JP2000241445A - ばね探針及びばね探針の胴体 - Google Patents

ばね探針及びばね探針の胴体

Info

Publication number
JP2000241445A
JP2000241445A JP11347313A JP34731399A JP2000241445A JP 2000241445 A JP2000241445 A JP 2000241445A JP 11347313 A JP11347313 A JP 11347313A JP 34731399 A JP34731399 A JP 34731399A JP 2000241445 A JP2000241445 A JP 2000241445A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
crown
spring probe
plunger
spring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11347313A
Other languages
English (en)
Inventor
Gordon A Vinther
エー.ビンサー ゴードン
James A Buccini Sr
エー.ブッチーニ,シニア ジェイムス
Kenneth Grendziszewski
グレンジスズースキ ケネス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Delaware Capital Formation Inc
Capital Formation Inc
Original Assignee
Delaware Capital Formation Inc
Capital Formation Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Delaware Capital Formation Inc, Capital Formation Inc filed Critical Delaware Capital Formation Inc
Publication of JP2000241445A publication Critical patent/JP2000241445A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2464Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the contact point
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 接触圧力を増大したばね探針のクラウン形状
の接触子胴体構造を提供する。 【解決手段】 ばね探針110の胴体112が管状の本
体と、胴体112の分離した点接触子144のためのク
ラウン形状の終端部140とを有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電気接触探針に関
し、さらに詳細には診断又は試験装置と試験される電気
装置との間に電気接触子を設けるような電気試験用に使
用されるばね付勢の接触探針のための胴体構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図1と2は印刷回路板(PCB)その他
のような電気装置において連続診断試験を行うのに用い
られる普通に構成された従来のばね探針を示す。この従
来のばね探針10は部分的に閉鎖された端子端14と開
放されたプランジャー端部16とを有する円筒形の管の
形状に構成された胴体12を具備している。プランジャ
ー18が胴体内部にその一部が配置されまたプランジャ
ーの一端部22に第1の半径方向に延びる軸受部分20
を具備している。プランジャーはまたその反対側端部に
頭部すなわち先端部分24を含んでいる。頭部は試験時
に印刷回路板と電気接触ができるように構成されてい
る。プランジャー18はさらに頭部24から第1の軸受
部分20に向って軸方向に延びる細長い第2の軸受部分
26を具備している。第1及び第2の軸受部分の間にプ
ランジャーの細長い中間部分28がある。第1及び第2
の軸受部分20と26とが胴体の内径面30と摺動接触
することによりプランジャーはプランジャーの頭部と印
刷回路板との接触時に胴体内部をその軸方向に走行する
よう案内される。
【0003】プランジャー18はその一部が胴体12の
内部に配置されそれにより第1の軸受部分20と変動す
る長さの第2の軸受部分26とが使用時プランジャーが
胴体に入ったり出たりするよう往復動するとき胴体の内
径面30に近接するようになっている。胴体は、胴体の
中心部分に向って所定距離延出しプランジャー18の第
1の軸受部分20を胴体内部に保持するストッパーとし
て作用するかしめ部分32を含んでいる。
【0004】コイルばね34が胴体12の内部に配設さ
れ胴体の部分的に閉鎖された終端部14とプランジャー
の端部部分22との間に位置している。ボール36が胴
体内部に部分閉鎖端部14とばね34の隣接端部部分と
の間に配置される。頭部24が試験時印刷回路板部分と
接触すると、プランジャーは胴体の中へと軸方向に摺動
し、プランジャーの端部部分22を胴体の部分閉鎖終端
部14に向って走行させまたばねを圧縮する。この圧縮
に抵抗するばねの作用はプランジャー頭部24による印
刷回路板への同時かつ反対方向のばね力を生じ、それに
よりプランジャーと印刷回路板との間の機械的に与えら
れた弾性接触のもとに電気的な接触が得られるようにす
る。
【0005】ばね探針を小さなピン又は探針パッド(図
示しない)に接触させる方法は表面取付け技術を含んで
いる。この表面取付け連結において、ばね探針の部分閉
鎖の終端部は探針パッド又は小ピン上に探針の非圧縮状
態で乗り、また探針の圧縮状態ではこの終端部は探針パ
ッド又は小ピンに当接して圧縮され電気接続を形成す
る。
【0006】この表面取付けばね探針構造に関する問題
点は接触表面における胴体の終端部の単位面積当りの圧
力が比較的大きな表面積の接触のため低いということで
ある。この単位面積当りの低い力は、特に小ピン又は探
針プレートに表面の不備が存在する時に胴体と小ピン又
は探針パッドとの間の電気的接触を弱くすることにな
る。従来の構造では、ばね探針の終端部はドーナツ形状
となっている。圧力は面積に対する力に等しいので、圧
力の大きさは面積の大きさに反比例する。ばね探針の終
端部のドーナツ形状は比較的大きな接触表面積を形成
し、そのため探針パッドに対し単位面積当り比較的小さ
な接触圧力を生じることになる。この結果単位面積当り
の力を増大させる胴体の終端部構造が必要となる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題と課題を解決するための
手段】本発明は新しく構成された胴体構造を提供し、そ
して詳細にはばね探針の終端部と探針パッド又は小ピン
との間の接触子の単位面積を減少させることにより単位
面積当りの力を増大させるばね探針のためのクラウン形
状の接触子胴体構造を提供する。
【0008】管状胴体が中空の内部と胴体の一端部のプ
ランジャー端部と胴体の他端部の終端部とを有してい
る。終端部は円形断面の引出し開口とこの円形開口に一
体に形成されたクラウン形状の接触子とを有する。好ま
しくは先をとがらせた突起を含むクラウン形状の接触子
のいくつかの形状が考えられ、多数の三角形の形状が終
端部の周りに端と端とをつないで配置され、三角形形状
ほど好ましくはないが、円形の縁の周りに間隔をおいて
配された正方形の波形形状、円形の縁に沿った波形、又
は縁の周りの丸い形状を有している。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明のこれらのまた他の特徴と
利点は本発明が明細書と特許請求の範囲と図面とを参照
してより良く理解されるにしたがって、理解されるよう
になるであろう。
【0010】図1と2に示される従来技術におけるよう
に、図3と4に示される本発明の第1の実施態様のばね
探針110は印刷回路板その他のような電気装置で連続
診断電気試験を行うのに用いられる。ばね探針110は
終端部140と開放プランジャー端部116とを有する
円筒管の形状に構成された胴体112を具備している。
プランジャー118が胴体内部に部分的に配設され、プ
ランジャーの一方の端部の軸受部分と反対側端部の頭部
又は先端部分とを含んでいる。頭部は試験時印刷回路板
との電気的接触に適合するよう構成されている。
【0011】胴体は胴体の中心部分に向って所定距離だ
け延出しかつ胴体内部に位置するプランジャー118の
軸受部分を保持するストッパとして作用するかしめ部分
(図示しない)を含んでいる。
【0012】コイルばね134が胴体112の内部に配
設され胴体の終端部140とプランジャーの端部との間
に位置している。ボール136を終端部140とばね1
34の隣接端部分との間に配設することができる。
【0013】終端部140の胴体112の内径面130
がボール136を所定位置に保持するようになっている
球の半径を有している。終端部は引出し部分132を有
し、引出し部分132は内径130より小さい直径を有
する引出し部分の端部の円形開口141を区画形成して
いる。接触歯142が円形開口141の周りで引出し部
分132に切込まれ胴体のための分離した点接触子14
4を提供する。
【0014】この実施態様では終端部140が探針パッ
ド又は小ピン(図示しない)と接触するための4つの先
をとがらせた接触歯を含んでいる。これら接触歯は好ま
しくは図3に示されるように円形開口141の周面の周
りに配置された三角形である。
【0015】接触歯は胴体と小ピンとの間に点接触を生
じる2つの接触歯という少ない数とすることができ、又
は図11と12に示されるような多数の点接触子とする
ことができる。しかし、過剰に多い点接触子が胴体に形
成された場合は、この増加した面積が接触圧力を減少さ
せることになる。好ましくは4つの鋭利な先端が安定し
た接触面積にとって望ましく、また製造上経済的であ
る。
【0016】胴体の終端部の他の幾何学的構造もまた本
発明によって意図される。図5は胴体212の終端部2
40に複数の波形接触歯242を有するばね探針210
の第1の変更クラウン形状接触子胴体構造の端面図であ
る。図5と6に示されるように、接触歯142が波形に
形成され、相互に離間して配された複数の正方形が終端
部240の円形開口241に沿って引出し部分232に
切込まれている。
【0017】図7は胴体312の終端部340に複数の
波形接触歯342を有するばね探針310の第2の変更
クラウン形状接触子胴体構造の端面図である。図7と8
に示されるように、接触歯342が、相互に離間して配
された波形でありそして終端部340の円形開口341
に沿って引出し部分332に切込まれている。
【0018】図9は胴体412の終端部440に複数の
接地された接触歯442を有するばね探針410の第3
の変更クラウン形状接触子胴体構造の端面図である。図
9と10に示されるように、接触歯442は丸くされた
形状でありまた相互に離間して配され終端部440の円
形開口441に沿って引出し部分432に切込まれてい
る。
【0019】図11は胴体512の終端部540に複数
のより小さな三角形の接触歯542を有するばね探針5
10の第4の変更クラウン形状接触子胴体構造の端面図
である。図11と12に示されるように、接触歯542
は相互に離間して配され終端部540の円形開口541
に沿って引出し部分532に切込まれている。胴体の終
端部の全ての幾何学構造におけるように、本発明の目的
は胴体と探針又は小ピンとの間の接触面積を減少させる
ことにより単位面積当りの接触力を増大させることであ
る。
【0020】本発明はその様々な実施態様について記載
されまた図示されているが、変更及び変形が特許請求の
範囲に記載されているように本発明の意図する範囲のも
のであるため、これら実施態様に限定されないことが理
解されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の大きな力のばね探針の切断側面図であ
る。
【図2】ばねの一部が仮想線で示される図1の大きな力
のばね探針の切断側面図である。
【図3】本発明の好適な実施態様による先をとがらせた
突起を有するばね探針のクラウン形状の接触子胴体構造
の端面図である。
【図4】図3の3−3線に沿ったばね探針のクラウン形
状の接触子胴体構造の切断部分側面図である。
【図5】本発明の第1の変更実施態様による波形突起を
有するばね探針のクラウン形状の接触子胴体構造の端面
図である。
【図6】図5のばね探針のクラウン形状の接触子胴体構
造の6−6線に沿った切断部分側面図である。
【図7】本発明の第2の変更実施態様による波形突起を
有するばね探針のクラウン形状の接触子胴体構造の端面
図である。
【図8】図7のばね探針のクラウン形状の接触子胴体構
造の8−8線に沿った切断部分側面図である。
【図9】本発明の第3の変更実施態様による丸い突起を
有するばね探針のクラウン形状の接触子胴体構造の端面
図である。
【図10】図9のばね探針のクラウン形状の接触子胴体
構造の10−10線に沿った切断部分側面図である。
【図11】本発明の第4の変更実施態様による多数の突
起を有するばね探針のクラウン形状の接触子胴体構造の
端面図である。
【図12】図11のばね探針のクラウン形状の接触子胴
体構造の12−12線に沿った切断部分側面図である。
【符号の説明】
110,210,310,410,510…ばね探針 112,212,312,412,512…胴体 116…開放プランジャー端部 118…プランジャー 130…内径面 132,232,332,432,532…引出し部分 134…コイルばね 136…ボール 140,240,340,440,540…終端部 141,241,341,441,541…円形開口 142,242,342,442,542…接触歯 144…点接触子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジェイムス エー.ブッチーニ,シニア アメリカ合衆国,コネチカット 06779, オークビル,フォールズ テラス 84−エ ー (72)発明者 ケネス グレンジスズースキ アメリカ合衆国,コネチカット 06782, プリマス,ノース ストリート 436

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 管状本体を具備し、該管状本体が胴体の
    分離した点接触のためのクラウン形状の終端部を有して
    いるばね探針の胴体。
  2. 【請求項2】 クラウン形状の終端部が該終端部の周囲
    の周りに延出する複数の接触歯を含んでいる請求項1に
    記載の胴体。
  3. 【請求項3】 接触歯が三角形である請求項2に記載の
    胴体。
  4. 【請求項4】 接触歯が波形に形成されている請求項2
    に記載の胴体。
  5. 【請求項5】 接触歯が丸くなっている請求項2に記載
    の胴体。
  6. 【請求項6】 接触歯が波状である請求項2に記載の胴
    体。
  7. 【請求項7】 管状の本体部分と、 該本体部分の一方の端部に位置するプランジャー開口
    と、 少なくとも2つの接触歯を有する、プランジャー開口と
    は反対側の本体部分の一端に位置する終端部、 とを具備しているばね探針の胴体。
  8. 【請求項8】 接触歯が三角形である請求項7に記載の
    胴体。
  9. 【請求項9】 接触歯が波形に形成されている請求項7
    に記載の胴体。
  10. 【請求項10】 接触歯が丸くなっている請求項7に記
    載の胴体。
  11. 【請求項11】 接触歯が波状である請求項7に記載の
    胴体。
  12. 【請求項12】 管状の胴体を具備するばね探針であっ
    て、管状の胴体が、 中空の内部と、 胴体の一端部のプランジャー端部と、 胴体の反対側端部の終端部であって、円形の縁を有する
    開口と該開口の円形の縁に一体に形成されたクラウン形
    状の接触子とを有している、胴体の終端部と、 胴体の内部に配設されたプランジャーと、 胴体の内部でプランジャーと胴体の終端部との間に配設
    されたプランジャー制御ばね、 とを有しているばね探針。
  13. 【請求項13】 クラウン形状の接触子が複数の三角形
    状の突起である請求項12に記載のばね探針。
  14. 【請求項14】 クラウン形状の接触子が円形の縁の周
    囲の周りに離間して配された4つの三角形の突起である
    請求項13に記載のばね探針。
  15. 【請求項15】 クラウン形状の接触子が複数の波形の
    突起である請求項12に記載のばね探針。
  16. 【請求項16】 クラウン形状の接触子が複数の波状突
    起である請求項12に記載のばね探針。
  17. 【請求項17】 クラウン形状の接触子が複数の丸い突
    起である請求項12に記載のばね探針。
JP11347313A 1999-02-19 1999-12-07 ばね探針及びばね探針の胴体 Pending JP2000241445A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/253390 1999-02-19
US09/253,390 US6377059B2 (en) 1999-02-19 1999-02-19 Crown shaped contact barrel configuration for spring probe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000241445A true JP2000241445A (ja) 2000-09-08

Family

ID=22960077

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11347313A Pending JP2000241445A (ja) 1999-02-19 1999-12-07 ばね探針及びばね探針の胴体

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6377059B2 (ja)
JP (1) JP2000241445A (ja)
DE (1) DE10007399B4 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013205191A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Nidai Seiko:Kk スプリングプローブおよびスプリングプローブの製造方法

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6331836B1 (en) * 2000-08-24 2001-12-18 Fast Location.Net, Llc Method and apparatus for rapidly estimating the doppler-error and other receiver frequency errors of global positioning system satellite signals weakened by obstructions in the signal path
US20020074640A1 (en) * 2000-12-20 2002-06-20 Gamboa Rodolfo I. Semiconductor test socket having pogo-pin contacts
DE10228441B4 (de) * 2001-07-11 2005-09-08 Peter Wolters Werkzeugmaschinen Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Beladen einer Doppelseiten-Poliermaschine mit Halbleiterscheiben
US6781390B2 (en) * 2001-07-20 2004-08-24 Nhk Spring Co., Ltd. Conductive coil contact member
US6685492B2 (en) * 2001-12-27 2004-02-03 Rika Electronics International, Inc. Sockets for testing electronic packages having contact probes with contact tips easily maintainable in optimum operational condition
JP3899075B2 (ja) * 2002-03-05 2007-03-28 リカ デンシ アメリカ, インコーポレイテッド 電子パッケージと試験機器をインターフェースするための装置
WO2006007440A1 (en) * 2004-06-16 2006-01-19 Rika Denshi America, Inc. Electrical test probes, methods of making, and methods of using
US7453278B2 (en) * 2005-04-22 2008-11-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Methods of using a blade probe for probing a node of a circuit
US8253430B2 (en) * 2005-04-22 2012-08-28 Hewlett-Packard Development Company Circuit board testing using a probe
US7248065B2 (en) * 2005-04-22 2007-07-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Arcuate blade probe
US7154286B1 (en) * 2005-06-30 2006-12-26 Interconnect Devices, Inc. Dual tapered spring probe
US7545159B2 (en) * 2006-06-01 2009-06-09 Rika Denshi America, Inc. Electrical test probes with a contact element, methods of making and using the same
US7442045B1 (en) * 2007-08-17 2008-10-28 Centipede Systems, Inc. Miniature electrical ball and tube socket with self-capturing multiple-contact-point coupling
US7491069B1 (en) 2008-01-07 2009-02-17 Centipede Systems, Inc. Self-cleaning socket for microelectronic devices
JP5083430B2 (ja) * 2011-03-29 2012-11-28 山一電機株式会社 コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
US8905795B2 (en) 2011-10-12 2014-12-09 Apple Inc. Spring-loaded contacts
US20130330983A1 (en) * 2012-06-10 2013-12-12 Apple Inc. Spring-loaded contacts having sloped backside with retention guide
US9285394B2 (en) * 2014-01-09 2016-03-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Testing apparatus and method
US9887478B2 (en) * 2015-04-21 2018-02-06 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Thermally insulating electrical contact probe
US9899193B1 (en) 2016-11-02 2018-02-20 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. RF ion source with dynamic volume control
US10608354B2 (en) * 2017-03-23 2020-03-31 Verily Life Sciences Llc Implantable connector with two electrical components
DE102019007799B4 (de) * 2019-11-11 2022-11-17 Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh Kontaktstift, IC-Träger, und System umfassend einen IC-Träger und eine Vielzahl von Kontaktstiften
JP2021085725A (ja) * 2019-11-27 2021-06-03 株式会社日本マイクロニクス プローブ
US11942722B2 (en) 2020-09-25 2024-03-26 Apple Inc. Magnetic circuit for magnetic connector
US11437747B2 (en) 2020-09-25 2022-09-06 Apple Inc. Spring-loaded contacts having capsule intermediate object

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4105970A (en) * 1976-12-27 1978-08-08 Teradyne, Inc. Test pin
US4168873A (en) * 1978-04-03 1979-09-25 Luna L Jack Wire connections to board terminals
US5032787A (en) * 1989-11-03 1991-07-16 Everett/Charles Contact Products, Inc. Electrical test probe having rotational control of the probe shaft
US5045780A (en) 1989-12-04 1991-09-03 Everett/Charles Contact Products, Inc. Electrical test probe contact tip
DE4029829A1 (de) 1990-09-20 1992-04-02 Dornier Medizintechnik Dreidimensionale darstellung von ultraschall-bildern
US5576631A (en) * 1992-03-10 1996-11-19 Virginia Panel Corporation Coaxial double-headed spring contact probe assembly
US5633597A (en) * 1992-03-10 1997-05-27 Virginia Panel Corporation Micro interface technology system utilizing slide engagement mechanism
US5936421A (en) * 1994-10-11 1999-08-10 Virginia Panel Corporation Coaxial double-headed spring contact probe assembly and coaxial surface contact for engagement therewith
US5557213A (en) * 1994-12-01 1996-09-17 Everett Charles Technologies, Inc. Spring-loaded electrical contact probe
US5744977A (en) 1994-12-21 1998-04-28 Delaware Capital Formation, Inc. High-force spring probe with improved axial alignment
US5641315A (en) 1995-11-16 1997-06-24 Everett Charles Technologies, Inc. Telescoping spring probe
US5801544A (en) 1997-01-16 1998-09-01 Delaware Capital Formation, Inc. Spring probe and method for biasing
US5781023A (en) * 1997-01-31 1998-07-14 Delware Capital Formation, Inc. Hollow plunger test probe
US6053777A (en) * 1998-01-05 2000-04-25 Rika Electronics International, Inc. Coaxial contact assembly apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013205191A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Nidai Seiko:Kk スプリングプローブおよびスプリングプローブの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6377059B2 (en) 2002-04-23
US20010050564A1 (en) 2001-12-13
DE10007399B4 (de) 2007-02-01
DE10007399A1 (de) 2000-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000241445A (ja) ばね探針及びばね探針の胴体
EP1037055B1 (en) Spring probe
US5032787A (en) Electrical test probe having rotational control of the probe shaft
JP3104869B2 (ja) 接触探針及び試験探針
US6462567B1 (en) Self-retained spring probe
US20070001695A1 (en) Dual tapered spring probe
WO2000031828A3 (en) Electrical contact system
EP0432870A2 (en) Electrical test probe
WO2002010784A1 (en) Notched electrical test probe tip
US5781023A (en) Hollow plunger test probe
US4857857A (en) Electrode catheter testing device
JPH04169859A (ja) 導電性接触子
US4978312A (en) Tip attachment for circuit probe tester
JP2018066711A (ja) 大電流用プローブピン
US4005362A (en) Electrical circuit continuity tester
US2580682A (en) Electrical test prod
EP0237732B1 (de) Federkontaktstift für Prüfvorrichtungen
JPH019014Y2 (ja)
JPH0382570U (ja)
JPH03199975A (ja) 導電性接触子
CN2563775Y (zh) 压接式导电端子
JPS585979Y2 (ja) 電気部品の測定用電極
US2486610A (en) Electrical connector
JPS61129166U (ja)
SU1522330A1 (ru) Контакное устройство