JP2000216668A - 波形整形回路 - Google Patents

波形整形回路

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JP2000216668A
JP2000216668A JP11012278A JP1227899A JP2000216668A JP 2000216668 A JP2000216668 A JP 2000216668A JP 11012278 A JP11012278 A JP 11012278A JP 1227899 A JP1227899 A JP 1227899A JP 2000216668 A JP2000216668 A JP 2000216668A
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JP
Japan
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circuit
output
signal
level
gate
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JP11012278A
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Takashi Iguchi
隆史 井口
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 フルスイングするノイズに誤動作しないデジ
タル信号発生回路を提供する。 【解決手段】 セレクタ信号S1〜S3が順次「L」レ
ベルに変化すると、入力データがラッチ回路5〜7にラ
ッチされる。すると、ノアゲート8の入力がすべて
「H」レベルになり、ノアゲート8から「H」レベルの
出力が発生する。また、ノイズが入力された場合、セレ
クタ信号S1〜S3が順次「L」レベルになっても、ノ
イズがすべてのラッチ回路5〜7にラッチされないの
で、ノアゲート8からの出力は防止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばキー入力回
路からの出力信号を波形整形する波形整形回路に関し、
特にノイズによって誤動作しない波形整形回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般に、キー入力回路において、例えば
外部キーマトリクスからの入力データは、2値信号に波
形整形された後、入力処理部に印加される。キー入力回
路は図5のように構成されており、キーマトリクス51
中のいずれかのキーが押下されると、キースキャン回路
52が動作を開始し、キーマトリクス51をスキャンし
てキー入力データを取り込む。そして、キースキャン回
路52は、キースキャンが完了すると、キー入力データ
を入力処理部53に転送する。入力処理部53では、キ
ー入力データを一時保持し、保持が完了すると次に外部
マイクロコンピュータにキー入力データをシリアル転送
する。
【0003】図5のキースキャン回路52においては、
キーマトリクス51からキー入力データを波形整形した
後、取り込んでいる。一般に、波形整形回路としては、
図3に示されるようなシュミットトリガー回路が用いら
れている。図3において、初期状態での入出力レベルを
それぞれ「L」及び「H」とすると、トランスミッショ
ンゲート31及び32はインバータ35及び36の出力
によりそれぞれオン及びオフしている。よって、初期状
態時、インバータ35の入力は、インバータ31の出力
が入力になる。また、インバータ31及び32のしきい
値は、それぞれ2・Vdd/3及びVdd/3に設定さ
れている。よって、シュミットインバータ回路としての
しきい値は2・Vdd/3である。
【0004】ここで、図4のような(ア)のキー入力デ
ータが入力され、キー入力データがVdd/3まで上昇
すると、インバータ32の出力は「L」レベルに反転さ
れる。しかし、インバータ32の出力はトランスミッシ
ョンゲート34で遮断される。その後、キー入力データ
が2・Vdd/3まで上昇すると、今度はインバータ3
1の出力が「L」レベルに反転される。インバータ31
の出力はトランスミッションゲート33を通ってインバ
ータ35に入力されるので、インバータ35及び36の
出力が順次「H」及び「L」レベルに反転される。従っ
て、シュミットインバータ回路としての出力は「L」レ
ベルになる。
【0005】インバータ35及び36の出力がそれぞれ
「H」及び「L」レベルになると、トランスミッション
ゲート33及び34がそれぞれオフ及びオンするので、
シュミットインバータ回路としてのしきい値はVdd/
3になる。そして、キー入力データが2・Vdd/3ま
で下降して、インバータ31の出力が反転してもトラン
スミッションゲート33で遮断される。さらに、Vdd
/3まで下降すると、インバータ32の出力が「H」レ
ベルに反転されるので、インバータ35及び36はそれ
ぞれ「L」及び「H」レベルに反転され、その結果シュ
ミットインバータ回路としての出力は「H」レベルにな
る。
【0006】以上述べたように、図3では、キー入力デ
ータが立ち上がるときのしきい値は図4の○印の如く2
・Vdd/3となり、逆に立ち下がるときのしきい値は
図4の□印の如くVdd/3になる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3の
シュミットインバータに、図4のような幅が1μsec
程度で、Vddレベル(少なくとも2・Vdd/3以
上)までフルスイングするノイズが混入された場合、シ
ュミットインバータ回路が動作し、ノイズ幅に対応した
2値信号が発生するという問題があった。
【0008】この問題を解決する手段として、図4のよ
うにインバータ31及び32の出力端にコンデンサーを
接続して、前記ノイズを吸収することが知られている。
しかし、図3の回路を半導体基板上に集積化しようとす
ると、コンデンサーは50pF必要なので、チップ面積
が数10%増大するという問題が新たに発生する。
【0009】そこで、本発明の目的は、ノイズにより誤
動作せず、かつ半導体集積化に好適な波形整形回路を提
供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、入力信号を2
値信号に変換する2値信号発生回路において、セレクタ
信号に応じて順次開かれ、入力信号を導通する複数のセ
レクタと、該複数のセレクタの出力信号をそれぞれラッ
チする複数のラッチ回路と、該複数のラッチ回路の出力
信号がすべて所定のレベルになったとき出力信号を発生
する判定回路とから成ることを特徴とする。
【0011】さらに、前記セレクト信号に応じて前記判
定回路の出力信号を導通させる出力ゲート回路とを備え
ることを特徴とする。
【0012】特に、前記判定回路は論理ゲートから成る
ことを特徴とする。また、前記ラッチ回路のしきい値
は、電源電圧の半分の電圧より高く、電源電圧より低い
ことを特徴とする。
【0013】本発明によれば、複数のセレクタはセレク
タ信号によって順次開かれ、複数のセレクタに接続され
たラッチ回路に順次ラッチされる。ラッチ回路の出力が
すべて同一となった場合には、判定回路から出力信号が
発生する。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施形態を示す図
であり、1は所定のタイミングに従ってセレクタ信号S
1〜S4を発生するセレクタ信号発生回路、2はセレク
タ信号S1に応じて入力データを導通または遮断するセ
レクタ、3はセレクタ信号S2に応じて入力データを導
通または遮断するセレクタ、4はセレクタ信号S3に応
じて入力データを導通または遮断するセレクタ、5〜7
はインバータで構成され、セレクタ2〜4の出力信号を
それぞれラッチするラッチ回路、8はラッチ回路5〜7
の出力データを入力とし、前記出力データがすべて
「L」になったとき出力信号を発生する、判定回路とし
てのノアゲート、9はセレクト信号S4に応じてノアゲ
ート8の出力信号を導通または遮断する出力ゲートであ
る。
【0015】図1の動作を図2のタイミングチャートを
参照して説明する。図1の入力端子INに図4アのよう
な入力データが印加されたとする。また、入力データが
印加された時刻をt0とする。図4の時刻t1でセレク
タ信号S1が「L」レベルになると、セレクタ2が開
き、「H」レベルの入力データがラッチ回路5にラッチ
される。図4の時刻t2でセレクタ信号S2は「L」レ
ベルになり、セレクタ3が開き、「H」レベルの入力デ
ータがラッチ回路6にラッチされる。さらに、時刻t3
でセレクタ信号S3が「L」レベルになると、セレクタ
4が開いて、ラッチ回路7にも入力データがラッチされ
る。時刻t3でラッチ回路7に入力データがラッチされ
ると、ノアゲート8の入力はすべて「L」レベルとな
り、ノアゲート8の出力は「H」レベルになる。
【0016】その後、時刻t4でセレクタ信号S1が
「H」レベルになると、セレクタ2が閉じられる。さら
に、時刻t5及びt6でもセレクタ信号S2及びS3が
「H」レベルになり、セレクタ3及び4が閉じられる。
セレクタ2〜4が閉じられても、ラッチ回路5〜7には
入力データがラッチされているので、ノアゲート8の出
力は「H」レベルを保持する。
【0017】さらに、時刻t7〜t9と順次経過する
と、セレクタ2〜4が順次開く。このとき、入力データ
は「L」レベルであるので、ラッチ回路5に前記入力デ
ータがラッチされた時点でノアゲート8の出力は「L」
レベルに反転される。よって、入力データが入力される
と、それに対応した出力データがノアゲート8から出力
される(図2t3〜t7)。
【0018】また、図1のように出力ゲートをノアゲー
ト8の後段に接続し、セレクト信号S3と同一周波数及
び同相のセレクタ信号S4を出力することにより、セレ
クタ9が開いている間にだけ出力データを出力させるこ
とが可能になる。そして、セレクタ9が閉じている間出
力が禁止されるので、不要な出力、例えばノアゲートの
動作に起因するノイズ等の出力を防止することができ
る。尚、セレクタ信号S4のタイミングは任意に設定す
ることができる。
【0019】ところで、図2のようにレベルがVdd程
度のノイズが入力された場合、ノイズ幅はセレクタ2が
開いてからセレクタ4が開くまでの時間より狭いため、
ラッチ回路5〜7のいずれか1つにノイズがラッチされ
ても、他のラッチ回路にはラッチされない。その為、ノ
アゲート8の入力がすべて「L」レベルにならず、ノア
ゲート8から出力は発生しない。
【0020】よって、図1の回路では、セレクタ3〜5
がすべて開いている間に、ラッチ回路5〜7に「H」レ
ベルのデータがラッチされた場合のみ出力データを発生
するので、幅の狭いノイズには動作せず、大レベルのノ
イズに対応した出力データの発生を防止できる。
【0021】尚、図1においては、入力データを3点で
検出してノアゲート8に入力していたが、これに限らず
入力データを、3点を含む2点以上の点で検出すること
が可能である。この場合、検出点を多くすると、幅の広
いノイズに対しても誤動作を防止することが可能にな
る。また、図1においてはノアゲート8を判定回路とし
て構成したが、これに限らず例えばアンドゲートのよう
なすべての入力が所定レベルになったときに出力を発生
するゲートまたは回路でも構成が可能である。
【0022】また、ラッチ回路のインバータのしきい値
を、電源電圧の半分の電圧Vdd/2より高くかつ電源
電圧Vddより低い値に設定すると、小レベルのノイズ
に対応して出力データを発生するような誤動作を防止で
きる。
【0023】ところで、このような波形整形回路を図5
のようなキー入力回路に用いた場合、キー入力データは
クロックに同期してキースキャン回路に入力されるの
で、セレクタ信号をクロックに同期させれば、キー入力
データのタイミングに従ってセレクタ信号を発生させる
ことが可能になる。
【0024】図1の回路は図3の従来例と比べて回路素
子数は増大する。しかし、半導体基板上に集積化した場
合コンデンサーのチップ面積がトランジスタのチップ面
積に比べ大きくなることはよく知られている。そのた
め、集積化した場合は図1の回路素子数が増大したとし
ても、図1の回路ではコンデンサーを使用していないの
で、チップ面積の増大を従来に比べても防止することが
できる。
【0025】
【発明の効果】本発明に依れば、例えば1μsecの幅
でかつフルスイングするノイズが入力されても誤動作せ
ず、入力データに対応してデジタル信号のみを正確に発
生するデジタル信号発生回路を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す回路図である。
【図2】図1の動作を示すタイミングチャートである。
【図3】従来例を示す回路図である。
【図4】図2の動作を示すタイミングチャートである。
【図5】キー入力回路の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 セレクタ信号発生回路 2〜3 セレクタ 5〜7 ラッチ回路 9 出力ゲート

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号を2値信号に変換する2値信号
    発生回路において、 セレクタ信号に応じて順次開かれ、入力信号を導通する
    複数のセレクタと、 該複数のセレクタの出力信号をそれぞれラッチする複数
    のラッチ回路と、 該複数のラッチ回路の出力信号がすべて所定のレベルに
    なったとき出力信号を発生する判定回路とから成ること
    を特徴とする波形整形回路。
  2. 【請求項2】 前記セレクト信号に応じて前記判定回路
    の出力信号を導通させる出力ゲート回路とを備えること
    を特徴とする請求項1記載の波形整形回路。
  3. 【請求項3】 前記判定回路は論理ゲートから成ること
    を特徴とする請求項1記載の波形整形回路。
  4. 【請求項4】 前記ラッチ回路のしきい値は、電源電圧
    の半分の電圧より高く、電源電圧より低いことを特徴と
    する請求項1記載の波形整形回路。
JP11012278A 1999-01-20 1999-01-20 波形整形回路 Pending JP2000216668A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009124380A (ja) * 2007-11-14 2009-06-04 Seiko Epson Corp ノイズリダクション回路、および電子機器
US8421503B2 (en) 2009-03-06 2013-04-16 Fujitsu Semiconductor Limited Latch circuit

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RD01 Notification of change of attorney

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Effective date: 20051227