JP2000151198A - 外観検査装置 - Google Patents

外観検査装置

Info

Publication number
JP2000151198A
JP2000151198A JP10325523A JP32552398A JP2000151198A JP 2000151198 A JP2000151198 A JP 2000151198A JP 10325523 A JP10325523 A JP 10325523A JP 32552398 A JP32552398 A JP 32552398A JP 2000151198 A JP2000151198 A JP 2000151198A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
divided
value
determined
pixel
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10325523A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3363103B2 (ja
Inventor
Shoichi Onda
昌一 恩田
Katsuya Tagami
克也 田上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Victor Company of Japan Ltd filed Critical Victor Company of Japan Ltd
Priority to JP32552398A priority Critical patent/JP3363103B2/ja
Publication of JP2000151198A publication Critical patent/JP2000151198A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3363103B2 publication Critical patent/JP3363103B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 部品のばらつきを吸収し、少ない誤判定で被
検体の外観検査を適確に行い得る外観検査装置を提供す
る。 【解決手段】 被検体1を複数の検査枠51に分割し、
各検査枠51を更に複数の分割格子53に分割し、各分
割格子53を構成する複数の画素55の各々のRGB値
から輝度値、色相値、彩度値を算出し、この輝度値、色
相値、彩度値をそれぞれ基準値と比較して各画素の良否
を判定し、各分割格子を構成する複数の画素の良否に基
づき各分割格子を良否判定し、合格分割格子の検査枠5
1内における比率に基づき各検査枠51の良否を判定す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばプリント基
板上に実装された実装部品等の被検体を撮像し、この撮
像した画像情報に基づいて被検体が正常に構成されてい
るか否か等を含む被検体の外観を検査する外観検査装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の従来の外観検査装置は、被検体
を人間の目で直接観察して被検体が正常に構成されてい
るか否かを判定する目視検査に頼っていたが、目視検査
は作業環境、作業効率等の点から多くの問題があり、被
検体の外観検査を完全に行うことができないため、微細
な不良部分を含み、不良品と判定されなければならない
ものにも関わらず、良品として市場に流出し、結果とし
て修理や返品等の問題を起こしている。
【0003】このような問題を解決するために、目視検
査によらずに、自動的に外観検査を行う装置が開発され
ているが、従来の外観検査装置は例えばプリント基板上
で実装部品を半田付けしている半田部である一対または
複数対のランドにプローブピンを接触させ、その間のイ
ンピーダンスを測定したり、またはその間の導通状態を
検出し、このインピーダンスの有無や導通状態により部
品の実装状態、定数、半田付け状態等を検査している。
【0004】また、従来の外観検査装置として、プリン
ト基板上に実装された回路部品等の被検体をテレビカメ
ラ等からなる撮像装置で撮像し、この撮像した被検体の
画像情報に対して2値化等により画像処理を施し、この
画像処理された情報に基づいて被検体の外観を検査する
ものも開発されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の外観検
査装置のうち、プローブピンをプリント基板のランドに
接触させて被検体の外観を検査する従来の外観検査装置
では、近年電子機器の小型化、軽量化による内部構成部
品の小型化によりプリント基板に搭載される部品も小型
化され、高密度化されているため、プローブピンを接触
させるスペースが無かったり、またはプリント基板の厚
さが例えば0.4mmのように薄くなっているため、プ
ローブピンでプリント基板に穴があいたり、貫通したり
して、プローブピンを接触させる検査が困難になってい
る。
【0006】また、画像処理を用いて被検体の外観を検
査する従来の外観検査装置では、2値化による画像処理
であるため、被検体の微妙な色の識別が困難であり、被
検体の合否を決めるしきい値の設定作業が一定せず、誤
判定が多いという問題がある。
【0007】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、部品のばらつきを吸収し、少
ない誤判定で被検体の外観検査を適確に行い得る外観検
査装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の本発明は、被検体を撮像手段にて撮
像し、この撮像した画像情報に基づいて被検体の外観を
検査する外観検査装置であって、前記撮像手段による被
検体の撮像領域の所定の検査領域を複数の分割格子に分
割する分割手段と、前記分割格子の各々を構成する複数
の画素の各画素についてそのR,G,B値から各画素の
輝度値、色相値、彩度値を算出する算出手段と、この算
出した各画素の輝度値、色相値、彩度値をそれぞれ基準
輝度値、基準色相値、基準彩度値と比較し、各画素毎の
良否を判定する画素判定手段と、複数の分割格子の各々
を構成する複数の画素のそれぞれについて前記画素判定
手段で判定された該複数の画素の良否に基づき該複数の
画素で構成される各分割格子を合格、準合格または不合
格と判定する分割格子判定手段と、該分割格子判定手段
で準合格と判定された分割格子のうち、所定の容認比率
で決定される数の準合格分割格子を合格分割格子に繰り
上げる繰上げ手段と、前記分割格子判定手段で合格と判
定された合格分割格子の数および前記繰上げ手段で合格
分割格子に繰り上げられた合格分割格子の数の和の検査
領域内における全分割格子に対する比率に基づき各検査
領域内の被検体部分の外観の良否を判定する検査領域内
外観判定手段とを有することを要旨とする。
【0009】請求項1記載の本発明にあっては、各分割
格子を構成する複数の画素の各々についてそのR,G,
B値から輝度値、色相値、彩度値を算出し、この各画素
の輝度値、色相値、彩度値をそれぞれ基準輝度値、基準
色相値、基準彩度値と比較し、各画素毎の良否を判定
し、各分割格子を構成する複数の画素のそれぞれについ
て前記各画素の良否に基づき各分割格子を合格、準合格
または不合格と判定し、準合格と判定された分割格子を
所定の容認比率だけ合格分割格子に繰り上げ、合格分割
格子の検査領域内における全分割格子に対する比率に基
づき各検査領域内の被検体部分の外観の良否を判定する
ため、被検体に無接触で外観検査を行うことができ、労
力を大幅に低減でき、効率化を図ることができるととも
に、また画素、分割格子、検査領域の段階と3段階の判
定により誤判定を大幅に低減することができる。また、
検査領域内の被検体部分の内容に応じて検査領域毎に判
定基準を可変できるように構成することができるため、
種々の被検体に対応して適切な外観検査を行うことがで
きる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態について説明する。図1は、本発明の一実施形態
に係る外観検査装置の構成を示すブロック図である。同
図に示す外観検査装置は、例えばプリント基板上に実装
されたIC,LSI等の実装部品等からなる被検体1を
照明するRGB3原色LEDからなるLED照明手段3
およびこのLED照明手段3で照明された被検体1を撮
像する撮像手段であるカラーカメラ5を有する。
【0011】カメラ5で撮像された被検体1の画像情報
は、ビデオキャプチャ部7に供給され、該ビデオキャプ
チャ部7で画像情報を構成している各画素のRGB信号
に分割されてCPU9内の色処理部91に入力される。
色処理部91は、これらのRGB信号を演算部93に供
給し、演算部93は、これらのRGB信号から各画素毎
の輝度値、色相値、彩度値を算出する。この演算部93
で算出された各画素毎の輝度値、色相値、彩度値は、比
較部95に供給され、それぞれ基準輝度値、基準色相
値、基準彩度値と比較され、この比較結果は判定部97
に供給される。判定部97は、該比較結果に基づいて被
検体の外観の良否を判定し、この判定結果を表示部11
に出力して表示する。
【0012】図2は、図1に示す外観検査装置の構成を
更に詳しく示した詳細構成図である。図2に示すよう
に、被検体1は、被検体搭載部13上に搭載されるとと
もに、該被検体搭載部13の下側に取り付けられたY軸
駆動部15およびY軸モータ17によってY軸方向に移
動し得るように構成され、これにより被検体1のY軸方
向の任意の部分をカメラ5で撮像し得るようになってい
る。
【0013】また、カメラ5は、X軸駆動部19に取り
付けられ、該X軸駆動部19はX軸モータ21によって
駆動されるように構成されている。この結果、カメラ5
はX軸方向の任意の位置に移動することができ、これに
より被検体1のX軸方向の任意の部分を撮像し得るよう
になっている。このように被検体1をY軸駆動部15お
よびY軸モータ17によりY軸方向の任意の位置に移動
し、またカメラ5をX軸駆動部19およびX軸モータ2
1によりX軸方向の任意の位置に移動するように構成す
ることにより、カメラ5は被検体1の任意の部分を撮像
し得るように構成されている。更に、被検体1を照明す
るLED照明手段3は照明電源33から電力を供給さ
れ、カメラ5はカメラ電源23から電力を供給されるよ
うになっている。なお、カメラ5およびLED照明手段
3は撮像部43を構成している。
【0014】図1で説明したビデオキャプチャ部7、C
PU9、表示部11は、図2では処理部25内に設けら
れている。この処理部25は、これらの構成要素に加え
て、前記X軸モータ21およびY軸モータ17をそれぞ
れ駆動するX軸ドライバ27およびY軸ドライバ29を
制御するXY軸制御部31、前記照明電源33を制御す
る入出力部35、カメラ5で撮像した被検体1の画像情
報等を登録するメモリ37、基準情報、指令を含む各種
情報を入力するキーボード39およびマウス41を有し
ている。
【0015】以上のように構成される本実施形態の外観
検査装置は、カメラ5で撮像した被検体1の画像情報を
構成している各入力画素毎のR値、G値、B値から下記
に示す式を用いて、各入力画素毎の輝度値、色相値、彩
度値をCPU9内の演算部93で算出する。
【0016】
【数1】 輝度値 Y=0.3R+0.59G+0.11B 色差信号1 C1=0.7R−0.59G−0.11B 色差信号2 C2=−0.3R−0.59G+0.89B そして、このように求めた色差信号C1,C2から次式
により彩度値Sおよび色相値Hを算出する。
【0017】C1=彩度値S×sin (色相値H) C2=彩度値S×cos (色相値H) 上述した計算により各入力画素毎の輝度値、色相値、彩
度値を算出すると、この算出した各入力画素毎の輝度
値、色相値、彩度値をそれぞれ基準輝度値、基準色相
値、基準彩度値と比較部95で比較し、次式で示すよう
に輝度値、色相値、彩度値のそれぞれの値がそれぞれの
基準値に対して所定の許容差以内にあるか否かについて
の良否を判定部97で判定する。
【0018】
【数2】(基準輝度値−許容差)≦入力画素の輝度値≦
(基準輝度値+許容差) (基準色相値−許容差)≦入力画素の色相値≦(基準色
相値+許容差) (基準彩度値−許容差)≦入力画素の彩度値≦(基準彩
度値+許容差) そして、この判定結果により、入力画素の輝度値、色相
値、彩度値のすべてがそれぞれの基準値に対して所定の
許容差以内にある場合には、その画素は基準画素に一致
している一致優良画素と判定され、そうでない場合、す
なわち輝度、色相、彩度の各値がそれぞれの基準値に対
して所定の許容差以内にない場合には、一致していない
不一致画素と判定される。
【0019】上述した各画素についての良否判定は、被
検体1を複数の検査領域である検査枠に分割し、この複
数の検査枠の各々を更に分割して構成される複数の分割
格子の各々について行われる。この分割処理について
は、図3を参照して更に詳細に説明する。
【0020】図3(a)に示すように、被検体1は、カ
メラ5によって撮像される領域500の内の所望の検査
枠51毎に検査される。なお、この検査枠は、必ずしも
同じ大きさである必要はなく、被検体毎に検査位置に応
じて大きさが可変されてもよいものである。
【0021】各検査枠51は、更に図3(a)の中程に
示すように、複数の分割格子53に分割され、この複数
の分割格子53の各々は更に複数の画素55に分割され
ている。
【0022】上述した各画素についての良否判定は、こ
のように分割された複数の分割格子53の各々を構成し
ている複数の画素について行われる。図3の例では、各
分割格子53は、4×4の16画素から構成されている
が、この16画素の各々について上述した良否判定を行
う。図3(b)は、このような良否判定を16画素の各
々について行った結果を示しているものであり、同図に
おいて「○」印は良否判定の結果、一致優良画素と判定
された画素を示し、「×」印は不一致画素と判定された
結果である。
【0023】このように分割格子53を構成している複
数の画素のそれぞれについての良否判定を行うと、この
各画素についての良否判定結果から分割格子53の良否
判定を行う。
【0024】分割格子53の良否判定は、分割格子53
を構成している全複数の画素における一致優良画素の占
有比率を計算し、この占有比率を所定の分割格子合格率
と比較し、一致優良画素の占有比率が分割格子合格率以
上の場合に、分割格子53を合格と判定する。また、分
割格子53における一致優良画素の占有比率が所定の分
割格子合格率から所定の許容範囲を引いた範囲にある場
合には、分割格子53を準合格と判定し、それ以下の場
合は不合格と判定する。
【0025】例えば、図3(b)に示す分割格子53に
おいては、全体の画素数は16であり、「○」印で示す
一致優良画素の数は13であるので、一致優良画素の占
有比率は13/16×100≒81%となるので、分割
格子合格率が例えば60%である場合には、この分割格
子53は合格と判定される。
【0026】このような分割格子53についての良否判
定を、図3(a)の中程に示すように検査枠51を構成
している複数の分割格子53の各々について行うと、例
えば図3(c)に示すように検査枠51を構成している
複数の分割格子53の各々について合格、準合格、不合
格の判定が下される。なお、図3(c)において、丸で
囲まれた「合」の字は合格を示し、「準」の字は準合格
を示し、「×」は不合格を示している。
【0027】このように検査枠51を構成する分割格子
53のそれぞれについて合格、準合格、不合格の判定が
下されると、このうちの「準合格」と判定された分割格
子53のうち、所定の容認数で設定された比率分、すな
わち容認数比率分が合格に繰り上げられ、それ以外は不
合格に振り分けられる。
【0028】具体的に説明すると、図3(c)に示す検
査枠51の例では、合格と判定された分割格子53の数
は13であり、準合格と判定された分割格子53の数は
5であり、不合格と判定された分割格子53の数は2個
であるが、準合格と判定された5個の分割格子53のう
ち、所定の容認数比率分の分割格子53が合格に繰り上
げられる。この所定の容認数比率を例えば60%とすれ
ば、準合格と判定された5個の分割格子53のうち、5
×60/100=3個の分割格子53が合格に繰り上げ
られ、残りの2個は不合格に振り分けられる。
【0029】上述したように、検査枠51を構成する複
数の分割格子53の各々について合格、不合格の良否判
定を行った後、この検査枠51の全体についての良否の
判定を行う。
【0030】この検査枠51の全体についての良否判定
は、検査枠51を構成している複数の分割格子53のそ
れぞれの合格分割格子および不合格分割格子の数を計算
し、この合格分割格子の数の全体に対する合格格子数比
率を算出する。そして、この合格格子数比率を所定の検
査枠合格率と比較し、合格格子数比率が所定の検査枠合
格率よりも大きい場合、この検査枠51は該検査枠51
内の基準画像に一致していると判定し、そうでない場合
は不一致と判定する。
【0031】具体的に図3(c)に示す検査枠51の例
で説明すると、この例では、合格の分割格子53は13
個であり、準合格の分割格子53bから合格の分割格子
53aに繰り上げられた分割格子53bの数は例えば容
認数が60%とした場合3であったので、合格と判定さ
れた分割格子53aの全体の数は16(13+3)とな
り、検査枠51全体を構成する分割格子53の全数の2
0で16を割って、この検査枠51の合格格子数比率は
16/20×100=80%となる。この検査枠51の
合格格子数比率80%は、検査枠51の検査枠合格率を
例えば70%とすれば、この検査枠合格率よりも大きい
ので、一致していると判定されることになる。
【0032】上述した検査枠51の全体についての良否
判定を、被検体1の全体の検査枠51について、すなわ
ち被検体1をカメラ5で撮像される領域500内の所望
の検査枠51について行うことにより、被検体1の所定
の部分の外観検査を完了することができる。
【0033】次に、上述した処理を踏まえて、本実施形
態の外観検査装置の全体の動作について図4〜図6に示
すフローチャートを参照して説明する。
【0034】まず、図4に示すフローチャートを参照し
て、各画素についての良否判定処理について説明する。
図4の処理においては、まず、基準画像が入力され(ス
テップS11)、それから被検体1が被検体搭載部13
上に設定されて、検査が開始される(ステップS1
3)。そして、この被検体搭載部13上に設定された被
検体1をカメラ5で撮像した被検体1の画像情報が処理
部25のビデオキャプチャ部7を介してCPU9に入力
される(ステップS15)。
【0035】CPU9に入力された被検体1の画像情報
は、色処理部91を介して演算部93に入力され、ここ
で各画素のR値、G値、B値から上述した計算式に基づ
いて輝度値、色相値、彩度値が算出される(ステップS
17)。この算出された画素の輝度値、色相値、彩度値
は、それぞれ基準輝度値、基準色相値、基準彩度値と比
較部95で比較され、輝度値、色相値、彩度値のそれぞ
れの値がそれぞれの基準値に対して所定の許容差以内に
あるか否かについての良否判定が判定部97で行われる
(ステップS19)。
【0036】この画素についての判定結果により、入力
画素の輝度値、色相値、彩度値のすべてがそれぞれの基
準値に対して所定の許容差以内にある場合には、その画
素は基準画素に一致している一致優良画素、すなわちド
ットOKと判定され(ステップS21)、そうでない場
合、すなわち輝度、色相、彩度の各値の1つでもがそれ
ぞれの基準値に対して所定の許容差以内にない場合に
は、一致していない不一致画素、すなわちドットNGと
判定される(ステップS23)。
【0037】このような画素単位の良否判定を分割格子
53内のすべての画素(ドット)について繰り返し行い
(ステップS25)、分割格子53内のすべての画素に
ついての良否判定を終了すると、次に分割格子53の良
否判定に進む(ステップS27)。
【0038】次に、図5に示すフローチャートを参照し
て、分割格子53の良否判定処理について説明する。図
5では、まず、分割格子53内の一致優良画素の数(O
Kドット数)と不一致画素の数(NGドットの数)を計
算する(ステップS35,S37,S39)。そして、
この計算した分割格子53内の一致優良画素の比率(O
Kドットの数)が前記所定の分割格子合格率と比較され
(ステップS41)、一致優良画素の比率が分割格子合
格率以上である場合、この分割格子53は合格(OK)
と判定される(ステップS43)。
【0039】また、分割格子53内の一致優良画素の数
が分割格子合格率以上でない場合には、分割格子53に
おける一致優良画素の占有比率を算出し、この占有比率
が前記所定の分割格子合格率から所定の許容範囲を引い
た範囲にあるか否かをチェックし(ステップS45)、
この範囲内にある場合には、この分割格子53を準合格
(準OK)と判定し、この範囲内にも無い場合には、不
合格(NG)と判定する(ステップS51)。
【0040】更に、上述したように、準合格(準OK)
と判定された分割格子53のうち、前記容認数の比率分
に相当する分割格子を合格に繰り上げるために、容認数
との比率が上述したように計算され(ステップS4
9)、この容認数比率分の分割格子53が合格(OK)
に繰り上げられる(ステップS43)。上述した分割格
子53についての良否判定を検査枠51内のすべての分
割格子53について繰り返し行い(ステップS53,S
55)、検査枠51内のすべての分割格子53について
の良否判定を終了すると、次に検査枠51の良否判定に
進む(ステップS57)。
【0041】次に、図6に示すフローチャートを参照し
て、検査枠51の良否判定処理について説明する。図6
では、まず検査枠51内において合格と判定された分割
格子(OK格子)の数と不合格と判定された分割格子
(NG格子)の数を計算し、合格分割格子の数の全体に
対する合格格子数比率を算出する(ステップS61)。
そして、この算出した合格格子数比率を所定の検査枠合
格率と比較し、合格格子数比率が検査枠合格率以上か否
かをチェックする(ステップS63)。
【0042】合格格子数比率が検査枠合格率以上の場
合、この検査枠51内の画像はその基準画像に一致して
いると判定し(ステップS65)、そうでない場合は不
一致と判定する(ステップS67)。そして、このよう
な検査枠51の良否判定処理を被検体1のすべての検査
枠51について繰り返し行い(ステップS59,S7
1)、検査枠51内のすべての検査枠51について完了
すると、検査終了となる。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
各分割格子を構成する複数の画素の各々についてのR,
G,B値から輝度値、色相値、彩度値を算出し、この各
画素の輝度値、色相値、彩度値をそれぞれの基準値と比
較し、各画素毎の良非を判定し、各分割格子を構成する
各画素の良否に基づき各分割格子を合格、準合格または
不合格と判定し、準合格と判定された分割格子を所定の
容認比率だけ合格分割格子に繰り上げ、合格分割格子の
検査領域内における比率に基づき各検査領域の良否を判
定するので、被検体に無接触で外観検査を行うことがで
き、労力を大幅に低減でき、効率化を図ることができる
とともに、また画素、分割格子、検査領域の段階と3段
階の判定により誤判定を大幅に低減することができる。
また、検査領域内の被検体部分の内容に応じて検査領域
毎に判定基準を可変できるように構成することができる
ため、種々の被検体に対応して適切な外観検査を行うこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る外観検査装置の構成
を示すブロック図である。
【図2】図1に示す外観検査装置の構成を更に詳しく示
した詳細構成図である。
【図3】被検体を検査する場合の分割構成を示す図であ
る。
【図4】図1に示す外観検査装置における各画素につい
ての良否判定処理を示すフローチャートである。
【図5】図1に示す外観検査装置における各分割格子に
ついての良否判定処理を示すフローチャートである。
【図6】図1に示す外観検査装置における各検査枠につ
いての良否判定処理を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 被検体 5 カメラ 7 ビデオキャプチャ部 9 CPU 91 色処理部 93 演算部 95 比較部 97 判定部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検体を撮像手段にて撮像し、この撮像
    した画像情報に基づいて被検体の外観を検査する外観検
    査装置であって、 前記撮像手段による被検体の撮像領域の所定の検査領域
    を複数の分割格子に分割する分割手段と、 前記分割格子の各々を構成する複数の画素の各画素につ
    いてそのR,G,B値から各画素の輝度値、色相値、彩
    度値を算出する算出手段と、 この算出した各画素の輝度値、色相値、彩度値をそれぞ
    れ基準輝度値、基準色相値、基準彩度値と比較し、各画
    素毎の良否を判定する画素判定手段と、 複数の分割格子の各々を構成する複数の画素のそれぞれ
    について前記画素判定手段で判定された該複数の画素の
    良否に基づき該複数の画素で構成される各分割格子を合
    格、準合格または不合格と判定する分割格子判定手段
    と、 該分割格子判定手段で準合格と判定された分割格子のう
    ち、所定の容認比率で決定される数の準合格分割格子を
    合格分割格子に繰り上げる繰上げ手段と、 前記分割格子判定手段で合格と判定された合格分割格子
    の数および前記繰上げ手段で合格分割格子に繰り上げら
    れた合格分割格子の数の和の検査領域内における全分割
    格子に対する比率に基づき各検査領域内の被検体部分の
    外観の良否を判定する検査領域内外観判定手段と、 を有することを特徴とする外観検査装置。
JP32552398A 1998-11-16 1998-11-16 外観検査装置 Expired - Fee Related JP3363103B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32552398A JP3363103B2 (ja) 1998-11-16 1998-11-16 外観検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32552398A JP3363103B2 (ja) 1998-11-16 1998-11-16 外観検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000151198A true JP2000151198A (ja) 2000-05-30
JP3363103B2 JP3363103B2 (ja) 2003-01-08

Family

ID=18177836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32552398A Expired - Fee Related JP3363103B2 (ja) 1998-11-16 1998-11-16 外観検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3363103B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2229927A1 (es) * 2003-10-02 2005-04-16 Sony España, S.A. Procedimiento y equipo para la inspeccion de soldadura de dispositivos de montaje en superficie.
CN1300572C (zh) * 2003-06-13 2007-02-14 三井金属矿业株式会社 电子元件安装用印刷电路板的检测装置及图形不良的确认方法
JP2012039096A (ja) * 2010-07-13 2012-02-23 Fuji Mach Mfg Co Ltd 部品有無判定装置及び部品有無判定方法
CN114399506A (zh) * 2022-03-25 2022-04-26 北京中科慧眼科技有限公司 彩虹印刷品的图像检测方法和系统

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1300572C (zh) * 2003-06-13 2007-02-14 三井金属矿业株式会社 电子元件安装用印刷电路板的检测装置及图形不良的确认方法
ES2229927A1 (es) * 2003-10-02 2005-04-16 Sony España, S.A. Procedimiento y equipo para la inspeccion de soldadura de dispositivos de montaje en superficie.
JP2012039096A (ja) * 2010-07-13 2012-02-23 Fuji Mach Mfg Co Ltd 部品有無判定装置及び部品有無判定方法
CN114399506A (zh) * 2022-03-25 2022-04-26 北京中科慧眼科技有限公司 彩虹印刷品的图像检测方法和系统
CN114399506B (zh) * 2022-03-25 2022-07-26 北京中科慧眼科技有限公司 彩虹印刷品的图像检测方法和系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP3363103B2 (ja) 2003-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7978903B2 (en) Defect detecting method and defect detecting device
TWI590725B (zh) 印刷電路板外觀的檢查裝置及檢查方法
JP4454428B2 (ja) 部品エッジ検出方法、部品エッジ検出プログラム及び検査装置
JP3363103B2 (ja) 外観検査装置
KR20080011235A (ko) 기판 검사 장치
JPH0658731A (ja) パターン検査装置
JP2000004079A (ja) はんだ検査装置
JPH1086322A (ja) クリームハンダ印刷検査方法およびその装置
JP2006284543A (ja) 実装回路基板検査方法および実装回路基板検査装置
JP2903305B2 (ja) 実装部品検査方法及び実装部品検査装置
JP2004125434A (ja) 電子回路用部品の外観検査方法及び外観検査装置並びに電子回路用部品の製造方法。
JP4386326B2 (ja) プリント基板の検査方法およびこれに用いる装置
JP3250309B2 (ja) 実装部品検査用データの教示方法
JP3289070B2 (ja) 実装部品検査装置
JPH1114323A (ja) パターン検査方法及びパターン検査装置
WO2024062854A1 (ja) 画像処理装置および画像処理方法
JPH1185980A (ja) 印刷金属板の印刷品質検査方法及びその検査装置
JPH06160035A (ja) 基板検査装置
JPH06174444A (ja) ディスクリート型電子部品のはんだ形態検査方法
JPH06235699A (ja) 実装部品検査方法
JP2000258354A (ja) 突起部の検査方法及び装置
JPH06204700A (ja) チップ部品実装検査装置
JP2000097882A (ja) X線検査方法及びx線検査装置
JP3035574B2 (ja) 実装部品検査装置の教示方法
JP2004163115A (ja) 電子回路用部品の外観検査方法及び電子回路用部品の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071025

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081025

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091025

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101025

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101025

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111025

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121025

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees