JP2000206207A - 自動化試験方法 - Google Patents
自動化試験方法Info
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- JP2000206207A JP2000206207A JP11011044A JP1104499A JP2000206207A JP 2000206207 A JP2000206207 A JP 2000206207A JP 11011044 A JP11011044 A JP 11011044A JP 1104499 A JP1104499 A JP 1104499A JP 2000206207 A JP2000206207 A JP 2000206207A
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- JP
- Japan
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- analog
- personal computer
- multiplexer
- calibration
- chip microcomputer
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- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 校正，試験の作業時間を短縮し、作業効率，
不良解析効率などを向上させる。 【解決手段】 アナログ機器４のプロセッサＣＰＵをイ
ンタフェース装置６を介して所定の校正・試験機能を持
つパソコン９に直接接続するとともに、マルチプレクサ
５を介して電圧／電流発生器２，マルチメータ３などの
外部機器を接続し、かつパソコン９とマルチプレクサ
５，外部機器２，３間をそれぞれ接続することで、校
正，試験のための時間を短縮し、高効率化を図る。
不良解析効率などを向上させる。 【解決手段】 アナログ機器４のプロセッサＣＰＵをイ
ンタフェース装置６を介して所定の校正・試験機能を持
つパソコン９に直接接続するとともに、マルチプレクサ
５を介して電圧／電流発生器２，マルチメータ３などの
外部機器を接続し、かつパソコン９とマルチプレクサ
５，外部機器２，３間をそれぞれ接続することで、校
正，試験のための時間を短縮し、高効率化を図る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、アナログ／ディ
ジタル（ＡＤ）変換またはディジタル／アナログ（Ｄ
Ａ）変換を行なうアナログ機器の自動化試験方法に関す
る。
ジタル（ＡＤ）変換またはディジタル／アナログ（Ｄ
Ａ）変換を行なうアナログ機器の自動化試験方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】図３に従来例を示し、図４にその動作フ
ローチャートを示す。なお、図３において、１はロー
ダ、２は電圧／電流発生器などのＤＡ変換機器、３はマ
ルチメータなどのＡＤ変換機器、４はワンチップマイク
ロコンピュータ（ワンチップマイコン）を備え、アナロ
グとディジタルの相互変換が可能なアナログ機器、４Ａ
はこのアナログ機器４の外部機器とのインタフェース部
分を示す。
ローチャートを示す。なお、図３において、１はロー
ダ、２は電圧／電流発生器などのＤＡ変換機器、３はマ
ルチメータなどのＡＤ変換機器、４はワンチップマイク
ロコンピュータ（ワンチップマイコン）を備え、アナロ
グとディジタルの相互変換が可能なアナログ機器、４Ａ
はこのアナログ機器４の外部機器とのインタフェース部
分を示す。
【０００３】その動作について簡単に説明する。先ず、
インタフェース部分４Ａの第１チャネルに外部機器をセ
ッティングし（ステップＳ１参照）、外部機器から入力
されるデータのモニタまたはアナログ機器４から出力さ
れるデータのモニタを行ない（ステップＳ２）、データ
を記録する（ステップＳ３）。次にチャネル（配線）を
変えて上記と同様の処理を行ない、全チャネル分行なう
（ステップＳ４〜Ｓ６参照）。ステップＳ７でデータを
編集して、終了する。以上の如きチャネルを変える配線
変更，計測器の操作および記録，編集に到るまで、従来
はすべて手作業で行なうのが一般的である。
インタフェース部分４Ａの第１チャネルに外部機器をセ
ッティングし（ステップＳ１参照）、外部機器から入力
されるデータのモニタまたはアナログ機器４から出力さ
れるデータのモニタを行ない（ステップＳ２）、データ
を記録する（ステップＳ３）。次にチャネル（配線）を
変えて上記と同様の処理を行ない、全チャネル分行なう
（ステップＳ４〜Ｓ６参照）。ステップＳ７でデータを
編集して、終了する。以上の如きチャネルを変える配線
変更，計測器の操作および記録，編集に到るまで、従来
はすべて手作業で行なうのが一般的である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】いま、アナログ機器４
の分解能が１２ビットで外部機器が８チャネル分あると
すると、１環境当たり約４０００（≒２12）データ×８
のデータ取りを必要とし、試験に当たっては高温，低
温，常温（高湿度）の４つの環境下でのデータ取りが必
要となる。１チャネル当たりの作業時間に約１５秒程度
掛かるので、１５ｓｅｃ×４０００データ×８チャネル
×４環境＝３２０００分を必要とする。また、不良解析
においても、図３のパネル・ローダ１から変換値をモニ
タするなど、解析手段が乏しく、計測器を駆使して不良
箇所の検討（目安）をつけるなどしているため、効率が
極めて悪いという問題がある。したがって、この発明の
課題は、試験等の作業時間を短縮し、作業効率を改善す
ることにある。
の分解能が１２ビットで外部機器が８チャネル分あると
すると、１環境当たり約４０００（≒２12）データ×８
のデータ取りを必要とし、試験に当たっては高温，低
温，常温（高湿度）の４つの環境下でのデータ取りが必
要となる。１チャネル当たりの作業時間に約１５秒程度
掛かるので、１５ｓｅｃ×４０００データ×８チャネル
×４環境＝３２０００分を必要とする。また、不良解析
においても、図３のパネル・ローダ１から変換値をモニ
タするなど、解析手段が乏しく、計測器を駆使して不良
箇所の検討（目安）をつけるなどしているため、効率が
極めて悪いという問題がある。したがって、この発明の
課題は、試験等の作業時間を短縮し、作業効率を改善す
ることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明では、ア
ナログ／ディジタル変換器，ディジタル／アナログ変換
器を含む外部機器とのインタフェース部を備え、ワンチ
ップマイクロコンピュータ（ワンチップマイコン）から
なるアナログ機器の、前記ワンチップマイコンのプロセ
ッサを、所定のインタフェースを介して所定の校正・特
性試験機能を備えたパーソナルコンピュータ（パソコ
ン）に直接接続するとともに、マルチプレクサを介して
アナログ／ディジタル変換器またはディジタル／アナロ
グ変換器を含む外部機器を接続し、かつ、パソコンとマ
ルチプレクサ，外部機器間をそれぞれ接続することによ
り、このパソコンからマルチプレクサを介してアナログ
機器の校正・特性試験の自動化を可能にしている。この
請求項１の発明においては、前記パソコンに、少なくと
もワンチップマイコン内メモリのリード／ライトが可能
な簡易インサーキットエミュレータ（簡易ＩＣＥ）機能
を持たせることにより、不良解析効率を向上させること
ができる（請求項２の発明）。
ナログ／ディジタル変換器，ディジタル／アナログ変換
器を含む外部機器とのインタフェース部を備え、ワンチ
ップマイクロコンピュータ（ワンチップマイコン）から
なるアナログ機器の、前記ワンチップマイコンのプロセ
ッサを、所定のインタフェースを介して所定の校正・特
性試験機能を備えたパーソナルコンピュータ（パソコ
ン）に直接接続するとともに、マルチプレクサを介して
アナログ／ディジタル変換器またはディジタル／アナロ
グ変換器を含む外部機器を接続し、かつ、パソコンとマ
ルチプレクサ，外部機器間をそれぞれ接続することによ
り、このパソコンからマルチプレクサを介してアナログ
機器の校正・特性試験の自動化を可能にしている。この
請求項１の発明においては、前記パソコンに、少なくと
もワンチップマイコン内メモリのリード／ライトが可能
な簡易インサーキットエミュレータ（簡易ＩＣＥ）機能
を持たせることにより、不良解析効率を向上させること
ができる（請求項２の発明）。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１はこの発明の実施の形態を示
す接続態様図、図２はその動作を説明するためのフロー
チャートである。以下、これらの図を参照して説明す
る。まず、各部のセッティングを行なう（図２のステッ
プＳ１参照）。図１はかかるセッティング結果を示すも
のである。すなわち、アナログ機器４のプロセッサ部
（ＣＰＵ）を、ＲＳ２３２Ｃレベル変換器を含むインタ
フェース装置６を介してパーソナルコンピュータ（パソ
コン）９に接続する。この接続は、ワンチップマイコン
の所定端子を利用して簡単に行なうことができる。一
方、パソコン９には予め初期校正，特性計測，計測器操
作などの校正・試験プログラムや、ワンチップマイコン
内メモリのリード／ライトが可能な簡易インサーキット
エミュレータ（簡易ＩＣＥ）機能などを持たせておくも
のとする。
す接続態様図、図２はその動作を説明するためのフロー
チャートである。以下、これらの図を参照して説明す
る。まず、各部のセッティングを行なう（図２のステッ
プＳ１参照）。図１はかかるセッティング結果を示すも
のである。すなわち、アナログ機器４のプロセッサ部
（ＣＰＵ）を、ＲＳ２３２Ｃレベル変換器を含むインタ
フェース装置６を介してパーソナルコンピュータ（パソ
コン）９に接続する。この接続は、ワンチップマイコン
の所定端子を利用して簡単に行なうことができる。一
方、パソコン９には予め初期校正，特性計測，計測器操
作などの校正・試験プログラムや、ワンチップマイコン
内メモリのリード／ライトが可能な簡易インサーキット
エミュレータ（簡易ＩＣＥ）機能などを持たせておくも
のとする。
【０００７】また、アナログ機器４のインタフェース部
分４Ａにマルチプレクサ５を接続し、かつ、マルチプレ
クサ５には電圧／電流発生器２，マルチメータ３を接続
し、さらに、マルチプレクサ５，電圧／電流発生器２，
マルチメータ３をパソコン９に接続する。７，８は通信
ケーブルで、７はＲＳ２３２Ｃ、８はＧＰ−ＩＢの各イ
ンタフェースをそれぞれ想定しているが、パソコンとイ
ンタフェースがとれるものであればどのような方式でも
良い。以上のようにすることで、パソコン９の校正・試
験プログラムが起動されれば計測，記録が自動的に行な
われ（図２のステップＳ２参照：図４のステップＳ２〜
Ｓ６に対応する）、記録したデータの表計算ツールへの
貼付けなどのデータ編集処理も自動的に行なうことが可
能となる（図２のステップＳ３参照）。
分４Ａにマルチプレクサ５を接続し、かつ、マルチプレ
クサ５には電圧／電流発生器２，マルチメータ３を接続
し、さらに、マルチプレクサ５，電圧／電流発生器２，
マルチメータ３をパソコン９に接続する。７，８は通信
ケーブルで、７はＲＳ２３２Ｃ、８はＧＰ−ＩＢの各イ
ンタフェースをそれぞれ想定しているが、パソコンとイ
ンタフェースがとれるものであればどのような方式でも
良い。以上のようにすることで、パソコン９の校正・試
験プログラムが起動されれば計測，記録が自動的に行な
われ（図２のステップＳ２参照：図４のステップＳ２〜
Ｓ６に対応する）、記録したデータの表計算ツールへの
貼付けなどのデータ編集処理も自動的に行なうことが可
能となる（図２のステップＳ３参照）。
【０００８】
【発明の効果】この発明によれば、パソコンを用いて校
正，試験を自動化するようにしたので、１チャネル当た
り１ｓｅｃで行なうことが可能となる。つまり、従来
は、１５ｓｅｃ×４０００データ×８チャネル×４環境
≒３２０００分であったが、この発明によれば、これを
１ｓｅｃ×４０００データ×８チャネル×４環境≒２１
３３分とすることができ、１／１５に短縮されることに
なる。また、動作中、試験者は別の作業ができるので、
作業効率が大幅に改善される。さらに、簡易ＩＣＥ機能
を持たせることで、ＩＣＥを使用したことのない人でも
内部解析が、高価なＩＣＥを用いることなくできるよう
になる。加えて、初期校正の時間も短縮されるので、製
品コストを削減することができる。
正，試験を自動化するようにしたので、１チャネル当た
り１ｓｅｃで行なうことが可能となる。つまり、従来
は、１５ｓｅｃ×４０００データ×８チャネル×４環境
≒３２０００分であったが、この発明によれば、これを
１ｓｅｃ×４０００データ×８チャネル×４環境≒２１
３３分とすることができ、１／１５に短縮されることに
なる。また、動作中、試験者は別の作業ができるので、
作業効率が大幅に改善される。さらに、簡易ＩＣＥ機能
を持たせることで、ＩＣＥを使用したことのない人でも
内部解析が、高価なＩＣＥを用いることなくできるよう
になる。加えて、初期校正の時間も短縮されるので、製
品コストを削減することができる。
【図１】この発明の実施の形態を示す接続態様図であ
る。
る。
【図２】図１の動作を説明するためのフローチャートで
ある。
ある。
【図３】従来例を示すブロック図である。
【図４】図３の動作を説明するためのフローチャートで
ある。
ある。
１…パネル・ローダ、２…電圧／電流発生器、３…マル
チメータ、４…アナログ機器、４Ａ…アナログ機器イン
タフェース部、５…マルチプレクサ、６…レベル変換
器、７…通信ケーブル（ＲＳ２３２Ｃ）、８…通信ケー
ブル（ＧＰ−ＩＢ）、９…パーソナルコンピュータ（パ
ソコン）。
チメータ、４…アナログ機器、４Ａ…アナログ機器イン
タフェース部、５…マルチプレクサ、６…レベル変換
器、７…通信ケーブル（ＲＳ２３２Ｃ）、８…通信ケー
ブル（ＧＰ−ＩＢ）、９…パーソナルコンピュータ（パ
ソコン）。
Claims (2)
- 【請求項１】 アナログ／ディジタル変換器，ディジタ
ル／アナログ変換器を含む外部機器とのインタフェース
部を備え、ワンチップマイクロコンピュータ（ワンチッ
プマイコン）からなるアナログ機器の、前記ワンチップ
マイコンのプロセッサを、所定のインタフェースを介し
て所定の校正・特性試験機能を備えたパーソナルコンピ
ュータ（パソコン）に直接接続するとともに、マルチプ
レクサを介してアナログ／ディジタル変換器またはディ
ジタル／アナログ変換器を含む外部機器を接続し、か
つ、パソコンとマルチプレクサ，外部機器間をそれぞれ
接続することにより、このパソコンからマルチプレクサ
を介してアナログ機器の校正・特性試験の自動化を可能
にしたことを特徴とする自動化試験方法。 - 【請求項２】 前記パソコンに、少なくともワンチップ
マイコン内メモリのリード／ライトが可能な簡易インサ
ーキットエミュレータ（簡易ＩＣＥ）機能を持たせるこ
とにより、不良解析効率の向上を図ることを特徴とする
請求項１に記載の自動化試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11011044A JP2000206207A (ja) | 1999-01-19 | 1999-01-19 | 自動化試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11011044A JP2000206207A (ja) | 1999-01-19 | 1999-01-19 | 自動化試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000206207A true JP2000206207A (ja) | 2000-07-28 |
Family
ID=11767056
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11011044A Pending JP2000206207A (ja) | 1999-01-19 | 1999-01-19 | 自動化試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000206207A (ja) |
-
1999
- 1999-01-19 JP JP11011044A patent/JP2000206207A/ja active Pending
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