JP2000191886A - 半導体封止用樹脂組成物およびそれを用いた半導体装置 - Google Patents

半導体封止用樹脂組成物およびそれを用いた半導体装置

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JP2000191886A
JP2000191886A JP25355999A JP25355999A JP2000191886A JP 2000191886 A JP2000191886 A JP 2000191886A JP 25355999 A JP25355999 A JP 25355999A JP 25355999 A JP25355999 A JP 25355999A JP 2000191886 A JP2000191886 A JP 2000191886A
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metal hydroxide
composite metal
resin composition
semiconductor
resin
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JP25355999A
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Tsutomu Nishioka
務 西岡
Yoshio Yamaguchi
美穂 山口
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Nitto Denko Corp
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Nitto Denko Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】耐湿性および難燃性に優れた半導体封止用樹脂
組成物を提供する。 【解決手段】下記の(A)〜(C)成分を含有する半導
体封止用樹脂組成物である。 (A)エポキシ樹脂。 (B)下記の一般式(1)において繰り返し数n=1と
なるフェノール樹脂が、一般式(1)で表されるフェノ
ール樹脂全体の50重量%以上を占める一般式(1)で
表されるフェノール樹脂。 【化1】 (C)下記の一般式(2)で表される多面体形状の複合
化金属水酸化物。 【化2】 m(Ma b )・n(Qd e )・cH2 O …(2) 〔上記式(2)において、MとQは互いに異なる金属元
素であり、Qは、周期律表のIVa,Va,VIa, VII
a,VIII,Ib,IIbから選ばれた族に属する金属元素
である。また、m,n,a,b,c,d,eは正数であ
って、互いに同一の値であってもよいし、異なる値であ
ってもよい。〕

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、耐湿性および難燃
性に優れた半導体封止用樹脂組成物およびそれを用いた
半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】トランジスタ,IC,LSI等の半導体
素子は、従来からエポキシ樹脂組成物を用いて封止され
電子部品化されている。この電子部品は、難燃性の規格
であるUL94 V−0に適合することが必要不可欠で
あり、これまでは、その難燃作用を付与するため、臭素
化エポキシ樹脂や酸化アンチモン等のアンチモン化合物
を添加する方法が採られてきた。
【0003】ところが、最近、環境保全の観点から、ハ
ロゲン系難燃剤、酸化アンチモンを使用せずに難燃性を
付与した難燃性エポキシ樹脂組成物が要求されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一方で、半導体分野の
技術革新により集積度が上がるとともに、実装されるパ
ッケージの大型化、薄型化が進んできた。これにより基
板実装時の熱ストレスが増大し、その際にクラックや剥
離を生起するという問題が生じるため、耐半田性とよば
れる信頼性が求められるようになってきた。このような
背景のなか、例えば、下記の一般式(3)で表されるビ
フェニル型エポキシ樹脂が多く用いられたり、樹脂の粘
度を下げ配合される無機質充填剤を高充填させる方法が
盛んに採用されるようになっている。上記樹脂の粘度を
下げる方法としては、上記のようなビフェニル型エポキ
シ樹脂のように結晶性を示す場合を除き、通常、分子量
分布を低分子側にシフトさせる方法が採られている。こ
の場合、同時に軟化点が下がり、粉体状態での混合に支
障が生じる等の作業性が損なわれると同時に耐湿性が低
下するという問題があった。
【0005】
【化3】
【0006】本発明は、このような事情に鑑みなされた
もので、良好な流動性とともに耐湿性および難燃性に優
れた半導体封止用樹脂組成物およびそれを用いて得られ
る信頼性の高い半導体装置の提供を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、下記の(A)〜(C)成分を含有する半
導体封止用樹脂組成物を第1の要旨とする。
【0008】(A)エポキシ樹脂。 (B)下記の一般式(1)において繰り返し数n=1と
なるフェノール樹脂が、一般式(1)で表されるフェノ
ール樹脂全体の50重量%以上を占める一般式(1)で
表されるフェノール樹脂。
【化4】 (C)下記の一般式(2)で表される多面体形状の複合
化金属水酸化物。
【化5】 m(Ma b )・n(Qd e )・cH2 O …(2) 〔上記式(2)において、MとQは互いに異なる金属元
素であり、Qは、周期律表のIVa,Va,VIa, VII
a,VIII,Ib,IIbから選ばれた族に属する金属元素
である。また、m,n,a,b,c,d,eは正数であ
って、互いに同一の値であってもよいし、異なる値であ
ってもよい。〕
【0009】また、上記半導体封止用樹脂組成物を用い
て半導体素子を封止してなる半導体装置を第2の要旨と
する。
【0010】なお、本発明の半導体封止用樹脂組成物に
おける(C)成分の、多面体形状の複合化金属水酸化物
とは、図2に示すような、六角板形状を有するもの、あ
るいは、鱗片状等のように、いわゆる厚みの薄い平板形
状の結晶形状を有するものではなく、縦,横とともに厚
み方向(c軸方向)への結晶成長が大きい、例えば、板
状結晶のものが厚み方向(c軸方向)に結晶成長してよ
り立体的かつ球状に近似させた粒状の結晶形状、例え
ば、略12面体,略8面体,略4面体等の形状を有する
複合化金属水酸化物をいい、通常、これらの混合物であ
る。もちろん、上記多面体形状は、結晶の成長のしかた
以外にも、粉砕や摩砕等によっても多面体の形は変化
し、より立体的かつ球状に近似させることが可能とな
る。この多面体形状の複合化金属水酸化物の結晶形状を
表す走査型電子顕微鏡写真(倍率50000倍)の一例
を図1に示す。このように、本発明では、上記多面体形
状の複合化金属水酸化物を用いることにより、従来のよ
うな六角板形状を有するもの、あるいは、鱗片状等のよ
うに、平板形状の結晶形状を有するものに比べ、樹脂組
成物の流動性の低下を抑制することができる。
【0011】本発明の複合化金属水酸化物の形状につい
て、略8面体形状のものを例にしてさらに詳細に説明す
る。すなわち、本発明の複合化金属水酸化物の一例であ
る8面体形状のものは、平行な上下2面の基底面と外周
6面の角錐面とからなり、上記角錐面が上向き傾斜面と
下向き傾斜面とが交互に配設された8面体形状を呈して
いる。
【0012】より詳しく説明すると、従来の厚みの薄い
平板形状の結晶形状を有するものは、例えば、結晶構造
としては六方晶系であり、図3に示すように、ミラー・
ブラベー指数において(00・1)面で表される上下2
面の基底面10と、{10・0}の型面に属する6面の
角筒面11で外周が囲まれた六角柱状である。そして、
〔001〕方向(c軸方向)への結晶成長が少ないた
め、薄い六角柱状を呈している。
【0013】これに対し、本発明の複合化金属水酸化物
は、図4に示すように、結晶成長時の晶癖制御により、
(00・1)面で表される上下2面の基底面12と、
{10・1}の型面に属する6面の角錘面13で外周が
囲まれている。そして、上記角錘面13は、(10・
1)面等の上向き傾斜面13aと、(10・−1)面等
の下向き傾斜面13bとが交互に配設された特殊な晶癖
を有する8面体形状を呈している。また、c軸方向への
結晶成長も従来のものに比べて大きい。図4に示すもの
は、板状に近い形状であるが、さらにc軸方向への結晶
成長が進み、晶癖が顕著に現れて等方的になったものを
図5に示す。このように、本発明の複合化金属水酸化物
は、正8面体に近い形状のものも含むものである。すな
わち、基底面の長軸径と基底面間の厚みとの比率(長軸
径/厚み)は、1〜9が好適である。この長軸径と厚み
との比率の上限値としてより好適なのは、7である。な
お、上記ミラー・ブラベー指数において、「1バー」
は、「−1」と表示した。
【0014】このように、本発明の複合化金属水酸化物
が、外周を囲む6つの面が、{10・1}に属する角錘
面であることは、つぎのことからわかる。すなわち、本
発明の複合化金属水酸化物の結晶を、c軸方向から走査
型電子顕微鏡で観察すると、この結晶は、c軸を回転軸
とする3回回転対称を呈している。また、粉末X線回折
による格子定数の測定値を用いた(10・1)面と{1
0・1}の型面との面間角度の計算値が、走査型電子顕
微鏡観察における面間角度の測定値とほぼ一致する。
【0015】さらに、本発明の複合化金属水酸化物は、
粉末X線回折における(110)面のピークの半価幅B
110 と、(001)面のピークの半価幅B001 との比
(B11 0 /B001 )が、1.4以上である。このことか
らも、c軸方向への結晶性が良いことと、厚みが成長し
ていることが確認できる。すなわち、従来の水酸化マグ
ネシウム等の結晶では、c軸方向への結晶が成長してお
らず、(001)面のピークがブロードで半価幅B001
も大きくなる。したがって(B110 /B001 )の価は、
小さくなる。これに対し、本発明の複合化金属水酸化物
では、c軸方向の結晶性が良いために、(001)面の
ピークが鋭く、細くなり、半価幅B001 も小さくなる。
したがって(B110 /B001 )の価が大きくなるのであ
る。
【0016】すなわち、本発明者らは、良好な流動性と
ともに、耐湿性および難燃性に優れる封止材料を得るた
めに一連の研究を重ねた。その結果、上記3核体のフェ
ノール樹脂を特定量含有するフェノール樹脂〔(B)成
分〕と上記多面体形状を有する複合化金属水酸化物
〔(C)成分〕を併用することにより、優れた流動性お
よび難燃性が付与され、しかも上記特定のフェノール樹
脂〔(B)成分〕を用いるため、低粘度でかつ耐湿性に
優れた高い信頼性を有する半導体装置を得ることのでき
る封止材料が得られることを見出し本発明に到達した。
【0017】そして、上記複合化金属水酸化物〔(C)
成分〕として、前記粒度分布(c1)〜(c3)を有す
るものを用いる場合、流動性および難燃性に一層優れる
ようになる。
【0018】
【発明の実施の形態】つぎに、本発明の実施の形態を詳
しく説明する。
【0019】本発明の半導体封止用樹脂組成物は、エポ
キシ樹脂(A成分)と、特定のフェノール樹脂(B成
分)と、特定の多面体形状の複合化金属水酸化物(C成
分)を用いて得られるものであり、通常、粉末状あるい
はこれを打錠したタブレット状になっている。または、
樹脂組成物を溶融混練した後、略円柱状等の顆粒体に成
形した顆粒状、さらにシート状に成形したシート状の封
止材料となっている。
【0020】上記エポキシ樹脂(A成分)としては、特
に限定するものではなく従来公知の各種エポキシ樹脂が
用いられる。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹
脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂
等があげられる。
【0021】そして、上記ビフェニル型エポキシ樹脂と
しては、例えば、下記の一般式(3)で表されるビフェ
ニル型エポキシ樹脂があげられる。
【0022】
【化6】
【0023】上記一般式(3)中のR1 〜R4 で表され
る、−H(水素)または炭素数1〜5のアルキル基のう
ち、上記アルキル基としては、メチル基、エチル基、n
−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブ
チル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基等の直
鎖状または分岐状の低級アルキル基があげられ、特にメ
チル基が好ましく、上記R1 〜R4 は互いに同一であっ
ても異なっていてもよい。なかでも、低吸湿性および反
応性という観点から、上記R1 〜R4 が全てメチル基で
ある下記の式(4)で表される構造のビフェニル型エポ
キシ樹脂を用いることが特に好適である。
【0024】
【化7】
【0025】上記エポキシ樹脂(A成分)とともに用い
られる特定のフェノール樹脂(B成分)は、下記の一般
式(1)において繰り返し数n=1となるフェノール樹
脂が、一般式(1)で表されるフェノール樹脂全体の5
0重量%以上を占める一般式(1)で表されるフェノー
ル樹脂である。
【0026】
【化8】
【0027】上記式(1)において、繰り返し数nは0
〜6である。そして、本発明においては、上記式(1)
で表されるフェノール樹脂の、繰り返し数n=1となる
フェノール樹脂が、式(1)で表されるフェノール樹脂
全体の50重量%以上を占める必要がある。特に好まし
くは50〜80重量%である。すなわち、n=1である
3核体のフェノール樹脂が、式(1)全体中の50重量
%未満では、粘度が上昇し、流動性が損なわれるからで
ある。
【0028】上記特定のフェノール樹脂(B成分)とし
ては、例えば、つぎのようなものをあげることができ
る。すなわち、荒川化学社製のP−1000、三井化学
社製のVR−8210等があげられる。
【0029】本発明では、上記特定のフェノール樹脂を
用いることが特徴であるが、上記特定のフェノール樹脂
とともに従来公知のフェノール樹脂を併用してもよい。
従来公知のフェノール樹脂としては、例えば、フェノー
ルノボラック、クレゾールノボラック、ビスフェノール
A型ノボラック、ナフトールノボラックおよびフェノー
ルアラルキル樹脂、下記の一般式(5),(6),
(7)で表されるフェノール樹脂等があげられる。上記
フェノール樹脂は単独でもしくは2種以上併せて用いる
ことができる。
【0030】
【化9】
【0031】
【化10】
【0032】
【化11】
【0033】上記式(5)において、繰り返し数mは0
以上の整数である。そして、上記式(6)において、繰
り返し数p,qはそれぞれ、1以上の整数である。な
お、上記(6)で表されるフェノール樹脂における、繰
り返し単位p,qは、ブロック,ランダム,交互等の態
様のいずれであってもよい。つぎに、上記式(7)にお
いて、繰り返し数rは0以上の整数である。
【0034】このように従来公知のフェノール樹脂を併
用する場合、従来公知のフェノール樹脂の占める割合は
フェノール樹脂成分全体中50重量%以下に設定するこ
とが好ましい。特に好ましくは0〜30重量%である。
【0035】上記エポキシ樹脂(A成分)と特定のフェ
ノール樹脂(B成分)を含むフェノール樹脂成分の配合
割合は、エポキシ樹脂中のエポキシ基1当量当たり、フ
ェノール樹脂成分中の水酸基が0.7〜1.3当量とな
るように設定することが好ましく、なかでも0.9〜
1.1当量となるよう設定することが特に好ましい。
【0036】そして、上記A〜B成分とともに用いられ
る特定の多面体形状の複合化金属水酸化物(C成分)
は、下記の一般式(2)で表され、かつ結晶形状が多面
体形状を有するものである。
【0037】
【化12】 m(Ma b )・n(Qd e )・cH2 O …(2) 〔上記式(2)において、MとQは互いに異なる金属元
素であり、Qは、周期律表のIVa,Va,VIa, VII
a,VIII,Ib,IIbから選ばれた族に属する金属元素
である。また、m,n,a,b,c,d,eは正数であ
って、互いに同一の値であってもよいし、異なる値であ
ってもよい。〕
【0038】上記一般式(2)で表される複合化金属水
酸化物に関して、式(2)中の金属元素を示すMとして
は、Al,Mg,Ca,Ni,Co,Sn,Zn,C
u,Fe,Ti,B等があげられる。
【0039】また、上記一般式(2)で表される複合化
金属水酸化物中のもう一つの金属元素を示すQは、周期
律表のIVa,Va,VIa, VIIa,VIII,Ib,IIbか
ら選ばれた族に属する金属である。例えば、Fe,C
o,Ni,Pd,Cu,Zn等があげられ、単独でもし
くは2種以上併せて選択される。
【0040】このような結晶形状が多面体形状を有する
複合化金属水酸化物は、例えば、複合化金属水酸化物の
製造工程における各種条件等を制御することにより、
縦,横とともに厚み方向(c軸方向)への結晶成長が大
きい、所望の多面体形状、例えば、略12面体、略8面
体、略4面体等の形状を有する複合化金属水酸化物を得
ることができる。
【0041】本発明に用いられる多面体形状の複合化金
属水酸化物は、その一例として結晶外形が略8面体の多
面体構造を示し、アスペクト比が1〜8程度、好ましく
は1〜7、特に好ましくは1〜4に調整されたもので、
例えば、式(2)中の、M=Mg,Q=Znの場合につ
いて述べると、つぎのようにして作製することができ
る。すなわち、まず、水酸化マグネシウム水溶液に硝酸
亜鉛化合物を添加し、原料となる部分複合化金属水酸化
物を作製する。ついで、この原料を、800〜1500
℃の範囲で、より好ましくは1000〜1300℃の範
囲で焼成することにより、複合化金属酸化物を作製す
る。この複合化金属酸化物は、m(MgO)・n(Zn
O)の組成で示されるが、さらにカルボン酸、カルボン
酸の金属塩、無機酸および無機酸の金属塩からなる群か
ら選ばれた少なくとも一種を上記複合化金属酸化物に対
して酢酸が約0.1〜6mol%共存する水媒体中の系
で強攪拌しながら40℃以上の温度で水和反応させるこ
とにより、m(MgO)・n(ZnO)・cH2 Oで示
される、本発明の多面体形状を有する複合化金属水酸化
物を作製することができる。
【0042】上記製法において、原料としては、上述し
た方法で得られる部分複合化金属水酸化物だけでなく、
例えば、共沈法によって得られる複合化金属水酸化物,
水酸化マグネシウムとZnの混合物,酸化マグネシウム
とZn酸化物の混合物,炭酸マグネシウムとZn炭酸塩
との混合物等も用いることができる。また、水和反応時
の攪拌は、均一性や分散性の向上、カルボン酸、カルボ
ン酸の金属塩、無機酸および無機酸の金属塩からなる群
から選ばれた少なくとも一種との接触効率向上等のた
め、強攪拌が好ましく、さらに強力な高剪断攪拌であれ
ばなお好ましい。このような攪拌は、例えば、回転羽根
式の攪拌機において、回転羽根の周速を5m/s以上と
して行うのが好ましい。
【0043】上記カルボン酸としては、特に限定される
ものではないが、好ましくはモノカルボン酸、オキシカ
ルボン酸(オキシ酸)等があげられる。上記モノカルボ
ン酸としては、例えば、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪
酸、吉草酸、カプロン酸、アクリル酸、クロトン酸等が
あげられ、上記オキシカルボン酸(オキシ酸)として
は、例えば、グリコール酸、乳酸、ヒドロアクリル酸、
α−オキシ酪酸、グリセリン酸、サリチル酸、安息香
酸、没食子酸等があげられる。また、上記カルボン酸の
金属塩としては、特に限定されるものではないが、好ま
しくは酢酸マグネシウム、酢酸亜鉛等があげられる。そ
して、上記無機酸としては、特に限定されるものではな
いが、好ましくは硝酸、塩酸等があげられる。また、上
記無機酸の金属塩としては、特に限定されるものではな
いが、好ましくは硝酸マグネシウム、硝酸亜鉛等があげ
られる。
【0044】上記多面体形状を有する複合化金属水酸化
物の具体的な代表例としては、sMgO・(1−s)N
iO・cH2 O〔0<s<1、0<c≦1〕、sMgO
・(1−s)ZnO・cH2 O〔0<s<1、0<c≦
1〕、sAl2 3 ・(1−s)Fe2 3 ・cH2
〔0<s<1、0<c≦3〕等があげられる。なかで
も、酸化マグネシウム・酸化ニッケルの水和物、酸化マ
グネシウム・酸化亜鉛の水和物、酸化マグネシウム・酸
化銅の水和物が特に好ましく用いられる。
【0045】そして、上記多面体形状を有する複合化金
属水酸化物(C成分)としては、下記に示す粒度分布
(c1)〜(c3)を有することが好ましい。なお、下
記に示す粒度分布の測定には、レーザー式粒度測定機を
使用する。 (c1)粒径1.3μm未満のものが10〜35重量
%。 (c2)粒径1.3〜2.0μm未満のものが50〜6
5重量%。 (c3)粒径2.0μm以上のものが10〜30重量
%。
【0046】上記粒度分布において、粒度分布(c1)
の粒径1.3μm未満のものが10重量%未満の場合
は、難燃性の効果が乏しくなり、逆に35重量%を超え
多くなると、流動性が損なわれる傾向がみられるように
なる。また、粒度分布(c3)の2.0μm以上のもの
が10重量%未満では、流動性が低下し、逆に30重量
%を超え多くなると、難燃性の効果が乏しくなる傾向が
みられる。なお、上記粒度分布(c1)における粒径の
通常の下限値は0.1μmであり、上記粒度分布(c
3)における粒径の通常の上限値は15μmである。
【0047】さらに、上記(C)成分である多面体形状
の複合化金属水酸化物の比表面積が2.0〜4.0m2
/gの範囲であることが好ましい。なお、上記(C)成
分の比表面積の測定は、BET吸着法により測定され
る。
【0048】また、上記多面体形状を有する複合化金属
水酸化物(C成分)のアスペクト比は、通常1〜8、好
ましくは1〜7、特に好ましくは1〜4である。ここで
いうアスペクト比とは、複合化金属水酸化物の長径と短
径との比で表したものである。すなわち、アスペクト比
が8を超えると、この複合化金属水酸化物を含有する樹
脂組成物が溶融したときの粘度低下に対する効果が乏し
くなる。そして、本発明の半導体封止用樹脂組成物の構
成成分として用いられる場合には、一般的に、アスペク
ト比が1〜4のものが用いられる。
【0049】なお、本発明においては、上記(C)成分
である多面体形状の複合化金属水酸化物とともに従来の
薄平板形状の複合化金属水酸化物を併用することができ
る。そして、本発明の半導体封止用樹脂組成物が溶融し
たときの粘度低下および流動性の効果の発現という点か
ら、用いられる複合化金属水酸化物全体(従来の薄平板
形状を含む)中の、多面体形状の複合化金属水酸化物の
占める割合を30〜100重量%の範囲に設定すること
が好ましい。すなわち、多面体形状の複合化金属水酸化
物の占める割合が30重量%未満では樹脂組成物の粘度
低下の効果および流動性の向上効果が乏しくなる。
【0050】上記多面体形状を有する複合化金属水酸化
物(C成分)を含む複合化金属水酸化物の含有量は、樹
脂組成物全体の1〜30重量%、特には3〜25重量%
の範囲に設定することが好ましい。すなわち、上記複合
化金属水酸化物が1重量%未満では、充分な難燃効果を
得ることが困難であり、また、30重量%を超えると、
流動性が低下し、ワイヤー流れ等の不良を引き起こす傾
向がみられるからである。
【0051】上記A〜C成分とともに、通常、無機質充
填剤が用いられる。この無機質充填剤としては、破砕
状、摩砕状、球状等特に限定するものではなく従来公知
の各種充填剤があげられる。例えば、石英ガラス粉末、
タルク、溶融シリカ粉末および結晶性シリカ粉末等のシ
リカ粉末、アルミナ、窒化珪素、窒化アルミニウム、炭
化珪素等があげられる。好ましくは流動性という観点か
ら溶融シリカ粉末を、とりわけ球状溶融シリカ粉末を用
いることが特に好ましい。これらは単独でもしくは2種
以上併せて用いられる。そして、上記無機質充填剤とし
ては、レーザー式粒度測定機による平均粒径が10〜7
0μmの範囲であることが好ましく、より好ましくは1
0〜50μmである。すなわち、先に述べたように、複
合化金属水酸化物が前記粒度分布(c1)〜(c3)を
有するとともに、無機質充填剤の平均粒径が上記範囲内
であると、樹脂組成物の良好な流動性が得られる。
【0052】上記無機質充填剤の含有量は、半導体封止
用樹脂組成物全体の60〜95重量%となるよう設定す
ることが好ましい。
【0053】なお、本発明に係る半導体封止用樹脂組成
物には、上記A〜C成分および無機質充填剤以外に、硬
化促進剤、顔料、離型剤、可撓性付与剤、シランカップ
リング剤等のカップリング剤、イオントラップ剤、接着
付与剤等を必要に応じて適宜に添加することができる。
【0054】上記硬化促進剤としては、特に限定するも
のではなくエポキシ基と水酸基の反応を促進するもので
あればよく、例えば、1,8−ジアザビシクロ(5,
4,0)ウンデセン−7等のジアザビシクロアルケン系
化合物、トリエチレンジアミン等の三級アミン類、2−
メチルイミダゾール等のイミダゾール類、トリフェニル
ホスフィン等のリン系化合物等があげられる。これら化
合物は単独でもしくは2種以上併せて用いられる。
【0055】上記顔料としては、カーボンブラック、酸
化チタン等があげられる。また、上記離型剤としては、
カルナバワックス、ポリエチレンワックス、パラフィン
や脂肪酸エステル、脂肪酸塩等があげられる。
【0056】さらに、上記可撓性付与剤としては、各種
シリコーン化合物やアクリロニトリル−ブタジエンゴム
等があげられる。
【0057】上記イオントラップ剤としては、水酸化ビ
スマス、ハイドロタルサイト類化合物等があげられる。
【0058】また、本発明に係る半導体封止用樹脂組成
物では、上記各成分に加えてさらに有機系難燃剤あるい
は赤リン系難燃剤を併用すると、上記多面体形状を有す
る複合化金属水酸化物(C成分)を含有する複合化金属
水酸化物の使用量を低減させることができ好ましい。上
記有機系難燃剤としては、含窒素有機化合物、含リン有
機化合物、ホスファゼン系化合物等があげられるが、特
に含窒素有機化合物が好ましく用いられる。
【0059】上記含窒素有機化合物としては、例えば、
メラミン誘導体、シアヌレート誘導体、イソシアヌレー
ト誘導体等の複素環骨格を有する化合物があげられる。
これら有機系難燃剤は単独でもしくは2種以上併せて用
いられる。
【0060】上記有機系難燃剤は、前記複合化金属水酸
化物と予め機械的に混合した後配合してもよいし、有機
系難燃剤を溶剤に溶解してこれに前記複合化金属水酸化
物を添加して脱溶剤し表面処理したものを用いてもよ
い。
【0061】そして、上記有機系難燃剤の含有量は、前
記複合化金属水酸化物の使用量(多面体形状の複合化金
属水酸化物と場合により使用される従来の薄平板形状の
複合化金属水酸化物の合計量)の1〜10重量%の範囲
に設定することが好ましい。特に好ましくは1〜5重量
%である。
【0062】一方、上記赤リン系難燃剤としては、赤リ
ン粉末、あるいはこの赤リン粉末表面を各種有機物,無
機物で保護コートした赤リン粉末をあげることができ
る。そして、上記赤リン系難燃剤の含有量は、上記有機
系難燃剤の場合と同様、前記複合化金属水酸化物の使用
量(多面体形状の複合化金属水酸化物と場合により使用
される従来の薄平板形状の複合化金属水酸化物の合計
量)の1〜10重量%の範囲に設定することが好まし
く、特に好ましくは1〜5重量%である。
【0063】上記有機系難燃剤は、前記複合化金属水酸
化物と予め機械的に混合した後配合してもよいし、有機
系難燃剤を溶剤に溶解してこれに前記複合化金属水酸化
物を添加して脱溶剤し表面処理したものを用いてもよ
い。
【0064】そして、本発明に係る半導体封止用樹脂組
成物において、前記A〜C成分を含む各成分の好適な組
み合わせは、つぎのとおりである。すなわち、エポキシ
樹脂(A成分)のなかでも、例えば、クレゾールノボラ
ック型エポキシ樹脂を用いることが好ましく、また無機
質充填剤としては、溶融シリカ粉末を用いることが好ま
しい。さらに、これら各成分に加えて、上記のような複
合化金属水酸化物を用いた場合、離型性が低下する傾向
がみられることから、ワックス類を用いることが好まし
い。
【0065】本発明に係る半導体封止用樹脂組成物は、
例えばつぎのようにして製造することができる。すなわ
ち、エポキシ樹脂(A成分)、特定のフェノール樹脂
(B成分)、特定の多面体形状の複合化金属水酸化物
(C成分)および無機質充填剤ならびに必要に応じて他
の添加剤を所定の割合で配合しミキサー等で充分に混合
する。つぎに、この混合物をミキシングロール機やニー
ダー等の混練機を用いて加熱状態で溶融混練し、これを
室温に冷却する。そして、公知の手段によって粉砕し、
必要に応じて打錠するという一連の工程によって目的と
する半導体封止用樹脂組成物を製造することができる。
【0066】あるいは、上記半導体封止用樹脂組成物の
混合物を混練機に導入して溶融状態で混練した後、これ
を略円柱状の顆粒体やペレット状に連続的に成形すると
いう一連の工程によっても半導体封止用樹脂組成物を製
造することができる。
【0067】さらに、上記半導体封止用樹脂組成物の混
合物をパレット上に受け入れし、これを冷却後、プレス
圧延,ロール圧延,あるいは溶媒を混合したものを塗工
してシート化する等の方法によりシート状の半導体封止
用樹脂組成物を製造することができる。
【0068】このようにして得られる半導体封止用樹脂
組成物(粉末状,タブレット状,顆粒状等)を用いての
半導体素子の封止方法は、特に限定するものではなく、
通常のトランスファー成形等の公知の成形方法によって
行うことができる。
【0069】また、上記シート状の半導体封止用樹脂組
成物を用いて、例えば、つぎのようにしてフリップチッ
プ実装による半導体装置を製造することができる。すな
わち、上記シート状半導体封止用樹脂組成物を、接合用
バンプを備えた半導体素子の電極面側に、あるいは、回
路基板のバンプ接合部側に配置し、上記半導体素子と回
路基板とをバンプ接合するとともに両者を樹脂封止によ
る接着封止を行うことによりフリップチップ実装して半
導体装置を製造することができる。
【0070】つぎに、実施例について比較例と併せて説
明する。
【0071】まず、下記に示す各材料を準備した。
【0072】〔エポキシ樹脂〕クレゾールノボラック型
エポキシ樹脂(エポキシ当量195、軟化点75℃)
【0073】〔フェノール樹脂A〕前記一般式(1)に
おいて、R1 がメチル基、R2 がメチル基、R3 がメチ
ル基であるフェノールノボラック樹脂であり、n=1の
フェノール樹脂成分の含有量が70重量%であるフェノ
ール樹脂(水酸基当量108、軟化点62℃)(P−1
000、荒川化学社製)
【0074】〔フェノール樹脂B〕前記一般式(1)に
おいて、R1 が水素、R2 が水素、R3 が水素であるフ
ェノールノボラック樹脂であり、n=1のフェノール樹
脂成分の含有量が68重量%であるフェノール樹脂(水
酸基当量105、軟化点60℃)(VR−8210、三
井化学社製)
【0075】〔フェノール樹脂C〕前記一般式(1)に
おいて、R1 が水素、R2 が水素、R3 が水素であるフ
ェノールノボラック樹脂であり、n=1のフェノール樹
脂成分の含有量が30重量%であるフェノール樹脂(水
酸基当量105、軟化点60℃)
【0076】〔硬化促進剤〕トリフェニルホスフィン
【0077】〔無機質充填剤〕溶融シリカ粉末(球形、
平均粒径25μm、比表面積1.4m2 /g)
【0078】〔シランカップリング剤〕β−(3,4−
エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン
【0079】〔複合化金属水酸化物〕つぎに、実施例に
先立って下記の表1〜表2に示す多面体形状の複合化金
属水酸化物を準備した。なお、多面体形状の複合化金属
水酸化物は、先に述べた多面体形状の複合化金属水酸化
物の製造方法に準じて作製した。
【0080】
【表1】
【0081】
【表2】
【0082】
【実施例1〜5、比較例1〜2】ついで、下記の表3〜
表4に示す各成分を同表に示す割合で配合し、ミキシン
グロール機(温度100℃)で3分間溶融混練を行い、
冷却固化した後粉砕して目的とする粉末状エポキシ樹脂
組成物を得た。
【0083】
【表3】
【0084】
【表4】
【0085】このようにして得られた実施例および比較
例のエポキシ樹脂組成物を用いて、タブレット化し、成
形条件175℃×70kg/cm2 ×120秒間で難燃
性用試験片を成形した。また、TOWA自動成形機でL
QFP−114(大きさ:20mm×20mm×厚み
1.4mm)のパッケージを成形した。これら難燃性用
試験片およびパッケージを用いて、難燃性、ワイヤー流
れおよび耐湿性を測定評価した。これらの結果を後記の
表5〜表6に併せて示す。
【0086】〔難燃性〕UL94 V−0規格の方法に
従って難燃性を評価した。なお、合格とは94−V0合
格を意味する。
【0087】〔ワイヤー流れ〕上記パッケージについ
て、まず、軟X線装置により、パッケージ内部の透過画
像を観察することにより、金ワイヤーの変形等の不良の
発生を測定した。測定した結果、金ワイヤーの変形が確
認されたものを×、金ワイヤーの変形が確認されず良好
なパッケージが得られたものを○として評価し表示し
た。
【0088】〔耐湿性〕このようにして作製した半導体
装置を用いて、プレッシャークッカー試験(PCTテス
ト)をバイアスを印加して行った(条件:130℃/8
5%RH、30Vバイアス)。なお、不良モードはリー
ク不良およびオープン不良を測定し、不良発生までの時
間を求めた。
【0089】
【表5】
【0090】
【表6】
【0091】上記表5および表6の結果から、実施例品
は優れた難燃性を示すことはもちろん、ワイヤー流れに
おいて問題が生じず、さらに、耐湿性においても良好な
結果が得られた。これに対して、比較例品はワイヤー流
れにおいて問題が生じ、耐湿性に関しても良好な結果は
得られなかった。
【0092】
【発明の効果】以上のように、本発明は、前記特定のフ
ェノール樹脂(B成分)と前記一般式(1)で表される
多面体形状の複合化金属水酸化物(C成分)を含有する
半導体封止用樹脂組成物である。このように、上記多面
体形状の複合化金属水酸化物(C成分)を用いるため、
優れた難燃性および流動性を備えるとともに、上記特定
のフェノール樹脂(B成分)を用いるため耐湿性に優れ
たものが得られる。したがって、この半導体封止用樹脂
組成物を用いて半導体素子を封止することにより、耐湿
性に優れた高信頼性の半導体装置を得ることができる。
【0093】そして、上記多面体形状の複合化金属水酸
化物(C成分)として、前記粒度分布(c1)〜(c
3)を有するものを用いることにより、流動性および難
燃性に一層優れたものが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明で用いられる多面体形状の複合化金属水
酸化物の結晶形状の一例を示す走査型電子顕微鏡写真
(倍率50000倍)である。
【図2】従来の複合化金属水酸化物の結晶形状の一つで
ある六角板状形状を示す斜視図である。
【図3】従来の複合化金属水酸化物の外形を示す説明図
であり、(a)は平面図、(b)は側面図である。
【図4】本発明の複合化金属水酸化物の外形の一例を示
す説明図であり、(a)は平面図、(b)は側面図であ
る。
【図5】本発明の複合化金属水酸化物の外形の他の例を
示す説明図であり、(a)は平面図、(b)は側面図で
ある。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記の(A)〜(C)成分を含有するこ
    とを特徴とする半導体封止用樹脂組成物。 (A)エポキシ樹脂。 (B)下記の一般式(1)において繰り返し数n=1と
    なるフェノール樹脂が、一般式(1)で表されるフェノ
    ール樹脂全体の50重量%以上を占める一般式(1)で
    表されるフェノール樹脂。 【化1】 (C)下記の一般式(2)で表される多面体形状の複合
    化金属水酸化物。 【化2】 m(Ma b )・n(Qd e )・cH2 O …(2) 〔上記式(2)において、MとQは互いに異なる金属元
    素であり、Qは、周期律表のIVa,Va,VIa, VII
    a,VIII,Ib,IIbから選ばれた族に属する金属元素
    である。また、m,n,a,b,c,d,eは正数であ
    って、互いに同一の値であってもよいし、異なる値であ
    ってもよい。〕
  2. 【請求項2】 上記(C)成分である多面体形状の複合
    化金属水酸化物が、下記に示す粒度分布(c1)〜(c
    3)を有する請求項1記載の半導体封止用樹脂組成物。 (c1)粒径1.3μm未満のものが10〜35重量
    %。 (c2)粒径1.3〜2.0μm未満のものが50〜6
    5重量%。 (c3)粒径2.0μm以上のものが10〜30重量
    %。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の半導体封止用樹
    脂組成物であって、含窒素有機化合物を含有してなる請
    求項1または2記載の半導体封止用樹脂組成物。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれか一項に記載の半
    導体封止用樹脂組成物を用いて半導体素子を封止してな
    る半導体装置。
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