JP2000192225A - Film forming mask device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は水晶片、セラミック片等
に電極材料を形成する成膜マスク装置に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a film forming mask apparatus for forming an electrode material on a crystal piece, a ceramic piece or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】例えば、水晶振動子の電極形成工程にお
いて、電極用の金属材料の物理蒸着を行う場合、機械的
マスク装置を用いて真空蒸着法、スパッタリング法によ
り水晶片の必要な部分に電極を形成していた。この機械
的マスク装置を用いる蒸着方法は、水晶片を収納するス
ペーサ、上下のマスク板、その他の補助治具等複数のマ
スク等の板体を重ねて、ねじ止め、あるいは磁力等によ
り一体化して使用するのが一般的であった。2. Description of the Related Art For example, in the step of forming an electrode of a quartz oscillator, when a physical vapor deposition of a metal material for an electrode is performed, a mechanical mask device is used to deposit an electrode on a required portion of the quartz piece by a vacuum deposition method or a sputtering method. Had formed. The vapor deposition method using this mechanical mask device is such that a plurality of masks such as spacers for accommodating crystal pieces, upper and lower mask plates, and other auxiliary jigs are stacked, and screwed together, or integrated by magnetic force or the like. It was common to use.
【0003】このように分割可能な状態でマスク板等を
使用する理由は、上下のマスク板とスペーサの間に付着
した蒸着電極材料(銀、金、アルミニウム等)を剥離除
去する作業が必要であるからである。この剥離除去作業
は特定の洗浄液に浸漬することにより行う。そして、上
記電極形成工程を行う前に、前記スペーサ、上下のマス
ク板、その他の補助治具等複数のマスク等の板体を重ね
て再び一体化する。[0003] The reason for using a mask plate or the like in such a dividable state is that it is necessary to peel off and remove the deposition electrode material (silver, gold, aluminum, etc.) adhering between the upper and lower mask plates and the spacer. Because there is. This peeling removal operation is performed by dipping in a specific cleaning liquid. Then, before performing the above-described electrode forming step, a plate body such as a plurality of masks such as the spacers, upper and lower mask plates, and other auxiliary jigs is overlapped and integrated again.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】このような一体化作業
における、前記板体の組立作業におけるスペーサと上下
のマスク板の位置合わせは、スペーサ、上下マスクに設
けられたねじ穴、あるいは、ガイドピン等により行って
いた。しかしながら、この方法では、スペーサと上下の
マスク板との重ねる場合に正確な位置合わせが行えず、
マスクずれを生じることがあった。In such an integrated operation, the positioning of the spacer and the upper and lower mask plates in the assembling operation of the plate body is performed by using spacers, screw holes provided in the upper and lower masks, or guide pins. And so on. However, in this method, accurate alignment cannot be performed when the spacer and the upper and lower mask plates are overlapped,
In some cases, a mask shift occurred.
【0005】また、前記スペーサ、上マスク、下マスク
の3つの要素を組み立てる構成では、マスクとスペーサ
の間に隙間が形成される。このため、高周波向けの薄型
の水晶片を使用した場合、前記隙間に当該水晶片が入り
込み、マスクずれを生じることもあった。例えば、AT
カットの水晶片を例にすると、基本波発振で45MHz
以上の水晶片(周波数(KHz)=1660/水晶板の
厚み(mm)の計算式より、約0.036mm以下の水晶
片)において、マスクとスペーサの隙間への入り込みと
いった問題が多数発生していた。[0005] Further, in the configuration in which the three elements of the spacer, the upper mask, and the lower mask are assembled, a gap is formed between the mask and the spacer. For this reason, when a thin crystal piece for a high frequency is used, the crystal piece may enter the gap and cause a mask shift. For example, AT
Taking a cut crystal piece as an example, the fundamental oscillation is 45 MHz
In the above-described crystal blank (frequency (KHz) = 1660 / crystal blank having a thickness of about 0.036 mm or less), many problems such as penetration into the gap between the mask and the spacer occur. Was.
【0006】そして、上記マスクずれにより、前記水晶
片に蒸着される電極がずれて、絶縁不良や断線不良を引
き起こす原因となっていた。[0006] Then, due to the mask shift, the electrode deposited on the quartz piece shifts, causing insulation failure and disconnection failure.
【0007】本発明は、成膜マスク装置の組立作業が簡
単、かつ正確なマスクの位置合わせが行えるとともに、
薄型の被成膜形成体のマスクとスペーサの隙間への入り
込みを防止し、マスクずれによる絶縁不良や断線不良を
なくし、作業性、信頼性の高い成膜マスク装置を提供す
ることを目的とするものである。According to the present invention, the assembly operation of the film forming mask device can be performed easily and accurately, and the mask can be accurately positioned.
It is an object of the present invention to provide a film forming mask device with high workability and reliability, which prevents a thin film formation body from entering a gap between a mask and a spacer, eliminates insulation failure and disconnection failure due to mask displacement. Things.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明による成膜マスク装置は、被成膜形成体を
複数個収納する収納凹部が形成され、この収納凹部の底
面に成膜形成用の下部マスクパターンが形成されるとと
もに、スペーサとマスクが一体に構成された下部マスク
と、この下部マスクの上面に密着配置され、成膜形成用
の上部マスクパターンが形成された上部マスクとを少な
くとも具備してなる成膜マスク装置であって、前記上部
マスクには、前記下部マスクの収納凹部の形成位置に対
応し、かつ、前記被成膜形成体を前記収納凹部の底面へ
押さえつける凸部が形成されてなることを特徴とする。In order to solve the above-mentioned problems, a film forming mask apparatus according to the present invention is provided with a recess for accommodating a plurality of film-forming bodies, and a recess formed in the bottom of the recess. A lower mask in which a lower mask pattern for film formation is formed, a lower mask in which a spacer and a mask are integrally formed, and an upper mask in which an upper mask pattern for film formation is formed in close contact with the upper surface of the lower mask Wherein the upper mask corresponds to a formation position of a storage recess of the lower mask and presses the film formation target against a bottom surface of the storage recess. It is characterized in that a convex portion is formed.
【0009】上記構成により、スペーサと下部マスクが
一体となったことにより、成膜マスク装置の構成部品数
を減らし、当該成膜マスク装置の組立作業を容易にする
ことができるとともに、被成膜形成体を収納する収納凹
部にはスペーサと下部マスクからなる隙間が形成される
こともなくなる。しかも、上部マスクには、前記下部マ
スクの収納凹部の形成位置に対応して、被成膜形成体を
前記収納凹部の底面へ押さえつける凸部が形成されてい
ることにより、被成膜形成体を前記収納凹部の内部にと
どめ、前記被成膜形成体が前記下部マスクと上部マスク
からなる隙間部分に移動することがなく、当該被成膜形
成体が前記下部マスクと上部マスクからなる隙間に入り
込むこともない。According to the above structure, since the spacer and the lower mask are integrated, the number of components of the film forming mask device can be reduced, and the assembling work of the film forming mask device can be facilitated. A gap formed by the spacer and the lower mask is not formed in the storage recess for storing the formed body. In addition, the upper mask is provided with a convex portion for pressing the film formation target against the bottom surface of the storage recess corresponding to the formation position of the storage recess of the lower mask. The film formation target remains in the storage recess, and does not move to the gap formed by the lower mask and the upper mask, and the film formation target enters the gap formed by the lower mask and the upper mask. Not even.
【0010】従って、被成膜形成体が前記収容凹部の内
部からずれることがなくなり、マスクずれが生じず、前
記被成膜形成体に蒸着される成膜もずれて形成されるこ
とがない。特に、水晶振動子などの電極形成に使用する
成膜マスク装置においては、水晶片に形成される電極が
ずれて、絶縁不良や断線不良を引き起こすことがなくな
った。さらに、スペーサと下部マスクは一体で形成され
ているため、これらを分解する必要もなく、蒸着電極材
料の剥離除去作業も容易で、かつ、当該電極材料がスペ
ーサと下部マスクの隙間部分に残存することもないた
め、確実な剥離除去が行える。Therefore, the film formation object does not deviate from the inside of the accommodation recess, the mask does not shift, and the film deposited on the film formation object does not shift. In particular, in a film forming mask device used for forming an electrode such as a quartz oscillator, an electrode formed on a crystal piece is displaced, so that insulation failure and disconnection failure do not occur. Further, since the spacer and the lower mask are formed integrally, there is no need to disassemble them, the stripping and removing operation of the deposition electrode material is easy, and the electrode material remains in the gap between the spacer and the lower mask. Since there is no occurrence, reliable peeling and removal can be performed.
【0011】また、上記構成において、前記上部マスク
の凸部の一部が、前記下部マスクの収納凹部の縁の一部
にて接触するように構成されてなることを特徴とする。Further, in the above structure, a part of the projection of the upper mask is configured to be in contact with a part of an edge of the storage recess of the lower mask.
【0012】上記構成によれば、上記作用効果に加え、
前記上部マスクの凸部の一部が、前記下部マスクの収納
凹部の縁の一部にて接触するように構成されているた
め、当該凸部と当該収容凹部とが上部マスクと下部マス
クとの位置決めとして機能する。従って、手軽に下部マ
スクのマスクパターンと上部マスクのマスクパターンと
をずれなく重ねることができるため、成膜マスク装置の
組立作業を容易にするとともに、上下のマスクパターン
がずれることによる、前記被成膜形成体に蒸着される成
膜のずれも一切なくなる。特に、水晶振動子などの電極
形成に使用する成膜マスク装置においては、水晶片に形
成される電極がずれて、絶縁不良や断線不良を引き起こ
すことがなくなった。According to the above configuration, in addition to the above-mentioned effects,
Since a part of the convex part of the upper mask is configured to be in contact with a part of the edge of the concave part of the lower mask, the convex part and the concave part of the upper mask are in contact with each other. Functions as positioning. Therefore, since the mask pattern of the lower mask and the mask pattern of the upper mask can be easily overlapped without deviation, the assembling work of the film forming mask apparatus is facilitated. There is no displacement of the film deposited on the film forming body. In particular, in a film forming mask device used for forming an electrode such as a quartz oscillator, an electrode formed on a crystal piece is displaced, so that insulation failure and disconnection failure do not occur.
【0013】[0013]
【実施例】本発明による実施例を、水晶振動子の電極形
成を例にとり、図面とともに説明する。図1は本発明の
実施例による成膜マスク装置を示す断面図であり、図2
は図1を組み立てた状態の一部拡大断面図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment according to the present invention will be described with reference to the drawings, taking the formation of electrodes of a quartz oscillator as an example. FIG. 1 is a sectional view showing a film forming mask apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 2 is a partially enlarged sectional view of a state where FIG. 1 is assembled.
【0014】成膜マスク装置は、下部マスク1、上部マ
スク2から構成される。下部マスク1は、SUS−30
4等の金属板からなり、その下面には、後述する複数の
水晶片Bの所定の位置に対応する下部マスクパターン1
1が水晶片個々に対応して複数個形成されている。一
方、前記下部マスクの上面には、前記下部マスクパター
ンの位置に対応して、水晶片Bを所定の間隔で複数個位
置決め収納する収容凹部12が複数個設けられている。The film forming mask apparatus comprises a lower mask 1 and an upper mask 2. The lower mask 1 is made of SUS-30
And a lower mask pattern 1 corresponding to a predetermined position of a plurality of crystal blanks B to be described later.
A plurality of 1s are formed corresponding to the individual crystal blanks. On the other hand, on the upper surface of the lower mask, a plurality of accommodating recesses 12 for positioning and accommodating a plurality of crystal blanks B at predetermined intervals are provided corresponding to the positions of the lower mask patterns.
【0015】上部マスク2は、SUS−304等の金属
板からなり、その上面には、前述の水晶片Bの所定の位
置に対応する上部マスクパターン21が水晶片個々に対
応して複数個形成されている。一方、前記上部マスクの
下面には、前記下部マスクの複数の収容凹部12の形成
位置に対応して、水晶片押さえ込み用の凸部22,23
が複数にわたって形成されている。The upper mask 2 is made of a metal plate such as SUS-304. On the upper surface, a plurality of upper mask patterns 21 corresponding to the predetermined positions of the above-described crystal blank B are formed corresponding to the individual crystal blanks. Have been. On the other hand, on the lower surface of the upper mask, the projections 22 and 23 for holding down the crystal blank are formed corresponding to the formation positions of the plurality of housing recesses 12 of the lower mask.
Are formed over a plurality.
【0016】なお、これらの成膜マスク装置における、
下部マスクのマスクパターンと収容凹部、上部マスクの
マスクパターンと水晶片押さえ込み用の凸部について
は、ハーフエッチング、プレスなどの手法により容易に
形成することができる。また、下部マスクは、マスクパ
ターンが形成されたマスクと収容穴部が形成されたスペ
ーサを熱圧着により、面接合させてもよく、これにより
スペーサとマスクとの間に隙間のない一体化された下部
マスクを得ることができる。In these film forming mask devices,
The mask pattern and the accommodation concave portion of the lower mask, and the mask pattern of the upper mask and the convex portion for holding down the crystal piece can be easily formed by a method such as half etching and pressing. Further, the lower mask may be surface-bonded by thermocompression bonding between the mask on which the mask pattern is formed and the spacer on which the receiving hole is formed, whereby the spacer and the mask are integrated without any gap. A lower mask can be obtained.
【0017】そして、前記下部マスク1の収容凹部12
の内に被成膜形成体である水晶片Bを収容する。続い
て、前記上部マスク2の凸部22,23を前記収容凹部
12の縁部分に係止しながら、下部マスク1に上部マス
クを重ね合わせて一体化させる。これは、上部マスクの
凸部が下部マスクの収容凹部の縁部分に接触(係止)さ
れれば、上下のマスクパターンの位置が適正な位置に合
うようにあらかじめ設計してあるため、上下のマスクで
ずれなく重ね合わせることができるものである。The receiving recess 12 of the lower mask 1 is provided.
The crystal blank B, which is a film-forming formation body, is accommodated therein. Subsequently, the upper mask is overlapped with the lower mask 1 to be integrated while the projections 22 and 23 of the upper mask 2 are engaged with the edges of the accommodation recess 12. This is because the upper and lower mask patterns are designed in advance so that the positions of the upper and lower mask patterns are adjusted to the proper positions if the convex portions of the upper mask are brought into contact (locked) with the edge portions of the housing concave portions of the lower mask. The masks can be superimposed without displacement using a mask.
【0018】また、前記下部マスクと上部マスクとを一
体化する方法として、図示しないが、ねじにより締め付
けて一体化してもよい。また、あらかじめ、下部マス
ク、ならびに上部マスクの重ね合わせる部分に磁石体が
取り付けられたものを用い磁石により一体化してもよ
い。なお、磁石を用いる場合、マスク材料として、前記
SUS−304に対して鉄の含有量が多いSUS−43
0の方が好ましい。As a method of integrating the lower mask and the upper mask, although not shown, the lower mask and the upper mask may be integrated by tightening with screws. Further, a magnet in which a magnet body is attached to a portion where the lower mask and the upper mask overlap each other in advance may be integrated by a magnet. When a magnet is used, SUS-43 having a higher iron content than SUS-304 is used as a mask material.
0 is more preferable.
【0019】そして、このような成膜マスク装置を真空
蒸着法、スパッタリング法等により物理蒸着を行うこと
により、所望の成膜パターンの成膜形成体(水晶片)を
得ることができる。By performing physical vapor deposition using such a film forming mask apparatus by a vacuum vapor deposition method, a sputtering method, or the like, a film formed body (quartz piece) having a desired film pattern can be obtained.
【0020】本発明による他の実施例として、図3とと
もに説明する。図3は本発明の他の実施例による成膜マ
スク装置を示す断面図であり、前記実施例と同様の部分
については同番号を付し、説明の一部を割愛した。Another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view showing a film forming mask apparatus according to another embodiment of the present invention. The same parts as those in the above embodiment are denoted by the same reference numerals, and a part of the description is omitted.
【0021】本発明の他の実施例における成膜マスク装
置は、下部マスク1、上部マスク2、マスク押さえ下板
3、マスク押さえ上板4から構成される。本発明の他の
実施例では、前記実施例で示したような下部マスク、な
らびに上部マスクの外側に、機械強度を補強するため
に、さらにマスク押さえ下板3とマスク押さえ上板4を
取り付ける構成としているため、前記実施例に比べて、
下部マスク、上部マスクの厚みを薄く形成することがで
きる。A film forming mask apparatus according to another embodiment of the present invention comprises a lower mask 1, an upper mask 2, a lower mask holding plate 3, and an upper mask holding plate 4. In another embodiment of the present invention, the lower mask holding plate 3 and the upper mask holding plate 4 are further attached to the outside of the lower mask and the upper mask as shown in the above embodiment to reinforce the mechanical strength. Therefore, compared to the above embodiment,
The thickness of the lower mask and the upper mask can be reduced.
【0022】上部マスク2は、SUS−304等の金属
板からなり、その上面には、前述の水晶片Bの所定の位
置に対応する上部マスクパターン21が水晶片個々に対
応して複数個形成されている。一方、前記上部マスクの
下面には、前記下部マスクの複数の収容凹部12の形成
位置に対応するとともに、前記上部マスクパターン21
の形成エリアまで延出して形成された、水晶片押さえ込
み用の凸部24,25が複数にわたって形成されてい
る。上述のように、本実施例の凸部24,25は、上部
マスクパターンの形成エリアまで延出して形成している
ため、当該マスクパターン部以外のエリアでは、上部マ
スクと水晶片が密着しており、蒸着物が全く付着するこ
とがなくなるので、より高精度の蒸着を施すことができ
る。The upper mask 2 is made of a metal plate such as SUS-304. On the upper surface, a plurality of upper mask patterns 21 corresponding to predetermined positions of the above-described crystal blank B are formed corresponding to the individual crystal blanks. Have been. On the other hand, on the lower surface of the upper mask, the upper mask pattern 21 corresponds to the formation position of the plurality of recesses 12 of the lower mask.
A plurality of convex portions 24 and 25 for holding down a crystal piece, which are formed to extend to the formation area, are formed. As described above, since the protrusions 24 and 25 of the present embodiment are formed to extend to the formation area of the upper mask pattern, in the area other than the mask pattern part, the upper mask and the crystal piece are in close contact. In addition, since the deposit is not attached at all, the deposition can be performed with higher precision.
【0023】マスク押さえ下板3、マスク押さえ上板4
は、SUS−304等の金属板からなり、上述の下部マ
スクの下部マスクパターン11、ならびに上部マスクの
上部マスクパターン12を露出させる開口部31,41
とが複数個形成されている。Lower mask holding plate 3, Upper mask holding plate 4
Are made of a metal plate such as SUS-304 and have openings 31 and 41 exposing the lower mask pattern 11 of the lower mask and the upper mask pattern 12 of the upper mask.
Are formed.
【0024】そして、前記下部マスク1の収容凹部12
の内に被成膜形成体である水晶片Bを収容し、前記上部
マスク2の凸部24,25を前記収容凹部12の縁部分
に係止しながら、下部マスク1に上部マスクを重ね合わ
せて一体化させるとともに、さらに、下部マスク1、な
らびに上部マスク2の外側にマスク押さえ下板3、なら
びにマスク押さえ上板4を各々重ね合わせ同様に一体化
させる。The receiving recess 12 of the lower mask 1
A crystal blank B, which is a film-forming formation body, is accommodated therein, and the upper mask is superimposed on the lower mask 1 while the projections 24 and 25 of the upper mask 2 are locked to the edges of the accommodation recess 12. In addition, the lower mask holding plate 3 and the upper mask holding plate 4 are superposed and integrated on the outside of the lower mask 1 and the upper mask 2, respectively.
【0025】これらマスク押さえ下板、下部マスク、上
部マスク、マスク押さえ上板を一体化する方法として、
図示しないが、ねじにより締め付けて一体化してもよい
し、あらかじめ、下部マスク、ならびに上部マスクの重
ね合わせる部分に磁石体が取り付けられたものを用い磁
石により一体化してもよい。さらに、マスク押さえ下板
と下部マスク、上部マスクとマスク押さえ上板について
は、溶接などによりあらかじめ一体化した構成としても
よい。As a method of integrating these mask holding lower plate, lower mask, upper mask and mask holding upper plate,
Although not shown, they may be integrated by tightening with screws, or may be integrated with a magnet using a magnet in which a magnet body is attached to a portion where the lower mask and the upper mask overlap in advance. Further, the lower mask holding plate and the lower mask, and the upper mask and the upper mask holding plate may be integrated in advance by welding or the like.
【0026】そして、このような成膜マスク装置を真空
蒸着法、スパッタリング法等により物理蒸着を行うこと
により、所望の成膜パターンの成膜形成体(水晶片)を
得ることができる。By performing physical vapor deposition using such a film forming mask device by a vacuum vapor deposition method, a sputtering method, or the like, a film formed body (crystal blank) having a desired film pattern can be obtained.
【0027】なお、上記実施例における下部マスク収納
凹部の深さ寸法が、前記水晶片(被成膜形成体)の厚み
寸法と前記凸部の高さ寸法の和にほぼ等しいか、当該寸
法の和より若干小さいことが、水晶片の厚み方向におけ
るずれ込みを防止する点で好ましい。また、上記各実施
例では、被成膜形成体を水晶片とし、水晶振動子を例に
とって説明したが、水晶フィルタ、セラミック等を用い
たの圧電振動子であってもよく、電子部品の電極形成
等、様々な成膜形成体にも適用できるものである。It is to be noted that the depth dimension of the lower mask storage recess in the above embodiment is substantially equal to the sum of the thickness dimension of the crystal blank (film-formed body) and the height dimension of the projection, Slightly smaller than the sum is preferable from the viewpoint of preventing slippage in the thickness direction of the crystal blank. Further, in each of the above-described embodiments, the film formation target body is a quartz piece and a quartz oscillator is described as an example. However, a quartz oscillator using a quartz filter, a ceramic, or the like may be used. The present invention can be applied to various film formation bodies such as formation.
【0028】[0028]
【発明の効果】請求項1により、スペーサと下部マスク
が一体となったことにより、成膜マスク装置の構成部品
数を減らし、当該成膜マスク装置の組立作業を容易にす
ることができる。さらに、被成膜形成体が下部マスクの
収容凹部の内部からずれることがなくなり、マスクずれ
が生じず、前記被成膜形成体に蒸着される成膜もずれて
形成されることがない。特に、水晶振動子などの電極形
成に使用する成膜マスク装置においては、水晶片に形成
される電極がずれて、絶縁不良や断線不良を引き起こす
ことがなくなった。さらに、スペーサと下部マスクは一
体で形成されているため、蒸着電極材料の剥離除去作業
も容易で、かつ、当該電極材料が残存することのない確
実な剥離除去が行える。According to the first aspect of the present invention, since the spacer and the lower mask are integrated, the number of components of the film forming mask device can be reduced, and the assembling operation of the film forming mask device can be facilitated. Further, the film formation object does not shift from the inside of the accommodation recess of the lower mask, the mask does not shift, and the film deposited on the film formation object does not shift. In particular, in a film forming mask device used for forming an electrode such as a quartz oscillator, an electrode formed on a crystal piece is displaced, so that insulation failure and disconnection failure do not occur. Further, since the spacer and the lower mask are integrally formed, the stripping and removing operation of the vapor deposition electrode material is easy, and the peeling and removing operation can be performed without leaving the electrode material.
【0029】請求項2により、上記作用効果に加え、上
部マスクの凸部と下部マスクの収容凹部とが当該成膜マ
スク装置を組み立てる際の位置決めとして機能する。従
って、下部マスクのマスクパターンと上部マスクのマス
クパターンとをずれなく重ねることができ、成膜マスク
装置の組立作業を容易にすることができる。さらに、上
下のマスクパターンがずれることによる、前記被成膜形
成体に蒸着される成膜のずれも一切なくなる。特に、水
晶振動子などの電極形成に使用する成膜マスク装置にお
いては、水晶片に形成される電極がずれて、絶縁不良や
断線不良を引き起こすことがなくなった。According to the second aspect, in addition to the above-described functions and effects, the convex portion of the upper mask and the accommodation concave portion of the lower mask function as positioning when assembling the film forming mask apparatus. Therefore, the mask pattern of the lower mask and the mask pattern of the upper mask can be overlapped without displacement, and the assembly work of the film forming mask device can be facilitated. Further, there is no displacement of the film deposited on the film formation object due to the displacement of the upper and lower mask patterns. In particular, in a film forming mask device used for forming an electrode such as a quartz oscillator, an electrode formed on a crystal piece is displaced, so that insulation failure and disconnection failure do not occur.
【0030】このように、本発明により、成膜マスク装
置の組立作業が簡単、かつ正確なマスクの位置合わせが
行えるとともに、薄型の被成膜形成体のマスクとスペー
サの隙間への入り込みを防止し、マスクずれによる絶縁
不良や断線不良をなくし、作業性、信頼性の高い成膜マ
スク装置を提供することができる。As described above, according to the present invention, the assembly operation of the film forming mask device can be performed easily and accurately, and the thin film formation target can be prevented from entering the gap between the mask and the spacer. In addition, it is possible to provide a film forming mask device with high workability and high reliability by eliminating insulation failure and disconnection failure due to mask displacement.
【図1】本発明の実施例による成膜マスク装置を示す断
面図。FIG. 1 is a sectional view showing a film forming mask apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1を組み立てた状態の一部拡大断面図。FIG. 2 is a partially enlarged sectional view of a state where FIG. 1 is assembled;
【図3】本発明の他の実施例による成膜マスク装置を示
す断面図。FIG. 3 is a sectional view showing a film forming mask apparatus according to another embodiment of the present invention.
1 下部マスク 2 上部マスク 3 マスク押さえ下板 4 マスク押さえ上板 B 水晶片 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Lower mask 2 Upper mask 3 Mask holding lower plate 4 Mask holding upper plate B Crystal piece
Claims (2)
が形成され、この収納凹部の底面に成膜形成用の下部マ
スクパターンが形成されるとともに、スペーサとマスク
が一体に構成された下部マスクと、この下部マスクの上
面に密着配置され、成膜形成用の上部マスクパターンが
形成された上部マスクとを少なくとも具備してなる成膜
マスク装置であって、 前記上部マスクには、前記下部マスクの収納凹部の形成
位置に対応し、かつ、前記被成膜形成体を前記収納凹部
の底面へ押さえつける凸部が形成されてなることを特徴
とする成膜マスク装置。An accommodating recess for accommodating a plurality of film-forming bodies is formed, a lower mask pattern for film formation is formed on a bottom surface of the accommodating recess, and a spacer and a mask are integrally formed. A film forming mask device comprising at least a lower mask and an upper mask which is disposed in close contact with the upper surface of the lower mask and has an upper mask pattern for forming a film formed thereon. A film forming mask apparatus comprising: a projection corresponding to a position where a storage recess of a lower mask is formed and pressing the film formation target against a bottom surface of the storage recess.
部マスクの収納凹部の縁の一部にて接触するように構成
されてなることを特徴とする特許請求項1記載の成膜マ
スク装置。2. The film forming method according to claim 1, wherein a part of the convex part of the upper mask is configured to be in contact with a part of an edge of the storage concave part of the lower mask. Mask equipment.
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2006100674A (en) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Kyocera Kinseki Corp | Method of forming annular electrode film on annular object |
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