JP2000147366A - Range-finding device - Google Patents

Range-finding device

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JP2000147366A
JP2000147366A JP32229398A JP32229398A JP2000147366A JP 2000147366 A JP2000147366 A JP 2000147366A JP 32229398 A JP32229398 A JP 32229398A JP 32229398 A JP32229398 A JP 32229398A JP 2000147366 A JP2000147366 A JP 2000147366A
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range
light
finding
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昌孝 井出
Toshiyuki Matsumoto
寿之 松本
Yoichiro Okumura
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  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a range-finding device that an effect exerted on a range- finding action such as a focus detecting action by harmful light is eliminated and the AF accuracy of a principal object can be enhanced by changing a prescribed range-finding arithmetic method so that the effect of the harmful light is eliminated when it is judged that the harmful light is included. SOLUTION: By a range-finding means 1, the focusing state of a photographing lens or a distance to the object is detected by the prescribed range-finding arithmetic method and a range-finding signal is outputted. By a harmful light judgement means 2, the existence of the harmful light exerting the adverse effect on the range-finding action is judged based on the output of the range-finding means 1. When it is judged by the judgement means 2 that the harmful light is included, the range-finding means 1 is instructed by a range-finding arithmetic method change means 3 so that the range-finding arithmetic method is changed in order to eliminate the effect of the harmful light. By a control means 4, a focusing control action is executed based on the output of the range-finding means 1. Thus, even when the object of the harmful light exists in the background of the principal object, the effect thereof is eliminated and the AF accuracy is enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は自動的に焦点検出や
測距を行い、その結果に基づいて撮影レンズの焦点調節
を行うカメラに適用可能な測距装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring apparatus which can be applied to a camera which automatically performs focus detection and distance measurement and adjusts the focus of a photographing lens based on the result.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から夜景撮影用モードを有するカメ
ラが数多く実現されているが、そのような夜景撮影用の
モードがなくてもカメラを三脚に固定して長時間露光を
使用するときれいな写真が撮影することができる。
2. Description of the Related Art Conventionally, many cameras having a night view shooting mode have been realized, but even without such a night view shooting mode, a beautiful picture can be obtained by fixing the camera to a tripod and using long exposure. You can shoot.

【0003】夜景のような暗い被写体でも、最近の自動
焦点(AF)カメラは焦点を確実に検出することができ
る。図19の(a)は、撮影されるファインダ内の画像
を示している。
A recent automatic focus (AF) camera can reliably detect the focus of a dark subject such as a night scene. FIG. 19A shows an image in the viewfinder to be photographed.

【0004】手前に人物が立っており、撮影者は夜景を
背景にその人物を主要被写体として撮影しようとしてい
るところである。このシーンにおいて、人物の右側には
背景の街灯があり、人物の左側には背景の建物のネオン
がある。
[0004] A person is standing in the foreground, and the photographer is about to photograph the person as a main subject against a night view. In this scene, the background has a street lamp on the right side of the person and the neon of the background building is on the left side of the person.

【0005】AFターゲット(測距枠)は、これら人物
と街灯とネオンの3つをとらえており、その周辺は夜の
ため暗いとする。一般に、夜景を撮影しようとした場合
には、上記のようなシーンは良くあるシーンである。
[0005] An AF target (distance measuring frame) captures three of these persons, a streetlight, and neon light, and the surroundings are assumed to be dark at night. Generally, when shooting a night scene, the above scene is a common scene.

【0006】つまり、測距枠内に何らかの光源があり、
その光源は背景の建物の窓の明かりや街灯である場合が
多く、測距枠内が完全に暗い場合の方が稀である。ま
た、手前に主要被写体の人物がいない場合でも,同様の
ことが言える。
That is, there is some light source in the distance measuring frame,
The light source is often the light of a window of a building in the background or a street lamp, and it is rare that the inside of the distance measurement frame is completely dark. The same can be said for a case where there is no main subject in front of the user.

【0007】すなわち、夜景撮影における光源は、昼間
の太陽と異なって点光源的になる場合が多いと言える。
図19の(a)のシーンをAFセンサで撮像したセンサ
データを図19の(b)に示す。
That is, it can be said that the light source in night view photographing often becomes a point light source unlike the sun in the daytime.
FIG. 19B shows sensor data obtained by imaging the scene of FIG. 19A with the AF sensor.

【0008】AFの検出方式は、公知のパッシブ位相差
検出方式であり、それぞれ左右のセンサ列の出力を示
す。横軸は前画素(64エレメントとした)の並び順を
示し、縦軸はセンサ出力であり、隣合う画素の出力を結
んで描いた図である。
[0008] The AF detection system is a known passive phase difference detection system, and the outputs of the left and right sensor arrays are shown. The horizontal axis shows the arrangement order of the previous pixel (assuming 64 elements), and the vertical axis shows the sensor output, which is a drawing drawn by connecting the outputs of adjacent pixels.

【0009】図19の(b)からわかるように、街灯の
像はAFセンサにとって点光源的であり、かつ非常に明
るいため、細くて急峻な像となるが、人物の像は背景の
街灯やネオンよりも暗く、出力は小さい。
As can be seen from FIG. 19B, the image of a street lamp is a point light source for the AF sensor and is very bright, so that the image becomes a thin and steep image. Darker than neon, with less power.

【0010】すなわち、明暗差が大きいため暗部の中央
の像がつぶれた出力となってる。例えば、逆光下のセン
サ出力もこのようになることが知られている。このよう
なセンサ出力に基づいて焦点演算すると、背景にも人物
にもピントがあっていない写真となることがある。
That is, since the difference in brightness is large, the output of the image in the center of the dark portion is crushed. For example, it is known that the sensor output under backlight also becomes such. When focus calculation is performed based on such a sensor output, a photograph in which neither the background nor the person is in focus may be obtained.

【0011】この原因は、パッシブ位相差検出方式が、
原理上、元々持っている以下の2つの問題点に起因す
る。 (1)逆光的な被写体は中央の像がつぶれるため、中央
の像に合焦しにくい。 (2)急峻な像(像が2、3画素にしか出ていないよう
な点光源的な像)に基づいて演算焦点すると、演算精度
が低下する。
The reason for this is that the passive phase difference detection method
In principle, this is due to the following two problems originally possessed. (1) A backlit subject is hard to focus on the center image because the center image is destroyed. (2) When calculation focus is performed based on a steep image (an image like a point light source where an image appears only in a few pixels), the calculation accuracy decreases.

【0012】上記(1),(2)の問題点を解決するた
め、次のような従来技術が知られている。まず、特公平
6−7219号公報には、AFセンサをAF光学系の結
像面から少しオフセットした位置に配置すると共に、光
学的なローパス効果を出すことにより急峻なセンサ出力
になりにくいようにした技術が開示されている。
In order to solve the above problems (1) and (2), the following prior arts are known. First, Japanese Patent Publication No. 6-7219 discloses that an AF sensor is arranged at a position slightly offset from an image forming plane of an AF optical system, and a sharp sensor output is hardly generated by producing an optical low-pass effect. The disclosed technology is disclosed.

【0013】そして、特開平5−264887号公報に
は、逆光状態を検出するとAFセンサの積分時間を延長
することにより、暗部の像も出力されるようにした技術
が開示されている。
JP-A-5-264887 discloses a technique in which when a backlight condition is detected, the integration time of the AF sensor is extended so that an image of a dark portion is also output.

【0014】すなわち、これは、図19の(c)に示す
ように、周辺の街灯の像は飽和するが、中央の人物の像
をはっきりと出力して、人物に合焦させる技術である。
図19の(c)の場合の積分時間は、図19の(b)の
場合のそれよりも数倍長くなっている。
That is, as shown in FIG. 19C, this is a technique in which the image of the surrounding streetlight is saturated, but the image of the central person is clearly output and focused on the person.
The integration time in the case of FIG. 19C is several times longer than that in the case of FIG.

【0015】そして、特開平7−199039号公報に
は、夜景を撮影する夜景モードにセットされた場合に
は、AFの補助光を発光させる技術が開示されている。
すなわち、手前の人物に補助光を照射して人物の像をは
っきりと出力することにより、人物に合焦させる技術で
ある。
Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 7-199039 discloses a technique of emitting AF auxiliary light when a night view mode for shooting a night view is set.
That is, this is a technique of irradiating a foreground person with auxiliary light and clearly outputting an image of the person, thereby focusing on the person.

【0016】また、街灯のような点光源状の直接光は、
AF光学系の収差等により、AFセンサ上でフレアーを
有する像になる場合がある。このような状況で、上記点
光源状の直接光がAFセンサの有効受光領域の端に入射
した場合、像の重心位置がずれるために誤測距となる
(図18参照)。
Further, direct light in the form of a point light source such as a street lamp is
Due to the aberration of the AF optical system, an image having flare may be formed on the AF sensor. In such a situation, if the point light source-like direct light enters the end of the effective light receiving area of the AF sensor, the center of gravity of the image is shifted, resulting in erroneous distance measurement (see FIG. 18).

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記従来技
術には以下のような問題点があつた。まず、特公平6−
7219号公報の技術では、細い線状の被写体に対して
は効果があるが、図19の(a)の街灯のような点光源
に対しては効果がないという問題点がある。
However, the above prior art has the following problems. First, Tokuhei 6-
The technique disclosed in Japanese Patent No. 7219 has an effect on a thin linear object, but has no effect on a point light source such as a streetlight in FIG.

【0018】これは、逆に言えば、街灯のような点光源
はそれ程までに非常に急峻な像になると言える。つま
り、点光源の焦点検出に及ぼす影響を小さくする技術が
必要となる。
Conversely, it can be said that a point light source such as a streetlight has a very steep image. That is, a technique for reducing the influence of the point light source on the focus detection is required.

【0019】そして、特開平5−264887号公報で
は、太陽光下の逆光を検出の対象にしているため、図1
9の(b)のようなセンサ出力は逆光と判断できないと
いう問題点がある。
In Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 5-264887, since backlight under sunlight is to be detected, FIG.
There is a problem that the sensor output as shown in FIG. 9B cannot be determined to be backlight.

【0020】すなわち、これは、両側の出力が中央部よ
りも大きい場合のみ、逆光であると判断することができ
る。そして、特開平7−199039号公報では、夜景
モードでは、常に、AFの補助光が出射されるためエネ
ルギーロスとなるばかりか、必要のない場面(太陽光下
で夜景モードを使用、あるいは街灯のようなAFにとっ
ての有害光のない夜景)でも補助光が出射されるという
問題点がある。
That is, this can be determined to be backlight only when the output on both sides is larger than that at the center. According to Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-199039, in the night view mode, the auxiliary light of AF is always emitted, so that not only energy loss occurs, but also unnecessary scenes (the night view mode is used under sunlight, or the There is a problem that the auxiliary light is emitted even in such a night view without harmful light for AF.

【0021】なお、上記、街灯のような点光源状の直接
光による、AFセンサ上でフレアーを有する像が有効受
光領域の端に入射した場合の像の重心ずれによる誤測距
の問題を解決する手法は未だ提案されていない。
It is to be noted that the problem of erroneous distance measurement due to the displacement of the center of gravity of the image when the image having the flare on the AF sensor due to the direct light in the form of a point light source such as a street lamp is incident on the end of the effective light receiving area is solved. A method for doing so has not yet been proposed.

【0022】本発明は上記従来技術の問題点に鑑みてな
されたもので、焦点検出等の測距動作に対して有害光の
及ぼす影響を除去し、主要被写体に対するAF精度の向
上を可能とする測距装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and removes the influence of harmful light on a distance measuring operation such as focus detection, thereby improving the AF accuracy for a main subject. An object of the present invention is to provide a distance measuring device.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】本発明によると、上記課
題を解決するために、(1) 撮影レンズの焦点状態、
または被写体までの距離を所定の測距演算方法により検
出して測距信号を出力する測距手段と、上記測距手段に
よる測距結果に悪影響を及ぼす有害光の影響があるかを
判定する有害光判定手段と、上記有害光判定手段におい
て有害光が含まれていると判断された場合には、有害光
の影響を除去するように上記測距手段による所定の測距
演算方法を変更する制御手段と、を具備することを特徴
とする測距装置が提供される。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, (1) the focus state of the taking lens,
A distance measuring means for detecting a distance to a subject by a predetermined distance calculating method and outputting a distance measuring signal; and a harmful light for judging whether there is harmful light which adversely affects the distance measurement result by the distance measuring means. Light determining means, and control for changing a predetermined distance calculation method by the distance measuring means so as to remove the influence of the harmful light when the harmful light determining means determines that harmful light is included. And a distance measuring device.

【0024】また、本発明によると、(2) 上記測距
手段は、光電変換素子列を有する光電変換手段を含み、
上記有害光判定手段は、上記光電変換素子列上の有害光
の位置を検出し、上記制御手段は、上記有害光判定手段
の検出する有害光位置に基づいて上記測距手段により測
距演算を行うエリアを設定することを特徴とする(1)
に記載の測距装置が提供される。
According to the present invention, (2) the distance measuring means includes a photoelectric conversion means having a photoelectric conversion element array,
The harmful light determination means detects a position of harmful light on the photoelectric conversion element array, and the control means performs a distance measurement calculation by the distance measuring means based on the harmful light position detected by the harmful light determination means. An area to be set is set (1).
Is provided.

【0025】また、本発明によると、(3) 上記測距
手段は、電荷蓄積信号を出力する光電変換素子列を有す
る光電変換手段を含み、上記制御手段は、上記有害光判
定手段において有害光が含まれていると判定された場合
には、上記光電変換素子列の電荷蓄積信号から有害光の
影響を受ける領域を測距演算に使用しないように上記測
距手段を制御することを特徴とする(1)に記載の測距
装置が提供される。
According to the present invention, (3) the distance measuring means includes a photoelectric conversion means having a photoelectric conversion element array for outputting a charge accumulation signal, and the control means controls the harmful light judgment means. When it is determined that the distance measuring means is included, the distance measuring means is controlled so that the area affected by the harmful light from the charge accumulation signal of the photoelectric conversion element array is not used for the distance measuring calculation. The distance measuring device according to (1) is provided.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態について説明する。図1は、本発明の実施の形態
によるカメラの自動焦点調節装置として適用可能な測距
装置の概念を示したブロック図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the concept of a distance measuring device applicable as an automatic focusing device of a camera according to an embodiment of the present invention.

【0027】すなわち、本発明の第1の態様によるカメ
ラの自動焦点調節装置として適用可能な測距装置は、撮
影レンズの焦点状態、または被写体までの距離を所定の
測距演算方法により検出して測距信号を出力する測距手
段1と、この測距手段1の出力に基づき測距動作に悪影
響を及ぼす有害光の有無を判断する有害光判断手段2
と、この有害光判断手段2において有害光が含まれてい
ると判断された場合には、有害光の影響を除去するよう
に測距演算方法を変更するように測距手段1に指示する
測距演算方法変更手段3と、上記測距手段1の出力に基
づいて焦点調節制御を行う制御手段4と、を具備するこ
とを特徴とする。
That is, the distance measuring apparatus applicable as the automatic focusing apparatus of the camera according to the first aspect of the present invention detects the focus state of the photographing lens or the distance to the subject by a predetermined distance calculating method. Distance measuring means 1 for outputting a distance measuring signal, and harmful light determining means 2 for judging the presence or absence of harmful light which adversely affects the distance measuring operation based on the output of the distance measuring means 1
If the harmful light determining means 2 determines that harmful light is included, the distance measuring means 1 is instructed to change the distance measuring method so as to remove the influence of the harmful light. It is characterized by comprising distance calculation method changing means 3 and control means 4 for performing focus adjustment control based on the output of the distance measuring means 1.

【0028】図2は、本発明の自動焦点調節装置を適用
したカメラの全体の構成を示したブロック図である。ま
ず、機構的な構成と光学的な構成について説明する。
FIG. 2 is a block diagram showing the overall configuration of a camera to which the automatic focusing apparatus according to the present invention is applied. First, a mechanical configuration and an optical configuration will be described.

【0029】図2において、被写体からの光束は、5群
構成の撮影レンズ41を通過し、メインミラー42に入
射される。ここで、撮影レンズ41は、第1群レンズ5
1、第2群レンズ52、第3群レンズ53、第4群レン
ズ54及び第5群レンズ55の各レンズ群と、絞り87
とにより構成される。
In FIG. 2, a light beam from a subject passes through a five-group photographing lens 41 and is incident on a main mirror 42. Here, the taking lens 41 is the first group lens 5
1, a second lens group 52, a third lens group 53, a fourth lens group 54, and a fifth lens group 55;
It is composed of

【0030】そして、第1群レンズ51、第2群レンズ
52ではフォーカシングが行われ、ズーム時は、第3群
レンズ53、第4群レンズ54を移動させると同時に、
第1群レンズ51、第2群レンズ52がカム構造で駆動
されて、ズーム時のピント移動が防止されている。
Then, focusing is performed in the first group lens 51 and the second group lens 52, and at the time of zooming, the third group lens 53 and the fourth group lens 54 are simultaneously moved.
The first group lens 51 and the second group lens 52 are driven by a cam structure to prevent a focus movement during zooming.

【0031】上記メインミラー42はハーフミラーにな
っており、このメインミラー42に対する入射光量の7
0%がファインダ光学系43に向けて反射される。一
方、メインミラー42に対する入射光量の残り30%
は、該メインミラー42を透過し、サブミラー44で反
射された後、AF光学系45に導かれる。
The main mirror 42 is a half mirror.
0% is reflected toward the finder optical system 43. On the other hand, the remaining 30% of the amount of light incident on the main mirror 42
Are transmitted through the main mirror 42 and reflected by the sub-mirror 44, and then guided to the AF optical system 45.

【0032】上記ファインダ光学系43は、スクリーン
61、コンデンサレンズ62、プリズム63、モールド
ダハミラー64、接眼レンズ65により構成され、撮影
者により観察される。
The finder optical system 43 includes a screen 61, a condenser lens 62, a prism 63, a mold roof mirror 64, and an eyepiece 65, and is observed by a photographer.

【0033】そして、メインミラー42とサブミラー4
4は、フィルム露光時には図中の破線で示された位置に
退避する。また、撮影レンズ41を通過した被写体光束
は、シャッタ71の開いている間にフィルム72に露光
される。
Then, the main mirror 42 and the sub mirror 4
Reference numeral 4 retreats to the position shown by the broken line in the figure when the film is exposed. The subject light beam that has passed through the photographing lens 41 is exposed to the film 72 while the shutter 71 is open.

【0034】更に、上記AF光学系45は、視野絞り8
1、赤外カットフィルタ82、コンデンサレンズ83、
ミラー84、再結像絞り85、再結像レンズ86とから
構成されており、AFセンサ15に対して焦点検出のた
めの光束を導くようになっている。
Further, the AF optical system 45 includes a field stop 8
1, infrared cut filter 82, condenser lens 83,
It is composed of a mirror 84, a re-imaging stop 85 and a re-imaging lens 86, and guides a light beam for focus detection to the AF sensor 15.

【0035】次に、電気的な構成について説明する。図
2において、カメラの制御装置であるカメラ制御部10
は、内部に中央処理装置CPU11とインターフェース
IC12等を有しており、カメラの一連の動作の制御を
行っている。
Next, the electrical configuration will be described. In FIG. 2, a camera control unit 10 which is a camera control device is shown.
Has a central processing unit CPU11, an interface IC12, and the like, and controls a series of operations of the camera.

【0036】上記カメラ制御部10には、露光制御部1
3と、フィルム駆動部14と、AFセンサ15と、絞り
駆動部16と、ズーム制御部17とAFレンズ制御部1
8と、測光部19と、ストロボ制御部20と、スイッチ
群21と、EEPROM22とが接続されている。
The camera control unit 10 includes an exposure control unit 1
3, a film drive unit 14, an AF sensor 15, an aperture drive unit 16, a zoom control unit 17, and an AF lens control unit 1.
8, a photometry unit 19, a flash control unit 20, a switch group 21, and an EEPROM 22 are connected.

【0037】上記露光制御部13は、メインミラー42
のアップダウン及びシャッタ71の駆動を行って、フィ
ルム72への露光を制御する。上記フィルム駆動部14
は、フィルム72の巻上げ巻戻しの制御を行う。
The exposure controller 13 includes a main mirror 42
And the shutter 71 is driven to control the exposure of the film 72. Film drive unit 14
Controls the winding and rewinding of the film 72.

【0038】上記AFセンサ15は、光電変換素子列で
あるフォトダイオードアレイ15L及び15Rを有して
おり、その各素子の出力をカメラ制御部10に送出して
焦点検出を行う。
The AF sensor 15 has photodiode arrays 15L and 15R, which are photoelectric conversion element arrays, and outputs the output of each element to the camera control unit 10 to perform focus detection.

【0039】上記絞り駆動部16は、撮影レンズ41内
の絞り87を適正絞り値まで駆動する。上記ズーム制御
部17は、撮影レンズ41のズームレンズ群をズームモ
ータ23によつて駆動する。
The aperture driving section 16 drives the aperture 87 in the taking lens 41 to an appropriate aperture value. The zoom controller 17 drives a zoom lens group of the photographing lens 41 by a zoom motor 23.

【0040】この場合、ズームレンズ群の位置は、ズー
ムモータ23に付設されているエンコーダ24によって
制御される。上記AFレンズ制御部18は、撮影レンズ
41のフォーカスレンズ群をAFモータ25によって駆
動する。
In this case, the position of the zoom lens group is controlled by an encoder 24 attached to the zoom motor 23. The AF lens control unit 18 drives the focus lens group of the photographing lens 41 by the AF motor 25.

【0041】この場合、フォーカスレンズ群の位置は、
AFモータ25に付設されているエンコーダ26によっ
て制御される。上記測光部19は、被写体の輝度に応じ
た出力を発生するフォトダイオードからなるセンサであ
り、例えば、ファインダ光学系43内に設置される。
In this case, the position of the focus lens group is
It is controlled by an encoder 26 attached to the AF motor 25. The photometric unit 19 is a sensor including a photodiode that generates an output according to the luminance of the subject, and is installed in the finder optical system 43, for example.

【0042】上記ストロボ制御部20は、被写体に閃光
発光を行うストロボを制御すると共に、本発明では、補
助光としてストロボ光を使用するので、補助光制御部も
兼ねている。
The strobe control unit 20 controls a strobe for emitting flash light to a subject, and in the present invention, uses a strobe light as an auxiliary light, and thus also serves as an auxiliary light control unit.

【0043】上記スイッチ群21は、撮影者によって押
圧されるカメラ上の全てのスイッチ(以下SW)であ
り、図示されないレリーズ釦や夜景モードを設定する撮
影モードSWを含む。
The switch group 21 is all switches (hereinafter, SW) on the camera pressed by the photographer, and includes a release button (not shown) and a photographing mode switch for setting a night scene mode.

【0044】この夜景モードSWを押圧すると、カメラ
は夜景撮影に適した露光動作をするモードになる。上記
EEPROM22には、AF、測光等の各種補正データ
等が記憶されており、CPU11は、カメラの電源投入
時や初期化の際にCPU11は該EEPROM22から
データを読み出してCPU11内のRAMに展開すると
共に、必要に応じて該EEPROM22から随時データ
を読み出して補正等を行う。
When the night view mode switch is pressed, the camera enters a mode in which an exposure operation suitable for night view shooting is performed. The EEPROM 22 stores various correction data such as AF and photometry. The CPU 11 reads data from the EEPROM 22 when the power of the camera is turned on or at the time of initialization, and expands the data in the RAM in the CPU 11. At the same time, data is read from the EEPROM 22 as needed to make corrections and the like.

【0045】次に、図3はAFセンサ15の内部ブロッ
ク構成を示す図である。図3において、AFセンサ15
は、フォトダイオードアレイ15Lと15R、画素増幅
回路EAC、シフトレジスタSR及びセンサ制御回路S
CCから構成されている。
FIG. 3 is a diagram showing an internal block configuration of the AF sensor 15. As shown in FIG. In FIG. 3, the AF sensor 15
Are the photodiode arrays 15L and 15R, the pixel amplifier circuit EAC, the shift register SR, and the sensor control circuit S
It is composed of CC.

【0046】上記フォトダイオードアレイ15Lと15
Rは、各フォトダイオードに入射する光量に応じた電荷
を発生し、それぞれ独立して上記画素増幅回路EACに
出力する。
The photodiode arrays 15L and 15L
R generates an electric charge according to the amount of light incident on each photodiode, and independently outputs the electric charge to the pixel amplifier circuit EAC.

【0047】上記画素増幅回路EACでは、フォトダイ
オードアレイ15Lと15Rの各フォトダイオードから
発生される電荷をそれぞれ独立して増幅し、発生電荷に
対する電圧信号を発生する。
In the pixel amplifier circuit EAC, the charges generated from the photodiodes of the photodiode arrays 15L and 15R are independently amplified, and a voltage signal corresponding to the generated charges is generated.

【0048】また、画素増幅回路EACは、各フォトダ
イオードの発生する電荷のうちの最大値、つまり最も入
射光量の大きいフォトダイオードに対応する画素増幅回
路出力に応じてモニタ出力を発生し、モニタ出力端子M
DATAに出力する。
The pixel amplifier circuit EAC generates a monitor output according to the maximum value of the electric charges generated by each photodiode, that is, the output of the pixel amplifier circuit corresponding to the photodiode having the largest incident light amount. Terminal M
Output to DATA.

【0049】上記センサ制御回路SCCは、CPU11
からの各信号(CEN,RES,END,CLK)に応
じてAFセンサ15の内部の動作を制御する。更に、シ
フトレジスタSRは、CPU11からのクロック信号C
LKに応じてフォトダイオードアレイ15Lと15Rの
各フォトダイオードに対応する画素増幅回路EACの出
力を、順次センサデータ出力端子SDATAに出力させ
る。
The sensor control circuit SCC includes a CPU 11
, The internal operation of the AF sensor 15 is controlled in accordance with the signals (CEN, RES, END, CLK). Further, the shift register SR stores a clock signal C from the CPU 11.
The outputs of the pixel amplifier circuits EAC corresponding to the photodiodes of the photodiode arrays 15L and 15R are sequentially output to the sensor data output terminal SDATA according to LK.

【0050】次に、図4のタイミングチャートに基づ
き、CPU11とAFセンサ15の動作を説明する。最
初に、CPU11によりリセット信号RESを受ける
と、センサ制御回路SCCは、AFセンサ15内の各ブ
ロックの初期化を行うと共に、フォトダイオードアレイ
15Lと15R及び画素増幅回路EACによる電荷の蓄
積動作を開始させる。
Next, the operation of the CPU 11 and the AF sensor 15 will be described with reference to the timing chart of FIG. First, when the CPU 11 receives the reset signal RES, the sensor control circuit SCC initializes each block in the AF sensor 15 and starts the charge accumulation operation by the photodiode arrays 15L and 15R and the pixel amplifier circuit EAC. Let it.

【0051】この蓄積動作中、画素増幅回路EACは、
電荷蓄積のレベルに応じたモニタ信号をモニタ出力MD
ATAに出力する。CPU11は、このモニタ出力MD
ATAを内蔵のADコンバータで随時モニタしており、
適切な電荷蓄積量となるレベルに達したところで蓄積終
了信号ENDをAFセンサ15に出力し、積分動作を終
了させる。
During this accumulation operation, the pixel amplifier circuit EAC
Monitor output MD according to the charge accumulation level
Output to ATA. The CPU 11 outputs the monitor output MD
ATA is monitored at any time by the built-in AD converter,
When the level reaches an appropriate charge storage amount, an accumulation end signal END is output to the AF sensor 15 to terminate the integration operation.

【0052】次に、CPU11が読み出しクロックCL
KをAFセンサ15に出力すると、シフトレジスタSR
は、これに応じてフォトダイオードアレイ15Lと15
Rのフォトダイオードの蓄積電荷に対応する画素増幅回
路EACの出力電圧をセンサデータ出力SDATAに順
次出力する。
Next, the CPU 11 sets the read clock CL
When K is output to the AF sensor 15, the shift register SR
Correspond to the photodiode arrays 15L and 15L
The output voltage of the pixel amplifier circuit EAC corresponding to the accumulated charge of the R photodiode is sequentially output to the sensor data output SDATA.

【0053】CPU11では、このセンサデータ出力S
DATAを内蔵のADコンバータで順次AD変換し、内
部のRAMに各々格納していく。なお、後述するよう
に、本発明では、AFの補助光としてストロボ光を使用
しており、被写体が低輝度のために焦点検出ができない
ときには、積分動作中にストロボ光を図示のようにパル
ス的に発光して、適正積分量を得る。
In the CPU 11, the sensor data output S
DATA is sequentially AD-converted by a built-in AD converter and stored in the internal RAM. As will be described later, in the present invention, strobe light is used as AF auxiliary light, and when focus cannot be detected due to low luminance of the subject, the strobe light is pulsed during the integration operation as shown in the figure. And a proper integration amount is obtained.

【0054】図5は、補助光を兼ねているストロボ制御
部20の詳細な構成を示すブロック図である。図5にお
いて、電源Eには電源電圧をストロボが発光可能な電圧
になるまで昇圧するDC/DCコンバータ90が並列に
接続されている。
FIG. 5 is a block diagram showing a detailed configuration of the flash control unit 20 which also serves as auxiliary light. In FIG. 5, a DC / DC converter 90 that boosts the power supply voltage to a voltage at which a strobe can emit light is connected in parallel to a power supply E.

【0055】このDC/DCコンバータ90の出力には
メインコンデンサMCに充電された電圧を測定するメイ
ンコンデンサ電圧測定回路91が接続されている。そし
て、上記DC/DCコンバータ90の出力には、Xe
(キセノン)管95に発光のためのトリガを印加するト
リガ回路92が接続されていると共に、ダイオードD1
を介して発光エネルギーを蓄えるメインコンデンサMC
にも接続されている。
The output of the DC / DC converter 90 is connected to a main capacitor voltage measuring circuit 91 for measuring the voltage charged in the main capacitor MC. The output of the DC / DC converter 90 includes Xe
A (xenon) tube 95 is connected to a trigger circuit 92 for applying a trigger for light emission, and a diode D1.
Main capacitor MC that stores luminous energy through
Is also connected.

【0056】そして、電源Eには前記ダイオードD1の
カソードに接続されたメインコンデンサMCのエネルギ
ーを消費して発光するXe管95と、このXe管95の
発光光量の制御を行う発光光量制御回路93が直列に接
続されており、前記発光光量制御回路93には電源Eの
供給を制御する電源供給制御回路94が接続されてい
る。
The power supply E has a Xe tube 95 that emits light by consuming the energy of the main capacitor MC connected to the cathode of the diode D1, and a light emission amount control circuit 93 that controls the light emission amount of the Xe tube 95. Are connected in series, and a power supply control circuit 94 for controlling the supply of the power E is connected to the light emission amount control circuit 93.

【0057】上記DC/DCコンバータ90、メインコ
ンデンサ電圧測定回路91、トリガ回路92、発光光量
制御回路93の制御は、CPU11によりインターフェ
ースIC12を介して行われる。
The control of the DC / DC converter 90, the main capacitor voltage measuring circuit 91, the trigger circuit 92, and the light emission amount control circuit 93 is performed by the CPU 11 through the interface IC 12.

【0058】図6は、本発明の第1の実施の形態のカメ
ラ全体の動作を示したメインルーチンのフローチャート
である。まず、不図示のメインSWがオンされると、C
PU11がパワーオンリセットされて動作を開始し、I
/Oポートの初期化とRAMの初期化等を行う(ステッ
プS1)。
FIG. 6 is a flowchart of a main routine showing the operation of the entire camera according to the first embodiment of the present invention. First, when a main switch (not shown) is turned on, C
PU11 is power-on reset and starts operation, and I
Initialization of the / O port, initialization of the RAM, and the like are performed (step S1).

【0059】次に、ファーストレリーズ(以下、1RS
W)がオンされているかを判断する(ステップS2)。
本発明のカメラのレリーズSW(不図示)は一般的な2
段階SWになっており、半押しの第1ストロークで1R
SWがオンし、カメラはAFとレンズ駆動等の動作を行
い、全押しの第2ストロークでセカンドレリーズスイッ
チ(以下、2RSW)がオンして露光に至るようになっ
ている。
Next, a first release (hereinafter, 1RS)
It is determined whether or not W) is turned on (step S2).
The release SW (not shown) of the camera of the present invention is a general 2
Stage SW, 1R at the first stroke of half-press
When the SW is turned on, the camera performs operations such as AF and lens driving, and a second release switch (hereinafter, 2RSW) is turned on in the second stroke of full press to reach exposure.

【0060】ステップS2で、1RSWがオフならステ
ップS10に移行する。一方、1RSWがオンであれ
ば、測光部19が動作して被写体輝度の測光を行うこと
により、適正露出となる絞り値とシャッタスピード値が
演算される(ステップS3)。
If it is determined in step S2 that 1RSW is off, the process proceeds to step S10. On the other hand, if the 1RSW is on, the photometric unit 19 operates to perform photometry of the subject luminance, thereby calculating the aperture value and the shutter speed value that provide an appropriate exposure (step S3).

【0061】そして、サブルーチン「AF」が実行され
て被写体の焦点検出が行われる。この焦点検出に基づい
て、フォーカシングレンズが合焦位置へ駆動されて、被
写体にピントが合わせられる(ステップS4)が、これ
については後述する。
Then, the subroutine "AF" is executed to detect the focus of the subject. Based on this focus detection, the focusing lens is driven to the in-focus position to focus on the subject (step S4), which will be described later.

【0062】続いて、このAF動作の結果、合焦したか
否かが判断される(ステップS5)が、後述するよう
に、ローコントラスト等でAF不能の場合(検出不能フ
ラグで判断)にも合焦していないと判断される。
Subsequently, as a result of this AF operation, it is determined whether or not focus has been achieved (step S5). However, as will be described later, even when AF is not possible due to low contrast or the like (determined by a detection impossible flag). It is determined that the camera is not in focus.

【0063】ここで、合焦していなければステップS9
に移行し、合焦するまで露光動作に移行できないように
なっている。一方、合焦している場合には、2RSWが
オンされているか否かが判断される(ステップS6)。
Here, if it is not focused, step S9
, And cannot shift to the exposure operation until focus is achieved. On the other hand, if it is in focus, it is determined whether or not the 2RSW is turned on (step S6).

【0064】ここで、2RSWがオフしていればステッ
プS2に戻るが、オンしていれば上記ステップS3で演
算した結果に基づいて絞り87、メインミラー42、シ
ャッタ71を制御して露出動作を行う(ステップS
7)。
If the 2RSW is off, the process returns to step S2. If the 2RSW is on, the exposure operation is controlled by controlling the aperture 87, the main mirror 42, and the shutter 71 based on the result calculated in step S3. Perform (Step S
7).

【0065】この露出動作が終了すると、撮影されたフ
ィルム72が巻上げられて次の駒の位置に給送されて
(ステップS8)、一連の撮影動作が終了する。そし
て、不図示の表示装置LCD、LEDの表示動作が制御
されて(ステップS9)、ステップS2に戻る。
When the exposure operation is completed, the photographed film 72 is wound and fed to the position of the next frame (step S8), and a series of photographing operations is completed. Then, the display operations of the display devices LCD and LED (not shown) are controlled (step S9), and the process returns to step S2.

【0066】また、上記ステップS10では、1RSW
や2RSW以外のSWのどれかが操作された場合に応じ
て、他のSWの状態が検出され、オンされていなければ
上記ステップS9に移行する。
In step S10, 1RSW
In response to the operation of any one of the switches other than the 2RSW and the other switches, the state of the other SW is detected, and if not turned on, the process proceeds to step S9.

【0067】オンされているSWがある場合には、その
SWに応じた処理が実行された(ステップS11)後
に、ステップS9に移行する。図7は、上記ステップS
4におけるサブルーチン「AF」のフローチャートであ
る。
If any of the SWs is turned on, the process corresponding to the SW is executed (step S11), and then the process proceeds to step S9. FIG.
14 is a flowchart of a subroutine “AF” in FIG.

【0068】まず、図4で説明したタイミングチャート
に従ってAFセンサ15の積分動作を行う(ステップS
20)。この積分終了後、全画素のセンサデータをCP
U11のRAMに読み込み(ステップS21)、照度補
正を行う(ステップS22)。
First, the integration operation of the AF sensor 15 is performed according to the timing chart described with reference to FIG. 4 (step S).
20). After this integration is completed, the sensor data of all pixels is
The data is read into the RAM of U11 (step S21), and the illuminance is corrected (step S22).

【0069】この照度補正は、センサ感度バラツキやA
F光学系の周辺光量低下を補正する公知の技術である。
ステップS23では、有害光となる点光源が含まれてい
るか否かを判断するが、この有害光判断の具体的方法に
ついては後述する。
This illuminance correction is based on sensor sensitivity variation and A
This is a known technique for correcting a decrease in peripheral light amount of the F optical system.
In step S23, it is determined whether or not a point light source serving as harmful light is included. A specific method of this harmful light determination will be described later.

【0070】ステップS24では、有害光判断の結果、
設定されている有害光フラグを参照し、有害光が含まれ
ていない場合には、ステップS26に移行する。また、
有害光が含まれている場合には、ステップS25にて有
害光のAFセンサ上の位置を記憶する。
In step S24, as a result of the harmful light determination,
Referring to the set harmful light flag, if no harmful light is included, the process proceeds to step S26. Also,
If harmful light is included, the position of the harmful light on the AF sensor is stored in step S25.

【0071】ステップS26では、有害光の位置が中央
ブロック内か否かを判別する。有害光フラグがクリアさ
れている状態すなわち有害光がない場合、または有害光
が中央ブロックにない場合には、ステップS27に移行
して中央ブロックの相関演算を行う。
In step S26, it is determined whether or not the position of the harmful light is within the central block. When the harmful light flag is cleared, that is, when there is no harmful light, or when there is no harmful light in the central block, the process proceeds to step S27 to perform the correlation calculation of the central block.

【0072】中央ブロックとは、図19の(b)に示し
たそれぞれ左右のセンサの中央部同士のブロックを示し
ている。この中央ブロック内の相関演算についても後述
する。
The central block is a block between the central portions of the left and right sensors shown in FIG. The correlation operation in the central block will also be described later.

【0073】一方、ステップS26で有害光が中央ブロ
ック内にある場合はステップS29に移行し、中央ブロ
ックの相関演算を行わない。ステップS28では、中央
ブロック相関演算の結果が検出不能であるかを判断し、
検出不能であればステップS29に進み、検出可能であ
ればステップS35に進む。
On the other hand, if the harmful light is present in the central block in step S26, the flow shifts to step S29, and the central block is not correlated. In step S28, it is determined whether or not the result of the center block correlation operation is undetectable.
If the detection is not possible, the process proceeds to step S29. If the detection is possible, the process proceeds to step S35.

【0074】ステップS29では、有害光位置が右ブロ
ック内か否か判別し、有害光フラグがクリアされている
状態または有害光が右ブロックにない場合には、ステッ
プS30に移行して右ブロックの相関演算を行う。
In step S29, it is determined whether or not the harmful light position is in the right block. If the harmful light flag is cleared or if there is no harmful light in the right block, the flow shifts to step S30, where the right block is deleted. Perform correlation calculation.

【0075】右ブロックとは、図19の(b)に示した
それぞれ左右のセンサの右同士のブロックを示してい
る。右ブロックの相関演算の結果、検出不能であればス
テップS32に進み、検出可能であれば、ステップS3
5に進む。
The right block indicates the right block of the left and right sensors shown in FIG. 19B. As a result of the correlation operation of the right block, if the detection is not possible, the process proceeds to step S32;
Go to 5.

【0076】ステップ32では、有害光位置が、左ブロ
ック内か否か判別し、有害光フラグがクリアされている
状態または有害光が左ブロックにない場合には、ステッ
プS33に移行して左ブロックにない場合は、ステップ
S33に移行して左ブロックの相関演算を行う。
In step 32, it is determined whether or not the position of the harmful light is in the left block. If the harmful light flag is cleared or if there is no harmful light in the left block, the process proceeds to step S33 and the left block is determined. If not, the process proceeds to step S33 to perform a correlation operation on the left block.

【0077】左ブロックとは、図19の(b)に示した
それぞれの左右のセンサの左同士のブロックを示してい
る。また、有害光が左ブロック内の場合には、全ブロッ
クで検出不能としてリターンする。
The left block is a left block of each of the left and right sensors shown in FIG. 19B. If the harmful light is in the left block, it returns as undetectable in all blocks.

【0078】そして、左ブロック相関演算の結果、焦点
検出不能であるか否かを判断し(ステップS35)、検
出不能であれば全ブロックで検出不能であるのでリター
ンする。
Then, as a result of the left block correlation calculation, it is determined whether or not the focus cannot be detected (step S35). If the focus cannot be detected, all the blocks cannot be detected, and the process returns.

【0079】一方、ステップS28、S32、S34の
いずれかで検出可能であれば、ステップS35で測距結
果である撮影レンズ41のデフォーカス量を演算し、ス
テップS36で撮影レンズの収差量を補正する。
On the other hand, if it can be detected in any of steps S28, S32 and S34, the defocus amount of the photographing lens 41 which is the distance measurement result is calculated in step S35, and the aberration amount of the photographing lens is corrected in step S36. I do.

【0080】この収差補正とは、撮影レンズ41の焦点
距離の違いによる検出デフォーカス量の差を補正するも
のである。次に、撮影レンズ41が既に合焦状態にある
のか否かを判断する(ステップS37)。
This aberration correction corrects a difference in the detected defocus amount due to a difference in the focal length of the photographing lens 41. Next, it is determined whether or not the photographing lens 41 is already in focus (step S37).

【0081】この判断は、検出フオーカス量が所定の許
容値以内にあるかを判断するためである。そして、すで
に、合焦状態にあればレンズ駆動する必要がないので、
リターンするが、非合焦であれば上記測距結果であるデ
フォーカス量に基づいて、合焦までのレンズ駆動量を演
算して(ステップS38)、撮影レンズ41を合焦位置
まで駆動する(ステップS39)。
This determination is for determining whether the detected focus amount is within a predetermined allowable value. And if it is already in focus, there is no need to drive the lens,
Returning, if out of focus, the lens driving amount up to focusing is calculated based on the defocus amount as the distance measurement result (step S38), and the photographing lens 41 is driven to the focusing position (step S38). Step S39).

【0082】ステップS35乃至39については公知の
技術であり、本発明の主旨と直接関係ないので説明を省
略する。以上のように、有害光を検出した場合は、有害
光を含むブロックの相関演算を行わないようにしたの
で、図19の(b)の点光源(右ブロック)以外の被写
体の像についてのみ相関演算を行い、人物に合焦するこ
とができる。
Steps S35 to S39 are well-known techniques, and are not directly related to the gist of the present invention, and thus description thereof is omitted. As described above, when the harmful light is detected, the correlation calculation of the block containing the harmful light is not performed. Therefore, the correlation calculation is performed only for the image of the object other than the point light source (right block) in FIG. An operation can be performed to focus on a person.

【0083】すなわち、ステップS27の中央ブロック
相関演算において、人物の像を検出可能とすることがで
きる。ここで、図8を参照して、図7のステップS27
で実行されるサブルーチン「中央ブロック相関演算」に
ついて説明する。
That is, in the central block correlation calculation in step S27, a person image can be detected. Here, referring to FIG. 8, step S27 in FIG.
Will be described.

【0084】図7のステップS21で読み込まれるセン
サデータは、ここでは左センサの被写体像信号L
(I)、右センサの被写体像信号R(I)として表記す
るものとする。
The sensor data read in step S21 of FIG. 7 is the object image signal L of the left sensor.
(I), it is expressed as a subject image signal R (I) of the right sensor.

【0085】まず、変数SL,SR,Fmin,Jに初
期値として、それぞれ″5″,″37″,″5″,″
8″を代入する(ステップ、S71,S72)。このS
Lは被写体像信号L(I)のうちから相関検出する小ブ
ロック素子列の先頭番号を記憶する変数であり、同様
に、SRは被写体像信号R(I)のうちから相関検出す
る小ブロック素子列の先頭番号を記憶する変数であり、
Fminは相関最小値を示す変数である。
First, "5", "37", "5" and "5" are set as initial values for variables SL, SR, Fmin and J, respectively.
8 "(steps S71, S72).
L is a variable that stores the head number of a small block element row for which correlation is detected from the subject image signal L (I), and SR is a small block element for which correlation is detected from the subject image signal R (I). A variable that stores the start number of the column.
Fmin is a variable indicating the minimum correlation value.

【0086】また、Jは被写体像信号R(I)において
小ブロックのずらした回数をカウントする変数である。
そして、相関出力F(s)を次式により計算する。
J is a variable for counting the number of times small blocks have been shifted in the subject image signal R (I).
Then, the correlation output F (s) is calculated by the following equation.

【0087】 この場合、小ブロックの素子数は27であり、この小ブ
ロックの素子数はファインダに表示された測距枠の大き
さと検出光学系の倍率によつて定まる。
[0087] In this case, the number of elements of the small block is 27, and the number of elements of this small block is determined by the size of the distance measurement frame displayed on the finder and the magnification of the detection optical system.

【0088】続いて、相関出力F(s)の最小値を検出
する。すなわち、F(s)をFminと比較して、もし
F(s)がFminよりも小さければFminにF
(s)を代入し、そのときのSLとSRをそれぞれSL
MとSRMとして記憶する(ステップS74、S7
5)。
Subsequently, the minimum value of the correlation output F (s) is detected. That is, F (s) is compared with Fmin, and if F (s) is smaller than Fmin, Fmin is added to Fmin.
(S) and substitute SL and SR at that time with SL
M and SRM are stored (steps S74 and S7).
5).

【0089】更に、SRとJをデクリメントし(ステッ
プS76)、J=0でなるまで相関演算を繰り返す(ス
テップS77)。すなわち、像Lでの小ブロック位置を
固定し、像Rでの小ブロック位置を1素子ずつずらせな
がら相関をとる。
Further, SR and J are decremented (step S76), and the correlation calculation is repeated until J = 0 (step S77). That is, the correlation is obtained while fixing the small block position in the image L and shifting the small block position in the image R by one element.

【0090】そして、J=0になると、次にSLに4を
SRに3をそれぞれ加算し、SL=29になるまで相関
演算を繰り返す(ステップS78、S79)。すなわ
ち、像Lでの小ブロックの素子数を4素子づつずらせな
がら相関演算を繰り返す。
When J = 0, 4 is added to SL and 3 is added to SR, and the correlation calculation is repeated until SL = 29 (steps S78 and S79). That is, the correlation calculation is repeated while shifting the number of elements of the small block in the image L by four elements.

【0091】以上により、効率的に相関演算を行い、相
関出力の最小値を検出することができる。この相関出力
の最小値を示す小ブロックの位置が、最も相関性の高い
像信号の位置関係を示している。
As described above, the correlation calculation can be performed efficiently, and the minimum value of the correlation output can be detected. The position of the small block indicating the minimum value of the correlation output indicates the positional relationship of the image signal having the highest correlation.

【0092】そして、このときの小ブロックの間隔であ
る2像間隔SRM−SLMを採用する。そして、検出し
た最も相関性の高い小ブロック像信号について相関性の
判定を行うために、次の式(2),(3)で示す相関出
力FMとFPとを計算する(ステップS80)。
The two-image interval SRM-SLM, which is the interval between small blocks at this time, is adopted. Then, in order to determine the correlation of the detected small block image signal having the highest correlation, the correlation outputs FM and FP expressed by the following equations (2) and (3) are calculated (step S80).

【0093】 すなわち、被写体像Rについて最小の相関出力を示す小
ブロック位置に対して±1素子だけずらせたときの相関
出力を計算する。
[0093] That is, the correlation output is calculated when the subject image R is shifted by ± 1 element from the small block position indicating the minimum correlation output.

【0094】このとき、FM、Fmin、FPは、図9
の(a)、(b)に示すような関係になる。なお、図9
の(a)、(b)の横軸は、光電変換素子の位置(左端
からの素子の番号)であり、縦軸は相関出力を示してい
る。
At this time, FM, Fmin, and FP are as shown in FIG.
(A) and (b). Note that FIG.
The horizontal axis of (a) and (b) is the position of the photoelectric conversion element (element number from the left end), and the vertical axis is the correlation output.

【0095】相関性の高い場合には、相関出力F(s)
は、点SoにおいてSo=0になるが、これに対して、
相関性の低い場合にはSoは″0″にならない。以上ま
での相関演算を行うことによって、光電変換素子数を片
側64個とすると、左右それぞれの両端の約5素子を除
いたほぼ全域に渡って相関演算を行ったことになる。
If the correlation is high, the correlation output F (s)
Becomes So = 0 at the point So, whereas
If the correlation is low, So does not become "0". When the number of photoelectric conversion elements is 64 on one side by performing the above correlation calculation, the correlation calculation is performed over almost the entire area excluding about 5 elements at both ends on the right and left sides.

【0096】続いて、相関性の判定をするために、次式
で示す相関性指数SKとFSを求める(ステップS8
1)。 FM≧FPのとき SK=(FP+Fmin)/(FM−Fmin) …(4) FS=FM−Fmin …(5) FM<FPのとき SK=(FM+Fmin)/(FP−Fmin) …(6) FS=FP−Fmin …(7) なお、図9の(a)、(b)は、FM≧FPのときのみ
を示している。
Subsequently, in order to determine the correlation, the correlation indexes SK and FS represented by the following equations are obtained (step S8).
1). When FM ≧ FP SK = (FP + Fmin) / (FM−Fmin) (4) FS = FM−Fmin (5) When FM <FP SK = (FM + Fmin) / (FP−Fmin) (6) FS = FP−Fmin (7) FIGS. 9A and 9B show only the case where FM ≧ FP.

【0097】相関性指数SKは、相関性の高い場合には
SK=1となり、その値が大きくなるほど相関性は低く
なる。また、相関性指数FSは、最も相関性の高い小ブ
ロック像信号のコントラストに相当するので、この値が
大きいほどコントラストが高いことを示す。
The correlation index SK becomes SK = 1 when the correlation is high, and the higher the value, the lower the correlation. Further, the correlation index FS corresponds to the contrast of the small block image signal having the highest correlation, so that a larger value indicates a higher contrast.

【0098】したがって、相関性指数SKとFSとの値
を所定の値と比較することによって、検出する像ずれ量
に信頼性があるか否かを判断することができる(ステッ
プS82、S83)。
Therefore, by comparing the values of the correlation indices SK and FS with predetermined values, it is possible to determine whether or not the detected image shift amount is reliable (steps S82 and S83).

【0099】ステップS82とS83とのいずれかにお
いて信頼性が低いと判断された場合には、検出不能フラ
グをセットして(ステップS84)、リターンするが、
ステップS82とS83のいずれでも信頼性が高いと判
断された場合には、検出不能フラグをクリアして(ステ
ップS85)、リターンする。
If it is determined that the reliability is low in either of steps S82 and S83, an undetectable flag is set (step S84), and the process returns.
If it is determined that the reliability is high in both steps S82 and S83, the undetectable flag is cleared (step S85), and the process returns.

【0100】この検出不能フラグを先の図7のステップ
S28で判断する。以上のように信頼性がある場合に
は、2像間隔SRM−SLMを採用する。この2像間隔
SRM−SLMは、画素単位のデータであるので、公知
の3点補間等の手法により、より詳細な2像間隔データ
ZRが算出される。
This undetectable flag is determined in step S28 in FIG. If there is reliability as described above, the two-image interval SRM-SLM is adopted. Since the two-image interval SRM-SLM is data on a pixel basis, more detailed two-image interval data ZR is calculated by a known method such as three-point interpolation.

【0101】そして、EEPROM22にメモリされて
いる合焦時の2像間隔ZR0を用いて、合焦近傍におい
てデフォーカス量に比例する像ずれ量ΔZR=ZR−Z
R0を求める。
Then, using the two-image interval ZR0 at the time of focusing stored in the EEPROM 22, the image shift amount ΔZR in proportion to the defocus amount near the in-focus state is given by ΔZR = ZR−Z
Find R0.

【0102】サブルーチン「右ブロック相関演算」、
「左ブロック相関演算」については、上記「中央ブロッ
ク相関演算」に対して、変数、初期値等の設定が異なる
のみで基本的処理はそれと同様であるので説明は省略す
る。
The subroutine "Right block correlation operation",
The “left block correlation calculation” is the same as the “center block correlation calculation” except for the setting of variables, initial values, and the like, and the basic processing is the same.

【0103】図10は、ステップS23の有害光判断の
概念図である。図10のセンサデータは、図19の
(b)のそれと同じである。図10は有害光の焦点検出
に及ぼす影響が大きい場合を示す。
FIG. 10 is a conceptual diagram of the harmful light determination in step S23. The sensor data in FIG. 10 is the same as that in FIG. FIG. 10 shows a case where the influence of the harmful light on the focus detection is large.

【0104】先に説明したように、街灯の像はAFセン
サにとって点光源的であり、かつ非常に明るいため、細
くて急峻な像となるが、人物の像は背景の街灯やネオン
よりも暗く、出力は小さい。
As described above, the image of a street lamp is a point light source for an AF sensor and is very bright, so it is a thin and steep image. However, the image of a person is darker than a background street lamp or neon. , Output is small.

【0105】すなわち、明暗差が大きいため暗部の中央
の像がつぶれた出力となっており、図中のAとBの幅は
大きいがCの幅は小さくなり、Cの幅は画素のピッチに
もよるが3画素程度である。
That is, since the difference in brightness is large, the output of the image in the center of the dark portion is crushed. The width of A and B in the figure is large but the width of C is small, and the width of C is smaller than the pixel pitch. Although it depends, it is about three pixels.

【0106】また、出力のaとbは小さくcは非常に大
きくなる。このようなセンサデータになる場合を検出し
て有害光有りと判断する。次に、図11に図7のステッ
プS23のサブルーチン「有害光判断」のフローチャー
トを示す。
The outputs a and b are small and c is very large. When such sensor data is detected, it is determined that harmful light is present. Next, FIG. 11 shows a flowchart of a subroutine "judgment light determination" of step S23 in FIG.

【0107】まず、全画素の中で最大出力となる値とそ
の画素を探索し、その値をMaxとする(ステップS1
00)。これは図10の(a)中のCに対応する。
First, a value that maximizes output among all the pixels and the pixel are searched, and the value is set as Max (step S1).
00). This corresponds to C in FIG.

【0108】そして、このMaxが第1のスレッシュ値
よりも大きいか否かを判断し(ステップS101)、大
きくない場合には有害光フラグをクリアして(ステップ
S110)、リターンする。
Then, it is determined whether or not this Max is larger than the first threshold value (step S101). If not, the harmful light flag is cleared (step S110) and the routine returns.

【0109】すなわち、このMaxがある程度大きくな
い場合には有害光ではあり得ないと判断する。一方、こ
のMaxが第1のスレッシュ値よりも大きい場合には、
最大出力を与える画素の2画素先の画素の出力を求め、
その出力をMaxpとする(ステップS102)。
That is, if Max is not large to some extent, it is determined that the light cannot be harmful light. On the other hand, when this Max is larger than the first threshold value,
Find the output of the pixel two pixels ahead of the pixel giving the maximum output,
The output is set as Maxp (step S102).

【0110】更に、最大出力を与える画素の2画素手前
の画素の出力を求め、その出力をMaxmとする(ステ
ップS103)。そして、Max−Maxpが第2のス
レッシュ値よりも大きいか否かを判断し(ステップS1
04)、大きくない場合にはステップS107に移行す
るが、大きい場合にはMax−Maxmが第2のスレッ
シュ値よりも大きいか否かを判断し(ステップS10
5)、大きくない場合にはステップS107に移行す
る。
Further, the output of a pixel two pixels before the pixel giving the maximum output is obtained, and the output is set as Maxm (step S103). Then, it is determined whether or not Max-Maxp is greater than a second threshold value (step S1).
04) If not larger, the process proceeds to step S107, but if larger, it is determined whether Max-Maxm is larger than a second threshold value (step S10).
5) If not large, the process proceeds to step S107.

【0111】すなわち、±2画素の範囲でセンサデータ
が急峻に変化していることを検出し、急峻に変化してい
ない場合には有害光では有り得ないと判断する。ステッ
プS107では、有害光フラグをクリアして、リターン
する。
That is, it is detected that the sensor data changes sharply in the range of ± 2 pixels, and if the sensor data does not change sharply, it is determined that harmful light is not possible. In step S107, the harmful light flag is cleared, and the process returns.

【0112】一方、Max−Maxpが第2のスレッシ
ュ値よりも大きく、かつ、Max−Maxmも第2のス
レッシュ値よりも大きい場合には、有害光フラグをセッ
トして(ステップS106)、リターンする。
On the other hand, if Max-Maxp is larger than the second threshold value and Max-Maxm is larger than the second threshold value, the harmful light flag is set (step S106), and the routine returns. .

【0113】次に、本発明の第2の実施の形態について
説明するが、その構成は前述した第1の実施の形態のそ
れと同様である。図12は、第2の実施の形態によるサ
ブルーチン「AF」のフローチャートが示されている。
Next, a second embodiment of the present invention will be described. The structure is the same as that of the above-described first embodiment. FIG. 12 shows a flowchart of a subroutine "AF" according to the second embodiment.

【0114】最初に、ステップS181では、AFセン
サ15の積分制御を行う。ステップS182では、CP
U11はAFセンサ15において蓄積された信号をセン
サデータとして読み出し、RAMに格納する。
First, in step S181, integral control of the AF sensor 15 is performed. In step S182, the CP
U11 reads the signal accumulated in the AF sensor 15 as sensor data and stores it in the RAM.

【0115】ステップS183では、第1の実施の形態
と同様に照度補正を行なう。ステップS184では、R
AMに格納されたセンサーデータに基づいて焦点検出演
算1を行う。
In step S183, illuminance correction is performed as in the first embodiment. In step S184, R
The focus detection calculation 1 is performed based on the sensor data stored in the AM.

【0116】ステップS185では、焦点検出演算1の
結果が検出不能か否かを判別することにより、検出でき
た場合にはステップS186に移行するが、検出不能の
場合にはリターンする。
In step S185, it is determined whether or not the result of the focus detection calculation 1 is not detectable. If the result is detected, the process proceeds to step S186. If not, the process returns.

【0117】ステップS186では、上記焦点検出演算
1により算出された像ずれ量ΔZRが、合焦許容範囲よ
り広い所定の範囲内か否かを判定し、範囲外のときには
ステップS188に移行する。
In step S186, it is determined whether or not the image shift amount ΔZR calculated by the focus detection calculation 1 is within a predetermined range that is larger than the allowable focusing range. If not, the process proceeds to step S188.

【0118】これは、像ずれ量すなわちデフォーカス量
が大きい状態では検出精度が低下するので、次に、説明
する有害光影響除去処理を行っても効果的ではないため
である。
This is because the detection accuracy decreases when the image shift amount, that is, the defocus amount is large, so that the harmful light effect removal processing described below is not effective.

【0119】次に、ステップS187では、上記相関性
の最も高い検出ブロックSLM,SRMのセンサデータ
より主要被写体と混在する有害光の有無を判定し、有害
光がある場合にはその影響を除去する処理を行う。
Next, in step S187, the presence or absence of harmful light mixed with the main subject is determined from the sensor data of the detection blocks SLM and SRM having the highest correlation, and if there is harmful light, the influence is removed. Perform processing.

【0120】この有害光影響除去方法については後述す
る。ステップS188では、上記焦点検出演算により求
められて最終的に採用された像ずれ量ΔZRをデフォー
カス量に変換する演算を行う。
The method for removing the harmful light effect will be described later. In step S188, an operation of converting the image shift amount ΔZR finally obtained and obtained by the focus detection operation into a defocus amount is performed.

【0121】ステップS189では第1の実施の形態と
同様の収差補正を行う。そして、ステップS190では
上記デフォーカス量が合焦許容範囲内にあるか否かを判
別して、合焦範囲内にあればリターンする。
In step S189, the same aberration correction as in the first embodiment is performed. Then, in a step S190, it is determined whether or not the defocus amount is within the focusing allowable range, and if it is within the focusing range, the process returns.

【0122】一方、ステップS190にて非合焦状態で
あれば、ステップS191では求められたでフォーカス
量に基づいてレンズ駆動量を計算し、ステップS192
で撮影レンズ41の駆動制御を実行し、リターンする。
On the other hand, if the camera is out of focus in step S190, the lens drive amount is calculated based on the focus amount obtained in step S191, and the process proceeds to step S192.
To control the driving of the photographing lens 41 and return.

【0123】図13は、図12のステップS184にお
けるサブルーチン「焦点検出演算1」によるAFセンサ
データ(被写体像信号L(i)、R(i))上の検出ブ
ロックのシフト方法を示すものである。
FIG. 13 shows a method of shifting the detection block on the AF sensor data (subject image signals L (i), R (i)) by the subroutine "focus detection calculation 1" in step S184 of FIG. .

【0124】このように被写体像信号の全域にわたって
効率的に検出演算を行なう。なお、この「焦点検出演算
1」による処理は、第1の実施の形態の「中央ブロック
相関演算」と同様であるので説明を省略する。
As described above, the detection operation is efficiently performed over the entire area of the subject image signal. Note that the processing by the “focus detection calculation 1” is the same as the “center block correlation calculation” of the first embodiment, and a description thereof will be omitted.

【0125】次に、図14に示すフローチヤートに基づ
いて行われる「有害光影響除去処理」について説明す
る。ステップS193においては、上記「焦点検出演算
1」による相関性が最も高い検出ブロックSLM内のセ
ンサーデータL(i)について第1の実施の形態のサブ
ルーチン「有害光判断」を適用する。
Next, the "harmful light effect removal processing" performed based on the flowchart shown in FIG. 14 will be described. In step S193, the subroutine "judgment light determination" of the first embodiment is applied to the sensor data L (i) in the detection block SLM having the highest correlation by the "focus detection calculation 1".

【0126】ステップS194において、有害光フラグ
を参照して、有害光有りの場合にはステップS195は
進むが、有害光がない場合にはステップS199に進
み、焦点検出演算1の結果を採用してリターンする。
In step S194, referring to the harmful light flag, if there is harmful light, the process proceeds to step S195, but if there is no harmful light, the process proceeds to step S199 to adopt the result of focus detection calculation 1. To return.

【0127】ステップS195では、検出された有害光
位置に基づいて新しい検出ブロックBLを設定する。こ
こで、新検出ブロックBLの設定は、主要被写体と有害
光の位置関係に応じて異なる。
In step S195, a new detection block BL is set based on the detected harmful light position. Here, the setting of the new detection block BL differs depending on the positional relationship between the main subject and the harmful light.

【0128】図16の(a)の場合では、有害光の左端
がi=aに位置している。このとき、センサーデータL
(i)内で新検出ブロックBLの最終位置をBLE=a
と設定し、検出ブロックBLの画素数Nをa−SLM+
1とする。
In the case of FIG. 16A, the left end of the harmful light is located at i = a. At this time, the sensor data L
In (i), the final position of the new detection block BL is BLE = a
And the number N of pixels of the detection block BL is set to a−SLM +
Let it be 1.

【0129】また、先頭位置BLS=SLMである。ま
た、図16の(b)の場合では、有害光の右端がi=b
に位置している。センサデータL(i)内で新検出ブロ
ックBLの先頭位置BLSは、有害光の右端1=bとし
(BLS=b)、最終位置はBLE=SLM+26とす
る。
The head position BLS = SLM. In the case of FIG. 16B, the right end of the harmful light is i = b
It is located in. In the sensor data L (i), the head position BLS of the new detection block BL is set to 1 = b on the right end of the harmful light (BLS = b), and the final position is set to BLE = SLM + 26.

【0130】また、画素数NはSLM+27−bとな
る。ステップS196では、上記新検出ブロックBLに
ついて「焦点検出演算2」が実行されるが、この「焦点
検出演算2」については後述する。
The number of pixels N is SLM + 27−b. In step S196, “focus detection calculation 2” is executed for the new detection block BL. The “focus detection calculation 2” will be described later.

【0131】ステップS197においては、新検出ブロ
ックBLでの検出結果が検出可能か否かを判別し、検出
可能の場合にはステップS198にて焦点検出演算2の
結果を採用する。
In step S197, it is determined whether or not the detection result in the new detection block BL can be detected. If the detection result can be detected, the result of the focus detection calculation 2 is adopted in step S198.

【0132】一方、検出不能の場合にはステップS19
9において、焦点検出演算1の結果を採用する。次に、
図15に示されるフローチャートにより焦点検出演算2
を説明する。
On the other hand, if detection is impossible, step S19
At 9, the result of the focus detection calculation 1 is adopted. next,
The focus detection calculation 2 is performed according to the flowchart shown in FIG.
Will be described.

【0133】「焦点検出演算2」では、検出ブロックB
Lについての演算を行う。ステップS121において、
図17に示すようにセンサーデータL(i)、R(i)
上の検出ブロックの先頭を示す変数SL、SRにそれぞ
れ初期値としてBLS、Xs+BLS+d(Xsは合焦
時のシフト量)を入力する。
In “focus detection calculation 2”, the detection block B
An operation on L is performed. In step S121,
As shown in FIG. 17, sensor data L (i), R (i)
BLS and Xs + BLS + d (Xs is the shift amount at the time of focusing) are input as initial values to variables SL and SR indicating the top of the upper detection block, respectively.

【0134】次に、ステップS122において、変数J
に初期値2*dを設定する。JはセンサーデータR
(i)でのブロックのシフト回数をカウントするための
変数である。
Next, in step S122, the variable J
Is set to the initial value 2 * d. J is the sensor data R
This is a variable for counting the number of shifts of the block in (i).

【0135】次に、ステップS123において、以下に
示すような相関演算式(8)の計算を行う。 F(s)=Σ|L(SL+i)−R(SR+i)|(i=0〜N)…(8) s=SR−SL 続いて、相関出力F(s)の最小値を検出するために、
ステップS124にてF(s)とFminとを比較して
F(s)がFminよりも小さければFminにF
(s)を代入し、そのときのSL、SRをSL1、SR
1として記憶する(ステップS125)。
Next, in step S123, the following calculation of the correlation operation formula (8) is performed. F (s) = Σ | L (SL + i) −R (SR + i) | (i = 0 to N) (8) s = SR−SL Subsequently, to detect the minimum value of the correlation output F (s) ,
In step S124, F (s) is compared with Fmin. If F (s) is smaller than Fmin, Fmin is set to Fmin.
(S) and substitute SL and SR at that time with SL1 and SR
It is stored as 1 (step S125).

【0136】ここで、Fminは予め所定の初期値を設
定しておく。一方、ステップS124にて、F(s)が
Fmin以上の場合には、そのままステップS126に
進む。
Here, Fmin is set to a predetermined initial value in advance. On the other hand, if F (s) is equal to or greater than Fmin in step S124, the process proceeds directly to step S126.

【0137】ステップS126ではSR、Jをそれぞれ
デクリメントして、次のセンサーデータR(i)のブロ
ックを指定する。ステップS127では、J=0か否か
を判定する。
In step S126, SR and J are each decremented, and the next block of sensor data R (i) is specified. In step S127, it is determined whether J = 0.

【0138】ここで、Jが0でなければ上記演算を繰り
返すために、ステップS123に戻る。このようにステ
ップS123乃至S128では、センサーデータL
(i)のブロック位置をBLSに固定したままでセンサ
ーデータR(i)のブロック位置を1画素ずつ、回数J
回ずらすことにより、合焦時シフト量xsを中心にdの
範囲で合焦近傍のみシフト量を変化させながら相関をと
る動作を繰り返す。
If J is not 0, the process returns to step S123 to repeat the above calculation. As described above, in steps S123 to S128, the sensor data L
While the block position of (i) is fixed to the BLS, the block position of the sensor data R (i) is changed one pixel at a time J
By performing the rotation, the operation of obtaining the correlation is repeated while changing the shift amount only in the vicinity of the in-focus state in the range of d around the in-focus shift amount xs.

【0139】図17は検出ブロックBLに対するセンサ
データR(i)上の検出ブロックBRの位置シフトの様
子を示している。そして、J=0となると、ステップS
128でFM、FPの計算を行い、ステップS129
で、信頼性指数FS、SKの計算を行う。
FIG. 17 shows how the position of the detection block BR on the sensor data R (i) is shifted with respect to the detection block BL. When J = 0, step S
At step 128, FM and FP are calculated, and step S129 is performed.
Calculates the reliability indexes FS and SK.

【0140】この計算方法は前述の式(4)乃至(7)
と同一であるので、その説明については省略する。次
に、ステップS130、S131にて、上記信頼性指数
FS、SKを判定値FSth2、SKth2と比較し、
信頼性の有無を判別する。
This calculation method is based on the above equations (4) to (7).
Therefore, the description is omitted. Next, in steps S130 and S131, the reliability indexes FS and SK are compared with determination values FSth2 and SKth2,
Determine the reliability.

【0141】この判定値は、検出ブロックの画素数に応
じて、以下のように変更される。ここで、検出ブロック
内の画素数が少ない方が、相関出力F(s)が小さくな
りやすいので、信頼性指数FS、SKの判定値は、検出
画素数Nとすると、例えば FSth2=N/27*FSth …(9) SKth2=27/N*Skth …(10) のように画素数に応じて設定している。
This judgment value is changed as follows according to the number of pixels of the detection block. Here, as the number of pixels in the detection block is smaller, the correlation output F (s) tends to be smaller. Therefore, when the determination values of the reliability indexes FS and SK are the number N of detected pixels, for example, FSth2 = N / 27 * FSth (9) SKth2 = 27 / N * Skth (10) This is set according to the number of pixels.

【0142】そして、信頼性がない場合(FS≦FSt
h2またはSK>SKth2)には、検出不能としてリ
ターンするが、信頼性がある場合(FS>FSth2且
つSK≦SKth2)には、ステップS132に進んで
検出不能フラグをクリアし、リターンする。
If there is no reliability (FS ≦ FSt)
If h2 or SK> SKth2), the process returns as undetectable, but if there is reliability (FS> FSth2 and SK ≦ SKth2), the process proceeds to step S132 to clear the undetectable flag and returns.

【0143】また、ステップS133では検出不能フラ
グをセットしてリターンする。なお、第2の実施の形態
ではセンサデータL(i)内の最良相関ブロックSLM
についてのみ、有害光判断を行なっているが、センサデ
ータR(i)についてのみ有害光判断を行なってもよい
し、両方の結果を考慮してもよい。
At step S133, a detection impossible flag is set, and the routine returns. In the second embodiment, the best correlation block SLM in the sensor data L (i)
Although the harmful light determination is performed only for, the harmful light determination may be performed only for the sensor data R (i), or both results may be considered.

【0144】また、撮影レンズの焦点距離や撮影倍率等
の条件を考慮して、有害光判断を行なうか否かを判別す
るようにしてもよい。具体的には、有害光が遠近混在し
やすい焦点距離が小さいか又は撮影倍率が所定値より小
さい場合だけ有害光判断を行ってもよい。
Further, it may be determined whether or not to perform the harmful light determination in consideration of the conditions such as the focal length of the photographing lens and the photographing magnification. Specifically, the determination of the harmful light may be performed only when the focal length at which the harmful light is liable to be mixed is small or the imaging magnification is smaller than a predetermined value.

【0145】以上のように、本発明では、主要被写体の
背景に有害光被写体があっても、その有害光を分離して
焦点検出演算を行なうことによりその影響を排除し、A
F精度を向上させることが可能となる。
As described above, according to the present invention, even if there is a harmful light subject in the background of the main subject, the influence of the harmful light is eliminated by performing focus detection calculation by separating the harmful light.
F accuracy can be improved.

【0146】なお第1及び第2の実施の形態では、TT
L位相差方式の焦点検出装置に適用しているが、外光式
パッシブ測距装置に適用してもデフォーカス量データが
距離データに置き換わるだけであり、まったく同様の効
果が得られる。
In the first and second embodiments, TT
Although the present invention is applied to the focus detection device of the L phase difference method, even if it is applied to the external light type passive distance measuring device, only the defocus amount data is replaced with the distance data, and the same effect can be obtained.

【0147】また、以上の処理を夜景モードが選択され
ている場合にだけ実行するようにして、他の撮影モード
の場合には実行しないようにしてもよい。本発明の焦点
調節装置によれば、測距視野内や被写体の背景に、夜景
撮影における街灯のような有害光があっても、その影響
を排除してAF精度を向上させることができるという顕
著な効果が得られる。
Further, the above processing may be executed only when the night scene mode is selected, and may not be executed when another shooting mode is selected. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the focus adjustment apparatus of this invention, even if there exists harmful light like a streetlight in night scene photography in the range-finding field or the background of the subject, it is possible to eliminate the influence and improve the AF accuracy remarkably. Effects can be obtained.

【0148】[0148]

【発明の効果】従って、以上説明したように、本発明に
よれば、焦点検出等の測距動作に対して有害光の及ぼす
影響を除去し、主要被写体に対するAF精度の向上を可
能とする測距装置を提供することができる。
Therefore, as described above, according to the present invention, the influence of harmful light on the distance measuring operation such as focus detection is removed, and the AF accuracy for the main subject can be improved. A distance device can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本発明の第1の実施の形態によるカメ
ラの自動焦点調節装置として適用可能な測距装置の概念
を示したブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a concept of a distance measuring device applicable as an automatic focusing device of a camera according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図2は、本発明の自動焦点調節装置を適用した
カメラの全体の構成を示したブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing the overall configuration of a camera to which the automatic focusing device of the present invention is applied.

【図3】図3は、AFセンサ15の内部ブロック構成を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an internal block configuration of an AF sensor 15;

【図4】図4は、CPU11とAFセンサ15の動作を
説明するタイミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart for explaining operations of a CPU 11 and an AF sensor 15;

【図5】図5は、補助光を兼ねているストロボ制御部2
0の詳細な構成を示すブロック図である。
FIG. 5 is a strobe control unit 2 also serving as an auxiliary light;
FIG. 2 is a block diagram showing a detailed configuration of the 0 ’.

【図6】図6は、本発明の第1の実施の形態のカメラ全
体の動作を示したメインルーチンのフローチャートであ
る。
FIG. 6 is a flowchart of a main routine showing an operation of the entire camera according to the first embodiment of the present invention.

【図7】図7は、上記ステップS4におけるサブルーチ
ン「AF」のフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart of a subroutine “AF” in step S4.

【図8】図8は、図7のステップS27で実行されるサ
ブルーチン「中央ブロック相関演算」について説明する
ためのフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart for explaining a subroutine “central block correlation calculation” executed in step S27 of FIG. 7;

【図9】図9は、FM、Fmin、FPの関係を示すも
ので、図9の(a)、(b)の横軸は、光電変換素子の
位置(左端からの素子の番号)であり、縦軸は相関出力
を示している。
FIG. 9 shows the relationship among FM, Fmin, and FP. The horizontal axis in FIGS. 9A and 9B indicates the position of the photoelectric conversion element (element number from the left end). The vertical axis indicates the correlation output.

【図10】図10は、図7のステップS23で実行され
るサブルーチン「有害光判断」の概念図である。
FIG. 10 is a conceptual diagram of a subroutine “harmful light determination” executed in step S23 of FIG. 7;

【図11】図11は、図7のステップS23で実行され
るサブルーチン「有害光判断」のフローチャートであ
る。
FIG. 11 is a flowchart of a subroutine “harmful light determination” executed in step S23 of FIG. 7;

【図12】図12は、第2の実施の形態によるサブルー
チン「AF」のフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart of a subroutine “AF” according to the second embodiment.

【図13】図13は、図12のステップS184におけ
るサブルーチン「焦点検出演算1」によるAFセンサデ
ータ(被写体像信号L(i)、R(i))上の検出ブロ
ックのシフト方法を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing a method of shifting a detection block on AF sensor data (subject image signals L (i), R (i)) by a subroutine “focus detection calculation 1” in step S184 of FIG. 12; is there.

【図14】図14は、「有害光影響除去処理」について
説明するためのフローチヤートである。
FIG. 14 is a flowchart for explaining “harmful light effect removal processing”;

【図15】図15は、焦点検出演算2を説明するための
フローチヤートである。
FIG. 15 is a flowchart for explaining focus detection calculation 2;

【図16】図16は、検出された有害光位置に基づいて
新しい検出ブロックBLを主要被写体と有害光の位置関
係に応じて設定する場合の具体例を説明するための図で
ある。
FIG. 16 is a diagram for explaining a specific example in a case where a new detection block BL is set based on a detected harmful light position in accordance with a positional relationship between a main subject and harmful light.

【図17】図17は、センサデータL(i)、R(i)
上の検出ブロックの位置シフトの先頭を示す変数SL、
SRにそれぞれ初期値としてBLS、Xs+BLS+d
(xsは合焦時のシフト量)を入力する様子を示す図で
ある。
FIG. 17 shows sensor data L (i) and R (i)
A variable SL indicating the head of the position shift of the upper detection block,
BLS, Xs + BLS + d as initial values for SR
FIG. 9 is a diagram illustrating a state where (xs is a shift amount at the time of focusing) is input.

【図18】図18は、点光源状の直接光がAFセンサの
有効受光領域の端に入射した場合、像の重心位置がずれ
るために誤測距となることを説明するための図である。
FIG. 18 is a diagram for explaining that when direct light in the form of a point light source enters an end of an effective light receiving area of an AF sensor, an erroneous distance measurement is caused due to a shift in the center of gravity of an image. .

【図19】図19は、従来技術を説明するための図であ
る。
FIG. 19 is a diagram for explaining a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…測距手段、 2…有害光判断手段、 3…測距演算方法変更手段、 4…制御手段、 41…撮影レンズ、 42…メインミラー、 43…ファインダ光学系、 44…サブミラー、 45…AF光学系、 51…第1群レンズ、 52…第2群レンズ、 53…第3群レンズ、 54…第4群レンズ、 55…第5群レンズ、 87…絞り、 61…スクリーン、 62…コンデンサレンズ、 63…プリズム、 64…モールドダハミラー、 65…接眼レンズ、 71…シャッタ、 72…フィルム、 81…視野絞り、 82…赤外カットフィルタ、 83…コンデンサレンズ、 84…ミラー、 85…再結像絞り、 86…再結像レンズ、 10…カメラ制御部、 11…中央処理装置(CPU)、 12…インターフェースIC、 13…露光制御部、 14…フィルム駆動部、 15…AFセンサ、 16…絞り駆動部、 17…ズーム制御部、 18…AFレンズ制御部、 19…測光部、 20…ストロボ制御部、 21…スイッチ群、 22…EEPROM、 15L、15R…フォトダイオードアレイ、 23…ズームモータ、 24…エンコーダ、 25…AFモータ、 26…エンコーダ、 EAC…画素増幅回路、 SR…シフトレジスタ、 SCC…センサ制御回路。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Distance measurement means, 2 ... Harmful light judgment means, 3 ... Distance measurement calculation method change means, 4 ... Control means, 41 ... Photographing lens, 42 ... Main mirror, 43 ... Finder optical system, 44 ... Submirror, 45 ... AF Optical system, 51: first group lens, 52: second group lens, 53: third group lens, 54: fourth group lens, 55: fifth group lens, 87: diaphragm, 61: screen, 62: condenser lens 63, prism, 64, molded roof mirror, 65, eyepiece, 71, shutter, 72, film, 81, field stop, 82, infrared cut filter, 83, condenser lens, 84, mirror, 85, re-imaging Aperture 86 Re-imaging lens 10 Camera control unit 11 Central processing unit (CPU) 12 Interface IC 13 Exposure control unit 14 Fill Drive unit, 15: AF sensor, 16: Aperture drive unit, 17: Zoom control unit, 18: AF lens control unit, 19: Photometry unit, 20: Flash control unit, 21: Switch group, 22: EEPROM, 15L, 15R ... photodiode array, 23 ... zoom motor, 24 ... encoder, 25 ... AF motor, 26 ... encoder, EAC ... pixel amplifier circuit, SR ... shift register, SCC ... sensor control circuit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 奥村 洋一郎 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA06 CC00 DD09 DD12 EE05 FF01 FF04 FF05 GG08 JJ25 JJ26 LL04 MM22 NN16 QQ08 QQ12 QQ21 QQ23 QQ25 QQ34 QQ37 QQ38 QQ51 SS03 SS13 2F112 AA08 AA10 AC04 BA06 BA07 BA14 CA02 DA04 DA28 DA40 FA03 FA09 FA12 FA14 FA21 FA38 FA45 2H011 AA01 BA21 BB02 BB03 BB04 BB05 DA01 2H051 AA05 AA06 BA02 CB20 CE07 CE18 CE21 DA03 DA22  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Yoichiro Okumura 2-43-2 Hatagaya, Shibuya-ku, Tokyo F-term in Olympus Optical Industrial Co., Ltd. 2F065 AA06 CC00 DD09 DD12 EE05 FF01 FF04 FF05 GG08 JJ25 JJ26 LL04 MM22 NN16 QQ08 QQ12 QQ21 QQ23 QQ25 QQ34 QQ37 QQ38 QQ51 SS03 SS13 2F112 AA08 AA10 AC04 BA06 BA07 BA14 CA02 DA04 DA28 DA40 FA03 FA09 FA12 FA14 FA21 FA38 FA45 2H011 AA01 BA21 BB02 BB03 A02BA05 DA05 DA05

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 撮影レンズの焦点状態、または被写体ま
での距離を所定の測距演算方法により検出して測距信号
を出力する測距手段と、 上記測距手段による測距結果に悪影響を及ぼす有害光の
影響があるかを判定する有害光判定手段と、 上記有害光判定手段において有害光が含まれていると判
断された場合には、有害光の影響を除去するように上記
測距手段による所定の測距演算方法を変更する制御手段
と、 を具備することを特徴とする測距装置。
1. A distance measuring means for detecting a focus state of a photographing lens or a distance to a subject by a predetermined distance calculating method and outputting a distance measuring signal, and adversely affects a distance measurement result by the distance measuring means. Harmful light determining means for determining whether there is an influence of harmful light; and the distance measuring means for removing the influence of the harmful light when the harmful light determining means determines that the harmful light is included. And a control means for changing a predetermined distance calculation method according to the following.
【請求項2】上記測距手段は、光電変換素子列を有する
光電変換手段を含み、 上記有害光判定手段は、上記光電変換素子列上の有害光
の位置を検出し、 上記制御手段は、上記有害光判定手段の検出する有害光
位置に基づいて上記測距手段により測距演算を行うエリ
アを設定することを特徴とする請求項1に記載の測距装
置。
2. The distance measuring means includes a photoelectric conversion means having a photoelectric conversion element array, the harmful light determination means detects a position of harmful light on the photoelectric conversion element array, and the control means comprises: 2. The distance measuring apparatus according to claim 1, wherein an area in which the distance measurement is performed by the distance measuring means is set based on the position of the harmful light detected by the harmful light determination means.
【請求項3】上記測距手段は、電荷蓄積信号を出力する
光電変換素子列を有する光電変換手段を含み、 上記制御手段は、上記有害光判定手段において有害光が
含まれていると判定された場合には、上記光電変換素子
列の電荷蓄積信号から有害光の影響を受ける領域を測距
演算に使用しないように上記測距手段を制御することを
特徴とする請求項1に記載の測距装置。
3. The distance measuring means includes photoelectric conversion means having a photoelectric conversion element array for outputting a charge accumulation signal, and the control means determines that the harmful light is included in the harmful light determination means. 2. The distance measuring device according to claim 1, wherein the distance measuring means is controlled so that an area affected by the harmful light from the charge accumulation signal of the photoelectric conversion element array is not used in the distance measuring operation. Distance device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009092824A (en) * 2007-10-05 2009-04-30 Sony Corp Imaging device
JP2010243899A (en) * 2009-04-08 2010-10-28 Canon Inc Focus detecting device and method, and imaging device
CN113631944A (en) * 2019-03-27 2021-11-09 松下知识产权经营株式会社 Distance measuring device and image generating method

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