JP2000236041A - Printed wiring board for chip-scale package superior in solder ball adhesion - Google Patents

Printed wiring board for chip-scale package superior in solder ball adhesion

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JP2000236041A
JP2000236041A JP11036365A JP3636599A JP2000236041A JP 2000236041 A JP2000236041 A JP 2000236041A JP 11036365 A JP11036365 A JP 11036365A JP 3636599 A JP3636599 A JP 3636599A JP 2000236041 A JP2000236041 A JP 2000236041A
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solder ball
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Hidenori Kanehara
秀憲 金原
Nobuyuki Ikeguchi
信之 池口
Katsuji Komatsu
勝次 小松
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Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
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Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form a chip-scale package which is superior in heat resistance, electric insulation after absorbing moisture, anti-migration characteristic and the like by improving the peeling strength of a solder ball. SOLUTION: This printed wiring board uses a double-sided copper-clad board, having at least 2 or more copper layers with a thickness of 0.2 mm or less as a substrate of a semiconductor chip scale package. At least 2 or more blind holes (b) are formed in a ball pad on the lower surface connected to an upper- surface copper pad by a through-hole conductor, so that a pad (e) for fixing a solder ball on the lower surface connected to the rear side of the upper-surface copper pad by the conductor is electrically connected by a swollen solder ball (c) which is melted and filled in the blind hole. Consequently, the peeling strength of the solder ball is improved by several levels and a printed wiring board for chip-scale package superior in electrical insulation, anti-migration characteristic and the like after subjecting it to pressure cooker treatment is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップを1
個、ほぼ同じ大きさの小型プリント配線板に搭載した形
態の、チップスケールパッケージ用プリント配線板に関
し、得られたプリント配線板は、半導体チップを搭載
し、マイクロコントローラ、ASIC、メモリー等の用途に
使用される。本パッケージはハンダボールを用いてマザ
ーボードプリント配線板に接続され、電子機器等として
使用される。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
For the printed wiring board for chip scale package, which is mounted on a small printed wiring board of almost the same size, the obtained printed wiring board is mounted with a semiconductor chip and used for microcontroller, ASIC, memory, etc. used. This package is connected to a motherboard printed wiring board using solder balls, and is used as an electronic device or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、チップスケールパッケージ(CSP)
の基材としては、ガラスエポキシ材、ポリイミドフィル
ム材、セラミック材等の薄い板が主に使用されている。
これらのパッケージ類は、ハンダボール間隔が0.8m
m以上で、薄型、小型、軽量化を図るために近年ますま
すハンダボールピッチ及び回路のライン/スペースが狭
くなって来ており、基板の耐熱性、多層板とした時の吸
湿後の電気絶縁性、耐マイグレーション性等が問題とな
っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, a chip scale package (CSP)
As the base material, a thin plate such as a glass epoxy material, a polyimide film material, and a ceramic material is mainly used.
These packages have a solder ball spacing of 0.8m
m or more, the solder ball pitch and circuit line / space have become increasingly narrower in recent years in order to reduce the thickness, size, and weight of the board. And migration resistance have become problems.

【0003】また、従来のプラスチックボールグリッド
アレイ(P-BGA)、CSP等のハンダボールの基材への密着性
は、ハンダボールパッドの大きさが小さくなるに従い、
弱くなって、不良の原因となっていた。
In addition, the adhesion of a conventional solder ball such as a plastic ball grid array (P-BGA) or CSP to a substrate becomes smaller as the size of a solder ball pad becomes smaller.
It had become weaker and was the cause of the failure.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、ハンダボー
ルの小径化に伴うハンダボールの基材への密着性不良、
さらにはパッケージ類の薄型、小型、軽量化に起因する
基板の耐熱性、吸湿後の電気絶縁性、耐マイグレーショ
ン性に関して生ずる問題を解決したCSP用プリント配線
板の提供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a method for reducing the diameter of a solder ball, which results in poor adhesion of the solder ball to a substrate.
It is still another object of the present invention to provide a printed circuit board for CSP which solves problems relating to heat resistance, electrical insulation after moisture absorption, and migration resistance of a substrate due to thin, small, and lightweight packages.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、半導体チップ
スケールパッケージのサブストレートとして、厚さ0.
2mm以下の両面銅張板を用い、上面の銅箔側には半導
体チップの端子と該サブストレートを接続するためのワ
イヤボンディングまたはフリップチップボンディング端
子を設け、且つ、該端子と電気的に接続し、下面に設け
たブラインドホールと電気的に接続できる上面の位置に
銅パッドを設け、該銅パッドと対応する位置の下面にハ
ンダボール固定用パッドを設け、該固定用パッド内に2
個以上のブラインドホールを設け、上面銅パッドの裏側
と下面のハンダボール固定用パッドが導体で接続され、
かつ、ブラインドホール内に溶融充填して盛り上げたハ
ンダボールで電気的に接続されていいることを特徴とす
るチップスケールパッケージ用プリント配線板を提供す
る。更には銅張積層板に使用する樹脂として、多官能性
シアン酸エステル、該シアン酸エステルプレポリマーを
必須成分とする熱硬化性樹脂組成物を使用していること
を特徴とする。本発明によれば、ハンダボールのサブス
トレートへの密着性に優れ、さらには上記樹脂の使用に
より、耐熱性、吸湿後の電気絶縁性、耐マイグレーショ
ン性等の特性に優れたCSP用プリント配線板が提供され
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a semiconductor chip scale package having a thickness of 0.1 mm.
Using a double-sided copper-clad board of 2 mm or less, wire bonding or flip-chip bonding terminals for connecting the terminals of the semiconductor chip and the substrate are provided on the copper foil side of the upper surface, and electrically connected to the terminals. A copper pad is provided at a position on the upper surface that can be electrically connected to the blind hole provided on the lower surface, and a solder ball fixing pad is provided on the lower surface at a position corresponding to the copper pad.
More than one blind hole is provided, the solder ball fixing pad on the back side of the upper surface copper pad and the lower surface are connected with conductors,
The present invention also provides a printed wiring board for a chip scale package, wherein the printed wiring boards are electrically connected by solder balls that have been melt-filled into a blind hole and raised. Further, as the resin used for the copper-clad laminate, a polyfunctional cyanate ester and a thermosetting resin composition containing the cyanate ester prepolymer as an essential component are used. According to the present invention, a printed circuit board for CSP that has excellent adhesion to a substrate of a solder ball, and further, by using the above resin, has excellent properties such as heat resistance, electrical insulation after moisture absorption, and migration resistance. Is provided.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】本発明チップスケールパッケージ
用プリント配線板の構成を、ワイヤボンディング方式に
より半導体チップとプリント配線板とを結合した方式を
例として図1に基づいて説明する。半導体チップスケー
ルパッケージ用サブストレートとして、厚さ0.2mm
以下の両面銅張積層板を用いる。その銅張板の片面に、
半導体チップの端子と該サブストレートを接続するため
のワイヤボンディング端子(l)を設ける。フリップチ
ップ方式により半導体チップとプリント配線板とを結合
する場合にはフリップチップボンディング端子(図示せ
ず)を設ける。該ワイヤボンディング端子と接続し、ブ
ラインドホール(b)導体(m)で下面と接続する位置に銅
パッド(a)が設けられている。上面銅箔は、両面銅張
積層板の上面側の銅箔を利用して形成される。下面側の
ブラインドホール(b)周囲にハンダボール固定用パッ
ド(e)が設けられている。この固定用パッド(e)は両面銅
張板の下面側銅箔を利用して形成される。本発明におい
ては、一つの固定用パッド(e)の中に、2個以上のブラ
インドホールを設けたことに特徴を有する。上面側銅パ
ッド(a)とブラインドホール導体(m)とは電気的に接
続している。ブラインドホール導体(m)、上面銅パッ
ド(a)の裏側の銅メッキ面(n)とハンダボール固定用パ
ッド(e)とはブラインドホール(b)内に溶融充填された
ハンダボール(c)により一体化されている。半導体チ
ップ(i)は、熱伝導性接着剤、例えば銀ペースト(h)
でサブストレート上に接着固定されている。半導体チッ
プ(i)はボンディングワイヤ(j)でボンディング端子
(l)と接続されている。少なくとも、半導体チップ、ボ
ンディングワイヤ及びボンディング端子は封止樹脂
(k)で封止されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The structure of a printed wiring board for a chip scale package according to the present invention will be described with reference to FIG. 1 by taking as an example a method in which a semiconductor chip and a printed wiring board are connected by a wire bonding method. 0.2mm thick as substrate for semiconductor chip scale package
The following double-sided copper-clad laminate is used. On one side of the copper clad board,
A wire bonding terminal (1) for connecting a terminal of the semiconductor chip to the substrate is provided. When a semiconductor chip and a printed wiring board are connected by a flip chip method, flip chip bonding terminals (not shown) are provided. A copper pad (a) is provided at a position where the copper pad (a) is connected to the wire bonding terminal and is connected to the lower surface by a blind hole (b) conductor (m). The upper surface copper foil is formed using the copper foil on the upper surface side of the double-sided copper-clad laminate. A solder ball fixing pad (e) is provided around the blind hole (b) on the lower surface side. This fixing pad (e) is formed by using the copper foil on the lower surface side of the double-sided copper clad board. The present invention is characterized in that two or more blind holes are provided in one fixing pad (e). The upper surface side copper pad (a) and the blind hole conductor (m) are electrically connected. The blind hole conductor (m), the copper plating surface (n) on the back side of the upper surface copper pad (a) and the solder ball fixing pad (e) are formed by the solder ball (c) melt-filled in the blind hole (b). It is integrated. The semiconductor chip (i) is made of a heat conductive adhesive such as a silver paste (h)
Is bonded and fixed on the substrate. Semiconductor chip (i) is bonded with bonding wire (j)
(l) is connected. At least the semiconductor chip, the bonding wires and the bonding terminals are sealed with a sealing resin (k).

【0007】サブストレートの材料としては特に限定は
しないが、例えばフィルムの両面に直接或いは接着剤で
銅箔を貼り付けて得られた両面銅張板、その多層板、有
機または無機の不織布、織布に熱硬化性樹脂組成物を含
浸、乾燥して得られたプリプレグを1〜複数枚重ね、両
面に銅箔を配置して加圧、加熱下に接着された厚さ0.
2mm以下の両面銅張積層板、その多層板等、公知の材料
が使用可能である。有機繊維としては、液晶ポリエステ
ル、全芳香族ポリアミド繊維等、一般に公知のものが挙
げられる。無機繊維としては、一般に公知のガラス繊維
が挙げられ、これらの織布、不織布が使用される。これ
らの混抄も使用し得る。フィルムとしては、一般に公知
のものが使用できるが、具体的にはポリイミドフィル
ム、ポリパラバン酸フィルム、ポリアミドフィルム等が
使用される。
[0007] The material of the substrate is not particularly limited. For example, a double-sided copper-clad board obtained by attaching a copper foil directly or on both sides of a film with an adhesive, a multilayer board thereof, an organic or inorganic nonwoven fabric, a woven fabric, or the like. One or more prepregs obtained by impregnating and drying the cloth with the thermosetting resin composition are stacked, copper foils are arranged on both sides, and a thickness of 0.1 mm is applied under pressure and heating.
Known materials such as a double-sided copper-clad laminate of 2 mm or less, a multilayer plate thereof, and the like can be used. As the organic fiber, generally known ones such as a liquid crystal polyester and a wholly aromatic polyamide fiber can be used. Examples of the inorganic fibers include generally known glass fibers, and woven and nonwoven fabrics thereof are used. These blends may also be used. As the film, generally known films can be used, and specifically, a polyimide film, a polyparabanic acid film, a polyamide film and the like are used.

【0008】1つのパッドの中に、2個以上のブライン
ドホールをあける方法についても、一般に公知の方法が
使用可能である。例えば、銅箔を小径の孔で予めエッチ
ング除去しておき、これに 例えば2〜18mJ/パルスの低
エネルギーの炭酸ガスレーザーを照射して両面銅張板に
特に小径のビア孔をあける方法、両面銅張板、多層板の
炭酸ガスレーザーによるビア孔あけにおいて、レーザー
照射面に、酸化金属処理を施すか、融点900℃で、且つ
結合エネルギー300kJ/mol 以上の酸化金属粉、カーボ
ン、又は金属粉と水溶性樹脂とを混合した塗料即ち補助
材料を塗布して塗膜とするか、あるいは熱可塑性フィル
ムの片面に補助材料を付着させた孔あけ用補助シートを
配置し、好適には補助材料側を銅箔面に接着させて、そ
の上から炭酸ガスレーザーを直接銅箔表面に照射し、銅
箔を加工除去することによるビア孔形成の方法、エキシ
マレーザー、YAGレーザーで孔あけする方法、プラズ
マで孔あけする方法など、一般に公知の孔あけ方法が使
用され得る。なお、補助材料あるいは補助シートの総厚
み30〜200μmが好ましい。
A generally known method can be used for forming two or more blind holes in one pad. For example, a method in which a copper foil is preliminarily etched and removed with a small-diameter hole, and a small-diameter via hole is formed in the double-sided copper-clad plate by irradiating a low-energy carbon dioxide gas laser having a low energy of 2 to 18 mJ / pulse, for example, When drilling via holes in copper-clad or multilayer boards with a carbon dioxide gas laser, apply a metal oxide treatment to the laser-irradiated surface, or use a metal oxide powder, carbon, or metal powder with a melting point of 900 ° C and a binding energy of 300 kJ / mol or more. Or a coating material in which a water-soluble resin is mixed, that is, an auxiliary material is applied to form a coating film, or an auxiliary sheet for perforation having an auxiliary material adhered to one surface of a thermoplastic film is disposed, preferably on the auxiliary material side. A method of forming via holes by exposing the surface of the copper foil with a carbon dioxide gas laser and then processing and removing the copper foil, and a method of forming holes with excimer laser and YAG laser. A method of drilling a plasma, generally known drilling methods can be used. The total thickness of the auxiliary material or the auxiliary sheet is preferably 30 to 200 μm.

【0009】ビア孔底部の銅箔表面に付着した残存樹脂
層は、必要によりプラズマ、デスミア等、一般に公知の
除去方法にて実施される。
The resin layer remaining on the copper foil surface at the bottom of the via hole is removed by a generally known removal method such as plasma or desmear, if necessary.

【0010】本発明の炭酸ガスレーザー孔あけ用補助シ
ートは、そのままでも使用可能であるが、孔あけ時に多
層板の上に置いて、できるだけ密着させることが、孔の
形状を良好にするために好ましい。一般には、シートを
多層板の上にテープ等で貼り付ける等の方法で固定、密
着して使用するが、より完全に密着するためには、得ら
れたシートを、両面銅張板、多層板の表面に、樹脂付着
した面を向け、加熱、加圧下にラミネートするか、或い
は樹脂表層面3μm以下を水分で事前に湿らした後、室温
にて加圧下にラミネートすることにより、銅箔表面との
密着性が良好となり、孔形状の良好なものが得られる。
The carbon dioxide gas laser drilling auxiliary sheet of the present invention can be used as it is, but it is necessary to place it on a multilayer board and make it as close as possible when drilling, in order to improve the hole shape. preferable. In general, the sheet is fixed and adhered to the multilayer board by a method such as affixing it with a tape or the like, but in order to more completely adhere, the obtained sheet is double-sided copper-clad board, multilayer board. To the surface of the copper foil surface, facing the surface with the resin attached, heating and laminating under pressure, or after pre-wetting the resin surface layer 3 μm or less with moisture, laminating under pressure at room temperature, Has good adhesiveness and a good hole shape can be obtained.

【0011】樹脂組成物として、水溶性でない、有機溶
剤に溶解可能な樹脂組成物も使用可能である。しかしな
がら、炭酸ガスレーザー照射で、孔周辺に樹脂が付着す
ることがあり、この樹脂の除去が、水ではなく有機溶剤
を必要とするため、加工上煩雑であり、又、後工程の汚
染等の問題点も生じるため、好ましくない。
As the resin composition, a resin composition which is not water-soluble and can be dissolved in an organic solvent can also be used. However, the carbon dioxide laser irradiation may cause the resin to adhere around the holes, and the removal of the resin requires an organic solvent instead of water, which is troublesome in processing, and also causes contamination in a post-process. It is not preferable because it causes problems.

【0012】本発明で使用されるサブストレートとし
て、あるいはその一部として使用される熱硬化性樹脂組
成物の樹脂としては、一般に公知の熱硬化性樹脂が使用
される。具体的には、エポキシ樹脂、多官能性シアン酸
エステル樹脂、 多官能性マレイミドーシアン酸エステ
ル樹脂、多官能性マレイミド樹脂、不飽和基含有ポリフ
ェニレンエーテル樹脂等が挙げられ、1種或いは2種類以
上が組み合わせて使用される。出力の高い炭酸ガスレー
ザー照射による加工でのスルーホール形状の点からは、
ガラス転移温度が150℃以上の熱硬化性樹脂組成物が好
ましく、耐湿性、耐マイグレーション性、吸湿後の電気
的特性等の点から多官能性シアン酸エステル樹脂組成物
が好適である。
As the resin of the thermosetting resin composition used as the substrate used in the present invention or as a part thereof, generally known thermosetting resins are used. Specifically, an epoxy resin, a polyfunctional cyanate ester resin, a polyfunctional maleimide-cyanate ester resin, a polyfunctional maleimide resin, an unsaturated group-containing polyphenylene ether resin, and the like, and one or more kinds Are used in combination. From the point of the through hole shape in processing by high output carbon dioxide laser irradiation,
A thermosetting resin composition having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher is preferred, and a polyfunctional cyanate resin composition is preferred from the viewpoints of moisture resistance, migration resistance, electrical properties after moisture absorption, and the like.

【0013】本発明の好適な熱硬化性樹脂分である多官
能性シアン酸エステル化合物とは、分子内に2個以上の
シアナト基を有する化合物である。具体的に例示する
と、1,3-又は1,4-ジシアナトベンゼン、1,3,5-トリシア
ナトベンゼン、1,3-、1,4-、1,6-、1,8-、2,6-又は2,7-
ジシアナトナフタレン、1,3,6-トリシアナトナフタレ
ン、4,4-ジシアナトビフェニル、ビス(4-ジシアナトフ
ェニル)メタン、2,2-ビス(4-シアナトフェニル)プロパ
ン、2,2-ビス(3,5-ジブロモー4-シアナトフェニル)プロ
パン、ビス(4-シアナトフェニル)エーテル、ビス(4-シ
アナトフェニル)チオエーテル、ビス(4-シアナトフェニ
ル)スルホン、トリス(4-シアナトフェニル)ホスファイ
ト、トリス(4-シアナトフェニル)ホスフェート、および
ノボラックとハロゲン化シアンとの反応により得られる
シアネート類などである。これらのほかに特公昭41-192
8、同43-18468、同44-4791、同45-11712、同46-41112、
同47-26853及び特開昭51-63149号公報等に記載の多官能
性シアン酸エステル化合物類も用いら得る。また、これ
ら多官能性シアン酸エステル化合物のシアナト基の三量
化によって形成されるトリアジン環を有する分子量400
〜6,000 のプレポリマーが使用される。このプレポリマ
ーは、上記の多官能性シアン酸エステルモノマーを、例
えば鉱酸、ルイス酸等の酸類;ナトリウムアルコラート
等、第三級アミン類等の塩基;炭酸ナトリウム等の塩類
等を触媒として重合させることにより得られる。このプ
レポリマー中には一部未反応のモノマーも含まれてお
り、モノマーとプレポリマーとの混合物の形態をしてお
り、このような原料は本発明の用途に好適に使用され
る。一般には可溶な有機溶剤に溶解させて使用する。
The polyfunctional cyanate compound which is a preferred thermosetting resin component of the present invention is a compound having two or more cyanato groups in a molecule. Specific examples include 1,3- or 1,4-dicyanatobenzene, 1,3,5-tricyanatobenzene, 1,3-, 1,4-, 1,6-, 1,8-, 2 , 6- or 2,7-
Dicyanatonaphthalene, 1,3,6-tricyanatonaphthalene, 4,4-dicyanatobiphenyl, bis (4-dicyanatophenyl) methane, 2,2-bis (4-cyanatophenyl) propane, 2,2- Bis (3,5-dibromo-4-cyanatophenyl) propane, bis (4-cyanatophenyl) ether, bis (4-cyanatophenyl) thioether, bis (4-cyanatophenyl) sulfone, tris (4-cy (Anatophenyl) phosphite, tris (4-cyanatophenyl) phosphate, and cyanates obtained by reacting novolak with cyanogen halide. In addition to these,
8, 43-18468, 44-4791, 45-11712, 46-41112,
Polyfunctional cyanate compounds described in JP-A-47-26853 and JP-A-51-63149 can also be used. Further, the molecular weight of the polyfunctional cyanate compound having a triazine ring formed by trimerization of a cyanato group of the polyfunctional cyanate compound is 400.
~ 6,000 prepolymers are used. This prepolymer is obtained by polymerizing the above-mentioned polyfunctional cyanate ester monomer with a catalyst such as an acid such as a mineral acid or a Lewis acid; a base such as a tertiary amine such as sodium alcoholate; or a salt such as sodium carbonate. It can be obtained by: The prepolymer also contains some unreacted monomers and is in the form of a mixture of the monomer and the prepolymer, and such a raw material is suitably used for the purpose of the present invention. Generally, it is used after being dissolved in a soluble organic solvent.

【0014】エポキシ樹脂としては、一般に公知のもの
が使用できる。具体的には、液状或いは固形のビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹
脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂;ブタ
ジエン、ペンタジエン、ビニルシクロヘキセン、ジシク
ロペンチルエーテル等の二重結合をエポキシ化したポリ
エポキシ化合物類;ポリオール、水酸基含有シリコン樹
脂類とエポハロヒドリンとの反応によって得られるポリ
グリシジル化合物類等が挙げられる。これらは1種或い
は2種類以上が組み合わせて使用され得る。ポリイミド
樹脂としては、一般に公知のものが使用され得る。具体
的には、多官能性マレイミド類とポリアミン類との反応
物、特公昭57-005406 に記載の末端三重結合のポリイミ
ド類が挙げられる。これらの熱硬化性樹脂は、単独でも
使用されるが、特性のバランスを考え、適宜組み合わせ
て使用するのが良い。
As the epoxy resin, a generally known epoxy resin can be used. Specifically, liquid or solid bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, alicyclic epoxy resin; butadiene, pentadiene, vinylcyclohexene, dicyclopentyl ether, etc. And polyglycidyl compounds obtained by reacting a polyol, a hydroxyl-containing silicone resin with an epohalohydrin, and the like. These may be used alone or in combination of two or more. A generally known polyimide resin can be used. Specific examples include a reaction product of a polyfunctional maleimide and a polyamine, and a polyimide having a terminal triple bond described in JP-B-57-005406. These thermosetting resins may be used alone, but it is preferable to use them in an appropriate combination in consideration of the balance of properties.

【0015】本発明の熱硬化性樹脂組成物には、組成物
本来の特性が損なわれない範囲で、所望に応じて種々の
添加物を配合することができる。これらの添加物として
は、不飽和ポリエステル等の重合性二重結合含有モノマ
ー類及びそのプレポリマー類;ポリブタジエン、エポキ
シ化ブタジエン、マレイン化ブタジエン、ブタジエン-
アクリロニトリル共重合体、ポリクロロプレン、ブタジ
エン-スチレン共重合体、ポリイソプレン、ブチルゴ
ム、フッ素ゴム、天然ゴム等の低分子量液状〜高分子量
のelasticなゴム類;ポリエチレン、ポリプロピレン、ポ
リブテン、ポリ-4-メチルペンテン、ポリスチレン、AS
樹脂、ABS樹脂、MBS樹脂、スチレン-イソプレンゴム、
ポリエチレン-プロピレン共重合体、4-フッ化エチレン-
6-フッ化エチレン共重合体類;ポリカーボネート、ポリ
フェニレンエーテル、ポリスルホン、ポリエステル、ポ
リフェニレンサルファイド等の高分子量プレポリマー若
しくはオリゴマー;ポリウレタン等が例示され、適宜使
用される。また、その他、公知の有機の充填剤、染料、
顔料、増粘剤、滑剤、消泡剤、分散剤、レベリング剤、
光増感剤、難燃剤、光沢剤、重合禁止剤、チキソ性付与
剤等の各種添加剤が、所望に応じて適宜組み合わせて用
いられる。必要により、反応基を有する化合物は硬化
剤、触媒が適宜配合される。
Various additives can be added to the thermosetting resin composition of the present invention, if desired, as long as the inherent properties of the composition are not impaired. These additives include polymerizable double bond-containing monomers such as unsaturated polyesters and prepolymers thereof; polybutadiene, epoxidized butadiene, maleated butadiene, butadiene-
Low molecular weight liquid to high molecular weight elastic rubbers such as acrylonitrile copolymer, polychloroprene, butadiene-styrene copolymer, polyisoprene, butyl rubber, fluororubber, natural rubber; polyethylene, polypropylene, polybutene, poly-4-methyl Penten, polystyrene, AS
Resin, ABS resin, MBS resin, styrene-isoprene rubber,
Polyethylene-propylene copolymer, 4-fluoroethylene-
6-fluorinated ethylene copolymers; high molecular weight prepolymers or oligomers such as polycarbonate, polyphenylene ether, polysulfone, polyester, and polyphenylene sulfide; and polyurethane are exemplified and used as appropriate. In addition, other known organic fillers, dyes,
Pigments, thickeners, lubricants, defoamers, dispersants, leveling agents,
Various additives such as a photosensitizer, a flame retardant, a brightener, a polymerization inhibitor, and a thixotropy-imparting agent are used in an appropriate combination as required. If necessary, the compound having a reactive group is appropriately blended with a curing agent and a catalyst.

【0016】本発明の熱硬化性樹脂組成物は、それ自体
は加熱により硬化するが硬化速度が遅く、作業性、経済
性等に劣るため使用した熱硬化性樹脂に対して公知の熱
硬化触媒を用い得る。使用量は、熱硬化性樹脂100重量
部に対して0.005〜10重量部、好ましくは0.01〜5重量部
である。
The thermosetting resin composition of the present invention can be cured by heating itself, but has a low curing rate and is inferior in workability and economic efficiency. Can be used. The amount used is 0.005 to 10 parts by weight, preferably 0.01 to 5 parts by weight, per 100 parts by weight of the thermosetting resin.

【0017】本発明で使用する補助材料の中の、融点90
0℃以上で、且つ、結合エネルギー300kJ/mol 以上の金
属化合物としては、一般に公知のものが使用できる。具
体的には、酸化物としては、酸化チタン等のチタニア
類、酸化マグネシウム等のマグネシア類、酸化鉄等の鉄
酸化物、酸化ニッケル等のニッケル酸化物、二酸化マン
ガン、酸化亜鉛等の亜鉛酸化物、二酸化珪素、酸化アル
ミニウム、希土類酸化物、酸化コバルト等のコバルト酸
化物、酸化錫等のスズ酸化物、酸化タングステン等のタ
ングステン酸化物、等が挙げられる。非酸化物として
は、炭化珪素、炭化タングステン、窒化硼素、窒化珪
素、窒化チタン、窒化アルミニウム、硫酸バリウム、希
土類酸硫化物等、一般に公知のものが挙げられる。その
他、カーボンも使用できる。更に、その酸化金属粉の混
合物である各種ガラス類が挙げられる。又、カーボン粉
が挙げられ、更に銀、アルミニウム、ビスマス、コバル
ト、銅、鉄、マグネシウム、マンガン、モリブデン、ニ
ッケル、パラジウム、アンチモン、ケイ素、錫、チタ
ン、バナジウム、亜鉛等の単体、或いはそれらの合金の
金属粉が使用される。これらは一種或いは二種以上が組
み合わせて使用される。平均粒子径は、特に限定しない
が、1μm以下が好ましい。
The auxiliary material used in the present invention has a melting point of 90.
As the metal compound having a binding energy of 300 kJ / mol or more at 0 ° C. or more, generally known metal compounds can be used. Specifically, as the oxide, titania such as titanium oxide, magnesia such as magnesium oxide, iron oxide such as iron oxide, nickel oxide such as nickel oxide, manganese dioxide, zinc oxide such as zinc oxide , Silicon oxide, aluminum oxide, rare earth oxides, cobalt oxides such as cobalt oxide, tin oxides such as tin oxide, and tungsten oxides such as tungsten oxide. Examples of the non-oxide include generally known ones such as silicon carbide, tungsten carbide, boron nitride, silicon nitride, titanium nitride, aluminum nitride, barium sulfate, and rare earth oxysulfide. In addition, carbon can also be used. Further, various glasses which are a mixture of the metal oxide powders may be mentioned. In addition, carbon powder may be mentioned, and furthermore, a simple substance such as silver, aluminum, bismuth, cobalt, copper, iron, magnesium, manganese, molybdenum, nickel, palladium, antimony, silicon, tin, titanium, vanadium, zinc, or an alloy thereof Metal powder is used. These may be used alone or in combination of two or more. The average particle size is not particularly limited, but is preferably 1 μm or less.

【0018】炭酸ガスレーザーの照射で分子が解離する
か、溶融して飛散することにより金属が孔壁等に付着し
て、半導体チップ、孔壁密着性等に悪影響を及ぼさない
ようなものが好ましい。Na,K,Clイオン等は、特
に半導体の信頼性に悪影響を及ぼすため、これらの成分
を含むものは好適でない。配合量は、3〜97vol%、好適
には5〜95vol%が使用され、好適には水溶性樹脂に配合
され、均一に分散される。補助材料の水溶性樹脂として
は、特に制限はしないが、混練して銅箔表面に塗布、乾
燥した場合、或いはシート状とした場合、剥離欠落しな
いものを選択する。例えばポリビニルアルコール、ポリ
エステル、ポリエーテル、澱粉等、一般に公知のものが
使用される。
It is preferable that the molecules are not dissociated by the irradiation of the carbon dioxide gas laser or are melted and scattered so that the metal adheres to the hole walls or the like and does not adversely affect the semiconductor chip and the hole wall adhesion. . Since Na, K, Cl ions and the like particularly adversely affect the reliability of the semiconductor, those containing these components are not suitable. The compounding amount is 3 to 97 vol%, preferably 5 to 95 vol%, and is preferably mixed with the water-soluble resin and uniformly dispersed. The water-soluble resin of the auxiliary material is not particularly limited, but a resin that does not peel off when kneaded and applied to the surface of the copper foil and dried or when formed into a sheet is selected. For example, generally known materials such as polyvinyl alcohol, polyester, polyether and starch are used.

【0019】金属化合物粉、カーボン粉、又は金属粉と
樹脂からなる組成物を作成する方法は、特に限定しない
が、ニーダー等で無溶剤にて高温で練り、熱可塑性フィ
ルム上にシート状に押し出して付着する方法、水に水溶
性樹脂を溶解させ、これに上記粉体を加え、均一に攪拌
混合して、これを用い、塗料として熱可塑性フィルム上
に塗布、乾燥して膜を形成する方法等、一般に公知の方
法が使用できる。厚みは、特に限定はしないが、一般に
は乾燥後の総厚み30〜200μmで使用される。それ以外に
銅箔表面に酸化金属処理を施してから同様に孔あけする
ことが可能であるが、孔形状等の点からも上記補助材料
を使用するが方が好ましい。銅箔面に加熱、加圧下にラ
ミネートする場合、塗布樹脂層を銅箔面に向け、ロール
にて、温度は一般に40〜150℃、好ましくは60〜120℃
で、線圧は一般に5〜30kgf、好ましくは10〜20kgfの圧
力でラミネートし、樹脂層を溶融させて銅箔面と密着さ
せる。温度の選択は使用する水溶性樹脂の融点で異な
り、又、線圧、ラミネート速度によっても異なるが、一
般には、水溶性樹脂の融点より5〜20℃高い温度でラミ
ネートする。又、室温で密着させる場合、塗布樹脂層表
面3μm以下を、ラミネート前に水分で湿らせて、水溶性
樹脂を少し溶解させ、同様の圧力でラミネートする。水
分で湿らせる方法は特に限定しないが、例えばロールで
水分を塗膜樹脂面に連続的に塗布するようにし、その
後、連続して銅張積層板の表面にラミネートする方法、
水分をスプレー式に連続して塗膜表面に吹き付け、その
後、連続して銅張積層板の表面にラミネートする方法等
が使用し得る。
The method for preparing the metal compound powder, the carbon powder, or the composition comprising the metal powder and the resin is not particularly limited, but is kneaded at a high temperature without a solvent in a kneader or the like, and extruded into a sheet on a thermoplastic film. A method of dissolving a water-soluble resin in water, adding the powder to the mixture, stirring and mixing the mixture uniformly, and applying the mixture to a thermoplastic film as a paint, followed by drying to form a film. And other generally known methods. Although the thickness is not particularly limited, it is generally used in a total thickness of 30 to 200 μm after drying. In addition, it is possible to similarly form a hole after performing a metal oxide treatment on the copper foil surface, but it is more preferable to use the above-mentioned auxiliary material also from the viewpoint of the hole shape and the like. When laminating under heat and pressure on the copper foil surface, the coating resin layer is directed to the copper foil surface, and with a roll, the temperature is generally 40 to 150 ° C, preferably 60 to 120 ° C.
In general, lamination is performed at a linear pressure of 5 to 30 kgf, preferably 10 to 20 kgf, and the resin layer is melted and brought into close contact with the copper foil surface. The selection of the temperature depends on the melting point of the water-soluble resin used, and also depends on the linear pressure and the laminating speed. In general, lamination is performed at a temperature higher by 5 to 20 ° C. than the melting point of the water-soluble resin. In the case of close contact at room temperature, the surface of the coating resin layer of 3 μm or less is moistened with water before lamination to dissolve a small amount of the water-soluble resin, and is laminated under the same pressure. The method of moistening with moisture is not particularly limited, for example, a method of continuously applying moisture to the coating resin surface with a roll, and then continuously laminating the surface of the copper-clad laminate,
A method in which water is continuously sprayed on the surface of the coating film in a spraying manner, and then continuously laminated on the surface of the copper-clad laminate may be used.

【0020】基材補強多層板は、まず上記補強基材に熱
硬化性樹脂組成物を含浸、乾燥させてBステージとし、
プリプレグを作成する。次に、このプリプレグを所定枚
数重ね、少なくとも片面に銅箔を配置して、加熱、加圧
下に積層成形し、銅張積層板とする。両面の銅箔の厚み
は、好適には5〜18μmである。内層銅箔は、好適には18
〜70μmである。多層板は、基材補強した銅張積層板に
回路を形成し、銅箔表面処理後、少なくとも片面に、B
ステージの基材補強プリプレグ、或いは基材補強してい
ない樹脂シート、樹脂付き銅箔、塗料塗布による樹脂層
等を配置し、必要により、その外側に銅箔を置き、加
熱、加圧、好ましくは真空下に積層成形した銅張多層板
を使用する。 基材は、薄いものでは密度が詰まったも
のが好ましい。例えば、50μmのガラス織布基材では、5
0〜60g/m2とする。
The substrate-reinforced multilayer board is first impregnated with the thermosetting resin composition and dried to form a B stage,
Create a prepreg. Next, a predetermined number of the prepregs are stacked, a copper foil is arranged on at least one side, and laminated under heat and pressure to form a copper-clad laminate. The thickness of the copper foil on both sides is preferably 5 to 18 μm. The inner layer copper foil is preferably 18
7070 μm. The multilayer board forms a circuit on the copper-clad laminate reinforced with the base material, and after the copper foil surface treatment, at least one side has B
Stage base reinforced prepreg, or resin sheet without substrate reinforcement, copper foil with resin, resin layer by paint application, etc., if necessary, place copper foil on the outside, heat, press, preferably A copper-clad multilayer board laminated and formed under vacuum is used. It is preferable that the base material be thin and have a high density. For example, for a 50 μm glass woven substrate, 5
And 0~60g / m 2.

【0021】裏面のハンダボールパッドの径は、一般に
200〜500μmであり、この中に2個以上の孔をあける。
孔径は特に限定しないが、高密度のプリント配線板を作
成する場合、一般には50〜150μmである。孔あけは、好
適には表面に補助材料を配置し、高出力の炭酸ガスレー
ザーで行う。孔あけでブラインドホールとするが、仮に
対面の銅箔を一部突き抜けても、その後のパネルメッキ
で対面の孔部は、全て、または大半が充填されてしまう
ため、その後のプリント配線板の作成に影響はない。銅
張板の表面に補助材料を配置し、例えば20〜60mJ/パル
ス のレーザーエネルギーを直接照射して孔あけする場
合、孔周辺に銅箔のバリが発生する。非常に高密度の回
路を必要とする場合、表層の銅箔を薄くする必要があ
り、好適には、炭酸ガスレーザー照射後、銅箔の両表面
を平面的に機械的、或いは薬液でエッチングし、もとの
金属箔の一部の厚さを除去することにより、同時にバリ
も除去される。得られた銅箔は細密パターン形成に適し
ており、高密度のプリント配線板に適した孔周囲の銅箔
が残存したビア孔を形成することができる。この場合、
機械研磨よりはエッチングの方が、孔部のバリ除去が容
易であり、研磨による寸法変化が少ない等の点から好適
である。
The diameter of the solder ball pad on the back side is generally
200 to 500 μm, in which two or more holes are drilled.
The hole diameter is not particularly limited, but is generally 50 to 150 μm when a high-density printed wiring board is prepared. Drilling is preferably performed with a high power carbon dioxide laser with an auxiliary material placed on the surface. A blind hole is formed by drilling, but even if part of the copper foil on the facing side is pierced, all or most of the facing hole will be filled by the subsequent panel plating, so the subsequent production of a printed wiring board Has no effect. When an auxiliary material is placed on the surface of a copper-clad plate and holes are drilled by directly irradiating laser energy of, for example, 20 to 60 mJ / pulse, burrs of copper foil occur around the holes. When a very high-density circuit is required, it is necessary to make the surface copper foil thin, and preferably, after irradiation with a carbon dioxide gas laser, both surfaces of the copper foil are planarly etched mechanically or with a chemical solution. By removing a part of the thickness of the original metal foil, burrs are also removed at the same time. The obtained copper foil is suitable for forming a fine pattern, and can form a via hole in which a copper foil around a hole suitable for a high-density printed wiring board remains. in this case,
Etching is preferable to mechanical polishing in that it is easier to remove burrs at the holes and the dimensional change due to polishing is less.

【0022】本発明の孔部に発生した銅のバリをエッチ
ング除去する方法としては、特に限定しないが、例え
ば、特開平02-22887、同02-22896、同02-25089、同02-2
5090、同02-59337、同02-60189、同02-166789、同03-25
995、同03-60183、同03-94491、同04-199592、同04-263
488号公報で開示された、薬品で金属表面を溶解除去す
る方法(SUEP法と呼ぶ)による。エッチング速度
は、一般には0.02〜1.0μm/秒 で行う。
The method of etching and removing copper burrs generated in the holes according to the present invention is not particularly limited. For example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 02-22887, 02-22896, 02-25089 and 02-2.
5090, 02-59337, 02-60189, 02-166789, 03-25
995, 03-60183, 03-94491, 04-199592, 04-263
No. 488 discloses a method of dissolving and removing a metal surface with a chemical (referred to as a SUEP method). The etching rate is generally 0.02 to 1.0 μm / sec.

【0023】炭酸ガスレーザーでビア孔をあける場合、
最初から最後まで20〜60mJ/パルスから選ばれるエネル
ギーを照射することも可能である。しかし、まず表層及
び内層の銅箔を除去する場合、より高いエネルギーを選
んで銅箔を除去し、孔底部は銅箔の厚み等により、5〜3
5mJ/パルス から選ばれたエネルギーを照射して孔あけ
を行うのが好ましい。孔あけは、孔内部に内層銅箔があ
る場合、ない場合で加工条件を変化させることも可能で
ある。銅メッキとしては、一般に公知の銅メッキを行う
ことが可能である。また、ブラインドホール内が一部メ
ッキで充填されていてもよい。
When drilling a via hole with a carbon dioxide laser,
It is also possible to irradiate energy selected from 20 to 60 mJ / pulse from the beginning to the end. However, when first removing the copper foil of the surface layer and the inner layer, the copper foil is removed by selecting higher energy, and the bottom of the hole is 5 to 3 depending on the thickness of the copper foil.
It is preferable to perform drilling by irradiating energy selected from 5 mJ / pulse. In drilling, it is also possible to change the processing conditions when there is an inner copper foil inside the hole and when there is no inner layer copper foil. As the copper plating, generally known copper plating can be performed. Further, the inside of the blind hole may be partially filled with plating.

【0024】[0024]

【実施例】以下に実施例、比較例に基づき本発明を具体
的に説明する。尚、特に断らない限り、『部』は重量部
を表す。 実施例1 2,2-ビス(4-シアナトフェニル)プロパン900部、ビス(4-
マレイミドフェニル)メタン100部を150℃に熔融させ、
撹拌しながら4時間反応させ、プレポリマーを得た。こ
れをメチルエチルケトンとジメチルホルムアミドの混合
溶剤に溶解した。これにビスフェノールA型エポキシ樹
脂(商品名:エピコート1001、油化シェルエポキシ<株>
製)400部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(商品
名:ESCN-220F、住友化学工業<株>製)600部を加え、均
一に溶解混合した。更に触媒としてオクチル酸亜鉛0.4
部を加え、溶解混合し、これに無機充填剤(商品名:焼成
タルクBST-#200、日本タルク<株>製)500部、及び黒
色顔料8部を加え、均一撹拌混合してワニスAを得た。こ
のワニスを厚さ50μm(重量:53g/m2)のガラス織布
に含浸し150℃で乾燥して、ゲル化時間(at170℃)120
秒、樹脂組成物含有量が51wt%のプリプレグ(プリプレグ
B)を作成した。厚さ12μmの電解銅箔を、上記プリプレ
グB2枚の上下に配置し、200℃、20kgf/cm2、30mmHg以
下の真空下で2時間積層成形し、全体の厚み134μmの両
面銅張積層板Cを得た。
The present invention will be specifically described below based on examples and comparative examples. Unless otherwise specified, “parts” indicates parts by weight. Example 1 900 parts of 2,2-bis (4-cyanatophenyl) propane,
100 parts of (maleimidophenyl) methane are melted at 150 ° C,
The mixture was reacted for 4 hours with stirring to obtain a prepolymer. This was dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone and dimethylformamide. Add bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001, Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.)
) And 600 parts of a cresol novolac type epoxy resin (trade name: ESCN-220F, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) were uniformly mixed and dissolved. Further, as a catalyst, zinc octylate 0.4
Parts, mixed and dissolved, 500 parts of an inorganic filler (trade name: calcined talc BST- # 200, manufactured by Nippon Talc Co., Ltd.), and 8 parts of black pigment were added, and the mixture was uniformly stirred and mixed to obtain varnish A. Obtained. The varnish was impregnated with a glass woven cloth having a thickness of 50 μm (weight: 53 g / m 2 ), dried at 150 ° C., and gelled for 120 minutes at at 170 ° C.
Prepreg with a resin composition content of 51 wt% (prepreg
B) was created. Electrodeposited copper foil having a thickness of 12 μm is placed above and below the two prepregs B, and laminated and molded at 200 ° C., 20 kgf / cm 2 , and a vacuum of 30 mmHg or less for 2 hours, and a double-sided copper-clad laminate C having a total thickness of 134 μm is formed. I got

【0025】一方、タルク(平均粒子径:0.4μm、商
品名BST#200)800部に、ポリビニルアルコール粉体を水
に溶解したワニスを加え、均一に攪拌混合した。これを
厚さ50μmのポリエチレンテレフタレートフィルム片
面上に、厚さ30μmとなるように塗布し、110℃で30
分間乾燥して、タルク含有量40vol%の補助材料Dを形
成した。上記銅張積層板の上に、樹脂面が銅箔側を向く
ように配置し、100℃の熱ロールで加熱圧着した。孔径1
00μmの孔を7mm角内に100個直接炭酸ガスレーザー
で、出力40mJ/パルス で1ショットかけて銅箔に孔をあ
けた。次に出力を20mJ/パルス にして1ショット、更
にビア孔底部、すなわち上面銅箔の樹脂側を、出力7mJ
/パルス にて1ショット照射して、径300μmのハンダボ
ールパッド内に100μmの孔を均等に3個あけた〔図1−
b〕。SUEP処理を行い、銅箔を残存厚さ5μmまで溶
解し、プラズマ装置の中に入れ、酸素雰囲気中で10分、
更にアルゴン雰囲気中で5分間処理を行い、ビア孔内部
の残存樹脂層を除去するとともに、表裏銅箔の表層を除
去し、厚み4μmとした。これを過マンガン酸カリ水溶液
に入れ、超音波中で湿潤処理後、この板に通常の無電
解、電解銅メッキを行なった〔図1-f,m〕。この表面を
ソフトエッチングし、表裏に、既存の方法にて回路(ラ
イン/スペース=50/50μmを200個)を形成し、少なくと
も半導体チップ部、ボンディング用パッド部〔図1-
l〕、ハンダボールパッド部〔図1-e〕を除いてメッキ
レジスト〔図1-g〕で被覆し、ニッケル、金メッキ〔図
1-l〕を施し、プリント配線板を作成した。これに銀ペ
ースト〔図1-h〕で半導体チップ〔図1-I〕を接着固定
し、ボンディングワイヤ〔図1-j〕でボンディングパッ
ド〔図1-l〕に接続し、封止樹脂〔図1-k〕で樹脂封止
した。さらにハンダボール〔図1-c〕を溶融接着した。
このプリント配線板の評価結果を表1に示す。
On the other hand, a varnish prepared by dissolving polyvinyl alcohol powder in water was added to 800 parts of talc (average particle size: 0.4 μm, trade name: BST # 200), and the mixture was uniformly stirred and mixed. This was applied on one side of a polyethylene terephthalate film having a thickness of 50 μm so as to have a thickness of 30 μm.
After drying for a minute, an auxiliary material D with a talc content of 40 vol% was formed. On the above-mentioned copper clad laminate, it was arranged so that the resin surface faced the copper foil side, and was heat-pressed with a hot roll at 100 ° C. Hole diameter 1
One hundred μm holes were made in a 7 mm square with a direct carbon dioxide laser at a power of 40 mJ / pulse and one shot was made in the copper foil. Next, the output was set to 20 mJ / pulse, and one shot was taken.
/ Pulse irradiates one shot, and three holes of 100 μm are equally formed in a 300 μm diameter solder ball pad [Fig.
b]. Perform a SUEP treatment, dissolve the copper foil to a residual thickness of 5 μm, put it in a plasma device, and in an oxygen atmosphere for 10 minutes,
Further, a treatment was performed for 5 minutes in an argon atmosphere to remove the residual resin layer inside the via hole and remove the surface layer of the front and back copper foils to obtain a thickness of 4 μm. This was put in an aqueous solution of potassium permanganate, wet-treated in an ultrasonic wave, and then subjected to ordinary electroless and electrolytic copper plating on the plate [FIG. 1-f, m]. The surface is soft-etched to form a circuit (200 lines / space = 50/50 μm) on the front and back by the existing method, and at least a semiconductor chip portion and a bonding pad portion [FIG.
l], except for the solder ball pad portion (FIG. 1-e), coating with a plating resist [FIG. 1-g], and plating with nickel and gold [FIG. 1-1] to produce a printed wiring board. A semiconductor chip (FIG. 1-I) is adhered and fixed to this with a silver paste (FIG. 1-h), connected to a bonding pad (FIG. 1-1) with a bonding wire (FIG. 1-j), and a sealing resin [FIG. 1-k]. Further, a solder ball [FIG. 1-c] was melt-bonded.
Table 1 shows the evaluation results of the printed wiring board.

【0026】実施例2 エポキシ樹脂(商品名:エピコート5045)700部、及びエ
ポキシ樹脂(商品名:ESCN-220F)300部、ジシアンジア
ミド35部、2-エチル-4-メチルイミダゾール1部をメチル
エチルケトンとジメチルホルムアミドの混合溶剤に溶解
し、均一に攪拌、混合した。これを実施例1と同じガラ
スクロスに含浸させ、乾燥して、ゲル化時間150秒のプ
リプレグEを作成した。このプリプレグEを3枚使用し、
190℃、20kgf/cm2、30mmHg以下の真空下で積層成形し、
厚さ189μmの両面銅張積層板を作成した。同様に孔径1
25μmの3個のブラインドホールをあけ、この孔をパ
ルスメッキ(日本リノナール方式)にて27容積%充填
した後、後は同様にしてプリント配線板を作成し、ハン
ダボールを接続した。このプリント配線板の評価結果を
表1に示す。
Example 2 700 parts of an epoxy resin (trade name: Epikote 5045), 300 parts of an epoxy resin (trade name: ESCN-220F), 35 parts of dicyandiamide, and 1 part of 2-ethyl-4-methylimidazole were mixed with methyl ethyl ketone and dimethyl. It was dissolved in a mixed solvent of formamide, uniformly stirred and mixed. This was impregnated into the same glass cloth as in Example 1 and dried to prepare a prepreg E having a gelation time of 150 seconds. Use three prepregs E,
190 ° C., and laminate molding under vacuum of below 20kgf / cm 2, 30mmHg,
A 189 μm-thick double-sided copper-clad laminate was prepared. Similarly, hole diameter 1
Three blind holes of 25 μm were made, and the holes were filled with 27% by volume by pulse plating (Nihon Renonal method). Thereafter, a printed wiring board was prepared in the same manner, and solder balls were connected. Table 1 shows the evaluation results of the printed wiring board.

【0027】比較例1、2 実施例1において、ハンダボールパッド内に、100μmの
孔径のブラインドホールを0、1個あけ、その他は同様
にしてプリント配線板を作成した。評価結果を表1に示
す。
Comparative Examples 1 and 2 A printed wiring board was prepared in the same manner as in Example 1 except that 0 or 1 blind hole having a hole diameter of 100 μm was formed in the solder ball pad. Table 1 shows the evaluation results.

【0028】比較例3 実施例2において、ガラスクロスとして重量48g/cm2
ものを使用し、同様にしてプリプレグを作成し、これを
2枚使用して、同様に積層成形して両面銅張積層板とし
た。ハンダボールパッドの中に孔をあけず、後は同様に
してプリント配線板を作成し、評価を行った。結果を表
1に示す。
Comparative Example 3 A prepreg was prepared in the same manner as in Example 2 except that a glass cloth having a weight of 48 g / cm 2 was used.
Two sheets were similarly laminated and formed into a double-sided copper-clad laminate. A hole was not made in the solder ball pad, and thereafter, a printed wiring board was prepared and evaluated in the same manner. Table 1 shows the results.

【0029】[0029]

【表1】 [Table 1]

【0030】注:ガラス転位温度:℃、ボール・シェア
強度:kgf, 粘弾性:×1010dyne/cm2
Note: Glass transition temperature: ° C., ball shear strength: kgf, viscoelasticity: × 10 10 dyne / cm 2 .

【0031】<測定方法> 1)ガラス転移温度 DMA法にて測定した。 2)ボール・シェア強度測定 横から引っ張って測定した。 3)DMAにて測定した。 4)プレッシャークッカー処理後の絶縁抵抗値 ライン/スペース=50/50μmの櫛形パターンを作成し、
この上に、それぞれ使用 したプリプレグを配置し、
積層成形したものを、121℃・2気圧で所定時間処理した
後、25℃・60%RHで2時間後処理を行い、500VDCを印加60
秒後に、その端子間の絶縁抵 抗値を測定した。 5)耐マイグレーション性 上記4)の試験片を85℃、50VDC印加して端子間の絶縁抵
抗値を測定した。 6)ブラインドホールヒートサイクル試験 各ブラインドホールを形成したパッドを100個つなぎ、1
サイクルが、260℃ ・半田浸漬 30秒→ 室温5分 で200サイクル実施し、
抵抗値の変化率の最大値を示した。
<Measurement method> 1) Glass transition temperature Measured by a DMA method. 2) Ball shear strength measurement It was measured by pulling from the side. 3) Measured by DMA. 4) Insulation resistance value after pressure cooker processing Create a comb pattern of line / space = 50 / 50μm,
Place the used prepreg on this,
After laminating and molding, it is treated at 121 ° C. and 2 atm for a predetermined period of time, then post-treated at 25 ° C. and 60% RH for 2 hours, and 500 VDC is applied for 60 hours.
Seconds later, the insulation resistance between the terminals was measured. 5) Migration resistance The test piece of 4) was applied at 85 ° C. and 50 VDC, and the insulation resistance between the terminals was measured. 6) Blind hole heat cycle test Connect 100 pads with each blind hole,
Cycle is 260 ℃, solder immersion 30 seconds → room temperature 5 minutes 200 cycles,
The maximum value of the rate of change of the resistance value is shown.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明の半導体チップスケールパッケー
ジ用プリント配線板によれば、ハンダボールのシェア強
度が大きく改善されたプリント配線板が提供される。、
更には銅張積層板の樹脂として多官能性シアン酸エステ
ル、該シアン酸エステルプレポリマーを用いることによ
り、耐熱性、プレッシャークッカー処理後の電気絶縁
性、耐マイグレーション性などに優れたチップスケール
パッケージ用プリント配線板が提供される。
According to the printed wiring board for a semiconductor chip scale package of the present invention, there is provided a printed wiring board in which the shear strength of solder balls is greatly improved. ,
Furthermore, by using a polyfunctional cyanate ester and the cyanate ester prepolymer as a resin for the copper-clad laminate, it is used for chip scale packages with excellent heat resistance, electrical insulation after pressure cooker treatment, migration resistance, etc. A printed wiring board is provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1のボールパッドにあけた、3個の径0.
1mmブラインドホールと0.3mmのハンダボールとの接合状
態を示す説明図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating three ball diameters of the ball pad of Example 1.
FIG. 4 is an explanatory view showing a joint state between a 1 mm blind hole and a 0.3 mm solder ball.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

a 上面の銅箔パッド b 100μmφのブラインドホール c ハンダボール d ガラス布基材熱硬化性樹脂層 e 下面のハンダボールパッド f 銅メッキ g メッキレジスト h 銀ペースト i 半導体チップ j ボンディングワイヤ k 封止樹脂 l ボンディング端子 m ブラインドホール導体 n 上面パッドの裏側の銅メッキされた面 a Copper foil pad on upper surface b Blind hole of 100 μmφ c Solder ball d Glass cloth base thermosetting resin layer e Solder ball pad on lower surface f Copper plating g Plating resist h Silver paste i Semiconductor chip j Bonding wire k Sealing resin l Bonding terminal m Blind hole conductor n Copper-plated surface behind top pad

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 厚さ0.2mm以下の両面銅張板を半導
体チップスケールパッケージのサブストレートとし、上
面の銅箔側には半導体チップの端子と該サブストレート
を接続するためのワイヤボンディングまたはフリップチ
ップボンディング端子を設け、且つ、該端子と電気的に
接続し、下面に設けたブラインドホールと電気的に接続
できる位置に銅パッドを設け、該銅パッドと対応する位
置の下面にハンダボール固定用パッドを設け、該ハンダ
ボール固定用パッド内に2個以上のブラインドホールを
設け、上面銅パッドの裏側と導体で接続された下面のハ
ンダボール固定用パッドが、ブラインドホール内に溶融
充填して盛り上げたハンダボールで電気的に接続されて
いることを特徴とするチップスケールパッケージ用プリ
ント配線板。
1. A double-sided copper-clad plate having a thickness of 0.2 mm or less is used as a substrate of a semiconductor chip scale package, and wire bonding or flipping for connecting a terminal of the semiconductor chip and the substrate is provided on a copper foil side on an upper surface. A copper pad is provided at a position where a chip bonding terminal is provided and electrically connected to the terminal and electrically connectable to a blind hole provided on the lower surface, and a solder ball is fixed on a lower surface at a position corresponding to the copper pad. A pad is provided, two or more blind holes are provided in the solder ball fixing pad, and the solder ball fixing pad on the lower surface connected to the back side of the upper surface copper pad and the conductor is melt-filled into the blind hole and raised. A printed wiring board for a chip scale package, wherein the printed wiring board is electrically connected by solder balls.
【請求項2】 該銅張板の絶縁層が、有機または無機の
基材に多官能性シアン酸エステル、該シアン酸エステル
プレポリマーを必須成分とする熱硬化性樹脂組成物を含
浸、乾燥して得られるプリプレグを積層成形して得られ
る積層板である請求項1記載のプリント配線板。
2. The insulating layer of the copper clad board is formed by impregnating an organic or inorganic base material with a polyfunctional cyanate ester and a thermosetting resin composition containing the cyanate ester prepolymer as an essential component, followed by drying. The printed wiring board according to claim 1, which is a laminate obtained by laminating prepregs obtained by lamination.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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