JP2000161935A - Method and instrument for measuring three-dimensional coordinates for slit light projection type three- dimensional visual sensor and recording medium with three-dimensional coordinate measuring program recorded therein - Google Patents

Method and instrument for measuring three-dimensional coordinates for slit light projection type three- dimensional visual sensor and recording medium with three-dimensional coordinate measuring program recorded therein

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JP2000161935A
JP2000161935A JP10337255A JP33725598A JP2000161935A JP 2000161935 A JP2000161935 A JP 2000161935A JP 10337255 A JP10337255 A JP 10337255A JP 33725598 A JP33725598 A JP 33725598A JP 2000161935 A JP2000161935 A JP 2000161935A
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JP
Japan
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slit light
plane
camera
equation
rotation axis
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JP10337255A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshio Kamigaki
敏雄 神垣
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Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a three-dimensional coordinate measuring method with which the rotation axis of slit light can be positioned to an arbitrary position. SOLUTION: After a camera 6 is calibrated by considering that slit light is a plane rotating around an arbitrary axis, the equation on standard slit light planes P0-P2, rotation axis, and an arbitrary slit light plane around the rotation axis is found by measuring three or more slit light rays P0-P2 projected upon calibration target planes X1 and X2 by using the camera 6. Therefore, the three- dimensional coordinates photographed with a camera can be found easily, without having to use precise jig machining, parts machining, nor to conduct accurate mechanical positioning.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、スリット光を用い
て物体を3次元的に計測する3次元座標計測方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a three-dimensional coordinate measuring method for three-dimensionally measuring an object using slit light.

【0002】[0002]

【従来の技術】スリット光とビデオカメラを用いて、対
象物の形状や位置を3次元空間内で計測するスリット光
投射方式3次元座標計測方法は、ロボットの視覚センサ
や非接触形状計測装置等に応用されている。従来、この
種の3次元座標計測方法は、座標計算式を簡単にするた
めに、物体を照射するスリット光とカメラの位置関係等
の測定系の配置に束縛条件を持たせていた。例えば、特
開平7─270137に開示されている方法(スポット
光のミラーによるスキャンであるが1方向を固定すると
スリット光とみなせる。)では、カメラレンズ中心を通
り撮像面に垂直な平面を想定し、その平面とスリット光
平面が垂直であるという制約、又スリット光を回転させ
た場合には、回転軸がスリット光平面を含む必要がある
という制約である。
2. Description of the Related Art A slit light projection type three-dimensional coordinate measuring method for measuring the shape and position of an object in a three-dimensional space using a slit light and a video camera is known as a robot visual sensor or a non-contact shape measuring device. Has been applied to Conventionally, in this type of three-dimensional coordinate measurement method, in order to simplify a coordinate calculation formula, a constraint condition is given to an arrangement of a measurement system such as a positional relationship between a slit light for irradiating an object and a camera. For example, in the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-270137 (scanning with a mirror of spot light, if one direction is fixed, slit light can be regarded as slit light), a plane passing through the center of the camera lens and perpendicular to the imaging surface is assumed. The constraint is that the plane is perpendicular to the slit light plane, and that when the slit light is rotated, the rotation axis must include the slit light plane.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
スリット光投射方式3次元座標計測方法では、上述の制
約条件を守るために、カメラレンズの中心を通り撮像面
に垂直な平面を物理的に求めたりスリット光平面を回転
軸に合わせたり回転軸を正確に調整する等の機械的位置
決めを正確に行う必要がある。そのため、精密な治具や
部品加工を要したり、機械的位置決めが困難であるた
め、計測データに誤差が生じるという問題点があった。
However, in the conventional slit light projection type three-dimensional coordinate measuring method, a plane which passes through the center of the camera lens and is perpendicular to the imaging plane is physically obtained in order to keep the above-mentioned constraints. It is necessary to accurately perform mechanical positioning, such as adjusting the slit light plane to the rotation axis or accurately adjusting the rotation axis. Therefore, there is a problem that an error occurs in measurement data because a precise jig or component processing is required or mechanical positioning is difficult.

【0004】そこで、本発明は、上記問題を鑑みてなさ
れたものであって、その目的とするところは、精密な治
具や部品加工を要さず、カメラとスリット光の機械的位
置決めを正確に行わなくても正確な計測データが得られ
る3次元座標計測方法を提供することである。
Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to eliminate the need for precise jigs and parts processing, and to accurately perform mechanical positioning of a camera and slit light. It is an object of the present invention to provide a method for measuring three-dimensional coordinates in which accurate measurement data can be obtained without performing the above operation.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
スリット光で照射された物体の像をカメラ画像面上に撮
像し、前記物体の画像上のスリット光による反射光点の
カメラ画像面座標から前記反射光点に対応する物体上の
点の位置座標を計算式を用いて算出するスリット光投射
方式3次元座標計測方法において、予めカメラをキャリ
ブレーションするカメラキャリブレーション工程と、前
記キャリブレーション工程のキャリブレーションデータ
に基づいて、3つ以上の異なる角度だけ回転させたスリ
ット光平面の方程式を3つ以上求める工程と、前記3つ
以上のスリット光平面の方程式から回転軸の方程式を求
める工程と、前記回転軸の周りに任意角度回転した場合
の任意のスリット光平面の方程式を求める工程とを含む
ことを特徴とする。
According to the first aspect of the present invention,
An image of the object irradiated with the slit light is captured on a camera image plane, and position coordinates of a point on the object corresponding to the reflected light point are obtained from the camera image plane coordinates of the light reflected by the slit light on the image of the object In the slit light projection type three-dimensional coordinate measuring method of calculating the angle using a calculation formula, a camera calibration step of calibrating a camera in advance, and three or more different angles based on the calibration data of the calibration step. A step of obtaining three or more equations of a rotated slit light plane; a step of obtaining an equation of a rotation axis from the equations of the three or more slit light planes; and an arbitrary step of rotating an arbitrary angle around the rotation axis. Obtaining the equation of the slit light plane.

【0006】この方法は、スリット光を任意の軸の回り
に回転する平面として考え、カメラのキャリブレーショ
ンを行った後、そのカメラを用いて異なる2枚以上のキ
ャリブレーションターゲット平面に投射される異なる3
枚以上のスリット光を計測することにより、基準のスリ
ット光平面と、回転軸とを求める。回転軸が求まると、
この回転軸の周りを回転する任意の角度回転したスリッ
ト光平面の方程式を算出する。任意の角度回転したスリ
ット光平面の方程式が決まると、カメラにより撮影され
たスリット光上の任意の点の3次元座標は、スリット光
平面とカメラ視線の直線の3次元空間内での交点として
求められる。
In this method, a slit light is considered as a plane rotating around an arbitrary axis, and after calibrating a camera, different light projected on two or more different calibration target planes using the camera is used. 3
By measuring more than one slit light, a reference slit light plane and a rotation axis are obtained. Once the rotation axis is determined,
The equation of the slit light plane rotated by an arbitrary angle rotating around the rotation axis is calculated. When the equation of the slit light plane rotated by an arbitrary angle is determined, the three-dimensional coordinates of an arbitrary point on the slit light taken by the camera are obtained as the intersection of the straight line between the slit light plane and the line of sight in the three-dimensional space. Can be

【0007】このように、カメラとキャリブレーション
ターゲットを用いてスリット光のキャリブレーションを
行うことにより、スリット光投光器を任意の位置に配置
しても、カメラにより撮影されたスリット光上の任意の
点の3次元座標を容易に求めることができるため、従来
のように、スリット光の回転軸をスリット光平面やカメ
ラの中心と機械的に合わせる必要がなくなる。
As described above, by calibrating the slit light using the camera and the calibration target, even if the slit light projector is arranged at an arbitrary position, any point on the slit light photographed by the camera can be obtained. Since the three-dimensional coordinates can be easily obtained, it is not necessary to mechanically align the rotation axis of the slit light with the slit light plane or the center of the camera as in the related art.

【0008】これにより、精密な治具や部品加工を要さ
ず、各部品の機械加工や組立の精度が低くても、正確な
計測データを得ることができる。また、衝撃などでカメ
ラやスリット光投光器の位置がずれた場合でも、上記の
キャリブレーションさえ行えば、ずれを元に戻さなくて
も、位置ずれ以前と同じ精度で計測できる。
[0008] Thus, accurate measurement data can be obtained even if the precision of machining or assembling of each part is low without requiring precise jigs and parts processing. Further, even when the position of the camera or the slit light projector is shifted due to an impact or the like, the measurement can be performed with the same accuracy as before the position shift without returning to the original position by performing the above calibration.

【0009】請求項2記載の発明は、スリット光で照射
された物体の像をカメラ画像面上に撮像し、前記物体の
画像上のスリット光による反射光点のカメラ画像面座標
から前記反射光点に対応する物体上の点の位置座標を計
算式を用いて算出するスリット光投射方式3次元座標計
測装置において、予めカメラをキャリブレーションする
カメラキャリブレーション手段と、前記キャリブレーシ
ョン手段のキャリブレーションデータに基づいて、3つ
以上の異なる角度だけ回転させたスリット光平面の方程
式を3つ以上求めるスリット光平面算出手段と、前記3
つ以上のスリット光平面の方程式から回転軸の方程式を
求める回転軸算出手段と、前記回転軸の周りに任意角度
回転した場合の任意のスリット光平面の方程式を求める
任意のスリット光平面算出手段とを有することを特徴と
する。これにより、精密な治具や部品加工を要さず、各
部品の機械加工や組立の精度が低くても、正確な計測デ
ータを得ることができる。また、衝撃などでカメラやス
リット光投光器の位置がずれた場合でも、上記のキャリ
ブレーションさえ行えば、ずれを元に戻さなくても、位
置ずれ以前と同じ精度で計測できる。
According to a second aspect of the present invention, an image of the object irradiated with the slit light is captured on a camera image plane, and the reflected light is obtained from the camera image plane coordinates of the light reflected by the slit light on the image of the object. In a slit light projection type three-dimensional coordinate measuring apparatus for calculating a position coordinate of a point on an object corresponding to a point using a calculation formula, camera calibration means for calibrating a camera in advance, and calibration data of the calibration means A slit light plane calculating means for obtaining three or more equations of a slit light plane rotated by three or more different angles based on
A rotation axis calculation means for obtaining an equation of a rotation axis from an equation of one or more slit light planes, and an arbitrary slit light plane calculation means for obtaining an equation of an arbitrary slit light plane when rotated by an arbitrary angle around the rotation axis; It is characterized by having. This eliminates the need for precise jigs and parts processing, and allows accurate measurement data to be obtained even when the machining and assembly precision of each part is low. Further, even when the position of the camera or the slit light projector is shifted due to an impact or the like, the measurement can be performed with the same accuracy as before the position shift without returning to the original position by performing the above calibration.

【0010】請求項3記載の発明は、スリット光で照射
された物体の像をカメラ画像面上に撮像し、前記物体の
画像上のスリット光による反射光点のカメラ画像面座標
から前記反射光点に対応する物体上の点の位置座標を計
算式を用いて算出するスリット光投射方式3次元座標計
測プログラムを記録した記録媒体であって、前記プログ
ラムは、予めカメラをキャリブレーションさせ、キャリ
ブレーションデータに基づいて、3つ以上の異なる角度
だけ回転させたスリット光平面の方程式を3つ以上求め
させ、前記3つ以上のスリット光平面の方程式から回転
軸の方程式を求めさせ、前記回転軸の周りに任意角度回
転した場合の任意のスリット光平面の方程式を求めさせ
ることを特徴とする。これにより、精密な治具や部品加
工を要さず、各部品の機械加工や組立の精度が低くて
も、正確な計測データを得ることができる。また、衝撃
などでカメラやスリット光投光器の位置がずれた場合で
も、上記のキャリブレーションさえ行えば、ずれを元に
戻さなくても、位置ずれ以前と同じ精度で計測できる。
According to a third aspect of the present invention, an image of the object irradiated with the slit light is captured on a camera image plane, and the reflected light is obtained from the camera image plane coordinates of the point of the light reflected by the slit light on the image of the object. A recording medium storing a slit light projection type three-dimensional coordinate measurement program for calculating a position coordinate of a point on an object corresponding to the point using a calculation formula, wherein the program causes the camera to calibrate in advance, Based on the data, three or more equations of the slit light plane rotated by three or more different angles are obtained, and the equation of the rotation axis is obtained from the three or more equations of the slit light plane. It is characterized in that an equation of an arbitrary slit light plane when it is rotated around by an arbitrary angle is obtained. This eliminates the need for precise jigs and parts processing, and allows accurate measurement data to be obtained even when the machining and assembly precision of each part is low. Further, even when the position of the camera or the slit light projector is shifted due to an impact or the like, the measurement can be performed with the same accuracy as before the position shift without returning to the original position by performing the above calibration.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。本実施形態に係るスリット光投射方
式3次元座標計測装置(以下、「3次元座標計測装置」
という。)1は、図1に示すように、3次元視覚センサ
ヘッド機構5と、3次元視覚センサヘッド機構5に接続
された3次元座標計測制御盤14と、X1及びX2の位
置のキャリブレーションターゲット平面3、4とを有し
ており、物体上の点の位置座標を3次元的に計測するよ
うになっている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Slit light projection type three-dimensional coordinate measuring device according to the present embodiment (hereinafter, “three-dimensional coordinate measuring device”)
That. 1) a three-dimensional visual sensor head mechanism 5, a three-dimensional coordinate measurement control panel 14 connected to the three-dimensional visual sensor head mechanism 5, and a calibration target plane of the positions of X1 and X2, as shown in FIG. 3 and 4 to measure the position coordinates of a point on the object three-dimensionally.

【0012】3次元視覚センサヘッド機構5は、帯状の
レーザ光からなるスリット光を水平面に拡散させながら
照射するスリット光投光器7と、スリット光投光器7を
任意の角度に変更させるステッピングモータ9と、X1
及びX2の位置のキャリブレーションターゲット平面
3、4に投影されたスリット光を撮像するカメラ6とを
有している。
The three-dimensional visual sensor head mechanism 5 includes a slit light projector 7 for irradiating a slit light composed of a band-shaped laser light while diffusing it on a horizontal plane, a stepping motor 9 for changing the slit light projector 7 to an arbitrary angle, X1
And a camera 6 for imaging the slit light projected on the calibration target planes 3 and 4 at the position of X2.

【0013】上記のカメラ6は、レンズと撮像部材とを
有しており、撮像部材は、レンズを介してスリット光が
投影される撮像面を有している。この撮像面には、レン
ズ中心を中心として左右対象に画像が投影されるように
なっている。
The above-mentioned camera 6 has a lens and an imaging member, and the imaging member has an imaging surface on which slit light is projected via the lens. On this imaging surface, an image is projected on the left and right objects with the lens center as the center.

【0014】上記の撮像部材は、光量に応じた電荷を発
生させる受光素子部(画素)をx方向及びy方向のマト
リックス状に複数有しており、図1に示すように、3次
元座標計測制御盤14に接続されている。この撮像部材
は、受光素子部の電荷を例えば、ラスタスキャン形式に
より電圧出力として読み出してキャリブレーションター
ゲット座標データ等の座標データとして3次元座標計測
制御盤14に出力するようになっている。
The above-mentioned imaging member has a plurality of light-receiving elements (pixels) for generating electric charges corresponding to the amount of light in a matrix in the x direction and the y direction. As shown in FIG. It is connected to the control panel 14. This imaging member reads out the electric charge of the light receiving element unit as a voltage output in, for example, a raster scan format and outputs it to the three-dimensional coordinate measurement control panel 14 as coordinate data such as calibration target coordinate data.

【0015】図2に示すように、X1及びX2の位置の
キャリブレーションターゲット平面3、4は、スライド
台2の上に、スライド方向と直角に取り付けられてい
る。平面3、4のカメラ6側の表面には、図3に示すよ
うに、カメラ6により撮像されたカメラ画像面上での位
置(座標)を求めるための基準となるマーク17が描か
れており、例えば、このマーク(以下、「キャリブレー
ションターゲット」という。)17が黒丸で描かれてい
れば、3次元座標計測装置1は、カメラ画像の2値化処
理と黒領域の重心計算とによりカメラ画像上での位置
(座標)を容易に得られるようになっている。
As shown in FIG. 2, the calibration target planes 3 and 4 at the positions X1 and X2 are mounted on the slide table 2 at right angles to the slide direction. As shown in FIG. 3, a mark 17 serving as a reference for obtaining a position (coordinate) on the camera image plane captured by the camera 6 is drawn on the surfaces of the planes 3 and 4 on the camera 6 side. For example, if this mark (hereinafter, referred to as “calibration target”) 17 is drawn as a black circle, the three-dimensional coordinate measuring device 1 performs the binarization processing of the camera image and the calculation of the center of gravity of the black area. The position (coordinate) on the image can be easily obtained.

【0016】上記の3次元座標計測制御盤14は、図1
に示すように、撮像部材やスリット光投光器7等に接続
されたI/O部10a、10bと、これらのI/O部1
0a、10bに信号バス15を介して接続された演算部
11、RAM12、ROM13及びモータ駆動部16と
を有している。このROM13には、スリット光平面の
方程式算出ルーチン13aが格納されており、このスリ
ット光平面の方程式算出ルーチン13aは、演算部16
により実行されるようになっている。
The above-described three-dimensional coordinate measurement control panel 14 is shown in FIG.
As shown in FIG. 1, I / O units 10a and 10b connected to an imaging member, a slit light projector 7, and the like, and these I / O units 1
An arithmetic unit 11, a RAM 12, a ROM 13, and a motor driving unit 16 are connected to 0 a and 10 b via a signal bus 15. The ROM 13 stores a slit light plane equation calculation routine 13a. The slit light plane equation calculation routine 13a
Is to be executed.

【0017】上記のRAM12には、カメラキャリブレ
ーションターゲット記憶領域12aと、カメラパラメー
タ記憶領域12bと、座標値記憶領域12cと、スリッ
ト光平面の方程式記憶領域12dと、回転軸の方程式記
憶領域12eと、任意のスリット光平面の方程式記憶領
域12fとが形成されている。上記のカメラキャリブレ
ーションターゲット記憶領域12aには、図4に示すよ
うに、カメラ6のキャリブレーションターゲット17を
ワールド座標系で求めたキャリブレーションターゲット
座標データが格納されるようになっている。また、カメ
ラパラメータ記憶領域12bには、キャリブレーション
ターゲット座標データから算出されたカメラパラメータ
が格納されるようになっている。さらに、座標値記憶領
域12cには、図6に示すように、X1平面3上の直線
上の任意に決定された2点と、X2平面4上の直線上の
任意に決定された1点とからカメラパラメータを用いて
算出された3次元空間内の座標データが格納されるよう
になっている。また、スリット光平面の方程式記憶領域
12dには、座標データから算出されたスリット光平面
の方程式が格納されるようになっている。さらに、回転
軸の方程式記憶領域12eには、スリット光平面の方程
式から算出された回転軸の方程式が格納されるようにな
っている。また、任意のスリット光平面の方程式記憶領
域12fには、回転軸の周りを回転する任意のスリット
光平面の方程式が格納されるようになっている。
The RAM 12 includes a camera calibration target storage area 12a, a camera parameter storage area 12b, a coordinate value storage area 12c, a slit light plane equation storage area 12d, and a rotation axis equation storage area 12e. , An arbitrary slit light plane equation storage area 12f. As shown in FIG. 4, the camera calibration target storage area 12a stores calibration target coordinate data obtained by calculating the calibration target 17 of the camera 6 in the world coordinate system. Further, the camera parameters calculated from the calibration target coordinate data are stored in the camera parameter storage area 12b. Further, in the coordinate value storage area 12c, as shown in FIG. 6, two arbitrarily determined points on a straight line on the X1 plane 3 and one arbitrarily determined point on a straight line on the X2 plane 4 are stored. , Coordinate data in a three-dimensional space calculated using camera parameters. The slit light plane equation storage area 12d stores the slit light plane equation calculated from the coordinate data. Furthermore, the rotation axis equation storage area 12e stores the rotation axis equation calculated from the slit light plane equation. In addition, an equation for an arbitrary slit light plane that rotates around a rotation axis is stored in an arbitrary slit light plane equation storage area 12f.

【0018】本実施形態に係る3次元座標計測装置1
は、図10に示すように、スリット光平面の方程式算出
ルーチン13aにより、任意の角度回転したスリット光
平面の方程式を求めることによって、その平面の方程式
とカメラ6の視線(直線)との交点から、スリット光上
の任意の点の3次元座標を計測するようになっている。
A three-dimensional coordinate measuring device 1 according to the present embodiment
As shown in FIG. 10, the equation of the slit light plane rotated by an arbitrary angle is obtained by the slit light plane equation calculation routine 13 a, and from the intersection of the plane equation and the line of sight (straight line) of the camera 6, The three-dimensional coordinates of an arbitrary point on the slit light are measured.

【0019】上記の構成において、3次元座標計測装置
1の動作を図面に基づいて説明する。図11に示すよう
に、カメラ6のキャリブレーションが行われる(S
1)。即ち、図4に示すように、ピンホールカメラモデ
ルを用いたキャリブレーション手法により、カメラパラ
メータが算出される。カメラ6のキャリブレーションタ
ーゲット(黒丸)17のワールド座標系での位置は、X
座標が原点からのスライド台2の距離で決められ、Y、
Z座標が平面3、4上での基準点(平面3、4での固定
された一点)を原点とした座標として決められる。具体
的には、図4に示すように、平面3がスライド台2上の
位置X1に設定され、平面4が位置X2に設定される。
そして、4つの黒丸が平面3、4上の位置(Y1,Z
1)、(Y2,Z2)、(Y3,Z3)、(Y4,Z
4)に描かれる。
In the above configuration, the operation of the three-dimensional coordinate measuring device 1 will be described with reference to the drawings. As shown in FIG. 11, the camera 6 is calibrated (S
1). That is, as shown in FIG. 4, camera parameters are calculated by a calibration method using a pinhole camera model. The position of the calibration target (black circle) 17 of the camera 6 in the world coordinate system is X
The coordinates are determined by the distance of the slide table 2 from the origin, and Y,
The Z coordinate is determined as a coordinate having a reference point on the planes 3 and 4 (a fixed point on the planes 3 and 4) as an origin. Specifically, as shown in FIG. 4, the plane 3 is set at the position X1 on the slide table 2, and the plane 4 is set at the position X2.
Then, four black circles are positioned on the planes 3 and 4 (Y1, Z
1), (Y2, Z2), (Y3, Z3), (Y4, Z
It is drawn in 4).

【0020】この場合、3次元空間内に8個のキャリブ
レーションターゲット(黒丸)17が配置されたことに
なり、その座標P1〜P8は(X1,Y1,Z1)、
(X1,Y2,Z2)、(X1,Y3,Z3)、(X
1,Y4,Z4)、(X2,Y1,Z1)、(X2,Y
2,Z2)、(X2,Y3,Z3)、(X2,Y4,Z
4)となる。これらのキャリブレーションターゲット
(黒丸)17がカメラ6で撮像され、キャリブレーショ
ンターゲット座標データとしてI/O部10aに出力さ
れる。I/O部10aがキャリブレーションターゲット
座標データを受信すると、3次元座標計測制御盤14に
より画像上の位置Q1〜Q8がそれぞれ求められ、図5
に示すように、Q1〜Q8は、(x1,y1)、(x
2,y2)・・・・・・・・・(x8,y8)となる。
In this case, eight calibration targets (black circles) 17 are arranged in the three-dimensional space, and their coordinates P1 to P8 are (X1, Y1, Z1),
(X1, Y2, Z2), (X1, Y3, Z3), (X
1, Y4, Z4), (X2, Y1, Z1), (X2, Y
2, Z2), (X2, Y3, Z3), (X2, Y4, Z
4). These calibration targets (black circles) 17 are imaged by the camera 6 and output to the I / O unit 10a as calibration target coordinate data. When the I / O unit 10a receives the calibration target coordinate data, the positions Q1 to Q8 on the image are obtained by the three-dimensional coordinate measurement control panel 14, respectively.
, Q1 to Q8 are (x1, y1), (x
2, y2) (x8, y8).

【0021】これらの座標データの8組から、3次元座
標計測制御盤14によってカメラパラメータが算出され
る。このように、カメラパラメータを求めるのは、既知
の平面X1及びX2上にある任意の点の3次元座標を1
台のカメラ6のカメラ画像から求めることができるため
である。即ち、X座標が既知である平面上の任意の点の
ワールド座標系での位置P1〜P8が、カメラ画像から
得られた画像座標系での位置座標Q1〜Q8により計算
できるためである。
The camera parameters are calculated by the three-dimensional coordinate measurement control panel 14 from the eight sets of these coordinate data. As described above, the camera parameters are obtained by calculating the three-dimensional coordinates of arbitrary points on the known planes X1 and X2 by one.
This is because it can be obtained from the camera images of the cameras 6. That is, the positions P1 to P8 in the world coordinate system of an arbitrary point on a plane whose X coordinate is known can be calculated by the position coordinates Q1 to Q8 in the image coordinate system obtained from the camera image.

【0022】尚、上記の平面3、4においてワールド座
標系のどの位置にキャリブレーションターゲット(黒
丸)17があるかを、予め測定しておく。本実施形態に
係る3次元座標計測装置1では、例として8点を使う場
合を説明したが、ピンホールカメラのパラメータは11
個なので、同一平面上にない6点以上が3次元空間内に
独立して存在すれば良い。一般的に、キャリブレーショ
ンターゲット17の数が多ければ、カメラパラメータを
求める際に、最小自乗法を用いることにより、3次元空
間内の座標データの精度を上げることができる。
Note that the position of the calibration target (black circle) 17 in the world coordinate system on the planes 3 and 4 is measured in advance. In the three-dimensional coordinate measuring apparatus 1 according to the present embodiment, a case where eight points are used as an example has been described.
Therefore, it is sufficient that six or more points that are not on the same plane exist independently in the three-dimensional space. In general, when the number of calibration targets 17 is large, the accuracy of coordinate data in a three-dimensional space can be improved by using the least squares method when obtaining camera parameters.

【0023】次に、図11に示すように、軸の回りに回
転するスリット光の基準となる1枚の基準スリット光平
面P0 の方程式(角度θ= θ0 )が以下の手順で算出さ
れる(S2)。図6に示すように、スリット光投光器7
の角度を固定し、それを基準の角度θ0 とする。キャリ
ブレーションターゲット平面3がX1の位置に置かれる
と、スリット光投光器7からスリット光が照射されるよ
うに、出力信号がI/O部10aを介してスリット光投
光器7に出力される。キャリブレーションターゲット平
面3に照射されたスリット光がカメラで撮像されると、
このスリット光は画像平面上で直線となる。この直線
(以下、「スリット光直線」という。)は、X1平面3
とスリット光平面P0 の交線である。次に、図6及び図
7(b)に示すように、スリット光直線上の任意の点を
2点決めてQa(ya,xa)、Qb(yb,xb)と
する。そして、スリット光画像の画像平面上の座標値Q
a、Qbと、カメラパラメータと、キャリブレーション
ターゲット平面3の式とを用いて3次元空間内の座標デ
ータ(Xa,Ya,Za)、(Xb,Yb,Zb)が計
算され、座標値記憶領域12cに格納される。尚、X
a,XbはX1と等しい。
Next, as shown in FIG. 11, an equation (angle θ = θ 0 ) of one reference slit light plane P 0 which is a reference of the slit light rotating around the axis is calculated by the following procedure. (S2). As shown in FIG. 6, the slit light projector 7
Is fixed, and is set as a reference angle θ 0 . When the calibration target plane 3 is placed at the position X1, an output signal is output to the slit light projector 7 via the I / O unit 10a so that the slit light projector 7 emits slit light. When the slit light applied to the calibration target plane 3 is captured by the camera,
This slit light becomes a straight line on the image plane. This straight line (hereinafter, referred to as a “slit light straight line”) is an X1 plane 3
That the line of intersection of the slit light plane P 0. Next, as shown in FIGS. 6 and 7 (b), two arbitrary points on the slit light straight line are determined to be Qa (ya, xa) and Qb (yb, xb). Then, the coordinate value Q on the image plane of the slit light image
The coordinate data (Xa, Ya, Za) and (Xb, Yb, Zb) in the three-dimensional space are calculated using a, Qb, camera parameters, and the equation of the calibration target plane 3, and the coordinate value storage area 12c. Note that X
a and Xb are equal to X1.

【0024】次に、図7に示すように、キャリブレーシ
ョンターゲット平面4がX2の位置に置かれ、X1の位
置のキャリブレーションターゲット平面3と同様に画像
のスリット光直線上の任意の1点を決めQc(yc,x
c)とし、その3次元空間内の座標データ(Xc,Y
c,Zc)が計算される。これで、基準スリット光平面
0 内の3点の3次元空間内の座標データ(Xa,Y
a,Za)、(Xb,Yb,Zb)(Xc,Yc,Z
c)が求められる。これらの3点から、3次元空間内の
基準スリット光平面P0 の方程式を求め、平面の方程式
記憶領域12dに格納される。
Next, as shown in FIG. 7, the calibration target plane 4 is placed at the position of X2, and an arbitrary point on the slit light straight line of the image is set in the same manner as the calibration target plane 3 at the position of X1. Decision Qc (yc, x
c), and the coordinate data (Xc, Y
c, Zc) is calculated. This coordinate data of a three-dimensional space of three points of the reference slit light plane P 0 (Xa, Y
a, Za), (Xb, Yb, Zb) (Xc, Yc, Z
c) is required. These three points, determine the equation of the reference slit light plane P 0 in the three-dimensional space, it is stored in the equation storage area 12d of the plane.

【0025】尚、Qa,Qb,Qcの3点から基準スリ
ット光平面P0 の方程式を求める方法を説明したが、ス
リット光直線上で任意に決めた点を増やしたり、キャリ
ブレーションターゲット17の位置を増やすことで、ス
リット光平面内の点を3点以上に増やしてもよい。この
場合は、平面の方程式は最小自乗的に求められるので、
測定誤差を減少させることができる。
Although the method of obtaining the equation of the reference slit light plane P 0 from the three points Qa, Qb and Qc has been described, the number of points arbitrarily determined on the slit light straight line may be increased or the position of the calibration target 17 may be increased. May be increased to increase the number of points in the slit light plane to three or more. In this case, the equation of the plane is obtained by the least square, so
Measurement errors can be reduced.

【0026】上記の基準スリット光平面P0 は、任意の
角度だけ回転するスリット光平面P i の回転量θi の基
準となるスリット光平面であって、例えば、この基準ス
リット光平面P0 を角度θ=θ0 の平面とすると、θ=
θ1 だけ回転したスリット光平面の回転角度はθ0 −θ
1 と表せる。尚、基準スリット光平面P0 は、特に具体
的に角度を設定する必要はなく、ある任意の角度に設定
すれば良いが、キャリブレーション時と測定時で異なる
ものであってはならない。
The above-mentioned reference slit light plane P0Is any
Slit light plane P that rotates by an angle iOf rotation θiBase
The reference slit light plane, for example,
Litt light plane P0Is the angle θ = θ0When the plane is
θ1The rotation angle of the slit light plane rotated by θ is θ0−θ
1Can be expressed as The reference slit light plane P0Is particularly specific
It is not necessary to set the angle, it can be set to any angle
Should be done, but it differs between calibration and measurement
It must not be.

【0027】次に、図11に示すように、スリット光投
光器7の角度をある角度θ1 だけずらしたスリット光平
面P1 の方程式が以下の手順で算出される(S3)。基
準スリット光平面P0 からスリット光投光器7を角度θ
1 だけ回転させるように、モータ駆動部16を介して駆
動信号がステッピングモータ9に出力される。駆動信号
を受信すると、ステッピングモータ9は、スリット光投
光器7を角度θ1 だけ回転させる。そして、スリット光
平面P1 の方程式(角度θ=θ1 )は、基準スリット光
平面P0 の方程式の場合と同様に、スリット光が、x方
向に位置の異なる2枚のX1及びX2のキャリブレーシ
ョンターゲット平面3、4に投射され、カメラ6で撮像
されたカメラ画像から算出された後、平面の方程式記憶
領域12dに格納される。
Next, as shown in FIG. 11, the equation of the slit light plane P 1 in which the angle of the slit light projector 7 is shifted by a certain angle θ 1 is calculated by the following procedure (S 3). From the reference slit light plane P 0 , the slit light
A drive signal is output to the stepping motor 9 via the motor drive unit 16 so as to rotate by one . Upon receiving the drive signal, the stepping motor 9 rotates the slit light projector 7 by the angle θ 1 . The equation (angle θ = θ 1 ) of the slit light plane P 1 is the same as the equation of the reference slit light plane P 0 , and the slit light is used to calibrate two X1 and X2 having different positions in the x direction. After being projected from the camera target planes 3 and 4 and calculated from the camera images captured by the camera 6, they are stored in the plane equation storage area 12 d.

【0028】次に、スリット光投光器7の角度をある角
度θ2 だけずらしたスリット光平面P2 の方程式が以下
の手順で算出される(S4)。基準スリット光平面P0
からスリット光投光器7を角度θ2 だけ回転させるよう
に、モータ駆動部16を介して駆動信号がステッピング
モータ9に出力される。駆動信号を受信すると、ステッ
ピングモータ9は、スリット光投光器7を角度θ2 だけ
回転させる。そして、スリット光平面P2 の方程式(角
度θ=θ2 )は、基準スリット光平面P0 の方程式の場
合と同様に、スリット光が、x方向に位置の異なる2枚
X1及びX2のキャリブレーションターゲット平面3、
4に投射され、カメラ6で撮像された画像から算出され
た後、平面の方程式記憶領域に格納される。尚、これら
の角度θ 1 、θ2 は、基準のスリット光平面P0 から0
でない2つの角度だけ回転させれば良い。また、その絶
対値は、回転軸を求める際の計算には不要である。但
し、角度θ1 、θ2 があまりに小さいと、回転軸を求め
る精度が悪くなる。
Next, the angle of the slit light projector 7 is set to a certain angle.
Degree θTwoSlit light plane P shiftedTwoThe equation is
(S4). Reference slit light plane P0
The slit light projector 7 from the angle θTwoJust rotate
The drive signal is stepped through the motor drive unit 16
Output to the motor 9. When the drive signal is received, the step
The ping motor 9 sets the slit light projector 7 to the angle θ.TwoOnly
Rotate. And the slit light plane PTwoEquation (angle
Degree θ = θTwo) Is the reference slit light plane P0Field of equations
As in the case, two slit light beams with different positions in the x direction
X1 and X2 calibration target plane 3,
4 and calculated from the image captured by the camera 6.
After that, it is stored in the equation storage area of the plane. In addition, these
Angle θ 1, ΘTwoIs the reference slit light plane P0From 0
It is sufficient to rotate only two angles. Also, its absolute
The logarithmic value is not necessary for calculation when determining the rotation axis. However
And the angle θ1, ΘTwoIs too small, find the axis of rotation
Accuracy becomes worse.

【0029】3枚のスリット光平面P0 、P1 、P2
方程式が得られたならば、以下の手順でこれらの3枚の
スリット光平面P0 、P1 、P2 から任意の2枚のスリ
ット光平面、例えば、図8、図9に示すように、スリッ
ト光平面P0 とスリット光平面P1 の二等分面P01が算
出される(S5)。二等分面P01が算出されると、別の
2枚の平面、例えば、スリット光平面P1 とスリット光
平面P2 の二等分面P 12が算出される(S6)。二等分
面P01、P12が算出されると、二等分面P01と二等分面
12の交線(回転軸)18の方程式が算出され、回転軸
の方程式記憶領域12eに格納される(S7)。
The three slit light planes P0, P1, PTwoof
Once the equations have been obtained, these three
Slit light plane P0, P1, PTwoAny two pickpockets from
The slit light plane, for example, as shown in FIGS.
G light plane P0And slit light plane P1Bisecting plane P of01Is calculated
It is issued (S5). Bisection plane P01Is calculated, another
Two planes, for example, slit light plane P1And slit light
Plane PTwoBisecting plane P of 12Is calculated (S6). Bisecting
Plane P01, P12Is calculated, the bisecting plane P01And bisecting plane
P12The equation of the intersection (rotation axis) 18 of
Is stored in the equation storage area 12e (S7).

【0030】尚、スリット光平面の組み合わせと二等分
面の組み合わせとにより、複数の回転軸18が得られる
が、実際の回転軸18に最も近い回転軸18が選ばれ
る。また、回転軸18上の点は常にどのスリット光平面
との距離も一定であるため、直接、回転軸の方程式を求
める方法もある。この場合、ずらす角度の回数を増や
し、スリット光平面を増やすと、最小自乗法により、回
転軸の方程式を精度良く求めることができる。
A plurality of rotation axes 18 can be obtained by a combination of the slit light plane and a combination of the bisectors, and the rotation axis 18 closest to the actual rotation axis 18 is selected. Further, since a point on the rotation axis 18 always has a constant distance from any slit light plane, there is also a method of directly obtaining the equation of the rotation axis. In this case, if the number of shift angles is increased and the slit light plane is increased, the equation of the rotation axis can be obtained with high accuracy by the least square method.

【0031】回転軸18が求まると、その回転軸18の
周りを任意の角度回転したスリット光平面Pi の方程式
が算出される(S8)。任意の角度回転したスリット光
平面Pi の方程式の計算方法は、基準スリット光平面P
0 を回転軸に対してθ回転させて角度θxになった場合
(θ0 −θx=θ)、以下の通りである。まず、回転軸
18とスリット光平面とを回転軸18が原点を通るよう
に平行移動させる。その後、回転軸18に対してスリッ
ト光平面をθ回転させる。最後に回転軸18が元の点を
通るように回転軸18とスリット光平面とを平行移動さ
せる。この計算により任意の角度回転したスリット光平
面Pi の方程式が求められる。尚、ここでの回転量θi
はその絶対値が得られるものとする。回転角度の検出
は、例えば、回転軸に取り付けられたステッピングモー
タのステップ数や、エンコーダのパルス数などで行われ
る。
[0031] When the rotating shaft 18 is determined, that equation of the slit light plane P i rotated any angle about an axis of rotation 18 is calculated (S8). The method of calculating the equation of the slit light plane P i rotated by an arbitrary angle is based on the reference slit light plane P
When 0 is rotated by θ with respect to the rotation axis and the angle becomes θx (θ 0 −θx = θ), the following is performed. First, the rotation axis 18 and the slit light plane are translated so that the rotation axis 18 passes through the origin. After that, the slit light plane is rotated by θ with respect to the rotation axis 18. Finally, the rotation axis 18 and the slit light plane are translated so that the rotation axis 18 passes through the original point. The equation of the slit light plane P i rotated an arbitrary angle is determined by calculation. Here, the rotation amount θ i
Shall obtain its absolute value. The detection of the rotation angle is performed based on, for example, the number of steps of a stepping motor attached to the rotation shaft, the number of pulses of an encoder, and the like.

【0032】以上のようにスリット光平面のキャリブレ
ーションを行うことによって、任意の角度回転したスリ
ット光平面Pi の方程式が算出できるため、カメラ6に
より撮像されたスリット光平面上の任意の点の3次元空
間の座標データは、任意のスリット光平面Pi とカメラ
の視線の直線20との3次元空間内での交点19として
求められる。
[0032] By calibrating the slit light plane as described above, since the equation of the slit light plane P i rotated any angle can be calculated, for any point on the imaged slit light plane by the camera 6 coordinate data of a three-dimensional space is obtained as the intersection 19 in a 3-dimensional space with any of the slit light plane P i and the straight line 20 of the camera's line of sight.

【0033】尚、本実施形態においては、スリット光平
面の方程式算出ルーチン13aを演算部11に実行させ
るプログラムが予めROM13に格納されているが、こ
れに限定されることなく、磁気テープや磁気ディスク、
光ディスク等の記録媒体に記録されていても良い。
In the present embodiment, a program for causing the arithmetic unit 11 to execute the slit light plane equation calculation routine 13a is stored in the ROM 13 in advance. However, the present invention is not limited to this. ,
It may be recorded on a recording medium such as an optical disk.

【0034】即ち、これらの記録媒体を用いることによ
って、上記のプログラムを実行させるようになっていて
も良い。そして、この場合、カメラ6やスリット光投光
器7が3次元座標計測制御盤14に代えてパーソナルコ
ンピュータ等の情報処理装置に接続可能にされていれ
ば、記録媒体から上記のプログラムを読み取ることによ
って、パーソナルコンピュータ等の情報処理装置にスリ
ット光平面の方程式算出ルーチン13aを実行させるこ
とができるため、カメラ6やスリット光投光器7のキャ
リブレーションを行うことができる。
That is, the above-described program may be executed by using these recording media. In this case, if the camera 6 and the slit light projector 7 can be connected to an information processing device such as a personal computer instead of the three-dimensional coordinate measurement control panel 14, by reading the above program from a recording medium, Since the information processing apparatus such as a personal computer can execute the slit light plane equation calculation routine 13a, the camera 6 and the slit light projector 7 can be calibrated.

【0035】請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の
発明は、カメラとキャリブレーションターゲットを用い
てスリット光のキャリブレーションを行うことにより、
精密な治具や部品加工を要さず、各部品の機械加工や組
立の精度が低くても、正確な計測データを得られるとい
う効果を奏する。また、衝撃などでカメラやスリット光
投光器の位置がずれた場合でも、上記のキャリブレーシ
ョンさえ行えば、ずれを元に戻さなくても、位置ずれ以
前と同じ精度で計測できるという効果を奏する。
The invention according to any one of claims 1 to 3 performs the calibration of slit light using a camera and a calibration target,
This eliminates the need for precise jigs and parts processing, and provides an effect that accurate measurement data can be obtained even when the machining and assembly precision of each part is low. Further, even when the position of the camera or the slit light projector is shifted due to an impact or the like, it is possible to perform the measurement with the same accuracy as before the position shift without returning to the original position by performing the above calibration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】3次元座標計測制御盤を説明するブロック図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a three-dimensional coordinate measurement control panel.

【図2】3次元計測装置を側面視した図である。FIG. 2 is a side view of the three-dimensional measuring device.

【図3】3次元計測装置を正面視した図である。FIG. 3 is a front view of the three-dimensional measuring device.

【図4】カメラのキャリブレーションを説明する図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating camera calibration.

【図5】X1、X2の位置のターゲット画像を説明する
図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating target images at positions X1 and X2.

【図6】スリット光平面を求める方法を説明する図であ
る。
FIG. 6 is a diagram illustrating a method for obtaining a slit light plane.

【図7】スリット光画像を説明する図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a slit light image.

【図8】回転軸を求める方法を説明する図である。FIG. 8 is a diagram for explaining a method of obtaining a rotation axis.

【図9】図8の円内における拡大図である。FIG. 9 is an enlarged view in a circle of FIG. 8;

【図10】スリット光平面とカメラ視線を説明する図で
ある。
FIG. 10 is a diagram illustrating a slit light plane and a line of sight of a camera.

【図11】任意の角度回転したスリット光平面の方程式
を求めるフローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart for obtaining an equation of a slit light plane rotated by an arbitrary angle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 3次元座標計測装置 2 スライド台 3 X1のキャリブレーションターゲット平面 4 X2のキャリブレーションターゲット平面 5 3次元視覚センサヘッド機構 6 カメラ 7 スリット光投光器 8 スリット光 9 ステッピングモータ 10 I/O部 11 演算部 12 RAM 13 ROM 14 3次元座標計測制御盤 15 信号バス 16 モータ駆動部 17 キャリブレーションターゲット 18 回転軸 19 交点 20 カメラ視線の直線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 3D coordinate measuring device 2 Slide base 3 X1 calibration target plane 4 X2 calibration target plane 5 3D visual sensor head mechanism 6 Camera 7 Slit light projector 8 Slit light 9 Stepping motor 10 I / O section 11 Operation section 12 RAM 13 ROM 14 Three-dimensional coordinate measurement control board 15 Signal bus 16 Motor driver 17 Calibration target 18 Rotation axis 19 Intersection 20 Straight line of camera line of sight

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 スリット光で照射された物体の像をカメ
ラ画像面上に撮像し、前記物体の画像上のスリット光に
よる反射光点のカメラ画像面座標から前記反射光点に対
応する物体上の点の位置座標を計算式を用いて算出する
スリット光投射方式3次元座標計測方法において、 予めカメラをキャリブレーションするカメラキャリブレ
ーション工程と、 前記キャリブレーション工程のキャリブレーションデー
タに基づいて、3つ以上の異なる角度だけ回転させたス
リット光平面の方程式を3つ以上求める工程と、 前記3つ以上のスリット光平面の方程式から回転軸の方
程式を求める工程と、 前記回転軸の周りに任意角度回転した場合の任意のスリ
ット光平面の方程式を求める工程とを含むことを特徴と
するスリット光投射方式3次元座標計測方法。
1. An image of an object irradiated with slit light is captured on a camera image plane, and an object corresponding to the reflected light point is determined from camera image plane coordinates of a light point reflected by the slit light on the image of the object. In the slit light projection type three-dimensional coordinate measuring method of calculating the position coordinates of the point by using a calculation formula, a camera calibration step of calibrating the camera in advance, and three points based on the calibration data of the calibration step A step of obtaining three or more equations of the slit light plane rotated by the above different angles; a step of obtaining an equation of the rotation axis from the equations of the three or more slit light planes; and rotation of an arbitrary angle about the rotation axis. Obtaining an equation of an arbitrary slit light plane in the case of performing the slit light projection method three-dimensional coordinate measurement method. .
【請求項2】 スリット光で照射された物体の像をカメ
ラ画像面上に撮像し、前記物体の画像上のスリット光に
よる反射光点のカメラ画像面座標から前記反射光点に対
応する物体上の点の位置座標を計算式を用いて算出する
スリット光投射方式3次元座標計測装置において、 予めカメラをキャリブレーションするカメラキャリブレ
ーション手段と、 前記キャリブレーション手段のキャリブレーションデー
タに基づいて、3つ以上の異なる角度だけ回転させたス
リット光平面の方程式を3つ以上求めるスリット光平面
算出手段と、 前記3つ以上のスリット光平面の方程式から回転軸の方
程式を求める回転軸算出手段と、 前記回転軸の周りに任意角度回転した場合の任意のスリ
ット光平面の方程式を求める任意のスリット光平面算出
手段とを有することを特徴とするスリット光投射方式3
次元座標計測装置。
2. An image of an object irradiated with slit light is captured on a camera image plane, and an object corresponding to the reflected light point is determined from camera image plane coordinates of the light reflected by the slit light on the image of the object. In a slit light projection type three-dimensional coordinate measuring apparatus that calculates the position coordinates of a point using a calculation formula, camera calibration means for calibrating a camera in advance, and three points based on calibration data of the calibration means A slit light plane calculating means for obtaining three or more equations of the slit light plane rotated by the above different angles; a rotation axis calculating means for obtaining a rotation axis equation from the three or more slit light plane equations; Arbitrary slit light plane calculation means for obtaining an equation of an arbitrary slit light plane when rotated by an arbitrary angle around the axis. Slit light projection method 3, wherein Rukoto
Dimensional coordinate measuring device.
【請求項3】 スリット光で照射された物体の像をカメ
ラ画像面上に撮像し、前記物体の画像上のスリット光に
よる反射光点のカメラ画像面座標から前記反射光点に対
応する物体上の点の位置座標を計算式を用いて算出する
スリット光投射方式3次元座標計測プログラムを記録し
た記録媒体であって、 前記プログラムは、予めカメラをキャリブレーションさ
せ、 キャリブレーションデータに基づいて、3つ以上の異な
る角度だけ回転させたスリット光平面の方程式を3つ以
上求めさせ、 前記3つ以上のスリット光平面の方程式から回転軸の方
程式を求めさせ、 前記回転軸の周りに任意角度回転した場合の任意のスリ
ット光平面の方程式を求めさせることを特徴とするスリ
ット光投射方式3次元座標計測プログラムを記録した記
録媒体。
3. An image of an object irradiated with the slit light is captured on a camera image plane, and an object corresponding to the reflected light point is obtained from the camera image plane coordinates of the light point reflected by the slit light on the image of the object. A slit light projection type three-dimensional coordinate measurement program for calculating a position coordinate of a point using a calculation formula, the program causing the camera to calibrate in advance, and based on the calibration data, Three or more equations of the slit light plane rotated by at least two different angles are obtained, and an equation of the rotation axis is obtained from the three or more equations of the slit light plane. A recording medium in which a slit light projection type three-dimensional coordinate measurement program is recorded, wherein an equation of an arbitrary slit light plane in the case is obtained.
JP10337255A 1998-11-27 1998-11-27 Method and instrument for measuring three-dimensional coordinates for slit light projection type three- dimensional visual sensor and recording medium with three-dimensional coordinate measuring program recorded therein Pending JP2000161935A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7274469B2 (en) * 2002-08-22 2007-09-25 Industrial Technology Research Institute Method and apparatus for calibrating laser 3D digitizing sensor
JP2008224370A (en) * 2007-03-12 2008-09-25 Mitsubishi Electric Corp Calibration method for three-dimensional shape measuring instrument, and three-dimensional shape measuring method
KR101359642B1 (en) 2012-01-10 2014-02-07 삼성중공업 주식회사 Calibration device and method for calibrating Laser vision system

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