JP2000127028A - ウエハの研磨装置及び研磨パッドの交換方法 - Google Patents

ウエハの研磨装置及び研磨パッドの交換方法

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JP2000127028A
JP2000127028A JP29889298A JP29889298A JP2000127028A JP 2000127028 A JP2000127028 A JP 2000127028A JP 29889298 A JP29889298 A JP 29889298A JP 29889298 A JP29889298 A JP 29889298A JP 2000127028 A JP2000127028 A JP 2000127028A
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polishing
pad
polishing pad
wafer
chuck
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JP29889298A
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English (en)
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Satoru Ide
悟 井出
Kiyoshi Tanaka
潔 田中
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Okamoto Machine Tool Works Ltd
Original Assignee
Okamoto Machine Tool Works Ltd
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】研磨されたウエハの表面を目視で確認でき、研
磨盤に取り付けられた研磨パッドの交換を自動で行え
る、コンパクトな構成の半導体ウエハの研磨装置を提供
する。 【解決手段】基台3の上面にウエハWを保持する回転自
在なチャックテーブル14を複数配し、その上方に、ウ
エハWよりも小径に設けた研磨パッド16を回転自在に
保持する研磨盤15a,15bを設け、両研磨盤をチャ
ックテーブル14の上方から研磨パッド交換機構17の
上方まで移動機構により水平にスライド自在に構成す
る。研磨パッドが接合する研磨盤の先端部には加減圧空
気流入口を設け、バキューム吸着を利用して研磨パッド
を保持する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ベアウエハ、デバ
イスウエハ、SOIウエハ、磁気ヘッドウエハ、磁気デ
ィスクウエハなどの半導体ウエハの表面を研磨する装置
及び研磨パッドの交換方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】半導体
ウエハの研磨装置として、例えば図11に示した如き構
造の研磨装置1が知られている。これは、回転軸2に軸
承されたテーブル7に、アルミニウム製、ステンレス製
又はセラミック製の円板状金属取付板3の表面に研磨布
3aを貼付してなる研磨パッドををボルト8で固定する
と共に、テーブル7の上方で回転軸4に軸承されたヘッ
ド5に、接着剤Sを介して表面にウエハWが接着された
支持板6を固定し、上記ウエハWを研磨布3aに押圧
し、回転軸2,4を正逆方向、或いは同方向に回転させ
てウエハWを研磨するものである(特開平2−3122
32号、同8−71916号、同8−174406号、
同10−58315号、同10−230449号の各公
報参照)。
【0003】このような研磨装置では、ウエハの研磨面
が下向きなのでウエハの研磨状態を目視で観察すること
が難しく、そのため、研磨動作終了後、ウエハと研磨布
の摩擦力を測定し、或いはウエハの研磨量を測定し、さ
らには研磨パッドの回転トルクを測定することによりウ
エハの研磨状態を計測したり、研磨テーブルにレーザー
光の透過窓を設け、レーザー光を研磨面に照射してウエ
ハの研磨状態を計測したりしていた(特開平6−216
095号、同8−172118号、同9−262743
号、同10−199951号の各公報参照)。つまり、
研磨面を下向きにしてウエハを研磨するタイプの装置に
あっては、ウエハの研磨面を直接目視できず、他の方法
を介するなどして間接的に研磨状態を計測しなければな
いらないという不都合があった。
【0004】また、研磨パッドはウエハを研磨すること
により漸次摩耗するため、研磨動作終了後、パッドコン
ディショナーを用いた研磨パッド表面の修復(ドレッシ
ング)を随時行い、パッド表面がウエハの研磨速度が著
しく低下するに至るまで摩耗したときは新しい研磨布に
貼り替えるようにしている。この研磨布の貼り替えは、
作業者が研磨装置内に身を乗り出して手作業で行ったの
では、研磨布の剥離及び接着に手間がかかり、且つ熟練
技術を必要として装置の使用効率が悪いため、予め未使
用の研磨布を表面に貼着した取付板を準備しておき、こ
れを使い古した研磨パッドと取り換える方法が行われて
いた。
【0005】しかし、取付板ごと研磨布を取り換える方
法であっても、作業者が狭い研磨装置内に身を乗り出し
て作業しなければならないことには変わりはなく、取付
板を取り換えるためのボルトの取り外し及び締め付けに
も手間を要し、作業効率が悪いという問題があった。前
記特開平8−174406号、同10−230449号
の各公報には、研磨パッドを自動で交換できるようにし
た装置が記載されているが、これら装置は構造が大がか
り且つ複雑となり、装置コストも高くならざるを得ない
ものであった。
【0006】本発明は従来技術の有するこのような問題
点に鑑み、半導体ウエハを研磨する装置において、研磨
中のウエハの表面を目視で確認できるようにすること、
及び研磨盤に取り付けられた研磨パッドを自動で交換で
きるようにすることをコンパクトな装置構成で実現し、
効率的な研磨加工処理を行えるようにすることを課題と
する。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明のウエハの研磨装置は、ウエハを保持する回転
自在なチャックテーブルと、上記ウエハよりも小径に設
けた取付板の下面に研磨布を貼着してなる研磨パッド及
びこの研磨パッドを吸着し、チャックテーブルの上方で
回転自在に保持するチャック機構からなり、上記研磨パ
ッドをウエハに押し付け回転、揺動してウエハ表面を研
磨する研磨盤と、チャックテーブルの側方であって、上
記研磨パッドの揺動方向の延長上に設けられていて研磨
盤に保持された研磨パッドを交換する研磨パッド交換機
構と、研磨盤をチャックテーブル上方から研磨パッド交
換機構上方まで水平に移動させる研磨盤移動機構とを具
備してなるものである。
【0008】上記構成において、複数のチャックテーブ
ルを同一の円周上に配し、且つ各チャックテーブルを当
該円周に沿って一体に回動し得るように設けたインデッ
クステーブルを設けて構成することができる。
【0009】また、上記構成において、研磨盤のチャッ
ク機構は、研磨パッドの上面部に接合して研磨パッドを
吸着する吸着機構と、研磨パッドの両側面に形成された
係合用溝に係合爪片を係入させて研磨パッドを挟持する
挟着機構により構成することができる。
【0010】さらに、研磨パッド交換機構は、研磨盤の
研磨パッドの両側部に当接して研磨盤を位置決めする一
対のガイド体と、位置決めされた研磨盤の挟着機構の係
合爪片に当接し得るよう上記ガイド体を進退させる駆動
機構と、上面に研磨パッドを保持可能であって上記ガイ
ド体の下側に進退自在に設けられたパッド支持アームと
を有して構成することができる。
【0011】また、上記構成において、先端部を研磨パ
ッドを保持可能なパッド支持部とし、且つ元端部を鉛直
方向に立設させた回動軸に軸支してなるパッド支持アー
ムの周囲に、使用前の研磨パッドが収納されるパッド収
納カセットと、使用後の研磨パッドが収納されるパッド
受槽と、研磨パッド交換機構とを上記回動軸を中心とし
た同一の円周上に配置し、上記パッド支持アームを回動
させて、これらの間で使用前後の研磨パッドが移送され
るように構成することができる。
【0012】本発明の研磨装置によれば、研磨面を上向
きにしてウエハを研磨する構造とすると共に、研磨パッ
ドを、研磨されるウエハよりも小径、例えばウエハ外径
の1/4〜3/4程度の外径とすることにより、研磨中
に、ウエハの研磨面を目視することが可能となり、研磨
工程の正常動作の確認及び異常の検知が容易となる。ま
た、レーザー光、赤外光を利用したウエハの表面検知が
容易となる。ウエハの外径よりも研磨パッドの外径を小
さく設けたので、研磨パッドの外径がウエハの外径の1
/2より小さいときは、研磨パッドをウエハの左右(又
は上下)方向に揺動或いは移動させることにより、ウエ
ハ全体を均一に研磨することができ、また、小径の研磨
パッドを用いているので、装置構成がコンパクトにな
る。さらに、ウエハの外径よりも研磨パッドの外径を小
さく設けたので、研磨パッドの摩耗が従来装置のものよ
りも激しく、短期間で研磨パッドを交換する必要が生じ
るが、これについては、研磨盤への研磨パッドの取り付
けを、真空或いは減圧によるバキューム吸着を利用して
行うことにより、研磨パッドの交換が容易となる。ま
た、研磨パッド交換機構において、使用前後の研磨パッ
ドの移送を、パッド支持アームを水平に回動して行える
ので、研磨パッド移送部がコンパクトになる。
【0013】さらに本発明は、上記構成の研磨装置の研
磨盤を、研磨盤移動機構によりチャックテーブルの外側
に移動させ、次いで研磨盤のチャック機構の吸着機構に
真空吸着させられていると共に研磨盤に備えつけられた
挟着機構の係合爪片を研磨パッドの両側面の係合溝に係
入させられている研磨パッドを、挟着機構の係合爪片を
研磨パッドの係合用溝より外した後、研磨盤の吸着機構
の真空を止めることにより研磨盤から研磨パッドを離脱
させ、次いで新しい研磨パッドの取付板を研磨盤の着脱
機構に当接させた後、真空引きして研磨パッドを吸着
し、次いで研磨パッドの両側面の係合溝に研磨盤の側面
に備えつけられた挟着機構の係合爪片を係入させること
を特徴とする研磨パッドの交換方法を提供する。
【0014】
【発明の実施の形態】図面を参照しながら本発明を詳述
する。図1は本発明の研磨装置の一実施形態の構成を示
しており、図中、符号11は研磨装置、12は作業台、
13はインデックステーブル、14はインデックステー
ブルに配されたチャックテーブル、15aは第1研磨
盤、15bは第2研磨盤、16は研磨パッド、17は研
磨パッド交換機構、18a,18bウエハが装填される
カセット、19は搬送ロボット、19aはロボットアー
ム、20はパッドコンディショナー、21aはウエハ洗
浄機構、21bはチャックテーブルの洗浄機構、Wはウ
エハである。
【0015】インデックステーブル13は、円柱状を呈
する枠体の中心部に回転軸13aを設け、その上面であ
って上記回転軸の軸芯である点O1 を中心とする円C1
の円周上に、4基のチャックテーブル14を互いに等間
隔離して、すなわち点O1 に対して互いに90°の角度
なす位置に配して設けてある。上記回転軸13aにはイ
ンデックステーブル13の下部に設置されたモータ13
bの駆動軸が連結しており、このモータ13bを駆動さ
せて回転軸13aを中心にインデックステーブル13を
各チャックテーブル14と一体に正逆方向に回動し得る
ようになっている。インデックステーブル13が回動す
るとき、各チャックテーブル14は円C1 に沿って回動
する。なお、インデックステーブル13は、図1に示さ
れたチャックテーブル14の配置で、左下方がチャック
テーブル14へのウエハの移送を行うローディングゾー
ン(S1ゾーン)、左上方がウエハの粗研磨を行う粗研
磨ゾーン(S2ゾーン)、右上方がウエハの仕上げ研磨
を行う仕上研磨ゾーン(S3ゾーン)、右下方がカセッ
ト18bへのウエハの移送を行うアンローディングゾー
ン(S4ゾーン)となっている。
【0016】各チャックテーブル14は、図2に示され
ているように、インデックステーブル13内に中空の回
転軸14aを配設し、その上端部に、上面にウエハWが
載置される平面視円形のホルダー14bを一体に固着
し、回転軸14aの下端部を、インデックステーブル1
3の下部に設置されたモータ14dの駆動軸に連結して
回転自在に設けてある。ホルダー14bはその上面に多
数の小孔14cを穿設して形成されており、また、上記
回転軸14aの中空内部には、ホルダー14bの小孔1
4cと連通する二本の剛性の用役管22a,22bが挿
通されており、これら用役管をロータリージョイント2
3a,23bを介し、チャックテーブル外部に設置され
た真空ポンプ、純水又は洗浄液供給ポンプ(図示せず)
などと接続してホルダー14b上面に必要な用役を供給
できるように形成されており、ホルダー14bにウエハ
Wを載せた状態で真空ポンプによりホルダー14b内を
減圧してウエハWをホルダ上面に吸着し、これを保持し
得るようになっている。
【0017】第1研磨盤15aと第2研磨盤15bは、
図3に示されているように、先端に研磨パッド16を保
持するチャック機構(ヘッド)151を有し、これを下
向きにして、インデックステーブル13の上方で昇降自
在に、及び研磨盤移動機構156のレール156aに沿
って水平にスライド移動自在に設けてある。詳しくは、
両研磨盤のヘッド151は、回転軸芯を鉛直方向に向け
且つギヤ153a及びプーリー153bを介してモータ
154の駆動軸に連結された中空の回転軸152の下端
部に固着されて垂直軸廻りの回転運動が与えられ、ま
た、回転軸152の上端部に連結されたエアーシリンダ
ー155により垂直軸方向(図4中矢符Z方向)の進退
(昇降)運動が与えられるように設けてある。これら研
磨盤の各部材は、研磨盤移動機構156の移動体156
cに固設され、移動体156cと一体に移動し得るよう
に設けてある。
【0018】また、研磨盤移動機構156は、図4に示
されているように、研磨装置1の両側部間に至る長さの
レール156aをインデックステーブル13の上方で上
記S2ゾーンとS3ゾーンのチャックテーブル14の上
方を通るように横設すると共に、これと平行に上記チャ
ックテーブル14上方から研磨パッド交換機構17上方
に至る長さの送りネジ156bを横設し、この送りネジ
156bに移動体156cを螺着し、且つ上記レール1
56a上に摺動自在に取り付け、ギヤ156d及びギヤ
156eを介してモータ156fで送りネジ156bを
正逆方向に回転させることにより、当該送りネジ及び上
記レールに沿って、インデックステーブル13の左右方
向(図1、図4中の矢符X方向)に移動体156cをス
ライド移動し得るようになっている。研磨盤移動機構1
56は、第1研磨盤15aと第2研磨盤15bとにそれ
ぞれ個別に設置され、それぞれの研磨盤移動機構を作動
させて両研磨盤をチャックテーブル14上方から各側の
研磨パッド交換機構17上方まで水平に移動し得るよう
に設けてある。
【0019】両研磨盤のチャック機構(ヘッド)151
は、図5に断面で示されているように、回転軸152内
に設けられた流路152aと連通する流路151aを内
部に有し、さらに研磨パッド16が接合する下端部に流
路151aと連通する凹部151bを設けて形成されて
おり、上記回転軸152の流路152aと接続した減圧
コンプレッサー(図示せず)を作動させて流路152a
及び流路151a、さらにはヘッド151に研磨パッド
16が接合して密閉状態となった凹部151b内を減圧
することにより、ヘッド151に研磨パッド16を吸着
し、これを保持し得るようになっている。また、ヘッド
151の下部両側部には、一対の係合爪片157aを下
側に向けて支軸157bで回動自在にそれぞれ軸支し、
且つバネ157cにより上記係合爪片をヘッド内方へそ
れぞれ弾圧付勢してなる挟着機構157が設けてあり、
上記一対の係合爪片157a,157aを研磨パッド1
6の両側面に設けられた係合用溝16d,16dに係入
させて両爪片で研磨パッド16を挟持することにより、
ヘッド151に接合した研磨パッド16を当該位置に係
止し得るようになっている。なお、符号151cはヘッ
ド151に接合した研磨パッド16を位置決めする突部
であり、突部151cの両側にも位置決用のピン151
d,151dが突設してある。
【0020】研磨パッド16は、図6に示されているよ
うに、剛性の板材を用いてウエハWよりも小径、例えば
ウエハWの外径の1/4〜2/3程度の外径の円板状を
呈し、且つ両側部を適宜な幅平行に切り欠いてなる取付
板16aの下面に、研磨布16bを貼着して形成されて
いる。上記取付板16aの上面は、ヘッド151に接合
する円形の接合面部となっており、当該面内に上記位置
決め突部151cと位置決めピン151dが係入する凹
部16b,16cとが形成してある。また、取付板16
aの両側部には、上記係合爪片157b,157bが係
入し得る係合用溝16d,16dが形成してある。な
お、取付板16aの両側部を切り欠いてあるのは、位置
決めの指標のためである。
【0021】研磨パッド交換機構17は、図1に示され
ているように、上記S2ゾーンのチャックテーブル14
の側方と、S3ゾーンのチャックテーブル14の側方と
に、パッド収納カセット175及びパッド受槽176と
共にそれぞれ設置されている。これら研磨パッド交換機
構の設置位置は、上記第1研磨盤15aと第2研磨盤1
5bがスライド移動する通路下である。
【0022】研磨パッド交換機構17は、図7〜図10
に示されているように、研磨盤15a,15bのヘッド
151と研磨パッド16を位置決めし、且つ互いに接近
及び離間する方向に進退自在に設けられた一対のガイド
体171,171と、両ガイド体の下側に進退自在に設
けられたパッド支持アーム173とを有して構成されて
いる。
【0023】詳しくは、両ガイド体は、スライド移動す
る研磨盤の通路上にヘッド151が装填し得る間隔を開
けて平行に配置されており、両ガイド体の上面部及び内
側面部でヘッド151の下部に両側から当接してこれを
位置決めできるように設けてある。また、両ガイド体の
外側面部には、ガイド体の長手方向と直交する方向に伸
縮するように配置したエアーシリンダー172のロッド
172aがそれぞれ固着しており、エアーシリンダー1
72の駆動により、両ガイド体間の幅を狭める方向又は
広げる方向にガイド体171,171が進退するように
設けてある。一方、研磨盤のヘッド151を両ガイド体
間に装填した状態で、ヘッド151はその両側部に軸支
された係合爪片157a,157aの上部をガイド体1
71,171と当接させて位置決めされる。従って、図
10に示されているように、エアーシリンダー172に
よりガイド体171,171をヘッド151の内方へ進
出させると、これと当接する係合爪片157a,157
aの上部がバネ157cの弾性力に抗して内方へ回動す
るため、上記係合爪片による研磨パッド16の挟持状態
が解除されてヘッド151から研磨パッド16が離脱し
(同図(B))、これと反対にガイド体171,171
を元の位置決め位置まで後退させると、これと当接する
係合爪片157a,157aの上部がバネ157cで弾
圧付勢されて外方へ回動するため、上記係合爪片が係合
用溝171内に係入して研磨パッド16を挟持し、研磨
パッド16がヘッド151に係止されるようになってい
る(同図(A))。
【0024】パッド支持アーム173は、平面視略L字
状に屈曲して形成されており、その先端部を、研磨パッ
ド16を保持可能なパッド支持部173aとし、且つ元
端部を鉛直方向に立設させた中空の回動軸174に軸支
して、当該回動軸を支軸として上記パッド支持部173
aを水平に回動自在に設けてある。なお、図示されない
が、パッド支持部173aの上面に多数の小孔を穿設
し、これら小孔と回動軸174内に挿通された、真空ポ
ンプと接続した用役管とを連通させ、上記パッド支持部
173aの上面に載せた研磨パッド16を真空吸着し、
これを保持できるようにしてもよい。
【0025】パッド収納カセット175は、複数枚の未
使用の研磨パッド16を積み重ねて収納するものであ
り、当該カセット内部に進入したパッド支持アーム17
3上に使用前の研磨パッド16を開口部175aから順
次載置し得るように設けてある。パッド受槽176は、
研磨盤から取り外した使用後の研磨パッド16を受け入
れるものであり、内部が水張りされている。これら研磨
パッド交換機構17のガイド体171,171、パッド
収納カセット175及びパッド受槽176は、上記パッ
ド支持アーム173の回動軸174を中心とした同一の
円周上に沿って配置してある。具体的には、これらは、
図9に示されているように、上記回動軸の軸芯である点
O2 を中心として回動するパッド支持アーム173の先
端部が描く回動円弧C2 上であって、両ガイド体17
1,171とパッド収納カセット175とが点O2 に対
して90°の角度をなす位置、パッド受槽176がこれ
らの中間位置、すなわち点O2 に対する両ガイド体17
1,171とパッド収納カセット175との広角度が互
いに45°の角度をなす位置にそれぞれ配置してあり、
パッド支持アーム173を回動することにより、これら
各部材の間で、使用前後の研磨パッド16を移送できる
ようになっている。なお、パッド支持アーム173は、
ガイド体171,171の側に回動したときは両ガイド
体の下側に進入し、パッド収納カセット175の側に回
動したときには開口部175aからカセット内に進入
し、また、パッド受槽176上を通過するように設けて
ある。符号177は使用済みの研磨パッド16を水張り
されたパッド受槽176内に落下せしめる送り機構であ
る。
【0026】カセット18aは研磨前のウエハWが装填
されるものであり、上記S1ゾーンのチャックテーブル
14に、カセット内のウエハWが搬送ロボット19によ
り順次移送されようになっている。また、カセット18
bは、研磨後のウエハWが装填されるものであり、上記
S4ゾーンのチャックテーブル14に載せられた研磨工
程を経たウエハWが、搬送ロボット19により移送され
るようになっている。搬送ロボット19は、回転及び伸
縮自在はアーム19aを有し、アーム19aの先端にウ
エハWを吸着して、これを搬送できるようになってい
る。パッドコンディショナー20は、研磨盤に保持され
た研磨パッド16の表面を修復するものであり、図8に
示されているように、研磨パッド交換機構17の下方に
設置してある。ウエハ洗浄機構21aは、ウエハWに洗
浄液を噴出して、研磨されたウエハWの洗浄を行うも
の、チャックテーブル洗浄機構21bは、チャックテー
ブル14上に洗浄液を噴出して、その上面の洗浄を行う
ものである。
【0027】次に、このように構成された研磨装置1に
よるウエハWの研磨工程を説明する。 (1)先ず、カセット18aに収納されたウエハWを搬
送ロボット19のアーム19aに吸着させ、アーム19
aを回転、伸縮させて吸着したウエハWをインデックス
テーブル13のS1ゾーンのチャックテーブル14に載
せ、これを保持させる。
【0028】(2)インデックステーブル13を、図1
において時計回りに90°回動させてウエハWをS2ゾ
ーンに移動させ、研磨盤15aを下降させて当該盤に保
持された研磨パッド16をウエハ表面に押圧し、回転軸
14a,152を回転させると共に研磨盤15aを左右
方向に揺動してウエハWの表面を粗研磨する。研磨終了
後、研磨盤15aは上昇させておく。この間、上記と同
様にして、S1ゾーンのチャックテーブル14に新たな
ウエハWを載せ、これを保持させる。
【0029】(3)インデックステーブル13を、時計
回りに90°回動させて粗研磨されたウエハWをS3ゾ
ーンに移動させると共に、研磨盤15bを下降させて当
該盤に保持された研磨パッド16をウエハ表面に押圧
し、回転軸14a,152を回転させると共に研磨盤1
5bを左右方向に揺動してウエハWの表面を仕上研磨す
る。研磨終了後、研磨盤15bは上昇させておく。ま
た、これと平行して、研磨盤15aを下降させ、研磨パ
ッド16をウエハWに押圧し、回転軸14a,152を
回転し、研磨盤15aを左右方向に揺動させてS2ゾー
ンのウエハWの表面を粗研磨する。研磨終了後、研磨盤
15aは上昇させておく。この間、上記と同様にして、
S1ゾーンのチャックテーブル14に新たなウエハWを
載せ、これを保持させる。
【0030】(4)インデックステーブル13を、さら
に時計回りに90°回動させて仕上研磨されたウエハW
をS4ゾーンに移動させ、ウエハ洗浄機構21から洗浄
液をウエハWに噴出させながら研磨面をスクラブ洗浄
し、洗浄後、搬送ロボット19を作動させてウエハWを
カセット18bに収納する。これと平行して、S3ゾー
ンに移動されたウエハWを研磨盤15bにより仕上研磨
し、また、S2ゾーンに移動されたウエハWを研磨盤1
5aにより粗研磨する。研磨終了後、両研磨盤15a,
15bは上昇させておく。この間、上記と同様にして、
S1ゾーンのチャックテーブル14に新たなウエハWを
載せ、これを保持させる。
【0031】(5)以下、同様に上記工程を繰り返し、
インデックステーブル13の各ゾーンにおいて、ウエハ
Wの搬入、粗研磨、仕上研磨、洗浄、搬送が行われる。
なお、各工程の間に、S2,S3ゾーンにおいて、研磨
パッド16の修復(ドレッシング)がパッドコンディシ
ョナー29により行われ、S2,S3ゾーンにおいて、
チャックテーブル14の洗浄が行われる。
【0032】研磨すべきウエハWの外径が研磨パッド1
6の外径よりも大きく、例えば研磨パッド16がウエハ
Wの1/2〜1/3程度の外径のときは、研磨盤15
a,15bで研磨する際、研磨盤移動機構156を作動
させて、両研磨盤を左右方向(図1、図4中の矢符X方
向)に往復移動或いは揺動させることにより、ウエハW
の表面全体を均一に研磨することができる。勿論、研磨
パッド16がウエハWの1/2を超える外径のときで
も、研磨盤15a,15bを左右方向に往復揺動させな
がら研磨することは構わない。
【0033】そして、研磨速度の低下などにより、研磨
パッド16を取り換える必要が生じたときには、以下の
作動により、研磨パッド16を自動で交換することがで
きる。 (1)先ず、研磨盤移動機構156を作動し、研磨盤を
チャックテーブル14の上方から研磨パッド交換機構1
7の上方へスライド移動させ、ガイド体171,171
内にヘッド151を装填する。このとき、パッド支持ア
ーム173は、ガイド体171,171の下側に進入さ
せておく。
【0034】(2)エアーシンリダー172を駆動し、
ガイド体171,171をヘッド151の内方へ進出さ
せて、係合爪片157a,157aの上部を押動し、両
係合爪片を係合用溝16d,16dから外し、次いで、
ヘッド151内の流路151a及び凹部151b内の減
圧を停止すると共に、これらと連通する流路152aを
通して加圧空気を吹き込み、ヘッド151に保持されて
いた研磨パッド16をパッド支持アーム173のパッド
支持部173a上に移送する。必要によりパッド支持部
173aに吸着させる。ヘッド151からパッド支持ア
ーム173に研磨パッド16を移送した後、流路152
aを通しての加圧空気の供給は停止する。
【0035】(3)次に、回動軸174により、パッド
支持アーム173を、図7及び図9において時計回りに
45°回動させ、送り機構177を作動させて、パッド
支持部173a上の研磨パッド16をパッド受槽176
内に落下させる。
【0036】(4)さらに、パッド支持アーム173を
時計回りに45°回動させ、パッド支持部173aをパ
ッド収納カセット176内に進入させて、未使用の研磨
パッド16を当該支持部に載置し、吸着させる。
【0037】(5)そして、パッド支持アーム173を
反時計回りに90°回動させ、新たな研磨パッド16が
吸着されたパッド支持部173aをガイド体171,1
71の下側に進入させ、その後、研磨盤のヘッド151
の流路151a及び凹部151b内を減圧してヘッド1
51に接合した研磨パッド16を吸着させ、次いで、エ
アーシンリダー172を駆動してガイド体171,17
1をヘッド151の外方へ後退させ、係合爪片157,
157を係合用溝16d,16d内に係入させて上記新
たな研磨パッド16を挟持することで、研磨パッド16
の交換は完了する。研磨パッド16が交換されたなら
ば、研磨盤移動機構156を作動して研磨盤をチャック
テーブル14の上方まで移動させておく。
【0038】なお、上記形態は一例に過ぎず、チャック
テーブル14や研磨盤15a,15bの配置及びその数
は適宜な構成とすることができる。例えば、上記形態で
はインデックステーブル13上を四つのゾーン(S1〜
4)に分けたが、これらの内、ローディングゾーンS1
と、アンローディングゾーンS2を同一の一つのゾーン
とし、インデックステーブル13上を三つのゾーンに分
けてウエハWの研磨を行うようにしてもよい。また、研
磨パッド交換機構17の設置位置は、ウエハWを研磨す
る際に、研磨盤を往復揺動する方向の延長上にあればよ
く、例えば、上記研磨盤の往復揺動方向を前後方向とし
た場合は、研磨パッド交換機構17は、上記前後に往復
揺動する延長上となるチャックテーブルの側方に設ける
ことができる。
【0039】
【発明の効果】このように、本発明のウエハの研磨装置
は研磨面を上向きにしてウエハを研磨する構造とすると
共に、研磨パッドを、研磨されるウエハよりも小径に設
けてあるので、ウエハの研磨面を目視することが可能と
なり、装置構成もコンパトなものとなる。また、研磨パ
ッドの交換は、従来の自動パッド交換装置と比較して、
研磨パッドが小さいため、コンパクトに納めた構造する
ことができ、ウエハの交換は、真空或いは減圧によるバ
キューム吸着を利用して行っているので、従来の如き、
手間のかかるボルトの取り外しや締め付けが不要とな
り、研磨加工処理を効率的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の研磨装置の一実施形態の構成を示す平
面図である。
【図2】図1のインデックステーブル及びチャックテー
ブルの一部を破断して示す側面図である。
【図3】図1のIII-III 方向から見た部材配置図であ
る。
【図4】研磨盤移動機構の構成及び他の部材との位置関
係を示した斜視図である。
【図5】研磨パッドを保持した研磨盤先端部の概略断面
図である。
【図6】研磨パッドの外観図である。
【図7】研磨パッド交換機構の構成を示す平面図であ
る。
【図8】図7のVIII-VIII 線から見た部材の配置を示し
た図である。
【図9】パッド支持アームの回動動作を説明するための
図である。
【図10】(A)はガイド体を進出させた状態、(B)
はガイド体を後退させた状態のそれぞれガイド体の進退
動作を説明するための図である。
【図11】従来の研磨装置の構成を示す断面図である。
【符号の説明】
11 研磨装置 13 インデックステーブル 14 チャックテーブル 15a.15b 研磨盤 16 研磨パッド 17 研磨パッド交換機構 18a,18b カセット 19 搬送ロボット 01,03 中心 C1,C2 円周(円弧) W ウエハ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエハを保持する回転自在なチャックテ
    ーブルと、上記ウエハよりも小径に設けた取付板の下面
    に研磨布を貼着してなる研磨パッド及びこの研磨パッド
    を吸着し、チャックテーブルの上方で回転自在に保持す
    るチャック機構からなり、上記研磨パッドをウエハに押
    し付け回転、揺動してウエハ表面を研磨する研磨盤と、
    チャックテーブルの側方であって、上記研磨パッドの揺
    動方向の延長上に設けられていて研磨盤に保持された研
    磨パッドを交換する研磨パッド交換機構と、研磨盤をチ
    ャックテーブル上方から研磨パッド交換機構上方まで水
    平に移動させる研磨盤移動機構とを具備したウエハの研
    磨装置。
  2. 【請求項2】 複数のチャックテーブルを同一の円周上
    に配し、且つ各チャックテーブルを当該円周に沿って一
    体に回動し得るように設けたインデックステーブルを具
    備した請求項1に記載のウエハの研磨装置。
  3. 【請求項3】 研磨盤のチャック機構は、研磨パッドの
    上面部に接合して研磨パッドを吸着する吸着機構と、研
    磨パッドの両側面に形成された係合用溝に係合爪片を係
    入させて研磨パッドを挟持する挟着機構により構成され
    てなる請求項1又は2に記載のウエハの研磨装置。
  4. 【請求項4】 研磨パッド交換機構は、研磨盤の研磨パ
    ッドの両側部に当接して研磨盤を位置決めする一対のガ
    イド体と、位置決めされた研磨盤の挟着機構の係合爪片
    に当接し得るよう上記ガイド体を進退させる駆動機構
    と、上面に研磨パッドを保持可能であって上記ガイド体
    の下側に進退自在に設けられたパッド支持アームとを有
    して構成された請求項3に記載のウエハの研磨装置。
  5. 【請求項5】 先端部を研磨パッドを保持可能なパッド
    支持部とし、且つ元端部を鉛直方向に立設させた回動軸
    に軸支してなるパッド支持アームの周囲に、使用前の研
    磨パッドが収納されるパッド収納カセットと、使用後の
    研磨パッドが収納されるパッド受槽と、研磨パッド交換
    機構とを上記回動軸を中心とした同一の円周上に配置
    し、上記パッド支持アームを回動させて、これらの間で
    使用前後の研磨パッドが移送されるように構成された請
    求項1〜4の何れか記載のウエハの研磨装置。
  6. 【請求項6】 請求項1又は2に記載の研磨装置の研磨
    盤を、研磨盤移動機構によりチャックテーブルの外側に
    移動させ、 次いで研磨盤のチャック機構の吸着機構に真空吸着させ
    られていると共に研磨盤に備えつけられた挟着機構の係
    合爪片を研磨パッドの両側面の係合溝に係入させられて
    いる研磨パッドを、挟着機構の係合爪片を研磨パッドの
    係合用溝より外した後、研磨盤の吸着機構の真空を止め
    ることにより研磨盤から研磨パッドを離脱させ、 次いで新しい研磨パッドの取付板を研磨盤の着脱機構に
    当接させた後、真空引きして研磨パッドを吸着し、 次いで研磨パッドの両側面の係合溝に研磨盤の側面に備
    えつけられた挟着機構の係合爪片を係入させることを特
    徴とする研磨パッドの交換方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005294378A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Shin Etsu Handotai Co Ltd 半導体ウエーハの両面研磨装置及び両面研磨方法
KR101041456B1 (ko) 2009-08-14 2011-06-16 세메스 주식회사 연마 패드 교체 유닛 및 이를 구비한 기판 처리 장치
CN108296980A (zh) * 2018-03-29 2018-07-20 德清晶生光电科技有限公司 水晶平面研磨装置及其磨头结构
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CN115488754A (zh) * 2022-09-30 2022-12-20 上海芯物科技有限公司 Cmp自动贴膜装置及方法

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