JP2000200847A - 電子部品用パッケ―ジおよびそれを用いた電子部品 - Google Patents
電子部品用パッケ―ジおよびそれを用いた電子部品Info
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- JP2000200847A JP2000200847A JP39099A JP39099A JP2000200847A JP 2000200847 A JP2000200847 A JP 2000200847A JP 39099 A JP39099 A JP 39099A JP 39099 A JP39099 A JP 39099A JP 2000200847 A JP2000200847 A JP 2000200847A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 絶縁性ベースの開口部を封止材を介して導電
性キャップで封止した電子部品用パッケージにおいて、
絶縁性ベースと導電性キャップとに熱膨張係数差があっ
ても、封止材に亀裂が生じたり、導電性キャップが剥離
することがない、電子部品用パツケージおよび電子部品
を提供する。 【解決手段】 底板部2および枠体部3を有し、電極
6、7を有する絶縁性ベース1の枠体部3の上面に、封
止材10を介して少なくとも一部の厚さが0.01〜
0.15mmの導電性キャップ9を固着封止した電子部
品用パツケージA。また、前記パッケージAに電子素子
を収納した電子部品。
性キャップで封止した電子部品用パッケージにおいて、
絶縁性ベースと導電性キャップとに熱膨張係数差があっ
ても、封止材に亀裂が生じたり、導電性キャップが剥離
することがない、電子部品用パツケージおよび電子部品
を提供する。 【解決手段】 底板部2および枠体部3を有し、電極
6、7を有する絶縁性ベース1の枠体部3の上面に、封
止材10を介して少なくとも一部の厚さが0.01〜
0.15mmの導電性キャップ9を固着封止した電子部
品用パツケージA。また、前記パッケージAに電子素子
を収納した電子部品。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、水晶振動素子、水
晶発振素子、SAWデバイス素子、半導体素子、集積回
路等の電子素子を単独でまたは他の電子素子等と組み合
わせて収納する電子部品用パッケージに関する。本発明
はまた、前記の電子部品用パッケージに電子素子を組み
付け収納した電子部品に関する。
晶発振素子、SAWデバイス素子、半導体素子、集積回
路等の電子素子を単独でまたは他の電子素子等と組み合
わせて収納する電子部品用パッケージに関する。本発明
はまた、前記の電子部品用パッケージに電子素子を組み
付け収納した電子部品に関する。
【0002】
【従来の技術】水晶振動子、水晶発振子、SAWデバイ
ス用、半導体素子、集積回路等の電子素子用の気密パッ
ケージとして、絶縁性ベースと、この絶縁性ベースの内
方から絶縁性ベースの外方に導出された電極と、絶縁性
ベースの開口部に封止材を介して気密に封止されたキャ
ップとを有する気密パッケージがある。そのような気密
パッケージは、電子素子等の構造や形状により各種のも
のがある。例えば、矩形板状の水晶振動素子用の気密パ
ッケージとしては、実開平6−77328号公報に開示
されているものがある。その典型的なものについて、以
下説明する。図11は従来の気密パッケージの斜視図
で、図12はその封止材およびキャップの一部を除去し
て内部が見えるようにした平面図、図13は図12のC
−C線に沿う縦断面図である。図11ないし図13にお
いて、51はアルミナセラミツク製の箱状の絶縁性ベー
スで、底板部52および枠体部53を有する。54、5
5は絶縁性ベース51の内方から外方に導出された銀パ
ラジウムペースト等の塗布・焼成により形成された電
極、56は前記電極54、55と同一材料で同時に形成
された、後述する水晶振動素子等の電子素子を支持す
る、いわゆる「枕」と称される支持部である。2点鎖線
で示す57は前記電極54、55に導電性接着材により
接続固定された水晶振動素子等の電子素子、58は前記
絶縁性ベース51の開口部を封止する封止材で、絶縁性
ベース51の枠体部53の上面とアルミナセラミック製
のキャップ59の下面とを封止している。上記構成の気
密パッケージにおいては、キャップ59としてアルミナ
セラミック等の絶縁性キャップを用いているため、機械
的強度の点からその厚さ寸法t10の薄型化に限度があ
り、それに伴って気密パッケージ全体の高さ寸法h2の
薄型化にも限度がある。また、浮遊容量や外来電磁波に
起因する電子素子57の特性変動を防止できない。この
ため、アルミナセラミツク製の絶縁性ベース59に代え
て、図14ないし図16に示すように、金属キャップを
用いるものも考えられている。図14ないし図16にお
いて、61はアルミナセラミツク製の箱状の絶縁性ベー
スで、底板部62および枠体部63を有する。64は絶
縁性ベース61の枠体部63の上面に形成されたメタラ
イズ層で、その上に絶縁性ベース61と後述する金属キ
ャップ70との中間の熱膨張係数を有する金属枠体65
がろう付けされている。66、67は絶縁性ベース61
の内方から外方に導出された銀パラジウムペースト等の
塗布・焼成により形成された電極、68は前記電極6
6、67と同一材料で同時に形成された、後述する水晶
振動素子等の電子素子を支持する、いわゆる「枕」と称
される支持部である。2点鎖線で示す69は前記電極6
6、67に導電性接着材により接続固定された水晶振動
素子等の電子素子、70は前記金属枠体65にシーム溶
接等で固着封止されている金属キャップである。しかし
ながら、上記の電子部品用パツケージは、アルミナセラ
ミック製の絶縁製ベース61と金属キャップ70との熱
膨張係数差による応力で、金属キャップ70が剥離する
ことのないように、絶縁性ベース61の枠体部63の上
に、絶縁性ベース61と金属キャップ70との中間の熱
膨張係数の中間金属枠体65を介在する必要があり、材
料費および加工費が嵩むのみならず、電子部品用パッケ
ージ全体の高さ寸法h3が嵩高になり、低背化にも反す
る。
ス用、半導体素子、集積回路等の電子素子用の気密パッ
ケージとして、絶縁性ベースと、この絶縁性ベースの内
方から絶縁性ベースの外方に導出された電極と、絶縁性
ベースの開口部に封止材を介して気密に封止されたキャ
ップとを有する気密パッケージがある。そのような気密
パッケージは、電子素子等の構造や形状により各種のも
のがある。例えば、矩形板状の水晶振動素子用の気密パ
ッケージとしては、実開平6−77328号公報に開示
されているものがある。その典型的なものについて、以
下説明する。図11は従来の気密パッケージの斜視図
で、図12はその封止材およびキャップの一部を除去し
て内部が見えるようにした平面図、図13は図12のC
−C線に沿う縦断面図である。図11ないし図13にお
いて、51はアルミナセラミツク製の箱状の絶縁性ベー
スで、底板部52および枠体部53を有する。54、5
5は絶縁性ベース51の内方から外方に導出された銀パ
ラジウムペースト等の塗布・焼成により形成された電
極、56は前記電極54、55と同一材料で同時に形成
された、後述する水晶振動素子等の電子素子を支持す
る、いわゆる「枕」と称される支持部である。2点鎖線
で示す57は前記電極54、55に導電性接着材により
接続固定された水晶振動素子等の電子素子、58は前記
絶縁性ベース51の開口部を封止する封止材で、絶縁性
ベース51の枠体部53の上面とアルミナセラミック製
のキャップ59の下面とを封止している。上記構成の気
密パッケージにおいては、キャップ59としてアルミナ
セラミック等の絶縁性キャップを用いているため、機械
的強度の点からその厚さ寸法t10の薄型化に限度があ
り、それに伴って気密パッケージ全体の高さ寸法h2の
薄型化にも限度がある。また、浮遊容量や外来電磁波に
起因する電子素子57の特性変動を防止できない。この
ため、アルミナセラミツク製の絶縁性ベース59に代え
て、図14ないし図16に示すように、金属キャップを
用いるものも考えられている。図14ないし図16にお
いて、61はアルミナセラミツク製の箱状の絶縁性ベー
スで、底板部62および枠体部63を有する。64は絶
縁性ベース61の枠体部63の上面に形成されたメタラ
イズ層で、その上に絶縁性ベース61と後述する金属キ
ャップ70との中間の熱膨張係数を有する金属枠体65
がろう付けされている。66、67は絶縁性ベース61
の内方から外方に導出された銀パラジウムペースト等の
塗布・焼成により形成された電極、68は前記電極6
6、67と同一材料で同時に形成された、後述する水晶
振動素子等の電子素子を支持する、いわゆる「枕」と称
される支持部である。2点鎖線で示す69は前記電極6
6、67に導電性接着材により接続固定された水晶振動
素子等の電子素子、70は前記金属枠体65にシーム溶
接等で固着封止されている金属キャップである。しかし
ながら、上記の電子部品用パツケージは、アルミナセラ
ミック製の絶縁製ベース61と金属キャップ70との熱
膨張係数差による応力で、金属キャップ70が剥離する
ことのないように、絶縁性ベース61の枠体部63の上
に、絶縁性ベース61と金属キャップ70との中間の熱
膨張係数の中間金属枠体65を介在する必要があり、材
料費および加工費が嵩むのみならず、電子部品用パッケ
ージ全体の高さ寸法h3が嵩高になり、低背化にも反す
る。
【0003】そこで、本出願人は、熱膨張係数が10〜
15×10-6/℃のガラスセラミツクからなる絶縁性ベ
ースを開発するとともに、この絶縁性ベースにこれと近
似する熱膨張係数金属を有するCrを17.0〜19.
0wt%含むステンレス鋼よりなる金属キャップを封止
材で封止する電子部品用パッケージを提案した。このよ
うな構成の気密パツケージによれば、絶縁性ベースと金
属キャップとの熱膨張係数が近似しているので、熱膨張
係数差に起因する応力発生がなく、電子素子の特性変動
が生じない気密パツケージが提供できる。また、金属キ
ャップを接地すれば、浮遊容量や外来電磁波に起因する
電子素子の特性変動も生じない。
15×10-6/℃のガラスセラミツクからなる絶縁性ベ
ースを開発するとともに、この絶縁性ベースにこれと近
似する熱膨張係数金属を有するCrを17.0〜19.
0wt%含むステンレス鋼よりなる金属キャップを封止
材で封止する電子部品用パッケージを提案した。このよ
うな構成の気密パツケージによれば、絶縁性ベースと金
属キャップとの熱膨張係数が近似しているので、熱膨張
係数差に起因する応力発生がなく、電子素子の特性変動
が生じない気密パツケージが提供できる。また、金属キ
ャップを接地すれば、浮遊容量や外来電磁波に起因する
電子素子の特性変動も生じない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
構成の気密パツケージにおいては、絶縁性ベースと金属
キャップとの熱膨張係数を一致させるために、両者の材
料選択範囲が限られ、材料入手や経費の点で改善の余地
がある。そこで、本発明は、絶縁性ベースとキャップと
の熱膨張係数差をある程度許容できる電子部品用パッケ
ージを提供することを目的とする。本発明はまた、上記
の電子部品用パツケージを用いた電子部品を提供するこ
とを目的とする。
構成の気密パツケージにおいては、絶縁性ベースと金属
キャップとの熱膨張係数を一致させるために、両者の材
料選択範囲が限られ、材料入手や経費の点で改善の余地
がある。そこで、本発明は、絶縁性ベースとキャップと
の熱膨張係数差をある程度許容できる電子部品用パッケ
ージを提供することを目的とする。本発明はまた、上記
の電子部品用パツケージを用いた電子部品を提供するこ
とを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、底板部および
枠体部とを有する絶縁性ベースと、この絶縁性ベースの
内方から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面に
封止材を介して固着封止された少なくとも一部の厚さが
0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する電
子部品用パツケージである。本発明はまた、底板部およ
び枠体部とを有する絶縁性ベースと、この絶縁性ベース
の内方から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面
に封止材を介して固着封止された少なくとも一部の厚さ
が0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する
電子部品用パツケージ内に電子素子を収容してなる電子
部品である。
枠体部とを有する絶縁性ベースと、この絶縁性ベースの
内方から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面に
封止材を介して固着封止された少なくとも一部の厚さが
0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する電
子部品用パツケージである。本発明はまた、底板部およ
び枠体部とを有する絶縁性ベースと、この絶縁性ベース
の内方から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面
に封止材を介して固着封止された少なくとも一部の厚さ
が0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する
電子部品用パツケージ内に電子素子を収容してなる電子
部品である。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1記載の発明は、
底板部および枠体部を有する絶縁性ベースと、この絶縁
性ベースの内方から外方に導出された電極と、前記枠体
部の上面部に封止材を介して固着封止された少なくとも
一部の厚さが0.01〜0.15mmの導電性キャップ
とを有する電子部品用パッケージである。
底板部および枠体部を有する絶縁性ベースと、この絶縁
性ベースの内方から外方に導出された電極と、前記枠体
部の上面部に封止材を介して固着封止された少なくとも
一部の厚さが0.01〜0.15mmの導電性キャップ
とを有する電子部品用パッケージである。
【0007】本発明の請求項2記載の発明は、底板部お
よび枠体部を有するセラミックおよびガラスセラミック
から選択された絶縁性ベースと、この絶縁性ベースの内
方から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面部に
封止材を介して固着封止された少なくとも一部の厚さが
0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する電
子部品用パッケージである。
よび枠体部を有するセラミックおよびガラスセラミック
から選択された絶縁性ベースと、この絶縁性ベースの内
方から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面部に
封止材を介して固着封止された少なくとも一部の厚さが
0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する電
子部品用パッケージである。
【0008】本発明の請求項3記載の発明は、底板部お
よび枠体部を有する絶縁性ベースと、この絶縁性ベース
の内方から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面
部に導電性封止材および非導電性封止材の中から選択さ
れた封止材を介して固着封止された0.01〜0.15
mmの導電性キャップとを有する電子部品用パッケージ
である。
よび枠体部を有する絶縁性ベースと、この絶縁性ベース
の内方から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面
部に導電性封止材および非導電性封止材の中から選択さ
れた封止材を介して固着封止された0.01〜0.15
mmの導電性キャップとを有する電子部品用パッケージ
である。
【0009】本発明の請求項4記載の発明は、前記導電
性キャップが板状でかつ厚さが0.02〜0.15mm
の金属キャップであることを特徴とする請求項1ないし
請求項3記載の電子部品用パッケージである。
性キャップが板状でかつ厚さが0.02〜0.15mm
の金属キャップであることを特徴とする請求項1ないし
請求項3記載の電子部品用パッケージである。
【0010】本発明の請求項5記載の発明は、前記導電
性キャップが一部に厚さが0.01〜0.10mmの応
力吸収用薄肉部を有する金属キャップであることを特徴
とする請求項1ないし請求項3記載の電子部品用パッケ
ージである。
性キャップが一部に厚さが0.01〜0.10mmの応
力吸収用薄肉部を有する金属キャップであることを特徴
とする請求項1ないし請求項3記載の電子部品用パッケ
ージである。
【0011】本発明の請求項6記載の発明は、前記金属
キャップの応力吸収用薄肉部が金属キャップの周辺部に
設けられていることを特徴とする請求項5記載の電子部
品用パッケージである。
キャップの応力吸収用薄肉部が金属キャップの周辺部に
設けられていることを特徴とする請求項5記載の電子部
品用パッケージである。
【0012】本発明の請求項7記載の発明は、前記金属
キャップの周辺部に設けた応力吸収用薄肉部の肉厚が中
央部の肉厚の半分以下であることを特徴とする請求項6
記載の電子部品用パッケージである。
キャップの周辺部に設けた応力吸収用薄肉部の肉厚が中
央部の肉厚の半分以下であることを特徴とする請求項6
記載の電子部品用パッケージである。
【0013】本発明の請求項8記載の発明は、前記金属
キャップの周辺部に設けた応力吸収用薄肉部の肉厚が
0.01〜0.10mmで、中央部の肉厚が0.05〜
0.30mmであることを特徴とする請求項7記載の電
子部品用パッケージである。
キャップの周辺部に設けた応力吸収用薄肉部の肉厚が
0.01〜0.10mmで、中央部の肉厚が0.05〜
0.30mmであることを特徴とする請求項7記載の電
子部品用パッケージである。
【0014】本発明の請求項9記載の発明は、前記金属
キャップの応力吸収用薄肉部が金属キャップの中央部と
周辺部との境界部に設けられていることを特徴とする請
求項5記載の電子部品用パッケージである。
キャップの応力吸収用薄肉部が金属キャップの中央部と
周辺部との境界部に設けられていることを特徴とする請
求項5記載の電子部品用パッケージである。
【0015】本発明の請求項10記載の発明は、前記金
属キャップが、Fe、Cu、Fe−Cr合金、Fe−N
i合金、 Fe−Ni−Cr合金、Fe−Ni−Co合
金の中から選択されたものであることを特徴とする請求
項1ないし請求項9記載の電子部品用パッケージであ
る。
属キャップが、Fe、Cu、Fe−Cr合金、Fe−N
i合金、 Fe−Ni−Cr合金、Fe−Ni−Co合
金の中から選択されたものであることを特徴とする請求
項1ないし請求項9記載の電子部品用パッケージであ
る。
【0016】本発明の請求項11記載の発明は、前記請
求項1ないし請求項10記載の電子部品用パツケージ内
に電子素子を収容したことを特徴とする電子部品であ
る。
求項1ないし請求項10記載の電子部品用パツケージ内
に電子素子を収容したことを特徴とする電子部品であ
る。
【0017】
【実施例】本発明の実施例について、以下、図面を参照
して説明する。図1は本発明の一実施例の電子部品用パ
ツケージ用Aの斜視図、図2は図1の電子部品用パツケ
ージ用Aの封止材およびキャップの一部を切り開いて内
部が見えるようにした平面図、図3は図2の電子部品用
パツケージ用AのA−A線に沿う縦断面図である。図1
ないし図3に示す電子部品用パツケージ用Aにおいて、
1は絶縁性ベースの一例としての熱膨張係数が10〜1
5×10-6/℃のガラスセラミック製の絶縁性ベース
(以下、単にベースという)で、底板部2と枠体部3と
を有し、長手方向の両端部に電極を形成するための凹部
4、5を有する。このような熱膨張係数のベース1は、
例えば、ガラス中に30〜70wt%のフォルステライ
ト粉末を含むガラスセラミックで製作することができ
る。6、7は内方端が前記底板部2の上面に形成されベ
ース1の内方から外方に導出されている電極で、一方の
電極6は前記一方の凹部4の端面部を通って前記底板部
2の裏面にまで延在して形成されており、他方の電極7
は枠体部3の下を迂回して他方の凹部5の端面部を通っ
て底板部2の裏面にまで延在して形成されている。8は
前記電極6、7と同一材料でかつ同時に形成された、後
述する水晶振動素子等の電子素子を支持するための、い
わゆる「枕」と称せられる支持部である。9は前記枠体
部3の上面に封止材10を介して固着封止された導電性
キャップの一例としての金属キャップである。2点鎖線
で示す11は、水晶振動素子等の電子素子で、前記電極
6、7に導電性接着材で接続固着されている。前記封止
材10は、低融点ガラス、導電性ガラス、樹脂、導電性
樹脂の中から選択され、例えば、融点が260〜350
℃の低融点ガラスを用いる。前記導電性キャップの一例
としての金属キャップ9は、Fe、Cu、Fe−Cr合
金、Fe−Ni合金、 Fe−Ni−Cr合金、 Fe−
Ni−Cr合金、Fe−Ni−Co合金の中から選択さ
れ、厚さが0.02〜0.15mmのものである。前記
電子部品用パツケージ用Aにおいては、上記に例示した
ベース1と金属キャップ9と封止材10との任意の組み
合わせにおいて、ベース1と金属キャップ9とに熱膨張
係数差があっても、それによって生じる応力が薄い金属
キャップ9で吸収されるため、使用温度範囲を想定した
−65〜+125℃の温度範囲内での保管および温度サ
イクル試験において、封止材10に亀裂が生じたり、金
属キャップ9が剥離することはなかった。また、前記電
子部品用パツケージ用Aにおいては、図11ないし図1
3に示すアルミナセラミック製のキャップ59を用いた
電子部品用パッケージと比較して、その金属キャップ9
の厚さt1を小さくすることが可能になり、パツケージ
全体の高さ寸法h1は従来の高さ寸法h2に比較して小
さくでき、低背化ができる。さらに、封止材10とし
て、低融点ガラス、導電性ガラス、導電性樹脂、非導電
性樹脂等を用いるので、図14ないし図16に示す枠体
部63の上面にメタライズ層64を形成しその上に金属
枠体65をろう付けした電子部品用パッケージと比較し
て、メタライズ層64および金属枠体65が不要で、材
料費・加工費とも低減できるのみならず、全体の低背化
ができる。
して説明する。図1は本発明の一実施例の電子部品用パ
ツケージ用Aの斜視図、図2は図1の電子部品用パツケ
ージ用Aの封止材およびキャップの一部を切り開いて内
部が見えるようにした平面図、図3は図2の電子部品用
パツケージ用AのA−A線に沿う縦断面図である。図1
ないし図3に示す電子部品用パツケージ用Aにおいて、
1は絶縁性ベースの一例としての熱膨張係数が10〜1
5×10-6/℃のガラスセラミック製の絶縁性ベース
(以下、単にベースという)で、底板部2と枠体部3と
を有し、長手方向の両端部に電極を形成するための凹部
4、5を有する。このような熱膨張係数のベース1は、
例えば、ガラス中に30〜70wt%のフォルステライ
ト粉末を含むガラスセラミックで製作することができ
る。6、7は内方端が前記底板部2の上面に形成されベ
ース1の内方から外方に導出されている電極で、一方の
電極6は前記一方の凹部4の端面部を通って前記底板部
2の裏面にまで延在して形成されており、他方の電極7
は枠体部3の下を迂回して他方の凹部5の端面部を通っ
て底板部2の裏面にまで延在して形成されている。8は
前記電極6、7と同一材料でかつ同時に形成された、後
述する水晶振動素子等の電子素子を支持するための、い
わゆる「枕」と称せられる支持部である。9は前記枠体
部3の上面に封止材10を介して固着封止された導電性
キャップの一例としての金属キャップである。2点鎖線
で示す11は、水晶振動素子等の電子素子で、前記電極
6、7に導電性接着材で接続固着されている。前記封止
材10は、低融点ガラス、導電性ガラス、樹脂、導電性
樹脂の中から選択され、例えば、融点が260〜350
℃の低融点ガラスを用いる。前記導電性キャップの一例
としての金属キャップ9は、Fe、Cu、Fe−Cr合
金、Fe−Ni合金、 Fe−Ni−Cr合金、 Fe−
Ni−Cr合金、Fe−Ni−Co合金の中から選択さ
れ、厚さが0.02〜0.15mmのものである。前記
電子部品用パツケージ用Aにおいては、上記に例示した
ベース1と金属キャップ9と封止材10との任意の組み
合わせにおいて、ベース1と金属キャップ9とに熱膨張
係数差があっても、それによって生じる応力が薄い金属
キャップ9で吸収されるため、使用温度範囲を想定した
−65〜+125℃の温度範囲内での保管および温度サ
イクル試験において、封止材10に亀裂が生じたり、金
属キャップ9が剥離することはなかった。また、前記電
子部品用パツケージ用Aにおいては、図11ないし図1
3に示すアルミナセラミック製のキャップ59を用いた
電子部品用パッケージと比較して、その金属キャップ9
の厚さt1を小さくすることが可能になり、パツケージ
全体の高さ寸法h1は従来の高さ寸法h2に比較して小
さくでき、低背化ができる。さらに、封止材10とし
て、低融点ガラス、導電性ガラス、導電性樹脂、非導電
性樹脂等を用いるので、図14ないし図16に示す枠体
部63の上面にメタライズ層64を形成しその上に金属
枠体65をろう付けした電子部品用パッケージと比較し
て、メタライズ層64および金属枠体65が不要で、材
料費・加工費とも低減できるのみならず、全体の低背化
ができる。
【0018】図4は、本発明の第2実施例の金属キャッ
プ12の縦断面図を示す。この実例の金属キャップ12
は、中央部の厚肉部12aの厚さt2が0.05〜0.
30mmで、周辺部に設けた応力吸収用薄肉部12bの
厚さt3が0.01〜0.10mmに設定されている。
この実施例によれば、ベース1と金属キャップ12との
熱膨張係数の差に基づく応力は、前記周辺部の応力吸収
用薄肉部12bによって吸収され、このため、電子素子
11に応力が加わることに起因する特性変動は生じな
い。なお、図14ないし図16に示すシーム溶接型気密
パッケージにおいて、金属キャップを用いること、およ
び金属キャップの周辺部の厚さを中央部の厚さに比較し
て小さく(薄く)することは、公知である(例えば、実
開平2−21819号公報、実開平4−48716号公
報等)。しかしながら、シーム溶接型パッケージにおい
て周辺部の厚さを中央部の厚さに比較して小さく(薄
く)するのは、シーム溶接部の熱容量を小さくして、シ
ーム溶接部が効果的に加熱されるようにすることによ
り、シーム溶接不良が生じるのを防止するためであり、
本発明のベース1と金属キャップ9との熱膨張係数差に
起因する応力を吸収するための応力吸収用薄肉部12b
とは技術思想を全く異にするものである。
プ12の縦断面図を示す。この実例の金属キャップ12
は、中央部の厚肉部12aの厚さt2が0.05〜0.
30mmで、周辺部に設けた応力吸収用薄肉部12bの
厚さt3が0.01〜0.10mmに設定されている。
この実施例によれば、ベース1と金属キャップ12との
熱膨張係数の差に基づく応力は、前記周辺部の応力吸収
用薄肉部12bによって吸収され、このため、電子素子
11に応力が加わることに起因する特性変動は生じな
い。なお、図14ないし図16に示すシーム溶接型気密
パッケージにおいて、金属キャップを用いること、およ
び金属キャップの周辺部の厚さを中央部の厚さに比較し
て小さく(薄く)することは、公知である(例えば、実
開平2−21819号公報、実開平4−48716号公
報等)。しかしながら、シーム溶接型パッケージにおい
て周辺部の厚さを中央部の厚さに比較して小さく(薄
く)するのは、シーム溶接部の熱容量を小さくして、シ
ーム溶接部が効果的に加熱されるようにすることによ
り、シーム溶接不良が生じるのを防止するためであり、
本発明のベース1と金属キャップ9との熱膨張係数差に
起因する応力を吸収するための応力吸収用薄肉部12b
とは技術思想を全く異にするものである。
【0019】図5は、本発明の第3実施例の金属キャッ
プ13の縦断面図を示す。この実例の金属キャップ13
は、中央部の厚肉部13aの厚さt4が0.05〜0.
30mmで、周辺に設けた応力吸収用薄肉部13bの厚
さt5が0.01〜0.10mmに設定されていること
であり、図4の実施例との相違点は、周辺の応力吸収用
薄肉部13bが、中央部の厚肉部13aの厚さ方向の中
央に設けられており、金属キャップ13が表裏対称形状
を有していることである。この実施例によれば、ベース
1と金属キャップ13との熱膨張係数の差に基づく応力
は、前記周辺の応力吸収用薄肉部13bによって吸収さ
れるのみならず、金属キャップ13が表裏対称形状を有
するため、金属キャップ13の組立に際して、その表裏
を考慮しなくてよいという特長がある。なお、シーム溶
接型気密パッケージにおいて、金属キャップを用いるこ
と、金属キャップの周辺部の厚さを中央部の厚さに比較
して小さく(薄く)すること、および表裏対称形状とす
ることは、公知である(例えば、特開平3−27597
号公報)。しかしながら、シーム溶接型パッケージにお
いて周辺部の厚さを中央部の厚さに比較して小さく(薄
く)するのは、前記同様、シーム溶接部の熱容量を小さ
くして、シーム溶接部が効果的に加熱されるようにする
ことにより、シーム溶接不良が生じるのを防止するため
であり、本発明のベース1と金属キャップ9との熱膨張
係数差に起因する応力を吸収するための応力吸収用薄肉
部13bとは技術思想を全く異にするものである。
プ13の縦断面図を示す。この実例の金属キャップ13
は、中央部の厚肉部13aの厚さt4が0.05〜0.
30mmで、周辺に設けた応力吸収用薄肉部13bの厚
さt5が0.01〜0.10mmに設定されていること
であり、図4の実施例との相違点は、周辺の応力吸収用
薄肉部13bが、中央部の厚肉部13aの厚さ方向の中
央に設けられており、金属キャップ13が表裏対称形状
を有していることである。この実施例によれば、ベース
1と金属キャップ13との熱膨張係数の差に基づく応力
は、前記周辺の応力吸収用薄肉部13bによって吸収さ
れるのみならず、金属キャップ13が表裏対称形状を有
するため、金属キャップ13の組立に際して、その表裏
を考慮しなくてよいという特長がある。なお、シーム溶
接型気密パッケージにおいて、金属キャップを用いるこ
と、金属キャップの周辺部の厚さを中央部の厚さに比較
して小さく(薄く)すること、および表裏対称形状とす
ることは、公知である(例えば、特開平3−27597
号公報)。しかしながら、シーム溶接型パッケージにお
いて周辺部の厚さを中央部の厚さに比較して小さく(薄
く)するのは、前記同様、シーム溶接部の熱容量を小さ
くして、シーム溶接部が効果的に加熱されるようにする
ことにより、シーム溶接不良が生じるのを防止するため
であり、本発明のベース1と金属キャップ9との熱膨張
係数差に起因する応力を吸収するための応力吸収用薄肉
部13bとは技術思想を全く異にするものである。
【0020】図6は、本発明の第4実施例の金属キャッ
プ14の縦断面図を示す。この実例の金属キャップ14
は、中央部14aと周辺部14bとの厚さt6は同一の
0.05〜0.30mmで、中央部14aと周辺部14
bとの境界部に設けた応力吸収用薄肉部の一例としての
断面V字溝部14cの厚さt7が0.01〜0.10m
mに設定されている。前記応力吸収用薄肉部としての断
面V字溝部14cの平面形状は、中央部14aと周辺部
14bとの境界に沿った枠状または環状でもよい。この
実施例によれば、ベース1と金属キャップ14との熱膨
張係数の差に基づく応力は、前記の応力吸収用薄肉部で
ある断面V字溝部14cによって吸収されるのみなら
ず、金属キャップ14に封止材を被着する場合、前記の
断面V字溝部14cによって封止材の流れ止め作用があ
るので、封止時の加熱により溶融した封止材10が、金
属キャップ14の中央部14aに向かって流れ過ぎて、
封止部の封止材量が不足する事態の発生が防止でき、確
実に封止できるという特長がある。
プ14の縦断面図を示す。この実例の金属キャップ14
は、中央部14aと周辺部14bとの厚さt6は同一の
0.05〜0.30mmで、中央部14aと周辺部14
bとの境界部に設けた応力吸収用薄肉部の一例としての
断面V字溝部14cの厚さt7が0.01〜0.10m
mに設定されている。前記応力吸収用薄肉部としての断
面V字溝部14cの平面形状は、中央部14aと周辺部
14bとの境界に沿った枠状または環状でもよい。この
実施例によれば、ベース1と金属キャップ14との熱膨
張係数の差に基づく応力は、前記の応力吸収用薄肉部で
ある断面V字溝部14cによって吸収されるのみなら
ず、金属キャップ14に封止材を被着する場合、前記の
断面V字溝部14cによって封止材の流れ止め作用があ
るので、封止時の加熱により溶融した封止材10が、金
属キャップ14の中央部14aに向かって流れ過ぎて、
封止部の封止材量が不足する事態の発生が防止でき、確
実に封止できるという特長がある。
【0021】図7は、本発明の第5実施例の金属キャッ
プ15の縦断面図を示す。この実例の金属キャップ15
は、中央部15aと周辺部15bとの厚さt8は同一の
0.05〜0.30mmで、中央部15aと周辺部15
bとの間の境界部および中心線に沿って設けた応力吸収
用薄肉部の一例としての断面V字溝部15cおよび15
dの厚さt9が0.01〜0.10mmに設定されてい
る。前記断面V字溝部15cの平面形状は、中央部15
aと周辺部15bとの境界部に沿った枠状または環状で
あり、前記断面V字溝部15dの平面形状は、両端が前
記応力吸収部15cに達する十字状である。この実施例
によれば、ベース1と金属キャップ15との熱膨張係数
の差に基づく応力は、前記の応力吸収用薄肉部15cお
よび15dによって吸収されるのみならず、金属キャッ
プ15に封止材を被着する場合、前記の応力吸収用薄肉
部14cによって封止材の流れ止め作用があるので、封
止時の加熱により溶融した封止材10が、金属キャップ
15の中央部15aに向かって流れ過ぎて、封止部の封
止材量が不足する事態の発生が防止でき、確実に封止で
きるという特長がある。また、応力吸収用薄肉部15d
は、応力吸収用薄肉部15cのみでは応力吸収作用が不
足する場合に、それを補完する特長がある。なお、上記
実施例において、平面形状が十字状の応力吸収用薄肉部
15dを用いる場合について説明したが、縦横2本また
は3本以上の井桁状や、場合によっては、同心多重の枠
状または環状でもよい。
プ15の縦断面図を示す。この実例の金属キャップ15
は、中央部15aと周辺部15bとの厚さt8は同一の
0.05〜0.30mmで、中央部15aと周辺部15
bとの間の境界部および中心線に沿って設けた応力吸収
用薄肉部の一例としての断面V字溝部15cおよび15
dの厚さt9が0.01〜0.10mmに設定されてい
る。前記断面V字溝部15cの平面形状は、中央部15
aと周辺部15bとの境界部に沿った枠状または環状で
あり、前記断面V字溝部15dの平面形状は、両端が前
記応力吸収部15cに達する十字状である。この実施例
によれば、ベース1と金属キャップ15との熱膨張係数
の差に基づく応力は、前記の応力吸収用薄肉部15cお
よび15dによって吸収されるのみならず、金属キャッ
プ15に封止材を被着する場合、前記の応力吸収用薄肉
部14cによって封止材の流れ止め作用があるので、封
止時の加熱により溶融した封止材10が、金属キャップ
15の中央部15aに向かって流れ過ぎて、封止部の封
止材量が不足する事態の発生が防止でき、確実に封止で
きるという特長がある。また、応力吸収用薄肉部15d
は、応力吸収用薄肉部15cのみでは応力吸収作用が不
足する場合に、それを補完する特長がある。なお、上記
実施例において、平面形状が十字状の応力吸収用薄肉部
15dを用いる場合について説明したが、縦横2本また
は3本以上の井桁状や、場合によっては、同心多重の枠
状または環状でもよい。
【0022】なお、上記実施例は特定の構成の電子部品
用パツケージAについて説明したが、本発明はこの構成
の電子部品用パツケージAに限定されるものではなく、
本発明の精神を逸脱しない範囲で各種の変形された構成
が採用できる。例えば、上記の電子部品用パツケージA
では、図12および図13に示す従来の絶縁性ベース5
1と同様に、ベース1の一端側に電極6、7を寄せて形
成し、一方の電極7を枠体部3の下を迂回させて他端部
に達するようにしたものを示したが、図8に示す電子部
品用パツケージBのように、電極26、27をベース2
1の両端に振り分けて形成してもよい。図8は本発明の
第2実施例の電子部品用パツケージ用Bの封止材および
キャップの一部を切り開いて内部が見えるようにした平
面図である。図8に示す電子部品用パツケージ用Bにお
いて、21はアルミナセラミック製またはガラスセラミ
ック製のベースで、底板部22と枠体部23とを有し、
長手方向の両端部に電極を形成するための凹部24、2
5を有する。26、27は内方端が前記底板部22の上
面に形成されベース21の内方から外方に導出されてい
る電極で、一方の電極26は前記一方の凹部24の端面
部を通って前記底板部22の裏面にまで延在して形成さ
れており、他方の電極27は他方の凹部25の端面部を
通って底板部22の裏面にまで延在して形成されてい
る。28は前記枠体部23の上面に封止材29を介して
固着封止された厚さが0.02〜0.15mmの金属キ
ャップである。2点鎖線で示す30は、両持ち型の水晶
振動素子等の電子素子で、前記電極26、27に導電性
接着材で接続固着されている。前記電子部品用パツケー
ジ用Bにおいても、図1ないし図3に示す実施例と同様
に、金属キャップ28の薄型化が可能になり、パツケー
ジ全体の高さ寸法を小さくでき、低背化ができる。ま
た、ベース21と金属キャップ28とに熱膨張係数差が
あっても、薄い金属キャップ28で吸収されるため、熱
膨張係数差に起因する応力で金属キャップ28が剥離す
ることがない。しかも、封止材29として、低融点ガラ
ス、導電性ガラス、導電性樹脂、非導電性樹脂等を用い
れば、図14ないし図16に示す枠体部63の上面にメ
タライズ層64を形成しその上に金属枠体65をろう付
けした電子部品用パッケージと比較して、メタライズ層
64および金属枠体65が不要で、材料費・加工費とも
低減できるのみならず、全体の低背化ができる。さら
に、図1ないし図3の実施例に比較して、電極27を枠
体部23の下を迂回して長手方向の他端部まで延在させ
る必要がなくなり、底板部22と枠体部23との密着性
がよくなり、両者のデラミネーションが発生しなくなる
のみならず、高価な電極材料の使用量を節減できて原価
低減ができるし、両持ち式であるため、電子素子30を
安定して支持できる特長がある。なお、この第2実施例
の電子部品用パツケージBにおいて、図4ないし図7に
示した金属キャップ12ないし15を用いても、同様の
作用効果が得られる。
用パツケージAについて説明したが、本発明はこの構成
の電子部品用パツケージAに限定されるものではなく、
本発明の精神を逸脱しない範囲で各種の変形された構成
が採用できる。例えば、上記の電子部品用パツケージA
では、図12および図13に示す従来の絶縁性ベース5
1と同様に、ベース1の一端側に電極6、7を寄せて形
成し、一方の電極7を枠体部3の下を迂回させて他端部
に達するようにしたものを示したが、図8に示す電子部
品用パツケージBのように、電極26、27をベース2
1の両端に振り分けて形成してもよい。図8は本発明の
第2実施例の電子部品用パツケージ用Bの封止材および
キャップの一部を切り開いて内部が見えるようにした平
面図である。図8に示す電子部品用パツケージ用Bにお
いて、21はアルミナセラミック製またはガラスセラミ
ック製のベースで、底板部22と枠体部23とを有し、
長手方向の両端部に電極を形成するための凹部24、2
5を有する。26、27は内方端が前記底板部22の上
面に形成されベース21の内方から外方に導出されてい
る電極で、一方の電極26は前記一方の凹部24の端面
部を通って前記底板部22の裏面にまで延在して形成さ
れており、他方の電極27は他方の凹部25の端面部を
通って底板部22の裏面にまで延在して形成されてい
る。28は前記枠体部23の上面に封止材29を介して
固着封止された厚さが0.02〜0.15mmの金属キ
ャップである。2点鎖線で示す30は、両持ち型の水晶
振動素子等の電子素子で、前記電極26、27に導電性
接着材で接続固着されている。前記電子部品用パツケー
ジ用Bにおいても、図1ないし図3に示す実施例と同様
に、金属キャップ28の薄型化が可能になり、パツケー
ジ全体の高さ寸法を小さくでき、低背化ができる。ま
た、ベース21と金属キャップ28とに熱膨張係数差が
あっても、薄い金属キャップ28で吸収されるため、熱
膨張係数差に起因する応力で金属キャップ28が剥離す
ることがない。しかも、封止材29として、低融点ガラ
ス、導電性ガラス、導電性樹脂、非導電性樹脂等を用い
れば、図14ないし図16に示す枠体部63の上面にメ
タライズ層64を形成しその上に金属枠体65をろう付
けした電子部品用パッケージと比較して、メタライズ層
64および金属枠体65が不要で、材料費・加工費とも
低減できるのみならず、全体の低背化ができる。さら
に、図1ないし図3の実施例に比較して、電極27を枠
体部23の下を迂回して長手方向の他端部まで延在させ
る必要がなくなり、底板部22と枠体部23との密着性
がよくなり、両者のデラミネーションが発生しなくなる
のみならず、高価な電極材料の使用量を節減できて原価
低減ができるし、両持ち式であるため、電子素子30を
安定して支持できる特長がある。なお、この第2実施例
の電子部品用パツケージBにおいて、図4ないし図7に
示した金属キャップ12ないし15を用いても、同様の
作用効果が得られる。
【0022】図9は本発明の第3実施例の電子部品用バ
ッケージCの封止材および金属キャップの一部を切り開
いて内部が見えるようにした平面図で、図10は図9の
B−B線に沿う縦断面図である。図9および図10に示
す電子部品用パツケージ用Cにおいて、31はアルミナ
セラミック製またはガラスセラミック製のベースで、底
板部32と枠体部33とを有し、前記底板部33の周辺
に沿って所定高さの段部34を有し、さらに、長手方向
の両端部に電極を形成するための凹部35、36を有す
る。37、38は内方端が前記段部34の上面に形成さ
れベース21の内方から外方に導出されている電極で、
一方の電極37は前記一方の凹部35の端面部を通って
前記底板部32の裏面にまで延在して形成されており、
他方の電極38は他方の凹部36の端面部を通って底板
部32の裏面にまで延在して形成されている。39は前
記枠体部33の上面に封止材40を介して固着封止され
た厚さが0.02〜0.15mmの金属キャップであ
る。2点鎖線で示す41は、両持ち型の水晶振動素子等
の電子素子で、前記電極37、38に導電性接着材で接
続固着されている。前記電子部品用パツケージ用Cにお
いても、図8に示す実施例と同様に、金属キャップ39
の薄型化が可能になり、パツケージ全体の高さ寸法を小
さくでき、低背化ができる。また、ベース31と金属キ
ャップ39とに熱膨張係数差があっても、薄い金属キャ
ップ39で吸収されるため、熱膨張係数差に起因する応
力で金属キャップ39が剥離することがない。しかも、
封止材40として、低融点ガラス、導電性ガラス、導電
性樹脂、非導電性樹脂等を用いれば、図14ないし図1
6に示す枠体部63の上面にメタライズ層64を形成し
その上に金属枠体65をろう付けした電子部品用パッケ
ージと比較して、メタライズ層64および金属枠体65
が不要で、材料費・加工費とも低減できるのみならず、
全体の低背化ができる。さらに、図1ないし図3の実施
例や図8の実施例に比較して、段部34を利用して電子
素子41の自由振動を妨げないように支持できるので、
電極37、38の厚さは、電極6、7や26、27およ
び支持部8のように、電子素子11、30の自由振動を
妨げないように厚く形成する必要がなくなるため、格段
に薄くてよくなり、高価な電極材料の使用量を節減で
き、原価低減ができる特長がある。なお、この第3実施
例の電子部品用パツケージCにおいて、図4ないし図7
に示した金属キャップ12ないし15を用いても、同様
の作用効果が得られる。
ッケージCの封止材および金属キャップの一部を切り開
いて内部が見えるようにした平面図で、図10は図9の
B−B線に沿う縦断面図である。図9および図10に示
す電子部品用パツケージ用Cにおいて、31はアルミナ
セラミック製またはガラスセラミック製のベースで、底
板部32と枠体部33とを有し、前記底板部33の周辺
に沿って所定高さの段部34を有し、さらに、長手方向
の両端部に電極を形成するための凹部35、36を有す
る。37、38は内方端が前記段部34の上面に形成さ
れベース21の内方から外方に導出されている電極で、
一方の電極37は前記一方の凹部35の端面部を通って
前記底板部32の裏面にまで延在して形成されており、
他方の電極38は他方の凹部36の端面部を通って底板
部32の裏面にまで延在して形成されている。39は前
記枠体部33の上面に封止材40を介して固着封止され
た厚さが0.02〜0.15mmの金属キャップであ
る。2点鎖線で示す41は、両持ち型の水晶振動素子等
の電子素子で、前記電極37、38に導電性接着材で接
続固着されている。前記電子部品用パツケージ用Cにお
いても、図8に示す実施例と同様に、金属キャップ39
の薄型化が可能になり、パツケージ全体の高さ寸法を小
さくでき、低背化ができる。また、ベース31と金属キ
ャップ39とに熱膨張係数差があっても、薄い金属キャ
ップ39で吸収されるため、熱膨張係数差に起因する応
力で金属キャップ39が剥離することがない。しかも、
封止材40として、低融点ガラス、導電性ガラス、導電
性樹脂、非導電性樹脂等を用いれば、図14ないし図1
6に示す枠体部63の上面にメタライズ層64を形成し
その上に金属枠体65をろう付けした電子部品用パッケ
ージと比較して、メタライズ層64および金属枠体65
が不要で、材料費・加工費とも低減できるのみならず、
全体の低背化ができる。さらに、図1ないし図3の実施
例や図8の実施例に比較して、段部34を利用して電子
素子41の自由振動を妨げないように支持できるので、
電極37、38の厚さは、電極6、7や26、27およ
び支持部8のように、電子素子11、30の自由振動を
妨げないように厚く形成する必要がなくなるため、格段
に薄くてよくなり、高価な電極材料の使用量を節減で
き、原価低減ができる特長がある。なお、この第3実施
例の電子部品用パツケージCにおいて、図4ないし図7
に示した金属キャップ12ないし15を用いても、同様
の作用効果が得られる。
【0023】
【発明の効果】本発明は以上のように、底板部および枠
体部を有する絶縁性ベースと、この絶縁性ベースの内方
から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面部に封
止材を介して固着封止された少なくとも一部の厚さが
0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する電
子部品用パッケージであるから、絶縁性ベースと導電性
キャップとの熱膨張係数に差がある場合でも、前記厚さ
寸法の応力吸収用薄肉部分で応力を吸収できるので、材
料の選択範囲が広い電子部品用パッケージを提供でき
る。本発明はまた、上記の電子部品用パツケージ内に電
子素子を収容したことを特徴とする電子部品であるか
ら、絶縁性ベースと導電性キャップとの熱膨張係数に差
がある場合でも、前記厚さ寸法の応力吸収用薄肉部分で
応力を吸収できるので、電子素子に応力が加わって特性
が変動することがない電子部品を提供できるという効果
を奏する。
体部を有する絶縁性ベースと、この絶縁性ベースの内方
から外方に導出された電極と、前記枠体部の上面部に封
止材を介して固着封止された少なくとも一部の厚さが
0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する電
子部品用パッケージであるから、絶縁性ベースと導電性
キャップとの熱膨張係数に差がある場合でも、前記厚さ
寸法の応力吸収用薄肉部分で応力を吸収できるので、材
料の選択範囲が広い電子部品用パッケージを提供でき
る。本発明はまた、上記の電子部品用パツケージ内に電
子素子を収容したことを特徴とする電子部品であるか
ら、絶縁性ベースと導電性キャップとの熱膨張係数に差
がある場合でも、前記厚さ寸法の応力吸収用薄肉部分で
応力を吸収できるので、電子素子に応力が加わって特性
が変動することがない電子部品を提供できるという効果
を奏する。
【図1】 本発明の一実施例の電子部品用パツケージ用
Aの斜視図
Aの斜視図
【図2】 図1の電子部品用パツケージ用Aの封止材お
よびキャップの一部を切り開いて内部が見えるようにし
た平面図
よびキャップの一部を切り開いて内部が見えるようにし
た平面図
【図3】 図2の電子部品用パツケージ用AのA−A線
に沿う縦断面図
に沿う縦断面図
【図4】 本発明の第2実施例の金属キャップの縦断面
図
図
【図5】 本発明の第3実施例の金属キャップの縦断面
図
図
【図6】 本発明の第4実施例の金属キャップの縦断面
図
図
【図7】 本発明の第5実施例の金属キャップの縦断面
図
図
【図8】 本発明の第2実施例の電子部品用パッケージ
Bの封止材および金属キャップを一部切り開いて内部が
見えるようにした平面図
Bの封止材および金属キャップを一部切り開いて内部が
見えるようにした平面図
【図9】 本発明の第3実施例の電子部品用パッケージ
Cの封止材および金属キャップを一部切り開いて内部が
見えるようにした平面図
Cの封止材および金属キャップを一部切り開いて内部が
見えるようにした平面図
【図10】 図9の電子部品用パッケージCのB−B線
に沿う縦断面図
に沿う縦断面図
【図11】 従来の気密パツケージの斜視図
【図12】 図11の気密パッケージの封止材およびキ
ャップの一部を切り開いて内部が見えるようにした平面
図
ャップの一部を切り開いて内部が見えるようにした平面
図
【図13】図12の気密パッケージのC−C線に沿う縦
断面図
断面図
【図14】従来の他の例の電子部品用パッケージの斜視
図
図
【図15】図14の気密パッケージの封止材およびキャ
ップの一部を切り開いて内部が見えるようにした平面図
ップの一部を切り開いて内部が見えるようにした平面図
【図16】図14の気密パッケージのD−D線に沿う縦
断面図
断面図
A、B、C 電子部品用パッケージ 1、21、31 絶縁性ベース 2、22、32 底板部 3、23、33 枠体部 6、7、26、27、37、38 電極 9、12、13、14、15、28、39 導電性キャ
ップ(金属キャップ) 10、29、40 封止材 12a、13a、14a 中央部(厚肉部) 12b、13b 周辺部(応力吸収用薄肉部) 15c、15d 応力吸収用薄肉部(断面V字溝部)
ップ(金属キャップ) 10、29、40 封止材 12a、13a、14a 中央部(厚肉部) 12b、13b 周辺部(応力吸収用薄肉部) 15c、15d 応力吸収用薄肉部(断面V字溝部)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岸 栄吾 滋賀県大津市晴嵐2丁目9番1号 関西日 本電気株式会社内 Fターム(参考) 5J108 BB02 CC04 EE03 EE07 EE18 GG03 GG08 GG14 GG16 GG17 KK04
Claims (11)
- 【請求項1】底板部および枠体部を有する絶縁性ベース
と、この絶縁性ベースの内方から外方に導出された電極
と、前記枠体部の上面部に封止材を介して固着封止され
た少なくとも一部の厚さが0.01〜0.15mmの導
電性キャップとを有する電子部品用パッケージ。 - 【請求項2】底板部および枠体部を有するセラミックお
よびガラスセラミックから選択された絶縁性ベースと、
この絶縁性ベースの内方から外方に導出された電極と、
前記枠体部の上面部に封止材を介して固着封止された少
なくとも一部の厚さが0.01〜0.15mmの導電性
キャップとを有する電子部品用パッケージ。 - 【請求項3】底板部および枠体部を有する絶縁性ベース
と、この絶縁性ベースの内方から外方に導出された電極
と、前記枠体部の上面部に導電性封止材および非導電性
封止材の中から選択された封止材を介して固着封止され
た0.01〜0.15mmの導電性キャップとを有する
電子部品用パッケージ。 - 【請求項4】前記導電性キャップが板状でかつ厚さが
0.02〜0.15mmの金属キャップであることを特
徴とする請求項1ないし請求項3記載の電子部品用パッ
ケージ。 - 【請求項5】前記導電性キャップが一部に厚さが0.0
1〜0.10mmの応力吸収用薄肉部を有する金属キャ
ップであることを特徴とする請求項1ないし請求項3記
載の電子部品用パッケージ。 - 【請求項6】前記金属キャップの応力吸収用薄肉部が金
属キャップの周辺部に設けられていることを特徴とする
請求項5記載の電子部品用パッケージ。 - 【請求項7】前記金属キャップの周辺部に設けた応力吸
収用薄肉部の肉厚が中央部の肉厚の半分以下であること
を特徴とする請求項6記載の電子部品用パッケージ。 - 【請求項8】前記金属キャップの周辺部に設けた応力吸
収用薄肉部の肉厚が0.01〜0.10mmで、中央部
の肉厚が0.05〜0.30mmであることを特徴とす
る請求項7記載の電子部品用パッケージ。 - 【請求項9】前記金属キャップの応力吸収用薄肉部が金
属キャップの中央部と周辺部との境界部に設けられてい
ることを特徴とする請求項5記載の電子部品用パッケー
ジ。 - 【請求項10】前記金属キャップが、Fe、Cu、Fe
−Cr合金、Fe−Ni合金、 Fe−Ni−Cr合
金、Fe−Ni−Co合金の中から選択されたものであ
ることを特徴とする請求項1ないし請求項9記載の電子
部品用パッケージ。 - 【請求項11】前記請求項1ないし請求項10記載の電
子部品用パツケージ内に電子素子を収容したことを特徴
とする電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP39099A JP2000200847A (ja) | 1999-01-05 | 1999-01-05 | 電子部品用パッケ―ジおよびそれを用いた電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP39099A JP2000200847A (ja) | 1999-01-05 | 1999-01-05 | 電子部品用パッケ―ジおよびそれを用いた電子部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000200847A true JP2000200847A (ja) | 2000-07-18 |
Family
ID=11472491
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP39099A Pending JP2000200847A (ja) | 1999-01-05 | 1999-01-05 | 電子部品用パッケ―ジおよびそれを用いた電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000200847A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008005331A (ja) * | 2006-06-23 | 2008-01-10 | Kyocera Kinseki Corp | 圧電振動子 |
WO2010010721A1 (ja) * | 2008-07-25 | 2010-01-28 | 日本電気株式会社 | 封止パッケージ、プリント回路基板、電子機器及び封止パッケージの製造方法 |
US9627603B2 (en) | 2012-05-18 | 2017-04-18 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Quartz vibrator having a dome-shaped cap |
-
1999
- 1999-01-05 JP JP39099A patent/JP2000200847A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008005331A (ja) * | 2006-06-23 | 2008-01-10 | Kyocera Kinseki Corp | 圧電振動子 |
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US8525323B2 (en) | 2008-07-25 | 2013-09-03 | Nec Corporation | Encapsulating package, printed circuit board, electronic device and method for manufacturing encapsulating package |
JP5343969B2 (ja) * | 2008-07-25 | 2013-11-13 | 日本電気株式会社 | 封止パッケージ、プリント回路基板、電子機器及び封止パッケージの製造方法 |
US9627603B2 (en) | 2012-05-18 | 2017-04-18 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Quartz vibrator having a dome-shaped cap |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20021227 |