JP2000183694A - 発振回路 - Google Patents

発振回路

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JP2000183694A
JP2000183694A JP10361622A JP36162298A JP2000183694A JP 2000183694 A JP2000183694 A JP 2000183694A JP 10361622 A JP10361622 A JP 10361622A JP 36162298 A JP36162298 A JP 36162298A JP 2000183694 A JP2000183694 A JP 2000183694A
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oscillation
transistor
voltage
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power supply
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JP10361622A
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Jun Funaki
純 船木
Masayuki Suzuki
雅之 鈴木
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Mitsumi Electric Co Ltd
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Mitsumi Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源電圧を検出して、電源電圧に応じて発振
を制御する発振回路に関し、テストを短時間で行える発
振回路を提供することを目的とする。 【解決手段】 入力制御信号に応じて発振が制御される
発振手段11と、電源電圧Vccを検出する電圧検出手段
3と、電圧検出手段3の検出結果に応じて発振手段11
の入力制御信号を第1のレベルに保持する第1の発振制
御手段4と、外部から供給される制御信号に応じて発振
手段11の入力を第2のレベルに保持する第2の発振制
御手段13とから構成してなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は発振回路に係り、特
に、電源電圧を検出して、電源電圧に応じて発振を制御
する発振回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は従来の一例の回路構成図を示す。
発振回路1は、発振回路部2、電圧検出回路部3、発振
制御回路部4から構成される。発振回路部2は、定電流
源5−1〜5−n、NPNトランジスタ6−1〜6−
n、インバータ7から構成される。定電流源5−1〜5
−nは、電源電圧Vccに接続され、電源電圧Vccに応じ
て定電流I0 を生成する。
【0003】定電流源5−1で生成された定電流I0 は
トランジスタ6−1のコレクタに供給され、定電流源5
−2で生成された定電流I0 はトランジスタ6−2のコ
レクタに供給され、・・・定電流源5−nで生成された
定電流I0 はトランジスタ6−nのコレクタに供給され
る。トランジスタ6−1はベースが定電流源5−nとト
ランジスタ6−nのコレクタとの接続点に接続され、エ
ミッタは接地される。トランジスタ6−2はベースが定
電流源5−1とトランジスタ6−1のコレクタとの接続
点に接続され、エミッタは接地される。・・・トランジ
スタ6−nはベースが定電流源5−(n−1)とトラン
ジスタ6−(n−1)のコレクタとの接続点に接続さ
れ、エミッタは接地される。
【0004】また、定電流源5−nとトランジスタ6−
nとの接続点はトランジスタ6−1のベースに帰還され
るとともに、出力信号としてインバータ7を介して出力
端子Tout に接続される。上記発振回路部2はいわゆる
リングオシレータを構成している。電圧検出回路部3
は、抵抗R1〜R3、ツェナーダイオードDz 、コンパ
レータCpから構成される。
【0005】抵抗R1とツェナーダイオードDz とは、
基準電圧回路を構成している。抵抗R1は一端に電源電
圧Vccが印加され、他端がツェナーダイオードDz のカ
ソードに接続される。なお、ツェナーダイオードDz の
アノードは接地されている。抵抗R1とツェナーダイオ
ードDz とにより電源電圧Vccが分圧され、抵抗R1と
ツェナーダイオードDz との接続点にツェナー電圧が発
生する。
【0006】抵抗R1とツェナーダイオードDz とによ
り発生したツェナー電圧は基準電圧として、コンパレー
タCpの反転入力端子に供給される。また、抵抗R2と
抵抗R3とは、電源電圧Vccと接地との間に直列に接続
される。抵抗R2と抵抗R3との接続点には電源電圧V
ccを分圧した電圧が発生する。抵抗R2と抵抗R3との
接続点で発生された電源電圧Vccを分圧した電圧は、電
源電圧Vccの検出電圧としてコンパレータCpの非反転
入力端子に供給される。
【0007】コンパレータCpは、抵抗R2と抵抗R3
との接続点に発生する検出電圧と抵抗R1とツェナーダ
イオードDz との接続点に発生する基準電圧とを比較
し、検出電圧が基準電圧より大きいとハイレベル、検出
電圧が基準電圧より小さいとローレベルとなる出力信号
を出力する。コンパレータCpの出力信号は、電圧検出
回路部3の出力信号として発振制御回路部4に供給され
る。発振制御回路部4は、NPNトランジスタ8から構
成される。トランジスタ8は、ベースに電圧検出回路部
3のコンパレータCpの出力信号が供給され、コレクタ
が発振回路部2のトランジスタ5−nのコレクタとトラ
ンジスタ5−1のベースとの接続点に接続され、エミッ
タは接地される。
【0008】次に、発振回路1の動作を説明する。図6
は従来の一例の動作説明図を示す。図6(A)は電源電
圧Vcc、図6(B)は検出電圧Vp 、図6(C)は出力
端子Tout の電圧波形を示す。まず、時刻t1 では、図
6(A)に示すように電源電圧Vccは検知電圧Vs より
大きい、すなわち、図6(B)に示すように電源電圧V
ccの分圧電圧である検出電圧Vp が基準電圧Vm より大
きいので、コンパレータCpの出力はハイレベルであ
る。
【0009】コンパレータCpの出力がハイレベルであ
ると、トランジスタ8はオンする。トランジスタ8がオ
ンであると、発振回路部2のトランジスタ6−1のベー
ス電位はローレベルとなる。トランジスタ6−1はベー
スがローレベルになると、オフする。トランジスタ6−
1がオフすると、定電流源5−1の出力電流I0 はトラ
ンジスタ6−2のベースに供給される。トランジスタ6
−2は定電流源5−1からベースに出力電流I0 が供給
されると、オンする。トランジスタ6−2がオンする
と、定電流源5−2の出力電流I0 はトランジスタ6−
2に供給され、トランジスタ6−3のベース電位がロー
レベルになる。よって、トランジスタ6−3はオフす
る。上記動作がn段繰り返され、トランジスタ6−nは
オフする。トランジスタ6−nがオフであると、定電流
源5−nの出力電流I0 はトランジスタ6−1のベース
に供給される。しかし、このとき、トランジスタ8はオ
ンしているので、定電流源5−nの出力電流I0 はトラ
ンジスタ8を介して接地に供給される。
【0010】よって、インバータ7の入力はローレベル
となる。インバータ7は入力を反転して、図6(C)に
示すようにハイレベルの出力信号として出力端子Tout
から出力する。次に、電源電圧Vccが低下し、時刻t2
で検知電圧Vs になると、図6(B)に示すように電源
電圧Vccを分圧した検出電圧Vp も低下し、時刻t2で
基準電圧Vm になる。
【0011】検出電圧Vp が基準電圧Vm より小さくな
ると、コンパレータCpの出力はローレベルになる。コ
ンパレータCpの出力がローレベルになると、トランジ
スタ8がオフする。トランジスタ8がオフすると、定電
流源5−nの出力電流I0 は、トランジスタ6−1のベ
ースに供給される。トランジスタ6−1のベースに出力
電流I0 が供給されると、トランジスタ6−1はオンす
る。トランジスタ6−1がオンすると、トランジスタ6
−2がオフする。トランジスタ6−1〜6−nのオン・
オフの状態がわずかずつ遅延しつつ順次反転する。よっ
て、所定時間経過後の時刻t3で、トランジスタ6−n
がオフからオンに反転する。トランジスタ6−nがオフ
からオンに反転すると、定電流源5−nの出力電流I0
はトランジスタ6−nを介して接地に供給される。
【0012】よって、トランジスタ6−1のベース電位
はローレベルに反転する。トランジスタ6−1のベース
電位がローレベルに反転すると、トランジスタ6−1〜
6−nのオン・オフの状態が順次反転し、所定時間経過
後の時刻t4で、トランジスタ6−nがオンからオフに
反転する。トランジスタ6−nがオンからオフに反転す
ると、定電流源5−nの出力電流I0 はトランジスタ6
−1のベースに供給される。
【0013】上記動作を繰り返すことにより、図6
(C)に示すように時刻t3、t4、t5、t6で出力
端子Tout から出力される出力電圧Vout が順次反転
し、発振が生じる。出力電圧Vout により発光ダイオー
ドを駆動することにより、電源電圧Vccの低下が報知さ
れる。上記のような発振回路1で発振が開始される電源
電圧Vccの検知電圧Vs をテストする場合、電源電圧V
ccを順次低下させ、そのときの出力電圧Vout の状態を
モニタし、出力電圧Vout が一定電圧から発振状態に遷
移したときの電源電圧Vccが検知電圧Vs として認識さ
れていた。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来の発振
回路で検知電圧Vs をテストしようとすると、電源電圧
Vccを順次低減し、その時の出力電圧Vout のハイレベ
ルからローレベルへの立ち下がり、ローレベルからハイ
レベルへの立ち上がりを複数回モニタしていたため、電
源電圧Vccを低減する度に一定のモニタ時間Tmが必要
となり、検知電圧Vs の検出に時間がかかる等の問題点
があった。
【0015】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、テストを短時間で行える発振回路を提供することを
目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の発振回路10
は、入力制御信号に応じて発振が制御される発振手段1
1と、電源電圧Vccを検出する電圧検出手段3と、電圧
検出手段3の検出結果に応じて発振手段11の入力制御
信号を第1のレベルに保持する第1の発振制御手段4
と、外部から供給される制御信号Vinに応じて発振手段
11の入力を第2のレベルに保持する第2の発振制御手
段13とから構成される。
【0017】また、発振手段11は、遅延手段5−1〜
5−n,6−1〜6−nと、遅延手段5−1〜5−n,
6−1〜6−nの出力信号を遅延手段5−1〜5−n,
6−1〜6−nの入力に帰還する帰還手段12とを有
し、第2の発振制御手段13は、帰還手段12により遅
延手段5−1〜5−n,6−1〜6−nに帰還される信
号を所定のレベルに保持するように構成してなる。
【0018】さらに、第2の発振制御手段13は、定電
圧Vccを印加する定電圧源と、制御信号と電圧検出手段
3の検出信号との論理和を算出する論理和演算手段14
と、論理和手段14の出力に応じて発振手段11の信号
を定電圧源から供給される定電圧Vccに応じた所定のレ
ベルに保持するスイッチング素子15から構成してな
る。
【0019】本発明によれば、外部からの制御信号によ
り発振手段の出力を所定のレベルに保持でき、よって、
発振手段の動作の検査を直流的に行うことができる。
【0020】
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施例の回路構
成図を示す。同図中、図5と同一構成部分には同一符号
を付し、その説明は省略する。本実施例の発振回路10
は、図5に示す発振回路1に検査回路部13を設けると
ともに、発振回路部11に制限抵抗を設けてなる。
【0021】本実施例の発振回路部11は、トランジス
タ6−nのコレクタとトランジスタ6−1のベースとの
間に制限抵抗12が設けられている。制限抵抗12は、
トランジスタ6−nのコレクタとトランジスタ6−1の
ベースとの間に流れる電流を制限する。検査回路部13
は、ORゲート14、PNPトランジスタ15から構成
される。
【0022】ORゲート14は、第1及び第2の入力端
子を有する。第1の入力端子は、制御端子Tc が接続さ
れ、制御端子Tc から外部制御信号が供給される。第2
の入力端子には、電圧検出回路部3のコンパレータCp
の出力が供給される。ORゲート14は、制御端子Tc
から供給される外部制御信号とコンパレータCpの出力
とのOR論理を出力する。ORゲート14の出力は、ト
ランジスタ15のベースに供給される。
【0023】トランジスタ15のエミッタには電源電圧
Vccが供給され、コレクタは発振回路部11のトランジ
スタ6−1のベースに接続される。制御端子Tc は通常
動作時にハイ電位入力の端子であり、試験時にはローレ
ベル電位とされる。なお、制限抵抗12は、帰還信号を
所定のレベルに制限する。図2は本発明の一実施例の動
作説明図を示す。図2(A)は電源電圧Vcc、図2
(B)は検出電圧Vp 、図2(C)は出力電圧Vout の
波形を示す。
【0024】テスト時には、制御端子Tc に供給する外
部制御信号をローレベルにする。制御端子Tc に供給す
る外部制御信号がローレベルの状態で、電源電圧Vccが
検知電圧Vs より大きい場合には(Vcc>Vs )、コン
パレータCpの出力はハイレベルとなる。よって、OR
ゲート14の出力はハイレベルとなる。ORゲート14
の出力がハイレベルであると、トランジスタ15はオフ
する。一方、トランジスタ8はコンパレータCpの出力
がハイレベルであることからオンしている。よって、発
振回路部11のトランジスタ6−1のベース電位をV
x、トランジスタ8のコレクタ−エミッタ間の飽和電圧
をVce(sat) 、トランジスタ6−1の順方向電圧をVF
とし、Vx=Vce(sat) 、かつ、Vce(sat) <VFとす
ると、トランジスタ6−1、トランジスタ6−nは共に
オンする。
【0025】また、インバータ7の入力電位をVy、定
電流源6−nの出力電流をI0 、インバータ7のスレッ
シュホールド電圧をVth、抵抗12の抵抗値をR1とす
ると、 Vy=Vce(sat) +R1×I0 <Vth となる。よって、出力電圧Vout はハイレベルになる。
【0026】また、電源電圧Vccが検知電圧Vs より小
さくなると(Vcc<Vs )、コンパレータCpの出力は
ローレベルになるので、トランジスタ15がオンする。
一方、コンパレータCpの出力はローレベルになること
により、トランジスタ8がオフする。よって、 Vx>VF となるので、トランジスタ6−1はオンする。このと
き、トランジスタ6−nはオフするので、インバータ7
の入力電圧Vyはハイレベルとなる。よって、出力電圧
Vout は、ローレベルとなる。なお、制限抵抗12によ
りインバータ7に供給される帰還される信号が制限され
る。
【0027】本実施例によれば、Vcc<Vs では、出力
電圧Vout はローレベルに保持され、Vcc>Vs では、
出力電圧Vout はハイレベルに保持される。よって、電
源電圧Vccと検知電圧Vs との大小関係を出力電圧Vou
t のローレベルとハイレベルとでDC的に出力すること
ができる。また、出力電圧Vout がDC的に出力される
ので、発振信号を検出する場合のように立ち上がり、立
ち下がりをトリガとして検出を行う必要がなく、モニタ
時間Tmが不要となり、検出時間を短縮できる。
【0028】さらに、制御端子Tc に供給する外部制御
信号は、通常ハイレベルであるので、専用端子を設ける
ことなく、通常動作時にハイレベルとなる他の端子を流
用することができる。なお、本実施例では、発振回路部
11をバイポーラトランジスタを使ったリングオシレー
タで構成したが、CMOSを使ったリングオシレータで
構成することもできる。
【0029】図3は本発明の一実施例の発振回路部の変
形例の回路構成図を示す。同図中、図1に示す発振回路
部11と同一構成部分には同一符号を付し、その説明は
省略する。本変形例の発振回路部20は、CMOS回路
21−1〜21−nから構成される。CMOS回路21
−1〜21−nはそれぞれNチャネルMOSトランジス
タ22、及びPチャネルMOSトランジスタ23から構
成される。
【0030】また、本実施例では、発振回路部10をバ
イポーラトランジスタを使ったリングオシレータで構成
したが、他の発振回路で構成することもできる。図4は
本発明の他の実施例の回路構成図を示す。図1と同一構
成部分には同一符号を付し、その説明は省略する。本実
施例の発振回路30は、発振回路部31の構成が図1の
発振回路部11とは相違する。
【0031】本実施例の発振回路部31は、抵抗32〜
35、コンデンサ36、トランジスタ37、コンパレー
タ38から構成される。抵抗32とコンデンサ36、及
び、抵抗33と抵抗34とはそれぞれに電源電圧Vccと
接地との間に直列に接続されている。抵抗32とコンデ
ンサ36との接続点はコンパレータ38の非反転入力端
子に接続され、抵抗33と抵抗34との接続点はコンパ
レータ38の反転入力端子に接続される。
【0032】また、コンパレータ38の出力は出力端子
Tout に接続されるとともに、トランジスタ37、抵抗
35を介してコンパレータ38の反転入力端子に帰還さ
れる。発振制御回路部4を構成するトランジスタ8のコ
レクタは発振回路部31を構成するコンパレータ38の
非反転入力端子に接続される。また、検査回路部13を
構成するトランジスタ19のコレクタも同様に発振回路
部31を構成するコンパレータ38の非反転入力端子に
接続される。
【0033】本実施例によれば、試験時、Vcc<Vs で
はコンパレータ38の非反転入力端子がローレベルに保
持されるので、出力電圧Vout はローレベルに保持さ
れ、Vcc>Vs では、トランジスタ15がオフするた
め、コンパレータ38の非反転入力端子がハイレベルに
保持されるので、出力電圧Vout はハイレベルに保持さ
れる。よって、電源電圧Vccと検知電圧Vs との大小関
係を出力電圧Vout のローレベルとハイレベルとでDC
的に検知することができる。
【0034】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、外部から
の制御信号により発振手段の出力を所定のレベルの保持
でき、よって、発振手段の入出の検査を直流的に行うこ
とができる等の特長を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の回路構成図である。
【図2】本発明の一実施例の動作説明図である。
【図3】本発明の一実施例の発振回路部の変形例の回路
構成図である。
【図4】本発明の他の実施例の回路構成図である。
【図5】従来の一例の回路構成図である。
【図6】従来の一例の動作説明図である。
【符号の説明】
2、20、31 発振回路部 3 電圧検出回路部 4 発振制御部 5−1〜5−n 定電流源 6−1〜6−n トランジスタ 7 インバータ 8 トランジスタ 10、30 発振回路 11 発振回路部 13 検査回路部 14 ORゲート 15 トランジスタ 21−1〜21−n CMOS回路 22 NチャネルMOSトランジスタ 23 PチャネルMOSトランジスタ 32〜35 抵抗 36 コンデンサ 37 トランジスタ 38 コンパレータ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力制御信号に応じて発振が制御される
    発振手段と、電源電圧を検出する電圧検出手段と、該電
    圧検出手段の検出結果に応じて前記発振手段の該入力制
    御信号を第1のレベルに保持する第1の発振制御手段と
    を有する発振回路において、 外部から供給される制御信号に応じて前記発振手段の入
    力を第2のレベルに保持する第2の発振制御手段を有す
    ることを特徴とする発振回路。
  2. 【請求項2】 前記発振手段は、遅延手段と、該遅延手
    段の出力信号を該遅延手段の入力に帰還する帰還手段と
    を有し、 前記第2の発振制御手段は、前記帰還手段により前記遅
    延手段に帰還される信号を所定のレベルに保持すること
    を特徴とする請求項1記載の発振回路。
  3. 【請求項3】 前記第2の発振制御手段は、定電圧を印
    加する定電圧源と、 前記制御信号と前記電圧検出手段の検出信号との論理和
    を算出する論理和演算手段と、 前記論理和手段に出力に応じて前記発振手段の信号を前
    記定電圧源から供給される定電圧に応じた所定のレベル
    に保持するスイッチング素子とを有することを特徴とす
    る請求項1又は2記載の発振回路。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015534673A (ja) * 2012-09-06 2015-12-03 シリコン イメージ,インコーポレイテッド リングオシレータのテストソリューション

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