JP2000138754A - 交換機システム及びその試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、交換機システムを構成する各種装置
の機能試験を容易且つ確実に行なえる交換機システムを
提供とすることを課題とする。 【解決手段】交換機システムは、交換機６００、７０
０、８００、９００と、プロセッサ８０等を有する。ア
ナログ加入者インタフェース装置９２１の試験の指示が
与えられると、プロセッサ８０はシステムデータ９１に
基づき試験装置６０１を選択し、セレクタ６１０、９１
０、９２０と各セレクタ内のリレーを制御して、保守回
線１ａ、２ａを介して試験装置６０１とアナログ加入者
インタフェース装置９２１とを接続させ、試験装置６０
１にアナログ加入者インタフェース装置９２１の試験を
行なわせる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、交換機システム及
びその試験方法に関する。近年、通信サービスの多様化
により、交換機システムには様々な加入者インタフェー
ス装置やトランク装置等が接続されてきており、交換機
システムの構成が巨大化・複雑化している。従って、交
換機システムを構成する各種装置の機能を試験するため
の試験実施手順も複雑化している。

【０００２】そこで、試験実施手順の簡略化が可能な交
換機システム及びその試験方法が求められている。

【０００３】

【従来の技術】図１は、従来の交換機システムの構成を
示す図である。図１に示すように、交換機システムは、
交換機１００（ＳＷ１）、２００（ＳＷ２）、３００
（ＳＷ３）、４００（ＳＷ４）、ジャンパ−ターミナル
フレーム５００（ＪＰＴＦ）等から構成される。また、
交換機１００は、交換機システムを構成する各種装置の
機能試験を行うための試験装置１０１（ＬＴＥ１）、接
続回線の切替に使用するセレクタ１１０（ＳＥＬ２）、
１２０（ＳＥＬ３）、アナログの加入者線に対するイン
タフェース装置であるアナログ加入者インタフェース装
置１１１（ＳＬＣ１）、１１２（ＳＬＣ２）、１２１
（ＳＬＣ３）、１２２（ＳＬＣ４）等を有する。

【０００４】交換機１００は、シェルフ単位で上記各装
置を収容する。例えば、交換機１００内のシェルフ１０
０ａは、セレクタ１１０、アナログ加入者インタフェー
ス装置１１１、１１２等を収容し、シェルフ１００ｂ
は、セレクタ１２０、アナログ加入者インタフェース装
置１２１、１２２等を収容する。尚、他の交換機２０
０、３００、４００の構成も交換機１００の構成と同様
であり、その説明を省略する。

【０００５】各交換機１００、２００、３００、４００
が有する装置同士は、ジャンパ−ターミナルフレーム５
００内で後述するようにジャンパー線を張り替えること
により、接続可能になっている。図２は、交換機１００
内の装置とジャンパターミナルフレーム５００との接続
の様子を示す図である。

【０００６】図２に示すように、交換機１００のシェル
フ１００ａ、１００ｂ、１００ｃ、１００ｄには、それ
ぞれライントランクコモン装置１１０ａ（ＬＴＣ１）、
１１０ｂ（ＬＴＣ２）、１１０ｃ（ＬＴＣ３）、１１０
ｄ（ＬＴＣ４）等が設けられ、ライントランクコモン装
置１１０ａ、１１０ｂ、１１０ｃ、１１０ｄは、ＳＴＭ
タイムスイッチ１０２（ＴＳＷ）に接続されている。外
部のプロセッサ（図示せず）からの制御信号は、このタ
イムスイッチ１０２を介してライトトランクコモン装置
１１０ａ、１１０ｂ、１１０ｃ、１１０ｄに与えられ
る。そして、ライトトランクコモン装置１１０ａ、１１
０ｂ、１１０ｃ、１１０ｄは、それぞれ接続されるセレ
クタ１１０、１２０、１３０、アナログ加入者インタフ
ェース装置１１１、１１２、１２１、１２２、１３１、
１３２を与えられた制御信号に従い制御する。

【０００７】従来、試験装置１０１と試験対象装置であ
るアナログ加入者インタフェース装置１１１、１１２、
・・・を接続するには、図２に示す保守回線１、２、
３、４を形成するようにジャンパー線を接続していた。
保守回線１は、試験装置１０１とジャンパーターミナル
フレーム５００との接続により形成され、保守回線２
は、セレクタ１１０とジャンパーターミナルフレーム５
００との接続により形成される。また、保守回線３は、
隣り合うセレクタ１２０とセレクタ１３０及びジャンパ
ーターミナルフレーム５００との接続により形成され、
保守回線４は、ジャンパーターミナルフレーム５００に
おける保守回線１への接続部と保守回線３への接続部と
の接続により形成される。例えば、アナログ加入者イン
タフェース装置１３２（ＳＬＣ６）の機能試験を行なう
場合、先ず、保守回線１、３、４を形成するようにジャ
ンパー線を接続していた。そして、セレクタ１３０をア
ナログ加入者インタフェース装置１３１に接続させる制
御信号をプロセッサから与えて、試験装置１０１とアナ
ログ加入者インタフェース装置１３１の電気的接続を行
なっていた。

【０００８】図３は、交換機１００が有するシェルフ１
００ｂの一実施例の構成図である。図３に示すように、
シェルフ１００ｂは試験装置１０１ａ（ＬＴＥ１）、１
０１ｂ（ＬＴＥ２）、・・・、セレクタ１１０（ＳＥＬ
２）、アナログ加入者インタフェース装置１１１（ＳＬ
Ｃ１）、デジタルの加入者線に対するインタフェース装
置であるデジタル加入者インタフェース装置１１３（Ｄ
ＬＣ１）等を有する。

【０００９】また、セレクタ１１０内には、アナログ加
入者インタフェース装置１１１及びデジタル加入者イン
タフェース装置１１３をジャンパーターミナルフレーム
５００に接続するための７つのセレクタ接続リレー１２
０ａ、１２０ｂ、・・・、１２０ｇとループ回路１１が
設けられている。ループ回路１１を介してライントラン
クコモン装置１１０ｂ（ＬＴＣ２）から与えられる制御
信号によって選択されたリレーが接続する回線を介し
て、アナログ加入者インタフェース装置１１１、デジタ
ル加入者インタフェース装置１１３がジャンパーターミ
ナルフレーム５００に接続される構成になっている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来は、試験
装置と複数のセレクタを接続するために、ジャンパー線
を用いたセレクタ毎に対応する保守回線の形成が必要で
あり、交換機システムの保守者に対して多大な労力と装
置間の接続に関する専門知識を要求していた。そして、
試験装置が交換機外に設けられる場合やセレクタ数が多
い場合は、ジャンパー線を用いた配線が非常に複雑にな
るため、ジャンパー線の接続工事ミスや接続時間の増大
に繋がっていた。この傾向は、近年の交換機システムの
巨大化・複雑化に伴い顕著になっていた。

【００１１】また、従来の保守回線は、ジャンパーター
ミナルフレームと試験装置やセレクタを接続する保守回
線と、隣り合うセレクタ同士を直接接続する保守回線と
から構成されていた。従って、例えば、図４に示すセレ
クタ間接続において、セレクタ１１０、２２０が障害を
受けて信号伝達が不可能になった場合、セレクタ装置１
２０、１３０、２１０間の接続状態を確保できない事態
が発生するという問題があった。

【００１２】本発明は、上記点に鑑みてなされたもので
あり、交換機システムを構成する各種装置の機能試験を
容易且つ確実に行なえる交換機システムを提供とするこ
とを課題とする。また、本発明は、上記交換機システム
の試験方法を提供することを課題とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明では、以下に述べる各手段を講じたことを特徴
とするものである。請求項１記載の発明では、試験装置
と、前記試験装置に接続されたセレクタと、回線の交換
接続を行なうための複数の試験対象装置とを有する交換
機と、前記セレクタの前記試験対象装置との接続を制御
して、前記セレクタに接続された試験対象装置の試験を
前記試験装置に行なわせる制御手段とを有することを特
徴とするものである。

【００１４】このような交換機システムでは、制御手段
によるセレクタの制御でセレクタを介して試験装置と接
続される試験対象装置を選択し、その試験対象装置の試
験を試験装置に行なわせることができる。従って、交換
機システムの保守者は、制御手段に指示を与えて、容易
且つ確実に所望の試験対象装置の試験を行なうことがで
きる。

【００１５】また、請求項２記載の発明では、請求項１
記載の交換機システムにおいて、複数の交換機と、各交
換機のセレクタを互いに接続する回線とを有し、任意の
交換機の試験装置と他の交換機の試験対象装置とを前記
回線により接続することを特徴とするものである。この
ような交換機システムでは、制御手段がセレクタを制御
することより、任意の交換機内の試験装置と他の交換機
内の試験対象装置が回線を介して接続される。従って、
保守者が制御手段に指示を与えて、容易に他の交換機内
の試験対象装置の試験を行なうことができる。

【００１６】また、請求項３記載の発明では、請求項２
記載の交換機システムにおいて、前記制御手段は、試験
対象装置に応じてその試験を行なう試験装置を選択する
ことを特徴とするものである。このような交換機システ
ムでは、各試験対象装置の試験に適した試験装置で試験
が行なわれる。

【００１７】また、請求項４記載の発明では、請求項３
記載の交換機システムにおいて、前記制御手段は、前記
試験装置と前記試験対象装置と前記セレクタと前記回線
に関する管理情報を有し、前記管理情報に基づき使用す
る試験装置を選択することを特徴とするものである。こ
のような交換機システムでは、制御手段が有する管理情
報に基づき、各試験対象装置の試験に適した試験装置が
選択される。従って、管理情報に基づき試験対象装置に
適した試験装置で試験が行なわれるようにすることがで
きる。

【００１８】また、請求項５記載の発明では、請求項４
記載の交換機システムにおいて、前記制御手段は、前記
管理情報に基づき試験装置の使用の可否を判定する使用
可否判定手段を有し、前記使用可否判定手段により使用
可能と判定された試験装置を選択することを特徴とする
ものである。このような交換機システムでは、使用可能
な試験装置で試験対象装置の試験が行なわれる。

【００１９】また、請求項６記載の発明では、請求項５
記載の交換機システムにおいて、前記制御手段は、更
に、前記管理情報に基づき使用可能と判定された試験装
置と前記試験対象装置との接続の可否を判定する接続可
否判定手段を有し、前記接続可否判定手段により接続可
能と判定された試験装置を選択することを特徴とするも
のである。

【００２０】このような交換機システムでは、使用可能
な試験が試験対象装置と確実に接続されて試験対象装置
の試験が行なわれる。また、請求項７記載の発明では、
試験装置と、前記試験装置に接続されたセレクタと、回
線の交換接続を行なうための複数の試験対象装置とを有
する交換機と、制御手段とを有する交換機システムの試
験方法であって、前記制御手段が前記セレクタの前記試
験対象装置との接続を制御し、前記試験装置が前記セレ
クタに接続された試験対象装置の試験を行うことを特徴
とするものである。

【００２１】このような試験方法によると、保守者が制
御手段に指示を与えて、所望の試験対象装置の試験を容
易且つ確実に行うことができる。また、請求項８記載の
発明では、請求項７記載の試験方法において、前記交換
機システムは、複数の交換機と各交換機のセレクタを互
いに接続する回線とを有し、前記制御手段が任意の交換
機の試験装置と他の交換機の試験対象装置とを前記回線
により接続するように前記セレクタを制御することを特
徴とするものである。

【００２２】このような試験方法によると、保守者が制
御手段に指示を与えて、他の交換機内の試験対象装置の
試験を容易に行なうことができる。また、請求項９記載
の発明では、請求項８記載の試験方法において、前記制
御手段が試験対象装置に応じてその試験を行なう試験装
置を選択することを特徴とするものである。

【００２３】このような試験方法によると、試験が各試
験対象装置の試験に適した試験装置で行なわれる。ま
た、請求項１０記載の発明では、請求項９記載の試験方
法において、前記制御手段は、前記試験装置と前記試験
対象装置と前記セレクタと前記回線に関する管理情報に
基づき試験装置を選択することを特徴とするものであ
る。

【００２４】このような試験方法によると、管理情報に
基づき試験が試験対象装置に適した試験装置で行われ
る。また、請求項１１記載の発明では、請求項１０記載
の試験方法において、前記制御手段は、前記管理情報に
基づき試験装置の使用の可否を判定し、使用可能と判定
した試験装置を選択することを特徴とするものである。

【００２５】このような試験方法によると、試験対象装
置の試験に際し、使用可能な試験装置が選択される。更
に、請求項１２記載の発明では、請求項１１記載の試験
方法において、前記制御手段は、前記管理情報に基づき
使用可能と判定した試験装置と前記試験対象装置との接
続の可否を判定し、接続可能と判定した試験装置を選択
することを特徴とするものである。

【００２６】このような試験方法によると、試験対象装
置の試験に際し、使用可能な試験装置が試験対象装置と
確実に接続される。

【００２７】

【発明の実施の形態】図５は、本発明の交換機システム
の全体構成図である。図５に示すように、本発明の交換
機システムは、交換機６００（ＳＷ１）、７００（ＳＷ
２）、８００（ＳＷ３）、９００（ＳＷ４）、プロセッ
サ８０、操作用端末９０等から構成される。また、交換
機６００は、試験装置６０１（ＬＴＥ１）、加入者回線
を試験装置６０１に引き込むためのセレクタ６１０（Ｓ
ＥＬ１）、６２０（ＳＥＬ２）、６３０（ＳＥＬ３）、
アナログ加入者インタフェース装置６２１（ＳＬＣ
１）、６２２（ＳＬＣ２）、６３１（ＳＬＣ３）、６３
２（ＳＬＣ４）等を有する。アナログ加入者インタフェ
ース装置６２１、６２２、６３１、６３２は、それぞれ
のアナログの加入者線を介して回線加入者の電話機等に
接続される。なお、交換機６００、７００、８００、９
００内では、アナログ加入者インタフェース装置の代わ
りにデジタルの加入者線に対するインタフェース装置で
あるデジタル加入者インタフェース装置を適用してもよ
い。

【００２８】交換機６００は、上記各装置をシェルフ単
位で収容する。例えば、図５に示すように、シェルフ６
００ａは、セレクタ６１０、試験装置６０１等を収容
し、シェルフ６００ｂは、セレクタ６２０、アナログ加
入者インタフェース装置６２１、６２２等を収容し、シ
ェルフ６００ｃは、セレクタ６３０、アナログ加入者イ
ンタフェース装置６３１、６３２等を収容する。

【００２９】このように各シェルフ６００ａ、６００
ｂ、６００ｃには、それぞれ１つのセレクタ６１０、６
２０、６３０が収容され、このセレクタ６１０、６２
０、６３０を介して他の装置同士が接続される。図５に
示すように、同一の交換機内のセレクタ同士をリング状
に接続する回線を保守回線１ａとし、異なる交換機のセ
レクタ同士をリング状に接続する回線を保守回線２ａと
する。

【００３０】尚、他の交換機７００、８００、９００の
構成も交換機６００の構成と同様であり、その説明を省
略する。以下、交換機６００、７００、８００、９００
内において、保守回線１ａで接続される装置群をそれぞ
れセレクタグループ（ＳＧＬ）ＳＧＮ１、ＳＧＮ２、Ｓ
ＧＮ３、ＳＧＮ４とする。また、保守回線２ａで接続さ
れる装置群をマルチ（ＭＬＴ）セレクタグループＳＧＮ
０とする。

【００３１】保守者が操作用端末９０から加入者回線の
機能試験をさせるための指示入力を行うと、プロセッサ
８０は、交換機６００、７００、８００、９００内の各
種装置を制御して要求された試験を行い、試験結果を操
作用端末９０に出力させる。ここで、交換機システムを
構成する交換機の数や交換機６００、７００、８００、
９００が有するシェルフの数、各シェルフが収容する装
置の種類及び数は図５に示すものに限らない。

【００３２】図６は、交換機６００（ＳＷ１）の構成図
である。図６に示すように、交換機６００のシェルフ６
００ａ、６００ｂ、６００ｃには、それぞれライントラ
ンクコモン装置６１０ａ（ＬＴＣ１）、６１０ｂ（ＬＴ
Ｃ２）、６１０ｃ（ＬＴＣ３）等が設けられ、ライント
ランクコモン装置６１０ａ、６１０ｂ、６１０ｃは、Ｓ
ＴＭタイムスイッチ６０２（ＴＳＷ）に接続されてい
る。このライントランクコモン装置６１０ａ、６１０
ｂ、６１０ｃは、タイムスイッチ６０２を介してプロセ
ッサ８０との通信を行い、プロセッサ８０からの制御に
従い、アナログ加入者インタフェース装置６２１、６２
２、６３１、６３２や後述するセレクタ６１０、６２
０、６３０内の各種リレーの制御を行う。

【００３３】ここで、試験装置６０１とセレクタ６１０
を接続する回線を保守回線３ａとし、セレクタ６２０と
アナログ加入者インタフェース装置６２１、６２２を接
続する回線を保守回線４ａとする。例えば、アナログ加
入者インターフェース装置６３２（ＳＬＣ４）の機能試
験を行なう場合、プロセッサ８０からセレクタ６１０、
６２０、６３０内のリレーに制御信号を与えて、試験装
置６０１とセレクタ６１０を保守回線３ａで接続し、セ
レクタ６１０とセレクタ６３０を保守回線１ａで接続
し、セレクタ６３０がアナログ加入者インターフェース
装置６３２と接続するようにする。また、例えば、図５
に示す交換機６００外のアナログ加入者インターフェー
ス装置９２２（ＳＬＣ１６）の機能試験を行なう場合、
試験装置６０１とセレクタ６１０が保守回線３ａで接続
され、セレクタ６１０とセレクタ９１０が保守回線２ａ
で接続され、セレクタ９１０とセレクタ９２０が保守回
線１ａで接続され、セレクタ９２０とアナログ加入者イ
ンターフェース装置９２２が保守回線４ａで接続され
る。

【００３４】尚、上記保守回線１ａ、２ａ、３ａ等は、
例えばそれぞれ６回線で構成されるが、説明の便宜上、
図５及び図６では１本の回線束として示した。図７は、
本発明の交換機６００が有するシェルフ６００ａの一実
施例の構成図である。図７に示すように、シェルフ６０
０ａは、試験装置６０１ａ（ＬＴＥ１）、６０１ｂ（Ｌ
ＴＥ２）、・・・、セレクタ６１０（ＳＥＬ１）、アナ
ログ加入者インタフェース装置６１１（ＳＬＣ１）、デ
ジタルの加入者回線に対するインタフェース装置である
デジタル加入者インタフェース装置６１２（ＤＬＣ１）
等を有する。

【００３５】また、セレクタ６１０は、セレクタ接続リ
レー２０（ＳＥＬＥＣＴ０）、２１（ＳＥＬＥＣＴ
１）、・・・、２５（ＳＥＬＥＣＴ５）、装置接続リレ
ー３０（ＳＥＰ００）、３１（ＳＥＰ０１）、・・・、
３５（ＳＥＰ０５）、マルチ接続リレー４０（ＳＥＰ１
０）、４１（ＳＥＰ１１）、・・・４５（ＳＥＰ１
５）、ループ回路１１等を有する。

【００３６】セレクタ接続リレー２０、２１、・・・、
２５は、それぞれ保守回線５ａと保守回線６ａを接続す
るためのリレーであり、装置接続リレー３０、３１、・
・・、３５は、それぞれ保守回線３ａと保守回線６ａを
接続するためのリレーであり、マルチ接続リレー４０、
４１、・・・、４５は、それぞれ保守回線２ａと保守回
線３ａを接続するリレーである。

【００３７】ここで、保守回線５ａは、ループ回路１１
とセレクタ接続リレー２０、２１、・・・、２５間に形
成された回線であり、保守回線６ａは、装置接続リレー
３０、３１、・・・、３５とマルチ接続リレー４０、４
１、・・・、４５間に形成された回線である。また、試
験装置６０１ａ、６０１ｂとセレクタ６１０は、接続端
子であるセレクタポイント５０（ＳＰ０）、５１（ＳＰ
１）、・・・、５５（ＳＰ５）を介して接続される。

【００３８】上記のように、本発明によるシェルフ６０
０ａは、試験装置６０１ａ、６０１ｂからの保守回線３
ａをセレクタ６１０内に直接引き込んでおり、装置接続
リレー３０、３１、・・・、３５やマルチ接続リレー４
０、４１、・・・、４５を介して保守回線１ａ、２ａに
接続可能な構成である。ループ回路１１は、試験装置Ｌ
ＴＥ１、ＬＴＥ２が後述するシステムデータ上に示され
ているセレクタポイントに実際に接続されているか否か
をチェックするために用いられる。例えば、試験装置６
０１ａ（ＬＴＥ１）がセレクタポイント５４（ＳＰ４）
に接続されているか否かをチェックする場合、プロセッ
サ８０でループ回路１１と、セレクタ接続リレー２４
と、装置接続リレー３４の接続を指定した後に試験装置
６０１ａからデータを送信させる。試験装置６０１ａが
セレクタポイント５４に接続されている場合、試験装置
６０１ａから送信されたデータは、ループ回路１１で折
り返されて試験装置６０１ａに受信される。一方、試験
装置６０１ａがセレクタポイント５４に接続されていな
い場合、試験装置６０１ａから送信されたデータは、試
験装置６０１ａに受信されない。従って、試験装置６０
１ａから送信したデータがループ回路１１で折り返され
て戻ってくることで、試験装置６０１ａがセレクタポイ
ント５４に接続されていることが確認できる。セルクタ
６１０と、試験装置６０１ａ、６０１ｂ等の他の装置
は、セレクタポイント５０、５１、・・・、５４でケー
ブル接続されるが、上記のようなループ回路１１を設け
ることにより、交換機システムにおける装置間の接続状
況のチェックを容易に行なうことができる。

【００３９】上記構成の交換機６００では、シェルフ６
００ａ内において、セレクタ６１０内の各種リレーをプ
ロセッサ８０で制御することにより、試験装置６０１
ａ、６０１ｂと交換機６００の内外の装置を自在に接続
して機能試験を行なうことができる。従って、回線接続
作業に伴う工事ミスや、回線接続及び試験に関する作業
量を低減することができる。

【００４０】図８は、セレクタ間接続を説明するための
図である。図８に示すように、同一セレクタグループに
属する交換機６００内のセレクタ６１０とセレクタ６２
０、６３０間及び交換機７００内のセレクタ７１０とセ
レクタ７２０、７３０間は、共に保守回線１ａで接続さ
れる。また、異なるセレクタグループに属するセレクタ
６１０とセレクタ７１０間は、保守回線２ａで接続され
る。ここで、例えば、セレクタ６２０、７３０に障害が
発生して信号伝達が不可能になった場合、セレクタ６１
０、６３０間及びセレクタ７１０、７２０間の信号伝達
は、保守回線１ａを介して行なわれ、セレクタ６１０、
７１０間の信号伝達は、保守回線２ａを介して行なわれ
る。従って、本発明の交換機システムでは、保守回線１
ａ、２ａを利用して、障害が発生したセレクタ６２０、
７３０以外のセレクタ６１０、６３０、７１０、７２０
間の回線接続を確保することができる。

【００４１】図９は、プロセッサ８０の構成図である。
図９に示すように、プロセッサ８０は、保守インタフェ
ース制御部８１、試験シナリオ制御部８２、試験装置管
理部８３、システムデータ管理部８４、セレクタ管理部
８５、装置インタフェース制御部８６等から構成され
る。保守インタフェース制御部８１は、操作用端末９０
から試験シナリオ制御部８２への各種コマンドやコマン
ドに対する応答及びメッセージ情報等の送受信を行う。
試験シナリオ制御部８２は、試験実施手順を記録する。
また、試験シナリオ制御部８２は、保守インタフェース
制御部８１から各種コマンドを受けて、実行する試験の
種類に応じた試験装置への試験開始信号の送信や試験結
果の受信等を行う。試験装置管理部８３は、試験シナリ
オ制御部８２からの要求を受けて、試験対象装置の試験
に適し、且つ、セレクタを介して試験対象装置に接続が
可能な試験装置を選択する。また、セレクタ管理部８５
は、システムデータ管理部８４が管理するシステムデー
タ内の装置データに基づき、試験対象装置と試験装置間
を接続するためのセレクタを選択し、該セレクタ内のリ
レー制御を行う。装置インタフェース制御部８６は、試
験シナリオ制御部８２及びセレクタ管理部８５と交換機
６００、７００、８００、９００内のタイムスイッチ６
０２（ＴＳＷ）間のインタフェースである。

【００４２】図１０は、図９で示したシステムデータ管
理部８４で管理されるシステムデータ９１の構成例を示
す図である。図１０に示すように、システムデータ９１
は、装置データ９２、セレクタグループ（ＳＧ）管理デ
ータ９３、セレクタグループ（ＳＧ）構成データ９４、
セレクタ（ＳＥＬ）管理データ９５、試験装置データ９
６等から構成される。

【００４３】装置データ９２、セレクタグループ管理デ
ータ９３は、本発明の交換機システムが立ち上がるため
に必ず必要とされるデータであり、交換機システムの施
設時に与えられる。そして、装置データ９２、セレクタ
グループ管理データ９３は、通常、交換機システムが停
止してもデータ保証されるＰＭ(Permanent Memory)エリ
アに格納されている。

【００４４】一方、セレクタグループ構成データ９４、
セレクタ管理データ９５、試験装置データ９６は、交換
機システムの立ち上がりに伴い、上記データ装置データ
９２及びセレクタグループ管理データ９３に基づき生成
されるデータである。そして、セレクタグループ構成デ
ータ９４、セレクタ管理データ９５、試験装置データ９
６は、通常、ＴＭ(Temporary Memory)エリアに格納され
ている。

【００４５】装置データ９２は、交換機システムを構成
する各種装置に関するデータであり、装置の種類（ＥＱ
ＩＤ）毎のデータ９２ａ、９２ｂ、９２ｃ、９２ｄ、９
２ｅからなる。また、同じ種類の装置同士は、論理装置
番号（ＥＬＮ）で区別される。例えば、ライントランク
コモン装置（ＬＴＣ）に関する装置データ９２ａは、ラ
イントランクコモン装置が収容される交換機を表す収容
位置情報と、ライントランクコモン装置の使用状態を表
す装置状態情報及びライントランクコモン装置が接続す
る装置を表す接続装置情報等を含む。また、アナログ加
入者インタフェース装置（ＳＬＣ）やデジタル加入者イ
ンタフェース装置（ＤＬＣ）に関する装置データ９２
ｂ、９２ｃは、収容位置情報と、装置状態情報及びパッ
ケージ種別情報等を含む。ここで、パッケージ種別情報
とは、実行する試験の試験シナリオを選択する際の識別
子である。例えば、同じデジタル加入者インタフェース
という装置種別（ＥＱＩＤ）でも交換機を設置する会社
や国によりその機能や回線数が異なる場合がある。そこ
で、パッケージ種別情報に基づき、交換機の機能や回線
数に応じた試験シナリオが選択される。

【００４６】また、セレクタ（ＳＥＬ）に関する装置デ
ータ９２ｄは、収容位置情報と、装置状態情報と、セレ
クタグループ内で隣接するセレクタを表す隣接セレクタ
情報と、マルチセレクタグループ内で隣接するセレクタ
を表すマルチ隣接セレクタ情報及び使用されるセレクタ
ポイントを表すセレクタポイント接続装置情報を含む。
このセレクタポイント接続装置情報は、各セレクタポイ
ントにどの試験装置が接続されているかを示す情報であ
る。例えば、セレクタポイント接続装置情報として、図
７に示す交換機６００内のシェルフ６００ａにおいて、
セレクタ６１０はセレクタポイント５４を介して試験装
置６０１ａと接続され、セレクタポイント５５を介して
試験装置６０１ｂと接続されていることが記録される。

【００４７】試験装置（ＬＴＥ）に関する装置データ９
２ｅは、収容位置情報と、装置状態情報及び接続セレク
タポイント情報を含む。この接続セレクタポイント情報
は、各試験装置がどのセレクタポイントに接続されてい
るかを示す。また、セレクタグループ管理データ９３
は、セレクタグループ毎に割り当てられた論理グループ
番号（ＳＧＮ）で管理され、装置が属するセレクタグル
ープを表すセレクタグループ種別情報と、そのセレクタ
グループにおいて任意に指定された代表セレクタを表す
代表セレクタ情報を含む。

【００４８】セレクタグループ構成データ９４は、論理
グループ番号で管理され、セレクタポイントの使用状態
を表すセレクタポイント使用状態情報と、セレクタグル
ープ内でのセレクタの接続順を表すセレクタ接続順情報
を含む。ここで、例えば、図５に示すセレクタグループ
ＳＧＮ１において、セレクタ６１０（ＳＥＬ１）を代表
セレクタとした場合、セレクタ間接続リングを一方向に
見ると、セレクタ６１０（ＳＥＬ１）、セレクタ６３０
（ＳＥＬ３）、セレクタ６２０（ＳＥＬ２）の順で接続
されていることが分かる。この順序がセレクタ接続順情
報として記録される。

【００４９】また、セレクタ管理データ９５は、セレク
タの論理装置番号で管理され、セレクタグループ（ＳＧ
Ｌ）情報と、マルチセレクタグループ（ＭＬＴ）情報を
含む。このセレクタ管理データ９５は、各セレクタがど
のセレクタグループ（ＳＧＮ）の何番目（ＤＴＮ）に配
置されているかを示す。更に、試験装置データ９６は、
試験装置種別毎の論理装置番号で管理され、使用状態情
報と、セレクタグループ（ＳＧＬ、ＭＬＴ）情報と接続
されるセレクタポイントに関する接続セレクタポイント
情報を含む。

【００５０】図１１にシステムデータ９１の具体例を示
す。例えば、図１１のＬＴＣの装置データ９２ａにおい
て、論理装置番号ＥＬＮ＝１の欄には、交換機６００
（ＳＷ１）内にあるライントランクコモン装置６１０ａ
（ＬＴＣ１）が使用中（ＩＮＳ）であり、ライントラン
クコモン装置６１０ａは、セレクタ６１０（ＳＥＬ１）
と試験装置６０１（ＬＴＥ１）に接続されていることが
示されている。

【００５１】本発明の交換機システムは、上記のような
データを内蔵するプロセッサ８０を有するので、保守者
は操作用端末９０を操作することにより、プロセッサ８
０を介して交換機システムにおける試験を容易に行なう
ことができる。また、試験装置と試験対象装置とが離れ
ていても操作用端末９０の操作により、容易に試験対象
装置についての試験を行なうことができる。

【００５２】図１２は、上記セレクタグループ構成デー
タ９４、セレクタ管理データ９５及び試験装置データ９
６の生成手順の一例を示すフローチャートである。以
下、これらのデータの生成手順について、図５、図１０
及び図１２を用いて説明する。本発明の交換機システム
が起動されると、先ず、ステップ（Ｓ１−１）におい
て、論理グループ番号が０であるマルチセレクタグルー
プＳＧＮ０に関する情報がセレクタグループ管理データ
９５内にあるか否かが判別される。

【００５３】ステップ（Ｓ１−１）において、マルチセ
レクタグループＳＧＮ０に関する情報がセレクタグルー
プ管理データ９５内にある場合、次に、ステップ（Ｓ１
−２）の処理が実行される。一方、ステップ（Ｓ１−
１）において、マルチセレクタグループＳＧＮ０に関す
る情報がセレクタグループ管理データ９５内に無い場
合、次に、ステップ（Ｓ１−３）の処理が実行される。

【００５４】ステップ（Ｓ１−３）では、本交換機シス
テムにおいて、ＳＧＮ＝０が論理グループ番号の最大値
であるか否かが判別される。ここで、論理グループ番号
０が最大値である場合、セレクタグループ構成データ９
４、セレクタ管理データ９５、試験装置データ９６の生
成は終了となる。一方、論理グループ番号０が最大値で
ない場合、次に、論理グループ番号がインクリメントさ
れ、論理グループ番号が１であるセレクタグループＳＧ
Ｎ１について、ステップ（Ｓ１−１）の処理が実行され
る。

【００５５】ステップ（Ｓ１−２）では、マルチセレク
タグループＳＧＮ０に属するセレクタのうち、代表セレ
クタであるセレクタ６１０（ＳＥＬ１）のセレクタ接続
順番号ＤＴＮが０とされる。そして、次に、ステップ
（Ｓ１−４）の処理が実行される。ステップ（Ｓ１−
４）では、装置データ９２内のセレクタ６１０に関する
装置状態情報、隣接セレクタ情報、セレクタポイント接
続装置情報等が参照される。そして、次のステップ（Ｓ
１−５）では、セレクタ接続順番号ＤＴＮ０に対応する
エリアにセレクタ６１０に係るセレクタ接続順（ＤＴ
Ｎ）情報、セレクタポイント使用状態情報が書き込まれ
て、セレクタ６１０に関するセレクタグループ構成デー
タ９４が生成される。そして、次に、ステップ（Ｓ１−
６）の処理が実行される。

【００５６】ステップ（Ｓ１−６）では、セレクタグル
ープの種別が判別される。上記ステップ（Ｓ１−１）〜
（Ｓ１−５）において、セレクタグループＳＧＮ１〜４
とセレクタ６１０に関する処理が実行された場合、ステ
ップ（Ｓ１−６）の後に、ステップ（Ｓ１−７）の処理
が実行される。一方、上記ステップ（Ｓ１−１）〜（Ｓ
１−５）において、マルチセレクタグループＳＧＮ０と
セレクタ６１０に関する処理が実行された場合は、ステ
ップ（Ｓ１−６）の後に、ステップ（Ｓ１−８）の処理
が実行される。

【００５７】ステップ（Ｓ１−７）では、セレクタ管理
データ９５として、セレクタ６１０のセレクタグループ
情報（ＳＧＮ、ＤＴＮ）が設定される。一方、ステップ
（Ｓ１−８）では、セレクタ管理データ９５として、セ
レクタ６１０のマルチセレクタグループ情報（ＳＧＮ、
ＤＴＮ）が設定される。ステップ（Ｓ１−７）又はステ
ップ（Ｓ１−８）の処理後には、ステップ（Ｓ１−９）
の処理が実行される。

【００５８】ステップ（Ｓ１−９）では、セレクタ６１
０のセレクタポイント接続装置情報のインデックス値が
初期化され、ＳＰ＝０とされる。そして、次に、ステッ
プ（Ｓ１−１０）において、装置データ９２ｄに基づ
き、セレクタ６１０のセレクタポイントＳＰ０に試験装
置が実装（接続）されているか否かが判別される。ステ
ップ（Ｓ１−１０）において、セレクタ６１０のセレク
タポイントＳＰ０に例えば、試験装置６０１（ＬＴＥ
１）が実装（接続）されていると判断される場合、次
に、ステップ（Ｓ１−１１）において、試験装置６０１
の試験装置データ９６として、接続セレクタポイントＳ
Ｐ０が設定される。そして、次に、ステップ（Ｓ１−１
２）の処理が実行される。一方、ステップ（Ｓ１−１
０）において、セレクタ６１０のセレクタポイントＳＰ
０に試験装置が実装（接続）されていない場合、次に、
ステップ（Ｓ１−１３）の処理が実行される。

【００５９】ステップ（Ｓ１−１２）では、セレクタグ
ループの種別が判別される。上記ステップ（Ｓ１−１）
〜（Ｓ１−１１）において、セレクタグループＳＧＮ１
〜４とセレクタ６１０に関する処理が実行された場合、
ステップ（Ｓ１−１２）の後に、ステップ（Ｓ１−１
４）の処理が実行される。一方、上記ステップ（Ｓ１−
１）〜（Ｓ１−１１）において、マルチセレクタグルー
プＳＧＮ０とセレクタ６１０に関する処理が実行された
場合は、ステップ（Ｓ１−１２）の後に、ステップ（Ｓ
１−１５）の処理が実行される。

【００６０】ステップ（Ｓ１−１４）では、試験装置デ
ータ９６のセレクタグループ情報が設定される。また、
ステップ（Ｓ１−１５）では、試験装置９６のマルチセ
レクタグループ情報が設定される。そして、ステップ
（Ｓ１−１４）又はステップ（Ｓ１−１５）の後には、
ステップ（Ｓ１−１３）の処理が実行される。ステップ
（Ｓ１−１３）では、セレクタポイントＳＰがＳＰ＜５
であるか否かが判別される。ＳＰ＜５が成立する場合、
セレクタポイントがインクリメントされ、セレクタ６１
０のセレクタポイントＳＰ１について、ステップ（Ｓ１
−１０）の処理が実行される。一方、ＳＰ＜５が不成立
の場合、次に、ステップ（Ｓ１−１６）の処理が実行さ
れる。

【００６１】ステップ（Ｓ１−１６）では、セレクタグ
ループの種別が判別される。上記ステップ（Ｓ１−１）
〜（Ｓ１−１５）において、セレクタグループＳＧＮ１
〜４とセレクタ６１０に関する処理が実行された場合、
ステップ（Ｓ１−１６）の後に、ステップ（Ｓ１−１
７）の処理が実行される。一方、上記ステップ（Ｓ１−
１）〜（Ｓ１−１５）において、マルチセレクタグルー
プＳＧＮ０とセレクタ６１０に関する処理が実行された
場合は、ステップ（Ｓ１−１６）の後に、ステップ（Ｓ
１−１８）の処理が実行される。

【００６２】ステップ（Ｓ１−１７）では、装置データ
９２ｄ及びセレクタグループ管理データ９３に基づき、
セレクタグループＳＧＮ１〜４内でセレクタ６１０と接
続される隣接セレクタが代表セレクタであるか否かが判
別される。ステップ（Ｓ１−１７）において、隣接セレ
クタが代表セレクタであると判断される場合、次のステ
ップ（Ｓ１−１９）において、論理グループ番号ＳＧＮ
がインクリメントされ、以降、セレクタグループＳＧＮ
１について、ステップ（Ｓ１−１）の処理が実行され
る。一方、ステップ（Ｓ１−１７）において、隣接セレ
クタが代表セレクタでない場合、次に、ステップ（Ｓ１
−２０）の処理が実行される。

【００６３】ステップ（Ｓ１−１８）では、装置データ
９２ｄ及びセレクタグループ管理データ９３に基づき、
マルチセレクタグループＳＧＮ０内でセレクタ６１０と
接続される隣接セレクタが代表セレクタであるか否かが
判別される。ステップ（Ｓ１−１８）において、隣接セ
レクタが代表セレクタであると判断される場合、次に、
ステップ（Ｓ１−１９）の処理が実行される。一方、ス
テップ（Ｓ１−１８）において、隣接セレクタが代表セ
レクタでない場合、次に、ステップ（Ｓ１−２０）の処
理が実行される。

【００６４】ステップ（Ｓ１−２０）では、セレクタ接
続順番号ＤＴＮがインクリメントされて、隣接セレクタ
のセレクタ接続順番号ＤＴＮが１とされる。そして、こ
のセレクタについて、ステップ（Ｓ１−４）以下の処理
が実行されていく。装置データ９２、セレクタグループ
管理データ９３に基づき、上記のような手順が繰り返さ
れて、全てのセレクタグループ、セレクタ及び試験装置
について、セレクタグループ構成データ９４、セレクタ
管理データ９５及び試験装置データ９６が生成される。

【００６５】図１３は、試験シナリオ制御部８２が有す
る試験実施手順を示すシーケンス図である。試験実施手
順は、大きくは試験対象装置に接続可能な試験装置を決
定する試験装置捕捉処理と、試験対象装置と試験装置間
のセレクタを介した接続ルートを決定するセレクタルー
ト捕捉処理と、試験対象装置の試験及び操作用端末９０
に試験結果を送信する試験結果送信処理とからなる。プ
ロセッサ８０を構成する試験シナリオ制御部８２、試験
装置管理部８３等は、システムデータ９１内のデータに
基づき以下のような処理を行なう。

【００６６】図１３において、保守者が操作用端末９０
を用いて試験開始要求を行うと、保守インタフェース制
御部８１は、その試験開始要求のパラメータをチェック
し（Ｓ２−１）、要求された試験に応じて起動させる試
験シナリオ制御部８２を判断し（Ｓ２−２）、その試験
シナリオ制御部８２に試験開始指示を出す。試験シナリ
オ制御部８２は、保守インタフェース制御部８１からの
試験開始指示を受けて、試験対象装置の状態チェック等
からなる試験実施条件の確認を行い、更に、試験対象装
置に対する他のオペレーションを規制して試験の実行に
支障がないようにする（Ｓ２−３）。この時、試験内容
が加入者回路である加入者インターフェース装置や加入
者回線に係るものである場合、試験シナリオ制御部８２
は、対応する加入者の発呼も規制する（Ｓ２−４）。

【００６７】そして、試験シナリオ制御部８２は、試験
の種類に応じて使用する試験装置の種類を判断し、試験
装置管理部８３を起動させる（Ｓ２−５）。起動した試
験装置管理部８３は、試験対象装置の収容位置情報に基
づき、捕捉候補となる試験装置を検索する（Ｓ２−
６）。そして、試験装置管理部８３は、セレクタ管理部
８５にセレクタ（ＳＥＬ）ルートの捕捉を要求する。

【００６８】この時、セレクタ管理部８５は、試験対象
装置と試験装置を接続するためのセレクタとセレクタ接
続ルートの情報を取得し（Ｓ２−７）、特定されるセレ
クタと接続ルートが使用可能か否かをチェックする（Ｓ
２−８）。試験装置管理部８３は、セレクタ管理部８５
に特定されたセレクタルートが使用可能であれば、捕捉
候補の試験装置を捕捉する（Ｓ２−９）。試験シナリオ
制御部８２は、セレクタ内のリレー制御を行い、先に捕
捉されたセレクタルートを介して試験装置と試験対象装
置間の接続を行うための指示信号をセレクタ管理部８５
に与える（Ｓ２−１０）。

【００６９】セレクタ管理部８５は、指定セレクタルー
トで試験を行うことの支障の有無を再度チェックし、問
題が無ければリレー接続を実施し（Ｓ２−１１）、リレ
ー制御をしたセレクタの制御指示を装置インタフェース
制御部８６に与える。そして、装置インタフェース制御
部８６は、指定されたセレクタを制御して（Ｓ２−１
２）、試験準備が完了する。

【００７０】試験準備が完了すると、試験シナリオ制御
部８２は、捕捉した試験装置に対する試験開始の指示を
出す（Ｓ２−１３）。この指示を受けて装置インタフェ
ース制御部８６が試験装置の制御を実施すると（Ｓ２−
１４）、試験装置による試験対象装置の試験が行なわれ
る。試験が終了すると、試験シナリオ制御部８２は、装
置インタフェース制御部８６を介して試験装置から試験
結果を受信し、試験の種類に応じた試験結果の判定を行
う（Ｓ２−１５）。そして、試験シナリオ制御部８２
は、先に各装置に設定した試験時用の状態を解放し、試
験以外の他のオペレーション規制も解除する（Ｓ２−１
６）。

【００７１】これらの解放処理が終了すると、試験シナ
リオ制御部８２は、コマンドレスポンス情報を編集し
（Ｓ２−１７）、試験結果を保守インタフェース制御部
８１に送信する（Ｓ２−１８）。更に、保守インタフェ
ース制御部８１は、この試験結果を操作用端末９０に送
信し、保守者は操作用端末９０を介して試験結果を得
る。

【００７２】図１４は、図１３に示したシーケンスにお
けるステップ（Ｓ２−５）からステップ（Ｓ２−９）ま
での試験装置及びセレクタルートの捕捉処理の流れの詳
細を示すフローチャートである。ここでは、試験対象装
置が図５に示すアナログ加入者インタフェース装置９２
１（ＳＬＣ１５）であり、そのアナログ加入者インタフ
ェース装置９２１に対して用いられる試験装置及び接続
ルートが捕捉される場合について説明する。

【００７３】先ず、保守者からアナログ加入者インタフ
ェース装置９２１についての回路試験の要求をプロセッ
サ８０が受信すると、ステップ（Ｓ３−１）の処理によ
り試験対象装置の種類及び試験種別から当該試験に適し
た試験装置（例えば、図５の試験装置６０１＝ＬＴＥ
１）が決定される。そして、次に、ステップ（Ｓ３−
２）の処理が実行される。

【００７４】ステップ（Ｓ３−２）では、図１１に示し
たシステムデータ９１の装置データ９２ｂから、アナロ
グ加入者インタフェース装置９２１に接続されているラ
イントランクコモン装置（ＬＴＣ１０）が検索される。
そして、次に、ステップ（Ｓ３−３）、（Ｓ３−４）の
処理が実行される。ステップ（Ｓ３−３）では、装置デ
ータ９２ａから該ライントランクコモン装置（ＬＴＣ１
０）がセレクタ９２０（ＳＥＬ１０）に接続されている
ことが検索され、更に、ステップ（Ｓ３−４）では、セ
レクタ管理データ９５からセレクタ９２０がセレクタグ
ループＳＧＮ４に属していることが検索される。そし
て、ステップ（Ｓ３−４）の処理の後は、ステップ（Ｓ
３−５）において、試験装置捕捉処理が実行される。

【００７５】試験装置捕捉処理とは、アナログ加入者イ
ンタフェース装置９２１と試験装置６０１を実際に接続
するための接続ルートを探す処理である。この試験装置
捕捉処理の後は、ステップ（Ｓ３−６）の処理が実行さ
れる。ステップ（Ｓ３−６）では、ステップ（Ｓ３−
５）において、試験装置６０１の捕捉処理ができたか否
かが判別される。ステップ（Ｓ３−５）において、試験
装置６０１の捕捉処理ができた場合は、試験装置６０１
及びセレクタルートの捕捉処理が終了となる。一方、ス
テップ（Ｓ３−５）において、試験装置６０１の捕捉処
理ができなかった場合は、次に、ステップ（Ｓ３−７）
の処理が実行される。

【００７６】ステップ（Ｓ３−７）では、セレクタグル
ープ構成データ９４に基づき、セレクタグループＳＧＮ
４内において、セレクタ９２０（ＳＥＬ１０）がセレク
タ９１０（ＳＥＬ９）に接続可能であることが検索され
る。そして、次に、ステップ（Ｓ３−８）において、セ
レクタ管理データ９５に基づき、セレクタ９１０（ＳＥ
Ｌ９）のマルチセレクタグループ情報が検索される。ス
テップ（Ｓ３−８）の処理の後は、ステップ（Ｓ３−
９）の処理が実行される。

【００７７】ステップ（Ｓ３−９）では、セレクタ管理
データ９５に基づき、セレクタ９１０がセレクタグルー
プＳＧＮ４の他にマルチセレクタグループにも属してい
るか否かが判別される。ステップ（Ｓ３−９）におい
て、セレクタ９１０がマルチセレクタグループＳＧＮ０
に属していると判断される場合、続く、ステップ（Ｓ３
−１０）において、セレクタグループＳＧＮ４とマルチ
セレクタグループＳＧＮ０に係るルートで再び試験装置
６０１の捕捉処理が行なれる。そして、次に、ステップ
（Ｓ３−１１）の処理が実行される。一方、ステップ
（Ｓ３−９）において、セレクタ９１０がマルチセレク
タグループＳＧＮ０に属していないと判断される場合
は、次に、ステップ（Ｓ３−１２）の処理が実行され
る。

【００７８】ステップ（Ｓ３−１１）では、ステップ
（３−１０）において、試験装置６０１の捕捉処理がで
きたか否かが判別される。ステップ（Ｓ３−１１）にお
いて、試験装置６０１の捕捉処理ができた場合は、試験
装置６０１及びセレクタルートの捕捉処理が終了する。
一方、ステップ（Ｓ３−１１）において、試験装置６０
１の捕捉処理ができなかった場合は、次に、ステップ
（Ｓ３−１２）の処理が実行される。

【００７９】ステップ（Ｓ３−１２）では、セレクタグ
ループＳＧＮ４内において、セレクタ９１０（ＳＥＬ
９）の他に、セレクタ９２０（ＳＥＬ１０）が接続可能
なセレクタが有るか否かがセレクタグループ構成データ
９４に基づき判別される。ステップ（Ｓ３−１２）にお
いて、セレクタ９２０が接続可能な他のセレクタが有る
場合、該セレクタに対してステップ（Ｓ３−７）の処理
が実行される。一方、ステップ（Ｓ３−１２）におい
て、セレクタ９２０が接続可能な他のセレクタが無い場
合は、ステップ（Ｓ３−１３）において、試験装置６０
１の捕捉が不可であることが保守者に通知され、試験は
中止になる。

【００８０】上記ステップ（Ｓ３−５）、（Ｓ３−１
０）で示した試験装置の捕捉処理は、以下のように行な
われる。図１５は、試験装置捕捉処理の流れを示すフロ
ーチャートである。先ず、ステップ（Ｓ４−１）におい
て、試験装置データ９６に基づき、論理装置番号ＥＬＮ
０の試験装置６０１の使用状態情報、接続セレクタポイ
ント情報等が検索される。そして、次に、ステップ（Ｓ
４−２）の処理が実行される。

【００８１】ステップ（Ｓ４−２）では、試験装置デー
タ９６に基づき、マルチセレクタグループＳＧＮ０に接
続される試験装置６０１が未使用中であるか否かが判別
される。ステップ（Ｓ４−２）において、試験装置６０
１が未使用中であると判断される場合、次に、ステップ
（Ｓ４−３）の処理が実行される。一方、ステップ（Ｓ
４−２）において、試験装置６０１が使用中である場合
は、次に、ステップ（Ｓ４−４）の処理が実行される。

【００８２】ステップ（Ｓ４−３）では、試験装置６０
１とセレクタ９１０（ＳＥＬ９）との接続ルートを探す
セレクタルート捕捉処理が実行される。そして、次に、
ステップ（Ｓ４−５）の処理が実行される。ステップ
（Ｓ４−５）では、ステップ（Ｓ４−３）において、セ
レクタルートの捕捉ができたか否かが判別される。ステ
ップ（Ｓ４−５）において、セレクタルートの捕捉がで
きたと判断される場合、次に、ステップ（Ｓ４−６）の
処理が実行される。一方、ステップ（Ｓ４−５）におい
て、セレクタルートの捕捉ができなかった場合は、次
に、ステップ（Ｓ４−４）の処理が実行される。

【００８３】ステップ（Ｓ４−６）では、試験装置６０
１の使用状態情報が「使用中」にされ、試験装置捕捉処
理が終了する。ステップ（Ｓ４−４）では、試験装置デ
ータ９６の全ての論理装置番号ＥＬＮについて、試験装
置捕捉処理が実行されたか否かが判別される。ステップ
（Ｓ４−４）において、全ての論理装置番号ＥＬＮにつ
いて、試験装置捕捉処理が実行されたと判断される場合
は、次のステップ（Ｓ４−７）において、試験装置の捕
捉が不可であることが保守者に通知され、試験は中止に
なる。一方、ステップ（Ｓ４−４）において、試験装置
捕捉処理を行なうべき他の論理装置番号ＥＬＮの試験装
置があると判断される場合は、再びステップ（Ｓ４−
１）の処理が実行される。

【００８４】上記ステップ（Ｓ４−３）で示したセレク
タルートの捕捉処理は、以下のように行なわれる。図１
６は、セレクタルート捕捉処理の流れを示すフローチャ
ートである。先ず、ステップ（５−１）において、セレ
クタ管理データ９５に基づき、試験装置６０１とアナロ
グ加入者インターフェース装置９２１間の接続に係る２
つセレクタ６１０、９１０がマルチセレクタグループＳ
ＧＮ０に属するか否かが判別される。ステップ（Ｓ５−
１）において、セレクタ６１０、９１０がマルチセレク
タグループＳＧＮ０に属すると判断される場合、次に、
ステップ（Ｓ５−２）の処理が実行される。一方、ステ
ップ（Ｓ５−１）において、セレクタ６１０、９１０が
同一のマルチセレクタグループＳＧＮ０に属していない
と判断される場合、次に、ステップ（Ｓ５−３）の処理
が実行される。

【００８５】ステップ（Ｓ５−２）では、セレクタグル
ープ構成データ９４に基づき、マルチセレクタグループ
ＳＧＮ０に属するセレクタ６１０（ＳＥＬ１）、９１０
（ＳＥＬ９）のセレクタポイント使用状態情報が参照さ
れる。そして、次に、ステップ（Ｓ５−４）の処理が実
行される。ステップ（Ｓ５−４）では、セレクタ６１０
（ＳＥＬ１）、９１０（ＳＥＬ９）が同一のセレクタポ
イントを既に使用中であるか否かが判別される。ステッ
プ（Ｓ５−４）において、セレクタ６１０（ＳＥＬ
１）、９１０（ＳＥＬ９）が同一のセレクタポイントを
使用中であると判断される場合は、ステップ（Ｓ５−
５）において、試験装置６０１とアナログ加入者インタ
フェース装置９２１間を接続するセレクタルートの捕捉
が不可であることが保守者に通知される。一方、セレク
タ６１０（ＳＥＬ１）、９１０（ＳＥＬ９）が同一のセ
レクタポイントを使用していないと判断される場合は、
次に、ステップ（Ｓ５−６）の処理が実行される。

【００８６】ステップ（Ｓ５−６）では、論理装置番号
ＥＬＮの昇順にマルチセレクタグループＳＧＮ０に接続
されるセレクタ６１０（ＳＥＬ１）、７１０（ＳＥＬ
４）、８１０（ＳＥＬ７）、９１０（ＳＥＬ９）の使用
状態がチェックされる。そして、次に、ステップ（Ｓ５
−７）の処理が実行される。ステップ（Ｓ５−７）で
は、ステップ（Ｓ５−６）でチェックしたセレクタが全
てＩＮＳ（IN Service）であるか否かが判別される。全
てのセレクタがＩＮＳである場合は、次に、ステップ
（Ｓ５−３）の処理が実行される。一方、ＯＯＳ（Out
Of Service）のセレクタがあれば、次に、ステップ（Ｓ
５−８）の処理が実行される。

【００８７】ステップ（Ｓ５−８）では、論理装置番号
ＥＬＮの降順にマルチセレクタグループＳＧＮ０に接続
されるセレクタ９１０（ＳＥＬ９）、８１０（ＳＥＬ
７）、７１０（ＳＥＬ４）、６１０（ＳＥＬ１）の使用
状態がチェックされる。そして、次に、ステップ（Ｓ５
−９）の処理が実行される。ステップ（Ｓ５−９）で
は、ステップ（Ｓ５−８）でチェックしたセレクタが全
てＩＮＳであるか否かが判別される。全てのセレクタが
ＩＮＳである場合は、次に、ステップ（Ｓ５−３）の処
理が実行される。一方、ＯＯＳのセレクタがあれば、次
に、ステップ（Ｓ５−５）の処理が実行される。

【００８８】上記のように、セレクタ６１０から同一の
マルチセレクタグループＳＧＮ０に属するセレクタ９１
０迄、論理装置番号ＥＬＮの昇順及び降順のいずれの方
向においても、対応するセレクタがＯＯＳの場合に、試
験装置６０１とアナログ加入者インタフェース装置９２
１間を接続するセレクタルートの捕捉が不可であること
が保守者に通知される。

【００８９】ステップ（Ｓ５−３）では、セレクタグル
ープ構成データ９４に基づき、セレクタグループＳＧＮ
４に属するセレクタ９１０（ＳＥＬ９）、９２０（ＳＥ
Ｌ１０）のセレクタポイント使用状態情報が参照され
る。そして、次に、ステップ（Ｓ５−１０）の処理が実
行される。ステップ（Ｓ５−１０）〜（Ｓ５−１４）ま
では、セレクタグループＳＧＮ４に関して上記ステップ
（Ｓ５−２）〜（Ｓ５−９）と同様の処理が実行され
る。そして、セレクタ９１０、９２０がＩＮＳである場
合は、ステップ（Ｓ５−１５）において、セレクタ６１
０、９１０間の接続に対応するセレクタポイント使用状
態情報が使用中（１）とされ、セレクタ６１０、９２０
間のセレクタルートの捕捉処理が完了する。

【００９０】上記の手順で試験装置６０１と試験対象装
置であるアナログ加入者インタフェース装置９２１間の
接続ルートが決定すると、その接続に必要な各セレクタ
内のリレー接続制御が行われる（図１３のステップ（Ｓ
２−１０））。以上のように本交換機システムにおける
各セレクタ間の接続には、セレクタグループ接続とマル
チセレクタグループ接続が用いられ、各種装置の試験で
は、プロセッサ８０が有する各種データに基づき試験装
置と試験対象装置との適正な接続ルートが選択されるの
で、何れかのセレクタに障害が発生して該セレクタが使
用不可となった場合でも、その影響を少なくすることが
できる。

【００９１】尚、上記実施例において、試験装置６０１
（ＬＴＥ１）が特許請求の範囲に記載の試験装置に対応
し、プロセッサ８０が制御手段に対応し、アナログ加入
者インタフェース装置９２１（ＳＬＣ１５）及びデジタ
ル加入者インタフェース装置６１２（ＤＬＣ１）が試験
対象装置に対応する。また、保守回線２ａが特許請求の
範囲に記載の各交換機のセレクタを互いに接続する回線
に対応し、システムデータ９１が管理情報に対応する。
更に、図１５のステップ（Ｓ４−１）〜（Ｓ４−７）の
処理が特許請求の範囲に記載の使用可否判定手段に対応
し、図１６のステップ（Ｓ５−１）〜（Ｓ５−１５）の
処理が特許請求の範囲に記載の接続可否判定手段に対応
する。

【００９２】

【発明の効果】上記の如く、請求項１記載の発明によれ
ば、交換機システムの保守者は、制御手段に指示を与え
て、容易且つ確実に所望の試験対象装置の試験を行なう
ことができる。また、請求項２記載の発明によれば、保
守者が制御手段に指示を与えて、容易に他の交換機内の
試験対象装置の試験を行なうことができる。

【００９３】また、請求項３記載の発明によれば、各試
験対象装置の試験に適した試験装置で試験が行なわれ
る。また、請求項４記載の発明によれば、管理情報に基
づき、試験対象装置に適した試験装置で試験が行なわれ
るようにすることができる。また、請求項５記載の発明
によれば、使用可能な試験装置で試験対象装置の試験が
行なわれる。

【００９４】また、請求項６記載の発明によれば、使用
可能な試験が試験対象装置と確実に接続されて試験対象
装置の試験が行なわれる。また、請求項７記載の発明に
よれば、保守者が制御手段に指示を与えて、所望の試験
対象装置の試験を容易且つ確実に行うことができる。ま
た、請求項８記載の発明によれば、保守者が制御手段に
指示を与えて、他の交換機内の試験対象装置の試験を容
易に行なうことができる。

【００９５】また、請求項９記載の発明によれば、各試
験対象装置の試験に適した試験装置で試験が行なわれ
る。また、請求項１０記載の発明によれば、管理情報に
基づき、試験対象装置に適した試験装置で試験が行われ
る。また、請求項１１記載の発明によれば、試験対象装
置の試験に際し、使用可能な試験装置が選択される。

【００９６】更に、請求項１２記載の発明によれば、試
験対象装置の試験に際し、使用可能な試験装置が試験対
象装置と確実に接続される。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の交換機システムの構成を示す図である。

【図２】交換機内の装置とジャンパターミナルフレーム
との接続の様子を示す図である。

【図３】従来の交換機が有するシェルフの一実施例の構
成図である。

【図４】従来例のセレクタ間接続を説明するための図で
ある。

【図５】本発明の交換機システムの全体構成図である。

【図６】本発明の交換機の構成図である。

【図７】本発明の交換機が有するシェルフの一実施例の
構成図である。

【図８】本発明のセレクタ間接続を説明するための図で
ある。

【図９】プロセッサの構成図である。

【図１０】システムデータの構成例を示す図である。

【図１１】システムデータの具体例を示す図である。

【図１２】セレクタグループ構成データ、セレクタ管理
データ及び試験装置データの生成手順を示すフローチャ
ートである。

【図１３】試験実施手順を示すシーケンス図である。

【図１４】試験装置及びセレクタルートの捕捉処理の流
れを示すフローチャートである。

【図１５】試験装置捕捉処理の流れを示すフローチャー
トである。

【図１６】セレクタルート捕捉処理の流れを示すフロー
チャートである。

【符号の説明】

８０ プロセッサ ８１ 保守インタフェース制御部 ８２ 試験シナリオ制御部 ８３ 試験装置管理部 ８４ システムデータ管理部 ８５ セレクタ管理部 ８６ 装置インタフェース制御部 ９０ 操作用端末 ９１ システムデータ ６００、７００、８００、９００ 交換機 ６０１、７０１ 試験装置 ６０２ ＳＴＭタイムスイッチ ６１０、６２０、６３０、７２０、７３０、８１０、８
２０、９１０、９２０セレクタ ６１０ａ、６１０ｂ、６１０ｃ ライントランクコモン
装置 ６２１、６２２、６３１、６３２、７２１、７２２、７
３１、７３２、８１１、８１２、８２１、８２２、９１
１、９１２、９２１、９２２ アナログ加入者インタフ
ェース装置

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 試験装置と、前記試験装置に接続された
   セレクタと、回線の交換接続を行なうための複数の試験
   対象装置とを有する交換機と、 前記セレクタの前記試験対象装置との接続を制御して、
   前記セレクタに接続された試験対象装置の試験を前記試
   験装置に行なわせる制御手段とを有することを特徴とす
   る交換機システム。
2. 【請求項２】 請求項１記載の交換機システムにおい
   て、 複数の交換機と、各交換機のセレクタを互いに接続する
   回線とを有し、任意の交換機の試験装置と他の交換機の
   試験対象装置とを前記回線により接続することを特徴と
   する交換機システム。
3. 【請求項３】 請求項２項記載の交換機システムにおい
   て、 前記制御手段は、試験対象装置に応じてその試験を行な
   う試験装置を選択することを特徴とする交換機システ
   ム。
4. 【請求項４】 請求項３記載の交換機システムにおい
   て、 前記制御手段は、前記試験装置と前記試験対象装置と前
   記セレクタと前記回線に関する管理情報を有し、前記管
   理情報に基づき使用する試験装置を選択することを特徴
   とする交換機システム。
5. 【請求項５】 請求項４記載の交換機システムにおい
   て、 前記制御手段は、前記管理情報に基づき試験装置の使用
   の可否を判定する使用可否判定手段を有し、前記使用可
   否判定手段により使用可能と判定された試験装置を選択
   することを特徴とする交換機システム。
6. 【請求項６】 請求項５記載の交換機システムにおい
   て、 前記制御手段は、更に、前記管理情報に基づき使用可能
   と判定された試験装置と前記試験対象装置との接続の可
   否を判定する接続可否判定手段を有し、前記接続可否判
   定手段により接続可能と判定された試験装置を選択する
   ことを特徴とする交換機システム。
7. 【請求項７】 試験装置と、前記試験装置に接続された
   セレクタと、回線の交換接続を行なうための複数の試験
   対象装置とを有する交換機と、制御手段とを有する交換
   機システムの試験方法であって、 前記制御手段が前記セレクタの前記試験対象装置との接
   続を制御し、 前記試験装置が前記セレクタに接続された試験対象装置
   の試験を行うことを特徴とする試験方法。
8. 【請求項８】 請求項７記載の試験方法において、 前記交換機システムは、複数の交換機と各交換機のセレ
   クタを互いに接続する回線とを有し、 前記制御手段が任意の交換機の試験装置と他の交換機の
   試験対象装置とを前記回線により接続するように前記セ
   レクタを制御することを特徴とする試験方法。
9. 【請求項９】 請求項８記載の試験方法において、 前記制御手段が試験対象装置に応じてその試験を行なう
   試験装置を選択することを特徴とする試験方法。
10. 【請求項１０】 請求項９記載の試験方法において、 前記制御手段は、前記試験装置と前記試験対象装置と前
    記セレクタと前記回線に関する管理情報に基づき試験装
    置を選択することを特徴とする試験方法。
11. 【請求項１１】 請求項１０記載の試験方法において、 前記制御手段は、前記管理情報に基づき試験装置の使用
    の可否を判定し、使用可能と判定した試験装置を選択す
    ることを特徴とする試験方法。
12. 【請求項１２】 請求項１１記載の試験方法において、 前記制御手段は、前記管理情報に基づき使用可能と判定
    した試験装置と前記試験対象装置との接続の可否を判定
    し、接続可能と判定した試験装置を選択することを特徴
    とする試験方法。