JP2000205817A - 電子部品の位置検出方法及び位置検出装置と電子部品の電子部品実装方法及び電子部品実装装置 - Google Patents

電子部品の位置検出方法及び位置検出装置と電子部品の電子部品実装方法及び電子部品実装装置

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JP2000205817A
JP2000205817A JP11005289A JP528999A JP2000205817A JP 2000205817 A JP2000205817 A JP 2000205817A JP 11005289 A JP11005289 A JP 11005289A JP 528999 A JP528999 A JP 528999A JP 2000205817 A JP2000205817 A JP 2000205817A
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light
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unit
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Seiji Shikimori
誠司 式守
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Yamaha Motor Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 より精度良く不良の電子部品や電子部品の吸
着状態を検出することができる電子部品実装装置の電子
部品の位置検出方法と電子部品実装方法を提供する。 【解決手段】 発光部53からノズル部材21に吸着さ
れた電子部品6に照射された平行光を、電子部品6が回
転しながら反射し、この反射光Lrを受光部54で受光
することによりノズル部材21に吸着された電子部品6
の位置ずれ及び傾きを演算する電子部品6の位置検出方
法である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ヘッドユニットに
配設される部品吸着用のノズル部材がIC等の電子部品
を吸着してプリント基板の所定位置に実装するために、
ノズル部材に吸着される電子部品の吸着状態を検知する
ように構成された実装装置の電子部品の位置検出方法及
び位置検出装置に関する、さらにこれらの電子部品の位
置検出方法及び位置検出装置を備える電子部品実装方法
及び電子部品実装装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、吸着ノズル部材を有する電子部品
実装用のヘッドユニットにより、IC等の電子部品のよ
うな小片状の電子部品を部品供給部から吸着して、プリ
ント基板上に移送し、プリント基板の所定位置に実装す
る電子部品実装装置は一般に知られている。この電子部
品実装装置は、通常、ヘッドユニットがX軸方向および
Y軸方向に移動可能とされるとともに、吸着ノズル部材
がZ軸方向に移動可能で、かつR軸方向に回転可能であ
る。このために、各方向への移動および回転のための駆
動手段が設けられている。これらの駆動手段および吸着
ノズル部材に対する負圧供給手段が制御部によって制御
されて、電子部品の吸着、実装動作が自動的に行なわれ
る。このような電子部品実装装置においては、吸着ノズ
ル部材で電子部品を吸着したときの電子部品の位置には
ある程度のばらつきがあって、電子部品の位置ずれに応
じて実装位置を補正することが要求される。このため、
ヘッドユニットの下方部等に、一定平面内で平行光線を
照射する発光部とこれに対向する受光部とからなるレー
ザーユニット等の光学的検知手段を設け、この光学的検
知手段により検出される投影幅に基づいて電子部品の中
心位置、回転角等を検出し、実装位置の補正量を求める
装置が提案されている(例えば、特開平4−32292
4号公報等を挙げることができる)。
【0003】また、発光部に点状の光源を設け、この光
源から、ノズル部材に吸着された電子部品に拡散光を照
射するとともに、電子部品を吸着したノズル部材を回転
させつつ、光学的検知手段の受光部における電子部品の
投影を測定し、受光部上の基準位置から投影の一端部ま
での距離が最小となるノズル部材回転角においてその距
離の最小値を検出する。そして、この最小値及びノズル
部材回転角の検出データと発光部、受光部及びノズル部
材の位置関係についての既知のデータとに基づき、ノズ
ル部材に吸着された電子部品の位置ずれ及び傾きを演算
する方法が提案されている(例えば、特開平9−214
198号公報等を挙げることができる。)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た位置の検出方法及び検出装置には以下のような問題点
がある。特開平4−322924号公報と特開平9−2
14198号公報等に提案されている平行光線を照射す
る検知手段及び拡散光を照射する検知手段のいずれも、
レーザー発生源、集光レンズ、ミラー及び平行光形成レ
ンズ等を備える発光部、CCDによる受光部、そして電
子部品を置くための発光部と受光部のと間隔やこれらを
配置するためのスペースを必要とするために光学的検知
手段の大型化、あるいはコスト高を招くという問題があ
る。さらに、これらの検知手段は演算式を用いるために
処理が複雑になり、また誤差を生ずることがある。ま
た、検出する電子部品が大型の場合は、それに応じて各
部品間の間隔や配置のためのスペースを拡大する必要が
あり、電子部品実装装置が大型化するという問題があ
る。
【0005】そこで、本発明は、上記の問題点を解決し
て、電子部品の位置ずれと傾きを誤差がなく、精度良
く、かつ単純な演算処理で検出する電子部品の位置検出
方法、位置検出装置を提供することを目的とする。ま
た、構造が簡単で、小型化が可能であり、電子部品実装
装置等に取り付けることが容易な位置検出装置を提供す
ることを目的とする。さらに、電子部品の位置ずれ等を
容易に演算して、電子部品の実装時間を短縮することが
でき、また、実装する電子部品の欠損の有無等を判断す
ることができる電子部品実装方法、電子部品実装装置を
提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項1に記載の発明は、電子部品実装装置のヘッ
ドユニットに配設されるノズル部材が吸着する電子部品
の位置を光を照射して検出する電子部品の位置検出方法
において、 発光部から平行光を電子部品に照射し、
ノズル部材に吸着する電子部品が光を反射し、 受光部
で反射光を受光し、 受光部で受光する反射光からノズ
ル部材に吸着される電子部品の位置ずれ及び傾きを演算
する電子部品の位置検出方法とする。請求項2に記載の
発明は、 請求項1に記載の電子部品の位置検出方法に
おいて、 前記ノズル部材に吸着する電子部品が回転し
ながら照射される光を反射する電子部品の位置検出方法
とする。請求項3に記載の発明は、 電子部品実装装置
のヘッドユニットに配設されるノズル部材が吸着する電
子部品の位置を光を照射して検出する電子部品の位置検
出装置において、 平行光を電子部品に照射する発光部
と、 電子部品からの反射光を受光する受光部と、 受
光部で受光する光からノズル部材に吸着される電子部品
の位置ずれ及び傾きを演算する演算部を備える電子部品
の位置検出装置である。請求項4に記載の発明は、 電
子部品実装装置のヘッドユニットに配設されるノズル部
材が吸着する電子部品の位置を光を照射して検出し、電
子部品を実装する電子部品実装方法において、 発光部
から平行光を電子部品に照射し、 ノズル部材に吸着す
る電子部品が回転しながら照射される光を反射し、 電
子部品からの反射光を受光部で受光し、 受光部で受光
する光からノズル部材に吸着された電子部品の位置ずれ
及び傾きを演算し、かつ ノズル部材に吸着する電子部
品をプリント基板に実装する電子部品実装方法である。
請求項5に記載の発明は、 電子部品実装装置のヘッド
ユニットに配設されるノズル部材が吸着する電子部品の
位置を光を照射して検出し、電子部品を実装する電子部
品実装装置において、 平行光を電子部品に照射する
発光部と、電子部品を吸着して、回転するノズル部材
と、 電子部品からの反射光を受光する受光部と、 受
光部で受光する光からノズル部材に吸着された電子部品
の位置ずれ及び傾きを演算する演算部を備える電子部品
実装装置である。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の一実施形態である電子部
品実装方法を図面に基づいて説明する。請求項1に記載
の発明は、電子部品実装のため、ヘッドユニット5に配
設されるノズル部材21に吸着される電子部品6の位置
を、発光部53から平行光を電子部品6に照射し、照射
光Liを電子部品6が反射し、反射光Lrを受光部54
で受光し、受光する反射光Lrからノズル部材21に吸
着される電子部品6の位置ずれ及び傾きを演算する電子
部品6の位置検出方法である。
【0008】図1は、請求項1に記載の電子部品6の位
置検出方法を具体的に説明するための位置検出装置の一
例である。図1(a)は、本発明の一実施形態の電子部
品位置検出方法を適用する電子部品の位置検出装置の概
略斜視図である。図1(b)は、電子部品の位置検出装
置の構造を示すために一部を切り欠いてる概略側面図で
ある。図1(c)は、電子部品の位置検出装置を構成す
る発光部の構造を示す概略平面図である。図1(d)
は、図1(c)に示す発光部の構造を示す概略側面図で
ある。図1(a)に示すように、電子部品6の位置検出
装置50は、位置検出部51とケーブル52により構成
されている。位置検出部51は、ケーブル52により図
示していない制御装置40につながっている。また、図
1(b)に示すように、位置検出部51は、発光部53
と受光部54を有している。さらに、図1(c)及び図
1(d)に示すように、発光部53は、光源56と平行
光形成レンズ57により構成されている。例えばLED
からなる1個の点状の光源56が発光する光を平行光形
成レンズ57により平行光を形成する。平行光は、照射
光Liとして照射する際は、スリット55aを通過させ
ることにより薄い照射光Liにする。 一方、受光部5
4は、CCD等の受光素子を線状に配列したラインセン
サを有している。また、受光部54の前には、スリット
55bを設ける。このスリット55bは、照射光Liが
反射により厚くなるので、このスリット55bを通過さ
せることにより薄い反射光Lrにして、受光部54に受
光させるためのものである。ここで、位置検出装置50
は、ノズル部材21に電子部品6が吸着されている状態
においてその電子部品6に照射光Liを照射し、上下動
することができる位置検出部51が電子部品6の反射光
Lrを検出するものである。
【0009】図2は位置検出装置の制御系統の概略構成
を示すブロック図である。この図2において、制御装置
40は、中央処理装置(CPU)による演算部41及び
軸制御部42を有し、軸制御部42にY軸、X軸、Z軸
及びR軸の各サーボモータ9、15、22、24が接続
され、演算部41からの指令に応じて軸制御部42によ
り各サーボモータ9、15、22、24の駆動が制御さ
れる。また制御装置40は、A/D変換器43、画像処
理部44及び記憶部45を有し、電子部品6の位置検出
装置50の受光部54から送られてくる測定データがA
/D変換器43を介して画像処理部44に取り込まれ、
記憶部45に記憶されるとともに、このデータが演算部
41に読み出される。さらに制御装置40は、回転角検
出部46を有し、この回転角検出部46によりR軸サー
ボモータ24に具備されたエンコーダ25からの信号に
基づいてノズル部材21の回転角が検出され、この回転
角検出値が演算部41に送る。
【0010】ここで、請求項1,2に記載の電子部品の
位置検出方法を以下に具体的に説明する。請求項1に記
載の位置検出方法は、受光部54上で光源56の位置に
対応する基準位置から反射帯幅が最小となるノズル部材
21の回転角、反射帯幅そのものを測定し、反射帯幅及
びノズル部材回転角の検出データから、ノズル部材21
に吸着された部品6の位置ずれ及び傾きを演算するもの
である。また、必要により、あらかじめメモリに記憶さ
せておいた電子部品6の大きさのデータと比較して、吸
着された電子部品が正しいものかどうか、あるいは欠損
の有無を演算するものである。図3は、電子部品と電子
部品位置検出装置の入射光Li・反射光Lrとの関係を
示す図である。図3(a)は、電子部品がある角度の傾
きθを有する場合の電子部品の入射光Li・反射光Lr
との関係を示す図であり、図3(b)は、電子部品の横
立面lと入射光Li・反射光Lrとの関係が直角である
場合の入射光Li・反射光Lrとの関係を示す図であ
り、図3(c)電子部品の縦立面wと入射光Li・反射
光Lrとの関係が直角にある場合の電子部品と入射光L
i・反射光Lrとの関係を示す図である。ただし、図中
のCnは電子部品6の回転中心であるノズル部材中心
(ノズル部材21の中心)、Ccは電子部品6の中心、
Oは発光部53、受光部54上の原点(基準位置)であ
る。また、Roは原点Oを通る中心線、Rcは中心線R
oと直交してノズル部材中心Cnを通る線である。ま
た、ノズル部材中心Cnは中心線Ro上に位置してい
る。さらに、Rdは電子部品6の中心を通る中心線であ
る。
【0011】図3(a)に示すように、電子部品6は、
発光部等53及び受光部54に対して傾きθがあり、さ
らに、電子部品6の中心Ccは、ノズル部材21の中心
CnからΔx、Δyの距離だけ位置ずれしているとす
る。ここで、反射により受光部54に戻ってくる反射光
Lrの長さを反射帯幅と称する。反射帯幅は、電子部品
6の傾きが0°以上であれば、必ず電子部品6の長さよ
り長くなる。また、傾きθが45°のときは、電子部品
6の横立面lと縦立面wとが直角であれば、両方の面で
反射される反射光Lrは受光部54には戻ってこない。
また、電子部品6の横立面lまたは縦立面のいずれかの
面の傾きθが、45°以下のときに、電子部品6に照射
された平行光は受光部54に反射して戻ってくるが、4
5°以上のときには、反射によって受光部54に戻って
こない。ここで、軸制御部42を介して電子部品6を吸
着したノズル部材21を、図3(b)に示す状態まで回
転させる。図3(b)の状態とは、RdとRcとが平行
になり、Rdの発光部53と受光部54に対する角度が
0°の状態をいう。このときは、平行光Liは、そのま
ま反射されるので、反射帯幅は電子部品6の横立面lの
幅に相当する。あらかじめ電子部品6の横立面lの幅を
記憶部45に記憶させておくことにより、反射帯幅が電
子部品6の横立面lの幅と等しくなるときに、RdとR
cが平行になったことがわかる。したがい、かかる状態
になるまで回転させた時の角度をエンコーダ25で測定
することにより、傾きθを求めることができる。さら
に、電子部品6の中心の位置を演算により求め、X軸方
向に対して位置ずれしている方向と位置ずれしている距
離Δxがわかる。ここで、電子部品6に中心の位置は、
反射帯幅が最小になった時の反射帯幅を測定し、この真
ん中となる電子部品の中心を演算により求める。X軸方
向に位置ずれしていない場合は、原点の位置に電子部品
6の中心があるが、X軸方向に位置ずれしている場合
は、その位置ずれの距離Δxは原点から電子部品6の中
心までの距離に相当する。同様に、軸制御部42を介し
て電子部品6を吸着したノズル部材21を、さらに図3
(c)に示す状態まで回転させる。図3(c)の状態と
は、RdとRoとが平行になり、Rdの発光部53と受
光部54に対する角度が90°((1/2)π)の状態
をいう。このときは、平行光Liは、そのまま反射され
るので、反射帯幅は電子部品6の縦立面w幅に相当す
る。あらかじめ電子部品6の縦立面wの幅を記憶部45
に記憶させておくことにより、反射帯幅が電子部品6の
縦立面wの幅と等しくなるときに、RdとRoが平行に
なったことがわかる。したがって、かかる状態になるま
で電子部品6を回転させた時の角度(1/2)π+θを
エンコーダ25で測定することにより傾きθを求めるこ
とができる。さらに、電子部品6の中心の位置を演算に
より求め、Y軸方向に対して位置ずれしている方向と位
置ずれしている距離Δyとがわかる。ここで、電子部品
6に中心の位置は、反射帯幅が最小になった時の反射帯
幅を測定し、この真ん中となる電子部品の中心を演算に
より求める。Y軸方向に位置ずれしていない場合は原点
の位置に電子部品6の中心があるが、Y軸方向に位置ず
れしている場合その位置ずれの大きさΔyは原点からの
電子部品6の中心までの距離に相当する。
【0012】図4は、電子部品6の位置検出方法におけ
る電子部品の傾きと反射帯幅との関係を示すグラフであ
る。このグラフは、軸制御部42を介して電子部品6を
吸着したノズル部材21を回転させたときの電子部品6
の成す傾きθと反射帯幅の関係を示している。電子部品
6の横立面lが発光部53及び受光部54に対して傾き
θを成す場合(図3(a))、電子部品6の横立面lが
発光部53及び受光部54に対して水平である場合(図
3(b))及び電子部品6の縦立面wが発光部53及び
受光部54に対して傾きθを成す場合(図3(c))の
電子部品6と反射体幅との関係は、それぞれ図4中A、
B、Cの位置で示されている。測定できる反射帯幅は、
電子部品の横立面lが測定できれば足りるため、反射帯
幅は3l以下、好ましくは2l以下であればよい。これ
により、電子部品6の位置検出装置50を小さくするこ
とができるからである。
【0013】このように、請求項1、2に記載の位置検
出方法では、受光部54で受光する反射光Lrから、演
算式等を用いることなく、ノズル部材21の中心を基準
として電子部品6のX軸方向、Y軸方向の位置ずれΔ
x、Δy及び回転方向の傾きθを直接的に演算すること
ができる。さらに、反射帯幅の位置は、受光部54の一
端から反射帯の他端までの位置から演算され、さらにそ
のデータから反射帯幅が演算され、反射光Lrの中央位
置も演算できる。また、部品サイズデータはあらかじめ
記憶部45に入力されているので、演算された反射帯幅
と記憶されている部品サイズデータとを比較することに
より、演算されたデータの妥当性や部品の正否を確認す
ることができる。しかも、電子部品6に対して一方向か
ら光を照射し、かつ受光する構成で、構造として非常に
簡単であるため、装置の小型化を実現することができ
る。また、請求項2に記載の電子部品の位置検出方法
は、請求項1に記載の電子部品の位置検出方法におい
て、ノズル部材21に吸着する電子部品6が回転しなが
ら照射される照射光Liを反射する電子部品の位置検出
方法である。これにより、容易に電子部品6の傾きθを
容易に演算することができる。
【0014】さらに、請求項3に記載の電子部品の位置
検出装置は、電子部品実装装置のヘッドユニット5に配
設されるノズル部材21が吸着する電子部品6の位置を
光を照射して検出する電子部品6の位置検出装置50に
おいて、平行光を電子部品に照射する発光部53と、電
子部品6からの反射光Lrを受光する受光部54と、受
光部54で受光する光からノズル部材21に吸着された
電子部品6の位置ずれ及び傾きを演算する演算部41を
備える電子部品6の位置検出装置50である。請求項3
に記載の電子部品の位置検出装置では、電子部品6の位
置検出のための発光部53と受光部54とを電子部品6
に対して同一方向に置くことを可能にし、これにより、
位置検出装置を小型化することができる。さらに、演算
が容易で短時間に電子部品6の位置ずれと傾きを求める
ことができるので、電子部品6のプリント基板への実装
時間を短縮することに寄与することができる。
【0015】請求項4に記載の電子部品実装方法は、電
子部品実装装置のヘッドユニット5に配設されるノズル
部材21が吸着する電子部品6の位置を光を照射して検
出し、電子部品6を実装する電子部品実装方法におい
て、発光部53から平行光を電子部品6に照射し、ノズ
ル部材21に吸着する電子部品6が回転しながら照射さ
れる光を反射し、電子部品6からの反射光Lrを受光部
54で受光し、受光部54で受光する光からノズル部材
21に吸着された電子部品6の位置ずれΔx、Δy及び
傾きθを演算し、かつノズル部材21に吸着する電子部
品6をプリント基板に実装する電子部品実装方法であ
る。さらに、請求項5に記載の電子部品実装装置は、電
子部品実装装置のヘッドユニット5に配設されるノズル
部材21が吸着する電子部品6の位置を光を照射して検
出し、電子部品6を実装する電子部品実装装置におい
て、平行光を電子部品に照射する発光部53と、電子部
品6を吸着して、回転するノズル部材21と、電子部品
6からの反射光Lrを受光する受光部54と、受光部5
4で受光する光からノズル部材21に吸着された電子部
品6の位置ずれΔx、Δy及び傾きθを演算する演算部
を備える電子部品実装装置である。
【0016】請求項4に記載の発明の一実施形態である
電子部品実装方法を図面に基づいて説明する。図5は、
本発明の一実施形態である電子部品実装方法を適用する
請求項5に記載の発明の一実施形態である電子部品実装
装置の全体を示す概略平面図である。図6は、図5に記
載の電子部品実装装置の概略正面図である。図5及び図
6に示すように、電子部品実装装置の基台1上には、プ
リント基板搬送用のコンベア2が配置され、プリント基
板3がこのコンベア2上を搬送されて所定の実装作業位
置で停止する。コンベア2の側方には、部品供給部4が
配置されている。この部品供給部4は部品供給用のフィ
ーダーを備え、例えば多数列のテープフィーダー4aを
備えている。
【0017】基台1の上方には、電子部品実装用のヘッ
ドユニット5が装備されている。このヘッドユニット5
は、部品供給部4とプリント基板3が位置する電子部品
実装部とにわたって移動可能とされ、X軸方向およびY
軸方向に移動することができる。基台1上には、Y軸方
向の固定レール7と、Y軸サーボモータ9により回転駆
動されるボールねじ軸8とが配設され、固定レール7上
にヘッドユニット支持部材11が配置されて、この支持
部材11に設けられたナット部分12がボールねじ軸8
に螺合している。また、支持部材11には、X軸方向の
ガイド部材13と、X軸サーボモータ15により駆動さ
れるボールねじ軸14とが配設され、このガイド部材1
3にヘッドユニット5が移動可能に保持され、ヘッドユ
ニット5に設けられたナット部分がボールねじ軸14に
螺合している。そして、Y軸サーボモータ9の作動によ
り支持部材11がY軸方向に移動するとともに、X軸サ
ーボモータ15の作動によりヘッドユニット5が支持部
材11に対してX軸方向に移動する。また、Y軸サーボ
モータ9及びX軸サーボモータ15には、それぞれロー
タリエンコーダからなる位置検出装置10、16が設け
られており、これによってヘッドユニット5の移動位置
検出がなされる。ヘッドユニット5には、電子部品6を
吸着する1乃至複数のノズル部材21が設けられてい
る。ノズル部材21は、ヘッドユニット5のフレームに
対してそれぞれZ軸方向の移動及びR軸回りの回転が可
能とされ、Z軸サーボモータ22及びR軸サーボモータ
24により作動する。これらの各サーボモータ22、2
4には、ロータリエンコーダからなる位置検出手段2
5、26がそれぞれ設けられており、これらによって各
ノズル部材21の作動位置の検出が行われる。また、各
ノズル部材21は、バルブ等を介して図示しない負圧供
給手段に接続され、必要に応じて電子部品吸着用の負圧
がノズル部材21に供給される。 ヘッドユニット5に
は基板認識カメラ27が取付けられている。この基板認
識カメラ27は、プリント基板3の表面に付された基板
位置決め用のフィデューシャルマークを撮像するととも
に、基板識別の際ヘッドユニット5の移動に応じてプリ
ント基板上方の所定のチェック位置に配置されてプリン
ト基板3に形成されたパターンの一部を撮像する。 さ
らに、基台1には、ヘッドユニット5により吸着された
電子部品の吸着状態を認識するための部品認識カメラ2
9が設けられている。この部品認識カメラ29は、部品
供給部4の側方に配設されており、部品供給部4におい
て電子部品を吸着した後、ヘッドユニット5が部品認識
カメラ29の上方の所定位置に移動させられることによ
り吸着部品を撮像する。電子部品実装装置には、制御装
置40が搭載されており、Y軸及びX軸サーボモータ
9、15、ヘッドユニット5の各ノズル部材21に対す
るZ軸サーボモータ22、R軸サーボモータ24及び各
サーボモータに対する位置検出手段10、16、25、
26はすべてこの制御装置40に電気的に接続され、こ
の制御装置40によって統括制御される。詳細には、電
子部品実装装置の動作を統括制御する演算部41と、電
子部品6等に関する情報を記憶した記憶部45と、この
記憶部45に記憶された情報に基づいて演算部41によ
り制御される軸制御部42とが制御装置40に設けら
れ、サーボモータ等はこの軸制御部42に接続されてい
る。軸制御部42及び演算部41は、実装時に所定の実
装動作の制御を行うとともに、プリント基板識別の際に
は、位置決めされているプリント基板3上の所定のフィ
デューシャルマークの位置に基板認識カメラ27を配置
すべくヘッドユニット5を移動させる。演算部41に
は、画像処理部44が接続されており、この画像処理部
44に基板認識カメラ27及び部品認識カメラ29が接
続されている。そして、基板認識カメラ27及び部品認
識カメラ29によって取込まれた画像データに所定の画
像処理が施されて演算部41に出力されることにより、
演算部41において吸着電子部品の認識や、プリント基
板3のフィデューシャルマーク及びパターンの認識が行
われる。ここで、ヘッドユニット5の左端部には、電子
部品6の位置検出装置50が取付けられているが、位置
検出装置50は、ヘッドユニット5に取り付けるのでは
なく、単独で設けてもよい。しかしながら、電子部品実
装装置の制御装置40と位置検出装置40はほぼ同様の
機能を有するため、兼用する方が効率的に電子部品6の
位置検出及びプリント基板への実装を行うことができ
る。
【0018】つぎに、請求項4に記載の電子部品実装方
法について、上述した電子部品実装装置に基づいて具体
的に説明する。図7は、電子部品の位置検出の処理を含
む電子物品の実装方法を示すフローチャートである。電
子部品6の供給形態としてはテープ上に形成された凹部
に1個ずつ封入された状態や、トレイ上の凹部に1個ず
つ配置された状態で供給される。電子部品6の吸着に先
立って、まず、ヘッドユニット5がX軸、Y軸方向の移
動によって部品供給部4側へ移動すると同時にノズル部
材21の回転が行なわれ、ついで、このヘッドユニット
5が所定位置まで移動する(図7中のステップS7
1)。所定位置まで移動したノズル部材21が下降し
(図7中のステップS72)、電子部品6を吸着する
(図7中のステップS73)。電子部品6を吸着するノ
ズル部材21の中心位置と受光部54との位置は固定さ
れているために、受光部54の軸方向におけるノズル部
材21の中心位置はあらかじめ明確である。ノズル部材
21に電子部品を吸着する場合、ある程度の範囲でX軸
方向、Y軸方向及び回転方向に電子部品6の位置ずれが
発生する。しかしながら、実際には部品供給部4の凹部
は電子部品6のサイズに合った大きさで、方向も統一さ
れるため、凹部内での電子部品6の位置はある程度規制
され、X軸方向、Y軸方向の位置ずれΔx、Δy及び回
転方向の傾きθはある程度の範囲内に抑制される。次い
で、ノズル部材21に吸着する電子部品6が電子部品の
位置検出装置50の発光部53と受光部54とに対応す
る部品検出用高さ位置までノズル部材21が上昇する
(図7中のステップS74)。これに伴いノズル部材2
1に吸着された電子部品6は部品検出用高さ位置に移動
して平行光の中に位置し、ノズル部材21を回転させ
る。受光部54が受光する反射光Lr帯の幅は電子部品
の回転に伴って変化する(図7中のステップS75)。
ノズル部材21の回転は、電子部品吸着後、電子部品認
識開始前に5°逆回転し、続いてゆっくり正回転して反
射光Lr帯の幅を計測しながら100°程度連続して回
転する。そして、受光部54が受光する反射帯幅が、受
光部54上のノズル部材21中心位置を含んで最初に最
小値になる位置が電子部品6の一つの側面と受光部54
とが平行となる位置であり、この位置を基準にしてノズ
ル部材21に対する電子部品の回転方向の傾きθが測定
される。同時に、この状態の時にノズル部材21の中心
軸位置に対する反射帯幅の中央位置が受光部54のX軸
方向にどれだけ位置ずれしているかを測定することによ
って、電子部品6のX軸方向の位置ずれΔxを演算する
ことができる。つぎに、ノズル部材21を略90°回転
させて、受光部54が受光する反射帯幅が、受光部54
上の原点を含んで2回目に最小値になる位置を捜し、最
小値になったときにノズル部材21中心位置に対する反
射帯幅の中心位置が受光部54のY軸方向にどれだけず
れているかを測定することによって、位置ずれΔyを演
算する(図7中のステップS76)。このような電子部
品位置検出後に、位置ずれΔX、ΔYと傾きθに対して
装着位置の補正が行なわれる(図7中のステップS7
7)。位置ずれΔX、ΔYだけ補正されたX、Y方向の
目標装着位置にノズル部材21が達するようにX軸サー
ボモータ15及びY軸サーボモータ9が制御されるとと
もに、ノズル部材21の回転角が傾きθだけ補正された
目標回転角となるようにR軸サーボモータ24が制御さ
れる(図7中のステップS78)。それから、ノズル部
材21が下降されてプリント基板3上に電子部品6が装
着される(図7中のステップS79)。
【0019】このように、請求項4に記載の電子部品実
装方法により、ノズル部材21に吸着させる電子部品6
のX軸方向、Y軸方向の位置ずれΔx、Δy及び回転方
向の傾きθを容易に演算することができ、また、演算処
理が非常に容易で、短時間で演算することができる電子
部品の実装方法を提供することができる。さらに、部品
サイズデータはあらかじめ記憶部45に入力されている
ので、演算された反射帯幅と記憶されている部品サイズ
データとを比較することで、演算されたデータの妥当性
や部品の正否を確認することができる電子部品実装方法
を提供することができる。請求項5に記載の電子部品実
装装置は、請求項4に記載の電子部品実装方法を適用す
るものである。電子部品実装装置のヘッドユニット5に
位置検出装置50を取り付けることでノズル部材21に
吸着させる電子部品6の、ノズル部材21の中心を基準
として電子部品6のX軸方向、Y軸方向の位置ずれΔ
x、Δy及び回転方向の傾きθを容易に検出することが
できる。さらに、部品サイズデータはあらかじめ記憶部
45に入力されているので、演算された反射帯幅と記憶
されている部品サイズデータとを比較することで、演算
されたデータの妥当性や部品の正否を確認することが可
能な電子部品実装装置を提供することができる。
【0020】図8は、本発明の他の実施形態による電子
部品の位置検出方法を適用する電子部品実装装置の概略
平面図である。構造として非常に簡単で、小型化が可能
な位置検出装置50のため、多数のノズル部材21を有
する電子部品実装装置には、同時に多数の位置検出装置
50を取り付けることが可能である。これにより、多数
の電子部品6を一度にX軸方向、Y軸方向の位置ずれΔ
x、Δy及び回転方向の傾きθを容易に演算することが
できるので、電子部品6の実装時間をさらに一層短縮す
ることができる電子部品実装装置を提供することができ
る。
【0021】なお、本発明は上述の実施例に限定され
ず、当業者であれば種々の変形が可能であり、例えば次
のような変形例を挙げることができる。本発明におい
ては、電子部品の位置検出方法として、反射帯幅の中心
位置を求めて位置ずれΔx、Δyを求めたが、他の検出
方法として電位部品の端部による反射光Lrを受光し
て、この位置を測定することにより位置ずれを演算する
ことができる。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
電子部品の位置検出方法では、発光部から平行光を電子
部品に照射して、反射光を受光部で受光することによ
り、その受光する光の幅を測定し、ノズル部材に吸着さ
れた電子部品の位置ずれ及び傾きを演算により求めるも
ので、簡単な演算処理により容易に求めることができる
位置検出方法を提供することができる。請求項2に記載
の位置検出方法では、ノズル部材に吸着する電子部品を
回転させ、あらかじめ記憶してある電子部品の大きさと
一致させることにより、電子部品の傾きを容易に求める
ことができる。さらに、この電子部品を回転させて反射
帯幅の長さが記憶してある電子部品の大きさと一致させ
た状態で容易に軸方向の傾きを求めることができる。請
求項3に記載の電子部品の位置検出装置では、電子部品
の位置検出のための発光部と受光部とを電子部品に対し
て同一方向に置くことを可能にし、また、構造として非
常に簡単であるため装置の小型化が可能な位置検出装置
を提供することができる。
【0023】請求項4に記載の電子部品実装方法では、
ノズル部材に吸着させる電子部品のX軸方向、Y軸方向
Δx、Δy及び回転方向の傾きθを容易に演算すること
ができ、また、演算処理が非常に容易で、短時間で演算
することができる電子部品の実装方法を提供することが
できる。さらに、部品サイズデータはあらかじめ記憶部
に入力されているので、演算された反射帯幅と記憶され
ている部品サイズデータとを比較することで、演算され
たデータの妥当性や部品の正否を確認することができる
電子部品実装方法を提供することができる。請求項5に
記載の電子部品実装装置は、電子部品実装装置のヘッド
ユニットに位置検出装置を取り付けることでノズル部材
に吸着させる電子部品の、ノズル部材の中心を基準とし
て電子部品のX軸方向、Y軸方向Δx、Δy及び回転方
向の傾きθを容易に検出することができ、これにより実
装時間を短縮することが可能な電子部品実装装置を提供
することができる。さらに、部品サイズデータはあらか
じめ記憶部に入力されているので、演算された反射帯幅
と記憶されている部品サイズデータとを比較すること
で、演算されたデータの妥当性や部品の正否を確認する
ことが可能な電子部品実装装置を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)本発明の一実施形態の電子部品位置検出
方法を適用する電子部品の位置検出装置の概略斜視図で
ある。(b)電子部品の位置検出装置の概略側面図であ
る。(c)電子部品の位置検出装置を構成する発光部の
概略平面図である。(d)図1(c)に示す発光部の概
略側面図である。
【図2】制御装置の制御系統を示すブロック図である。
【図3】電子部品と電子部品の位置検出装置の入射光・
反射光との関係を示す図である。(a)電子部品がある
偏位角を有して吸着される場合の電子部品と入射光・反
射光との関係を示す図である。(b)電子部品の横立面
が入射光・反射光に対し直角に保持されている場合の電
子部品と入射光・反射光との関係を示す図である。
(c)電子部品の縦立面が入射光・反射光に対して直角
に保持されている場合の電子部品と入射光・反射光との
関係を示す図である。
【図4】電子部品の位置検出装置における電子部品の傾
きと反射帯幅との関係を示すグラフである。
【図5】本発明の一実施形態による電子部品の位置検出
方法を適用する電子部品実装装置の概略平面図である。
【図6】図5に示す電子部品実装装置の概略正面図であ
る。
【図7】電子部品の位置検出の処理を含む電子部品実装
動作を示すフローチャートである。
【図8】本発明の他の実施形態による電子部品の位置検
出方法を適用する電子部品実装装置の概略平面図であ
る。
【符号の説明】
1 基台 2 コンベア 3 プリント基板 4 部品供給部 5 ヘッドユニット 6 電子部品 7 固定レール 8 ボールねじ軸 9 Y軸サーボモータ 10、16 位置検出手段 11 支持部材 12 ナット部分 13 ガイド部材 15 X軸モータ 21 ノズル部材 22 Z軸サーボモータ 24 R軸サーボモータ 25、26 位置検出手段 27 基板認識カメラ 29 部品認識カメラ 40 制御装置 41 演算部 42 軸制御部 43 A/D変換部 44 画像処理部 45 記憶部 46 回転角検出部 50 位置検出装置 51 位置検出部 52 ケーブル 53 発光部 54 受光部 55a、55b スリット 56 光源 57 平行光形成レンズ Li 入射光 Lr 反射光 l 電子部品の横立面 w 電子部品の縦立面

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子部品実装装置のヘッドユニットに配
    設されるノズル部材が吸着する電子部品の位置を光を照
    射して検出する電子部品の位置検出方法において、 発光部から平行光を電子部品に照射し、 照射光をノズル部材に吸着する電子部品が反射し、 反射光を受光部で受光し、つぎに受光する反射光からノ
    ズル部材に吸着された電子部品の位置ずれ及び傾きを演
    算することを特徴とする電子部品の位置検出方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の電子部品の位置検出方
    法において、 前記ノズル部材に吸着する電子部品が回転しながら照射
    される光を反射することを特徴とする電子部品の位置検
    出方法。
  3. 【請求項3】 電子部品実装装置のヘッドユニットに配
    設されるノズル部材が吸着する電子部品の位置を光を照
    射して検出する電子部品の位置検出装置において、 平行光を電子部品に照射する発光部と、 電子部品からの反射光を受光する受光部と、 受光部で受光する光からノズル部材に吸着された電子部
    品の位置ずれ及び傾きを演算する演算部を備えることを
    特徴とする電子部品の位置検出装置。
  4. 【請求項4】 電子部品実装装置のヘッドユニットに配
    設されるノズル部材が吸着する電子部品の位置を光を照
    射して検出し、電子部品を実装する電子部品実装方法に
    おいて、 発光部から平行光を電子部品に照射し、 ノズル部材に吸着する電子部品が回転しながら照射され
    る光を反射し、 電子部品からの反射光を受光部で受光し、 受光部で受光する光からノズル部材に吸着された電子部
    品の位置ずれ及び傾きを演算し、かつノズル部材に吸着
    する電子部品をプリント基板に実装することを特徴とす
    る電子部品実装方法。
  5. 【請求項5】 電子部品実装装置のヘッドユニットに配
    設されるノズル部材が吸着する電子部品の位置を光を照
    射して検出し、電子部品を実装する電子部品実装装置に
    おいて、 平行光を電子部品に照射する発光部と、 電子部品を吸着して、回転するノズル部材と、 電子部品からの反射光を受光する受光部と、 受光部で受光する光からノズル部材に吸着された電子部
    品の位置ずれ及び傾きを演算する演算部を備えることを
    特徴とする電子部品実装装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101164591B1 (ko) 2006-07-31 2012-07-11 삼성테크윈 주식회사 부품 실장기
KR101231185B1 (ko) * 2008-02-14 2013-02-07 삼성테크윈 주식회사 부품흡착상태 인식장치를 가진 부품실장기, 그부품실장기의 부품 실장방법 및 부품 흡착상태 인식방법
CN109682305A (zh) * 2019-02-27 2019-04-26 厦门烟草工业有限责任公司 滤棒内爆珠轴向位置检测装置及方法

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