JP2000184202A

JP2000184202A - 走査により生成した画像上における垂直方向に並んだパタ―ンを除去するための画像処理システム

Info

Publication number: JP2000184202A
Application number: JP11355152A
Authority: JP
Inventors: Peter Rudak; ピーター・ルダック; Yongchun Lee; ヨンチュン・リー; M Stefanko James; ジェイムズ・エム・ステファンコ
Original assignee: Eastman Kodak Co
Current assignee: Eastman Kodak Co
Priority date: 1998-12-14
Filing date: 1999-12-14
Publication date: 2000-06-30
Anticipated expiration: 2019-12-14
Also published as: JP4334712B2; EP1014691A2; EP1014691A3; US6317223B1; DE69925354T2; EP1014691B1; DE69925354D1

Abstract

(57)【要約】【課題】垂直方向のアーティファクトを画像情報を損
失することなしに除去する画像処理システムを提供する
ことを目的とする。【解決手段】ディジタル画像処理システムは、異なる
コントラストパラメータによりエッジ基準適応しきい値
処理技法を作用させて、画像Ｇを第１及び第２の２値画
像に変換する。本発明のディジタル処理システムでは、
第１及び第２の２値画像が比較され、かつこれらの画像
の差のマップが生成される。このマップの垂直方向プロ
ファイルが投影され、かつマップの垂直方向パターン
（即ちアーティファクト）に対応する垂直方向プロファ
イル内の複数の局所的ピークが検出される。第１の２値
画像内の各画素が、マップ内の垂直方向パターン（アー
ティファクト）に基づき反転される。本システムは、ス
キャナにより生成した垂直方向アーティファクトを削除
することに効果的である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、オリジナルの文書
を走査することにより生成される画像上における複数の
ラインのような垂直方向のアーティファクトを画像情報
を損失することなく除去する画像処理システムに関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】予期し
ない垂直方向の黒色パターン（すなわち、複数のライ
ン、複数のドット、及び複数のダッシュ等といった各ア
ーティファクト）は、既成のペーパースキャナにより生
成された２値化文書画像内にて通常見られる画像アーテ
ィファクトである。垂直方向の各黒色パターンはオリジ
ナルの文書画像の一部ではない。しかしながら、これら
のパターンは、発光源と走査されるペーパー文書との間
で光を遮る多数の塵や埃のために生じるものである。例
えば、スキャナの発光経路内における透明な画像ガイド
上に付着するような多数の塵や埃が、スキャナを介して
移動する文書上にて暗い複数のラインとなって現れる。
文書がＣＣＤ素子により電子的に捕捉された場合には、
上記暗いラインがディジタル文書画像内に現れることに
なる。グレースケール画像内の垂直方向の暗い複数のラ
インは、画像内の一部として不明確に扱われる。適応し
きい値処理をグレースケール画像に対して作用させた後
に、影のついた複数のラインが２値化画像内で黒色ライ
ンとして現れる。

【０００３】上記問題点に対する現時点での解決策の一
つは、透明な各画像ガイドを掃除することによって、発
光経路から塵や埃を日常的に除去することである。しか
しながら、この解決策は、既成のスキャナ内で望ましく
ないスキャナ作動の中断を必要とする。

【０００４】本発明の目的は、垂直方向に並んだ各パタ
ーン（すなわち、スキャナ内の汚れた画像ガイドにより
生じた各アーティファクト）を特定し、かつ走査した文
書の最終画像を生成する前に、これら垂直方向に並んだ
パターンを削除するディジタル画像処理方法を提供する
ことである。垂直方向に並んだ各パターンは、複数のラ
イン、ダッシュ、及びドット等の形態となりうる。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は、（１）それぞ
れ異なるコントラストパラメータ設定により、エッジ基
準適応しきい値処理（edge-based adaptive thresholdi
ng method）を２度作用させ、グレースケール画像とい
った画像を２値化画像に変換する段階と；（２）２つの
２値画像の差のマップを生成する段階と；（３）前記マ
ップの垂直方向のプロファイルを投影する段階と；
（４）前記垂直方向の投影プロファイルから複数の局所
的ピーク（すなわち、複数の垂直方向のライン、ダッシ
ュ、ドット等）を検出する段階と；（５）検出された前
記各局所的ピークに基づくマップに、前記垂直方向のラ
イン、ダッシュ、ドット等の各領域を位置づける段階
と；（６）前記マップの前記複数の垂直方向のライン、
ダッシュ、ドット等に基づく各２値画像から複数の画素
を反転させる段階と；を有するディジタル画像処理方法
を提供するものである。

【０００６】本発明の方法は、ラスター走査方式でＣＣ
Ｄアレイにより文書画像を捕捉する段階と；通常のコン
トラスト設定によりエッジ基準適応しきい値処理技法
［１］を作用させての全詳細画像情報を抽出し、かつ前
記生成した２値画像（Ｂ１と称する）を格納する段階
と；高コントラストの全詳細画像（Ｂ２と称する）のみ
を抽出する低コントラスト設定により同じエッジ基準適
応しきい値処理技法を作用させる段階と；Ｂ１とＢ２と
の差をラベル付けし、かつこの差のマップ（Ｄと称す
る）を格納する段階と；マップ（Ｄ）の垂直方向プロフ
ァイルを投影する段階と；垂直方向の投影プロファイル
内の局所的な複数のピークを検出することにより、垂直
方向に配列された各パターンを位置づけ、かつ垂直方向
に配置された各パターンのマップ（Ｖと称する）を生成
する段階と；２値画像（Ｂ１）と垂直方向に配置された
各パターンのマップ（Ｖ）とを読み出す段階と；Ｖマッ
プ内の黒画素位置に対応するＢ１画像内の各画素を反転
させる段階と；を有している。

【０００７】本発明は、一つの画像を第１の２値画像と
第２の２値画像とに変換する段階と；前記第１の２値画
像と前記第２の２値画像とを比較する段階、かつ前記第
１の２値画像と前記第２の２値画像との差を示すマップ
を生成する段階と；前記マップの垂直方向のプロファイ
ルを投影し、かつ該垂直方向のプロファイル内の複数の
ピークを検出する段階と；検出された前記各ピークに基
づくマップ内に、垂直方向に配置された各パターンの領
域を位置づける段階と；前記マップ内の垂直方向に配置
された各パターンに基づく前記第１の２値画像から複数
の画素を反転する段階と；を備える画像処理方法を提供
する。

【０００８】さらに、本発明は、画像を捕捉する段階
と；前記画像から画像情報を抽出し、かつ第１の２値画
像として生成画像を格納する段階と；前記画像から高コ
ントラスト詳細情報を抽出し、かつ第２の２値画像とし
て生成画像を格納する段階と；前記第１の２値画像と前
記第２の２値画像とを比較し、かつ前記第１の２値画像
と前記第２の２値画像との差を示すビットマップを生成
する段階と；前記ビットマップの垂直方向プロファイル
を投影する段階と；前記垂直方向プロファイル内の局所
的な各ピークを検出することにより、前記ビットマップ
に垂直方向に配置された各パターンの各領域を位置づ
け、垂直方向に配置された各パターンのマップを提供す
る段階と；前記マップの垂直方向に配列された各パター
ンに基づく第１の２値画像から複数の画素を反転させる
段階と；を備える画像処理方法に関するものである。

【０００９】本発明は、さらに、一つの画像を第１の２
値画像と第２の２値画像とに変換する段階と；前記第１
の２値画像と前記第２の２値画像との差を示すマップを
生成する段階と；前記マップ内の垂直方向に配置された
各パターンに基づく前記第１の２値画像から複数の画素
を反転させる段階と；を備える画像処理方法に関するも
のである。

【００１０】さらに、本発明は、画像を捕捉する画像捕
捉部と；前記捕捉した画像を（前記捕捉した画像を示
す）ディジタル画像情報に変換する変換部と；前記ディ
ジタル情報を受け取り、かつ前記捕捉した画像を第１の
２値画像及び第２の２値画像に変換する処理部と；を備
える画像捕捉組立体に関するものである。この処理部
は、前記第１の２値画像と前記第２の２値画像とを比較
して第１の２値画像と第２の２値画像との差を示すマッ
プを生成し、かつマップ内の垂直方向に配置された各パ
ターンに基づいて第１の２値画像から複数の画素を反転
させるものである。

【００１１】本発明は、あらゆる実社会の文書は意味の
ある低コントラストの「ページ長さにわたる」複数の垂
直方向ラインを有しないという一般的な傾向を利用して
いる。通常、変更可能な日付（手書き、タイプライタ
等）のみ低コントラストとなり、一方、ライン及び図形
は（高コントラストな）フォーム（form）の一部となり
得る。

【００１２】

【発明の実施の形態】図１は、グレースケールの画像を
最小画像アーティファクトを有する２値画像に変換する
ための画像処理段階の流れ図である。図２は、本発明の
システムを組み込んだ画像捕捉組立体の概略図である。
図３は、エッジ基準適応しきい値処理（ＡＴＰ）の各段
階を概説する流れ図である。図４は、現在の画素(i, j)
に対する勾配強度を定める際に使用する画素位置を規
定する３×３マトリックスを示している。図５は、画像
強度記録における、現在の画素(i, j) を中心としたN×
Nの近傍画素の説明図を示している。図６は、画像強度
勾配記録における、画素位置(i, j) を中心とした(N-2)
×(N-2)近傍画素の説明図を示している。図７は、既成
のスキャナにより捕捉されたグレースケール画像の一例
である。図８は、通常のコントラストパラメータ設定に
よりしきい値処理された画像（Ｂ１）の一例である。図
９は、低コントラストパラメータ設定によりしきい値処
理された画像（Ｂ２）の一例である。図１０は、２つの
２値画像間の差のマップを生成する流れ図である。図１
１は、それぞれ図７における２値画像Ｂ１と図８におけ
る２値画像Ｂ２との差のマップの一例である。図１２
は、２つの画像間の差のマップを分析し、かつ垂直方向
のラインマップを生成する流れ図である。図１３は、図
１１のマップから得られた垂直方向投影プロファイルの
一例である。図１４は、得られた各垂直方向ラインの一
例である。図１５は、しきい値処理された画像における
垂直方向黒ラインを除去する流れ図である。図１６は、
最終的な２値画像の一例である。

【００１３】各図面（全図面を通して同様の部材あるい
は対応する部材には同一の参照符号が付されている）を
参照すると、最小垂直方向ラインの複数のアーティファ
クトに画像しきい値処理を施す画像処理方法のブロック
図が図１に示されている。本発明の方法及び組立体は垂
直方向の複数のラインについて記載するが、本発明が各
ラインの除去に限られないことは理解されよう。本発明
は、垂直方向に配置された複数の視覚的パターン（すな
わち、複数のライン、ダッシュ、マーク、及びこれらを
組み合わせたものといった複数のアーティファクト）を
除去あるいは減じるように作用させることが可能であ
る。本発明の画像処理方法において、ディジタルグレー
スケール画像データ（Ｇ）といった画像が入力情報とし
て受け取られ（ステップ７）、かつ本方法は以下のよう
に作動する。（１）まずエッジ基準画像しきい値処理が
施され（ステップ９）、の全詳細画像情報を抽出する通
常のコントラストパラメータ設定により、グレースケー
ル画像（Ｇ）を２値画像（Ｂ１）に変換する；（２）エ
ッジ基準画像しきい値処理が再び施され（ステップ１
１）、複数の暗い高コントラスト対象を抽出するのみの
低コントラストパラメータ設定によりグレースケール画
像（Ｇ）を別の２値画像（Ｂ２）に変換する；（３）２
つの２値画像（Ｂ１）及び（Ｂ２）が画素毎に比較され
（ステップ１５）、もし差があれば「黒」画素として画
素を特定し、もし差がなければ「白」画素として画素を
特定し、２つの２値画像（Ｂ１）と（Ｂ２）との間の差
のマップ（（Ｄ）と称する）を生成する；（４）マップ
（Ｄ）内の垂直方向の複数のラインといった垂直方向の
視覚的アーティファクトが、垂直方向の複数のラインの
マップ（（Ｖ）と称する）を生成する垂直方向投影プロ
ファイル分析を行うことにより、位置づけられる（ステ
ップ１７）；（５）対応する黒画素を除去し、かつしき
い値処理された画像Ｂ１内の対応する白画素をビットマ
ップ（Ｖ）内の黒画素の位置に満たすことにより、しき
い値処理された最終的画像（Ｂ）が得られる（ステップ
１９）。

【００１４】図２は、本発明の上述した特徴点に従って
捕捉された画像を処理する画像捕捉組立体３００の概略
図を示している。画像捕捉組立体３００は、画像を捕捉
する（例えば電荷結合素子の形態の）画像捕捉部３０１
と、捕捉した画像をディジタル情報に変換する（例えば
Ａ／Ｄコンバータの形態の）変換部３０３とを有するス
キャナとすることも可能である。このディジタル情報
は、図１を参照して記載されたように（さらに図３，図
１０，図１２，及び図１５を参照して記載されるよう
に）、ディジタル画像情報を処理する処理部３０５に送
られる。

【００１５】＜エッジ基準適応画像しきい値処理法＞図
３は、エッジ基準適応しきい値処理を行う画像処理シス
テムのブロック図である。このしきい値処理法は、入力
としてスキャナからのディジタル画像とIT（強度しきい
値）及びGT（勾配しきい値）の入力パラメータを定めた
演算子とを受け取り、さらに以下の段階を有するもので
ある。

【００１６】第１段階では、ゾーベル勾配演算子が画像
強度記録に作用し、勾配強度記録を生成する（ステップ
２１）。ゾーベル演算子は、図４に示されるように、画
素の３×３の窓に働き、画像位置(i, j) において水平
方向の強度勾配GX(i, j)と垂直方向の強度勾配GY(i, j)
を計算する。画素位置(i, j) における勾配強度GS(i,
j) は、水平方向の強度勾配GX(i, j) の絶対値と垂直方
向の強度勾配GY(i, j)の絶対値との和である。GX(i, j)
とGY(i, j) は以下のように定義されている。 GX(i, j) = L(i+1, j-1) + 2L(i+1, j) + L(i+1, j+1)
- L(i-1, j-1) - 2L(i-1, j) - L(i-1, j+1); GY(i, j) = L(i-1, j+1) + 2L(i, j+1) + L(i+1, j+1)
- L(i-1, j-1) - 2L(i,j-1) - L(i+1, j-1); GS(i, j) = ｜GX(i, j)｜+｜GY(i, j)｜. ここで、GS(i, j) = 勾配処理後の画素位置(i, j) にお
ける勾配強度記録であり、L(i, j) = 画素位置(i, j)
における画像強度である。

【００１７】第２段階では、N×Nの窓において、最小強
度Lmin(i, j) 及び最大強度Lmax(i,j) が、図５に示す
ように画像強度記録から測定され（ステップ２７）、図
６に示すように、(N-2)×(N-2) の窓における勾配強度G
S(i, j) の和が勾配強度から計算される（図３のステッ
プ２３）。勾配GS(i, j) の和は領域勾配として定義さ
れている。次に、３特性値GS(i, j)，Lmin(i, j)，及び
Lmax(i, j) が、(i, j)における画素を画像強度記録内
の黒または白に分類するために使用される。最後の処理
は、黒画素（対象物）の抽出である。抽出の第１段階
は、エッジ近傍の画素を検出することである。領域勾配
が予設定値（勾配しきい値；GT）よりも高くかつ大きい
場合には、エッジ近傍の(i, j)における画素であること
が確認される（ステップ２５）。その後、強度がLmin
(i, j)とLmax(i, j)との平均よりも小さいときには、エ
ッジ近傍の画素（局所窓の中央画素）が黒（対象物）と
して分類されることが判る（ステップ２９及びステップ
３０）。すなわち、この画素がエッジの暗い側にあるこ
とが判る。他方、この強度がLmin(i, j)とLmax(i, j)と
の平均（PA）よりも大きい場合には、画素が白（背景）
に分類される（ステップ３０）。領域勾配が勾配しきい
値（GT）より小さい場合には（ステップ２５）、平坦な
領域内を移動するN×Nの窓のような、簡単なしきい値処
理により分類（classification）がなされる。これは、
画素のグレー値を別の予設定された強度しきい値（IT）
と比較することである。画素のグレー値がIT よりも小
さい場合には、画素は黒と分類され；それ以外は白の背
景として扱われる（ステップ３３）。

【００１８】上述の技法によりしきい値処理された後の
画像品質は、２つのしきい値（GT及びIT）設定のユーザ
の選択により制御される。GT はエッジの近傍の画素を
分類するためにセットされ、かつIT は一様領域内の各
画素を分類するためにセットされる。低GT設定は薄い対
象物のエッジ画素を抽出する傾向があり、低IT設定はグ
レーの一様領域の各画素を白い背景に分類する傾向があ
る。他方、非常に高いGT設定の場合には、アルゴリズム
はIT のしきい値設定により固定されたしきい値処理の
ように作用する。この条件下では、GT は常に領域勾配
よりも大きいので、図３に示すように、画像の画素分類
がIT を注目する画素における強度と比較することによ
り唯一的に定められる。さらに、この技法は、ITをゼロ
に単に設定することにより、輪郭画像も生成することが
できる。ここで、領域勾配がGTよりも大きいエッジ画素
を除いて、全ての画素が白と分類される。

【００１９】既成のスキャナを使用して捕捉されたグレ
ースケールの文書画像の一例が、図７に示されている。
いくつかの薄い垂直方向ライン画像アーティファクト５
０が見られる。図８は、通常のコントラスト設定でエッ
ジ基準しきい値処理技法を図７におけるグレースケール
画像に作用させることにより得られたしきい値処理され
た画像である。通常のコントラスト設定での画像しきい
値処理はグレースケール画像内の全詳細画像情報を抽出
しようとするので、この場合の画像しきい値処理は望ま
しくない複数の薄い垂直方向ラインをも垂直方向の黒ラ
イン５０’に変えてしまう。低コントラスト設定の場合
には、薄い垂直方向ライン、薄い文字、及び薄い対象物
といった薄いコントラスト対象物はしきい値処理過程で
無視され、かつそれらの対象物は、図９に示したよう
に、しきい値処理された画像内に現れない。

【００２０】＜画像差のマップの生成＞図１０は、図１
の２つのしきい値処理された画像Ｂ１とＢ２との画像差
のマップを生成するブロック図である。図１０に示すよ
うに、画像Ｂ１の位置(i, j)において、１（黒）または
０（白）であるビットマップ値B1(i, j) が読み出され
（ステップ４０ａ）、かつ画像Ｂ２の対応する位置(i,
j) におけるビットマップ値B2(i, j) も読み出される
（ステップ４０ｂ）。値B1(i, j)が値B2(i, j)と異なる
（つまり、一方が黒で他方が白である）場合には（ステ
ップ４１）、新しいマップＤの位置(i, j) での値d(i,
j) が１（黒画素）とマークされ（ステップ４２）、さ
もなくばＯ（白画素）とマークされる（ステップ４
３）。上記処理は、画像Ｂ１及びＢ２内の全ての画素位
置(i, j) に作用され、かつＢ１とＢ２の差を示す画像
マップＤを生成する。この処理は、低コントラスト（す
なわち薄い）対象物のみが抽出され、かつ差のマップに
示されることを示している。図１１は、図８及び図９に
おける２つのしきい値処理された画像の差である生成さ
れたマップの一例である。

【００２１】＜垂直方向ラインのマップの生成＞図１２
は、垂直方向ラインのマップを生成するブロック図であ
る。垂直方向ラインの生成はマップＤの垂直方向プロフ
ァイルを投影することにより行われ（ステップ６０
ａ）、かつ標準連結成分分析（standard connected com
ponent analysis）（２）を行うことで、文字のような
成分及び垂直方向ではないライン成分を位置づける（ス
テップ６０ｂ）。垂直方向投影プロファイルは１次元平
面内の黒画素の度数分布である。１次元度数分布内の各
ピークを検出することにより、垂直方向ラインを容易に
位置づけることができる（ステップ６１）。図１１のマ
ップの垂直方向投影プロファイルの一例が、図１３に示
されている。図１３内の多数のピークが、マップＤ内に
は多数の垂直方向ラインが存在することを示している。
各ピークの位置は、所定のしきい値で各位置の値を比較
することにより検出される。しきい値よりも大きな値の
各ピークは、複数のラインの位置として認識される。

【００２２】連結成分分析は、マップＤから連結成分を
抽出するために作用される（例えば、USSN 08/739,076
参照）。各連結成分は対象物を表す。対象物は、文字、
図形、ライン、あるいはノイズすら意味する。対象物の
サイズがサイズのしきい値よりも大きい、あるいは対象
物のアスペクト比（高さ／幅）がアスペクトしきい値よ
りも大きい場合には、その対象物は画像の一部と見なさ
れる。次に、対象物に対応する黒画素がマップＤから除
去される（ステップ６２）。

【００２３】垂直方向ラインのマップが、成分分析と垂
直方向投影プロファイルとの組合せから得られる。成分
分析はマップＤから画像情報の黒画素を除去し、かつ垂
直方向投影プロファイルは、多数の塵や埃により生成さ
れた薄い複数の垂直方向ラインと思われる複数の垂直方
向ラインを位置づける。上述した画像処理の後に、図１
１におけるマップＤが、図１４に示されるような垂直方
向ラインのマップに変換される。

【００２４】＜垂直方向のパターン（アーティファク
ト）の除去＞図１５は、垂直方向ライン除去に対応して
（しかしダッシュ、ドット等にも適用可能である）記載
されている垂直方向パターン（あるいはアーティファク
ト）除去過程のブロック図である。この過程において、
画像Ｂ１内の位置(i, j) におけるビットマップ値b1(i,
j) が読み出され、かつビットマップＶ内の対応する位
置(i, j) でのビットマップ値v(i, j) も読み出される
（ステップ７０）。値v(i, j) が「１」（ここで「１」
は黒を、「０」は白を示す）とマークされているならば
（ステップ７１）、値b1(i, j) が調べられる（ステッ
プ７２）。値v(i, j) が「０」とマークされているなら
ば、値b(i, j) がb1(i, j) に等しくセットされる（ス
テップ７５）。値b1(i, j) が「１」（黒画素）とマー
クされているならば、値b1(i, j) は「０」（白）に変
えられる（ステップ７３）。他方、値b1(i, j) が
「０」とマークされているならば、値b1(i, j) は
「１」（黒）に変えられる（ステップ７４）。ビットマ
ップＢは、垂直方向ラインを除去した後のビットマップ
Ｂ１を複写したものである。ただし、b(i, j) は位置
(i, j)におけるビットマップＢの値である。この処理
が、全ての画像Ｂ１及びＶ内の画素位置(i, j) に作用
され、複数の垂直方向ラインが除去されたビットマップ
Ｂを生成する。図１６は、最終的にしきい値処理された
画像の一例である。ここで複数の垂直方向ラインアーテ
ィファクトは、図７のビットマップから除去されてい
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】グレースケールの画像を最小画像アーティフ
ァクトを有する２値画像に変換するための画像処理段階
の流れ図である。

【図２】本発明のシステムを組み込んだ画像捕捉組立
体の概略図である。

【図３】エッジ基準適応しきい値処理（ＡＴＰ）の各
段階を概説する流れ図である。

【図４】現在の画素(i, j) に対する勾配強度を定め
る際に使用する画素位置を規定する３×３マトリックス
を示す図である。

【図５】画像強度記録における、現在の画素(i, j)
を中心としたN×Nの隣接画素の説明図である。

【図６】画像強度勾配記録における、画素位置(i, j)
を中心とした(N-2)×(N-2) 隣接画素の説明図である。

【図７】既成のスキャナにより捕捉されたグレースケ
ール画像の一例を示す図である。

【図８】通常のコントラストパラメータ設定値を用い
てしきい値処理された画像（Ｂ１）の一例を示す図であ
る。

【図９】低コントラストパラメータ設定値を用いてし
きい値処理された画像（Ｂ２）の一例を示す図である。

【図１０】２つの２値画像間の差のマップを生成する
流れ図である。

【図１１】それぞれ図７における２値画像Ｂ１と図８
における２値画像Ｂ２との差のマップの一例を示す図で
ある。

【図１２】２つの画像間の差のマップを分析し、かつ
垂直方向のラインマップを生成する流れ図である。

【図１３】図１１のマップから得られた垂直方向投影
プロファイルの一例を示す図である。

【図１４】除去された各垂直方向ラインの一例を示す
図である。

【図１５】しきい値処理された画像における垂直方向
黒色ラインを除去する流れ図である。

【図１６】最終的な２値画像の一例を示す図である。

【符号の説明】

Ｇグレースケール画像

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者ジェイムズ・エム・ステファンコアメリカ合衆国・14626・ニューヨーク・ロチェスター・キム・レーン・151

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画像を第１の２値画像と第２の２値画像
とに変換する段階と；前記第１の２値画像と前記第２の
２値画像とを比較して、前記第１の２値画像と前記第２
の２値画像との差を示すマップを生成する段階と；前記
マップの垂直方向プロファイルを投影し、かつ該垂直方
向プロファイル内の複数のピークを検出する段階と；検
出された前記複数のピークに基づいて、前記マップに垂
直方向に配置された複数のパターンの各領域を位置づけ
る段階と；前記マップ内の垂直方向に配置された前記複
数のパターンに基づいて、前記第１の２値画像から各画
素を反転させる段階と；を備えることを特徴とする画像
処理方法。
【請求項２】前記変換する段階は、エッジ基準画像し
きい値処理をグレースケール画像に作用させ、該グレー
スケール画像を前記第１の２値画像に変換する段階と；
２度目の前記エッジ基準画像しきい値処理を前記グレー
スケール画像に作用させ、該グレースケール画像を前記
第２の２値画像に変換する段階と；を備えることを特徴
とする請求項１記載の画像処理方法。
【請求項３】前記第１の２値画像及び前記第２の２値
画像のうち、いずれか一方が通常のコントラストパラメ
ータを有し、他方が低コントラストパラメータを有して
いることを特徴とする請求項１記載の画像処理方法。
【請求項４】前記比較する段階は、前記第１の２値画像と前記第２の２値画像とを画素毎に
比較する段階と；前記マップを生成するために、比較さ
れた前記画素間に差がある場合には画素を黒画素と定
め、かつ比較された前記画素間に差がない場合には画素
を白画素と定める段階と；を備えることを特徴とする請
求項１記載の画像処理方法。