JP2000137239A - Liquid crystal display panel - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はCOG(Chip
On Glass)型の液晶表示パネルに関し、さらに
詳しく言えば、ICチップ搭載前のピンプローブ方式に
よる中間機能検査を容易に行えるようにした液晶表示パ
ネルに関するものである。The present invention relates to a COG (Chip)
More specifically, the present invention relates to a liquid crystal display panel that can easily perform an intermediate function test by a pin probe method before mounting an IC chip.
【0002】[0002]
【従来の技術】COG型液晶表示パネルにおいては、一
方の透明基板側に連設されている端子部に液晶駆動用の
IC(もしくはLSI)チップがフリップチップの状態
で直接的に搭載される。2. Description of the Related Art In a COG type liquid crystal display panel, an IC (or LSI) chip for driving a liquid crystal is directly mounted in a flip chip state on a terminal portion provided continuously on one transparent substrate side.
【0003】このため、端子部にはチップ搭載領域が設
けられているとともに、同チップ搭載領域内には透明表
示電極に連なる各引出電極の端部がICチップのバンプ
と接続されるバンプ接続部として配置されている。For this reason, a chip mounting region is provided in the terminal portion, and within the chip mounting region, an end portion of each extraction electrode connected to the transparent display electrode is connected to a bump connection portion connected to a bump of an IC chip. Is arranged as.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところで、ICチップ
を搭載する前に、各電極のショート・オープン検査や点
灯検査などの中間機能検査が必須的に行なわれる。一般
的に、この検査には導電接触ピン(プローブ)を引出電
極のバンプ接続部に接触させてテスト信号を印加するピ
ンプローブ方式が採用されているが、これには次のよう
な課題があった。Before mounting an IC chip, an intermediate function test such as a short / open test or a lighting test of each electrode is essentially performed. Generally, in this inspection, a pin probe method in which a conductive contact pin (probe) is brought into contact with a bump connection portion of an extraction electrode to apply a test signal is employed, but this has the following problems. Was.
【0005】すなわち、電極パターンは近年ますます高
精細化され、そのピッチ寸法は50μm程度と狭くなっ
てきている。しかも、チップ搭載領域には多数の引出電
極が集結しているため、導電接触ピンを例えばバンプ接
続部に対して一つ置きに接触させるにしても、その導電
接触ピンの位置合わせ精度などとの関係もあって、作業
性が悪く1回のプローブ作業に数分から数10分を要す
ることもあった。特に、複数のICチップが搭載される
ものにあっては、さらに長時間を要することになり、こ
の点についての改善が求められていた。That is, in recent years, the electrode pattern has been increasingly finer, and its pitch dimension has been reduced to about 50 μm. In addition, since a large number of extraction electrodes are gathered in the chip mounting area, even if the conductive contact pins are alternately brought into contact with, for example, the bump connection portion, the alignment accuracy of the conductive contact pins and the like are not guaranteed. Due to the relationship, the workability was poor, and it sometimes took several minutes to several tens of minutes for one probe operation. In particular, in the case where a plurality of IC chips are mounted, a longer time is required, and improvement in this respect has been demanded.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は、このような課
題を解決するためになされたもので、その目的は、高精
細な電極パターンに対しても、導電接触ピンを容易かつ
確実に接触し得るようにした液晶表示パネルを提供する
ことにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to easily and surely contact a conductive contact pin even with a high-definition electrode pattern. It is another object of the present invention to provide a liquid crystal display panel that can perform the above-described operations.
【0007】本発明によれば、上記目的は、透明表示電
極が形成された一対の透明基板を周辺シール材を介して
貼り合わせてなり、上記一方の透明基板側に形成されて
いる端子部上に、液晶駆動用のIC(もしくはLSI)
チップが搭載されるチップ搭載領域が設けられていると
ともに、同チップ搭載領域内に上記透明表示電極に接続
された各引出電極の端部が上記ICチップのバンプと接
続されるバンプ接続部として配置されているCOG型の
液晶表示パネルにおいて、上記各引出電極に、上記バン
プ接続部よりもさらに上記チップ搭載領域内に延ばされ
た延長部を設け、同延長部の終端に上記バンプ接続部の
線幅よりも大きな幅の拡幅ランドを形成することにより
達成される。According to the present invention, the above object is achieved by laminating a pair of transparent substrates on which a transparent display electrode is formed via a peripheral sealing material, and forming the transparent substrate on a terminal portion formed on the one transparent substrate side. And IC (or LSI) for driving liquid crystal
A chip mounting area on which the chip is mounted is provided, and an end of each extraction electrode connected to the transparent display electrode is arranged as a bump connection part connected to a bump of the IC chip in the chip mounting area. In the COG type liquid crystal display panel described above, each of the extraction electrodes is provided with an extension that extends further into the chip mounting region than the bump connection, and the extension of the bump connection is provided at the end of the extension. This is achieved by forming a widened land having a width larger than the line width.
【0008】これによれば、ピンプローブ方式により中
間機能検査を行なうにしても、各引出電極の終端部にあ
る幅の広い拡幅ランドに導電接触ピンを接触させればよ
く、したがって、その作業マージンを広くとることがで
きる。According to this, even if the intermediate function test is performed by the pin probe method, the conductive contact pins need only be brought into contact with the wide wide lands at the end portions of the respective lead electrodes. Can be widely taken.
【0009】本発明において、上記各引出電極の延長部
を交互に、長さの長い第1延長部と、それよれも長さの
短い第2延長部とすることが好ましく、これによれば、
引出電極の配列ピッチが狭い場合にも対応することがで
きる。In the present invention, it is preferable that the extension portions of the respective extraction electrodes are alternately formed as a first extension portion having a longer length and a second extension portion having a shorter length.
It is possible to cope with a case where the arrangement pitch of the extraction electrodes is narrow.
【0010】この場合、上記第1延長部を上記ハンダ付
け部位の線幅よりも狭い幅として、上記第2延長部の拡
幅ランド間に配線することにより、より狭いピッチに対
応することが可能となる。In this case, it is possible to cope with a narrower pitch by making the first extension portion narrower than the line width of the soldering portion and wiring it between the widened lands of the second extension portion. Become.
【0011】また、狭ピッチ対策として、上記各引出電
極の延長部は、その所定本数を1群として、漸次その長
さが長くもしくは短くされていてもよい。なお、いずれ
の場合においても、拡幅ランドの形状は四角形に代表さ
れる多角形、円形もしくは旗状など適宜形状を選択でき
る。Further, as a countermeasure against a narrow pitch, the length of each of the extension portions of each of the extraction electrodes may be gradually increased or decreased as a predetermined number of groups. In any case, the shape of the widened land can be appropriately selected, such as a polygon represented by a quadrangle, a circle, or a flag.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】次に、本発明を図面に示された実
施例に基づいてより詳しく説明する。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The invention will now be described in more detail with reference to an embodiment shown in the drawings.
【0013】まず、図1の平面図およびその断面図であ
る図2により、この液晶表示パネル10の構成を概略的
に説明すると、この液晶表示パネル10はフロントガラ
ス基板11とリアガラス基板12とを備えている。図示
されていないが、各基板11,12の対向面側にはIT
O(Indium Tin Oxide)よりなる透明
表示電極が形成されている。First, the structure of the liquid crystal display panel 10 will be schematically described with reference to the plan view of FIG. 1 and FIG. 2 which is a sectional view thereof. The liquid crystal display panel 10 is composed of a front glass substrate 11 and a rear glass substrate 12. Have. Although not shown, an IT surface is provided on the opposing surface side of each of the substrates 11 and 12.
A transparent display electrode made of O (Indium Tin Oxide) is formed.
【0014】各基板11,12は、周辺シール材13を
介してそれらの間に液晶が封入される所定のセルギャッ
ブが生ずるように貼り合わせられているが、この実施例
では、リアガラス基板12側に端子部121が連設され
ている。The substrates 11 and 12 are bonded together through a peripheral sealing material 13 so as to generate a predetermined cell gap in which liquid crystal is sealed therebetween. In this embodiment, the substrates 11 and 12 are attached to the rear glass substrate 12 side. Terminal portions 121 are provided continuously.
【0015】この端子部121上には透明表示電極の引
出電極が同じくITOにより形成されているとともに、
この端子部121上には液晶駆動用のIC(もしくはL
SI)チップ14がフリップチップの状態で搭載され
る。On the terminal portion 121, an extraction electrode of a transparent display electrode is also formed of ITO, and
A liquid crystal driving IC (or L
SI) The chip 14 is mounted in a flip chip state.
【0016】なお、リアガラス基板12側においては、
引出電極は透明表示電極に対して一連に形成されている
が、フロントガラス基板11側の透明表示電極は例えば
周辺シール材13内に含まれている導電ビーズなどのト
ランスファ材を介して端子部121の所定の引出電極に
接続されている。また、各基板11,12には偏光板1
5,15がそれぞれ貼着されている。Incidentally, on the rear glass substrate 12 side,
The extraction electrode is formed in series with the transparent display electrode. The transparent display electrode on the front glass substrate 11 side is connected to the terminal portion 121 via a transfer material such as a conductive bead included in the peripheral sealing material 13. Is connected to a predetermined extraction electrode. Further, the polarizing plate 1 is provided on each of the substrates 11 and 12.
5 and 15 are respectively stuck.
【0017】図3はICチップ14が搭載される前の端
子部121の要部拡大平面図であり、同図に示されてい
る矩形状の枠内がチップ搭載領域MAである。端子部1
21上において、各引出電極20はこのチップ搭載領域
MAに集結するように配線されている。FIG. 3 is an enlarged plan view of a main part of the terminal portion 121 before the IC chip 14 is mounted. A rectangular frame shown in FIG. 3 is a chip mounting area MA. Terminal 1
On the wiring 21, the extraction electrodes 20 are wired so as to be concentrated in the chip mounting area MA.
【0018】この実施例では、その3辺から各引出電極
20の端部がチップ搭載領域MA内に引き込まれてい
る。各辺の引出電極20は同一構成であるため、ここで
は右辺の接続端子20を代表してその構成を説明する。In this embodiment, the ends of the extraction electrodes 20 are drawn into the chip mounting area MA from three sides. Since the extraction electrodes 20 on each side have the same configuration, the configuration will be described here on behalf of the connection terminal 20 on the right side.
【0019】チップ搭載領域MAの右辺には、9本の引
出電極21〜29が透明表示電極側から周辺シール材1
3を潜って短冊状に引き出されている。各引出電極21
〜29は、チップ搭載領域MA内に入ってからの所定の
長さ部分がICチップ14のバンプに接続されるバンプ
接続部Aとされており、説明の便宜上、このバンプ接続
部Aにはハッチングが付されている。なお、各バンプ接
続部Aは同幅である。On the right side of the chip mounting area MA, nine lead-out electrodes 21 to 29 are provided on the peripheral sealing material 1 from the transparent display electrode side.
It is pulled out in a strip shape under 3. Each extraction electrode 21
The reference numerals 29 to 29 denote a bump connection portion A in which a predetermined length after entering the chip mounting area MA is connected to a bump of the IC chip 14. For convenience of description, the bump connection portion A is hatched. Is attached. In addition, each bump connection part A has the same width.
【0020】引出電極21〜29の各バンプ接続部Aに
は、周辺シール材13とは反対側に延びる、すなわちチ
ップ搭載領域MA内に向けてさらに延びる延長部Bがそ
れぞれ連設されているとともに、その各延長部Bの終端
部(先端部)にはバンプ接続部Aの幅よりも広い幅を有
する四角形状の拡幅ランドRがそれぞれ形成されてい
る。なお、延長部Bの部分はその拡幅ランドRを含め
て、ICチップ14のバンプ接続には使用されない。Each of the bump connection portions A of the extraction electrodes 21 to 29 is provided with an extension portion B extending in a direction opposite to the peripheral seal material 13, that is, further extending toward the chip mounting area MA. A rectangular wide land R having a width larger than the width of the bump connection part A is formed at the end part (tip part) of each extension part B. The extended portion B, including the wide land R, is not used for bump connection of the IC chip 14.
【0021】この実施例においては、各延長部Bは交互
にその長さが異なっており、いわゆる千鳥状の配置とさ
れている。すなわち、奇数番目の引出電極21,23,
25,27,29の各延長部(第2延長部)Bは短い長
さとされ、これに対して、偶数番目の引出電極22,2
4,26,28の各延長部(第1延長部)Bは奇数番目
の拡幅ランドRを越える長さにされている。In this embodiment, the lengths of the extending portions B are alternately different, and are arranged in a so-called staggered manner. That is, the odd-numbered extraction electrodes 21, 23, 23
Each of the extension portions (second extension portions) B of 25, 27, and 29 has a short length, whereas the even-numbered extraction electrodes 22, 2
Each of the extension portions (first extension portions) B of 4, 26, and 28 has a length exceeding the odd-numbered widened land R.
【0022】このように、各引出電極21〜29の終端
部に拡幅ランドRが形成されているため、ICチップ1
4の搭載前にピンプローブ方式により中間機能検査を行
なう場合、図3に黒丸で示されているように、その導電
接触ピンを幅の広い拡幅ランドRに接触させることによ
り、従来のようにバンプ接続部Aに導電接触ピンを接触
させる場合に比べて厳密な位置合わせ精度が要求されな
い。ちなみに、本発明によれば、1回のプローブ作業に
かかる時間を10秒以内とすることができた。As described above, since the widened land R is formed at the end of each of the extraction electrodes 21 to 29, the IC chip 1
In the case where the intermediate function test is performed by the pin probe method before the mounting of the semiconductor device 4, the conductive contact pins are brought into contact with the wide lands R as shown by black circles in FIG. Strict positioning accuracy is not required as compared with the case where the conductive contact pin is brought into contact with the connection portion A. By the way, according to the present invention, the time required for one probe operation could be made within 10 seconds.
【0023】次に、図4の第1変形例について説明す
る。この第1変形例においては、長さの長い方の偶数番
目の引出電極22,24,26,28の各延長部Bは、
バンプ接続部Aの幅よりも狭い幅とされ、奇数番目の引
出電極21,23,25,27,29の各拡幅ランドR
間を通ってチップ搭載領域MA内に向けて延ばされてい
る。これにより、狭ピッチ対策として、引出電極21〜
29の各バンプ接続部A間のピッチをICチップ14の
バンプ間ピッチに対応させてより狭くすることができ
る。Next, a first modification of FIG. 4 will be described. In this first modified example, each extension B of the even-numbered extraction electrodes 22, 24, 26, 28 having a longer length is
Each of the widened lands R of the odd-numbered extraction electrodes 21, 23, 25, 27, 29 has a width smaller than the width of the bump connection portion A.
It extends toward the inside of the chip mounting area MA through the space. Thereby, as a countermeasure against a narrow pitch, the extraction electrodes 21 to
The pitch between the 29 bump connection portions A can be made narrower in correspondence with the pitch between the bumps of the IC chip 14.
【0024】なお、上記実施例および第1変形例では、
引出電極20の終端部に設けられる拡幅ランドRを四角
形状としているが、図5に第2変形例として示されてい
るように、拡幅ランドRを円形のいわゆる球根状として
もよい。In the above embodiment and the first modification,
Although the widened land R provided at the end of the extraction electrode 20 has a rectangular shape, the widened land R may have a circular so-called bulb shape as shown in FIG. 5 as a second modification.
【0025】また、図6に第3変形例として示されてい
るように、引出電極20の延長部Bをバンプ接続部Aと
同幅として引き延ばし、その終端部に旗状の拡幅ランド
Rを設けてもよい。この場合、所定本数の引出電極20
を1群として、その延長部Bの長さを漸次長くもしくは
短くすることにより、上記実施例のように延長部Bの幅
を一つおきに狭くしなくても、各バンプ接続部A間のピ
ッチを狭小化することができる。As shown in FIG. 6 as a third modification, the extension B of the extraction electrode 20 is extended to have the same width as the bump connection A, and a flag-like wide land R is provided at the end. You may. In this case, a predetermined number of extraction electrodes 20
As a group, the length of the extended portions B is gradually increased or decreased, so that the width between the extended portions B is not reduced every other as in the above-described embodiment. The pitch can be reduced.
【0026】図6の第3変形例では、5本の引出電極2
0a〜20eを1群として、その左端の引出電極20a
から中央の引出電極20cまでは延長部Bをほぼその拡
幅ランドR分ずつ長くし、中央の引出電極20cから右
端の引出電極20eにかけては反対に延長部Bをほぼそ
の拡幅ランドR分ずつ短くして、全体として中央の引出
電極20cを頂点とする山形状としている。In the third modification shown in FIG. 6, five extraction electrodes 2 are provided.
0a to 20e as one group, and a leftmost extraction electrode 20a.
From the center extraction electrode 20c to the rightmost extraction electrode 20e, the extension B is shortened by approximately the width of the extension land R. Therefore, the overall shape is a mountain shape with the central extraction electrode 20c as the apex.
【0027】この考え方は図3の上記実施例にも適用す
ることができ、これが図7の第4変形例である。例え
ば、3本の引出電極20p,20q,20rを繰り返し
単位の1群として、左端の第1引出電極20pについて
は、その延長部Bをバンプ接続部Aと同幅で、かつ、も
っとも短い長さにしてその終端部に四角形の拡幅ランド
Rを形成する。This concept can also be applied to the above-described embodiment of FIG. 3, which is a fourth modification of FIG. For example, with the three extraction electrodes 20p, 20q, and 20r as a group of repeating units, the extension B of the leftmost first extraction electrode 20p has the same width as the bump connection part A and has the shortest length. Then, a quadrangular wide land R is formed at the terminal end.
【0028】次の第2引出電極20qについては、その
延長部Bをバンプ接続部Aよりも狭い幅で第1引出電極
20pの拡幅ランドRを越える長さとして、その終端部
に四角形の拡幅ランドRを形成する。そして、第3番目
の第3引出電極20rについては、その延長部Bをバン
プ接続部Aよりも狭い幅として、第2引出電極20qの
拡幅ランドRをさらに越える長さとして、その終端部に
四角形の拡幅ランドRを形成する。With respect to the next second extraction electrode 20q, the extended portion B has a width smaller than the width of the bump connection portion A and exceeds the widened land R of the first extracted electrode 20p. Form R. As for the third third extraction electrode 20r, the extension B is made narrower than the bump connection part A, the length is further beyond the widened land R of the second extraction electrode 20q, and a square is formed at the end. Is formed.
【0029】このように、ピッチ狭小化対策としての種
々の変形例を提示することができるが、いずれにしても
引出電極20のバンプ接続部Aには延長部Bが連設さ
れ、かつ、その終端部には拡幅ランドRが形成されてい
るため、バンプ接続部Aのピッチを狭小化したとして
も、導電接触ピン(プローブ)の位置合わせ精度に厳密
さを要求されることなく、ICチップ14の搭載前の中
間機能検査を効率よく行なうことができる。As described above, various modifications can be presented as measures to reduce the pitch. In any case, the extension B is connected to the bump connecting portion A of the extraction electrode 20. Since the widened land R is formed at the end portion, even if the pitch of the bump connection portion A is narrowed, the positioning accuracy of the conductive contact pins (probes) is not required to be strict and the IC chip 14 is not required. Intermediate function inspection can be performed efficiently before mounting.
【0030】[0030]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
端子部上に設けられているチップ搭載領域に、各引出電
極の端部がICチップのバンプと接続されるバンプ接続
部として配置されているCOG型の液晶表示パネルにお
いて、各引出電極に、バンプ接続部よりもさらにチップ
搭載領域内に延ばされた延長部を設け、同延長部の終端
にバンプ接続部の線幅よりも大きな幅の拡幅ランドを形
成するようにしたことにより、各引出電極が高精細なパ
ターンであっても、幅の広い拡幅ランドに導電接触ピン
を接触させればよく、したがって、ICチップ搭載前に
行なうピンプローブ方式による中間機能検査を効率よく
行なうことができる。As described above, according to the present invention,
In a COG type liquid crystal display panel in which an end portion of each extraction electrode is arranged as a bump connection portion where an end portion of each extraction electrode is connected to a bump of an IC chip in a chip mounting area provided on a terminal portion, each extraction electrode has a bump. Each extension electrode is provided by providing an extended portion extending further in the chip mounting area than the connection portion, and forming an enlarged land having a width larger than the line width of the bump connection portion at the end of the extension portion. However, even if the pattern is a high-definition pattern, the conductive contact pins need only be brought into contact with the wide lands, so that the intermediate function test by the pin probe method before mounting the IC chip can be efficiently performed.
【図1】本発明によるCOG型液晶表示パネルの構成を
概略的に示した平面図。FIG. 1 is a plan view schematically showing a configuration of a COG type liquid crystal display panel according to the present invention.
【図2】上記液晶表示パネルの断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display panel.
【図3】上記液晶表示パネルの端子部に形成される引出
電極の実施例を示した要部拡大平面図。FIG. 3 is an enlarged plan view of an essential part showing an embodiment of an extraction electrode formed on a terminal portion of the liquid crystal display panel.
【図4】上記実施例の第1変形例を示した要部拡大平面
図。FIG. 4 is an enlarged plan view of a main part showing a first modification of the embodiment.
【図5】上記実施例の第2変形例を示した要部拡大平面
図。FIG. 5 is an enlarged plan view of a main part showing a second modification of the embodiment.
【図6】上記実施例の第3変形例を示した要部拡大平面
図。FIG. 6 is an enlarged plan view of a main part showing a third modification of the embodiment.
【図7】上記実施例の第4変形例を示した要部拡大平面
図。FIG. 7 is an enlarged plan view of a main part showing a fourth modification of the embodiment.
10 液晶表示パネル 11 フロントガラス基板 12 リアガラス基板 121 端子部 13 周辺シール材 14 ICチップ 20 引出電極 A バンプ接続部 B 延長部 R 拡幅ランド MA チップ搭載領域 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Liquid crystal display panel 11 Front glass substrate 12 Rear glass substrate 121 Terminal part 13 Peripheral sealing material 14 IC chip 20 Leader electrode A Bump connection part B Extension part R Widening land MA Chip mounting area
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 GA32 GA40 GA60 MA34 MA57 NA30 PA01 PA03 4M106 AA02 AA04 AA20 BA01 BA14 DD13 5E336 AA04 BB01 BC34 CC32 DD01 EE01 GG30 5G435 AA17 BB12 EE33 EE37 EE41 FF00 FF05 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H092 GA32 GA40 GA60 MA34 MA57 NA30 PA01 PA03 4M106 AA02 AA04 AA20 BA01 BA14 DD13 5E336 AA04 BB01 BC34 CC32 DD01 EE01 GG30 5G435 AA17 BB12 EE33 EE37 EE41 FF00 FF05
Claims (4)
板を周辺シール材を介して貼り合わせてなり、上記一方
の透明基板側に形成されている端子部上に、液晶駆動用
のIC(もしくはLSI)チップが搭載されるチップ搭
載領域が設けられているとともに、同チップ搭載領域内
に上記透明表示電極に接続された各引出電極の端部が上
記ICチップのバンプと接続されるバンプ接続部として
配置されているCOG型の液晶表示パネルにおいて、 上記各引出電極は、上記バンプ接続部よりもさらに上記
チップ搭載領域内に延ばされた延長部を有し、同延長部
の終端に上記バンプ接続部の線幅よりも大きな幅の拡幅
ランドが形成されていることを特徴とする液晶表示パネ
ル。1. A pair of transparent substrates having transparent display electrodes formed thereon are bonded together via a peripheral sealing material, and a liquid crystal driving IC (IC) is mounted on a terminal portion formed on the one transparent substrate side. Or a chip mounting area on which a chip is mounted, and a bump connection in which an end of each extraction electrode connected to the transparent display electrode is connected to a bump of the IC chip in the chip mounting area. In the COG type liquid crystal display panel arranged as a portion, each of the extraction electrodes has an extension portion further extended into the chip mounting region than the bump connection portion, and the extension electrode is provided at an end of the extension portion. A liquid crystal display panel having a widened land having a width larger than a line width of a bump connection portion.
の長い第1延長部と、それよりも長さの短い第2延長部
とされていることを特徴とする請求項1に記載の液晶表
示パネル。2. The extension according to claim 1, wherein the extension of each of the extraction electrodes alternately comprises a first extension having a longer length and a second extension having a shorter length. Liquid crystal display panel as described.
線幅よりも狭い幅として、上記第2延長部の拡幅ランド
間に配線されていることを特徴とする請求項2に記載の
液晶表示パネル。3. The device according to claim 2, wherein the first extension portion has a width smaller than a line width of the bump connection portion and is wired between the widened lands of the second extension portion. Liquid crystal display panel.
数を1群として、漸次その長さが長くもしくは短くされ
ていることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示パネ
ル。4. The liquid crystal display panel according to claim 1, wherein the length of each of the extension portions of each of the extraction electrodes is gradually increased or decreased as a predetermined number of groups.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31018598A JP2000137239A (en) | 1998-10-30 | 1998-10-30 | Liquid crystal display panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31018598A JP2000137239A (en) | 1998-10-30 | 1998-10-30 | Liquid crystal display panel |
Publications (1)
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