JP2000188367A - Manufacture of semiconductor package - Google Patents

Manufacture of semiconductor package

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JP2000188367A
JP2000188367A JP10364883A JP36488398A JP2000188367A JP 2000188367 A JP2000188367 A JP 2000188367A JP 10364883 A JP10364883 A JP 10364883A JP 36488398 A JP36488398 A JP 36488398A JP 2000188367 A JP2000188367 A JP 2000188367A
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則明 竹谷
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朋 安田
Hironori Shimazaki
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    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a semiconductor package, capable of reducing deformations such as warp produced when a flexible circuit board is applied to an opening part of a metal frame and maintaining that effect. SOLUTION: In a method for manufacturing a semiconductor package for carrying out mounting, wire-bonding, and resin sealing, etc., of a semiconductor element by the use of a structure, wherein a sheet-like flexible circuit board 7 is bonded to the opening part of a metal frame 1 with a bonding agent as an intermediate product for the semiconductor package, after the flexible circuit board 7 is bonded to the metal frame 1, warpage of the flexible circuit board 7 is reduced by reducing the water content within the flexible circuit board 7, and then the intermediate product obtained for the semiconductor package is vacuum-packed and sent to a next process.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、金属フレームの開
口部にシート状のフレキシブル回路基板を接着剤で貼り
付ける工程を含む半導体パッケージの製造方法、特にフ
レキシブル回路基板の反り等の変形を低減するようにし
た半導体パッケージの製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor package including a step of attaching a sheet-like flexible circuit board to an opening of a metal frame with an adhesive, and in particular, to reducing deformation such as warpage of the flexible circuit board. The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor package as described above.

【0002】[0002]

【従来の技術】QFP(Quad Flat Package )を製造す
る従来の製造装置でFBGA(Fine Pitch Ball Grid A
rray)といわれるCSP(Chip Scale Package)の製造
が可能となる半導体パッケージの製造方法が望まれてい
る。
2. Description of the Related Art A conventional manufacturing apparatus for manufacturing a QFP (Quad Flat Package) uses a FBGA (Fine Pitch Ball Grid A).
There is a demand for a method of manufacturing a semiconductor package capable of manufacturing a CSP (Chip Scale Package) called rray).

【0003】この一環として、従来、キャリアフレーム
としての金属フレームに、片面あるいは両面に回路パタ
ーンの付いた個片の単一回路基板又はこれら単一回路基
板を複数個シート状に1単位としてまとめて成る集合回
路基板シートを固定し、その上に半導体素子を搭載し、
片面を樹脂封止する半導体パッケージの製造方法とし
て、特開平8−83866号公報、特開平9−2756
3号公報、特開平9−22963号公報に開示されたも
のがある。
As a part of this, conventionally, a single frame of a single circuit board having a circuit pattern on one side or both sides or a plurality of these single circuit boards are grouped together as a unit in a metal frame as a carrier frame. The fixed circuit board sheet is fixed, and the semiconductor element is mounted thereon,
JP-A-8-83866 and JP-A-9-2756 disclose methods of manufacturing a semiconductor package in which one surface is sealed with a resin.
No. 3, JP-A-9-22963.

【0004】特開平8−83866号公報のものは、金
属フレームに矩形の貫通孔から成る開口部を設け、この
フレーム開口部に対して、片面あるいは両面に回路パタ
ーンの付いた個片の単一回路基板を、機械的な支持手段
によって位置決め支持させたものを半導体パッケージ用
中間製品として使用し、これを各工程に搬送することに
よって、既存の設備をそのまま利用して、半導体素子の
搭載やワイヤボンディング、樹脂封止といった処理を効
率的に行う半導体パッケージの製造方法である。金属フ
レームに回路基板を位置決め支持する支持手段として
は、例えば金属フレームの板材を切り起こして形成した
係止片が用いられ、これにより回路基板の周辺を弾性的
に支持することにより、後工程で金属フレームから回路
基板(単体のBGA製品)を容易に取り外すことができ
るようになっている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. H08-83866 discloses a metal frame provided with an opening formed of a rectangular through hole, and a single piece of a circuit having a circuit pattern on one side or both sides provided in the opening. A circuit board, which is positioned and supported by mechanical support means, is used as an intermediate product for a semiconductor package, and is transported to each process, so that existing equipment can be used as is to mount semiconductor elements and wire. This is a method for manufacturing a semiconductor package that efficiently performs processes such as bonding and resin sealing. As the support means for positioning and supporting the circuit board on the metal frame, for example, a locking piece formed by cutting and erecting a plate material of the metal frame is used. The circuit board (single BGA product) can be easily removed from the metal frame.

【0005】上記半導体パッケージ用中間製品を利用す
ることの第1の利点は、従来の短冊状のプリント基板を
使用した場合のプリント基板の無駄部分をなくすことが
できる点にある。即ち、従来の所定の配線パターンを設
けた大判のプリント基板を短冊状に切断し、この短冊状
に形成したプリント基板を、各工程に搬送して製品とす
る製造方法では、短冊状のプリント基板に無駄な切り代
を取る必要があることから、プリント基板の材料の無駄
が生じるが、個片の単一回路基板を取り扱って金属フレ
ームに支持させる方法では、このような無駄が生じな
い。また、第2の利点は、既存の設備をそのまま利用し
て半導体素子の搭載やワイヤボンディング、樹脂封止と
いった処理を効率的に行うことができる点にある。
A first advantage of using the above-mentioned intermediate product for a semiconductor package is that a waste portion of a printed circuit board when a conventional strip-shaped printed circuit board is used can be eliminated. That is, in a conventional manufacturing method, a large-sized printed circuit board provided with a predetermined wiring pattern is cut into strips, and the printed board formed in the strip shape is transported to each process to produce a product. However, the use of a single circuit board and supporting it on a metal frame does not cause such waste. A second advantage resides in that processes such as mounting of a semiconductor element, wire bonding, and resin sealing can be efficiently performed using existing facilities as they are.

【0006】次に、特開平9−27563号公報及び特
開平9−22963号公報のものは、上記の個片の単一
回路基板を取り扱う代わりに、これら単一回路基板を複
数個シート状に連結して1単位としてまとめて成る集合
回路基板シートを取り扱うものである。
Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 9-27663 and 9-22963 disclose a plurality of single circuit boards in place of the individual single circuit boards described above. The integrated circuit board sheet which is connected and integrated as one unit is handled.

【0007】代表的に、図9に、特開平9−22963
号公報に開示された半導体パッケージ用中間製品(半導
体回路素子搭載基板フレーム)を示す。この半導体回路
素子搭載基板フレーム30は、サイドレール35に連結
タブ36で連結されて順次直線的に配列された複数の単
一の金属基板層31に、単一の半導体回路基板32及び
単一の半導体回路素子搭載基板33を熱伝導性接着剤層
であるプリプレグ層を介して設け、結果的にシート状に
連接した構成となっている。なお、34はサイドレール
35に設けた位置決め用の規準孔である。
[0007] Typically, FIG.
1 shows an intermediate product (semiconductor circuit element mounting substrate frame) for a semiconductor package disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) Publication. The semiconductor circuit element mounting board frame 30 includes a single semiconductor circuit board 32 and a single metal board layer 31 which are connected to side rails 35 by connection tabs 36 and are sequentially linearly arranged. The semiconductor circuit element mounting board 33 is provided via a prepreg layer which is a heat conductive adhesive layer, and as a result, the semiconductor circuit element mounting board 33 is connected in a sheet shape. Reference numeral 34 is a positioning reference hole provided in the side rail 35.

【0008】この集合回路基板シートを取り扱った半導
体パッケージ用中間製品によれば、個片の単一回路基板
を取り扱う場合の欠点、即ち、個別の回路基板の搬送や
位置決め等の取り扱いが煩雑となるという問題や、位置
ずれや損傷によって品質や半導体回路素子実装の作業効
率が低下し、生産性が著しく阻害されるという問題を解
消することができる。
According to the intermediate product for a semiconductor package which handles the collective circuit board sheet, a drawback in handling a single circuit board of individual pieces, that is, handling such as transport and positioning of individual circuit boards becomes complicated. It is possible to solve the problem that the quality and the work efficiency of mounting the semiconductor circuit element are reduced due to displacement or damage, and the productivity is significantly impaired.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術では、フレキシブル回路基板を金属フレームに
接着剤で貼り付けるという手法については何ら検討され
ておらず、その貼り付けの際に生ずるフレキシブル回路
基板の反り等の変形を低減する手法も確立していなかっ
た。
However, in the above-mentioned prior art, there has been no study on a method of attaching the flexible circuit board to the metal frame with an adhesive, and the flexible circuit board generated at the time of the attachment has not been studied. A method for reducing deformation such as warpage has not been established.

【0010】これに対し、本出願人は、次のような半導
体パッケージの製造方法を開発している。即ち、図4に
示すように金属フレーム1に開口部2を設け、その開口
部にシート状のフレキシブル回路基板7を図3の如く接
着剤で貼り付けたものを半導体パッケージ用中間製品と
して使用し、これを各工程に搬送することによって、半
導体素子9の搭載、ワイヤボンディング、樹脂封止等の
処理を行う方法である。
On the other hand, the present applicant has developed the following method for manufacturing a semiconductor package. That is, as shown in FIG. 4, an opening 2 is provided in a metal frame 1, and a sheet-like flexible circuit board 7 is adhered to the opening with an adhesive as shown in FIG. This is a method for carrying out processing such as mounting of the semiconductor element 9, wire bonding, resin sealing, and the like by transporting the same to each step.

【0011】この製造方法によれば、例えばフレーム開
口部のフレーム幅方向の2辺又は3辺もしくは4辺に接
着剤を塗布し、フレキシブル回路基板7を接着剤で貼り
付けるだけでよく、従来の連結タブ等は不要であるの
で、金属フレーム1の製造及びフレキシブル回路基板7
の取り扱いが非常に容易で、製造時間の短縮を図ること
ができる。また、金属フレーム1上でフレキシブル回路
基板7が占める占有面積が小さく、生産性の増加を実現
することができる。即ち、個片の回路基板を取り扱って
金属フレームに支持させる従来の場合と同様に、回路基
板の材料の無駄が生じないという長所を有する。また、
既存の設備をそのまま利用して半導体素子9の搭載やワ
イヤボンディング、樹脂封止といった処理を効率的に行
うことができるという長所も有する。
According to this manufacturing method, for example, it is only necessary to apply an adhesive to two, three, or four sides of the frame opening in the frame width direction and attach the flexible circuit board 7 with the adhesive. Since connecting tabs and the like are unnecessary, the production of the metal frame 1 and the flexible circuit board 7
Is very easy to handle, and the manufacturing time can be reduced. In addition, the area occupied by the flexible circuit board 7 on the metal frame 1 is small, and an increase in productivity can be realized. That is, as in the conventional case where the individual circuit boards are handled and supported on the metal frame, there is an advantage that the material of the circuit boards is not wasted. Also,
There is also an advantage that processing such as mounting of the semiconductor element 9, wire bonding, and resin sealing can be performed efficiently using existing facilities as they are.

【0012】しかし、この製造方法では、フレキシブル
回路基板7の直下が開口部2の空間であり、図9の場合
のような金属基板層31による支持がないこと、及び、
フレキシブル回路基板7はその周囲の2辺又は3辺もし
くは4辺が接着剤で固定されるにすぎないことから、貼
り付け工程において、図8に示すように、フレキシブル
回路基板7に反りが生ずるという問題がある。
However, in this manufacturing method, the space immediately below the flexible circuit board 7 is the space of the opening 2, and there is no support by the metal substrate layer 31 as shown in FIG.
Since only two sides, three sides or four sides of the flexible circuit board 7 are fixed with an adhesive, the flexible circuit board 7 is warped as shown in FIG. There's a problem.

【0013】フレキシブル回路基板に反り等の変形が発
生すると、フレキシブル回路基板上の半導体素子9の搭
載部分やワイヤボンド接続部分の平面性が悪化し、半導
体搭載時やワイヤボンディング時の大きな障害となる可
能性がある。また、半導体素子9のチップを搭載した後
の工程、例えばモールド時に半導体チップにダメージを
与え、最悪の場合は使用不可能となる。
When deformation such as warpage occurs in the flexible circuit board, the flatness of the mounting portion of the semiconductor element 9 and the wire bond connection portion on the flexible circuit board deteriorates, and this becomes a major obstacle in mounting the semiconductor and in wire bonding. there is a possibility. In addition, the semiconductor chip 9 is damaged after mounting the chip of the semiconductor element 9, for example, during molding, and cannot be used in the worst case.

【0014】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、金属フレームの開口部にフレキシブル回路基板を貼
り付けた際の反り等の変形を低減し、且つその効果を維
持することができる半導体パッケージの製造方法を提供
することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, to reduce deformation such as warpage when a flexible circuit board is attached to an opening of a metal frame, and to maintain the effect thereof. A method of manufacturing a package is provided.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、次のように構成したものである。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.

【0016】請求項1の発明は、金属フレームの開口部
にシート状のフレキシブル回路基板を接着剤で貼り付け
る工程を含む半導体パッケージの製造方法において、前
記金属フレームに前記フレキシブル回路基板を貼り付け
た後に、そのフレキシブル回路基板内の水分を低減する
ことにより当該フレキシブル回路基板の反りを低減し、
そのフレキシブル回路基板を真空パックして次工程へ送
るものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a semiconductor package including a step of attaching a sheet-like flexible circuit board to an opening of a metal frame with an adhesive, wherein the flexible circuit board is attached to the metal frame. Later, by reducing the moisture in the flexible circuit board, to reduce the warpage of the flexible circuit board,
The flexible circuit board is vacuum-packed and sent to the next step.

【0017】また、請求項2の発明は、金属フレームの
開口部にシート状のフレキシブル回路基板を接着剤で貼
り付けたものを半導体パッケージ用中間製品として使用
し、これを各工程に搬送することによって、半導体素子
の搭載、ワイヤボンディング、樹脂封止等の処理を行う
半導体パッケージの製造方法において、前記金属フレー
ムに前記フレキシブル回路基板を貼り付けた後に、その
フレキシブル回路基板内の水分を低減することにより当
該フレキシブル回路基板の反りを低減し、得られた半導
体パッケージ用中間製品を真空パックして次工程へ送る
ものである。
According to a second aspect of the present invention, a sheet-like flexible circuit board bonded to an opening of a metal frame with an adhesive is used as an intermediate product for a semiconductor package, and is conveyed to each process. Thus, in the method of manufacturing a semiconductor package for performing processing such as mounting of a semiconductor element, wire bonding, and resin sealing, after attaching the flexible circuit board to the metal frame, reducing moisture in the flexible circuit board Thus, the warpage of the flexible circuit board is reduced, and the obtained intermediate product for a semiconductor package is vacuum-packed and sent to the next step.

【0018】具体的には、図1に概略を示すように、金
属フレームの開口部にシート状のフレキシブル回路基板
を接着剤で貼り付けた後(工程(a))、そのフレキシ
ブル回路基板を、例えば加熱し又は低湿度環境下(例え
ば相対湿度30%の雰囲気中)に一定時間放置すること
により、フレキシブル回路基板内の水分を低減し、以て
当該フレキシブル回路基板の反りを低減する(工程
(b))。次いで、得られた半導体パッケージ用中間製
品を真空パックして(工程(c))、湿度の進入を防止
した状態で各工程に搬送し(工程(d))、半導体素子
の搭載、ワイヤボンディング、樹脂封止等の処理を行う
(工程(e))。
Specifically, as schematically shown in FIG. 1, after a sheet-like flexible circuit board is attached to the opening of the metal frame with an adhesive (step (a)), the flexible circuit board is For example, by heating or leaving in a low-humidity environment (for example, in an atmosphere having a relative humidity of 30%) for a certain period of time, the moisture in the flexible circuit board is reduced, thereby reducing the warpage of the flexible circuit board (step ( b)). Next, the obtained intermediate product for a semiconductor package is vacuum-packed (step (c)) and transported to each step in a state where the invasion of humidity is prevented (step (d)). A process such as resin sealing is performed (step (e)).

【0019】なお、フレキシブル回路基板といった場
合、片面あるいは両面に回路パターンの付いた個片のフ
レキシブル単一回路基板の形態と、これら単一回路基板
を複数個シート状に1単位としてまとめて成るフレキシ
ブル集合回路基板の形態の双方が含まれる。
In the case of a flexible circuit board, the form of a single flexible single circuit board having a circuit pattern on one side or both sides, and a flexible circuit formed by combining a plurality of these single circuit boards into one sheet unit Both forms of an integrated circuit board are included.

【0020】上記フレキシブル回路基板内の水分を低減
する手段としては、フレキシブル回路基板を加熱する方
法が、水分低減効果が大きいので有効である。しかし、
低湿度環境下(例えば相対湿度30%の雰囲気中)に一
定時間フレキシブル回路基板を放置しても同様の効果が
ある。また、金属フレームの開口部にシート状のフレキ
シブル回路基板を接着剤で貼り付けるに先立ち、フレキ
シブル回路基板を高湿度の雰囲気中(例えば温度65
℃、相対湿度85%の高温高湿槽中)に一定時間以上置
くことにより、予めフレキシブル回路基板を加湿してお
いてもよい。
As a means for reducing the moisture in the flexible circuit board, a method of heating the flexible circuit board is effective because the effect of reducing the moisture is great. But,
The same effect can be obtained by leaving the flexible circuit board in a low humidity environment (for example, in an atmosphere with a relative humidity of 30%) for a certain period of time. Prior to attaching the sheet-like flexible circuit board to the opening of the metal frame with an adhesive, the flexible circuit board is placed in a high humidity atmosphere (for example, at a temperature of 65 ° C.).
(In a high-temperature and high-humidity bath at 85 ° C. and a relative humidity of 85%) for a certain period of time or more, the flexible circuit board may be humidified in advance.

【0021】上記請求項1、2又は3記載の半導体パッ
ケージの製造方法においては、前記真空パック内に一緒
にシリカゲル等の吸湿剤を入れることが好ましい(請求
項4)。また、上記請求項2又は3記載の半導体パッケ
ージの製造方法において、前記半導体パッケージ用中間
製品を真空パック内に入れたものを出荷用の箱に入れ、
該出荷用の箱内にシリカゲル等の吸湿剤を入れてもよい
(請求項5)。
In the method for manufacturing a semiconductor package according to the first, second, or third aspect, it is preferable that a hygroscopic agent such as silica gel is put into the vacuum pack together (claim 4). Further, in the method of manufacturing a semiconductor package according to claim 2 or 3, the semiconductor package intermediate product put in a vacuum pack is put in a shipping box,
A desiccant such as silica gel may be put in the shipping box (claim 5).

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施形態に
基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below based on the illustrated embodiment.

【0023】図3に本発明の半導体パッケージの製造方
法中で用いる半導体パッケージ用中間製品の形態を示
す。この半導体パッケージ用中間製品は、キャリアフレ
ームとしての金属フレーム1上に長方形の開口部2(図
4参照)を設け、このフレーム開口部2に対して、ポリ
イミド樹脂製絶縁フィルムの片面あるいは両面に回路パ
ターンを付けたフレキシブルテープ(いわゆるTABテ
ープ)4(図6参照)から切り出したフレキシブル回路
基板7を、接着剤8(図5参照)で貼り付けたものから
成る。このフレキシブル回路基板7の貼り付けは、フレ
ーム開口部2の周辺領域のうちフレーム幅方向の2辺に
沿った金属フレーム上の部分であって貼り付け後にフレ
キシブル回路基板と重なる部分、つまり、「貼り付けし
ろ」の部分を対象として行い、この部分に対して接着剤
8(図5参照)を塗布し、以て金属フレーム1のフレー
ム開口部2にフレキシブル回路基板7を貼り付ける。こ
の半導体パッケージ用中間製品は、次のようにして作製
する。
FIG. 3 shows a form of an intermediate product for a semiconductor package used in the method of manufacturing a semiconductor package according to the present invention. In the intermediate product for a semiconductor package, a rectangular opening 2 (see FIG. 4) is provided on a metal frame 1 as a carrier frame, and a circuit is formed on one or both sides of a polyimide resin insulating film with respect to the frame opening 2. A flexible circuit board 7 cut out from a patterned flexible tape (a so-called TAB tape) 4 (see FIG. 6) is attached with an adhesive 8 (see FIG. 5). The sticking of the flexible circuit board 7 is a portion of the peripheral area of the frame opening 2 on the metal frame along two sides in the frame width direction and overlapping the flexible circuit board after the sticking, An adhesive 8 (see FIG. 5) is applied to this portion, and the flexible circuit board 7 is attached to the frame opening 2 of the metal frame 1. This intermediate product for a semiconductor package is manufactured as follows.

【0024】まず、金属フレーム1については、図4に
示すように、160mm×40mm、厚さ200μmの銅合
金にエッチングを施して、フレーム開口部2としての3
0mm×30mmの四角い穴を4個直線的に形成し配列した
ものを作製し、これを金属フレーム1とする。このフレ
ーム開口部2を形成することにより、金属フレーム1の
フレーム幅方向の2辺(両側部)には、各フレーム開口
部2に共通にサイドレール領域1a、1aが残され、ま
た、各フレーム開口部2間には区画領域1bが残され
る。金属フレーム1のサイドレール領域1aには、複数
の位置決め用のガイド穴3が穿設されている。
First, as shown in FIG. 4, a 160 mm × 40 mm copper alloy having a thickness of 200 μm is etched into
A metal frame 1 is prepared by linearly forming and arranging four square holes of 0 mm × 30 mm. By forming the frame openings 2, the side rail regions 1 a and 1 a are left on the two sides (both sides) of the metal frame 1 in the frame width direction in common with the frame openings 2. The partitioned area 1b is left between the openings 2. A plurality of positioning guide holes 3 are formed in the side rail region 1a of the metal frame 1.

【0025】次に、フレキシブル回路基板7について
は、図6に示すように、高密度実装が可能なポリイミド
樹脂製絶縁フィルムの片面又は両面に回路パターンを設
けたコイル状の厚さ50μmのフレキシブルテープ(い
わゆるTABテープ)4から、図示していない金型を用
いたプレス加工法により、30mm×34mmの長方形を金
型で打ち抜き、得られたフレキシブルテープ切断部をフ
レキシブル回路基板7とする。このフレキシブル回路基
板7の寸法はフレーム開口部2と長さが同一で、幅が4
mmだけ大きい。フレキシブル回路基板7の幅をフレーム
開口部2より若干長くしたのは、そのフレキシブル回路
基板7の短辺のはみ出し部分を上記貼り付けしろに対す
る被接着部分7bとして利用するためである。なお、フ
レキシブルテープ4の側部には、送り位置決め用のガイ
ド穴5が所定のピッチで穿設されている。
Next, as shown in FIG. 6, the flexible circuit board 7 is a coil-shaped 50 μm-thick flexible tape in which a circuit pattern is provided on one or both sides of a polyimide resin insulating film capable of high-density mounting. From a (so-called TAB tape) 4, a 30 mm × 34 mm rectangle is punched out with a die by a press working method using a die (not shown), and the obtained flexible tape cut portion is used as a flexible circuit board 7. The dimensions of the flexible circuit board 7 are the same as the length of the frame opening 2 and the width is 4
mm larger. The reason why the width of the flexible circuit board 7 is slightly longer than that of the frame opening 2 is to use the protruding portion of the short side of the flexible circuit board 7 as a portion 7b to be adhered to the above-mentioned bonding margin. In addition, guide holes 5 for feed positioning are formed at a predetermined pitch on a side portion of the flexible tape 4.

【0026】フレキシブル回路基板7は、この実施形態
の場合、フレキシブルテープ4の配線パターン部である
単一回路基板6を、「田」の字状の枠が連接部7aとし
て残る形で4枚連接したものから成る。しかし、フレキ
シブル回路基板7は、単一回路基板6を所要数だけ連接
した所要の任意の形状とすることができる。
In the case of this embodiment, the flexible circuit board 7 is formed by connecting four single circuit boards 6, which are the wiring pattern portions of the flexible tape 4, in such a manner that a frame in the shape of a cross remains as a connecting portion 7a. Consisting of However, the flexible circuit board 7 can have any desired shape in which the required number of the single circuit boards 6 are connected.

【0027】次に、図5に示すように、金属フレーム1
の貼り付けしろの部分に接着剤8を塗布する。即ち、フ
レーム開口部2の周辺領域である各穴の周縁のうち、フ
レーム幅方向の2辺に沿った位置に、機械制御のディス
ペンサを用いて、一直線状に、熱硬化性の接着剤8を塗
布する。フレキシブル回路基板7が金属フレーム1と重
なる部分の長さは30mmであり、接着剤8はそれより若
干短めに、即ち、その部分の内側に長さ28mmの塗布を
行い、金属フレーム1とフレキシブル回路基板7の重な
る部分以外に接着剤8が漏れないようにした。ここで用
いている接着剤8の硬化温度は250℃である。そこ
で、リフロー炉を用いてl00℃、30秒+150℃、
30秒の加熱を行い不完全な硬化を施す。
Next, as shown in FIG.
The adhesive 8 is applied to a portion of the paste margin. That is, using a mechanically controlled dispenser, the thermosetting adhesive 8 is linearly applied to the positions along the two sides in the frame width direction at the peripheral edge of each hole which is the peripheral area of the frame opening 2. Apply. The length of the portion where the flexible circuit board 7 overlaps the metal frame 1 is 30 mm, and the adhesive 8 is applied slightly shorter than that, that is, a 28 mm length is applied inside the portion, and the metal frame 1 and the flexible circuit are applied. The adhesive 8 was prevented from leaking to portions other than the portion where the substrate 7 overlaps. The curing temperature of the adhesive 8 used here is 250 ° C. Therefore, using a reflow furnace, 100 ° C., 30 seconds + 150 ° C.,
Incomplete curing is performed by heating for 30 seconds.

【0028】その後、図6に示すフレキシブルテープ4
を30mm×34mmの長方形に金型で打ち抜いて得た上述
のフレキシブル回路基板7の被接着部分7bを金属フレ
ーム1の接着剤塗布部に重ね、270℃に加熱した貼り
付け金型を用いて6kg/平方センチの圧力で1秒加圧
し、フレキシブル回路基板7と金属フレーム1とを貼り
付ける。
Thereafter, the flexible tape 4 shown in FIG.
The above-mentioned bonded portion 7b of the flexible circuit board 7 obtained by punching the above into a rectangle of 30 mm × 34 mm with a metal mold is superimposed on the adhesive application portion of the metal frame 1, and 6 kg using a bonding mold heated to 270 ° C. Then, the flexible circuit board 7 and the metal frame 1 are bonded together by applying a pressure of 1 / cm 2 for 1 second.

【0029】これらを金属フレーム1の1枚分繰り返
す。
These steps are repeated for one metal frame 1.

【0030】上記貼り付け工程においては、フレキシブ
ル回路基板7の直下が空間で支持材がないこと、及び、
フレキシブル回路基板7はその周囲の2辺が接着剤で固
定されるにすぎないことから、図8に示すように、フレ
キシブル回路基板7に反りが生じ易い。フレキシブル回
路基板7を金属フレーム1に図3の如く固定した際、図
8で示すように、半導体素子3が搭載される部分のフレ
キシブル回路基板7が反っていると、モールド時に半導
体素子3にダメージを与える。
In the attaching step, there is no support material in the space directly below the flexible circuit board 7;
Since only two sides around the flexible circuit board 7 are fixed with an adhesive, the flexible circuit board 7 is likely to be warped as shown in FIG. When the flexible circuit board 7 is fixed to the metal frame 1 as shown in FIG. 3, if the flexible circuit board 7 where the semiconductor element 3 is mounted is warped as shown in FIG. 8, the semiconductor element 3 is damaged during molding. give.

【0031】そこで、図3で示すようにフレキシブル回
路基板7を金属フレーム1に貼り付けた後に、つまり、
図1の工程(a)の後に、フレキシブル回路基板7を加
熱してフレキシブル回路基板7内部の水分を低減させ
(図1の工程(b))、これによりフレキシブル回路基
板7の反りを低減させる。要するに、フレキシブル回路
基板7を金属フレーム1へ貼付後、加熱すると、内部の
水分が少なくなり収縮するので、フレキシブル回路基板
7の反り量が低減する。
Therefore, as shown in FIG. 3, after the flexible circuit board 7 is attached to the metal frame 1,
After the step (a) in FIG. 1, the flexible circuit board 7 is heated to reduce the moisture inside the flexible circuit board 7 (step (b) in FIG. 1), thereby reducing the warpage of the flexible circuit board 7. In short, when the flexible circuit board 7 is attached to the metal frame 1 and then heated, the internal moisture is reduced and shrinks, so that the amount of warpage of the flexible circuit board 7 is reduced.

【0032】かくして、半導体パッケージ用中間製品が
完成した。
Thus, an intermediate product for a semiconductor package was completed.

【0033】しかし、このままの状態で半導体パッケー
ジ用中間製品を次工程に搬送すべく管理すると、時間の
経過と共にフレキシブル回路基板7内部の水分が元に戻
ってしまうことがある。特に、輪送中に高湿状態に放置
されたような場合には、再び、フレキシブル回路基板7
が吸湿し、変形を生じる。
However, if the intermediate product for a semiconductor package is managed so as to be transported to the next step in this state, the moisture inside the flexible circuit board 7 may return to its original state over time. In particular, when the flexible circuit board 7 is left in a high-humidity state during transport,
Absorb moisture and cause deformation.

【0034】そこで、得られた半導体パッケージ用中間
製品20を図2の如く真空パック21に入れ、真空にし
てパックの口23を加熱封止し、これにより湿度の進入
を防止した。また、その真空パック21の内部には、吸
湿剤としてシリカゲル22を同封し低湿度雰囲気に保っ
た(図1の工程(c))。
Then, the obtained intermediate product 20 for a semiconductor package was placed in a vacuum pack 21 as shown in FIG. 2, and a vacuum was applied to heat and seal the opening 23 of the pack, thereby preventing the invasion of humidity. Further, inside the vacuum pack 21, silica gel 22 was enclosed as a hygroscopic agent and kept in a low humidity atmosphere (step (c) in FIG. 1).

【0035】この実施形態では、上記半導体パッケージ
用中間製品20を真空パック21内に入れると同時にシ
リカゲル22を同封したが、シリカゲル22は入れなく
てよい。また、半導体パッケージ用中間製品20を単に
入れただけの真空パック21を出荷用の箱に入れ、その
出荷用の箱内にシリカゲル22を入れてもよい。
In this embodiment, the intermediate product 20 for a semiconductor package is placed in the vacuum pack 21 and the silica gel 22 is enclosed at the same time. However, the silica gel 22 does not have to be placed. Alternatively, the vacuum pack 21 in which the semiconductor package intermediate product 20 is simply placed may be placed in a shipping box, and the silica gel 22 may be placed in the shipping box.

【0036】次に、図7に示す小型のグリッド・エリア
・アレイ型半導体パッケージを製造すべく、上記の如く
して得られた半導体パッケージ用中間製品20を図2の
如く真空パック21に入れた状態で各工程に搬送し(図
1の工程(d))、半導体素子の搭載、ワイヤボンディ
ング、樹脂封止等の処理を行った(図1の工程
(e))。
Next, in order to manufacture the small grid area array type semiconductor package shown in FIG. 7, the semiconductor package intermediate product 20 obtained as described above was placed in a vacuum pack 21 as shown in FIG. In this state, the wafer was transported to each step (step (d) in FIG. 1), and processing such as mounting of a semiconductor element, wire bonding, and resin sealing was performed (step (e) in FIG. 1).

【0037】なお、図7において、フレキシブル回路基
板60はフレキシブル回路基板7に単一回路基板6(図
3、図6)として「田」の字状に4つ連続して形成され
ていたものの一つであり、その片面側の銅箔13により
回路パターンが形成されている。
In FIG. 7, the flexible circuit board 60 is one of four flexible circuit boards formed as a single circuit board 6 (FIGS. 3 and 6) in the shape of a "T" in a continuous manner. The copper foil 13 on one side forms a circuit pattern.

【0038】まず、金属フレーム1にフレキシブル回路
基板7が貼付された状態で、導体回路基板6上には、そ
の回路パターンの表面にレジスト樹脂14が塗布され、
半導体素子9が搭載される。
First, in a state where the flexible circuit board 7 is stuck to the metal frame 1, a resist resin 14 is applied to the surface of the circuit pattern on the conductive circuit board 6,
The semiconductor element 9 is mounted.

【0039】次いで、半導体素子9の電極9aと回路パ
ターンの接続パッド(金めっき12b)との間が、ボン
ディングワイヤ11によりワイヤボンディングされる。
Next, the wire 9 is bonded by wire bonding between the electrode 9a of the semiconductor element 9 and the connection pad (gold plating 12b) of the circuit pattern.

【0040】更に、これら半導体素子9とボンディング
ワイヤ11上にモールド樹脂10又はポッティング材を
施す。このとき、上述の接着剤8の部分は、この樹脂が
開口部2の幅方向2辺の領域外に流出するのを阻止する
堰として働く。なお、図3中、16はモールドラインを
示す。
Further, a mold resin 10 or a potting material is applied on the semiconductor element 9 and the bonding wires 11. At this time, the portion of the adhesive 8 described above functions as a weir that prevents the resin from flowing out of the region of the opening 2 on two sides in the width direction. In FIG. 3, reference numeral 16 denotes a mold line.

【0041】樹脂封止した後、回路基板60の下面に実
装基板などと接続する外部接続端子として半田ボール1
5を取り付ける。なお、回路パターンの一部は、回路基
板60を貫く金めっき12aを施したビアホールを通し
て他側の片面に導出されており、その導出部に半田ボー
ル15が接続される。なお、BGAの場合は外部接続端
子として半田ボールを使用するが、片面樹脂封止型半導
体パッケージとして半田ボールの他にリードピン等を外
部接続端子として使用することも可能である。
After resin sealing, solder balls 1 are provided on the lower surface of circuit board 60 as external connection terminals for connection to a mounting board or the like.
5 is attached. A part of the circuit pattern is led out to one side on the other side through a via hole provided with gold plating 12a that penetrates the circuit board 60, and the lead portion is connected to the solder ball 15. In the case of the BGA, solder balls are used as external connection terminals. However, lead pins and the like can be used as external connection terminals in addition to the solder balls as a single-sided resin-sealed semiconductor package.

【0042】最後に、金属フレーム1からフレキシブル
回路基板7を又はフレキシブル回路基板7から回路基板
60を取り外すことにより、単体のBGA製品として小
型のグリッド・エリア・アレイ型半導体パッケージが得
られる。
Finally, by removing the flexible circuit board 7 from the metal frame 1 or the circuit board 60 from the flexible circuit board 7, a small grid area array type semiconductor package can be obtained as a single BGA product.

【0043】通常、上記のような小型のグリッド・エリ
ア・アレイ型半導体パッケージ向けのフレキシブルテー
プは、リードフレームパッケージを作製する装置を用い
ての生産はできず、新たな装置の導入等の投資が必要と
なる。しかし、本実施形態による半導体パッケージ用中
間製品を用いると、これまでの大型のリードフレームパ
ッケージ用の装置を流用しての半導体パッケージ作製が
可能となる。即ち、上記実施形態による半導体パッケー
ジの製造方法によれば、QFPを製造する従来の装置で
FBGA(Fine Pitch Ball Grid Array)といわれるC
SPの製造が可能となる。また、本発明は、その対象と
なる半導体素子に制約が無く、DRAMやSRAM等の
メモリーやCPU、MPU等のロジック系のいずれにも
対応が可能である。
Normally, flexible tapes for small-sized grid area array type semiconductor packages as described above cannot be produced using an apparatus for manufacturing a lead frame package, and investment such as introduction of a new apparatus is required. Required. However, if the intermediate product for a semiconductor package according to the present embodiment is used, it is possible to manufacture a semiconductor package by using a device for a large lead frame package. That is, according to the method of manufacturing a semiconductor package according to the above-described embodiment, a conventional apparatus for manufacturing a QFP is called a FBGA (Fine Pitch Ball Grid Array).
The SP can be manufactured. Further, the present invention has no limitation on the semiconductor element to be processed, and can be applied to any of memories such as DRAM and SRAM, and logic systems such as CPU and MPU.

【0044】上記実施形態では、フレキシブル回路基板
内の水分の低減する方法として、フレキシブル回路基板
を加熱した。しかし、低湿度環境下に一定時間以上フレ
キシブル回路基板を置く、例えば相対湿度30%の雰囲
気中に12時間放置してもよい。
In the above embodiment, the flexible circuit board was heated as a method of reducing the moisture in the flexible circuit board. However, the flexible circuit board may be placed in a low humidity environment for a certain period of time or more, for example, left in an atmosphere of a relative humidity of 30% for 12 hours.

【0045】また、付加的に、金属フレームの開口部に
シート状のフレキシブル回路基板を接着剤で貼り付ける
に先立ち、フレキシブル回路基板を、高湿度の雰囲気中
に一定時間以上置き、予め加湿しておいてもよい。例え
ば金属製のフレーム2に貼り付ける前に、フレキシブル
回路基板7を温度65℃、85%RH(相対湿度)の高
温高湿槽内に12時間以上置き、フレキシブル回路基板
7内に充分に水分を入れる。つまり、フレキシブル回路
基板7を加湿し充分に水分を吸わせて伸びた状態にす
る。この加湿処理は、効率を高めるため、図6の段階、
即ち、フレキシブル回路基板7がフレキシブルテープ
(TABテープ)4の形で金属リールに巻き付けられて
いる状態で行う。その後、金型で打ち抜いたフレキシブ
ル回路基板7を金属フレーム1に貼り付ける(図1の工
程(a))。そして、フレキシブル回路基板7を相対湿
度30%の雰囲気中に12時間以上放置することによ
り、内部の水分を少なくさせ収縮させて、フレキシブル
回路基板7の反りを低減する(図1の工程(b))。
In addition, prior to attaching the sheet-like flexible circuit board to the opening of the metal frame with an adhesive, the flexible circuit board is placed in a high-humidity atmosphere for a certain period of time and humidified in advance. You may leave. For example, before attaching the flexible circuit board 7 to the metal frame 2, the flexible circuit board 7 is placed in a high-temperature and high-humidity bath at a temperature of 65 ° C. and 85% RH (relative humidity) for 12 hours or more, so that the flexible circuit board 7 Put in. In other words, the flexible circuit board 7 is humidified and sufficiently stretched by absorbing moisture. This humidification process, in order to increase the efficiency, the stage of FIG.
That is, the process is performed in a state where the flexible circuit board 7 is wound around a metal reel in the form of a flexible tape (TAB tape) 4. Thereafter, the flexible circuit board 7 punched by a mold is attached to the metal frame 1 (step (a) in FIG. 1). Then, the flexible circuit board 7 is left in an atmosphere having a relative humidity of 30% for 12 hours or more to reduce and shrink the internal moisture, thereby reducing the warpage of the flexible circuit board 7 (step (b) in FIG. 1). ).

【0046】[0046]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、金属フレ
ームの開口部にシート状のフレキシブル回路基板を接着
剤で貼り付ける工程を含む半導体パッケージの製造方法
において、又は、金属フレームの開口部にシート状のフ
レキシブル回路基板を接着剤で貼り付けたものを半導体
パッケージ用中間製品として使用し、これを各工程に搬
送することによって、半導体素子の搭載、ワイヤボンデ
ィング、樹脂封止等の処理を行う半導体パッケージの製
造方法において、前記金属フレームに前記フレキシブル
回路基板を貼り付けた後に、そのフレキシブル回路基板
内の水分を低減することにより当該フレキシブル回路基
板の反りを低減し、得られた半導体パッケージ用中間製
品を真空パックして次工程へ送るものである。
As described above, the present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor package including a step of attaching a sheet-like flexible circuit board to an opening of a metal frame with an adhesive, or to a method of manufacturing a semiconductor package. A sheet-like flexible circuit board attached with an adhesive is used as an intermediate product for a semiconductor package, and is conveyed to each process to perform processing such as mounting of a semiconductor element, wire bonding, and resin sealing. In the method of manufacturing a semiconductor package, after attaching the flexible circuit board to the metal frame, the moisture in the flexible circuit board is reduced to reduce the warpage of the flexible circuit board, and the resulting semiconductor package intermediate The product is vacuum-packed and sent to the next process.

【0047】真空パックしなかった場合には、貼付後に
フレキシブル回路基板内の水分を低減しても、フレキシ
ブル回路基板が再び水分を吸収して元に戻る(伸びる)
ために、基板の反り低減効果がなくなってしまうが、本
発明では、得られた半導体パッケージ用中間製品を真空
パックして防湿梱包を行っているので、フレキシブル回
路基板の吸湿現象が起こらず、フレキシブル回路基板を
反りのない状態に維持することができる。
When the vacuum packing is not performed, even if the moisture in the flexible circuit board is reduced after sticking, the flexible circuit board absorbs the moisture again and returns (extends).
Therefore, the effect of reducing the warpage of the substrate is lost, but in the present invention, the obtained intermediate product for a semiconductor package is vacuum-packed and subjected to moisture-proof packing, so that the flexible circuit board does not absorb moisture and the flexible circuit board does not absorb moisture. The circuit board can be maintained without warpage.

【0048】従って、半導体素子を搭載した後の、例え
ばモールド時において、半導体素子に与えるダメージを
少なくすることができる。よって、本発明により歩留り
の高い半導体パッケージの製造方法が得られる。
Therefore, it is possible to reduce damage to the semiconductor element after mounting the semiconductor element, for example, during molding. Therefore, according to the present invention, a method for manufacturing a semiconductor package having a high yield can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の半導体パッケージの製造方法の一例を
示した概要図である。
FIG. 1 is a schematic view illustrating an example of a method for manufacturing a semiconductor package according to the present invention.

【図2】本発明の製造方法の途中で得られる半導体パッ
ケージ用中間製品を真空パックした状態を示した図であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing a state in which an intermediate product for a semiconductor package obtained during the manufacturing method of the present invention is vacuum-packed.

【図3】本発明の製造方法の途中で得られる半導体パッ
ケージ用中間製品を示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing an intermediate product for a semiconductor package obtained during the manufacturing method of the present invention.

【図4】本発明の製造方法で用いる金属フレームを示す
平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a metal frame used in the manufacturing method of the present invention.

【図5】本発明の製造方法で用いる金属フレームの開口
部を示す図である。
FIG. 5 is a view showing an opening of a metal frame used in the manufacturing method of the present invention.

【図6】本発明の製造方法で用いるフレキシブル回路基
板の作成に使用されるフレキシブルテープを示す図であ
る。
FIG. 6 is a view showing a flexible tape used for producing a flexible circuit board used in the manufacturing method of the present invention.

【図7】本発明の製造方法で製造される半導体パッケー
ジの一例を示す断面図である。
FIG. 7 is a sectional view showing an example of a semiconductor package manufactured by the manufacturing method of the present invention.

【図8】本発明の半導体パッケージの製造方法の実施形
態におけるフレキシブル回路基板の反りを示す断面図で
ある。
FIG. 8 is a cross-sectional view showing the warpage of the flexible circuit board in the embodiment of the method of manufacturing a semiconductor package according to the present invention.

【図9】従来の半導体パッケージ用中間製品を示す図で
ある。
FIG. 9 is a view showing a conventional intermediate product for a semiconductor package.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 金属フレーム 2 開口部 4 フレキシブルテープ 6 単一回路基板(フレキシブルテープの配線パターン
部) 7 フレキシブル回路基板(フレキシブルテープの切断
部) 8 接着剤 9 半導体素子 10 モールド樹脂 20 半導体パッケージ用中間製品 21 真空パック 22 シリカゲル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Metal frame 2 Opening 4 Flexible tape 6 Single circuit board (Wiring pattern part of flexible tape) 7 Flexible circuit board (Cutting part of flexible tape) 8 Adhesive 9 Semiconductor element 10 Mold resin 20 Intermediate product for semiconductor package 21 Vacuum Pack 22 silica gel

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 嶋崎 洋典 茨城県土浦市木田余町3550番地 日立電線 株式会社システムマテリアル研究所内 Fターム(参考) 5F044 KK03 MM08 MM48 5F067 BA01 BE10 CC02 CC08  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Hironori Shimazaki 3550 Kida Yomachi, Tsuchiura-shi, Ibaraki Hitachi Cable, Ltd. System Materials Research Laboratory F-term (reference) 5F044 KK03 MM08 MM48 5F067 BA01 BE10 CC02 CC08

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】金属フレームの開口部にシート状のフレキ
シブル回路基板を接着剤で貼り付ける工程を含む半導体
パッケージの製造方法において、前記金属フレームに前
記フレキシブル回路基板を貼り付けた後に、そのフレキ
シブル回路基板内の水分を低減することにより当該フレ
キシブル回路基板の反りを低減し、そのフレキシブル回
路基板を真空パックして次工程へ送ることを特徴とする
半導体パッケージの製造方法。
1. A method of manufacturing a semiconductor package, comprising: attaching a sheet-like flexible circuit board to an opening of a metal frame with an adhesive, after attaching the flexible circuit board to the metal frame. A method for manufacturing a semiconductor package, comprising: reducing warpage of a flexible circuit board by reducing moisture in the board; and vacuum-packing the flexible circuit board and sending it to the next step.
【請求項2】金属フレームの開口部にシート状のフレキ
シブル回路基板を接着剤で貼り付けたものを半導体パッ
ケージ用中間製品として使用し、これを各工程に搬送す
ることによって、半導体素子の搭載、ワイヤボンディン
グ、樹脂封止等の処理を行う半導体パッケージの製造方
法において、前記金属フレームに前記フレキシブル回路
基板を貼り付けた後に、そのフレキシブル回路基板内の
水分を低減することにより当該フレキシブル回路基板の
反りを低減し、得られた半導体パッケージ用中間製品を
真空パックして次工程へ送ることを特徴とする半導体パ
ッケージの製造方法。
2. An intermediate product for a semiconductor package in which a sheet-like flexible circuit board is adhered to an opening of a metal frame with an adhesive, and is conveyed to each step to mount a semiconductor element. In a method of manufacturing a semiconductor package for performing a process such as wire bonding or resin sealing, after attaching the flexible circuit board to the metal frame, the warpage of the flexible circuit board is reduced by reducing moisture in the flexible circuit board. A semiconductor package manufacturing method characterized in that the intermediate product for a semiconductor package obtained is vacuum-packed and sent to the next step.
【請求項3】請求項1又は2記載の半導体パッケージの
製造方法において、前記フレキシブル回路基板内の水分
の低減のためにフレキシブル回路基板を加熱することを
特徴とする半導体パッケージの製造方法。
3. The method of manufacturing a semiconductor package according to claim 1, wherein the flexible circuit board is heated to reduce moisture in the flexible circuit board.
【請求項4】請求項1、2又は3記載の半導体パッケー
ジの製造方法において、前記真空パック内に吸湿剤を入
れることを特徴とする半導体パッケージの製造方法。
4. A method for manufacturing a semiconductor package according to claim 1, wherein a moisture absorbent is put in the vacuum pack.
【請求項5】請求項2又は3記載の半導体パッケージの
製造方法において、前記半導体パッケージ用中間製品を
真空パック内に入れたものを出荷用の箱に入れ、該出荷
用の箱内に吸湿剤を入れることを特徴とする半導体パッ
ケージの製造方法。
5. The method for manufacturing a semiconductor package according to claim 2, wherein the intermediate product for a semiconductor package is placed in a vacuum pack, placed in a shipping box, and a desiccant is placed in the shipping box. A method of manufacturing a semiconductor package, comprising:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6822391B2 (en) 2001-02-21 2004-11-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device, electronic equipment, and method of manufacturing thereof
US6956325B2 (en) 2001-02-21 2005-10-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device, electronic equipment, and method of manufacturing thereof
US7443097B2 (en) 2001-02-21 2008-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic equipment
US7067976B2 (en) 2001-07-03 2006-06-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device, method of manufacturing a light-emitting device, and electronic equipment
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