い、ハイアクト領域を通過する検証パターンに
関する情報を活性度情報として保存する機能検証手段
と、活性度情報を用いて検証パターンをハイアクト領域
を通過するローパターンとハイアクト領域を通過しない
アクトパターンとに分類する検証パターン分類手段と、
ローパターンを入力としてハイアクト領域の遅延検証を
行う遅延検証手段とを備える検証装置であることにあ
る。
Reflecting such an idea, the first aspect of the present invention
The feature of is that the path information of the logic circuit is extracted by using the structure and specification information of the logic circuit to be verified, and the path information is classified into a long path which may cause a delay problem and a short path which does not relate to the delay problem. Static circuit analysis means, formal verification analysis means for extracting a cone group of a logic circuit using structural information of the logic circuit, and a circuit for classifying the cone group into a high-act area where a long path passes and a low-act area where a long path does not pass Function verification means for performing function verification without considering a delay problem using the division means and the verification pattern and the structure information of the logic circuit, and storing information on the verification pattern passing through the high-act area as the activity information; and The verification pattern is used to define a low pattern that passes through the high-act area and an act pattern that does not pass through the high-act area. And the verification pattern classification similar means,
The present invention resides in a verification device including a delay verification unit that performs a delay verification of a high-act area by using a low pattern as an input.

【0013】これにより、遅延問題に係わる領域にのみ
遅延検証処理を施し、全ての回路領域に対して機能検証
と遅延検証の重複作業を行う必要性がなくなるので、検
証に要する労力および時間を大幅に軽減することができ
る。
As a result, the delay verification process is performed only on the region related to the delay problem, and it is not necessary to perform the duplication work of the function verification and the delay verification on all the circuit regions, so that the labor and time required for the verification are greatly reduced. Can be reduced.

【0014】また、本発明の第2の特徴は、検証を行う
論理回路の構造および仕様情報を用いて論理回路のパス
情報を抽出する静的回路解析ステップと、パス情報を遅
延問題を起こす可能性のあるロングパスと遅延問題に係
わらないショートパスとに分類するパス分類ステップ
と、論理回路の構造情報を用いて論理回路のコーン群を
抽出する形式検証解析ステップと、コーン群をロングパ
スが通過するハイアクト領域とロングパスが通過しない
ローアクト領域とに分類する回路分割ステップと検証パ
ターンおよび論理回路の構造情報を用いて遅延問題を考
慮しない機能検証を行い、ハイアクト領域を通過する検
証パターンに関する情報を活性度情報として保存する機
能検証ステップと、活性度情報を用いて検証パターンを
前記ハイアクト領域を通過するローパターンとハイアク
ト領域を通過しないアクトパターンとに分類する検証パ
ターン分類ステップと、ローパターンを入力としてハイ
アクト領域の遅延検証を行う遅延検証ステップとからな
る検証方法であることにある。
A second feature of the present invention is a static circuit analysis step of extracting path information of a logic circuit by using the structure and specification information of a logic circuit to be verified, and the path information may cause a delay problem. Classification step for classifying into a long path having a characteristic and a short path which does not relate to the delay problem, a formal verification analysis step for extracting a cone group of a logic circuit using structural information of the logic circuit, and a long path passing through the cone group Performs functional verification without considering delay problems using circuit division steps and verification patterns and logic circuit structure information that classifies into high-act areas and low-act areas where long paths do not pass, and activates information on verification patterns that pass through the high-act areas. A function verification step of storing the verification pattern as information, and a verification pattern using the activity information. A verification pattern classification step of classifying into a act pattern which does not pass through the low pattern and Haiakuto region passes, lies in the verification method comprising the delay verification step of performing a delay verification of Haiakuto region low pattern as input.

【0015】これにより、遅延問題に係わる領域にのみ
遅延検証処理を施し、全ての回路領域に対して機能検証
と遅延検証の重複作業を行う必要性がなくなるので、検
証に要する労力および時間を大幅に軽減することができ
る。
As a result, it is not necessary to perform the delay verification process only on the region related to the delay problem and perform the duplication work of the function verification and the delay verification on all the circuit regions, so that the labor and time required for the verification are greatly reduced. Can be reduced.

【0016】さらに、本発明の第3の特徴は、検証を行
う論理回路の構造および仕様情報を用いて論理回路のパ
ス情報を抽出し、パス情報を遅延問題を起こす可能性の
あるロングパスと遅延問題に係わらないショートパスと
に分類する静的回路解析処理と、論理回路の構造情報を
用いて論理回路のコーン群を抽出する形式検証解析処理
と、コーン群をロングパスが通過するハイアクト領域と
ロングパスが通過しないローアクト領域とに分類する回
路分割処理と、検証パターンおよび論理回路の構造情報
を用いて遅延問題を考慮しない機能検証を行い、ハイア
クト領域を通過する検証パターンに関する情報を活性度
情報として保存する機能検証処理と、活性度情報を用い
て検証パターンをハイアクト領域を通過するローパター
ンとハイアクト領域を通過しないアクトパターンとに分
類する検証パターン分類処理と、ローパターンを入力と
してハイアクト領域の遅延検証を行う遅延検証処理とを
含み、これらの処理をコンピュータに実行させることを
特徴とする検証プログラムを格納したコンピュータ読み
取り可能な記録媒体であることにある。
Furthermore, a third feature of the present invention is that path information of a logic circuit is extracted using the structure and specification information of a logic circuit to be verified, and the path information is extracted from a long path and a delay which may cause a delay problem. Static circuit analysis processing that classifies the path as a short path regardless of the problem, formal verification analysis processing that extracts the cone group of the logic circuit using the structural information of the logic circuit, and the high-act area and long path where the long path passes through the cone group Performs circuit division processing to classify the data into low-act areas that do not pass, performs function verification without considering delay issues using verification patterns and logic circuit structure information, and stores information on verification patterns that pass through high-act areas as activity information Function verification processing, and a low pattern and a high-act area passing a high-act area through a verification pattern using activity information. A verification program that includes a verification pattern classification process of classifying an act pattern that does not pass through, and a delay verification process of performing a delay verification of a high-act region by using a low pattern as an input, and causing a computer to execute these processes. It is to be a computer-readable recording medium in which it is stored.

【0017】これにより、遅延問題に係わる領域にのみ
遅延検証処理を施し、全ての回路領域に対して機能検証
と遅延検証の重複作業を行う必要性がなくなるので、検
証に要する労力および時間を大幅に軽減することができ
る。
As a result, the delay verification process is performed only on the region related to the delay problem, and it is not necessary to perform the duplication work of the function verification and the delay verification on all the circuit regions, so that the labor and time required for the verification are greatly reduced. Can be reduced.

【0018】ここで、コンピュータ読み取り可能な記録
媒体としては、半導体メモリ、磁気ディスク、光ディス
ク、光磁気ディスク、磁気テープ、デジタルビデオディ
スク等を用いることが望ましい。
Here, as a computer-readable recording medium, it is desirable to use a semiconductor memory, a magnetic disk, an optical disk, a magneto-optical disk, a magnetic tape, a digital video disk, or the like.

【0019】また、検証領域がハイアクト領域であるか
否かに基づいて、検証手段を機能検証手段と遅延検証手
段とで自動的に切り換える検証手段切換え手段(処理)
が備えらていると好ましい。
Verification means switching means (processing) for automatically switching the verification means between the function verification means and the delay verification means based on whether or not the verification area is a high-act area.
Is preferably provided.

【0020】さらに、検証パターンを論理回路の仕様・
制御情報やテスタ解析情報に基づいて複数の検証パター
ンに分割する検証パターン分割手段が備えられているこ
とが望ましい。
Further, the verification pattern is defined by the specification of the logic circuit.
It is preferable that a verification pattern dividing unit for dividing the data into a plurality of verification patterns based on the control information and the tester analysis information be provided.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】始めに、図3、4を用いて、本明
細書中で用いる「ショートパス」、「ロングパス」、
「コーン」、「ハイアクト領域」、「ローアクト領
域」、「活性度情報」、「ローパターン」、「アクトパ
ターン」の語句について簡単に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, referring to FIGS. 3 and 4, "short path", "long path",
The terms “cone”, “high-act area”, “low-act area”, “activity information”, “low pattern”, and “act pattern” will be briefly described.

【0022】(ショートパス・ロングパス)本発明の実
施形態に係わる検証装置、検証方法および検証プログラ
ムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体にお
いては、静的回路解析を行うことにより、図3に示すよ
うなパス分布情報を収集し、その後、ユーザーにより指
定された許容遅延時間のマージン(指定マージン)値に
基づいて、パスを遅延問題を起こす可能性のあるものと
そうでないものとに分類する。本明細書中では、遅延問
題を起こす可能性のあるパスを「ロングパス」、遅延に
係わらないパスを「ショートパス」として定義し、パス
の分類を行っている。
(Short Pass / Long Pass) A verification device, a verification method, and a computer-readable recording medium storing a verification program according to the embodiment of the present invention are subjected to static circuit analysis, as shown in FIG. Then, based on a margin (designated margin) value of an allowable delay time designated by a user, the path is classified into those that may cause a delay problem and those that do not. In this specification, a path that may cause a delay problem is defined as a “long path” and a path that does not involve delay is defined as a “short path”, and the paths are classified.

【0023】(コーン、ハイアクト領域、ローアクト領
域)本発明の実施形態に係わる検証装置、検証方法およ
び検証プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能
な記録媒体においては、形式検証解析を行うことによ
り、図4(a)に示すような「コーン」群151a,
b,c,d,e,f,gを抽出し、さらに、抽出された
「コーン」群をロングパスが通過する「ハイアクト領
域」とロングパスが通過しない「ローアクト領域」とに
分類する。本明細書中で言う「コーン」とは、一般的な
形式検証解析により得られる「コーン」と同じ定義であ
り、同図に示すように、論理回路150上のレジスタ1
52a,b,c,d,e,f,g毎に定義された円錐状
の領域により、各レジスタに係わる遅延、入力情報を記
述している。したがって、この「コーン」に係わる情報
により、論理回路150の全領域における遅延、入力信
号に関する情報を記述することができるのである。そし
て、本明細書中では、遅延を起こす可能性のあるロング
パスが通過する「コーン」を「ハイアクト領域」、ロン
グパスが通過しない「コーン」を「ローアクト領域」と
して定義する。
(Cone, High-act Area, Low-act Area) In a computer-readable recording medium storing a verification device, a verification method, and a verification program according to the embodiment of the present invention, FIG. “corn” group 151a as shown in a),
b, c, d, e, f, and g are extracted, and the extracted “cone” group is further classified into a “high-act area” where a long path passes and a “low-act area” where a long path does not pass. The “cone” referred to in this specification has the same definition as the “cone” obtained by general formal verification analysis, and as shown in FIG.
52a, b, c, d, e, f, and the conical area defined for each, describe the delay and input information related to each register. Therefore, the information on the delay and the input signal in the entire area of the logic circuit 150 can be described by the information on the “cone”. In this specification, a “cone” that a long path that may cause a delay passes is defined as a “high-act area”, and a “cone” that a long path does not pass is defined as a “low-act area”.

【0024】(活性度情報、ローパターン、アクトパタ
ーン)本発明の実施形態に係わる検証装置、検証方法お
よび検証プログラムを格納したコンピュータ読み取り可
能な記録媒体においては、ハイアクト領域を通過する検
証パターンに関する情報を「活性度情報」として保存
し、「活性度情報」を用いて検証パターンをハイアクト
領域を通過する「ローパターン」とハイアクト領域を通
過しない「アクトパターン」とに分類する(図4(b)
参照)。
(Activity Information, Low Pattern, Act Pattern) In a computer-readable recording medium storing a verification device, a verification method, and a verification program according to an embodiment of the present invention, information on a verification pattern passing through a high-act area. Is stored as “activity information”, and the verification patterns are classified into “low pattern” passing through the high-act area and “act pattern” not passing through the high-act area using the “activity information” (FIG. 4B).
reference).

【0025】以下、図1乃至図5を用いて、本発明の実
施形態に係わる検証装置、検証方法および検証プログラ
ムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体につ
いて説明する。
A verification device, a verification method, and a computer-readable recording medium storing a verification program according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0026】始めに、図1を用いて、本発明の実施形態
に係わる検証装置の構成について説明する。
First, the configuration of the verification device according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0027】本発明の実施形態に係わる検証システム1
00は、論理回路の機能検証および遅延検証を行う検証
装置110と、検証装置110に係わる各種命令やデー
タを入力する入力装置130と、検証結果等の検証装置
110からの出力やエラー表示等を行う出力装置140
とを有し、さらに、検証装置110は、検証を行う論理
回路の構造および仕様情報を用いてパス情報を抽出し、
パス情報を遅延問題を起こす可能性のあるロングパスと
遅延問題に係わらないショートパスとに分類する静的回
路解析手段116と、論理回路の構造情報を用いて、論
理回路のコーン群を抽出する形式検証解析手段117
と、コーン群をロングパスが通過するハイアクト領域と
ロングパスが通過しないローアクト領域とに分類する回
路分割手段118と、検証パターンおよび論理回路の構
造情報を用いて遅延問題を考慮しない機能検証を行い、
ハイアクト領域を通過する検証パターンに関する情報を
活性度情報として保存する機能検証手段113と、検証
パターンを論理回路の仕様・制御情報やテスタ解析情報
に基づいて複数の検証パターンに分割する検証パターン
分割手段119、活性度情報を用いて検証パターンをハ
イアクト領域を通過するローパターンとハイアクト領域
を通過しないアクトパターンとに分類する検証パターン
分類手段120と、活性度情報等の検証に必要とする各
種データを格納する記憶手段121、ローパターンを入
力として遅延検証を行う遅延検証手段114と、検証領
域がハイアクト領域であるか否かに基づいて検証手段を
機能検証手段113と遅延検証手段114とで自動的に
切り換える検証手段切換え部115と、機能検証手段1
13が用いる各種データを格納する機能ライブラリ(記
憶手段)111と、遅延検証手段114が用いる各種デ
ータを格納するタイミングライブラリ(記憶手段)11
2を備える。
A verification system 1 according to an embodiment of the present invention
Reference numeral 00 denotes a verification device 110 for performing function verification and delay verification of a logic circuit, an input device 130 for inputting various commands and data related to the verification device 110, and an output from the verification device 110 such as a verification result and an error display. Output device 140
Further, the verification device 110 extracts path information using the structure and specification information of the logic circuit to be verified,
A static circuit analyzing means 116 for classifying path information into a long path which may cause a delay problem and a short path which does not relate to the delay problem, and a format for extracting a cone group of the logic circuit using the structure information of the logic circuit Verification analysis means 117
And a circuit dividing means 118 for classifying a cone group into a high-act area where a long path passes and a low-act area where a long path does not pass, and performs function verification without considering a delay problem using a verification pattern and structure information of a logic circuit,
Function verification means 113 for storing information on a verification pattern passing through a high-act area as activity information, and verification pattern division means for dividing the verification pattern into a plurality of verification patterns based on logic circuit specification / control information and tester analysis information 119, a verification pattern classifying means 120 for classifying a verification pattern into a low pattern passing through a high-act area and an act pattern not passing through a high-act area using the activity information, and various data necessary for verification of the activity information and the like. The storage means 121 for storing, the delay verification means 114 for performing the delay verification using the low pattern as an input, and the function verification means 113 and the delay verification means 114 for automatically verifying the verification means based on whether or not the verification area is a high-act area. Verification means switching section 115 for switching to function verification means 1
A function library (storage means) 111 for storing various data used by the device 13 and a timing library (storage means) 11 for storing various data used by the delay verification means 114
2 is provided.

【0028】次に、図2を用いて、本発明の実施形態に
係わる検証方法について説明する。
Next, a verification method according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0029】本発明の検証方法を用いて、論理回路の検
証を行う際は、 (1)(回路情報・論理合成制約入力、ステップS10
1)始めに、検証を行う論理回路の構造および仕様情報
(論理合成制約)を静的回路解析手段116に入力す
る。
When verifying a logic circuit using the verification method of the present invention, (1) (input circuit information / logic synthesis constraint, step S10
1) First, the structure and specification information (logic synthesis constraint) of the logic circuit to be verified are input to the static circuit analysis means 116.

【0030】(2)(静的回路解析、ステップS10
2)次に、静的回路解析を行い、図3に示すパス分布情
報を得る。
(2) (Static circuit analysis, step S10)
2) Next, a static circuit analysis is performed to obtain the path distribution information shown in FIG.

【0031】(3)(パス情報分類、ステップS10
3)続いて、パス分布情報を、遅延問題を起こす可能性
のあるロングパスと遅延問題に係わらないショートパス
とに分類する。
(3) (Path Information Classification, Step S10)
3) Subsequently, the path distribution information is classified into a long path which may cause a delay problem and a short path which does not relate to the delay problem.

【0032】(4)(形式検証解析、ステップS10
4)次に、検証を行う論理回路の構造情報を用いて形式
検証解析を行い、論理回路のコーン群を抽出する。
(4) (Format verification analysis, step S10
4) Next, formal verification analysis is performed using the structural information of the logic circuit to be verified, and a cone group of the logic circuit is extracted.

【0033】(5)(回路分割処理、ステップS10
5)次に、コーン群を、ロングパスが通過するハイアク
ト領域とロングパスが通過しないローアクト領域とに分
類する。
(5) (Circuit division processing, step S10)
5) Next, the cone group is classified into a high-act area where the long path passes and a low-act area where the long path does not pass.

【0034】(6)(機能検証、ステップS106)続
いて、検証パターンおよび論理回路の構造情報を用い
て、遅延問題を考慮しない機能検証を行い、ハイアクト
領域を通過する検証パターンに関する情報を活性度情報
として保存する。
(6) (Function Verification, Step S106) Subsequently, function verification without considering the delay problem is performed by using the verification pattern and the structure information of the logic circuit, and the information on the verification pattern passing through the high-act area is converted into the activity level. Save as information.

【0035】(7)(検証パターン分割処理、ステップ
S107)次に、論理回路の仕様制御情報やテスタ解析
データ等のDRC(Design Rule Check)結果情報を用い
て入力された検証パターンをさらに複数の検証パターン
に分割する。
(7) (Verification Pattern Division Processing, Step S107) Next, the verification pattern input using the DRC (Design Rule Check) result information such as the specification control information of the logic circuit and the tester analysis data is further divided into a plurality of verification patterns. Divide into verification patterns.

【0036】(8)(検証パターン分類処理、ステップ
S108)続いて、活性度情報を用い、超大パターンの
時分割・リセット信号等の非同期パターンのグループ化
を考慮して、複数の検証パターンをハイアクト領域を通
過するローパターンとハイアクト領域を通過しないアク
トパターンとに分類する。
(8) (Verification Pattern Classification Processing, Step S108) Subsequently, a plurality of verification patterns are high-acted by using the activity information and taking into account the grouping of asynchronous patterns such as time-division / reset signals of very large patterns. It is classified into a low pattern that passes through the area and an act pattern that does not pass through the high-act area.

【0037】(9)(検証領域判別、ステップS10
9)次に、検証を行う論理回路領域がハイアクト領域で
あるか否か判別する。
(9) (Verification area discrimination, step S10)
9) Next, it is determined whether the logic circuit area to be verified is a high-act area.

【0038】検証領域はハイアクト領域 → (遅延検
証、ステップS110)へ 検証領域はローアクト領域 → 遅延解析を行う必要が
ないとして検証終了 (10)(遅延検証、ステップS110)最後に、ロー
パターンを検証パターンとして入力し、ハイアクト領域
の遅延検証を行い、サインオフを行う。
The verification area goes to the high-act area → (delay verification, step S110). The verification area goes to the low-act area → verification is completed because it is not necessary to perform delay analysis. (10) (delay verification, step S110) Finally, the low pattern is verified. Input as a pattern, perform delay verification of the high-act area, and perform sign-off.

【0039】ここで、(検証パターン分割処理、ステッ
プS107)は必ずしも行わなくても良い。すなわち、
この検証パターン分割処理は、検証パターンをより多く
することにより、より詳細な検証を可能にするステップ
であるので、検証精度が多少低くともより高速な検証を
行いたい時には、このステップを省くことにより検証に
要する時間を削減することができる。
Here, (verification pattern division processing, step S107) may not be necessarily performed. That is,
This verification pattern division processing is a step that enables more detailed verification by increasing the number of verification patterns. Therefore, when it is desired to perform higher-speed verification even if the verification accuracy is somewhat low, this step can be omitted. The time required for verification can be reduced.

【0040】尚、本発明の実施形態に係わる検証システ
ム100は、例えば、図5に示すような概観を有する。
つまり、本発明の実施形態に係わる検証装置110をコ
ンピュータシステム160内に検証装置の各要素を内蔵
することにより構成される。コンピュータシステム16
0は、フロッピーディスクドライブ161および光ディ
スクドライブ163を備えている。そして、フロッピー
ディスクドライブ161に対してはフロッピーディスク
162、光ディスクドライブ163に対しては光ディス
ク164をそれぞれ挿入し、所定の読み出し操作を行う
ことにより、これらの記録媒体に格納された検証プログ
ラムをコンピュータシステム160内にインストールす
ることができる。また、適当なドライブ装置をコンピュ
ータシステム160に接続することにより、例えば、メ
モリ装置の役割を担うROM165や、磁気テープ装置
の役割を担うカートリッジ166を用いて、検証プログ
ラムのインストールを実行することも可能である。
The verification system 100 according to the embodiment of the present invention has, for example, an appearance as shown in FIG.
That is, the verification device 110 according to the embodiment of the present invention is configured by incorporating each element of the verification device in the computer system 160. Computer system 16
0 has a floppy disk drive 161 and an optical disk drive 163. Then, the floppy disk 162 is inserted into the floppy disk drive 161, and the optical disk 164 is inserted into the optical disk drive 163, and a predetermined read operation is performed. 160. In addition, by connecting an appropriate drive device to the computer system 160, the verification program can be installed using, for example, the ROM 165 serving as a memory device or the cartridge 166 serving as a magnetic tape device. It is.

【0041】また、本発明の実施形態に係わる検証装置
110は、プログラム化しコンピュータ読み取り可能な
記録媒体内に格納しても良い。そして、検証プログラム
を実行する際は、この記録媒体をコンピュータシステム
に読み込ませ、コンピュータシステム内のメモリ等の記
録部に検証プログラムを格納し、検証プログラム中の処
理を実行させることにより、本発明の実施形態に係わる
検証装置およびその方法をコンピュータシステム上で実
現することができる。ここで、記録媒体とは、例えば、
半導体メモリ、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディ
スク、磁気テープ、デジタルビデオディスク等、プログ
ラムを記録することができるコンピュータ読み取り可能
な媒体を意味する。
The verification device 110 according to the embodiment of the present invention may be programmed and stored in a computer-readable recording medium. When the verification program is executed, the recording medium is read into a computer system, the verification program is stored in a recording unit such as a memory in the computer system, and the processing in the verification program is executed. The verification device and the method according to the embodiment can be realized on a computer system. Here, the recording medium is, for example,
It refers to a computer-readable medium on which a program can be recorded, such as a semiconductor memory, a magnetic disk, an optical disk, a magneto-optical disk, a magnetic tape, and a digital video disk.

【0042】このように、本発明はここでは記載してい
ない様々な実施の形態を包含するということは十分に理
解すべきである。したがって、本発明はこの開示から妥
当な特許請求の範囲に係わる発明特定事項によってのみ
限定されるものでなければならない。
Thus, it should be appreciated that the present invention encompasses various embodiments not described herein. Therefore, the present invention must be limited only by the matters specifying the invention according to the claims that are reasonable from this disclosure.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上述べてきたように、本発明の検証装
置によれば、論理検証と遅延検証に用いるモジュールを
独立に備え、機能検証処理を行い、論理回路を遅延問題
に係わる領域と係わらない領域に分類した後に、遅延問
題に係わる領域にのみ遅延検証処理を施すので、遅延検
証の必要がない領域まで機能検証と遅延検証の双方を行
うことがなく、検証に要する労力および時間を大幅に軽
減することができるのである。また、検証領域がハイア
クト領域であるか否かに基づいて機能検証手段と遅延検
証手段を自動的に切り換えることができるので、始めて
の検証時から検証手段の切換えを行い、より効率的な検
証を行うことができる。
As described above, according to the verification apparatus of the present invention, the modules used for the logic verification and the delay verification are independently provided, the function verification process is performed, and the logic circuit is connected to the area related to the delay problem. Since the delay verification process is performed only on the area related to the delay problem after being classified into the area where no delay verification is required, both the function verification and the delay verification are not performed until the area where the delay verification is not necessary. It can be reduced to In addition, since the function verification means and the delay verification means can be automatically switched based on whether or not the verification area is a high-act area, the verification means is switched from the first verification to perform more efficient verification. It can be carried out.

【0044】また、本発明の検証方法によれば、機能検
証処理を行い、論理回路を遅延問題に係わる領域と係わ
らない領域に分類し、遅延問題に係わる領域にのみ遅延
検証処理を施すので、その必要がない領域まで機能検証
と遅延検証の双方を行うことがないので、検証に要する
労力および時間を大幅に軽減することができるのであ
る。
Further, according to the verification method of the present invention, the function verification processing is performed, the logic circuit is classified into a region related to the delay problem and a region not related to the delay problem, and the delay verification process is performed only on the region related to the delay problem. Since both the function verification and the delay verification are not performed in an area where the verification is not necessary, the labor and time required for the verification can be greatly reduced.

【0045】さらに、本発明の検証プログラムを格納し
たコンピュータ読み取り可能な記録媒体によれば、機能
検証処理を行い、論理回路を遅延問題に係わる領域と係
わらない領域に分類した後に、遅延問題に係わる領域に
のみ遅延検証処理を施すので、遅延検証の必要がない領
域まで機能検証処理と遅延検証処理の双方を行うことが
なく、検証に要する労力および時間を大幅に軽減するこ
とができる。また、検証領域がハイアクト領域であるか
否かに基づいて機能検証処理と遅延検証処理を自動的に
切り換えることができるので、始めての検証時から検証
処理の切換えを行い、より効率的な検証を行うことがで
きる。
Further, according to the computer-readable recording medium storing the verification program of the present invention, the function verification process is performed, and the logic circuit is classified into a region related to the delay problem and a region not related to the delay problem. Since the delay verification process is performed only on the region, both the function verification process and the delay verification process are not performed up to the region where the delay verification is not necessary, and the labor and time required for the verification can be greatly reduced. In addition, since the function verification processing and the delay verification processing can be automatically switched based on whether the verification area is the high-act area, the verification processing is switched from the first verification, and more efficient verification is performed. It can be carried out.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係わる検証システムの構成
を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a verification system according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施形態に係わる検証方法を示すフロ
ーチャート図である。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a verification method according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施形態に係わるパス分類方法を説明
するための図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining a path classification method according to the embodiment of the present invention.

【図4】本発明で用いる概念を説明するための図であ
る。
FIG. 4 is a diagram for explaining a concept used in the present invention.

【図5】本発明の実施形態に係わる検証システムの概観
を示す模式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an overview of a verification system according to an embodiment of the present invention.

【図6】典型的な論理回路の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of a typical logic circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 全体論理回路 2 論理回路 3 アナログ回路 4 人手作製回路 100 検証システム 110 検証装置 111 機能ライブラリ 112 タイミングライブラリ 113 機能検証手段 114 遅延検証手段 115 検証手段切換え部 116 静的回路解析手段 117 形式検証解析手段 118 回路分割手段 119 検証パターン分割手段 120 検証パターン分類手段 121 記憶手段 130 入力装置 140 出力装置 150 論理回路 151a,b,c,d,e,f,g,h コーン 152a,b,c,d,e,f,g レジスタ 160 コンピュータシステム 161 フロッピーディスクドライブ 162 フロッピーディスク 163 光ディスクドライブ 164 光ディスク 165 ROM 166 カートリッジ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Whole logic circuit 2 Logic circuit 3 Analog circuit 4 Manual circuit 100 Verification system 110 Verification device 111 Function library 112 Timing library 113 Function verification means 114 Delay verification means 115 Verification means switching unit 116 Static circuit analysis means 117 Format verification analysis means 118 circuit dividing means 119 verification pattern dividing means 120 verification pattern classification means 121 storage means 130 input device 140 output device 150 logic circuit 151a, b, c, d, e, f, g, h cones 152a, b, c, d, e, f, g register 160 computer system 161 floppy disk drive 162 floppy disk 163 optical disk drive 164 optical disk 165 ROM 166 cartridge

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 論理検証と遅延検証に用いるモジュール
を独立に備え、 検証を行う論理回路を遅延問題に係わる領域と係わらな
い領域に分類し、 前記遅延問題に係わる領域のみ前記遅延検証を行うこと
を特徴とする検証方法。
1. A module used for logic verification and delay verification are provided independently, and a logic circuit to be verified is classified into a region related to a delay problem and a region not related to the delay problem, and the delay verification is performed only in a region related to the delay problem. A verification method characterized by the following.
【請求項2】 前記論理検証は、前記遅延問題の有無に
係わらず行い、前記論理検証後に前記遅延検証を行うこ
とを特徴とする請求項1に記載の検証方法。
2. The verification method according to claim 1, wherein the logic verification is performed regardless of the existence of the delay problem, and the delay verification is performed after the logic verification.
【請求項3】 検証を行う論理回路の構造および仕様情
報を用いて、当該論理回路のパス情報を抽出し、当該パ
ス情報を遅延問題を起こす可能性のあるロングパスと遅
延問題に係わらないショートパスとに分類する静的回路
解析手段と、 前記論理回路の構造情報を用いて、当該論理回路のコー
ン群を抽出する形式検証解析手段と、 前記コーン群を、前記ロングパスが通過するハイアクト
領域と前記ロングパスが通過しないローアクト領域とに
分類する回路分割手段と、 検証パターンおよび前記論理回路の構造情報を用いて、
遅延問題を考慮しない機能検証を行い、前記ハイアクト
領域を通過する検証パターンに関する情報を活性度情報
として保存する機能検証手段と、 前記活性度情報を用いて、前記検証パターンを、前記ハ
イアクト領域を通過するローパターンと前記ハイアクト
領域を通過しないアクトパターンとに分類する検証パタ
ーン分類手段と、 前記ローパターンを入力として前記ハイアクト領域の遅
延検証を行う遅延検証手段とを備えることを特徴とする
検証装置。
3. The path information of a logic circuit to be verified is extracted using the structure and specification information of the logic circuit to be verified, and the path information is converted into a long path which may cause a delay problem and a short path which does not relate to the delay problem. Static circuit analysis means for classifying the logic circuit into: a formal verification analysis means for extracting a cone group of the logic circuit using structural information of the logic circuit; a high-act area through which the long path passes through the cone group; and A circuit dividing means for classifying the circuit into a low-act area through which a long path does not pass; and using a verification pattern and structural information of the logic circuit,
A function verification unit that performs function verification without considering a delay problem and stores information regarding a verification pattern passing through the high-act area as activity information; and using the activity information, passes the verification pattern through the high-act area. A verification pattern classifying means for classifying a low pattern to be performed and an act pattern which does not pass through the high-act area; and a delay verification means for performing delay verification of the high-act area by inputting the low pattern.
【請求項4】 検証を行う論理回路の構造および仕様情
報を用いて、当該論理回路のパス情報を抽出する静的回
路解析ステップと、 前記パス情報を、遅延問題を起こす可能性のあるロング
パスと遅延問題に係わらないショートパスとに分類する
パス分類ステップと、 前記論理回路の構造情報を用いて、当該論理回路のコー
ン群を抽出する形式検証解析ステップと、 前記コーン群を、前記ロングパスが通過するハイアクト
領域と前記ロングパスが通過しないローアクト領域とに
分類する回路分割ステップと、 検証パターンおよび前記論理回路の構造情報を用いて、
遅延問題を考慮しない機能検証を行い、前記ハイアクト
領域を通過する検証パターンに関する情報を活性度情報
として保存する機能検証ステップと、 前記活性度情報を用いて、前記検証パターンを、前記ハ
イアクト領域を通過するローパターンと前記ハイアクト
領域を通過しないアクトパターンとに分類する検証パタ
ーン分類ステップと、 前記ローパターンを入力として前記ハイアクト領域の遅
延検証を行う遅延検証ステップとからなることを特徴と
する検証方法。
4. A static circuit analysis step of extracting path information of a logic circuit using a structure and specification information of the logic circuit to be verified, and converting the path information into a long path that may cause a delay problem. A path classification step of classifying the path into a short path not related to a delay problem; a formal verification analysis step of extracting a cone group of the logic circuit by using the structure information of the logic circuit; and the long path passing through the cone group. Using a verification pattern and the structure information of the logic circuit to classify the high-act area and the low-act area through which the long path does not pass.
A function verification step of performing function verification without considering a delay problem and storing information on a verification pattern passing through the high-act area as activity information; and passing the verification pattern through the high-act area using the activity information. A verification pattern classification step of classifying into a low pattern to be performed and an act pattern that does not pass through the high-act area, and a delay verification step of performing delay verification of the high-act area by using the low pattern as an input.
【請求項5】 検証を行う論理回路の構造および仕様情
報を用いて、当該論理回路のパス情報を抽出し、当該パ
ス情報を遅延問題を起こす可能性のあるロングパスと遅
延問題に係わらないショートパスとに分類する静的回路
解析処理と、 前記論理回路の構造情報を用いて、当該論理回路のコー
ン群を抽出する形式検証解析処理と、 前記コーン群を、前記ロングパスが通過するハイアクト
領域と前記ロングパスが通過しないローアクト領域とに
分類する回路分割処理と、 検証パターンおよび前記論理回路の構造情報を用いて、
遅延問題を考慮しない機能検証を行い、前記ハイアクト
領域を通過する検証パターンに関する情報を活性度情報
として保存する機能検証処理と、 前記活性度情報を用いて、前記検証パターンを、前記ハ
イアクト領域を通過するローパターンと前記ハイアクト
領域を通過しないアクトパターンとに分類する検証パタ
ーン分類処理と、 前記ローパターンを入力として前記ハイアクト領域の遅
延検証を行う遅延検証処理とを含み、これらの処理をコ
ンピュータに実行させることを特徴とする検証プログラ
ムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
5. The path information of a logic circuit to be verified is extracted using the structure and specification information of the logic circuit to be verified, and the path information is converted into a long path which may cause a delay problem and a short path which does not relate to the delay problem. A static circuit analysis process that classifies the logic circuit into: a formal verification analysis process for extracting a cone group of the logic circuit using the structure information of the logic circuit; and a high-act area through which the long path passes through the cone group. Using a circuit partitioning process for classifying into a low-act area that does not pass through a long path, and using a verification pattern and structural information of the logic circuit,
A function verification process that does not consider a delay problem and stores information on a verification pattern passing through the high-act area as activity information, and passing the verification pattern through the high-act area using the activity information A verification pattern classification process of classifying a low pattern to be performed and an act pattern that does not pass through the high-act region, and a delay verification process of performing delay verification of the high-act region by using the low pattern as an input, and execute these processes on a computer. A computer-readable recording medium storing a verification program.
【請求項6】 検証領域がハイアクト領域であるか否か
に基づいて、検証手段を前記機能検証手段と前記遅延検
証手段とで自動的に切り換える検証手段切換え部を有す
ることを特徴とする請求項3に記載の検証装置。
6. A verification means switching unit for automatically switching a verification means between the function verification means and the delay verification means based on whether a verification area is a high-act area. 3. The verification device according to 3.
【請求項7】 検証領域がハイアクト領域であるか否か
に基づいて、検証手段を前記機能検証手段と前記遅延検
証手段とで自動的に切り換える検証手段切換え処理を含
み、この処理をコンピュータに実行させることを特徴と
する請求項5に記載の検証プログラムを格納したコンピ
ュータ読み取り可能な記録媒体。
7. A verification unit switching process for automatically switching a verification unit between the function verification unit and the delay verification unit based on whether or not the verification region is a high-act region, and executes this process on a computer. A computer-readable recording medium storing the verification program according to claim 5.
【請求項8】 前記検証パターンを前記論理回路の仕様
・制御情報やテスタ解析情報に基づいて複数の検証パタ
ーンに分割する検証パターン分割手段を備えることを特
徴とする請求項3、6に記載の検証装置。
8. The apparatus according to claim 3, further comprising a verification pattern dividing unit that divides the verification pattern into a plurality of verification patterns based on specification / control information of the logic circuit and tester analysis information. Verification device.
【請求項9】 前記検証パターンを前記論理回路の仕様
・制御情報やテスタ解析情報に基づいて複数の検証パタ
ーンに分割する検証パターン分割ステップを備えること
を特徴とする請求項4に記載の検証方法。
9. The verification method according to claim 4, further comprising a verification pattern dividing step of dividing the verification pattern into a plurality of verification patterns based on specification / control information and tester analysis information of the logic circuit. .
【請求項10】 前記検証パターンを前記論理回路の仕
様・制御情報やテスタ解析情報に基づいて複数の検証パ
ターンに分割する検証パターン分割処理を含み、この処
理をコンピュータに実行させることを特徴とする請求項
5、7に記載の検証プログラムを格納したコンピュータ
読み取り可能な記録媒体。
10. A process for dividing a verification pattern into a plurality of verification patterns based on specification / control information and tester analysis information of the logic circuit, and causing a computer to execute this process. A computer-readable recording medium storing the verification program according to claim 5.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007233550A (en) * 2006-02-28 2007-09-13 Fujitsu Ltd Delay analysis program, recording medium recorded with this program, delay analysis method and delay analysis device
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