JP3335702B2 - camera - Google Patents

camera

Info

Publication number
JP3335702B2
JP3335702B2 JP07708993A JP7708993A JP3335702B2 JP 3335702 B2 JP3335702 B2 JP 3335702B2 JP 07708993 A JP07708993 A JP 07708993A JP 7708993 A JP7708993 A JP 7708993A JP 3335702 B2 JP3335702 B2 JP 3335702B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
time
amount
red
auxiliary light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP07708993A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH06308370A (en
Inventor
淳 丸山
昌孝 井出
啓一 土田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optic Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optic Co Ltd filed Critical Olympus Optic Co Ltd
Priority to JP07708993A priority Critical patent/JP3335702B2/en
Publication of JPH06308370A publication Critical patent/JPH06308370A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3335702B2 publication Critical patent/JP3335702B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、カメラに関し、特に
測距時の閃光発光装置による予備照射を行って赤目を防
止するカメラに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION This invention relates to a camera, to a camera to prevent red-eye in particular by performing a preliminary irradiation by the flash light emission device at the time of ranging.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、測距時に予備照射を行って被
写体にかかる光を受光し、その輝度に基いて被写体距離
を測距する装置が使用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, there has been used an apparatus which performs preliminary irradiation at the time of distance measurement, receives light applied to the object, and measures the object distance based on the luminance thereof.

【0003】例えば、特開昭59−195605号公報
には、積分型受光素子を用いて、被写体の低輝度を検出
すると発光手段の発光動作を制御する装置が開示されて
いる。
For example, Japanese Patent Laying-Open No. 59-195605 discloses a device that controls the light emission operation of a light emitting means when low luminance of a subject is detected by using an integrating light receiving element.

【0004】また、ストロボを使用する写真撮影に於い
て、被写体に向けて照明光を直接照射する場合は、被写
体の目が赤く写るいわゆる赤目現象(以下、赤目と略記
する)が発生することがある。このため、従来はストロ
ボ撮影の前に、ストロボを予備照射して被写体の瞳孔を
縮小させた後、改めてストロボ撮影を行うようにしてい
た。
[0004] Further, in photographing using a strobe, when illuminating light is directly applied to a subject, a so-called red-eye phenomenon in which the subject's eyes appear red (hereinafter abbreviated as red-eye) may occur. is there. For this reason, conventionally, prior to stroboscopic photography, preflash irradiation was performed to reduce the pupil of the subject, and then stroboscopic photography was performed again.

【0005】例えば、特開平2−201430号公報に
は、露出動作の前に瞳孔収縮用として複数回の閃光発光
を行う装置が開示されている。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 2-201430 discloses an apparatus that emits a plurality of flashes for pupil contraction before an exposure operation.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た特開昭59−195605号公報によれば、測距時に
低輝度の状態が検出されると予備照射が行われるので、
予備照射が行われない測距に比べて閃光発光の総光量が
増えてしまうものであった。
However, according to the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 59-195605, preliminary irradiation is performed when a low luminance state is detected during distance measurement.
The total amount of flash light emission is increased as compared with the distance measurement in which the preliminary irradiation is not performed.

【0007】また、上記特開平2−201430号公報
によるものでは、露出動作の前に複数回の閃光発光が行
われるため、赤目防止用の閃光発光の総光量が増えてし
まい、閃光発光装置のメインコンデンサの充電時間が長
くなってしまうという課題があった。
Further, in the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 2-201430, the flash light emission is performed a plurality of times before the exposure operation, so that the total amount of flash light emission for preventing red-eye increases, and the flash light emitting device has There is a problem that the charging time of the main capacitor is prolonged.

【0008】この発明は上記課題に鑑みてなされたもの
で、赤目防止の効果を損わずに、赤目防止用の閃光発光
の総光量を減じてメインコンデンサの充電時間を短縮さ
せることのできるカメラを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and a camera capable of reducing the total amount of flash light emission for red-eye prevention and reducing the charging time of a main capacitor without impairing the effect of red-eye prevention. The purpose is to provide.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】すなわち請求項1に記載
の発明は、被写体光を2像に分割し、各像の光強度分布
を測定し、その像間隔から撮影光学系のデフォーカス量
を求める自動焦点調節装置と、上記光強度分布測定時に
被写体に可視領域の発光波長を有する補助光を照射する
補助光照射装置と、露光開始前に瞳孔収縮用として赤目
防止光を照射する赤目防止発光装置と、上記補助光の照
射終了からの時間を計時する計時手段と、を具備し、上
記計時手段により計時された時間が予め定められた時間
よりも小さい場合は赤目防止光の光量を減じるようにし
たことを特徴とする。また、請求項2に記載の発明は、
被写体光を2像に分割し、各像の光強度分布を測定し、
その像間隔から撮影光学系のデフォーカス量を求める自
動焦点調節装置と、上記光強度分布測定時に被写体に可
視領域の発光波長を有する補助光を照射する補助光照射
装置と、露光開始前に瞳孔収縮用として赤目防止光を照
射する赤目防止発光装置と、上記補助光の照射終了から
の時間を計時する計時手段と、を具備し、上記計時手段
により計時された時間が予め定められた時間よりも小さ
い場合は上記赤目防止発光装置による赤目防止光の照射
を禁止するようにしたことを特徴とする。
According to the first aspect of the present invention, the subject light is divided into two images, the light intensity distribution of each image is measured, and the defocus amount of the photographing optical system is determined from the image interval. An automatic focusing device to be sought, an auxiliary light irradiating device for irradiating an auxiliary light having an emission wavelength in the visible region to the subject at the time of measuring the light intensity distribution, and a red-eye preventing light for irradiating a red-eye preventing light for pupil contraction before starting the exposure Device, and a time measuring means for measuring the time from the end of irradiation of the auxiliary light, comprising: if the time measured by the time measuring means is smaller than a predetermined time, the light amount of the red-eye preventing light is reduced. It is characterized by the following. The invention according to claim 2 is
Dividing the subject light into two images, measuring the light intensity distribution of each image,
An automatic focus adjustment device for obtaining a defocus amount of the photographing optical system from the image interval; an auxiliary light irradiation device for irradiating an object with auxiliary light having an emission wavelength in a visible region at the time of measuring the light intensity distribution; A red-eye prevention light-emitting device that irradiates red-eye prevention light for contraction, and time-measuring means that measures time from the end of the irradiation of the auxiliary light, and a time measured by the time-measuring means is a predetermined time. When the value is also smaller, irradiation of the red-eye preventing light by the red-eye preventing light emitting device is prohibited.

【0010】[0010]

【作用】請求項1に記載の発明にあっては、自動焦点調
節装置により被写体光が2像に分割され、各像の光強度
分布が測定され、その像間隔から撮影光学系のデフォー
カス量が求められ、補助光照射装置により上記光強度分
布測定時に被写体に可視領域の発光波長を有する補助光
が照射され、赤目防止発光装置により露光開始前に瞳孔
収縮用として赤目防止光が照射され、計時手段により上
記補助光の照射終了からの時間が計時される。そして、
上記計時手段により計時された時間が予め定められた時
間よりも小さい場合は赤目防止光の光量が減じられる。
更に、請求項2に記載の発明にあっては、自動焦点調節
装置により被写体光が2像に分割され、各像の光強度分
布が測定され、その像間隔から撮影光学系のデフォーカ
ス量が求められ、補助光照射装置により上記光強度分布
測定時に被写体に可視領域の発光波長を有する補助光が
照射され、赤目防止発光装置により露光開始前に瞳孔収
縮用として赤目防止光が照射され、計時手段により上記
補助光の照射終了からの時間が計時される。そして、上
記計時手段により計時された時間が予め定められた時間
よりも小さい場合は上記赤目防止発光装置による赤目防
止光の照射が禁止される。
According to the first aspect of the present invention, the subject light is divided into two images by the automatic focusing device, the light intensity distribution of each image is measured, and the defocus amount of the photographing optical system is determined from the image interval. Is determined, the subject is illuminated with auxiliary light having an emission wavelength in the visible region at the time of the light intensity distribution measurement by the auxiliary light irradiating device, and the red-eye preventing light is emitted for pupil contraction before the start of exposure by the red-eye preventing light emitting device, The time from the end of the irradiation of the auxiliary light is measured by the timer. And
If the time measured by the time measuring means is smaller than a predetermined time, the light amount of the red-eye preventing light is reduced.
Further, in the invention according to claim 2, the subject light is divided into two images by the automatic focusing device, the light intensity distribution of each image is measured, and the defocus amount of the photographing optical system is determined from the image interval. The auxiliary light irradiating device irradiates the subject with auxiliary light having an emission wavelength in the visible region at the time of measuring the light intensity distribution, and the red-eye preventing light-emitting device irradiates red-eye preventing light for contracting the pupil before the start of exposure, and The time from the end of the irradiation of the auxiliary light is measured by the means. If the time measured by the time measuring means is shorter than a predetermined time, irradiation of the red-eye preventing light by the red-eye preventing light emitting device is prohibited.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例を説
明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】図2は、この発明の一実施例のカメラの電
気回路を示すブロック図である。同図に於いて、CPU
10は、その内部ROMに記憶されたプログラムを逐次
実行していき、周辺のIC等の制御を行うものである。
このCPU10には、AFIC11、EEPROM1
2、液晶表示パネル13、データバッグ14、ストロボ
ユニット15、インターフェースIC16、モータドラ
イバIC23及び後述する各種スイッチが結合されてい
る。
FIG. 2 is a block diagram showing an electric circuit of the camera according to one embodiment of the present invention. In the figure, the CPU
Numeral 10 sequentially executes the programs stored in the internal ROM to control peripheral ICs and the like.
The CPU 10 includes an AFIC 11 and an EEPROM 1
2. The liquid crystal display panel 13, the data bag 14, the strobe unit 15, the interface IC 16, the motor driver IC 23, and various switches to be described later are connected.

【0013】上記AFIC11はオートフォーカス用の
ICであり、同実施例のカメラでは、AFはTTL位相
差検出方式を採用を介している。被写体光は、撮影レン
ズ17を通り、コンデンサレンズ18、セパレータレン
ズ19L、19Rから成るAF光学系20、AFIC1
1上面に配置されたフォトセンサアレイ21L、21R
上に到達される。すると、AFIC11内部では、光量
積分、量子化といった処理が行われる。この測距情報
は、AFIC11からCPU10へ転送される。
The AFIC 11 is an autofocus IC. In the camera of the embodiment, AF is performed by employing a TTL phase difference detection method. The subject light passes through a photographing lens 17, an AF optical system 20 including a condenser lens 18, separator lenses 19 L and 19 R, an AFIC 1
Photo sensor arrays 21L and 21R arranged on one upper surface
Reached on. Then, processing such as light intensity integration and quantization is performed inside the AFIC 11. This distance measurement information is transferred from the AFIC 11 to the CPU 10.

【0014】ところで、上記フォトセンサアレイの各素
子の特性にばらつきがあると、そのままでは正確な測距
情報を得ることができない。そこで、不揮発性記憶素子
であるEEPROM12に予めフォトセンサアレイのば
らつき情報を記憶させておき、AFIC11から得られ
る測距情報の補正演算を、CPU10にて行うようにす
る。その他、EEPROM12には、機械的なばらつき
や、各種素子の電気的特性のばらつき等、様々な調整値
が記憶されている。これらの調整値は、必要に応じてC
PU10に送られ、各種演算が行われる。尚、CPU1
0、AFIC11、EEPROM12の間でのデータの
授受は、シリアル通信にて行われる。
If the characteristics of each element of the photosensor array vary, accurate distance measurement information cannot be obtained as it is. Therefore, the variation information of the photo sensor array is stored in advance in the EEPROM 12 which is a nonvolatile storage element, and the CPU 10 performs the correction calculation of the distance measurement information obtained from the AFIC 11. In addition, the EEPROM 12 stores various adjustment values such as mechanical variations and variations in electrical characteristics of various elements. These adjustments may be adjusted as necessary
It is sent to the PU 10 and various operations are performed. CPU1
The transfer of data among the 0, AFIC 11, and EEPROM 12 is performed by serial communication.

【0015】液晶表示パネル13は、CPU10から送
られる信号により、フィルム駒数、撮影モード、ストロ
ボモード、絞り値、電池残量等の表示をする。また、デ
ータバッグ14は、CPU10からの制御信号により、
フィルムに日付けの写し込みを行うためのものである。
写し込みランプの光量は、フィルムのISO感度によっ
て段階的に変化する。更に、ストロボユニット15は、
撮影時またはAF測距時、被写体の輝度が不足していた
ときに、発光管を発光させて必要な輝度を被写体に与え
るためのものであり、CPU10からの信号にてIFI
C16で制御される。
The liquid crystal display panel 13 displays the number of film frames, a photographing mode, a strobe mode, an aperture value, a remaining battery level, and the like according to a signal sent from the CPU 10. Further, the data bag 14 is controlled by a control signal from the CPU 10.
This is for imprinting the date on the film.
The light quantity of the imprinting lamp changes stepwise according to the ISO sensitivity of the film. Further, the strobe unit 15
During shooting or AF ranging, when the luminance of the subject is insufficient, the light emitting tube is caused to emit light to give the required luminance to the subject.
It is controlled by C16.

【0016】上記インターフェイスIC(以下IFIC
と略記する)16は、CPU10と4ビットのパラレル
通信を行い、被写体輝度の測定、カメラ内温度の測定、
フォトインタラプタ等の出力信号の波形整形や、モータ
の定電圧駆動制御、温度安定、温度比例、電圧等の各種
定電圧の生成、バッテリの残量チェック、赤外光リモコ
ンの受信、モータドライバIC22、23の制御、各種
発光ダイオード(LED)24の制御、電源電圧のチェ
ック、昇圧回路の制御等が行われる。
The above interface IC (hereinafter referred to as IFIC)
16) performs 4-bit parallel communication with the CPU 10 to measure the subject brightness, measure the temperature in the camera,
Waveform shaping of the output signal of the photo interrupter, etc., constant voltage drive control of the motor, generation of various constant voltages such as temperature stabilization, temperature proportionality, voltage, etc., battery remaining amount check, infrared light remote control reception, motor driver IC22, The control of the LED 23, the control of various light emitting diodes (LED) 24, the check of the power supply voltage, the control of a booster circuit, and the like are performed.

【0017】バッテリの残量チェックは、バッテリの両
端に低抵抗を接続して、電流を流したときのバッテリ両
端の電圧をIFIC16内部で分圧してCPU10へ出
力し、このCPU10にてA/D変換を行って、チェッ
クすべく値を得る。
To check the remaining amount of the battery, a low resistance is connected to both ends of the battery, the voltage at both ends of the battery when a current flows is divided in the IFIC 16 and output to the CPU 10, and the CPU 10 performs A / D conversion. Perform the conversion and get the value to check.

【0018】電源電圧の低電圧監視は、IFIC16に
専用端子が設けられており、ここに入力される電源電圧
が規定値より低下すると、IFIC16からリセット信
号がCPU10へ出力される。これにより、CPU10
の暴走等を未然に防止している。昇圧回路の制御は、電
源電圧が所定値より低下したときに、昇圧回路を作動さ
せるというものである。
The IFIC 16 is provided with a dedicated terminal for monitoring the low voltage of the power supply voltage. When the power supply voltage input here falls below a specified value, a reset signal is output from the IFIC 16 to the CPU 10. Thereby, the CPU 10
Runaway is prevented beforehand. The control of the booster circuit operates the booster circuit when the power supply voltage falls below a predetermined value.

【0019】また、IFIC16には、被写体輝度の測
光用の2分割のシリコンフォトダイオード(SPD)2
5が接続されている。このSPD25の受光面は、画面
中央部分とその周辺部分というように2分割されてお
り、画面中央の一部分のみで測光を行うスポット測光
と、画面全体を使用して測光するアベレージ測光との2
通りの測光を行うことができるようになっている。この
SPD25からは、被写体輝度に応じた電流がIFIC
16に出力される。そして、IFIC16では、SPD
25からの出力を電圧に変換して、CPU10へ転送す
る。
The IFIC 16 has a two-part silicon photodiode (SPD) 2 for photometry of subject brightness.
5 is connected. The light receiving surface of the SPD 25 is divided into two parts, such as a central part of the screen and a peripheral part thereof. There are two types, a spot metering that measures light only at a part of the center of the screen, and an average metering that measures light using the entire screen.
Street photometry can be performed. From the SPD 25, the current corresponding to the subject brightness
16 is output. In the IFIC 16, the SPD
The output from 25 is converted to a voltage and transferred to CPU 10.

【0020】CPU10では、上記変換された電圧情報
を基に、露出演算、逆光判断等が行われる。カメラ内温
度の測定値は、IFIC16に内蔵された回路により、
絶対温度に比例した電圧が出力され、その信号がCPU
10にてA/D変換が行われることで得られる。この得
られた測温値は、温度によって状態が変化する機械部材
や電気信号の補正等に用いられる。
In the CPU 10, exposure calculation, backlight determination, and the like are performed based on the converted voltage information. The measured value of the temperature in the camera is obtained by a circuit built in IFIC16.
A voltage proportional to the absolute temperature is output, and the signal is
It is obtained by performing A / D conversion at 10. The obtained temperature measurement value is used for correction of a mechanical member whose state changes depending on the temperature, an electric signal, and the like.

【0021】上記IFIC16にはまた、受光用のシリ
コンフォトダイオード26が接続されている。このシリ
コンフォトダイオード26は、赤外光リモコンの受信を
するもので、リモコン送信用ユニット27の投光用LE
D28より変調されて発せられた赤外光を受信する。こ
のシリコンフォトダイオード26の出力は、IFIC1
6内部で波形整形等の処理が行われ、CPU10へ転送
される。
A light-receiving silicon photodiode 26 is connected to the IFIC 16. The silicon photodiode 26 is for receiving infrared light remote control, and the light emitting LE of the remote control transmission unit 27 is used.
The infrared light modulated and emitted from D28 is received. The output of the silicon photodiode 26 is IFIC1
Processing such as waveform shaping is performed inside 6 and transferred to the CPU 10.

【0022】更に、IFIC16には、AF測距終了、
ストロボ発光警告等のファインダ内表示用LED、或い
はフォトインタラプタ等に使用されているLEDが接続
されている。これらのLEDのオン、オフ及び発光光量
の制御は、CPU10及びEEPROM12、IFIC
16間で通信を行い、IFIC16が直接行う。また、
各種モータは、モータドライバIC22を介してIFI
C16により定電圧制御が行われる。
Further, the AFIC 16 has an AF distance measurement end,
An LED for display in a viewfinder for strobe light emission warning or the like or an LED used for a photo interrupter or the like is connected. The on / off of these LEDs and the control of the amount of emitted light are controlled by the CPU 10, the EEPROM 12, the IFIC
The communication between the ICs 16 is performed by the IFIC 16 directly. Also,
Various motors are connected to the IFI via the motor driver IC22.
Constant voltage control is performed by C16.

【0023】モータドライバIC22は、フィルム給送
及びシャッタのチャージを行うシャッタチャージ(S
C)モータ29、フォーカス調整のためのレンズ駆動用
(LD)モータ30、鏡枠のズーミング用のZMモータ
31の3つのモータの駆動及び昇圧回路の駆動、セルフ
タイマ動作表示用のLEDの駆動等を行う。そして、こ
れらの動作制御、例えばどのデバイスを駆動するか、モ
ータの正転または逆転か、制動をかけるか等は、CPU
10の信号をIFIC16が受けて、このIFIC16
がモータドライバIC22を制御することにより行われ
る。
The motor driver IC 22 has a shutter charge (S) for feeding the film and charging the shutter.
C) Driving three motors, a motor 29, a lens driving (LD) motor 30 for focus adjustment, a ZM motor 31 for zooming the lens frame, driving a booster circuit, driving a self-timer operation display LED, and the like. I do. Then, these operation controls, for example, which device is to be driven, whether the motor is rotating normally or reversely, and whether to apply braking, are determined by the CPU.
10 signal is received by the IFIC 16 and the IFIC 16
Is performed by controlling the motor driver IC 22.

【0024】SCモータ29がシャッタチャージ、フィ
ルム巻上げ、フィルム巻戻しの何れの状態にあるかは、
フォトインタラプタとクラッチレバーを用いてシャッタ
チャージフォトインタラプタ(SCPI)32で検出さ
れ、その情報はCPU10へ出力される。
Whether the SC motor 29 is in the shutter charge, film winding or film rewinding state
It is detected by a shutter charge photo interrupter (SCPI) 32 using a photo interrupter and a clutch lever, and the information is output to the CPU 10.

【0025】また、上記撮影レンズ17の繰出し量は、
LDモータ30に取付けられたレンズ駆動用フォトイン
タラプタ(LDPI)33で検出される。そして、その
出力は、IFIC16にて波形整形された後に、CPU
10へ送られる。
The extension amount of the photographing lens 17 is as follows.
It is detected by a lens driving photointerrupter (LDPI) 33 attached to the LD motor 30. The output is subjected to waveform shaping by the IFIC 16 and then output to the CPU.
Sent to 10.

【0026】鏡枠のズーミングの繰出し量は、ZMPI
(ズーミング用フォトインタラプタ)34及びZMPR
(ズーミングフォトリフレクタ)35で検出される。鏡
枠がテレ端とワイド端の間にあるとき、鏡枠に貼付けら
れた銀色シール(図示せず)の反射をZMPR35が検
出するように構成されている。ZMPR35の出力はC
PU10へ入力され、テレ端、ワイド端の検出が行われ
る。一方、ZMPI34はZMモータ31に取付けら
れ、その出力はIFIC16で波形整形された後、CP
U10へ入力され、テレ端またはワイド端からのズーミ
ング量が検出されるようになっている。
The extension amount of zooming of the lens frame is ZMPI.
(Photo interrupter for zooming) 34 and ZMPR
(Zooming photo reflector) 35. When the lens frame is between the telephoto end and the wide end, the ZMPR 35 is configured to detect the reflection of a silver seal (not shown) attached to the lens frame. The output of ZMPR35 is C
It is input to the PU 10 and the tele end and the wide end are detected. On the other hand, the ZMPI 34 is attached to the ZM motor 31, and its output is
It is input to U10, and the zooming amount from the telephoto end or the wide end is detected.

【0027】モータドライバIC23は、絞り調整ユニ
ット駆動用のステッピングモータであり、CPU10か
らの制御信号によりAVモータ36を駆動する。また、
AVPI37の出力は、IFIC16で波形整形された
後にCPU10へ入力され、絞り開放位置の検出が行わ
れる。
The motor driver IC 23 is a stepping motor for driving the aperture adjustment unit, and drives the AV motor 36 according to a control signal from the CPU 10. Also,
The output of the AVPI 37 is input to the CPU 10 after waveform shaping by the IFIC 16, and the aperture open position is detected.

【0028】尚、フォトインタラプタ等の波形整形は、
フォトインタラプタ、或いはフォトリフレクタ等の出力
の光電流を基準電流と比較し、矩形波として、IFIC
16より出力する。この時、基準電流にヒステリシスを
もたせることによって、ノイズ除去を行っている。更
に、IFIC16は、CPU10との通信により、基準
電流及びヒステリシス特性を変化させることができる。
Incidentally, the waveform shaping of the photo interrupter and the like is as follows.
The output photocurrent of a photo interrupter or a photoreflector is compared with a reference current,
16 is output. At this time, noise is removed by giving the reference current a hysteresis. Further, the IFIC 16 can change the reference current and the hysteresis characteristics by communicating with the CPU 10.

【0029】CPU10に結合されている各種スイッチ
は、次のような動作を行うために設けられている。
Various switches coupled to the CPU 10 are provided to perform the following operations.

【0030】ファーストレリーズスイッチRSWは、
レリーズ釦が半押しされた状態のときにオンとなり、測
距動作を行う。また、セカンドレリーズスイッチR2S
Wは、レリーズ釦が全押しされた状態のときにオンとな
り、各種測定値を基に撮影動作を行う。
The first release switch R 1 SW is
It is turned on when the release button is half-pressed, and performs a distance measurement operation. Also, the second release switch R2S
W is turned on when the release button is fully depressed, and performs a shooting operation based on various measured values.

【0031】ズームアップスイッチZUSW及びズーム
ダウンスイッチZDSWは、鏡枠のズーミングを行うス
イッチである。ズームアップスイッチZUSWがオンす
ると長焦点方向に、またズームダウンスイッチZDSW
がオンすると短焦点方向にズーミングする。
The zoom-up switch ZUSW and the zoom-down switch ZDSW are switches for zooming the lens frame. When the zoom up switch ZUSW is turned on, the camera moves in the long focal direction, and the zoom down switch ZDSW
Zooms in the short focus direction when is turned on.

【0032】セルフスイッチSELSWがオンとなる
と、セルフタイマ撮影モード、またはリモコンの待機状
態となる。この状態に於いて、セカンドレリーズスイッ
チR2SWがオンされればセルフタイマ撮影が行われ、
リモコン送信用ユニット27にて撮影操作が行われれ
ば、リモコンによる撮影が行われる。
[0032] When the self-switch SEL F SW is turned on, the standby state of the self-timer shooting mode or the remote control. In this state, if the second release switch R2SW is turned on, self-timer shooting is performed,
When a photographing operation is performed by the remote control transmitting unit 27, photographing is performed by the remote control.

【0033】スポットスイッチSPOTSWをオンする
と、測光を撮影画面の中央の一部のみで行うスポット測
光モードとなる(これは、AFセンサによる測光であ
る)。尚、スポットスイッチSPOTSWがオフでの通
常の測光は、測光用スポット25にて、評価測光が行わ
れる。
When the spot switch SPOTSW is turned on, a spot metering mode in which metering is performed only at a part of the center of the photographing screen is set (this is metering by the AF sensor). In the case of normal photometry with the spot switch SPOTSW turned off, evaluation photometry is performed at the photometric spot 25.

【0034】ピクチャスイッチPCT1SW〜PCT4
SW及びプログラムスイッチPSWは、プログラム撮影
モードの切換スイッチであり、撮影条件に合わせて撮影
者がモード選択を行う。
Picture switches PCT1SW to PCT4
The SW and the program switch PSW are switches for switching a program photographing mode, and the photographer selects a mode according to photographing conditions.

【0035】ピクチャスイッチPCTSWをオンする
とポートレートモードとなり、適正露出範囲内で被写界
深度が浅くなるように、絞り及びシャッタースピードが
決定される。ピクチャスイッチPCT2SWをオンする
と夜景モードとなり、通常撮影時の適正露出の値よりも
一段アンダーに設定する。ピクチャスイッチPCT3S
Wをオンすると風景モードとなり、適正露出範囲内で被
写界深度ができるだけ深くなるように絞り及びシャッタ
スピードの値を決定する。ピクチャスイッチPCT4S
Wをオンにするとマクロモードとなる。このモードは、
近接撮影時に使用される。
When the picture switch PCT 1 SW is turned on, a portrait mode is set, and the aperture and shutter speed are determined so that the depth of field becomes shallow within an appropriate exposure range. When the picture switch PCT2SW is turned on, the night view mode is set, and the exposure is set one step lower than the value of the appropriate exposure during normal shooting. Picture switch PCT3S
When W is turned on, a landscape mode is set, and the values of the aperture and the shutter speed are determined so that the depth of field becomes as deep as possible within the appropriate exposure range. Picture switch PCT4S
When W is turned on, a macro mode is set. This mode is
Used during close-up photography.

【0036】以上のピクチャスイッチPCT1SW〜P
CT4SWは、同時に2つ以上選択することはできない
ようになっている。
The above picture switches PCT1SW-P
The CT4SW cannot be selected two or more at the same time.

【0037】プログラムスイッチPSWは、通常のプロ
グラム撮影モード用のスイッチである。このプログラム
スイッチPSWを押すことで、上記ピクチャスイッチP
CT1SW〜PCT4SWのリセット、及び後述するA
V優先プログラムモードのリセットが行われる。
The program switch PSW is a switch for a normal program photographing mode. By pressing this program switch PSW, the picture switch P
Reset of CT 1SW to PCT4SW, and A
The reset of the V priority program mode is performed.

【0038】AV優先スイッチAVSWをオンすると、
撮影モードがAV優先プログラムモードとなる。このモ
ードは、AV値を撮影者が決定し、そのAV値に合わせ
てプログラムでシャッタースピードを決定する。このモ
ードになると、ピクチャスイッチPCT2SW及びPC
T4SWは、上述した機能はなくなり、AV値の設定ス
イッチとなる。すなわち、ピクチャスイッチPCT2S
WはAV値を大きくするスイッチで、ピクチャスイッチ
PCT4SWはAV値を小さくするスイッチとなる。
When the AV priority switch AVSW is turned on,
The shooting mode becomes the AV priority program mode. In this mode, the AV value is determined by the photographer, and the shutter speed is determined by a program according to the AV value. In this mode, picture switches PCT2SW and PCT2
The T4SW does not have the above-described function, and serves as an AV value setting switch. That is, the picture switch PCT2S
W is a switch for increasing the AV value, and picture switch PCT4SW is a switch for decreasing the AV value.

【0039】ストロボスイッチSTSWは、ストロボの
発光モードの切換スイッチである。すなわち、通常自動
発光モード(AUTO)、赤目軽減自動発光モード(A
UTO−S)、強制発光モード(FILL−IN)、及
びストロボオフモード(OFF)を切換えるスイッチで
ある。
The strobe switch STSW is a switch for switching the strobe light emission mode. That is, the normal automatic light emission mode (AUTO) and the red-eye reduction automatic light emission mode (A
A switch for switching between UTO-S), forced light emission mode (FILL-IN), and strobe off mode (OFF) .

【0040】パノラマスイッチPANSWは、撮影状態
がパノラマ撮影か通常撮影かを検出するためのスイッチ
であり、パノラマ撮影時にオンとなる。撮影モードがパ
ノラマ撮影になっていると、測光の補正演算等を行う。
これは、パノラマ撮影時には撮影画面の上下の一部がマ
スクされ、これに伴って測光センサの一部もマスクされ
ることになるので、正確な測光を行うことができないた
めである。
The panorama switch PANSW is a switch for detecting whether the photographing state is panoramic photographing or normal photographing, and is turned on during panoramic photographing. When the photographing mode is panoramic photographing, a photometric correction calculation or the like is performed.
This is because the upper and lower portions of the photographing screen are masked during panoramic photographing, and a part of the photometric sensor is also masked accordingly, so that accurate photometry cannot be performed.

【0041】裏蓋スイッチBKSWは、カメラの裏蓋の
状態を検出するためのスイッチで、裏蓋が閉じている状
態がオフ状態となる。この裏蓋スイッチBKSWがオン
からオフへ状態が移行すると、フィルムのローデングが
開始されたことになる。
The back cover switch BKSW is a switch for detecting the state of the back cover of the camera, and is turned off when the back cover is closed. When the back cover switch BKSW changes from on to off, it means that film loading has started.

【0042】また、パワースイッチPWSWは、電源の
オン、オフをするためのスイッチであり、シャッタチャ
ージスイッチSCSWは、シャッタチャージを検出する
ためのスイッチである。ミラーアップスイッチMUSW
はミラーアップを検出するためのスイッチであり、ミラ
ーアップでオンとなる。更に、DXスイッチDXSW
は、フィルムのパトローネに印刷されているフィルム感
度を示すDXコードを読取るため、及びフィルム装填の
有無を検出するためのスイッチであり、図示されていな
いが5つのスイッチ群で構成されている。
The power switch PWSW is a switch for turning on and off the power supply, and the shutter charge switch SCSW is a switch for detecting shutter charge. Mirror up switch MUSW
Is a switch for detecting mirror up, and is turned on when the mirror is up. Furthermore, DX switch DXSW
Is a switch for reading the DX code indicating the film sensitivity printed on the film cartridge and for detecting the presence or absence of the film loaded. The switch is composed of five switch groups (not shown).

【0043】次に、図3のフローチャートを参照して、
このカメラのファーストレリーズ処理の動作について説
明する。
Next, referring to the flowchart of FIG.
The operation of the first release process of the camera will be described.

【0044】先ず、ステップS1にて、後述する図20
のストロボ回路の電源供給制御回路58の入力G−ON
を“H(ハイレベル)”にして、ステップS2で充電電
圧チェックを行う。次いで、ステップS3に於いてAF
測距を行う。このAF測距のサブルーチンについての詳
細は後述する。
First, in step S1, FIG.
G-ON of the power supply control circuit 58 of the electronic flash circuit
Is set to “H (high level)”, and a charging voltage check is performed in step S2. Next, AF is performed in step S3.
Perform distance measurement. Details of this AF distance measurement subroutine will be described later.

【0045】そして、ステップS4に於いて、AF測距
結果が検出不能であったかを検出不能フラグを参照す
る。ここで、検出不能であった場合はステップS5に移
行して、ファインダ内LED等による非合焦表示を行っ
た後、リターンする。一方、検出できている場合はステ
ップS6に進んでAF測距時補助光を照射したか否かを
補助光フラグを参照して判別する。
Then, in step S4, it is determined whether or not the AF distance measurement result is undetectable by referring to an undetectable flag. Here, when the detection is not possible, the process proceeds to step S5, and after performing out-of-focus display using the LED in the finder or the like, the process returns. On the other hand, if the detection has been successful, the process proceeds to step S6, where it is determined whether or not the auxiliary light has been irradiated at the time of AF distance measurement with reference to the auxiliary light flag.

【0046】このステップS6にて補助光オンであった
場合、すなわちAF測距時に補助光照射を行った場合
は、ステップS7に進んで光量オーバフラグ及び光量ア
ンダーフラグを参照する。ここで、光量オーバまたは光
量アンダーであった場合は、測距結果に信頼性がないと
してステップS3に戻り、補助光光量を変更して再度A
F測距を行う。また、光量が適正であった場合は、補助
光オフの場合と同様にステップS8に進んで、合焦フラ
グを参照して合焦か否かを判別する。
If the auxiliary light has been turned on in step S6, that is, if the auxiliary light has been irradiated during AF distance measurement, the flow advances to step S7 to refer to the light amount over flag and the light amount under flag. If the light amount is over or under, the process returns to step S3 assuming that the distance measurement result is unreliable, changes the auxiliary light amount, and sets A again.
F distance measurement is performed. If the light amount is appropriate, the process proceeds to step S8 as in the case where the auxiliary light is turned off, and it is determined whether or not focusing is performed by referring to the focusing flag.

【0047】ここで、非合焦の場合はステップS9に移
行して、AF測距の結果に基いてレンズ駆動を行う。そ
して、ステップS10にて、合焦フラグを参照して合焦
か否か判別する。ここで、合焦であればステップS11
に移行し、非合焦の場合は、再度ステップS3のAF測
距に戻って、AF測距処理を行う。
Here, if out of focus, the flow shifts to step S9 to drive the lens based on the result of the AF distance measurement. Then, in step S10, it is determined whether or not focusing is performed by referring to the focusing flag. Here, if in-focus, step S11
When the focus is out of focus, the process returns to the AF ranging in step S3 to perform the AF ranging.

【0048】一方、上記ステップS8に於いて、合焦の
場合はステップS11に進んで、ファインダ内のLED
表示やブザーの発音により合焦表示を行う。そして、電
源供給制御回路58のG−ONを“L(ローレベル)”
にした後、リターンする。
On the other hand, if it is determined in step S8 that the object is in focus, the process proceeds to step S11, where the LED in the finder is set.
In-focus display is performed by display and buzzer sound. Then, the G-ON of the power supply control circuit 58 is set to “L (low level)”.
And then return.

【0049】次に、図4のフローチャートを参照して、
AF測距のサブルーチンを説明する。
Next, referring to the flowchart of FIG.
A subroutine of AF ranging will be described.

【0050】ステップS21では、AFIC11内の光
電変換素子列21R及び21LによるAFセンサ積分が
行われる。ここで、光電変換素子列21R及び21L上
に被写体像を結像させるためのAF光学系20について
説明する。
In step S21, AF sensor integration is performed by the photoelectric conversion element arrays 21R and 21L in the AFIC 11. Here, the AF optical system 20 for forming a subject image on the photoelectric conversion element arrays 21R and 21L will be described.

【0051】撮影レンズによって形成される被写体像
を、再結像光学系により2つの被写体像に分割し、光電
変換素子列上に再結像し、その2つの被写体像の位置ず
れを検出することにより合焦検出を行うような焦点検出
光学系は、従来から提案されている。その代表的なもの
は、図5に示されるように、撮影レンズ17の結像面4
1近傍に位置するコンデンサレンズ18と、一対の再結
像レンズ19R、19Lによって構成される。上記結像
面41上には、撮影レンズ17の合焦時に被写体像42
が結像する。この被写体像42は、コンデンサレンズ1
8と、一対の再結像レンズ19R、19Lにより、光軸
Oに対して垂直な光電変換素子列の2列結像面43上に
再形成され、第1の被写体像42L、第2の被写体像4
2Rとなる。
A subject image formed by a photographing lens is divided into two subject images by a re-imaging optical system, re-formed on a photoelectric conversion element array, and a positional shift between the two subject images is detected. 2. Description of the Related Art A focus detection optical system that performs focus detection by using a conventional method has been proposed. A typical example is, as shown in FIG.
1 and a pair of re-imaging lenses 19R and 19L. An object image 42 is formed on the image forming surface 41 when the photographing lens 17 is in focus.
Is imaged. This subject image 42 is formed by the condenser lens 1
8 and a pair of re-imaging lenses 19R and 19L, are re-formed on a two-row imaging surface 43 of a photoelectric conversion element array perpendicular to the optical axis O, and a first subject image 42L and a second subject Statue 4
2R.

【0052】撮影レンズ17が、いわゆる前ピン、すな
わち、結像面41の前方に被写体像44を形成する場
合、その被写体像44は、互いに光軸Oに近付いた形で
光軸Oに対して垂直に再結像されて、第1の被写体像4
4L、第2の被写体像44Rとなる。また、撮像レンズ
17が後ピン、すなわち、上記結像面41の後方に被写
体像45を形成する場合、その被写体像45は、互いに
光軸Oから離れた位置に光軸Oに対して垂直に再結像さ
れて、第1の被写体像45L、第2の被写体像45Rと
なる。これらの第1、第2の被写体像45L、45R
は、同一方向を向いており、両像に於いて互いに対応す
る部分の間隔を検出することにより、撮影レンズ17の
合焦状態を、前ピン、後ピン等を含めて検出することが
できる。
When the taking lens 17 forms a so-called front focus, that is, a subject image 44 in front of the image forming plane 41, the subject images 44 are positioned close to the optical axis O with respect to the optical axis O. Vertically re-imaged, the first subject image 4
4L and the second subject image 44R. When the imaging lens 17 forms a back focus, that is, a subject image 45 behind the imaging surface 41, the subject images 45 are perpendicular to the optical axis O at positions away from the optical axis O. The image is re-formed to become the first subject image 45L and the second subject image 45R. These first and second subject images 45L, 45R
Are oriented in the same direction, and the in-focus state of the photographing lens 17 can be detected including the front focus, the rear focus, and the like by detecting the interval between corresponding portions in both images.

【0053】次に、上記ステップS21に於けるAFセ
ンサ積分の処理動作について、図6のAFセンサ積分の
フローチャートを参照して説明する。
Next, the processing operation of the AF sensor integration in step S21 will be described with reference to the flowchart of the AF sensor integration of FIG.

【0054】最初に、ステップS41に於いて、ストロ
ボオフモードであるか否かを判定し、ストロボオフモー
ドである場合はステップS42に進んで積分リミット時
間を通常の2倍に設定する。そして、ステップS43に
て積分中でない場合は、ステップS44で積分をスター
トする(S123)。積分のスタートは、後述する図7
のAFIC11に対して、CPU10からリセット信号
AFRESが出力されて開始される。
First, in step S41, it is determined whether or not the flash-off mode has been set. If the flash-off mode has been set, the flow advances to step S42 to set the integral limit time to twice the normal value. If the integration is not being performed in step S43, the integration is started in step S44 (S123). The start of integration is shown in FIG.
The reset signal AFRES is output from the CPU 10 to the AFIC 11 and starts.

【0055】一方、上記ステップS43に於いて、積分
がスタートしている場合はステップS46に進み、補助
光モード、すなわち被写体に補助光を照射して積分を行
うモードであるか否かを判定する。ここで、補助光モー
ドではない場合はステップS51に進み、積分が終了し
たかどうかを、図7のAFIC11内のセンサ制御回路
SCCの積分終了出力AFENDを参照する。
On the other hand, if the integration has been started in step S43, the flow advances to step S46 to determine whether or not the mode is the auxiliary light mode, that is, the mode in which the auxiliary light is applied to the subject to perform integration. . If the mode is not the auxiliary light mode, the process proceeds to step S51 to determine whether or not the integration has been completed by referring to the integration end output AFEND of the sensor control circuit SCC in the AFIC 11 in FIG.

【0056】そして、積分が終了している時はリターン
し、終了していない時はステップS52に進んで、積分
リミット時間に達したか否かを判定する。積分時間がこ
の積分リミット時間を越えた場合は、ステップS53に
て、AFIC11の積分動作を強制的に停止させる。ま
た、上記ステップS52にて、積分リミット時間を越え
ていない時はステップS43に戻り、上述したステップ
S43、S46、S51、S52のループを、積分終了
または積分リミット時間になるまで繰返す。尚、積分時
間は積分制御回路AFEND信号に対応して割込み処理
でRAMに格納される。
When the integration is completed, the process returns. When the integration is not completed, the process proceeds to step S52 to determine whether or not the integration limit time has been reached. If the integration time exceeds the integration limit time, the integration operation of the AFIC 11 is forcibly stopped in step S53. If it is determined in step S52 that the time does not exceed the integration limit time, the process returns to step S43, and the loop of steps S43, S46, S51, and S52 described above is repeated until the integration is completed or the integration limit time is reached. It should be noted that the integration time is stored in the RAM by an interrupt process corresponding to the integration control circuit AFEND signal.

【0057】上記ステップS46に於いて、補助光モー
ドである場合はステップS47に進み、詳細は後述する
補助光照射を、一定時間にあるパターンで行う。尚、こ
の補助光照射中にステップS48で積分が終了した場合
(AFEND信号)は、割込み処理で積分時間を取込
み、所定のRAMに格納する。上記ステップS48で積
分が終了していない時には、ステップS49に於いて積
分動作を強制的に停止させる。次いで、ステップS50
に於いて積分リミットフラグをセットし、その後リター
ンして積分制御動作を終了する。
If it is determined in step S46 that the mode is the auxiliary light mode, the process proceeds to step S47, in which the auxiliary light irradiation, which will be described in detail later, is performed in a certain time pattern. If the integration is completed in step S48 during this auxiliary light irradiation (AFEND signal), the integration time is fetched by interruption processing and stored in a predetermined RAM. If the integration is not completed in step S48, the integration operation is forcibly stopped in step S49. Next, step S50
Then, the integration limit flag is set, and the process returns to end the integration control operation.

【0058】上述した積分リミット時間は、被写体が低
輝度である場合に積分時間が長くなり、タイムラグが大
きくなってしまうのを防止するために設けられている。
したがって、被写体が低輝度の場合は、被写体像信号が
正しく得られないことがある。そのため、積分時間が所
定値を越える時は、次回積分時に被写体に補助光を照射
して、被写体光量の不足を補っている。
The above-mentioned integration limit time is provided in order to prevent the integration time from being lengthened when the subject has low luminance, and to prevent the time lag from becoming large.
Therefore, when the subject has low brightness, the subject image signal may not be obtained correctly. Therefore, when the integration time exceeds a predetermined value, auxiliary light is radiated to the subject at the next integration to compensate for the shortage of the subject light amount.

【0059】ところで、同実施例のカメラに於いては、
撮影モードとして通常のストロボ低輝度自動発光モード
の他にストロボオフモードを有しており、ストロボ撮影
が禁止、或いは好ましくない場所での撮影時に、一般的
に使用される。この場合、補助光としてのストロボ光照
射も禁止し、同時に図6のステップS41、S42に示
されるように、積分リミット時間を2倍に設定して低輝
度での焦点検出精度の劣化を防止している。
By the way, in the camera of this embodiment,
A flash mode is provided as a shooting mode in addition to a normal flash low-brightness automatic light emission mode, and is generally used when shooting in a place where flash shooting is prohibited or in an undesirable place. In this case, irradiation of strobe light as auxiliary light is also prohibited, and at the same time, as shown in steps S41 and S42 in FIG. 6, the integration limit time is set to double to prevent deterioration of focus detection accuracy at low luminance. ing.

【0060】次に、図7及び図8を用いてAFIC11
について説明する。
Next, referring to FIG. 7 and FIG.
Will be described.

【0061】同7に於いて、センサ制御回路SCCは、
CPU10からの制御信号に応じてAFIC11全体の
動作を制御するものである。CPU10からのリセット
信号AFRESを入力すると、AFIC11内の各ブロ
ックにリセット信号が供給されて蓄積動作がスタートさ
れる。また、蓄積動作中は、AFEND信号が“L”に
保持されてCPU10に出力される。
In the seventh embodiment, the sensor control circuit SCC
The operation of the entire AFIC 11 is controlled in accordance with a control signal from the CPU 10. When the reset signal AFRES is input from the CPU 10, the reset signal is supplied to each block in the AFIC 11, and the accumulation operation is started. During the accumulation operation, the AFEND signal is held at “L” and output to the CPU 10.

【0062】CPU10はAFEND信号をモニタして
おり、“L”である区間が積分リミット時間を越える
と、AFEXT信号を出力する。それに応じて、センサ
制御回路SCCは、強制的に蓄積動作を停止させる。更
に、センサ制御回路SCCは、センサ回路SCに対して
信号A〜Eを出力し、感度モードの切換えを行う。ま
た、CLK、DATA信号によって、CPU10に対し
てセンサデータD(I) の通信を行う。フォトダイオード
PDとセンサ回路SCについては後述するが、センサ回
路SCでは蓄積動作を終了すると、蓄積終了信号TS
ラッチ回路LCとOR発生回路ORCに出力する。
The CPU 10 monitors the AFEND signal, and outputs an AFEXT signal when the "L" section exceeds the integration limit time. In response, the sensor control circuit SCC forcibly stops the accumulation operation. Further, the sensor control circuit SCC outputs signals A to E to the sensor circuit SC to switch the sensitivity mode. Also, the sensor data D (I) is communicated to the CPU 10 by the CLK and DATA signals. Although the photodiode PD and the sensor circuit SC will be described later, the sensor circuit SC outputs an accumulation end signal T S to the latch circuit LC and the OR generation circuit ORC when the accumulation operation ends.

【0063】光電変換素子列中で、最初に電荷蓄積を終
了したセンサ回路SCの蓄積終了信号TS は、OR発生
回路ORCを介してOR信号としてセンサ制御回路SC
Cに入力され、センサ制御回路SCCではこれをTOR
号として出力する(図7のTOR参照)。また、光電変換
素子列中で、最後に電荷蓄積を終了したセンサ回路SC
からの蓄積終了信号TS は、AND発生回路ANDCに
より、センサ制御回路SCCを介してAFEND信号を
出力する(図9(e)参照)。以下、説明上、図9
(e)AFENDのL区間を積分時間TE と称すること
とする。
The accumulation termination signal T S of the sensor circuit SC which has first completed the charge accumulation in the photoelectric conversion element row is converted into an OR signal via the OR generation circuit ORC by the sensor control circuit SC.
C, and the sensor control circuit SCC outputs this as a T OR signal (see T OR in FIG. 7). Further, in the photoelectric conversion element array, the sensor circuit SC which has finished the charge accumulation last.
The accumulation end signal T S from, the AND generating circuit ANDC, outputs a AFEND signal via the sensor control circuit SCC (see FIG. 9 (e)). Hereinafter, FIG.
The (e) AFEND L section is referred to as the integration time T E.

【0064】CPU10は、AFEND信号の“L”→
“H”を検出して、AFセンサの積分終了を判定し、L
区間の時間を計測して積分リミットの判定を行う。
The CPU 10 sets the AFEND signal “L” →
When "H" is detected, it is determined that the integration of the AF sensor is completed.
The time of the section is measured to determine the integration limit.

【0065】クロックパルスジェネレータCGは、電荷
蓄積時間TS をセンサデータD(I)にデジタル化するた
めのクロックパルスCPを発生するもので、図9に於い
ては、AFRES信号の入力と同時に、動作をスタート
して時間と共に周期が図9(g)に示されるように増大
して行くクロックパルスCPを発生する。この周期の変
化は、電荷蓄積時間TS がフォトダイオードPDに入射
する光強度とほぼ反比例の関係になっている。
The clock pulse generator CG generates a clock pulse CP for digitizing the charge storage time T S into sensor data D (I) . In FIG. 9, the clock pulse generator CG receives the AFRES signal at the same time as the input of the AFRES signal. When the operation is started, a clock pulse CP whose period increases with time as shown in FIG. 9G is generated. This change in the cycle is substantially inversely proportional to the light intensity incident on the photodiode PD in the charge storage time T S.

【0066】光電変換素子列中で最初に電荷蓄積を完了
したセンサ回路SCからの蓄積終了信号TS が、OR発
生回路ORCに入力され、ORS信号によってスイッチ
SWを閉じる。このスイッチSWのオンにより、カウン
タCOTはクロックジェネレータCGのクロックパルス
CPのカウントをスタートする。したがって、光電変換
素子列中で最も強い光を受けたフォトダイオードPDの
ラッチ回路LDには、カウンタ出力“0”がラッチされ
る。他のフォトダイオードでは、入射する光強度が小さ
いほど電荷蓄積時間が長くなり、蓄積終了信号TS が発
生するまでの時間差が発生するので、この時間差に応じ
たカウンタ出力がそれぞれラッチ回路LCにてラッチさ
れる。
An accumulation end signal T S from the sensor circuit SC which has first completed electric charge accumulation in the photoelectric conversion element row is input to the OR generation circuit ORC, and the switch SW is closed by the ORS signal. When the switch SW is turned on, the counter COT starts counting the clock pulses CP of the clock generator CG. Therefore, the counter output “0” is latched in the latch circuit LD of the photodiode PD that has received the strongest light in the photoelectric conversion element row. In other photodiodes, as the incident light intensity is lower, the charge accumulation time becomes longer, and a time difference occurs until the accumulation end signal T S is generated. Therefore, counter outputs corresponding to this time difference are respectively output by the latch circuit LC. Latched.

【0067】またOR発生回路ORCは、図示されない
が、光電変換素子列の中央範囲内に位置するフォトダイ
オードに対応するセンサ回路SCからの蓄積終了信号T
S のみを有効にする。これは、光電変換素子列の両側の
主要被写体背景の逆光が入る虞れがあるので、この範囲
の各左右所定数のセンサ回路SCからの蓄積終了信号T
S は除外して、OR発生回路ORCに入力していない。
Although not shown, the OR generation circuit ORC has an accumulation end signal T from the sensor circuit SC corresponding to the photodiode located in the center range of the photoelectric conversion element row.
Enable only S. This is because there is a possibility that the back light of the main subject background on both sides of the photoelectric conversion element array may enter. Therefore, the accumulation end signal T from the predetermined number of left and right sensor circuits SC in this range.
S is excluded and is not input to the OR generation circuit ORC.

【0068】次に、図8及び図9を参照して、AFIC
11内のセンサ回路SCについて説明する。
Next, referring to FIGS. 8 and 9, AFIC
The sensor circuit SC in 11 will be described.

【0069】このセンサ回路SCのブロックは、被写体
輝度に応じて動作モードが切換えられる。すなわち、被
写体が低輝度の場合は高感度モードに、高輝度の場合は
低感度モードに設定される。最初にセンサ制御回路SC
Cは高感度モードにするため、センサ回路SCに信号A
〜Eを出力して、図8に於いてスイッチAS1オフ、A
S2オン、AS3オン、AS4オフ、AS5オンに設定
する。この状態で、蓄積コンデンサCI の両端はショー
トされ、且つ演算増幅器APの動作により、電位V2
固定されており、リセットされている。フォトダイオー
ドPDはカソードを固定電位Vr に接続されており、そ
の受光光量に応じた光電流を発生する。
The operation mode of the block of the sensor circuit SC is switched according to the luminance of the subject. That is, when the subject has low luminance, the mode is set to the high sensitivity mode, and when the subject has high luminance, the mode is set to the low sensitivity mode. First, the sensor control circuit SC
C sets the signal A to the sensor circuit SC to set the high sensitivity mode.
To E, and switches AS1 off and A in FIG.
Set S2 ON, AS3 ON, AS4 OFF, AS5 ON. In this state, both ends of the storage capacitor C I are short-circuited, fixed at the potential V 2 by the operation of the operational amplifier AP, and reset. The photodiode PD has a cathode connected to the fixed potential Vr , and generates a photocurrent according to the amount of received light.

【0070】ここで、スイッチAS3をオンからオフに
切換えると、蓄積動作が開始され、フォトダイオードP
Dの受光光量に応じた光電流が蓄積コンデンサCI に流
込み、これに応じた電荷が蓄積される。これと同様に、
演算増幅器APの出力P2 の電位は、リセット電位V1
から受光光量に応じた傾きで下降していく(図9
(c))。
Here, when the switch AS3 is switched from on to off, the accumulation operation starts, and the photodiode P
D pouring photocurrent in the storage capacitor C I in accordance with the received light amount of the charge corresponding thereto are accumulated. Similarly,
The potential of the output P 2 of the operational amplifier AP is the reset potential V 1
From the point of inclination with a slope corresponding to the amount of received light (see FIG. 9).
(C)).

【0071】また、演算増幅器APの出力P2 は、非反
転入力端を所定電位V3 に固定されたコンパレータCP
の反転入力端に接続されており、演算増幅器APの出力
2が電位V3 を越えると、コンパレータCPの出力P
3 が“H”→“L”に反転し、スイッチAS4を介して
蓄積終了信号TS を出力する。この蓄積終了信号TS
うち、最初の信号は上述したOR発生回路ORC、セン
サ制御回路SCCを介してTOR信号として出力される
(図9(f))。
The output P 2 of the operational amplifier AP is connected to a comparator CP whose non-inverting input terminal is fixed to a predetermined potential V 3.
When the output P 2 of the operational amplifier AP exceeds the potential V 3 , the output P of the comparator CP
3 is inverted from “H” to “L”, and outputs an accumulation end signal T S via the switch AS4. The first signal of the accumulation end signal T S is output as the T OR signal via the above-described OR generation circuit ORC and sensor control circuit SCC (FIG. 9 (f)).

【0072】更に、蓄積終了信号TS のうち最後の信号
は、上述したAND発生回路ANDC、センサ制御回路
SCCを介して、AFEND信号として出力される(図
9(e))。光電変換素子列中で最も短い蓄積時間が所
定時間より短い場合は、低感度モードに切換えて再度蓄
積動作を行う(図9(h)〜(m))。
Further, the last signal of the accumulation end signal T S is output as an AFEND signal via the AND generation circuit ANDC and the sensor control circuit SCC described above (FIG. 9E). If the shortest accumulation time in the photoelectric conversion element row is shorter than the predetermined time, the mode is switched to the low sensitivity mode and the accumulation operation is performed again (FIGS. 9H to 9M).

【0073】次に、この低感度モード時のセンサ回路S
Cの動作について説明する。低感度モード時は、センサ
制御回路SCCによって信号A〜Eの設定が行われ、ス
イッチAS1オン、AS2オフ、AS3オフ、AS4オ
フ、AS5オンとする。尚、低感度モードでは、演算増
幅器APは非反転入力端をV2 に固定されたコンパレー
タとして動作させる。コンパレータAPの反転入力端P
1 は、電位V1 に固定され、接合容量CJ をリセットし
ている。
Next, the sensor circuit S in the low sensitivity mode
The operation of C will be described. In the low sensitivity mode, the signals A to E are set by the sensor control circuit SCC, and the switches AS1 are turned on, AS2 is turned off, AS3 is turned off, AS4 is turned off, and AS5 is turned on. In the low-sensitivity mode, the operational amplifier AP to operate as a comparator which is fixed to the non-inverting input to V 2. Inverting input terminal P of comparator AP
1 is fixed to the potential V 1 and resets the junction capacitance C J.

【0074】次に、信号Aを反転し、スイッチAS1を
オフさせて、フォトダイオードPDの受光する受光光量
に応じた光電流によってフォトダイオードPDの接合容
量CJ を放電する。すると、コンパレータAPの反転入
力端P1 の電位は、リセット電位V1 より受光光量に応
じた傾きで上昇していく。また、蓄積開始と共にクロッ
クジェネータCG、カウンタCOTはリセットされ、コ
ンパレータAPの反転入力端P1 の電位が電位V2 を越
えると、コンパレータAPの出力P2 が“H”→“L”
に反転し、スイッチAS5を介して蓄積終了信号TS
出力する。
Next, the signal A is inverted, the switch AS1 is turned off, and the junction capacitance C J of the photodiode PD is discharged by a photocurrent corresponding to the amount of light received by the photodiode PD. Then, the potential of the inverting input terminal P 1 of the comparator the AP, rises with a gradient corresponding to the amount of received light from the reset potential V 1. The clock GETS discriminator CG with accumulation start, counter COT is reset, the potential of the inverting input terminal P 1 of the comparator AP exceeds the potential V 2, the output P 2 of the comparator AP is "H" → "L"
And outputs an accumulation end signal T S via the switch AS5.

【0075】また、高感度モードと同様に、最も速く蓄
積が終了したセンサ回路SCからの蓄積終了信号TS
応じて、OR発生回路ORCを介してスイッチSWがO
Nされ、センサ制御回路SCCよりTOR信号が出力され
る。一方、最も遅く蓄積が終了したセンサ回路SCから
の蓄積終了信号TS に応じて、AND発生回路ANDC
を介して、センサ制御回路SCCよりAFEND信号が
出力される。
In the same manner as in the high sensitivity mode, the switch SW is turned on via the OR generation circuit ORC in response to the accumulation termination signal T S from the sensor circuit SC which has completed accumulation most quickly.
N, and a TO signal is output from the sensor control circuit SCC. On the other hand, in response to the accumulation end signal T S from the sensor circuit SC whose accumulation has ended the latest, the AND generation circuit ANDC
, An AFEND signal is output from the sensor control circuit SCC.

【0076】ここで、光電変換素子列中で、最も入射光
量の大きいフォトダイオードPDに対応する蓄積時間、
つまり最も小さい、すなわち上記TOR信号に相当する蓄
積時間をT0 とする。すると、光電変換素子列中の任意
のフォトダイオードPDに対応する電荷蓄積時間T(I)
と、対応するラッチ回路LCに於いてラッチされるカウ
ンタ出力D(I) とは、次のような関係となっている。 T(I) =T0 ×16×256/(16×256−15×D(I) )…(1) これを変形して、デジタル化されたカウンタ出力D(I)
は D(I) =273・(1−T0 /T(I) ) …(2) ここで、電荷蓄積時間T(I) は、各フォトダイオードに
入射する光量に比例するので、上記D(I) を読出すこと
によって被写体像信号を得ることができる。尚、カウン
タCOTは8ビット分のカウントを行うとカウントを停
止する。したがって、フォトダイオードPDへの入射光
強度が弱く、上記電荷蓄積時間T(I) が上記To で決ま
る所定時間より長い素子の出力は、255に固定され
る。
Here, the accumulation time corresponding to the photodiode PD having the largest incident light amount in the photoelectric conversion element row,
That is, the shortest, that is, the accumulation time corresponding to the above-mentioned T OR signal is T 0 . Then, the charge accumulation time T (I) corresponding to an arbitrary photodiode PD in the photoelectric conversion element row
And the counter output D (I) latched in the corresponding latch circuit LC have the following relationship. T (I) = T 0 × 16 × 256 / (16 × 256−15 × D (I) ) (1) By transforming this, the digitized counter output D (I)
D (I) = 273 · (1−T 0 / T (I) ) (2) Here, since the charge accumulation time T (I) is proportional to the amount of light incident on each photodiode, the above D ( I) By reading out I) , a subject image signal can be obtained. Note that the counter COT stops counting when it counts for 8 bits. Thus, weak incident light intensity on the photodiode PD, the output of the longer elements than the predetermined time in which the charge storage time T (I) is determined by the T o is fixed to 255.

【0077】次に、図4のAF測距フローチャート中の
ステップS22に於いて、センサ読出し動作を行う。C
PU10よりAFIC11内のセンサ制御回路SCCの
CLK端子にクロックを入力すると、これに同期して各
ラッチ回路LCにラッチされているカウント出力D(I)
が、センサデータとしてDATA端子に順次出力され
る。CPU10は、このセンサデータD(I) を順次、所
定のRAMに格納していく。全センサデータD(I) の読
込みが終了すると、センサ回路SCの動作モードが、高
感度モードか低感度であるかのカンドデータDK の通信
も行う。
Next, in step S22 in the AF distance measurement flowchart of FIG. 4, a sensor reading operation is performed. C
When a clock is input from the PU 10 to the CLK terminal of the sensor control circuit SCC in the AFIC 11, the count output D (I) latched in each latch circuit LC in synchronization with the clock.
Are sequentially output to the DATA terminal as sensor data. The CPU 10 sequentially stores the sensor data D (I) in a predetermined RAM. When the reading of all sensor data D (I) is completed, the operation mode of the sensor circuit SC is also performed communication Kandodeta D K if it were a high sensitivity mode or low sensitivity.

【0078】次いで、ステップS23にて、センサデー
タD(I) を用いて被写体の測光値を計算する。この測光
値は、露出データの計算、補助光の必要性の判断や得ら
れたセンサデータの信頼性の判定等に使用される。セン
サデータD(I) と、電荷蓄積時間T(I) とは上記(1)
式の関係を有しているので、各センサデータD(I) より
各素子の蓄積時間T(I) を求めれば、測光値が得られ
る。一方、積分時間TEは上述したように、フォトダイ
オードPDへの入射光量が最も少ない素子に対応する蓄
積時間であるから、この素子に対応するセンサデータD
(I) は、全素子中の最大値である。
Next, in step S23, the photometric value of the subject is calculated using the sensor data D (I) . The photometric value is used for calculation of exposure data, determination of necessity of auxiliary light, determination of reliability of obtained sensor data, and the like. The sensor data D (I) and the charge accumulation time T (I) are as described in (1) above.
Since the relationship of the formula is satisfied, a photometric value can be obtained by obtaining the storage time T (I) of each element from each sensor data D (I) . On the other hand, the integration time T E, as described above, since the amount of light incident on the photodiode PD is accumulated time corresponding to the smallest element, the sensor data D corresponding to the device
(I) is the maximum value among all the elements.

【0079】この最大センサデータをDMAX とすると、
(1)式を適用して、 TE =T0 ×16×256/(16×256−15×DMAX ) …(3) となる。したがって、 T0 =((16×256−15×DMAX )/16×256))・TE …(4) となり、光電変換素子列中で、フォトダイオードPDへ
の入射光量が最も大きい素子の蓄積時間To を求めるこ
とができる。これを、上記(1)式に代入して、 T(I) =(16× 256/(16× 256−15×D(I) )) ×((16× 256−15×DMAX )/16× 256)・TE =((16× 256−15×DMAX )/16× 256−15×D(I) )・TE …(5) となり、積分時間TE 、最大センサデータDMAX 及び各
センサデータD(I) とにより、各素子の蓄積時間T(I)
を計算することができる。
Assuming that the maximum sensor data is D MAX ,
Applying the equation (1), T E = T 0 × 16 × 256 / (16 × 256−15 × D MAX ) (3) Therefore, T 0 = ((16 × 256−15 × D MAX ) / 16 × 256)) · T E (4), and the element having the largest amount of light incident on the photodiode PD in the photoelectric conversion element array it can be determined storage time T o. This is substituted into equation (1), T (I) = (16 × 256 / (16 × 256-15 × D (I))) × ((16 × 256-15 × D MAX) / 16 × 256) · T E = ((16 × 256−15 × D MAX ) / 16 × 256−15 × D (I) ) · T E (5), and the integration time T E , the maximum sensor data D MAX and Based on each sensor data D (I) , the accumulation time T (I) of each element
Can be calculated.

【0080】ここで、測光値を求める場合は、各センサ
データD(I) より求められる蓄積時間T(I) の平均値を
用いるのが有効である。また、光電変換素子列中の中央
部の素子について求めると、背景等で被写体像の結像さ
れていない部分を削除することができる。更に、上述し
たAF光学系により分割された第1及び第2の被写体像
は等しいので、何れか一方の光電変換素子列21Lか2
1Rについて計算すればよい。
Here, when obtaining the photometric value, it is effective to use the average value of the accumulation time T (I) obtained from each sensor data D (I) . Further, when the element at the center in the photoelectric conversion element row is obtained, a part of the subject image that is not formed due to the background or the like can be deleted. Further, since the first and second subject images divided by the AF optical system described above are equal, either one of the photoelectric conversion element rows 21L or 21L
What is necessary is just to calculate about 1R.

【0081】[0081]

【数1】 但しnは素子数である。これを近似して、(7)式が得
られる。
(Equation 1) Here, n is the number of elements. By approximating this, equation (7) is obtained.

【0082】[0082]

【数2】 この(7)式の平均蓄積時間を対数圧縮して、測光値E
は(8)式のようになる。
(Equation 2) The average accumulation time of equation (7) is logarithmically compressed to obtain a photometric value E
Is as shown in equation (8).

【0083】[0083]

【数3】 補正値HE は、測光値Eと積分時間TE の関係を補正す
るための調整値であり、均一光源に対する積分時間を計
測して、カメラ毎にEEPROM12に記憶されてい
る。これは、カメラ毎に光学系のばらつきや光電変換素
子毎に感度が異なるためである。また、AFIC11の
高感度モードと低感度モードとは、補正値HE が異なる
ので、それぞれの補正値を有している。
(Equation 3) Correction value H E is the adjustment value for correcting the relationship between the light measurement value E with integration time T E, measures the integration time for the uniform light source, is stored in the EEPROM12 for each camera. This is because the optical system varies from one camera to another and the sensitivity differs from photoelectric conversion element to another. Further, the high-sensitivity mode and the low-sensitivity mode AFIC11, the correction value H E are different, have a respective correction value.

【0084】ところで、同実施例では、積分時間TE
用いて測光値の計算を行っているが、上述した図7のT
OR端子より出力されるTOR信号のL区間の時間(図9
(f))を計測してT0 =TORを求め、上記(1)式を
適用して各素子の蓄積時間T(I ) を計算し、更に素子数
nの数4の関係式で表される平均蓄積時間を求めると、
(9)式の如くなる。
[0084] In the same embodiment, it is performed the calculation of the photometric values by using the integration time T E, T in FIG. 7 described above
The time of the L section of the T OR signal output from the OR terminal (FIG. 9
(F)) to obtain T 0 = T OR , calculate the accumulation time T (I ) of each element by applying the above equation (1), and further express the relationship by the relational expression of the number 4 of the number n of elements. Finding the average accumulation time
Equation (9) is obtained.

【0085】[0085]

【数4】 (Equation 4)

【数5】 これを(8)式に適用しても、同様に測光値E′を得る
ことができる。
(Equation 5) Even when this is applied to the equation (8), the photometric value E 'can be obtained similarly.

【0086】[0086]

【数6】 次に、図4のステップS24に於いて、AFIC11の
積分時に、低輝度で光量が不足している場合、被写体に
対して補助照明光を照射する。すなわち、補助光を点灯
する必要があるか否かの判定や、前記補助光の光量を設
定する処理を行う。
(Equation 6) Next, in step S24 of FIG. 4, when the AFIC 11 integrates, if the luminance is insufficient at low luminance, the subject is irradiated with auxiliary illumination light. That is, it is determined whether or not it is necessary to turn on the auxiliary light, and a process of setting the light amount of the auxiliary light is performed.

【0087】図10は、この補助光判定のサブルーチン
を示したものである。最初に、ステップS61にて、今
回の積分が高感度モードで行われたかを、感度データD
K を参照して判定する。ここで、低感度モードの時は被
写体輝度が十分高く、補助光は必要ないのでそのままリ
ターンする。高感度モードの時はステップS62に進
み、今回の積分時に補助光を照射したか否かを判別す
る。
FIG. 10 shows a subroutine for this auxiliary light determination. First, in step S61, it is determined whether or not the current integration was performed in the high sensitivity mode by using sensitivity data D
Judge with reference to K. Here, in the low sensitivity mode, the subject brightness is sufficiently high and no auxiliary light is required, so the process returns as it is. In the case of the high sensitivity mode, the process proceeds to step S62, and it is determined whether or not the auxiliary light has been irradiated at the time of the current integration.

【0088】補助光が照射されなかった場合は、ステッ
プS63に移行して、次回の積分時に補助光が必要か否
かの判定を行う。ここでは、AFIC11の積分時間T
E と判定値TS1とを比較して、積分時間TE の方が大き
い場合、すなわち被写体が低輝度である時に補助光が必
要と判断する。次に補助光の照射光量を設定する。同実
施例の補助光はストロボ光を使用しており、ステップS
64にて、そのGNO(ガイドナンバ)を設定する。こ
れについては、図11を参照して説明する。
If the auxiliary light has not been irradiated, the flow shifts to step S63 to determine whether or not the auxiliary light is necessary at the next integration. Here, the integration time T of the AFIC 11
By comparing E with the determination value T S1, it is determined that the auxiliary light is necessary when the integration time T E is longer, that is, when the subject has low luminance. Next, the irradiation light amount of the auxiliary light is set. In this embodiment, the strobe light is used as the auxiliary light.
At 64, the GNO (guide number) is set. This will be described with reference to FIG.

【0089】図11は、補助光光量AGNOの初期設定
を行うフローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart for performing the initial setting of the auxiliary light amount AGNO.

【0090】同実施例によるカメラは、撮影モードとし
てマクロモードを有しており、撮影者によってマクロモ
ードスイッチをオンされると、マクロモードに設定され
る。ステップS81に於いては、撮影モードとしてマク
ロモードが設定されているかを判定する。ここで、マク
ロモードの場合は、撮影者は至近に位置する被写体を撮
影することを意図しているので、ステップS82に移行
して、これに対応して補助光光量AGNOを至近被写体
に適正な比較的小さい光量AGNO=Dに設定する(図
12参照)。一方、上記ステップS81に於いて、マク
ロモードではない場合はステップS83に進む。
The camera according to the present embodiment has a macro mode as a photographing mode. When the macro mode switch is turned on by the photographer, the camera is set to the macro mode. In step S81, it is determined whether the macro mode has been set as the shooting mode. Here, in the case of the macro mode, since the photographer intends to photograph a subject located in the close vicinity, the flow shifts to step S82, and in response to this, the auxiliary light amount AGNO is set to an appropriate value for the close subject. A relatively small light amount AGNO = D is set (see FIG. 12). On the other hand, if the mode is not the macro mode in step S81, the process proceeds to step S83.

【0091】補助光の光量AGNOは、撮影レンズ17
の焦点距離fに応じて、予め決められた値が設定され
る。一般的な焦点距離の撮影レンズ(28〜180m
m)では、撮影倍率は1/40〜1/60が最も頻度が
高いことが知られている。したがって、焦点距離に応じ
て、撮影頻度の高い被写体距離がほぼ決定されるので、
これに合わせた補助光光量AGNOが初期設定される。
The light amount AGNO of the auxiliary light is
A predetermined value is set according to the focal length f. General focal length shooting lens (28-180m
In m), it is known that the photographing magnification is most frequently 1/40 to 1/60. Therefore, the subject distance with a high shooting frequency is almost determined according to the focal length.
The auxiliary light amount AGNO corresponding to this is initialized.

【0092】同実施例では、焦点距離を3つの領域に分
割し、それぞれ適正な補助光光量を設定する。すなわ
ち、先ずステップS83に於いて、最もワイド側の第1
の焦点距離領域に相当する補助光光量AGNO=Aが設
定される。
In this embodiment, the focal length is divided into three regions, and an appropriate amount of auxiliary light is set for each region. That is, first, in step S83, the first widest side first
Is set as the auxiliary light amount AGNO = A corresponding to the focal length region of the above.

【0093】図12は、補助光光量AGNOの番号(1
〜12)とAGNOのGNO値の表を示したものであ
る。これは、カメラの最短撮影距離且つ高反射率の被写
体に適正な補助光光量AGNOの最小値から、撮影時ス
トロボGNOによって決まるストロボ撮影時の最長撮影
距離且つ低反射率の被写体に適正な補助光光量AGNO
の最大値までを分割したものである。これらの補助光光
量AGNOより、適切なものを選択する。
FIG. 12 shows the number (1) of the auxiliary light amount AGNO.
12) and a table of GNO values of AGNO. This is because, from the minimum value of the auxiliary light amount AGNO appropriate for the subject having the shortest shooting distance and high reflectance of the camera, the auxiliary light appropriate for the subject having the longest shooting distance and low reflectance during flash shooting determined by the flash GNO at the time of shooting. AGNO
Are divided up to the maximum value. An appropriate one is selected from these auxiliary light amounts AGNO.

【0094】尚、ソフトウエア上では、番号(1〜1
2)を指示してAGNOを選択する。
In the software, the numbers (1 to 1)
Select 2) and select AGNO.

【0095】次に、ステップS84に於いて、ZMPI
34からのズームパルスZPの値を第1の判定値ZP1
と比較して、領域1であるかを判定する。ここで、領域
1の場合はそのままリターンする。そして、領域1では
ない場合は、ステップS85に進んで、中間領域である
領域2に適切な補助光光量AGNO=Bが設定される。
次いで、ステップS86に於いて、同様にしてズームパ
ルスZPと第2判定値ZP2と比較して領域2であるか
判定する。更に、領域3についても同様の処理が行わ
れ、ステップS87にて、領域3について補助光光量A
GNO=Cが設定される。
Next, in step S84, ZMPI
The value of the zoom pulse ZP from No. 34 is set to a first determination value ZP1.
Then, it is determined whether or not the area 1 is set. Here, in the case of the area 1, the process returns. If it is not the area 1, the process proceeds to step S85, and an appropriate amount of auxiliary light AGNO = B is set in the area 2, which is an intermediate area.
Next, in step S86, the zoom pulse ZP is similarly compared with the second determination value ZP2 to determine whether the region is the region 2. Further, the same processing is performed for the area 3, and in step S 87, the auxiliary light amount A
GNO = C is set.

【0096】同実施例では、補助光光量AGNOの初期
設定値は、撮影レンズの焦点距離に応じて行っている
が、この他に撮影レンズのFNO、測光値E、積分時間
E 、或いはピーク蓄積時間TORに応じて変化させて
も、同様な効果が得られる。またこれらの組合わせによ
って決定してもよい。
In this embodiment, the initial setting value of the auxiliary light amount AGNO is set according to the focal length of the photographing lens. In addition, the FNO of the photographing lens, the photometric value E, the integration time T E , or the peak value The same effect can be obtained even if it is changed according to the accumulation time T OR . Also, it may be determined by a combination of these.

【0097】このようにして、AGNOが設定されたな
らば、ステップS65に進んで、補助光フラグをセット
した後、リターンする。
When the AGNO has been set in this way, the flow advances to step S65 to set the auxiliary light flag, and then returns.

【0098】一方、上記ステップS62に於いて、今回
の積分で補助光を照射した場合について、以下説明す
る。
On the other hand, the case where the auxiliary light is irradiated in the current integration in step S62 will be described below.

【0099】積分時間が短い、すなわち被写体が至近距
離に位置する、或いは補助光の照射光量が大きすぎる場
合には、AFIC11より出力されるセンサデータは非
常にばらつきが大きく、被写体像に対して再現性の悪い
データが得られやすい。そのため、このセンサデータを
用いた相関演算結果は、信頼性が低いものとなる。
When the integration time is short, that is, when the subject is located at a close distance, or when the amount of illumination of the auxiliary light is too large, the sensor data output from the AFIC 11 has a very large variation and is reproduced with respect to the subject image. Poor data can be easily obtained. Therefore, the result of the correlation operation using the sensor data has low reliability.

【0100】次に、これについて、図13を参照して説
明する。
Next, this will be described with reference to FIG.

【0101】図13(a)は、補助光投光しながらの積
分時の、蓄積時間TS と蓄積電圧VS の関係を示したも
のである。同図には、被写体像光電変換素子へ入射光量
が1:2:4の比となる、A、B、Cの3つの場合を示
している。また、AFRES信号のタイミングチャート
と、補助光として周期的なストロボパルス光を被写体に
照射するタイミングチャートを、同図(b)及び(c)
に示す。更に、説明の都合上、同図(a)中のCが全光
電変換素子中で最も入射光量の大きい素子とする。この
ような蓄積波形に対して、蓄積判定電圧V3 を設定し、
それに対する蓄積時間TS (TSA、TSB、TSC)のタイ
ミングチャートを図13(f)、(e)、(d)に示
す。
FIG. 13A shows the relationship between the accumulation time T S and the accumulation voltage V S during integration while projecting auxiliary light. The figure shows three cases A, B, and C in which the amount of light incident on the subject image photoelectric conversion element has a ratio of 1: 2: 4. FIGS. 4B and 4C show a timing chart of an AFRES signal and a timing chart of irradiating a subject with periodic strobe pulse light as auxiliary light.
Shown in Further, for convenience of explanation, C in FIG. 3A is an element having the largest incident light amount among all the photoelectric conversion elements. For such storage waveform, set the accumulation determination voltage V 3,
13 (f), (e) and (d) show timing charts of the accumulation times T S ( TSA , TSB , TSC ) corresponding thereto.

【0102】上述した量子化方法の上記(2)式を適用
すると、デジタル化されたセンサデータD(I) を算出す
ることができる。
By applying the above equation (2) of the above-mentioned quantization method, digitized sensor data D (I) can be calculated.

【0103】ところで、上記入射光量が1:2:4の比
を有する場合で、且つ補助光を照射しない場合、つまり
定常モードのセンサデータD(I) は、上記(2)式によ
りそれぞれD(I) =0、137、205となる。このセ
ンサデータは、入射光量の絶対値や蓄積判定電圧V3
変化しても、入射光量比が変化しない限り変化すること
はない。
[0103] Incidentally, the amount of incident light is 1: 2: If having 4 ratio, and when not irradiated with assist light, i.e. the steady mode sensor data D (I), respectively by equation (2) D ( I) = 0, 137, 205. The sensor data, the absolute value and the accumulation determination voltage V 3 of the amount of incident light be varied, does not change as long as the incident light quantity ratio is not changed.

【0104】しかしながら、補助光投光時は、入射光量
比が変化しなくても上記条件によってセンサデータD
(I) が変化し、被写体像を正確に認識することが困難な
場合がある。このような場合を、以下に説明する。
However, when the auxiliary light is projected, even if the incident light amount ratio does not change, the sensor data D
(I) may change, making it difficult to accurately recognize the subject image. Such a case will be described below.

【0105】図13に於いて、被写体輝度の変化、つま
り光電変換素子への入射光量の絶対値の変化を、簡単の
ため蓄積判定電圧V3 の変化に置換えて考えるものとす
る。
[0105] In FIG. 13, the change in subject brightness, i.e. it is assumed that the change in the absolute value of the amount of light incident on the photoelectric conversion element, consider replacing the change of the accumulation determination voltage V 3 for simplicity.

【0106】図14は、蓄積判定電圧V3 を変化させた
場合の光電変換素子B及びCのセンサデータDS の変化
を、定常光モード時のセンサデータDS を基準として、
それからの差分を示した図である。
[0106] Figure 14 is a variation of the sensor data D S of the photoelectric conversion elements B and C in the case of changing the storage determining voltage V 3, based on the sensor data D S in the steady light mode,
It is a figure showing the difference from it.

【0107】図14より明らかなように、補助光投光時
のセンサデータD(I) の誤差ΔDSは、蓄積判定電圧V
3 が低いほど大きい値を示す。これは言い換えると、被
写体反射率が大きいほど、或いは補助光投光光量が大き
いほど、センサデータ誤差ΔDS が大きく、正確な被写
体像データを得ることができない。その結果、焦点検出
の精度を著しく低下させることになる。また、図14か
ら、センサデータ誤差ΔDS は蓄積時間TS が短いほど
大きくなることを示すので、蓄積時間TS が短いと同様
に焦点検出精度を低下させることになる。
As is clear from FIG. 14, the error ΔD S of the sensor data D (I) at the time of projecting the auxiliary light is equal to the accumulation determination voltage V
The lower the value of 3, the larger the value. In other words, the sensor data error ΔD S increases as the subject reflectivity or the auxiliary light projection light amount increases, and accurate subject image data cannot be obtained. As a result, the accuracy of focus detection is significantly reduced. Further, from FIG. 14, the sensor data error [Delta] D S indicates that the greater the shorter the storage time T S, will reduce the focus detection accuracy in the same manner as a short storage time T S.

【0108】したがって、被写体の反射率や距離を考慮
して適切な補助光光量を設定し、適切な蓄積時間になる
ように制御することによって、補助光投光時も正確な被
写体像データを得て、焦点検出精度を維持することがで
きる。
Therefore, by setting an appropriate amount of auxiliary light in consideration of the reflectivity and the distance of the object and controlling so as to have an appropriate accumulation time, accurate object image data can be obtained even when the auxiliary light is projected. As a result, the focus detection accuracy can be maintained.

【0109】それ故、積分時間TE が所定値より短い場
合は、信頼性が低いと判断し、補助光の照射光量を下げ
て再度AFセンサ積分をやり直す。
Therefore, if the integration time T E is shorter than the predetermined value, it is determined that the reliability is low, and the amount of irradiation of the auxiliary light is reduced, and the AF sensor integration is performed again.

【0110】次に、図10に戻って、ステップS66に
於いて、積分時間TE と所定値TS2を比較して、第1の
判定を行う。ここで、積分時間TE ≧TS2であれば、光
量オーバではないのでリターンする。一方、積分時間T
E <TS2であれば光量オーバであると判断し、ステップ
S67に進んで光量オーバフラグをセットする。次い
で、ステップS68にて、補助光光量を下げるためAG
NOより所定数Nを減算して新たにAGNOとする。
Next, returning to FIG. 10, in step S66, a first determination is made by comparing the integration time TE with a predetermined value Ts2 . If the integration time T E ≧ T S2 , the process returns because the light amount is not over. On the other hand, the integration time T
If E <T S2 , it is determined that the light amount is over, and the process proceeds to step S67 to set the light amount over flag. Next, at step S68, AG
A predetermined number N is subtracted from NO to make AGNO anew.

【0111】ステップS69では、このAGNOが1よ
り小さくなった場合は、図12に示される光量制御範囲
を越えている場合、つまり被写体が非常に近距離に位置
し、且つ高反射率であるので、ステップS73に移行し
て検出不能フラグをセットし、その後リターンする。上
記ステップS69に於いて、AGNO≧1である場合
は、ステップS70に進んで第2の判定を行う。ここで
は、上述した第1の判定値TS2に対して、TS2>TS3
る第2の判定値TS3を積分時間TE と比較する。これ
は、より大きな第2レベルの光量オーバの場合を判定
し、より有効に適正な補助光光量AGNOを設定するた
めのものである。
In step S69, if this AGNO is smaller than 1, it means that it is beyond the light amount control range shown in FIG. 12, that is, since the subject is located at a very short distance and has a high reflectance. Then, the process shifts to step S73 to set an undetectable flag, and then returns. If AGNO ≧ 1 in step S69, the process proceeds to step S70 to make a second determination. Here, the first determination value T S2 described above, compared with T S2> T S3 becomes the second determining value T S3 integration time T E. This is for judging a case where the light amount of the second level is larger than that of the second level, and setting the appropriate auxiliary light amount AGNO more effectively.

【0112】上記ステップS70に於いて、積分時間T
E ≧TS3であれば、光量オーバではあるが、第1レベル
の光量オーバであるので、このままリターンし、上述し
たAGNO=AGNO−Nが保存される。一方、積分時
間TE <T3 である場合は、より大きな第2レベルの光
量オーバなので、補助光光量を更に低下させるために、
ステップS71にて、AGNOより所定数Mを減算して
新たにAGNOとする。次に、ステップS72では、こ
のAGNOが1より小さい場合は上記と同様に光量制御
範囲を越えているので、ステップS73に移行して検出
不能フラグをセットし、リターンする。
In step S70, the integration time T
If E ≧ T S3 , the light amount is over, but the light amount is over the first level, so the routine returns and the above-mentioned AGNO = AGNO−N is stored. On the other hand, when the integration time T E <T 3 , the light amount of the second level is larger than that. Therefore, in order to further reduce the light amount of the auxiliary light,
In step S71, a predetermined number M is subtracted from AGNO to newly set AGNO. Next, in step S72, if this AGNO is smaller than 1, it is out of the light amount control range in the same manner as described above, so the flow shifts to step S73 to set a detection impossible flag and returns.

【0113】尚、同実施例では、光量オーバの判定に積
分時間TE を用いているが、上述した測光値Eやピーク
蓄積時間TOR、及びそれらの組合せを用いて判定しても
有効である。
In this embodiment, the integral time TE is used for the determination of the light quantity excess. However, it is effective to make a determination using the photometric value E, the peak accumulation time T OR , and a combination thereof. is there.

【0114】ここで、再度図4のAF測距フローチャー
トに戻る。ステップS25では検出不能フラグを参照し
て、検出不能であるか否かを判定する。ここで、検出不
能の場合はステップS26に移行して非合焦フラグをセ
ットして、AF測距動作を終了する。
Here, the flow returns to the AF distance measurement flowchart of FIG. 4 again. In step S25, it is determined whether the detection is impossible by referring to the detection impossible flag. Here, if the detection is not possible, the process moves to step S26, the out-of-focus flag is set, and the AF distance measurement operation ends.

【0115】一方、上記ステップS25にて検出不能で
はない場合は、次にステップS27に於いて光量オーバ
フラグを参照する。ここで、光量オーバの場合はリター
ンし、メインフローチャートを介して再度AF測距ルー
チンをコールして、設定されたAGNOの補助光照射を
しながらAFセンサ積分を実行する。上記ステップS2
7で光量オーバーでない場合は、次にステップS28の
照度分布補正処理を行う。
On the other hand, if the detection is not impossible in step S25, then the light quantity over flag is referred to in step S27. Here, if the light amount is excessive, the process returns, and the AF distance measurement routine is called again via the main flowchart, and the AF sensor integration is performed while irradiating the set AGNO auxiliary light. Step S2 above
If the light amount is not over in 7, the illuminance distribution correction processing of step S28 is performed next.

【0116】このステップS28の照度分布補正に於い
ては、得られた被写体像信号の不均一補正を行う。これ
は上述した再結像光学系によるAFセンサ面上での照度
不均一や光電変換素子列のフォトダイオードPD、蓄積
コンデンサ等のばらつきによって生ずる感度ばらつきを
補正するためである。均一光源に対する各素子のセンサ
データD(I) により計算した補正係数を、各素子毎に予
めEEPROM12に記憶させており、被写体像信号検
出毎に上記補正係数を読出し、各素子毎に補正計算を行
う。
In the illuminance distribution correction in step S28, non-uniformity correction of the obtained subject image signal is performed. This is to correct the sensitivity variation caused by the non-uniform illuminance on the AF sensor surface due to the re-imaging optical system and the variation of the photodiode PD and the storage capacitor of the photoelectric conversion element array. The correction coefficient calculated based on the sensor data D (I) of each element with respect to the uniform light source is stored in advance in the EEPROM 12 for each element, and the correction coefficient is read out each time an object image signal is detected, and the correction calculation is performed for each element. Do.

【0117】補正係数は、次のようにして求められる。
均一光源に対する光電変換素子出力D0(I)とすると、個
々の素子の蓄積時間T(I) は、上記(1)式より次式で
示される。 T(I) =T0 ×16×256/(16×256−15×D0(I))…(11) ここで、T0 は光電変換素子列中で最も入射光量が大き
い光電変換素子の蓄積時間である。理想的には均一光源
に対しては全素子の蓄積時間がT0 となるはずである
が、実際には上記要因によりばらつきが生ずる。補正方
法としては、各蓄積時間T(I) をT0 に一致するような
補正係数を求める。補正係数H(I) は(12)式を用い
て、次のようになる。 H(I) =T(I) /T0 =16×256/(16×256−15×D0(I)) …(12) 次に、被写体像信号検出によって得られた補正前のセン
サデータD(I) 、上記補正係数H(I) を用いての補正後
のセンサデータをD′(I) とすると、T′(I) =T(I)
/H(I) であるから、 16× 256/(16× 256−15×D′(I) ) =(16× 256/(16× 256−15×D(I) ))・1/H(I) D′(I) =16× 256/15−((16× 256−15D(I) )/15)・H(I) …(13) となる。
The correction coefficient is obtained as follows.
Assuming that the photoelectric conversion element output D 0 (I) for a uniform light source is, the accumulation time T (I) of each element is expressed by the following equation from the above equation (1). T (I) = T 0 × 16 × 256 / (16 × 256−15 × D 0 (I) ) (11) where T 0 is the value of the photoelectric conversion element having the largest incident light amount in the photoelectric conversion element row. The accumulation time. Ideally, the storage time of all the elements should be T 0 for a uniform light source, but in practice, variations occur due to the above factors. As a correction method, a correction coefficient that makes each accumulation time T (I) coincide with T 0 is obtained. The correction coefficient H (I) is as follows using the equation (12). H (I) = T (I) / T 0 = 16 × 256 / (16 × 256−15 × D 0 (I) ) (12) Next, sensor data before correction obtained by subject image signal detection D (I), 'When (I), T' sensor data after correction using the correction coefficient H (I) D (I) = T (I)
/ H (I) , 16 × 256 / (16 × 256−15 × D ′ (I) ) = (16 × 256 / (16 × 256−15 × D (I) )) · 1 / H ( I) D ′ (I) = 16 × 256/15 − ((16 × 256−15D (I) ) / 15) · H (I) (13)

【0118】補正係数H(I) は、EEPROM12に記
憶しやすい形に変形する必要がある。EEPROM12
の記憶容量は限られているので、この範囲内で有効に補
正係数を記憶するために、上記係数H(I) を定数AS
S により H′(I) =(16× 256/(16× 256−15×D0(I)))×AS −BS …(14) と変形して圧縮する。
The correction coefficient H (I) needs to be transformed into a form that can be easily stored in the EEPROM 12. EEPROM 12
Is limited, the coefficient H (I) is set to a constant A S , in order to effectively store the correction coefficient within this range.
B S by H '(I) = (16 × 256 / (16 × 256-15 × D 0 (I))) × A S -B S ... deformed to be compressed (14).

【0119】以下、実際に一例として定数を決定してみ
ると、再結像光学系等によるAFセンサ面上での照度ば
らつきや、光電変換素子列を含むAFセンサの感度ばら
つき等のばらつきを、例えば±15%と仮定すると、補
正係数H(I) の範囲は、1≦H(I) ≦1.15となる。
In the following, when the constants are actually determined as an example, variations in illuminance on the AF sensor surface due to the re-imaging optical system and variations in sensitivity of the AF sensor including the photoelectric conversion element array and the like are described. For example, assuming ± 15%, the range of the correction coefficient H (I) is 1 ≦ H (I) ≦ 1.15.

【0120】一方、EEPROM12の記憶容量の制限
により、変形補正係数H′(I) を例えば4ビットに収め
るためには、定数AS 、BS =104とすればよい。
On the other hand, due to the limitation of the storage capacity of the EEPROM 12, the constants A S and B S may be set to 104 so that the deformation correction coefficient H ′ (I) is, for example, 4 bits.

【0121】 H′(I) =H(I) ×104−104 =(16× 256/(16× 256−15×D0(I)))× 104− 104…(15) となり、0≦H′(I) ≦15.6の範囲とすることがで
きる。
H ′ (I) = H (I) × 104−104 = (16 × 256 / (16 × 256−15 × D0 (I) )) × 104−104 (15), and 0 ≦ H ′ (I) ≦ 15.6.

【0122】上記(15)式を用いて、(13)式よりH
(I) を消去すると、補正後のセンサデータD′(I) は D′(I) =((H′(I) + 104)/ 104)・D(I) −(512/195)・H′(I) …(16) となる。ここで、D′(I) <0にならないように定数C
S を加算する。例えば、CS =40として D′(I) =((H′(I) + 104)/ 104)・D(I) −(512/195)・H′(I) +40 …(17) 以上より、上記(15)式が補正係数H′(I) 計算式、
(17)式が照度分布補正式である。尚、光電変換素子列
中で入射光量が小さいため、センサデータD(I)が量子
化のリミット255になっているものは、入射光量を正
しく光電変換していないので照度分布補正を行わない。
Using the above equation (15), H
When (I) is deleted, the corrected sensor data D ' (I) is D' (I) = ((H ' (I) +104) / 104) .D (I) -(512/195) .H ′ (I) … (16) Here, the constant C is set so that D ' (I) <0 is not satisfied.
Add S. For example, D as C S = 40 '(I) = ((H' (I) + 104) / 104) · D (I) - from (512/195) · H '(I ) +40 ... (17) or Equation (15) is the equation for calculating the correction coefficient H ′ (I) ,
Equation (17) is an illuminance distribution correction equation. Since the incident light amount is small in the photoelectric conversion element array and the sensor data D (I) is at the limit of quantization 255, the illuminance distribution correction is not performed because the incident light amount is not correctly photoelectrically converted.

【0123】次に、図4のAF測距のステップS29に
於いて、2つの被写体像で相関演算を行い、2像の間隔
を検出する。便宜上、第1の被写体像をL像とし、第1
の被写体像信号をL(I)とする。また、第2の被写体
像をP像とし、第2の被写体像信号をR(I)とする。
ここで、Iは素子番号であり、同実施例では、配置順に
1、2、3、…、64とする。すなわち、各素子21
L、21Rは、各64個の素子を有しているものとす
る。
Next, in step S29 of AF ranging in FIG. 4, a correlation operation is performed on the two subject images to detect an interval between the two images. For the sake of convenience, the first subject image is assumed to be an L image,
Let L (I) be the subject image signal. The second subject image is defined as a P image, and the second subject image signal is defined as R (I).
Here, I is an element number, and is 1, 2, 3,... That is, each element 21
Each of L and 21R has 64 elements.

【0124】図15のフローチャートを参照して、相関
演算処理について説明する。
Referring to the flowchart of FIG. 15, the correlation calculation processing will be described.

【0125】先ず、ステップS91及びS92にて、変
数SL、SR、Jに初期値として、それぞれ5、37、
8をセットする。ここで、SLは被写体像信号L(I)
のうちから相関検出する小ブロック素子列の先頭番号を
記憶する変数であり、同様にSRは被写体像信号R
(I)のうちから相関検出する小ブロック素子列の先頭
番号を記憶する変数、Jは被写体像信号L(I)での小
ブロックの移動回数をカウントする変数である。
First, in steps S91 and S92, variables SL, SR, and J are set to 5, 37,
Set 8 Here, SL is the subject image signal L (I)
Is a variable for storing the head number of the small block element row for which the correlation is detected from among
In (I), a variable for storing the head number of a small block element row for which a correlation is detected, and J is a variable for counting the number of movements of a small block in the subject image signal L (I).

【0126】そして、ステップS93に於いて、相関出
力F(S)を(18)式により計算する
Then, in step S93, the correlation output F (S) is calculated by the equation (18).

【数7】 この場合、小ブロックの素子数は27である。小ブロッ
クの素子数は、ファインダに表示された測距枠の大きさ
と、検出光学系の倍率によって定まる。
(Equation 7) In this case, the number of elements in the small block is 27. The number of elements in the small block is determined by the size of the distance measurement frame displayed on the viewfinder and the magnification of the detection optical system.

【0127】次に、ステップS94に於いて、相関出力
F(S)の最小値を検出する。ここで、F(S)をFmi
n と比較し、F(S)がFmin より小さければ、ステッ
プS95に進んでFmin にF(S)を代入し、その時の
SL、SRをSLM、SRMとして記憶する。ステップ
S96では、SRから1を減算し、Jから1を減算す
る。
Next, in step S94, the minimum value of the correlation output F (S) is detected. Where F (S) is Fmi
If F (S) is smaller than Fmin, the process proceeds to step S95, where F (S) is substituted for Fmin, and the SL and SR at that time are stored as SLM and SRM. In step S96, 1 is subtracted from SR, and 1 is subtracted from J.

【0128】そして、ステップS97にて、Jが0でな
ければ相関演算を繰返す。すなわち、像Lでの小ブロッ
ク位置を固定し、像Rでの小ブロック位置を1素子ずつ
ずらせながら相関をとる。Jが0になると、次にステッ
プS98にて、SLに4を加算し、SRに3を加算して
相関演算を続ける。すなわち、像Lでの小ブロック位置
を4素子ずつずらせながら相関演算を繰返す。こうし
て、ステップS99に於いて、SLの値が29になると
相関演算を終了する。
Then, in step S97, if J is not 0, the correlation calculation is repeated. That is, the correlation is obtained while fixing the small block position in the image L and shifting the small block position in the image R by one element. When J becomes 0, next, in step S98, 4 is added to SL, and 3 is added to SR, and the correlation calculation is continued. That is, the correlation calculation is repeated while shifting the small block position in the image L by four elements. Thus, in step S99, when the value of SL becomes 29, the correlation calculation ends.

【0129】以上により、効率的に相関演算を行い、相
関出力の最小値を検出することができる。この相関出力
の最小値を示す小ブロックの位置が、最も相関性の高い
像信号の位置関係を示している。
As described above, the correlation calculation can be performed efficiently, and the minimum value of the correlation output can be detected. The position of the small block indicating the minimum value of the correlation output indicates the positional relationship of the image signal having the highest correlation.

【0130】次に、ステップS100にて、検出した最
も相関性の高いブロック像信号について相関性の判定を
行うために、(19)式及び(20)式で示される相関出力
FM、FPを計算する。
Next, in step S100, the correlation outputs FM and FP expressed by the equations (19) and (20) are calculated in order to determine the correlation of the detected block image signal having the highest correlation. I do.

【0131】[0131]

【数8】 (Equation 8)

【数9】 すなわち、被写体像Rについて最小の相関出力を示す小
ブロック位置に対して±1素子だけずらせた時の相関出
力を計算する。このとき、FM、Fmin 、FPは、図1
6及び図17に示されるような関係になる。尚、図16
及び図17の横軸は光電変換素子の位置であり、縦軸は
相関出力を示している。
(Equation 9) In other words, the correlation output is calculated when the subject image R is shifted by ± 1 element from the small block position indicating the minimum correlation output. At this time, FM, Fmin, FP are as shown in FIG.
6 and FIG. Note that FIG.
17, the horizontal axis indicates the position of the photoelectric conversion element, and the vertical axis indicates the correlation output.

【0132】相関出力F(S)は、点ZRに於いて0に
なる。一方、相関性の低い場合は図17に示されるよう
に0にならない。
The correlation output F (S) becomes 0 at the point ZR. On the other hand, when the correlation is low, it does not become 0 as shown in FIG.

【0133】ステップS101では、相関性の判定をす
るために、次式に示される相関性指数SKとFSを求め
る。
In step S101, correlation indexes SK and FS represented by the following equations are obtained in order to determine the correlation.

【0134】FM≧PFのとき SK=(FP+Fmin )/(FM−Fmin ) …(21) FS=FM−Fmin …(22) FM<FPのとき SK=(FM+Fmin )/(FP−Fmin ) …(23) FS=FP−Fmin …(24) 相関性指数SKは、図16及び図17よりわかるよう
に、相関性の高い場合はSK=1となり、相関性の低い
場合はSK>1となる。したがって、相関性指数SKの
値により、検出する像ずれ量が信頼性があるか否かを判
定することができる。
When FM ≧ PF, SK = (FP + Fmin) / (FM−Fmin) (21) FS = FM−Fmin (22) When FM <FP: SK = (FM + Fmin) / (FP−Fmin) (22) 23) FS = FP−Fmin (24) As can be seen from FIGS. 16 and 17, the correlation index SK is SK = 1 when the correlation is high, and SK> 1 when the correlation is low. Therefore, it is possible to determine whether or not the detected image shift amount is reliable based on the value of the correlation index SK.

【0135】また相関性指数FSは、最も相関性の高い
小ブロック像信号のコントラストに相当するので、大き
い値ほどコントラストが高いことを示す。
Since the correlation index FS corresponds to the contrast of the small block image signal having the highest correlation, the larger the value, the higher the contrast.

【0136】図4のAF測距フローチャートに於いて、
ステップS30では、相関性の判定を行うために上記相
関性指数SK及びFSを用いる。
In the AF distance measurement flowchart of FIG.
In step S30, the correlation indices SK and FS are used to determine the correlation.

【0137】ところで、相関性指数SKは、実際には光
学系のばらつきや光電変換素子のノイズ、変換誤差等に
より、第1、第2被写体像は完全に一致することはない
ので、相関性指数SKは1にはならない。したがって、
所定の判定値αを用いて判定する。また、相関性指数F
Sについては、所定の判定値βを用いる。すなわち、S
K≦α且つFS≧βの場合だけ相関性ありと判断し、S
K>αまたはFS<βの場合は相関性なしと判断してA
F検出不能と判定し、検出不能フラグをセットする。こ
れらの判定値α、βは、製品個々によってばらつきがあ
り、また撮影モードやAF動作モードによって異なる判
定値を用いるので、EEPROM12にそれぞれ記憶さ
れている。
By the way, the correlation index SK is actually the same because the first and second subject images do not completely match due to variations in the optical system, noise of the photoelectric conversion element, conversion error, and the like. SK does not equal 1. Therefore,
The determination is made using a predetermined determination value α. Also, the correlation index F
For S, a predetermined determination value β is used. That is, S
It is determined that there is a correlation only when K ≦ α and FS ≧ β, and S
If K> α or FS <β, it is determined that there is no correlation and A
F It is determined that detection is not possible, and a detection impossible flag is set. Since these judgment values α and β vary depending on the product and use different judgment values depending on the photographing mode and the AF operation mode, they are stored in the EEPROM 12, respectively.

【0138】上記ステップS30に於いて相関性ありの
場合は、ステップS31に進んで、像ずれ量の計算を行
う。第1、第2の被写体像の間隔ZRは、図16のSO
であるから、FM≧FPのとき ZR=SRM−SLM+(FM−FP)/(FM−Fmin )・2…(25) FM<FPのとき ZR=SRM−SLM+(FP−FM)/(FP−Fmin )・2…(26) である。次に、合焦からの像ずれ量ΔZRは ΔZR=ZR−ZR0 …(27) 但し、ZR0は合焦時の被写体像間隔であり、カメラ毎
にEEPROMに記憶されている。
If there is a correlation in step S30, the flow advances to step S31 to calculate an image shift amount. The distance ZR between the first and second subject images is equal to SO
Therefore, when FM ≧ FP, ZR = SRM−SLM + (FM−FP) / (FM−Fmin) · 2 (25) When FM <FP, ZR = SRM−SLM + (FP−FM) / (FP−) Fmin) ・ 2 (26). Next, the image shift amount ΔZR from the focusing is ΔZR = ZR−ZR0 (27) where ZR0 is a subject image interval at the time of focusing and is stored in the EEPROM for each camera.

【0139】次に、ステップS32にて、この像ずれ量
ΔZRをデフォーカス量ΔDFに変換する。光軸上にフ
ィルム面に対する結像位置のずれ量、すなわちデフォー
カス量ΔDFは次式で求めることができる。 ΔDF=BD /(AD −ΔZR)−CD …(28) 但し、AD 、BD 、CD は、AF光学系によって決まる
定数である。また、これについては、特開昭62−10
0718号公報に開示されているので、ここでは説明は
省略する。
Next, in step S32, the image shift amount ΔZR is converted into a defocus amount ΔDF. The shift amount of the imaging position on the optical axis with respect to the film surface, that is, the defocus amount ΔDF can be obtained by the following equation. ΔDF = B D / (A D -ΔZR) -C D ... (28) However, A D, B D, C D is a constant determined by the AF optical system. This is described in JP-A-62-10
0718, the description is omitted here.

【0140】次いで、ステップS33にて、収差補正を
行う。ここでは、撮影レンズ17の球面収差の影響で焦
点距離、フォーカシングレンズの繰出し位置に応じて、
AF光学系の合焦点位置がずれるためこれを補正する。
この補正は、撮影レンズ17の焦点距離と被写体距離に
応じて、EEPROM12に記憶されている補正値を用
いて行う。
Next, in step S33, aberration correction is performed. Here, depending on the focal length and the extending position of the focusing lens due to the spherical aberration of the taking lens 17,
Since the focal point position of the AF optical system is shifted, this is corrected.
This correction is performed using a correction value stored in the EEPROM 12 according to the focal length of the photographing lens 17 and the subject distance.

【0141】そして、ステップS34にて、露出時のピ
ントズレを補正するレリーズピントずれ補正処理を行
う。これは撮影絞込み動作時に結像位置がずれるのを予
測して補正するものであり、その詳細は特開平4−30
669号公報に開示されているので、ここでの説明は省
略する。
Then, in step S34, a release defocus correction process for correcting defocus at the time of exposure is performed. This is to predict and correct the shift of the image forming position during the photographing stop-down operation.
Since it is disclosed in Japanese Patent Application Publication No. 669, description thereof is omitted here.

【0142】次に、ステップS35に於いて、検出した
デフォーカス量ΔDFが合焦許容範囲内に入っているか
否かを判定する。合焦許容範囲は被写界深度、すなわち
撮影時の絞り値や撮影レンズの焦点距離によって決定さ
れる。低コントラスト被写体や低輝度被写体、補助光照
射時や撮影レンズの焦点距離が長い場合は、検出デフォ
ーカス量の変動が大きいため、合焦許容範囲を拡大して
AF動作の安定化を図る。合焦許容範囲内に入っている
場合は、ステップS37に進んで合焦フラグをセットし
た後リターンする。一方、合焦許容範囲外の場合は、ス
テップS36でレンズ駆動パルス量計算を行った後、リ
ターンする。
Next, in step S35, it is determined whether or not the detected defocus amount ΔDF is within the allowable focusing range. The allowable focus range is determined by the depth of field, that is, the aperture value at the time of shooting and the focal length of the shooting lens. In the case of a low-contrast subject, a low-luminance subject, when illuminating auxiliary light, or when the focal length of the photographing lens is long, the fluctuation of the detected defocus amount is large. If it is within the allowable focus range, the process proceeds to step S37, sets the focus flag, and returns. On the other hand, if it is out of the permissible focusing range, the process returns after calculating the lens drive pulse amount in step S36.

【0143】検出したデフォーカス量ΔDFを光軸方向
のレンズ繰出し量ΔLKに変換する方法は、従来より種
々の提案がなされているので、ここでは詳細な説明は省
略する。例えば、特開昭64−54409号公報に開示
されているものでは、次式で求めている。 ΔLK=Aa −(Aa ×Ba )/(Aa +ΔDF)+Ca ×ΔDF …(29) ここで、Aa 、Ba 、Ca は、それぞれ焦点距離毎に記
憶している定数である。
Since various proposals have been made for converting the detected defocus amount ΔDF to the lens extension amount ΔLK in the optical axis direction, detailed description thereof will be omitted here. For example, in Japanese Unexamined Patent Publication No. 64-54409, the value is obtained by the following equation. ΔLK = A a - (A a × B a) / (A a + ΔDF) + C a × ΔDF ... (29) where, A a, B a, C a is a constant, respectively stored for each focal length is there.

【0144】撮影レンズ17のフォーカシングレンズ
は、AFモータよりギア列を介して駆動され、フォーカ
シングレンズの移動量はエンコーダによりAFPIパル
スとしてCPU10に入力される。したがって、光軸方
向のレンズ繰出し量ΔLKに、単位繰出し量あたりのA
FPIパルス数Kをかけて、レンズ駆動パルス量DPを
求める。
The focusing lens of the photographing lens 17 is driven by an AF motor via a gear train, and the amount of movement of the focusing lens is input to the CPU 10 as AFPI pulses by an encoder. Therefore, the lens extension amount ΔLK in the optical axis direction is set to A per unit extension amount.
The number of lens driving pulses DP is obtained by multiplying the number of FPI pulses K.

【0145】 DP=K×ΔLJ …(30) となる。尚、上記(27)式の像ずれ量ΔZR、(28)式
のデフォーカス量ΔDFは、何れも符号付の値であり、
正の場合は後ピンすなわちフィルム面の後側に結像して
おり、レンズを繰出す方向を示す。負の場合は前ピンで
レンズを繰込む方向を示す。
DP = K × ΔLJ (30) Note that the image shift amount ΔZR in the above equation (27) and the defocus amount ΔDF in the equation (28) are both signed values.
In the positive case, the image is formed on the rear pin, that is, on the rear side of the film surface, and indicates the direction in which the lens is extended. A negative value indicates the direction in which the lens is retracted by the front focus.

【0146】また、上記ステップS30に於いて、相関
性なしの場合は、ステップS38に進んで、補助光モー
ドフラグを参照し、今回のAFセンサ積分時、補助光照
射を行ったか否かを判定する。ここで、補助光オフの場
合は上記ステップS26に移行して、非合焦フラグをセ
ットして、このAF測距のルーチンを終了する。一方、
補助光オンの場合は、次のステップS39にて、図18
のフローチャートに示される補助光光量増加ルーチンを
実行する。
If there is no correlation in step S30, the flow advances to step S38 to refer to the auxiliary light mode flag and determine whether or not auxiliary light irradiation has been performed during the current AF sensor integration. I do. If the auxiliary light is off, the process proceeds to step S26, the out-of-focus flag is set, and the AF ranging routine ends. on the other hand,
If the auxiliary light is on, in the next step S39, FIG.
The auxiliary light amount increasing routine shown in the flowchart of FIG.

【0147】すなわち、ステップS111に於いて、先
ず積分リミットフラグを参照し、積分時間TE が積分リ
ミット時間TL を越えた否かを判定する。ここで、積分
リミットの場合は、補助光光量の不足によって適正な被
写体像データが得られず、相関性が得られなかった可能
性が高い。そこで、ステップS112に進んで、補助光
光量AGNOに所定数Lを加算して、新たにAGNOと
する。これは、次回の補助光モードセンサ積分時に増加
した補助光光量を照射して、より適正な被写体像データ
を得るためである。
[0147] That is, in step S111, first reference integral limit flag, determines whether or not the integration time T E exceeds the integration limit time T L. Here, in the case of the integration limit, it is highly probable that proper subject image data could not be obtained due to the lack of the auxiliary light amount, and the correlation could not be obtained. Therefore, the process proceeds to step S112, where a predetermined number L is added to the auxiliary light amount AGNO to newly set AGNO. This is to obtain more appropriate subject image data by irradiating the increased amount of auxiliary light during the next integration of the auxiliary light mode sensor.

【0148】次に、ステップS113に於いて、新たな
AGNOが制御範囲内であるか否かの判定を行う。AG
NO>12である場合は、図12に示される制御範囲を
越えているので、ステップS114で検出不能フラグを
セットした後、リターンする。このような場合は、被写
体が遠距離に位置する、反射率が低い、また非常に低輝
度である、といった状況である。一方、上記ステップS
113にて、AGNO≦12の場合は制御範囲内なの
で、そのままリターンする。
Next, in step S113, it is determined whether or not the new AGNO is within the control range. AG
If NO> 12, it is outside the control range shown in FIG. 12, so that the detection impossible flag is set in step S114, and the routine returns. In such a case, the subject is located at a long distance, the reflectance is low, and the brightness is very low. On the other hand, step S
At 113, if AGNO ≦ 12, it is within the control range, so the routine returns.

【0149】また、上記ステップS111に於いて、積
分リミットではない場合は、補助光光量を増加させても
改善される可能性が低いので、上記ステップS114に
移行して、検出不能フラグをセットした後リターンす
る。
If it is determined in step S111 that the value is not the integration limit, it is unlikely that improvement will occur even if the amount of auxiliary light is increased. Therefore, the flow shifts to step S114, where the detection impossible flag is set. Return later.

【0150】尚、ここでは、光量不足を積分リミットで
あるか否かで判定したが、所定値と積分時間TE の比
較、或いは測光値を用いて判定しても有効である。
[0150] Here, it was determined by whether the insufficient light is integral limit, comparing the predetermined value with the integration time T E, or it is also effective to determine with photometric value.

【0151】こうして補助光光量増加の処理がなされた
ならば、図4のAF測距のフローチャートに戻り、ステ
ップS40にて検出不能フラグを参照する。ここで、検
出不能の場合はステップS26に移行して、非合焦フラ
グをセットし、リターンする。検出不能でない場合はそ
のままリターンし、メインフローチャート中で、再度A
F測距をコールする。
After the process of increasing the amount of auxiliary light has been performed, the flow returns to the AF distance measurement flowchart of FIG. 4 and the detection impossible flag is referred to in step S40. Here, if the detection is not possible, the process moves to step S26, sets the out-of-focus flag, and returns. If the detection is not possible, the process returns as it is, and again returns to A in the main flowchart.
Call F range finding.

【0152】ここで、同実施例では、積分リミット(図
18のステップS111)か否かの判定で、補助光照射
光量の不足を判別している。しかし、積分時間TE (光
電変換素子列中の最も受光光量が小さい素子の蓄積時
間)の代わりにTOR信号(光電変換素子列中の最も受光
光量が大きい素子の蓄積時間)を用いて判別しても有効
である。また、上述した測光値Eを用いて判定してもよ
い。或いは、積分時間TE 、TOR、測光値Eの組合わせ
で判別すると、より効果的な制御が可能である。
Here, in this embodiment, the shortage of the auxiliary light irradiation light amount is determined by determining whether or not the integration limit (step S111 in FIG. 18) is satisfied. However, instead of the integration time TE (the storage time of the element with the smallest amount of received light in the photoelectric conversion element array), the determination is made using the TOR signal (the storage time of the element with the largest amount of received light in the photoelectric conversion element array). It is still effective. Alternatively, the determination may be made using the photometric value E described above. Alternatively, if the determination is made based on a combination of the integration times T E , T OR , and the photometric value E, more effective control can be performed.

【0153】次に、AF測距の結果に基いて、撮影レン
ズ17の駆動が行われる。
Next, the photographing lens 17 is driven based on the result of the AF distance measurement.

【0154】図19のフローチャートを参照して、レン
ズ駆動処理の動作を説明する。
The operation of the lens driving process will be described with reference to the flowchart of FIG.

【0155】先ず、ステップS121では、AF測距処
理で計算されたレンズ駆動パルス数が、所定値より大き
いかを判定する。この所定の判定値は、1回のレンズ駆
動で必ず合焦範囲内にレンズ駆動をすることができるレ
ンズ駆動パルス数を用いる。ここでは、例えば400パ
ルスとしている。すなわち、レンズ駆動パルス数が40
0パルスより小さい場合はステップS122に進み、バ
ックラッシュ駆動がすでに終了しているかをフラグによ
り判別する。
First, in step S121, it is determined whether or not the number of lens driving pulses calculated in the AF distance measurement processing is larger than a predetermined value. The predetermined determination value uses the number of lens drive pulses that can drive the lens within the focusing range by one lens drive. Here, for example, 400 pulses are used. That is, the number of lens drive pulses is 40
If it is smaller than 0 pulse, the process proceeds to step S122, and it is determined from the flag whether the backlash drive has already been completed.

【0156】このステップS122に於いて、まだバッ
クラッシュ駆動が終了していない場合はステップS12
3に進み、レンズ駆動方向が前回と反転しているか否か
を判定する。前回のレンズ駆動方向と比較して同一方向
であれば、ステップS124のレンズ駆動に進み、AF
測距結果のレンズ駆動パルス数に基いてレンズ駆動を実
行する。その後、ステップS125にて合焦フラグをセ
ットして、リターンする。この場合、上述したように、
1回のレンズ駆動で必ず合焦する駆動パルス数であり、
且つレンズ駆動方向は前回と同一である。したがって、
バックラッシュは存在しないので、再度AF測距をする
ことなく、合焦とする。
If it is determined in step S122 that the backlash drive has not been completed, the process proceeds to step S12.
Proceeding to 3, it is determined whether or not the lens driving direction is reversed from the previous time. If the direction is the same as the previous lens driving direction, the process proceeds to lens driving in step S124, and AF is performed.
The lens drive is executed based on the number of lens drive pulses obtained as a result of the distance measurement. Thereafter, the focus flag is set in step S125, and the routine returns. In this case, as described above,
This is the number of drive pulses that are always focused by one lens drive.
The lens driving direction is the same as the previous one. Therefore,
Since there is no backlash, focusing is performed without performing AF ranging again.

【0157】上記ステップS122に於いて、バックラ
ッシュ駆動済であった場合は、ステップS124に進ん
でレンズ駆動、ステップS125で合焦フラグセットを
行ってリターンする。
If backlash driving has been completed in step S122, the flow advances to step S124 to drive the lens. In step S125, a focusing flag is set, and the flow returns.

【0158】また、ステップS123に於いて、レンズ
駆動方向が前回に対して反転方向であった場合は、ステ
ップS126に進んでバックラッシュ量の計算を行う。
このバックラッシュ量は、撮影レンズ17の焦点距離や
駆動方向によって変化するので、それらに応じた計算を
行う。次いで、ステップS127で、計算されたバック
ラッシュ量に基いて、バックラッシュ量に相当するレン
ズ駆動パルス数だけレンズ駆動を行う。そして、ステッ
プS128では、バックラッシュ駆動済フラグのセット
を行って、その後リターンする。この場合は、メインフ
ローチャート上で再びAF測距処理、レンズ駆動処理が
行われる。
If it is determined in step S123 that the lens driving direction is the reverse direction with respect to the previous time, the flow advances to step S126 to calculate the amount of backlash.
The amount of backlash changes depending on the focal length and the driving direction of the photographing lens 17, and accordingly, calculation is performed in accordance with the change. Next, in step S127, based on the calculated backlash amount, the lens is driven by the number of lens driving pulses corresponding to the backlash amount. Then, in step S128, a backlash driven flag is set, and the process returns. In this case, the AF ranging processing and the lens driving processing are performed again on the main flowchart.

【0159】更に、上記ステップS121にて、AF測
距で計算されたレンズ駆動パルス数が400パルス以上
の場合は、ステップS129に進んで上記レンズ駆動パ
ルスより所定値を減算して新たにレンズ駆動パルスとす
る。この所定値は、レンズ駆動パルスで、合焦点より手
前の位置を示す補正値である。このフローチャート中で
は、例えば200パルスとしている。
Further, in step S121, if the number of lens drive pulses calculated by AF distance measurement is 400 pulses or more, the flow advances to step S129 to subtract a predetermined value from the lens drive pulse and newly drive the lens. Pulse. This predetermined value is a correction value indicating a position before the focal point in the lens driving pulse. In this flowchart, for example, 200 pulses are set.

【0160】そして、ステップS130にて、上記補正
されたレンズ駆動パルスに基いてレンズ駆動を行う。ま
た、このレンズ駆動では、バックラッシュがあったとし
ても、それは除去された状態になる。次いで、ステップ
S131では、バックラッシュ駆動済フラグをセットし
て、その後リターンする。これにより、撮影レンズはほ
ぼ合焦点の手前、駆動パルス数で200パルスの位置に
あるので、メインフローチャート中で再びAF測距、レ
ンズ駆動処理がコールされて合焦となる。
In step S130, the lens is driven based on the corrected lens drive pulse. Also, in this lens driving, even if there is backlash, it is removed. Next, in step S131, a backlash driven flag is set, and the process returns. As a result, the photographing lens is located almost before the focal point and at the position of 200 pulses in terms of the number of driving pulses, so that the AF distance measurement and the lens driving process are called again in the main flowchart to bring the lens into focus.

【0161】また、上記補正値は、カメラのファインダ
(図示せず)の見えに関係するAF動作のスピード感を
感じさせるように設定されている。例えば、デフォーカ
ス量の大きい状態からAF測距、レンズ駆動処理を2回
繰返して合焦させる場合を考える。
The correction value is set so as to give a sense of speed of the AF operation related to the appearance of the viewfinder (not shown) of the camera. For example, consider a case in which AF ranging and lens driving processing are repeated twice from a state where the defocus amount is large to achieve focusing.

【0162】1回目のレンズ駆動の停止位置が比較的合
焦点に近い場合、例えば手前50パルスでは、ファイン
ダではほぼ合焦状態となるが、手前200パルスではま
だピントがぼけた状態である。この状態から2回目のレ
ンズ駆動を実行すると、何れの場合も合焦するが、後者
のファインダで、ピンぼけ→合焦、となった方がよりス
ピード感が得られるわけである。したがって、上記ファ
インダの見えは、撮影レンズの焦点距離によって大きく
変化するので、これに応じて補正値を変更している。
When the stop position of the first lens drive is relatively close to the focal point, for example, at 50 pulses before, the finder is almost in focus, but at 200 pulses before, the focus is still out of focus. When the second lens drive is executed from this state, focusing is performed in any case. However, in the latter viewfinder, the sense of speed can be obtained by changing the focus from defocusing to focusing. Therefore, the appearance of the finder greatly changes depending on the focal length of the photographing lens, and the correction value is changed accordingly.

【0163】図20は、ストロボユニット15の回路の
ブロック図である。
FIG. 20 is a block diagram of a circuit of the strobe unit 15.

【0164】同図に於いて、このストロボユニット15
の回路は、電源Eと、この電源Eに並列に接続されて電
源電圧をストロボが発光可能になるまで昇圧を行うDC
/DCコンバータ51と、このDC/DCコンバータ5
1の出力に接続されて、ダイオード52を介して発光エ
ネルギーを蓄えるメインコンデンサ53と、上記DC/
DCコンバータ51の出力に接続されて、メインコンデ
ンサ53に充電された電圧を測定するメインコンデンサ
電圧測定回路54を有した構成となっている。
In this figure, the strobe unit 15
Is a power supply E, and a DC connected in parallel with the power supply E to boost the power supply voltage until a strobe can emit light.
/ DC converter 51 and this DC / DC converter 5
1 and a main capacitor 53 for storing light-emitting energy through a diode 52;
The configuration includes a main capacitor voltage measurement circuit 54 connected to the output of the DC converter 51 and measuring the voltage charged in the main capacitor 53.

【0165】また、ストロボユニット15の回路は、上
記ダイオード52のカソードに接続されてメインコンデ
ンサ53のエネルギーを消費して発光するキセノン(X
e)管55と、メインコンデンサ電圧測定回路54と同
じくDC/DCコンバータ51の出力に接続されてXe
管55に発光のためのトリガを引加するトリガ回路56
と、Xe管55の発光量の制御を行う発光光量制御回路
57と、この発光光量制御回路57の電源の供給を制御
する電源供給制御回路58とを有して構成されている。
The circuit of the strobe unit 15 is connected to the cathode of the diode 52 and emits light by consuming the energy of the main capacitor 53.
e) Xe connected to the tube 55 and the output of the DC / DC converter 51 similarly to the main capacitor voltage measuring circuit 54
Trigger circuit 56 for applying a trigger for light emission to tube 55
And a light emission amount control circuit 57 for controlling the light emission amount of the Xe tube 55, and a power supply control circuit 58 for controlling the power supply of the light emission amount control circuit 57.

【0166】上記DC/DCコンバータ51、メインコ
ンデンサ電圧測定回路54、トリガ回路56、発光光量
制御回路57及び電源供給制御回路58の制御は、図2
のCPU10がIFIC11をインターフェースとして
制御している。
The control of the DC / DC converter 51, the main capacitor voltage measuring circuit 54, the trigger circuit 56, the light emission amount control circuit 57, and the power supply control circuit 58 is as shown in FIG.
Control the IFIC 11 as an interface.

【0167】図21は、このストロボユニットの詳しい
回路図である。
FIG. 21 is a detailed circuit diagram of this strobe unit.

【0168】すなわち、メインコンデンサ電圧測定回路
54は、抵抗R1及びR2の直列回路と、この抵抗R2
と並列に接続されたコンデンサC1により構成される。
そして、DC/DCコンバータ51がオンの時、抵抗R
1と抵抗R2の分圧比によって、抵抗RとGND間に発
生する電圧により、メインコンデンサ53の電圧を測定
する。
That is, the main capacitor voltage measuring circuit 54 includes a series circuit of the resistors R1 and R2,
And a capacitor C1 connected in parallel.
When the DC / DC converter 51 is on, the resistance R
The voltage of the main capacitor 53 is measured by the voltage generated between the resistor R and GND by the voltage dividing ratio of 1 and the resistor R2.

【0169】トリガ回路56は、抵抗R3及びR4、コ
ンデンサC2及びC3、トリガトランスT1、サイリス
タD2が、図示の如く結線されている。このトリガ回路
T1は、Xe管55にトリガを引加すると同時にXe管
55のカソードに負のメインコンデンサ電圧を引加し、
Xe管55を発光する倍電圧回路を兼用している。
In the trigger circuit 56, resistors R3 and R4, capacitors C2 and C3, a trigger transformer T1, and a thyristor D2 are connected as shown. The trigger circuit T1 applies a trigger to the Xe tube 55 and simultaneously applies a negative main capacitor voltage to the cathode of the Xe tube 55,
The voltage doubler circuit that emits light from the Xe tube 55 is also used.

【0170】ここで、このトリガ回路56の動作につい
て説明する。
Here, the operation of the trigger circuit 56 will be described.

【0171】トリガ回路56の動作は、先ずDC/DC
コンバータ51を一定時間起動させ、出力充電電流を、
抵抗R3を介してコンデンサC2及びC3に充電する。
充電された電荷は、サイリスタD2のオンにより、コン
デンサC2→サイリスタD2→トリガコイルT1の1次
側a−b端子間→コンデンサC2へと流れる。トリガコ
イルT1の1次側に電流が流れると、コイルに1次巻線
の2次巻線に対する鎖交磁束が生じる。このため、トリ
ガコイルT1の2次巻線側のc端子には高電圧が誘起さ
れる。また、トリガ回路の駆動により、コンデンサC3
→サイリスタD2→抵抗R4→コンデンサC3に電流が
流れ、サイリスタD2のアノード電圧(コンデンサC3
のサイリスタ側)がXe管55の発光可能電圧から一瞬
のうちに0Vとなるため、コンデンサC3のXe管55
側の電圧が0Vからマイナスの発光可能電圧となる。す
ると、ダイオードD3によってXe管55のカソード側
の電圧はマイナスの電圧に保持され、Xe管55の両端
に2倍の発光可能電圧が引加されて発光しやすくなる、
いわゆる倍電圧回路の駆動を行う。
The operation of the trigger circuit 56 is as follows.
The converter 51 is activated for a certain period of time, and the output charging current is
The capacitors C2 and C3 are charged via the resistor R3.
When the thyristor D2 is turned on, the charged electric charge flows from the capacitor C2 to the thyristor D2, between the primary terminals a and b of the trigger coil T1, and then to the capacitor C2. When a current flows through the primary side of the trigger coil T1, a magnetic flux linkage between the primary winding and the secondary winding is generated in the coil. Therefore, a high voltage is induced at the terminal c on the secondary winding side of the trigger coil T1. In addition, by driving the trigger circuit, the capacitor C3
→ A current flows through the thyristor D2 → the resistor R4 → the capacitor C3, and the anode voltage of the thyristor D2 (the capacitor C3
Thyristor side) instantaneously becomes 0 V from the voltage at which the Xe tube 55 can emit light.
The voltage on the side becomes a negative light emission enabling voltage from 0V. Then, the voltage on the cathode side of the Xe tube 55 is maintained at a negative voltage by the diode D3, and a double luminous voltage is applied to both ends of the Xe tube 55 to facilitate light emission.
A so-called voltage doubler circuit is driven.

【0172】発光光量制御回路57は、IGBT1、ツ
ェナダイオードD4、抵抗R5及びR6、トランジスタ
Q1とが、図21に示される如く結線されて構成されて
いる。この発光光量制御回路57は、電源供給制御回路
58より供給される電圧により、ツェナダイオードD4
でIGBT1のゲート電圧を作成し、IGBT1をオン
状態にする。この時、Xe管55に発光電流が流れ、I
GBT1にも同じ発光電流が流れる。そして、発光光量
制御回路57に抵抗R6を介して発光停止信号がトラン
ジスタQ1に入力されると、トランジスタQ1はオン
し、IGBT1のゲートに蓄積された電荷はトランジス
タQ1を通して放出され、IGBT1はオフしXe管5
5の発光が停止する。
The light emission amount control circuit 57 includes an IGBT 1, a Zener diode D4, resistors R5 and R6, and a transistor Q1, which are connected as shown in FIG. The light emission amount control circuit 57 uses the voltage supplied from the power supply control circuit 58 to control the Zener diode D4
Creates the gate voltage of IGBT1, and turns IGBT1 on. At this time, a light emission current flows through the Xe tube 55, and I
The same emission current flows through the GBT 1. Then, when a light emission stop signal is input to the transistor Q1 through the resistor R6 to the light emission amount control circuit 57, the transistor Q1 is turned on, the electric charge accumulated in the gate of the IGBT1 is released through the transistor Q1, and the IGBT1 is turned off. Xe tube 5
Light emission of 5 stops.

【0173】また、電源供給制御回路58は、トランジ
スタQ2のエミッタがメインコンデンサ53のプラス極
側に接続され、コレクタは発光光量制御回路57に接続
され、ベースは抵抗R8を介してトランジスタQ3のコ
レクタに接続されている。トランジスタQ3のエミッタ
はGNDに、ベースは抵抗R9を介して図示されないマ
イクロコンピュータに接続され、抵抗R7はトランジス
タQ2のエミッタ・ベース間に接続されている。
In the power supply control circuit 58, the emitter of the transistor Q2 is connected to the plus side of the main capacitor 53, the collector is connected to the light emission amount control circuit 57, and the base is connected to the collector of the transistor Q3 via the resistor R8. It is connected to the. The emitter of the transistor Q3 is connected to GND, the base is connected to a microcomputer (not shown) via a resistor R9, and the resistor R7 is connected between the emitter and the base of the transistor Q2.

【0174】このように結線された電源供給制御回路5
7に於いては、G−ON端子にオン信号が入力される
と、トランジスタQ3がオンする。このトランジスタQ
3のオンにより、トランジスタQ2がオン、そして発光
光量量制御回路57に駆動電源を供給する。そして、オ
フ信号がG−ON端子に入力されると、発光光量制御回
路57の駆動電源の供給をカットする。
Power supply control circuit 5 thus connected
In 7, when an ON signal is input to the G-ON terminal, the transistor Q3 is turned on. This transistor Q
When the switch 3 is turned on, the transistor Q2 is turned on, and the driving power is supplied to the emission light amount control circuit 57. Then, when the off signal is input to the G-ON terminal, the supply of the driving power of the emission light amount control circuit 57 is cut off.

【0175】図22は、ストロボを間欠的に発光させた
時の瞳孔径の変化を示すものである。
FIG. 22 shows a change in the pupil diameter when the strobe light is intermittently emitted.

【0176】同図に於いて、時間t0 〜t1 まで、間欠
的にストロボを発光させると、瞳孔径がφ1 まで縮瞳す
る。そして、時間t2 で発光を停止した後、瞳孔は徐々
に拡張していく。
In this figure, when the strobe light is intermittently emitted from time t 0 to t 1 , the pupil diameter is reduced to φ 1 . Then, after stopping the light emission at time t 2, the pupil gradually expands gradually.

【0177】ここで、赤目防止の効果がある瞳孔径が、
φ0 とすると、瞳孔径が、φ1 〜φ0 まで拡張する間に
露出を行えば、著しい赤目写真は撮影されない。尚、φ
1 〜φ0 まで瞳孔径が拡張する時間を#T1とする。
Here, the pupil diameter which has the effect of preventing red eye is:
When phi 0, pupil diameter, by performing exposure while extended to phi 1 to [phi] 0, significant eye pictures are not captured. Note that φ
Pupil diameter to 1 to [phi] 0 is the # T1 time to expand.

【0178】図23は、図3のフローチャートのステッ
プS2の充電電圧チェックのサブルーチンである。
FIG. 23 is a subroutine for checking the charging voltage in step S2 of the flowchart in FIG.

【0179】初めに、ステップS141で電源Eの電圧
を測定して記憶する。次いで、ステップS142で電源
Eの温度を測定して記憶する。そして、ステップS14
3にて、上記ステップS141、S142の電源電圧温
度の結果を基に、電圧チェックのためのプリ充電を行う
時間を決定する。続いて、ステップS144で、STC
HRG端子から“H”信号を入力し、DC/DCコンバ
ータ51を起動させ、充電をスタートする。
First, in step S141, the voltage of the power supply E is measured and stored. Next, in step S142, the temperature of the power supply E is measured and stored. Then, step S14
At 3, based on the result of the power supply voltage temperature in steps S141 and S142, the time for performing the precharge for the voltage check is determined. Subsequently, in step S144, the STC
An “H” signal is input from the HRG terminal to activate the DC / DC converter 51 and start charging.

【0180】ステップS145では、上記ステップS1
43で決定した時間充電を行い、ステップS146でV
ST端子よりメインコンデンサ53の電圧をA/D変換
し、このA/D値を記憶する。次のステップS147で
は、上記ステップS146で測定したA/D値をEEP
ROM12に記憶されている発光可能電圧のA/D値と
比較する。ここで、測定電圧が高ければステップS14
8に進んで発光可能フラグをセットする。一方、測定電
圧が低ければステップS149に進んで、発光可能フラ
グをクリアにする。
In step S145, step S1 is executed.
Charging is performed for the time determined in step 43, and V
The voltage of the main capacitor 53 is A / D converted from the ST terminal, and the A / D value is stored. In the next step S147, the A / D value measured in the above step S146 is EEP
A comparison is made with the A / D value of the light emission enabling voltage stored in the ROM 12. Here, if the measured voltage is high, step S14
Proceeding to 8, the light emission enable flag is set. On the other hand, if the measured voltage is low, the process proceeds to step S149, and the light emission enable flag is cleared.

【0181】その後、ステップS150でSTCHRG
端子に“L”信号を入力し、DC/DCコンバータ51
の動作を止め、サブルーチンを終了する。
Thereafter, in step S150, STCHRG
The “L” signal is input to the terminal and the DC / DC converter 51
Is stopped, and the subroutine ends.

【0182】図24は、図6のステップS47でコール
される補助光照射のサブルーチンである。
FIG. 24 is a subroutine for illuminating the auxiliary light called in step S47 of FIG.

【0183】先ず、ステップS151にて補助光の発光
回数がセットされ、続いてステップS152で後述する
プリ充電が行われる。次に、ステップS153で、AF
演算で決定されたガイドナンバ相当の発光時間で発光す
る。そして、ステップS154にて所定時間(発光間隔
に相当する)をおいた後、ステップS155に於いて所
定回数発光する。
First, in step S151, the number of times of emission of the auxiliary light is set, and subsequently, in step S152, precharging described later is performed. Next, in step S153, AF
Light is emitted for a light emission time corresponding to the guide number determined by the calculation. Then, after a predetermined time (equivalent to a light emission interval) is set in step S154, light is emitted a predetermined number of times in step S155.

【0184】この後、ステップS156に於いて、タイ
マ・カウンタTCOをリセット・スタートする。このタ
イマ・カウンタTCOは、補助光照射終了から赤目防止
用の発光(以下、赤目発光と記す)開始までの時間を計
測するものである。
Thereafter, in step S156, the timer counter TCO is reset and started. The timer / counter TCO measures the time from the end of auxiliary light irradiation to the start of red-eye prevention light emission (hereinafter, referred to as red-eye light emission).

【0185】図25は、プリ充電の動作を説明するサブ
ルーチンである。
FIG. 25 is a subroutine for explaining the precharging operation.

【0186】ステップS161〜S165までは、図2
3の充電電圧チェックのステップS141〜S145と
同様である。そして、ステップS166で、STCHR
G端子を“L”とした後、リターンする。
Steps S161 to S165 are the same as those in FIG.
3 is the same as steps S141 to S145 of the charge voltage check. Then, in step S166, STCHR
After the G terminal is set to "L", the routine returns.

【0187】図26は、発光の動作を説明するサブルー
チンである。
FIG. 26 is a subroutine for explaining the light emission operation.

【0188】初めに、ステップS171にて、必要発光
光量を得るための発光時間を読出し、ステップS172
で、STON端子より“H”信号を出して発光させる。
次いで、ステップS173にて、上記ステップS171
で読出した時間だけ発光を続ける。ここで所定時間が経
過するとステップS174に進み、STOFF端子に
“H”信号を入力し、IGBT1をオフさせ、Xe管5
5の発光を止める。次に、ステップS175でSTON
端子を“L”とし、ステップS176でSTOFF端子
を“L”として終了する。
First, in step S171, the light emission time for obtaining the required light emission amount is read, and in step S172.
Then, an "H" signal is output from the STON terminal to emit light.
Next, in step S173, the above-described step S171 is performed.
The light emission is continued for the time read by. Here, when the predetermined time has elapsed, the process proceeds to step S174, where an "H" signal is input to the STOFF terminal to turn off the IGBT 1, and the Xe tube 5
5 stops emitting light. Next, STON in step S175
The terminal is set at "L", and at step S176, the STOFF terminal is set at "L" and the processing ends.

【0189】図27は、露出の動作を説明するシーケン
スである。
FIG. 27 is a sequence illustrating the exposure operation.

【0190】セカンドレリーズスイッチR2SWが押さ
れると、サブルーチン2Rがコールされる。そして、ス
テップS181にてG−ON端子を“H”とし、電源供
給制御回路58をオンさせて、IGBT1のゲート端子
に電荷を供給する。次いで、ステップS182に於い
て、赤目発光が必要と判断された場合は、ステップS1
83に進んで赤目発光を行う。
When the second release switch R2SW is pressed, a subroutine 2R is called. Then, in step S181, the G-ON terminal is set to “H”, the power supply control circuit 58 is turned on, and electric charges are supplied to the gate terminal of the IGBT1. Next, in step S182, if it is determined that red-eye emission is necessary, step S1
Proceed to 83 to perform red-eye emission.

【0191】また、ステップS184〜S188まで
は、ミラーアップ、露出、ミラーダウン、シャッタチャ
ージ、フィルムの巻上げ等の露出シーケンスを行う。そ
して、ステップS189にて、G−ON端子を“L”と
して終了する。
In steps S184 to S188, an exposure sequence such as mirror up, exposure, mirror down, shutter charge, and film winding is performed. Then, in step S189, the G-ON terminal is set to "L" and the processing ends.

【0192】図28及び図29は、赤目発光の動作を説
明するサブルーチンである。
FIGS. 28 and 29 are subroutines for explaining the operation of red-eye emission.

【0193】図28のステップS191において、赤目
発光を行うまでの時間が図22の♯T1より短いとき
は、瞳孔径が十分小さいので、赤目発光を行わずにリタ
ーンする。補助光照射を行ってから、ステップS191
までの時間は、タイマ・カウンタTCOを参照する。
At step S191 in FIG. 28, when the time until red-eye emission is performed is shorter than ΔT1 in FIG. 22, the pupil diameter is sufficiently small, and the routine returns without performing red-eye emission. After performing the auxiliary light irradiation, step S191 is performed.
For the time up to, refer to the timer counter TCO.

【0194】上記ステップS191に於いて、赤目発光
を行うまでの時間、すなわちタイマ・カウンタTCOの
値が、#T1より大きい時は、ステップS192でセッ
トされた所定回数だけ、プリ充電(ステップS19
3)、発光(ステップS194)、インターバル(ステ
ップS195)を行って、所定回数が終了するまで繰返
して終了する(ステップS196、S197)。尚、上
記ステップS195のインターバルは、赤目発光の発光
間隔を決める時間である。
In step S191, when the time until red-eye emission is performed, that is, when the value of the timer counter TCO is larger than # T1, the pre-charge is performed a predetermined number of times set in step S192 (step S19).
3), light emission (step S194), and interval (step S195) are performed, and the processing is repeated until the predetermined number of times is completed (steps S196 and S197). Note that the interval of step S195 is a time for determining a light emission interval of red-eye light emission.

【0195】図29は、赤目発光の第2の実施例であ
る。この実施例では、赤目発光を行うまでの時間が#T
1より短かい時は、赤目発光の発光回数を減らし、発光
間隔を広げるというものである。
FIG. 29 shows a second embodiment of the red-eye emission. In this embodiment, the time until red-eye emission is performed is #T
When it is shorter than 1, the number of times of red-eye emission is reduced and the emission interval is extended.

【0196】ステップS201に於いて、(TC0)<
#T1ならば、ステップS202に進んでRAM(AS
N)に発光回数#ASN0をセットする。一方、(TC
0)≦#T1ならば、ステップS203にの進んで発光
回数#ASN1をセットする。尚、#ASN1>#AS
N0である。
In step S201, (TC0) <
If it is # T1, the process proceeds to step S202 and the RAM (AS
N) is set to the number of times of light emission # ASN0. On the other hand, (TC
If 0) ≦ # T1, the process proceeds to step S203 to set the number of times of light emission # ASN1. Note that # ASN1>#AS
N0.

【0197】次に、ステップS204にてプリ充電を、
ステップS205で発光を行う。次いで、ステップS2
06に於いて、(TC0)と#T1との比較を行う。そ
の結果、ステップS207及びS208にて、(TC
0)の値によって発光間隔を変化させる。
Next, in step S204, pre-charging is performed.
Light emission is performed in step S205. Next, step S2
At 06, (TC0) is compared with # T1. As a result, in steps S207 and S208, (TC
The light emission interval is changed according to the value of 0).

【0198】こうして、ステップS204〜S208に
於いて、所定回数繰返したことをステップS209及び
S210で判断すると、終了する。
If it is determined in steps S209 and S210 that the predetermined number of times has been repeated in steps S204 to S208, the process ends.

【0199】以上述べたように、この発明は補助光照射
から赤目発光までの時間によって、赤目発光の総光量を
減ずるものである。
As described above, according to the present invention, the total amount of red-eye emission is reduced by the time from irradiation of auxiliary light to red-eye emission.

【0200】更には、図22に於ける量も縮瞳した瞳孔
径φ1 は、補助光照射時の発光ガイドナンバによって、
僅かに影響を受けるため、発光パターンを決定するパラ
メータとして補助光照射時の発光光量を加えてもよい。
Further, the pupil diameter φ 1 in which the amount of the pupil is also reduced in FIG. 22 is determined by the light emission guide number at the time of illuminating the auxiliary light.
Since it is slightly affected, the amount of light emitted at the time of illuminating the auxiliary light may be added as a parameter for determining the light emission pattern.

【0201】また、上述した実施例は、補助光として閃
光発光装置を用いているが、可視領域の発光波長を有す
るLEDを用いても、同様に瞳孔を縮瞳させる効果が期
待できる。よって、LEDが瞳孔径をφ1 まで、縮瞳さ
せる発光エネルギーを有する場合は、上記実施例と同様
に赤目発光の総光量を減ずることができる。
Further, in the above-described embodiment, the flash light emitting device is used as the auxiliary light. However, even if an LED having an emission wavelength in the visible region is used, the effect of similarly constricting the pupil can be expected. Thus, LED is a pupil diameter to phi 1, if having an emission energy for miosis can reduce the total amount of the same red-eye emission in the above embodiment.

【0202】図30は、上記LEDの発光回路を示した
ものである。CPU10の出力によってトランジスタQ
11をオンすることによって、LEDD11を発光させ
る。尚、R11はシャント抵抗、R12はベース電流制
限抵抗、R13はLED電流制限抵抗である。
FIG. 30 shows a light emitting circuit of the LED. The output of the CPU 10 causes the transistor Q
Turning on the LED 11 causes the LED D11 to emit light. Note that R11 is a shunt resistor, R12 is a base current limiting resistor, and R13 is an LED current limiting resistor.

【0203】[0203]

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、赤目防
止の効果を損わずに、赤目防止用の閃光発光の総光量を
減じてメインコンデンサの充電時間を短縮させることの
できるカメラを提供することができる。
As described above, according to the present invention, there is provided a camera capable of reducing the total amount of flash light emission for red-eye prevention and reducing the charging time of the main capacitor without impairing the effect of preventing red-eye. Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明のカメラの基本概念を示すブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram showing a basic concept of a camera according to the present invention.

【図2】この発明の一実施例のカメラの電気回路を示す
ブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an electric circuit of the camera according to one embodiment of the present invention.

【図3】カメラのファーストレリーズ処理の動作につい
て説明するフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating an operation of a first release process of the camera.

【図4】AF測距の動作を説明するサブルーチンであ
る。
FIG. 4 is a subroutine illustrating an operation of AF ranging.

【図5】焦点検出光学系の一例を示した図である。FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a focus detection optical system.

【図6】AFセンサ積分の処理動作を説明するフローチ
ャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a processing operation of AF sensor integration.

【図7】図2のAFIC11の詳細を示す回路ブロック
図である。
FIG. 7 is a circuit block diagram showing details of an AFIC 11 of FIG. 2;

【図8】図7のセンサ回路SCの詳細を示す回路ブロッ
ク図である。
FIG. 8 is a circuit block diagram showing details of a sensor circuit SC of FIG. 7;

【図9】図8の各部に於ける信号の出力等を表すタイミ
ングチャートである。
9 is a timing chart showing signal output and the like in each unit of FIG. 8;

【図10】補助光判定動作を説明するのサブルーチンで
ある。
FIG. 10 is a subroutine for explaining an auxiliary light determination operation.

【図11】補助光光量AGNOの初期設定を行うフロー
チャートである。
FIG. 11 is a flowchart for performing initial setting of an auxiliary light amount AGNO.

【図12】補助光光量AGNOとガイドナンバGNOと
の関係を示した図である。
FIG. 12 is a diagram showing a relationship between an auxiliary light amount AGNO and a guide number GNO.

【図13】(a)は補助光投光しながらの積分時の蓄積
時間TS と蓄積電圧VS の関係を示した図、(b)及び
(c)はAFRES信号及び補助光として周期的なスト
ロボパルス光を被写体に照射するタイミングチャート、
(d)、(e)、(f)は蓄積判定電圧V3 を設定し
て、それに対する蓄積時間TS (TSC、TSB、TSA)の
タイミングチャートである。
13A is a diagram showing a relationship between a storage time T S and a storage voltage V S during integration while projecting an auxiliary light, and FIGS. 13B and 13C are diagrams showing an AFRES signal and an auxiliary light periodically. Timing chart that irradiates the subject with a strobe pulse light,
(D), is a timing chart of (e), (f) is to set the accumulation determination voltage V 3, the accumulation time for it T S (T SC, T SB , T SA).

【図14】蓄積判定電圧V3 を変化させた場合の光電変
換素子B及びCのセンサデータDS の変化を、定常光モ
ード時のセンサデータDS を基準として、それからの差
分を示した図である。
[14] The variation of the photoelectric conversion elements B and C of the sensor data D S in the case of changing the storage determining voltage V 3, based on the sensor data D S in the steady light mode, showing the difference from it Figure It is.

【図15】相関演算処理について説明するフローチャー
トである。
FIG. 15 is a flowchart illustrating a correlation calculation process.

【図16】相関出力値と光電変換素子の位置との関係を
示した図である。
FIG. 16 is a diagram illustrating a relationship between a correlation output value and a position of a photoelectric conversion element.

【図17】相関出力値と光電変換素子の位置との関係を
示した図である。
FIG. 17 is a diagram illustrating a relationship between a correlation output value and a position of a photoelectric conversion element.

【図18】補助光光量増加の動作を説明するフローチャ
ートである。
FIG. 18 is a flowchart illustrating an operation of increasing the amount of auxiliary light.

【図19】レンズ駆動処理の動作を説明するフローチャ
ートである。
FIG. 19 is a flowchart illustrating an operation of a lens driving process.

【図20】ストロボユニット15の回路のブロック図で
ある。
FIG. 20 is a block diagram of a circuit of the strobe unit 15;

【図21】このストロボユニットの詳しい回路図であ
る。
FIG. 21 is a detailed circuit diagram of the strobe unit.

【図22】ストロボを間欠的に発光させた時の瞳孔径の
変化を示した図である。
FIG. 22 is a diagram showing a change in pupil diameter when a strobe is intermittently emitted.

【図23】図3のフローチャートのステップS2の充電
電圧チェックのサブルーチンである。
FIG. 23 is a flowchart illustrating a subroutine for checking a charging voltage in step S2 of the flowchart in FIG. 3;

【図24】図6のステップS47でコールされる補助光
照射のサブルーチンである。
FIG. 24 is a sub-light irradiation subroutine called in step S47 of FIG. 6;

【図25】プリ充電の動作を説明するサブルーチンであ
る。
FIG. 25 is a subroutine for explaining a precharge operation.

【図26】発光の動作を説明するサブルーチンである。FIG. 26 is a subroutine for explaining an operation of light emission.

【図27】露出の動作を説明するシーケンスである。FIG. 27 is a sequence illustrating an exposure operation.

【図28】赤目発光の第1の例の動作を説明するサブル
ーチンである。
FIG. 28 is a subroutine for explaining the operation of the first example of red-eye emission.

【図29】赤目発光の第2の例の動作を説明するサブル
ーチンである。
FIG. 29 is a subroutine for explaining the operation of the second example of red-eye emission.

【図30】LEDの発光回路の一例を示した図である。FIG. 30 is a diagram illustrating an example of a light emitting circuit of an LED.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…閃光発光装置、2…発光制御部、3…発光光量設定
部、4…予備照射指示部、5…赤目発光指示部、6…合
焦検知部、7…計時部、10…CPU、11…AFI
C、12…EEPROM、13…液晶表示パネル、14
…データバッグ、15…ストロボユニット、16…イン
ターフェースIC、17…撮影レンズ、18…コンデン
サレンズ、19L、19R…セパレータレンズ、20…
AF光学系、21L、21R…フォトセンサアレイ、2
2、23…モータドライバIC、24…発光ダイオード
(LED)、25…測光用シリコンフォトダイオード
(SPD)、26…受光用シリコンフォトダイオード、
27…リモコン送信用ユニット、28…投光用LED、
29…シャッタチャージ(SC)モータ、30…レンズ
駆動用(LD)モータ、31…ズーミング(ZM)モー
タ、32…シャッタチャージフォトインタラプタ(SC
PI)、33…レンズ駆動用フォトインタラプタ(LD
PI)、34…ズーミング用フォトインタラプタ(ZM
PI)、35…ズーミングフォトリフレクタ(ZMP
R)、36…AVモータ、37…AVPI。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Flash light-emitting device, 2 ... Light emission control part, 3 ... Light emission amount setting part, 4 ... Preliminary irradiation instruction part, 5 ... Red-eye emission instruction part, 6 ... Focus detection part, 7 ... Clock part, 10 ... CPU, 11 ... AFI
C, 12: EEPROM, 13: Liquid crystal display panel, 14
... data bag, 15 ... strobe unit, 16 ... interface IC, 17 ... photographing lens, 18 ... condenser lens, 19L, 19R ... separator lens, 20 ...
AF optical system, 21L, 21R photosensor array, 2
2, 23: motor driver IC, 24: light emitting diode (LED), 25: photometric silicon photodiode (SPD), 26: light receiving silicon photodiode,
27: remote control transmitting unit, 28: light emitting LED,
29: shutter charge (SC) motor, 30: lens driving (LD) motor, 31: zooming (ZM) motor, 32: shutter charge photo interrupter (SC)
PI), 33 ... Lens drive photo interrupter (LD)
PI), 34 ... Photo interrupter for zooming (ZM)
PI), 35 ... Zooming photo reflector (ZMP)
R), 36 ... AV motor, 37 ... AVPI.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−335621(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (56) References JP-A-4-335621 (JP, A)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被写体光を2像に分割し、各像の光強度
分布を測定し、その像間隔から撮影光学系のデフォーカ
ス量を求める自動焦点調節装置と、 上記光強度分布測定時に被写体に可視領域の発光波長を
有する補助光を照射する補助光照射装置と、 露光開始前に瞳孔収縮用として赤目防止光を照射する赤
目防止発光装置と、 上記補助光の照射終了からの時間を計時する計時手段
と、を具備し、 上記計時手段により計時された時間が予め定められた時
間よりも小さい場合は赤目防止光の光量を減じるように
したことを特徴とするカメラ。
An automatic focus adjustment device that divides subject light into two images, measures a light intensity distribution of each image, and obtains a defocus amount of a photographing optical system from an image interval; Emission wavelength in the visible region
Comprising an auxiliary light irradiating device that irradiates auxiliary light, and red-eye preventing emission device for irradiating the red-eye preventing light before the exposure start for the pupil constriction, and counting means for counting the time from the end of the irradiation of the auxiliary light, having If the time measured by the time measuring means is shorter than a predetermined time, the amount of the red-eye preventing light is reduced.
【請求項2】 被写体光を2像に分割し、各像の光強度
分布を測定し、その像間隔から撮影光学系のデフォーカ
ス量を求める自動焦点調節装置と、 上記光強度分布測定時に被写体に可視領域の発光波長を
有する補助光を照射する補助光照射装置と、 露光開始前に瞳孔収縮用として赤目防止光を照射する赤
目防止発光装置と、 上記補助光の照射終了からの時間を計時する計時手段
と、を具備し、 上記計時手段により計時された時間が予め定められた時
間よりも小さい場合は上記赤目防止発光装置による赤目
防止光の照射を禁止するようにしたことを特徴とするカ
メラ。
2. A divide object light in two images, the light intensity distribution of each image were measured, and an automatic focusing device for determining the defocus amount of the photographing optical system from the image distance, the subject at the time the light intensity distribution measurement Emission wavelength in the visible region
Comprising an auxiliary light irradiating device that irradiates auxiliary light, and red-eye preventing emission device for irradiating the red-eye preventing light before the exposure start for the pupil constriction, and counting means for counting the time from the end of the irradiation of the auxiliary light, having If the time measured by the time measuring means is smaller than a predetermined time, irradiation of the red-eye preventing light by the red-eye preventing light emitting device is prohibited.
JP07708993A 1993-04-02 1993-04-02 camera Expired - Fee Related JP3335702B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07708993A JP3335702B2 (en) 1993-04-02 1993-04-02 camera

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07708993A JP3335702B2 (en) 1993-04-02 1993-04-02 camera

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06308370A JPH06308370A (en) 1994-11-04
JP3335702B2 true JP3335702B2 (en) 2002-10-21

Family

ID=13624062

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP07708993A Expired - Fee Related JP3335702B2 (en) 1993-04-02 1993-04-02 camera

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3335702B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06308370A (en) 1994-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4346926B2 (en) Strobe photographing system and imaging apparatus
JP5424708B2 (en) Focus detection device
JP3585291B2 (en) Automatic focusing device
JP2004258431A (en) Stroboscopic photography system
US6498900B1 (en) Automatic focusing apparatus
JP3695380B2 (en) camera
JP2009053568A (en) Imaging apparatus and imaging system
JP3335702B2 (en) camera
JP2001305422A (en) Range finder
JP3139067B2 (en) Auto focus camera
JP3253739B2 (en) Pre-irradiation device for focus detection
JPH06289281A (en) Preliminary irradiation device for focus detection
JPH11109453A (en) Camera system
JP4245708B2 (en) Ranging device
JP3447319B2 (en) Pre-irradiation device and camera for focus detection
JP4810768B2 (en) camera
JPH0792371A (en) Preliminary irradiation device for detecting focus
JP2003084194A (en) Camera
JP4928236B2 (en) Imaging apparatus and imaging system
JP2005148227A (en) Camera system and flashing device
JP2005121834A (en) Imaging method, imaging apparatus, program, and storage medium
JPH0961904A (en) Stroboscopic control system
JPH08160503A (en) Focus detecting device for camera
CN109387992B (en) Image pickup apparatus capable of sufficiently ensuring light emission accuracy and control method thereof
US6222998B1 (en) Camera for controlling light emission timing of electronic flash device

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20010911

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080802

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090802

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100802

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100802

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110802

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120802

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees