JP2000138506A - 静磁波素子及びその製造方法 - Google Patents
静磁波素子及びその製造方法Info
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Abstract
し、トランスデューサ電極などの形成が容易な静磁波素
子及びその製造方法を得る。 【解決手段】 基板1の一方主面に複数の凹部1aを規
則的に配列させて形成し、該凹部1aの上及び基板1の
上に液相エピタキシャル法により強磁性体膜を形成した
後、凹部1a内の強磁性体膜のみを残すように他の強磁
性体膜を除去することを特徴としている。
Description
子、S/Nエンハンサ等に用いることができる静磁波素
子に関するものである。
波帯での信号を処理するマイクロ波用デバイスの需要が
増大している。特に、より高い周波数を使用することが
できる静磁波素子が近年注目されている。
ントの磁気共鳴現象を利用するものであり、磁性体にお
ける磁気スピン歳差共鳴の波であるスピン波が磁性体中
を伝搬することを利用している。従来の静磁波素子にお
いては、一般に、GGG(ガドリニウム・ガリウム・ガ
ーネット)単結晶基板の上に、液相エピタキシャル法
(LPE法)等によって膜状に成形したYIG(イット
リウム・鉄・ガーネット)薄膜が、静磁波を励起し伝搬
するための磁性体として用いられている。
−294004号公報において、このような静磁波素子
に用いる磁性体薄膜として、複数の配列したストライプ
状磁性体薄膜を用いることを提案している。このような
ストライプ状磁性体薄膜を用いることにより、ストライ
プ状磁性体薄膜間で生じる双極子相互作用により励起さ
れる磁気双極子定在波によって生じる静磁波の高次モー
ドを利用することができる。
性体薄膜を基板上に形成すると、基板面と磁性体薄膜の
表面との間に大きな段差が生じるため、トランスデュー
サ電極の形成等、その後の工程が困難になるなどの問題
を生じた。
をストライプ状に形成する場合、線幅及び線間隔などの
精度良く制御できないという問題があった。本発明の目
的は、規則的に配列した強磁性体層を有し、トランスデ
ューサ電極などの形成が容易な静磁波素子及びその製造
方法を提供することにある。
一方主面に複数の凹部が規則的に配列するように形成さ
れた基板と、基板の凹部内に埋め込まれるように設けら
れ、これによって規則的に配列した不連続な強磁性体層
と、強磁性体層に静磁波を励振するためのトランスデュ
ーサ電極とを備えることを特徴としている。
内に埋め込まれるように設けられているので、基板の一
方主面を平坦化することができ、プレーナー型の静磁波
素子とすることができる。従って、一方主面上には大き
な段差がなく、トランスデューサ電極等を容易に形成す
ることができる。
性体間の間隔等は、基板の凹部の形状や寸法並びに間隔
により規定することができる。従って、強磁性体層の膜
厚が厚くなっても、所望の寸法形状等を有する強磁性体
層を精度良く形成することができる。
定されるものではないが、強磁性体層としてストライプ
状の強磁性体層を設ける場合には、基板に溝状の凹部を
形成する。溝状凹部の寸法形状の一例としては、溝の深
さ1〜100μm、溝の幅及び凹部間の間隔1〜200
μmが挙げられる。従って、強磁性体層としては、厚み
1〜100μm、幅及び間隔1〜200μmの強磁性体
層が例示される。基板の凹部の形状として溝状を例示し
たが、本発明はこれに限定されるものではなく、例え
ば、円柱状、楕円柱状、角柱状などその他の形状であっ
てもよい。
の静磁波素子を用いたことを特徴としている。本発明の
S/Nエンハンサの構成は、上記本発明の静磁波素子を
用いるものであれば特に限定されるものではないが、例
えば、特開平4−123502号公報に開示されたS/
Nエンハンサにおいて、本発明の静磁波素子をフィルタ
として用いたS/Nエンハンサが一例として挙げられ
る。本発明のS/Nエンハンサによれば、静磁波の高次
モードを利用することができるので、より高い周波数領
域において、SN比を改善することができる。
素子を製造することができる方法であり、基板の一方主
面に複数の凹部を規則的に配列させて形成する工程と、
基板の一方主面及び凹部の上に液相エピタキシャル法に
より強磁性体膜を形成する工程と、基板の凹部内の強磁
性体膜のみを残すように一方主面上の強磁性体膜を除去
する工程とを備えることを特徴としている。本発明の製
造方法によれば、上記本発明の静磁波素子を簡易にかつ
効率的に製造することができる。
法としては、種々の方法を適用することができ、凹部の
形状等により適宜選択される。例えば、溝状の凹部を形
成する場合には、ワイヤーソーなどにより研削する方法
を用いることができる。また、通常のフォトリソグラフ
ィー技術とエッチング技術を用いれば、ほとんどの形状
の凹部を形成することが可能である。エッチングとして
は、ドライエッチング及びウエットエッチングの何れを
も採用することができ、必要に応じてレーザーアブレー
ション等の方法も採用することができる。
・鉄・ガーネット)薄膜などのガーネット構造の薄膜を
形成する場合には、GGG(ガドリニウム・ガリウム・
ガーネット)単結晶基板などのガーネット構造の基板の
上に液相エピタキシャル法により強磁性体膜を形成する
ことが好ましい。液相エピタキシャル法としては、スラ
イドボート法、ディッピング法などの一般的な液相エピ
タキシャル法を採用することができる。
Bi、Gd、Luなどで置換したものや、FeをAl、
Ga、In、Scなどで置換した組成のYIG薄膜を形
成してもよい。
キシャル法により強磁性体膜を形成した後、基板の凹部
内の強磁性体膜のみを残すように、一方主面上の強磁性
体膜を除去する。除去方法は、特に限定されるものでは
ないが、表面研磨等の方法により、強磁性体膜を除去
し、基板の凹部内の強磁性体膜のみを残すことができ
る。このような表面研磨によれば、一方主面上の強磁性
体膜の除去とともに、表面を平坦化することができる。
素子を製造する工程を示す断面図である。図1(a)を
参照して、GGGなどからなる基板1の上に、レジスト
膜2を設ける。
2をフォトリソグラフィー法にパターニングして、基板
1に凹部を形成したい箇所のレジスト膜2を除去する。
図1(c)を参照して、次に、レジスト膜2をマスクと
して、レジスト膜2が設けられていない基板1の表面領
域をリン酸などでエッチングし、凹部1aを形成する。
次に、レジスト膜2を除去し、基板1の表面及び凹部1
aの上に液相エピタキシャル法によりYIGなどの強磁
性体膜を形成する。
を形成した状態を示している。図2(d)に示すよう
に、強磁性体膜3は、凹部1a内を埋めるように形成さ
れるとともに、基板1の表面上にも形成される。
膜3の表面を、基板1の表面が露出するまで研磨する。
これにより、凹部1a内の強磁性体膜3のみが残され、
基板1の表面上の強磁性体膜が除去される。
た凹部1a内にのみ強磁性体膜3を残すことができる。
従って、凹部1aを規則的に配列するよう形成させてお
くことにより、強磁性体膜3を規則的に配列させること
ができる。本発明の静磁波素子においては、このように
規則的に配列した不連続な強磁性体膜3を、静磁波素子
を励起し伝搬する媒体として用いる。
て、液相エピタキシャル法により強磁性体膜を形成する
前に、図3に示すように、基板1の表面及び凹部1aの
内面に、液相エピタキシャル成長を生じやすくするた
め、GGGなどからなる薄膜4を形成してもよい。この
薄膜4は、例えば、酸素を導入した条件下でのスパッタ
リング法などにより形成することができる。このように
して薄膜4を形成した後、この上に液相エピタキシャル
法により強磁性体膜3を形成する。このような薄膜4を
形成することにより、その上に形成する強磁性体膜3の
結晶性を向上させることができる。
子を示す斜視図である。GGGなどからなる基板11の
一方主面側には、溝状の凹部11aが形成されており、
この凹部11a内にYIGなどからなる強磁性体層13
が埋め込まれるように設けられている。本実施例におい
て、強磁性体層13の厚み(すなわち凹部11aの深
さ)は30μmであり、強磁性体層13の幅及び間隔
(すなわち凹部11aの幅及び間隔)は20μmであ
る。なお、図4においては、凹部11a及び強磁性体層
13を4つ図示しているが、実際には多数設けられてい
る。
手方向に略垂直な方向に配列されており、その一方端の
強磁性体層13の上には、入力トランスデューサ電極1
4が設けられている。また、他方端の強磁性体層13の
上には、出力トランスデューサ電極15が設けられてい
る。これらのトランスデューサ電極14及び15は、基
板11の下方に形成された接地電極12に接続されてい
る。
その長手方向と略垂直方向、すなわち複数の強磁性体膜
13が配列する方向に、バイアス磁界Hexが印加され
ている。強磁性体膜13がストライプ形状である場合に
は、図4に示すように、ストライプ形状の長手方向に略
垂直な方向にバイアス磁界Hexを印加することが好ま
しいが、強磁性体層13が例えば円柱状など他の形状の
場合には、その他の方向からバイアス磁界Hexを印加
してもよい。
トランスデューサ電極14から導入された高周波は、静
磁波に変換され強磁性体層13の配列からなる不連続な
強磁性体膜を伝搬し、出力トランスデューサ電極15か
ら高周波として出力される。
においては、強磁性体層13が基板11の凹部11a内
に埋め込まれているため、基板11の表面では大きな段
差が形成されず、入出力トランスデューサ電極等を容易
に形成することができる。また、強磁性体層13の寸法
形状及び配列は、凹部11aの寸法形状及び配列によっ
て規定されるので、凹部11aを精度良く形成すること
により、強磁性体層13を所望の寸法形状及び配列に精
度良く形成することができる。
素子を示す斜視図である。本実施例においては、誘電体
基板22の上にGGGなどからなる基板21が、強磁性
体層23を下方に向けて載せられている。基板21の下
方面には、溝状の凹部21aが形成されており、この溝
状の凹部21a内に上記と同様に強磁性体層23が形成
されている。誘電体基板22の一方主面の上には入力ト
ランスデューサ電極25及び出力トランスデューサ電極
26が形成されており、入力トランスデューサ電極25
は、基板1の一方端部の強磁性体層23と結合するよう
に位置しており、出力トランスデューサ電極26は、他
方端部の強磁性体層23と結合するように位置してい
る。
トライプ状の強磁性体層23の長手方向と略垂直な方向
にバイアス磁界Hexが印加されている。入力トランス
デューサ電極25に導入された高周波は、静磁波に変換
されて不連続な強磁性体層23内を伝搬し、出力トラン
スデューサ電極26から高周波として出力される。
子においても、強磁性体層23が基板21の凹部21a
に埋め込まれているため、基板12の下方面が平坦化し
ており、誘導体基板22の上に安定して設置することが
できる。また、強磁性体層23の寸法形状及び配列は、
凹部21aの寸法形状及び配列により規定されるので、
凹部21aを精度良く形成することにより、強磁性体層
23を精度良く設けることができる。
一実施例を示す模式図である。図6に示すように、本実
施例のS/Nエンハンサは、本発明に従う静磁波素子か
らなる2個のフィルタ32及び33、2個の方向性結合
器31及び36、減衰器34及び位相器35から構成さ
れている。
合器31によって電力レベルの異なる2つの信号に分配
され、レベルの高い信号はライン1に沿ってフィルタ3
2に、レベルの低い信号はライン2に沿って線形動作を
行うフィルタ33に入力される。フィルタ32からの出
力は減衰器34に与えられ、フィルタ33からの出力は
位相器35に与えられる。位相器35では、180°の
位相差が与えられる。このようにして、180°の位相
差を両フィルタ32及び33の出力の間に与えた後、入
力側の方向性結合器31と同じ結合度をもつ方向性結合
器36(入力側とは逆のレベル構成)によって再び合成
する。
の系統を通過する信号と、フィルタ33の系統を通過す
る信号の挿入損失は等しく、出力側の方向性結合器36
内では等レベルとなり、位相が反転しているので合成信
号はキャンセルされ、出力には極めて小さな信号しか現
れない。従って、低レベルの入力信号の場合、挿入損失
が極めて大きくなる。
タ32での挿入損失はフィルタ33の挿入損失より大き
くなり、出力側の方向性結合器36内では等レベルとな
らず、挿入損失の小さいフィルタ33の出力がほぼその
まま現れる。従って、高レベルの入力信号の場合、挿入
損失が小さくなる。
が大きく、レベルの高い信号成分の挿入損失が小さくな
り、SN比を増大させることができ、S/Nエンハンサ
として機能させることができる。
図4に示す構造の静磁波素子をフィルタとして用いてい
るが、図5に示す静磁波素子をフィルタとして用いても
よい。また、本発明に従うその他の構造の静磁波素子を
用いてもよい。さらには、本発明のS/Nエンハンサ
は、図6に示す構成のものに限定されるものではなく、
その他の構成のS/Nエンハンサであってもよい。
坦なプレーナー型の静磁波素子とすることができるの
で、トランスデューサ電極などの形成を容易に行うこと
ができ、効率良く生産することができる。また、基板の
凹部の寸法形状及び配列により、強磁性体層の寸法形状
及び配列を規定することができるので、強磁性体層の寸
法形状及び配列を精度良く制御することができる。
図。
視図。
す構成図。
Claims (4)
- 【請求項1】 一方主面に複数の凹部が規則的に配列す
るように形成された基板と、 前記基板の凹部内に埋め込まれるように設けられ、これ
によって規則的に配列した不連続な強磁性体層と、 前記強磁性体層に静磁波を励振するためのトランスデュ
ーサ電極とを備える静磁波素子。 - 【請求項2】 前記基板の凹部が溝状であり、前記強磁
性体層がストライプ形状を有している請求項1に記載の
静磁波素子。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載の静磁波素子を
用いたことを特徴とするS/Nエンハンサ。 - 【請求項4】 請求項1または2に記載の静磁波素子を
製造する方法であって、 基板の一方主面に複数の凹部を規則的に配列させて形成
する工程と、 前記基板の一方主面及び凹部の上に液相エピタキシャル
法により強磁性体膜を形成する工程と、 前記基板の凹部内の強磁性体膜のみを残すように一方主
面上の強磁性体膜を除去する工程とを備える静磁波素子
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31220098A JP2000138506A (ja) | 1998-11-02 | 1998-11-02 | 静磁波素子及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31220098A JP2000138506A (ja) | 1998-11-02 | 1998-11-02 | 静磁波素子及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000138506A true JP2000138506A (ja) | 2000-05-16 |
Family
ID=18026421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31220098A Pending JP2000138506A (ja) | 1998-11-02 | 1998-11-02 | 静磁波素子及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000138506A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009003150A (ja) * | 2007-06-21 | 2009-01-08 | Toyohashi Univ Of Technology | 静磁波素子および静磁波変調装置 |
RU205097U1 (ru) * | 2020-12-23 | 2021-06-28 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" | Фильтр на основе 3d-магнонной структуры |
-
1998
- 1998-11-02 JP JP31220098A patent/JP2000138506A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009003150A (ja) * | 2007-06-21 | 2009-01-08 | Toyohashi Univ Of Technology | 静磁波素子および静磁波変調装置 |
RU205097U1 (ru) * | 2020-12-23 | 2021-06-28 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" | Фильтр на основе 3d-магнонной структуры |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040412 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040511 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040712 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040817 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041207 |