JP2000138438A - Inspecting method for printed circuit board - Google Patents

Inspecting method for printed circuit board

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JP2000138438A
JP2000138438A JP10313157A JP31315798A JP2000138438A JP 2000138438 A JP2000138438 A JP 2000138438A JP 10313157 A JP10313157 A JP 10313157A JP 31315798 A JP31315798 A JP 31315798A JP 2000138438 A JP2000138438 A JP 2000138438A
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probe
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probes
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Akinao Wakabayashi
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily confirm, with sure, omission of printing an overcoat or miss-printing such as print slippage, etc. SOLUTION: A specified coat pattern of a resin coat 7 allows a part of a circuit pattern 5 to be exposed, and a hole part 7a for forming an overcoat confirming electrode 5c is provided. A specified coat pattern of an overcoat 13 comprises a closure pattern 13c which closes the hole part 7a. When a current is made to flow between one probe P0 positioned above the overcoat confirming electrode 5c and the other probe P5 contacting an electrode 5d which is electrically connected to the overcoat confirming electrode 5c, the formation of the overcoat 13 is confirmed based on the presence of current between one probe P0 and the other probe P5.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はプリント回路基板の
検査方法に関するものであり、特に絶縁樹脂製のオーバ
コートの印刷ミスを検査する方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting a printed circuit board, and more particularly to a method for inspecting a printing error of an overcoat made of an insulating resin.

【0002】[0002]

【従来の技術】プリント回路基板の上に形成される回路
パターンは、電極を除いて、半田の付着を防ぐ目的や、
断線を防ぐ目的(保護の目的)や、実装される電子部品
の端子と接触するのを防ぐ目的で、所定のコートパター
ンの絶縁樹脂(例えば、紫外線硬化型の絶縁樹脂等)製
のレジンコートで覆われている。また、回路パターンに
ジャンパー線やスルーホール導電部を形成する場合に
は、ジャンパー線やスルーホール導電部の表面を覆うよ
うにレジンコート上に所定のコートパターンの絶縁樹脂
製のオーバコートを更に形成している。このオーバコー
トは、スクリーン印刷で形成される。しかしながら、大
量生産する場合には、オーバコートの印刷で、印刷忘れ
や、印刷ズレ等の印刷ミスが発生する。従来は、これら
の印刷ミスを作業員が目視により確認していた。
2. Description of the Related Art A circuit pattern formed on a printed circuit board is used for the purpose of preventing the adhesion of solder except for electrodes,
In order to prevent disconnection (protection purpose) or to prevent contact with the terminals of the mounted electronic components, use a resin coat made of an insulating resin with a predetermined coat pattern (for example, an ultraviolet-curable insulating resin, etc.). Covered. When a jumper wire or through-hole conductive part is formed on the circuit pattern, an overcoat made of an insulating resin of a predetermined coat pattern is further formed on the resin coat so as to cover the surface of the jumper wire or the through-hole conductive part. are doing. This overcoat is formed by screen printing. However, in the case of mass production, printing errors such as forgetting to print or printing misregistration occur during overcoat printing. Conventionally, these printing errors have been visually confirmed by an operator.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら作業員
が、製造されるプリント回路基板の全てを確認すること
は事実上不可能であり、前述の印刷ミスが発生したプリ
ント回路基板がそのまま出荷されてしまうケースもあ
る。
However, it is practically impossible for an operator to check all of the printed circuit boards to be manufactured, and the printed circuit board in which the above-described printing error has occurred is shipped as it is. There are cases.

【0004】本発明の目的は、オーバコートの印刷忘れ
や、印刷ズレ等の印刷ミスを簡単且つ確実に確認できる
プリント回路基板の検査方法を提供することにある。
It is an object of the present invention to provide a method for inspecting a printed circuit board, which can easily and reliably confirm a printing error such as forgetting to print an overcoat or a printing deviation.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、絶縁基板の表
面に回路パターンが形成され、回路パターン上に所定の
コートパターンの絶縁樹脂製のレジンコートが形成さ
れ、レジンコート上に所定のコートパターンの絶縁樹脂
製のオーバコートが更に形成されているプリント回路基
板の検査方法を改良の対象にする。本発明では、レジン
コートの所定のコートパターンに回路パターンの一部を
露出させてオーバコート確認用電極を形成するための孔
部を設け、オーバコートの所定のコートパターンに孔部
を塞ぐ閉塞パターンを設ける。また、定位置にプリント
回路基板を位置決めした状態で、オーバコートが形成さ
れているときには、一方のプローブがオーバコートの閉
塞パターンと接触し、他方のプローブが回路パターンの
オーバコート確認用電極と電気的につながった回路パタ
ーンの配線部に含まれる基準電極と接触する一対の確認
用プローブを備えたオーバコート確認用測定器を用意す
る。なお、基準電極は、確認のために専用で設けた電極
であってもよいが、配線部に含まれる半田付け電極やス
イッチの接点部でもよい。そして、一対の確認用プロー
ブが測定位置に配置された状態で、一方のプローブと他
方のプローブ間で電流が流れるか否かによりオーバコー
トの形成の有無を電気的に検査する。
According to the present invention, a circuit pattern is formed on a surface of an insulating substrate, a resin coat made of an insulating resin having a predetermined coat pattern is formed on the circuit pattern, and a predetermined coat is formed on the resin coat. It is an object of the present invention to improve a method of inspecting a printed circuit board on which an overcoat made of an insulating resin of a pattern is further formed. In the present invention, a hole pattern for exposing a part of a circuit pattern to a predetermined resin coat pattern to form an overcoat confirmation electrode is provided, and the predetermined coat pattern of the overcoat closes the hole. Is provided. When an overcoat is formed with the printed circuit board in a fixed position, one probe comes into contact with the overcoat obstruction pattern, and the other probe electrically contacts the overcoat confirmation electrode of the circuit pattern. An overcoat check measuring device including a pair of check probes that come into contact with a reference electrode included in a wiring portion of a circuit pattern that is continuously connected is prepared. The reference electrode may be an electrode provided exclusively for confirmation, but may be a soldering electrode included in the wiring portion or a contact portion of a switch. Then, with the pair of confirmation probes arranged at the measurement position, the presence or absence of the formation of the overcoat is electrically inspected based on whether or not a current flows between one probe and the other probe.

【0006】本発明の検査方法では、レジンコートの所
定のコートパターンに回路パターンの一部を露出させて
オーバコート確認用電極を形成するための孔部を設け、
オーバコートの所定のコートパターンにこの孔部を塞ぐ
閉塞パターンを設けている。そのため、オーバコート確
認用電極上の閉塞パターンの形成状態を確認することに
より、オーバコートの形成状態を確認することができ
る。本発明では、オーバコートが形成されている場合に
は、一対の確認用プローブの一方のプローブがオーバコ
ートの閉塞パターンと接触し、他方のプローブが回路パ
ターンの基準電極と接触して一対の確認用プローブ間に
は電流が流れない。これに対して、印刷ミス等によりオ
ーバコートが形成されていない場合には、一対の確認用
プローブがオーバコート確認用電極と回路パターンの基
準電極の両方に接触することになるため、一対の確認用
プローブ間には電流が流れる。これにより、一方のプロ
ーブと他方のプローブ間で電流が流れるか否かによりオ
ーバコートの形成の有無を簡単且つ確実に確認できる。
その結果、オーバコートの印刷忘れが発生したプリント
回路基板がそのまま出荷されてしまうのを防ぐことがで
きる。
In the inspection method of the present invention, a hole for exposing a part of the circuit pattern to a predetermined resin coating pattern to form an overcoat confirming electrode is provided.
A closing pattern for closing the hole is provided in a predetermined coat pattern of the overcoat. Therefore, the formation state of the overcoat can be confirmed by checking the formation state of the closed pattern on the overcoat confirmation electrode. According to the present invention, when the overcoat is formed, one of the pair of confirmation probes comes into contact with the closing pattern of the overcoat, and the other probe contacts the reference electrode of the circuit pattern to form a pair of confirmation probes. No current flows between the probes. On the other hand, if the overcoat is not formed due to a printing error or the like, the pair of check probes comes into contact with both the overcoat check electrode and the reference electrode of the circuit pattern. Current flows between the probes. Thus, the presence or absence of the formation of the overcoat can be easily and reliably confirmed by checking whether a current flows between one probe and the other probe.
As a result, it is possible to prevent the printed circuit board on which the overcoat printing is forgotten from being shipped as it is.

【0007】しかしながら、オーバコートの存在を電気
的に確認できても、よほど大きな印刷ズレがない限り、
オーバコートの印刷ズレを検査することはできない。そ
こで特定方向における印刷ズレを確認するには、孔部及
び閉塞パターンを、特定方向へのオーバコートのずれ寸
法が許容ずれ寸法を超えているときにオーバコート確認
用電極の一部が一方のプローブと接触可能な大きさ以上
に露出する形状にそれぞれ形成する。また、オーバコー
ト確認用電極の一部と対向する位置に一方のプローブを
配置する。そして、一対の確認用プローブが測定位置に
配置された状態で、一方のプローブと他方のプローブ間
で電流が流れるか否かによりオーバコートの形成の有無
とオーバコートの位置ずれとを電気的に検査する。な
お、ここでいう許容ずれ寸法とはプリント回路基板の使
用目的等に応じて設定される任意の値である。
[0007] However, even if the presence of the overcoat can be confirmed electrically, unless there is a very large printing deviation,
It is not possible to inspect the printing deviation of the overcoat. In order to check the print misalignment in a specific direction, the hole and blockage pattern should be changed by using one probe for the overcoat confirmation electrode when the overcoat displacement dimension in the specific direction exceeds the allowable displacement dimension. Each is formed in a shape that is exposed to a size greater than or equal to the size that can be contacted. One probe is arranged at a position facing a part of the overcoat confirmation electrode. Then, in a state where the pair of confirmation probes is arranged at the measurement position, whether or not the overcoat is formed and the displacement of the overcoat are electrically determined based on whether or not a current flows between the one probe and the other probe. inspect. Here, the allowable deviation dimension is an arbitrary value set according to the purpose of use of the printed circuit board and the like.

【0008】このような検査方法を採用すれば、オーバ
コートが特定方向における印刷ずれを起こすことなく形
成されている場合には、一対の確認用プローブの一方の
プローブがオーバコートの閉塞パターンと接触して一対
の確認用プローブ間には電流が流れない。これに対し
て、特定方向へのオーバコートのずれ寸法が許容ずれ寸
法を超えて印刷ずれを起していると、一方のプローブは
オーバコート確認用電極の一部と接触することになる。
そのため、一対の確認用プローブ間に電流が流れる。こ
れにより、一方のプローブと他方のプローブ間で電流が
流れるか否かによりオーバコートの位置ずれを簡単且つ
確実に確認できる。その結果、オーバコートが特定方向
における許容ずれ寸法を超えて印刷ずれを起しているプ
リント回路基板がそのまま出荷されてしまうのを防ぐこ
とができる。
By employing such an inspection method, when the overcoat is formed without causing a printing shift in a specific direction, one of the pair of confirmation probes comes into contact with the overcoat blockage pattern. Thus, no current flows between the pair of confirmation probes. On the other hand, if the displacement of the overcoat in the specific direction exceeds the allowable displacement and causes a printing displacement, one probe comes into contact with a part of the overcoat confirmation electrode.
Therefore, a current flows between the pair of confirmation probes. Thus, the displacement of the overcoat can be easily and reliably confirmed based on whether or not a current flows between one probe and the other probe. As a result, it is possible to prevent the printed circuit board in which the overcoat has exceeded the allowable shift dimension in the specific direction and has caused the print shift from being shipped as it is.

【0009】特定方向だけのオーバコートの印刷ずれの
検出では、オーバコートの印刷ずれの有無を正確に確認
することは難かしい。そこで、印刷ずれをほぼ確実に検
出するには直交する4方向(前述の特定方向,特定方向
と反対の方向,特定方向及び反対の方向と直交する2つ
の方向)における印刷ずれを確認するのが好ましい。こ
のように直交する4方向における印刷ずれを確認できれ
ば、できるだけ少ない数のプローブで印刷ずれをほぼ確
実に検出することができる。このように、直交する4方
向おける印刷ずれを確認するには、特定方向と反対の方
向へのオーバコートのずれ寸法が許容ずれ寸法を超えて
いるとき並びに特定方向及び反対の方向と直交する2つ
の方向へのオーバコートのずれ寸法が許容ずれ寸法を超
えたときにもオーバコート確認用電極の他の一部を露出
させる形状に孔部及び閉塞パターンをそれぞれ形成す
る。また、オーバコートが反対の方向及び2つの方向に
許容ずれ寸法より大きくずれて形成されたときにオーバ
コート確認用電極の他の一部と接触し得る3つのプロー
ブを更に用意する。そして、一方のプローブ及び3つの
プローブとオーバコートの位置ずれを電気的に検査すれ
ばよい。このような検査方法を採用すれば、直交する4
方向のいずれかの方向へのオーバコートのずれ寸法が許
容ずれ寸法を超えて印刷ずれを起していると、オーバコ
ート確認用電極上に位置するプローブの一つは、オーバ
コート確認用電極と接触することになる。そのため、一
対の確認用プローブ間に電流が流れる。これにより、プ
ローブ間で電流が流れるか否かにより直交する4方向に
おけるオーバコートの位置ずれを簡単且つ確実に確認で
きる。その結果、オーバコートが直交する4方向におけ
る許容ずれ寸法を超えて印刷ずれを起しているプリント
回路基板がそのまま出荷されてしまうのを防ぐことがで
きる。
[0009] It is difficult to accurately confirm the presence or absence of a print shift in the overcoat in the detection of a print shift in the overcoat only in a specific direction. Therefore, in order to almost surely detect the print shift, it is necessary to confirm the print shift in the four orthogonal directions (the above-described specific direction, the direction opposite to the specific direction, and the two directions orthogonal to the specific direction and the opposite direction). preferable. If the printing displacement in the four orthogonal directions can be confirmed in this manner, the printing displacement can be almost surely detected with as few probes as possible. As described above, in order to confirm the print misalignment in the four orthogonal directions, it is necessary to determine whether the overcoat misalignment dimension in the direction opposite to the specific direction exceeds the allowable misalignment dimension and to determine whether the overcoat misalignment is in the specific direction and the opposite direction. A hole and a closing pattern are formed in such a shape as to expose another part of the overcoat confirming electrode even when the deviation of the overcoat in one direction exceeds the allowable deviation. Further, three probes that can come into contact with another part of the overcoat confirmation electrode when the overcoat is formed in the opposite direction and in the two directions with a deviation larger than the allowable deviation dimension are further prepared. Then, the displacement of one of the probes and the three probes and the overcoat may be electrically inspected. If such an inspection method is adopted, orthogonal 4
One of the probes located on the overcoat confirmation electrode is one of the overcoat confirmation electrodes when the overcoat displacement dimension in any one of the directions Will come in contact. Therefore, a current flows between the pair of confirmation probes. This makes it possible to easily and surely confirm the displacement of the overcoat in four orthogonal directions depending on whether or not a current flows between the probes. As a result, it is possible to prevent a printed circuit board in which the overcoat has exceeded the allowable shift dimension in the four orthogonal directions and has caused a print shift from being shipped as it is.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の一例
を図面を参照して詳細に説明する。図1(A)は、本発
明の一実施の形態の方法で検査するプリント回路基板の
要部の平面図であり、図1(B)は、図1(A)のB−
B線断面図である。各図に示すように、プリント回路基
板1は、ガラスエポキシ基板のような絶縁基板3の両面
に銅箔等からなる所定の表面側回路パターン5及び裏面
側回路パターン5´を備えている。そして、ジャンパー
線用電極5a,表面側スルーホール用ランド部5b,オ
ーバコート確認用電極5c及び基準電極として用いられ
る半田付け電極5dを露出させるように表面側回路パタ
ーン5を覆う所定のコートパターンを有する絶縁樹脂製
の表面側レジンコート7が形成されている。また、裏面
側には、裏面側スルーホール用ランド部5b´を露出さ
せるように裏面側回路パターン5´を覆う裏面側レジン
コート7´が形成されている。なお、図1(A),
(B)では、レジンコート7及び7´は電極等の露出さ
せるべき部分を除いて絶縁基板3の両面のほぼ全体を覆
うように形成されている。ジャンパー線用電極5aに
は、該ジャンパー線用電極5aから表面側レジンコート
7上を所定方向に延びるジャンパー線9が接続されてい
る。また、スルーホール用ランド部5b,5b´には、
スルーホール用ランド部5b,5b´及び絶縁基板3を
貫通するスルーホール3aが形成されている。そして、
スルーホール3a内にはスルーホール用ランド部5b,
5b´を電気的に接続するスルーホール導電部11が形
成されている。オーバコート確認用電極5cはほぼ正方
形に形成されている。また、半田付け電極5dは例えば
チップ抵抗器の一方の電極を半田付けするために用いら
れる。そのため、表面側レジンコート7の所定のコート
パターンは、オーバコート確認用電極5cや電極5dを
形成するための矩形の孔部7a,7bを含んでいる。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1A is a plan view of a main part of a printed circuit board to be inspected by a method according to an embodiment of the present invention, and FIG.
It is a B sectional view. As shown in each figure, the printed circuit board 1 is provided with predetermined front side circuit patterns 5 and back side circuit patterns 5 'made of copper foil or the like on both surfaces of an insulating substrate 3 such as a glass epoxy substrate. Then, a predetermined coat pattern covering the front-side circuit pattern 5 is exposed so as to expose the jumper wire electrode 5a, the front-side through-hole land 5b, the overcoat confirmation electrode 5c, and the soldering electrode 5d used as a reference electrode. The surface side resin coat 7 made of insulating resin is formed. On the back side, a back side resin coat 7 'is formed to cover the back side circuit pattern 5' so as to expose the back side through-hole land portion 5b '. In addition, FIG.
In (B), the resin coats 7 and 7 ′ are formed so as to cover almost the entire surfaces of both surfaces of the insulating substrate 3 except for the portions to be exposed such as electrodes. The jumper wire electrode 5a is connected to a jumper wire 9 extending from the jumper wire electrode 5a on the front side resin coat 7 in a predetermined direction. Also, the through-hole lands 5b and 5b '
Through-holes 3a penetrating through-hole lands 5b, 5b 'and insulating substrate 3 are formed. And
In the through hole 3a, a through hole land portion 5b,
A through-hole conductive portion 11 for electrically connecting 5b 'is formed. The overcoat confirmation electrode 5c is formed in a substantially square shape. The soldering electrode 5d is used, for example, to solder one electrode of a chip resistor. Therefore, the predetermined coat pattern of the front-side resin coat 7 includes rectangular holes 7a and 7b for forming the overcoat confirmation electrode 5c and the electrode 5d.

【0011】レジンコート7,7´上には所定のコート
パターンを有するエポキシ樹脂等からなる絶縁樹脂製の
表面側オーバコート13及び裏面側オーバコート13´
が更に形成されている。表面側オーバコート13の所定
のコートパターンには、ジャンパー線9,スルーホール
導電部11の表面側の露出部及びオーバコート確認用電
極5cをそれぞれ覆うオーバコート部13A,13B及
び13Cが含まれている。また、裏面側オーバコート1
3´の所定のコートパターンには、スルーホール導電部
11の裏面側の露出部を覆うオーバコート部13B´が
含まれている。これらのオーバコート部13A…は、同
じ工程により同時に形成される。
On the resin coats 7, 7 ', an overcoat 13 and an overcoat 13' made of an insulating resin made of an epoxy resin or the like having a predetermined coat pattern.
Are further formed. The predetermined coat pattern of the front side overcoat 13 includes overcoat portions 13A, 13B and 13C that respectively cover the jumper wire 9, the exposed portion on the front side of the through-hole conductive portion 11, and the overcoat confirmation electrode 5c. I have. Also, the back side overcoat 1
The predetermined coat pattern 3 ′ includes an overcoat portion 13B ′ that covers an exposed portion on the back surface side of the through-hole conductive portion 11. These overcoat portions 13A are formed simultaneously by the same process.

【0012】この例では、オーバコート部13Cが閉塞
パターンを構成している。そこで以下オーバコート部1
3Cを閉塞パターンと言う。閉塞パターン13Cは、オ
ーバコート確認用電極5cを上回る大きさの正方形によ
り形成されており、表面側オーバコート13が適正な位
置に形成された際にオーバコート確認用電極5cを完全
に覆う寸法、形状を有している。
In this example, the overcoat 13C forms a closing pattern. Therefore, the overcoat section 1
3C is called an occlusion pattern. The closing pattern 13C is formed by a square having a size larger than the overcoat confirmation electrode 5c, and completely covers the overcoat confirmation electrode 5c when the front side overcoat 13 is formed at an appropriate position. It has a shape.

【0013】各図において、P0,P5は本実施の形態
の検査方法で用いる印刷ミス測定器のプローブである。
この印刷ミス測定器は、表面側オーバコート13の形成
の有無を確認するオーバコート確認用測定器である。こ
の測定器は、定位置にプリント回路基板1が位置決めさ
れた状態で、プローブP0,P5の先端部をプリント回
路基板1の各部と接触させることができるように、プロ
ーブP0,P5をその長手方向(絶縁基板3の基板面と
直交する方向)に移動させることができる構造を有して
いる。プローブP0,P5のうち、プローブP0は一方
のプローブである。一方のプローブP0は、定位置にプ
リント回路基板を位置決めした状態で、オーバコート確
認用電極5c及び閉塞パターン13Cのほぼ中心上に位
置するように配置されている。
In the drawings, P0 and P5 are probes of a printing error measuring device used in the inspection method of the present embodiment.
This printing error measuring instrument is an overcoat checking measuring instrument for checking whether or not the front side overcoat 13 is formed. This measuring instrument moves the probes P0 and P5 in the longitudinal direction so that the tips of the probes P0 and P5 can be brought into contact with each part of the printed circuit board 1 in a state where the printed circuit board 1 is positioned at a fixed position. (A direction perpendicular to the substrate surface of the insulating substrate 3). The probe P0 is one of the probes P0 and P5. One probe P0 is disposed so as to be located substantially on the center of the overcoat confirmation electrode 5c and the closing pattern 13C with the printed circuit board positioned at a fixed position.

【0014】プローブP0,P5のうち、プローブP5
は他方のプローブである。他方のプローブP5は、定位
置にプリント回路基板1を位置決めした状態で、回路パ
ターン5のオーバコート確認用電極5cと電気的につな
がった回路パターン5の配線部に含まれる電極5dと接
触する位置に配置されている。
Of the probes P0 and P5, the probe P5
Is the other probe. The other probe P5 contacts the electrode 5d included in the wiring portion of the circuit pattern 5 electrically connected to the overcoat confirmation electrode 5c of the circuit pattern 5 in a state where the printed circuit board 1 is positioned at a fixed position. Are located in

【0015】一方のプローブP0は、図1(A)及び
(B)に示すように、オーバコート13が形成されてい
る場合には、オーバコート13の閉塞パターン13Cと
接触し、他方のプローブP5が回路パターン5の電極5
dと接触して、閉塞パターン13Cにより両者の間が絶
縁される。そのため、一方のプローブP0と、他方のプ
ローブP5との間で電流を流した場合に、両者の間で電
流が流れないことにより、オーバコート13が形成され
ていることが確認できる。
As shown in FIGS. 1A and 1B, when the overcoat 13 is formed, one probe P0 comes into contact with the closing pattern 13C of the overcoat 13 and the other probe P5 Is the electrode 5 of the circuit pattern 5
d, and the both are insulated by the closing pattern 13C. Therefore, when a current flows between one probe P0 and the other probe P5, no current flows between the two, and it can be confirmed that the overcoat 13 is formed.

【0016】これに対して図2に示すように、印刷ミス
等により、オーバコート13が形成されなかった場合に
は、一方のプローブP0及び他方のプローブP5は、い
ずれも回路パターン5と接触することになる。これによ
り、一方のプローブP0と他方のプローブP5との間で
電流が流れ、オーバコート13が形成されていないこと
が確認できる。
On the other hand, as shown in FIG. 2, when the overcoat 13 is not formed due to a printing error or the like, both the one probe P0 and the other probe P5 come into contact with the circuit pattern 5. Will be. Thereby, a current flows between one probe P0 and the other probe P5, and it can be confirmed that the overcoat 13 is not formed.

【0017】図3(A)は、本発明の他の実施の形態の
方法で検査するプリント回路基板の要部の平面図であ
り、図3(B)は、図3(A)のB−B線断面図であ
り、図3(C)は、図3(A)のC−C線断面図であ
る。この例では、プローブの構造だけが前述の実施の形
態と異なり、プリント回路基板は、図1及び図2に示す
プリント回路基板と同じ構造を有している。本例では、
表面側レジンコート7の孔部7a及び閉塞パターン13
Cは、オーバコート13のずれ寸法が許容ずれ寸法PL
を超えているときにオーバコート確認用電極5cの一部
が後述する確認用プローブP1〜P4のいずれかと接触
可能な大きさ以上に露出する形状にそれぞれ形成されて
いる。なお、ここでいう許容ずれ寸法PLは、プリント
回路基板1の使用目的等に応じて設定される任意の値で
ある。各図において、P1〜P5は本実施の形態の検査
方法で用いる印刷ミス測定器のプローブである。この印
刷ミス測定器は、表面側オーバコート13の形成の有無
を確認するオーバコート確認用測定器の機能と表面側オ
ーバコート13の印刷ずれを検出するオーバコート印刷
ずれ検出用測定器の機能とを兼ね備えた測定器である。
この測定器は、定位置にプリント回路基板1が位置決め
された状態で、プローブP1〜P5の先端部をプリント
回路基板1の各部と接触させることができるように、プ
ローブP1〜P5をその長手方向(絶縁基板3の基板面
と直交する方向)に移動させることができる構造を有し
ている。プローブP1〜P5のうち、プローブP1〜P
4は確認用プローブである。確認用プローブP1,P2
は、定位置にプリント回路基板1を位置決めした状態
で、図面向って左右方向のオーバコート確認用電極5c
の縁部上にそれぞれ位置するように配置されている。ま
た、確認用プローブP3,P4は、確認用プローブP
1,P2が並ぶ方向と直交する2つの方向(図面向って
上下方向)のオーバコート確認用電極5cの縁部上にそ
れぞれ位置するように配置されている。
FIG. 3A is a plan view of a main portion of a printed circuit board to be inspected by a method according to another embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 3C is a cross-sectional view taken along line B, and FIG. 3C is a cross-sectional view taken along line CC in FIG. In this example, only the structure of the probe is different from that of the above-described embodiment, and the printed circuit board has the same structure as the printed circuit board shown in FIGS. In this example,
Holes 7a and closing pattern 13 of front side resin coat 7
C is the displacement dimension of the overcoat 13 is the allowable displacement dimension PL.
Are formed in such a shape that a part of the overcoat confirmation electrode 5c is exposed to a size larger than a size capable of contacting any of confirmation probes P1 to P4 described later. Here, the allowable deviation dimension PL is an arbitrary value set according to the purpose of use of the printed circuit board 1 or the like. In the drawings, P1 to P5 are probes of a printing error measuring instrument used in the inspection method of the present embodiment. This printing error measuring instrument has a function of an overcoat checking measuring instrument for checking whether or not the front side overcoat 13 is formed, and a function of an overcoat printing shift detecting measuring apparatus for detecting a printing shift of the front side overcoat 13. This is a measuring instrument that also has.
This measuring instrument is configured to move the probes P1 to P5 in the longitudinal direction so that the tips of the probes P1 to P5 can be brought into contact with each part of the printed circuit board 1 in a state where the printed circuit board 1 is positioned at a fixed position. (A direction perpendicular to the substrate surface of the insulating substrate 3). Of the probes P1 to P5, the probes P1 to P5
4 is a confirmation probe. Confirmation probes P1, P2
Is the electrode 5c for checking overcoat in the horizontal direction with respect to the drawing, with the printed circuit board 1 positioned at a fixed position.
Are arranged so as to be respectively located on the edges of the. The confirmation probes P3 and P4 are the confirmation probes P
1 and P2 are arranged so as to be located on the edges of the overcoat confirmation electrode 5c in two directions (up and down directions in the drawing) orthogonal to the direction in which the P1 and P2 are arranged.

【0018】プローブP1〜P5のうち、プローブP5
は基準プローブである。基準プローブP5は、定位置に
プリント回路基板を位置決めした状態で、回路パターン
5のオーバコート確認用電極5cと電気的につながった
回路パターン5の電極5dと接触する位置に配置されて
いる。本例では、確認用プローブP1〜P4のいずれか
1つが一方のプローブを構成し、残りの3つの確認用プ
ローブがオーバコート確認用電極5cの他の一部と接触
し得る3つのプローブを構成している。また、基準プロ
ーブP5が他方のプローブを構成している。
Of the probes P1 to P5, the probe P5
Is a reference probe. The reference probe P5 is arranged at a position where it contacts the electrode 5d of the circuit pattern 5 which is electrically connected to the overcoat confirmation electrode 5c of the circuit pattern 5 with the printed circuit board positioned at a fixed position. In this example, any one of the confirmation probes P1 to P4 constitutes one probe, and the remaining three confirmation probes constitute three probes that can come into contact with another part of the overcoat confirmation electrode 5c. are doing. The reference probe P5 constitutes the other probe.

【0019】確認用プローブP1〜P4は、図3(A)
〜(C)に示すように、オーバコート13が形成されて
いる場合には、確認用プローブP1〜P4の少なくとも
1つ(一方のプローブ)がオーバコート13の閉塞パタ
ーン13Cと接触し、基準プローブ(他方のプローブ)
P5が回路パターン5の電極5dと接触して、閉塞パタ
ーン13Cにより両者の間が絶縁される。そのため、確
認用プローブP1〜P4と、基準プローブP5との間で
電流を流した場合に、確認用プローブP1〜P4の少な
くとも1つと、基準プローブP5との間で電流が流れな
いことにより、オーバコート13が形成されていること
が確認できる。
The confirmation probes P1 to P4 are shown in FIG.
As shown in (C), when the overcoat 13 is formed, at least one (one probe) of the confirmation probes P1 to P4 comes into contact with the closing pattern 13C of the overcoat 13 and the reference probe (The other probe)
P5 is in contact with the electrode 5d of the circuit pattern 5, and the both are insulated by the closing pattern 13C. Therefore, when a current flows between the confirmation probes P1 to P4 and the reference probe P5, an overcurrent occurs because no current flows between at least one of the confirmation probes P1 to P4 and the reference probe P5. It can be confirmed that the coat 13 is formed.

【0020】これに対して図4に示すように、印刷ミス
等により、オーバコート13が形成されなかった場合に
は、確認用プローブP1〜P4及び基準プローブP5
は、いずれも回路パターン5と接触することになる。こ
れにより、確認用プローブP1〜P4の各プローブと基
準プローブP5との間で電流が流れ、オーバコート13
が形成されていないことが確認できる。
On the other hand, as shown in FIG. 4, when the overcoat 13 is not formed due to a printing error or the like, the confirmation probes P1 to P4 and the reference probe P5
Will come into contact with the circuit pattern 5. As a result, a current flows between each of the confirmation probes P1 to P4 and the reference probe P5, and the overcoat 13
It can be confirmed that no is formed.

【0021】図5(A)及び(B)は印刷ミス等によ
り、図面に向って右側方向へのオーバコート13のずれ
寸法が許容ずれ寸法PLを僅かに超えた場合の閉塞パタ
ーン13C近傍におけるプリント回路基板の平面図及び
断面図である。前述したように表面側レジンコート7の
孔部7a及び閉塞パターン13Cは、オーバコート13
のずれ寸法が許容ずれ寸法PLを超えているときにオー
バコート確認用電極5cの一部が確認用プローブP1〜
P4のいずれかと接触可能な大きさ以上に露出する形状
にそれぞれ形成されている。そのため、このようにオー
バコート13が印刷ずれを起こすと、確認用プローブP
1は、オーバコート確認用電極5cの一部と接触するこ
とになる。したがって、確認用プローブP1と基準プロ
ーブP5との間では電流が流れ、確認用プローブP2〜
P4の各プローブと基準プローブP5との間では電流が
流れない。これにより、オーバコート13が図面に向っ
て右側方向へ許容ずれ寸法PLを超えて印刷ずれしてい
ることが確認できる。なお、この例では、図面に向って
右側にずれてオーバコート13が印刷されている例を示
しているが、図面に向って左側に許容ずれ寸法PLを超
えてオーバコート13が印刷されている場合には、確認
用プローブP2がオーバコート確認用電極5cの他の一
部と接触することになる。したがって、確認用プローブ
P2と基準プローブP5との間で電流が流れ、確認用プ
ローブP1,P3,P4の各プローブと基準プローブP
5との間では電流が流れない。これにより、オーバコー
ト13が図面に向って左側の方向へ許容ずれ寸法PLを
超えて印刷ずれしていることが確認できる。また、図面
に向って上側に許容ずれ寸法PLを超えてオーバコート
13が印刷されている場合には、確認用プローブP4が
オーバコート確認用電極5cの他の一部と接触すること
になる。したがって、確認用プローブP4と基準プロー
ブP5との間で電流が流れ、確認用プローブP1〜P3
の各プローブと基準プローブP5との間では電流が流れ
ない。これにより、オーバコート13が図面に向って上
側の方向へ許容ずれ寸法PLを超えて印刷ずれしている
ことが確認できる。また、図面に向って下側に許容ずれ
寸法PLを超えてオーバコート13が印刷されている場
合には、確認用プローブP3がオーバコート確認用電極
5cの他の一部と接触することになる。したがって、確
認用プローブP3と基準プローブP5との間で電流が流
れ、確認用プローブP1,P2,P4の各プローブと基
準プローブP5との間では電流が流れない。これによ
り、オーバコート13が図面に向って下側の方向へ許容
ずれ寸法PLを超えて印刷ずれしていることが確認でき
る。
FIGS. 5A and 5B show printing in the vicinity of the closing pattern 13C when the displacement of the overcoat 13 in the right direction toward the drawing slightly exceeds the allowable displacement PL due to a printing error or the like. It is the top view and sectional drawing of a circuit board. As described above, the hole 7a and the closing pattern 13C of the front side resin coat 7 are
When the displacement dimension of the electrode exceeds the allowable displacement dimension PL, a part of the overcoat confirmation electrode 5c is
Each of them is formed in a shape that is exposed to a size larger than a size capable of contacting any one of P4. Therefore, when the overcoat 13 causes printing misalignment as described above, the confirmation probe P
1 comes into contact with a part of the overcoat confirmation electrode 5c. Therefore, a current flows between the confirmation probe P1 and the reference probe P5, and the confirmation probes P2 to P2.
No current flows between each probe of P4 and the reference probe P5. Thereby, it can be confirmed that the overcoat 13 has been shifted in the rightward direction in the drawing beyond the allowable shift dimension PL. Note that, in this example, an example is shown in which the overcoat 13 is printed shifted to the right toward the drawing, but the overcoat 13 is printed beyond the allowable shift dimension PL to the left as viewed in the drawing. In this case, the checking probe P2 comes into contact with another part of the overcoat checking electrode 5c. Therefore, a current flows between the confirmation probe P2 and the reference probe P5, and each of the confirmation probes P1, P3, and P4 and the reference probe P5.
5 does not flow. Thereby, it can be confirmed that the overcoat 13 is misprinted in the leftward direction in the drawing beyond the allowable misalignment dimension PL. When the overcoat 13 is printed on the upper side of the drawing beyond the allowable deviation dimension PL, the confirmation probe P4 comes into contact with another part of the overcoat confirmation electrode 5c. Therefore, a current flows between the confirmation probe P4 and the reference probe P5, and the confirmation probes P1 to P3
No current flows between the respective probes and the reference probe P5. Thereby, it can be confirmed that the overcoat 13 is misaligned in printing in the upward direction in the drawing beyond the allowable misalignment dimension PL. When the overcoat 13 is printed below the allowable deviation dimension PL below the drawing, the checking probe P3 comes into contact with another part of the overcoat checking electrode 5c. . Therefore, current flows between the checking probe P3 and the reference probe P5, and no current flows between each of the checking probes P1, P2, and P4 and the reference probe P5. Thereby, it can be confirmed that the overcoat 13 is misprinted in the lower direction toward the drawing beyond the allowable misalignment dimension PL.

【0022】なお、本例では、表面側レジンコート7の
孔部7a及び閉塞パターン13Cをほぼ正方形に形成し
たが、表面側レジンコートの孔部及び閉塞パターンは、
特定方向におけるオーバコートのずれ寸法が許容ずれ寸
法を超えているときにオーバコート確認用電極の一部が
確認用プローブと接触可能な大きさ以上に露出する形状
にそれぞれ形成されていればよく、円形等の種々の形状
に形成できる。
In the present embodiment, the hole 7a and the closing pattern 13C of the front side resin coat 7 are formed in a substantially square shape.
When the overcoat displacement dimension in the specific direction exceeds the permissible displacement dimension, a portion of the overcoat confirmation electrode may be formed in a shape that is exposed to a size that can be in contact with the confirmation probe or more. It can be formed into various shapes such as a circle.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明の検査方法によれば、レジンコー
トの所定のコートパターンに回路パターンの一部を露出
させてオーバコート確認用電極を形成するための孔部を
設け、オーバコートの所定のコートパターンにこの孔部
を塞ぐ閉塞パターンを設け、更にオーバコートが形成さ
れている場合には、オーバコートの閉塞パターンと接触
する一方のプローブと、回路パターンの配線部に含まれ
る基準電極に接触する他方のプローブを備えたオーバコ
ート確認用測定器を用意し、一対の確認用プローブ間に
電流が流れるか否かによりオーバコートの存在の有無を
確認するようにしたので、オーバコートの形成の有無を
簡単且つ確実に確認できる。また、本発明によれば、オ
ーバコートの印刷忘れが発生したプリント回路基板及び
許容ずれ寸法を超えてオーバコートが印刷ずれを起して
いるプリント回路基板がそのまま出荷されてしまうのを
防ぐことができる。
According to the inspection method of the present invention, a hole for exposing a part of the circuit pattern to the predetermined coat pattern of the resin coat to form an electrode for confirming the overcoat is provided. If a coat pattern is provided with a closing pattern that closes the hole, and if an overcoat is formed, one probe that contacts the closing pattern of the overcoat and a reference electrode included in the wiring part of the circuit pattern are provided. An overcoat check measuring device equipped with the other probe to be contacted was prepared, and the presence or absence of the overcoat was checked by checking whether an electric current flows between the pair of check probes. Can be easily and reliably checked. Further, according to the present invention, it is possible to prevent a printed circuit board in which overprinting is forgotten from being printed and a printed circuit board in which overcoating is out of print beyond the allowable deviation dimension from being shipped as they are. it can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(A)は、本発明の一実施の形態の検査方法で
用いるプリント回路基板の平面図であり、(B)は、図
1(A)のB−B線断面図である。
FIG. 1A is a plan view of a printed circuit board used in an inspection method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line BB of FIG. 1A.

【図2】本発明の一実施の形態の検査方法において、オ
ーバコートが形成されなかった場合のプリント回路基板
の断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view of the printed circuit board when an overcoat is not formed in the inspection method according to the embodiment of the present invention.

【図3】(A)は、本発明の他の実施の形態の検査方法
で用いるプリント回路基板の平面図であり、(B)は、
図3(A)のB−B線断面図であり、(C)は、図3
(A)のC−C線断面図である。
FIG. 3A is a plan view of a printed circuit board used in an inspection method according to another embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3C is a sectional view taken along line BB of FIG.
It is a CC sectional view taken on the line of (A).

【図4】本発明の他の実施の形態の検査方法において、
オーバコートが形成されなかった場合のプリント回路基
板の断面図である。
FIG. 4 shows an inspection method according to another embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a cross-sectional view of the printed circuit board when an overcoat is not formed.

【図5】(A)及び(B)は、本発明の他の実施の形態
の検査方法において、図面に向って右側方向へのオーバ
コートのずれ寸法が許容ずれ寸法を僅かに超えた場合の
閉塞パターン近傍におけるプリント回路基板の平面図及
び断面図である。
FIGS. 5A and 5B show an inspection method according to another embodiment of the present invention in a case where a deviation dimension of an overcoat in the right direction toward the drawing slightly exceeds an allowable deviation dimension; It is a top view and a sectional view of a printed circuit board in the neighborhood of an obstruction pattern.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回路基板 3 絶縁基板 5,5´ 回路パターン 5c オーバコート確認用電極 7,7´ レジンコート 7a 孔部 13,13´ オーバコート 13C 閉塞パターン P1〜P4 確認用プローブ P5 基準プローブ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board 3 Insulating board 5, 5 'Circuit pattern 5c Overcoat confirmation electrode 7, 7' Resin coat 7a Hole 13, 13 'Overcoat 13C Closure pattern P1-P4 Confirmation probe P5 Reference probe

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁基板の表面に回路パターンが形成さ
れ、前記回路パターン上に所定のコートパターンの絶縁
樹脂製のレジンコートが形成され、前記レジンコート上
に所定のコートパターンの絶縁樹脂製のオーバコートが
更に形成されているプリント回路基板の検査方法であっ
て、 前記レジンコートの前記所定のコートパターンに前記回
路パターンの一部を露出させてオーバコート確認用電極
を形成するための孔部を設け、 前記オーバコートの前記所定のコートパターンに前記孔
部を塞ぐ閉塞パターンを設け、 定位置に前記プリント回路基板を位置決めした状態で、
前記オーバコートが形成されているときには、一方のプ
ローブが前記オーバコートの前記閉塞パターンと接触
し、他方のプローブが前記回路パターンの前記オーバコ
ート確認用電極と電気的につながった前記回路パターン
の配線部に含まれる基準電極と接触する一対の確認用プ
ローブを備えたオーバコート確認用測定器を用意し、 前記一対の確認用プローブが測定位置に配置された状態
で、前記一方のプローブと前記他方のプローブ間で電流
が流れるか否かにより前記オーバコートの形成の有無を
電気的に検査することを特徴とするプリント回路基板の
検査方法。
1. A circuit pattern is formed on the surface of an insulating substrate, a resin coat made of an insulating resin having a predetermined coat pattern is formed on the circuit pattern, and a resin coat made of an insulating resin having a predetermined coat pattern is formed on the resin coat. A method for inspecting a printed circuit board further comprising an overcoat, wherein a hole for exposing a part of the circuit pattern to the predetermined coat pattern of the resin coat to form an overcoat confirmation electrode. Providing a closing pattern for closing the hole in the predetermined coat pattern of the overcoat, with the printed circuit board positioned at a fixed position,
When the overcoat is formed, one probe is in contact with the closing pattern of the overcoat, and the other probe is electrically connected to the overcoat confirmation electrode of the circuit pattern. Prepare an overcoat check measuring device provided with a pair of check probes that are in contact with the reference electrode included in the portion, and in a state where the pair of check probes are arranged at the measurement position, the one probe and the other Wherein the presence or absence of the overcoat is electrically inspected based on whether a current flows between the probes.
【請求項2】 前記孔部及び前記閉塞パターンを、特定
方向への前記オーバコートのずれ寸法が許容ずれ寸法を
超えているときに前記オーバコート確認用電極の一部が
前記一方のプローブと接触可能な大きさ以上に露出する
形状にそれぞれ形成し、 前記オーバコート確認用電極の前記一部と対向する位置
に前記一方のプローブを配置し、 前記一対の確認用プローブが測定位置に配置された状態
で、前記一方のプローブと前記他方のプローブ間で電流
が流れるか否かにより前記オーバコートの形成の有無と
前記オーバコートの位置ずれとを電気的に検査すること
を特徴とする請求項1に記載のプリント回路基板の検査
方法。
2. A part of the overcoat confirming electrode is in contact with the one probe when a deviation dimension of the overcoat in a specific direction exceeds an allowable deviation dimension. Each of the probes was formed in a shape that was exposed to a size larger than a possible size, the one probe was arranged at a position facing the part of the overcoat confirmation electrode, and the pair of confirmation probes was arranged at a measurement position. 2. In the state, whether or not the overcoat is formed and a position shift of the overcoat are electrically inspected based on whether or not a current flows between the one probe and the other probe. 3. The method for inspecting a printed circuit board according to claim 1.
【請求項3】 前記孔部及び前記閉塞パターンを、前記
特定方向と反対の方向への前記オーバコートのずれ寸法
が許容ずれ寸法を超えているとき並びに前記特定方向及
び前記反対の方向と直交する2つの方向への前記オーバ
コートのずれ寸法が許容ずれ寸法を超えたときにも前記
オーバコート確認用電極の他の一部を露出させる形状に
それぞれ形成し、 前記オーバコートが前記反対の方向及び前記2つの方向
に前記許容ずれ寸法よりずれて形成されたときに前記オ
ーバコート確認用電極の前記他の一部と接触し得る3つ
のプローブを更に用意し、 前記一方のプローブ及び前記3つのプローブと前記オー
バコートの位置ずれを電気的に検査することを特徴とす
る請求項2に記載のプリント回路基板の検査方法。
3. The method according to claim 1, wherein the hole and the closing pattern are perpendicular to the specific direction and the opposite direction when a deviation dimension of the overcoat in a direction opposite to the specific direction exceeds an allowable deviation dimension. The overcoat is formed in a shape that exposes another part of the overcoat confirmation electrode even when a deviation dimension of the overcoat in two directions exceeds an allowable deviation dimension. Three probes that can come into contact with the other part of the overcoat confirming electrode when the two probes are formed so as to be shifted from the allowable shift dimension in the two directions, the one probe and the three probes; 3. The method for inspecting a printed circuit board according to claim 2, further comprising: electrically inspecting a positional shift between the overcoat and the overcoat.
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