JP2000195084A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

光ピックアップ装置

Info

Publication number
JP2000195084A
JP2000195084A JP10370345A JP37034598A JP2000195084A JP 2000195084 A JP2000195084 A JP 2000195084A JP 10370345 A JP10370345 A JP 10370345A JP 37034598 A JP37034598 A JP 37034598A JP 2000195084 A JP2000195084 A JP 2000195084A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
beam shaping
light
prism
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP10370345A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Nakano
淳一 中野
Shiyouhei Kobayashi
章兵 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP10370345A priority Critical patent/JP2000195084A/ja
Priority to US09/468,065 priority patent/US6434105B1/en
Publication of JP2000195084A publication Critical patent/JP2000195084A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ビーム整形プリズムによりビーム整形を行いな
がらも非点収差が発生しない光ピックアップ装置を提供
する。 【解決手段】光ピックアップ装置は固定光学系6と移動
光学系11とで構成される。固定光学系6は、半導体レ
ーザや信号検出用のフォトダイオード等を含む集積型光
学ユニット1と、そこから出射されるレーザ光2を略平
行光に変えるコリメートレンズ3と、レーザ光2を円形
に整形するための第一のビーム整形プリズム4及び第二
のビーム整形プリズム5とを有している。二つのビーム
整形プリズム4と5は共に非平行な入射面と反射面を持
ち、第一のプリズム4の入射面と第二のプリズムの入射
面に対するレーザ光2の入射方向は互いに逆になってい
る。また、移動光学系11は、レーザ光2を90度偏向
する立ち上げミラー7と、レーザ光2を光ディスク9の
記録膜に集光させる対物レンズ8とを有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置、
特に高密度で記録再生を行う光ディスク装置に使用され
る光ピックアップ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスク装置の小型軽量化、低コスト
化を目指して、種々の集積型光学ユニットが検討されて
いる。集積型光学ユニットでは、光ピックアップを構成
するために必要な部品の多く、たとえば半導体レーザや
フォトダイオード、光路を分岐するためのプリズム、ホ
ログラム素子などを、ひとつのパッケージ内に納めるこ
とにより、小型化と低コスト化をはかっている。このよ
うな集積型光学ユニットの詳細は、例えば、高須賀祥一
他著「高速・高密度光ディスク用超薄型ホログラムユニ
ット」(電子情報通信学会技術研究報告、OPE98-64)に
開示されている。
【0003】また、光ディスク装置におけるニーズとし
ては、動作の高速化も挙げられる。これは一般に、光デ
ィスクの回転数を高め、データ転送レートを高めること
で達成される。光ディスクの回転数を高めると、データ
の書き込みに高いレーザパワーが必要となるが、光源と
して用いる半導体レーザの出力は限られているため、高
速化を実現するには半導体レーザから光ディスクに至る
光学系の効率を向上させる必要がある。
【0004】半導体レーザの出射光は光量分布が楕円で
あるため、そのまま使うと光ディスクに対してレーザ光
を絞り込む際に楕円状分布の長軸方向の一部の光を捨て
る構成となりカップリング効率が低下してしまうが、分
布の狭い方向のビームを広げるビーム整形を行って光量
分布を真円にして対物レンズに入射させることにより、
カップリング効率を高めることができる。これはディス
ク回転数や転送レートの向上に不可欠な手法となってい
る。
【0005】またビーム整形は、半導体レーザ自身が持
っている非点隔差を補正する働きも併せ持っている。ビ
ーム整形には、三角形やくさび型などの、水平方向と垂
直方向で倍率の異なるアナモフィックなプリズムが用い
られており、この両方向での倍率の違いを利用すること
により、光源に非点隔差があっても最終的に集光したス
ポットで非点収差が発生しないように調整、補正するこ
とができる。
【0006】すなわち、ビーム整形を行うことにより、
光効率の向上だけでなく、半導体レーザの非点隔差によ
って生じる非点収差の抑制を行える。
【0007】このような光学系は、例えば、特開平7−
98883号公報において、半導体レーザからの出射光
を平行光とした後、三角形のプリズムにてビーム整形を
行う例が開示されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】特開平7−98883
号公報のように三角形のプリズム(以下ビーム整形プリ
ズムと呼ぶ)でビーム整形を行うことにより半導体レー
ザの非点隔差を補正することができるが、逆にこの調整
された点から光学系の調整が動くと、再び非点収差が発
生してしまう。つまり、ビーム整形プリズムに入射する
光の平行度が初期の調整状態から変動すると、ビーム整
形プリズムが持つアナモフィックな特性のために再び非
点収差が発生してしまう。
【0009】言い換えれば、ビーム整形プリズムに入射
する光が完全な平行光であれば、各光線はビーム整形プ
リズムで均一に屈折されるので非点収差は発生しない
が、ビーム整形プリズムに入射する光が非平行光すなわ
ち発散光や収束光であると、各光線はビーム整形プリズ
ムで不均一に屈折されるため非点収差が発生してしま
う。
【0010】非点収差は光ディスク上にビームを集光さ
せる際のスポット形状を歪ませ、データの記録再生に悪
影響を与える。これを避けるには、ビーム整形プリズム
に入射するビームの平行度は精度よく管理しなければな
らない。特に最近の大容量、高密度な光ディスクでは収
差量に対する許容量が小さくなってきており、より一層
高い精度が要求される傾向がある。
【0011】ビーム整形プリズムに入射するビームの平
行度は、光源となる半導体レーザの発光点と、ビームを
平行光にするためのコリメートレンズとの間の距離に依
存する。よって平行度を管理し非点収差を抑えるには、
半導体レーザ発光点からコリメートレンズまでの光学的
な距離を高い精度で管理する必要がある。
【0012】ところが、集積型光学ユニットを光源とし
て使用し、その外部にコリメートレンズとビーム整形プ
リズムを配置する場合には、光学ユニットが多くの光学
部品を含むため、半導体レーザ発光点からコリメートレ
ンズまでの間に光学的な距離を変動させる要因が非常に
多く存在する。仮に組立調整の段階で初期的に収差が発
生しないよう調整しても、介在する光学部品やその支持
部材の温度特性や湿度特性により、その光学的距離は大
幅に変動してしまう。
【0013】また「高速・高密度光ディスク用超薄型ホ
ログラムユニット」の文献でも述べられているように、
この類の光学ユニットではコスト低減など生産上の理由
からプラスチックなど樹脂製の光学素子をユニット内に
設けることが多いため、単に光学的距離を変動させる要
因(部品)が多いというだけではなく、温度や湿度によ
る特性変化が大きい材料を使用していることによっても
距離変化が発生し易い、すなわち収差が非常に発生し易
い光学系となる傾向がある。
【0014】このため、集積型光学ユニットとビーム整
形プリズムを組み合わせて使用することは難しく、低コ
ストな集積型光学ユニットを高パワーが必要な高速光デ
ィスク装置に簡単に適用することはできない。
【0015】本発明は、これらの実状を考慮して成され
たものであり、その主要な目的は、ビーム整形プリズム
によりビーム整形を行いながらも非点収差が発生しない
光ピックアップ装置を提供することである。
【0016】特には、集積型光学ユニットとビーム整形
プリズムを組み合わせながらも非点収差が発生しない光
ピックアップ装置を提供することであり、これにより小
型軽量で低コストで高速な光ディスク装置を実現するこ
とである。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明による光ピックア
ップ装置は、光源となる半導体レーザと、前記半導体レ
ーザからの出射されるレーザ光を略平行光とするコリメ
ートレンズと、前記コリメートレンズからのレーザ光を
順次整形する第一及び第二のプリズムであって、それぞ
れ非平行な入射面と出射面を持ち、両者は共働してレー
ザ光の光量分布を楕円から真円に近づける第一及び第二
のプリズムと、前記第二のプリズムからのレーザ光を光
学的記録媒体に集光させる対物レンズと、前記半導体レ
ーザと前記コリメートレンズの間に位置する光学素子で
あって、少なくとも前記半導体レーザからの出射光と前
記光学的記録媒体からの戻り光の光路を分岐する機能を
持つ光学素子とを有しており、前記第一のプリズムの入
射面に対するレーザ光の入射方向と前記第二のプリズム
の入射面に対するレーザ光の入射方向とが互いに逆であ
る。
【0018】
【発明の実施の形態】[第一の発明の実施の形態]本発
明の第一の実施の形態の光ピックアップ装置について図
1〜図4を参照して説明する。
【0019】図1(A)と図1(B)に示されるよう
に、光ピックアップ装置は、固定光学系6と移動光学系
11とで構成されている。固定光学系6は、光源となる
半導体レーザや信号検出用のフォトダイオード等を含む
集積型光学ユニット1と、集積型光学ユニット1から出
射されるレーザ光2を略平行光に変えるコリメートレン
ズ3と、レーザ光2を円形に整形するための第一のビー
ム整形プリズム4及び第二のビーム整形プリズム5とを
有している。
【0020】二つのビーム整形プリズム4と5は共に非
平行な入射面と反射面を持ち、入射面は光軸に対して斜
めで、出射面は光軸に対して垂直となるように配置され
ている。さらに、二つのビーム整形プリズム4と5は、
頂角の角度は同じで、両者の頂角が互いに光軸に対して
反対側に位置するように配置されている。すなわち、第
一のプリズム4の入射面に対するレーザ光2の入射方向
と第二のプリズムの入射面に対するレーザ光2の入射方
向は互いに逆になっている。
【0021】また、移動光学系11は、固定光学系6か
らのレーザ光2を90度偏向する立ち上げミラー7と、
立ち上げミラー7からのレーザ光2を光ディスク9の記
録膜に集光させる対物レンズ8とを有している。情報の
記録再生の対象である光ディスク9は、スピンドルモー
タ10により回転可能に支持されており、所定の回転数
で回転される。
【0022】集積型光学ユニット1は、図2に示される
ように、半導体レーザやフォトダイオードが設けられた
半導体基板21と、半導体基板21が固定されるパッケ
ージ22と、電気信号を取り出すためのリード23と、
一部にホログラム領域25を有するホログラム素子24
と、小型プリズム26とを有している。
【0023】図3に示されるように、半導体基板21に
は凹部34が形成されており、この凹部34の底には半
導体レーザチップ31が設けられている。また、半導体
基板21には、サーボ信号用フォトダイオード32a及
び32b、データ信号用フォトダイオード33が設けら
れている。
【0024】次に、この光ピックアップ装置の作用を説
明する。
【0025】図3(B)に示されるように、半導体レー
ザチップ31から水平方向(図3において半導体基板2
1の上面と平行な方向)に出射されたレーザ光2は、半
導体基板21の凹部34の斜面において反射され、90
度偏向されて垂直方向(図3において半導体基板21の
上面に対して垂直な方向)に向けられる。
【0026】一般に半導体レーザの出射光は光量分布が
楕円状になっており、図2の左右方向の広がり角が狭
く、図2の紙面に垂直な方向の広がり角が大きくなって
いる。このレーザ光2は、ホログラム素子24とホログ
ラム領域25とプリズム26を透過して、集積型光学ユ
ニット1の外部へ出射される。
【0027】集積型光学ユニット1から出射されたレー
ザ光2は、図1に示されるように、コリメートレンズ3
によって略平行光に変えられる。略平行光となったレー
ザ光2の光量分布は依然として楕円のままであり、図1
において、紙面の上下方向に狭く、紙面に垂直な方向に
広い状態となっている。
【0028】略平行光となったレーザ光2は、第一のビ
ーム整形プリズム4に入射し、ビーム整形される。レー
ザ光2は、続いて、第二のビーム整形プリズム5に入射
し、ビーム整形される。これによりレーザ光2の光量分
布は真円となる。つまり、レーザ光2は、二つのビーム
整形プリズム4と5によって、楕円の光量分布が真円の
光量分布となるようにビーム整形される。
【0029】ここで、ひとつのビーム整形プリズムの働
きについて、図4を参照して説明する。図4では、代表
的に第一のビーム整形プリズム4を図示しているが、以
下の議論は第二のビーム整形プリズム5に対しても同様
に当てはまる。
【0030】ビーム整形プリズム4の入射面に対するレ
ーザ光2の入射角をθ1 とし、また屈折角をθ2 とする
と、スネルの法則により、 sinθ1 =n・sinθ2 (1) の関係がある。ここで、nはビーム整形プリズム4の屈
折率である。レーザ光2の屈折前のビーム径をd1 、屈
折後のビーム径をd2 とすると、その比kは、 k=d2 /d1 =cosθ2 /cosθ1 (2) で表わされる。(2)式に(1)式を適用すると、ビー
ム径の比kは、 k=cosθ2 /( 1−n2 ・sin2 θ2 ) 1/2 (3) で表わされる。
【0031】このように、ビーム整形プリズム4は、図
4の紙面に平行な方向に関して、入射するレーザ光2の
ビーム径を拡大する働きを持ち、その倍率は(3)式で
表わされるkで与えられる。なお、ビーム整形プリズム
4は、図4の紙面に垂直な方向に関しては、ビーム径に
全く影響を与えない。
【0032】図1から分かるように、レーザ光2は、ビ
ーム整形プリズム4によるビーム径の拡大に続いて、ビ
ーム整形プリズム5においても同様にビーム径が拡大さ
れる。従って、レーザ光2のビーム径は、二つのビーム
整形プリズム4と5を通過することによって、図1
(A)の紙面に平行な方向に関して、k2 倍に拡大され
る。
【0033】kの値は、レーザ光2が二つのビーム整形
プリズム4と5を通過した後で、その光量分布が楕円か
らちょうど真円になるように選ばれる。つまり、kの値
は、半導体レーザからの出射光の楕円状光量分布の短軸
の長さのk2 倍が、楕円状光量分布の長軸の長さに等し
くなるように選ばれる。
【0034】前述したようにビーム整形プリズム4の出
射面は共に光軸に対して垂直であるため、図4に示され
るように、ビーム整形プリズム4の頂角(入射面と出射
面がなす角度)はレーザ光2の屈折角θ2 に等しい。従
って、先に選ばれたkの値に応じて、ビーム整形プリズ
ム4の頂角θ2 とビーム整形プリズム4の入射面に対す
るレーザ光2の入射角θ1 とが、(3)式および
(1)に従って決められる。これはビーム整形プリズム
5についても同様である。
【0035】すなわち、レーザ光2が二つのビーム整形
プリズム4と5を通過した後で、その光量分布が楕円か
ら真円になるように、二つのビーム整形プリズム4と5
の頂角が選択されるとともに、その入射面に対するレー
ザ光2の入射角が調整されている。
【0036】また、ビーム整形プリズム4におけるビー
ム整形と、それに続くビーム整形プリズム5におけるビ
ーム整形は、互いに逆向きに行われる。つまり、図1
(A)において、レーザ光2は、第一のビーム整形プリ
ズム4に対しては、向かって左側から入射しているが、
第二のビーム整形プリズム5に対しては、向かって右側
から入射している。
【0037】このため、ビーム整形プリズム4と5に入
射するレーザ光2の平行度にずれが生じても、非点収差
が発生しない。その理由については後述する。
【0038】第二のビーム整形プリズム5を通過したレ
ーザ光2は、図1(A)に示されるように、移動光学系
11に入射し、立ち上げミラー7で90度偏向された
後、図1(B)に示されるように、対物レンズ8によっ
て光ディスク9の記録膜面に集光される。
【0039】レーザ光2は光ディスク9により反射さ
れ、逆の経路を辿って集積型光学ユニット1へと戻り、
図2に示されるように、小型プリズム26のビームスプ
リット面26aによって一部の光が(図の右方向に)反
射される。この反射された光は反射面26bによってさ
らに下方へ反射され、半導体基板21上のデータ信号用
フォトダイオード33(図3参照)に入射し、光ディス
ク9に記録されたマークを検出し、情報の再生を行うの
に用いられる。
【0040】一方、小型プリズム26のビームスプリッ
ト面26aを透過した光は、続いてホログラム素子24
の表面に設けられたホログラム領域25によって回折さ
れ、サーボ用フォトダイオード32a及び32b(図3
参照)に入射して、ここでサーボ用の信号、たとえば焦
点ずれを示すフォーカスエラー信号や、トラッキング誤
差を示すトラッキングエラー信号の検出が行われる。
【0041】なお、移動光学系11は図の左右の方向、
すなわち光ディスク9の径方向に図示しない駆動手段に
より移動可能に構成されており、また対物レンズ8も図
示しないアクチュエータにより、図の上下方向(フォー
カス方向)及び左右方向(トラッキング方向)に移動可
能に構成されている。これにより、レーザ光2を集光し
たスポットを、焦点位置を保ったままで光ディスク9上
の任意の位置へと移動させることができ、これによって
情報の記録あるいは再生が行われる。
【0042】続いて、ビーム整形プリズムにおける非点
収差の抑制について図1(A)を参照して説明する。
【0043】コリメートレンズ3からのレーザ光2の平
行度がずれて発散光になった場合、ビーム整形プリズム
4は紙面と平行な方向と垂直な方向で倍率が異なる、ア
ナモフィックな光学特性を有するため、ビーム整形プリ
ズム4を通過した発散光には非点収差が生じる。これ
は、特開平7−98883号公報のビーム整形方法にお
いて、入射光の平行度がずれると非点収差が生じるのと
まったく同じ理由によるものである。
【0044】しかし、本実施の形態の光ピックアップ装
置では、ビーム整形プリズム4によるビーム整形に続い
て、逆向きのビーム整形プリズム5により逆向きにビー
ム整形が行われる。このため、ビーム整形プリズム4を
通過することで発生した非点収差は、ビーム整形プリズ
ム5を通過することでキャンセルされる。
【0045】すなわち、レーザ光2が発散光となった場
合、例えば、第一のビーム整形プリズム4の上端側に入
射するレーザ光については、第一のビーム整形プリズム
4の入射面に対する入射角は小さくなるが、これとは逆
に、第二のビーム整形プリズム5の入射面に対する入射
角は大きくなる。このため、各々の屈折において発生す
る非点収差が逆極性となり、トータルでキャンセルされ
る。
【0046】反対に、第一のビーム整形プリズム4の下
端側に入射するレーザ光については、第一のビーム整形
プリズム4の入射面に対する入射角は大きくなるが、第
二のビーム整形プリズム5の入射面に対する入射角は小
さくなり、同様に非点収差がキャンセルされる。
【0047】また、入射するレーザ光2が発散光でなく
収束光となる場合は、これらと逆の動きになり、やはり
各屈折で発生する非点収差が逆極性となって、非点収差
はキャンセルされる。
【0048】すなわち、ビーム整形プリズム4に入射す
るレーザ光2の平行度がずれても、ビーム整形後のレー
ザ光2すなわち二つのビーム整形プリズム4と5を通過
した後のレーザ光2は非点収差を持たない。
【0049】レーザ光2の平行度のずれは、本実施の形
態のように集積型の光学ユニットを用いる場合に、特に
顕著に表れる。例えば、図2に示されるホログラム素子
24は成形を容易にするとともにコストを低減するた
め、樹脂製の材料、プラスチック系の材料がよく使われ
る。このため、その屈折率は温度により大きく変化し易
く、その変化率はおよそ10-4/℃程度ある。
【0050】例えば、周囲温度が5℃から55℃に変化
した場合、屈折率は5×10-3すなわち0.5%も変化
してしまう。仮にホログラム素子24の厚みが2〜3m
m程度であるとすると、この屈折率の変化は光路長に換
算して10μm近い変化に相当する。これはコリメート
レンズと半導体レーザの間の距離が温度変化により10
μm近く変動することに相当し、特開平7−98883
号公報のように単一のビーム整形プリズムでビーム整形
を行うには許容できない量である。
【0051】また、このような集積型光学ユニットは、
コスト低減のために、ホログラム素子だけでなく、パッ
ケージも樹脂製とすることが多い。このため、その固定
部分と半導体レーザやコリメートレンズとの位置関係が
変動し易く、これも実質的な光路長を変動させる要因と
なっている。
【0052】しかし、本実施の形態では、ビーム整形を
第一のビーム整形プリズムと第二のビーム整形プリズム
とを用いて行っており、しかも、その入射角が逆向きで
あるため、ビームの平行度のずれにより発生する非点収
差はキャンセルされる。これにより、ビーム整形プリズ
ム4に入射するビームに要求される平行度が大幅に緩和
される。従って、コリメートレンズと半導体レーザとの
間に要求される距離精度は大幅に軽減され、また、両者
間に存在する光学素子の屈折率変化の許容範囲は大幅に
拡大される。
【0053】このため、コリメートレンズと半導体レー
ザとの間の距離が比較的大きく、しかも、温度依存性の
高い部品を多く有する集積型ピックアップを用いても、
ビーム整形後の非点収差を非常に小さく抑えられる。従
って、ビーム整形を行って高い光効率を確保する必要の
ある高速な光ディスク装置に対しても、低コストな集積
型光学ユニットを使用することが可能となり、高性能で
安価な光ディスク装置を提供することができるようにな
る。
【0054】上述した実施の形態では、光源及びディテ
クタ(フォトダイオード)がパッケージに一体的に組み
付けられた集積型の光学ユニットを用いる構成を例にあ
げたが、本発明は、このような集積型の光学ユニットで
はなく、個別の部品をベースに別々に取り付けて構成さ
れる同様の光学系に対しても適用可能であり、この光学
系に対しても、ビーム整形プリズムに入射するレーザ光
に要求される平行度が大幅に緩和されるという同様の効
果が得られる。
【0055】また、実施の形態では、二つのビーム整形
プリズムは、同一の頂角(入射面と出射面のなす角度)
を有しているが、それぞれの頂角の角度が多少違って
も、第一及び第二のビーム整形プリズムが逆向きになっ
ていれば非点収差はキャンセルできる。また、屈折率の
異なる二つのプリズムを用いた場合には、屈折率の差を
考慮してそれぞれの頂角を決める必要があり、それぞれ
の頂角の角度が異なる場合もある。
【0056】また、ビーム整形は2度に分けて行うので
はなく、より多くの回数に分けて行ってもよい。その場
合には、トータルで非点収差の抑制効果が最も高くなる
ビーム整形比や方向を選べばよい。
【0057】また、レーザ光2の整形は必ずしも真円に
なるように整形する必要はなく、カップリング効率改善
の効果が得られる範囲で第一及び第二のプリズムによる
ビーム整形比を適当に設定すればよい。例えば、通常長
軸と短軸とで2.5:1程度の半導体レーザの出射光分
布を、1.5:1程度に整形するだけでもカップリング
効率の改善という効果は十分得られる。
【0058】[第二の発明の実施の形態]次に、本発明
の第二の実施の形態の光ピックアップ装置について図5
を用いて説明する。図中、図1に示される部材と同一の
参照符号で示されている部材は同等の部材を示してい
る。
【0059】第二の実施の形態は、より高い記録密度で
情報の記録・再生を行うために、ソリッドイマージョン
レンズ(SIL)を用いてニアフィールド記録を行う光
ピックアップ装置に関する。このような光ピックアップ
装置は、例えば「HDDとVTRの将来形をねらう光デ
ィスク装置」(日経エレクトロニクス、1998年6月
15日号)において紹介されている。
【0060】図5(A)に示されるように、光ピックア
ップ装置は、光源となる半導体レーザや信号検出用のフ
ォトダイオード等を含む集積型光学ユニット1と、集積
型光学ユニット1から出射されるレーザ光2を略平行光
に変えるコリメートレンズ3と、レーザ光2を円形に整
形するための第一のビーム整形プリズム4及び第二のビ
ーム整形プリズム5とを有している。
【0061】二つのビーム整形プリズム4と5は共に非
平行な入射面と反射面を持ち、入射面は光軸に対して斜
めで、出射面は光軸に対して垂直となるように配置され
ている。さらに、二つのビーム整形プリズム4と5は、
頂角の角度は同じで、両者の頂角が互いに光軸に対して
反対側に位置するように配置されている。すなわち、第
一のプリズム4の入射面に対するレーザ光2の入射方向
と第二のプリズムの入射面に対するレーザ光2の入射方
向は互いに逆になっている。
【0062】光ピックアップ装置は、さらに、第二のビ
ーム整形プリズム5からのレーザ光2を再び収束光に変
える第一のリレーレンズ41と、紙面に垂直な軸のまわ
りで回動可能なガルバノミラー42と、ガルバノミラー
42からのレーザ光2を平行光に変える第二のリレーレ
ンズ43と、第二のリレーレンズ43からのレーザ光2
を紙面下方に向けて90度偏向する立ち上げミラー44
とを有している。
【0063】上述した光学素子は、L字形状のハウジン
グ45に実装されている。このハウジング45は回転可
能に支持されており、ボイスコイルモータ51によって
紙面に平行な面内で回転駆動される。
【0064】図5(B)に示されるように、さらに、光
ピックアップ装置は、立ち上げミラー44からのレーザ
光2を光ディスク9’の記録膜に集光させるプリフォー
カスレンズ46とソリッドイマーションレンズ47と、
これらふたつのレンズ46と47を保持するレンズ枠4
8と、レンズ枠48が搭載される、支持バネ50を介し
てハウジング45に固定されているスライダ49とを有
している。スライダ49は、光ディスク9’の回転によ
って発生する空気流により浮上し、この浮上量によって
ソリッドイマージョンレンズ47と光ディスク9’の間
隔が制御される。
【0065】次に、この光ピックアップ装置の作用を説
明する。
【0066】図5において、集積型光学ユニット1から
出射されたレーザ光2は、コリメートレンズ3によって
略平行光に変えられ、第一の実施の形態と同様に、第一
のビーム整形プリズム4と第二のビーム整形プリズム5
を通過することにより真円の光量分布を持つビームとな
る。その後、レーザ光2は、第一のリレーレンズ41に
よって収束光に変えられ、ガルバノミラー42で反射さ
れた後、第二のリレーレンズ43によって再び平行光に
戻され、立ち上げミラー44によって光ディスク9’に
向けて偏向される。
【0067】ガルバノミラー42は紙面に垂直な軸を中
心に回動可能であり、ガルバノミラー42の回動によっ
て光ディスク9’上の情報トラックにレーザ光2を追従
させるトラッキング制御が行われる。
【0068】立ち上げミラー44で反射されたレーザ光
2は、プリフォーカスレンズ46により集光された後、
さらにソリッドイマージョンレンズ47によって集光さ
れる。ソリッドイマージョンレンズ47の屈折率がnで
あるとすると、ソリッドイマージョンレンズ47の内部
ではレーザ光の波長は等価的に1/nとなるため、レー
ザ光は、ソリッドイマージョンレンズ47がない場合に
比較して、約1/nのスポット径まで絞り込まれる。こ
の絞り込まれた微小なスポットにより情報の記録再生を
行うことにより、従来の光ディスクよりもはるかに高い
密度での記録再生が可能となり、大容量の光ディスク装
置が実現される。
【0069】ここで、ソリッドイマージョンレンズ47
とプリフォーカスレンズ46とからなるレンズ系の前側
焦点位置(光ディスク9’の側から平行光を入射した際
に焦点を結ぶ位置)とガルバノミラー42とは、第二の
リレーレンズ43に対してほぼ共役な関係となるように
配置される。このような配置関係にすることにより、ガ
ルバノミラー42を回動した際に発生する、光ディスク
9’からの戻り光の平行移動は、集積型光学ユニット1
のフォトダイオード面では抑えられる。あわせて、ガル
バノミラー42によりレーザ光2を偏向した際に、レー
ザ光2が立ち上げミラー44やプリフォーカスレンズ4
6,ソリッドイマージョンレンズ47の外部へ出てしま
うのを避けることができる。また、第一のリレーレンズ
41は第二のリレーレンズ43と共焦点の位置関係に配
置されており、これにより、ビーム整形プリズムから出
射した平行光を、再び平行光としてプリフォーカスレン
ズ46に入射させることができる。
【0070】この光ピックアップ装置では、ボイスコイ
ルモータ51とガルバノミラー42によってシーク(ア
クセス)動作及びトラッキング動作が行われ、フォーカ
ス(焦点)の制御は、スライダ49の浮上量によって行
われる。
【0071】なお、光ディスク9’は、従来の光ディス
クのようにカバーガラスの奥に記録膜があり、カバーガ
ラスを介して情報の読み書きが行われるタイプではな
く、記録膜上にはごく薄い保護コートが設けられている
だけで、カバーガラスを介さずに情報の読み書きが行わ
れる、いわゆる「膜面記録」タイプの光ディスクであ
る。これは、ソリッドイマージョンレンズ47によって
絞り込まれた微小スポットと記録膜との間の結合効率を
高めるために、このような構成が用いられる。
【0072】このようなソリッドイマージョンレンズを
用いて高密度記録再生を行うピックアップ装置は、第一
の実施の形態で説明したような従来の光ディスク装置に
比べて収差を非常に小さく抑える必要があり、ビーム整
形プリズムで発生する非点収差などもほとんど許容され
ない。
【0073】しかし、本実施の形態では、ビーム整形を
2度に分けて逆向きに行っているので、レーザ光の平行
度がずれても非点収差が発生しない。このため、超高密
度記録を行う構成を採用しながらも、安価な集積型光学
ユニットを適用できる。これにより、装置のコスト低減
が実現される。
【0074】また、集積型光学ユニットを使わずに個別
の部品によりピックアップを構成する装置に対しても、
本実施の形態のようにビーム整形を2度に分けて逆向き
に行う手法を適用しても、コリメートレンズや半導体レ
ーザの取り付け精度が緩和され、これにより装置のコス
ト低減を図ることもできる。
【0075】また、図5の光ピックアップ装置は、情報
を読み出すリード状態から情報を書き込むライト状態へ
移行するなどの半導体レーザのパワー変化に起因するト
ラックずれを抑制する働きも合わせて持っている。以
下、これについて述べる。
【0076】半導体レーザの出力を急激に変化させる
と、レーザ光の波長が変化する。一般に、ビーム整形プ
リズムの屈折率は波長依存性を有しているため、この波
長変化に応じて屈折角が変化してしまう。
【0077】従って、ビーム整形を一方向だけで行って
いる場合、つまり、単一のビーム整形プリズムでビーム
整形を行っている場合には、この現象により屈折角が変
わってしまい、ビーム整形プリズムからのレーザ光の出
射角度が変わってしまう。その方向はガルバノミラーに
よりトラッキングを行う際の偏向の方向と同じであるか
ら、この角度変化に応じて、光ディスク9’上に集光さ
れるスポットが光ディスク9’上の情報トラックを横切
る方向に移動してしまう。
【0078】これは、今まで追従していた情報トラック
とは異なる情報トラックに瞬間的に移動してしまうこと
を意味する。従って、そのまま書き込み動作を行われた
場合には、本来情報が書き込まれるべき情報トラックと
は異なる別の情報トラックに対して情報の書き込みが行
われてしまい、そこに既に情報が書き込まれている場合
には、そのデータは破壊されてしまう。これは光ディス
ク装置として致命的な問題となる。
【0079】しかし、図5の光ピックアップ装置では、
ビーム整形を2度に分けて逆向きに行っているため、第
一のビーム整形プリズム4での屈折角の変化と第二のビ
ーム整形プリズム5での屈折角の変化は逆極性となりキ
ャンセルされる。このため、波長が変化しても、光ディ
スク9’上のスポット位置は変化しない。これにより信
頼性が向上される。
【0080】以上のように本実施の形態によれば、ソリ
ッドイマージョンレンズを用いたニアフィールド記録の
ように非常に高い密度で情報の記録再生を行う構成に対
しても、ビーム整形プリズムに入射するレーザ光の平行
度のずれや波長変動の許容範囲が大幅に拡大される。こ
れにより、集積型光学ユニットの使用によるコスト低減
や、波長変動の影響を受け難くなることによる信頼性の
向上といった利点が得られる。
【0081】なお、本実施の形態においても、第一の実
施の形態同様、様々な変形や変更や改良が可能であるの
は言うまでもない。
【0082】本発明は、上述した実施の形態に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で行われる
すべての実施を含む。
【0083】上述した実施の形態では、光ディスクから
の反射光の強度を検出することにより情報の再生を行う
光ディスク、すなわち反射率変化型のROMディスクや
相変化ディスクに対して情報の記録再生を行う例につい
て説明したが、これは光磁気ディスクのような、カー効
果により情報の再生を行う光ディスクであってもよい。
光磁気ディスクの場合には、集積型光学ユニット1の中
で、プリズム26とデータ信号用フォトダイオード33
の間に、ウォラストンプリズムなどの偏光分離作用のあ
る光学素子を設けるなどすればよい。
【0084】また、集積型光学ユニットはホログラム素
子を用いるタイプでなく、プリズムのみによって光路の
分岐を行うようなタイプであってもよい。ほとんどの集
積型光学ユニットは、半導体レーザとフォトダイオード
を一体的に設けており、それゆえ、半導体レーザとフォ
トダイオードとに光路を分岐するための何らかの光路分
岐素子が、半導体レーザとコリメートレンズの間に必ず
設けられる。このような構成を持つピックアップ装置で
あれば、本発明を適用することにより、非点収差を発生
させることなくビーム整形を行い、半導体レーザから光
ディスクへ至る光路の光効率を向上させることができ、
高性能で低コストな光ディスク装置の実現が可能とな
る。
【0085】また、コリメートレンズと半導体レーザの
間に入る光学素子は必ずしも樹脂製に限らない。つま
り、比較的温度変化が小さいガラスのような素材に対し
ても、本発明の適用により、調整精度の緩和といった効
果が得られる。
【0086】また、ビーム整形は必ずしもビーム径を広
げる方向に行う必要はなく、楕円状光量分布の長軸側を
縮める構成であってもよい。
【0087】従って、本実施の形態における光ピックア
ップ装置について、以下のことが言える。
【0088】(1) 光源となる半導体レーザと、前記
半導体レーザからの出射光を略平行光とするコリメート
レンズと、前記半導体レーザと前記コリメートレンズの
間に設けられ、少なくとも光路の分岐機能を有する光学
素子と、前記コリメートレンズから出射する略平行光が
順次入射する、入射面と出射面が非平行な第一及び第二
のプリズムとを有しており、前記略平行光が前記第一の
プリズムに入射する際の角度と、続いて前記第二のプリ
ズムに入射する際の角度とが、逆向きとなるよう構成さ
れていることを特徴とする光ピックアップ装置。
【0089】第一のプリズム及び第二のプリズムにて順
次逆方向にビームの整形が行われるため、入射するレー
ザ光の平行度がずれても、第一のプリズム、第二のプリ
ズムで生じる非点収差が逆極性となるために打ち消さ
れ、ビーム整形後のレーザ光に非点収差が残らない。
【0090】(2) 前記光学素子が樹脂製であること
を特徴とする、(1)に記載の光ピックアップ装置。
【0091】平行度のずれが生じ易い樹脂製の光学素子
を含んだ光学系に対してもビーム整形を良好に行えるの
で、光ピックアップ装置のコスト低減と高速化の両立が
実現される。
【0092】(3) 前記光学素子表面にホログラムが
形成されていることを特徴とする、(2)に記載の光ピ
ックアップ装置。
【0093】樹脂面に形成されたホログラムにより光路
の分岐を行うため、光ピックアップ装置のコスト低減が
図られる。
【0094】(4) 前記半導体レーザ及び前記光学素
子が固定部材に一体的に取り付けられ、前記固定部材が
樹脂製であることを特徴とする、(1)〜(3)に記載
の光ピックアップ装置。
【0095】平行度のずれが生じ易い樹脂製固定部材を
用いる光学系に対してもビーム整形を良好に行えるの
で、光ピックアップ装置のコスト低減と高速化の両立が
実現される。
【0096】(5) 一方が曲面、他方が平面をなし、
平面側が情報が記録される光ディスクの表面に近接する
ソリッドイマージョンレンズを有し、前記第二のプリズ
ムを出射したレーザ光が、前記ソリッドイマージョンレ
ンズに入射することを特徴とする、(1)〜(4)に記
載の光ピックアップ装置。
【0097】ビーム整形による収差の発生が非常に小さ
く抑えられるため、収差に対する許容量が非常に小さい
超高密度記録用ピックアップにおいてもコスト低減と高
速化の両立が実現される。
【0098】(6)前記第一及び第二のプリズムにおい
て前記略平行光が屈折される方向が、情報が記録される
光ディスク上において、その情報トラックと直交する方
向に相当することを特徴とする、(1)〜(5)の光ピ
ックアップ装置。
【0099】光源となるレーザの波長が変動してもその
影響が光ディスク上の集光点にあらわれないため、光デ
ィスク装置の信頼性が向上される。
【0100】
【発明の効果】本発明によれば、ビーム整形プリズムに
よりビーム整形を行いながらも非点収差が発生しない光
ピックアップ装置が提供される。特に、環境変化に応じ
て光学特性が変化し易い集積型光学ユニットを用いなが
らも非点収差が発生しない光ピックアップ装置が提供さ
れる。これにより、小型軽量で安価な集積型光学ユニッ
トと、収差に対する許容範囲の狭い高速な光学系とを組
み合わせることが可能となり、小型軽量で低コストで高
速な光ディスク装置の実現が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)は第一の実施の形態の光ピックアップ装
置の平面図であり、(B)はその一部の側面図である。
【図2】図1(A)に示される集積型光学ユニットの断
面図である。
【図3】(A)は図2に示される半導体基板の平面図、
(B)は(A)のB−B線に沿った断面図である。
【図4】ひとつのビーム整形プリズムの働きを説明する
ための図である。
【図5】(A)は第二の実施の形態の光ピックアップ装
置の平面図であり、(B)はその一部の側面図である。
【符号の説明】
1 集積型光学ユニット 3 コリメートレンズ3 4 第一のビーム整形プリズム 5 第二のビーム整形プリズム 8 対物レンズ8

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学的記録媒体に対して情報の記録や再
    生を行う光ピックアップ装置であり、 光源となる半導体レーザと、 前記半導体レーザから出射されるレーザ光を略平行光と
    するコリメートレンズと、 前記コリメートレンズからのレーザ光を順次整形する第
    一及び第二のプリズムであって、それぞれ非平行な入射
    面と出射面を持ち、両者は共働してレーザ光の光量分布
    を楕円から真円に近づける第一及び第二のプリズムと、 前記第二のプリズムからのレーザ光を光学的記録媒体に
    集光させる対物レンズと、 前記半導体レーザと前記コリメートレンズの間に位置す
    る光学素子であって、少なくとも前記半導体レーザから
    の出射光と前記光学的記録媒体からの戻り光の光路を分
    岐する機能を持つ光学素子とを有しており、 前記第一のプリズムの入射面に対するレーザ光の入射方
    向と前記第二のプリズムの入射面に対するレーザ光の入
    射方向とが互いに逆である、光ピックアップ装置。
  2. 【請求項2】 前記光学素子が樹脂製である、請求項1
    に記載の光ピックアップ装置。
  3. 【請求項3】 前記半導体レーザ及び前記光学素子が樹
    脂製の固定部材に一体的に取り付けられている、請求項
    1または請求項2に記載の光ピックアップ装置。
JP10370345A 1998-12-25 1998-12-25 光ピックアップ装置 Withdrawn JP2000195084A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10370345A JP2000195084A (ja) 1998-12-25 1998-12-25 光ピックアップ装置
US09/468,065 US6434105B1 (en) 1998-12-25 1999-12-20 Optical pickup device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10370345A JP2000195084A (ja) 1998-12-25 1998-12-25 光ピックアップ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000195084A true JP2000195084A (ja) 2000-07-14

Family

ID=18496674

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10370345A Withdrawn JP2000195084A (ja) 1998-12-25 1998-12-25 光ピックアップ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000195084A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012195337A (ja) * 2011-03-15 2012-10-11 Sony Corp レーザー照射装置および微小粒子測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012195337A (ja) * 2011-03-15 2012-10-11 Sony Corp レーザー照射装置および微小粒子測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0782655B2 (ja) 光ヘッド
JP3861586B2 (ja) 光学ピックアップ装置及び記録再生装置
JP3167066B2 (ja) 光記録再生装置
JPS60263341A (ja) 光学ヘツド
JP2005508560A (ja) 光走査デバイス
US6876620B2 (en) Optical storage device
US6434105B1 (en) Optical pickup device
US5220553A (en) Optical head
US6272079B1 (en) Optical head unit for optical disk apparatus having both focus control and track control function
JP2000195084A (ja) 光ピックアップ装置
KR20070028533A (ko) 광 픽업 헤드에서 주사 빔을 발생하는 장치 및 방법, 소형광 픽업 헤드와, 소형 픽업 헤드를 구비한 광학 저장시스템
JPH11144273A (ja) ガルバノミラーの偏向角検出装置
JP2000030290A (ja) 光学ヘッド装置及び光ディスクの記録再生装置
JP2745673B2 (ja) 光メモリー装置
US8179750B2 (en) Optical pickup device and optical disc device
JP2002373450A (ja) 光ヘッドおよびディスク装置
JP2001312830A (ja) 光学ピックアップ、光ディスク装置、及びフォーカス調整方法
JP2000173091A (ja) 光ピックアップ装置
JP3810055B2 (ja) 光ディスク装置
JP2003123301A (ja) 光学ピックアップ装置及び記録再生装置
JPH10162411A (ja) 光ピックアップ装置
JP4036958B2 (ja) 光情報記録再生ヘッド
JP3766524B2 (ja) 光情報記録再生ヘッドの光学系
JPH11273124A (ja) 光ディスク装置
JPH11259888A (ja) 偏向装置および光情報記録再生ヘッド

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20060307